VERIFICACIN DE COMPONENTES

Diodos Convencionales: Comprobacin

Un diodo es un dispositivo semiconductor de dos terminales que
presenta una baja resistencia a la corriente elctrica en un sentido y una
resistencia mucho ms elevada, o tendiente a infinito (), en el otro. Por
esa razn se lo utiliza como rectificador para corriente alterna.
Se puede comprobar el estado de un diodo utilizando la funcin de
medicin de resistencia (hmetro) de un multmetro. Usando uno
analgico (ver la Fig. 3.1) un diodo est en buen estado si nos muestra
una baja resistencia (entre 20 y 500 , dependiendo de la escala
seleccionada, Rx1, Rx10 Rx100) cuando la punta con polaridad (+),
correspondiente al cable de color negro en los multmetros analgicos,
se conecta al nodo del diodo (diodo con polarizacin positiva o en
directa). Y tambin se debe medir una alta resistencia o infinita (),
cuando la punta con polaridad (-), correspondiente al cable de color rojo
en los multmetros analgicos, se conecta al ctodo del diodo (diodo con
polarizacin negativa o en inversa).

Fig.
3.1.
Resultados de la
comprobacin
de un diodo en
buen estado con
un
multmetro
analgico.
Un diodo que presente una resistencia baja en ambos sentidos, est en
corto o con fugas. Si tiene resistencia en inversa, est con fugas.
Un diodo que ofrezca una alta resistencia en ambos sentidos, est
abierto.
Diodos de Conmutacin Rpida: Comprobacin
Esta clase de diodos rpidos o de alta velocidad de conmutacin se
suelen utilizar en fuentes de alimentacin conmutadas que trabajan en
frecuencias altas (superiores a los 10 kHz) o bien en etapas de salida
horizontal. Debido a las frecuencias de trabajo, un diodo de silicio
convencional trabajara con una cada de tensin muy elevada entre sus
terminales en directa, recalentara demasiado y se quemara.
Estos diodos se comprueban de la misma manera que los
convencionales, con la salvedad que la resistencia en directa es

bastante menor que en los anteriores. Tambin es menor la cada de

tensin, la cual suele estar entre 0,12 y 0,5 V en vez de los clsicos 0,6
V de los diodos de silicio convencionales.
Diodos Zener: Comprobacin
Se puede comprobar el estado de un diodo zener utilizando la funcin de
medicin de resistencia (hmetro) de un multmetro de la misma
manera que la explicada para los diodos convencionales y con la misma
interpretacin de los resultados.
Ahora bien, para comprobar su funcionamiento como zener, se puede
realizar una prueba de tensin inversa (ver la Fig. 3.2) utilizando una
fuente de alimentacin de corriente continua con una tensin mayor a la
de ruptura del diodo zener a probar (generalmente entre 30 y 50 V), e
intercalando un resistor para limitar la corriente. Superada la tensin de
ruptura, con un voltmetro conectado entre al nodo y el ctodo del
diodo se puede conocer su tensin de trabajo. Si no est dentro de los
parmetros del zener en cuestin, estamos frente a uno defectuoso.
Debido a las caractersticas especiales de funcionamiento que tienen los
diodos zener, al reemplazarlos se debe utilizar el mismo tipo. En caso de
usar sustitutos, debemos estar muy seguros de que respeten sus
mismos parmetros de funcionamiento, pues sino podran presentar
problemas.

Fig.
3.2.
operacional
diodo zener.

Prueba
de
un

Transistores: Comprobacin
Si bien en los monitores modernos se redujo la cantidad de transistores
utilizados, pues muchos se han reemplazado por circuitos integrados,
siguen presentes en diferentes subsistemas por lo tanto es muy
importante saber cmo comprobarlos.
Como breve resumen, podemos decir que el transistor de juntura est
formado bsicamente por dos junturas de material semiconductor PN,
generalmente de silicio, las cuales pueden estar combinadas de distinta
manera, dando origen a dos tipos de transistores: los NPN y los PNP. El
transistor es un dispositivo que normalmente no conduce corriente y
para que lo haga se le debe aplicar una polarizacin directa a la juntura

base-emisor. Para poder realizar mediciones de las junturas con un

multmetro, en su funcin de hmetro anlogo, se las puede considerar
como un par de diodos PN conectados en oposicin.
En las Figs. 3.3 y 3.4 podemos ver qu polaridades debern tener las
tensiones aplicadas y dnde se deben medir valores altos o bajos de
resistencia en transistores del tipo PNP y NPN, respectivamente.

Fig. 3.3. Mediciones de resistencias en transistores PNP.

Fig. 3.4. Mediciones de resistencias en transistores NPN.

Cuando probamos las junturas de un transistor determinado mediante el
hmetro, se deber tener un cuidado especial, pues utilizando algunos
instrumentos en el rango Rx1, la corriente puede ser excesiva para
determinados tipos de transistores (cuanto ms baja la escala, mayor
corriente circula por el semiconductor que se est probando). Por lo
tanto, siempre es ms seguro el uso de las escalas intermedias del
hmetro como Rx10 Rx100, para no correr riesgos.
Para comprobar un transistor, debemos hacer dos mediciones por
juntura, cambiando la polaridad entre cada par de terminales (baseemisor, base-colector y emisor-colector). En total son seis mediciones las
necesarias para determinar con certeza que no est defectuoso.
Al realizar las mediciones, nos podemos encontrar con diferentes casos
de transistores defectuosos:
El transistor tiene fugas, si aparecen resistencias de valor bajo en
inversa.
El transistor est en corto, si la resistencia es de 0 en directa o en
inversa.
El transistor est abierto, si se verifican resistencias muy altas en
directa as como en inversa.
Lo normal es medir resistencias que van desde unos pocos hasta
algunos cientos de ohms en directa, y de decenas o centenas de miles
de ohms (k) en inversa. Debera existir una relacin de 100 a 1, o ms,
entre la resistencia en directa y la resistencia en inversa, en cada
juntura de un transistor determinado.

Se puede determinar cul es el emisor y cul el colector de un transistor

utilizando un multmetro digital. Para ello se debe seleccionar la escala
de medicin en la posicin diodo, y luego de determinar cul es la base
del transistor, comparar las lecturas de la tensin de polarizacin en
directa de base-emisor y base-colector, correspondiendo la lectura de
mayor tensin a base-emisor (por ejemplo, 0,586 V) y la menor a basecolector (por ejemplo, 0,579 V).
Utilizando un multmetro en su funcin de hmetro, tambin podemos
realizar una prueba operacional del transistor para conocer su
rendimiento relativo como amplificador y como conmutador.
Aprovechando la fuente de suministro de tensin de corriente continua
interna de un hmetro analgico, en la escala de Rx10, polarizamos las
junturas del transistor con las polaridades correctas para que el mismo
funcione como amplificador (ver la Fig. 3.5).
Mientras la llave est abierta, no hay polarizacin base-emisor, de
manera que entre el colector y el emisor slo circular una muy
pequea corriente de fugas, indicando una resistencia muy alta con el
hmetro en la escala de Rx1. Cuando cerramos la llave, pasar una
pequea corriente (a travs del resistor de 10 k) de polarizacin
directa entre emisor y base, haciendo circular una corriente mayor de
colector y modificando la lectura del hmetro a un valor mucho menor
que el anterior. Esto nos demuestra si el transistor funciona
correctamente como amplificador, o como una llave o conmutador,
siendo las mencionadas las aplicaciones ms comunes que vamos a
encontrar en los monitores modernos.

Fig. 3.5. Pruebas operacionales

de transistores PNP y NPN.

El Transistor de Salida Horizontal: Comprobacin

Los transistores de salida horizontal de los monitores, como veremos
ms adelante, presentan algunas caractersticas especiales.
En la mayora de los casos incorporan un resistor interno de baja
resistencia (generalmente entre 30 y 40 ) conectado entre la base y el
emisor (ver la Fig. 3.5). Tambin suelen incluir un diodo damper (de
amortiguacin) entre el colector y el emisor.

Fig. 3.6. Diagrama de un transistor de

salida horizontal.
Estas caractersticas las debemos tener en cuenta a la hora de
comprobar el estado de estos transistores. La medicin entre base y
emisor va a dar como resultado un bajo valor de resistencia, de acuerdo
al resistor incorporado. Entre emisor y colector, la medicin dar los
mismos resultados que un diodo convencional de silicio (explicadas
anteriormente).

MOS-FET y JFET: Comprobacin

El transistor de efecto de campo, conocido por sus siglas en ingls FET
(Field Effect Transistor), es un dispositivo semiconductor que tiene una
extremadamente alta resistencia de entrada, se lo opera por tensin y
requiere muy poca corriente de entrada para funcionar.
Existen dos clases de FET (ver la Fig. 3.7):

FET de juntura o JFET (Junction Field Effect Transistor).

FET de compuerta aislada o MOS-FET (Metal Oxide Semiconductor
Field Effect Transistor)

A su vez, los diferentes FET pueden tener dos polaridades:

Canal N.
Canal P.

Fig.
3.7.
Las
diferentes clases de
JFET y MOS-FET.

Para comprobar el estado de la juntura de un FET de canal N se debe

proceder del mismo modo que el ya explicado para los transistores.
Utilizando un multmetro en su funcin de hmetro (ver la Fig. 3.8), en la
escala Rx1, se debe medir la resistencia directa conectando la punta con
polaridad (+) a la compuerta (Gate) y la punta con polaridad (-) a la
fuente (Source) o al drenaje (Drain). En el caso de un FET de canal P se
deber proceder a la inversa. Para medir la resistencia inversa se
debern invertir las puntas.

Fig. 3.8. Mediciones de resistencias en un FET de canal N.

Esta prueba tiene por objetivo determinar si el FET est en corto o tiene
fugas. Generalmente, si el FET est funcionando correctamente, la
lectura de la resistencia directa es menor de 1 k y la inversa casi
infinita ().Si la lectura en inversa es menor, el FET tiene una fuga o
est en corto.
Realizando una prueba operacional, podremos determinar su funcin
como amplificador aplicando las puntas del multmetro en su funcin de
hmetro entre drenaje y fuente. Luego, tocando la compuerta con el
dedo de la mano, se debe observar un cambio en la indicacin de la
resistencia. Cambiando la polaridad de las puntas y tocando con el dedo
nuevamente la compuerta, el valor de resistencia tendr sentido
opuesto al cambio anterior si el FET est funcionando correctamente.
Generalmente, este cambio es muy pequeo y se requiere de precisin
en las mediciones para notarlo.
Para probar los MOS-FET, debemos tener en cuenta su alta impedancia
de entrada y su sensibilidad a las cargas electrostticas, por lo cual es
muy importante extremar los cuidados necesarios para su manipulacin.
La resistencia entre la compuerta de un MOS-FET y cualquiera de los
otros dos terminales es casi infinita, por lo cual una lectura inferior nos
indicara la presencia de una falla de aislacin entre la compuerta y los
otros dos terminales. La medicin entre drenaje y fuente, deber
mostrar un valor de resistencia intermedio.

Tiristores: Comprobacin
El tiristor, tambin conocido como rectificador controlado de silicio o por
sus siglas en ingls SCR (Silicon Controlled Rectifier), equivale a un
diodo semiconductor con un electrodo de control incorporado llamado
compuerta.
Cuando se introduce una tensin positiva (+) al nodo con respecto al
ctodo, el diodo no conducir en directa a menos que se le aplique una
corriente a la compuerta, para hacerlo disparar. Una vez que se dispar
el tiristor, la corriente de la compuerta deja de tener efecto, y el SCR
slo se apagar si la tensin entre el nodo y el ctodo se reduce a cero.
Se puede comprobar el funcionamiento de un tiristor utilizando un
multmetro en su funcin de hmetro analgico (preferentemente uno
con alimentacin de 3 V, para poder disparar el tiristor). Es conveniente
seleccionar la escala Rx1 y conectar la punta con polaridad (+) al nodo

y la punta con polaridad (-) al ctodo (ver la Fig. 3.9). Si la llave est
abierta, el valor de resistencia deber ser similar a la resistencia de un
diodo en inversa. Al hacer conducir la compuerta con el nodo mediante
el cierre de la llave, el tiristor deber dispararse, cayendo la resistencia
nodo-ctodo a un valor bajo, el cual suele estar entre los 10 y los 60
. Abriendo la llave, la resistencia debe seguir siendo baja, mientras que
desconectando una de las puntas del hmetro y volvindola a
reconectar (con la llave abierta), la resistencia debe volver a ser alta.

Fig. 3.9. Prueba operacional

de un tiristor.

Capacitores: Comprobacin
Para comprobar los capacitores electrolticos, adems de controlar su
capacidad, debemos verificar su ESR, la cual hemos explicado
anteriormente en el Captulo 2: Herramientas e Instrumental Avanzado.
Para hacerlo, basta con utilizar un medidor de ESR (Equivalent Series
Resistance Resistencia Serie Equivalente), conectando las puntas del
instrumento en los terminales del capacitor y comprobando que la
medicin est dentro del rango de valores aceptable para su capacidad
(baja resistencia). Ver la Fig. 3.10. Un ejemplo de medidor de ESR es el
CAPACheck Mictron, de la empresa Creatrnica, el cual tiene la gran
ventaja de permitir comprobar la ESR de los capacitores sin necesidad
de desoldarlos del circuito e inclusive, se pueden comprobar en circuitos
con tensin de corriente continua presente (circuitos vivos). Esto lo hace
un instrumento muy prctico para detectar fcilmente cules son los
capacitores defectuosos.

Fig. 3.10. Medicin de la ESR

(Equivalent
Series
Resistance
Resistencia Serie Equivalente) de un
capacitor electroltico.

Si la ESR es mayor de la zona marcada como buena para la escala

correspondiente a la capacidad del capacitor, es conveniente reemplazar
al capacitor por uno nuevo.
Es conveniente realizar esta comprobacin a los capacitores que se
utilizarn para reemplazar a los defectuosos, antes de colocarlos en el
monitor a reparar, pues si estuvieron mucho tiempo sin que se les
aplique tensin en el local de repuestos, podran estar con su ESR
alterada y no se solucionar el problema.

Capitulo 4: Circuitos Integrados

En este captulo aprenderemos a verificar el funcionamiento de los
circuitos integrados encargados de efectuar el procesamiento de
seales. Vamos a utilizar ejemplos reales para agudizar la capacidad de
intuicin y diagnstico y vamos a establecer las mediciones y la
metodologa para realizar el seguimiento de seales.
La Tcnica de las Cajas Negras
Como ya hemos analizado en el Captulo 1: Diagnstico y Reparacin
Avanzadas, los monitores modernos utilizan varios circuitos integrados
que cumplen un conjunto de funciones, las cuales pueden pertenecer a
uno o varios subsistemas. Por lo tanto, podemos considerarlos como un
bloque funcional, un complejo componente electrnico capaz de realizar
una serie de tareas determinadas.
Para realizar un diagnstico, podemos ver a los diferentes subsistemas
de un monitor, los cuales utilizan circuitos integrados, como un conjunto

de cajas negras (black boxes), pues su contenido y funcionamiento

interno no se puede ver. De estas cajas negras, conocemos lo siguiente:

Las entradas de seales que necesita y sus significados.

Las salidas de seales que debe entregar y sus significados.
Sus funciones (qu debe hacer con esas seales), pero no
sabemos cmo lo hace y tampoco nos interesa. Los fabricantes y
los diseadores fueron quines se preocuparon por ello.

Al poder ver las entradas, as como las salidas y conociendo el

significado de cada una de ellas, se puede comprobar que est
cumpliendo su funcin en forma correcta. En los circuitos integrados, las
entradas y las salidas se presentan en sus patitas, pines o terminales
(ver la Fig. 4.1).

Fig. 4.1. Un circuito integrado visto como una caja negra.

Ahora bien, a los fines prcticos, nos encontramos con el chasis de un
monitor en el cual los circuitos integrados se encuentran montados
sobre una plaqueta con un circuito impreso y lo nico que se identifica a
simple vista de estas cajas negras es el cdigo del fabricante, el tipo
compuesto por nmeros y letras y la cantidad de pines que posee. No
suelen existir etiquetas que indiquen la funcin que desarrollan ni
referencias acerca de sus entradas y/o salidas. Por lo tanto, necesitamos
la informacin tcnica que hemos explicado en el Captulo 2:
Herramientas e Instrumental Avanzado, para poder conocer las
funciones de estos circuitos integrados, los significados de sus patitas y
las diferentes seales de entrada y salida. Sin esta informacin, la
tcnica de la caja negra resulta muy compleja o prcticamente imposible
de utilizar, pues deberamos intentar adivinar un montn de cosas y al
hacerlo hay una gran probabilidad de imprecisin a la hora de
determinar el correcto funcionamiento del componente en cuestin.
Los oscilogramas, los puntos de prueba (test points o simplemente TP) y
las tensiones de referencia que figuran en las hojas de datos
(datasheets) de los circuitos integrados y tambin generalmente en los
circuitos de los fabricantes de los monitores, establecen los parmetros
de funcionamiento correcto, en los cuales existe un determinado rango
de tolerancia.

Debemos tener en cuenta que en muchas ocasiones, en vez de

encontrar tensiones de referencia, obtenemos tablas de tensiones de
referencia. Esto se debe a que algunos circuitos integrados pueden
variar sus condiciones de funcionamiento de acuerdo al modo en el cual
estn trabajando. Como vamos a analizar en detalle ms adelante, en
los monitores, es muy comn tener cambios en las resoluciones de
trabajo, frecuencias de refresco y profundidad de colores y en varios
circuitos integrados y otros componentes, sus tensiones y seales de
entradas son diferentes para cada modo de funcionamiento. En los
circuitos de los fabricantes nos solemos encontrar con estas tablas de
tensiones para los circuitos integrados, en vez de encontrar
simplemente tensiones indicadas en cada una de las patitas del
componente.
Por otro lado, otro clsico cambio de tensiones se produce en los
diferentes modos de ahorro de energa DPMS en los que suele operar el
monitor, los cuales se estudiarn en detalle ms adelante.
Estos parmetros de funcionamiento establecen una lnea de base y se
deben comparar con los valores observados a travs de los instrumentos
de medicin, como el multmetro y el osciloscopio, dependiendo de la
clase de medicin que se est efectuando.
Cuando las seales de entrada no son correctas, el circuito integrado no
va a generar una salida adecuada, pues su materia prima ya presenta
problemas y al aplicarle algn procesamiento, se reflejarn en la salida.
Si las mediciones de las seales de entrada estn fuera del rango de
valores establecidos, por ms que el circuito integrado est en perfectas
condiciones, las salidas no sern las correctas y en ese caso, ser
necesario proceder a un seguimiento de las seales hacia atrs, es
decir, en las etapas previas a la entrada del circuito integrado.
Tambin puede suceder que las seales de entrada no estn presentes,
es decir, que exista una ausencia de seales, lo cual provocara que el
circuito integrado no entregue las respectivas seales de salida. Aunque
ste funciona correctamente, no cuenta con la materia prima para
realizar el procesamiento correspondiente. En tal caso, tambin ser
necesario proceder a un seguimiento de las seales en las etapas
previas a la entrada del circuito integrado.
En algunos casos, las seales que se encuentran fuera del rango
permitido pueden generar daos permanentes a los circuitos integrados,
por lo cual, cuando se solucionan los problemas que incidan en las
entradas incorrectas, el mismo queda daado y no se corrigen las
salidas. En tal caso, se debe proceder al reemplazo del circuito
integrado.
Antes de reemplazar un circuito integrado, se deben comprobar que
todas las seales de entrada estn llegando correctamente y dentro de
los rangos permitidos, pues sino, al reemplazarlo, se podra estar
daando al nuevo componente. Y, debemos tener en cuenta que algunos
circuitos integrados son muy costosos.

Adems de verificar las seales de entrada, lo primero que se debe

controlar antes de sacar conclusiones acerca del funcionamiento de un
circuito integrado es si est recibiendo la tensin de alimentacin
correcta y que est dentro del rango establecido por el fabricante.
Un exceso en la tensin de alimentacin puede daar en forma
irreparable al circuito integrado. Por otro lado, si la tensin recibida es
menor a la mnima requerida para el funcionamiento, ste no generar
ninguna salida o bien puede hacerlo en forma deficiente, sin cumplir con
los niveles necesarios. Es por ello que antes de comenzar a comprobar
las seales de salida, se debe estar seguro que reciba la alimentacin en
forma correcta.
Si todas las seales de entrada se presentan en forma correcta y la
tensin de alimentacin es la necesaria, pero no hay seales de salida,
es muy probable que el circuito integrado est defectuoso. Sin embargo,
antes de llegar a esta conclusin, se deben verificar los componentes
asociados a los circuitos integrados. Pueden estar relacionados a las
entradas, a las salidas o a funciones como alimentacin y/o regulacin
de valores de estas seales.
Cualquier defecto en los componentes asociados incide en las entradas
y/o salidas, por lo tanto, modifica el comportamiento del circuito
integrado.
Los componentes ms crticos suelen ser los capacitores, los resistores y
los diodos de conmutacin conectados al circuito integrado. Los
transistores tambin son una fuente de problemas, pues se suelen
encargar del procesamiento previo o posterior de las seales.
En el Captulo 1: Diagnstico y Reparacin Avanzadas, en la seccin
Casos Prcticos de Diagnstico Avanzado, hemos aplicado una
metodologa de diagnstico en un par de casos prcticos para el monitor
marca LG/Goldstar, modelo StudioWorks 74m, explicando problemas con
circuitos integrados.
En el primer caso, se resolvi un problema con el audio de un monitor, y
se explicaron los pasos para determinar el estado del circuito integrado
IC501 ( TDA2007A), amplificador de audio estreo. En el segundo caso,
se resolvi un problema en el subsistema de vertical, en donde un
capacitor conectado al circuito integrado IC601 (TDA4866), de salida
vertical, era el responsable de la falla. Es conveniente dirigirse a esa
seccin y repasar ambos casos junto con los conceptos que estamos
explicando.
Comprobacin de Circuitos Integrados Complejos
Vamos a pasar de sencillos ejemplos a un caso prctico mucho ms
complejo, pues analizaremos al circuito integrado TDA4841, encargado
del control de deflexin del monitor. Este circuito integrado se utiliza, por
ejemplo, en los monitores de la marca Sony, modelos CPD E220; CPD
215E y CPD E220E, entre otros.

Al TDA4841, as como a otros circuitos integrados se los conoce con el

nombre de jungla, por la agrupacin de una diversidad de funciones en
un mismo chip.
Para este ejemplo, vamos a contar con bastante informacin tcnica
para poder realizar un anlisis completo, pues tendremos a mano lo
siguiente:

Las conexiones en el encapsulado (pin description). Ver la Fig. 4.2.

La seccin del circuito del monitor en donde se utiliza este circuito
integrado, con tensiones de referencia y oscilogramas, tal cual se
presenta en los Manuales de Circuitos de Monitores para PC de
Editorial HASA. Ver la Fig. 4.3.
El diagrama interno en bloques, tomado de la hoja de datos
(datasheet) provisto por SGS-Thomson Microelectronics, la cual
presentamos en idioma espaol. Si bien no hara falta de acuerdo
a la tcnica de las cajas negras, es conveniente su utilizacin para
comprender mejor el ejemplo. Ver la Fig. 4.4.

Fig. 4.2. Conexiones en el encapsulado (pin description) del circuito

integrado TDA4841.

Fig. 4.3. Conexiones del circuito integrado TDA4841 en el monitor Sony,

CPD E220.

Fig. 4.4. Diagrama interno del controlador de deflexin TDA4841.

En un circuito integrado como el TDA4841, el cual tiene 32 patitas,

muchas entradas y salidas, adems de una buena cantidad de
componentes que inciden en su funcionamiento, es complicado realizar
un diagnstico, por lo cual, es muy conveniente ser metdico y
ordenado. Una buena ayuda puede ser ir tomando nota de las secciones
que se han comprobado y que estn funcionando correctamente, para
no perderse, especialmente cuando an no se tiene mucha experiencia
en estos circuitos.
Vamos a comenzar por la tensin de alimentacin, la cual segn el
circuito debe ser de +12 V en la pata 10 (V CC). Utilizando un multmetro,
podemos comprobar si la tensin de alimentacin est en ese valor.
Si la tensin medida es de 0 V, se puede deber a que el choque L509
(150 H) est cortado, por lo tanto, deberamos comprobarlo midindolo
con el multmetro en la escala de ohms R x 1.
Al realizar las comprobaciones de las tensiones de alimentacin,
debemos tener en cuenta que el monitor no est operando en alguno de
los modos de ahorro de energa DPMS.
Ahora, vamos a comprobar el funcionamiento del procesamiento de la
seal de sincronismo horizontal. Primero debemos verificar que la
entrada est llegando correctamente, lo cual se consigue conectando un
osciloscopio entre la pata 15 (HSYNC, Horizontal syncronism
Sincronismo horizontal) y masa, y comprobar que la seal observada se
corresponda con el oscilograma 6 (ver las Figs. 4.3 y 4.5). Es decir, que
tenga una amplitud de aproximadamente 5 Vpp. Si la forma de onda no
se corresponde, estamos frente a un problema en las etapas anteriores a
la entrada, por lo tanto, tenemos que realizar un seguimiento hacia atrs
de la seal para detectar en dnde est el problema.
Si la entrada es la correcta, tenemos que pasar a verificar la salida
conectando el osciloscopio a la pata 8 (HDRV, Horizontal driver
Excitador horizontal), y comprobar que la seal observada se
corresponda con el oscilograma 10 (ver las Figs. 4.3 y 4.6). Es decir, que
tenga una amplitud de aproximadamente 12 Vpp. Si la forma de onda no
se corresponde, o no est presente, se puede deber a los componentes
asociados al circuito integrado o bien a que este ltimo no est
funcionando correctamente, por lo cual en este caso, siempre y cuando
hayamos comprobado los puntos anteriores, deberemos proceder a
controlar los componentes asociados.
Pasamos a comprobar el estado del capacitor del oscilador horizontal
C506 (0,01 F x 100 V), conectado a la pata 29 (HCAP, Horizontal
Capacitance Capacitor horizontal) correspondiente al oscilador
horizontal del circuito integrado. Utilizando un multmetro, un
capacmetro y un medidor de ESR podremos hacer todas las
verificaciones necesarias para determinar si el capacitor est en buen
estado.

Fig. 4.5. Oscilograma 6, correspondiente a la pata 15 (HSYNC).

Fig. 4.6. Oscilograma 10, correspondiente a la pata 8 (HDRV).

Si se detectara alguna fuga, una variacin del valor de capacidad o que
el mismo est abierto, ser el causante de la falla y se lo deber
reemplazar para solucionar el problema.
Como pudimos comprobar en este completo ejemplo, debemos realizar
un anlisis profundo cuando nos encontramos con problemas en
circuitos integrados complejos. Si bien existen muchos otros factores
que pueden causar los problemas mencionados, en los siguientes
captulos nos vamos a dedicar al anlisis en particular de cada uno de
los subsistemas que conforman un monitor moderno.
El Bus I2C en los Circuitos Integrados
El bus I2C (IIC bus; Inter-IC bus bus entre circuitos integrados),
desarrollado por Philips hace ya unos veinte aos, se ha consolidado
como el bus estndar en sistemas digitales. Esto se nota en su presencia
casi absoluta en los monitores para PC modernos, los cuales emplean un
conjunto de componentes conectados y coordinados en un bus I 2C, por
lo tanto, es muy importante comprender su funcionamiento para poder
lidiar con los desafos que representa reparar los monitores modernos
que los utilizan.

El I2C es un bus serie e integrado, estandarizado, muy simple, el cual

utiliza solamente dos conductores, un reloj y una lnea de datos
bidireccional para las lecturas y escrituras.
Todos los dispositivos diseados para el bus I2C se comunican entre s
mediante dos conductores, que se identifican casi siempre con las
mismas siglas:

SCL (Serial Clock Reloj de datos serie).

SDA (Serial Data Address Input/Output Lnea de entrada/salida
de datos serie).

Para identificar al bus I2C y a los dispositivos conectados a ste en los

circuitos de los monitores, la forma ms sencilla es buscar el
microprocesador o microcontrolador y las lneas que van a una memoria
EEPROM. Las siguientes inscripciones suelen ser muy comunes en los
circuitos y diagramas en bloques, SDA y SCL; I 2C; IIC; I2C; IIC o I2C DATA e
IIC o I2C CLOCK; entre otras. Todas ellas estn haciendo referencia a las
clsicas lneas de este bus.
Dependiendo de un conjunto de factores, como las caractersticas de
consumo de los circuitos integrados conectados al bus I 2C, se suelen
encontrar diferentes configuraciones de resistores conectados entre las
lneas del bus y la alimentacin (VDD o VCC). Se los conoce como
resistores de pull-up (aceleracin).
Cuando se presentan problemas con los circuitos integrados que se
encuentran conectados al bus I 2C, debemos tener muy en cuenta estos
resistores, pues si presentan fallas, los dispositivos conectados al bus
pueden dejar de funcionar. Tambin se deben revisar todos los
componentes asociados al bus y a los dispositivos que estn conectados
al mismo. Si bien esto ltimo entrara dentro de los componentes
asociados a los circuitos integrados, merecen una mencin especial por
el efecto domin que generan al impedir el funcionamiento de varios
dispositivos encadenados a travs del bus.
El circuito integrado TDA4841 tiene la particularidad de poder controlar
un conjunto amplio de parmetros a travs del bus I2C, por lo tanto
representa un buen ejemplo de las aplicaciones prcticas de este bus
para los monitores.
Entre otras caractersticas, el microcontrolador o microprocesador
conectado al bus es el encargado de pasarle los parmetros de las
siguientes configuraciones controladas mediante datos del bus:

Posicin de la imagen.
Correccin del efecto almohada (pincushion).
Correccin del efecto paralelogramo.
Correccin de problemas en las esquinas de la imagen.
Correccin de efectos parbola horizontal y vertical.
Ajustes de Este/Oeste.

Altura de la imagen.
Ancho de la imagen.

De esta manera, todos los controles digitales que se utilizan desde

menes en pantalla (OSD), en subsistemas que vamos a analizar bien en
detalle en los prximos captulos, llevan a cabo cambios en los
parmetros. stos viajan por el bus I 2C al circuito integrado TDA4841, y
quedan almacenados en la memoria EEPROM M24C16 para su posterior
recuperacin, todo esto controlado por un microcontrolador, el ST72774.
En la Fig. 4.7, podemos ver el diagrama completo de conexiones de los
cinco circuitos integrados al bus I2C en el monitor marca Sony, modelo
CPD E220.

Fig. 4.7. Diagrama de la aplicacin del bus I2C para comunicar a los
circuitos integrados del monitor Sony CPD E220.
Como el bus I2C es el sistema nervioso de los monitores modernos, es
importante tener en cuenta una lista de verificacin para comprobar que
el bus y sus componentes estn funcionando correctamente y poder
detectar problemas fcilmente.
Si hay indicios de problemas con el funcionamiento de algn dispositivo
conectado al bus I2C, mientras se accionan controles del equipo que

hacen trabajar a estos dispositivos (como ser el men OSD, los controles
digitales, etc.), se debe verificar lo siguiente:

Que las seales SCL y SDA estn llegando en forma correcta a los
dispositivos participantes de la accin que se est realizando. Esto
es muy sencillo de verificar conectando un osciloscopio en las
patas de los circuitos integrados correspondientes a dichas
seales. En el caso del circuito integrado TDA4841, son las patas
18 (SCL) y 19 (SDA) (ver la Fig. 4.2) Si las mismas no estn
llegando en forma correcta, el microprocesador o microcontrolador
puede estar defectuoso.
Que todos los dispositivos conectados al bus I2C tengan las
tensiones de alimentacin correspondientes.
El estado de las resistencias de pull-up (aceleracin) conectadas a
las lneas SDA y SCL (ver la Fig. 4.8).
El funcionamiento individual de cada circuito integrado.

Fig. 4.8. Las resistencias de pull-up (aceleracin) conectadas a las

lneas SDA y SCL del circuito integrado M35047 en el monitor Sony, CPD
E220.

Debemos recordar que si alguno de los dispositivos conectados al bus

I2C no est funcionando correctamente, esto puede afectar al resto de
los dispositivos.
El funcionamiento del bus I2C, las comunicaciones entre los circuitos
integrados diseados para este bus, los microprocesadores y
microcontroladores, justifican una obra completa. Por lo tanto, nos
hemos limitado a un breve resumen para poder comprender su
funcionamiento bsico.
Sin embargo, debido a que este bus est presente en prcticamente
todos los monitores modernos, es conveniente profundizar sobre el
tema.
Reemplazo de Circuitos Integrados
A la hora de reemplazar circuitos integrados, uno de los problemas ms
comunes es no poder conseguir el mismo tipo como repuesto, por lo
tanto, se debe recurrir a un reemplazo o sustituto, provisto por otro
fabricante que utilice el mismo diseo y las seales de las patitas sean
totalmente compatibles con el original.
Antes de reemplazar un circuito integrado, debemos estar seguros de
que se cumplen las siguientes condiciones, pues sino se podra daar el
nuevo circuito integrado utilizado como reemplazo:

Los componentes asociados estn funcionando correctamente.

La tensin de alimentacin es la correcta.
Todas las seales de entrada se presentan en forma correcta y
estn dentro de los rangos permitidos.