Processo de Soldagem Por Feixe de Elétrons

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO CARLOS
CENTRO DE CINCIAS EXATAS E DE TECNOLOGIA

PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM CINCIA E
ENGENHARIA DE MATERIAIS
AVALIAO DO COMPORTAMENTO ELETROQUMICO DE JUNTAS

SOLDADAS DE AO INOXIDVEL SUPERMARTENSTICO POR FEIXE DE
ELTRONS BAIXO VCUO
Jos Mario de Aquino
So Carlos
Ano 2007
UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO CARLOS

CENTRO DE CINCIAS EXATAS E DE TECNOLOGIA
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM CINCIA E
ENGENHARIA DE MATERIAIS
AVALIAO DO COMPORTAMENTO ELETROQUMICO DE JUNTAS

SOLDADAS DE AO INOXIDVEL SUPERMARTENSTICO POR FEIXE DE
ELTRONS BAIXO VCUO
Jos Mario de Aquino
Dissertao apresentada ao
Programa de Ps-Graduao em Cincia
e Engenharia de Materiais como requisito
parcial obteno do ttulo de MESTRE
EM ENGENHARIA DE MATERIAIS
Orientador: Dr. Sebastio Elias Kuri

Agncia Financiadora: CAPES
So Carlos
Ano 2007
Ficha catalogrfica elaborada pelo DePT da

Biblioteca Comunitria da UFSCar
A657ac
Aquino, Jos Mario de.

Avaliao do comportamento eletroqumico de juntas
soldadas de ao inoxidvel supermartenstico por feixe de
eltrons baixo vcuo / Jos Mario de Aquino. -- So Carlos :
UFSCar, 2007.
171 f.
Dissertao (Mestrado) -- Universidade Federal de So
Carlos, 2007.
1. Ao supermartenstico. 2. Soldagem por fuso. 3. Feixe
de eltrons. 4. Resistncia a corroso. I. Ttulo.
CDD: 541.37 (20a)
DEDICATRIA
Dedico este trabalho a meus pais Aparecido e Terezinha e a

minha irm Aline, pelo apoio e incentivo.
VITAE DO CANDIDATO
Licenciado em Qumica pela UFSCar (2005), Bacharel em Qumica pela
UFSCar (2004).
MEMBROS DA BANCA EXAMINADORA DA DISSERTAO DE MESTRADO DE

JOS MARIO DE AQUINO
APRESENTADA AO PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM CI:NCIA E
ENGENHARIA DE MATERIAIS, DA UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO
CARLOS, EM 28 DE FEVEREIRO DE 2007.
BANCA EXAMINADORA:
. SEBASTIO ELlAS KURI

ORIENTADOR
UFSCAR
Prat. Dr. ALBERTO
REIRA JORGE JNIOR

UFSCAR
~a~~~~~
Prata. Dra. ROSEANADA EXALTAO
.
. TREVISAN
UNICAMP
ii
iii
AGRADECIMENTOS
Ao Prof. Dr. Sebastio Elias Kuri, pela assistncia e orientao
prestados ao longo do desenvolvimento deste trabalho.
Ao Dr. Celso Roberto Ribeiro, junto a GKSS, pelo fornecimento do
material necessrio a realizao dos ensaios.
Ao amigo Fabrcio Simo dos Santos, pelas vrias horas dedicadas a
discusses e auxlio na realizao deste trabalho.
Aos amigos Carlos Alberto Della Rovere, Thas de Paula Busquim e
Fbio Calciollari, por acreditarem em mim.
Aos tcnicos e funcionrios do DEMa, pela ateno e disponibilidade.
Ao tcnico Jos Augusto, do grupo de cristalografia do IFSC, pela
ateno na realizao dos ensaios de raios X.
Ao PPG-CEM e ao DEMa, pela disponibilidade de equipamentos e
servios.
A Coordenao de Aperfeioamento de Pessoal de Nvel Superior CAPES - pelo suporte financeiro
iv
v
RESUMO
A avaliao eletroqumica das juntas soldadas de aos inoxidveis

supermartensticos, pelo processo de feixe de eltrons utilizando baixo vcuo,
foi realizada atravs de ensaios de polarizao andica potenciodinmico, de
corroso intergranular por meio da tcnica de reativao de ciclo duplo, de
corroso por pites atravs de voltametria cclica e por medidas da taxa de
corroso, utilizando-se da tcnica de resistncia de polarizao. O material
estudado consistia em amostras extradas do interior de juntas, por
eletroeroso, dando origem a corpos de prova representativos do metal de
base, zona termicamente afetada e metal de solda. O metal de base era um
ao supermartenstico de mdia (12Cr-4,5Ni-1,5Mo) e alta (12Cr-6,5Ni-2,5Mo)
liga, soldados com adio de consumvel do tipo matching. A fim de se
comparar o efeito da adio de consumvel nos ensaios eletroqumicos,
analisaram-se os corpos de prova de soldas sem consumvel, autgena. Os
ensaios eletroqumicos mostraram que a resistncia corroso nas juntas
soldadas aumenta do metal de base para o metal de solda, com a zona
termicamente afetada sofrendo eventos de redissoluo de precipitados. No
levantamento das curvas de polarizao, verificou-se o surgimento de um
segundo pico de ativao, principalmente para o metal de base. Tal fenmeno
tambm ocorreu nas curvas dos ensaios de corroso intergranular. Foi possvel
constatar que tal fenmeno decorrente da corroso de regies distintas,
durante a reativao catdica. Alm disso, o grau de sensitizao,
representado por regies com falta de cromo, medido pela corroso
intergranular, mostrou uma relao indireta com o potencial de pite: quanto
mais reas sensitizadas, maior a probabilidade de nucleao de pites; assim,
menor o seu potencial. As medidas da resistncia de polarizao mostraram
uma dependncia com relao regio catdica nas amostras da mdia liga.
vi
vii
ABSTRACT
ELECTROCHEMICAL EVALUATION OF LOW VACUUM ELECTRON BEAM

WELDMENTS OF SUPERMARTENSITIC STAINLESS STEEL
The electrochemical evaluation of low vacuum electron beam weldments

of supermartensitic stainless steel was carried out in terms of anodic
polarization in potentiodynamic regime, intergranular corrosion by double loop
electrochemical reactivation technique, pitting corrosion determination by cyclic
voltammetry and by the measurement of the corrosion rate employing the
polarization resistance method. The studied materials consisted of specimens
extracted from the inner part of the weldments, by electroerosion, which
resulted in representative samples of the base metal, heat affected zone and
weld metal. The base material was a medium (12Cr-4,5Ni-1,5Mo) and high
(12Cr-6,5Ni-2,5Mo) alloy of supermartensitic steel which was welded using
matching consumables. In addition, samples of the autogenous condition were
submitted to the analyses in order to compare the consumable effect on the
corrosion behaviour. The electrochemical tests revealed that the corrosion
resistance increased from the base to the weld metal, with the occurrence of
precipitation redissolution in the heat affected zone. During the polarization
measurements, a second activation peak arose mainly from the base metal
samples.
This
phenomenon
also
appeared
along
the
intergranular
measurements and was due to the corrosion of distinct regions when

cathodically reactivated. Furthermore, the degree of sensitization, represented
by chromium depleted regions and measured according to intergranular
corrosion tests, showed an indirect relation with pitting potential: as the
sensitization areas increase, so the probability to nucleate a pit, and hence the
lower is its potential. The polarization resistance method showed a dependence
with the cathodic range in the medium alloy samples.
viii
ix
PUBLICAES
AQUINO, J.M.; KURI, S.E.; RIBEIRO, C.R. Caracterizao microestrutural de
juntas soldadas de ao inoxidvel supermartenstico por feixe de eltrons baixo
vcuo. In: JORNADA CIENTFICA DA UFSCAR, 6., 10-14 out. 2005, So
Carlos. Anais So Carlos, 2005.
xi
SMARIO
BANCA EXAMINADORA .................................................................................... i
AGRADECIMENTOS .........................................................................................iii
RESUMO ........................................................................................................... v
ABSTRACT .......................................................................................................vii
PUBLICAES................................................................................................. ix
SUMRIO ......................................................................................................... xi
NDICE DE TABELAS...................................................................................... xv
NDICE DE FIGURAS .....................................................................................xvii
SMBOLOS E ABREVIAES ............................................................................... xxiii
1 INTRODUO .............................................................................................. 1
2 REVISO DA LITERATURA ......................................................................... 3
2.1 Aos Inoxidveis Supermartensticos ........................................................ 3
2.1.1 Metalurgia dos Supermartensticos ......................................................... 4
2.1.1.1 Influncia do Carbono e Nitrognio ...................................................... 4
2.1.1.2 Influncia do Nquel.............................................................................. 6
2.1.1.3 Influncia do Molibdnio....................................................................... 7
2.1.1.4 Influncia de outros elementos de liga ................................................. 8
2.1.2 Composio Qumica .............................................................................. 8
2.1.3 Microestrutura, Tratamento Trmico e Propriedades ............................ 10
2.1.3.1 Precipitao de Carbetos ................................................................... 13
2.2 Fundamentos de Soldagem ..................................................................... 14
2.3 Soldagem por Feixe de eltrons baixo vcuo (SFE-BV) .......................... 16
2.3.1 Introduo ............................................................................................. 16
2.3.2 Funcionamento ..................................................................................... 17
2.3.3 Seleo de Consumveis....................................................................... 19
2.3.4 Solidificao e Microestrutura ............................................................... 20
2.3.5 Vantagens do SFE-BV .......................................................................... 23
2.3.6 Limitaes do SFE-BV .......................................................................... 23
2.4 Zona Termicamente Afetada (ZTA) de Soldas......................................... 24
2.5 Resistncia Corroso ............................................................................ 29
xii
2.5.1 Curvas de Polarizao em H2SO4 ......................................................... 31
2.5.2 Corroso Intergranular........................................................................... 36
2.5.2.1 Ensaio de ciclo simples (SL-EPR) ...................................................... 38
2.5.2.2 Ensaio de ciclo duplo (DL-EPR) ......................................................... 40
2.5.2.2.1 Interpretao das Curvas de Ciclo Duplo ........................................ 41
2.5.2.3 Outras aplicaes da tcnica de EPR ................................................ 43
2.5.3 Corroso Localizada.............................................................................. 43
2.5.3.1 Determinao do potencial de pite ..................................................... 51
2.5.4 Corroso Generalizada.......................................................................... 52
2.5.4.1 Descrio do mtodo de polarizao linear........................................ 53
2.5.4.2 Efeito da Composio qumica na taxa de corroso........................... 56
3 MATERIAIS E MTODOS........................................................................... 61
3.1 Material Estudado: Condies Preliminares ............................................. 61
3.1.1 Geometria da Junta ............................................................................... 62
3.1.2 Parmetros de Soldagem ...................................................................... 62
3.2 Material Estudado: Confeco dos corpos de prova para estudo ............ 63
3.3 Anlise Qumica ....................................................................................... 65
3.4 Caracterizao Microestrutural................................................................. 67
3.4.1 Anlise Metalogrfica ............................................................................ 67
3.4.2 Macrografia............................................................................................ 67
3.4.3 Microscopia tica (MO) ......................................................................... 68
3.4.3.1 Quantificao de Ferrita- .................................................................. 68
3.4.4 Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV).......................................... 68
3.4.5 Difrao de Raios X (DRX).................................................................... 69
3.4.6 Ensaios Eletroqumicos ......................................................................... 70
3.4.6.1 Sistema Eletroqumico........................................................................ 71
3.4.6.2 Confeco do Eletrodo de Trabalho ................................................... 72
3.4.7 Tcnicas Eletroqumicas........................................................................ 74
3.4.7.1 Levantamento das curvas de polarizao andicas ........................... 74
3.4.7.2 Corroso Intergranular........................................................................ 75
3.4.7.3 Corroso Localizada........................................................................... 76
3.4.7.4 Determinao da Taxa de Corroso................................................... 77
xiii
4 RESULTADOS E DISCUSSO .................................................................. 81
4.1 Caracterizao Microestrutural - Metal de Base ...................................... 81
4.2 Caracterizao Microestrutural - Zona Termicamente Afetada ................ 86
4.2.1 Quantificao da Ferrita-..................................................................... 91
4.3 Caracterizao Microestrutural - Metal de Solda ..................................... 93
4.4 Ensaios Eletroqumicos............................................................................ 97
4.4.1 Curvas de Polarizao Andica - Metal de Base .................................. 97
4.4.2 Curvas de Polarizao Andica - Zona Termicamente Afetada.......... 102
4.4.3 Curvas de Polarizao Andica - Metal de Solda ............................... 104
4.4.4 Corroso Intergranular - Metal de Base .............................................. 108
4.4.5 Corroso Intergranular - Zona Termicamente Afetada........................ 116
4.4.6 Corroso Intergranular - Metal de Solda ............................................. 125
4.4.7 Corroso Localizada - Metal de Base ................................................. 131
4.4.8 Corroso Localizada - Zona Termicamente Afetada ........................... 134
4.4.9 Corroso Localizada - Metal de Solda ................................................ 138
4.4.10 Comparao entre o grau de sensitizao e a suscetibilidade ao pite....
.................................................................................................. 142
4.4.11 Corroso Generalizada - Metal de Base ........................................... 145
4.4.12 Corroso Generalizada - Zona Termicamente Afetada..................... 147
4.4.13 Corroso Generalizada - Metal de Solda .......................................... 148
5 CONCLUSO ........................................................................................... 151
6 SUGESTO PARA TRABALHOS FUTUROS........................................... 153
7 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS.......................................................... 155
xiv
xv
NDICE DE TABELAS
Tabela 2.1 Problemas na soldagem dos aos inoxidveis................................. 3
Tabela 2.2 Composio nominal dos supermartensticos para atuao em
diferentes meios corrosivos................................................................................ 9
Tabela 2.3 Sub-diviso da ZTA........................................................................ 26
Tabela 3.1 Parmetros de Soldagem utilizados no processo de feixe de
eltrons ............................................................................................................ 63
Tabela 3.2 Composio qumica do MB e MS. ................................................ 66
Tabela 3.3 Frao da rea do MS na ZTA na condio com consumvel........ 73
Tabela 4.1 Variao composicional da ferrita- no MB da mdia e alta liga, em
relao matriz (% em peso). ......................................................................... 83
Tabela 4.2 Intensidade integrada (I) e frao volumtrica (fv) da austenita retida
no MB............................................................................................................... 85
Tabela 4.3 Variao composicional da ferrita- na ZTA, em relao matriz (%
em peso). ......................................................................................................... 90
Tabela 4.4 Perfil de frao volumtrica da fase . ........................................... 91
na ZTA ............................................................................................................. 92
no MS............................................................................................................... 97
Tabela 4.7 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para o MB. .................... 99
Tabela 4.8 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para a ZTA. ................. 103
Tabela 4.9 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para o MS com
consumvel. .................................................................................................... 106
Tabela 4.10 Densidades de corrente de ativao (ia) e reativao (iR) para o
MB.................................................................................................................. 114
Tabela 4.11 Densidades de corrente de ativao (ia) e reativao (iR) para a
ZTA. ............................................................................................................... 117
MS.................................................................................................................. 126
Tabela 4.13 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para o MB. ..... 146
xvi
Tabela 4.14 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para a ZTA. .... 147
Tabela 4.15 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para o MS....... 150
xvii
NDICE DE FIGURAS
Figura 2.1 Influncia do teor de Carbono no campo de estabilidade austentico:
a) para um ao contendo 0,01% de carbono e b) com contedo de carbono
0,2% .................................................................................................................. 5
Figura 2.2 a) Influncia do nquel na expanso do campo b) Efeito do nquel e
cromo na temperatura Ms .................................................................................. 6
Figura 2.3 Influncia do Mo na estabilidade do campo austentico.................... 7
Figura 2.4 Influncia da temperatura de revenimento no contedo de austenita
retida. ............................................................................................................... 12
Figura 2.5 Curva de temperatura versus tempo para um ponto Z ao lado da
regio soldada.................................................................................................. 15
Figura 2.6 Distribuio da temperatura ao longo da junta soldada .................. 16
Figura 2.7 Esquema de funcionamento de um sistema de soldagem por feixe
de eltrons. ...................................................................................................... 18
Figura 2.8 Disperso do feixe de eltrons de acordo com a presso ambiente.
......................................................................................................................... 19
Figura 2.9 Diagrama de constituio de fases. ................................................ 22
Figura 2.10 Desalinhamento provocado pelo magnetismo do material a ser
soldado. ........................................................................................................... 24
Figura 2.11 Correspondncia entre a temperatura atingida em cada regio da
junta soldada com a respectiva transformao metalrgica. ........................... 25
Figura 2.12 Curva de polarizao em H2SO4, para um metal que sofre
passivao ....................................................................................................... 31
Figura 2.13 Curva de polarizao esquemtica para a tcnica SL-EPR.......... 39
Figura 2.14 Curva esquemtica do ensaio DL-EPR......................................... 41
Figura 2.15 Curva de polarizao para a determinao do potencial de pite e de
repassivao. ................................................................................................... 48
Figura 2.16 Determinao do potencial de pite em curvas potenciodinmicas .
......................................................................................................................... 52
Figura 2.17 Tangente curva experimental de E vs i. ..................................... 54
xviii
Figura 2.18 Efeito do contedo de Cr na taxa de corroso: a) 60C e b) 150C
......................................................................................................................... 57
Figura 2.19 a) Efeito da temperatura e b) do contedo de carbono em
diferentes temperaturas de revenimento na taxa de corroso.......................... 57
Figura 2.20 Efeito do Molibdnio na taxa de corroso. .................................... 58
Figura 2.21 Efeito do nquel a) e do cobre b) na taxa de corroso................... 59
Figura 3.1 Esquema ilustrativo de uma junta soldada por FE-BV: MB (regio
clara), ZTA (regio cinza) e MS (regio escura)............................................... 61
Figura 3.2 Configurao da junta soldada por FE-BV ..................................... 62
Figura 3.3 Seo transversal de uma junta soldada por feixe de eltrons baixo
vcuo. ............................................................................................................... 64
Figura 3.4 a) Local de extrao dos corpos de prova: 1) junta soldada com
adio de consumvel e 2) junta soldada autgena. b) geometria dos microflats
aps fatiamento ................................................................................................ 64
Figura 3.5 Sistema eletroqumico utilizado nos ensaios: 1) clula eletroqumica;
2) potenciostato; 3) computador. ...................................................................... 71
Figura 3.6 Eletrodo de trabalho: a) vista frontal e b) lateral do eletrodo de
trabalho............................................................................................................. 72
Figura 3.7 Corpo de prova do tipo microflat com a regio da haste circulada. . 72
Figura 3.8 Macrografia dos microflats da ZTA aps ensaio de corroso
intergranular: a) microflat 40 ZTma e b) 29ZTha. A linha branca delimita a
separao entre MS e ZTA............................................................................... 73
Figura 4.1 Microestrutura do MB das classes de mdia a) e b) e alta liga c) e d).
......................................................................................................................... 81
Figura 4.2 Microestrutura do MB revelando a presena de estrias da fase : a)
mdia liga e b) alta liga..................................................................................... 82
Figura 4.3 Estria de ferrita- no MB da mdia liga............................................ 83
Figura 4.4 Difratograma do MB: a) mdia liga e b) alta liga. ............................ 84
Figura 4.5 Microestrutura da ZTA da classe de mdia liga: a) prxima linha de
fuso, b e c) interior da ZTA e d) prximo ao MB. ............................................ 86
Figura 4.6 Microestrutura da ZTA da classe de alta liga: a) prxima linha de
fuso, b e c) interior da ZTA e d) prximo ao MB. ............................................ 87
xix
Figura 4.7 Ferrita- prxima linha de fuso na ZTA da mdia liga. ............... 88
Figura 4.8 Ferrita- prxima linha de fuso na ZTA: a) mdia liga e b) alta
liga. LF corresponde linha de fuso. ............................................................. 89
Figura 4.9 Microestrutura da ZTA na regio da fase : a) mdia liga e b) alta
liga. .................................................................................................................. 89
Figura 4.10 Difratograma da ZTA: a) mdia liga e b) alta liga.......................... 93
Figura 4.11 Microestrutura do MS das classes de mdia a) e alta liga b)........ 94
Figura 4.12 Difratograma do MS com consumvel: a) mdia liga e b) alta liga. 95
Figura 4.13 Difratograma do MS autgeno: a) mdia liga e b) alta liga. .......... 96
Figura 4.14 Curva de polarizao dos MB a 10 mV.s-1, em soluo 0,05 M
H2SO4............................................................................................................... 98
H2SO4............................................................................................................. 100
Figura 4.16 a) Microestrutura correspondente ao 1 pico de ativao e b) ao 2
pico de ativao, para as amostras do MB da mdia liga. ............................. 101
Figura 4.17 Curva de polarizao da ZTA a 10 mV.s-1, em soluo 0,05 M
H2SO4............................................................................................................. 102
H2SO4............................................................................................................. 104
Figura 4.19 Curva de polarizao do MS: a) com consumvel e b) autgena, a
10 mV.s-1, em soluo 0,05 M H2SO4. ........................................................... 105
Figura 4.20 Curva de polarizao do MS: a) com consumvel e b) autgena, a 1
mV.s-1, em soluo 0,05 M H2SO4. ................................................................ 107
Figura 4.21 Curva de reativao potenciodinmica para o MB...................... 109
Figura 4.22 Curva de polarizao andica para o MB da alta liga. ................ 110
Figura 4.23 Microestrutura do MB da alta liga: a) 1 pico e b) 2 pico de
ativao.......................................................................................................... 110
Figura 4.24 Curva de reativao catdica para o MB da alta liga. ................. 112
Figura 4.25 Microestrutura do MB da alta liga aps ensaio de reativao
catdica: a) 1 pico de reativao e b) 2 pico de reativao......................... 112
Figura 4.26 Microestrutura do MB aps o ensaio de corroso intergranular: a)
mdia liga e b) alta liga. ................................................................................. 115
xx
Figura 4.27 Curva de reativao potenciodinmica para a ZTA..................... 116
Figura 4.28 Microestrutura de MO da ZTA aps o ensaio de corroso
intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima linha de fuso, b) Interior da ZTA
e c) ZTA prxima ao MB................................................................................. 117
intergranular na alta liga: a) ZTA prxima linha de fuso, b) interior da ZTA e
c) ZTA prxima ao MB.................................................................................... 119
Figura 4.30 Microestrutura de MEV da ZTA aps o ensaio de corroso
intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima ao MB, b) interior da ZTA e c) ZTA
prxima linha de fuso. ............................................................................... 121
intergranular na alta liga: a) ZTA prxima ao MB b) interior da ZTA e c) ZTA
prxima linha de fuso. ............................................................................... 122
Figura 4.32 Curva de reativao potenciodinmica para o MS: a) com
consumvel e b) sem consumvel. .................................................................. 125
Figura 4.33 Microestrutura de MO do MS aps o ensaio de corroso
intergranular na mdia liga: a) com consumvel e b) autgena. ..................... 127
intergranular na alta liga: a) com consumvel e b) autgena. ......................... 128
Figura 4.35 Microestrutura de MEV do MS aps o ensaio de corroso
intergranular na mdia liga: a) com consumvel e b) autgena. ..................... 129
intergranular na alta liga: a) com consumvel e b) autgena. ......................... 130
Figura 4.37 Curvas de polarizao para a determinao do potencial de pite do
MB. ................................................................................................................. 132
Figura 4.38 Morfologia dos pites formados no MB: a) mdia liga e b) alta liga.
....................................................................................................................... 133
Figura 4.39 Curvas de polarizao para a determinao do potencial de pite da
ZTA................................................................................................................. 135
Figura 4.40 Morfologia dos pites formados na ZTA da mdia liga prximo ao
MB: a) superfcie e b) interior do pite.............................................................. 136
xxi
Figura 4.41 Morfologia dos pites formados na ZTA da alta liga, prximo linha
de fuso: a) superfcie e b) interior do pite..................................................... 137
MS: a) com consumvel e b) autgena........................................................... 138
Figura 4.43 Morfologia dos pites formados no MS da Mdia liga: a) com
consumvel e b) autgena. ............................................................................. 140
Figura 4.44 Morfologia dos pites formados no MS da Alta liga: a) com
consumvel e b) autgena. ............................................................................. 141
Figura 4.45 Micrografia representativa do regime aleatrio dos pites formados
no MS da mdia liga com consumvel............................................................ 142
Figura 4.46 Grfico comparativo entre o grau de sensitizao e a
suscetibilidade do pite: a) mdia liga e b) alta liga. ........................................ 143
Figura 4.47 Curvas de polarizao para a determinao da taxa de corroso no
MB.................................................................................................................. 145
Figura 4.48 Curvas de polarizao para a determinao da taxa de corroso na
ZTA. ............................................................................................................... 147
MS: a) com consumvel e b) autgena........................................................... 149
xxii
xxiii
SMBOLOS E ABREVIAES
MB - Metal de Base.
ZTA - Zona Termicamente Afetada.
MS - Metal de Solda.
SFE-BV - Soldagem por feixe de eltrons - baixo vcuo.
Ecorr - Potencial de corroso.
icrtica - Densidade de corrente crtica.
EPP - Potencial de passivao primrio.
iP - Densidade de corrente passiva.
EP - Potencial de passivao.
EPS - Potencial de passivao secundria.
SL-EPR - Curva de reativao eletroqumica potenciocintica, utilizando ciclo
simples.
DL-EPR - Curva de reativao eletroqumica potenciocintica, utilizando ciclo
duplo.
ia - Densidade de corrente de ativao.
iR - Densidade de corrente de reativao.
EPITE - Potencial de Pite.
a - declive andico de tafel.
c - declive catdico de tafel.
RP - Resistncia de polarizao.
I110
- Intensidade integrada para o plano (110).
I111
- Intensidade integrada para o plano (111).
fv - Frao volumtrica da martensita/ferrita.
fv
- Frao volumtrica da austenita.
ET - Eletrodo de trabalho.
MO - Microscopia tica.
MEV - Microscopia eletrnica de varredura.
DRX - Difrao de raios X.
INTRODUO
Os aos inoxidveis martensticos so uma classe dos inoxidveis que
possuem elevada resistncia mecnica, atingida pelo seu alto contedo de

carbono (em torno de 1%), aliado ao tratamento trmico de tmpera. No
entanto, sua baixa tenacidade e soldabilidade, devido ao alto contedo de
carbono, tornam seu uso limitado. Diante dessa perspectiva, surge na dcada
de 90 um novo tipo de ao visando melhorar a tenacidade e, principalmente, a
soldabilidade do martenstico convencional, mantendo suas propriedades
mecnicas caractersticas. As principais mudanas metalrgicas empregadas
nesse novo tipo de material, que ficou conhecido como uma subclasse dos
martensticos, foram a diminuio do teor de carbono para teores em torno de
0,01%, a adio de molibdnio em nveis at 3% e de 4-6% de nquel em vista
de obterem-se melhores nveis de resistncia corroso e de garantir-se uma
estrutura martenstica, caracterstica dos excelentes nveis de resistncia
mecnica.
Esse
novo
tipo
de
ao
inoxidvel
ficou
conhecido
como
supermartenstico, sendo o termo super uma aluso melhora de sua

resistncia corroso e soldabilidade. Apresenta-se como alternativa aos
tradicionais aos carbono e inoxidveis dplex, aliando-se baixos custos de
produo e manuteno com excelentes nveis de resistncia corroso e
propriedades mecnicas, sendo prioritariamente empregado nas linhas de
produo e escoamento de gs e petrleo. Os aos supermartensticos no
possuem uma diviso em classes padronizadas internacionalmente, porm
podem subdividir-se em classes denominadas de baixa (11Cr-2Ni), mdia
(12Cr-4,5Ni-1,5Mo) e alta (12Cr-6,5Ni-2,5Mo) liga, designadas a fim de se
obter as mesmas propriedades mecnicas com diferentes nveis de resistncia
corroso em meios cidos, contendo H2S e CO2, ou neutros, contendo
cloretos (Cl-), devido presena de elementos como Ni e Mo em propores
variveis.
O baixo teor de carbono propiciou uma melhora na soldabilidade deste
ao, devido minimizao de efeitos como fragilizao e sensitizao,
2
ocasionados pela alta precipitao de carbetos de cromo, principalmente do
tipo M23C6, com a conseqente formao de zonas empobrecidas em Cr.
Essas regies fazem-se presentes particularmente na zona termicamente
afetada de soldas, onde h um intenso gradiente de temperatura propcio a tal
precipitao.
Paralelamente, o advento e o emprego de novos processos de soldagem
por fuso, como o de feixe de eltrons baixo vcuo (FE-BV), a laser e por
plasma induzido, conhecidos pela alta densidade de energia, alm dos
processos de soldagem no estado slido, como os de frico, propiciaram a
confeco de juntas de alta qualidade, sem tratamento trmico de pr ou ps
soldagem, podendo inclusive serem aplicados em campos offshore. Dentre
esses processos, o de feixe de eltrons ganha destaque, pois passou de uma
tcnica restrita e dispendiosa, devido necessidade de gerar vcuo de
excelente qualidade durante a operao, para um processo extremamente
verstil, podendo ser empregado em distintos nveis de presso, inclusive no
modo sem vcuo e para peas com geometria complexa. Outras caractersticas
inerentes ao processo esto relacionadas a sua alta velocidade de soldagem,
emprego em materiais de grande espessura sem a necessidade de
consumvel, alm da produo de uma estreita regio afetada pelo calor.
Assim, o conjunto formado pelo ao supermartenstico e o processo de
soldagem por feixe de eltrons, ser estudado em funo da avaliao
eletroqumica do material aps ser soldado. Esta avaliao ser efetuada
distintamente nas trs regies caractersticas de uma junta soldada, por meio
da extrao de corpos de prova do interior das juntas, compreendendo o metal
de base (regio no afetada pelo fluxo de calor da solda), zona termicamente
afetada (regio de distintos gradientes trmicos) e o metal de solda (regio
fundida e solidificada rapidamente), e consistir em ensaios de polarizao
andica, suscetibilidade corroso intergranular, de resistncia ao pite e de
resistncia polarizao. Espera-se com este trabalho, adquirir informaes
imprescindveis avaliao do comportamento eletroqumico de uma junta
soldada do ao supermartenstico e contribuir com a literatura para este
material, que no presente momento escassa.
3
2
2.1
REVISO DA LITERATURA
Aos Inoxidveis Supermartensticos
Os aos inoxidveis possuem importncia tecnolgica devido a sua alta

resistncia oxidao e corroso, apresentando um contedo de cromo na
faixa de 12-27% em peso, que o elemento principal responsvel por tal
resistncia. Dentre os tipos de aos inoxidveis, o martenstico ganha destaque
devido a sua alta resistncia mecnica e elevada dureza, atingidas pela
estrutura martenstica, cujas propriedades so dependentes do contedo de
carbono [1;2]. Contudo, este tipo de inoxidvel no normalmente soldado
devido ao seu alto contedo de carbono (maior que 0,1%), o que acarreta a
produo de trincas, especialmente se o hidrognio estiver presente. A tabela
2.1 ilustra os principais tipos de problemas enfrentados durante a soldagem
dos aos inoxidveis.
Tabela 2.1 Problemas na soldagem dos aos inoxidveis [1]
Ao Inoxidvel
Problemas tpicos
Algumas solues
Uso de consumveis
Austentico
Ferrtico
Martenstico
Trincas de Solidificao,
apropriados mantendo 4-
ataque intergranular,
10% ferrita; Tratamento
trincas a quente nas
trmicos de ps
regies parcialmente
soldagem; Uso de baixa
fundidas
densidade de energia
Baixa tenacidade devido
Uso de baixa densidade
ao crescimento de gro
de energia, ou adio de
na zona termicamente
formadores de carbetos
afetada e contorno de
ou nitretos para suprir
gro martenstico
crescimento.
Trincas por hidrognio
Uso de pr e ps
aquecimento
4
Diante dessa perspectiva, surge no comeo dos anos 90, um novo tipo
de ao inoxidvel que se apresenta como uma subclasse dos martensticos
convencionais, aliando as caractersticas propriedades mecnicas com uma
excelente melhora na soldabilidade e resistncia corroso, conseguida em
funo do baixo contedo de carbono e de outros elementos de liga [3;4]. Estes
aos so denominados de inoxidveis supermartensticos. O termo super
reflete o melhor desempenho desta subclasse em termos de resistncia
corroso e soldabilidade [7]. Consistem basicamente em uma estrutura
martenstica, com baixo nvel de carbono. Essa srie de caractersticas e
propriedades torna este ao desejvel do ponto de vista econmico [5].
2.1.1 Metalurgia dos Supermartensticos

2.1.1.1 Influncia do Carbono e Nitrognio
Os aos inoxidveis supermartensticos baseiam-se na metalurgia dos

martensticos convencionais pela reduo do teor de carbono na matriz,
provocando uma reduo na dureza e como resultado aumentando a
tenacidade da liga. Pelos diagramas da figura 2.1, observa-se como a rea de
estabilidade da austenita () aumentada pelo contedo de carbono. O
nitrognio tambm caracteriza-se por ser um elemento estabilizante da fase .
A anlise do campo de estabilidade austentico importante pois, a
partir do resfriamento no campo austentico, que se obtm uma estrutura
martenstica atravs de mecanismos no-difusionais.
Para teores de carbono menor que 0,01%, figura 2.1a, o campo
austentico desaparece para teores de Cromo (Cr) maior que 13%; j com 0,2%
de carbono, figura 2.1b, aquele campo expandido para maiores teores de Cr.
a)
b)
Figura 2.1 Influncia do teor de Carbono no campo de estabilidade austentico:

a) para um ao contendo 0,01% de carbono e b) com contedo de
carbono 0,2% [6].
Porm, o aumento excessivo no teor de carbono, assim como no de
nitrognio, provoca alguns problemas como [6]:
- a precipitao de carbetos do tipo M23C6 (indicado na figura 2.1b pela letra C,
em baixas temperaturas), o que torna a matriz sensitizada, provocando a perda
de cromo, com conseqente diminuio da resistncia corroso;
- com o aumento do contedo de carbono, a dureza da matriz martenstica
aumenta prontamente [2] e, conseqentemente, torna-se susceptvel trincas
a frio induzidas pelo hidrognio e probabilidade de corroso do tipo SSC
(Sulphide Stress Corrosion cracking);
- a presena de 11-13% de Cr e de 0-3% de Mo podem favorecer a formao
de uma srie de precipitados como M23C6 e M2X, que diminuem o contedo
daqueles elementos em soluo slida, comprometendo a resistncia
corroso [3].
Assim, tanto o contedo de carbono como o de nitrognio devem ser
mantidos o mais baixo possvel, perto de 0,01% em peso [3;6]. Como um
mnimo de 11% de Cr necessrio para garantir adequado desempenho frente
corroso, uma combinao de 11-13% Cr com 0,01% C desejvel para,
alm disso, assegurar boa tenacidade e soldabilidade. Contudo, pelo diagrama
da figura 2.1a, percebe-se que esta liga encontra-se prxima regio +,
6
sendo a ferrita- uma fase indesejada [6;7]. Assim, para se evitar a formao
desta fase, necessria a expanso do campo de , realizada por meio da
adio de outros elementos de liga [6-8].
2.1.1.2 Influncia do Nquel
O diagrama da figura 2.2a mostra como a regio austentica expandida

com a adio crescente de Nquel (Ni) em direo ao aumento da quantidade
de Cr. Esse efeito do Ni foi importante no desenvolvimento dos aos
martensticos baixo carbono, uma vez que devido ao alargamento do campo ,
a formao de ferrita- foi grandemente restringida, assegurando uma matriz
austentica estvel.
a)
b)
Figura 2.2 a) Influncia do nquel na expanso do campo b) Efeito do nquel e

cromo na temperatura Ms [6].
Como conseqncia da estabilidade da fase , a temperatura de incio
(Ms) e final (Mf) da transformao martenstica, durante o resfriamento, so
diminudas, com Mf situando-se perto da temperatura ambiente. Isto causa a
reteno de boa parte da austenita, comprometendo as propriedades
7
mecnicas [5]. A figura 2.2b ilustra como os elementos Cr e Ni influenciam a
diminuio da temperatura de incio da transformao martenstica.
2.1.1.3 Influncia do Molibdnio
um dos mais importantes elementos de ligas do ao inoxidvel, ao

lado de Cr e Ni, sendo adicionado em nveis de at 3% em peso, para
aumentar a resistncia corroso [3;6].
O molibdnio (Mo) promove a desestabilizao do campo austentico,
promovendo a formao de ferrita-, como se pode observar na figura 2.3.
Figura 2.3 Influncia do Mo na estabilidade do campo austentico [8].

O diagrama ilustra como a fronteira deslocada em funo do
contedo de carbono, Cr e Mo, a fim de se limitar ou evitar a formao de
ferrita-. O deslocamento da fronteira de para maiores temperaturas, com o
aumento de Mo, importante nos processos de tratamento trmico em aos
sensitizados, uma vez que se atinge o campo austentico em altas
temperaturas, com conseqente dissoluo de carbetos [6].
8
2.1.1.4 Influncia de outros elementos de liga
Alguns
outros
supermartenstico
para
elementos
facilitar
de
seu
liga
so
adicionados
processamento
ao
modificar
ao
suas
propriedades [3;6]. Seus efeitos so:

- Elementos estabilizantes da austenita
Mangans: adicionado em concentraes at 2% em peso para
substituir o Ni, que mais caro. utilizado como desoxidante. Aumenta a
resistncia fluncia e solubilidade do nitrognio na matriz [6].
Cobre: melhora as propriedades de resistncia corroso em ambientes
com CO2 ou com CO2/H2S [6,9].
- Elementos estabilizantes da ferrita
Silcio: utilizado como desoxidante durante a fabricao. Melhora a
corroso por esfoliao. Segundo Kimura, M. et al. e Leem, D.S. et al. [10;11],
o silcio pode atuar na reteno de um maior contedo de austenita, pois de
acordo com Folkhard, E. [6], o silcio aumenta o contedo de carbono em
soluo slida, contribuindo para a estabilidade da fase .
Titnio e Nibio: possuem alta afinidade por carbono, limitando assim a
precipitao de carbonitretos de Cr, Ni e Mo, pela formao de carbonitretos
mais estveis do tipo Ti(CN) ou NbC, o que pode provocar endurecimento
secundrio durante revenimento. Contudo, adies excessivas podem provocar
a formao de compostos intermetlicos de baixo ponto de fuso [6]. Alm
disso, o titnio tambm possui um efeito de manter uma microestrutura refinada
na zona afetada termicamente devido ao efeito de precipitados do tipo TiN
[12;13].
2.1.2 Composio Qumica
Com o objetivo de otimizar os custos e de obterem-se caractersticas

comuns dos aos supermartensticos, foram desenvolvidos trs tipos de
9
classes [5;14] que combinam propriedades mecnicas similares para operao
em diferentes meios corrosivos, conforme ilustra a tabela 2.2.
As
vrias
classes
dos
supermartensticos
so
principalmente
empregadas nas linhas de produo e escoamento de gs e leo em indstrias

petrolferas, em ambientes como o subaqutico. Outros tipos de indstrias,
particularmente as de gerao de energia, de processos qumicos, de
alimentos e de transporte, j reconheceram a potencialidade, inclusive
econmica, desse tipo de inoxidvel [14].
Tabela 2.2 Composio nominal dos supermartensticos para atuao em
diferentes meios corrosivos [14;15].
Classificao dos Supermartensticos
Elementos de Liga
Baixa Liga
Mdia Liga
Alta Liga
< 0,015
< 0,015
< 0,015
Mn
< 2,0
< 2,0
< 2,0
Si
0,15
0,15
0,15
Cr
11
12
12
Ni
4,5
6,5
Mo
< 0,5
1,5
2,5
Cu
0,4
0,4
0,4
< 0,012
< 0,012
< 0,012
Condies de operao
Temperatura (C)
20-100
20-100
20-100
pCO2 (bar)
10
20
20
pH2S (mbar)
50
Cl- (ppm)
600 - 1.105
600 - 1.105
600 - 1.105
pH
3,5 4,5
3,5 4,5
3,5 4,5
Algumas observaes devem ser notadas:

1) A composio das classes pode variar de acordo com o fabricante.
10
2) A designao, baixa, mdia e alta liga so usadas apenas como um
guia para indicar a correlao entre propriedades mecnicas e de
corroso [5;14].
2.1.3 Microestrutura, Tratamento Trmico e Propriedades
A microestrutura dos aos supermartensticos consiste basicamente de

martensita, que obtida por um tratamento trmico de solubilizao (ou
austenitizao), em torno de 970C [12], seguido de tmpera, geralmente ao ar,
devido susceptibilidade trincas [13], caracterizado por altas taxas de
resfriamento de modo a inibir a decomposio da austenita () em ferrita (),
transformao difusional. Em seu lugar, ocorre uma transformao atrmica e
no-difusional, originado pelo cisalhamento da estrutura austentica, resultando
na formao de martensita, cuja temperatura de incio (Ms) e final (Mf) de
260C, 150C e de 120, 20C respectivamente, para mdia e alta liga [8].
Desvios da composio qumica causados por segregao ou precipitao
influem diretamente neste parmetro que, segundo Tsai, M.C. et al. (2002) [16],
tambm se mostra dependente do tamanho de gro austentico, taxa de
resfriamento, defeitos, tenses e deformaes, magnetizao e presena de
outras transformaes. Na condio como temperado, no h precipitao de
carbetos ou nitretos de cromo e molibdnio [10]. Nesta condio, as ligas
apresentam um conjunto de alta resistncia mecnica e dureza, com baixa
tenacidade [5;7], ocasionado pelos altos nveis internos de tenso da estrutura
martenstica. Assim, efetuado tratamento trmico de revenimento, em torno
de Ac1, cujo valor encontra-se entre 640C e 630C para a mdia e alta liga,
respectivamente [5;12;15]. Dependendo do tempo utilizado no revenimento
dessas ligas, geralmente de 20 a 3 minutos para garantir a mesma estrutura
[8], submete-se os materiais a uma faixa ente 580C-650C [5]. Este
procedimento resultar numa matriz martenstica com nveis de tenacidade
maiores [17], porm com pequena reduo na dureza e na resistncia
mecnica, ocasionados principalmente pela formao de austenita, que se
11
encontra finamente distribuda na matriz martenstica [5;12;16-18]. Na condio
de como laminado, os aos supermartensticos tambm recebem tratamentos
trmicos de revenimento para refinamento de gro e amaciamento da
estrutura, podendo resultar em gros recristalizados ao longo da direo de
laminao [8;15].
O contedo volumtrico de austenita retida varia de 10%-20% na mdia
liga, sendo maior que 40% na alta liga [5]. Devido ao seu pequeno tamanho
mdio, da ordem de nanmetros ou sub-mcrons, a austenita somente
observada utilizando-se de microscopia eletrnica de transmisso [6;18;19].
Apesar de Nose, K. e Asahi, H. (2000) [18], verificarem uma distribuio
qumica distinta de elementos entre a fase martenstica e austentica,
constataram que tal diferena no prejudicou a resistncia corroso, devido a
fase austentica estar finamente distribuda e dividida. Bilmes, P.D., Solarib, M.
e Llorentea, C.L. (2001) [17] verificaram que a austenita resultante de
tratamento trmico de revenimento, em torno de Ac1 por 2 horas, apresentouse com um contedo de nquel, mangans e carbono superior ao da matriz
martenstica. Segundo Vodarek, V.; Tvrdy, M. e Korgak, A. (2001) [12], existem
diversos mecanismos de estabilizao da austenita, cujo contedo
dependente do teor de nquel [11]. Entretanto, segundo Tsai, M.C. et al. (2002)
[16] e Melero, E.J. et al. (2007) [20] a estabilidade da austenita dependente
de seu tamanho de gro, sendo mais estvel quanto mais refinada.
De acordo com Folkhard, E. [6], com base em ensaios dilatomtricos, a
formao da austenita estvel inicia-se a partir de 570C, atingindo um
contedo volumtrico mximo de 30%, que dependente do tipo de liga, a
615C. A partir desta temperatura, a austenita que se forma no mais estvel,
transformando-se novamente em martensita.
Assim, de acordo com a figura 2.4, existem trs tipos diferentes de
austenita: Au1, austenita retida estvel resultante do processo de tmpera, em
torno de 7%; Au2, austenita precipitada durante o revenimento, podendo
alcanar teores mximos de 30%, dependendo da composio da liga, a
615C; e Au3, austenita instvel que durante o resfriamento, aps o
revenimento, transforma-se em martensita.
12
Figura 2.4 Influncia da temperatura de revenimento no contedo de austenita

retida [6].
A austenita resultante estvel mesmo se resfriada a -196C
[3;6;12;17], o que de acordo com Bilmes, P.D., Solarib, M. e Llorente, C.L.
(2001) [17], no se deva exclusivamente a fatores composicionais, mas
tambm a fatores subestruturais desta fase. Contudo, a austenita transformase em martensita quando submetida deformaes e tenses [12;17], como as
decorrentes de tenses trmicas [11], induzidas pelo ciclo trmico da
soldagem.
A transformao da austenita em ferrita (), que se processa por
nucleao e crescimento, limitada pelos curtos perodos de revenimento [8].
Entretanto, a distino entre martensita e ferrita no possvel utilizando-se da
tcnica de raios X [8,21]. Isto ocorre uma vez que a martensita, em aos
martensticos convencionais, tem estrutura tetragonal de corpo centrado (TCC)
com parmetro de rede c maior do que o parmetro a da ferrita (), que
cbica de corpo centrado. Com a diminuio do contedo de carbono, a
relao c/a aproxima-se de 1, e a martensita assume uma estrutura cbica
[8;21].
A ferrita- aparece como um microconstituinte, devido ao processo de
tmpera, com porcentagens inferiores a 1% [12]. Segundo a literatura [13;2224], a presena desta fase causa a deteriorao da resistncia mecnica,
inclusive nas soldas, atravs do aumento de trincas advindas da solidificao
[25], da fluncia (trabalho a quente) e da resistncia corroso sob tenso, de
aos martensticos e supermartensticos. Cardoso, P.H.S., et al. (2003) [24],
13
entretanto, constataram a necessidade de um contedo mnimo necessrio
para otimizar a dutilidade. Hara, T. e Asahi, H. (2000) [23] e Dhooge, A. e
Deleu, E. (2002) [26], verificaram a presena de ferrita em aos
supermartensticos de mdia e alta liga, com o formato de estrias nos
contornos de gro da fase austentica prvia. Hara, T. e Asahi, H. (2000) [23]
constataram ainda, a gerao de regies empobrecidas em cromo, prximas a
esta fase, ocasionadas pela precipitao de carbetos/nitretos de cromo, que
segundo Janovec, J., Svoboda, M. e Blach, J. (1998) [27] consistia de carbetos
do tipo M23C6. Contudo, no foi observado precipitao intragranular nessa
fase, por microscopia eletrnica de transmisso [23].
2.1.3.1 Precipitao de Carbetos
Como ilustrado no diagrama de fases da figura 2.1, o carbono possui

uma solubilidade muito baixa no ao inoxidvel, a tal ponto que na temperatura
ambiente, os aos austenticos possuem 0,006% de solubilidade para o
carbono, que muito menor no caso dos inoxidveis ferrticos [6]. A martensita
apresenta solubilidade menor que 0,01% aps revenimento a 700C [28].
Se quantidades excessivas de carbono forem dissolvidas no ao
inoxidvel por um tratamento de solubilizao seguido de tmpera, o carbono
tender a precipitar-se no instante em que a taxa de difuso for propcia. Essa
precipitao um processo dependente do tempo e da temperatura. Alm
disso, elementos de liga, tais como o nquel e molibdnio, influenciam no
processo de precipitao, uma vez que reduzem a solubilidade do carbono na
matriz de ligas Fe-Cr-Ni [6]. Entretanto, o titnio e nibio atuam como
estabilizadores do carbono, devido alta tendncia desses elementos para
formarem carbetos estveis custa do cromo [13].
Os aos inoxidveis supermartensticos, mesmo apresentando baixos
teores de carbono, no evitam a precipitao de carbetos [13], principalmente o
de cromo, acarretando na perda de resistncia corroso [28]. Tal precipitao
decorre do tratamento de revenimento, com o carbono supersaturado em
14
soluo slida vindo a precipitar-se na forma de M23C6 ou como carbonitretos
do tipo M2(C,N), localizados tanto no interior como nos contornos de gros [17;
27]. Revenimentos entre 450 e 580C causaram altas taxas de corroso, bem
como envelhecimento a 425C, devido ao aumento de precipitados [6].
Segundo a literatura [10;29], o contedo de austenita retida atua na
diminuio da precipitao de carbetos com cromo e molibdnio, devido a
maior dissoluo do carbono e nitrognio nesta fase.
Alm dos precipitados com carbono, foi observado por microscopia
eletrnica de transmisso, a presena da fase de Laves Fe2Mo nos contornos
da fase austentica prvia e na matriz martenstica, em amostras revenidas
entre 600-670C, ocasionadas pelo alto contedo de molibdnio (2,5%) [4;12;
30;31]. Contudo, segundo Vodarek, V.; Tvrdy, M. e Korgak, A. (2001) [12],
necessita-se de um estudo para verificar o efeito da precipitao da fase de
Laves, nas propriedades mecnicas e de corroso do ao supermartenstico.
2.2
Fundamentos de Soldagem
A soldagem propicia ciclos trmicos no material caracterizados por altos

picos de temperatura em regies localizadas, que decrescem conforme se
afasta da fonte de calor. A figura 2.5 ilustra uma curva de temperatura em
funo do tempo para um determinado ponto Z prximo solda.
15
Tp
Figura 2.5 Curva de temperatura versus tempo para um ponto Z ao lado da

regio soldada [33].
Contudo,
cada
ponto
do
material
localizado
prximo
junta
experimentar diferentes variaes de temperatura. Esta curva chamada de

ciclo trmico de soldagem, podendo ser considerada como o tratamento
trmico que um determinado ponto sofreu durante a soldagem. Algumas
caractersticas importantes podem ser extradas dessas curvas, como a
temperatura de pico (Tp), que a temperatura mxima atingida por um ponto,
tempo de permanncia (tp) acima de uma temperatura crtica, o tempo de
resfriamento (t) entre duas temperaturas T1 e T2 ou a velocidade de
resfriamento [27]. Conseqentemente, esses altos gradientes localizados de
temperaturas tm grandes efeitos metalrgicos em cada ponto de solda, que
so dependentes do conhecimento das variveis citadas anteriormente [32].
Outro aspecto importante a distribuio de temperatura em funo da
distncia desde o centro da solda, chamada de curva de repartio trmica,
ilustrada na figura 2.6, que representa as temperaturas mximas atingidas em
cada ponto da junta soldada [32].
16
Figura 2.6 Distribuio da temperatura ao longo da junta soldada [33].

Entretanto, os ciclos trmicos e a repartio trmica so dependentes de
parmetros como o tipo de metal de base, com relao a sua condutividade
trmica; a geometria e espessura da junta, para o fluxo de calor; da energia de
soldagem e temperatura inicial da pea [32].
A curva de repartio trmica permite distinguir trs regies principais,
para uma solda por fuso: o metal de base (MB), regio no afetada pelo ciclo
trmico da solda; zona termicamente afetada (ZTA) ou zona afetada pelo calor
(ZAC), regio no fundida do metal de base que sofreu mudanas
microestruturais e/ou de propriedades ocasionadas pelo ciclo trmico da
soldagem; e o metal de solda (MS) ou zona fundida (ZF), regio caracterizada
pela fuso e solidificao do material. Alm disso, pode ser utilizada para
determinar a largura da zona afetada termicamente.
2.3
Soldagem por Feixe de eltrons baixo vcuo (SFE-BV)
2.3.1 Introduo
Os processos de soldagem por fuso so os mais utilizados para a unio

de materiais, sendo os mais conhecidos aqueles a arco eltrico. Estes
17
processos so caracterizados pela produo de juntas soldadas em mltiplos
passes, com adio de material consumvel em baixas taxas de deposio
[32;34], produzindo uma extensa regio afetada pelo calor, alm da
possibilidade de segregaes na regio fundida e penetrao de gases, como
o hidrognio. Contudo, processos por fuso utilizando uma alta densidade de
energia, como o feixe de eltrons, podem ser empregados sem a necessidade
de materiais consumveis, com uma estreita regio afetada pelo calor e sem a
penetrao de gases; no entanto, no restringem problemas gerados por
trincas de solidificao ou porosidades, comuns aos processos de soldagem
por fuso [35]. Com relao aos processos de soldagem no estado slido,
como os de frico, sua principal vantagem recai em no possuir os problemas
caractersticos dos processos de fuso, mas ao mesmo tempo so limitados
pela geometria da junta a ser soldada [36].
Assim, o processo de soldagem por feixe de eltrons caracteriza-se por
uma unio de materiais, atravs da fuso dos mesmos, por um feixe
concentrado de eltrons com alta velocidade. A energia para a fuso do
material fornecida pela coliso dos eltrons com o material a ser soldado,
transformando sua energia cintica em energia de atrito, calor [36].
2.3.2 Funcionamento
Esse tipo de soldagem de alta densidade de energia foi inicialmente

projetado para uso industrial na dcada de 1920, mas por limitaes tcnicas e
econmicas s foi implementado como meio vivel de manufatura em 1950,
sendo usado primariamente pela indstria nuclear e, subseqentemente, pelas
indstrias aeronutica e aeroespacial, devido a sua alta qualidade [37].
A configurao do aparelho de soldagem, que est representado
esquematicamente na figura 2.7, caracterizado por trs compartimentos:
18
Figura 2.7 Esquema de funcionamento de um sistema de soldagem por feixe

de eltrons [1].
1) Canho de gerao dos eltrons: esta regio, que o local de gerao
dos eltrons, composta de um ctodo de tungstnio, que emite
eltrons aps a passagem de uma corrente eltrica da ordem de 501000 mA [1;36] e com aquecimento direto ou indireto do filamento,
emisso termoinica. Estes eltrons so ento focalizados por uma
grade negativamente carregada (Bias), logo abaixo do ctodo. Em
seguida, o feixe formado acelerado, atravs de uma alta diferena de
potencial, na faixa de 30-175 kV, em direo ao ando (positivo), que
perfurado para permitir a passagem do feixe.
2) Sistema de focalizao: este sistema composto de lentes eletrostticas
ou eletromagnticas, tal que o feixe atinja um dimetro da ordem de 0,30,8 mm, a fim de assegurar alta densidade de energia em regies
minsculas, perto de 1010 W/m2. Isto torna possvel uma alta penetrao
do feixe na amostra a ser soldada.
3) Cmara de Vcuo: o sistema de vcuo constitui-se na parte mais
delicada do processo, pois o feixe que deixa o compartimento do
sistema 2 composto de alta energia. Assim, necessrio um vcuo da
ordem de 10-5 mbar (alto vcuo) para que o feixe possa soldar materiais
com espessuras de at 300 mm para o ao e de 450 mm para ligas de
alumnio, sem que haja alargamento do dimetro do feixe. Contudo,
19
existem cmaras de vcuo utilizando presses maiores: mdio (10-3-10-1
torr), baixo (10-1-ambiente) e sem vcuo. Isso acarretou no alargamento
do dimetro do feixe, na ionizao das molculas do ar, e na
conseqente diminuio da penetrao do mesmo, pois ao ionizar
molculas do ar, perde-se energia, figura 2.8 [37;38].
Figura 2.8 Disperso do feixe de eltrons de acordo com a presso ambiente

[1].
2.3.3 Seleo de Consumveis
O consumvel pode ser adicionado a fim de se evitar trincas de

solidificao em metais similares [40] ou mesmo na unio de materiais
dissimilares, com o intuito de evitar problemas quanto incompatibilidade
metalrgica, formao e segregao de fases frgeis ou com baixo ponto de
fuso [41]. Assim, a escolha do material consumvel necessita do
preenchimento de alguns requisitos [14;39;40], como resistncia mecnica e de
corroso uniformes ao longo da junta, minimizando ou eliminando tratamentos
trmicos de ps soldagem e a um baixo custo. Neste sentido, consumveis de
inoxidveis austenticos, duplex, superduplex e martenstico no atendem tais
requisitos, devido obteno de propriedades mecnicas inferiores [40;41] ou
mesmo a problemas de corroso galvnica em funo da diferena
composicional [42], no caso dos consumveis austenticos, duplex e
20
superduplex. O alto contedo de nitrognio, presente nos metais consumveis
das duas ltimas classes citadas, pode levar a porosidade na junta [41]. Assim,
metais consumveis do tipo matching, apresentando composio qumica
similar ao do ao supermartenstico alta liga, so utilizados na soldagem de
qualquer classe dos supermartensticos, garantindo propriedades mecnicas e
de
corroso
similares
[43],
sem
gradientes
de
composio
qumica
significativos [41].
A literatura [39;43;44] apresenta resultados comparativos quanto s
propriedades
mecnicas
de
juntas
soldadas
com
consumveis
duplex/superduplex e matching.
2.3.4 Solidificao e Microestrutura
Os principais parmetros que controlam a solidificao de ligas fundidas,

tambm controlam a solidificao e a microestrutura de soldas, com relao ao
tamanho e forma de gros e de eventos de segregao, porosidade e
incluses. Estes parmetros so a taxa de crescimento, o gradiente de
temperatura, superesfriamento, bem como a composio da liga [45]. Contudo,
o desenvolvimento microestrutural em soldas mais complexo devido a
processos fsicos que ocorrem como interao da fonte de calor com o metal
sendo soldado, refuso, fluxo de calor, vaporizao, dissoluo de gases,
tenses e distores [45].
A solidificao na poa de fuso inicia-se espontaneamente por
crescimento epitaxial na regio parcialmente fundida, com a morfologia da
interface slido-lquido dependente do gradiente trmico no lquido e no slido,
assim como do superesfriamento constitucional, causado pela redistribuio do
soluto na poa de fuso, resultando em segregao [45]. Como a solidificao
inicia-se a partir dos gros da regio parcialmente fundida do metal de base,
esta fase exercer influncia cristalogrfica de modo a favorecer o crescimento
de gros em certas direes, chamadas de direo de crescimento facilitada
21
(easy growth directions) [1;45-48], podendo ou no coincidir com a direo do
fluxo de calor da solda. Contudo, durante a soldagem, empregando processos
de alta densidade de energia, como os de feixe de eltrons e laser, comum
observarem-se algumas caractersticas relacionadas alta velocidade de
solidificao proporcionada pelas altas taxas de resfriamento. A primeira diz
respeito ao coeficiente de partio de soluto, k, entre a fase lquida e slida,
que afetado pela taxa de solidificao de modo que seu aumento, desvia o
valor de k para valores prximos a 1. Isto resultar na reduo da partio do
soluto, com conseqente mudana na morfologia da interface slido-lquido, e
a um grau reduzido de microsegregao, devido tambm ao curto perodo em
que o material permanece fundido [1;45;46]. A segunda alterao ocorre no
modo de solidificao, resultando na formao de fases termodinamicamente
no estveis. [1;45;47;49].
David, S.A.; Babu, S.S. e Vitek, J.M. (2003), Tsukamoto, S.; Harada, H.
e Bhadeshia, H.K.D.H. (1994) e Zambon A. e Bonollo, F. (1994) [45;47;49],
mostram exemplos de aos inoxidveis soldados por feixe de eltrons ou laser,
que apresentaram microestruturas metaestveis ou mesmo de interfaces
slido-lquido que mudaram de morfologia com o aumento da taxa de
solidificao. De acordo com a literatura [8;46-50], a microestrutura de soldas
por feixe de eltrons, em aos austenticos e supermartensticos, revelou o
crescimento de dendritas colunares.
A fim de se prever o tipo e a quantidade das fases metalrgicas nos
aos inoxidveis, Balmforth, M.C. e Lippold, J.C. (2000) [51], desenvolveram
um diagrama, figura 2.9, que no de equilbrio, para prever a influncia da
composio qumica na microestrutura da solda, por meio de equaes
empricas. A grande contribuio deste tipo de diagrama a possibilidade de
desenvolvimento de ligas e consumveis, bem como sua seleo para
aplicaes especficas. Por ter sido desenvolvido com soldas a arco eltrico
(GTAW), este diagrama no se aplica na previso das fases formadas em
processos que empregam alta densidade de energia, uma vez que as altas
taxas de resfriamento proporcionam mudanas no modo de solidificao.
22
Figura 2.9 Diagrama de constituio de fases [51].

Karlsson, L. et al. (1999) [39], constataram a presena de martensita,
ferrita-
austenita
retida
em
soldas
arco
eltrico
dos
aos
supermartensticos com consumvel matching. Segundo o autor, possvel a

existncia de trs morfologias distintas para a fase ferrtica, resultante da
transformao incompleta em austenita. O contedo de austenita varia de 1%,
com consumvel sem molibdnio, 3% com consumvel contendo 1,5% de Mo e
maior que 30% em consumveis com 2,5% Mo.
Srinivasan, P.B.; Sharkawy, S.W. e Dietzel, W. (2004) [50], verificaram a
presena de pequenas quantidades de estrias de ferrita na estrutura
martenstica temperada, numa junta soldada de ao supermartenstico por feixe
de eltrons, com a utilizao de consumvel matching. O contedo de austenita
retida no foi medido.
Neubert et al. (2004) [8], por meio de medidas de difrao de raios X,
verificaram a presena de ferrita e austenita. A transformao de austenita em
ferrita () limitada devido s altas taxas de resfriamento da solda, o que inibe
o processo que ocorre por nucleao e crescimento.
O contedo de austenita retida aumenta com a taxa de resfriamento e
temperatura de solubilizao devido ao abaixamento da temperatura de incio
23
da transformao martenstica, Ms, [47;52], cuja frmula emprica com relao
ao efeito dos elementos de liga pode ser encontrada na literatura [53]. Outra
razo, segundo Tsukamoto, S.; Harada, H. e Bhadeshia, H.K.D.H. (1994) [47],
est associada com a direo de crescimento das dendritas de solidificao.
Alm disso, Zambon, A. e Bonollo, F. (1994) [49], verificaram que o contedo
de austenita varia com a espessura da regio fundida, sendo aproximadamente
igual no topo e raiz e consideravelmente menor no centro de juntas soldadas a
laser, de aos inoxidveis austenticos e duplex. Tal fenmeno foi atribudo ao
processo de resfriamento, que no centro da solda foi menor, devido
condutividade trmica no estado slido.
2.3.5 Vantagens do SFE-BV
Por se tratar de um processo de alta densidade de energia podem-se

conseguir soldas com uma alta penetrao, de at 20 mm para o processo
baixo vcuo [41], tima eficincia, atravs da converso de energia eltrica em
energia
de
feixe
com
95%
de
aproveitamento,
distores
mnimas,
extremamente verstil, utilizao em materiais considerados difceis de serem

soldados, soldagem em passe nico, com ou sem a necessidade de eletrodos
consumveis, altas velocidades de soldagem, alm da produo de uma
estreita regio termicamente afetada [1;37;38;54].
2.3.6 Limitaes do SFE-BV
Alto custo de implementao, devido gerao de vcuo, restrio das

peas a serem soldadas pelo tamanho da cmara, uso de proteo, devido
emisso de raios X, produzidos na coliso dos eltrons com o material.
Dependncia da velocidade de soldagem com diferentes tenses de voltagens
24
e profundidade. Alm disso, a alta velocidade deste processo no permite que
eventuais bolhas escapem de materiais espessos, acarretando na formao de
poros ou mesmo trincas. Outra limitao se refere ao desalinhamento do feixe
provocado pelo magnetismo da amostra na regio a ser soldada, como ilustra a
figura 2.10 [1].
Figura 2.10 Desalinhamento provocado pelo magnetismo do material a ser

soldado [1].
2.4
Zona Termicamente Afetada (ZTA) de Soldas
A zona termicamente afetada ou afetada pelo calor, representa uma

poro do metal de base que sofreu transformaes difusionais no estado
slido gerado pelo ciclo trmico da solda. No caso do processo de soldagem
por feixe de eltrons, a ZTA estende-se por poucos milmetros [55]. Contudo, a
temperatura atingida muda em diferentes pontos da ZTA, dando origem a um
gradiente trmico. Este gradiente, ou mesmo diferenciao trmica, conduzir
a variaes microestruturais distintas com relao ao grau e ao tipo de
transformao [8]. Assim, a ZTA pode ser subdividida em sub-regies, que
segundo a literatura [3;53;56;57] so dependentes da temperatura atingida. A
figura 2.11 mostra a evoluo microestrutural na ZTA produzida pelo calor da
solda, com base nos trabalhos de Carrouge D. (2002) [3], Akselsen et al.
25
(2004) [53] e Enerhaug, J., Grong, O. e Steinsmo, U.M. (2001) [56], e tendo
como referncia os diagramas de fases de ligas Fe-Cr-Ni [6].
Zona parcialmente fundida

Regio Ferrita-
Regio +
Regio da Austenita
Regio +
ML
AL
Figura 2.11 Correspondncia entre a temperatura atingida em cada regio da

junta soldada com a respectiva transformao metalrgica.
A tabela 2.3 mostra separadamente a faixa de temperatura atingida por
cada uma das seis regies na ZTA da figura 2.11, bem como a correspondente
transformao metalrgica, para as classes de mdia e alta liga, designadas
como ML e AL, respectivamente na figura 2.11, em solda a arco eltrico TIG.
Existe alguma controvrsia quanto a considerar-se a zona parcialmente fundida
como sendo pertencente ZTA [3;48;51] e com relao classificao da
regio em que ocorre precipitao, prxima ao metal de base [53;57].
A principal limitao desses trabalhos diz respeito utilizao de
diagramas
de
fases
de
equilbrio
para
previso
das
mudanas
microestruturais, o que no ocorre em uma solda devido ao rpido ciclo trmico

e s condies de no-equilbrio.
26
Segundo Neubert et al. (2004) [8], a ZTA de soldas realizadas por feixe
de eltrons no apresenta uma regio parcialmente fundida, com a linha de
fuso sendo dificilmente delineada.
Tabela 2.3 Sub-diviso da ZTA [3;53;56].
Regio
1) Zona
parcialmente
fundida
2) Regio de
formao de
ferrita-
3) Regio de duas
fases (+)
4) Regio
austentica
5) Regio de duas
fases (+)
Caracterstica
Regio adjacente
linha de fuso,
composta pelo
metal fundido e
ferrita- em
formao.
Caracteriza-se
pela
transformao
completa em
ferrita-, com
crescimento de
gro.
Caracterizada pela
transformao de
em durante o
aquecimento.
Regio de alta
temperatura.
Formao de
austenita no
aquecimento,
numa certa regio.
Caracterizada pela
transformao
parcial de
martensita
revenida em
austenita no
aquecimento.
Faixa de
temperatura de
transformao (C)
para mdia liga
Faixa de
temperatura de
transformao (C)
para alta liga
~1440 1470
~1440 1470
~1310 1440
~1390 1440
~1200 1310
~1260 1390
~710 1200
~630 1260
~600 710
~460 630
A regio de formao da ferrita- caracterizada por gros grosseiros,

formados durante o aquecimento, sendo que se decompem em austenita e,
posteriormente, em martensita durante o resfriamento [3;57]. Segundo
27
Carrouge D. (2002) [3], essa regio apresentou austenita em trs morfologias
distintas: alotriomrfica, intergranular e de widmannstatten [57].
A regio de duas fases composta por gros refinados, decorrentes da
nucleao e crescimento incompleto da ferrita-, nos contornos de gro da
austenita prvia e intragranularmente [3;56;57].
Ladanova, E. e Solberg, J.K (2002) e Ladanova, E., Solberg, J.K e
Rogne, T. (2006) [19; 58], verificaram a precipitao de partculas de carbeto
contendo Fe, Cr, Mo na regio prxima linha de fuso de soldas a arco
eltrico, englobando a regio de gros grosseiros e a refinada, regies 2 e 3 na
tabela 2.3, para aos supermartensticos, contendo ou no titnio. Nos aos
sem titnio, as partculas precipitadas eram de carbetos de cromo e ferro, do
tipo (Fe, Cr)23C6, com dimetro entre 10-30 nm. Contudo, no ao contendo
titnio, os carbetos eram ricos nesse elemento com algum Cr, Mo, Si.
Aplicao de tratamentos trmicos de ps-soldagem intensificou a precipitao
e o tamanho das partculas. Alm dos contornos de gro, constatou-se a
precipitao dessas partculas na interface da martensita com a ferrita.
Segundo os autores, a precipitao desses carbetos ocorre devido ao
aquecimento provocado por mltiplos passes numa operao de soldagem,
fazendo com que o carbono, que estava em soluo slida supersaturada,
durante a transformao martenstica, nucleasse e crescesse. Isto ocorre
devido ao alto coeficiente de difuso do carbono na ferrita e martensita, em
comparao com a da austenita, o que exigiria perodos curtos de
aquecimento. No caso do supermartenstico com titnio, devido alta afinidade
deste elemento com o carbono, haveria uma competio entre a formao do
carbeto com cromo e titnio, sendo este ltimo formado em maior quantidade.
Contudo, durante o revenimento, no se observou o crescimento das partculas
de titnio, como as do ao sem esse elemento. Esta caracterstica foi atribuda
presena do molibdnio dissolvido junto com os carbetos de Ti, que devido
ao seu baixo coeficiente de difuso, retardaria o crescimento. Entretanto,
Carrouge, D. (2002) [3], constatou que partculas de carbonitretos de Ti atuam
como iniciadores de trincas.
28
Assim, essas reas com falta de cromo, sensitizadas, seriam propensas
corroso intergranular, uma vez que seu contedo de cromo estaria abaixo
do requerido para a formao do filme passivo. Alm disso, efeitos galvnicos e
relaes ctodo/nodo altas contribuiriam para uma maior susceptibilidade.
Desse modo, a presena de titnio garantiria uma menor susceptibilidade a
esse tipo de corroso.
Portanto, a sensitizao de reas prximas linha de fuso estaria
associada com soldas de mltiplos passes, conforme outras publicaes na
literatura [52;59-61]. Neste sentido, a solda com passe nico ou somente o
passe topo produziriam ZTAs com menor propenso precipitao e,
conseqentemente, corroso [59;60].
A presena de ferrita-, nesta regio da ZTA, como linhas ou estrias
normais a solda, foram observadas e estudadas por muitos pesquisadores
[3;26;52;59;62]. Carrouge, D. (2002) [3], explicitou o mecanismo de formao
dessa fase, constatando por medidas de EDS que a fase enriquecida em
elementos ferritizantes como Cr e Mo [24;27], com falta de Ni [57]. Assim, a
estabilidade dessa fase deve-se a mecanismos difusionais de elementos
substitucionais.
Cardoso, P.H.S. et al. (2003) [24], estudando o efeito da temperatura na
formao da fase , em ao martenstico AISI 416, afirmaram que essa fase
resultado de uma combinao de efeitos tanto da composio qumica, que
conforme Gooch, T.G., Woolin, P. e Haynes, A.G. (1999) [52] mais acentuada
em aos com baixo nquel e carbono, como da microestrutura e de tratamentos
trmicos prvios. Em temperaturas entre 1250-1300C, a difuso de elementos
intersticiais, como o carbono, alta, provocando a dissoluo de carbetos e
deixando regies enriquecidas em Cr, que atuam como stios preferenciais
para a nucleao da ferrita-. Em temperaturas superiores, por exemplo, a
1350C, a difuso tanto do Cr como do C intensa. Assim, carbetos
precipitados durante o revenimento podem redissolver-se, nessas regies da
ZTA, provocando a nucleao da fase , que se inicia nos contornos prvios da
fase austentica.
29
Outros fatores como a taxa de resfriamento [56] e o calor fornecido pela
fonte geradora atuam na reteno de ferrita [53], conforme estudado por
Carrouge D. (2002) [3]. A influncia da ferrita nas propriedades mecnicas da
ZTA, bem como em ensaios de corroso sob tenso, esto descritas em vrios
trabalhos na literatura [34;43;53;59;60].
Assim, alm da ferrita , a microestrutura da ZTA seria composta por
martensita revenida, regies escuras, e no revenida correspondendo s reas
claras, sendo essa ltima resultante da formao de austenita com
conseqente transformao em martensita novamente [56;61]. Contudo, a
presena de colorao pode refletir em outros parmetros, como tamanho de
gro, orientao e porcentagem de transformao, conforme apontado por
Neubert et al. (2004) [8], que, alm disso, verificaram gros recristalizados na
ZTA de soldas por feixe de eltrons.
Akselsen et al. (2004) [53], apontaram a importncia da temperatura de
incio da transformao martenstica, Ms, na influncia da evoluo de tenses
residuais, na seleo de temperaturas entre passes e no grau de
transformao, que segundo Gooch, T.G., Woolin, P. e Haynes, A.G. (1999)
[52], alcana 50% de transformao com um resfriamento de 20-50C abaixo
de Ms. Ainda segundo Gooch, T.G., Woolin, P. e Haynes, A.G. (1999) [52], o
contedo de austenita retida ser menor na ZTA em relao ao MB, e na zona
fundida de soldas com consumvel do tipo matching.
2.5
Resistncia Corroso
A avaliao eletroqumica do comportamento de materiais metlicos em

potenciais diferentes do potencial de corroso ou de estado estacionrio,
caracterizado como sendo o potencial de equilbrio estabelecido entre o metal e
seu eletrlito, de interesse prtico e terico na medida em que possibilita a
previso de seu comportamento em diferentes condies de operao.
Os mtodos de polarizao so baseados na imposio de potenciais
distintos daquele de equilbrio, em metais ou ligas, num dado eletrlito que se
30
deseja analisar o comportamento resultante. Assim, os ensaios de polarizao
simulam a corroso acelerada de um material, no prevendo sua vida til. A
anlise grfica das curvas feita em curvas de potencial aplicado (E, com
relao a uma referncia) versus a densidade de corrente (i/A) ou
simplesmente a corrente (A). A curva de polarizao obtida representativa do
efeito global de todas as reaes que ocorrem simultaneamente sobre o
eletrodo [63].
Alm disso, a rea e forma das curvas de polarizao dependem da
composio e temperatura da soluo, assim como da composio qumica e
do tipo e quantidade das fases presentes numa certa liga [64]. A velocidade de
varredura com relao ao qual o potencial aumentado em varreduras
potenciodinmicas tambm exerce influncia na forma da curva e nos valores
estabelecidos atravs dessa.
Nas curvas de polarizao de aos inoxidveis em meio contendo cido
sulfrico, podem-se distinguir trs regies caractersticas: 1) regio ativa, em
que toda a superfcie do material oxida-se, alta densidade de corrente; 2)
regio passiva, caracterizada pela diminuio da densidade de corrente, devido
formao de um filme passivo, composto principalmente de xidos de cromo;
3) regio transpassiva, aumento da densidade de corrente pela dissoluo do
filme passivo, com produo de espcies qumicas com alto nmero de
oxidao. A figura 2.12 ilustra uma curva esquemtica para um ao inoxidvel,
com nfase nas regies descritas anteriormente. A regio ativa em aos
martensticos-austenticos particularmente importante, devido aos efeitos
tanto da composio qumica, quanto das mudanas microestruturais,
relacionadas ao tratamento trmico, na forma da curva obtida [64].
31
Figura 2.12 Curva de polarizao em H2SO4, para um metal que sofre

passivao [65].
2.5.1 Curvas de Polarizao em H2SO4
Segundo a literatura [66-72], constatado que em alguns casos as

curvas de polarizao de aos inoxidveis austensticos, frriticos e
martensticos exibem um comportamento na regio ativa, caracterizado pelo
surgimento de dois picos de densidade de corrente em meio contendo cido
sulfrico. A ocorrncia do segundo mximo, ou pico, de densidade de corrente
andica durante a polarizao em cido sulfrico tem recebido inmeras
interpretaes, sendo estas muito debatidas e no totalmente aceitas. Cabe
ressaltar que as investigaes efetuadas pelos mais variados autores nos aos
inoxidveis, no elimina a validade de outros. As principais explicaes
propostas para a interpretao do segundo mximo de densidade de corrente
foram agrupadas, e descritas abaixo:
1) Explicao pelo enriquecimento superficial de Nquel em ligas Fe-Cr-Ni.
32
Conforme apontado por Rockel, M.B. (1971), Magri, M. e Alonso, N.
(1993) e Felloni L. et al. (1973) [66;67;68], curvas de polarizao andicas em
1 N H2SO4 25C do ao CF8 (18% Cr e 12% Ni), nas condies de
austenitizado (1 hora 1065-1095C) e sensitizado (25 horas a 675C, aps
austenitizao), mostraram o surgimento do segundo mximo somente com
tempos de imerso da ordem de 100 horas, antes da polarizao. Amostras
previamente imersas, com 1 hora de durao, no exibiram o segundo pico,
mostrando-se similares. Em adio, curvas de polarizao para os aos AISI
430 e Fe-16Cr foram levantadas comparativamente com a de uma amostra de
nquel puro, aps 1hora de imerso. Os resultados mostraram que, enquanto o
ao Fe-16Cr no apresentava o segundo mximo, as amostras do ao AISI 430
mostraram o surgimento do segundo mximo de corrente, cujo potencial
muito prximo do potencial de passivao primrio do nquel puro ( 0 mVECS).
Esses dados conduziram concluso de que o segundo mximo est
relacionado com o tempo de imerso antes da polarizao, o que ocasionou
um enriquecimento superficial de nquel. Anlise quantitativa por microssonda
eletrnica comprovou tal enriquecimento [67].
Magri, M. e Alonso, N. (1993) [67] comprovaram a existncia de
segundos mximos em amostras do ao AISI 410, austenitizado e revenido a
975C e 350C, respectivamente, em soluo 1 N H2SO4 a 26C. Esses
mximos surgiram aps um tempo de imerso correspondente a 1 hora, antes
da polarizao. Anlise por disperso de energia em MEV, de amostras
mantidas por 6 horas na soluo 1 N H2SO4, mostraram que o produto de
corroso, em comparao com a matriz, ficou enriquecido em S, P, Ni e Cu, o
que teria causado o segundo mximo de corrente.
2) Oxidao de Hidrognio adsorvido
Na reviso dos trabalhos de Rockel, M.B. (1971) e Magri, M. e Alonso,
N. (1993) [66;67], observou-se que no levantamento de curvas de polarizao
potenciodinmicas de aos AISI 304 e 430 em 1 N H2SO4 a 25C, houve o
aparecimento do segundo mximo de corrente nas amostras previamente
tratadas em potenciais catdicos, -800 mVECS. A amplitude do segundo pico
33
aumentou com o tempo de tratamento em polarizao catdica. Acredita-se
que o segundo mximo causado pela oxidao do hidrognio atmico
adsorvido pelo metal, que seria produzido pela reduo de ons hidrognio
solvatados durante o pr-tratamento catdico.
Magri, M. e Alonso, N. (1993) [67], submeteram uma amostra do ao
AISI 410, austenitizado a 1100C, em um pr-tratamento catdico a -770 mVECS
por 1 hora, em soluo 1 N H2SO4 a 24C. Constatou-se a no existncia do
segundo mximo andico, indicando que, se houve oxidao do hidrognio
absorvido pelo metal, essa no foi significativa para gerar um segundo mximo
andico. Anlise microestrutural no revelou a presena de ataques
preferenciais nos contornos de gro.
Felloni L. et al. [68] constataram o surgimento do segundo mximo de
corrente no ao AISI 430, que aumentava de intensidade em perodos
crescentes de imerso. O mesmo fato surgiu para amostras do ao austentico
302, 304 e 304L, porm o segundo mximo permaneceu ausente quando a
polarizao foi efetuada sem perodos de pr-imerso. Assim, o surgimento do
segundo pico de ativao deve-se ao tempo de imerso, e no do tratamento
de pr-polarizao catdica, que tambm foi realizado. Conseqentemente, a
oxidao do hidrognio no seria diretamente responsvel pelo surgimento do
segundo pico.
3) Efeito dos ons Fe2+
Riggs Junior (1975) [69] comparou curvas de polarizao potenciodinmicas
em 1 N H2SO4 a 30C, saturada com H2 para o ao AISI 430. Houve o
aparecimento do segundo mximo em solues limpas, usadas uma nica
vez e sujas, utilizadas vrias vezes. Realizando-se a varredura no sentido
contrrio, de andico para catdico, no houve o surgimento do segundo
mximo, o que o autor atribuiu a no presena de ons Fe2+, gerados no
primeiro pico de transio. Para comprovar essa hiptese, adicionou-se sulfato
de ferro, tal que a concentrao de ons Fe2+ atingisse 50 ppm, na soluo do
cido. A curva de polarizao obtida mostrou a presena do segundo mximo,
34
prximo a +20 mVECS. Conclui-se que o segundo mximo dependente da
presena dos ons Fe2+ em soluo.
Magri, M e Alonso, N. (1993) [67], no observaram a presena do
segundo mximo de corrente proveniente da presena de ons ferrosos em
soluo 1 N H2SO4 a 25C, em aos AISI 410 na condio austenitizado e
revenido a 975C e 350C, respectivamente.
4) Efeito das zonas empobrecidas em Cromo
Rockel, M.B. (1971) e Magri, M. e Alonso, N. (1993) [66;67], relataram o
efeito da taxa de resfriamento em amostras austenitizadas a 1000C, no
surgimento do segundo mximo em ao martenstico 13,6% Cr, 1,6% N,
0,055% C. As curvas de polarizao mostraram um decrscimo acentuado no
segundo mximo, aumentando a taxa de resfriamento. Amostras submetidas a
diferentes temperaturas de revenimento, produziram diferentes intensidades do
segundo mximo, com esse presente at o tratamento de 550C, sendo quase
completamente extinto aps o revenimento a 600C. A diminuio do segundo
mximo tambm ocorreu para amostras revenidas a 550C em tempos
crescentes, indo de 6 minutos at 10 horas. A microestrutura consistia de uma
matriz martenstica com ferrita nos contornos de gros e carbonetos
precipitados na interface ferrita/martensita. O surgimento do segundo mximo
foi atribudo presena de zonas empobrecidas em Cr advinda da precipitao
de carbetos, que aumentaram para uma taxa de resfriamento lento. Nos
revestimentos realizados por 3 horas em temperaturas abaixo de 600C, o
balano de Cr na matriz no seria atingido para as reas empobrecidas o que
ocasionou aumento do segundo pico. Contudo, tal balano proporcionado pela
difuso de Cr ocorreu a 550C para longos perodos de tratamento, prximo a
10 horas o que proporcionou diminuio do segundo mximo.
Rockel, M.B. (1971) [66], comprovou que regies empobrecidas em
cromo, teor entre 8-10%, so responsveis pelo surgimento do segundo
mximo atravs de experimentos com eletrodos acoplados. Assim, curvas de
polarizao de aos sensitizados seriam resultantes da superposio de duas
curvas parciais, sendo uma resultante das zonas empobrecidas e outra
35
referente matriz. Alm disso, sabe-se que para ligas Fe-Cr, o potencial de
passivao primrio e a densidade de corrente crtica aumentam com a
diminuio do contedo de cromo. Sendo assim, esperado que o segundo
mximo de corrente permanea num potencial mais nobre do que o potencial
correspondente passivao primria da matriz, que tem maior contedo de
cromo.
Magri, M., Alonso, N. (1993) [67] realizaram ensaios de polarizao
potenciodinmico para o ao AISI 410, austenizado a 975C e revenido por 2
horas a 550C, em soluo 1 N H2SO4 a 25C, com tempo de imerso prvio de
2 minutos. Constatou-se o aparecimento do segundo mximo de corrente,
devido ao ataque preferencial de zonas empobrecidas em cromo, uma vez que
o revenimento a 550C acelerou a precipitao de carbonetos do tipo M7C3 e
M23C6 nos contornos de gro [70].
Magri, M. (1995) [71], atravs do levantamento das curvas de
polarizao em 1 N H2SO4 para amostras de ao AISI 410, austenitizadas a
975C e revenidas por 2 horas em diversas temperaturas (entre 200 a 700C,
com intervalos de 50C) constatou o aparecimento de segundos mximos nas
amostras revenidas entre 500 e 700C, sendo que o pico mais proeminente
ocorreu a 550C. A causa apontada foi o empobrecimento em cromo de certas
regies da matriz.
5) Efeitos composicionais e microestruturais
Chal, V. et al. (2002) [64], atravs de ensaios de reativao
potenciodinmica em soluo de 0,5 M H2SO4 com 0,01 M KSCN, constataram
o aparecimento do segundo mximo de corrente em amostras de aos
supermartensticos, submetidas a revenimentos a 625C e em dois estgios de
625 e 590C. Os resultados revelaram a existncia do segundo mximo,
inclusive com uma densidade de corrente maior que a do primeiro pico.
Amostras austenitizadas a 1050C por 6 horas no revelaram o surgimento do
segundo mximo. O surgimento deste pico em -150 mVECS deve-se ao ataque
da fase austentica possivelmente devido ao seu enriquecimento em nquel, j
que este elemento desloca a corrente de passivao primria em direo a
36
potenciais mais nobres; contudo, uma reduo no contedo de Cr pode ocorrer
simultaneamente. O primeiro mximo de densidade de corrente, a -350 mVECS,
foi atribudo ao ataque da matriz martenstica. Alm disso, o nvel do segundo
mximo aumentou de intensidade em funo do aumento no contedo de
austenita retida na matriz.
Hermas A.A., Morad, M.S. e Ogura, K.A. (1999) [72], mostrou o
surgimento do segundo mximo em ao austentico 304 contendo fsforo,
sendo que aquele aumenta de intensidade com o tempo de imerso prvio
polarizao e com o aumento da temperatura da soluo de H2SO4. Amostras
sem o elemento fsforo no apresentaram tal comportamento. Foi constatada
uma mudana no declive de Tafel catdico, no ao 304, aps longos perodos
de imerso, estando relacionado ao acmulo superficial de fsforo e,
conseqentemente, de hidrognio, uma vez que o fsforo inibe a reao de
recombinao H-H pelo aumento da barreira energtica, aumentando assim o
tempo de permanncia do hidrognio na superfcie do metal. A presena de Cu
na superfcie dos inoxidveis, sem o elemento fsforo, tambm origina o
segundo mximo. proposto que os tomos adsorvidos de hidrognio atmico
sero oxidados novamente, com o conseqente aparecimento do segundo
mximo, conforme descrito anteriormente. Alm disso, Magri, M. e Alonso, N.
(1993) [67], tambm constataram um enriquecimento superficial dos elementos
S,P,Ni e Cu, relativo a matriz, no surgimento do segundo mximo.
Na reviso do trabalho de Felloni et al. (1973) [68], foi reportado que o
segundo mximo de densidade de corrente ocorre em conseqncia da
precipitao de compostos de Cu e Mo, em aos endurecidos por precipitao.
2.5.2 Corroso Intergranular
A corroso intergranular um processo de corroso seletiva nos

contornos de gro devido alterao em composio qumica ou de
microestrutura, advindas de processos de sensitizao. Este fenmeno pode
37
ocorrer nos aos inoxidveis devido a fatores como tratamentos trmicos
inadequados, soldagem ou longos perodos de exposio do material a
temperaturas elevadas em servio [65], provocando a precipitao nos
contornos de gro de carbonetos de cromo, resultando num empobrecimento
deste
elemento
na
matriz
adjacente
ao
carboneto
precipitado.
Tal
empobrecimento em cromo no assegura uma passivao adequada e, assim,

o material torna-se susceptvel corroso seletiva nos contornos de gro [73].
Alm disso, a aplicao de tenses, como as decorrentes do ciclo trmico de
soldagem, com conseqente deformao, pode aumentar a sensitizao em
virtude da formao de stios nucleantes para a precipitao [63].
Os aos martensticos que so submetidos a tratamentos de
revenimento para ajuste dos nveis de dureza e melhora na tenacidade, sofrem
uma queda na resistncia a corroso, atribuda aos fenmenos de precipitao
de carbonetos, ocorridos durante este tratamento [15;71;74]. Os tratamentos
trmicos de austenitizao seguidos de tmpera tambm podem formar
carbonetos com a conseqente alterao de suas propriedades de resistncia
corroso [21;71;75].
Truman, J.E. (1976) [74], props trs razes para a perda da resistncia
corroso, ocasionada por certos tratamentos trmicos, em aos inoxidveis
martensticos contendo 0,2%C, 13%Cr. Dentre estas, a mais importante diz
respeito teoria da zona empobrecida em cromo, segundo a qual, carbetos
ricos neste elemento so formados ocasionando a produo de regies com
falta de cromo adjacente aos precipitados, o que resultar em corroso
intergranular, conforme exposto acima. Em aos martensticos baixo carbono,
estes podem ser susceptveis corroso intergranular ao longo dos contornos
de gro da austenita, aps sensitizarem entre 450-600C. [76].
Nos aos supermartensticos, reas reaquecidas de soldas entre 400450C causam a precipitao de carbetos de cromo nos contornos da austenita
prvia e por toda a martensita, intragranularmente [59]. O revenimento
provocado pelos passos subseqentes so os responsveis por tal
precipitao, na zona termicamente afetada de soldas [19;58;60], ocasionando
reas sensitizadas e susceptveis a corroso intergranular [58;61;62]. Esta
38
precipitao ocorre em funo da baixa solubilidade de carbono na austenita e
tambm na martensita [6;28;58]. Segundo Coudreuse, L. et al. (2002) [59], o
primeiro passe de soldas no se mostra suscetvel corroso intergranular
como resultado da no precipitao. Contudo, tratamentos trmicos de pssoldagem podem intensificar a precipitao na ZTA de soldas, inclusive no
passe topo [58].
Como apontado por Magri, M. (1995) [71], os aos martensticos em
funo de possurem maior quantidade de discordncias e agulhas de
martensita dentro dos gros, possuem mais stios susceptveis precipitao.
Assim, durante os tratamentos de sensitizao, ocasionados tanto por
revenimentos quanto pelos ciclos trmicos de soldagem, a precipitao de
carbetos acompanhados de zonas empobrecidas em cromo, no se limita aos
contornos de gro, mas segue por toda a matriz martenstica, ou seja,
intragranularmente.
Existem inmeros testes para avaliar a sensitizao de materiais, como
os descritos nas prticas da norma ASTM A262 [77]; contudo, nenhum destes
permite uma comparao em termos quantitativos do grau de sensitizao,
especialmente para materiais pouco sensitizados [65]. Tal determinao pode
ser
realizada
por
meio
da
tcnica
eletroqumica
de
reativao
potenciodinmica, desenvolvida para proporcionar medidas rpidas e no

destrutivas, do grau de sensitizao de aos inoxidveis [65;73]. Atualmente
esta tcnica possui duas verses: ciclo simples (SL) e ciclo duplo (DL).
2.5.2.1 Ensaio de ciclo simples (SL-EPR)
Desenvolvido originalmente para aos inoxidveis austenticos do tipo

304 e 304L, cuja padronizao encontra-se na norma ASTM G108 [78], o
ensaio
consiste
no
levantamento
de
uma
curva
de
polarizao
potenciodinmica, em soluo composta de 0,5 M H2SO4 e 0,01 M KSCN a

temperatura de 30C, numa taxa de varredura equivalente a 6 V.h-1, com as
amostras tendo acabamento superficial em pasta de diamante 1 m. Aps a
39
amostra atingir um potencial de estado estacionrio, Ecorr, esta deslocada
num potencial na regio passiva, +200 mVECS, sendo mantida por 2 minutos a
fim de assegurar total passivao. Ento, a varredura catdica at Ecorr
iniciada. Antes de ser atingido o potencial de corroso, o ao atravessa a
regio de transio ativa, provocando um aumento na densidade de corrente
at um valor mximo, reativao, decrescendo at um valor nulo no potencial
de corroso. A avaliao do grau de sensitizao pode ser realizada
comparativamente entre duas amostras, com a densidade de corrente de
reativao maior para amostras mais sensitizadas. Em um segundo critrio, o
aumento da densidade de corrente durante a transio ativo-passivo, envolve a
passagem de certa quantidade de carga, Q, obtida pela rea abaixo da curva
de reativao, conforme a figura 2.13.
Figura 2.13 Curva de polarizao esquemtica para a tcnica SL-EPR [65].

Como a dissoluo se d nos contornos de gro de forma uniforme, a
carga Q normalizada pela rea dos contornos de gro, resultando na
expresso [65;73]:
Pa =
Q
reaContor no
(2.1)
onde, Pa o grau de sensitizao, Q a quantidade de carga, com a rea do

contorno sendo resultante da expresso:
40
rea Contorno = As.[5,09544x10-3exp (0,34696.X)]
(2.2)
onde, As a rea da amostra (em cm2) e X o tamanho de gro com aumento

de 100x, de acordo com a mesma ASTM E112 [79].
A confiabilidade do parmetro P tem sido posta em dvida, uma vez que
em muitas amostras apenas segmentos dos contornos de gro so atacados,
alm da possvel formao de pites junto a incluses no metlicas [80].
2.5.2.2 Ensaio de ciclo duplo (DL-EPR)
Este mtodo considerado como uma melhora do SL-EPR, se utiliza das

mesmas condies de ensaio, dispensando o tratamento com pasta de
diamante, sendo suficiente o polimento com lixa na granulao 100.
O ensaio consiste em iniciar-se a varredura a partir do potencial de
corroso em direo a um ponto localizado na regio passiva, polarizao
andica. Este prvio procedimento encarrega-se de completar o polimento da
amostra e de dissolver incluses no metlicas que possam induzir a corroso
por pites. Em seguida, a varredura invertida, polarizao catdica, at o
potencial de corroso. Durante a primeira varredura, toda a superfcie
ativada, contribuindo para o pico de transio ativo-passivo ia. Contudo, na
varredura inversa, somente as reas dos contornos sensitizados contribuem
para a reativao na transio passiva-ativa, proporcionando o valor iR.
Assim, o grau de sensitizao fornecido pelo quociente entre iR/ia,
conforme ilustra a figura 2.14, sendo que, para amostras pouco sensitizadas
esta relao torna-se muito pequena em funo do pequeno valor de iR,
enquanto que para amostras muito sensitizadas, a relao aproxima-se da
unidade devido aproximao de iR com ia. As principais vantagens do mtodo
DL-EPR so: 1) efetuar acabamento superficial em lixa de granulao 100, 2)
pites intragranulares no afetam a razo iR/ia e 3) no necessita da medida da
rea dos contornos de gro. Contudo, Majidi, A.P. et al. [80], mostrou uma boa
correlao entre os mtodos de ciclo simples e duplo na deteco de
41
sensitizao no ao austentico 304, alm de avaliar os efeitos na variao da
taxa de varredura, acabamento superficial, da temperatura da soluo e da
concentrao do depassivante.
Figura 2.14 Curva esquemtica do ensaio DL-EPR [65].
2.5.2.2.1 Interpretao das Curvas de Ciclo Duplo
As curvas de polarizao utilizando-se do mtodo de ciclo duplo podem

ser divididas em duas partes, correspondentes polarizao andica e
catdica. Assim, como apontado no item 2.1.5.1, as curvas de polarizao
andica podem acarretar o surgimento de um segundo mximo de corrente,
cujas interpretaes seriam resumidamente: 1) enriquecimento superficial de
nquel; 2) oxidao de hidrognio adsorvido; 3) efeito dos ons Fe2+; 4) efeito
das zonas empobrecidas em Cr e 5) efeitos composicionais e microestruturais.
Dentre esses, o efeito das zonas empobrecidas em cromo a mais adequada,
uma vez que representa a somatria de uma curva de ativao da matriz, em
menor potencial, e uma outra das regies sensitizadas em maior potencial
[66;70;76].
Durante a polarizao catdica, alguns autores tambm observaram o
surgimento de dois picos que se baseiam na reativao de uma superfcie
42
previamente passiva, cujo grau de reativao depender da composio
qumica, particularmente do contedo de cromo, em soluo slida da matriz.
Assim, as regies com falta de cromo como resultado do processo de
sensitizao sero cobertas por um filme passivo pouco eficiente que, na
transio para a regio ativa, se redissolver preferencialmente [76].
Segundo Kain, V. et al. (2005) [81], essa distino ocasionada pela
sensitizao clssica, resultante de regies empobrecidas em Cr e da
sensitizao induzida pela transformao martenstica, em amostras de ao
austentico 304 trabalhadas a frio e morno. Nesses ensaios, observou-se a
presena dos dois picos de reativao, sendo o primeiro resultante da
sensitizao causada pelas reas empobrecidas em cromo - nesse caso, os
contornos de gro - e o segundo, induzido pela martensita. A reativao da
martensita em um potencial mais ativo decorrente da formao de um maior
nmero de carbetos de cromo nesta fase e, sendo a taxa de difuso maior na
martensita, pode-se esperar um perfil de falta de Cr muito menos acentuado
nesta fase do que no contorno. Isto faz com que a regio intragranular, onde se
localiza a martensita, requeira mais tempo (condies mais agressivas) para
iniciar o ataque durante o ensaio de EPR.
Chal, V. et al. (2002) e Chal, V. e Stefec, R. (2001) [64;76], em dois
trabalhos distintos, em aos martensticos baixo carbono temperado e
revenido, atribuiu ao primeiro pico de reativao como sendo a dissoluo de
uma fase rica em nquel, provavelmente a austenita, enquanto que o segundo
est relacionado com a dissoluo da matriz martenstica. Chal, V. et al.
(2002) [64], admitiram que o aumento da separao dos picos de densidade de
corrente, tanto na ativao quanto na reativao somente tem sido observado
em ligas com adio de molibdnio e, aps revenimento na regio de
temperaturas prximas a Ac1. Alm disso, o pico correspondente dissoluo
da fase austentica aumenta de intensidade pelo aumento de seu contedo.
Desse modo, a tcnica de EPR auxilia tambm na identificao microestrutural
e nas condies de revenimento para obter-se a desejada porcentagem de
austenita no material.
43
2.5.2.3 Outras aplicaes da tcnica de EPR
Conforme apontado anteriormente, o cromo o principal elemento

responsvel pela resistncia corroso, sendo que a diminuio do seu
contedo em certas regies, o que acarreta nas zonas empobrecidas, favorece
no somente a susceptibilidade corroso intergranular, mas a corroso por
pites, frestas e corroso sob tenso [66]. Assim como apontado por Chal, V. e
Stefec, R. (2001) [76], a tcnica de EPR pode ser estendida ao estudo de
corroso por pites ou frestas e investigao de componentes microestruturais
como ferrita, fase , alm de certos carbetos, nitretos, sulfetos, etc. Alguns
outros pontos notveis para estudo so: 1) natureza da precipitao; 2)
sensitizao em baixas temperaturas; 3) tratamentos termomecnicos de ao
inox; 4) soldagem; e 5) fadiga em vasos de presso.
2.5.3 Corroso Localizada
A corroso localizada apresenta-se sob vrias formas, sendo o resultado

de uma perda acelerada de material em lugares especficos de sua superfcie,
devido quebra do filme de xido protetor, filme passivo, cuja espessura
encontra-se na ordem de nanmetros [65;82]. Este tipo de corroso apresenta
um carter aleatrio, sendo dessa forma difcil de ser detectada e monitorada
em servio, uma vez que a grande extenso da superfcie no afetada [65].
Existe uma variedade de formas sob a qual a corroso localizada pode ocorrer:
corroso por frestas, pite, intergranular, sob tenso, etc. Entretanto, a corroso
por pites ser a estudada nesta seo.
Alguns processos fsicos importantes controlam a corroso por pites
como: 1) desenvolvimento de uma soluo local suficientemente agressiva
para destruir a passividade, sendo que a presena dos ons cloretos a mais
danosa, visto ser um nion de um cido forte que exibe considervel
solubilidade com os ctions de muitos metais. Alm disso, por ser um nion
44
relativamente pequeno, apresenta alta difusividade, interferindo na passivao
como um contaminante [65;82]; 2) separao fsica das reaes eletroqumicas
andicas e catdicas, o que torna a corroso por pites autocataltica, devido s
condies que so geradas dentro do pite, pois conforme se processa a
reao, o eletrolto dentro do pite torna-se esgotado em espcies redutoras,
como o oxignio. Isso faz com que as reaes catdicas sejam deslocadas
para a superfcie do material. Entretanto, o ambiente no interior do pite torna-se
enriquecido em ctions metlicos e espcies aninicas, como o cloreto, devido
migrao causada para balanceamento de cargas positivas geradas na
oxidao do metal. Esse acmulo de ons acarreta na hidrlise com a
conseqente diminuio do pH, tornando o meio mais agressivo, com a
conseqente propagao do pite. Frankel, G.S. (1998) [82], apresenta uma
srie de trabalhos realizados para se medir a concentrao e composio do
meio aquoso no interior do pite. Neste sentido, Park, J.O., Matsch, S. e Bhni,
H. (2002) [83] atravs de medidas microeletroqumicas acopladas com
microsensores de pH, comprovaram uma significante diminuio no valor do
pH no eletrlito prximo ao pite; 3) estabilidade na taxa de dissoluo para
crescimento do pite [65;82]. Assim, para a corroso localizada ocorrer,
necessita-se de condies localizadas mais agressivas do que o restante da
superfcie, tanto em relao ao pH como concentrao de ons cloretos.
Entretanto, o mecanismo de formao e crescimento dos pites segue
alguns passos caracterizados por:
Quebra do filme passivo: este processo inicial na corroso por pites um dos
fenmenos mais discutidos e incertos, por ser uma etapa extremamente rpida
e ocorrer em escalas muito reduzidas, tornando sua medio muito difcil. Alm
disso, dependendo da composio da liga, eletrlito, tempo de exposio e
potencial, o filme pode apresentar uma ampla faixa de espessura, estrutura e
composio, sendo assim, uma estrutura dinmica [82;84]. Segundo Frankel,
G.S. (1998) e Smialowska, Z.S. (2002) [82;85], os mecanismos de quebra do
filme podem ser classificados em trs grupos principais: 1) penetrao do filme
por nions agressivos, especialmente o Cl-, sendo auxiliado pelo alto campo
eltrico do filme. A dissoluo ocorre na interface metal/filme [82;85;86]; 2)
45
quebra do filme, podendo ser mecnica ou segundo o modelo de movimento de
defeitos pontuais gerados por vacncias na estrutura do filme passivo, que se
caracteriza por ser semicondutora [82;85]. Sato, N (1990) [87] explicita o
mecanismo de quebra inica e eletrnica do filme; 3) Adsoro, causada pelo
afinamento local do filme passivo pelas espcies adsorvidas, o que
proporcionar um aumento local do campo eltrico do filme, conduzindo a sua
quebra [82;85]. Contudo, nenhum modelo totalmente aceito, uma vez que
esses
mecanismos
no
so
nicos,
havendo
variaes
ou
mesmo
combinaes deles, principalmente devido disperso de medidas na

proposio de certo modelo. Smialowska, Z.S. (2002) [85] apresenta uma
reviso de outros mecanismos existentes, bem como suas principais crticas.
Nucleao: representado pela quebra do filme, seguido de sua repassivao
num intervalo de tempo menor que 74 milisegundos [88], sem ocorrncia de
propagao. Esses fenmenos so de difcil observao devido ao curto tempo
de vida e a baixa corrente. Contudo, utilizando-se de amostras adequadas e de
equipamentos com alta sensibilidade, consegue-se medir este tipo de evento
por meio de medidas potenciostticas, em curvas de corrente versus o tempo,
sendo caracterizadas por um brusco aumento e diminuio de corrente [86;88].
Segundo Burstein, G.T. e Vines, S.P. (2001) [86], este fenmeno ocorre com
uma alta freqncia e por toda a superfcie da amostra, sendo constatado que
um mesmo stio pode renuclear muitas vezes consecutivamente, e no
simultaneamente. Isto ocorre, pois a partir dos eventos de nucleao que se
chegar ao crescimento metaestvel, entretanto, nem toda nucleao resulta
em tal crescimento. Este fenmeno ocorre devido aniquilao do stio aps
consecutivas nucleaes, uma vez que a probabilidade de se gerar um
crescimento metaestvel aps a primeira nucleao cada vez menor [86].
Crescimento Metaestvel: resultam da nucleao seguida de propagao por
alguns segundos antes da repassivao. Os stios de nucleao que deram
origem a tal crescimento, com conseqente repassivao, so tidos como
aniquilados, no mais sofrendo eventos de nucleao [86;89]. Os pites
46
metaestveis podem ser formados em potenciais bem abaixo do potencial de
pite (caracterizado por crescimento estvel). Esses eventos so caracterizados
por um suave aumento na corrente, em medidas potenciostticas, durante
poucos segundos seguido de uma brusca diminuio, ocasionada pela
repassivao. O mecanismo de crescimento ocorre numa taxa controlada pela
difuso dos ons metlicos e de cloretos, do interior do pite para o eletrlito,
podendo sofrer ainda controle por ativao ou por queda hmica,
principalmente em baixos potenciais [86,89]. A difuso ocorre por uma abertura
acima do pite, formada pelo filme remanescente que foi rompido durante a
nucleao, servindo como barreira para a no diluio no interior do pite.
Assim, conforme o pite expande abaixo de sua cobertura, esta vai tornando-se
cada vez mais fraca. Se a cobertura do pite romper totalmente antes do mesmo
alcanar um tamanho suficiente para que sua prpria profundidade atue como
uma barreira difuso, a soluo no interior do pite ir diluir e ele se
repassivar. Se a ruptura no for total, a taxa de difuso ser aumentada,
assim como a dissoluo do metal, sem diluio significativa da soluo no
interior do pite. Porm, se as condies forem ideais para a precipitao de um
filme de sal, o pite ter uma grande chance de sobreviver ruptura de sua
cobertura, tornando-se estvel, devido ao do filme salino que mantm a
soluo concentrada no interior do pite [82;86;88]. De acordo com Isaacs, H.S.
(1989) e Williams, D.E.; Stewart, J. e Balkwill, P. (1994) [90;91], a concentrao
crtica dos produtos de corroso deve permanecer em torno de 60% da
saturao, o que ir garantir altas taxas de dissoluo nos inoxidveis.
Segundo Pistorius, P.C. e Burstein, G.T. (1994) [89], a freqncia dos
pites
metaestveis
diminui
com
areao
da
soluo,
observado
experimentalmente, sendo independente do pH da soluo, uma vez que o pite

possui sua prpria soluo interna. A presena de nions sulfato causa a
diminuio dos eventos metaestveis, devido baixa solubilidade dos sais
formados, com os ons metlicos. A concentrao dos ons cloreto na soluo
tambm um fator crtico, estando ligada geometria do pite, uma vez que,
quando formados em stios estreitos e profundos, necessitam de uma alta
concentrao de ons cloreto, para que a difuso seja suficiente e garanta seu
47
crescimento; caso contrrio, o crescimento ser limitado pela difuso destes
nions, podendo provocar repassivao do stio.
Crescimento Estvel: o crescimento estvel dos pites somente ocorrer aps a
passagem pelo estgio metaestvel, sem sofrer repassivao. A estabilidade
dos pites, nos aos inoxidveis, ser alcanada se o valor mnimo do produto
ir, alcanar 3 mAxcm-1, com i sendo a densidade de corrente crtica do pite e r
o raio do pite, assumindo ser de forma hemisfrica. Este produto conhecido
como produto de estabilidade do pite, sendo baseado no modelo de Galvele
[82;86;90]. Outro fator que assegura a estabilidade de crescimento a
concentrao no interior do pite, conforme exposto acima. Segundo
Ilevbare,G.O, Burstein, G.T. (2001) [88], a concentrao crtica dos ons
metlicos dentro do pite de 3,6M. Dessa maneira, o crescimento estvel do
pite ir ocorrer, tal que sua prpria profundidade ir atuar como barreira
difuso, sendo independente da cobertura prvia do filme. A taxa de
crescimento pode ser controlada por queda hmica ou pela taxa de difuso,
existindo indcios para os dois comportamentos [65;82;86].
O crescimento estvel caracterizado por um aumento sucessivo da
corrente
em
ensaios
potenciostticos
de
vs
t.
Em
varreduras
potenciodinmicas, originando curvas de potencial vs logaritmo da densidade

de corrente, o potencial de pite tambm caracterizado pelo brusco aumento
da densidade de corrente. Outra caracterstica interessante deste tipo de
ensaio, em curvas potenciodinmicas, a possibilidade de obter-se o potencial
de repassivao invertendo-se a direo de varredura do potencial em uma
certa densidade de corrente, aps o aumento sucessivo. A caracterizao
deste potencial ocorre pelo ponto originado no cruzamento das duas
varreduras, conforme indica a figura 2.15. Assim, a diferena entre o potencial
de pite (Ep ou EPITE) e o de repassivao (Erp), resultando numa histerese,
tida como uma medida da susceptibilidade corroso por pites [82].
48
Figura 2.15 Curva de polarizao para a determinao do potencial de pite e de

repassivao [65].
A corroso por pites est ligada a uma srie de fatores que podem
influenciar tanto a parte mecanstica como fenomenolgica. Foi descrito
anteriormente que a concentrao de nions agressivos faz-se necessria para
que se inicie a corroso por pites atravs da ruptura do filme. O potencial
tambm um fator crtico, na medida em que os pites iro adquirir crescimento
estvel somente a partir de certo valor. Assim, outros fatores devem ser
levados em considerao:
Temperatura: em certos materiais, a presena de pites s ocorrer aps um
valor crtico atingido, estando na faixa de 10-100C para muitos aos
inoxidveis. Essa temperatura crtica pode ser usada como uma medida da
susceptibilidade do material corroso por pites [73;83].
Efeito da composio qumica: o elemento cromo exerce a influncia mais
significativa na corroso por pites, sendo este deslocado para potenciais mais
nobres com o aumento de Cr em soluo slida [21;28;75;82;92-95]. Segundo
Olsson, C.O.A. e Landolt, D. (2003) [84], o nquel menos prontamente
oxidado do que o ferro e o cromo, o que acarretar um enriquecimento de
nquel metlico na interface metal/xido, podendo retardar a taxa de dissoluo
daqueles dois metais.
49
O efeito do Mo muito discutido na literatura. Segundo Kraack, M. et al.
(1994) [96], as principais teorias a respeito do mecanismo pelo qual o Mo atua
na resistncia ao pite resumem-se em: 1) formao de filme passivo com
estrutura vitrificada; 2) eliminao de stios ativos na superfcie da amostra pela
formao de hidrxidos ou molibdatos [28;84;95;97;98]; e 3) um aumento da
repassivao. Outros autores atribuem o efeito do Mo como um estabilizador
do filme passivo, ajudando na sua manuteno [99;100]. Ainda de acordo com
Hashizume, S. et al. (1999) [95], um aumento da concentrao de Mo e Ni, faz
com que a energia de ativao para a nucleao de pites aumente, fazendo
com que a probabilidade de gerar-se um pite estvel seja muito baixa, ou
somente em potenciais mais nobres. Contudo, a maioria das teorias propostas
admite que o Mo esteja presente no filme, o que ainda questionado [82].
Segundo Qvarfort, R. (1998) [101], o Mo auxilia na repassivao de pites
metaestveis, em ao austentico, pela formao de sais insolveis de
molibdnio no interior do pite. Alm disso, o nmero de pites metaestveis
diminui com o aumento do seu teor. Segundo Frankel, G.S. (1998) [82], o Mo
reduz o fluxo de vacncias catinicas, alm de diminuir a densidade de
corrente em certo potencial, fazendo com que o pite no adquira estabilidade,
de acordo com o critrio ir [91]. De acordo com Kondo, K. et al. (1999) e
Amaya, H. et al. (1998) [13;99], pequena adio de Mo, menor que 1%, em
ambiente neutro j suficiente para diminuir a corroso localizada, sendo que
um aumento acima deste valor apresenta diminuio negligencivel neste tipo
de corroso.
A literatura [82;84] apresenta uma reviso de outros elementos como N,
Mn, Fe, Cu, etc, na formao e estabilidade do filme passivo.
Efeito da microestrutura: exerce um papel fundamental uma vez que os pites
podem nuclear em certas heterogeneidades tanto fsicas, considerando a
superfcie como um todo e sendo ocasionado por danos mecnicos, como
qumicas, devido presena de incluses, principalmente de sulfeto de
mangans (MnS) [83], partculas de segunda fase, produtos de segregao e
reas sensitizadas (com falta de Cr) [82;84;86;102]. Segundo Vayer, M.,
Reynaud, I. e Erre, R. (2000) [93], a resistncia ao pite est ligada ao contedo
50
de cromo no filme, cuja composio varia com a microestrutura do material
[29]. Assim, a presena de imperfeies, como as citadas anteriormente,
contribui para a gerao de um filme defeituoso e pouco resistente corroso
[75;84;92;93;102].
Segundo Ryan, M.P. et al. (2002) [103], a presena de zonas
empobrecidas em cromo, adjacentes incluses de MnS, foram as
responsveis pela nucleao e crescimento de pites, em ao austentico 316 F.
Meng Q. et al. (2003) [104], atravs de ensaios similares ao de Ryan M. [103],
constataram que algumas interfaces de incluses de MnS no possuam uma
rea empobrecida em cromo; assim, a corroso por pites no estaria ligada
nucleao nessas regies. Contudo, em resposta a esse mesmo fato
experimental, Ryan M. et al. (2003) [105] confirmaram que, apesar de algumas
incluses no possurem zonas empobrecidas em cromo, no eram todas as
incluses que nucleavam um pite, reforando o fato de que os pites gerados
podiam ser resultantes das reas empobrecidas. Nesse sentido, Schmuki, P. et
al. (2005) [106] constataram que o ataque dos pites, formados nas incluses de
MnS, seguem morfologias distintas, podendo ocorrer pela dissoluo da prpria
incluso, de regies adjacentes, ou nem mesmo sofrer ataque. Desse modo, a
corroso por pites no estaria exclusivamente ligada a zonas empobrecidas em
cromo. Wijesinghe, T.L.S.L. e Blackwood, D.J. (2006) [107], atravs de
imageamento in situ por microscopia de fora atmica acoplada a ensaios
eletroqumicos, constataram a nucleao e o crescimento de pites prximos
incluses de MnS, em ao austentico 316 LVM. Contudo, a existncia de
regies empobrecidas em cromo no foi comprovada.
Segundo Kimura M. et al. (2001) [10], a quantidade de austenita no
influencia o potencial de pite em aos martensticos 13Cr com baixo carbono.
Bilmes, P.D. et al. (2006) [29] observaram que o aumento do contedo de
austenita no ao martenstico 13Cr desloca o potencial de pite para valores
mais nobres, devido diminuio de precipitados de Cr e Mo em funo do
aumento da solubilidade do C e N nessa fase. Segundo Hara, T. e Asahi, H.
(2000) [23], a presena da ferrita faz-se prejudicial susceptibilidade ao pite,
na medida em que gera a presena de zonas empobrecidas em Cr perto dos
51
contornos desta fase, advindos da precipitao de carbetos e nitretos de
cromo. Adicionalmente, o tratamento trmico de revenimento que est ligado
precipitao de carbetos, com conseqente formao de zonas empobrecidas
em Cr, diminui o potencial de pite a tal ponto que a martensita revenida possui
uma resistncia ao pite menor do que a martensita temperada, praticamente
sem precipitados [10].
Segundo Enerhaug, J., Grong, O. e Steinsmo, U.M. (2001) [56] que
investigaram a corroso por pites em juntas soldadas do ao supermartenstico
pelo processo TIG, o aparecimento dos pites ocorreu em regies 6mm
distantes da linha de fuso devido ao xido formado ser muito fino. Alm disso,
o gradiente microestrutural da ZTA no exerceu influncia na nucleao dos
pites nas condies experimentais utilizadas.
2.5.3.1 Determinao do potencial de pite
Existem vrias tcnicas de polarizao eletroqumica para determinar-se

o potencial de pite, sendo as tcnicas potenciocinticas (ou potenciodinmicas)
e potenciostticas, as mais comuns [73].
Na tcnica potenciodinmica, a curva de polarizao levantada a partir
do potencial de corroso at um potencial em que se atinge um brusco
aumento no valor da densidade de corrente, por meio de uma velocidade de
varredura constante e, normalmente, em soluo de cloreto de sdio.
Alternativamente, pode-se proceder a reverso da direo de varredura do
potencial - varredura catdica - aps atingir certo valor pr-estabelecido da
densidade de corrente, sempre acima do potencial de pite. Este procedimento
visa obteno do potencial de repassivao. A figura 2.16, mostra o potencial
de pite sendo determinado como a interseco da reta definida pela curva aps
esse aumento [73].
52
Figura 2.16 Determinao do potencial de pite em curvas potenciodinmicas

[73].
Na tcnica potenciosttica, as amostras so submetidas potenciais
andicos crescentes e discretos, sendo que em cada incremento de potencial,
o decaimento da corrente com o tempo registrado. Para potenciais inferiores
ao potencial de pite, a corrente decai continuamente ao passo que no potencial
de pite ou superior a este, aps um decaimento inicial, a corrente passa a
aumentar com o tempo [73].
2.5.4 Corroso Generalizada
Este tipo de corroso caracteriza-se pela perda uniforme de material de

uma superfcie exposta a um determinado meio corrosivo. Existem diversas
tcnicas para medir-se esta forma de corroso, sendo baseadas em mtodos
eletroqumicos como os de polarizao linear, extrapolao, impedncia, etc. que fornecem taxas de corroso instantneas - e os mtodos noeletroqumicos caracterizados pelo fornecimento da taxa de corroso por perda
de massa, em amostras submetidas por longos perodos de tempo no ambiente
53
corrosivo. Esses ltimos compreendem os mtodos de anlise de soluo por
espectroscopia, colorimetria, resistncia eltrica, implantao de on, entre
outros. [65;108-110]. Dentre esses mtodos, o de polarizao linear tornou-se
o de maior aceitao nas indstrias, principalmente a de processos qumicos,
devido a seu carter instantneo, sem comprometimento do material. Por isso,
esse mtodo utilizado no monitoramento da corroso, ou seja, no
acompanhamento das variaes da corrosividade em diferentes meios, dando
informaes teis quanto ao efeito de inibidores, mudanas de pH, desaerao
[73;108]. As principais crticas deste mtodo recaem na incerteza do valor
exato da taxa de corroso, sendo por isso utilizado de forma comparativa
[73;108,111].
2.5.4.1 Descrio do mtodo de polarizao linear
A expresso 2.3, ou de Wagner-Traud, mostra uma relao observada

experimentalmente entre o potencial aplicado e a densidade de corrente para
um sistema genrico de corroso na ausncia de reaes paralelas de
oxidao e reduo, em geral numa faixa de 30 mV em relao ao Ecorr, e sob
controle de transferncia de carga [65;73;108].
2,303.E
2,303.E
exp
i = icorr exp
a
c
(2.3)
Onde a e c so os declives andico e catdico de Tafel, respectivamente, e

icorr a densidade de corrente de corroso. Curvas E vs i so governadas por
tal expresso, que a base da tcnica de polarizao linear para sistemas
eletroqumicos em corroso.
Constatou-se experimentalmente que a relao entre potencial e
corrente prxima ao potencial de corroso, Ecorr, aproximadamente linear.
Assim, Stern e Geary, simplificaram a expresso 2.3 para o caso de pequenos
sobrepotenciais, com relao ao Ecorr, atravs da derivada primeira da
expresso 2.3, obtendo-se a seguinte expresso:
54
2,303
2,303.E 2,303
2,303.E
d i

= i corr
exp
exp
d E
a
c
c
(2.4)
rearranjando para o caso de pequenos sobrepotenciais, quando E0:
1
1
di
= 2,303.i corr .
+
d E E = 0
a c
(2.5)
isolando icorr:
i corr =
a. c
di
2,303.( a + c ) dE
(2.6)
1
di
=
dE E =0 RP
(2.7)
onde,
A equao 2.4 conhecida como equao de Stern-Geary. Rp a

resistncia de polarizao, sendo dada pelo declive da tangente curva
experimental traada no grfico E vs i, no potencial de corroso. A figura
2.17 ilustra este procedimento.
Figura 2.17 Tangente curva experimental de E vs i [63].
55
Conseqentemente, este mtodo conhecido como de polarizao
linear, com a linearidade estendendo-se em intervalos entre 5 mV e 10 mV,
ou mesmo menores [112].
O grau de linearidade das curvas de polarizao em torno do potencial
de corroso foi e muito debatido na literatura [65;73;108-115]. Mansfeld F.
(2005) [98] entre outros trabalhos [115], discute a linearidade como no sendo
a resposta esperada das curvas E vs I, uma vez que os coeficientes de Tafel
das reaes andicas e catdicas, a e c, no so necessariamente iguais,
fato este que proporcionaria a linearidade em torno do potencial de corroso.
Segundo o autor, tcnica de resistncia de polarizao seria o nome mais
adequado, ao invs de polarizao linear. Este argumento plausvel, pois as
reaes andicas e catdicas, num sistema em corroso, compreendendo a
reduo de oxignio ou hidrognio e a oxidao do metal, respectivamente,
so reaes distintas [73;108;113;115;116]. Alm disso, segundo Cramer, S.D.
(1979) [113], a linearidade determinada pela cintica das reaes que
compem o sistema eletroqumico.
Contudo, Kouril, M., Novak, P. e Bojko, M. (2006) [115] descreveram
sobre o efeito da taxa de varredura com relao no-linearidade e a no
satisfao do critrio do potencial de corroso ser o potencial de corrente nula
(Ecorr Ei=0). Isto decorre em funo da taxa de varredura possuir um valor
finito durante a medida potenciodinmica, pois quando se polariza, por menor
que seja a perturbao, o sistema necessita certo tempo para adquirir um
estado estacionrio novamente, mesmo conseguindo um valor muito estvel do
potencial de corroso [73;108;110]. Foi mostrado que mesmo perturbaes de
0,04 mV.s-1 conduzem a valores superestimados da resistncia de polarizao,
porm num grau reduzido. Assim, a no-linearidade no se deve a
divergncias dos coeficientes de Tafel, uma vez que as curvas de polarizao
levantadas em sentidos opostos, de catdico para andico e vice-versa,
mostraram o mesmo aspecto.
A presena de espcies adsorvidas na superfcie do material tambm
pode resultar num trecho no-linear [73;110]. Constatou-se [110;117;118] que o
hidrognio adsorvido na superfcie do metal afeta a cintica de dissoluo,
56
quando se realiza a varredura cclica, contribuindo para a mudana na curva de
polarizao andica e a presena de histerese. Segundo os autores, a variao
da cobertura de hidrognio atmico, H, a origem do fenmeno de histerese
em soluo de cido sulfrico. Entretanto, Kouril, M., Novak, P. e Bojko, M.
(2006) [115] observaram o fenmeno da histerese em solues alcalinas.
Hermas, A.A., Morad, M.S. e Ogura, K. (1999) [72] observaram uma
mudana no declive de Tafel catdico no ao inox 304 aps longos perodos de
imerso em cido sulfrico, devido a um acmulo de hidrognio atmico na
superfcie do metal.
A oxidao de outras espcies eletroativas em soluo, cujo potencial
reversvel encontre-se prximo (30 mV) ao potencial de corroso do material
em questo, ou mesmo s prprias reaes reversveis do sistema que
conduzem ao potencial misto, bem como s amplas faixas de polarizao em
torno do potencial de corroso [111] e contribuio da resistncia da soluo,
conduzem a valores superestimados da resistncia de polarizao em trechos
no-lineares [65;73;108].
2.5.4.2 Efeito da Composio qumica na taxa de corroso
Segundo a literatura [9;95;99], a taxa de corroso dependente do

contedo de cromo efetivo, ou seja, em soluo slida, de forma que seu
aumento reduz a taxa de corroso, conforme mostra a figura 2.18. O contedo
de cromo em torno de 10,5-13% suficiente para garantir elevada resistncia
corroso generalizada, com taxas menores que 0,1 mm.ano-1 [40;99].
57
b)
a)
Figura 2.18 Efeito do contedo de Cr na taxa de corroso: a) 60C e b) 150C

[99].
A reduo do teor de carbono do ao supermartenstico em relao ao
martenstico convencional, acarretou a diminuio de precipitados de carbeto
de cromo, com a conseqente elevao do teor desse elemento em soluo
slida e, portanto uma menor taxa de corroso [9;13;119]. A figura 2.19 mostra
a evoluo da taxa de corroso com a temperatura do ensaio para o ao
supermartenstico e martenstico convencional [3], bem como o efeito do
contedo de carbono para dois aos com composio diferente, imersos em
soluo de gua do mar sinttica [9].
a)
Figura 2.19 a) Efeito da temperatura [3] e b) do contedo de carbono em
diferentes temperaturas de revenimento na taxa de corroso [9].
58
b)
Figura 2.19 (Continuao) a) Efeito da temperatura [3] e b) do contedo de
carbono em diferentes temperaturas de revenimento na taxa de
corroso [9].
A adio de Mo, Ni e Cu produzem diminuio da taxa de corroso
apesar da discrepncia com relao aos seus contedos descritos na literatura,
em funo das vrias condies com a qual se realizam os ensaios de imerso.
Kimura, M. et al. (1999) [120] constataram que a taxa de corroso diminui
pouco com o aumento do contedo de Mo de 1% para 2%, mantendo-se o
mesmo contedo de Ni. Alm disso, os efeitos do nquel e cobre no foram
claros nas condies utilizadas de 20% NaCl, 3 MPa CO2 a 180C. Amaya, H.
et al. (1998) [99], verificaram que pequenas adies, menores que 1% de Mo,
em soluo 5% NaCl, so suficientes para assegurar resistncia corroso
generalizada, conforme ilustra a figura 2.20.
Figura 2.20 Efeito do Molibdnio na taxa de corroso [99].
59
Hara,T. et al. (2000) [9] verificaram que a taxa de corroso, figura 2.21,
diminui com aumento do contedo de nquel at 1%, entre 0,5-1% de Cu e
numa faixa de 0-4% Mo, sendo independente do contedo de nitrognio,
conforme ilustra a figura. Ono, A.A., Alonso, N. e Tschiptschin, A.P. (1996) [92],
por outro lado, constataram que o nitrognio diminui a taxa de corroso em
aos martensticos.
a)
b)
Figura 2.21 Efeito do nquel a) e do cobre b) na taxa de corroso [9].

Haskizume, S., Minami, Y e Ishizawa, Y. (1998) [28], mostraram a
influncia da temperatura de revenimento na taxa de corroso, verificando que
essa aumenta com a temperatura de revenimento, devido precipitao de
carbetos e a conseqente falta de Cr na matriz. Tal fato tambm foi
comprovado por Hara T. et al. (2000) [9], conforme mostra a figura 2.19b, em
temperaturas de 600, 650 e 700C. Entretanto Nose, K. e Asahi, H. (2000) [18]
no constataram diferena significativa na taxa de corroso com amostras
revenidas a 630C e 660C, mesmo possuindo teores distintos de austenita.
Felton, P. e Schofield, M.J. (1999) [119] no encontraram uma correlao entre
a taxa de corroso e o contedo de ferrita-. Ono, A.A.; Alonso, N. e
Tschiptschin, A.P. (1996) [92], verificaram uma diminuio da taxa de corroso
de amostras temperadas com relao s revenidas a 550C por 1 hora, o que
foi atribudo diminuio de precipitados de carbetos na matriz.
Rogne, T. e Svenning, M. (2002) [60] obtiveram uma maior perda de
massa no metal de base, com relao a uma solda com consumvel
60
superduplex, feita por meio do processo a arco eltrico (GTAW/GMAW/SAW),
fato atribudo resistncia corroso do consumvel [42].
Entretanto, Kimura, M. et al. (2001) [44] constataram que a taxa de
corroso de uma junta soldada com consumvel do tipo matching, utilizandose do processo a arco GTAW, encontrou-se prxima do metal de base.
61
3
3.1
MATERIAIS E MTODOS
Material Estudado: Condies Preliminares
Os materiais constituintes do metal de base, na condio de no

soldado, foram chapas de ao inoxidvel supermartenstico de mdia e alta
liga, com espessura de 20 mm, produzidas por uma das empresas do grupo
Arcelor, na Blgica. As chapas foram laminadas a quente seguido de
tratamento trmico de revenimento em torno de 600C por alguns minutos.
Posteriormente, foram soldadas pelo processo de feixe de eltrons utilizandose baixo vcuo. A soldagem foi confeccionada pela empresa PTR Przisionstechnik GmbH em Maintal, na Alemanha, sendo parte integrante do
trabalho de Ribeiro, C.R. (2003) [121]. A figura 3.1 mostra a configurao da
junta soldada obtida pelo processo feixe de eltrons, com destaque para as
diferentes regies a serem estudadas.
Figura 3.1 Esquema ilustrativo de uma junta soldada por FE-BV: MB (regio
clara), ZTA (regio cinza) e MS (regio escura).
O processo de soldagem por feixe de eltrons do ao supermartenstico
foi efetuado em duas condies: 1) com adio de consumvel, em duplo
passe; e 2) sem adio de consumvel (autgena). Na primeira condio,
utilizou-se como eletrodo consumvel um arame slido com espessura de 1,2
mm, do tipo matching, desenvolvido e produzido pela empresa Alem BTS Bhler Thyssen Schweisstechnik, sendo comercialmente conhecido como
Thermanit 13/06Mo. Na segunda condio, as chapas foram soldadas em
passe nico sem a adio de consumvel.
62
3.1.1 Geometria da Junta
A figura 3.2 ilustra a configurao das chapas metlicas, utilizadas por

Ribeiro C.R. (2003) [121], antes de serem soldadas. As chapas foram
chanfradas, sendo soldadas com espaamento para a condio com
consumvel.
Figura 3.2 Configurao da junta soldada por FE-BV [121].
3.1.2 Parmetros de Soldagem
A tabela 3.1 mostra as condies de operao, nas quais as chapas dos

aos supermartensticos foram soldados, para as condies com e sem
consumvel, conforme o trabalho de Ribeiro C.R. (2003) [121].
63
Tabela 3.1 Parmetros de Soldagem utilizados no processo de feixe de
eltrons [121].
Parmetros
Com consumvel
Autgena
Vcuo
1 mbar
1 mbar
Orientao do feixe
Horizontal
horizontal
Tenso de soldagem
60 kV
60 kV
Oscilao do feixe, deflexo
500 Hz, circular
500 Hz, circular
Distncia de trabalho
50 mm
50 mm
Velocidade de soldagem
7 mm.s-1
7 mm.s-1
Arame consumvel
Thermanit 13/06 Mo
Abertura de raiz
0,5 mm
6,3 m.min-1
195 mA
195 mA
1,6 kJ.mm-1
1,6 kJ.mm-1
3,78 m.min-1
130 mA
1,1 kJ.mm-1
1 Passe
Velocidade do arame
Corrente do feixe
Energia de Soldagem
o
2 Passe
Velocidade do arame
Corrente do feixe
Energia de Soldagem
3.2
Condio
Material Estudado: Confeco dos corpos de prova para estudo
Conforme representado na figura 3.1, a junta soldada consiste em trs

regies: o metal de base (MB), que no sofreu nenhuma perturbao advinda
da soldagem; a zona termicamente afetada (ZTA), regio que sofreu
transformaes no estado slido causadas pelo ciclo trmico da solda; e o
metal de solda (MS), que foi submetido a um processo de fuso/solidificao.
A extrao de amostras das juntas soldadas foi realizada a fim de se
obterem dois tipos de perfis:
1) Superfcie, procedendo-se do corte de uma pequena parte das
chapas, seo transversal da junta, englobando as trs regies citadas. Suas
dimenses so 1 x 5 x 2 cm, estando representada na figura 3.3.
64
Figura 3.3 Seo transversal de uma junta soldada por feixe de eltrons baixo
vcuo.
Este perfil de amostra foi concebido para ser submetido a ensaios de
anlise qumica e metalogrfica, compreendendo a captura e a anlise de
imagens por microscopia tica.
2) Sub-superfcie, por meio da retirada de pequenos blocos, por
eletroeroso, do interior das chapas, seguido pelo seu corte, fatiamento,
originando pequenas amostras com 0,5 mm de espessura, chamados de
microflat. As figuras 3.4 a e b mostram o local de extrao e as configuraes
do microflat, respectivamente. Os corpos de prova obtidos desse perfil foram
submetidos aos ensaios de raios X, eletroqumicos e analisados por
microscopia tica e eletrnica de varredura, representando assim, a
possibilidade de estudar-se separadamente as regies do MB, ZTA e MS.
TOPO
1
2
a)
b)
Figura 3.4 a) Local de extrao dos corpos de prova: 1) junta soldada com
adio de consumvel e 2) junta soldada autgena. b) geometria
dos microflats aps fatiamento [121].
65
No perfil de sub-superfcie em que a figura 3.4a ilustra o local de
extrao dos microflats, a pea enumerada 1, refere-se extrao de juntas
soldadas com consumvel, sendo que o bloco superior desta figura refere-se ao
segundo passe (topo) e o inferior ao primeiro passe (raiz). A pea enumerada 2
faz meno extrao de juntas sem consumvel, autgena. Nesta condio,
extraiu-se apenas um bloco do meio da junta. Os microflats extrados foram
previamente ensaiados mecanicamente na empresa GKSS, Alemanha, por
Ribeiro, C.R. (2003) [121].
Assim, as regies escolhidas para serem estudadas compreenderam:
o topo da junta soldada do ao supermartenstico, de alta e mdia liga, na
condio com consumvel e o meio da junta das mesmas classes, na condio
autgena. Dentro de cada regio, os microflats representativos de cada poro
da junta (MB, ZTA e MS) foram utilizados. A nica exceo foi com os
microflats representativos da ZTA, na condio autgena, pois devido sua
pequena extenso, no foram isolados. Alm disso, analisou-se apenas o MB
da junta soldada com consumvel, uma vez que as chapas utilizadas na
condio autgena foram as mesmas, para ambas as ligas.
3.3
Anlise Qumica
A anlise qumica foi realizada atravs da extrao de uma pequena

poro do material, da regio de interesse, aps ser soldado, compreendendo
o metal de base e o de solda, no caso de adio de consumvel, para as
classes de alta e mdia liga, estando representadas na tabela 3.2.
66
Tabela 3.2 Composio qumica do MB e MS [121].
Elemento
Metal de Base
Metal de Solda
(% massa)
Mdia Liga
Alta Liga
0,021
0,007
0,012
Si
0,31
0,07
0,45
Mn
0,94
1,57
0,65
0,027
0,007
0,005
0,004
0,003
0,005
Cr
12,59
11,42
12,32
Ni
5,10
6,05
6,39
Mo
1,77
2,59
2,62
Ti
0,01
0,02
0,05
0,05
Cu
0,28
0,46
0,0101
0,0103
0,008
0,01
0,01
0,015
As anlises foram realizadas no Centro de Caracterizao e

Desenvolvimento de Materiais (CCDM-UFSCar/UNESP) por meio de um
espectrmetro de emisso atmica com plasma acoplado indutivamente (ICPAES) da marca Thermo Jarrel Ash, modelo AtomScan 25. Adicionalmente, os
contedos de oxignio e nitrognio foram analisados com um sistema de
anlise a quente condutividade/infravermelho (LECO TC-436/EF400) e os
contedos de C e S, em um equipamento marca LECO, modelo CS 444, com
limite mximo de determinao para carbono de at 6% em massa e para
enxofre, de at 0,35% em massa.
67
3.4
Caracterizao Microestrutural
3.4.1 Anlise Metalogrfica
Os corpos de prova submetidos anlise foram tanto as partes

cortadas da chapa (seo transversal) como os microflats. Neste ltimo caso,
inclusive para sua identificao como sendo pertencente ao MB, ZTA ou MS.
As anlises foram efetuadas no Departamento de Engenharia de Materiais
(DEMa-UFSCar).
As amostras receberam tratamento com lixa de SiC nas granulaes
320, 400, 600, 1200 e 2000, seguido de polimento em alumina 1 m.
A revelao da microestrutura, com base na norma ASTM E407 [122],
foi realizada utilizando-se dois reagentes para o ataque qumico: 1) gua-rgia
(75% HCl e 25% HNO3) e 2) Vilella (1 g de cido pcrico, 5 mL de HCl, 100 mL
de etanol); e um reagente para o ataque eletroltico: soluo de cido oxlico a
10% em massa, de acordo com a norma ASTM A262 [77], com aplicao
subseqente de corrente, utilizando-se de um aparelho potenciostato/
galvanostato FAC 200A.
3.4.2 Macrografia
A macrografia para mdia e alta liga na condio com consumvel, foi

feita aps lixamento, em lixa de SiC na granulao 600, seguido de ataque
qumico duplo com gua rgia e com o reagente vilella subseqentemente,
para realar a ZTA.
68
3.4.3 Microscopia tica (MO)
As amostras das ligas do ao supermartenstico foram submetidas

anlise do ponto de vista microestrutural, utilizando-se um microscpio tico da
marca ZEISS-Axiotech, equipado com uma cmera Panasonic modelo WV-CL
700, do laboratrio de Tratamentos Termomecnicos (DEMa-UFSCar). A
captura das imagens foi feita com um software analisador de imagens do tipo
AnalySiS Pro, verso 3.2, cujo sistema operacional acoplado era Windows
Network 4.0.
3.4.3.1 Quantificao de Ferrita-
A quantidade de ferrita-, em termos de frao volumtrica, foi medida

por meio da anlise de imagens por microscopia ptica, utilizando um software
AnalySiS Pro, verso 3.2, para a quantificao exclusivamente na poro da
junta, compreendendo a ZTA do topo da solda, na condio com consumvel. A
anlise foi feita em 6 regies distintas, sendo baseada na determinao de
diferentes tons de colorao.
A amostra do ao supermartenstico consistia numa seo transversal
da junta. Essa foi lixada com lixas de SiC nas granulaes 320, 400,600,1200 e
2000, seguido de polimento em alumina 1 m. A amostra foi ento submetida a
um ataque eletroltico com soluo de cido oxlico a 10% em massa. Utilizouse uma corrente de 850 mA, para uma rea exposta de 8,3 cm2, durante 3
minutos.
3.4.4 Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV)
As amostras do MB e ZTA, alm dos corpos de prova ensaiados

eletroquimicamente pelas tcnicas de corroso intergranular e localizada
69
descritas abaixo, foram submetidas captura de imagens e anlise qumica
pontual, EDS, no laboratrio de Caracterizao Estrutural (LCE-DEMaUFSCar) com um equipamento marca Philips XL 30 FEG, com detector da
marca Oxford Link pentafet x-ray ISIS 300, com janela ultrafina.
3.4.5 Difrao de Raios X (DRX)
A tcnica de difrao de raios X foi utilizada a fim de se identificarem e

semi-quantificarem, em termos de frao volumtrica, as fases austentica () e
martenstica (`)/ferrtica () presentes nas diferentes regies da junta soldada,
com base na norma ASTM-E975 [123]. As medidas foram realizadas no
Instituto de Fsica de So Carlos (IFSC-USP). As anlises foram realizadas nos
microflats representativos do MB, ZTA na condio com consumvel, e no MS
para as condies com e sem consumvel nas duas classes de ligas. Os
microflats da regio MS foram rotacionados, pois, como se trata de uma regio
fundida e solidificada, pode haver orientao preferencial das estruturas.
O equipamento de raios X utilizado foi da marca RIGAKU-ROTAFLEX,
modelo RU-200B. O tipo de anlise empregado foi de 2- , com velocidade de
varredura contnua igual a 2/minuto, compreendendo uma faixa de 5-120. O
filamento utilizado foi de cobre (K = 1,542 ).
Pela norma ASTM-E975 [123], a medida quantitativa estimada da frao
volumtrica de e `/, supondo que sejam as nicas fases presentes, pode
ser feita por difrao de raios X, devido proporcionalidade entre a intensidade
integrada dos picos e a frao volumtrica para as fases orientadas ao acaso
[124].
A frao volumtrica, por exemplo de austenita, fv ou V, dada por:
R
V =
I + I
R
R
100
(3.1)
70
Onde, Ix a intensidade integrada, para um certo plano hkl de difrao, numa
certa fase x, e Rx proporcional intensidade terica integrada, para o mesmo
plano e fase, sendo dado por:
hkl
x
1.(/ F / 2 .p.LP.e 2M )
=
v2
(3.2)
Onde, /F/2 = fator de estrutura; p = fator de multiplicidade; LP = fator de

polarizao de Lorentz; v = volume da clula unitria; e, e-2M = Debye-Waller
ou fator de temperatura que funo de (ngulo de Bragg). M = B(sen2 )/2
e B = 82(S)2, sendo S2 o deslocamento quadrtico mdio dos tomos da sua
posio mdia em uma direo perpendicular ao plano difratado, com 2B =
0,71. O valor de R para o plano (110) da fase /` de 1715 e de 1371 para o
plano (111) da fase .
Os clculos da frao volumtrica de /` e foram efetuados para o
conjunto de planos (110) e (111) [11]. Essa restrio foi feita em virtude do
aparecimento exclusivo desses planos nas regies da ZTA e MS. Contudo, isto
limita a anlise devido a no considerao das intensidades dos outros planos
de difrao. Alm disso, a comparao das fraes volumtricas deveria ser
realizada para difraes no mesmo conjunto de planos, ou seja, plano (110) ou
(111) para `/ e . Outro requisito seria uma separao maior dos picos de
intensidade [124].
3.4.6 Ensaios Eletroqumicos
avaliao
eletroqumica
das
juntas
soldadas
foi
realizada
exclusivamente nos microflats representativos das regies MB e ZTA, para a

soldagem com consumvel, e no MS para a soldagem nas condies com e
sem consumvel. Os ensaios foram realizados no laboratrio de Corroso (LCDEMa-UFSCar).
71
3.4.6.1 Sistema Eletroqumico
Ao sistema eletroqumico atribuem-se o conjunto formado por uma clula

eletroqumica, potenciostato e sistema de anlise de dados (computador),
conforme ilustrado na figura 3.5.
2
3
1
Figura 3.5 Sistema eletroqumico utilizado nos ensaios: 1) clula eletroqumica;

2) potenciostato; 3) computador.
A clula consiste em um bquer de 500 mL sem as bordas, onde
permanecer a soluo trabalho, e um conjunto de trs eletrodos: 1) eletrodo
de trabalho - ET- (microflat representativo das regies, onde se provocar as
perturbaes e captar-se-o os sinais); 2) eletrodo de referncia - ER (consistindo de calomelano saturado - Hg/Hg2Cl2/KCl - atravs do qual os
sinais sero medidos, sendo revestido por uma camisa de vidro com ponta de
platina preenchida com a soluo trabalho para evitar contaminao). A
distncia entre ET e ER de no mximo 10 mm; 3) contra eletrodo - CE (consiste de um fio de platina envolto numa camisa de vidro, utilizado para
assegurar estabilidade nas medies realizadas atravs do eletrodo de
referncia).
O potenciostato o equipamento responsvel pela perturbao
provocada no ET atravs da aplicao de potenciais. A este aparelho esto
conectados a clula e um computador, que se utiliza dos softwares CorrWare
para a programao, execuo e aquisio dos dados e CorrView para sua
manipulao. O potenciostato utilizado pertence marca Solartron, modelo SI
1287A.
72
3.4.6.2 Confeco do Eletrodo de Trabalho
Inicialmente, os microflats de cada regio das diferentes classes tiveram

suas bordas lixadas (SiC) at a granulao 1200, sendo ento soldados com
solda Pb/Sn a fim de se obter contato eltrico por meio de um fio. A solda dos
microflats foi feita com adio de uma gota de soluo 25% de HCl, na regio
posterior da pea. Logo aps, o conjunto foi suspenso num molde cilndrico
vazado, seguido de preenchimento com resina polister de cura a quente
(60C) da marca Anjo. Esses procedimentos tiveram o intuito de evitar-se ao
mximo a presena de frestas ou bolhas. Aps a cura da resina, o eletrodo foi
desbastado at a interface do metal. A figura 3.6 mostra dois perfis do eletrodo
de trabalho, pronto para ser utilizado.
b)
a)
Figura 3.6 Eletrodo de trabalho: a) vista frontal e b) lateral do eletrodo de

trabalho.
Como os microflats possuam uma haste varivel, conforme destacado
na figura 3.7, visto que foram previamente ensaiados mecanicamente [121], a
rea exposta efetiva teve de ser calculada, ou mesmo corrigida, para cada
eletrodo. A rea exposta soluo trabalho encontra-se na faixa de 0,403
0,479 cm2, dependendo do microflat.
4 mm
Figura 3.7 Corpo de prova do tipo microflat com a regio da haste circulada.
73
Outro detalhe refere-se aos microflats da regio da ZTA na solda com
consumvel que no puderam ser isolados sem a presena de uma pequena
frao da microestrutura do MS, ou seja, no se conseguiu fatiar um microflat
puramente representativo da ZTA. Assim, conforme ilustra a tabela 3.3, os
microflats da classe mdia possuem uma frao de rea correspondente ao
MS muito significativa em relao classe alta liga, cerca de trs vezes maior.
Isso pode ter acarretado em desvios nas medidas eletroqumicas efetuadas. A
figura 3.8 mostra um exemplo da superfcie dos microflats de mdia e alta liga,
sendo a separao entre MS e ZTA representada pela linha vertical branca.
Tabela 3.3 Frao da rea do MS na ZTA na condio com consumvel.
rea da
Classe
Identificao
amostra
rea do MS
Porcentagem(%)
(cm2)
do MS na ZTA
(cm )
Alta Liga
Mdia Liga
29 ZTha
0,44
0,048
10,9
38 ZTha
0,435
0,048
11,0
28 ZTma
0,415
0,136
32,8
40 ZTma
0,430
0,120
27,9
MS ZTA
a)
ZTA MS
b)
Figura 3.8 Macrografia dos microflats da ZTA aps ensaio de corroso

intergranular: a) microflat 40 ZTma e b) 29ZTha. A linha branca
delimita a separao entre MS e ZTA.
74
3.4.7 Tcnicas Eletroqumicas
Nesta seo abordar-se-o as condies nas quais os ensaios

eletroqumicos foram realizados, bem como sua descrio e determinao dos
parmetros de interesse avaliao.
3.4.7.1 Levantamento das curvas de polarizao andicas
As curvas de polarizao foram feitas no sistema eletroqumico descrito

no item 3.4.6.1 e com base na norma ASTM G-5 [125]. Inicialmente, deixou-se
o ET em circuito aberto, sem aplicao de perturbaes e com monitorao do
potencial com o tempo, a fim de se conseguir um potencial estvel, cuja
variao fosse menor que 0,1 mV.s-1. Este potencial chamado de potencial
de corroso, Ecorr, e representar o ponto de referncia a partir do qual as
perturbaes sero iniciadas ou mesmo terminadas. O tempo para tal
determinao variou entre 20-25 minutos dependendo da liga e da regio da
junta analisada. Ento, procedeu-se polarizao partindo-se de potenciais
catdicos, 0,1 V menor do que Ecorr, em direo aos andicos, chegando a 1,5
V acima do Ecorr, com uma velocidade de 10 mV.s-1 no modo potenciodinmico
ou potenciocintico. A soluo utilizada consistia de cido sulfrico 0,05 M,
aerada, a 23C. Os corpos de prova (ET), antes da imerso, eram tratados com
lixa de SiC na granulao 600, enxagados com gua destilada e lcool etlico,
seguido de secagem com ar quente. Em adio, foram efetuadas algumas
varreduras a 1mV/s, na mesma faixa de potenciais, porm at 0,3 V acima do
Ecorr, para a investigao qualitativa de possveis segundos mximos de
densidade de corrente.
Os dados obtidos eram plotados em grficos de potencial (E) versus a
densidade de corrente (I.A-1), a partir dos quais se determinaram parmetros
como: 1) Potencial de corroso (Ecorr); 2) Potencial de passivao primrio
(Epp); 3) Potencial e densidade de corrente de passivao (Ep e ip).
75
3.4.7.2 Corroso Intergranular
A susceptibilidade corroso intergranular foi realizada por meio da

tcnica de ciclo duplo (EPR-DL) contida na norma ASTM G108 [78]. Essa
tcnica consistiu em determinar-se inicialmente o potencial de corroso em
circuito aberto, o qual para ambas as ligas teve uma durao de 20 minutos.
Em seguida, iniciou-se uma varredura potenciocintica partindo-se de -0,1 V
em relao Ecorr, at um potencial em que o material ficasse passivo, nesse
caso +0,6 VECS. Imediatamente aps a primeira curva de polarizao,
procedeu-se varredura inversa, ou seja, partindo-se de +0,6 VECS em direo
ao Ecorr. A velocidade de varredura utilizada foi de 1,67 mV.s-1. Obtiveram-se
assim, duas curvas de polarizao com dois picos de densidade de corrente,
conforme mostrou a figura 2.14.
Na primeira curva, varredura direta, chamada de polarizao andica, a
densidade de corrente correspondente ao pico designada ia, enquanto na
segunda curva, varredura inversa, chamada tambm de polarizao catdica, a
densidade de corrente do pico tida como iR. A soluo utilizada para o ensaio
de ciclo duplo foi uma mistura de soluo de cido sulfrico 0,5 M, com soluo
de tiocianato de potssio (KSCN) a 0,01 M, utilizado como depassivante
quando o material reativado, varredura inversa. As solues eram feitas
separadamente com a mistura acontecendo antes de cada ensaio. As solues
encontravam-se aeradas a 23C e o acabamento superficial dos ETs foi feito
em lixa 600, seguido de lavagem com gua destilada, antes de sua imerso.
Os dados relativos s curvas de polarizao foram plotados em grficos
E versus log(I.A-1), dos quais puderam ser extrados os valores de ia e iR para
cada amostra das regies da junta. A relao entre iR e ia considerada uma
medida do grau de sensitizao do material que, no possuindo valores
tabelados de referncia para o ao supermartenstico, ser comparativamente
analisado entre as diferentes regies da junta soldada, a fim de determinar-se
qual regio mais susceptvel (maior relao iR/ia) a este tipo de corroso.
As imagens geradas por MO e MEV foram capturas em amostras polidas
em alumina 1m, seguidas pelo ensaio eletroqumico nas condies citadas
76
anteriormente. A limpeza, anterior captura das imagens, foi feita com lcool
etlico seguido de secagem com ar quente.
3.4.7.3 Corroso Localizada
A anlise da corroso localizada para o ao supermartenstico foi feita

pela determinao do potencial de pite (EPite), por meio do levantamento de
curvas de polarizao potenciocinticas, conforme a norma ASTM G61 [126].
Conforme as outras tcnicas, determina-se o potencial de corroso em circuito
aberto, sendo que o tempo necessrio para se atingir um valor estvel ficou
entre 30-40 minutos para ambas as ligas. Aps a estabilizao, deu-se incio a
uma varredura potenciocintica a uma taxa igual a 1 mV.s-1, partindo-se de -0,1
V com relao Ecorr, at um potencial cuja densidade de corrente atingisse
100 A.cm-2. Nesse ponto, interrompeu-se a varredura, uma vez que, como as
amostras apresentavam-se com 0,5 mm de espessura, corria-se o risco de
perfurao e a conseqente no reproduo das curvas por falta de amostras,
haja vista a quantidade limitada de microflats: 2 amostras para a ZTA e 2
amostras para o MS. A exceo foi para os microflats do MB, j que devido ao
maior nmero de amostras, 40, procedeu-se a varredura at o valor de
densidade de corrente estipulado pela norma (5 mA.cm-2), a partir do qual
procedeu-se a varredura inversa, atingindo-se Ecorr novamente.
Utilizou-se uma soluo aerada de 3,56% em massa de cloreto de sdio
(34 g NaCl P.A. em 920 mL de gua destilada), a 23C. Os eletrodos das
amostras da ZTA e MS eram tratados em lixas 600, antes e aps cada ensaio,
enquanto os do MB eram submetidos lixas nas granulaes 320, 400 e 600,
para a remoo dos buracos causados pelo ataque localizado. Logo aps, era
realizada lavagem em gua destilada, sem secagem.
Os dados obtidos foram plotados em grficos E x log(I.A-1), sendo o
potencial de pite determinado pelo ponto prvio ao aumento brusco da
densidade de corrente.
77
O valor dos potenciais foi comparado entre as distintas regies da junta
soldada, a fim de verificar-se a mais susceptvel (menor valor do EPite)
corroso por pites ou localizada.
As imagens de MEV capturadas de pites na superfcie das amostras foi
feita aps polimento em alumina 1 m, seguido de polarizao em soluo
3,56% de NaCl at o potencial de pite. Assim que a densidade de corrente,
prxima a esse potencial, atingiu cerca de 10-4 A.cm-2, procedeu-se a varredura
inversa, a 1 mV.s-1, at que as curvas de polarizao direta e inversa se
cruzassem, ou mesmo, at que Ecorr fosse atingido. Essa situao foi gerada
exclusivamente para os eletrodos das amostras da ZTA e MS, a fim de se
verificar o local onde havia nucleao e crescimento dos pites. As amostras,
aps polarizao, foram rapidamente polidas em alumina 1 m, sendo em
seguida atacadas quimicamente com o reagente vilella para revelar a
microestrutura. Como a morfologia dos pites caracterizada pela formao de
cavidades relativamente profundas no material, deixaram-se os microflats
ensaiados em um ultra-som, da marca Branson 1200, por cerca de 30 minutos
em soluo saponcea, com o intuito de removerem-se sujeiras ou mesmo
produtos de corroso dessas cavidades.
3.4.7.4 Determinao da Taxa de Corroso
A taxa de corroso estimada foi determinada atravs do mtodo de

resistncia de polarizao (Rp), com base na norma ASTM G59 [127]. Este
mtodo consiste em monitorar-se o potencial do ET com o tempo at atingir-se
um valor estvel de potencial, neste caso, com durao de 10 minutos para
ambas as ligas. Em seguida, o potenciostato iniciou uma varredura de
potenciais de -0,015 V +0,015 V com relao Ecorr, em uma velocidade de
0,1667 mV.s-1, no modo potenciodinmico. Esta pequena perturbao exige um
potencial de corroso muito estvel. A soluo utilizada foi de cido sulfrico
0,05 M, aerada, a 23C. Os corpos de prova eram tratados em lixa 600,
78
enxaguados com gua destilada e lcool, sendo secos com ar quente antes de
serem imersos na clula eletroqumica.
A anlise dos dados foi feita em grficos de potencial versus a
densidade de corrente, sendo que a curva resultante obedece a uma funo
linear de 1 grau, i = f(E), cujo coeficiente angular a prpria resistncia de
polarizao. Sua determinao foi feita numa faixa de 1 mVEcorr. A densidade
de corrente de corroso, icorr, est relacionada resistncia de polarizao pela
seguinte expresso:
i corr = B.
1
Rp
a. c
, onde B =
2,3.( +
a
c
(3.3)
B a constante de Stern-Geary e a e c so as constantes de Tafel das

reaes andicas e catdicas, respectivamente. Como essas constantes no
so conhecidas, pois necessitam ser calculadas para cada sistema
eletroqumico, assumir-se-o seus valores iguais a 120 mV, o que resultar em
um valor da constante de Stern-Geary igual a 26. Essa aproximao a grande
limitao desta tcnica, o que conduzir apenas a valores estimados, com
relao ordem de grandeza da taxa de corroso [73;108].
A fim de transformar a densidade de corrente em termos da taxa de
corroso estimada (T.C.), em milmetros por ano, utiliza-se a seguinte
expresso, baseada nas leis de Faraday:
T .C.mm / ano = 0,0033.i corr .
(3.4)
Na expresso 3.4 a densidade do ao supermartenstico em g.cm-3,

neste caso igual a 7,7 g.cm-3, e , o peso equivalente do material, calculado
atravs da expresso seguinte, contida na norma ASTM G102 [128]:
= i . fi
ni
(3.5)
79
Na expresso 3.5 Wi o peso molar dos vrios elementos i
constituintes da liga; ni a valncia mais estvel que cada elemento metlico
adquire, consultando-se o diagrama de Pourbaix, e fi a frao em massa de
cada elemento i. Na frmula do peso equivalente, somente elementos acima
de 1% em massa no ao so contabilizados. Para o ao supermartenstico, o
valor calculado de igual a 26,28.
80
81
4
4.1
RESULTADOS E DISCUSSO
Caracterizao Microestrutural - Metal de Base
Os metais de base correspondentes s chapas laminadas e revenidas,

para as classes de mdia e alta liga, tm suas microestruturas representadas
na figura 4.1.
a)
c)
b)
d)
Figura 4.1 Microestrutura do MB das classes de mdia a) e b) e alta liga c) e d).

As micrografias pticas revelam a presena de martensita na forma de
ripas, e de contornos de gro correspondentes fase austentica, formada
durante o tratamento de austenitizao, prvio a tmpera. Segundo a literatura
[8;61], a martensita est presente na forma revenida e no revenida, sendo a
82
primeira de colorao escura e a segunda de colorao clara. Esta diferena
pode ser resultado de tamanhos de gro ou orientaes distintas, bem como do
nvel de precipitao na martensita. A diferena, com relao ao histrico
trmico, entre a martensita revenida e no revenida baseia-se no fato de que a
primeira no se transforma em austenita, durante o tratamento de revenimento,
realizado pouco acima de Ac1, enquanto que a no-revenida transforma-se em
austenita no revenimento, com posterior formao de martensita no
resfriamento, abaixo de Ms.
A figura 4.2 revela a existncia de pequenas estrias intragranulares e ao
longo dos contornos de gro da austenita prvia, estando paralelas direo
de laminao, sendo melhor visualizadas na alta liga. Segundo Hara, T. e
Asahi, H. (2000) [23], essas estrias seriam representativas da fase ferrtica ,
formada durante a austenitizao da liga, e retidas durante o seu resfriamento.
b)
a)
Figura 4.2 Microestrutura do MB revelando a presena de estrias da fase : a)

mdia liga e b) alta liga.
A contagem da fase no foi possvel por anlise de imagens, pois
dentre
os
vrios
ataques
qumicos
eletrolticos,
nenhum
revelou
preferencialmente essa fase. Contudo, percebe-se por anlise das micrografias

que a classe mdia liga possui um contedo maior de ferrita- do que a alta
liga. Esta caracterstica pode ser mais bem compreendida com os diagramas
de fase do ao supermartenstico, figura 2.11. Percebe-se que o campo de
83
estabilidade da fase muito maior para a mdia liga, o que ocasionou a
maior reteno dessa fase.
A fim de melhor caracterizar-se a fase , realizaram-se algumas imagens
de microscopia eletrnica de varredura com anlise qumica pontual, EDS,
dessa fase. A imagem de eltrons secundrios est representada na figura 4.3.
Por anlise qumica quantitativa, constatou-se um enriquecimento da estria
com
elementos
ferritizantes,
Cr
Mo,
um
empobrecimento
nos
austenitizantes, Ni e Mn, relativos matriz adjacente, conforme exposto na

tabela 4.1.
Figura 4.3 Estria de ferrita- no MB da mdia liga.

Tabela 4.1 Variao composicional da ferrita- no MB da mdia e alta liga, em
relao matriz (% em peso).
Elementos qumicos principais
Classe
Mdia
Alta
Regio
Ferritizantes (%)
Austenitizantes (%)
Cr
Mo
Mn
Ni
1)Matriz
11,98
1,44
1,35
4,39
2)Ferrita-
15,64
2,95
0,92
1,77
1)Matriz
12,09
2,28
2,10
6,05
2)Ferrita-
12,96
2,49
1,70
4,72
84
A analise por difrao de raios X, cujos espectros encontram-se na
figura 4.4, mostram a presena de austenita (), que ficou retida na matriz, e de
martensita (`)/ferrita (), que no podem ser distinguidas por esta tcnica,
conforme descrito na literatura [8;21;124]. A anlise dos difratogramas permite
verificar a existncia de intensidades para vrios planos de difrao tanto para
quanto para `/. A regio circulada da figura 4.4 mostra a ampliao do pico
de difrao da austenita correspondente ao plano (111), no decomposto.
(110)
7000
5000
4000
0
40
60
80
(310)
(220)
(311)
(220)
(200)
1000
(200)
2000
(211)
3000
(111)
Intensidade (Counts)
6000
100
120
a)
(110)
7000
5000
(310)
(222)
(220)
(311)
1000
(211)
(200)
2000
(220)
3000
(200)
4000
(111)
Intensidade (counts)
6000
0
40
60
80
100
b)
Figura 4.4 Difratograma do MB: a) mdia liga e b) alta liga.
120
85
Analisando-se as intensidades integradas para o MB de ambas as ligas,
tabela 4.2, nota-se um contedo maior de retida para a classe alta liga. Este
resultado coerente na medida em que a temperatura de incio (Ms) e final (Mf)
da transformao martenstica para esta liga, 150C e 20C [8;15]
respectivamente, menor do que para a mdia liga, 260C e 120C,
respectivamente.
no MB.
Classe
I110
I111
fv (%)
fv (%)
Mdia Liga
2421,39
241,46
88,9
11,1
Mdia Sub Zero
1923,32
174,64
89,8
10,2
Alta Liga
1697,35
868,58
61,0
39,0
Alta Sub Zero
1843,3
627,54
70,1
29,9
Assim, durante o tratamento de revenimento a 600C, houve a formao

e estabilizao [6] maior da austenita na alta liga, devido temperatura de Ac1
ser relativamente menor [15], principalmente em funo do maior contedo de
elementos austenitizantes, particularmente nquel. Deste modo, durante o
resfriamento, como o campo de estabilidade da austenita maior - ver
diagrama de fases da figura 2.11 - a temperatura de incio da transformao
martenstica diminui, retardando a formao desta fase e retendo maior
contedo de austenita.
A fim de verificar-se a estabilidade da austentita retida, procedeu-se ao
tratamento criognico, submetendo os microflats do MB de ambas as classes
em nitrognio liquido (-196C), durante 4 minutos. Em seguida, utilizando-se
das mesmas condies de anlise e operao do difratmetro, quantificou-se o
contedo de retida. A intensidade integrada de , contida na tabela 4.2,
revelou uma diminuio no contedo de austenita. Contudo, a maior parte
dessa fase permaneceu no transformada, o que mostra a estabilidade da fase
em baixas temperaturas. Segundo Folkhard, E. (1988) [6], esse fenmeno
86
ocorre devido a processos de segregao, resultando em um enriquecimento
com elementos gamagnicos, principalmente o nquel [11;17]. Assim, a
transformao de pequena parte da austenita pode ser resultado de uma
saturao nessa fase com o elemento nquel, o que ocasionou a formao de
austenita menos enriquecida e, portanto menos estvel, conforme descrito por
Leem, D.S. et al. (2001) [11].
4.2
Caracterizao Microestrutural - Zona Termicamente Afetada
zona
termicamente
afetada
possui
uma
microestrutura
no
homognea, com relao ao tamanho de gro e distribuio das fases

metalrgicas [3;53;56], devido diferenciao trmica provocada pela solda.
As figuras 4.5 e 4.6 mostram algumas das microestruturas, em microscopia
ptica, resultantes da variao morfolgica.
a)
b)
Figura 4.5 Microestrutura da ZTA da classe de mdia liga: a) prxima linha de

fuso, b e c) interior da ZTA e d) prximo ao MB.
87
c)
d)
Figura 4.5 (Continuao) Microestrutura da ZTA da classe de mdia liga: a)

prxima linha de fuso, b e c) interior da ZTA e d) prximo ao MB.
a)
b)
c)
d)
Figura 4.6 Microestrutura da ZTA da classe de alta liga: a) prxima linha de

fuso, b e c) interior da ZTA e d) prximo ao MB.
88
A ZTA possui regies desde muito refinadas, prximas linha de fuso,
passando por regies onde h crescimento e formao de gros grosseiros, e
finalizando na microestrutura caracterstica do MB. Dependendo do ataque,
qumico ou eletroltico proporcionado ao material, pode-se ou no distinguir a
linha de fuso. Conforme descrito para o MB, a ZTA apresenta a formao de
regies de colorao clara ou escura, identificadas como sendo martensita
no-revenida e revenida, respectivamente. Cabe ressaltar que a diferena de
cor pode representar orientaes distintas dos gros, principalmente prximo
linha de fuso, onde ocorreram nucleao e crescimento preferenciais [45].
Segundo Neubert, V. et al. (2004) [8], a porcentagem de transformao das
fases metalrgicas poderia ter contribudo para tal diferenciao.
Outro aspecto revelado na microestrutura da ZTA foi a presena de
estrias, ou linhas negras, indicadas na figura 4.7. Essas mostraram-se
paralelas ao fluxo de calor e prximas linha de fuso. Segundo a literatura
[19;26;58;62], essa fase foi atribuda como sendo ferrita-, cujo mecanismo de
formao e localizao na ZTA foram descritos por Carrouge D. (2003) [3]. A
presena dessa fase foi verificada nos contornos prvios da fase austentica, e
intragranularmente - figura 4.7 - sendo resultado da nucleao e crescimento
parcial, em regies de alta temperatura, provocadas pelo ciclo trmico da solda
[3;24].
Ferrita-
Figura 4.7 Ferrita- prxima linha de fuso na ZTA da mdia liga.

A figura 4.8 mostra a presena da fase com maior clareza, capturadas
no topo das soldas, aps ataque eletroltico em soluo de cido oxlico.
89
Percebe-se uma maior intensidade das estrias na mdia liga.
LF
Ferrita-
Ferrita-
LF
a)
b)
Figura 4.8 Ferrita- prxima linha de fuso na ZTA: a) mdia liga e b) alta
liga. LF corresponde linha de fuso.
Com o intuito de obter-se maior indcio a respeito da fase , procedeu-se
a captura de imagens e anlise qumica pontual, por EDS, em MEV. A figura
4.9 ilustra as micrografias representativas das classes de mdia e alta liga,
bem como os pontos de incidncia dos raios X.
2
1
a)
Figura 4.9 Microestrutura da ZTA na regio da fase : a) mdia liga e b) alta
liga.
90
b)
Figura 4.9 (Continuao) Microestrutura da ZTA na regio da fase : a) mdia
liga e b) alta liga.
A ferrita- apresentou-se como a regio mais clara, seta nmero 2 da
figura 4.9, aps o ataque qumico, apresentando maior contedo de elementos
ferritizantes, Cr e Mo, e uma diminuio dos elementos austenitizantes, Ni e
Mn, em comparao com os dados extrados de regies adjacentes s estrias,
seta nmero 1 da figura 4.9. A tabela 4.3 mostra os valores encontrados.
Tabela 4.3 Variao composicional da ferrita- na ZTA, em relao matriz (%
em peso).
Elementos qumicos principais
Classe
Mdia
Alta
Regio
Ferritizantes (%)
Austenitizantes (%)
Cr
Mo
Mn
Ni
1)Matriz
11,18
1,38
0,96
4,29
2)Ferrita-
13,67
3,33
0,86
3,30
1)Matriz
12,08
2,62
2,30
6,14
2)Ferrita-
14,43
3,96
2,03
3,32
91
Assim, o fato da fase apresentar-se em maior relevo justificado pelo
seu maior contedo de Cr, o que proporcionou um carter mais nobre para
essa
fase,
sendo
dissolvida
em
menor
quantidade.
Alm
disso,
enriquecimento em Cr e Mo est de acordo com os resultados encontrados por

Carrouge D. (2002) [3], realizados nesta regio da ZTA, atravs de
microanlise por EDS. Segundo o autor, tal enriquecimento de elementos
substitucionais seria possvel mesmo com o ciclo trmico sendo mantido por
curtos perodos de tempo.
4.2.1 Quantificao da Ferrita-
A tabela 4.4 indica o contedo de ferrita- medido do topo ao centro das

soldas por feixe de eltrons, na condio com consumvel. Percebe-se que o
contedo de ferrita- aumenta do topo ao centro da junta, sendo maior para a
mdia liga.
Tabela 4.4 Perfil de frao volumtrica da fase .
Mdia liga
Alta Liga
Frao Volumtrica (%)
Frao Volumtrica (%)
Lado 1
Lado 2
Lado 1
Lado 2
Topo Solda
0,78
1,67
0,98
0,60
Meio Solda
1,77
2,13
1,73
0,68
O aumento da fase ao longo do cordo de solda, justifica-se devido ao

fato da perda de calor ser menor no meio do que no topo da solda [49],
acarretando assim um tempo maior de permanncia na faixa de temperatura de
nucleao/crescimento. Outra caracterstica observada foi o maior contedo de
ferrita- na mdia liga, devido ao maior contedo de elementos ferritizantes,
principalmente o cromo [24]. Como a nucleao da ferrita- resultado de
92
combinaes entre a composio qumica, microestrutura e tratamentos
trmicos, tem-se que durante o ciclo trmico da solda, houve a redissoluo de
carbetos de cromo, precipitados durante o revenimento a 600C, que ocorreu
em maior intensidade na mdia liga, em virtude desta classe possuir maior teor
tanto de cromo como de carbono. Isso possibilitou o enriquecimento de cromo
nas regies em que houve precipitao, como nos contornos de gro ou
mesmo intragranularmente, que atuaram como stios nucleantes para a fase .
A anlise dos difratogramas da figura 4.10 revelou a presena de
contedos traos de retida - apenas o plano de difrao 111 - cujas
intensidades integradas permaneceram muito prximas para as duas classes
de ligas, conforme mostra a tabela 4.5. As regies circuladas representam o
pico de difrao da austenita, no decomposto, mesmo utilizando-se de
varredura do tipo step scan com tempo de anlise de 5 segundos.
na ZTA.
Classe
I110
I111
fv (%)
fv (%)
Mdia Liga
2305,77
107,03
94,5
5,5
Alta Liga
2691,15
95,51
95,7
4,3
O pequeno contedo da fase deve-se em funo do ciclo trmico ser

caracterizado por um rpido aquecimento e resfriamento, o que induziu altos
nveis de tenso nessa regio, provocando a desestabilizao da austenita
com conseqente transformao em martensita, conforme descrito na literatura
[11].
93
(110)
7000
6000
*
4000
(310)
(220)
1000
(200)
2000
(211)
3000
(111)
Intensidade (counts)
(111)
5000
0
40
60
80
100
120
a)
(110)
7000
5000
4000
(310)
1000
(220)
(200)
2000
(211)
3000
(111)
6000
0
40
60
b)
80
100
120
Figura 4.10 Difratograma da ZTA: a) mdia liga e b) alta liga.
4.3
Caracterizao Microestrutural - Metal de Solda
O metal de solda constitui-se numa regio fundida e solidificada

rapidamente, o que restringe a formao de precipitados [46] ou de fases
94
intermetlicas, devido supresso de eventos de microsegregaes,
proporcionando ao metal solidificado uma composio uniforme [45;46].
A figura 4.11 mostra as micrografias pticas do MS, na condio com
consumvel, caracterizadas por ripas ou mesmo blocos grosseiros de
martensita temperada. Essa estrutura apresentou-se mais resistente ao ataque
qumico e eletroltico em relao ao MB e ZTA, inclusive na condio autgena,
conforme observado por Neubert, V. et al. (2004) [8] em soldas por feixe de
eltrons.
a)
b)
Figura 4.11 Microestrutura do MS das classes de mdia a) e alta liga b).

Analisando-se os difratogramas das figuras 4.12 e 4.13, percebe-se que
apesar do aparecimento exclusivo do pico correspondente ao plano de difrao
(111) e da sua sobreposio com os picos / (110), no se conseguiu
separ-los, mesmo utilizando-se de varreduras em etapas (step scan) com
tempo de anlise de 10 segundos. As regies circuladas mostram o pico de
difrao da austenita com o asterisco.
Entretanto, constatou-se o aparecimento de um pico na regio de 2
igual a 43,78, para todas as amostras do MS, estando adjacente intensidade
do plano (111). Este pico pode representar a presena de carbetos do tipo
M23C6, M7C3 ou M3C, de acordo com a norma ASTM E-975 [123]; contudo, no
se procedeu a uma investigao mais detalhada desse pico de difrao.
95
9000
6000
(110)
7000
5000
(310)
1000
(220)
2000
(211)
3000
(200)
4000
(111)
8000
0
40
60
80
100
120
a)
(110)
9000
7000
6000
5000
4000
(310)
(220)
1000
(211)
2000
(200)
3000
(111)
8000
0
40
60
80
100
120
b)
Figura 4.12 Difratograma do MS com consumvel: a) mdia liga e b) alta liga.
96
9000
(110)
8000
6000
5000
1000
(310)
2000
(220)
(211)
3000
(200)
4000
(111)
7000
0
40
60
80
100
120
a)
9000
(110)
7000
6000
5000
1000
(310)
(211)
2000
(200)
3000
(220)
4000
(111)
8000
0
40
60
80
100
120
b)
Figura 4.13 Difratograma do MS autgeno: a) mdia liga e b) alta liga.
A tabela 4.6 mostra que a intensidade integrada para o plano
(111) nas condies com e sem consumvel ficaram muito prximos e em uma
contagem em torno de 600.
97
no MS.
Classe
I110
I111
fv (%)
fv (%)
Mdia Liga
2223,38
636,54
73,6
26,4
Mdia Autgena
2660,13
583,74
78,5
21,5
Alta Liga
3418,31
621,83
81,5
18,5
Alta Autgena
1632,85
622,63
67,7
32,3
A aproximao dos valores da intensidade integrada de austenita retida,

para as classes de mdia e alta liga, reflete-se na utilizao das mesmas
condies de soldagem, submetendo as amostras s mesmas taxas de
aquecimento e resfriamento. Essas condies podem ter provocado o
abaixamento da temperatura de incio da transformao martenstica, Ms [129],
para ambas as classes, o que teria proporcionado as mesmas intensidades de
austenita. Segundo os resultados de Park, J.Y., Park, Y.S. (2006) [21], a
temperatura de Ms diminui consideravelmente com o aumento da taxa de
resfriamento, indo de 240C a uma taxa de 1 K.s-1 at 165C com taxas de 10
K.s-1, para aos martensticos 0,3C14Cr3Mo1.5Ni0.12N.
4.4
Ensaios Eletroqumicos
4.4.1 Curvas de Polarizao Andica - Metal de Base
As curvas de polarizao andica representativas do MB, das classes de

mdia e alta liga, encontram-se representadas na figura 4.14. Analisando-se as
curvas, percebe-se que o MB da alta liga possui um potencial de corroso
maior que o da mdia liga, indicando seu carter mais nobre. Esta diferena
pode ser atribuda ao contedo das fases metalrgicas presentes, ou mesmo
ao efeito composicional.
98
1,2
Potencial (V) x ECS
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
-0,2
Mdia Liga
Alta Liga
-0,4
0,0
2,0x10
-4
-4
4,0x10
-4
6,0x10
8,0x10
-4
-2
Densidade de Corrente (A.cm )

H2SO4.
Segundo Hara, T. e Asahi, H. (2000) [23], que efetuaram medidas de
polarizao do ao supermartenstico, foi constatado que nos materiais que
apresentavam ferrita-, o potencial de corroso era menor, com densidades de
corrente crtica e passiva comparativamente maiores. Esses resultados foram
atribudos presena de zonas empobrecidas em cromo, devido precipitao
de carbetos ou nitretos deste elemento, prximos ferrita. De acordo com os
resultados da caracterizao microestrutural, a quantidade de ferrita-
aparentemente maior na mdia liga, contudo, no se observou um aumento na
densidade de corrente crtica e de passivao, da alta para a mdia liga,
permanecendo inclusive menor, conforme os dados apresentados na tabela
4.7, que simbolizam a mdia de quatro repeties.
A quantidade de austenita retida, que segundo a literatura [10;29]
contribui para a diminuio de precipitados de Cr e Mo pela dissoluo
preferencial de elementos como carbono e nitrognio, no interferiu nos
resultados de polarizao nas condies impostas, pois caso contrrio, a alta
liga que possui um contedo muito maior de austenita retida, em torno de 39%,
teria de apresentar densidades de corrente crtica e passiva menores em
funo do aumento de elementos como Cr e Mo em soluo slida.
99
Tabela 4.7 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para o MB.
Classe
Mdia
Alta
EP.
Ecorr
icrtico
EP.Primria
EPassivo
iPassivao
(V)
(10-4A.cm-2)
(V)
(V)
(10-4A.cm-2)
-0,429
4,649
-0,156
0,480
0,869
1,049
(0,005)
(0,337)
(0,019)
(0,031)
(0,048)
(0,007)
-0,358
5,629
-0,122
0,485
1,276
1,046
(0,003)
(1,280)
(0,009)
(0,024)
(0,136)
(0,007)
secundria
(V)
A diminuio das densidades de corrente crtica e passiva na mdia liga,

deve-se principalmente ao seu maior contedo de cromo, cerca de 1,17%
maior em comparao com a alta liga, de acordo com os dados na literatura
[74;92], para amostras com o mesmo tratamento trmico. A densidade de
corrente passiva sendo menor indica que o filme de xido formado mais
protetor, mesmo para os potenciais de passivao sendo comparativamente
iguais. A presena de outros elementos de liga, como o nquel, que desloca a
densidade de corrente crtica para potenciais mais nobres, tambm est em
concordncia com a literatura [64], como observado na tabela 4.7, para a
classe alta liga. O efeito do molibdnio o da diminuio da densidade de
corrente crtica pela estabilizao do filme passivo. Contudo, o teor mnimo
requerido de 0,25% em massa [99], o que no presente trabalho torna-se
indistinguvel, haja vista a similaridade no contedo desse elemento. O
contedo de carbono, que est ligado precipitao de carbetos com a
conseqente formao de zonas empobrecidas em Cr, causa um aumento na
densidade de corrente crtica e passiva, conforme observado no trabalho de
Ono, A.A., Alonso, N. e Tschiptschin, A.P. (1996) [92] em aos martensticos
contendo 0,1 a 0,3% de carbono, para amostras revenidas. Contudo, o
aumento na densidade de corrente encontrado para as amostras do ao
supermartenstico da alta liga, no est relacionado com o aumento do
contedo de carbono em funo deste ser muito pequeno e comparativamente
maior para a classe mdia liga.
100
Os potenciais de passivao secundria sero discutidos mais adiante.
Outro aspecto relevante nas curvas de polarizao do MB foi o
surgimento de um segundo mximo de densidade de corrente crtica, transio
ativo-passivo, ainda que no totalmente decomposto. Desse modo, a fim de se
obter uma separao completa dos picos dessa transio, foram efetuadas
medidas de polarizao a 1 mV.s-1. A figura 4.15 mostra o formato das curvas
obtidas.
0,3
Potencial (V) x ECS
0,2
0,1
0,0
Mdia Liga
Alta Liga
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
0,0
5,0x10
-5
1,0x10
-4
1,5x10
-4
2,0x10
-4
2,5x10
-4
-2

H2SO4.
Percebe-se que as mesmas caractersticas foram observadas, em
termos de potencial de corroso e densidade de corrente crtica, em relao s
curvas de polarizao levantadas a 10 mV.s-1. Contudo, obteve-se a separao
do segundo mximo de densidade de corrente, que permaneceu muito prximo
para as duas classes e em torno de 10 mVECS.
Adicionalmente, foram capturadas imagens utilizando MEV, da amostra
da mdia liga, aps a interrupo da varredura nos pontos indicados pelas
setas na figura 4.15. As micrografias da figura 4.16 ilustram as microestruturas
correspondentes aos dois picos de ativao para a classe mdia liga. As
101
imagens no revelaram nenhuma diferena microestrutural decorrente dos
diferentes estgios de potencial.
a)
b)
Figura 4.16 a) Microestrutura correspondente ao 1 pico de ativao e b) ao 2
pico de ativao, para as amostras do MB da mdia liga.
Existem inmeras interpretaes para o segundo mximo de densidade
de corrente crtica, como descrito na seo 2.5.1; contudo, o efeito esperado da
102
oxidao das regies empobrecidas em Cr, conforme descrito para os aos
martensticos que sofreram tratamento de revenimento, no foi verificado nesse
tipo de material. Isto sugere que outros efeitos, que no os estruturais, devam
estar contribuindo para tal fenmeno e necessitam ser estudados com auxlio
de outras tcnicas.
4.4.2 Curvas de Polarizao Andica - Zona Termicamente Afetada
A figura 4.17 mostra as curvas de polarizao representativas da ZTA,

comparativamente para as classes de mdia e alta liga.
1,2
Potencial (V) x ECS
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
Mdia Liga
Alta Liga
-0,2
-0,4
0,0
2,0x10
-4
4,0x10
-4
6,0x10
-4
8,0x10
-4
-2

H2SO4.
A anlise das curvas de polarizao, com os dados da tabela 4.8, mostra
que esta regio da junta soldada, apresenta comportamento similar para as
duas classes, com exceo do potencial de corroso que permaneceu mais
nobre para a alta liga.
103
Tabela 4.8 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para a ZTA.
Classe
Mdia
Alta
EP.
Ecorr
icrtico
EP.Primria
EPassivao
iPassivao
(V)
(10-4A.cm-2)
(V)
(V)
(10-4A.cm-2)
-0,422
4,574
-0,140
0,516
0,820
1,044
(0,003)
(0,515)
(0,040)
(0,031)
(0,096)
(0,006)
-0,353
4,356
-0,134
0,463
0,991
1,048
(0,001)
(0,207)
(0,008)
(0,010)
(0,026)
(0,003)
secundria
(V)
Em comparao com o MB, a classe mdia liga no apresentou

diferena significativa com relao densidade de corrente crtica e passiva.
Contudo, a alta liga apresentou uma diminuio no valor das respectivas
densidades de corrente. De acordo com a literatura [19;58], a ZTA
susceptvel precipitao de carbetos de cromo, ou mesmo de titnio,
ocasionado pelo rpido ciclo trmico. Contudo, a diferenciao trmica pode
promover a redissoluo de carbetos em certas regies da ZTA, aquecidas em
torno de 1350C [3;24], o que proporcionaria um ligeiro aumento do contedo
de cromo em soluo slida na alta liga, deslocando seus nveis de densidade
de corrente para valores menores em direo mdia liga. O mesmo processo
ocorreu para essa ltima classe, porm, sem alterao significativa nas
densidades de corrente, que se mostraram nos mesmos patamares do MB.
As fases metalrgicas presentes no ao, tanto a austenita como a ferrita, parecem no exercer influncia sobre os resultados, uma vez que o
contedo de austenita permaneceu quase que constante, e o da ferrita
continuou maior para a mdia liga. Contudo, em comparao com o MB, o
contedo de austenita decresceu significativamente para a alta liga, o que
culminou na diminuio da densidade de corrente crtica e passiva. Isto,
entretanto no est de acordo com os dados da literatura [10;29] que atribuem
um efeito benfico para a austenita na diminuio de precipitados, fazendo com
que o material apresente tanto densidade, quanto potencial de transio
menores.
104
Novamente, o potencial de passivao primrio, correspondente
densidade de corrente crtica, apresentou um segundo mximo de densidade
de corrente no resolvido para a alta liga. Desse modo, procedeu-se a
realizao de curvas de polarizao a 1 mV.s-1 para a resoluo de tal pico,
conforme ilustra a figura 4.18.
0,3
Potencial (V) x ECS
0,2
0,1
0,0
Mdia Liga
Alta Liga
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
0,0
2,0x10
-5
4,0x10
-5
6,0x10
-5
-5
8,0x10
-2

H2SO4.
As curvas levantadas a 1 mV.s-1 no revelaram o surgimento do
segundo mximo de densidade de corrente para a alta e mdia liga, que
inclusive no apresentou tal pico nas curvas efetuadas a 10 mV.s-1. Isto indica
que a velocidade de varredura exerce influncia sob os processos
eletroqumicos, particularmente no surgimento do segundo mximo e que, alm
disso, esse mostrou-se dependente do material e histrico trmico.
4.4.3 Curvas de Polarizao Andica - Metal de Solda
A figura 4.19 mostra as curvas representativas da polarizao andica,

obtidas para os metais de solda, nas condies com e sem consumvel.
105
1,2
Potencial (V) x ECS
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
-0,2
Mdia Liga
Alta Liga
-0,4
0,0
2,0x10
-4
4,0x10
-4
6,0x10
-4
8,0x10
-4
-2
a)
1,2
Potencial (V) x ECS
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
-0,2
Mdia Liga autgena
Alta Liga autgena
-0,4
0,0
2,0x10
-4
4,0x10
-4
6,0x10
-4
8,0x10
-4
-2
b)
Figura 4.19 Curva de polarizao do MS: a) com consumvel e b) autgena, a
10 mV.s-1, em soluo 0,05 M H2SO4.
A partir das curvas das amostras para o MS com consumvel, percebese que o comportamento de ambas as ligas muito prximo, o mesmo
ocorrendo para as classes soldadas na condio autgena, conforme se pode
verificar na tabela 4.9.
106
Tabela 4.9 Dados de Polarizao em 0,05 M H2SO4 para o MS com
consumvel.
Classe
Mdia
Mdia autg.
Alta
Alta autg.
EP.
Ecorr
icrtico
EP.Primria
EPassivao
iPassivao
(V)
(10-4A.cm-2)
(V)
(V)
(10-4A.cm-2)
-0,390
5,247
-0,096
0,492
0,978
1,047
(0,001)
(0,424)
(0,042)
(0,030)
(0,125)
(0,003)
-0,410
3,901
-0,190
0,490
0,626
1,051
(0,004)
(0,265)
(0,010)
(0,023)
(0,040)
(0,007)
-0,352
5,720
-0,0585
0,508
1,104
1,051
(0,002)
(0,514)
(0,048)
(0,026)
(0,096)
(0,002)
-0,344
3,775
-0,100
0,506
0,808
1,078
(0,001)
(0,441)
(0,009)
(0,013)
(0,023)
(0,010)
secundria
(V)
Contudo, as densidades de corrente crtica e os potenciais de

passivao primrio permaneceram maiores para a condio com consumvel.
Isto indica que essas amostras possuem mais regies sendo oxidadas, devido
maior densidade de corrente que se reflete em maior quantidade de cargas.
Nesse sentido, a condio autgena mostrou-se com melhor desempenho.
A regio passiva mostrou uma menor densidade de corrente passiva
para as amostras na condio autgena, indicando que o filme formado nesta
condio mais espesso, portanto, mais protetor. Assim como nos resultados
anteriores para o MB, as amostras da classe mdia liga apresentaram os
menores valores de potencial e de densidade de corrente de passivao,
devido ao seu maior contedo de cromo.
Contudo, no se observaram diferenas significativas, em termos de
potencial e densidade de corrente crtica e passiva entre as regies fundidas,
MB e ZTA. Essa caracterstica tambm foi observada por Ono A.A., Alonso, N
e Tschiptschin, A.P. (1996) [92] para aos martensticos temperados e
revenidos.
A presena de igual proporo da fase austentica entre as amostras das
regies soldadas com e sem consumvel, no originou nenhuma diferena
107
significativa nos ensaios realizados, apesar de existir uma diminuio da
densidade de corrente passiva do MB para o MS, como constatado para a ZTA,
com concomitante diminuio no teor de austenita.
As curvas da figura 4.20 mostram o formato das curvas de polarizao
do MS a 1 mV.s-1, para a verificao da existncia ou no de segundos
mximos de densidade de corrente crtica.
0,3
Potencial (V) x ECS
0,2
0,1
0,0
Mdia Liga
Alta Liga
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
0,0
-5
2,0x10
-5
4,0x10
6,0x10
-5
-5
8,0x10
-2
a)
0,3
Potencial (V) x ECS
0,2
0,1
Mdia Liga autgena
Alta Liga autgena
0,0
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
0,0
2,0x10
-5
4,0x10
-5
-5
6,0x10
-5
8,0x10
-2
b)
Figura 4.20 Curva de polarizao do MS: a) com consumvel e b) autgena, a 1
mV.s-1, em soluo 0,05 M H2SO4.
108
As curvas de polarizao a 1 mV.s-1 no apresentaram um segundo pico
de densidade de corrente em potencias acima de 0 mVECS, como no MB.
Entretanto, as curvas a 10 mV.s-1 do MS da alta liga, em ambas as condies,
que apresentaram uma pequena protuberncia aps o primeiro pico, mudaram
o formato da transio ativo-passivo, originando um pico de transio com
grande extenso, assim como na mdia liga. Isso indica a provvel presena
de dois picos compostos, que mais uma vez, devido ao efeito da varredura,
assim
como
do
tratamento
trmico
material,
influenciaram
no
comportamento das curvas de polarizao. Deste modo, uma investigao

mais minuciosa necessria para desvendar o aparecimento e a causa do
segundo mximo de densidade de corrente.
O potencial de passivao secundrio (EPS), na regio transpassiva,
apresentou-se com valores muito prximos para todas as regies da junta
soldada, em torno de 1 V, e sem distino do tipo de material, porm, com uma
densidade de corrente maior para a classe alta liga. A coincidncia do potencial
deve-se em funo da decomposio da gua e da liberao do gs oxignio.
Contudo, a densidade de corrente, apesar de ter sido influenciada pela
decomposio da gua, menor para a classe mdia liga devido ao filme
formado na regio passiva ser mais espesso (densidade de corrente passiva
menor). Desse modo, as amostras da mdia liga apresentaram menor
densidade de corrente transpassiva, conforme descrito pela literatura [130]. A
diminuio posterior da densidade de corrente deve-se formao de um novo
filme passivo, porm, enriquecido com espcies oxidadas do ferro [130].
4.4.4 Corroso Intergranular - Metal de Base
As curvas obtidas do ciclo duplo representativas para o MB, esto

esboadas na figura 4.21. Percebe-se que a varredura no sentido direto ou de
ativao, indicado pela seta ascendente, apresenta os mesmos dois picos de
109
densidade de corrente, como encontrado para as curvas de polarizao em
0,05 M H2SO4.
0,6
0,5
Potencial (V) x ECS
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-0,1
-0,2
-0,3
Mdia Liga
Alta Liga
-0,4
-0,5
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
0,1
-2
Figura 4.21 Curva de reativao potenciodinmica para o MB.

No caso da alta liga, o primeiro pico de ativao encontra-se com uma
densidade de corrente menor que o segundo, em um potencial mais nobre. A
justificativa para tal fenmeno foi atribuda pela literatura [64;76], em ensaios
de corroso intergranular, ao maior contedo de austenita retida na alta liga,
que estando enriquecida em nquel, provocaria a elevao do potencial do
segundo pico de ativao e um aumento de sua intensidade. Tal fenmeno no
foi verificado na classe mdia liga, devido ao seu contedo inferior de austenita
A figura 4.23 ilustra as micrografias adquiridas por MEV, do MB da alta
liga, correspondentes interrupo da varredura no primeiro e segundo picos
de ativao, ilustrados na figura 4.22.
110
0,1
2
Potencial (V) x ECS
0,0
-0,1
1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
0,1
-2
Figura 4.22 Curva de polarizao andica para o MB da alta liga.

No se observou diferenas microestruturais significativas com relao
ao
ataque
eletroqumico
na
matriz
martenstica,
possivelmente
pela
interferncia no processo de oxidao dos dois picos compostos, que no

puderam ser resolvidos mesmo com velocidades de 0,67 mV.s-1.
a)
Figura 4.23 Microestrutura do MB da alta liga: a) 1 pico de ativao e b) 2
pico de ativao.
111
b)
Figura 4.23 (Continuao) Microestrutura do MB da alta liga: a) 1 pico de
ativao e b) 2 pico de ativao.
Durante o processo de reativao, novamente observou-se o surgimento
de dois picos de reativao no resolvidos, exclusivamente para a alta liga.
Assim, com o intuito de decomporem-se estes picos, procedeu-se somente a
varredura inversa, ou seja, de +0,6 VECS at o Ecorr, logo aps a amostra
adquirir um estado estacionrio em circuito aberto. A figura 4.24 mostra a curva
de reativao obtida com os dois picos sendo completamente resolvidos. Tal
procedimento no resultou na deconvoluo ou mesmo surgimento de um
segundo pico para a amostra da mdia liga, mesmo com taxas de varredura
pequenas e iguais a 0,67 mV.s-1.
112
0,6
Potencial (V) x ECS
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
1
-0,1
-0,2
-0,3
1E-4
2
1E-3
0,01
-2
Figura 4.24 Curva de reativao catdica para o MB da alta liga.

A fim de verificar possveis diferenas quanto ao padro de ataque
microestrutural, procedeu-se a captura de imagens em MEV das amostras da
alta liga, aps a interrupo da varredura nos pontos indicados pelas setas na
figura 4.24. As micrografias resultantes encontram-se na figura 4.25.
a)
Figura 4.25 Microestrutura do MB da alta liga aps ensaio de reativao
catdica: a) 1 pico de reativao e b) 2 pico de reativao.
113
b)
Figura 4.25 (Continuao) Microestrutura do MB da alta liga aps ensaio de
reativao catdica: a) 1 pico de reativao e b) 2 pico de
reativao.
Analisando as microestruturas, percebe-se que no primeiro pico de
reativao (-100 mVECS), em potenciais mais positivos, h a dissoluo
preferencial dos contornos da martensita, o que segundo Chal, V. e Stefec, R.
(2001) [76], trata-se da dissoluo de uma fase rica em nquel, que
provavelmente a austenita retida. Contudo, para se comprovar o ataque
nesta fase seria necessria a utilizao de microscopia eletrnica de
transmisso. O segundo pico (-190 mVECS), em menor potencial, corresponde
dissoluo da matriz martenstica, o que est em acordo com os resultados
observados na literatura [76].
Assim, a no observao da distino entre dois picos de reativao
catdica para a mdia liga tem como fator primordial o contedo de austenita,
que deve possuir um valor mnimo para que tal fenmeno ocorra. Segundo
Chal, V. et al. (2002) [64], os requisitos para o surgimento do segundo mximo
de densidade de corrente so a presena de molibdnio, e que as amostras
sejam revenidas, com contedo de austenita retida acima de 25%.
114
Analisando-se o grau de sensitizao, medido pelo quociente entre a
densidade de corrente de reativao sobre a de ativao, multiplicado por 100,
resultou em 58,9% e 64,3% para a mdia e alta liga, respectivamente, cujos
valores mdios de cinco repeties encontram-se na tabela 4.10. Utilizaram-se
os valores de maior densidade de corrente para a alta liga, uma vez que
possuam uma melhor resoluo. A proximidade dos valores do grau de
sensitizao, alm do seu alto valor, sugere que as duas classes, na condio
revenida a 600C, possuem uma rea significativa com falta de cromo
ocasionada pelo tratamento trmico. Entretanto, como a mdia liga possui um
contedo nominal de cromo maior do que a alta liga, a sensitizao foi menor.
Alm disso, como o molibdnio diminui a solubilidade do carbono na austenita,
seu maior contedo na alta liga pode ter provocado uma precipitao maior.
MB.
Classe
iativao (A.cm-2)
ireativao (A.cm-2)
iR/ia
Mdia Liga
0,03960
0,02335
0,5896
Alta Liga
0,03650
0,02348
0,6433
As micrografias da figura 4.26, obtidas por microscopia eletrnica de

varredura, mostram o estado da superfcie aps o ensaio de ciclo duplo
completo. Percebe-se que a superfcie da alta liga sofreu um ataque mais
intenso de oxidao, devido ao maior grau de sensitizao ocasionado pelo
seu menor contedo de cromo. Alm disso, as imagens mostram que o ensaio
revelou no apenas a corroso intergranular, mas tambm a intragranular.
O ensaio microestrutural por microscopia tica no possibilitou a
visualizao da microestrutura, em virtude da alta taxa de dissoluo, o que
produziu imagens com baixa resoluo.
115
a)
b)
Figura 4.26 Microestrutura do MB aps o ensaio de corroso intergranular: a)
mdia liga e b) alta liga.
116
4.4.5 Corroso Intergranular - Zona Termicamente Afetada
As curvas representativas do ensaio de polarizao de ciclo duplo para a

ZTA das classes de mdia e alta liga, encontram-se esboadas na figura 4.27.
As setas indicam o sentido da varredura.
0,6
0,5
Potencial (V) x ECS
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-0,1
-0,2
Mdia Liga
Alta Liga
-0,3
-0,4
-0,5
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
0,1
-2
Figura 4.27 Curva de reativao potenciodinmica para a ZTA.

Analisando-se as curvas de polarizao e os dados da tabela 4.11,
observa-se que a alta liga possuiu densidades de corrente, tanto de ativao
como de reativao menores do que a mdia liga. Contudo, o grau de
sensitizao, medido pelo quociente das duas densidades, permaneceu muito
abaixo daquele encontrado para o metal de base. Isto indica que a ZTA possui
uma rea sensitizada muito menor do que o MB. Essa caracterstica deve-se
principalmente a redissoluo de carbetos de cromo, durante o ciclo trmico
proporcionado pela solda, o que acarretou em um enriquecimento maior desse
elemento.
117
Tabela 4.11 Densidades de corrente de ativao (ia) e reativao (iR) para a
ZTA.
Classe
iativao (A.cm-2)
ireativao (A.cm-2)
iR/ia
Mdia Liga
0,04745
0,003789
0,07985
Alta Liga
0,03092
0,0001509
0,004880
Ao contrrio do MB, a ZTA no apresentou o aparecimento de segundos

mximos de densidade de corrente de ativao e reativao, mesmo utilizandose de varreduras a 0,67 mV.s-1 ou procedendo-se somente a polarizao no
sentido catdico. Este fato salienta a observao de Chal, V. e Stefec, R.
(2001) [76], quanto ao contedo de austenita e sua dissoluo na reativao.
As figuras 4.28 e 4.29 mostram algumas das micrografias pticas
capturadas aps o ensaio de ciclo duplo.
a)
intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima linha de fuso, b)
Interior da ZTA e c) ZTA prxima ao MB.
118
b)
c)
Figura 4.28 (Continuao) Microestrutura de MO da ZTA aps o ensaio de
corroso intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima linha de
fuso, b) Interior da ZTA e c) ZTA prxima ao MB.
119
a)
b)
intergranular na alta liga: a) ZTA prxima linha de fuso, b)
interior da ZTA e c) ZTA prxima ao MB.
120
c)
Figura 4.29 (Continuao) Microestrutura de MO da ZTA aps o ensaio de
corroso intergranular na alta liga: a) ZTA prxima linha de
fuso, b) interior da ZTA e c) ZTA prxima ao MB.
Analisando-se as microestruturas, percebe-se a revelao de contornos
de gro prvios da austenita, alm dos contornos intragranulares da fase
martenstica. Assim, verifica-se mais uma vez que o ensaio de corroso
intergranular para os aos supermartensticos, revelou no apenas reas
sensitizadas dos contornos de gro, mas tambm as resultantes da estrutura
martenstica, conforme observado por Magri, M. (1995) [71].
Alm disso, imagens das amostras da ZTA foram capturadas utilizandose de MEV, para uma melhor investigao dos resultados dos ensaios de ciclo
duplo. As figuras 4.30 e 4.31 ilustram algumas das microestruturas encontradas
ao longo de trs regies da ZTA.
121
a)
b)
intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima ao MB, b) interior da
ZTA e c) ZTA prxima linha de fuso.
122
c)
Figura 4.30 (Continuao) Microestrutura de MEV da ZTA aps o ensaio de
corroso intergranular na mdia liga: a) ZTA prxima ao MB, b)
interior da ZTA e c) ZTA prxima linha de fuso.
a)
intergranular na alta liga: a) ZTA prxima ao MB b) interior da
ZTA e c) ZTA prxima linha de fuso.
123
b)
c)
Figura 4.31 (Continuao) Microestrutura de MEV da ZTA aps o ensaio de
corroso intergranular na alta liga: a) ZTA prxima ao MB b)
interior da ZTA e c) ZTA prxima linha de fuso.
124
Analisando as micrografias de eltrons secundrios da ZTA da mdia
liga, percebe-se que os contornos de gro prximo ao MB, inclusive
intragranularmente, possuem buracos ou mesmo cavidades arredondadas,
advindas da precipitao de carbetos de cromo, ou mesmo de titnio, devido
temperatura atingida por esta regio ser propcia a tal precipitao, conforme
exposto por Akselsen, O.M. et al. (2004) [53]. Contudo, essa regio na alta liga
no apresentou tais cavidades, possivelmente devido ao seu menor contedo
de carbono. Entretanto, ambas as classes revelaram os contornos da fase
martenstica intragranularmente, indicando a presena de precipitados de
cromo decorrentes do revenimento pelo ciclo trmico da solda.
Ao se analisar o interior da ZTA, percebe-se que a precipitao nos
contornos de gro e em seu interior, diminui para a mdia liga, devido
redissoluo dos precipitados de carbetos de cromo. A redissoluo de
precipitados tambm ocasionou a diminuio dos contornos da fase
martenstica na alta liga. A diminuio dos contornos da fase martenstica, em
funo da redissoluo dos precipitados, ocorreu devido a maior difuso do
carbono nessa fase [6].
Ao aproximar-se da linha de fuso, verifica-se a presena da ferrita-
como sendo as partes mais claras da figura 4.30c e 4.31c. Na amostra da
mdia liga, constata-se uma intensa precipitao entre as linhas de ferrita,
ocasionada em virtude de essa fase possuir uma solubilidade muito baixa para
o carbono [6], expulsando-o da soluo slida e precipitando-se na sua
vizinhana. O mesmo processo ocorreu para a amostra da alta liga; contudo,
como seu teor de carbono mais baixo, em torno de 0,007% contra os 0,02%
da mdia liga, a precipitao ocorreu com menor intensidade, como pode ser
verificado pelas pequenas cavidades adjacentes as linhas da ferrita-.
Assim, o maior grau de sensitizao para a mdia liga (7,9% contra
0,48% para a alta liga) justificado pela maior intensidade de precipitados de
cromo que foram dissolvidos na reativao, produzindo uma densidade de
corrente correspondentemente maior em relao alta liga.
125
4.4.6 Corroso Intergranular - Metal de Solda
As curvas de polarizao representativas do MS nas condies com e

sem consumvel, para as classes de mdia e alta liga, encontram-se
esboadas na figura 4.32, que indica o sentido de polarizao atravs das
setas.
0,6
0,5
Potencial (V) x ECS
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-0,1
-0,2
Mdia Liga
Alta Liga
-0,3
-0,4
-0,5
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
0,1
-2
a)
0,6
0,5
Potencial (V) x ECS
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-0,1
-0,2
Mdia Liga autgena

Alta liga autgena
-0,3
-0,4
-0,5
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
0,1
-2
b)
Figura 4.32 Curva de reativao potenciodinmica para o MS: a) com
consumvel e b) sem consumvel.
126
Analisando-se as curvas levantadas, pode-se verificar que todas as
amostras possuem uma densidade de corrente de ativao similar. Contudo,
na regio de transio ativo-passivo para a classe mdia liga autgena,
observou-se uma elevao do potencial, o que pode ser atribudo a uma
diminuio no teor de cromo, conforme se relatar posteriormente. Os dados
de densidade de corrente encontram-se na tabela 4.12.
Tabela 4.12 Densidades de corrente de ativao (ia) e reativao (iR) para MS.
Classe
iativao (A.cm-2)
ireativao (A.cm-2)
iR/ia
Mdia Liga
0,03796
0,0005169
0,01362
Mdia Liga autgena
0,05417
0,001981
0,03657
Alta Liga
0,03226
0,0001388
0,004302
Alta Liga autgena
0,03156
0,0002670
0,008460
Durante a reativao, percebe-se que houve uma diferenciao quanto a

esta densidade de corrente, o que se caracteriza por graus distintos de regies
sensitizadas. De acordo com a tabela 4.12, o grau de sensitizao aumenta na
seqncia: HAconsumvel (0,4%); HAautgena (0,8%); MAconsumvel (1,3%); MAautgena
(3,6%). Assim, pode-se verificar que apesar do rpido resfriamento
caracterstico dos processos de soldagem, os quais empregam alta densidade
energia, houve a formao de zonas empobrecidas em cromo, possivelmente
devido ocorrncia de precipitados com carbono, uma vez que o grau de
sensitizao maior na mdia liga (0,02% C). Isto justifica o potencial da
transio ativo-passivo ser maior para a amostra da mdia liga autgena.
Entretanto, os nveis de sensitizao permaneceram muito abaixo da estrutura
revenida do MB e inferiores ao das correspondentes ZTAs para as diferentes
classes.
Contudo, no se observou o aparecimento de segundos mximos de
densidade de corrente de ativao e reativao, mesmo utilizando-se de
varreduras a 0,67 mV.s-1 ou partindo-se diretamente da polarizao catdica.
Esta caracterstica pode decorrer do fato dessas amostras serem temperadas,
127
o que segundo Chal, V. e Stefec, R. (2001) [76] no produziriam segundos
mximos de densidade de corrente crtica. As figuras 4.33 e 4.34 mostram a
microestrutura utilizando MO das amostras do MS.
a)
b)
intergranular na mdia liga: a) com consumvel e b) autgena.
128
a)
b)
intergranular na alta liga: a) com consumvel e b) autgena.
De acordo com as imagens, verifica-se um ataque mais acentuado na
amostra da mdia liga autgena, com o aparecimento de cavidades por toda a
matriz, alm da revelao de contornos de gro. As outras amostras revelaram
129
pequenas estruturas na forma de pequenas linhas, o que segundo a literatura
so atribudas como sendo ferrita- [50].
Com o intuito de melhor identificar as estruturas reveladas aps o ensaio
de corroso intergranular, procedeu-se a captura de imagens por MEV das
amostras do MS, estando representadas nas figuras 4.35 e 4.36.
a)
b)
intergranular na mdia liga: a) com consumvel e b) autgena.
130
a)
b)
intergranular na alta liga: a) com consumvel e b) autgena.
Analisando-se as imagens de eltrons secundrios, percebe-se que as
amostras da mdia liga sofreram um ataque acentuado, particularmente na
condio autgena, com a formao de cavidades tanto nos contornos de gro
quanto na matriz. Na condio com consumvel o aparecimento das cavidades
131
no teve uma intensidade to elevada, contudo, possuam dimetros similares
ao da condio autgena. Na alta liga, em ambas as condies de soldagem,
percebeu-se a formao dessas cavidades, entretanto, seus dimetros eram
muito pequenos. Essas cavidades originaram-se da precipitao de carbetos
de cromo, que se dissolveram na reativao e assim no puderam ser
analisados quantitativamente por microanlise. Contudo, no se observou
precipitao ao longo das ripas de martensita como no MB e ZTA.
Estas caractersticas ajudam a comprovar o maior grau de sensitizao
encontrado para a mdia liga autgena, em comparao com as outras
amostras do MS, contudo, permanecendo inferior s outras regies da junta da
mesma liga. Alm disso, mesmo o material sofrendo um ciclo trmico de fuso
e tmpera, ele estar sujeito precipitao de espcies, particularmente com
cromo. Neste caso, a maior precipitao ocorrendo nas amostras do MS da
mdia liga, que possuem uma quantidade maior de carbono.
4.4.7 Corroso Localizada - Metal de Base
As curvas de polarizao em soluo 3,56% de cloreto de sdio,

representativas das amostras do MB, esto ilustradas na figura 4.37. O
potencial de pite permaneceu prximo para as duas classes e em torno de 60
mVECS.
Potencial (V) x ECS
132
0,30
0,25
0,20
0,15
0,10
0,05
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
-0,30
-0,35
-0,40
1E-8
Mdia Liga
Alta Liga
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
-2

MB.
As curvas para o MB no exibiram uma transio ativo-passivo, clssica
para materiais que sofrem passivao num dado ambiente. Ao contrrio, essas
amostras j mostraram um comportamento passivo desde o incio da
polarizao, uma vez que a densidade de corrente prxima de 10-6 A.cm-2.
Outra caracterstica durante a varredura potenciodinmica foi o surgimento de
consecutivas oscilaes da densidade de corrente, em torno de 10-6 A.cm-2, o
que, segundo a literatura [82;86;88] caracterstico de pites que nucleiam e
repassivam, pites metaestveis. Este fenmeno de repassivao ocorre devido
ao pite formado estar a um potencial abaixo do potencial de pite. Entretanto, a
incidncia dessas oscilaes diminui com o tempo, devido saturao dos
stios disponveis para eventos de nucleao [82;88].
O contedo de austenita retida no exerceu influncia no potencial de
pite do MB, uma vez que ambas as ligas mostraram potenciais de pite
semelhantes, porm, com contedo de austenita distintos. Este resultado est
de acordo com o observado por Kimura, M. et al. (2001) [10] e contrrio aos
resultados de Bilmes, P.D. et al. (2006) [29], que encontraram um aumento no
potencial de pite com o aumento do teor da austenita. Contudo, ambos os
133
autores concordam que a austenita retida promove uma diminuio de
precipitados de Cr e Mo pela dissoluo preferencial de carbono e nitrognio.
A presena da ferrita- mostra-se prejudicial corroso por pites devido
precipitao de carbetos ou nitretos de cromo, prximos a essa fase [23], o
que comprometer a composio do filme formado em cromo, sob estas
regies, aumentando a susceptibilidade ao pite [93;94;102]. Entretanto, no se
verificou uma relao dessa fase com o potencial de pite, uma vez que sua
quantificao no foi possvel.
O contedo de Mo, apesar de muito discutido na literatura, seo 2.5.3,
com relao ao seu teor e mecanismo na resistncia ao pite, no foi um fator
crtico na diferenciao do potencial de pite para as classes de mdia e alta
liga. Assim, a similaridade do comportamento do MB frente corroso
localizada teve influncia primordial do tratamento trmico de revenimento.
As imagens de eltrons secundrios dos pites formados no MB das ligas
do ao supermartenstico, encontram-se ilustradas na figura 4.38. Percebe-se a
formao de estruturas facetadas no interior do pite.
a)
Figura 4.38 Morfologia dos pites formados no MB: a) mdia liga e b) alta liga.
134
b)
Figura 4.38 (Continuao) Morfologia dos pites formados no MB: a) mdia liga
e b) alta liga.
Baseado nas anlises superficiais verificou-se que os pites formados
seguiram um regime aleatrio, devido homogeneidade microestrutural.
Contudo, em funo do dimetro de 80 m, no foi possvel constatar se o pite
formado
foi
proveniente
da
nucleao
preferencial
no
contorno
ou
intragranularmente.
4.4.8 Corroso Localizada - Zona Termicamente Afetada
A figura 4.39 mostra as curvas de polarizao representativas da ZTA,

na determinao do potencial de pite.
Potencial (V) x ECS
135
0,30
0,25
0,20
0,15
0,10
0,05
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
-0,30
-0,35
-0,40
1E-8
Mdia Liga
Alta Liga
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
-2
Figura 4.39 Curvas de polarizao para a determinao do potencial de pite da

ZTA.
O comportamento com relao ao formato das curvas de polarizao
segue as mesmas observaes descritas para o MB. Com relao ao potencial
de pite, a ZTA apresentou ndices superiores ao do MB, com a classe mdia
liga possuindo os potenciais mais nobres. Esta caracterstica ocasionada pela
redissoluo de carbetos de cromo, precipitados durante o processo de
revenimento. Este fenmeno possvel na medida em que as temperaturas
atingidas pela ZTA, devido ao ciclo trmico da solda, so prximas do ponto de
fuso do material. Assim, como a mdia liga possui um contedo de cromo
maior que a alta liga, a redissoluo dos carbetos proporcionou um maior
contedo desse elemento para essa classe, elevando seu potencial de pite.
As imagens de eltrons secundrios, para os pites formados na ZTA,
esto ilustrados na figura 4.40 e 4.41.
136
a)
b)
Figura 4.40 Morfologia dos pites formados na ZTA da mdia liga prximo ao
MB: a) superfcie e b) interior do pite.
137
a)
b)
Figura 4.41 Morfologia dos pites formados na ZTA da alta liga, prximo linha
de fuso: a) superfcie e b) interior do pite.
Os pites formados na alta liga apresentaram um carter aleatrio, sendo
formados por toda a microestrutura. Contudo, os pites da mdia liga nuclearam
e cresceram preferencialmente na regio prxima ao MB. Esse fenmeno
138
ocorreu devido ao maior enriquecimento em cromo, advindo da redissoluo de
seus carbetos, nas regies prximas linha de fuso, o que a tornou menos
susceptvel ao pite, conforme observado por Enerhaug, J. et al. [56]. No caso
da alta liga, apesar de existir redissoluo, o contedo de cromo no foi
suficiente para garantir uma maior proteo das regies prximas linha de
fuso.
A figura 4.41 mostra o pite formado na alta liga na regio da ferrita-.
Percebe-se que as linhas mais claras, caractersticas dessa fase reveladas
pelo ataque com reagente vilella, no sofreram ataque devido ao seu maior
contedo de cromo, conforme anlise por EDS, mesmo no interior do pite onde
o pH cido.
4.4.9 Corroso Localizada - Metal de Solda
A figura 4.42 mostra as curvas de polarizao representativas do MS
Potencial (V) x ECS
nas condies com e sem consumvel, para ambas as ligas.

0,30
0,25
0,20
0,15
0,10
0,05
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
-0,30
-0,35
-0,40
1E-8
Mdia Liga
Alta Liga
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
-2
a)
MS: a) com consumvel e b) autgena.
Potencial (V) x ECS
139
0,30
0,25
0,20
0,15
0,10
0,05
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
-0,30
-0,35
-0,40
1E-8
Mdia Liga autgena

Alta Liga autgena
1E-7
1E-6
1E-5
1E-4
1E-3
0,01
-2
b)
Figura 4.42 (Continuao) Curvas de polarizao para a determinao do
potencial de pite do MS: a) com consumvel e b) autgena.
Os potenciais de pite atingidos pelo MS foram os mais nobres da junta
soldada,
principalmente
na
condio
com
consumvel.
Este
melhor
desempenho est associado com o processo de tmpera, com a conseqente

formao da martensita temperada, que segundo Kimura, M. et al. (2001) [10]
possui um potencial de pite maior do que a martensita revenida, devido
diminuio de precipitados.
A perda de resistncia ao pite das amostras na condio autgena devese a no utilizao do metal consumvel. Tal adio proporcionaria regio
fundida um maior contedo de elementos de liga, principalmente o cromo,
ocasionando assim uma maior resistncia corroso localizada, como
constatada para a solda com consumvel.
Novamente a austenita retida no influenciou a resistncia corroso,
uma vez que se obtiveram diferentes valores de potencial de pite para uma
mesma intensidade integrada de austenita.
As figuras 4.43 e 4.44 mostram a morfologia dos pites formados no MS
em ambas as condies de soldagem, apresentando estrutura facetada.
140
Como exposto para o MB, os pites formados seguiram um regime aleatrio,
quanto
nucleao
ao
crescimento,
devido
homogeneidade
microestrutural, figura 4.45.
a)
b)
Figura 4.43 Morfologia dos pites formados no MS da Mdia liga: a) com
consumvel e b) autgena.
141
a)
b)
Figura 4.44 Morfologia dos pites formados no MS da Alta liga: a) com
consumvel e b) autgena.
142
Figura 4.45 Micrografia representativa do regime aleatrio dos pites formados

no MS da mdia liga com consumvel.
Os pites formados, com exceo da mdia com consumvel, resultaram
do crescimento e interseco de dois pites adjacentes. A no observao da
microestrutura do material no interior do pite formado na alta liga com
consumvel, ocorreu devido perfurao de sua amostra, uma vez que se
encontrava muito fina.
Verificou-se ainda que a densidade dos pites menor na regio fundida,
com ou sem consumvel, aumentado na ZTA e MB, respectivamente. Essa
observao enfatiza o MS como sendo a regio menos suscetvel formao
de pites, possuindo, assim, um potencia de pite mais nobre.
4.4.10 Comparao entre o grau de sensitizao e a suscetibilidade ao

pite
Segundo a literatura, seo 2.5.3, a presena de regies empobrecidas

em cromo, sensitizadas, so tidas como as mais susceptveis nucleao e ao
crescimento de pites, em comparao com o restante da matriz. Com base nos
143
dados obtidos dos ensaios de corroso intergranular e de pite, percebe-se uma
boa correlao entre o grau de sensitizao e o potencial de pite, pois
enquanto o MB possuiu o maior grau de sensitizao da junta, essa regio
tambm se mostrou como a mais susceptvel ao pite, possuindo o menor
potencial de pite. Alm disso, o desempenho superior do MS, com relao
resistncia ao pite, resultado de seu menor grau de sensitizao. A ZTA
permaneceu nos dois casos como uma regio intermdiaria. Os grficos da
figura 4.46 auxiliam no entendimento da relao indireta entre os dois tipos de
corroso, ou seja, quanto mais reas sensitizadas, maior a probabilidade de
gerar-se um pite e, portanto, menor ser seu potencial.
Potencial de Pite (V) x ECS
0,24
60
0,22
0,20
50
0,18
40
0,16
0,14
30
0,12
20
0,10
0,08
10
0,06
0,04
Grau de Sensitizao [(iR/ia).100]
70
0,26
0,02
MB
ZTA
MS
Regio da Junta Soldada
MSAUTGENA
a)
Figura 4.46 Grfico comparativo entre o grau de sensitizao e a
suscetibilidade do pite: a) mdia liga e b) alta liga.
144
0,26
Potencial de Pite (V) x ECS
0,24
60
0,22
0,20
50
0,18
40
0,16
0,14
30
0,12
0,10
20
0,08
10
0,06
0,04
Grau de Sensitizao [(iR/ia).100]
70
0,02
MB
ZTA
MS
Regio da Junta Soldada
MSAUTGENA
b)
Figura 4.46 (Continuao) Grfico comparativo entre o grau de sensitizao e a
suscetibilidade do pite: a) mdia liga e b) alta liga.
Percebe-se dos grficos comparativos que os ensaios de corroso
intergranular apresentaram uma alta reprodutibilidade, sendo efetuados, no
mximo, com quatro repeties. Entretanto, os potenciais de pite mostraram-se
muito pouco reprodutveis, sendo que suas curvas foram levantadas com, no
mnimo, nove repeties.
Contudo, observa-se que enquanto a ZTA da mdia liga apresentou um
grau de sensitizao maior que a da alta liga (7,9% e 0,48%, respectivamente),
o potencial de pite para essa ltima classe permaneceu inferior ao da mdia
liga, conforme mostra a figura 4.46. Essa diferena de comportamento pode ser
resultado da contribuio da rea do MS em suas microestruturas que, sendo
maior para a mdia liga, causou um potencial de pite maior. Alm disso, outros
fatores como os relacionados composio qumica, ou natureza da soluo
podem influenciar na distino do comportamento das regies. Enquanto os
ensaios de corroso intergranular realizaram-se em pH entre 0-1, com a
presena do depassivante tiocianato de potssio (KSCN), corroso ativa, a
soluo do ensaio para a determinao do potencial de pite encontrava-se na
faixa de pH entre 6-7, com as amostras exibindo um comportamento passivo.
145
4.4.11 Corroso Generalizada - Metal de Base
As curvas da figura 4.47 mostram a polarizao em torno do potencial de

corroso representativas do MB. A curva da amostra mdia liga apresentou
inclinaes distintas para as regies catdicas e andicas. Conseqentemente,
esse comportamento originou diferentes valores de Rp para as duas regies,
sendo que a catdica, por ser mais inclinada, apresentou um maior valor.
Assim, como a taxa de corroso expressa por uma relao direta com o Rp,
3,0x10
-5
2,0x10
-5
1,0x10
-5
0,0
-2
i (A.cm )
tem-se uma maior taxa para a parte catdica.
-5
-1,0x10
-5
-2,0x10
-5
-3,0x10
-5
Mdia Liga
Alta Liga
-4,0x10
-5
-5,0x10
-15
-12
-9
-6
-3
12
15
E (mV)

MB.
A tabela 4.13, mostra a mdia dos dados extrados a partir da
determinao do coeficiente de inclinao das retas que foram utilizados para o
clculo da taxa de corroso. Alm disso, em termos comparativos, foi mostrado
o potencial de corrente nula (Ei=0) e o de corroso (Ecorr), exclusivamente para
as curvas traadas.
146
Tabela 4.13 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para o MB.
Classe
Mdia
Alta
Taxa de
Taxa de
Corroso
Corroso
(mm/ano)
(MPY)
529,2
0,5499
21,65
(15,8)
(0,0169)
(0,67)
594,1
0,4900
19,29
(23,0)
(0,0186)
(0,73)
Rp (1 mV)
(ohms2.cm2)
Ei=0 (V)
Ecorr (V)
-0,3975
-0,3912
-0,3492
-0,3472
Analisando-se os dados da taxa de corroso, percebe-se que esses

valores no ficaram muito distintos entre as duas ligas. Entretanto, a classe
mdia liga mostrou uma peculiaridade com relao alta liga: a presena de
inclinaes catdica e andica. Como discutido anteriormente, esse fato
acarretou na gerao de dois coeficientes de inclinao e duas taxas de
corroso. A perda de material da parte catdica da figura 4.47, para a mdia
liga, de 1,56 mm/ano e da parte andica, de 0,25 mm/ano. Desse modo, a
taxa de corroso calculada para esta classe, est distante de seu valor real,
porm dentro dos extremos calculados para a parte catdica e andica.
Dentre as vrias explicaes citadas pela literatura, seo 2.5.4.1, podese constatar que o no conhecimento nos valores dos declives de Tafel,
catdico e andico, o mais importante, devido aos valores adotados serem
no representativos do sistema eletroqumico em questo. O efeito da
velocidade de varredura no formato das curvas de polarizao foi o de deslocar
o potencial de corrente nula do potencial de corroso, conforme os dados na
tabela 4.13, sendo que esse fenmeno foi mais acentuado para a classe de
mdia liga, devido brusca variao da densidade de corrente no incio da
polarizao.
147
4.4.12 Corroso Generalizada - Zona Termicamente Afetada
A figura 4.48 mostra as curvas de polarizao obtidas no ensaio de

resistncia de polarizao, representativas da ZTA.
2,0x10
-5
1,0x10
-5
-2
i (A.cm )
0,0
-1,0x10
-5
-2,0x10
-5
-3,0x10
-5
-4,0x10
-5
-5,0x10
-5
-15
Mdia Liga
Alta Liga
-12
-9
-6
-3
12
15
E (mV)
Figura 4.48 Curvas de polarizao para a determinao da taxa de corroso na

ZTA.
Os dados de resistncia de polarizao para o clculo da taxa de
corroso encontram-se na tabela 4.14, onde mais uma vez relataram-se os
potenciais de corrente nula e de corroso.
Tabela 4.14 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para a ZTA.
Classe
Mdia
Alta
Taxa de
Taxa de
Corroso
Corroso
(mm/ano)
(MPY)
585,3
0,5238
20,62
(154,0)
(0,1380)
(5,43)
835,1
0,3491
13,74
(47,2)
(0,0203)
(0,80)
Rp (1 mV)
(ohms2.cm2)
Ei=0 (V)
Ecorr (V)
-0,4005
-0,3928
-0,3400
-0,3367
148
Com base nas curvas de polarizao, novamente percebe-se que a
mdia liga possui tanto uma inclinao catdica como andica, com taxas de
corroso entre 2,29 mm/ano e 0,24 mm/ano, respectivamente. Contudo,
observa-se uma boa concordncia entre a curva da ZTA da alta liga com a
poro andica da mdia liga. Apesar disso, os ndices de perda de material
seguiram a mesma tendncia com relao s outras tcnicas, diminuindo do
MB para a ZTA.
A discordncia encontrada entre os potenciais de corrente nula e de
corroso, deve-se ao efeito da varredura, que por menor que seja, no permite
que o potencial do estado estacionrio, do incio da polarizao, seja atingido
novamente.
Com relao ao grau de sensitizao, percebe-se a mesma correlao
entre os resultados da ZTA, com a alta liga possuindo a menor perda de massa
para um menor grau de sensitizao. Apesar da assimetria das curvas para a
mdia liga, a comparao com o grau de sensitizao seguiu o mesmo padro.
Alm disso, o MB possuiu a maior perda de material em conformidade com
suas maiores regies empobrecidas, que so mais susceptveis a corroso.
4.4.13 Corroso Generalizada - Metal de Solda
A figura 4.49 mostra as curvas de polarizao, em torno do potencial de

corroso, representativas da regio do MS, para as condies de soldagem
com e sem consumvel.
A anlise da figura 4.49 mostra as mesmas caractersticas encontradas
para as amostras da mdia liga, com relao ao formato das curvas.
Novamente h uma boa correlao entre a curva do MS da alta liga, em ambas
as condies de soldagem, com os trechos andicos da mdia liga. Os valores
obtidos para o mtodo da resistncia de polarizao encontram-se na tabela
4.15.
149
-5
2,0x10
-5
1,0x10
-2
i (A.cm )
0,0
-5
-1,0x10
-5
-2,0x10
Mdia Liga
Alta Liga
-5
-3,0x10
-15
-12
-9
-6
-3
12
15
E (mV)
a)
2,0x10
-5
1,0x10
-5
-2
i (A.cm )
0,0
-1,0x10
-5
-2,0x10
-5
-3,0x10
-5
-4,0x10
-5
-5,0x10
-5
-15
Mdia Liga autgena

Alta Liga autgena
-12
-9
-6
-3
12
15
E (mV)
b)
MS: a) com consumvel e b) autgena.
Os potenciais de circuito aberto e de corrente nula mostraram uma
discrepncia em virtude da perturbao contnua causada pela varredura.
150
Tabela 4.15 Dados do mtodo de resistncia de polarizao para o MS.
Classe
Mdia
Mdia autgena
Alta
Alta autgena
Taxa de
Taxa de
Corroso
Corroso
(mm/ano)
(MPY)
712,9
0,4082
16,07
(24,8)
(0,0143)
(0,56)
481,8
0,6038
23,77
(13,6)
(0,0170)
(0,67)
897,2
0,3249
12,79
(49,7)
(0,017)
(0,70)
1033,1
0,2817
11,09
(35,7)
(0,0099)
(0,39)
Rp (1 mV)
(ohms2.cm2)
Ei=0 (V)
Ecorr (V)
-0,3713
-0,3680
-0,3918
-0,3863
-0,3397
-0,3386
-0,3495
-0,3472
A presena de diferentes inclinaes para os trechos catdicos e

andicos na mdia liga, gerou uma faixa de perda de massa, ao invs de
apenas um valor. As extremidades para a condio com consumvel variam de
0,81 a 0,25 mm/ano e de 1,48 a 0,24 mm/ano na condio autgena.
A perda de massa para o MS da alta e mdia liga foi a menor dentre as
regies analisadas, com exceo da mdia liga na condio autgena,
conforme os resultados do grau de sensitizao, pois seu aumento implica em
mais regies sendo oxidadas, devido principalmente falta de cromo.
Com base nos resultados das outras regies da junta, verifica-se que a
poro andica da classe mdia liga igual, com os trechos catdicos
apresentando inclinaes distintas. Assim, esta diferena pode remeter a dois
fatores: 1) a cintica da reao de reduo do on H+ (2H+(aq) + 2e- H2(g)) ser
distinta para as amostras da mdia liga, o que pode decorrer do filme de xido
ser mais espesso para essa classe, ocasionando a gerao de diferentes
correntes catdicas, ic, que contriburam de forma variada para a corrente de
corroso, uma vez que icorr = iandica + icatdica, sendo que nas regies catdicas
ictodica>iandica; 2) quebra do filme pelo hidrognio [131], o que ir acarretar em
altas taxas de dissoluo, pela exposio direta do metal com o eletrlito.
151
5
CONCLUSO
- Em termos microestruturais, a junta soldada apresentou diferentes fraes

volumtricas de seus constituintes metalrgicos.
- A austenita formada no MB foi transformada em funo do ciclo trmico na
ZTA.
- A ferrita- mostrou-se enriquecida em elementos substitucionais tanto no MB
como na ZTA, mesmo apesar do rpido ciclo trmico nessa regio.
- Os ensaios eletroqumicos mostraram um aumento da resistncia corroso
do MB para o MS, com a ZTA apresentando nveis intermedirios.
- Os ensaios de polarizao 1 mV.s-1 revelaram a decomposio de dois
picos de ativao nas amostras do MB, no relacionados a efeitos
microestruturais.
- As densidades de corrente crtica e passiva diminuem do MB para o MS em
ambas as ligas, com exceo das amostras do MS soldadas na condio com
consumvel.
- Os ensaios de corroso intergranular no MB da alta liga revelaram a
existncia de dois picos de reativao, ocasionados pela corroso preferencial
de certas regies.
- O ensaio de ciclo duplo mostrou um ataque tanto nos contornos, como no
interior dos gros, sendo que o grau de sensitizao foi maior para as amostras
do MB de ambas as ligas.
152
- O potencial de pite foi maior para o MS, sendo que as amostras da condio
com consumvel apresentaram um potencial de pite mais nobre em relao s
autgenas.
- Os pites formados apresentaram um carter aleatrio ao longo da superfcie.
Contudo, a amostra da ZTA da mdia liga apresentou pites exclusivamente
prximos ao MB.
- Existe uma relao emprica entre os ensaios de corroso intergranular e por
pites, indicando que quanto maior a sensitizao, maior a probabilidade de se
gerar um pite, ou seja, menor o potencial de pite.
153
SUGESTO PARA TRABALHOS FUTUROS
Alguns pontos merecem ser melhor investigados, como os descritos a seguir:

- Avaliar eletroquimicamente o primeiro passe, ou passe raiz, das soldas
realizadas com consumvel, a fim se verificar o efeito do reaquecimento
provocado pelo passe topo, nas regies da ZTA e MS, conforme descrito pela
literatura.
- Caracterizar a origem do pico de difrao em 43,78 nas amostras do MS.
- Analisar a origem do segundo mximo de corrente, durante a varredura
andica em cido sulfrico nas diferentes regies da junta soldada, com o
auxlio de outras tcnicas.
- Estudar a nucleao e crescimento preferencial dos pites em regies
sensitizadas ao longo da junta.
- Estudar a origem da no linearidade nas curvas de polarizao das amostras
da mdia liga
154
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Processo de Soldagem Por Feixe de Elétrons

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UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO CARLOS

CENTRO DE CINCIAS EXATAS E DE TECNOLOGIA

AVALIAO DO COMPORTAMENTO ELETROQUMICO DE JUNTAS

Jos Mario de Aquino

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO CARLOS

AVALIAO DO COMPORTAMENTO ELETROQUMICO DE JUNTAS

Jos Mario de Aquino

Orientador: Dr. Sebastio Elias Kuri

Ficha catalogrfica elaborada pelo DePT da

Aquino, Jos Mario de.

Dedico este trabalho a meus pais Aparecido e Terezinha e a

MEMBROS DA BANCA EXAMINADORA DA DISSERTAO DE MESTRADO DE

. SEBASTIO ELlAS KURI

Prat. Dr. ALBERTO

REIRA JORGE JNIOR

A avaliao eletroqumica das juntas soldadas de aos inoxidveis

ELECTROCHEMICAL EVALUATION OF LOW VACUUM ELECTRON BEAM

The electrochemical evaluation of low vacuum electron beam weldments

measurements and was due to the corrosion of distinct regions when

- Frao volumtrica da austenita.

possuem elevada resistncia mecnica, atingida pelo seu alto contedo de

supermartenstico, sendo o termo super uma aluso melhora de sua

Os aos inoxidveis possuem importncia tecnolgica devido a sua alta

10% ferrita; Tratamento

trincas a quente nas

soldagem; Uso de baixa

Baixa tenacidade devido

Uso de baixa densidade

ou nitretos para suprir

Trincas por hidrognio

2.1.1 Metalurgia dos Supermartensticos

Os aos inoxidveis supermartensticos baseiam-se na metalurgia dos

Figura 2.1 Influncia do teor de Carbono no campo de estabilidade austentico:

2.1.1.2 Influncia do Nquel

O diagrama da figura 2.2a mostra como a regio austentica expandida

Figura 2.2 a) Influncia do nquel na expanso do campo b) Efeito do nquel e

2.1.1.3 Influncia do Molibdnio

um dos mais importantes elementos de ligas do ao inoxidvel, ao

Figura 2.3 Influncia do Mo na estabilidade do campo austentico [8].

propriedades [3;6]. Seus efeitos so:

2.1.2 Composio Qumica

Com o objetivo de otimizar os custos e de obterem-se caractersticas

empregadas nas linhas de produo e escoamento de gs e leo em indstrias

Algumas observaes devem ser notadas:

2.1.3 Microestrutura, Tratamento Trmico e Propriedades

A microestrutura dos aos supermartensticos consiste basicamente de

Figura 2.4 Influncia da temperatura de revenimento no contedo de austenita

2.1.3.1 Precipitao de Carbetos

Como ilustrado no diagrama de fases da figura 2.1, o carbono possui

A soldagem propicia ciclos trmicos no material caracterizados por altos

Figura 2.5 Curva de temperatura versus tempo para um ponto Z ao lado da

experimentar diferentes variaes de temperatura. Esta curva chamada de

Figura 2.6 Distribuio da temperatura ao longo da junta soldada [33].

Soldagem por Feixe de eltrons baixo vcuo (SFE-BV)

Os processos de soldagem por fuso so os mais utilizados para a unio

Esse tipo de soldagem de alta densidade de energia foi inicialmente

Figura 2.7 Esquema de funcionamento de um sistema de soldagem por feixe

Figura 2.8 Disperso do feixe de eltrons de acordo com a presso ambiente

2.3.3 Seleo de Consumveis

O consumvel pode ser adicionado a fim de se evitar trincas de

2.3.4 Solidificao e Microestrutura

Os principais parmetros que controlam a solidificao de ligas fundidas,

Figura 2.9 Diagrama de constituio de fases [51].

supermartensticos com consumvel matching. Segundo o autor, possvel a