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Appareils portables pour lanalyse

des uvres dart aux rayons X

Lanalyse des techniques et des palettes des grands peintres peut aujourdhui bnficier du dveloppement
dinstruments portables de rayons X. Ces nouveaux dispositifs comprennent un metteur et des rcepteurs
de rayons X qui permettent non seulement lanalyse de la rpartition des lments chimiques dans les couches
successives de pigments, mais aussi leur analyse structurale, qui indique les matriaux utiliss.

epuis un peu plus dun sicle, les mthodes dob


servation et danalyse des matriaux constitutifs
des uvres des muses et des objets issus de
fouilles se sont fortement diversifies pour apporter aux
spcialistes des informations concernant leur nature, leur
datation, leur fabrication, leurs usages et les altrations qui
mettent parfois en danger leur conservation. Le dveloppe
ment de ces outils pour ltude des matriaux des premiers
patrimoines, ceux de la Prhistoire et de lAntiquit en par
ticulier, ou des matriaux de lart, a t rythm par larrive
rgulire des technologies analytiques les plus sophisti
ques et lintrt croissant de la communaut scientifique
transcendant les clivages disciplinaires classiques.
Du point de vue historique, il est remarquable de
constater que des instruments trs complexes ont t
adapts pour ces usages. Par exemple, dans le domaine de
lexamen des objets, la premire radiographie de momie
gyptienne fut ralise peine trois mois aprs la dcou
verte des rayons X par Roentgen fin 1895 ; devenue par la
suite une technique de routine, la radiographie est main
tenant en passe dtre remplace par la tomographie
conventionnelle ou base de rayonnement synchrotron.
Dans le domaine de lanalyse, lutilisation des racteurs
nuclaires pour la mesure par activation neutronique de
la composition de cramiques et de pierres est un autre
exemple de lutilisation des grands instruments dans le
domaine archomtrique partir des annes 1960.
Depuis une quinzaine dannes, les outils dana
lyse partir du rayonnement synchrotron se sont dve
lopps et les recherches sur le patrimoine utilisent des
grandes installations telles que, en France, lESRF
Grenoble, le LURE puis SoLEiL sur le plateau de Saclay.
Les flux intenses de rayons X, ultraviolets et infrarouges

permettent des mesures sur des chantillons, et parfois


sur des objets, pour comprendre leur nature minralo
gique, les techniques de synthse, lorigine de la couleur
Des rsultats particulirement remarquables ont t obte
nus dans le domaine de la palontologie humaine, de
ltude des pigments des peintures et des cosmtiques.
Mais il reste, en gnral, ncessaire de prlever des chan
tillons pour mener ces tudes, ou bien de dplacer vers
ces installations les objets et les uvres dart (en gn
ral celles de petites dimensions) avec un cot dassurance
souvent trs lev.
Une situation nouvelle est apparue grce la miniatu
risation des technologies utilisant les rayons X, issue des
dveloppements de tubes rayons X compacts et de
dtecteurs plus souples demploi en particulier refroidis
par effet Peltier et non par de lazote liquide : il devient
possible de bnficier des nombreux avantages de
lanalyse in situ et non invasive (sans prise dchantillon et
sans effet sur lobjet) : toutes les uvres sont accessibles
et les projets les plus ambitieux peuvent tre imagins
partir de laccs des ensembles cohrents duvres dont
la valeur, lencombrement et/ou le poids interdisent le
transport. Nous avons ainsi dvelopp divers prototypes
portables de spectromtres de fluorescence des rayons X
et, depuis 2007, de diffraction des rayons X. Ces instru
ments sont utiliss en routine pour effectuer des caract
risations lmentaires et structurales directement sur les
uvres dans les muses ou sur les sites archologiques.
Avec ces instruments danalyse lmentaire et struc
turale, il est possible de rvler certaines des pratiques
des ateliers des artistes, cestdire de comprendre les
modes de dpt des peintures, le choix et la circulation
des produits, les gestes des anciens prparateurs de

Article propos par :


Philippe Walter, Laurence de Viguerie, Jacques Castaing
Laboratoire darchologie molculaire et structurale, UMR 8220, CNRS/UPMC, Paris

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Instrumentation et applications

peinture... Les analyses par diffraction des


rayons X et spectromtrie de fluorescence X
permettent daborder plusieurs aspects de la
recherche sur lhistoire des uvres dart. il
sagit tout particulirement de :
Dresser la liste des pigments employs
par un artiste, cestdire dterminer les
matires qui taient disponibles sur sa
palette un moment donn de son exis
tence. Cet aspect devient trs intressant
lorsquil sagit de rechercher si une uvre
est authentique, contrefaite ou restaure,
car les inventions de nouveaux pigments ont
frquemment modifi les matires dispo
nibles pour lart. Les arrives du bleu de
Prusse au XViiie sicle ou de loxyde de
titane au XXe sicle fournissent des critres
chronologiques incontestables.

Figure 1 Exemple de la complexit de la composition dune peinture de Matthias Grnewald


(Retable dIssenhein, muse de Colmar) : microscopie optique sur une coupe transverse montrant
la superposition de couches dont la nature est dtermine par microanalyse X au microscope
lectronique balayage et par rayonnement synchrotron ; de bas en haut : (1) reste de la couche
dimpression au blanc de plomb. (2) Couche rouge contenant du blanc de plomb, des oxydes de fer
et de largile. (3) Couche organique. (4) Couche vert pomme, mlange de vert au cuivre et de blanc de
plomb. (5) Couche vert clair, mlange de vert au cuivre et de beaucoup de blanc de plomb. (6) Couche
vert trs sombre, constitue de vert au cuivre presque pur. (7) Vernis.

Retrouver les impurets qui sont caractristiques


des sources de matires et pouvoir ainsi identifier les
changes et le commerce des matriaux.
Comprendre les modes de dpt de la peinture qui
rvlent les gestes de lartiste. Les proprits physiques et
chimiques des mlanges de liants et de pigments vont
permettre des couches opaques ou translucides, un cou
lement de la matire, un schage plus ou moins rapide.
Dterminer la microstructure des pigments cristal
lins qui met en vidence les mthodes de prparation,
telles que le broyage, la synthse par des voies thermiques
ou de chimie douce, le recuit
identifier les modifications chimiques qui se sont
produites au cours du temps la surface des uvres et
qui transforment la couleur de certaines zones. Ces
analyses permettent ainsi daider leur conservation et
leur restauration.

Lanalyse par fluorescence


des rayons X des matriaux
multicouches
Les uvres peintes ont trs souvent t ralises en
superposant plusieurs couches de peinture pour crer des
effets spcifiques jouant sur la juxtaposition et le contraste
des couleurs ou la transparence des couches. La limite
principale pose par la spectromtrie de fluorescence X
applique aux peintures est lie la complexit de ces
matriaux htrognes. Se contenter de lidentification de
certains lments pour conclure sur la nature des pigments
prsente divers inconvnients. La mthode ne permet pas
de dtecter le rayonnement dlments lgers comme lhy
drogne, le carbone ou loxygne qui sont trs frquents
dans la matire naturelle. De plus, des incertitudes
subsistent car des raies dlments diffrents peuvent
interfrer (les raies K du soufre et M du plomb ont
presque les mmes nergies, autour de 2,3 keV) : il est
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donc prfrable de considrer lensemble des raies caract


ristiques de chaque lment pour conclure sur sa prsence.
Enfin, il est trs difficile de savoir dans quelle couche un
pigment a t employ car les rayons X les plus nerg
tiques pntrent en profondeur et traversent la matire
picturale le plus souvent totalement alors que ceux de plus
faibles nergies ne peuvent exciter que les atomes des
couches de surface. Les analyses de peintures ne four
nissent donc gnralement que des informations sur la
nature des lments chimiques dans les pigments et pas
sur leurs distances la surface. Cest ce type de travail
qualitatif qui est actuellement ralis en routine dans les
laboratoires de muses. il peut tre complt par lobserva
tion et lanalyse de prlvements inclus dans de la rsine
pour raliser des coupes transversales appeles stratigra
phies. La figure 1 montre lexemple dun chantillon
prlev sur le Retable dIssenheim, ralis par Matthias
Grnewald au dbut du XVie sicle. Lanalyse avec un
appareil portable de fluorescence des rayons X avait rvl
dans un premier temps les pigments employs par lar
tiste. Les coupes stratigraphiques montrent la subtilit de
son travail : jusqu trois couches de colorations vertes
semitransparentes ont permis au peintre dajuster les
trois dimensions de la couleur : clart, teinte et saturation.
Lartiste allemand de la Renaissance a opr par de subtils
mlanges pour obtenir de multiples tonalits.
La spectromtrie classique de fluorescence des
rayons X permet daccder une information en profon
deur trs simplement dans des cas favorables, par exemple
lorsquil ny a quune seule couche de peinture dpose
sur un substrat (bloc de pierre ou mur recouvert dun
enduit). il a ainsi t possible dvaluer la quantit de
pigment dpos pour une peinture murale gyptienne ou
la composition et lpaisseur des feuilles dor employes
par Giotto pour la ralisation des auroles autour des ttes
des saints dans les peintures murales de la Chapelle des
Scrovegni Padoue, italie (en loccurrence des feuilles de
1,6 0,5 m dpaisseur). Dans des cas plus complexes,
les objets considrs sont trs inhomognes et prsentent

Appareils portables pour lanalyse des uvres dart aux rayons X

une structure en couche qui rend lexploitation des rsul


tats plus difficile.
Des dispositifs originaux danalyse en gomtrie confo
cale ont t mis en uvre pour dterminer des profils de
concentration en profondeur. ils utilisent des lentilles
polycapillaires pour focaliser les rayons X sur un diamtre
de 10 50 m. Ces polycapillaires sont constitus dune
grande quantit de tubes de verre assembls en nid
dabeille pour former des semilentilles ou des lentilles
focalisantes. Guidant les rayons X par rflexion totale sur
les parois de chaque tube, ces structures permettent de
rcuprer le maximum de signal, de refocaliser une
source de rayons X une distance pouvant atteindre 40
cm, et de gagner un facteur 100 plus de 3 000 en inten
sit. Un systme de deux lentilles (une pour lexcitation
devant le tube rayons X et lautre devant le dtecteur)
permet danalyser un microvolume de lchantillon, dfini
par lintersection des taches focales des deux lentilles. Ce
type de montage a t ralis sur des lignes de rayonne
ment synchrotron, avec un faisceau monochromatique,
mais aussi, rcemment, avec des appareils de laboratoire.
De nombreux efforts sont actuellement mens pour
parvenir, dans cette gomtrie confocale, une analyse
quantitative qui prend en compte les caractristiques exp
rimentales et la succession des couches du matriau.
Cependant les quations qui en dcoulent sont ardues ; un
modle analytique a t dvelopp dans le cas du montage
sur synchrotron et permet datteindre une prcision sur la
mesure des concentrations de 20 30 % dans la plupart
des cas. Pour le modle de laboratoire, cestdire avec un
tube rayons X conventionnel et donc polychromatique, la
quantification est encore plus dlicate.
Une autre possibilit est de faire une mesure avec un
spectromtre classique et de confronter les donnes obte
nues avec des logiciels de simulation prenant en compte
lensemble des phnomnes physiques dabsorption et de
fluorescence dans les diverses couches. on utilise alors la
mthode des paramtres fondamentaux, dans laquelle
lexpression thorique de lintensit de fluorescence est
exprime en fonction des paramtres du dispositif de
mesure, de la composition et de lpaisseur de chaque
couche, des sections efficaces, et des coefficients dab
sorption. Les rapports dintensit dans la srie de pics
sont considrs et non plus seulement les positions des
pics comme dans lapproche qualitative usuelle. En
comparant les donnes acquises des simulations, il est
devenu possible, dans certains cas, destimer les pais
seurs et les concentrations des lments chimiques dans
les couches peintes superposes. Cette dmarche est
notamment lorigine de la cration du logiciel PyMCA
par V.A. Sol linstallation europenne de rayonnement
synchrotron (ESRF) Grenoble.
La validit de cette mthode a t dmontre pour
lanalyse dchantillons simples et multicouches et rcem
ment applique dans le cas des uvres de Lonard de
Vinci. Lide la base de cette recherche consiste consi
drer dans les simulations PyMCA les diffrentes

Figure 2 Attnuation des raies dmission M et L du plomb par lempilement


de feuilles de polymre (ultralne dpaisseur 4 m) jusqu 40 m. Dans un
tel cas, similaire celui des vernis ou des glacis en peinture, on observe que
les intensits des raies L du plomb sont quasiconstantes alors que celles des
raies M sont fortement attnues par la traverse des feuilles de polymre.

attnuations des rayons X mis par chaque lment


chimique : par exemple, un lment comme le plomb
met des raies L de relativement haute nergie (10 15
keV) en comparaison avec ses raies M (vers 2,3 keV),
cellesci tant absorbes mme par les couches minces de
matires organiques (figure 2). Un calcul prcis bas sur
de multiples mesures corrles spatialement (voir encadr 1) permet dvaluer lpaisseur et la composition des
diffrentes couches sur une uvre.
Ainsi l'accs une information en profondeur est
parfois primordiale pour la comprhension du travail de
l'artiste : cela permet de dterminer la technique du
peintre en dcrivant les matires employes pour prpa
rer son support et celles qui sont accumules pour crer
leffet artistique recherch.

Proprits et limites dun instrument


portable de diffraction des rayons X
La fluorescence des rayons X ne donne que la nature
des lments chimiques excits par le faisceau incident ;
des appareils portables existent depuis plus de dix ans,
mais cette analyse ne donne pas accs la connaissance
des matriaux, dont les proprits dpendent de lorgani
sation de la matire diverses chelles (structure amorphe
ou cristalline, taille des grains, dfauts dans les cristaux,
texture). Des informations sur cette organisation sont
accessibles grce la diffraction des rayons X et au dve
loppement constant de mthodologies et dappareillages,
en particulier portables (figure 3).
La diffraction des rayons X a pour origine la rflexion
du faisceau lorsquil tombe sur un plan atomique sous un
angle reli la distance d entre plans (figure 4a) par la loi
de Bragg (longueur donde = 2 d sin). Pour identifier
les phases cristallines, on place dans les rayons X un
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Instrumentation et applications

Encadr 1

Lanalyse de la Joconde

La peinture de Lonard de Vinci fas


cine par la subtilit des effets optiques
qui donnent un effet artistique vaporeux
qui estompe les contours, adoucit les
transitions et fond les ombres comme
une fume. Baptise sfumato, cette tech
nique picturale est non seulement le fruit
du gnie de lartiste mais galement le
rsultat des innovations techniques du
dbut du XVie sicle. Si des observations
minutieuses, des mesures optiques et des
reconstitutions ont dj dcrit le sfumato,
les analyses par fluorescence des rayons
X tendent confirmer le procd notam
Figure E1 Spectres de fluorescence des rayons X obtenus en divers points de la joue de la Joconde. Le
ment dans la faon dont sont rendus les
glacis dpaisseur croissante est lorigine de lombre qui est enrichie en calcium, manganse et fer.
dgrads comme celui du visage sur
lequel on a relev les spectres le long
vidence pour la ralisation des ombres. Ces recettes sont
dune ligne de 50 mm. Ces spectres ont
t traits grce au logiciel PyMca permettant une analyse
caractrises la fois par une technique le dpt de couches
multicouche et une modlisation de la stratigraphie de la
de glacis ou dune peinture sombre conventionnelle et par
peinture. il est ainsi possible dobtenir lpaisseur des
la nature des pigments ou des additifs employs. Dans le cas
couches que lon suppose de composition constante. Les
des glacis (une matire picturale qui contient une petite
couches les plus profondes sont constitues essentiellement
quantit de pigment trs dilu dans le liant organique), des
de blanc de plomb (additionn de rouge en faible quantit
couches fines de 2 micromtres environ ont t minutieuse
pour rendre compte de la chair, dans la couche dite de car
ment appliques pour atteindre une paisseur totale ne
nation ). Les couches infrieures ne seront pas visibles en
dpassant pas 30 40 micromtres. Lensemble des donnes
raison de la forte absorption des rayons X dans les couches
obtenues lve un voile sur les recherches constantes de
riches en blanc de plomb. Entre des couches riches en pig
Lonard de Vinci dans le rendu du vivant de ses uvres dart
ments (rose pour la carnation + blanche pour le fond, appe
et permettent de mieux comprendre le temps mis par lar
le couche dimpression) et la couche de vernis, denviron
tiste pour raliser ses uvres : pour la Joconde, Giorgio
50 m dpaisseur chacune, on note la prsence dun glacis
Vasari affirmait au XVie sicle que Lonard avait mis quatre
dont lpaisseur culmine autour de 30 40 m pour le point
ans pour raliser le chef duvre. Comme il est ncessaire
le plus sombre.
dattendre le schage de chaque couche de glacis avant den
raliser une nouvelle, la superposition dune vingtaine
En analysant les visages des sept uvres de Lonard de
Vinci exposes au Louvre, plusieurs recettes ont t mises en
dentre elles a pu ncessiter plusieurs annes.

Cette approche est impossible appliquer aux uvres


dart pour lesquelles on ne peut pas disposer dchan
tillons en poudre fine. il est prfrable de raliser les
analyses sans prlvement (figure 3) et donc de considrer
que luvre est ellemme constitue dune poudre fine
de grains de pigments.

5 ans par le laboratoire du C2RMF1 dans le cadre du


contrat europen EuArtech (figure 3). il a largement bn
fici des perfectionnements imagins dans le cadre du
dveloppement du rayonnement synchrotron et de la
collaboration avec des chercheurs de linstitut Nel de
Grenoble. Avec tous les accessoires, il faut transporter
environ 45 kg de matriel pour faire les mesures in situ
qui ont t ralises depuis 2007 dans des muses, des
monuments et des ateliers de restauration en France,
italie, Espagne, Slovnie, etc. Les uvres sont souvent des
peintures, mais des manuscrits, des cramiques, des
alliages mtalliques sont galement tudis. Notre dispo
sitif (figure 3) est construit partir dun tube de cuivre,
muni dune optique de rayons X, et fournit un faisceau
quasiparallle contenant le rayonnement de freinage
polychromatique et les raies dmissions K du cuivre

Un concept dappareil portable associant diffraction et


fluorescence des rayons X a t mis en uvre depuis

1. Centre de recherche et de restauration des muses de France.

chantillon en poudre fine qui est lorigine des nappes


coniques de faisceaux diffracts des angles 2 par
rapport laxe du cne (figure 4b). on recueille des cercles
(ou arcs de cercle) sur un dtecteur bidimensionnel
(figure 4c), chaque cercle correspondant une distance d
du cristal (figure 4a). Avec les appareillages de laboratoire,
on obtient des diagrammes de diffraction de haute qualit
permettant lidentification des phases et donnant avec
une grande prcision (10 3 10 4) leurs paramtres
cristallographiques.

82

Appareils portables pour lanalyse des uvres dart aux rayons X

des distances entre plans rticulaires comprises entre


d = 0,6 nm et d = 0,15 nm. La prcision dun tel appareil
portable est cependant encore infrieure celle des
diffractomtres de laboratoire ; elle dpend des conditions
exprimentales et peut tre de lordre 102 sur la valeur
des paramtres cristallins.
Lordre de grandeur de la limite de dtection de la
mthode est de 1 % en masse. Cela suffit pour dterminer
la nature du pigment, mme lorsquil est employ trs
dilu ou en couche trs fine. Ces mesures permettent de
dtecter des pigments difficiles reconnatre par fluores
cence X, comme le lapislazuli (Na,Ca)8(AlSio4)6(S,So4,Cl)x
(voir encadr 2) constitu dlments de petit numro
atomique Z, qui sont mal dtects en fluorescence cause
de la faible nergie des rayons X mis. Dans dautre cas,
on arrive mieux comprendre la nature des phases. Par
exemple, divers composs de plomb ont t dun usage
frquent au cours des sicles, avec le blanc de plomb
base de crusite (PbCo3) et/ou dhydrocrusite (2PbCo3
Pb(oH)2), le jaune de massicot (Pbo), le rouge/orange de
minium (Pb3o4), le brun/noir de plattnrite (Pbo2) et
autres oxydes intermdiaires. Au cours des temps
modernes, un nouveau blanc de plomb est apparu
(Pb4o3(So4)H2o). Ces composs de plomb sont impos
sibles distinguer laide un appareil portable de fluores
cence des rayons X ; la diffraction seule permet de les
identifier.

Figure 3 Vue gnrale de notre systme portable de fluorescence et


diffraction des rayons X en cours danalyse dune peinture. Le faisceau de
rayons X sort au point 1 de la source (anode Cu, tube microfoyer muni dune
semilentille polycapillaire fabrique par iFG, Berlin). Le faisceau atteint
luvre en 3 au point matrialis par lintersection de deux faisceaux laser
(2) facilitant le positionnement de linstrument devant luvre. Le spectre
de fluorescence des rayons X est obtenu laide du dtecteur en 4 (diode
silicium SDD fabrique par Amptek, USA ; rsolution 136 eV 5,9 keV) et la
diffraction est reue sur un film sensible aux rayons X en 5.

( = 0,154 nm). Ce faisceau passe travers une fente


collimatrice qui permet de circonscrire une zone analyse
sur luvre de 4 3 mm2. Une excellente matrise
gomtrique est indispensable la dtermination des
angles 2 qui donnent accs la nature des phases cristal
lines. La distance entre le point de mesure et le dtecteur
du signal diffract ( 200 mm) est trs suprieure la
taille du point de mesure afin dobtenir des diagrammes
de diffraction de bonne qualit. Compte tenu de langle
entre le faisceau et la surface de luvre ( 10), on ne
peut recueillir que les faisceaux diffracts correspondant
2 > 15 ; la taille du dtecteur bidimensionnel ( imaging
plate fabrique par Denoptix Gendex) ne permet
ensuite de rcuprer que les faisceaux diffracts jusqu
2 = 60 (voir figure 4) ; ce domaine angulaire correspond

a)

Jusqu rcemment, il nexistait pas de tels dispositifs


portables dans le commerce et quelques prototypes
avaient t proposs dans des publications. Cette situation
a rcemment chang avec lappareil XDuetto dve
lopp par la socit inXitu2 dans le cadre dune opration
initie par la NASA et mene avec le Getty institute (labo
ratoire du muse Getty Los Angeles, USA). Ce systme
est construit sur des concepts analogues aux ntres, avec
2. http://www.inxitu.com

b)

c)

Figure 4 a) Diffraction dun faisceau de rayons X sur les plans {110} dun cristal cubique. Dautres plans avec des distances d diffrentes sont indiqus pour le
mme cristal.
b) Nappe conique de la diffraction pour un angle (correspondant une valeur d) obtenue pour un ensemble de grains fins placs au sommet du cne.
c) image des nappes coniques de diffraction X obtenue avec lappareil de la figure 3 sur une peinture de couleur verte avec des anneaux entre 2 = 17 et 53. Les
anneaux ponctus correspondent des grains dazurite Cu3(Co3)2(oH)2 (minral naturel broy) en petit nombre dans le volume diffractant et les anneaux continus
Pb2Sno4 (grand nombre de grains fins obtenus par synthse chimique). Ces deux composs sont respectivement bleu et jaune, un mlange employ par lartiste
pour produire le vert.

83

Instrumentation et applications

Encadr 2

La palette de Mantegna dtermine par diffraction X

La Crucifixion de Andrea Mantegna


(14311506) est llment central des trois
tableaux de la Prdelle du retable de lglise
San Zeno Vrone. La Crucifixion se
trouve au Muse du Louvre et les deux
autres lments de la prdelle sont au
muse des Beaux Arts de Tours, les pan
neaux principaux tant toujours en place
dans lglise San Zeno. Les six peintures
ont t tudies laide dun appareil de
diffraction fluorescence portable avec un
intrt particulier pour les pigments bleus.
Le diagramme de diffraction X a t
obtenu dans le manteau de la vierge ; il
est domin par la lazurite, composante
principale du lapislazuli (LL ; lignes
rouges) avec de lazurite (A ; lignes
oranges) qui apparat faiblement parce
quelle est probablement en souscouche.
Le quartz (Q ; lignes violettes) est une
impuret associe aux minraux naturels
(lapislazuli ; azurite).
Cette technique associant une sous
couche dazurite et une fine couche de
lapislazuli permet dconomiser ce pig
ment prcieux. A cause de limportance
du personnage de la Vierge, il est habituel
demployer un minral prcieux comme
celuici. Cependant, dans le panneau cen
tral qui est dans lglise de Vrone, lazu
rite domine la diffraction du bleu de la
Vierge. De faon gnrale, Mantegna a
plus frquemment employ le lapislazuli
dans les trois petits tableaux de la prdelle
que dans les trois panneaux rests
Vrone, ce qui pourrait traduire des
contraintes conomiques au cours de
lexcution de luvre. Signalons enfin la
prsence dans ces peintures de vert
obtenu en mlangeant les pigments azu
rite bleu et jaune de plomb et tain et non
en employant un pigment vert, comme
chez Matthias Grnewald.

Figure E2 Diagramme de diffraction des rayons X (intensit 2) obtenu dans le bleu du manteau
de la vierge, rvlant labondance de lapislazuli (Lazurite).

des mesures de fluorescence et de diffraction effectues


en rflexion au mme point des uvres dart, avec un fais
ceau incidence de 6 10 sur la surface et une dtection
bidimensionnelle des rayons X diffracts.

Conclusion
est

84

Une nouvelle complexit dans la nature des pigments


accessible aujourdhui grce ces nouvelles

identifications non invasives, directement sur les pein


tures. La qualit de lappareillage portable permet lidenti
fication des matriaux employs dans les uvres dart. Des
amliorations peuvent tre apportes en particulier dans la
dtection des faisceaux diffracts (dtecteurs plus lgers et
rsolus en nergie pour ne garder que le signal diffract)
ainsi que dans lexploitation quantitative des diagrammes
de diffraction qui contiennent une grande richesse dinfor
mation sur la matire. Les mthodes existent, mais elles
doivent tre adaptes aux contraintes de travail in situ.

Appareils portables pour lanalyse des uvres dart aux rayons X

Pour en sAvoir Plus


La chimie et lart, le gnie au service de lhomme , Collectif, EDP SCiENCES, Collection Lactualit chimique , 228 pages, juin
(2010).
Comptesrendus de lAcadmie des Sciences : Physique ; Tome 10 / fascicule 7 (dossier Physique et patrimoine), septembre (2009).
Gianoncelli A., Castaing J., ortega L., Doorhye E., Salomon J., Walter P., Hodeau J.L. & Bordet P., A portable instrument for in
situ determination of the chemical and phase composition of cultural heritage objects , X-Ray Spectrometry, 37, 418423 (2008).
Viguerie L. de, Walter P., Laval E., Mottin B., Sole V.A., Delieuvin V., Revealing the sfumato Technique of Leonardo da Vinci by
XRay Fluorescence Spectroscopy , Angewandte Chemie Int. Ed., 49, 35, 61256128 (2010).
Cesareo R. et al., Portable equipment for energy dispersive Xray fluorescence analysis of Giottos frescoes in the Chapel of the
Scrovegni , X-Ray Spectrometry, 703706 (2008).

Ont particip cette tude : lInstitut Nel de Grenoble, J.L. Hodeau, P. Bordet, M. Anne, P. Martinetto, E. Dooryhee et au C2RMF,
A. Gianoncelli, B. Moignard, L. Pichon, M. Eveno. La construction du systme FRX/DRX portable a t possible grce au contrat europen
RII3-CT-2004-506171 EU-ARTECH (2004-2009) et la contribution de lquipe AGLAE du C2RMF avec une pense spciale pour
J. Salomon prmaturment disparu.

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