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OMICRON Electronics GmbH

OMICRON TEST UNIVERSE

CURSO DE ENTRENAMIENTO

OMICRON TEST UNIVERSE


ADVANCED PROTECTION PACKAGE

Presentado por:

Para:

Ing. Hctor Frisancho F.

Red Elctrica Andina S.A.C.


ENSYS S.A.C.

Jun-10

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CONTENIDO
1. CMC
CMC--256 / 356 Hardware
2. Software O.T.U. Concepto
3. Mdulo de Prueba QuickCMC
4. Mdulo de Prueba Ramping
5. Mdulo de Prueba State Sequencer
6. Mdulo de Prueba Overcurrent
7. Mdulo de Prueba Adv.
Adv. Distance
8. Mdulo de Prueba Adv.
Adv. Differential
9. Mdulo de Prueba Adv
Adv.. Transplay
10. Herramientas de Prueba
11. Configuracin
12. Calibracin y Diagnostico
13. OMICRON Control Center

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Sistema de Pruebas Secundarias

CMC 356 - Hardware

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Sistema de Pruebas CMC 356


Salidas de
Tensin

Salidas de
Corriente

Fuente de
Tensin Auxiliar

Conector
Umbilical

Salidas
Binarias

Entradas Binarias
y de Medicin

Entradas de
Medicin

Botn de
Encendido

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Sistema de Pruebas CMC 356


Salidas de Tensin:
Cuatro (04) salidas de tensin con una sola conexin comn a
neutro N y separadas galvnicamente de las dems salidas de
la unidad CMC.
Todas las salidas de tensin estn protegidas frente a circuitos
abiertos, cortocircuitos L-N y sobrecarga.
Si se sobrecalienta el disipador trmico, un conmutador
trmico desactiva todas las salidas.
Configuracin

Corrientes de Salida

Potencia

Exactitud

CA trifsica (L-N)

3 x 0 ... 300 V

3 x 100 VA a 100 ... 300 V

CA tetrafsica (L-N)

4 x 0 ... 300 V

4 x 75 VA a 100 ... 300 V

Tpica:
E < 0,03 % rd. + 0.01% rg

CA monofsica (L-N)

1 x 0 ... 300 V

1 x 200 VA a 100 ... 300 V

Garantizada:

CA monofsica (L-L)

1 x 0 ... 600 V

1 x 275 VA a 200 ... 600 V

E < 0,08 % rd. + 0.02% rg

CC monofsica (L-N)

4 x 0 ... 300 V

1 x 420 W a 300 VCC

Ventajas:
Cuarto canal ideal para probar rels de sincronismo.
Generacin de tensin homopolar en forma automtica.
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Sistema de Pruebas CMC 356


Generadores de Corriente:
Dos (02) salidas de corriente trifsicas separadas galvnicamente, cada una con
su propia conexin a neutro (N). Cada salida est separada galvnicamente de
las dems conexiones de la unidad CMC 356 y protegidas frente a circuitos
abiertos, cortocircuitos y sobrecarga.
Configuracin

Corrientes de Salida

Potencia

CA hexafsica (L-N)

6 x 0 ... 32 A (A y B)

6 x 430 VA a 25 A

CA trifsica (L-N)

3 x 0 ... 64 A (A + B en CP:)

3 x 860 VA a 50 A

CA bifsica (L-L)

2 x 0 ... 32 A (A y B)

2 x 870 VA a 25 A

CA bifsica (L-L)

1 x 0 ... 64 A (A + B en CP.)

1 x 1740 VA a 50 A

CA monofsica (L-L-L-L)

1 x 0 ... 32 A (A + B en CS.)

1 x 1740 VA a 25 A

CA bifsica (LL-LN)

2 x 0 ... 64 A (A y B)

2 x 500 VA a 40 A

CA bifsica (LL-LN)

1 x 0 ... 128 A (A + B en CP.)

1 x 1000 VA a 80 A

CC bifsica (LL-LN)

1 x 0 ... 180 A (A + B en CP.)

1 x 1400 W a 80 A

Exactitud

Tpica:
E < 0,05 % rd.
+ 0.02% rg
Garantizada:
E < 0,15 % rd
+ 0.05% rg.

Ventajas:
Pruebas de reles diferenciales sin la utilizacin de amplificadores externos.
Pruebas de rels electromagnticos de Alto Burden (1740 VA).
Pruebas con alta corriente (128 A).

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Entradas Binarias / Anlogas:
Diez (10) entradas binarias divididas en cinco grupos
de dos, cada grupo est separado galvnicamente de
los dems.
Las seales de entrada se supervisan con una resolucin de 100 s y despus se evalan
en la CPU.
Las entradas binarias se configuran en el mdulo Configuracin del hardware del software
OMICRON Test Universe. Al hacerlo, puede especificarse si los contactos tendrn potencial
o no. Cuando los contactos tienen potencial, puede fijarse la tensin nominal prevista y el
umbral de arranque de cada entrada binaria.
Con la opcin de hardware ELT-1, todas las entradas pueden configurarse
individualmente mediante el software (Enerlyzer) como entradas de medida binarias o
analgicas con lo que la unidad CMC puede ser utilizada como:
Multmetro.
Analizador de armnicos.
Registrador de Tendencias.
Registrador de perturbaciones de hasta 10 canales.
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Salidas Binarias:
Cuatro (04) salidas binarias para su utilizacin como contactos de rel
sin potencial.
La posicin de cada una de las salidas binarias se configuran con los
mdulos de prueba del software OMICRON Test Universe
Caractersticas:
Capacidad de Ruptura: 300 V / 8 A.
Aplicacin:
Simular la posicin de un interruptor, recloser.
Simular una seal externa de un dispositivo externo al equipo en
prueba (disparos transferidos, seales de tele proteccin, etc.)

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Fuente de Tensin Auxiliar:
Los equipos en prueba (por ejemplo, rels de proteccin) que
requieren una tensin auxiliar de CC pueden alimentarse desde la
salida AUX DC.
La salida AUX DC est separada galvnicamente de las dems salidas.
Por medio de la Herramienta de Prueba AUX DC incluida en el software OMICRON Test
Universe, puede definirse el valor de tensin deseado. El valor ajustado es guardado en
la memoria permanente de la unidad CMC.
Unos cuantos segundos despus de activar el suministro de alimentacin a la unidad
CMC, se aplica la tensin establecida a la salida AUX DC. Si la tensin de la salida "AUX
DC" supera el valor de 42 V, se enciende el indicador luminoso correspondiente.
Caractersticas:
Rango: 0 260 Vcc
Potencia: 50 W mximo.
Exactitud: E<2% (tpico) E<5% (garantizado)
Resolucin < 70 mV

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Entradas de Medicin CC
La opcin ELT-1 permite a la unidad CMC 356 medir seales para
pruebas bsicas de transductores.
Las entradas VDC e IDC hacen referencia a un neutro comn N.
La unidad de medida de CC est aislada galvnicamente de las otras
conexiones del panel frontal.

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Fuente de
Alimentacin

Fusible T10AH

Interfaz de
comunicacin

Interfaz externo

Zcalo para
conexin de tierra

LL out 1-6

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Vista Posterior
Interfaz de Comunicacin NET-1:
La opcin NET-1, sustituye la interfaz paralela por una interfaz de control
de Ethernet, con lo que se puede controlar el equipo a travs de una red,
as como que se soporta protocolos de comunicacin como son: IEC
61850 y UCA 2.0

Interfaz de Comunicacin LPT:


Comunicacin mediante el puerto paralelo (opcional).
Garantiza mayor velocidad de transferencia de datos que una comunicacin
serial..
Cuando se arranca el programa OMICRON Test Universe, ste busca
automticamente el interfaz (LPTx) del PC al que est conectado el
dispositivo CMC

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Vista Posterior
Interfaz de Comunicacin NET-1:
Leds Indicadores A y B: Sealizan el estado de la comunicacin.
A: Led Amarillo:
ON: Se enciende cuando el equipo est listo para ser usado.
OFF: El equipo est esperando la transferencia un software de emergencia
(luego de haber presionado el botn !)
B: Led Verde: Se enciende cuando se ha accesado a la memoria interna de la
unidad CMC256
Botn Asociacin:
Presionando este botn, se asocia una PC a la unidad de Prueba.
Si este botn es presionado durante el encendido de la unidad CMC, se reinicia la
configuracin IP y se vuelve al valor de fbrica que es DHCP/AutoIP.
Nota: Por seguridad se tienen los siguientes criterios sobre la asociacin:
Slo una PC asociada puede controlar una unidad de prueba.
Slo puede asociarse una PC con una unidad de prueba simultneamente.
La asociacin requiere una accin intencionada e implica proximidad geogrfica.
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Vista Posterior
Interfaz de Comunicacin NET-1:
Puerto ETH1: Interfaz Ethernet de par trenzado de 10/100 Mbit. Con un
conector del tipo RJ-45. Por medio de este interfaz se comunica
normalmente
con una PC para controlar la unidad CMC.
El puerto ETH1, tiene la caracterstica auto-crossing, que permite se
puedan utilizar cables estndar de ethernet o cables del tipo cross-over
Puerto ETH2: Interfaz de fibra ptica de 100 Mbit. Con un conector del tipo
MT-RJ
Botn !
El botn ! permite que la unidad CMC se recupere de transferencias de informacin
(imagen del software) fracasadas o de otras situaciones de la emergencia.
Para reiniciar el equipo y comenzar con una nueva transferencia la imagen del software,
presionar
el botn ! durante el ciclo inicial del sistema de la prueba.
Si se presiona el botn ! mientras que opera la unidad CMC, el sistema de la prueba no
iniciar la prueba, sino esperar una nueva transferencia

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Vista Posterior
Interfaz Externo:
- Dos entradas de contador de alta frecuencia (hasta 100 kHz) para probar
contadores.
- Cuatro salidas binarias de transistor 11-14. Ofrecen la ventaja, con
respecto a las salidas de rel, de presentar tiempos de reaccin mnimos
sin rebote.
- Conexin para accesorios CMLIB B, CMGPS, CMB IO-7

LL out 1-6:
- Seis fuentes de seales analgicas de gran precisin que pueden
utilizarse, por ejemplo, para controlar amplificadores externos como: CMA
156, CMA 56 y CMS 156.
- Todas las salidas de bajo nivel estn protegidas contra cortocircuitos y se
supervisan continuamente en prevencin de sobrecargas.

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DATOS GENERALES
Voltaje:

4 x 0 300 V

Corriente:

6 x 0 32 A

Error :

Tensin: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.


Tpico

< 0.03% rd. + 0.01% rg.

Corriente: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.


Tpico

< 0.03% rd. + 0.01% rg.

Estabilidad en Temperatura 0.002%/Grado


Protecciones internas (Sobrecarga, corto, I abierta, alto
burden)
Calibracion Digital (no requiere caja de calibracin)
Bajo nivel de ruido.
Liviano, 16.6 Kgs

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Software

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SOFTWARE OMICRON TEST UNIVERSE

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OMICRON TEST UNIVERSE

Estructura de Directorio:
Cuando se instala el software OMICRON Test Universe en su
computadora, por defecto se instala en la carpeta: Archivos de
Programa\Omicron

La Licencia es grabada en la carpeta:


Archivos de Programa\Archivos comunes\Omicron.

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Estructura de Directorio:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas principales:
Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Contiene los archivos ejecutables, la ayuda en lnea asociada al
OCC, Mdulos de prueba, Herramientas de prueba, y Utilitarios.
Estos programas tpicamente son iniciados desde la Pgina de
Inicio o desde un documento de prueba

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Estructura de Directorio:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas principales:
Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:
Contiene herramientas y archivos de ayuda para la interfaz de programacin del Hardware CMC-256.

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Estructura de Directorio:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas principales:
Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:
Archivos de Programa\Omicron\Doc:
Contiene la documentacin tcnica como manuales, especificaciones,
etc. en formato PDF.

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Estructura de Directorio:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas principales:
Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:
Archivos de Programa\Omicron\Doc:
Archivos de Programa\Omicron\Librera de Pruebas:
Contiene las plantillas de prueba, ejemplos de Archivos de Prueba,
archivos con las caractersticas de los Equipos en Prueba RIO,
archivos con la configuracin de hardware OHC y los archivos usados
por el TEST WIZARD para la generacin de Planes de Prueba del OCC.

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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS


1- Objeto a Probar
2- Configuracin de HW
3- Ejecucin del Mdulo de Prueba

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1: Objeto a Probar
En este primer paso
debemos ingresar:

Los datos generales del


rel como son: tipo de
proteccin, marca,
nmero de serie,
valores nominales de
tensin y corriente,
valores mximos
permitidos.

Ajustes de la

proteccin a probar.

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2: Configuracin del Hardware


En este paso definimos
el conexionado entre el
rele y el equipo de
pruebas

Configuramos

cableado, potencia
disponible, tensin de
cumplimiento, etc. de
la CMC

Salidas Activadas.
Entradas Binarias
activadas, etc.

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3: Ejecucin del Mdulo de Prueba


Adicionar los
puntos de
prueba

Los Fasores
pueden ser
mostrados
para cada
punto de
prueba

Con slo un
Click
iniciamos la
prueba

El Reporte es generado automaticamente

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3: Ejecucin del Mdulo de Prueba

Datos del equipo en


prueba
Resultados tabulados
Resultados Grficos
Resumen

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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS

Reporte de pruebas,
Plan de Pruebas
Nueva plantilla de
pruebas

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Software

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Quick CMC

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Quick CMC

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Quick CMC
Pruebas manuales, fciles y rpidas.
- Control simultneo de
todas las fuentes (V, I)
- Funcin de estado
estable, por pasos o de
rampa para todas las
magnitudes
- Clculo de falla, con
diferentes modos de
funcionamiento.
- Diagrama vectorial y
plano de impedancias.

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Barra De Herramientas Del QuickCMC

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Quick CMC
Val. relativos
Val. absolutos
Val. en el secundario
Val. en el primario
Tiempo en ciclos
Tiempo en segundos
Ayuda
Temas de Ayuda
Borrar resultados de la prueba
Modificar resultados de la prueba
Adicionar resultados al informe (F10)

Congelar valores actuales de las fuentes


Valores de Pre-Falta
Encendido / Apagado de las Fuentes
Configurar Hardware
Configurar Objeto en prueba
Activar Vista de Impedancia

Guardar
Abrir
Nuevo

Activar Vista del Diagrama Vectorial


Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del informe

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Quick CMC
VENTANA DE PRUEBA

Salidas Analgicas

2 Entradas Binarias
3

3 Salidas Binarias

7
4

4 Entradas Analgicas
5 Ventana de rampa
6 Diagrama vectorial
7

Barra de Sobrecarga

2
5
8

8 Historia de estado

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Quick CMC

SALIDAS ANALOGICAS CONFIGURACION

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Quick CMC
Vista del Diagrama Vectorial:

Vista de Impedancia

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

1. Configuracin del Objeto en Prueba


En este primer paso debemos ingresar:

Los datos generales del rel como


son: tipo de proteccin, marca,
nmero de serie, ubicacin.

Valores nominales de frecuencia,


tensin y corriente en el lado
primario y secundario.

Valores mximos permitidos de


tensin y corriente.

Configuracin del filtro antirebote y


antiruido

Configuracin del nivel de


sensibilidad de proteccin de la CMC

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


Definimos
configuracin
del equipo de
pruebas y el
conexionado
entre el rel y
el equipo de
pruebas.

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


(continuacin)

En DETALLES
El software nos
permite
seleccionar:
cableado,
potencia
disponible,
tensin de
cumplimiento,
etc. de acuerdo
al equipo en
prueba y la
prueba a
realizar.

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


(continuacin)

SALIDAS
ANALGICAS
Especificamos las
salidas que
queremos estn
activas, etiquetas,
y bornes al que
estn conectadas.

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


(continuacin)

ENTRADAS
BINARIAS
Especificamos:
Entradas binarias
habilitadas para
operar
Tipo de entrada
(contacto seco o
con tensin)
Tensin umbral y
tensin nominal
si son contactos
con tensin
Etiqueta
y borne de
conexin.

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


(continuacin)

SALIDAS BINARIAS
Especificamos:
Salidas binarias
requeridas para
la prueba
Etiqueta
y borne de
conexin.
Se utilizan para
simular la posicin
del interruptor o
de un contacto
auxiliar requerido
por la proteccin a
probar.

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

2. Configuracin del Hardware de Prueba


(continuacin)

IRIG-b y GPS
Especificamos si
deseamos que la
prueba se inicie
con la recepcin
de un pulso
proveniente de un
GPS, IRIG-B, GPS +
IRIG-B
Se utiliza para
realizar pruebas
sincronizadas en el
tiempo

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

3. Ejecucin de la prueba

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

3. Ejecucin de la prueba
( continuacin)

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Quick CMC
Rampas con QuickCMC

Rampa manual o
automtica

Pulse-Ramping

tamao

tamao

hora

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Quick CMC

Men Prueba:
Desactivar Salidas con Trigger

Desactivar Salidas Activado


Caso 1: Retardo igual a 0 s.
Caso 2: Retardo igual a retardo s.
Durante este tiempo se siguen
registrando cambios en las
entradas binarias

Desactivar Salidas Desactivado


Caso 3: Retardo igual a 0 s
Luego de recibir la seal de
trigger, no se registra ningn
cambio en las entradas binarias
Caso 4: Retardo igual a retardo s.
Durante este tiempo se siguen
registrando cambios en las
Caso 2
entradas binarias
Caso 1

Caso 3 y 4

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Quick CMC
Men Prueba:
Desactivar segn tiempo

Men Prueba:
Parar Rampa en Cero

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Quick CMC
Men Prueba:
Modificar Resultados de la Prueba

Men Prueba:
Informe Automtico
El Esta funcin aade automticamente al informe de la prueba todos los datos
y valores actuales en el momento en que se produce la seal de trigger (incluido
el trigger en los estados Reposicin y Pre-falta). Los datos se aaden al informe
de la prueba con ttulos con numeracin creciente (Prueba 1, Prueba 2) y sin
evaluacin.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Para cualquier
informacin en el Per:

Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per


Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 Fax: 51 1 6380347
Email: ensys@ensys.pe
Web: www.ensys.pe

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OMICRON TEST UNIVERSE

Software

OMICRON TEST UNIVERSE


Ramping

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Ramping

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OMICRON TEST UNIVERSE

Ramping
Generacin de rampas de amplitud, fase o frecuencia
- Prueba automatizada utilizando
secuencias de rampa
- Rampas simultneas para dos
variables independientes.
- Duracin mnima del paso de
hasta 1 ms
- Control visual de los valores de
salida.
- Visualizacin de los resultados
de la prueba.
- Evaluacin automtica de los
resultados.
- Funcin de repeticin de la
prueba con clculos estadsticos
- Clculos de relacin de los
valores de rampa.
- Funcin de Paso atrs

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Ramping

Barra De Herramientas

Ir al ltimo estado
Ir al siguiente estado
Estado actual
Ir al estado previo
Ir al primer estado
Borrar resultados de la prueba
Pausar la prueba
Parar prueba
Iniciar / Continuar prueba
Configurar Hardware
Configurar Objeto en prueba
Activar Vista de Oscilografa
Activar Vista de Medidas
Activar Vista de Detalle
Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del informe

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OMICRON TEST UNIVERSE

Ramping
Ventanas de Ramping
1

Vista de la prueba

Vista de Detalle

Vista de Medidas

4 Vista de Oscilografa

1
4

Entradas Binarias

6 Historial de estado
7 Barra de Sobrecarga

3
6

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Vista de la Prueba

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Ramping

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Vista de Detalle

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Ramping

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Vista de Medidas

Page: 7

Ramping

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Ramping

Vista de Oscilografia

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Ramping

Prueba con Ramping

IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

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Jun-10

Page: 10

OMICRON Electronics GmbH

Prueba con Ramping


( continuacin)

OMICRON TEST UNIVERSE

Ramping

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Prueba con Ramping


( continuacin)

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Ramping

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Marzo
Jun-10
- 2008

Jun-10

Page: 12

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Forzar Fases Absolutas

OMICRON TEST UNIVERSE

Ramping

Forzar Fases Absolutas Activada


La rampa 2 comienza con el valor del ngulo de fase programado como
inicio de la rampa 2:
U1 = 0 .
U2 = -120 y
U3 = 120

Forzar Fases Absolutas Desactivada


La rampa 2 comienza con un valor del ngulo de fase de:
U1 = 30 + 0 = 30.
U2 comienza con -90 (en vez de -120) y
U3 con 150 (en vez de 120)

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Forzar Fases Absolutas

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Ramping

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Marzo
Jun-10
- 2008

Jun-10

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Funcion Paso Atrs

OMICRON TEST UNIVERSE

Ramping

Sirve para determinar el valor exacto del disparo con ms rapidez que si se usa una rampa con un
tamao del paso muy pequeo para el rango completo.

Tras la aparicin del trigger, la opcin Paso atrs inicia el


siguiente estado de la rampa de la siguiente manera:
Primero va hacia atrs con hasta el nivel en el cual se revierte
la condicin del trigger (p. ej. el evento inicial del trigger ha sido
arrancar un contacto del rel que ya est repuesto de nuevo)
Entonces se inicia el siguiente estado de rampa con un paso de
tamao diferente (generalmente ms pequeo
significativamente).
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Opcion Retardo despues del trigger


trigger

Marzo
Jun-10
- 2008

Page: 15

Ramping

Si se ajusta el parmetro Retardo despus del trigger, se pospone el comienzo de la rampa


siguiente por un tiempo t durante el cual se inyecta una seal esttica igual al valor en el momento
del trigger.

El retardo de tiempo puede ajustarse dentro de un rango desde 1 ms hasta 10056 s.

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Ramping
Retardo despues del trigger + Paso Atras
Atras
Si se ajusta el parmetro Paso Atras y adems el parmetro Retardo despus del trigger, tenemos:
Al producirse una senal de trigger para el estado actual, la rampa retrocede un paso.
Se inicia el tiempo de retardo, durante el cual se inyecta la seal esttica.
Una vez transcurrido el tiempo de retardo, se inicia el siguiente estado de rampa.

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Para cualquier
informacin en el Per:

Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per


Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 Fax: 51 1 6380347
Email: ensys@ensys.pe
Web: www.ensys.pe

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Software

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State Sequencer

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State Sequencer

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OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer
Elaboracin de pruebas automaticas mediante secuencias de estado (especial para
probar tiempos de actuacin).
Prueba automatizada de cualquier
tipo de falla u evento utilizando
secuencias de estado (pre-falta,
falta, post-falta, etc)
Permite probar todas las
funciones de proteccin de un
rel multifuncin, panel de
proteccin, Subestacin, etc.
Secuencias de mas de 500?
estados
Seal de disparo, inici por GPS.
Control independiente de todas
las seales (magnitud, fase,
frecuencia) por cada estado.
Evaluacin automtica de los
resultados.

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State Sequencer
Eliminar estado actual
Copiar estado actual
Ir al ltimo estado
Ir al sgte estado
Estado actual
Ir al estado previo
Ir al primer estado
Borrar resultados de la prueba
Pausar la prueba
Parar prueba
Iniciar / Continuar prueba
Bucle de Todos los Estados
Encendido/Apagado (Salida Esttica)
Activar CMGPS
Configurar Hardware
Configurar Objeto en prueba
Activar Vista de Oscilografa
Activar Vista de Medidas
Activar Vista de Impedancia
Activar Vista del Diagrama Vectorial
Activar Vista de Detalle
Activar Vista del Informe
Activar Vista de la Prueba

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OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer
Ventanas de State Sequencer
1

Vista de la prueba

Vista de Detalle

Vista de Medidas

Vista de Oscilografa

1
2

Diagrama vectorial

Entradas Binarias

4
5

Barra de Sobrecarga

Historia de estado

3
6

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State Sequencer
Vista de la Prueba

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OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer
Vista de Detalle

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Page: 7

State Sequencer
Vista de Medidas

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OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer
Vista de Oscilografia

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State Sequencer
Vista del Diagrama Vectorial

Vista de Impedancia

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Secuencia de Prueba

OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer

IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

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Secuencia de Prueba
(continuacion)
continuacion)

Page: 11

State Sequencer

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Secuencia de Prueba
(continuacion)
continuacion)

OMICRON TEST UNIVERSE

State Sequencer

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Secuencia de Prueba
(continuacion)
continuacion)

Page: 13

State Sequencer

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Software

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Overcurrent

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Overcurrent

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Prueba manual o automtica de reles direccionales y no direccionales con tiempo
definido y tiempo inverso, trmico I2t y curvas caractersticas definidas por el usuario
Visualizacin de la caracterstica
tiempo - corriente del rele
Visualizacin grafica de los
valores de salida en diagrama
vectorial.
Prueba con modelos de secuencia
positiva, negativa y cero.
Prueba con o sin corriente de
carga.
Evaluacin automtica para cada
punto de prueba basada en la
tolerancia del tiempo de disparo
predefinida.
Generacin automtica de
informes.

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Page: 3

Overcurrent

Barra De Herramientas

Borrar resultados de la prueba


Pausar la prueba
Parar prueba
Iniciar / Continuar prueba

Salida Esttica
Iniciar Prueba Individual

Configurar Hardware
Configurar Objeto en prueba

Activar Vista del Diagrama Vectorial


Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del Informe

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Ventanas de Overcurrent
1

Vista de la prueba

2 Diagrama Vectorial
3 Vista del informe
4 Entradas Binarias
5

5 Barra de Sobrecarga
6 Historia de estado

3
4

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Vista de la Prueba

Page: 5

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Page: 6

Overcurrent

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Vista de la Prueba

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Overcurrent

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Vista de la Caracterstica

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Overcurrent

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Overcurrent
Objeto en Prueba

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Overcurrent
Objeto en Prueba

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Overcurrent
Objeto en Prueba
Conexin del TP:

Punto de Estrella TC:

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Overcurrent
Objeto en Prueba

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Overcurrent
Objeto en Prueba

ENSYS S.A.C.

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Overcurrent
Objeto en Prueba

ENSYS S.A.C.

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Overcurrent
Objeto en Prueba

ENSYS S.A.C.

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Overcurrent
Objeto en Prueba

ENSYS S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Configuracion de los puntos de prueba
Punto a Punto:

Aadir barrido
barrido::

ENSYS S.A.C.

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Jun-10

Page: 18

Overcurrent
Configuracion de los puntos de prueba
Grficamente::
Grficamente

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Ejecucion de la Prueba - Individual:

IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

ENSYS S.A.C.

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Page: 19

Jun-10

Page: 20

Overcurrent
Ejecucion de la Prueba Salida Estatica
Estatica::

IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

ENSYS S.A.C.

ENSYS S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Ejecucion de la Prueba - Barrido:

IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

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Jun-10

Page: 22

Overcurrent
Ejecucion de la Prueba:
( continuacion)

ENSYS S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Overcurrent
Evaluacin de la Prueba - Tolerancias:

Evaluacin de la Prueba - Simbolos:

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informacin en el Per:

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Software

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Advaced Distance

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Advanced Distance

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Permite definir de forma eficaz los documentos de prueba, para ejecutarlos automatizarlos
y documentar los resultados. Proporciona las mismas caractersticas del Modulo
Distance, al que se le han agregado funciones avanzadas.
Modos de Disparo, Bsqueda y
Verificacin de la caracterstica
Ajuste de la impedancia como
porcentaje de los alcances de la
zona.
Visualizacin de: caracterstica de
operacin, diagrama Z/t, diagrama
Vectorial, Oscilografia, etc para un
mejor anlisis de los resultados.
Prueba de todos los lazos de falta
con un solo click.
Representacin grafica y numrica
de los resultados
Evaluacin automtica para cada
punto de prueba basada en la
tolerancia de Impedancias y tiempo
de disparo predefinida.
Generacin automtica de informes.

ENSYS S.A.C.

Barra De Herramientas

Page: 3

Advanced Distance

Borrar resultados de la prueba


Pausar la prueba
Parar prueba
Iniciar / Continuar prueba
Salida Estatica
Iniciar Prueba Individual
Configurar Hardware
Configurar Objeto en prueba
Activar Vista de Oscilografia
Activar Vista de diagrama Vectorial
Activar Vista de Diagrama Z/t
Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del Informe

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Ventanas de Distance
1

Vista de la prueba

Vista de Impedancia

Diagrama vectorial

Diagrama Z/t

Entradas Binarias

Barra de Sobrecarga

Historia de estado

1
6
2

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Page: 5

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Dispositivo:

ENSYS S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes

del Sistema:

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Page: 7

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes del Sistema:
Conexin del TP:

Punto de Estrella TC:

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes del Sistema:
Tolerancias:
Se usa el valor mximo derivado de la tolerancia de tiempo absoluta o relativa.
Para la tolerancia del tiempo de disparo se usa la mayor tolerancia de tiempo, ya sea, absoluta positiva
(o negativa), o la relativa. La tolerancia de tiempo relativa real se determina para cada tiempo de disparo
registrado.
Para la tolerancia de la impedancia se usa la mayor tolerancia de la impedancia relativa y absoluta. La
banda de la tolerancia relativa real se determina para cada zona en el ngulo de la lnea. La tolerancia
ms grande se aplica uniformemente (es decir, paralela a ambos lados y alrededor de la caracterstica
nominal) para producir la banda de tolerancia caracterstica

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Page: 9

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes del Sistema:
Factor de Puesta a Tierra:
El factor de puesta a tierra (o factor de compensacin de falta a tierra) compensa la diferencia entre las
impedancias de falta a tierra y las impedancias de falta entre fases medidas por el rel. Es aplicable
solamente para las faltas monofsicas a tierra.

Seleccionar el modo correcto es decisivo e influye en aquellos puntos que no estn en el ngulo de la lnea

Separar Resistencia de Arco:


Requerido para quellos rels que tratan la resistencia de arco por separado de la parte de impedancia de la
lnea.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:

ENSYS S.A.C.

Page: 11

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:
Zonas::
Zonas
La lista de zonas contiene todas las zonas especificadas para todos los bucles de falta.
Para aadir una zona nueva, haga clic en el botn "Nuevo". Para eliminar una zona seleccionada, haga clic en el
botn "Eliminar Para editar los parmetros, o modificar la caracterstica de la zona seleccionada, haga clic en el
botn Edicin....
Zona de disparo

Es el tipo ms comn. Tiene un tiempo de disparo correspondiente asociado.

Zona de inicio

est normalmente fuera de todas las zonas de disparo. Tiene un tiempo de arranque asociado, que
dispara el rel en un tiempo de reserva.

Zona extendida

es similar a una zona de disparo; sin embargo, slo se activar si se selecciona la opcin Zonas
extendidas activas en la pgina Prueba / Ajustes.

Zona de no-disparo se puede usar para indicar las zonas nicamente con carcter informativo o para definir las
secciones de una zona de disparo, donde no est permitido hacer disparos (p. ej., una zona con
cargas superpuestas).
Zona

define qu zonas se corresponden. Si el mismo punto de prueba relativo se debe aplicar a un grupo
de zonas (p. ej. todas las fases y las caractersticas de falta a tierra de la zona X), es necesario
definir qu caractersticas de falta a tierra y qu caractersticas de falta entre fases pertenecen a la
zona X. Los identificadores de las zonas disponibles son: ZS1 ... ZSn Zonas de inicio, Z1 ... Zn
Zonas de disparo, ZE1 ... ZEn Zonas extendidas, y ZN1 ... ZNn Zonas de no disparo.

Etiqueta

Designacin de la zona individual usada para una identificacin de aplicacin relacionada.

Bucle de falta

Especifica los tipos de falta para los cuales son vlidos los ajustes. Es posible especificar ajustes
diferentes para cada bucle de falta de una zona.

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Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:
Detalles de la zonas:
zonas:
Introduzca el Tiempo de disparo para la zona seleccionada. Adems de la banda de tolerancia ajustada en la pgina
Ajustes del sistema, que es vlida para todas las zonas, la tolerancia se puede modificar aqu para cada zona.
Para las tolerancias de una zona, los ajustes globales se toman como valores por defecto. Si una zona requiere un
ajuste de tolerancia especfico, active la casilla de verificacin correspondiente y luego introduzca el valor que desee.

Caracteristica de la zonas
zonas::
Las caractersticas de una zona pueden consistir en n combinaciones de elementos de lnea, crculo o arco.
Estn disponibles los siguientes tipos de elementos:
Lnea definida en coordenadas cartesianas: especificada
por medio de un ngulo en grados () y un punto en la lnea.
El punto se define por medio del valor X y el valor R, ambos
en ohmios.
Lnea definida en coordenadas polares:especificada por
medio de un ngulo en grados () y un punto en la lnea. El
punto se define por el valor absoluto |Z| en ohmios y el ngulo
Phi en grados.
Circulo:define un crculo por el centro del mismo y su radio. El
centro se puede definir en coordenadas polares (arco polar)
con |Z| y Phi, o con R y X en coordenadas cartesianas (arco
rectangular). Si se tiene que definir un arco, es necesario
especificar un ngulo inicial y uno final.

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Page: 13

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:
Caracteristicas predefinidas - Mho:
La caracterstica se especifica como un crculo con radio r = (Alcance hacia adelante + Offset)/2. El centro del crculo
M = (Alcance hacia adelante - Offset)/2, que se encuentra en la lnea especificada por el ngulo del rel de la
caracterstica.

Alcance

alcance (en ohmios) hacia la lnea

Offset

alcance (en ohmios) hacia la barra.

ngulo

ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:
Caracteristicas predefinidas - Poligonal:
La caracterstica poligonal o de cuadriltero ofrece ms flexibilidad en la simulacin independiente del alcance
reactivo y resistivo. El polgono bsico se basa en 4 lneas combinadas. Se pueden introducir las lneas individuales
en formato polar o cartesiano.
Se pueden aadir ms elementos de lnea si la
caracterstica consta de ms elementos de lnea. Los
elementos de lnea tienen que introducirse
consecutivamente, en sentido de las agujas del reloj,
alrededor de una caracterstica, de forma que el
software calcule correctamente los puntos de
interseccin.
Si es necesario definir una caracterstica cerrada,
seleccione Cerrar figura. Esto garantiza que el ltimo
elemento de la lista se configura automticamente
como si la caracterstica estuviera cerrada.

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Page: 15

Advanced Distance
Objeto en Prueba
Distance Ajustes de Zona:
Caracteristicas predefinidas Lente o Tomate:
La caracterstica lentes permite en concreto una mejor adaptacin a un rea ms grande comparada con la
impedancia pura o caracterstica Offset-MHO.

Alcance alcance (en ohmios) hacia adelante (linea).


Offset

alcance (en ohmios) hacia la barra.

ngulo ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().


Ancho A ancho de la caracterstica (en ohmios)
A/B

relacin de A con la longitud B = alcance + offset

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Page: 16

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Vista de Diagrama Vectorial

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Page: 17

Advanced Distance
Vista de Diagrama Z/t

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Page: 18

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Advanced Distance
Vista de Oscilografa

ENSYS S.A.C.

Page: 19

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de disparo:
La Prueba de Disparo de Advaced
Distance
permite
procesar
secuencialmente los puntos de
prueba definidos en el plano de
impedancia
para
verificar
la
correcta operacin de Reles de
Distancia

Tipo de Prueba (Vcte, Icte, Zcte)


Tiempo Mn y Mx. de operacin
Desviacin de la prueba
Tiempo real de Operacin
Tiempo nominal de Operacin
Zona de referencia
Impedancia porcentual relativa
Impedancia de Prueba
Lazo de falta actual
Resultado de la Prueba

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Page: 20

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Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de disparo Configuracin de la Prueba:
Mediante el Teclado:
Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta:

ENSYS S.A.C.

Page: 21

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de disparo Configuracin de la Prueba:
Grficamente:

ENSYS S.A.C.

ENSYS S.A.C.

Page: 22

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Verificacin:
En la Prueba de Verificacin de
Advaced Distance, los puntos de prueba
se establecen automticamente en los
lmites de tolerancia de las zonas,
posibilitando una rpida verificacin del
cumplimiento de las especificaciones, lo
que es muy til durante las pruebas de
rutina

Zona de referencia
Longitud relativa de la Linea de Verificacin
Longitud de la Lnea de Verificacin
Angulo de la Lnea de Verificacin
Impedancia del Punto de Origen
Lazo de falta actual
Resultado de la Prueba

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Page: 23

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Verificacin Configuracin de la Prueba:
Numricamente
Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta

ENSYS S.A.C.

ENSYS S.A.C.

Page: 24

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Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Verificacin Configuracin de la Prueba:
Numricamente
Secuencia de Prueba:

ENSYS S.A.C.

Page: 25

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Verificacin Configuracin de la Prueba:
Grficamente en el Plano de Impedancia
Para aadir una lnea de prueba a la Lista de
prueba, pulsar <Ctrl> y con el botn izquierdo
del mouse pulsado arrastrar una lnea de
prueba con el ngulo y longitud deseado.
Para ejecutar una prueba de verificacin
individual, pulsar <Mayus> y con el botn
izquierdo del mouse pulsado arrastrar una
lnea de prueba con el ngulo y longitud
deseado. La prueba se inicia apenas se deje
de pulsar el botn izquierdo del mouse.

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Page: 26

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Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Busqueda
Con la Prueba de Busqueda de
Advaced Distance, se puede determinar
automticamente el alcance exacto de
las zonas individuales.
Para ello se aplica varios disparos a lo
largo de una lnea de bsqueda. El
nmero
de
disparos
se
calcula
automticamente
utilizando
la
resolucin de bsqueda (ver ajustes).

Zona de referencia
Longitud relativa de la Linea de Verificacin
Longitud de la Lnea de Verificacin
Angulo de la Lnea de Verificacin
Impedancia del Punto de Origen
Lazo de falta actual
Resultado de la Prueba

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Page: 27

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Busqueda Configuracin de la Prueba:
Numricamente
Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta

ENSYS S.A.C.

ENSYS S.A.C.

Page: 28

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OMICRON TEST UNIVERSE

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Busqueda Configuracin de la Prueba:
Numricamente
Secuencia de Prueba:

ENSYS S.A.C.

Page: 29

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Prueba de Busqueda Configuracin de la Prueba:
Grficamente en el Plano de Impedancia
Para aadir una lnea de Bsqueda a la
Lista de lneas de bsqueda, haga un clic
izquierdo + arrastre el ratn para definir
una lnea de bsqueda partiendo del
punto de origen hasta la longitud
deseada.. Utilice Aadir para aadir la
deseada
posicin en la lista de lneas de bsqueda
bsqueda..
Para aadir directamente una lnea de
bsqueda a la lista, presione Ctrl + clic
izquierdo + arrastre el ratn desde el
origen hasta la longitud deseada para la
bsqueda

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Advanced Distance
Vista de la Prueba
Ajustes:

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Page: 31

Advanced Distance
Vista de la Prueba
Ajustes:
El ajuste de la corriente de carga tiene como finalidad verificar el comportamiento excepcional de determinados
reles (Ejem. SEL 421) que reaccionan de forma diferente si hay corrientes durante la pre-falta.
Cuando se activa la corriente de carga, esta se aplica durante toda la secuencia de prueba (pre-falta y falta),
durante la falta la corriente de carga se superpone a las magnitudes de falta.

La bsqueda para la impedancia de bsqueda actual se para, si la diferencia en la


impedancia entre dos disparos consecutivos, ambos identificados en zonas
diferentes, es menor que la resolucin de bsqueda ajustada
Al ejecutar una prueba de bsqueda de caractersticas nominales conocidas, los disparos iniciales que se
buscan para los alcances de zona estn situados en los lmites de tolerancia de los alcances de zona.
Si no se conocen caractersticas nominales del rel, entonces los disparos iniciales estn situados a distancias
fijas de intervalos de bsqueda sobre la lnea de bsqueda. Si se espera un alcance de zona entre dos disparos,
entonces se prueba desde la resolucin de bsqueda especificada.
Incluso si hay zonas definidas para un rel, se puede usar la opcin para ignorar las caractersticas, a fin de
alcanzar el mismo comportamiento que con caractersticas desconocidas.

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Advanced Distance
Vista de la Prueba
Trigger:

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Software

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Advaced Differential

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Advanced Differential

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Advanced Differential
El software Advanced Differential es una familia de mdulos de prueba para verificar los
rels diferenciales de proteccin. Se han creado mdulos de prueba especficos para
probar caractersticas especficas de un rel diferencial.
Diff Configuration sirve principalmente para poner en servicio sistemas diferenciales de
proteccin, o para encontrar una falta de la configuracin o del cableado. Con este mdulo
se pueden detectar y corregir todas las faltas que estn ubicadas en el bastidor de
proteccin (incluidos los transformadores interpuestos).
Diff Operating Characteristic se usa para verificar la funcin adecuada de la caracterstica
de operacin de la proteccin diferencial. Este mdulo prueba la capacidad del rel para
diferenciar entre faltas dentro de la zona protegida y faltas fuera de esas zonas usando
las tolerancias del dispositivo de proteccin.
Diff Trip Time Characteristic verifica si los tiempos de disparo de la proteccin diferencial
estn dentro de las bandas de tolerancia.
El mdulo de prueba ofrece la posibilidad de determinar el tiempo de disparo para un par
de valores Idiff / Ipol determinado.
Diff Harmonic Restraint se usa para verificar el comportamiento correcto del rel de
frenado por armnicos de la proteccin diferencial, por ejemplo, en las funciones del rel
de avalancha y sobreflujo/sobrexcitacin.
La prueba tiene por objeto verificar los parmetros de la caracterstica de frenado por
armnicos ixf = f(Idiff).

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Advanced Differential
Objeto en Prueba

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Advanced Differential
Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba

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Advanced Differential
Objeto en Prueba

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Advanced Differential
Objeto en Prueba
Differential Ficha Disp. De Proteccin:
El clculo de la corriente de polarizacin se trata de distintas maneras por los diferentes fabricantes de rels:
Mtodo

Fabricante

(|Ip|+|Is|)/K1

Serie de rels digitales Siemens 7UT51..., K1=1


Serie de rels digitales GEC KBCH..., K1=2
SEL serie de rels digitales Schweitzer SEL5..., K1=2

(Ip+Is)/K1

Serie de rels digitales AEG PQ7...: K1=2

(|Ip|+|Is|*K2)/K1

Rel digital GE Multilin SR 745

Varios rels convencionales: K1=1


K2 por el momento fijado en 1, K1=2 y para transformadores de tres devanados K1=3
mx (|Ip|, |Is|)

Serie de rels digitales ELIN DRS...: K1=1

La funcin Duracin mx. prueba. restringe el tiempo mximo de prueba para proteger el rel.
Tiempo de retardo es el tiempo entre pruebas sucesivas que necesita el rel para su rearme.
La eliminacin de homopolar es relevante solamente para faltas monofsicas. Se puede ajustar tambin como:
IL - I0: Corriente de lnea corriente homopolar
Transformador interpuesto YD
Transformador interpuesto YDY
ninguno
Para probar el comportamiento sin eliminar el homopolar, se debe ajustar ninguno.

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Advanced Differential
Objeto en Prueba

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Advanced Differential
Objeto en Prueba

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Advanced Differential
Diff Configuration
El mdulo Diff Configuration
prueba

el

cableado

configuracin del equipo

la
en

prueba mediante la simulacin


de faltas localizadas fuera de
la zona protegida.
Si, no obstante, en un caso de
prueba de este tipo el rel
dispara, esto indica un error
de la configuracin o del
cableado dentro del bastidor
de proteccin.

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ventana Datos de Prueba
En esta ventana se introducen los valores Ipru para los cuales se tiene que realizar un paso de prueba.
Se puede aadir puntos de prueba, para ellos introdzcalos en el campo Ipru y luego haga click en el
boton Aadir. Se puede aadir una secuencia de puntos de prueba pulsando el botn Aadir barrido

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ventana Prueba
Aqu se configura los valores que el operador va a leer/medir e introducir en los campos de entrada
durante la prueba. Los campos de entrada cambian dependiendo del tipo de datos seleccionado.
Los datos introducidos son almacenados e incluidos en el informe.

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ventana General
Aqu se configura que devanados deben probarse, cal es el lado de falta y cual es el lado de suministro,
la corriente de carga y el tiempo mximo de la prueba.
Todas las pruebas son posibles cuando esta implicado el devanado primario. Por lo tanto, resultan dos
posibilidades de prueba para transformadores de dos devanados y cuatro para transformadores de tres
devanados.

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ventana Salida Binaria
Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ejecucin de la Prueba
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:
Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba Diff
Configuration la direccin de la prueba y los devanados incluidos en la misma
se hayan ajustado correctamente.
4. Opcionalmente, Ajuste un tiempo de prueba mximo en la ficha General para
el proceso de prueba. Este parmetro acta como proteccin para el rel.
5. En la ficha Datos de prueba , defina puntos de prueba (corrientes de falta Ipru)
y el tipo de falta que desee.
6. Inicie la prueba con Prueba.
Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes
se muestran en el diagrama.

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Advanced Differential
Diff Configuration
Ejecucin de la Prueba
7. Opcionalmente, Si el informe debe contener las corrientes del lado primario o
del secundario, o las corrientes diferenciales y de polaridad: Introduzca los
valores de corriente que se leen o miden en el rel en la ficha Prueba.
8. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba Evale el resultado en las
fichas Prueba o Datos de prueba como "correcto" o "incorrecto".
9. Repita estos procedimientos hasta que probar todos los puntos de prueba.
10. Puede ver los vectores de corriente cambiando al diagrama vectorial
11. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
La caracterstica de operacin se
prueba simulando faltas dentro y
fuera de la zona protegida.
Existen dos modos de prueba:
Modo de prueba de disparo
Modo de prueba de bsqueda
Los puntos de la prueba
determinan los disparos o las
bsquedas.

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ventana Prueba de Disparo
Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen en la tabla y el software mide e introduce los
tiempos de actuacin tact

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ventana Prueba de busqueda
Se configura los puntos de prueba en funcin de Ipol para un par de valores Idiff/Ipol y el software
mide e introduce los valoresde Idiff encontrados en la prueba de bsqueda.

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ventana General
Aqu se configura si se ha de considerar o no la caracterstica nominal del rele bajo prueba, la
corriente y el tiempo de pre-falta, la condicin del trigger, etc.

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ventana Salida binaria
Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Disparo
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:
Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba Diff
Operating Characteristic la direccin de la prueba y los devanados incluidos en
la misma se hayan ajustado correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la prueba, ajuste un
estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta)
5. En la ficha Prueba de Disparo , especifique los puntos de prueba (pares de
valores Idiff/Ipol) y el tipo de falta de inters.
6. Inicie la prueba con Prueba.
Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes
se resaltan en el diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida esttica

8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe


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Advanced Differential
Diff Operating Characteristic
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Busqueda
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:
Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba Diff
Operating Characteristic la direccin de la prueba y los devanados incluidos en
la misma se hayan ajustado correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la prueba, ajuste un
estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta)
5. En la ficha Prueba de Busqueda , especifique los puntos de prueba (Ipol), el
tipo de falta de inters y la resolucin de bsqueda deseada
6. Inicie la prueba con Prueba.
Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Se prueba la lnea Ipol
correspondiente con diferentes valores Idiff en el grfico.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida esttica

8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe


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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
La prueba de caracterstica del
tiempo de disparo abarca las faltas
de simulacin dentro y fuera de la
zona protegida. Por lo tanto, se
toman en cuenta las tolerancias del
dispositivo introducidas.
Usando la tabla de la prueba, se
prueban puntos especficos de la
caracterstica de operacin para
sus tiempos de disparo.
La prueba se presenta a lo largo de
la lnea de prueba en el plano
Idiff/Ipol.
Una corriente diferencial Idiff
especifica cada punto de prueba
individual. El valor correspondiente
Ipol resulta de la posicin de la
lnea de prueba. Para cada punto
de prueba, el tiempo de disparo se
mide y se evala.

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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ventana Prueba
Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff en la tabla
de prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ventana General
Aqu se configura si se ha de considerar o no la Corriente de pre-falla, la pendiente de la linea de
prueba y la condicin del trigger.

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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ventana Factores
Aqu se configura si se ha de considerar o no factores de tolerancia y lo svalores de estos. Estos
valores reemplazan a los valores configurados en el Objeto de Prueba.

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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ventana Salida binaria
Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ejecucin de la Prueba
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:
Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba Diff
Operating Characteristic la direccin de la prueba y los devanados incluidos en
la misma se hayan ajustado correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la prueba, ajuste un
estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta)
5. Si se desea ajustar tolerancias especiales para esta prueba, en la ficha
Factores , ajuste los factores de Idiff y tdiff y active Usar factores de
evaluacin. (Nota: estos factores reemplazan a las tolerancias del dispositivo
ajustadas globalmente).
6. Ajuste la "Pendiente de la lnea de prueba" en la ficha General . (Pendiente de
la lnea de prueba = Idiff/Ipol).
7. En la ficha Prueba, especifique los puntos de prueba (valores "Idiff") y el Tipo
de falta que desee.
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Advanced Differential
Diff Trip Time Characteristic
Ejecucin de la Prueba
6. Inicie la prueba con Prueba.
Acto seguido se ejecutarn los puntos de prueba de la tabla de prueba,
resaltndose en el grfico los puntos correspondientes
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida esttica

8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Esta prueba esta proyectada
para determinar la habilidad
del rel diferencial para
bloquear el disparo bajo
condiciones de energizacin
del transformador u otras
posibles condiciones del
sistema.
Las corrientes de prueba se
inyectan nicamente en el
devanado de referencia.
Existen
prueba:

dos

modos

de

Prueba de disparo
Prueba de bsqueda

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ventana Prueba de disparo
Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff en
la tabla de prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ventana Prueba de busqueda
Se configura los puntos de prueba en funcin de Idiff para un par de valores Idiff/Ipol y el software
mide e introduce la relacin actual entre el armnico seleccionado y la corriente diferencial (Idiff)

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ventana General
Aqu se configura si se ha de considerar tiempo de post-falta, asi como la condicin del trigger.

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ventana Salida binaria
Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. En la ficha Disparo especifique:
Idiff , El valor Idiff nominal (la corriente diferencial nominal).
"Ixf/Idiff, El valor Ixf/Idiff nominal (relacin nominal entre la corriente del
armnico seleccionado y la corriente diferencial).
"ngulo (Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.
4. Seleccione la fase que se va a probar.
5. Seleccione el armnico que desee
Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la tabla de
puntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden probar de uno en
uno).

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo
6. Inicie la prueba con Prueba.
Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes
se resaltan en el diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida esttica

8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe


9. Opcionalmente:
En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si se desea
ajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en el
cuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar".
Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la misma
lnea de bsqueda usando un desfase diferente para el armnico.

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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. En la ficha Disparo especifique:
Idiff , El valor Idiff (lnea de bsqueda como la relacin de la corriente de
un determinado armnico con la corriente diferencial).
Res. Busqueda, Resolucin de bsqueda (Un punto de la caracterstica se
considera "encontrado" cuando un valor Ixf/Idiff que provoca el disparo del
rel y otro valor en el cual no dispara estn ms cerca uno de otro de lo que
se ha definido en la resolucin de bsqueda)
"ngulo (Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.
4. Seleccione la fase que se va a probar.
5. Seleccione el armnico que desee
Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la tabla de
puntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden probar de uno en
uno).
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Advanced Differential
Diff Harmonic Restraint
Ejecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda
6. Inicie la prueba con Prueba.
Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes
se resaltan en el diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida esttica

8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe


9. Opcionalmente:
En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si se desea
ajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en el
cuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar".
Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la misma
lnea de bsqueda usando un desfase diferente para el armnico.

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Software

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Advaced Transplay

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Advanced Transplay

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Advanced Transplay
Se usa para importar, editar e inyectar datos transitorios a un equipo en prueba. Estos
datos transitorios son creados a partir de eventos reales o simuladas anticipadamente.
Archivos soportados: Comtrade,
PL4, TRF
Pueden aadirse y aplicarse
seales binarias definidas por el
usuario al equipo en prueba o
utilizarse para la evaluacin de la
prueba.
Se pueden asignar marcadores de
estado al registro de datos, por
ejemplo, para identificar pre-faltas
y faltas
Se pueden insertar repeticiones de
una o toda la seal
Con cada canal analgico, se puede
introducir la potencia de
transformacin del convertidor para
posibilitar un cambio de escala y
convertir los datos primarios en
secundarios.

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Advanced Transplay
Vistas disponibles
El mdulo Advanced Transplay, proporciona cuatro vistas diferentes, que son:

Vista de Detalle: En esta vista se realizan todos los ajustes necesarios para la ejecucin de
la prueba. Se asigna las seales analgicas transitorias a los canales analgicos dela CMC,
se interconectan las seales binarias y se definen las condiciones de trigger.
Oscilografa: Esta vista se activa una vez que se haya cargado (importado) un registro de
datos. La vista presenta las corrientes y tensiones transitorias, las seales binarias, etc.
Es en esta vista que se puede editar los registros de datos y adaptarlos segn la prueba
planeada. Por ejemplo: Repetir secciones de la oscilografa, insertar marcadores de
estado, insertar nuevas seales binarias, etc.

Medidas: En esta vista se definen los valores nominales para las medidas de tiempo.
Durante la prueba, cada condicin de medida se analiza respecto a su tolerancia y se
evalua como correcta o incorrecta.

Informe: presenta los resultados de la prueba. El contenido de esta vista puede ser
definido por el usuario o se puede usar los ajustes estndar.

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Advanced Transplay
Vistas de Detalle
Salidas analgicas

Salidas Binarias

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Advanced Transplay
Vistas de Detalle
Trigger

General

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Advanced Transplay
Vistas de Oscilografa

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Advanced Transplay
Vistas de Oscilografa

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Advanced Transplay
Vistas de Medidas

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Advanced Transplay
Ejecucin de la Prueba
Importar un registro de datos:
Para importar un registro de datos se debe:
Seleccione Archivo | Importar... para abrir el cuadro de dilogo estndar que se utiliza para seleccionar un archivo.
Busque el archivo en la carpeta correspondiente, mrquelo y luego haga clic en Aceptar.
Resultado: Se carga el registro de datos y aparece la oscilografa con las seales transitorias.

Cambiar la salida anlgica para una seal de un registro de datos:


Se puede cambiar el bloque de cableado de las seales transitorias que conecta con las salidas analgicas del CMC
en Detalle | Salidas analgicas.
Haga clic en la casilla para la que se quiere cambiar el bloque de cableado.
En la lista desplegable, seleccione la seal deseada.

Cambiar la frecuencia de muestreo:


La frecuencia de muestreo que debe utilizarse para la salida de los datos transitorios se puede cambiar en
Detalle | General.
La frecuencia de muestreo original es el ajuste por defecto. Se indica este valor y tambin la frecuencia de
muestreo mxima posible.
En el cuadro de texto situado al lado de "Usada", introduzca la frecuencia de muestreo que le interese. Se permiten
todos los valores inferiores a la frecuencia de muestreo mxima.

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Advanced Transplay
Ejecucin de la Prueba
Ajustar la Condicin de Trigger:
Especificando las condiciones del trigger se determina el momento de iniciar la emisin de los datos transitorios.
Este ajuste se hace en Detalle | Trigger.
En el cuadro superior, seleccione una condicin de trigger activando la casilla de verificacin situada al lado de la
condicin de trigger.
Si se ha seleccionado trigger binario, con cada entrada binaria, seleccione el estado requerido en la lista
desplegable de los estados disponibles (la ruta de las entradas binarias se ha tomado de Configuracin del
hardware | Entradas binarias). Un 1 indica una seal binaria "activa", un 0 una seal binaria "inactiva" y X indica
que la seal de ese canal se desestima en la comparacin lgica.
Seleccione si los ajustes deben relacionarse por medio de un operador lgico AND u OR haciendo clic en el botn
de radio situado junto a la condicin requerida.

Realizando Repeticiones de Pruebas:


Realizar repeticiones de pruebas significa que la lectura de los datos transitorios para el equipo en prueba se
realiza varias veces seguidas. Con cada repeticin, se verifican las condiciones de la medida y se evala la prueba
otra vez.
En Detalle | General introduzca el nmero de repeticiones. 0 x significa que no se efectan repeticiones. Por tanto,
la prueba slo se ejecuta una vez. El nmero de repeticiones est limitado a 999.
Se pueden visualizar los resultados de las pruebas individuales en los "resultados de la prueba" del modo
oscilografa, introduciendo la repeticin deseada en el campo "N de medidas".

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Advanced Transplay
Ejecucin de la Prueba
Insertar Marcadores de Estado:
En el oscilograma, los marcadores de estado se ajustan para sealar momentos especficos, p. ej. cambios de
estado. Estos marcadores se pueden utilizar entonces para la definicin de las condiciones de la medida en la vista
Medidas.
En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 a la posicin donde debe ajustarse el marcador
de estado.
Seleccione Edicin | Insertar un marcador de estado para abrir el cuadro de dilogo "Marcadores de estado".
En el campo Nombre, introduzca el nombre del marcador de estado y verifique el momento especificado. A
continuacin puede editarlo en el campo.
Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de dilogo.

Insertar Marcadores de Datos Tipo Repeticin:


En el oscilograma, active el modo "original" y seleccione el rango de tiempo que desea con los cursores (tenga en
cuenta que el Cursor 1 marca el principio y el Cursor 2 el fin del rango).
Seleccione Edicin | Insertar la repeticin... para abrir el cuadro de dilogo.
En el campo Nombre introduzca el nombre de la repeticin y compruebe que las posiciones de los cursores definen
correctamente el principio y la duracin. De no ser as, se pueden editar en el campo.
Introduzca el nmero de repeticiones. El valor por defecto es 1x; es decir, el rango se emite una vez repetido.
Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de dilogo.

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Advanced Transplay
Ejecucin de la Prueba
Definir Seales Binarias:
Se pueden definir seales binarias, por ejemplo, para aplicarlas al equipo en prueba, o para utilizarlas como seal
de referencia para la definicin de condiciones de medida en Medidas.
En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 y 2 a las posiciones de tiempo donde la seal
binaria ha de alternar su estado (posteriormente se pueden definir otros cambios de lmite).
Seleccione Edicin | Insertar la seal binaria... para abrir el cuadro de dilogo "Seales binarias".
En el campo Nombre introduzca el nombre de la seal binaria y establezca qu estado debera tener la seal dentro
del rango incluido entre los cursores.
Como el cuadro de dilogo es "no modal" se mantiene abierto hasta hacer clic en "Cancelar". Por esta razn, se
pueden definir otros cambios en los lmites en la oscilografa cambiando las posiciones de los cursores y
ajustando el rango incluido a "cero" o "uno".

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Advanced Transplay
Ejecucin de la Prueba

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Software

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Herramientas de prueba

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Transplay

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Transplay
Reproduccin de Transitorios.
Permite cargar y reproducir
archivos de transitorios que
contienen formas de onda de
tensin y corriente.
Prueba de reles con fallas reales
capturadas por un registrador de
fallas digital o prueba con
transitorios generados por un
programa de simulacin (EMTP).
Capacidad de sincronizacin por
medio de una seal de inici
proveniente de un GPS.
Transplay soporta formatos
COMTRADE de IEEE y WAV

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Transplay
Barra De Herramientas

Ayuda
Temas de ayuda
Reproducir archivos
Ver seal
Propiedades
Configuracin del Hardware
Guardar lista de archivos
Abrir lista de archivos

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Transplay
Ventanas :
1

Vista de la prueba
3

Vista de Seal

Vista de propiedades

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Transplay
Prueba :

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EnerLyzer

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EnerLyzer
Multmetro de parmetros elctricos .
Permite configurar las entradas
binarias 6, 8 y 10 de la CMC 256
para convertirlas en entradas
binarias, o entradas analgicas
para medir tensiones o
corrientes.
Nota:
Opcionalmente puede adquirirse la
licencia completa del mdulo
Enerlyzer que permite a la CMC
ser utilizada como:
Registrador de perturbaciones.
Registrador de tendencias.
Analizador de calidad de energa.
Etc.

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EnerLyzer
Barra De Herramientas

Registrador de Tendencias
Anlisis de Armnicos
Registrador de Transit.
Modo Multmetro
Valores Secundarios
Valores Primarios
Parar
Iniciar
Borrar Informe
Aadir al Informe
Ver Informe
Configuracin del Trigger de Tiempo
Configuracin de Entradas
Configuracin del Hardware

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EnerLyzer
Configuracin de Entradas

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Harmonics

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Harmonics
Generacin de armnicos con frecuencia de hasta 1000 Hz con armnicos pares e impares
hasta el 16avo armnico para 60 Hz y 20avo armnicos para 50 Hz.
Generacin directa de seales
analgicas o generacin de
archivos COMTRADE.
Inyeccin de la seal
compuesta por tres estados:
Pre-seal, Seal y Post-seal.
Indicacin de la Distorsin
Armnica Total de la seal
generada para cada canal.
Incluye un temporizador que
arranca en el momento de
inicio de la inyeccin armnica
y se detiene con un evento de
trigger.

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Harmonics
Barra De Herramientas

Borrar prueba
Pausar prueba
Iniciar prueba
Encendido / Apagado (salida esttica)
Configurar Hardware
Tiempo en ciclos
Tiempo en segundos
Guardar
Abrir
Nuevo

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Harmonics
Ventanas :
1

Vista de la prueba

Entradas Binarias

Barra de Sobrecarga

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Harmonics
Prueba :

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Binary I/O Monitor

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Binary I/O Monitor


Monitor de Entradas y Salidas Binarias.
Indica el estado de todas las
entradas y salidas binarias del
equipo de prueba conectado.
Indicacin de cambio de estado
entre actualizaciones de la
informacin mostrada.
Funcin de congelamiento para una
investigacin pormenorizada.
Herramienta de gran ayuda en la
prueba de lgicas de control de
dispositivos de maniobra de una
bahia de subestacin.
Funcionamiento en paralelo con
cualquier mdulo de prueba
OMICRON.

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Binary I/O Monitor


Ventanas :

Entradas y salidas del


1
equipo de prueba
2

Entradas y salidas del


equipo opcional CMB IO-7

11

Botones de mando:
- Mantener / Restablecer
- Indicar cambio de estado
2

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O/C Characteristics Grabber

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O/C Characteristics Grabber


Complemento del mdulo de prueba Overcurrent.
Ayuda a extraer caractersticas de sobrecorriente a partir de representaciones grficas.
til en casos en los que la
curva caracterstica de
tiempo inverso no se
conoce y slo se cuenta con
una representacin grfica
(por ejemplo, una imagen
en un manual de un rel).
La curva extrada, puede
ser exportada y guardada
para posteriormente ser
utilizada por el mdulo de
prueba Overcurrent

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AuxDC

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AuxDC
AuxDC se emplea para ajustar la salida de tensin CC auxiliar del dispositivo de
prueba CMC 256
Regulador
Con el slider control seleccionar:
- Uno de los valores de tensin preestablecidos.
- Otros, que permite introducir cualquier valor de
tensin que elija, sin sobrepasar los lmites del
grupo de prueba
- OFF, para desactivar la tensin CC auxiliar.
Botones
- Ajustar: Cambia el valor de la tensin ajustado
actualmente a la salida de tensin CC auxiliar del
dispositivo CMC 256.
- Cerrar: Sale de AuxDC
- Ayuda: Invoca la ayuda en lnea de AuxDC
- Por defecto: Hace que el valor de la tensin
ajustado actualmente sea la potencia de arranque por
defecto del dispositivo CMC 256. La prxima vez que
se arranque el CMC 256, la salida de CC auxiliar se
ajustar automticamente con este valor por defecto.

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ENSYS S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Para cualquier
informacin en el Per:

Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per


Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 Fax: 51 1 6380347
Email: ensys@ensys.pe
Web: www.ensys.pe

ENSYS S.A.C.

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Software

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Configurar

MEGAWATT S.A.C.

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Asociacin de Unidad de Prueba

MEGAWATT S.A.C.

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Asociacin de Unidad de Prueba


Permite configurar los equipos con la Opcion NET-1 (puerto Ethernet IEC 61850) para que
puedan ser controlados o no desde una PC determinada.

MEGAWATT S.A.C.

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Asociacin de Unidad de Prueba


Asociar
Permite seleccionar una unidad de prueba de la lista de equipos y asociarla a la PC.
Luego de seleccionada la opcin se debe accionar el botn asociar de la parte posterior
del hardware

MEGAWATT S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Asociacin de Unidad de Prueba


Configuracin de IP
Permite configurar la direccin IP del equipo de pruebas.

Busqueda
Permite buscar equipos de prueba conectados a una red.

MEGAWATT S.A.C.

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Asociacin de Unidad de Prueba


Actualizar / degradar software
Permite buscar equipos de prueba conectados a una red.

MEGAWATT S.A.C.

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Ajustes del Sistema

MEGAWATT S.A.C.

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Ajustes del Sistema


Permite configurar Datos y valores de prueba que sern de uso general cuando se
utiliza los mdulos de Prueba del OMICRON TEST UNIVERSE.

MEGAWATT S.A.C.

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OMICRON TEST UNIVERSE

Ajustes del Sistema


Permite configurar Datos y valores de prueba que sern de uso general cuando se
utiliza los mdulos de Prueba del OMICRON TEST UNIVERSE.

MEGAWATT S.A.C.

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MEGAWATT S.A.C.

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Administrador de Licencias

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Administrador de Licencias
Combina la funcionalidad de un buscador de licencias con la de una herramienta de
edicin de licencias.
Permite buscar las licencias
instaladas en un PC
Permite adicionar nuevas licencias
al archivo omicron.lic

MEGAWATT S.A.C.

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MEGAWATT S.A.C.

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Administrador de Licencias
Barra superior
File / Open File and Merge
Permite navegar a traves de los
directorios y seleccionar un archivo
de licencia. El archivo de licencia es
aadido al archivo principal
omicron.lic asi como se aaden las
nuevas llaves.
Edit / Merge File
Permite seleccionar un archivo de
licencia del campo superior y
adicionarla en su totalidad al archivo
principal omicron.lic
Edit / Delete File
Borra un archivo de licencia
seleccionado

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Administrador de Licencias
Barra inferior Izquierda
Edit / Merge Device
Permite adicionar un equipo al
archivo principal omicron.lic
Edit / Delete Device
Borra un equipo de prueba del
archivo principal omicron.lic

Barra inferior Derecha


Edit / Merge Key
Permite adicionar una llave al
archivo principal omicron.lic para
activar un nuevo mdulo de
prueba.
Edit / Delete Device
Borra una determinada llave del
archivo principal omicron.lic

MEGAWATT S.A.C.

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MEGAWATT S.A.C.

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Seleccin de Idioma

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Seleccin de Idioma
Permite seleccionar el Idioma utilizado para las aplicaciones del software..

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Software

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Calibracin y Diagnostico

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Field Calibration Software

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Field Calibration Software


Permite verificar si el equipo de pruebas CMC est dentro de sus especificaciones de calibracin.
El software ofrece para ello un conjunto de plantillas de prueba.
Para su realizacin se requiere tener dispositivos de medicin adecuados. Una vez concluida la
calibracin, el Filed Calibration Software ofrece un completo reporte de prueba.

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Comprobacin del hardware

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Comprobacin del hardware


Al ejecutar este comando y cada vez que un mdulo de prueba es arrancado, el software realiza
una comprobacin del estado del Hardware, que es grabada con el nombre de HWCHECK.LOG en
C:Documents and Stettings/All Users/Datos de programa/OMICRON/Test Universe.

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Informacin
Informaci
n de calibraci
calibracin
n

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Informacin
Informaci
n de calibraci
calibracin
n
Permite revisar el informe de calibracin original de todos los equipos cuyo software a
sido instalada en la computadora actual.

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Logfile

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Logfile
Permite verificar la compatibilidad CMC-PC, asi como posibles errores u conflictos del
software OMICRON TEST UNIVERSE con otros programas instalados en la PC del
usuario.

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Para cualquier
informacion en el Per:

Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per


Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 Fax: 51 1 6380347
Email: ensys@ensys.pe
Web: www.ensys.pe

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