Microscopio Electrnico de Barrido

La configuracin solicitada requiere de observacin de muestras sin preparacin alguna, para preservar la estructura de
la misma.

El microscopio electrnico de barrido debe ser digital controlado por interfaz de usuario Windows, con rutinas
automatizadas para el control del equipo.

Debe contar con modos de operacin de alto vaco y presin variable con un rango de presin mxima mayor a
2400 Pa, utilizando vapor de agua como gas inerte en el modo de presin variable.

Rango de voltaje de aceleracin entre 200 V y 30 kV, inferior a 100 V usando el modo de desaceleracin del haz
electrnico primario.

Sistema de desaceleracin del haz electrnico primario con rango seleccionable por usuario hasta de 4 kV.

El rango de aumento del equipo debe ser inferior a los 10x y hasta 1.000.000x

Resolucin en alto vaco y presin variable a 30 kV con electrones secundarios de 3.0 nm

Resolucin en alto vaco y presin variable a 30 kV con electrones retro-dispersados de 4.0 nm o menor. El
detector de electrones BSE debe permitir seleccin los electrones que formaran la imagen con base al voltaje
de aceleracin y la orientacin de escape de la muestra con un diseo basado en anillos concntricos.

Adicionalmente debe ofrecer el hardware necesario para garantizar las condiciones de adquisicin de anlisis
qumico EDS en modo de presin variable, ofreciendo un detector especial de electrones retro-dispersados con
un cono analtico que reduzca a 2 mm la distancia que el haz electrnico primario se encuentra expuesto en la
cmara de muestras con gas inerte.

El sistema debe contar con 1 cmara CCD para observacin en blanco y negro, y una cmara a color montadas
en la cmara de muestras.

El sistema de vaco debe ser diferencial mltiple basado en bomba turbo-molecular y bomba rotatoria.

El microscopio debe tener una platina controlada por computadora y motorizada en 5 ejes con
desplazamientos X de 100 mm, Y de 100 mm y Z de por lo menos 60 mm.

El MEB debe permitir a futuro incluir una platina de enfriamiento tipo Peltier controlada por la interfaz de
usuario del equipo de tal forma que permita la observacin de muestras en condiciones 100% de humedad
relativa, de tal forma que garantice la preservacin de las condiciones originales del material durante su
observacin.

El MEB debe permitir a futuro incluir una platina de calentamiento con rango de 1400C o mayor controlada
por la interfaz de usuario del equipo de tal forma que permita la observacin de muestras a lo largo de todo el
experimento y con capacidad de generar rampas especficas de calentamiento.

El sistema debe permitir diferentes modos de barrido, tales como velocidad TV, barrido lento, barrido puntual,
rutinas definidas por usuario y correccin de barrido por efecto de desplazamiento o drifting.

Debe incluir el hardware necesario para la operacin del microscopio: PC de ltima generacin, 2 monitores
LCD entre 19 y 24, teclado, ratn, etc.

El sistema EDS debe incluir un detector de rayos X con 10 mm2 de rea activa, resolucin igual o mejor a 129 eV
y con tecnologa SDD libre de nitrgeno lquido. Debe permitir hacer anlisis cualitativo, anlisis cuantitativo y
mapas de distribucin de rayos X.

El MEB no debe requerir sistemas de refrigeracin o compresin de aire.

El equipo debe ser entregado con un juego de insumos para funcionamiento por 2 aos.

Entrenamiento de aplicaciones ofrecido por especialistas de la compaa en el Per con duracin de 40 horas.

Garanta de 24 meses en partes y mano de obra a partir de la instalacin y aceptacin del equipo.

Programa de soporte Remoto para diagnstico del equipo.

La compaa debe ofrecer soporte de servicio con uno o ms ingenieros de servicio capacitados en fbrica y
domiciliados en el Per.