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Circuitos Integrados
Professor:
Sandro Haddad
sandrohaddad@unb.br
Sumrio
Breve introduo.
Histrico e evoluo da microeletrnica.
Lei de Moore
Processo de fabricao dos chips.
Avano da microeletrnica nos produtos.
Ordem de grandeza
Micro um prefixo que vem do grego antigo e significa
pequeno.
1 micrometro (m) = 1 milhonsimo do metro, 10-6m
Nano um prefixo que vem do grego antigo e significa
ano.
1 nanometro (nm) = 1 bilionsimo do metro, 10-9m
A nanotecnologia e a natureza
Molcula
carbono 60
100 milhes de vezes menor
Nano
Super-computador
Bipolar logic
1960s
Tipos de Transistores
Bipolar transistors
npn or pnp silicon structure
Small current into very thin base layer controls
large currents between emitter and collector
Base currents limit integration density
Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors
nMOS and pMOS MOSFETS
Voltage applied to insulated gate controls current
between source and drain
Low power allows very high integration
Taxa de crescimento
53% de crescimento mdio anual nos ltmos 50 anos
Nenhuma outra tecnologia cresceu to rpido e por
tanto tempo.
Crescimento devido miniaturizao dos transistores
Trans. menores mais baratos, mais rpido e menor
consumo de potncia!
Efeitos revolucionrios na sociedade.
Vendas anuais
>1019 transistors manufactured in 2008
1 billion for every human on the planet
Lei de Moore
Lei de Moore: Quantidade de transistores em um Circuito
Integrado (CI), dobra a cada 2 anos.
Gordon Moore, a co-fundador da Intel, afirmou em 1965, que a
densidade de transistores em um CI cresce a cada 2 anos.
Reduo no tamanho dos dispositivos permite um aumento na
complexidade dos circuitos
Lei de Moore
Lei de Moore
Lei de Moore: Quantidade de transistores em um Circuito
Integrado (CI), dobra a cada 2 anos.
1,000,000
100,000
10,000
1,000
i486
i386
80286
100
10
Pentium III
Pentium II
Pentium Pro
Pentium
8086
Source: Intel
1
1975 1980 1985 1990 1995 2000 2005 2010
Projected
Transistors (MT)
1000
100
10
486
P6
Pentium proc
386
286
0.1
8086
8080
8008
4004
8085
Transistors
on Lead Microprocessors double every 2 years
0.01
0.001
1970
1980
1990
Year
2000
2010
Evoluo na complexidade
100
10
8080
8008
4004
8086
8085
286
386
P6
Pentium
proc
486
1
1970
1980
1990
Year
2000
2010
Crescimento na Frequncia
Frequency (Mhz)
10000
Doubles every
2 years
1000
100
486
10
8085
1
0.1
1970
8086 286
P6
Pentium proc
386
8080
8008
4004
1980
1990
Year
2000
2010
Power (Watts)
100
P6
Pentium proc
10
8086 286
1
8008
4004
486
386
8085
8080
0.1
1971
1974
1978
1985
1992
2000
Year
18KW
5KW
1.5KW
500W
Power (Watts)
10000
1000
100
Pentium proc
286 486
8086 386
10
8085
8080
8008
1 4004
0.1
1971 1974 1978 1985 1992 2000 2004 2008
Year
Densidade de potncia
Power Density (W/cm2)
10000
1000
100
Rocket
Nozzle
Nuclear
Reactor
8086
10 4004
Hot Plate
P6
8008 8085
Pentium proc
386
286
486
8080
1
1970
1980
1990
2000
2010
Year
Lei de Moore
Wafer e pastilhas
Wafer e pastilhas
Single die
Wafer
1
0.1
0.01
0.001
0.0001
0.00001
0.000001
0.0000001
1982
1985
1988
1991
1994
1997
2000
2003
2006
2009
2012
Macroscopic Issues
Microscopic Problems
Time-to-Market
Millions of Gates
High-Level Abstractions
Reuse & IP: Portability
Predictability
etc.
Scaling
Technology shrinks by 0.7/generation
With every generation can integrate 2x more
functions per chip; chip cost does not increase
significantly
Cost of a function decreases by 2x
But
How to design chips with more and more functions?
Design engineering population does not double every
two years
MODULE
+
GATE
CIRCUIT
DEVICE
G
S
n+
D
n+
Exhaust Via
Vacuum Pumps
and Scrubber
Quartz Tube
3 Zone
Temperature
Control
Gas Inlet
Oxidao trmica
Depois de purificados, os wafers de silcio so
colocados em um forno alta temperatura
(900C < T < 1200C) na presena de oxignio
ou gua, de forma que a seguinte reao
ocorra:
Si + O2 SiO2
ou
Si + 2H2O SiO2 +H2
Ao controlar a temperatura e o tempo de oxidao,
possvel obter uma espessura de xido com
uma grande acurcia.
Fotolitografia e enriquecimento
Depois da oxidao , o wafer de silcio
completamente coberto por dixido de
silcio. Esta camada proteger o wafer
durante o processo de dopagem.
Dopagem
A dopagem o processo de implantao de
ons. Ao adicionar essas impurezas no
silcio, a condutividade aumenta. Tal
condutividade pode ser controlada com
pela quantidade de impureza.
Existem vrias tcnicas de dopagem, como
por exemplo: difuso, deposio de vapor,
bombardeamento inico, etc.
Repetindo o processo
Neste ponto, o processo de oxidao +
fotolitografia + enriquecimento + difuso
pode ser repetido para produzir vrios
tipos de dispositivos eletrnicos
necessrios para um circuito.
Alguns sistemas modernos necessitam de
mais de vinte iteraes desta seqncia.
Oxidao
Fotolitografia
Enriquecimento
Dopagem (Implantao
de ons)
Metalizao e testes
Smartphone
Sm all
Signal RF
Pow er
RF
Power
Management
Analog
Baseband
Digital Baseband
(DSP + MCU)
Smartphone