Fundamentos de Instrumentacion ANALOGOS

FUNDAMENTOS DE INSTRUMENTACIN
Luis Enrique Avendao M. Sc.
UNIVERSIDAD TECNOLGICA DE PEREIRA
ii
Lista de Figuras
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
Control automtico de un proceso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Seal con evolucin muy lenta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta transitoria de un sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta senoidal en un sistema elctrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de un ECG. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Proceso con datos seudoaleatorios. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transductor en lazo abierto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito equivalente para un transductor incluyendo seal de interferencia. .
Transductor en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2.8
2.9
2.10
2.11
2.12
2.13
2.14
2.15
2.16
2.17
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Definicin de no linealidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i). . . . . . . . . . . . . .
Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
Potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Juego en engranajes. Ejemplo de histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Ejemplo de resolucin y de potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bandas de error y funcin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Funcin densidad de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Modelo general de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Calibracin de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
(a) Histresis significativa (b) Histresis no significativa. . . . . . . . . . . . . . .
Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
Error en la medida. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sistema simple de medida de la temperatura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin de un elemento no lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.18 Transductor de fuerza en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.19 Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
iii
4
6
6
7
8
8
11
13
14
21
22
23
23
24
24
25
25
26
27
28
34
36
37
37
38
39
40
42
iv
LISTA DE FIGURAS
3.1
3.2
3.3
3.4
3.5
3.6
3.7
3.8
3.9
3.10
3.11
3.12
3.13
3.14
3.15
3.16
3.17
3.18
3.19
3.20
3.21
3.22
3.23
3.24
3.25
3.26
3.27
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
4.7
4.8
4.9
Sensor de temperatura en un fluido. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Modelo de un elemento para clculo de la dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . .
Modelo masaresorteamortiguador para un sensor elstico de fuerza. . . . . . .
Circuito serie RLC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta a un escaln de un sistema de primer orden: Rojo, = 2, negro, = 1,
azul, = 0.5, . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Determinacin de para un sistema de primer orden. . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1,
azul, > 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden. . . . . .
Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden: rojo,
= 0.1, azul, = 0.3, negro, = 0.7,verde, = 1.0, prpura = 2. . . . . . . .
Sistema de medida con dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sistema de medida de temperatura con dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de un sistema con dinmica lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica. . . . . . . . . .
Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden. . . . .
Compensacin dinmica en lazo abierto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Esquema y diagrama de bloques de un acelermetro en lazo cerrado. . . . . . . .
Respuesta normalizada a un escaln. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Pueba de la funcin escaln para un sistema de primer orden. . . . . . . . . . . .
Prueba de respuesta frecuencial de un sistema de primer orden. . . . . . . . . . .
Pruebas de escaln e impulso para sistemas de segundo orden. . . . . . . . . . . .
Prueba de la funcin escaln para sistemas de segundo orden. . . . . . . . . . . .
Prueba de respuesta en frecuencia de un sistema de segundo orden. . . . . . . . .
Circuito equivalente de Thvenin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito equivalente de un amplificador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Equivalente Thvenin para un sistema de medicin de temperatura. . . . . . . .
Carga a.c. de un tacogenerador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
46
48
49
51
52
53
55
56
58
59
59
60
63
65
65
66
68
69
70
71
72
73
74
75
75
76
85
Funcin distribucin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94

Funcin de distribucin acumulativa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0. 99
Funcin de distribucin normal estndar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
Grfico de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y . . . 105
Funcin densidad de probabilidad usando la distribuci n t Student. . . . . . . . 106
Distribucin f (2 ) f (z) para algunos valores de . [ = 1 (lnea continua),
= 2 (trazos), = 3 (puntos), = 5 (puntos y trazos)]. . . . . . . . . . . . . . . 111
Intervalo de confianza para la distribucin chicuadrado. . . . . . . . . . . . . . . 112
Valores grficos de los pares temperaturatiempo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
LISTA DE FIGURAS
4.10 Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea definida con mnimos
cuadrados y = Ax + B. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.11 Lnea y = Ax + B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.12 Aproximacin de un conjunto de datos a una lnea recta. . . . . . . . . . . . . . .
4.13 Puntos de datos transformados {(Xk , Yk )}. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.14 Ajuste exponencial a y = 1. 6.e0.391202x obtenido por el mtodo de linealizacin
de los datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.15 Ajuste a una parbola usando mnimos cuadrados. . . . . . . . . . . . . . . . . .
118
119
121
123
124
126
5.1
Error por radiacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
6.1
6.2
6.3
Transductor potenciomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro angular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro trigonomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Red con potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la
rotacin del eje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales. . .
Digrama de bloques funcionales del AD5262. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital . . . .
Circuito RDAC equivalente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito de amplificacin para una termorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T > 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T < 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos . . . . . .
Circuitos para RTD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia. . . .
Circuito con termistor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
o
Respuesta de un termistor con B = 4000 y R
R1 = 1 (Lnea continua), 10 (Lnea
punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente. . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito con NTC en puente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito con NTC como regulador de tensin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Medida de caudal usando NTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta normalizada de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta corrientetensin de un PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente. . . . . . . .
Circuito con un dispositivo PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.4
6.5
6.6
6.7
6.8
6.9
6.10
6.11
6.12
6.13
6.14
6.15
6.16
6.17
6.18
6.19
6.20
6.21
6.22
6.23
6.24
6.25
6.26
6.27
139
140
142
142
143
144
146
148
151
152
154
156
158
158
159
160
161
164
167
168
169
169
170
171
172
172
173
vi
LISTA DE FIGURAS
6.28
6.29
6.30
6.31
6.32
6.33
6.34
173
175
176
176
178
178
6.37
6.38
Histresis en la respuesta de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Respuesta noramlizada de una fotorresistencia para algunos valores de . . . . .
Circuito simple con fotorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una fotorresistencia en una red. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de un fotodiodo a la excitacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito con fotodiodo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n
(lnea de trazos). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Algunas configuraciones de galgas extensiomtricas de semiconductor (fabricadas
por BLH electronics). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b)
equiangular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Roseta de galgas extesiomtricas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Esquema bsico del LVDT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
7.1
7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
Termopar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Termopar con unin de referencia. . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas.
Efecto piezoelctrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico. . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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196
200
200
203
206
212
8.1
8.2
8.3
8.4
8.5
8.6
8.7
8.8
8.9
8.10
8.11
8.12
8.13
Manmetro de tubo en U. . . . . . . . . . . . . . .
Manmetro de tipo recipiente. . . . . . . . . . . . .
Manmetro inclinado. . . . . . . . . . . . . . . . .
Barmetro de mercurio. . . . . . . . . . . . . . . .
Tubo Bourdon. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Probador de peso muerto. . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin con galga extensiomtrica.
Transductor de presin con LVDT. . . . . . . . . .
Transductor de presin capacitivo. . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin piezoelctrico. . . . . . . .
Sensor de vaco McLeod. . . . . . . . . . . . . . . .
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214
215
216
217
218
219
220
220
221
222
223
223
225
9.1
9.2
9.3
Amplificador sumadorrestador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230

Amplificador sumadorrestador con parmetros de ajuste. . . . . . . . . . . . . . 232
Realizacin de una funcin lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
6.35
6.36
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181
182
185
186
187
10.1 Red RLC serie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241

10.2 Magnitud de la funcin de sensibilidad para una red RLC. Lnea continua: |Y (j)| .
Y (j). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
Lnea punteada: Re SR
LISTA DE FIGURAS
10.3 Fase de la funcin de sensibilidad de una red RLC. Lnea
Y (j). . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lnea punteada: Im SR
10.4 Red con sensibilidad de coeficientes 1 . . . . . . . . . .
10.5 Red con elemento activo y con sensibilidad > 1 . . . . . .
10.6 Filtro de tercer orden pasabajas . . . . . . . . . . . . . .
10.7 Red con un elemento parsito. . . . . . . . . . . . . . . .
10.8 Modelo de un amplificador operacional. . . . . . . . . . .
10.9 Integrador amortiguado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
vii
continua:
. . . . . .
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arg Y (j).
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. . . . . . .
12.1 Filtro de Paso Bajo Butterworth. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

12.2 Especificaciones para un filtro de paso bajo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.3 Respuesta de Magnitud vs Frecuencia de una Funcin de Chebyshev de cuarto
orden. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12.4 Parmetros de la caracterstica de magnitud inversa de Chebyshev. . . . . . . .
12.5 Respuesta magnitud vs frecuencia de un filtro inverso de Chebyshev de paso bajo.
12.6 Respuesta de magnitud vs frecuencia de un filtro elptico de tercer orden. . . . .
D.1
243
245
246
250
252
253
254
265
267
271
273
276
279
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 294
viii
LISTA DE FIGURAS
Lista de Tablas
1.1
1.2
1.3
Principios de Transduccin Fsica y Qumica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Sensores analgicos directos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sensores indirectos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
12
16
17
2.1
2.2
2.3
2.4
Escala simplificada de rastreabilidad . . . . . . . . . . .

Escala de rastreabilidad (Adaptada de Scarr) . . . . . .
Puntos fijos definidos en el ITS90. . . . . . . . . . . . .
Efecto de la presin sobre algunos puntos definidos fijos.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
28
29
31
32
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
Resultados de 60 mediciones de la temperatura en un ducto . . . . . . . . . .

Medidas de la temperatura arregladas en intervalos. . . . . . . . . . . . . . .
Valores crticos de la distribucin t Student . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Valores de los coeficientes de Thompson. Segn: ANSI/ASME86 . . . . . .
Valores mnimos del coeficiente de correlacin para un nivel de significancia a.
Obtencin de los coeficientes para un parbola de mnimos cuadrados . . . .
.
.
.
.
.
.
.
.
.
. .
91
92
107
113
127
127
6.1
6.2
6.3
6.4
6.5
Tabla de verdad del control de la lgica de entrada. . . . . . . . . . . . . .

Valores caractersticos en el potencimetro digital . . . . . . . . . . . . . .
Valores caractersticos en el potencimetro digital en modo inverso . . . .
Comparacin de las resistencias NTC y otros sensores . . . . . . . . . . .
Caractersticas de las galgas extensiomtricas metlicas y semiconductoras
.
.
.
.
.
153
153
153
166
186
9.1
Clculo de los parmetros del amplificador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
10.1
10.2
10.3
10.4
Propiedades de la funcin de sensibilidad relativa . . . . . . . . . .

Sensibilidad de los coeficientes para una red RLC en serie. . . . . .
Sensibilidad de los coeficientes para una red RLC en serieparalelo.
Casos de la sensibilidad de los coeficientes . . . . . . . . . . . . . . .
B.1 Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos
ix
.
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.
239
245
245
246
. . . . . . . . . . . . . 289
LISTA DE TABLAS
Prlogo
La aplicacin del computador a la ciencia y la tecnologa ha permitido desarrollar herramientas de software y hardware las cuales han permitido conocer directamente el comportamiento
de sistemas fsicos. Como un siguiente paso en la teora del conocimiento de los sistemas, la
experimentacin ha llegado a ser el medio ms adecuado para el estudio de su comportamiento.
En ingeniera, se requieren experimentos diseados cuidadosamente para concebir y verificar los
conceptos tericos, desarrollar nuevos mtodos y productos, construir nuevos sistemas con, cada
vez, mayor complejidad y evaluar el comportamiento y optimizacin de los sistemas existentes.
El diseo de un sistema experimental o de medicin es una actividad inherentemente interdisciplinaria. Por ejemplo, el sistema de control e instrumentacin de una planta procesadora,
requiere el concurso de ingenieros qumicos, mecnicos, elctricos y de sistemas. Similarmente,
la especificacin de la instrumentacin para medir los terremotos y la respuesta dinmica de
las estructuras (edificios, puentes, carreteras, etc.), involucra los conocimientos de ingenieros
civiles, gelogos, ingenieros electrnicos, de sistemas. Basados en estos hechos, los tpicos presentados en este texto se han seleccionado para que sean de utilidad en el diseo de proyectos
experimentales interdisciplinarios, en el rea de medicin e instrumentacin de la medida.
La primera parte del libro tiene que ver con los elementos captadores de seal (elementos
primarios o sensores), mientras que la segunda parte se dedicar al estudio y aplicacin de los
sistemas de adecuacin de la seal para ser transferida a un sistema de cmputo donde ser
procesada o simplemente visualizada.
Una parte esencial en el texto es la parte experimental; se han desarrollado diferentes prcticas de laboratorio las cuales utilizan los dispositivos estudiados en clase para ser montados en
el laboratorio y observar y analizar su comportamiento. Tambin se ha pensado en el aspecto
de la simulacin de experimentos utilizando herramientas de software en tiempo real, como
R
R
y Matlab 1 . Para ello se ha dispuesto el Laboratorio de Instrumentacin de la

LabView
UTP, donde se pueden realizar dichas prcticas.
LabView
y Matlab
son marcas registradas de National Instruments y Mathworks, respectivamente.
xi
xii
PRLOGO
Parte I
Sensrica
Captulo 1
Medidas en sistemas fsicos

1.1
Introduccin
La instrumentacin trata de las tcnicas, los recursos, y mtodos relacionados con la concepcin de dispositivos para mejorar o aumentar la eficacia de los mecanismos de percepcin y
comunicacin del hombre [23].
La instrumentacin comprende dos campos principales: instrumentacin de medida e instrumentacin de control. En general, en el diseo de los sistemas de medida la atencin se centra en
el tratamiento de las seales o magnitudes de entrada, mientras que en los sistemas de control se
da especial importancia al tratamiento de las seales de salida. En el primer caso son de inters
los captadores o sensores y los transductores, mientras que en el segundo los dispositivos ms
relevantes son los accionadores o actuadores.
En la Figura 1.1 se representa un diagrama esquemtico de un posible sistema de control
automtico de un proceso.
Un anlisis de dicho diagrama muestra que las magnitudes fsicas captadas se convierten en
seales elctricas por los grupos captadores C1 , C2 , , Cn y C1 , C2 , Cm , conectados a los
amplificadores correspondientes que proporcionan seales de salida de un nivel adecuado para su
tratamiento por diversos equipos adicionales. Las seales en este esquema propuesto se agrupan
en dos bloques:
1. Seales S1 , S2 , . . . , Sn que se transmiten individualmente (nmero pequeo o instrumentacin
asociada es de bajo costo).
2. Seales S1 , S2 , . . . , Sm para cuyo tratamiento se requieren equipos muy costosos o especiales, o cuyo nmero es muy elevado (como por ejemplo, la medida de temperatura en
muchos puntos mediante un termmetro digital de alta precisin; la medida del tiempo con
un reloj atmico en las centrales elctricas para conocer el instante de salida y duracin
de un fallo en una subestacin o planta remota)
En el diagrama, los bloques Acondicionamiento y Amplificadores se refieren a los elementos o dispositivos destinados a normalizar las seales de modo que todas ellas puedan
3
CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Directo
Acondicionamiento
Sn
S 1
S 2
S m
C2
Cn
MEM
C 1
C 2
C m
Amplificadores
Aparato
de
Medida
AGRUPAMIENTO
Y TRANSMISIN
S2
C1
UNIDAD
DE
CLCULO
Controlador Doble
Registro
Indirecto
SEPARACIN
SISTEMA FSICO
S1
Figura 1.1: Control automtico de un proceso.

presentarse en un determinado formato compatible con el sistema de transmisin. Dichos elementos pueden incluir filtros, atenuadores, convertidores A/C, etc. Es frecuente que en un
mismo sistema se tengan seales norma-lizadas en forma analgica (mismo campo de variacin)
y seales normalizadas en forma digital (mismo nmero de bits).
En el esquema de la Fig. 1.1 se indica tambin la posibilidad de Registro directo de
diversas magnitudes antes de su transmisin conjunta a una unidad de clculo.
El bloque Agrupamiento y Transmisin tiene asignada la funcin de reunir los canales
asociados con las diferentes seales para obtener un nico canal de salida (caso de transmisin
secuencial o en serie), a un grupo de canales en un nmero general inferior al de seales (caso de
transmisin digital en paralelo). Se accede as al medio de transmisin propiamente dicho, que
puede constituir una lnea o grupo de lneas, un equipo de transmisinrecepcin de RF, una
gua de ondas, un enlace por fibra ptica, etc. La naturaleza del medio depender de diversos
factores, entre los cuales estn la distancia, el costo de la instalacin, el nivel de interferencias,
ancho de banda necesario, nmero de canales, etc.
Los datos transmitidos ingresaran, siempre de acuerdo con el ejemplo de la Fig. 1.1, en
una unidad de clculo, que podra ser un computador analgico o digital, o simplemente un
conjunto de circuitos para tratar los datos segn criterios preestablecidos. En general, la unidad
de clculo generar un flujo de informacin de retorno hacia el sistema, donde podran incluirse:
Datos para registro o evaluacin.
Datos o seales de accionamiento y control.
En el bloque Separacin, se individualizan estas seales en el flujo de datos de retorno,
1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS
obtenindose un grupo de canales de salida para registro o medida y otro grupo de canales de
accionamiento.
Los accionadores son dispositivos que realizan la funcin inversa de los captadores, es decir, transforman seales elctricas en magnitudes fsicas de accin directa sobre la instalacin,
aparato, mquina, etc., a controlar y en muchos casos constituyen verdaderos servosistemas (electromecnicos, electrohidrulicos, etc.) que, aparte de su funcin meramente conversora han de
satisfacer adicionalemente ciertos reque-rimientos relacionados con la estabilizacin automtica
de la magniud de salida o bien con la estabilidad de su propio funcionamiento.
1.2
Naturaleza de los Datos
El conocimiento de la naturaleza de los datos que se esperan de un sistema es de la mayor

importancia para la seleccin del equipo de captacin y medida y para definir los mtodos
de ensayo y control a aplicar, hasta el punto de que pueden producirse grandes errores si las
especificaciones de los instrumentos o equipos de medida no se adaptan correctamente a las
peculiaridades de los datos que se van a tratar.
Puede establecerse una primera base de clasificacin atendiendo al modo de variacin en
funcin del tiempo, siendo as posible establecer diferentes categoras de datos que implican
procedimientos parti-culares de tratamiento y muchas veces tambin criterios especficos de
precisin. Es por ello que tiene importancia hacer un anlisis riguroso de la informacin a tratar,
segn su naturaleza, toda vez que de su correcta identificacin puede depender el procedimiento
a seguir en su tratamiento, e incluso el costo de un deteminado sistema.
En los prrafos siguientes se considerarn agunos tipos de datos.
1.2.1
Datos Estticos
Se caracterizan por una evolucin lenta sin fluctuaciones bruscas ni discontinuidades. Un ejemplo
tpico podra ser la temperatura de un determinado punto en un sistema de gran inercia trmica.
Los datos de esta naturaleza estn asociados normalmente con magnitudes de especial importancia, realizndose a partir de ellos con frecuencia, clculos y anlisis relacionados directamente
con la evaluacin del funcionamiento del sistema y su rendimiento.
Debido a la naturaleza de los datos estticos no suele ser necesario tratar individualmente
cada uno de los puntos que originan seales de un mismo tipo, siendo posible utilizar tcnicas
de muestreo con un solo equipo de medida compartido, lo cual simplifica y hace ms econmica
la instrumentacin requerida. Es frecuente, en este aspecto encontrar, por ejemplo, un slo
termmetro central para la medida de todas las temperaturas, un nico voltmetro de precisin
para la medida de todas las tensiones, etc. El muestreo suele hacerse conmutando electrnicamente las seales representativas de las variables en un nico sistema de medida y registro; la
mayora de los casos digital, para lo cual se dispone de componentes y subsistemas adecuados.
En general, los datos estticos son exigidos con gran precisin ya que suelen ser utilizados para
la evaluacin del sistema o proceso. Frecuentemente, el lmite de esta precisin est impuesto
ms por el dispositivo captador primario que por el equipo de medida.
2.5
2
1.5
y
1
0.5
10
20
30
40
50
Figura 1.2: Seal con evolucin muy lenta.
1.2.2
Datos transitorios
Por lo general, representan la respuesta de un sistema a un cambio brusco en las variables de

entrada, siendo ms importante su anlisis para determinar el comportamiento dinmico del
mismo.
R e s p u e s t a a l e s c a l n
U (1 )
1 .4
1 .2
0 .8
Y (1)
A m plitud
0 .6
0 .4
0 .2
0
0
1 0
1 2
1 4
1 6
1 8
2 0
T ie m p o (s )
Figura 1.3: Respuesta transitoria de un sistema.
Ms que la precisin de las medidas, interesa la exactitud de la correlacin temporal de

las diversas magnitudes, toda vez que las seales transitorias se producen simultneamente en
diferentes puntos del sistema como resultado de una perturbacin determinada (frecuentemente
provocada para analizar la respuesta).
1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS
2.5
2
1.5
y
1
0.5
10
20
30
40
50
Figura 1.4: Respuesta senoidal en un sistema elctrico.
1.2.3
Datos dinmicos
Son de naturaleza peridica y se presentan en el funcionamiento estable y continuo de los sistemas. El registro de datos dinmicos es de especial inters en el anlisis de la respuesta en
rgimen permanente a excitacin senoidal, en el estudio de vibraciones, etc.
La mayora de las medidas efectuadas sobre datos peridicos en sistemas reales estn relacionadas con fenmenos oscilatorios en rgimen estacionario con un contenido en armnicos que
incluye frecuencias comprendidas entre varios Hz y algunas decenas de kHz, a excepcin de las
magnitudes elctricas para las cuales no puede fijarse ningn lmite concreto.
Estos datos pueden presentarse como reaccin del sistema a excitaciones senoidales aplicadas
para estudiar su respuesta en amplitud y fase, o bien se originan en diversos puntos del mismo,
como ma-nifestacin de su propio funcionamiento peridico (por ejemplo, dispositivos giratorios
en mquinas, elementos mecnicos con movimiento alternativo, etc.).
En muchos casos, interesa ms el anlisis espectral que el registro instantneo de las seales.
1.2.4
Datos aleatorios
La caracterstica ms distintiva de este tipo de datos es que sus parmetros fundamentales estn
sujetos a fluctaciones imprevisibles y su anlisis ha de efectuarse, en general, de acuerdo con
criterios estadsticos y de probabilidad. Se pueden distinguir tres categoras de datos aleatorios:
Datos que interesa registrar y analizar relacionados con magnitudes aparentemente aleatorias (por ejemplo, un electroencefalograma (EEG), un electrocardiograma (ECG), ciertos
datos meteorolgicos, etc.).
Datos aleatorios indeseables que aparecen mezclados con las seales de inters (ruidos,
interferencias, etc.).

4 5 0 0
4 0 0 0
3 5 0 0
3 0 0 0
2 5 0 0
2 0 0 0
1 5 0 0
1 0 0 0
5 0 0
0
-5 0 0
5 0
1 0 0
1 5 0
2 0 0
2 5 0
3 0 0
3 5 0
4 0 0
Figura 1.5: Respuesta de un ECG.

1
0 . 9
0 . 8
0 . 7
0 . 6
0 . 5
0 . 4
0 . 3
0 . 2
0 . 1
0
0 . 1
0 . 2
0 . 3
0 . 4
0 . 5
0 . 6
0 . 7
0 . 8
0 . 9
Figura 1.6: Proceso con datos seudoaleatorios.

Datos aleatorios de salida de un sistema ante una entrada asimismo aleatoria, aplicada
para fines de caracterizacin de su respuesta (tcnica de gran inters para el estudio de
sistemas complejos o no lineales) (ver Fig. 1.6).
1.3
Informacin analgica e informacin digital
Ha sido siempre un tema controvertido la conveniencia de utilizar instrumentacin analgica o

digital para el tratamiento de las seales derivadas de los sistemas fsicos. Como es sabido la
informacin analgica est asociada a funciones de variacin continua y por lo general uniforme
que pueden tomar, en principo, cualquier valor instantneo. En contraste, la informacin digital
se presenta ligada a seales que solo presentan ciertos niveles discretos a los que se asignan
valores numricos de acuerdo con convenios preestablecidos.
En lo que respecta a las funciones analgicas, puede decirse que en general siguen fiel e
instantneamente a la magnitudes que representan, siendo as evidente que prcticamente todas
las variables de inters para el ingeniero o el cientfico tienen una forma original analgica.
1.3. INFORMACIN ANALGICA E INFORMACIN DIGITAL
Lo expuesto anteriormente justifica que el primer tratamiento de las seales sea casi siempre
analgico si se tiene en cuenta que frecuentemente su nivel, a la salida de los captadores, es
muy bajo y puede incluir informacin no deseada (necesidad de amplificacin, eliminacin de
ruidos e interferencias, filtrada, etc.). No obstante cuando el nivel de las seales es alto y estn
suficientemente depuradas y acondicionadas, se prefiere el tratamiento digital, incluso aunque
en muchos casos dicho tratamiento sea nicamente un proceso intermedio para una presentacin
final analgica, justificndose este hecho por una serie de razones muy claras, en las que puede
destacarse las siguientes:
Las seales analgicas transmitidas a travs de cualquier medio son interferidas en mayor
o menor grado por seales extraas, adems de distorsionarse, en cuyo caso es muy difcil,
si no imposible, recuperar la informacin original. Las seales digitales pueden, por el
contrario, regenerarse mediante tcnicas de conformado, deteccin y correccin de error,
etc.
La precisin de las medidas o registros, en el caso del tratamiento analgico, depende
esencialmente de la propia precisin o calidad de los equipos o componentes. Por el contrario, si se hace uso de tcnicas digitales, la exactitud depende nicamente del grado de
cuantificacin establecido para la codificacin de la informacin, es decir, del nmero de
bits.
Se dispone actualmente de una gran variedad de circuitos digitales tanto convencionales
como programables, de bajo costo, lo que desplaza las tendencias de diseo hacia el
tratamiento digital.
De acuerdo con estas consideraciones, podra afirmarse que un sistema de captacin y
tratamiento de datos concebido con criterios modernos incluir en general, aunque no exclusivamente:
Un conjunto de sensores, en su mayor parte analgicos, seguidos por las correspondientes
unidades de amplificacin (analgicas) y dispositivos de acondicionamiento necesarios en
cada caso.
Uno o varios convertidores de analgico a digital (A/D).
Un sistema de tratamiento digital convencional o programable (microprocesadores, microcontroladores, procesadores de seales digitales (DSP)), usualmente asociado con subsistemas de archivo de datos.
Un sistema de presentacin de datos en forma analgica (lo que requiere una segunda
conversin), pseudoanalgica (grficos mediante impresora, instrumentacin virtual, dispositivos indicadores de barras, etc.) o numrica.
Posiblemente varios canales de tratamiento totalmente analgico con presentacin de datos
en tiempo real.
10
1.4
Sensores primarios
Las magnitudes fsicas tratadas con sistemas electrnicos se deben convertir en seales elctricas,
como primer paso en el proceso de captacin. Los transductores son los dispositivos encargados
de llevar a cabo esta tranformacin. Los transductores incluyen siempre un componente o
componentes sensibles que reaccionan frente a la magnitud a medir o detectar proporcionando
una primera seal elctrica representativa de aquella, que usualmente precisa de algn tipo de
tratamiento analgico (amplificacin, adaptacin de impedancias, etc.). Estas clulas sensibles
son los denominados sensores o captadores.
Los sensores aprovechan frecuentemente las propiedades de ciertos materiales que se convierten en generadores de seal en presencia de determinadas excitaciones (termopares, cristales
piezoelctricos, etc.). En otros casos, se recurre a utilizar elementos de circuito pasivos (resistencias, condensadores, etc.) cuyos valores varan en funcin de la magnitud a convertir
y, en definitiva, los circuitos que forman parte generan seales elctricas equivalentes a dicha
magnitud.
1.4.1
Aspectos Generales de los Sensores
El trmino transductor a menudo se utiliza en forma intercambiable con el trmino sensor.

La Sociedad de Instrumentacin Americana (Instrument Society of America (ISA)), define un
sensor como sinnimo de transductor. Esta definicin aparece publicada como Standard S37.1
en 1969 (ISA,1969). Esta norma, Electrical Transducer Nomenclature and Terminology, define
un transductor (sensor) como un dispositivo que proporciona una salida til en respuesta a
una excitacin especfica. (a device which provides a usable output in response to a specified
measurand ). Una magnitud medible (measurand ) se define como una cantidad fsica, propiedad
o condicin medible (a physical quantity, property or condition which is measured ). Una
respuesta (output) se define como una cantidad elctrica (electrical quantity). Esta definicin
es especfica a un transductor elctrico. Sin embargo, en un sentido amplio, un transductor
puede tener una respuesta que puede definirse como una cantidad fsica, propiedad o condicin.
Se puede dar la siguiente
Definicin 1 Un transductor es un dispositivo o sistema que produce una seal elctrica la cual
es funcin de una magnitud de entrada utilizando componentes sensibles que se comportan como
elementos variables o como generadores de seal.
Los sensores, por supuesto, no estn limitados a la medicin de cantidades fsicas. tambin
son utilizados para medir propiedades qumicas y biolgicas. Similarmente, el rango de respuestas tiles no tienen que estar restringidas a cantidades elctricas. Se han clasificado los sensores
en grupos donde la excitacin (seal de entrada) y la respuesta del sensor (salida) puede ser una
de las siguientes:
Mecnica v. gr., longitud, rea, volumen, flujo de masa, fuerza, torque, presin, velocidad,
ace-leracin, posicin, longitud de onda acstica, intensidad acstica.
1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR
11
Trmica.v. gr., temperatura, calor, entropa, flujo de calor.

Elctrica v. gr., tensin, corriente, carga, resistencia, inductancia, capacitancia, constante
dielctrica, polarizacin, campo elctrico, frecuencia, momento dipolar.
Magntica v. gr., intensidad de campo, densidad de flujo, momento magntico, permeabilidad.
Radiante v. gr., intensidad, longitud de onda, polarizacin, fase, reflectancia, transmitancia, ndice de refraccin.
Qumica v. gr., composicin, concentracin, oxidacin/reduccin, tasa de reaccin, pH.
Un sensor utiliza un principio de transduccin fsico o qumico para convertir un tipo de seal
de entrada a un tipo de seal de salida. Un sensor puede emplear uno o ms de los principios
indicados arriba para producir una seal de salida prctica. Las aplicaciones en electrnica
industrial generalmente requieren la salida elctrica de un sensor. La Tabla 1.1 muestra ejemplos
de los principios de transduccin fsicos y qumicos que se pueden utilizar en los sensores.
1.5
Estructura de un transductor
Los transductores se presentan en general en dos configuraciones fundamentales:

Transductores en lazo abierto
Transductores en lazo cerrado
1.5.1
Transductores en lazo abierto
En la Fig. 1.7 se representa un esquema general de un transductor en configuracin de lazo

abierto.
La seal de entrada se aplica a una sonda o diipositivo que est directamente en contacto
con el fenmeno a cuantificar. En muchos casos la sonda efecta una primera conversin de
magnitud para su mejor adaptacin al sistema de medida. Por ejemplo, para medir la velocidad
de un fluido puede utilizarse como sonda un tubo de Pitot, que transforma la velocidad en
diferencia de presiones; para medir una aceleracin se utiliza como sonda una masa de inercia
que transforma la aceleracin en fuerza.
Sonda
Elementos
Intermedios
Sensor
Figura 1.7: Transductor en lazo abierto.
Preamp.
12

Tabla 1.1: Principios de Transduccin Fsica y Qumica
Sal
Ent
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
(Fluido)
Efectos
mecnicos y
acsticos
(diafragma,
balanza de
gravedad,
ecosonda)
Expansin
trmica
(cinta bimetlica, termmetros de gas
y de lquido
en capilar de
vidrio) Efecto
radiomtrico
Efectos de
friccin (calormetro
de friccin).
Efectos de
enfriamiento.
Flumetros
trmicos
Piezoelectricidad. Piezoresistividad
Efectos R, L, C
Efectos
acsticos
dielctricos
Efectos magnetomecnicos (efectos

piezomagntico, magnetoelstico,
anillo de
Rowland)
Temperatura
de Curie
Sistemas fotoelsticos (birefringencia

inducida de
esfuerzo). Interfermetros
Efecto Sagnac
Efecto Doppler
Efecto termoptico
(en cristales
lquidos)
Emisin
radiante
Activacin de
reaccin
disocia
cin
trmica
Efectos electrocinticos, electrostrictivos y

electromecnicos (piezoelectricidad,
electrmetros,
ley de Ampre)
Efectos magnetomecnicos (magnetostric
cin, magnetmetro).
Efectos Joule
y Guillemin
Presin de
radiacin.
Molino de
luz de
Crooke
Higrmetro
Celda de
electrodeposicin
Efecto fotoacstico
Calentamiento
Joule
(Resistivo)
Efecto
Peltier
Ley de Biot
Savart
Medidores
y registradores electromagnticos
Efectos electropticos
(Efecto Kerr)
Efecto
Pockels
Electroluminiscencia
Almacenamiento magntico- Efecto

Barnett
Efecto Einsteinde Haas
Efecto de Haasvan Alphen
Efecto Curie
Metro de
radiacin
Efectos magnetopticos
(efecto
Faraday)
Efectos
Cotton
Mouton
y Kerr
Efecto foto
refractivo
Biestabi
lidad
ptica
Espectroscopa
(emisin y
absorcin)
Quimiluminiscencia
Efecto termomagntico (efecto

Righi-Leduc)
Efecto galvanomagntico
(Ettingshausen)
Termopila
de
bolmetro
Calormetro
Celda de
conductividad
trmica
Efectos termoelctricos (termorresistencia,

emisin termoinica, superconductividad).
Efecto Seebeck.
Piroelectricidad
Ruido trmico
(Johnson)
Colectores de
Carga
Probeta de
Langmuir
Electrets
Efectos termomagnticos
(Ettingshausen
Nernst). Efectos
galvanomagnticos (efecto
Hall, magnetoresistencia)
Efectos fotoelctricos (fotovoltaico, fotoconductivo, fotogalvnico
y fotodielctrico)
Potenciometra
Conductimetra
Amperometra
Polarografa
Ionizacin de fla
ma. Efecto Volta
Efecto de campo
sensible a gases
Resonancia
nuclear
magntica
Electr
lisis
Electro
migracin
Foto
sntesis
diso
ciacin
13
A continuacin de la sonda, pueden estar dispuestos determinados elementos intermedios

cuya misin es adaptar la salida de la sonda al sensor o captador primario, el dispositivo que
realmete efecta la conversin a seal elctrica. Son ejemplos de elementos intermedios los pistones y resortes antagonistas, que se utilizan en ciertos transductores de presin para acoplar un
conducto de entrada de precisin (sonda) a un sensor pasivo, los sistemas de palancas empleados
en ciertos transductores de desplazamiento para amplificar mecnicamente el movimiento de un
palpador (sonda), etc.
De lo anterior se deduce que depende exclusivamente de la sonda y de los elementos intermedios el que un mismo sensor primario se utilice para medir magnitudes diferentes.
La seal de salida del sensor (directa en el caso de los sensores generadores, o proporcionada
por un circuito en el caso de los sensores de parmetro variable), puede ser amplificada en un
preamplificador incorporado al transductor, como se indica en la Fig. 1.7.
La inclusin de un preamplificador en el transductor es una prctica muy recomendable,
por cuanto permite transmitir la seal de salida hasta los equipos de tratamiento con mejores
prestaciones globales en lo que se refiere a captacin de interferencias, especialmente si dicha
transmisin se realiza a larga distancia.
Zn
Transductor
+
Vn
-
+
Vs
-
Zs
Equipo de
tratamiento
+
vo ZL
-
Figura 1.8: Circuito equivalente para un transductor incluyendo seal de interferencia.

Las ventajas de la preamplificacin se comprenden analizando la Fig. 1.8, que representa
esquemticamente un sistema formado por un transductor de impedancia de salida ZL y tensin
de salida v0 conectado a un equipo de tratamiento de seal de impedancia de entrada Zs , al que
llega una tensin vs . Se supone que existe una fuente de interferencia de tensin vn acoplada a
las lneas de conexin a travs de una impedancia Zn (generalmente capacitiva). En este modelo,
la verdadera seal de entrada al sistema de tratamiento de seal resulta falseada, deducindose
del circuito de la Fig. 1.8 la siguiente expresin:
v0 =
ZL Zn vs + ZL Zs vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.1)
que demuestra que en la seal v0 de entrada al equipo de tratamiento existe una componente
debida a la seal vs de salida del transductor y otra debida a la interferencia, cuyo valor es:
14
vno =
Zs ZL
vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.2)
que corresponde al segundo sumando de la ecuacin (1.5.1).

El error relativo debido a interferencia ser:
i =
vno
Zs ZL
vn
=
v0
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn v0
(1.5.3)
De esta ecuacin se extraen dos conclusiones importantes

El error relativo de interferencia disminuye en la misma proporcin en que aumenta la
seal de salida del transductor.
El error relativo de interferencia disminuye al bajar la impedancia de salida del transductor,
siendo nulo cuando lo es dicha impedancia.
De acuerdo a esta ltima conclusin, se puede mejorar el sistema utilizando en el transductor
preamplificadores con la mayor preamplificacin posible y con la impedancia de salida ms baja
posible.
La primera de las condiciones tiene limitaciones prcticas (la saturacin de las etapas amplificadoras). La segunda, por el contrario, se consigue fcilmente utilizando amplificadores
operacionales, los cuales tienen impedancias de salida en lazo cerrado prcticamente nulas en
los circuitos usuales. Esta ltima condicin es muy importante puesto que permite anular virtualmente el error de interferencia cuando la fuente de interferencia est acoplada de acuerdo
con el modelo propuesto (caso, por ejemplo, del acoplamiento capacitivo responsable de muchas
de las interferencias captadas por los sistemas de amplificacin de seales dbiles).
1.5.2
Transductores de lazo cerrado o servotransductores
Una disposicin que se utiliza en ciertos transductores de alta precisin, corresponde a la configuracin en lazo cerrado de los denominados servotransductores, cuyo esquema bsico se representa
en la Fig. 1.9.
Sonda
+
_
Sensor de
captacin
Amplificador
Elemento
Intermedio
Figura 1.9: Transductor en lazo cerrado.
Sensor de
lectura
15
Como puede verse en dicha figura, el sistema incluye dos sensores primarios, que aparecen
con las denominaciones de sensor de captacin y sensor de lectura. La magnitud vi de entrada
se aplica al sensor de captacin a travs de la sonda, cuya magnitud de salida es Ks vi (donde
Ks es la funcin de transferencia de la sonda), y de un sistema de acoplamiento diferencial.
La salida del sensor de captacin es amplificada y aplicada a un elemento intermedio, frecuentemente de naturaleza mecnica, de funcin de transferencia . La magnitud de salida del
elemento intermedio se resta de la salida de la sonda en el mencionado sistema de acoplamiento
diferencial y aparece adems como seal de salida del servotransductor despus de ser convertida
en seal elctrica en el sensor de lectura.
Dentro de cada bloque se indica su funcin de transferencia. La seal de salida del sistema
luego de hacer los clculos correspondientes ser:
AKs Kc Kl
vi
1 + AKc
que, para grandes valores de la amplificacin A, toma la forma aproximada
v0 =
v0
= Ks Kl vi
(1.5.4)
(1.5.5)
Por lo tanto, la seal de salida del sensor de lectura es proporcional a la magnitud de entrada.
Como puede observarse, en el caso de alta amplificacin, el lazo de realimentacin tiende a anular
la diferencia entre la salida de la sonda y el elemento intermedio.
La gran precisin de los servotransductores queda justificada teniendo en cuenta el desarrollo
anterior, por cuanto:
La medida no resulta afectada por las imperfecciones del sensor de captacin, del amplificador y del elemento intermedio.
La precisin de la seal de salida slo depende de la sonda (dispositivo tambin presente en
los transductores de lazo abierto) y del sensor de lectura, el cual funciona en condiciones
muy favorables al recibir como entrada una magnitud ya amplificada.
Las ventajas ms importantes de estos dispositivos son las siguientes:
Salida de alto nivel
Gran precisin
Correccin continua de las medidas
Alta resolucin
Entre sus desventajas, estn las siguientes:
Costo elevado
Poca robustez
Dificultades en la respuesta dinmica.
16
Tabla 1.2: Sensores analgicos directos

Potenciomtricos
Termorresistivos
Fotorresistivos
De resistencia variable
Piezorresistivos
Extensomtricos
Electroqumicos
De adsorcin
Geometra variable
De parmetro variable De capacidad variable
Dielctrico variable
De inductancia variable
De transformador variable
Fotoemisivos
Fotoelctricos
Fotocontrolados
Piezoelctricos
Fotovoltaicos
Termoelctricos
Generadores de seal
Magnetoelctricos
Electrocinticos
Electroqumicos
De geometra variable
Mixtos
De efecto Hall
Bioelctricos
1.6. CLASIFICACIN
17
Tabla 1.3: Sensores indirectos
Gravimtricos
De elemento vibrante
Moduladores de frecuencia
Tensomtricos
De condensador
De reactancia variable
De inductancia
Generadores de frecuencia
Digitales
1.6
Electromagnticos
Fotoelctricos
De efecto Hall
Codificadores angulares
Codificadores lineales
Fotoelsticos
Clasificacin
Considerando la naturaleza de la seal elctrica generada y el modo de obtenerla y atendiendo

a los principios fsicos en los cuales de basan, se propone la clasificacin [23] que se muestra en
la Tablas 1.2 y 1.3. En el desarrollo del texto se seguir este esquema, con especial atencin a
los sensores ms utilizados.
Se denominan sensores anlogos directos a los captadores primarios cuya seal de salida
analgica representan directamente, sin ningn tipo de proceso de interpretacin adicional, la
magnitud de entrada.
Dentro de la categara de sensores analgicos directos se distinguen los siguientes tipos:
Sensores de parmetro variable: Son componentes de circuito pasivo cuyo valor vara
en funcin de la magnitud de entrada. Para su funcionamiento es imprescindible que
formen parte de circuitos concretos los cuales requieren alimentacin externa.
Sensores generadores de seal: Son dispositivos que generan seales representativas de
las magnitudes a medir en forma autnoma, sin requerir de ninguna fuente de alimentacin.
Sensores Mixtos: Son dispositivos que, de algn modo, tienen la doble naturaleza de
generadores (comportamiento activo) y de componentes pasivos (forman parte necesariamente de circuitos con fuentes de alimentacin asociadas)
Los sensores indirectos son captadores en donde el valor instantneo de la seal de salida no representa directamente la magnitud de entrada, siendo necesaria una interpretacin o
decodificacin posterior para obtener la informacin relativa a la magnitud a medir.
Se exponen los sensores de este grupo que proporcionan seales peridicas, cuya frecuencia
fundamental contiene la informacin sobre la magnitud de entrada. Tambin se exponen algunos
tipos de sensores digitales.
18
Es de observar que muchos de los sensores indirectos utilizan realmente clulas sensibles las
cuales pertenecen al grupo de los sensores analgicos directos, variando nicamente su modo de
funcionamiento y los circuitos de los cuales forman parte.
Captulo 2
Caractersticas estticas de un
sistema de medida
2.1
Introduccin
Este captulo tiene que ver con caractersticas estticas o de estado estacionario; stas son
las relaciones que pueden ocurrir entre la salida y la entrada u de un elemento cuando u
es o bien un valor constante, o valor que cambia muy lentamente. El comportamiento del
sistema de medida est condicionado por el sensor empleado. Se plantean dos conceptos bsicos
relativos al concepto de la medida: exactitud y precisin. La exactitud est relacionada con las
caractersticas fundamentales de la estructura de la materia y est acotada por el principio de
incertidumbre. La precisin tiene que ver esencialmente con el sistema empleado para realizar
la medicin. Toda medida lleva asociado inevitablemente un error. El error del sistema es
una medida de la diferencia entre el valor del punto de consigna (set point) de la variable
controlada y el valor real de la variable que entrega la dinmica del sistema. De acuerdo con la
instrumentacin utilizada, puede estimarse la magnitud del error, adoptndose las precauciones
necesarias para reducir su valor a lmites aceptables de acuerdo con la precisin requerida. La
determinacin del error supone el conocimiento del valor exacto, considerndose en la prctica
como valores exactos los derivados de los patrones de medida disponibles. En muchos casos; sin
embargo, se toman como patrones las curvas de calibracin suministradas por los fabricantes
de los equipos de medida cuando no es necesaria una precisin extrema.
2.2
Caractersticas Sistemticas
Las caratersticas sistemticas son aquellas que pueden ser cuantificadas exactamente por medios
grficos o matemticos. Estas son distintas de las caractersticas estticas las cuales no pueden
ser cuantificadas exactamente.
1. Rango El rango de entrada de un elemento est especificado por los valores mximos y
19
20
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

mnimos de u, es decir, umin a umax . El rango de salida de un elemento est especificado
por los valores mximos y mnimos de , es decir, min a max . As, un transductor de
presin puede tener un rango de entrada de 0 a 104 P a y un rango de salida de 4 a 20 mA;
una termocupla puede tener un rango de entrada de 100 a 250 C y un rango de salida de
4 a 10 mV .
2. Alcance Es la mxima variacin de entrada o salida, por ejemplo, el alcance de entrada es
umax umin , y el alcance de salida es max min . As, en los ejemplos del prrafo anterior,
el transductor de presin tiene un alcance en la entrada de 104 P a y un alcance de salida
de 16mA; la termocupla tiene un alcance de entrada de 150 C y un alcance de salida de
6mV .
3. Lnea recta ideal. Se dice que un elemento es ideal si los valores respectivos de u y de
corresponden a una lnea recta. La lnea recta ideal conecta el punto mnimo A(umin , min )
al punto mximo B(umax , max ) y por lo tanto tiene la ecuacin:
max min
(2.2.1)
min =
(u umin )
umax umin
o sea,
ideal = ku + a
Ecuacin de una lnea recta ideal
donde
k = pendiente de la recta ideal =
y
max min
umax umin
a = intercepto de la recta = min kumin
(2.2.2)
(2.2.3)
(2.2.4)
As, la lnea recta para el transductor de presin anterior es

= 1.6 103 u + 4.0
4. No linealidad En muchos casos la relacin de la lnea recta definida en las ecuaciones
(2.2.2) y (2.2.3) no se cumple y se dice que el elemento es no lineal. La no linealidad
puede ser definida (Fig. 2.1) en trminos de una funcin N (u) la cual es la diferencia entre
el comportamiento real y el ideal de la lnea recta.Es decir,
N (u) = (u) (ku + a)
o
(u) = ku + a + N (u)
(2.2.5)
La no linealidad es frecuentemente cuantificada en trminos de la mxima no linealidad

expresada como un porcentaje de la deflexin a plena escala (f.s.d en ingls), es decir,
N
como un porcentaje del alcance. As
Mxima no linealidad como porcentaje de la f.s.d. =
N
100%
max min
(2.2.6)
2.2. CARACTERSTICAS SISTEMTICAS
21
Figura 2.1: Definicin de no linealidad.

En muchos casos (u) y por lo tanto N (u) se pueden expresar como polinomios de u, es
decir,
m
X
ai ui
(2.2.7)
(u) = a0 + a1 u + a2 u2 + + am um =
i=0
Un ejemplo es la variacin de temperatura como consecuencia de la variacin de la tensin termoelctrica en la unin de dos metales distintos. Para una termocupla tipo T
(cobre-constantan), los primeros cuatro trminos en el polinomio que relacionan la tensin
E(T )V y la temperatura T de la unin en C son:
E(T ) = 38.74T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T ) hasta T 8 (2.2.8)
donde O(T ) significa trminos de orden superior. Para el rango desde 0 hasta 400 C,
puesto que E = 0 mV a T = 0 C y E = 20.869 mV a T = 400 C (ver Fig. 2.2), la
ecuacin de la lnea recta ideal es:
Eideal = 52.17T
(2.2.9)
y la funcin de correccin no lineal es:

N (T ) = E(T )Eideal = 13.43T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T )
(2.2.10)
En algunos casos expresiones diferentes de las polinomiales son ms apropiadas; por ejemplo, la resistencia R(T ) de un termistor a T C est dada por:
3300
R(T ) = 0.04 exp
T + 273
5. Sensibilidad. Esta es la rata de cambio de con respecto a u, es decir,
d
dN
=K+
du
du
(2.2.11)
22
Figura 2.2: Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i).

As, para un elemento ideal
d
=K
(2.2.12)
du
es decir, para el transductor de presin anterior, d/du = 1.6 103 mA/P a. Para la
termocupla cobre-constantan la sensibilidad dE/dT a T C est dada por:
dE
= 38.74 + 6.638 102 T + 6.213 104 T 2 8.780 106 T 3 + O(T )
dT
(2.2.13)
la cual tiene un valor aproximado de 50V C 1 a 200 C.

6. Efectos ambientales En general, la salida depende no solamente de la seal de entrada u
sino de entradas ambientales tales como la temperatura ambiente, la presin atmosfrica,
la humedad relativa, la fuente de alimentacin, etc. As, si la ecuacin (2.2.5) representa
adecuadamente el comportamiento del elemento bajo condiciones ambientales estndar,
es decir, 25 C temperatura ambiente, presin atmosfrica 1000 milibars, 80% de humedad
relativa, fuente de alimentacin de 10V ; entonces la ecuacin debe ser modificada para
tomar en cuenta las desviaciones en las condiciones ambientales estndar. Hay dos tipos
principales de entradas ambientales:
(a) Una entrada modificadora la cual hace que la sensibilidad lineal del elemento cambie. As, si uM es la desviacin en una entrada ambiental modificadora del valor
estndar (uM es cero en condiciones estndar), entonces esta produce un cambio en
la sensibilidad lineal desde k hasta k + kM uM (Fig. 2.3(a)).
23
Sesgo de Cero =
Pendiente =
Pendiente =
Sesgo de Cero =
Figura 2.3: Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
Figura 2.4: Potencimetro.

(b) Una entrada interferente la cual hace que cambie la intercepcin o sesgo de cero
del elemento. As, si uI es la desviacin en una entrada ambiental interferente para
el valor estndar (uI es cero en condiciones estndar); entonces esto produce un
cambio en la intercepcin por cero de a a a + kI uI (Fig. 2.3(b)). Los coeficientes
kM , kI son referidos como constantes de acoplamiento ambiental o sensibilidades. Por
lo tanto, se debe ahora corregir la ecuacin (2.2.5), reemplazando ku con (k+kM uM )u
y reemplazando a con a + kI uI para obtener:
= ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI
(2.2.14)
Un ejemplo de una entrada modificadora es la variacin Vs en el voltaje de alimentacin Vs del sensor de desplazamiento potenciomtrico mostrado en la Fig. 2.4.
Un ejemplo de una entrada interferente est dado por las variaciones en la temperatura de unin de referencia T2 de una termocupla.
7. Histresis. Para un valor dado de u, la salida es diferente dependiendo de si u est
aumentando o est disminuyendo. La histresis es la diferencia entre estos dos valores de
(Fig. 2.5), es decir,
(2.2.15)
H(u) = (u)u (u)u
24

expresada
La histresis se cuantifica usualmente en trminos de la histresis mxima H,
Figura 2.5: Histresis.

como un porcentaje de la f.s.d., es decir, el alcance. As,
Hmax
fsd %
H
100%
max min
(2.2.16)
Un simple sistema de engranajes (Fig. 2.6 ) para convertir movimiento lineal en rotatorio
Figura 2.6: Juego en engranajes. Ejemplo de histresis.

proporciona un buen ejemplo de histresis. Debido al juego en los dientes de los engranajes, la rotacin , para un valor dado de x, es diferente dependiendo de la direccin del
movimiento lineal.
8. Resolucin. Algunos elementos se caracterizan por el incremento de la salida en una serie de
pasos discretos o saltos en respuesta a un incremento continuo en la entrada. La resolucin
se define como el cambio ms grande en u que puede ocurrir sin el cambio correspondiente
25
en . As, en la Fig. 2.7 la resolucin se define en trminos del valor uR del paso ms
ancho; la resolucin expresada como un porcentaje del f.s.d. es por lo tanto
Res % =
uR
100%
umax umin
(2.2.17)
Un ejemplo comn es un potencimetro de alambre devanado, en respuesta a un continuo
x
u
Figura 2.7: Ejemplo de resolucin y de potencimetro.

incremento en x la resistencia R se incrementa en una serie de pasos; el tamao de cada
paso ser igual a la resistencia de una vuelta. As, la resolucin de un potencimetro de
100 vueltas es de 1%. Otro ejemplo es un convertidor anlogo a digital; aqu la seal
digital de salida responde en pasos discretos a una tensin de entrada que se incrementa
continuamente; la resolucin es el cambio en el voltaje requerido para causar que el cdigo
de salida cambie con el bit menos significativo.
p ()
1
2h
2h
h
h
Figura 2.8: Bandas de error y funcin de probabilidad.

9. Uso y envejecimiento.Estas causas pueden afectar las caractersticas de un elemento, es
decir, k y a de modo que cambien lenta pero sistemticamente a travs de su vida. Un
26

ejemplo es la rigidez de un resorte k(t) la cual decrementa lentamente con el tiempo debido
al uso, es decir,
(2.2.18)
k(t) = k0 bt
donde k0 es la rigidez inicial y b es una constante. Otro ejemplo corresponde a las constantes a1 , a2 , etc. de una termocupla que mide la temperatura de los gases generados en
un horno de fragmentacin, las cuales cambian sistemticamente con el tiempo debido a
cambios qumicos en los metales de la termocupla.
10. Bandas de error. Los efectos de las no linealidades, la histresis y la resolucin en muchos
sensores modernos son tan pequeos que es difcil y no vale la pena cuantificar exactamente
cada efecto individual. En estos casos el fabricante define el comportamiento del elemento
en trminos de bandas de error (ver Fig. 2.8). Aqu el fabricante establece que para
cualquier valor de u, la salida estar entre h del valor ideal de la lnea recta ideal.
Aqu un enunciado exacto o sistemtico del comportamiento se reemplaza por un enunciado
estadstico en trminos de una funcin densidad de probabilidad p(). En
R x2 general, una
funcin densidad de probabilidad p(x) se define de modo que la integral x1 p(x)dx es la
p (x)
Densidad
de probabilidad
Figura 2.9: Funcin densidad de probabilidad.

probabilidad Px1 ,x2 de que x caiga entre x1 y x2 . En este caso la funcin densidad de
probabilidad es rectangular (Fig. 2.9), es decir,
1
ideal h ideal + h
2h
p() =
(2.2.19)
0
> ideal + h
0
ideal h >
Se puede observar que el rea del rectngulo es igual a la unidad: esta es la probabilidad
de que caiga entre ideal h y ideal + h.
2.3
Modelo generalizado de un elemento
Si los efectos de histresis y resolucin no estn presentes en un elemento pero los efectos ambientales y no lineales s, entonces la salida de estado estacionario del elemento estar dada
2.4. IDENTIFICACIN DE CARACTERSTICAS ESTTICAS. CALIBRACIN
27
por
= ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI
(2.3.1)
La Fig. 2.10 muestra esta ecuacin en forma de diagrama de bloques para representar las
Modificador
Interferente
Entrada
Salida
Esttico
Dinmico
Figura 2.10: Modelo general de un elemento.

caractersticas estticas de un elemento. Para efectos de completar el diagrama tambin se
muestra la funcin de transferencia G(s) la cual representa las caractersticas dinmicas del
mismo.
2.4
2.4.1
Identificacin de caractersticas estticas. Calibracin

Patrones de medida
Las caractersticas estticas de un elemento se pueden encontrar experimentalmente midiendo

los valores correpondientes de la entrada u, la salida y las entradas ambientales uM , uI ,
cuando u es, o bien un valor constante, o una variable que evoluciona lentamente. Este tipo
de experimento se denomina calibracin. Las medidas de las variables u, , uM uI deben ser
precisas si se desea tener resultados significativos. Los instrumentos y tcnicas utilizadas para
cuantificar estas variables se conocen como patrones de calibracin (Fig. 2.11 ).
La precisin en la medida de una variable es el acercamiento al valor verdadero de la misma.
Se cuantifica en trminos del error de la medida, es decir, la diferencia entre el valor medido y
el valor verdadero. As, la precisin de una galga de presin relativa a un patrn de laboratorio
es la lectura ms cercana al valor verdadero de la presin. Esto conduce al problema bsico de
cmo establecer el verdadero valor de una variable, lo cual conduce a la siguiente
Definicin 2 Se define el valor verdadero de una variable como el valor medido obtenido con
un patrn primario.
28
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
Elemento o sistema
a ser calibrado
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
Figura 2.11: Calibracin de un elemento.

Tabla 2.1: Escala simplificada de rastreabilidad
Incremento
de
precisin
Patrn Primario
Patrn de transferencia
Patrn de laboratorio
Elemento a ser calibrado
v.,gr., patrn de presin del NPL

v.,gr., probador de peso muerto
v.,gr., galga de presin normalizada
v.,gr., transductor de presin
As, la precisin de la galga de presin anterior se cuantifica por la diferencia entre la lectura
de la galga, para una presin dada, y la lectura dada por el patrn de presin definido como
tal. Sin embargo, el fabricante de la galga de presin puede no tener acceso al patrn primario
para medir la precisin de sus productos. l puede medir la precisin de sus galgas relativas
a un patrn intermedio porttil o patrn de transferencia, es decir, un probador de presin de
peso muerto. La precisin del patrn de transferencia debe encontrarse por calibracin respecto
del patrn de presin primario. Esto conduce al concepto de escala de rastreabilidad la cual se
muestra en forma simplificada en la grfica siguiente.
El elemento se calibra usando los patrones del laboratorio, los cuales deben ser calibrados a s
mismos por los patrones de transferencia, y estos a su vez deben ser calibrados usando el patrn
primario. Cada elemento de la escala debe ser ms preciso que el anterior en forma significativa.
Luego de haber introducido los conceptos de patrn y rastreabilidad se puede ahora discutir
Tabla 2.2: Escala de rastreabilidad (Adaptada de Scarr)

Responsabilidad
BIMP y NPL
NPL
NPL o BCS o Industria
BCS o Industria
BCS o Industria
BIPM:
NPL:
BCS:
Longitud
Radiacin laser HeNe
de longitud de onda
de 633 nm
Longitud de onda de fuentes

laser secundarias
Calibracin interferomtrica
laser de calidad de referencia
para patrn de longitud
Calibracin comparativa de calidad

operativa para patrn de longitud
Calibracin de galgas
y de equipos de medida
Medida de la pieza de trabajo

International Bureau of Weights and Measures
National Physical Laboratory
British Calibration Service
Precisin
3 en 1011
1 en 107
1 en 106
1 en 105
1 en 104
29
30
con ms detalle, distintos tipos de patrones. El sistema internacional de medida (SI) incluye
siete unidades bsicas y dos suplementarias que son compiladas y definidas en el Apndice B.
Las unidades de todas las cantidades fsicas pueden ser derivadas de estas unidades bsicas
y suplementarias. En el Reino Unido el Laboratorio Nacional de Fsica (National Physical
Laboratory N.P.L.) es el responsable de la realizacin fsica de todas las unidades bsicas y
muchas de las unidades derivadas correspondientes. El N.P.L. es por lo tanto el guardin de los
patrones primarios en ese pas. Hay patrones secundarios guardados en el Servicio de Calibracin
Britnico (B.C.S.). stos han sido calibrados con los patrones del N.P.L. y estn disponibles
para calibrar los patrones de transferencia.
En el N.P.L., el metro se defini usando la longitud de onda de la radiacin de un lser de
helio-nen estabilizado con yodo. La reproducibilidad de este patrn es de 3 partes en 1011 y la
longitud de onda de la radiacin ha sido relacionada precisamente con la definicin del metro en
trminos de la velocidad de la luz. El patrn primario se usa para calibrar interfermetros de
lser secundarios los cuales a su vez se usan para calibrar cintas, galgas y barras de precisin.
Una escala simplificada de rastreabilidad para longitud se muestra en la Tabla 2.2.
El prototipo internacinal del kilogramo est hecho en platinio-iridio y est guardado en la
Agencia Internacional de Pesos y Medidas (B.I.P.M.) en Pars. El peso de una masa m es la
fuerza mg que experimenta bajo la aceleracin de la gravedad g. As, si el valor local de la
gravedad se conoce de manera precisa, entonces un patrn de fuerza se puede derivar de los
patrones de masa. En el N.P.L., v. gr, las mquinas de peso muerto que cubren un rango de
fuerza de 450N hasta 30M N se usan para calibrar celdas de carga con galgas extensomtricas
y otros transductores de peso.
El amperio ha sido tradicionalmente la unidad bsica elctrica y ha sido efectuado en el
N.P.L. usando la balanza de corriente AyrtonJones; aqu, la fuerza entre dos espiras que llevan
corriente se equilibra con un peso conocido. La precisin de este mtodo est limitada por los
grandes pesos muertos de las bobinas y los moldes y de las muchas medidas necesarias. Por esta
razn se han escogido como unidades bsicas elctricas el faradio y el voltio (o vatio); las otras
unidades tales como el amperio, el ohmio, el henrio y el julio se derivan de estas dos unidades
basicas con unidades de tiempo o de frecuencia, usando la ley de Ohm donde sea necesario.
El faradio fue realizado usando un capacitor calculable basado en el teorema de Thompson
Lampard. Usando puentes a.c., los patrones de capacitancia y frecuencia se pueden usar para
calibrar resistores estndar. El patrn primario del voltio se basa sobre el efecto Josephson en
la superconductividad; ste se usa para calibrar patrones secundarios de voltaje, usualmente las
bateras saturadas de cadmio de Weston. El amperio tambin puede ser llevado a cabo usando
una balanza de corriente modificada. Como antes, la fuerza debida a una corriente I se equilibra
con un peso conocido mg, pero tambin se hace una medicin separada para el voltaje e inducido
en la espira cuando sta se mueve a una velocidad u. Igualando las fuerzas mecnica y elctrica
se obtiene la ecuacin
eI = mgu
(2.4.1)
Se pueden hacer medidas precisas de m, u y e usando patrones secundarios que puedan ser
rastreados de nuevo con los patrones primarios del kilogramo, el metro, el segundo y el voltio.
Tabla 2.3: Puntos fijos

T empe ratura
T90 /K
t90 / C
270.15 a
3a5
268.15
13.8033
259.3467
~17
~256.15
~20.3
~252.85
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
24.5561
54.6584
83.8058
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
505.078
629.677
933.473
1234.93
1337.33
1357.77
248.5939
218.7916
189.3442
38.8344
0.01
29.7646
156.5985
231.928
419.527
660.323
961.78
1064.18
1084.62
Nmero
1
definidos en el ITS90.
Sustancia
Estado
He
eH2
eH2
( He)
eH2
( He)
Ne
O2
Ar
Hg
H2 O
Ga
In
Sn
Zn
Al
Ag
Au
Cu
T
V
G
V
G
T
T
T
T
T
M
F
F
F
F
F
F
F
Wr (T90 )
0.00119007
0.00844974
0.09171804
0.21585975
0.84414211
1.00000000
1.11813889
1.60980185
1.89279768
2.56891730
3.37600860
4.28642053
31
32

Tabla 2.4: Efecto de la presin sobre algunos puntos definidos fijos.
Variacin con
Valor de asignacin
Temperatura
profundidad,
de temperatura
con
presin,
p
lambda
Substancia
en equilibrio
dT /dp
dT /d
108 KPa1
103 Km1
T90 /K
e-Hidrgeno (T)
Nen (T)
Oxgeno (T)
Argn (T)
13.8033
24.5561
54.3584
83.8058
34
16
12
25
0.25
1.9
1.5
3.3
Mercurio (T)
Agua (T)
Galio
Indio
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
5.4
7.5
2.0
4.9
7.1
0.73
1.2
3.3
Estao
Zinc
Aluminio
Plata
505.078
692.677
933.473
1234.93
3.3
4.3
7.0
6.0
2.2
2.7
1.6
5.4
Oro
Cobre
1337.33
1357.77
6.1
3.3
10.0
2.6
Idealmente se debe definir la temperatura usando la escala termodinmica, es decir la relacin

P V = R
(2.4.2)
entre la presin P y la temperatura de un volumen fijo V de un gas ideal. Debido a la limitada

reproducibilidad de los termmetros reales de gas, se proyect la Escala Prctica Internacional
de Temperatura (I.T.P.S.). Esta se muestra en la Tabla 2.3 y consiste de
a Puntos fijos altamente reproducibles correspondientes a los puntos de fusin y ebullicin o
puntos triples de sustancias puras bajo condiciones especficas;
b Instrumentos patrones con una salida conocida versus una relacin de temperatura obtenida
por calibracin de los puntos fijos.
Los instrumentos se interpolan entre los puntos fijos. En la Tabla 2.4 se muestran los efectos
de la variacin de presin sobre los valores definidos de la temperatura.
2.5. MEDIDAS EXPERIMENTALES Y EVALUACIN DE RESULTADOS
33
Los nmeros asignados a los puntos fijos son tales que hay exactamente 100K entre el punto
de congelamiento (273.15K) y el punto de ebullicin (373.15K) del agua. Esto significa que un
cambio de 1K es igual al cambio de 1 C en la antigua escala Celsius. La relacin exacta entre
las dos escalas es
K = T C + 273.15
Los instrumentos de interpolacin mencionados en la tabla se usan para calibrar los intrumentos patrones secundarios; v. gr., un termmetro por interpolacin de resistencia de platino
puede ser usado para calibrar un segundo termmetro de resistencia de platino.
Los patrones disponibles para las cantidades basicas, es decir, longitud, masa, tiempo, corriente y temperatura, permiten que se realizen patrones para cantidades derivadas. Esto se ilustra
en los mtodos para calibrar medidores de flujo de lquidos. El promedio de flujo real a travs
del metro se encuentra pesando la cantidad de agua recolectada en un tiempo dado, as que la
precisin con que se mide el flujo depende de la precisin de los patrones de peso y tiempo. De
manera similar los patrones de presin se pueden derivar de los de fuerza y rea (longitud).
2.5
Medidas experimentales y evaluacin de resultados
El experimento de calibracin se divide en tres partes principales.

1. vs u con uM = uI = 0. Idealmente esta prueba podr ser tomada bajo condiciones
ambientales estndar tal que uM = uI = 0, si esto no es posible todas las entradas
ambientales debern medirse. u debe incrementarse lentamente desde umin hasta umax y
los valores correspondientes de u y debern ser registrados a intervalos del 10% del alcance
(es decir, 11 lecturas), dejando tiempo suficiente para que la salida se estabilice antes de
tomar una nueva lectura. Se tomarn otros 11 pares de lecturas cuando se decremente
lentamente u desde umax hasta umin . El proceso completo deber repetirse dos veces ms
(arriba y abajo) hasta obtener dos conjuntos de datos: un conjunto arriba (ui , i )I y
un conjunto abajo (uj , j )I , i, j = 1, 2, . . . , n (n = 33).
Hay paquetes de regresin disponibles paraP
la mayora de las computadoras, los cuales
m
q
ajustan a un polinomio, es decir, (u) =
q=0 aq u para un conjunto de n datos de
puntos. Esos paquetes usan un criterio de mnimos cuadrados. Si di es la desviacin
del valor polinomial (ui ) para los valores i , entonces di = (ui ) i . El programa
encuentra un conjunto de coeficientes
a0 , a1 , a2 , etc., tales que la suma de los cuadrados
P
de las desviaciones es decir ni=1 d2i es mnima. Esto involucra la solucin de un conjunto
de ecuaciones lineales [15].
Para detectar cualquier forma de histresis, se debern realizar regresiones separadas sobre
los dos conjuntos de datos (ui , i )I , (uj , j )I , y obtener dos polinomios
(u)I =
m
X
q=0
aq uq
(u)I =
m
X
q=0
aq uq
(2.5.1)
34
Abajo
Arriba
(a)
(b)
Figura 2.12: (a) Histresis significativa (b) Histresis no significativa.

Si la histresis es significativa, entonces la separacin de las dos curvas ser mayor que
la dispersin de los puntos de datos alrededor de cada curva individual (Fig. 2.12(a)) La
histresis H(u) est entonces dada por la ecuacin (2.2.15), es decir,
H(u) = (u)u (u)u
(2.5.2)
Si, por otra parte, la dispersin de los puntos alrededor de cada curva es ms grande que la
separacin de las curvas (Fig. 2.12(b)), entonces H no es significativo y los dos conjuntos
de datos se pueden entonces combinar y as obtener un solo polinomio (u). La pendiente
k y el cruce por cero a de la lnea recta ideal unen los puntos mnimo y mximo (umin , min )
y (umax , max ) y pueden hallarse de la ecuacin (2.2.3). La funcin no lineal N (u) puede
entonces encontrarse usando (2.2.5):
N (u) = (u) (ku + a)
(2.5.3)
Los sensores de temperatura son frecuentemente calibrados usando puntos fijos apropiados
en lugar de un instrumento patrn. Por ejemplo, una termocupla puede ser calibrada
entre 0 y 500 C midiendo la fem en el hielo, el vapor y el punto zinc. Si la relacin fem
temperatura se representa por la ecuacin cbica E = a1 T + a2 T 2 + a3 T 3 , entonces los
coeficientes a1 , a2 , a3 , se pueden encontrar resolviendo tres ecuaciones simultaneas.
2. vs uM , uI con u = cte. Primero se necesita encontrar cuales entradas ambientales son
interferentes, es decir, afectan el cruce por cero a. La entrada u se mantiene constante
2.5. MEDIDAS EXPERIMENTALES Y EVALUACIN DE RESULTADOS
35
en u = umin y una entrada ambiental se cambia por una cantidad conocida, el resto se
mantiene en valores estndar. Si hay un cambio resultante en , entonces la entrada uI
est interfiriendo y el valor de los coeficientes correspondientes kI estarn dados por kI =
/uI . Si no hay cambio en , entonces la entrada no es interferente. El proceso se repite
hasta que todas las entradas interferentes sean identificadas y los valores correspondientes
de kI sean encontrados.
Se necesita ahora identificar las entradas modificadoras, es decir, las que afectan la sensibilidad del elemento. La entrada u se mantiene constante en el valor medio del rango
1
2 (umin +umax ) y cada entrada ambiental se vara a su vez por una cantidad conocida. Si un
cambio en la entrada produce un cambio en y no es una entrada interferente, entonces
esta debe ser una entrada modificadora uM y el valor del coeficiente correspondiente kM
estar dado por:
1
2
kM =
=
(2.5.4)
u uM
(umin + umax ) uM
Supngase que un cambio en la entrada produce un cambio en y sta ya ha sido
identificada como una entrada interferente con un valor conocido kI . Entonces se debe
calcular un valor no cero de kM antes de que se pueda asegurar que la entrada es tambin
modificadora. Puesto que
= kI uI,M + kM uI,M
entonces
kM
(umin +umax )
2
2
=
kI
(umin + umax ) uI,M
(2.5.5)
3. Prueba de repetibilidad. Esta prueba podr ser llevada a cabo en el ambiente de trabajo
normal del elemento, es decir, en la planta, o en un cuarto de control, donde las entradas
ambientales uM , uI estn sujetas a variaciones aleatorias experimentadas usualmente. La
seal de entrada u deber mantenerse constante en un valor medio del rango y la salida
medida sobre un perodo extendido, idealmente varios dias, obtenindose un conjunto de
valores k , k = 1, 2, . . . , N . El valor medio del conjunto se puede encontrar usando
N
X
= 1
k
N
(2.5.6)
k=1
y la desviacin estndar se encuentra usando (ver Captulo 4)

v
u N
u1X
0 = t
)2
(k
N
(2.5.7)
k=1
Se deber realizar un histograma de los valores de k , con el fin de estimar la funcin

densidad de probabilidad p() y compararla con la forma de la funcin gaussiana (Captulo
4).
36
40
20
0.97
0.98
0.99
1.00
1.01
1.02
1.03
Voltios
Figura 2.13: Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
2.6
Precisin de los sistemas de medida en estado estacionario
La precisin es una propiedad del sistema de medida completo, ms que de un simple elemento.
La precisin se cuantifica utilizando el error de medicin , es decir:
= valor medido valor verdadero
= salida del sistema entrada del sistema
(2.6.1)
(2.6.2)
En esta seccin se utilizar el modelo esttico de un elemento simple, para calcular la salida y adems el error de medida para un sistema completo de varios elementos. Se concluye
examinando mtodos de reduccin del error del sistema.
2.6.1
Error en la medida de un sistema con elementos ideales
Considrese el sistema mostrado en la Fig. 2.14 consistente de n elementos en serie. Supngase

que cada elemento es ideal, es decir, perfectamente lineal y no sujeto a entradas ambientales. Si
tambin se asume que el sesgo o cruce por cero es cero, es decir, a = 0, entonces
i = ki ui
(2.6.3)
ecuacin entradasalida para un elemento ideal con sesgo cero, para i = 1, . . . , n, donde ki es la
sensibilidad lineal o pendiente (ecuacin (2.2.3)). De all se observa que 2 = k2 u2 = k2 k1 u, 3 =
k3 u3 = k3 k2 k1 u, y para el sistema completo
= n = k1 k2 k3 ki kn u
(2.6.4)
Si el sistema de medida es completo, entonces = u, dando

= (k1 k2 k3 kn 1)u
(2.6.5)
2.6. PRECISIN DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA EN ESTADO ESTACIONARIO
1 =
1
1
Valor
verdadero
2 =
2
2
37
Valor
medido
Figura 2.14: Error en la medida.
As, si
k1 k2 k3 kn = 1
(2.6.6)
se tiene = 0 y el sistema es perfectamente preciso. El sistema de medida de temperatura

mostrado en la Fig. 2.15 parece satisfacer la condicin anterior. El indicador puede ser un
voltmetro de bobina mvil con una escala marcada en grados Celsius, de modo que un cambio
en la entrada de 1V produzca un cambio en la deflexin de 25 C. Este sistema tiene k1 k2 k3 =
40 106 103 25 = 1 y as parece perfectamente preciso. Este sistema; sin embargo, no
es perfectamente preciso pues ninguno de los tres elementos presentes es ideal. La termocupla
es no lineal, de manera que la temperatura cambia la sensibilidad, la cual ya no es de 40V
C 1 . Tambin los cambios en la temperatura de la union de referencia hace que tambin cambie
la fem en la termocupla. La tensin de salida del amplificador tambin est afectada por los
Amplificador
Termocupla
1
Temperatura
verdadera
40 V/C
V
f. e. m.
1000 V/ V
Indicador
V
voltios
25 C / V
Temperatura
medida
Figura 2.15: Sistema simple de medida de la temperatura.

cambios en la temperatura ambiente. La sensibilidad k3 del indicador depende de la rigidez del
resorte restaurador en el ensamble del indicador (caso bobina mvil). ste es afectado por la
temperatura ambiente y por el uso, haciendo que k3 se desve del valor nominal de 25 CV 1 .
Por lo tanto, la condicin k1 k2 k3 = 1 no puede ser siempre satisfecha y el sistema tendr
error. En general el error de cualquier sistema de medida depende de las caractersticas no ideales
de cada elemento del sistema, es decir, la no linealidad, los efectos ambientales y estadsticos,
etc. As, con el fin de cuantificar este error de forma tan precisa como sea posible se necesita
usar el modelo general para un elemento simple como se desarroll previamente.
38
2.6.2
Tcnicas de reduccin de error
El error de un sistema de medida depende de las caractersticas no ideales de cada elemento del
sistema. Usando las tcnicas de calibracin, se puede identificar cuales elementos en el sistema
tienen el comportamiento no ideal ms dominante. Se puede entonces, proyectar estrategias de
compensacin para estos elementos, las cuales producirn reducciones significativas en el error
total del sistema. Esta seccin bosqueja mtodos de compensacin para efectos no lineales y
ambientales.
Elemento no lineal
no compensado
Resistencia
Temperatura
Termistor
12
2
298
Compensacin del
elemento no lineal
348
Voltaje
1.0
1.0
12
Puente de deflexin
Total
298
348
Figura 2.16: Compensacin de un elemento no lineal.

Uno de los mtodos ms comunes de corregir un elemento no lineal es introducir un elemento
de compensacin no lineal en el sistema. Este mtodo se ilustra en la Fig. 2.16. Dado un
elemento no lineal, descrito por U (u), se necesita un elemento de compensacin C(U ), tal que
las caractersticas totales C[U (u)] de los elementos, estn tan cerca de la recta ideal como sea
posible. El mtodo se ilustra en la Fig. 2.16 con el uso de un puente de deflexin para compensar
las caractersticas no lineales del termistor.
El mtodo ms evidente para reducir los efectos de las entradas ambientales es el aislamiento, es decir, aislar el transductor de los cambios ambientales tal que efectivamente
uM = uI = 0.
Ejemplos de esto son la localizacin de la unin de referencia de una termocupla en un recinto
de temperatura controlada y el uso de un resorte de elevacin para aislar un transductor de las
vibraciones de la estructura a la cual esta est conectado.
39
+
+
E le m e n to s in c o m p e n s a r
si
E le m e n to d e
c o m p e n s a c i n
+
+
+
_
+
+
Figura 2.17: Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial.
Otro mtodo es el de la sensibilidad ambiental cero, donde el elemento es completamente
insensible a entradas ambientales, es decir, kM = ku = 0. Un ejemplo de esto es el uso de una
aleacin metlica con coeficientes de expansin por temperatura cero y la resistencia como un
elemento de galga extensomtrica. Tal material ideal es difcil de encontrar y en la prctica,
la resistencia de una galga extensomtrica metlica es afectada ligeramente por cambios en la
temperatura ambiente.
Un mtodo ms exitoso de correccin para entradas ambientales es el de entradas ambientales opuestas. Supngase que un elemento es afectado por una entrada ambiental; entonces
un segundo elemento, sujeto a la misma entrada ambiental, se introduce deliberadamente en
el sistema tal que los dos efectos tiendan a cancelarse. Este mtodo se ilustra para entradas
interferentes en la Fig. 2.17 y puede ser fcilmente extendido para entradas modificadoras.
Un ejemplo es la compensacin para variaciones en la temperatura T2 de la unin de referencia
de una termocupla. Para una termocupla de cobre-constantan, se tiene kI uI igual a 38.74T2 V
de modo que se requiere un elemento de compensacin con una salida igual a +38.74T2 V .
Un ejemplo de un sistema diferencial (Fig. 2.17(b)) es el uso de dos galgas extensomtricas
pareadas en las ramas adyacentes de un puente, para proporcionar compensacin por cambios
en la temperatura ambiente. Un galga mide una fuerza de tensin +f y la otra, una fuerza de
compresin igual f . El puente sustrae efectivamente las dos resistencias de modo que el efecto
tensor sea el doble y los efectos ambientales se cancelen totalmente.
Un mtodo importante de compensacin es el uso de realimentacin negativa de alta
40
+
Fuerza
de entrada
Fuerza de
balanceo
+
_
Fb
Elemento
sensor
Amplificador de
ganancia alta
Tensin
de salida
Elemento de
retroalimentacin
Figura 2.18: Transductor de fuerza en lazo cerrado.

ganancia para entradas modificadoras y no linealidades. La Fig. 2.18 ilustra la tcnica par un
transductor de fuerza. El voltaje de salida de un elemento sensor de fuerza, sujeto a una entrada
modificadora, se amplifica con un amplificador de alta ganancia. La salida del amplificador se
realimenta a un elemento (v. gr., una bobina y un iman permanente) el cual proporciona una
fuerza de balanceo opuesta a la fuerza de entrada.
Ignorando los efectos de la entrada modificadora por el momento, se tiene:
F
= F i Fb
VO = kkA F
(2.6.7)
Fb = kF VO
es decir
VO
= Fi kF VO
kkA
de lo cual se obtiene
kkA
(2.6.8)
1 + kF kkA
Ecuacin para la fuerza del transductor con realimentacin negativa. Si la ganacia del amplificador kA se hace grande, tal que sea satisfecha la condicin
VO =
kF kkA 1
(2.6.9)
1
Fi
kF
(2.6.10)
entonces
VO
41
Esto quiere decir que la salida del sistema depende solamente de la ganancia kF del elemento
de realimentacin y es independiente de las ganancias k y kA de la trayectoria directa. Esto
significa que, suponiendo que se cumple la condicin anterior, los cambios en k y kA debidos
a entradas modificadoras y/o efectos no lineales, tienen efectos despreciables sobre VO . Esto
puede confirmarse repitiendo el anlisis anterior reemplazado k con k + kM uM , de lo cual se
obtiene
(k + kM uM )kA
VO =
FIN
(2.6.11)
1 + kF (k + kM uM )kA
la cual otra vez se reduce a
VOUT
FIN
kF
si
kF (k + kM uM )kA 1
(2.6.12)
Ahora, por supuesto, se debe asegurar que la ganacia kF del elemento de realimentacin no
tenga cambios debidos a efectos no lineales o ambientales. Puesto que el amplificador entrega
ms de la potencia requerida, el elemento de realimentacin puede disearse para baja capacidad
de manejo de potencia, dando mayor linealidad y menor suceptibilidad a entradas ambientales.
Dos dispositivos comunmente utilizados (transmisores de corriente), los cuales emplean este
principio se discutirn ms adelante .
La rpida disminucin de costo en los circuitos digitales integrados en los aos recientes ha
significado que los microcomputadores estn siendo ahora muy usados como elementos procesadores de seal en sistemas de medida. Esto significa que ahora se pueda utilizar la tcnica
de estimacin por computador del valor medido. Para este mtodo se requiere un buen
modelo de los elementos del sistema. Anteriormente se vi que la salida de estado estacionario
de un elemento est dada en general por una ecuacin de la forma:
= ku + a + N (U ) + kM uM u + ku uI
(efecamb)
Esta es la ecuacin directa; aqu es la variable dependiente la cual est expresada en trminos
de las variables independientes u, uM , uI . Anteriormente se vi cmo la ecuacin directa puede
derivarse de un conjunto de datos obtenidos en un experimento de calibracin.
Las caractersticas de estado estacionario de un elemento tambin se pueden representar por
una ecuacin alternativa. Esta es la denominada ecuacin inversa; aqu la seal de entrada
u es la variable dependiente y la salida y las entradas ambientales uI , uM son las variables
independientes. La forma general de esta ecuacin es
0
uM + kI0 u
u = k + N() + a+ kM
(2.6.13)
donde los valores de k0 , N 0 (), a0 etc., son completamente diferentes de los de la ecuacin directa.
Por ejemplo, las ecuaciones directa e inversa para una termocupla cobreconstantan (tipo T ),
con unin de referencia a 0 C son:
Directa
E = 3.845 102 T + 4.682 105 T 2 3.789 108 T 3 + 1.652 1011 T 4 mV
Inversa
T = 22.55E 0.5973E 2 + 2.064 102 E 3 3.205 104 E 4 C
42
donde E es la f.e.m de la termocupla y T la temperatura de la unin medida entre 0 y 400 C.

Ambas ecuaciones fueron derivadas usando un polinomio de mnimos cuadrados ajustado a los
datos de la norma BS 4937 [4]; para la ecuacin directa, E es la variable dependiente y T la
variable independiente, mientras que para la ecuacin inversa T es la variable dependiente y
E la variable independiente. La ecuacin directa es la ms til para estimacin del error,
mientras que la ecuacin inversa es la ms til para reduccin del error.
Medidas de entrada
del medio ambiente
Valor
real
Sistema sin compensacin
Computador
Estimador
Presentacin
de datos
Valor
medido
Estimado
Sistema sin compensacin
Desplazamiento
verdadero
mm
No lineal
No lineal
Sensor
inductivo
Oscilador
Estimador
Disparador
Schmitt
Contador
de pulsos
16 - bit
pulso/s
Desplazamiento
medido
Ecuacin
inversa del modelo
Computador
0 a 65,535
-4 2
-264.1 + 0.3882 - 2.113 x 10

- 12 4
+5.272 x 10 - 8 - 4.928 x 10
Figura 2.19: Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso.
El uso de la ecuacin inversa en estimacin por computador del valor medido, se implementa
mejor en varias etapas. Con referencia a la Fig. 2.19, stas son:
1. Tratar el sistema no compensado como un solo elemento. Usando el procedimiento de
calibracin explicado antes (o cualquier otro mtodo de generacin de datos) los parmetros
43
k0 , a0 , etc., en el modelo de ecuacin inversa

0
u = k 0 u + N 0 (u) + a0 + kM
uM u + kI0 uI
se pueden encontrar, representando el comportamiento total del sistema sin compensacin

Este procedimiento facilitar la identificacin de las entradas ambientales uM , uI , (puede
ser ms de una de cada tipo).
2. El sistema de compensacin se puede conectar al estimador. Este consiste, en primer lugar, de un computador el cual almacena los parmetros modelados k 0 , a0 , N 0 () etc. Si los
errores debidos a las entradas ambientales se consideran significativos, entonces tambin
son necesarios los sensores ambientales para proporcionar al computador los valores estimados u0M , u0I de estas entradas. La salida U de un sistema sin compensacin tambin se
almacena en el computador.
3. El computador entonces calcula un valor estimado inicial u0 de u, usando la ecuacin
inversa
0
uM U + ku0 uI
u0 = k0 U + N 0 (U ) + a0 + kM
4. La presentacin de los datos del elemento muestra entonces el valor medido el cual
podr estar cerca de u0 . En aplicaciones que no requieran alta precisin se puede terminar
el proceso en esta etapa.
5. Si se requiere alta precisin, entonces puede ser posible, para perfeccionar el estimador
calibrar el sistema completo. Los valores de la salida del sistema se miden para un
rango de entradas estndar conocido, u y los correspondientes valores del error del sistema
= u calculado. Estos valores de error pueden ser debidos principalmente a efectos
aleatorios pero pueden tambin contener una pequea componente sistemtica la cual
puede ser corregida.
6. Ahora se puede hacer un intento para ajustar el conjunto de datos (i , i ), i = 1, 2, . . . , n,
a una lnea recta por mnimos cuadrados de la forma
= k + b
(2.6.14)
donde b es cualquier error residual cero y k epecifica cualquier escala de error residual.
7. El coeficiente de correlacin
Pn
r = qP
n
i=1 i i
2
i=1 i
Pn
(2.6.15)
2
i=1 i
entre y ahora podr ser evaluado. Si la magnitud de r es mayor que 0.5, entonces hay
una correlacin razonable entre los datos de y ; esto significa que el error sistemtico
de la ecuacin
=
u
(2.6.16)
44

est presente y se puede proceder al paso ocho para corregirlo. Si la magnitud de r es
menor de 0.5 entonces no hay correlacin entre los datos de y , esto significa que los
errores son aleatorios y no se puede hacer correccin.
8. Si es necesario, se puede usar la ecuacin (2.6.14) para calcular un valor medido mejorado
0 = = (k + b)
El sistema de medida de desplazamiento de la Fig. 2.19 muestra este mtodo. El sistema sin
compensacin consiste de un sensor de desplazamiento inductivo, un oscilador y un disparador
Schmitt. El sensor tiene una relacin no lineal entre la inductancia L y el desplazamiento x, el
oscilador tiene una relacin no lineal entre la frecuencia f y la inductancia L. Esto significa que
la ecuacin inversa del modelo, relaciona el desplazamiemto x y la frecuencia f de la seal de
salida del disparador Schmitt, y tiene la forma no lineal mostrada. El estimador consiste de un
contador de pulsos de 16 bits y un computador. El computador lee el estado del contador al
principio y al final de un intervalo de tiempo fijo y as mide la frecuencia f de la seal de pulsos.
El computador entonces calcula x de la ecuacin inversa del modelo usando los coeficientes del
modelo almacenados en la memoria.
Captulo 3
Caractersticas dinmicas de los

sistemas de medida
3.1
Introduccin
Si la seal de entrada u de un elemento cambia de un valor a otro en forma sbita, entonces la

seal de salida no cambiar instantneamente a su nuevo valor. Por ejemplo, si la temperatura
de entrada de una termocupla cambia sbitamente de 25 C a 100 C, algn tiempo tardar en
cambiar el voltaje de salida de 1mV a 4mV . El modo en el cual un elemento responde a un
cambio repentino se llama su caracterstica dinmica, que es mejor comprendida usando
una funcin de transferencia G(s). La primera seccin de este captulo examina la dinmica
de elementos tpicos y deriva su respectiva funcin de transferencia. La siguiente seccin
examina cmo las seales estndar de prueba pueden ser usadas para identificar G(s) para
un elemento. Si la seal de entrada para un sistema de medida de varios elementos cambia
rpidamente, entonces la forma de onda de la seal de salida del sistema es generalmente diferente
de la de la seal de entrada. Se explicar ms adelante cmo este error dinmico puede
ser encontrado y finalmente se analizarn algunos mtodos de compensacin dinmica que
pueden ser usados para minimizar errores.
3.2
3.2.1
Funcin de transferencia para elementos tpicos del sistema

Elementos de primer orden
Un buen ejemplo para un elemento de primer orden puede ser un sensor de temperaura con una
seal elctrica de salida, v. gr., una termocupla o un termistor. El elemento desnudo (sin funda)
se pone en un fluido (Fig. 3.1). Inicialmente en t = 0 (justo antes de t = 0), la temperatura
del sensor es igual a la temperatura del fluido, es decir, T (0 ) = TF (0 ). Si la temperatura
del fluido es repentinamente subida en t = 0, el sensor no est ms en estado estacionario y su
comportamiento dinmico se describe por la ecuacin de balance de calor:
45
46
CAPTULO 3. CARACTERSTICAS DINMICAS DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA

Salida
Figura 3.1: Sensor de temperatura en un fluido.

Tasa de calor entrantetasa de calor saliente = tasa de cambio del contenido de
calor del sensor
Asumiendo que TF > T , entonces la tasa de calor saliente ser cero, y la tasa del calor
de entrada W ser proporcional a la diferencia de temperatura (TF T ). De conceptos de
transferencia de calor se tiene:
W = U A(TF T ) vatios
(3.2.1)
donde U [W m2 C 1 ] es el coeficiente de transferencia de calor global entre el fluido y el

sensor, y A [m2 ] es el rea efectiva de transferencia de calor. El incremento del contenido de
calor del sensor es mC[T T (0 )] [J], donde m [kg] es la masa del sensor y C [Jkg 1 C 1 ] es
el calor especfico del material del sensor. As, asumiendo que m y C son constantes:
tasa de incremento del contenido de calor en el sensor = mC
d
[T T (0 )]
dt
(3.2.2)
Definiendo T = T T (0 ) y TF = TF TF (0 ) como las desviaciones de las temperaturas de las condiciones iniciales en reposo, la ecuacin diferencial que describe los cambios de
temperatura del sensor es
dT
UA(TF T ) = mC
dt
es decir,
mC dT
+ T = TF
(3.2.3)
UA dt
Esta es una ecuacin diferencial lineal en la cual dT /dt y T se multiplican por coeficientes constantes; la ecuacin es de primer orden porque dT /dt es el mayor derivador
presente. La cantidad mC/U A tiene dimensiones de tiempo:
J
kg J kg 1 C 1
=s
=
W m2 C 1 m2
W
3.2. FUNCIN DE TRANSFERENCIA PARA ELEMENTOS TPICOS DEL SISTEMA 47

y se le refiere como la constante de tiempo para el sistema. La ecuacin diferencial es ahora
dT
+ T = TF
dt
(3.2.4)
Aunque la ecuacin diferencial anterior es una descripcin adecuada de la dinmica del

sensor, no es la representacin ms til. La funcin de transferencia basada en la transformada
de Laplace de la ecuacin diferencial da un marco de trabajo ms conveniente para estudiar la
dinmica de un sistema de varios elementos. La transformada de Laplace f(s) de una funcin
que vara en el tiempo esta definida por
Z
est f (t)dt
(3.2.5)
f (s) =
0
donde s es una variable compleja de la forma s = +j y j = 1. En los textos de matemticas

(v. gr., Kreyszig [16]) se encuentran tablas de transformada de Laplace para funciones estndar
comunes f (t). Con el fin de encontrar la funcin de transferencia para el sensor se debe encontrar
la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.4), obtenindose
[sT T (0 )] + T (s) = T F (s)
(3.2.6)
donde T (0 ) es la desviacin de la temperatura en condiciones iniciales previas a t = 0. Por

definicin T (0 ) = 0, dando
sT (s) + T (s) = T F (s)
es decir,
( s + 1)T (s) = T F (s)
(3.2.7)
De aqu se obtiene la funcin de transferencia para un elemento de primer orden como

G(s) =
1
T (s)
=
1
+
s
T F (s)
(3.2.8)
La funcin de transferencia anterior slo relaciona cambios en la temperatura del sensor

respecto de los cambios en la temperatura del fluido. La relacin global entre los cambios en la
seal de salida del sensor y la temperatura del fluido es
T (s)
(s)
=
T T F (s)
T F (s)
(3.2.9)
es la sensibilidad en estado estacionario del sensor de temperatura. Para un

donde T
sera igual a la pendiente k de la lnea recta ideal. Para elementos no

elemento ideal T
d
= dT
, como el
lineales, sujetos a pequeas fluctuaciones de temperatura, se puede tomar T
elemento derivativo que ser evaluado en la temperatura de reposo T (0 ) alrededor de la cual

las fluctuaciones se presentan.
48
Ejemplo 1 Para una termocupla de cobreconstantan, encontrar la funcin de transferencia que

relacione la fem inducida por cambios de temperatura alrededor de 100 C, con una constante
de tiempo de 10 s.
Sol. Para pequeas fluctuaciones de temperatura alrededor 100 C,
uando dE
dT a 100 C, usando la ecuacin (2.2.13), con lo cual se obtiene
E
T
se encuentra eval-
E
= 46 V C 1
T
As, si la constante de tiempo de la termocupla es = 10 s, la relacin dinmica global entre
los cambios en la fem y la temperatura del fluido es
1
E(s)
= 46
1 + 10s
T (s)
(3.2.10)
Figura 3.2: Modelo de un elemento para clculo de la dinmica.

En el caso general de un elemento con caractersticas estticas dadas por la ecuacin (2.2.14),
y las caractersticas dinmicas definidas por G(s), el efecto de cambios pequeos y rpidos en
u se evalan usando la Fig. 3.2, en la cual la sensibilidad en reposo (/u)u0 = k + kM uM +
(dN/du)u0 , y u0 es el valor en reposo de u alrededor del cual toman lugar las fluctuaciones.
3.2.2
Elementos de segundo orden
El sensor elstico mostrado en la Fig. 3.3 que convierte una fuerza de entrada F en un desplazamiento de salida x, es un buen ejemplo de un elemento de segundo orden. El diagrama es un
modelo conceptual de el elemento que incorpora una masa [m kg] una constante del resorte k
[N m1 ], y un regulador de constante [N sm1 ].
) = 0 y la
El sistema est inicialmente en reposo en t = 0 as que la velocidad inicial x(0
aceleracin inicial x
(0 ) = 0. La fuerza inicial de entrada F (0 ) es balanceada por la fuerza
elstica en el desplazamiento inicial x (0 ), es decir

F 0 = kx(0 )
(3.2.11)
3.2. FUNCIN DE TRANSFERENCIA PARA ELEMENTOS TPICOS DEL SISTEMA 49
kx
Resorte k
Masa
vx
Amortiguador
Figura 3.3: Modelo masaresorteamortiguador para un sensor elstico de fuerza.

Si la fuerza de entrada es repentinamente incrementada a t = 0, entonces el elemento no se
encuentra en estado de reposo y su comportamiento dinmico se describe por la segunda ley de
Newton, es decir
fuerza resultante = masaaceleracin
(3.2.12)
es decir
F kx x = m
x
(3.2.13)
y
m
x + kx + x = F
Definiendo a F y a x como las desviaciones en F y en x de las condiciones de reposo del
estado inicial,
F
= F F (0 ),
x = x,
x = x x(0 )
x=x
(3.2.14)
La ecuacin diferencial ahora se convierte en

m
x + x + kx 0 + kx = F (0 ) + F
la cual, usando la ecuacin (3.2.11), se reduce a
m
x + x + kx = F
es decir,
1
m d2 x dx
+ x = F
+
2
k dt
k dt
k
(3.2.15)
50
Esta es una ecuacin diferencial lineal de segundo orden en la cual x y sus derivadas
se multiplican por coeficientes constantes y la mxima derivada presente es d2 x/dt2 . Si se
define
r
k
rad/s
Frecuencia natural n =
m
y
coeficiente de amortiguacin =
(3.2.16)
2 km
entonces m/k = 1/ 2n , /k = 2/ n y la ecuacin (3.2.15) se puede expresar en su forma
estndar:
1 d2 x
2 dx
1
+
+ x = F
(3.2.17)
2
2
n dt
n dt
k
Con el fin de encontrar la funcin de transferencia para el elemento, se requiere de la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.17). Usando una tabla de transformadas se tiene que
1 2
2
1
[s
x(s) sx(0 ) x(0
)] +
[s
x(s) x(0 )] +
x(s) = F (s)
2n
n
k
(3.2.18)
Debido a que x(0

) = x(0
) = 0 y x(0 ) = 0 por definicin, la ecuacin (3.2.18) se
reduce a
2
2
x(s) = n F (s)
s + 2 n s + 2n
(3.2.19)
k
As
x(s)
1
= G(s)
k
F (s)
donde 1/k = sensibilidad en estado estacionario K, y
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
(3.2.20)
La Fig 3.4 muestra un elemento elctrico anlogo, un circuito de la serie L-C-R. Las ecuacioens correspondientes a esta red estn dadas a continuacin:
V = iR +
donde
i=
as
L
o
di
q
+L
C
dt
dq
dt
1
d2 q
dq
+R + q =V
dt2
dt C
d2 q R dq
1
1
+
q= V
+
2
dt
L dt LC
L
(3.2.21)
(3.2.22)
3.3. IDENTIFICACIN DE LA DINMICA DE UN ELEMENTO
51
>
R
+
V
Figura 3.4: Circuito serie RLC.

Comparando la ecuacin (3.2.13) con la ecuacin (3.2.22) se ve que q es anlogo a x, V es
anlogo a F , y, L, R y 1/C son anlogos a m, y k respectivamente. El circuito elctrico
tambin est descrito por la funcin de transferencia de segundo orden anterior, con
1
n =
LC
y
R
=
2
3.3
(3.2.23)
C
L
(3.2.24)
Identificacin de la dinmica de un elemento
Con el fin de identificar la funcin de transferencia G(s) de un elemento, se debern usar seales
de excitacin normalizadas. Las dos seales de excitacin ms comunes son el escaln y la onda
seno. En esta seccin se examina la respuesta de los elementos de primer y segundo orden ante
dichas seales.
3.3.1
Respuesta a un escaln de los elementos de primero y de segundo orden
La transformada de Laplace para un escaln de altura unitaria u(t) es

1
(3.3.1)
s
As, si un elemento de primer orden con G(s) = K/(1 + s) est sujeto a una seal de entrada
en escaln, la transformada de Laplace de la seal de salida del elemento ser
L{u(t)} =
fo (s) = G(s)fi (s) =
K
s(1 + s)
Expresando la ecuacin (3.3.2) en fracciones parciales, se tiene
A
B
1
fo (s) = K
=K
+
(1 + s)s
(1 + s)
s
(3.3.2)
52
Igualando los coeficientes de las constantes se obtiene B = 1, e igualando los coeficientes de

s se llega a 0 = A + B , es decir, A = .
As
#
"
1
1
(3.3.3)
fo (s) = K
=K
s (1 + s)
s (s + 1 )
Realizando la transformada inversa de Laplace de la ecuacin (3.3.3) se llega a

t
fo (t) = K u(t) exp
y puesto que u(t) = 1 para t > 0

t
fo (t) = K 1 exp
(3.3.4)
La cual es la respuesta de un elemento de primer orden a un escaln unitario. La forma de

la respuesta se muestra en la Fig 3.5, para K = 1.
fo(t)
Figura 3.5: Respuesta a un escaln de un sistema de primer orden: Rojo, = 2, negro, = 1,

azul, = 0.5,
Ejemplo 2 Considrese el sensor de temperatura de la primera seccin de este captulo. Estudiar la respuesta temporal del sistema ante un escaln unitario, asumiendo estados inicial de 25
C y final de 100 C.
Sol. Inicialmente la temperatura del sensor es igual a la del fluido, es decir,
T (0 ) = TF (0 ) = 25 C
53
Si TF es repentinamente elevada a 100 C, entonces esto representa un cambio de un escaln

TF de altura 75 C. El cambio correspondiente en el sensor de temperatura est dado por
T = 75(1 et/ ) y la temperatura real T del sensor en el tiempo t estar dada por
T (t) = 25 + 75(1 et/ )
(3.3.5)
100
80
60
40
20
Figura 3.6: Determinacin de para un sistema de primer orden.

As, en el tiempo t = , T = 25 + 75 0.63 = 72.3 C. Midiendo el tiempo tomado por T
para subir a 72.3 C se puede encontrar la constante del elemento como se observa en la Fig.
3.6.
Si un segundo elemento con una funcin de transferencia
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
est sujeto a una seal de entrada de un escaln, entonces la transformada de Laplace de la

seal de salida del elemento es
2n
1
fo (s) =
s s2 + 2 n s + 2n
Expresando la ecuacin (3.3.6) en fracciones parciales se tiene
fo (s) =
C
+
2
1 2
s
2 s + n s + 1
As + B
(3.3.6)
54
donde, despus de hacer clculos, A = 1/2n , B = 2/n y C = 1. Aplicando los valores

anteriores, la ecuacin queda
fo (s) =
=
=
(s + 2n )
1
2
s s + 2n s + 2n
(s + 2n )
1
s (s + n )2 + 2n (1 2 )
(s + n )
n
1
2
s (s + n )2 + 2n (1 ) (s + n )2 + 2n (1 2 )
(3.3.7)
Hay tres casos a considerar dependiendo si es mayor que 1, igual a 1, o menor que 1.
Caso 1 Si = 1 Sistema con amortiguacin crtica, entonces
1
1
n
fo (s) =
s s + n (s + n )2
(3.3.8)
Realizando la transformada inversa de Laplace, se tiene

fo (t) = 1 en t (1 + n t)
(3.3.9)
La cual representa la respuesta de un elemento de segundo orden a un escaln unitario con

amortiguacin crtica = 1.
Caso 2 Si < 1 Sistema subamortiguado, entonces
q
q
sin n (1 2 )t
fo (t) = 1 en t cos n (1 2 )t + q
2
(1 )
(3.3.10)
Caso 3 Si > 1 Sistema sobreamortiguado, entonces
q
q
fo (t) = 1 en t cosh n ( 2 1)t + q

sinh n ( 2 1)t
2
( 1)
(3.3.11)
La cual representa la respuesta de un elemento de segundo orden a un escaln con subamortiguacin.
La cual representa la respuesta a un escaln por un elemento de segundo orden con sobreamortiguacin.
La forma de las respuestas normalizadas se muestran en la Fig. 3.7.
Ejemplo 3 Considrese la respuesta a un escaln de un sensor de fuerza con una rigidez de
k = 103 N m1 , masa m = 0.1kg y constante de amortiguacin = 10N sm1 .
55
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
t 8
10
12
14
Figura 3.7: Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1,
azul, > 1.
Sol. La sensibilidad en estado de reposo es
S = 1/k = 103 mN 1
la frecuencia natural
n =
y la constante de amortiguacin
p
k/m = 102 rads1
k m = 0.5
2
Inicialmente en t = 0 , una fuerza en reposo F (0 ) = 10N causa un desplazamiento en reposo
de (1/103 ) 10 metros, es decir, 10mm. Supngase que en t = 0 la fuerza se incrementa
repentinamente de 10 a 12 N, es decir, hay un cambio en escaln F de 2 N . El cambio x(t)
en el desplazamiento se encuentra usando
=
x(t) = SF u(t)fo (t)
(3.3.12)
es decir,
1
2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [m]
103
= 2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [mm]
x(t) =
(3.3.13)
56
Eventualmente, cuando t es grande x tiende a 2 mm, es decir, x se establece a un nuevo

valor en estado estacionario de 12 mm.
3.3.2
Respuesta sinusoidal de elementos de primero y segundo orden
La transformada de Laplace de una onda senoidal est dada por f(s) = /(s2 + 2 ). As si una
onda seno de amplitud u
es la entrada a un elemento de primer orden, entonces la transformada
de Laplace de la seal de salida es
fo (s) =
1
2
1 + s s + 2
(3.3.14)
Expresando la ecuacin (3.3.14) en fracciones parciales se obtiene
fo (s) =
=
1
s +
2 u
+
2
2
2
2
1 + 1 + s 1 + s2 + 2
u
1
cos + s sin
2 u
+
2
2
1 + 22 1 + s
s2 + 2
1+
donde
1
cos =
,
1 + 22
sin =
1 + 22
(3.3.15)
Realizando la transformada inversa, se tiene

fo (t) =
t/
2 u
u
e
+
sin(t + )
2
2
1+
1 + 2 2
(3.3.16)
0.2
0.15
0.1
0.05
0
10
15
20
25
-0.05
-0.1
Figura 3.8: Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden.
57
En un experimento de prueba con onda seno, se espera hasta que el trmino transitorio haya
decado a cero y entonces se toma la medida de la seal senoidal de estado estacionario:
u
fo (t) =
sin(t + )
1 + 22
(3.3.17)
De las ecuaciones
anteriores se puede ver que cuando = 1, es decir = 1/ , la razn de
amplitud = 1/ 2 y la diferencia de fase = 45 . Estos resultados permiten que el valor de

sea encontrado mediante frecuencias experimentales (ver Fig. 3.8).
Los resultados de arriba pueden ser generalizados para un elemento con una sensibi-lidad de
estado estacionario K (o /u) y funcin de transferencia G(s), sujeta a una seal de entrada
sinusoidal u = u
sin t. En el estado estacionario se pueden hacer cuatro suposiciones acerca de
la seal de salida:
1. es tambin una onda seno;
2. la frecuencia de es tambin
3. la amplitud de es
= K |G(j)| u
;
4. la diferencia de fase entre y u es = arg G(j).
Usando las anteriores reglas, rpidamente se pueden encontrar las relaciones de magnitud y
de fase para un elemento de segundo orden con
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
De aqu se tiene
G(j) =
(j)2
2n
+ 2 n (j) + 2n
tal que
Magnitud :
Diferencia de fase :
|G(j)| = s
1
1
tan
2/ n
1 2 / 2n
2
2n
1
2
2
+ 4 2 2
n
(3.3.18)
Estas caractersticas son mostradas grficamente en la Fig. 3.9; la razn de amplitud y la

fase son crticamente dependientes del valor de .
Ntese que para < 0.7, |G(j)| tiene un valor mximo el cual es ms grande que la unidad.
Este valor mximo est dado por
|G(j)|MAX =
1
p
2 1 2
58
1.
.5
.1
.5
1.
5.
.1e2
Figura 3.9: Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden: rojo,

= 0.1, azul, = 0.3, negro, = 0.7,verde, = 1.0, prpura = 2.
y ocurre en la frecuencia de resonancia
q
R = n 1 2 2

< 1/ 2
Se pueden encontrar R , y n midiendo |G(j)|MAX . Una alternativa para graficar |G(j)|

versus es un grfico del nmero de decibeles N dB vs , donde
N = 20 log10 |G(j)|
(3.3.19)
As, si |G(j)| = 1, N = 0 dB; si |G(j)| = 10, N = +20 dB; y si |G(j)| = 0.1, N = 20 dB.
3.4
Errores dinmicos en sistemas de medida
La Fig. 3.10 muestra un sistema de medida completo el cual consiste de n elementos. Cada
elemento i tiene un estado estable ideal y caractersticas dinmicas lineales y puede por lo
tanto, ser representado por una constante de sensibilidad de estado estable Ki y una funcin de
transferencia Gi (s).
Se comienza por asumir que la sensibilidad de estado estacionario k1 , k2 , . . . , ki , . . . kn para
el sistema completo es igual a 1, es decir, el sistema no tiene error de estado estacionario. La
funcin de transferencia G(s) es el producto de las funciones de transferencia de los elementos
individuales, es decir
(s)
= G(s) = G1 (s)G2 (s) Gi (s) Gn (s)
u(s)
(3.4.1)
3.4. ERRORES DINMICOS EN SISTEMAS DE MEDIDA
Entrada:
seal real
1
1
59
Salida , es decir,
seal medida
Figura 3.10: Sistema de medida con dinmica.

En principio se puede usar la ecuacin (3.4.1) para encontrar la seal de salida del sistema (t)
co-rrespondiente a variaciones en el tiempo de la seal de entrada u(t). Primero se encuentra
la transformada de Laplace
u(s) de u(t); entonces, aplicando la transformada de Laplace, la
seal de salida ser
(s) = G(s)
u(s)
(3.4.2)
Expresando
(s) en fracciones parciales, y usando tablas estndar de las transformadas de
Laplace, se puede encontrar la seal correspondiente en el tiempo (t). Expresando esto
matemticamente:
u(s)]
(3.4.3)
(t) = L1 [G(s)
donde L1 denota la transformada inversa de Laplace. El error dinmico (t) del sistema de
medida es la diferencia entre la seal medida y la seal verdadera, es decir, la diferencia entre
(t) y u(t)
(t) = (t) u(t)
(3.4.4)
Usando (3.4.3) se tiene
u(s)] u(t)
(t) = L1 [G(s)
(3.4.5)
El sistema simple de medida de temperatura de la Fig. 3.11, provee un buen ejemplo para
Temperatura real
40 x 10
1 + 10
Temperatura medida
-6
Termocupla
f. e. m.
10
1 + 10 - 4 s
Amplificador
voltios
25
2.5x 10
-5s 2 +
10 -2 s
+1
Registrador
Figura 3.11: Sistema de medida de temperatura con dinmica.

identificar los errores dinmicos. La termocupla tiene una constante de tiempo de 10 s, el
amplificador una constante de tiempo de 104 s y el contador es un elemento de segundo orden
con n = 200rad/s y = 1.0. La sensibilidad completa de estado estacionario del sistema es la
unidad.
60
Se puede ahora calcular el error dinmico del sistema para una entrada escaln de +20 C,
es decir, TT (t) = 20u(t) y TT (s) = 20 1/s. As, la transformada de Laplace de la seal de
salida es
1
1
1
1
TM (s) = 20
4
s 1 + 10s 1 + 10 s 1 + 1 s 2
200
A
B
1
Cs + D
(3.4.6)
= 20
s s + 0.1 s + 104 (s + 200)2

De aqu se obtiene
h
i
4
TM (t) = 20 u(t) Ae0.1t + Be10 t Ee200t (1 + 200t)
y el error dinmico
(t) = TM (t) TT (t)

i
h
4
= 20 Ae0.1t + Be10 t + Ee200t (1 + 200t)
(3.4.7)
donde el signo negativo indica una lectura muy baja. El trmino Be10 t decae a cero despus
de 5 104 s, y el trmino Ee200t (1 + 200t) decae a cero despus de unos 25ms. El trmino
Ae0.1t , el cual corresponde a la constante de tiempo 10s de la termocupla, toma cerca de 50s
para decaer a cero y tiene el mximo efecto sobre el error dinmico.
Entrada
Salida
Figura 3.12: Respuesta de un sistema con dinmica lineal.

Se pueden usar las reglas desarrolladas antes para encontrar el error dinmico de un sistema
con una funcin de transferencia G(s) sujeta a una entrada sinusoidal u(t) = u
sin t. De la
Fig. 3.12 se tiene
(t) = |G(j)| u
sen(t + )
dando
(t) = u
[|G(j)| sen(t + ) sent]
(3.4.8)
donde = arg G(j). Supngase que el anterior sistema de medida de temperatura est midiendo una variacin sinusoidal de temperatura de amplitud TT = 20 C y perodo T = 6s, es
decir de frecuencia angular = 2/T 1.0 rad s1 . La respuesta frecuencial G(j) es
G(j) =
(1
+ 10j)(1 + 104 j)(1 + 102 j
+ 2.5 105 (j)2 )
(3.4.9)
61
tal que en = 1
1
|G(j)|=1 = p
0.10
8
(1 + 100)(1 + 10 )[(1 2.5 105 )2 + 104 ]
(3.4.10)
arg |G(j)|=1 0 tan1 (10) tan1 (104 ) tan1 (102 ) 85
Se puede observar, para las anteriores ecuaciones, que los valores de |G(j)| y arg |G(j)| en
= 1 estn determinados principalmente por la constante de tiempo de 10s. Las caractersticas
dinmicas de los otros elementos solamente estarn afectando el funcionamiento del sistema a
frecuencias altas. Ya que TT (t) = 20 sen t y TM (t) = 0.1 20sen(t 85 ), el error es
(t) = 20(0.1sen(t 85 ) sen t)

Ntese que en el caso de una entrada sinusoidal, la salida tambin registrar una onda seno, es
decir, la forma de onda de la seal es invariante aun cuando haya una reduccin en amplitud
y un cambio de fase.
En la prctica la seal de entrada para un sistema de medida es ms probable que sea
peridica en lugar de una simple onda seno. Una seal peridica es aquella que se repite en
intervalos iguales de tiempo T , es decir, f (T ) = f (t + T ) = f (t + 2T ), etc., donde T es el
perodo. Un ejemplo de una seal peridica medida es la variacin de la temperatura interna de
una mquina diesel; otro es la vibracin de la cubierta de un compresor centrfugo [4]. Adems,
para el clculo de los errores dinmicos para seales peridicas, se necesita usar anlisis de
Fourier. Cualquier seal peridica f (t) con perodo T , puede ser representada como una serie
de ondas seno o coseno; stas tienen frecuencias las cuales son armnicas de la frecuencia
fundamental 1 = 2/T rad s1 , es decir,
f (t) = a0 +
an cos n1 t +
n=1
bn senn 1 t
(3.4.11)
n=1
donde
an =
bn =
ao =
2
T
2
T
1
T
+T /2
T /2
Z +T /2
T /2
Z +T /2
f (t) cos n 1 tdt

f (t)sen n1 tdt
(3.4.12)
f (t)dt
T /2
Si f (t) = u(t), donde u(t) es la variacin de la seal de entrada medida u(t), para el estado
estacionario o valor d.c. de u0 , entonces a0 = 0. Si tambin se asume que f (t) es impar, es decir
62
f (t) = f (t), entonces an = 0 para todo n, es decir, hay solamente trminos seno presentes
en la serie. La seal de entrada del sistema est dada por
u(t) =
u
n sen n1 t
(3.4.13)
n=1
donde u
n = bn es la amplitud del nsimo armnico a la frecuencia n 1 . Con el fin de encontrar
(t), primero supngase que solamente el nsimo armnico u
n sen n1 t es la entrada para
el sistema. De la Fig. 3.12, la correspondiente seal de salida es u
n |G(jn 1 )| sen(n 1 t + n )
donde n = arg G(jn 1 ). Ahora se requiere usar el principio de superposicin, el cual es una
propiedad bsica de los sistemas lineales (es decir, sistemas descritos por ecuaciones diferenciales
lineales). Esto puede establecerse como sigue:
Si una entrada u1 (t) produce una salida 1 (t) y una entrada u2 (t) produce una salida 2 (t),
entonces una entrada u1 (t) + u2 (t) producir una salida 1 (t)+ 2 (t), siempre que el sistema
sea lineal. Esto significa que la seal total de entrada es la suma de muchas formas de onda
(ecuacin 3.4.13), entonces la seal total de salida es la suma de las respuestas a cada onda seno,
es decir
X
u
n |G(jn1 )| sen (n 1 t + n )
(3.4.14)
(t) =
n=1
El error dinmico del sistema con seal de entrada peridica es

(t) =
n=1
u
n [|G(jn 1 )| sen (n1 t + n ) sen n 1 t]
(3.4.15)
Ejemplo 4 Supngase que la entrada al sistema de medida de temperatura es una onda cuadrada
de amplitud 20 C y perodo T = 6s (es decir, 1 = 2/T 1rads1 ).

La serie de Fourier para la seal de entrada es
1
1
1
80
TT (t) = [sen t + sen 3t + sen 5t + sen 7t + ]
(3.4.16)
3
5
7
La Fig. 3.13 muestra las relaciones amplitudfrecuencia y fasefrecuencia para una temperatura de entrada; stas definen el espectro de frecuencia de la seal. El espectro consiste de
un nmero de lneas a frecuencias 1 , 31 , 5 1 , etc., de longitud decreciente para representar
las pequeas amplitudes de los armnicos superiores. En casos prcticos se puede terminar o
truncar la serie en un armnico donde la amplitud es despreciable, en este caso se escogi n = 7.
Adems para encontrar la seal de salida, es decir, la forma de onda registrada, se necesita
evaluar la magnitud y el argumento de G(j) en = 1, 3, 5, 7 rads1 .
De nuevo el valor anterior est determinado principalmente por la constante de tiempo del
orden de 10s; la frecuencia alta de la seal = 7 an est bajo la frecuencia natural del contador
n = 200. La seal de salida del sistema es
80
[0.100sen(t 85 ) + 0.011sen(3t 90 )
TM (t) =
(3.4.17)
(3.4.18)
+0.004sen(5t 92 ) + 0.002sen(7t 93 )]
Amplitud
80
63
25.5
+20
0
0
Fase
-1
Espectro de frecuencia de
la temperatura de entrada
-20
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de entrada
0.1
Relacin de
amplitud
Caractersticas de la respuesta
de la frecuencia en los
sistemas de medida
0.01
-80
arg
Diferencia
de fase
-90
-100
2.6
+2
0
-2
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de salida
(registrada)
0
-80
-90
Espectro de frecuencia de
la temperatura de salida (registrada)
-100
Figura 3.13: Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica.
Ntese que en la seal de salida, las amplitudes del 3 , 5 y 7 armnico han sido relativamente
reducidas a la amplitud de la frecuencia fundamental. El contador de forma de onda tiene por lo
tanto una forma diferente de la seal de entrada as como tambin ha sido reducida en amplitud
y cambiada en fase.
Las ideas anteriores pueden ser extendidas para calcular el error dinmico para seales de
entrada aleatorias. Las seales aleatorias puede ser representadas por espectros continuos de
frecuencia.
64
3.5
Tcnicas de compensacin dinmica
De la ecuacin (3.4.15) se nota que adems para tener E(t) = 0 para una seal peridica, se
deben obedecer las siguientes condiciones:
|G(j1 )| = |G(j2 1 )| = = |G(jn1 )| = = |G(jm1 )| = 1
(3.5.1)
arg G(j 1 ) = arg G(j21 ) = = arg G(jn 1 ) = arg G(jm 1 ) = 0

donde m es el orden del armnico superior ms significativo. Para una seal aleatoria con un
espectro de frecuencia continuo que contiene frecuencias entre 0 y MAX , se requiere:
|G(j1 )| = 1 y
arg G(j 1 ) = 0 para 0 < 6 MAX
(3.5.2)
Las condiciones anteriores representan un ideal terico el cual ser dficil de realizar en la prctica. En un criterio ms prctico se limita la variacin en |G(j)| a un pequeo porcentaje de
las frecuencias presentes de la seal. Por ejemplo, la condicin:
0.98 < |G(j)| < 1.02
para
0 < 6 MAX
(3.5.3)
asegura que el error dinmico est limitado a 2 por ciento para una seal que contenga
MAX
Hz.
frecuencias mayores a
2
Otro criterio comunmente usado es el del ancho de banda. El ancho de banda
de un
elemento o sistema es el rango de frecuencias para las cuales |G(j)| es mayor que 1/ 2. Puesto
que, sin embargo, hay un 30 % de reduccin en |G(j)| en B ,el ancho de banda no es un criterio
particularmente usado para sistemas completos de medida.
El ancho de banda se usa comunmente en la determinacin de
la respuesta en frecuencia de
los amplificadores; una reduccin
en |G(j)| desde 1 hasta 1/ 2 es equivalente a un cambio
en decibeles de N = 20 log(1/ 2) = 3.0dB. Un elemento de primer orden tiene un ancho de
1
banda entre 0 y rad s1 .
Si en un sistema no se pueden encontrar los lmites especificados del error dinmico (t); es
decir, la funcin de transferencia del sistema G(s) no satisface una condicin tal como (3.5.3),
entonces el primer paso es identificar cuales elementos en el sistema dominan el comportamiento
dinmico. En el sistema de medida de temperatura de la seccin anterior, el error dinmico se
debe casi totalmente a la constante de tiempo 10s de la termocupla.
Teniendo identificados los elementos dominantes del sistema, el mtodo ms obvio de mejoramiento de la respuesta dinmica es el de diseo intrnseco. En el caso del sensor de temperatura de primer orden con = mC/UA, puede hacerse mnimo, minimizando la razn
masa/rea m/A por ejemplo, usando un termistor en la forma de lmina
p delgada.
En el caso de de un sensor de fuerza de segundo orden con n = k/m, n puede hacerse
mxima maximizando k/m, es decir, usando alta rigidez k y baja masa m. Sin embargo, al
incrementar k, se reduce la sensibilidad de estado estacionario K = 1/k. De la respuesta al
escaln en los sistemas de segundo orden y la grfica de la respuesta en frecuencia se ve que el
3.5. TCNICAS DE COMPENSACIN DINMICA
65
1.
.1
.1e-1
.5
1.
5.
.1e2
Figura 3.14: Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden.

valor ptimo de la razn de amortiguacin est alrededor de 0.7. Este valor asegura un tiempo
de establecimiento mnimo para la respuesta al escaln y |G(j)| se acerca a la unidad para la
respuesta en frecuencia (respuesta plana en la banda pasante) [20].
Otro mtodo posible es el de compensacin dinmica de lazo abierto (Fig. 3.15). Dado
un elemento sin compensacin o sistema Gu (s), se introduce un elemento de compensacin Gc (s)
en el sistema, tal que la funcin de transferencia total G(s) = Gu (s)Gc (s) satisfaga la condicin
requerida (por ejemplo la ecuacin (3.5.3)). As, si se emplea un circuito de adelantoatrazo
con una termocupla 3.15, la constante de tiempo total se reduce a 2 de modo que |G(j)| se
acerque a la unidad sobre un rango ms ancho de frecuencias. El principal problema con este
mtodo es que puede cambiar con el coeficiente de transferencia de calor U , reduciendo as la
efectividad de la compensacin.
Elemento
no compensado
1
1+
Termocupla
Elemento
de compensacin
1 + 1
1 + 2
Circuito
de adelanto y atraso
1
1 + 2
Figura 3.15: Compensacin dinmica en lazo abierto.
66
Otro mtodo consiste en incorporar el elemento a ser compensado en un sistema de lazo

cerrado con retroalimentacin negativa de alta ganancia. Un ejemplo es el acelermetro
de lazo cerrado mostrado en forma de esquemtica y diagrama de bloques en la Fig. 3.16.
Imn
Bobina
Cpsula
Fuerza de Fuerza no
Inercia balanceada
Masa
Ssmica
Fuerza
Electro magntica
Sensor de
fuerza elstica
Sensor de
desplazamiento
potenciomtrico
Resistor
normalizado
Bobina
e imn
Figura 3.16: Esquema y diagrama de bloques de un acelermetro en lazo cerrado.

La aceleracin aplicada a produce una fuerza de inercia ma en la masa ssmica m. sta se
equilibra con la fuerza que el imn permanente ejerce sobre la corriente de realimentacin de la
bobina. Cualquier desbalance de fuerzas se detecta por el elemento elstico de fuerza con lo cual
se produce un desplazamiento el cual se detecta con el sensor de desplazamiento potenciomtrico.
La tensin de salida del potencimetro se amplifica produciendo una corriente de salida la cual
se transfiere a la bobina de realimentacin a travs de un resistor normalizado para generar la
tensin de salida.
Analizando el diagrama de bloques se encuentra que la funcin de transferencia total del
sistema es
mR
1
V (s)
=
(3.5.4)
.
2
k
1
k
k
a(s)
KF
2
s+ 1+
as +
KA KD KF n
n KA KD KF
KA KD KF
Si KA se hace suficientemente grande para que KA KD KF /k 1, entonces la funcin de transferencia del sistema puede ser expresada en la forma
V (s)
Ks 2ns
= 2
a(s)
s + 2 s ns s + 2ns
3.6. DETERMINACIN EXPERIMENTAL DE LOS PARMETROS DE UN SISTEMA DE MEDIDA67

donde la sensibilidad de estado estacionario del sistema es
Ks =
mR
KF
la frecuencia natural del sistema

ns = n
KA KD KF
k
y la razn de amortiguamiento del sistema

s =
k
KA KD KF
Se ve que la frecuencia natural del sistema ns es ahora mucho mayor que la del elemento elstico
de fuerza. La razn de amortiguamiento del sistema s es mucho menor que , pero haciendo
grande puede obtenerse.un valor de s 0.7. Adems la sensibilidad de estado estacionario del
sistema depende solamente de m, KF y R la cual puede ser constante en un alto grado.
3.6
Determinacin experimental de los parmetros de un sistema de medida
Aunque el anlisis terico de los instrumentos es vital para revelar las relaciones bsicas involucradas en la operacin de un dispositivo, rara vez es suficientemente preciso para proporcionar
valores numricos tiles a parmetros crticos tales como sensibilidad, constante de tiempo, frecuencia natural, etc. Ya se ha discutido la calibracin esttica; aqu se tratarn los mtodos
para determinar experimentalmente las caractersticas dinmicas [11].
Para instrumentos de orden cero, la respuesta es instantnea de modo que no existen caractersticas dinmicas. El nico parmetro a ser determinado es la sensibilidad esttica K, la cual
se encuentra por calibracin esttica.
Para instrumentos de primer orden, la sensibilidad esttica K tambin se encuentra por
calibracin esttica. Hay solamente un parmetro correspondiente a la respuesta dinmica, la
constante de tiempo y sta puede encontrarse por varios mtodos. Un mtodo comn es aplicar
una entrada escaln y medir como el tiempo requerido para llegar al 63.2% del valor final.
Este mtodo est influido por imprecisiones en la determinacin del punto t = 0 y tampoco da
una prueba de si realmente el instrumento es de primer orden. Existe un mtodo mejorado el
cual usa los datos de prueba de una funcin escaln redibujados en forma semilogartmica a fin
de obtener un mejor estimativo de y chequear en conformidad una respuesta verdadera de
primer orden. Este mtodo se plantea como sigue. De la ecuacin (3.3.4) se puede escribir
t
= 1 e
K
(3.6.1)
68
1
0.8
0.6
0.4
0.2
10
Figura 3.17: Respuesta normalizada a un escaln.

la cual se encuentra graficada en la Fig. 3.17. De aqu se obtiene
1
Ahora se define
y entonces
= e
K
=
, ln 1
K
(3.6.2)
(3.6.3)
d
1
=
(3.6.4)
dt
As, si se grafica vs t, se obtiene una linea recta cuya pendiente numricamente es 1/ . La

Fig.(3.18) ilustra el procedimiento. Este da un valor ms preciso de puesto se que usa la mejor
lnea a travs de todos los puntos de datos en lugar de slo dos puntos, como en el mtodo del
63.2%. Ms an, si los puntos de datos caen cerca de la lnea recta, esto asegura que el instrumento se comporta como del tipo de primer orden. Si los datos se desvan considerablemente de
la lnea recta se entendera que el instrumento no es de primer orden y un valor de obtenido
por el mtodo del 63.2% sera muy engaoso.
Una verificacin (o refutacin) an ms fuerte de las caractersticas dinmicas de primer
orden es disponible de la prueba de respuesta frecuencial, aunque a considerable costo de tiempo
y dinero si el sistema no es completamente elctrico, puesto que los generadores sinusoidales
no elctricos no son ni comunes ni baratos. Si se dispone del equipo, el sistema es sujeto a
entradas sinusoidales sobre un amplio rango de frecuencias y tanto la entrada como la salida son
registradas. La razn de amplitud y ngulo de fase se grafican sobre escalas logartmicas. Si el
sistema es verdaderamente de primer orden, la razn de amplitud siguen las tpicas asntotas
para bajas y altas frecuencias (pendiente cero y 20 dB/d
ecada) y el ngulo de fase tiende
asintticamente a 90 . Si estas caractersticas estn presentes, el valor numrico de se
encuentra determinando en el punto de quiebre y usando = 1/ b (ver Fig. 3.19). Las

2
10
0
-2
-4
-6
-8
-10
Figura 3.18: Pueba de la funcin escaln para un sistema de primer orden.

desviaciones de las anteriores, caractersticas de amplitud y fase indican un comportamiento
diferente al de un primer orden.
Para sistemas de segundo orden, K se encuentra por calibracin esttica y y n se pueden
obtener de diferentes maneras a travs de pruebas sobre funciones en escaln o respuesta frecuencial. La Fig. 3.20(a) muestra un respuesta tpica a un escaln para un sistema subamortiguado
de segundo orden Los valores de y n se pueden encontrar de las relaciones
v
u
1
= u
(3.6.5)
2
u
t
+1
ln(a/A)
2
p
n =
(3.6.6)
T 1 2
Cuando un sistema est ligeramente amortiguado, cualquier entrada transitoria rpida producir
una respuesta similar a la de la Fig. 3.20(b). Entonces se puede aproximar a
ln(x1 /xn )
2n
(3.6.7)
p
Esta aproximacin supone que 1 2 1.0, la cual es muy precisa cuando < 0.1, y de nuevo
n .puede encontrarse de la ecuacin (3.6.6). Si al aplicar la ecuacin (3.6.6), se presentan muchos
ciclos de oscilacin en el registro, es ms preciso determinar el perodo T como el promedio de
tantos ciclos distintos como sean posibles, en lugar de uno solo. Si un sistema es estrictamente
lineal y de segundo orden, el valor de n en la ecuacin (3.6.7) carece de importancia: el mismo
valor de se encontrar para cualquier nmero de ciclos. As, si se calcula para n = 1, 2, 4 y
6 y se obtienen diferentes valores numricos de , se entiende que el sistema no est siguiendo
el modelo matemtico postulado.
70
0
b = 1
log
-20 dB / dcada
0
-45
-90
Figura 3.19: Prueba de respuesta frecuencial de un sistema de primer orden.

Para sistemas sobreamortiguados ( > 1.0) no existen oscilaciones y la determinacin de y
n se torna ms difcil. Usualmente es ms fcil expresar la respuesta del sistema en trminos
de dos constantes de tiempo 1 y 2 , en vez de y n . De la ecuacin (3.3.11) se puede escribir
f0 (t) = 1
2
1
et/ 2 +
et/ 1
2 1
2 1
(3.6.8)
donde
1 ,
2 ,
p
2 1 n
1
p
+ 2 1 n
(3.6.9)
(3.6.10)
Para encontrar 1 y 2 de la curva de respuesta a una funcin escaln se puede proceder como
sigue [2]:
1. Definir el porcentaje de respuesta incompleta Rpi como
Rpi , 1
100
K
Tiempo
Tiempo
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
ciclos
1
(b)
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
(a)
Figura 3.20: Pruebas de escaln e impulso para sistemas de segundo orden.

2. Dibujar Rpi en escala logartmica contra una escala lineal del tiempo t. Si el sistema es
de segundo orden, esta curva se aproximar a una lnea recta para valores grandes de t.
Prolongar esta lnea hasta cero, y anotar el valor P1 donde la lnea intercepta la escala Rpi .
Ahora, 1 es el tiempo en el cual la asntota de la lnea recta tiene el valor de 0.368P1 .
3. Ahora se dibuja sobre la misma grfica una nueva curva, la cual es la diferencia entre la
asntota en lnea recta y Rpi . Si esta nueva curva no es una lnea recta, el sistema no
es de segundo orden. Si es una lnea recta, el tiempo en el cual esta lnea tiene el valor
0.368(P1 100) es numricamente igual a 2 .
La Fig. 3.21 ilustra este procedimiento. Una vez que 1 y 2 se han encontrado, los valores
de y n se pueden determinar de las ecuaciones (3.6.9) y (3.6.10). Para encontrar y n o
1 y 2 tambin se pueden usar los mtodos de respuesta en frecuencia. La Fig. 3.22 muestra
la aplicacin de estas tcnicas. Los mtodos mostrados usan solamente la curva de relacin de
amplitud. En este caso se aplica la siguiente relacin para encontrar
Ap
1
= p
A0
2 1 2
(3.6.11)
72
150
P1
100
80
70
0.368
60
50
40
0.368 [
- 100]
20
10
5
0
0
Figura 3.21: Prueba de la funcin escaln para sistemas de segundo orden.
donde Ap es el valor mximo de la magnitud para la respuesta frecuencial (valor de la respuesta

del sistema subamortiguado) y A0 es el valor de la magnitud para frecuencia cero (o frecuencia
mnima si es en escala logartmica). Si se dispone de las curvas fasengulo, stas constituyen
una valiosa forma de chequeo del modelo propuesto.
Para sistemas de medida de forma arbitraria (en contraposicin a los tipos de primer y
segundo orden), usualmente se desea la descripcin del comportamiento dinmico en trminos
de la respuesta en frecuencia. Esta informacin puede ser obtenida haciendo pruebas con seales
sinusoidales, de pulsos, o aleatorias, siguiendo los mtodos generales usados experimentalmente
para determinar los modelos matemticos de sistemas fsicos. Cuando el sistema fsico a ser
estudiado es un sistema de medida, la seal de salida o es en si misma generalmente til y no
se requiere la seal de salida de un sensor separado. Sin embargo, usualmente se requiere medir
la seal de entrada ui con un sensor separado, el cual sirve como el patrn de calibracin y cuya
precisn se conoce, y es alrededor de 10 veces mejor que la del sistema a ser calibrado. Si se
puede obtener de esta manera la relacin (o /ui )(i) para el sistema de medida, sta define el
rango de frecuencias bajo las cuales no se requieren correcciones y se proveen los datos necesarios
para hacer correcciones dinmicas (usando los mtodos de transformacin) si se desea usar el
instrumento en su rango de respuesta en frecuencia no plana.
3.7. EFECTOS DE LA CARGA EN SISTEMAS DE MEDIDA
73
1.
.1
.5
1.
5.
.1e2
Figura 3.22: Prueba de respuesta en frecuencia de un sistema de segundo orden.
3.7
Efectos de la carga en sistemas de medida
En la discusin de sistemas de medida, no se ha considerado hasta ahora los efectos producidos

por la carga. Un importante efecto es la carga interna del elemento por medio de la cual
un elemento dado en un sistema puede modificar las caractersticas de los elementos anteriores
(por ejemplo, por drenaje de corriente). A su vez las caractersticas de este elemento pueden
ser modificadas por el siguiente elemento en el sistema. Un segundo efecto ms fundamental, es
el del proceso de carga, donde la introduccin del elemento sensible en el proceso o sistema a
ser medido hace que cambie el valor de la variable medida. As, la introduccin de un sensor de
temperatura dentro de un recipiente para lquido puede ocasionar que la temperatura descienda,
v. gr., 0.2 C. En esta seccin se discuten las dos formas de carga, primero examinando los
principios de la carga elctrica y luego extendiendo estos principios a los efectos de la carga en
general.
3.7.1
Carga elctrica
Se ha representado hasta ahora los sistemas de medida como bloques conectados por lneas
simples donde la transferencia de informacin y energa est en trminos de una sola variable.
As, en el sistema de medida de temperatura Fig. 2.15 la transferencia de informacin entre
los elementos est en trminos nicamente del voltaje. Por lo tanto, no se puede identificar
la corriente drenada en el amplificador generada por la termocupla, ni la corriente drenada en
el indicador generada por el amplificador. Con el fin de describir el comportamiento tanto del
voltaje como de la corriente en la conexin de dos elementos se necesita representar cada elemento
74
por un circuito equivalente caracterizado por dos terminales. La conexin est representada
entonces por dos lneas.
3.7.2
Circuito equivalente Thvenin
El teorema Thvenin establece que cualquier red que consista de impedancias lineales y fuentes
de tensin puede reemplazarse por un circuito equivalente que consiste de una fuente de tensin
VT h y una impedancia en serie ZT h (Fig. 3.23). La fuente VT h es igual a la tensin de circuito
>
i
Red lineal
+
-
ZL
V
Th
+
VL
Z Th
ZL
Figura 3.23: Circuito equivalente de Thvenin.

abierto de la red a travs de los trminales de salida, y ZT h es la impedancia mirando hacia
atras en estos terminales, con todas las fuentes de tensin reducidas a cero y reemplazadas por
sus impedancias internas. As, conectar una carga ZL a travs de los trminales de salida de la
red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito Thvenin. La corriente i en ZL est dada
por
VT h
(3.7.1)
i=
ZT h + ZL
y la tensin VL en la carga es
VL = iZL =
1
VT h
1 + ZZTLh
(3.7.2)
De la ecuacin (3.7.2) se ve que si ZL ZT h , entonces VL VT h ; es decir, que con el fin

de obtener la mxima transferencia de tensin desde la red hasta la carga, la impedancia
de carga debe ser mucho mayor que la impedancia Thvenin de la red. Con el fin de obtener
la mxima transferencia de potencia desde la red hacia la carga, la impedancia de carga
deber ser igual a la impedancia de la red; es decir, ZL = ZT h .
Ahora se puede discutir el circuito equivalente Thvenin para el sistema de medida de temperatura de la Fig. 2.15. La termocupla puede estar representada por ZT h = 20 (resistiva) y
ET h = 40T V , donde T es la medida de la temperatura en la unin, si se ignoran los efectos de
la no linealidad y temperatura de la unin de referencia. El amplificador acta como una carga
para la termocupla y como una fuente de voltaje para el indicador. La Fig. 3.24 muestra un
circuito equivalente general para un amplificador con dos pares de terminales. Usando los datos
tpicos de un amplificador, se tiene una impedancia de entrada ZI = RI = 2 106 , la ganancia
75
Zo
>
vi
Zi
A vi
Figura 3.24: Circuito equivalente de un amplificador.

de voltaje de circuito abierto A = 103 , la impedancia de salida ZO = RO = 75. El indicador
es una carga resistiva de 104 . El circuito equivalente completo para el sistema se muestra en
la Fig. 3.25, y usando la ecuacin (3.7.2) se tiene
VI = 40 106 T
2 106
2 106 + 20
Vn = 1000VI
104
75 + 104
(3.7.3)
Si la escala del indicador muestra que un cambio de 1V en VL produce un cambio en la deflexin
de 25 C, entonces la temperatura medida serTM = 25VL . sto da

TM =
2 106
2 106 + 20
104
104 + 75
T = 0.9925T
(3.7.4)
es decir, se ha introducido un factor ZL /ZT h + ZL en cada interconexin de dos elementos para

admitir la carga. El error por carga L = 0.0075T ; es adems el error de estado estacionario
debido a las imperfecciones de los elementos.
20
>
40T V
Temperatura
verdadera
Termocupla
>
75
vi
2M
+
-
1000 vi
Amplificador
10k
TM =25VL
Temperatura
medida
Indicador
Figura 3.25: Equivalente Thvenin para un sistema de medicin de temperatura.

El error por carga en el ejemplo anterior es pequeo, pero si no se toma cuidado, ste puede
ser muy grande.
Supngase ahora, que un electrodo de vidrio para medir pH, con sensibilidad 59 mV por pH,
es decir, ET h = 59pHmV y ZT h = RT h = 109 , est conectado directamente a un indicador
76
con ZL = RL = 104 y una escala de sensibilidad

pHM = 59pH
1
59 pH/mV.
104
104 + 109
La medida de pH es
1
105 pH
59
(3.7.5)
es decir, aqu estar efectivamente un indicador cero para cualquier valor no cero. As el probelma
es resuelto conectando el elctrodo a un indicador por medio de amplificador buer. Est est
caracterizado por ZIN grande, ZOUT pequeo y una ganancia unitaria A = 1. Por ejemplo,
un amplificador operacional con una etapa de entrada con FET conectado con un seguidor de
voltaje, tendr una ZIN = 1012 , ZOU T = 10. El indicador del valor pH para el sistema
modificado (Fig:(zz)) es
1012
104
pH
pHM = 12
10 + 109 104 + 10
y el error por carga es ahora 0.002pH, es cual es negativo.
L th
R th
V
th
1H
1.5k
+
Vp sen t
-
Tacogenerador de
reluctancia variable
RL
10k
Registrador
Figura 3.26: Carga a.c. de un tacogenerador.

Un ejemplo del efecto de la carga ac, se muestra en la Fig. 3.26, la cual representa el circuito
equivalente de un tacogenerador con reluctancia variable conectado a un registrador. El voltaje
Thvenin VT h para el tacogenerador es tipo ac con una amplitud Vp y una frecuencia angular ,
ambos proporcionales a la velocidad mecnica angular r . En este ejemplo, Vp = (5.0103 ) r V
y = 6 r rad s1 . La impedancia Thvenin ZT h para el tacogenerador es una inductancia y
una resistencia en serie (un imn rodeado por una bobina), es decir, ZT h = RT h + jLT h . As,
si r = 103 rad s1 ; Vp = 5V, = 6 103 rad s1 y ZT h = 1.5 + j6.0k, tal que la amplitud
del voltaje registrado es
VL = Vp
RL
10
= 5p
= 3.85V
|ZT h + RL |
[(11.5)2 + (6.0)2 ]
(3.7.6)
Si la escala de sensibilidad del registrador alcanza el valor de 1/(5 103 )rad s1 , la velocidad angular registrada es 770rad s1 . Este error puede eliminarse bien sea incrementando la
77
impedancia del registrador o cambiando su sensibilidad para evitar los efectos de la carga. Una
mejor alternativa es reemplazar el registrador por un contador que mida la frecuencia en lugar
de la amplitud de la seal del tacogenerador.
3.7.3
Ejemplo del clculo de un circuito equivalente Thvenin
La Fig.(zz) muestra un digrama esquemtico de un sensor potenciomtrico para medida de

desplazamientos d. La resistencia del potencimetro varia linealmente con el desplazamiento.
As si x = d/dT es el desplazamiento fraccional, la resistencia correspondiente es Rp x, donde
Rp es la resistencia total del potencimetro. El voltaje Thvenin ET h es el voltaje de circuito
abierto a travs de los terminales de salida AB. La relacin entre ET h y la fuente de voltaje Vs
es igual a la relacin de la resistencia fraccional Rp x; que es
Rp x
ET h
=
,
Vs
Rp
dando
ET h = Vs x
(3.7.7)
La impedancia Thvenin ZT h se encuentra escogiendo una fuente de voltaje Vs = 0, reemplazando la fuente por sus impedancia interna (se asume cero), y calculando la impedancia vista
desde los terminales AB como se muestra en la Fig.(zz). Asi
1
1
1
+
=
RT h
Rp x Rp (1 x)
dando
RT h = Rp x(1 x)
(3.7.8)
As el efecto de conectar una carga resistiva RL (el registrador o el indicador) a travs de los
terminales AB es equivalente a conectar RL a travs del circuito Thvenin.El voltaje de carga
es
RL
RL
VL = ET h
= Vs x
RT h + RL
Rp x(1 x) + RL
es decir
VL = Vs x
1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
(3.7.9)
La relacin entre VL y x es no lineal, el valor de la linealidad depende de la relacin Rp /RL

(Fig.zz). As el efecto de la carga en un sensor potenciomtrico lineal es introducir un error no
lineal en el sistema dando
1
N (x) = ET h VL = Vs x 1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
es decir
N (x) = Vs
x2 (1 x)(Rp /RL )
1 + (Rp /RL )x(1 x)
(3.7.10)
78
el cual se reduce a N (x) Vs (Rp /RL )(x2 x3 ) si Rp /RL 1 (situacin normal). N (x) tiene
= 4 Vs (Rp /RL ) cuando x = 2 , corresponde a dN/dx = 0 y un valor
un valor mximo de N
27
3
como un porcentaje de la escala full de deflexin o giro Vs
negativo d2 N/dx2 . Expresando N
voltios da:
= 400 Rp % 15 Rp %
(3.7.11)
N
27 RL
RL
Los requerimiento de no linelidad de la sensibilidad y la mxima potencia son usados para
especificar los valores de Rp y Vs para una aplicacin dada. Supngase que un potencimetro de
rango 10cm est conectado a un registrador de 10. Si la mxima no linealidad no debe exceder
3
el 2%, entonces se requiere 15Rp /RL 6 2, es decir Rp 6 20
15 10 ; as un potencimetro de
1K podr ser adecuado. Como la sensibilidad es dVL /dx Vs , la sensibilidad mas grande que
Vs
3.7.4
Circuito equivalente Norton
EL teorema Norton establece que cualquier red que contenga impedancias lineales y fuentes de
voltaje puede ser reemplazado por un circuito equivalente consistente de una fuente de corriente
iN en paralelo con una impedancia ZN (Fig.zz). ZN es la impedancia vista desde los terminales
de salida con todas las fuentes de voltaje reducidas a cero y reemplazadas por su impedancia
interna, y iN es la corriente que fluye cuando los terminales estn corto circuitados. Conectando
una carga ZL a travs de los terminales de la red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito
Norton. El voltaje VL a travs de la carga est dado por VL = IN Z, donde 1/Z = 1/ZN + 1/ZL ,
dando
ZN ZL
(3.7.12)
VL = iN
ZN + ZL
De (3.7.12) se nota que si ZL ZN , entonces VL iN ZL ; es decir, que adems para desarrollar
la mxima corriente a travs de la carga, la impedacnia de carga deber ser ms pequea que la
impedancia Norton para la red.
Un ejemplo comn de una fuente de corriente es un transmisor de presin diferencial electrnico que entrega una seal de corriente a la salida, en un rango de 4 a 20mA, proporcional a
la presin diferencial de entrada, de rangos tpicos de 0 a 2 104 P a. La (Fig.zz) muestra un
circuito equivalente tpico para el transmisor conectado a un registrador por medio de un cable.
Usando (3.7.12), a travs de la carga total RC + RR del registrador y el cable es
VL = iN
RN (Rc + RR )
RN + RC + RR
(3.7.13)
y la relacin VR /VL = RR /(Rc + RR ) dondo el voltaje del registrador

VR = iN RR
RN
RN + RC + RR
(3.7.14)
Usando los datos dados, se tiene que VR = 0.9995iN RR tal que el voltage del registrador diverja
del rango deseado de 1 a 5V solamente el 0.05 por ciento.
79
Un segundo ejemplo de un generador de corriente est dado por un cristal piezoelctrico

actuando como un sensor de fuerza. Si una fuerza F es aplicada a cualquier cristal, entonces los
tomos del cristal experimentan un pequeo desplazamiento x proporcional F . Para un material
piezoelctrico el cristal adquiere una carga q proporcional a x es decir, q = Kx. El cristal puede
por lo tanto ser visto como una fuente de corriente Norton de magnitud iN = dq/dt = K(dx/dt),
donde dx/dt es la velocidad de las deformaciones atmicas. Este efecto se discute mejor en la
seccin 8.7. donde se ve que el cristal acta como capacitor CN en paralelo con la fuente
de corriente iN . La figura 5.11 muestra el circuito equivalente y los valores tpicos de los
componentes para un cristal conectado por medio de un cable capacitivo CC a un grabador que
acta como una carga resistiva RL . El voltaje VL atravs de la carga est dado por iN Z, donde
Z es la impedancia de CC , CN y RL en paralelo. Puesto que
1
Z
= CN s + CC s +
Z =
1
RL
RL
1 + RL (CN + CC )s
donde s denota el operador de Laplace. La funcin de transferencia que relaciona los cambios
dinmicos de la corriente de la fuente y el voltaje de la grabadora es as
RL
VL (s)
=
N (s)
1 + RL (CN + CC )s
(3.7.15)
As, el efecto de la carga elctrica en este ejemplo es para introducir una funcin de transferencia en un sistema de medicin de fuerza; esto afectar la exactitud dinmica.
3.7.5
Carga Generalizada
Se ha visto en la seccin previa como los efectos de la carga elctrica pueden ser descritos
usando un par de variables, el voltaje y la corriente. El voltaje es un ejemplo de una variable
a travs de o esfuerzo y, corriente es un ejemplo de variable de traspaso o flujo x.
Una
variable de esfuerzo conduce a una de flujo a travs de una impedancia. Otros ejemplos de
pares esfuerzo-flujo son fuerza-velocidad, torque-velocidad angular, diferencia de presin-flujo
de volumen, diferencia de temperatura-flujo de calor. Cada par y x tiene la propiedad de
que el producto y x representa potencia en vatios (excepto por las variables de temperatura, que
tienen dimensiones de vatiostemperatura). La tabla 5.1. (adaptada de [2] ) enlista los pares de
esfuerzo-flujo de diferentes formas de energa y cada par define las cantidades relacionadas de
impendancia, rigidez, flexibilidad e inertancia. As se ve que los conceptos de impedancia estn
aplicados a mecnica, fludica y sistemas trmicos tambin como electricos. Para un sistema
mecnico la masa es anloga a la inductancia elctrica, la constante de amortigamiento es
anloga a la resitencia elctrica, y 1/rigidez es anlogo a la capacitancia elctrica. Para un
sistema trmico la resistencia trmica es anloga a la resistencia elctrica, la capacitancia trmica
es anloga a la capacitancia elctrica. Esto significa, que pueden generalizarse los circuitos
elctricos equivalentes de Thvenin y de Norton a sistemas no elctricos. Se pueden entonces
80
estudiar ejemplos de como un elemento sensor primario puede cargar el proceso o el sistema a
ser medido.
La Fig.(zz) muestra un sistema mecnico o proceso representado por una masa, un resorte
y un amortiguador. La fuerza F aplicada a el proceso est siendo medida por un sensor de
fuerza, que consiste de un elemento elstico en unin con un sensor de desplazamiento potencimetrico. El sensor elstico de fuerza puede tambin representarse por una masa, un resorte
y un amortigador. Bajo condiciones de estado estacionario cuando la velocidad sea x = 0 y la
acaleracin sea x
= 0, se tienen las siguientes ecuaciones de balance de fuerzas:
= kp x + Fs
proceso
sensor
Fs = ks x
(3.7.16)
mostrando que la relacin entre la fuerza medida Fs y la fuerza verdadera F es

Fs =
Ks
1
F =
F
ks + kp
1 + kp /ks
(3.7.17)
Adems se ve que para minimizar el error de carga en el estado estacionario el sensor de rigidez
ks podr ser mucho ms grande que la rigidez procesada kp .
Bajo condiciones de inestabilidad cuando x no sea cero, la segunda ley de Newton da las
siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
F kp x p x Fs = mp x
rFs ks x s x = ms x
(3.7.18)
es decir
Z
dx
mp
+ p x + kp xdt
= F Fs
dt
Z
dx
+ s x + ks xdt
ms
= Fs
dt
(3.7.19)
Utilizando las analogias dadas al principio, el sensor puede representarse por Fs conduciendo x
a travs del circuito mecnico L, C, R ,ms , 1/ks , s ; y el proceso puede representarse por F Fs
conduciendo x a travs del circuito mecnico L, C, R ,mp , 1/kp , p . Si x, F y Fs se derivan
de las condiciones estacionarias iniciales, entonces la transformada de Laplace de las ecuaciones
(3.7.19) son:
kp ___
x = F Fs
mp s + p +
s
ks ___
ms s + s +
x = Fs
s
(3.7.20)
81
Usando la tabla
() se puede definir la funcin de transferencia de la impedancia mecnica por
___
ZM (s) = F / x (s), tal que
impedancia del proceso
kp
s
ks
(s) = ms s + s +
s
ZMP (s) = mp s + p +
impedancia del sensor
(3.7.21)
(3.7.22)
De (3.7.20) y (3.7.22) la relacin entre los cambios dinmicos entre la fuerza medida y la real es
Fs (s) =
ZMS
F (s)
ZMS + ZMP
(3.7.23)
Adems para minimizar los efectos de la carga dinmica, la impedancia del sensor ZMS puede ser
mucho ms grande que la impedacnia del proceso ZMP . La Fig.() muestra el circuito equivalente
para el sistema: proceso , sensor de fuerza y el registrador. Se ve que el circuito equivalente
completo para el sensor de fuerza es una red de cuatro terminales o de dos puertos. Esto
es similar al circuito equivalente para un amplificador electronico (Fig.zz) excepto que aqu el
puerto de entrada involucra transferencia de energa mecnica.
La Fig.(zz) muestra un cuerpo caliente, es decir, un proceso trmico cuya temperatura Tp
est siendo medida por un sensor termocupla. Bajo condiciones de inestabilidad, las consideraciones de razn de flujo de calor son dadas por las siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
dTp
dt
dTs
Ms Cs
dt
Mp Cp
= Wp Ws ,
= Ws ,
Wp = Up Ap (TF Tp )
Ws = Us As (Tp Ts )
(3.7.24)
donde
M masa
C calor especfico
U coeficiente de transferencia de calor
A rea de transferencia de calor
Las cantidades Mp Cp , Ms Cs tiene las dimensiones de calor/temperatura y son anlogas a
la capacitancia elctrica. Las cantidades Up Ap , Us As tiene las dimensiones de razn de flujo
de calor/temperatura y son anlogas a 1/(resistencia elctrica). El circuito equivalente para
el proceso y la termocupla est mostrado en la Fig. (zz). Se ve que la relacin entre TF y Tp
depende de un divisor de potencia 1/Up Ap ,Mp Cp y la relacin entre Tp y Ts dependen del divisor
de potencia 1/(Us As ), Ms Cs . De nuevo la termocupla puede representarse por una red de dos
puertos con un puerto de entrada trmico y un puerto de salida elctrico.
En conclusin se nota que la representacin de los elementos de un sistema de medida por
redes de dos puertos permite que los efectos de la carga del proceso y entre los elementos
sea cuantificados.
82
3.7.6
Efectos de la carga bajo condiciones dinmicas
El tratamiento de los efectos de la carga por medio de la impedancia, la admitancia, etc.,

se ha discutido en las seccin () para condiciones estticas. Todos esos resultados pueden ser
inmediatamente transferidos para el caso de la operacin dinmica generalizando las definiciones
en trminos de las funciones de transferencia Las ecuaciones bsicas que se refieren a valor sin
alteracin qi1u y al valor real medido qi1m en la entrada del dispositivo es
ui1m =
ui1m =
ui1m =
ui1m =
1
ui1u
Zgo /Zgi + 1
1
ui1u
Ygo /Ygi + 1
1
ui1u
Sgo /Sgi + 1
1
qi1u
Cgo /Cgi + 1
(3.7.25)
(3.7.26)
(3.7.27)
(3.7.28)
Las cantidades Z, Y, S y C fueron previamente consideradas por ser la razn de pequeos cambios
en dos variables sistemas de afines bajo condiciones establecidas. Para generalizar esos conceptos,
ahora se definen las cantidades Z, Y, S, y C como funciones de transferencia relacionando las
mismas dos variables bajo las mismas condiciones excepto que ahora se considera la operacin
dinmica. Es decir, se debe obtener (tericamente o experimentalmente) Z(s), Y (s), S(s), y
C(s) si se desea usar el mtodo operacional de funcin de transferencia y Z(i), Y (i), S(i),
y C(i) si se desea usar el mtodo de respuesta en frecuencia.
Si esas cantidades deben ser encontradas experimentalmente usualmente la forma de respuesta en frecuencia es en su mayor parte usada. Esto significa, entonces que en la bsqueda,
se supone, Z(i),una de las dos variables involucradas en la definicin de Z juega el papel de
una entrada cantidad la cual se varia sinusoidalmente en diferentes frecuencias. Esto causa un
cambiosinusoidal en la otra variable (salida), y asi se puede hablar de una razn de amplitud y
ngulo de fase entre esas dos cantidades, haciendo ahora Z(i) un nmero complejo que varia
con la frecuencia. (Si el sistema es un poco no lineal, la aproximacin efectiva Z llega a ser
una funcin tambin de amplitud de entrada). En la ecuacin (3.7.25) por ejemplo, Zgo y Zgi
podrn ahora ser nmeros complejos; si esas son conocidas, se puede calcular la amplitud y fase
de qi1m si la amplitud, fase, y frecuencia de una sinusoidal qi1m son dadas. La cantidad qi1m
entonces podr ser la entrada actual (qi ) pra el dispositivo de medida, y se puede calcular qo
si la funcin de transferencia (qo /qi )(i) se conocen. Es decir
o
1
(i) Qi1u (i)
(3.7.29)
Qo (i) =
Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui
As se puede definir una funcin de transferencia cargada (o /ui1u )(i) como
o
(o )
1
(i) ,
(i)
ui1u
Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui
(3.7.30)
83
donde o , salida real del dispositivo de medida que no tiene carga en sus salidas
ui , valor de la variable medida que puede existir si el dispositivo de medida no produce
cargabilidad sobre el medio medido.
Las ecuaciones (3.7.26), (3.7.27) y (3.7.28) pueden ser modificadas en forma similar. Tambin, si las ecuaciones diferenciales que relacionan o (t) se necesitan, se puede escribir
(o )
o
1
(s) =
(s)
ui1u
Zgo s)/Zgi (s) + 1 ui
(3.7.31)
y entonces se obtine la ecuacin diferencial en la forma usual por medio del producto cruz
[Zgo (s)+Zgi (s)] an sn + an1 sn1 + + a1 s + a0 o = [Zgi (s)] bm sm + bm1 sm1 + + b1 s + b0 ui1u
(3.7.32)
Un ejemplo de los mtodos anteriores puede ser til. Considrese un dispositivo para medir la
velocidad translacional, como se muestra en la Fig.(). La funcin de transferencia sin carga que
relaciona el desplazamiento de salida x0 y la velocidad (medida) de entrada vi es obtenida como
sigue:
o
Bi (x i x 0 ) Kis xo = Mi x
xo
Ki
(s) = 2 2
vi
s / ni + 2 i s/ni + 1
(3.7.33)
(3.7.34)
donde
Ki , sensibilidad esttica del instrumento ,
Bi
Kis
m/(m/s)
(3.7.35)
Bi
i , relacin de amortiguacin del instrumento ,
2 Kis Mi
(3.7.36)
ni , frecuencia natural del instrumento sin amotiguacin ,
Kis
Mi
rad/s
(3.7.37)
Se ve que el instrumento es de segundo orden y asi se medir vi exactamente para frecuencias

suficientemente bajas realtivas a in . Supngase ahora conectar el instrumento a un sistema de
vibracin cuya velocidad deseamos medir, como en la Fig.(). La presencia del instrumento de
medida distorcionar la velocidad que se trata de medir. El caracter de esta distorsin puede ser
calculado aplicando la ecuacin (3.7.26), puesto que la cantidad medida es velocidad (un flujo
variable), y asi la admitancia es la cantidad apropiada para usar. Se determina la admitancia
de entrada Ygi (s) = (v/f )(s) de la Fig.() como sigue:
f kis x0 = Mi x
o
(3.7.38)
f = Bi (v x o )
(3.7.39)
Tambin
84
y, eliminado xo , se obtiene
(1/Bi ) s2 / 2ni + 2 i s/ ni + 1
v
Ygi (D) = (s) =
f
s2 / 2ni + 1
(3.7.40)
La Fig.() tambin muestra las frecuencias caractersticas de esta admitancia de entrada. La

admitancia de salida Ygo (s) = (v/f )(s) del sistema de medida es obtenida de la Fig.():
f B x Ks x = M x
(1/Ks ) s
v
(s) = 2 2
Ygo (s) =
f
s / n + 2s/ n + 1
(3.7.41)
(3.7.42)
La frecuencia caracterstica de esta admitancia de salida se muestra en la Fig.(). Se puede ahora

escribir
xo
(s) =
vi1u
xo
1
(s)
Ygo (s)/Ygi (s) + 1 vi
(3.7.43)
Ki
1
xo
(3.7.44)
(s) =
vi1u
s2 / 2ni + 2 i s/ni + 1
s2 / 2ni + 1
(1/Ks ) s
+
1
2 2
s / n + 2s/ n + 1 (1/Bi ) s2 /2ni + 2 i s/ ni + 1

|
{z
}
efecto de la carga
donde xo , salida real del dispositivo de medida

vi1u , velocidad que puede existir si el dispositivo de medida no produce cargabilidad.
La Fig.() muestra que en este ejemplo el efecto de la carga es ms severo para frecuencias
cercanas a la frecuencia natural del sistema de medida, pero cercano a cero para frecuencias
muy bajas o muy altas. Puesto que los efectos de la carga pueden ser expresados en trminos
de frecuencia, ellos pueden ser manejados para toda clase de entradas usando apropiadamente
series de Fourier, transformada, o densidsad espectral de la media cuadrada.
3.8
Seales y ruido en los sistemas de medida
Representacin esttica de las seales aleatorias

a. La Fig.(zz) muestra un registro de una seal aleatoria obtenido durante una observacin
peridica To . Puesto que la seal es aleatoria no se puede escribir por medio de una
ecuacin algebraica continua y(t) para la seal de voltaje y en el tiempo t. Se puede, sin
embargo, escribir por medio de los valores y1 a yN de N muestras tomadas en intervalos
iguales T durante To . La primera muestra y1 es tomada en t = T , la segunda y2 es
tomada en t = 2T , la isima yi es tomada en t = iT , donde i = 1, . . . , N .Los intervalos
3.8. SEALES Y RUIDO EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA
85
Figura 3.27:
de muestreoT = To /N deben satisfacer el teorema de muestreo de Nyquist. Ahora se
puede usar ese muestreo para para calcular las cantidades estticas de la seccin observada
de la seal. Esas cantidades estticas observadas proporcionan una estimacin buena del
comportamiento futuro de la seal, una vez la observacin peridica es completada, con
tal que:
a. To sea suficientemente extenso, es decir N es suficientemente grande.
b. la seal sea estacionaria, es decir, las cantidades estticas de los trminos grandes no
cambian con el tiempo.
3.8.1
Efectos del ruido y la interferencia en los circuitos de medida
En la seccin ?? se vi que la interconexin de dos elementos de medida, tales como una

termocupla y un amplificador o transmisor de presin diferencial y una grabadora, pueden ser
representados por un circuito equivalente, en el cual, ambos, una fuente de voltaje Thvenin o
una fuente de corriente Norton se conecta a una carga. En una instalacin industrial, la fuente y
la carga por lo general se encuentran a 100m de distancia y los ruidos o voltajes de interferencia
pueden presentarse.
La figura ??? muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a una serie de modos de
interferencias; aqu un ruido o interferencia de voltaje VSM es una serie con medida de seal de
86
voltaje ET h . La corriente i a travs de la carga es

i=
ET h + VSM
ZT h + Rc + ZL
y el voltaje correspondiente a travs de la carga

VL =
ZL
(ET h + VSM )
ZT h + Rc + ZL
(3.8.1)
Normalmente se hace ZL Rc + ZT h para obtener la mxima transferencia de voltaje para la

carga; bajo estas condiciones la ecuacin (3.8.1) llega a ser
VL = ET h + VSM
(3.8.2)
Esto significa que en un sistema de transmisin de voltaje todo el VSM est a travs de la carga,
esto afecta el siguiente elemento en el sistema y posiblemente resulte un error en el sistema de
medida. Se define la relacin de seal a ruido o seal a interferencia S/N decibeles por
ET h
Ws
S
= 20 log10
= 10 log!0
dB
(3.8.3)
N
VSM
WN
donde ET h y VSM los valores rms de los voltajes, Ws y WN son las correspondientes potencias
de la seal total y del ruido. As si ET h = 1 V, VSM = 0.1 V , S/N = +20 dB.
La Fig.() muestra un sistema de transmisin de corriente sujeto a las mismas series de modo
de interferecnia de voltaje VSM . La fuente de corriente Norton iN se divide en dos partes, una
parte a travs de la impedancia de la fuente ZN , la otra parte a travs de ZL . Usando la regla
del divisor de corriente, la corriente a travs de la carga debido a la fuente es
i=
ZN
ZN + Rc + ZL
Adems aqui hay una interferencia de corriente

iSM =
VSM
ZN + Rc + ZL
a travs de la carga debido a la interferencia de voltaje. El voltaje total a travs de la carga es

por lo tanto
VL = iZL + iSM ZL
ZN
ZL
= iN ZL
+ VSM
ZN + Rc + ZL
ZN + Rc + ZL
(3.8.4)
(3.8.5)
Normalmente se hace Rc + ZL ZN para obtenr la mxima transferencia de corriente para la

carga; bajo estas condiciones la ecuacin (3.8.5) llega a ser
VL iN ZL +
ZL
VSM
ZN
(3.8.6)
3.8. SEALES Y RUIDO EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA
87
Puesto que ZL /ZN 1, esto significa que con un sistema de transmisin de corriente solamente
una pequea fraccin de VSM est a travs de la carga. As un sistema de transmisin de
corriente tiene una mayor inmunidad inherente a las series de modos de interferencia que un
sistema de transmisin de voltaje. En una termocupla el sistema de medida de temperatura,
por esta razn, puede ser mejor convertir los milivoltios de la fem de la temocupla en una seal
de corriente precedente a la transmisin, ms bien que transmitir la fem directamente.
La Fig.(c) muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a modo comn de interferencia en el cual los potenciales de ambos lados de la seal del circuito son creados por VCM
relativo al plano comn a tierra. Si como, ZL Rc + ZT h , la corriente i 0 para que el
potencial caga a iRc /2 etc. puede ser despreciado. Bajo estas condiciones:
Potencial en B = VCM
Potencial en A = VCM + ET h
y VL = VB VA = ET h .
Esto significa que el voltaje a travs de la carga no est afectado por VCM ; All hay, sin
embargo, la posibilidad de conversin de un voltaje en modo comn a modo serie.
3.8.2
Fuentes de ruido y mecanismos de acople
Fuentes de ruido interno

El movimiento aleatorio inducido por la temperatura de los electrones y otros transportadores
de carga en resistores y semiconductores da un aumento a un correspondiente voltaje aleatorio
llamado termal o ruido de Johnson. Este tiene una densidad de potencia espectral que es
uniforme a lo largo de un rango infinito de frecuencias (ruido blanco) pero proporcional a la
temperatura absoluta K de el conductor, es decir:
= 4Rk watts/Hz
(3.8.7)
donde R ohmios es la resistencia de el conductor y k es la constante de Boltzmann= 1.4

1023 JK 1 . De la ecuacin ???? el ruido de potencia termal total entre las frecuencias f1 y f2
Hz es
Z
f2
W =
f1
4Rk df = 4Rk(f2 f1 ) vatios
y de eq??? el voltaje rms correspondiente es

p
VRMS = W = 4Rk(f2 f1 )
(3.8.8)
(3.8.9)
As, si R = 106 , f2 f1 = 106 Hz y = 300K, VRMS = 130V y es por lo tanto comparable

con las seales de bajo nivel como la salida de puente de galga de esfuerzo. Un tipo similar de
ruido es llamado ruido de disparo; este ocurre en transistores y se debe a las fluctuaciones
aleatorias de la media en los cuales los transportadores difunden a travs de una unin. Este es
de nuevo caracterizado por una densidad de potencia espectral a travs de un amplio rango de
frecuencias.
88
Captulo 4
Anlisis Estadstico de Datos

Experimentales
4.1
Introduccin
Prcticamente en todos los procesos de medicin se observan caractersticas aleatorias. An si el

mismo sistema de medicin se utiliza para medir repetidamente un parmetro fijo, los resultados
no tendrn el mismo valor. Esta aleatoriedad puede ser causada por variables no controladas (o
no controlables) que afectan la medida, o en la carencia de precisin en el proceso de medicin.
En algunos casos la aleatoriedad de los datos es tan dominante que es difcil distinguir los datos
de los valores indeseables. Esto es comn en experimentos en las ciencias sociales y a veces
en ingeniera. En tales casos, la estadstica puede ofrecer herramientas que permiten separar
valores indeseables de los datos recogidos
4.2
Conceptos Generales
En ingeniera, la tendencia general de datos es usualmente evidente; sin embargo, a menudo

se requieren las herramientas estadsticas para identificar y generalizar las caractersticas de
los datos de prueba o determinar los lmites en la incertidumbre de los mismos. Los tipos
de errores en las mediciones se discutieron antes y generalmente se dividen en dos categoras:
de sesgo y de precisin (o sistemticos y aleatorios, respectivamente). Los errores de sesgo son
consistentes, los errores por repeticin pueden a menudo minimizarse por calibracin del sistema
de medicin. Son los errores de precisn los que mejor se pueden tratar utilizando mtodos
de anlisis estadstico. Los conceptos estadsticos son tiles no solo para la interpretacin de
los datos experimentales sino tambin para planeamiento de los experimentos, particularmente
aquellos con un gran nmero de variables independientes o parmetros.
Para aplicar anlisis estadstico a datos experimentales se pueden plantear varios pasos:
Los datos se caracterizan por la determinacin de los parmetros que especifican la ten89
90
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES

dencia central y la dispersin de los mismos.
En el siguiente paso se selecciona la funcin de distribucin terica que sea ms adecuada
para explicar el comportamiento de los datos.
Se puede entonces utilizar la funcin terica elegida para predecir algunas propiedades de
los datos.
4.2.1
Medidas de Tendencia Central
El parmetro ms comn usado para describir la tendencia central es la media, la cual se define
por:
n
. x1 + x2 + + xn X xi
x
=
=
n
n
(4.2.1)
i=1
donde los xi son los valores de los datos de la muestra y n es el nmero de mediciones. Para
una poblacin con un nmero finito de elementos, N, con valores xi , la media se denota con el
smbolo y est dada por:
N
. x1 + x2 + + xn X xi
=
=
N
N
(4.2.2)
i=1
Los otros dos parmetros que describen la tendencia central son la mediana y la moda. Si
las mediciones se ordenan en orden creciente o decreciente la mediana es el valor del centro
del conjunto. Si el conjunto tiene un nmero par de elementos, la mediana es el promedio
de los dos valores centrales. La moda es el valor de la variable que corresponde al valor pico
de la probabilidad de ocurrencia del evento. En un espacio muestral discreto, la moda puede
identificarse fcilmente como el valor de ms frecuente ocurrencia. En un espacio muestral
continuo, la moda se toma como el punto medio del intervalo de datos con la frecuencia ms
alta. Para algunas distribuciones (v. gr., distribucin uniforme), puede no existir la moda,
mientras que para otras distribuciones (v. gr., distribucin bimodal) puede haber ms de una
frecuencia pico y ms de una moda. Para una que tenga ms de una moda, las frecuencias
de ocurrencia de cada moda no requieren ser las mismas. Aunque es comn para la media,
la mediana y la moda tener valores muy cercanos, en algunas hojas de datos pueden aparecer
valores significativamente diferentes.
4.2.2
Medidas de Dispersin
Dispersin es la separacin o variabilidad de los datos. Las siguientes cantidades son las ms
utilizadas para representar la magnitud de la dispersin de variables aleatorias alrededor de su
valor medio:
4.2. CONCEPTOS GENERALES
91
Tabla 4.1: Resultados de 60 mediciones de la temperatura en un ducto

Nmero de Temperarura
lecturas
[ C]
1
1089
1
1092
2
1094
4
1095
8
1098
9
1100
12
1104
4
1105
5
1107
5
1108
4
1110
3
1112
2
1113
La desviacin de cada medida se define como
.
di = xi x
La desviacin media se define como
(4.2.3)
. X |di |
d =
n
(4.2.4)
i=1
La desviacin estndar de la poblacin, para una poblacin con un nmero finito de elementos, se define como
v
uN
X (xi x
)2
. u
=t
(4.2.5)
N
i=1
La desviacin estndar muestral, se define como

v
u n
X (xi x
)2
. u
S=t
n1
(4.2.6)
i=1
La desviacin estndar muestral se usa cuando los datos de una muestra se utilizan para
estimar la desviacin estndar de la poblacin.
La varianza se define como
2
para la poblacin
varianza =
(4.2.7)
para una muestra
S2
92

Tabla 4.2: Medidas de la temperatura arregladas en intervalos.
Intervalo
Nmero de
[ C]
medidas
1085 T < 1090
1
1090 T < 1095
3
1095 T < 1100
12
1100 T < 1105
21
1105 T < 1110
14
1110 T < 1115
7
1115 T < 1120
2
Ejemplo 5 En la Tabla 4.1 se dan los resultados de las mediciones de la temperatura tomadas
en un ducto de gas recalentado. Encontrar los valores correspondientes a los parmetros media,
mediana, desviacin estndar, varianza y moda.
Sol. En la Tabla 4.2 se muestran los datos arreglados para intervalos de temperatura.
Para las mediciones de temperatura de la Tabla 4.1 los resultados son
Media
x
= 1103 C
Mediana
xm = 1104 C
Desviacin estndar
S = 5.79 C
Varianza
S 2 = 33.49 C 2
Moda
m = 1104 C
4.3
Probabilidad
La probabilidad es un valor numrico que expresa la posibilidad de ocurrencia de un evento

relativo a todas las posibilidades en un espacio muestral. La probabilidad de ocurrencia de un
evento A se define como el nmero de ocurrencias exitosas (m) dividido por el nmero total de
resultados (n) en un espacio muestral, evaluada para n 1. Entonces
m
(4.3.1)
n
El evento puede ser representado por una variable aleatoria continua x, en cuyo caso la
probabilidad ser representada por P (x). Para una variable aleatoria discreta xi , la probabilidad
se representa por P (xi ).
Las siguientes son algunas propiedades asociadas con la probabilidad:
Probabilidad de un evento A =
1. La probabilidad siempre es un nmero positivo con un valor mximo de 1, = 0 P (x)

P (xi ) 1.
2. Si un evento A tiene certeza de ocurrir, P (A) = 1.
4.3. PROBABILIDAD
93
3. Si un evento A tiene certeza de no ocurrir, P (A) = 0.

4. Si el evento A es el complemento del evento A, entonces
= 1 P (A)
P (A)
(4.3.2)
5. Si los eventoa A y B son mutuamente excluyentes, la probabilidad de la ocurrencia de A

o B es
P (A Y B) = P (A) + P (B)
(4.3.3)
6. Si los eventos A y B son independientes entre s, la probabilidad de que ocurran simultneamente es
P (A B) = P (A) P (B)
(4.3.4)
7. La probabilidad de la ocurrencia de A o B o ambos es
P (A B) = P (A) + P (B) P (AB)
8. La suma de las probabilidades de todos los valores posibles de x es 1
n
X
P (xi ) = 1
(4.3.5)
i=1
9. La media de la poblacin para una variable aleatoria discreta, llamada tambin el valor
esperado (esperanza) de x, E(x), est dada por:
=
n
X
xi P (xi ) = E(x)
(4.3.6)
i=1
10. La varianza de la poblacin est dada por

n
X
(xi )2 P (xi )
=
2
(4.3.7)
i=1
4.3.1
Funcin Densidad de Probabilidad
Para una variable aleatoria continua, una funcin f (x), llamada funcin densidad de probabilidad, se define tal que la probabilidad de la ocurrencia de la variable aleatoria en un intervalo
entre xi y xi + dx est dado por
f (xi )dx = P (xi x xi + dx)
(4.3.8)
94
Para evaluar la probabilidad de que x ocurrir en un intervalo finito desde x = a hasta x = b,

se puede integrar la ecuacin (4.3.8) para obtener
P (a x b) =
f (x)dx
(4.3.9)
Para una variable aleatoria continua, la probabilidad de que x tenga un valor simple nico,
es cero. Si los lmites de intregracin se extienden desde hasta +, se puede asegurar que
la medicin est en el rango y la probabilidad ser P ( x ) = 1.
La definicin de f (x) permite ahora establecer la media de una poblacin con funcin densidad de probabilidad f (x):
Z
E(x) = =
xf (x)dx
(4.3.10)
Este tambin es el valor esperado (esperanza), E(x) de la variable aleatoria, el cual a veces
se denomina primer momento. La varianza de la poblacin est dada por
Z
2
(x )2 f (x)dx
(4.3.11)
=
La cual tambin se conoce como segundo momento.

Ejemplo 6 La vida de un cierto tipo de rodamiento puede caracterizarse por una funcin de
distribucin de probabilidad de
0
x < 10h
f (x) =
200
x > 10h
x3
f (x) se muestra en la Fig. 4.1.
0.2
y 0.1
10
20
h
30
40
Figura 4.1: Funcin distribucin de probabilidad.
4.3. PROBABILIDAD
95
(a) Calcular la esperanza de vida de los rodamientos.

(b) Si se toma un rodamiento de la lnea de produccin, cul es la probabilidad que su vida
( x) sea menor que 20h, mayor que 20h y, finalmente, 20h?
Sol. (a) Usando la ecuacin (4.3.10),
E(x) = =
xf (x)dx =
10
10
Las probabilidades requeridas estn dadas por

P (x < 20) =
20
f (x)dx =
200
200
x 3 dx =
= 20h
x
x 10
10
0dx +
20
10
P (x > 20) = 1 P (x 20) = 0.25
200
dx = 0.75
x3
P (x = 20) = 0
4.3.2
Funcin de Distribucin Acumulativa
La funcin de distribucin acumulativa es otro mtodo para presentar datos para la distribucin
de una variable aleatoria. Esta se utiliza para determinar la probabilidad que una variable
aleatoria tenga un valor menor que o igual que un valor especfico. La funcin distribucin
acumulativa para una variable aleatoria continua (rv) se define como
Z
f (x)dx = P (rv x)
(4.3.12)
F (rv x) = F (x) =
Para una variable aleatoria discreta, sta se define como

F (rv xi ) =
i
X
P (xi )
(4.3.13)
j=1
Las siguientes relaciones resultan de la definicin de la funcin distribucin acumulativa:

P (a < x b) = F (b) F (a)
(4.3.14)
P (x > a) = 1 F (a)
El uso de la funcin acumulativa se demuestra en el siguiente

Ejemplo 7 Encontrar la probabilidad que el tiempo de vida de uno de los rodamientos del ejemplo anterior sea menor que (a) 15 horas y (b) 20 horas, usando la funcin de distribucin acumulativa.
96
Sol. (a) Usando la ecuacin (4.3.12) se obtiene para la funcin de distribucin acumulativa
(la respuesta grfica se puede ver en la Fig. 4.2)
Z x
Z x
f (x)dx =
0dx = 0
para x 10
F (x) =
Z x
200
100
= 0+
dx = 1 2
para x > 10
3
x
x
10
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
20
30
40
50
Figura 4.2: Funcin de distribucin acumulativa.
4.3.3
Funcin de Distribucin Binomial
La distribucin binomial est definida para variables aleatorias discretas que pueden tener solamente dos resultados posibles xito o falla. Esta distribucin tiene aplicacin en control de
calidad de la produccin, cuando la calidad de un producto es o aceptable o inaceptable. Las
siguientes condiciones debern ser satisfechas para que la distribucin binomial pueda ser aplicable a un cierto experimento:
1. Cada ensayo en el experimento puede tener solamente dos posibles resultados, xito o falla.
2. La probabilidad de xito permanece constante a travs del experimento. Esta probabilidad
se denota por p y usualmente se conoce o se estima para una poblacin dada.
3. El experimento consiste de n ensayos independientes.
La distribucin binomial proporciona la probabilidad P de encontrar exactamente r xitos
en un total de n ensayos y se expresa como

n!
n
r
nr
p (1 p)
=
pr (1 p)nr
(4.3.15)
P (r) =
r
r!(n r)!
4.3. PROBABILIDAD
97
El nmero xitos esperado en n pruebas para una distribucin binomial es

= np
La desviacin estndar de una distribucin binomial es
p
= np(1 p)
(4.3.16)
(4.3.17)
Ejemplo 8 Un fabricante de una cierta marca de computadores afirma que sus computadores
son con-fiables y que solamente el 10% de las mquinas requiere reparacin durante el perodo de
garanta. Determinar la probabilidad de que en una produccin de 20 computadores, 5 requieren
reparacin en el perodo de garanta.
Sol: Se puede aplicar distribucin binomial debido al resultado de aprobado/fallado del
proceso. se definir xito como no requiere reparacin en el tiempo de garanta, en este caso,
de acuerdo a las pruebas del fabricante, p = 0.9. Otras suposiciones para la aplicacin de esta
distribucin son que todos los ensayos son independientes y que las probabilidades de xito
y fallo son las mismas para todos los computadores. El problema consiste en determinar la
probabilidad P de tener 15 xitos r de todas las 20 mquinas n.
20
P =
0.915 (1 0.9)5 = 0.032
15
La conclusin aqu es que hay una pequea posibilidad (3.2%) de que haya exactamente 5
computadores para reparacin de los 20 dados.
Ejemplo 9 Un fabricante de bombillas ha descubierto que para una produccin dada, el 10%
de las bombillas es defectuoso. Si se compran 4 de estas bombillas, cul es la probabilidad de
encontrar que las cuatro, tres, dos, una y ninguna de las bombillas sea defectuosa?
Sol. De nuevo se puede usar la distribucin binomial. El nmero de ensayos es 4 y si se
define xito como falla de bombilla p = 0.1. La probabilidad de tener cuatro, tres, dos, uno y
cero bombillas defectuosas se puede calcular usando la ecuacin (4.3.15). Entonces

4
0.14 (1 0.1)44 = 0.0001 = 0.01%
P (r = 4) =
4

4
P (r = 3) =
0.13 (1 0.1)43 = 0.0036 = 0.36%
3

4
P (r = 2) =
0.12 (1 0.1)42 = 0.0486 = 4.86%
2

4
P (r = 1) =
0.11 (1 0.1)41 = 0.2916 = 29.16%
1

4
P (r = 0) =
0.10 (1 0.1)40 = 0.6561 = 65.61%
0
La probabilidad total de todos los cinco resultados posibles es
P = P (r = 4) + P (r = 3) + P (r = 2) + P (r = 1) + P (r = 0)
=1
98
4.3.4
Funcin de distribucin de Poisson
Definicin 3 Sea x una variable aleatoria que toma los valores posibles 0, 1, . . . , n. Si
P (x = k) =
e k
,
k!
k = 0, 1, . . . , n
(4.3.18)
se dice que x tiene una distribucin de Poisson con parmetro > 0.

Teorema 1 Si x tiene una distribucin de Poisson con parmetro , entonces E(x) = y
S(x) =
Prueba.
k
X
e
E(x) =
k!
k=0
X
e k
=
(k 1)!
k=1
haciendo = k 1, se encuentra
E(x) =
+1
X
e
=0

X
e
k=1
De igual manera,
2
E(x ) =
X
k2 e k
k=0
k!
X
ke k
k=1
(k 1)!
Procediendo como antes

E(x2 ) =

X
X
X
e
e +1
e
=
+
= 2 +
( + 1)
!
!
!
=0
=0
=0
Puesto que la primera suma representa E(x) mientras que la segunda suma es igual a uno.
Luego
S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2 + 2 =
Ntese esta propiedad de la variable aleatoria de Poisson: su esperanza es igual a su varianza.
Existen tablas disponibles para la distribucin de Poisson [19].
4.3.5
Funcin de Distribucin Gaussiana
La funcin de distribucin normal (Gaussiana) es una funcin simple de distribucin, la cual es

til para un nmero grande de problemas comunes que involucran variables aleatorias continuas.
La distribucin normal se ha utilizado para describir la dispersin de los datos en las mediciones
en las cuales la variacin en el valor medido se deben totalmente a factores aleatorios, y la
4.3. PROBABILIDAD
99
ocurrencia de desviaciones tanto positivas como negativas son igualmente probables. La funcin
densidad de probabilidad normal est dada por
(x )2
1
(4.3.19)
f (x) = exp
2 2
2
En esta ecuacin x es la variable aleatoria. La funcin tiene dos parmetros, la dsviacin
estndar de la poblacin, , y la media de la poblacin, . Un grfico de f (x) vs x para valores
diferentes de (0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0) y un valor fijo de (2) se muestra en la Fig. 4.3. Como
se ve en la figura, la distribucin es simtrica alrededor del valor medio, y la menor de las
desviaciones estndar es el valor de pico ms alto de en la funcin.
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
2x
Figura 4.3: Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0.
4.3.6
Propiedades de la distribucin normal
1. Sea f (x) unaR funcin densidad de probabilidad. Evidentemente, f (x) 0. Se debe

+
verificar que f (x)dx = 1.
Demostracin. Haciendo
u=
se puede escribir
2
Z +
u
1
du
exp
I=
2
2
Para calcular esta integral, primero se toma el cuadrado de I, es decir,
2
2
Z +
Z +
1
1
u
v
du
dv
exp
exp
I2 =
2
2
2
2
2
Z + Z +
1
u + v2
=
dudv
exp
2
2
(4.3.20)
(4.3.21)
100
Introduciendo coordenadas polares:

u = r cos ,
v = r sen
(4.3.22)
se tendr como elemento de rea:

dudv = rdrd
(4.3.23)
Cuando u y v varan entre y +, r variar entre 0 y + y lo har entre 0 y 2. Luego

2
Z 2 Z +
1
r
2
rdrd
r exp
I =
2 0
2
0
Z 2
2
1
r2
=
e
d
2 0
0
Z 2
1
=
d = 1
2 0
Por lo tanto I = 1, lo cual se quera demostrar.
2. Considrese la forma del grfico de f (x). ste tiene la forma de campana indicada en la
Fig. 4.3. Puesto que f(x) depende slo de x mediante la expresin (x )2 , es evidente
que el grfico de f (x) ser simtrico respecto a . El parmetro puede interpretarse
geomtricamente. Obsrvese que para x = , el grfico de f (x) es cncavo hacia abajo.
Cuando x , f (x) 0, asintticamente. Puesto que f (x) 0 para todo x, esto
significa que para grandes valores de x (positivos o negativos), el grfico de f (x) ser
cncavo hacia arriba, teniendo los puntos de inflexin en x = . Esto es, unidades
a la derecha y a la izquierda de el grfico de f (x) cambia de concavidad. As, si es
relativamente grande, el grfico de f (x), tiende a ser achatado, mientras que si es
pequeo el grfico de f (x) tiende a ser aguzado (ver Fig. 4.3).
3. De acuerdo a la definicin de funcin densidad de probabilidad en la ecuacin (4.3.9), para
una poblacin dada, la probabilidad de tener un valor simple de x entre un lmite inferior
x1 y un lmite superior x2 es
Z x2
Z x2
1
(x )2
P (x1 x x2 ) =
dx
(4.3.24)
f (x)dx =
exp
2 2
2 x1
x1
Puesto que f (x) est en la forma de una funcin de error, la integral anterior no puede
ser evaluada analticamente, por lo que la integracin debe hacerse numricamente. Para
simplificar el proceso de integracin numrica, se modifica el integrando con un cambio de
variable de modo que la integral evaluada numricamente es general y til para todos los
problemas. Una variable adimensional z se define como
z=
(4.3.25)
4.3. PROBABILIDAD
101
Ahora es posible definir la funcin

z2
1
f (z) = e 2
2
(4.3.26)
la cual se denomina funcin de densidad normal estndar. Ella representa la funcin de

densidad de probabilidad normal para una variable aleatoria z con media = 0 y = 1.
Esta funcin normalizada se muestra en la Fig. 4.4. Tomando la diferencial de la ecuacin
(4.3.25), dx = dz. la ecuacin (4.3.24) entonces se transformar a
P (x1 x x2 ) =
z2
z1
1
f (z)dz =
2
z2
z1
2
z
dz
exp
2
(4.3.27)
La probabilidad de que x est entre x1 y x2 es la misma de que la variable transformada

z est entre z1 y z2
P (x1 x x2 ) = P (z1 z z2 ) = P (
x
x2
x1
(4.3.28)
La probabilidad P (z1 z z2 ) tiene un valor igual al rea demarcada como (z1 y z2)
en la Fig. 4.4. La curva mostrada en la figura es simtrica con respecto al eje vertical en
z = 0, lo cual indica que con esta distribucin, las probabilidades de desviaciones positivas
y negativas desde z = 0 son iguales. Matemticamente se tiene
P (z1 z 0) = P (0 z z1 ) =
P (z1 z z2 )
2
(4.3.29)
Como se mencion, la integral en la ecuacin (4.3.24) tiene dos parmetros ( y ) y
0.4
0.3
y
0.2
0.1
-2
-1
z1 0z z2
Figura 4.4: Funcin de distribucin normal estndar.

deber ser integrado numricamente para cada aplicacin. El trmino es igual a la suma
102

de las reas de las colas de la derecha y de la izquierda en la Fig. 4.4. Estos conceptos
pueden ser reestablecidos como
P [z/2 z z/2 ] = 1
Sustituyendo para z, se obtiene
z/2 x
P z/2 z/2 = P x
+ z/2
=1
/ n
n
n
puede tambin plantearse que
=x
z/2
n
(4.3.30)
(4.3.31)
(4.3.32)
con un nivel de confianza de 1 .

4. Considrese
1
E(x) =
2
Haciendo, como antes, z =
E(x) =
=
x
,
(x )2
dx
x exp
2
se obtiene
2
Z +
1
z
dz
(z + ) exp
2
2
2
2
Z +
Z +
1
1
z
z

dz +
dz
z exp
exp
2
2
2
2
La primera de las integrales anteriores es igual a cero puesto que el integrando,

2
Z +
1
z
dz
z exp
g1 (z) =
2
2
(4.3.33)
(4.3.34)
tiene la propiedad de que g1 (z) = g1 (z), y, por lo tanto, g1 (z) es una funcin impar.
La segunda integral
2
Z +
1
z
exp
g2 (z) =
dz
(4.3.35)
2
2
representa el rea total bajo la funcin densidad de probabilidad total y, por lo tanto, es
(ver el primer tem) igual a la unidad. Luego
E(x) =
5. Considrese
1
E(x ) =
2
2
(x )2
dx
x exp
2
2
(4.3.36)
4.3. PROBABILIDAD
103
Haciendo nuevamente z =
x
,
se obtiene
2
Z +
1
z
2
dz
(z + ) exp
E(x ) =
2
2
Z +
Z
z 2
1
2 + z2
=
2 z 2 e 2 dz +
ze 2 dz +
2
2
Z +
z 2
2
+
e 2 dz
2
2
(4.3.37)
-La segunda integral nuevamente es igual a cero por el argumento usado anteriormente.
La ltima integral (sin el factor 2 ) es igual a la unidad. Para calcular la primera integral
2 R +
2
go (z) = 2 z 2 ez /2 dz, se integra por partes, obtenindose
2
go (z) =
2
z 2 ez
2 /2
Luego
Z +
+
2
2
2
2
dz = zez /2
+
ez /2 dz = 0 + 2
2
2
E(x2 ) = 2 + 2
y por lo tanto
S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2
As se encuentra que los dos parmetros y 2 que caracterizan la distribucin normal

son la esperanza y la varianza de x, respectivamente. En otros trminos, si se sabe que
x est distribuido normalmente, slo se sabe que su distribucin de probabilidades es de
cierto tipo. Si adems, se conoce E(x) y S(x), la distribucin de x est completamente
especificada.
4.3.7
La funcin de distribucin Gamma
Antes de definir la funcin de distribucin gamma, se debe realizar antes la siguiente

Definicin 4 La funcin gamma denotada por se define como
Z
(p) =
xp1 ex dx,
para p > 0
(4.3.38)
Si se integra por partes (haciendo u = xp1 y dv = ex dx), se obtiene:

Z
x p1
+
(p 1)xp2 ex dx
(p) = e x
0
0
Z
= 0 + (p 1)
xp2 ex dx
0
= (p 1)(p 1)
(4.3.39)
104
Se ve que la funcin gamma sigue una relacin recursiva. Suponiendo que p es un entero positivo,
haciendo p = n y aplicando la ec (4.3.39) repetidamente se obtiene:
(n) = (n 1)(n 1)
= (n 1)(n 2)(n 2)
Sin embargo, (1) =
R
0
= (n 1)(n 2) (1)
ex dx = 1, por lo tanto se obtiene
(n) = (n 1)!
(4.3.40)
Si n es un entero positivo.
Ejercicio 1 Verificar que
( 12 )
x
( 12 ) =
u2
2
12
x1/2 ex dx =
x1/2 ex dx =
(4.3.41)
Sol. Haciendo cambio de variable x =

12
u2
2
y sustituyendo en (4.3.41) se obtiene
1
2u
2u1 e
dx = udu
u2
2
udu =
Z
2
u2
2
du
(4.3.42)
De las propiedades de la distribucin normal se puede ver que

r
r
Z
2
u2
I=
e
du =
2
2
0
(4.3.43)
Sustituyendo (4.3.43) en (4.3.42) se llega al resultado de la ecuacin (4.3.41).

Con la ayuda de la funcin gamma se puede presentar ahora la distribucin gamma de
probabilidades.
Definicin 5 Sea x una variable aleatoria continua que toma siempre valores no negativos. Se
dice que x tiene una distribucin de probabilidades gamma si su funcin densidad de probabilidad
est dada por
(x)r1 ex , para x > 0

(r)
= 0,
para otro valor
f (x) =
(4.3.44)
(4.3.45)
Esta distribucin depende de dos parmetros, r > 0 y > 0. La Fig. 4.5 muestra el grfico
de la ecuacin (4.3.44) para diversos valores de r con = 1 (color negro) y = 12 (color azul).
4.3. PROBABILIDAD
105
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
Figura 4.5: Grfico de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y .
4.3.8
Propiedades de la funcin gamma
Si r = 1, la ecuacin (4.3.44) se transforma en f (x) = ex , la cual se denomina distribucin exponencial la cual aparece como un caso especial de la distribucin gamma.
En la mayora de las aplicaciones a probabilidades, el parmetro r ser un entero positivo.
En este caso, existe una relacin entre la funcin de distribucin acumulativa de la funcin
gamma y la distribucin conocida como de Poisson, la cual se expondr en seguida.
Considerando la integral
I=
y r ey
dy
r!
R
en donde r es un entero positivo y a > 0. Luego, r!I = a y r ey dy. Integrando por partes
haciendo u = y r y dv = ey dy, se obtiene
Z
a r
r!I = e a + r
yr1 ey dy
a
La integral en esta expresin es exactamente de la misma forma que la integral original con la
sustitucin de r por r 1. As, al continuar integrando por partes, se obtiene
r!I = ea ar + rar1 + r(r 1)ar2 + + r!
Por tanto
I = e
I = ea
ar
ar1
a2
+
+ +
+a+1
r!
(r 1)!
21
r
r
X
ak X
=
P (y = k)
k!
ki=0
i=0
en donde y tiene una distribucin de Poisson con parmetro .
106
4.3.9
Funcin de distribucin t
La forma funcional de la distribucin t est dada por [18]

( +1
2 )
f (t, ) =
( 2 ) 1 +
t2
(4.3.46)
+1
2
donde (x) es la funcin matemtica conocida como funcin gamma. La Fig. 5.2.16 muestra la
distribucin t Student para diferentes valores de los grados de libertad . Como en la distribucin
0.3
y 0.2
0.1
-3
-2
-1
Figura 4.6: Funcin densidad de probabilidad usando la distribuci n t Student.

normal, stas son curvas simtricas. Cuando el nmero de muestras se incrementa, la distribucin
t tiende a la distribucin normal. La distribucin t puede ser utilizada para estimar el intervalo
de confianza del valor medio de una muestra con cierto nivel de confianza para tamaos pequeos
de la muestra (menores que 30). La probabilidad de que t caiga entre t/2 y t/2 es entonces
1 . Esto puede establecerse como
P [t/2 t t/2 ] = 1
Sustituyendo para t, se obtiene
S
S
x
+ t/2
t/2 x
=1
P t/2 t/2 = P x
S/ n
n
n
(4.3.47)
(4.3.48)
puede tambin plantearse que

S
=x
t/2
n
(4.3.49)
con un nivel de confianza de 1 .

puesto que tablas completas de la distribucin t podran resultar voluminosas, es prctica
comn especificar solamente los valores crticos de t que son funciones de y . Estos son los
valores que se requieren para las ecuaciones (4.3.48) y (4.3.49). La Tabla 4.3 presenta estos
valores crticos de t
4.3. PROBABILIDAD
Tabla 4.3: Valores crticos de la distribucin t Student

/2
0.100
0.050
0.025
0.010
0.005
1
3.078
6.314
12.706
31.823
63.658
2
1.886
2.920
4.303
6.964
9.925
3
1.638
2.353
3.182
4.541
5.841
4
1.533
2.132
2.776
3.747
4.604
5
1.476
2.015
2.571
3.365
4.032
6
1.440
1.943
2.447
3.143
3.707
7
1.415
1.895
2.365
2.998
3.499
8
1.397
1.860
2.306
2.896
3.355
9
1.383
1.833
2.262
2.821
3.250
10
1.372
1.812
2.228
2.764
3.169
11
1.363
1.796
2.201
2.718
3.106
12
1.356
1.782
2.179
2.681
3.054
13
1.350
1.771
2.160
2.650
3.012
14
1.345
1.761
2.145
2.624
2.977
15
1.341
1.753
2.131.
2.602
2.947
16
1.337
1.746
2.120
2.583
2.921
17
1.333
1.740
2.110
2.567
2.898
18
1.330
1.734
2.101
2.552
2.878
19
1.328
1.729
2.093
2.539
2.861
20
1.325
1.725
2.086
2.528
2.845
21
1.323
1.721
2.080
2.518
2.831
22
1.321
1.717
2.074
2.508
2.819
23
1.319
1.714
2.069
2.500
2.807
24
1.318
1.711
2.064
2.492
2.797
25
1.316
1.708
2.060
2.485
2.787
26
1.315
1.706
2.056
2.479
2.779
27
1.314
1.703
2.052
2.473
2.771
28
1.313
1.701
2.048
2.467
2.763
29
1.311
1.699
2.045
2.462
2.756
30
1.310
1.697
2.042
2.457
2.750
1.283
1.645
1.960
2.326
2.576
107
108
Ejemplo 10 Un fabricante de circuitos integrados (CI) desea estimar el tiempo de falla media
de un CI con un 95% de confianza. Se han probado seis sistemas y se han obtenido los siguientes
datos (tiempo de operacin en horas): 1250, 1320, 1542, 1464, 1275, 1383. Estimar la media y el
95% de intervalo de confianza sobre la media.
Sol. Puesto que el nmero de muestras es n < 30, se puede utilizar la distribucin t para
estimar el intervalo de confianza. Primero se calcula la media y la desviacin estndar de los
datos
1
x
= (1250 + 1320 + 1542 + 1464 + 1275 + 1383) = 1372.3 h
6
#1/2
" 5
1 X
S=
(xi x
)
= 114 h
5
i=1
El 95% de confianza corresponde a = 0.05. De la Tabla 4.3, para = n 1 = 5 y /2 =

0.025, t/2 = 2.571. Usando la ecuacin (4.3.49) y un intervalo de confianza de 95%, el tiempo
medio de falla ser
S
114
=x
t/2 = 1372 2.571 = 1372 120 h
n
6
Se debe notar que si se incrementa el nivel de confianza, el intervalo estimado tambin se
incrementar y viceversa.
Ejemplo 11 En el ejemplo anterior, reducir el intervalo de confianza de 95% a 50 h. Determinar cuantos CI adicionales debern ser ensayados en este caso.
Sol. puesto que no se conoce el nmero de muestras no se puede seleccionar la curva de
distribucin t apropiada. De aqu que el proceso de solucin se debe realizar por ensayo y error.
Para obtener el primer estimativo del nmero de muestras n, se asume que n > 30, de modo
que se pueda utilizar la distribucin normal Entonces se puede aplicar la ecuacin (4.3.32) y el
intervalo de confianza ser
50
=x
z/2 = = x
n
de modo que
z/2 = 50
n
2
n = z/2
50
Para un nivel de confianza de 95%, /2 = 0.025. Usando la distribucinnormal estndar, se

encuentra que z0.025 = 1.96. Usando S = 114 (del ejemplo anterior) como un estimativo para ,
se obtiene un primer estimativo de n:
114 2
= 20
n = 1.96
50
4.4. ESTIMACIN DE PARMETROS
109
Puesto que n < 30, se puede utilizar la distribucin t en lugar de la distribucin normal. Se
puede usar n = 20 para el siguiente ensayo. Para = n 1 = 19 y /2 = 0.025, de la Tabla 4.3
se obtiene t = 2.093. Este valor de t se puede utilizar con la ecuacin (4.3.49) para estimar un
nuevo valor de n:
S
50
=x
t/2 = x
n
S
t/2 = 50
n
S
114 2
= 2.093
= 23
n = t/2
50
50
Se puede usar este nmero como un valor de ensayo y recalcular n, pero resultar siendo el
mismo. Ntese que con pruebas adicionales, el valor promedio de la muestra, x
, tambin puede
cambiar.
4.4
4.4.1
Estimacin de Parmetros
Estimacin del Intervalo de la Media de la Poblacin
Se desea hacer un estimativo de la media de la poblacin la cual toma la forma

=x
x
x
+
(4.4.1)
donde es la incertidumbre y x
es la media muestral. El intervalo x
hasta x
+ se
denomina intervalo de confianza de la media. Sin embargo, el intervalo de confianza depende de
un concepto llamado el nivel de confianza, algunas veces llamado grado de confianza. El nivel de
confianza es la probabilidad de que la media de la poblacin caer entre el intervalo especificado:
Nivel de confianza = P (
x x
+ )
(4.4.2)
El nivel de confianza est normalmente expresado en trminos de una variable llamada nivel
de significancia:
Nivel de confianza = 1
(4.4.3)
es entonces, la probabilidad de que la media caer fuera del intervalo de confianza.
El teorema del lmite central hace posible realizar un estimativo del intervalo de confianza
con un adecuado nivel de confianza. Considrese una poblacin de la variable aleatoria x con un
valor medio y una desviacin estndar . De esta poblacin se podra tomar varias muestras
diferentes cada una de tamao n. Cada una de estas muestras podra tener un valor medio
x
i , pero no se podra esperar que cada una de estas medias tenga el mismo valor. En efecto,
los x
i son valores de una variable aleatoria. El teorema del lmite central establece que si n
es suficientemente grande, los x
i tienden a una distribucin normal y la desviacin estndar de
estas medias estar dada por
(4.4.4)
x =
n
110
La poblacin no necesita estar distribuida normalmente para que las medias estn distribuidas
normalmente. La desviacin estndar de la media tambin se denomina error estndar de la
media. Para que se pueda aplicar el teorema del lmite central, el tamao n de la muestra,
debe ser grande. En la mayora de los casos, el valor de n debe ser superior a 30, para que sea
considerado grande.
Del teorema de lmite central se pueden establecer las siguientes conclusiones:
Si la poblacin original es normal, la distribucin para los x
i ser normal.
Si la poblacin original es no normal y n es grande (n > 30), la distribucin para los x
i
ser normal
Si la poblacin original es no normal y si n < 30, los x
i seguirn una distribucin normal
slo en forma aproximada.
Si el tamao de la muestra es grande, se puede usar directamente el teorema del lmite central
para hacer un estimado del intervalo de confianza. Puesto que x
est distribuido normalmente,
se puede usar el valor z ecuacin (4.3.25):
z=
(4.4.5)
y usar la funcin de distribucin normal estndar para estimar el intervalo de confianza sobre
z. es la desviacin estndar de la poblacin la cual, en general, no se conoce. Sin embargo,
para un tamao grande de muestras, la desviacin estndar de muestras, S, puede usarse como
una aproximacin de .
4.4.2
Estimacin del Intervalo de la Varianza de la Poblacin
En muchas situaciones la variabilidad de la variable aleatoria es tan importante como su valor

medio. La mejor estimacin de la varianza de la poblacin, 2 , es la varianza muestral, S 2 .
Como para la media de la poblacin, es tambin necesario establecer un intervalo de confianza
para la varianza estimada. Para poblaciones distribuidas normalmente, se usa la funcin 2
para el propsito de establecer un intervalo de confianza. Considrese una variable aleatoria x
con valor medio de poblacin y desviacin estndar . Si se asume que x
= , la ecuacim
(4.2.5) se puede escribir como
n
1 X
(xi )2
(4.4.6)
S2 =
n1
i=1
la funcin 2 se define como

2 =
n
1 X
(xi )2
2
i=1
(4.4.7)
4.4. ESTIMACIN DE PARMETROS
111
Combinando las ecuaciones (4.4.6) y (4.4.7), se obtiene

S2
(4.4.8)
2
La funcin densidad de probabilidad par auna poblacin distribuida normalmente est dada
2 = (n 1)
por
2
(2 )(2)/2 e /2
(4.4.9)
f ( ) =
para 2 > 0
2/2 (/2)
donde v es el nmero de grados de libertad y es una funcin que se puede obtener de tablas
normalizadas. En la Fig. 4.7 se muestran algunas grficas con variacin del parmetro .
2
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
Figura 4.7: Distribucin f (2 ) f (z) para algunos valores de . [ = 1 (lnea continua), = 2

(trazos), = 3 (puntos), = 5 (puntos y trazos)].
Como con otras funciones de densidad de probabilidad, la probabilidad que la variable 2
caiga entre cualquier par de valores es igual al rea bajo la curva entre esos valores (como se
ilustra en la Fig. 4.8).En forma de ecuacin, esto es
P (2,1/2 2 2,/2 ) = 1
(4.4.10)
es el nivel de significancia como se defini antes y es igual a (1nivel de confianza). Sustituyendo para 2 en la ecuacin (4.4.8), se obtiene
S2
2
2
(4.4.11)
P ,1/2 (n 1) 2 ,/2 = 1
Puesto que 2 es siempre positivo, esta ecuacin puede arreglarse de modo que se pueda dar un
intervalo de confianza sobre la varianza de la poblacin
(n 1)S 2
(n 1)S 2
2
2,/2
2,1/2
(4.4.12)
En la ecuacin (4.4.11), es el rea total de los extremos mostrados en la Fig. 4.8, de modo
que cada extremo (cola) tiene un rea de /2.
112
0.3
0.25
0.2
y
0.15
0.1
0.05
0
10
Figura 4.8: Intervalo de confianza para la distribucin chicuadrado.
4.4.3
Criterio para el rechazo de datos dudosos
En algunos experimentos sucede que uno o ms valores medidos aparecen por fuera de lnea
con el resto de datos. Si se puede detectar alguna falla clara en la medicin de aquellos valores
especficos, stos se pueden descartar. Pero a veces es difcil detectar estos datos erroneos.
Existe un nmero de mtodos estadsticos para el rechazo de estos valores. Las bases de estos
mtodos es eliminar los valores que tienen baja probabilidad de ocurrencia. Por ejemplo, los
valores de los datos que se desvan de la media por ms de dos o por ms de tres en la desviacin
estndar debern ser rechazados. Se ha encontrado que el criterio de rechazo denominado
sigmados y sigmatres debe modificarse para tener en cuenta el tamao de la muestra. Ms
an, dependiendo del tipo de criterio de rechazo que se emplee, podran eliminarse datos buenos
e inclurse datos malos.
El mtodo recomendado en el documento de ANSI/ASME, 86 [1] es la tcnica de Thompson
modificada. En este mtodo, si se tienen n medidas con una media x
y una desviacin estndar
S, se pueden arreglar los datos en orden ascendente x1 , x2 , . . . , xn . Los valores extremos (el ms
alto y el ms bajo) son candidatos a rechazo. Para estos puntos descartables, la desviacin, ,
se calcula como
|
(4.4.13)
i = |xi x
y se selecciona el valor ms grande. El siguiente paso es encontrar un valor de de la Tabla 4.4.
El valor ms grande de i se debe comparar con el producto de y la desviacin estdar, S. Si
> S
(4.4.14)
los valores de los datos se pueden rechazar. De acuerdo a este mtodo, slo el valor de un
dato deber ser eliminado. Se deber recalcular la media y la desviacin estndar de lo datos
restantes y repetirse el proceso. Se deber repetir el proceso hasta que ningn dato deba ser
eliminado.
4.5. CORRELACIN DE LOS DATOS EXPERIMENTALES
113
Tabla 4.4: Valores de los coeficientes de Thompson. Segn: ANSI/ASME86

n
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1.150
1.393
1.572
1.656
1.711
1.749
1.777
1.798
1.815
1.829
n
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
1.840
1.849
1.858
1.865
1.871
1.876
1.881
1.885
1.889
1.893
n
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
1.896
1.899
1.902
1.904
1.906
1.908
1.910
1.911
1.913
1.914
n
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
1.916
1.917
1.919
1.920
1.921
1.922
1.923
1.924
1.925
1.926
Ejemplo 12 Se tomaron nueve medidas de tensin en un circuito elctrico obtenindose los

siguientes datos: 12.02, 12.05, 11.96, 11.99, 12.10, 12.03, 12.00, 11.95, 12.16 V. Determine si
algn dato tomado debe ser rechazado.
Sol. Para los nueve valores anteriores, V = 12.03V y S = 0.07.Utilizando la prueba deThompson se obtiene:
1 = Vmax V = |12.16 12.03| = 0.13
2 = Vmn V = |11.95 12.03| = 0.08
Usando la Tabla 4.4 para n = 9, = 1.777. Entonces S = 1.777 0.07 = 0.124. Puesto que
1 = 0.13 > S = 0.124, deber ser rechazado. Ahora deber recalcularse S y V , lo cual da 0.05
y 12.02, respectivamente. Para n = 8, = 1.749, S = 0.09 y ninguno de los datos restantes
deber rechazarse.
4.5
Correlacin de los Datos Experimentales
La dispersin debida a errores aleatorios es una caracterstica comn de virtualmente todas las
mediciones. Sin embargo, en algunos casos la dispersin puede ser tan grande que es difcil
detectar una tendencia. Considrese un experimento en el cual una variable independiente x
vara sistemticamente y entonces se mide la variable dependiente y. Se desea determinar si el
valor de y depende del valor de x. Para determinar si hay dependencia entre los datos y una
cierta variable, se define un parmetro estadstico llamado coeficiente de correlacin el cual
se puede utilizar para determinar si una tendencia aparente es verdadera o es puramente una
consecuencia del azar.
El coeficiente de correlacin, rxy , es un nmero cuya magnitud puede usarse para determinar
si en efecto existe una relacin funcional entre dos variables medidas x y y. Si se tienen dos
114
variables x y y y el experimento conduce a n pares de datos [(xi , yi ), i = 1, n], se define el

coeficiente de correlacin lineal como
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi
i=1
x
)2
n
P
(yi
i=1
y)2
1/2
(4.5.1)
donde x
y y son los valores medios de x y de y obtenidos experimentalmente y estn dados por
n
x
=
1X
xi
n
i=1
y =
1X
yi
n
(4.5.2)
i=1
El valor resultante de rxy caer en el rango de 1 a +1 Un valor de +1 podra indicar una

relacin lineal perfecta entre las variables con una pendiente positiva (es decir, un incremento
en x resulta en un incremento en y). Un valor de 1 indica una relacin lineal perfecta con
pendiente negativa (un incremento en x produce un decremento en y). Un valor de cero indica
que no hay correlacin lineal entre las variables. An si no hay correlacin, es poco probable
que rxy sea exactamente cero. Para un tamao dado de muestras, se puede utilizar la teora
estadstica para determinar si un rxy calculado tiene significado o es consecuencia del azar.
Para problemas prcticos, se puede simplificar este proceso en la forma de una tabla simple.
Los valores crticos de r, definidos como rt se han calculado [34] y se muestran en la Tabla 4.5.
rt es funcin del nmero de muestras y del nivel de significancia, .
Los valores de r en esta tabla son los valores lmites que podran esperarse por puro azar.
Por cada valor rt en la tabla hay solamente una probabilidad de que un valor experimental de
rxy sea mayor por puro azar. Inversamente, si el vaor experimental excede el valor en la tabla, se
puede esperar que ese valor experimental muestre una correlacin real con el nivel de confianza
1 . Para propsitos prcticos, se toma a menudo el nivel de confianza como 95%, el cual
corresponde a un valor de de 0.05. Para un conjunto de datos dado, se obtiene rt de la tabla y
se compara con el valor calculado de los datos rxy . Si |rxy | > rt , se puede suponer que y depende
de x en una manera no aleatoria y puede esperarse que una relacin lineal ofrecer alguna
aproximacin a la verdadera relacin funcional. Un valor de |rxy | < rt implica que no se tendr
confianza en que exista una relacin funcional lineal No es necesario que la relacin funcional
sea realmente lineal para que se pueda calcular un coeficiente de correlacin significativo. Por
ejemplo, una relacin funcional parablica que muestre una pequea dispersin en los datos
puede mostrar un alto valor en el coeficiente de correlacin. Por otra parte, algunas relaciones
funcionales, mientras sean ms fuertes (v.gr., funciones circulares multivaloradas) resultaran
en un valor muy bajo de rxy .
Se deben tener otras precauciones cuando se usan coeficientes de correlacin:
Un simple valor de los datos mal tomado, puede ocasionar un efecto fuerte en los valores
de rxy .
4.5. CORRELACIN DE LOS DATOS EXPERIMENTALES
115
Tambin es un error concluir que un valor significativo del coeficiente de correlacin implica que un cambio en una variable causa un cambio en la otra. La casualidad deber
determinarse desde otro ngulo del problema
Ejemplo 13 Se sabe que los tiempos por vuelta en una carrera de automviles dependen de la
temperatura ambiente. Se tomaron en la misma pista, en diferentes carreras, para el mismo
carro y con el mismo piloto, los siguientes datos:
Temperatura ambiente ( C)
Tiempo por vuelta (s)
4.4
65.3
8.3
66.5
12.8
67.3
16.7
67.8
18.9
67
31.1
66.6
Existe una relacin lineal entre estas dos variables?
Sol. Primero, se grafican los datos como en la Fig. 4.9. Mirando la grfica, podra pensarse
que hay una ligera correlacin entre la temperatura ambiente y el tiempo de giro. Se calcular
el coeficiente de correlacin para determinar si esta correlacin es real o es debida al azar.
Figura 4.9: Valores grficos de los pares temperaturatiempo.

Se puede determinar este coeficiente utilizando la ecuacin (4.5.1). Para ello se hacen los
clculos como se muestra en la tabla siguiente:
116
x
65.3
66.5
67.3
67.8
67.0
P 66.6
= 400.5
x
= 66.75
y
4.4
8.3
12.8
16.7
18.9
P 31.1
= 92.2
y = 15.367
(x x
)2
2.10
0.06
0.30
1.10
0.06
P 0.02
= 3.66
xx
1.45
0.25
0.55
1.05
0.25
0.15
y y
10.967
7.067
2.567
1.333
3.533
15.733
(y y)2
120.28
49.94
6.59
1.78
12.48
P247.53
= 438.6
(x x
)(y y)
15. 90
1. 77
1. 41
1. 40
0.88
-2.
36
P
= 16. 18
Ahora se puede calcular el coeficiente de correlacin utilizando la ecuacin (4.5.1):
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi
i=1
x
)2
n
P
(yi
i=1
y)2
1/2 =
16. 18
[3.66 438.6]1/2
= 0.403 83
Para un nivel de confianza de 95%, = 1 0.95 = 0.05. Para los seis pares de datos, de
la Tabla 4.5, se obtieneun valor de rt = 0.811. Puesto que rxy < rt , se puede concluir que la
aparente tendencia en los datos es probablemente causada por pura casualidad.
4.6
Ajuste de Curvas
La aplicacin de tcnicas numricas en la ciencia y la ingeniera involucra con mucha frecuencia

el ajuste a curvas de los datos experimentales. A continuacin se estudiarn algunos mtodos
para ajustar datos experimentales a una curva dada siguiendo un proceso sistemtico.
4.6.1
Regresin lineal
A menudo se presenta el caso en el cual un experimento produce un conjunto de puntos a

partir de datos tomados a pares (x1 , y1 ), . . . , (xn , yn ), donde las abscisas {xk } son distintas.
El problema es determinar una frmula y = f (x) que relacione estas variables. Usualmente,
se escoge una clase de frmulas posibles y entonces se deben determinar los coeficientes. Hay
muchas posibilidades diferentes que pueden utilizarse para un cierto tipo de funcin. Hay a
menudo, un modelo matemtico subyacente, basado en la situacin fsica, que determinar la
forma de la funcin. En esta seccin se enfatizar la clase de funciones lineales de la forma:
y = f (x) = Ax + B
(4.6.1)
Si se conocen todos los valores numricos {xk }, {yk } con varios digitos significativos de precisin, entonces la interpolacin polinomial se puede usar exitosamente; de otra forma no. Cmo
4.6. AJUSTE DE CURVAS
117
encontrar la mejor aproximacin lineal de la forma de la ecuacin (4.6.1) que se ajuste cercanamente a estos puntos? Para responder a esta pregunta, se requiere discutir los errores (tambin
llamados desviaciones o residuos), es decir:
ek = f (xk ) yk
para 1 k n
(4.6.2)
Hay varias normas que pueden ser usadas con los residuos en la ecuacin (4.6.2) para medir
cuan cerca de la curva y = f (x) estn los datos.
E (f ) = max {|f (xk ) yk |}
Mximo error
1kn
(4.6.3)
1X
E1 (f ) =
|f (xk ) yk |
n
Error promedio
(4.6.4)
k=1
E2 (f ) =
Error RMS
Error estdar de la estimacin
Eyx
1X
|f (xk ) yk |2
n
k=1
!1
2
v
uP
n
n
P
P
u n 2
yk B
yk A
xk yk
u
t k=1
k=1
k=1
=
n2
(4.6.5)
(4.6.6)
Criterio para un mejor ajuste

Sea {(xk , yk )}nk=1 un conjunto de n puntos, donde las abscisas {xk } son distintas. La lnea de
mnimos cuadrados y = f (x) = Ax + B es la lnea que minimiza el error de la raz cuadrtica
media E2 (f ).
P
La cantidad E2 (f ) ser un mnimo si y solamente si la cantidad n(E2 (f ))2 = nk=1 (Ax +
B yk )2 es mnima. El siguiente resultado explica este proceso
Teorema 2 (Ajuste de una lnea recta utilizando mnimos cuadrados) Supngase que
{(xk , yk )}nk=1 son n puntos, donde las abscisa {xk , }nk=1 son distintos. Los coeficientes de la lnea
de mnimos cuadrados y = Ax + B son las solucin del siguiente sistema lineal conocido como
la ecuacin normal.
n
P
k=1
n
P
k=1
x2k
xk
n
P
xk
xk yk
k=1
A = k=1n
B
P
n
yk
n
P
k=1
(4.6.7)
118
y2
Figura 4.10: Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea definida con mnimos
cuadrados y = Ax + B.
Prueba. Geomtricamente, se comienza con la lnea y = Ax + B La distancia vertical dk
desde el punto (xk , yk ) hasta el punto (xk , Axk + B) sobre la lnea es dk = |Axk + B yk | (ver
Fig. 4.10) Se debe minimizar la suma de los cuadrados de las distancias verticales dk :
n
n
X
X
2
E(A, B) =
(Axk + B yk ) =
d2k
k=1
(4.6.8)
k=1
El valor mnimo de E(A, B) se determina haciendo las derivadas parciales E/A y E/B
iguales a cero y resolviendo estas ecuaciones para A y B. Ntese que {xk } y {yk } son constantes
en la ecuacin (4.6.8) y que A y B son las variables. Fijando B, y derivando E(A, B) con
respecto a A, se obtiene
n
k=1
k=1
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk )(xk ) = 2
(Ax2k + Bxk xk yk )
A
(4.6.9)
Ahora, fijando A y derivando E(A, B) con respecto a B, se obtiene

n
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk ) = 2
(Axk + B yk )
B
k=1
(4.6.10)
k=1
Haciendo las derivadas parciales iguales a cero en (4.6.9) y (4.6.10), y usando la propiedad
de distribucin de la suma se llega a:
n
n
n
n
X
X
X
X
2
2
(Axk + Bxk xk yk ) = A
xk + B
xk
xk yk
0=
k=1
0=
k=1
k=1
n
n
n
X
X
X
(Axk + B yk ) = A
xk + nB
yk
k=1
k=1
(4.6.11)
k=1
k=1
(4.6.12)
119
Estas ecuaciones escritas en forma de matriz conducen al resultado (4.6.7).

Problema 1 (Ajuste de una lnea recta usando mnimos cuadrados) Construir la mejor
lnea recta que se ajuste a los datos dados por los n puntos (x1 , y1 ), . . . , (xn , yn ).
R
Sol. El siguiente programa en Matlab resuelve el problema. Ntese que tambin aparecen
los valores de los puntos dados. En la grfica de la Fig. 4.11 se muestra la mejor recta factible
para este problema.
X=[-1,0,1,2,3,4,5,6];
Y=[10,9,7,5,4,3,0,-1];
D=length(X)*sum(X*X)-sum(X)*sum(X);
A=1/D*(length(X)*sum(X*Y)-sum(X)*sum(Y));
B=1/D*(sum(X*X)*sum(Y)-sum(X)*sum(X*Y));
fprintf(A= %12.3f\n,A)
fprintf(B= %12.3f\n,B)
x=-2:0.01:10;
y=A*x+B;
plot(x,y)
hold on
plot(X,Y,r*)
hold off
grid on
xlabel(x),ylabel(y)
title(Ajuste de una recta usando mnimos cuadrados )
A j u s t e d e u n a r e c t a u s a n d o m n i m o s c u a d r a d o s
12
10
8
6
4
2
0
-2
-4
-6
-8
-2
4
x
Figura 4.11: Lnea y = Ax + B
10
120

La mejor recta resultante ser
y = 1.607x + 8.643
el error estndar de la funcin estimada es

v
r
u n
n
n
X
X
X
281 8.643 37 + 1.607 25
1 u
t
= 0.480 28
yk2 B
yk A
xk yk =
Eyx =
82
n 2 k=1
k=1
k=1
Esto representa la desviacin de los datos y alrededor de los datos predichos por la mejor
lnea de ajuste. La mejor lnea de ajuste, junto con los datos se encuentra graficada en la Fig.
4.11. La regresin lineal de dos variables es una caracterstica estndar en la mayora de los
programas de hoja de clculo en los computadores, requiriendo solamente la entrada de dos
columnas de nmeros.
Ejemplo 14 La siguiente tabla representa la salida (V ) de un transformador diferencial variable
lineal (LVDT) para cinco datos de entrada. Determinar la mejor recta que se ajuste a estos datos
y hacer la grfica correspondiente.
L [cm]
v[v]
0.00
0.05
0.50
0.52
1.00
1.03
1.50
1.50
2.00
2.00
2.50
2.56
Sol. Para resolver el problema, aplicamos los datos en el programa del Problema 1, obetindose:
A = 0.9977
B = 0.0295
La mejor lnea recta resultante ser
y = 0.9977x + 0.0295
donde y es la tensin y x el desplazamiento. El error estndar de la estimacin para estos datos
se obtiene como antes, aplicando la ecuacin (4.6.6):
Eyx
v
u n
n
n
X
X
X
1 u
14.137 0.0295 7.66 0.9977 13.94 1/2
2
t
=
yk B
yk A
xk yk =
= 0.0278
62
n2
k=1
k=1
k=1
Esto representa la desviacin de los datos de y alrededor de los datos predichos por la mejor
lnea recta. Esta recta, junto con los datos se grafica en la Fig. 4.12.
121
Figura 4.12: Aproximacin de un conjunto de datos a una lnea recta.
4.6.2
Ajuste a una funcin potencia y = AxM
Algunas situaciones involucran f (x) = AxM , donde M es una constante conocida. En este caso
hay solamente un parmetro A es determinado.
Teorema 3 Ajuste a una funcin potencia. Supngase que {(xk , yk )}nk=1 son n puntos,
donde las abscisas son distintas. El coeficiente A de la curva de potencia con aproximacin por
mnimos cuadrados y = AxM est dada por
A=
n
P
k=1
n
P
xM
k yk
k=1
(4.6.13)
x2M
k
Usando la tcnica de mnimos cuadrados, se obtiene un mnimo de la funcin E(A) as:

E(A) =
n
X
2
(AxM
k yk )
(4.6.14)
k=1
En este caso es suficiente resolver E(A) = 0. La derivada es

E(A) = 2
n
n
X
X
M
M
(AxM
y
)(x
)
=
2
(Ax2M
k
k
k
k xk yk )
k=1
k=1
(4.6.15)
122

Entonces, el coeficiente A es la solucin de la ecuacin
0=A
n
X
x2M
k
k=1
n
X
xM
k yk
(4.6.16)
k=1
la cual se reduce a la frmula en la ecuacin (4.6.13).
4.6.3
Ajuste aproximado a una curva
Mtodo de linealizacin de datos para y = CeAx

Supngase que se tienen los puntos (x1 , y1 ), . . . , (x1 , y1 ) y se desea ajustar a una curva exponencial de la forma
y = CeAx
(4.6.17)
El primer paso es tomar el logaritmo en ambos lados:

ln(y) = Ax + ln(C)
(4.6.18)
Entonces se introduce el cambio de variables:

Y = ln(y),
X (x)
B = ln(C)
(4.6.19)
Esto resulta en una relacin entre la nueva variable X y Y :

Y = AX + B
(4.6.20)
Los puntos originales (xk , yk ) en el plano xy se transforman en los puntos (Xk , Yk ) = (xk , ln(yk ))
en el plano XY. Este proceso es llamado linealizacin de datos.Entonces el mtodo de mnimos
cuadrados de la ecuacin (4.6.20) ajusta la lnea a los puntos {(Xk , Yk )}. Las ecuaciones normalizadas para encontrar A y B son:
n
P
k=1
n
P
k=1
Xk2
Xk
Xk
Xk Yk
k=1
A = k=1n
P
B
n
Yk
n
P
k=1
(4.6.21)
El parmetro C se calcula de la ecuacin (4.6.17), una vez hallados los valores de A y B:

C = eB
(4.6.22)
Ejemplo 15 Use el mtodo de linealizacin de datos y encuentre el ajuste exponencial y = CeAx

para los puntos dados por (0,1.5), (1,2.5), (2,3.5), (3,5) y (4,7.5).
123
Sol. Aplicando la transformacin (4.6.19) se obtiene:
{(Xk , Yk )} = {(0, ln(1.5)), (1, ln(2.5)), (2, ln(3.5)), (3, ln(5.0)), (4, ln(7.5))}
= {(0, 0.40547), (1, 0.91629), (2, 1.25276), (3, 1.60944), (4, 2.01490)}(4.6.23)
La ecuacin de la recta Y = AX + B ajustada por mnimos cuadrados para los puntos (4.6.23)
est dada despus de clculos (ver Problema 1) por
Y = 0.391202X + 0.457367
(4.6.24)
y la grfica correspondiente se muestra en la Fig. 4.13.

3
2.5
2
y 1.5
1
0.5
0
Figura 4.13: Puntos de datos transformados {(Xk , Yk )}.

El valor de C se determina de la ecuacin (4.6.22), es decir, C = e0.457367 = 1. 6. De aqu se
obtiene el ajuste exponencial dado por:
y = 1. 6e0.391202x
(4.6.25)
cuya grfica se muestra en la Fig. 4.14.
4.6.4
Ajuste polinomial
Cuando el mtodoprecedente se adapta para usar las funciones {fj (x) = xj1 }y el ndice de los
rangos de sumacin desde j = 1 hasta j = m + 1, la funcin f (x) ser un polinomio de grado
m:
(4.6.26)
f (x) = c1 + c2 x + c3 x2 + + cm+1 xm
Ahora se mostrar como encontrar, v. gr., la parbola con mnimos cuadrados, y la extensin
a un polinomio de grado ms alto.
124
10
8
6
y
4
2
Figura 4.14: Ajuste exponencial a y = 1. 6.e0.391202x obtenido por el mtodo de linealizacin de

los datos
Teorema 4 (Parbola con mnimos cuadrados) Supngase que {(xk , yk )}nk=1 son n puntos,
donde las abscisas son distintas. Los coeficientes de la parbola por mnimos cuadrados
y = f (x) = Ax2 + Bx + C
(4.6.27)
son los valores solucin de A, B y C del sistema lineal

n
X
x4k
k=1
n
X
k=1
x3k
!
!
A+
n
X
x3k
k=1
A+
n
X
k=1
n
X
x2k
k=1
x2k
!
!
A+
B+
n
X
x2k
k=1
B+
n
X
k=1
n
X
k=1
xk
xk
!
!
C =
n
X
yk x2k
k=1
C =
B + nC =
n
X
k=1
n
X
yk xk
(4.6.28)
yk
k=1
Prueba. Los coeficientes A, B y C minimizarn la cantidad
0 = E(A, B, C) =
n
X
k=1
Ax2k + Bxk + C yk
(4.6.29)
125
Las derivadas parciales relativas a A, B y C deben ser cero. Esto resulta en

n
0 =
E
=2
Ax2k + Bxk + C yk (x2k )
A
k=1
0 =
0 =
E
=2
B
n
X
k=1
Ax2k + Bxk + C yk (xk )
(4.6.30)
n
X
2
E
Axk + Bxk + C yk
=2
C
k=1
Usando la propiedad distributiva de la adicin y llevndola a forma de matriz se obtiene:
Pn
Pn
Pn
Pn
4
3
2
2
x
x
x
y
x
A
k
k=1
k=1
k=1
k=1
k
k
k
k
P
Pn
Pn
P
2
B = nk=1 yk xk
nk=1 x3
(4.6.31)
k=1 xk
k Pk=1 xk
Pn
Pn
n
2
x
x
n
y
C
k=1 k
k=1 k
k=1 k
que es la misma expresin dada por la ecuacin (4.6.30)
Ejemplo 16 Encontrar la parbola con mnimos cuadrados para los cuatro puntos (3, 3), (0, 1), (2, 1)
y (4, 3).
Sol. Los datos y operaciones de suma
El sistema lineal quedar:
353 45
45 29
29 3
requeridas, se muestran en la Tabla 4.6
29
A
79
3 B = 5
4
C
8
La solucin de este sistema lineal es A = 585/3278, B = 631/3278, C = 1394/1639 y la

parbola deseada es
y = 0.17846x2 0.1925x + 0.85052
La respuesta grfica se puede ver en la Fig. 4.15.
4.6.5
Software para Anlisis Estadstico de Datos Experimentales
El anlisis estadstico y la presentacin de los datos ha llegado a ser una caracterstica necesaria de muchos proyectos de ingeniera y administracin. La mayora de las hojas de clculo
electrnico contienen funciones estadsticas y algunos programas contienen altas capacidades esR
R
R
R
tadsticas (v. gr., Matlab , SWP , Stella , Excel , etc.). Los mejores programas contienen
no solamente clculos par determinar la media y la dispersin estndar, ordenamiento de datos
e histogramas, sino tambin clculos de coeficientes de regresin lineal y no lineal, coeficientes
R
de correlacin y tablas de funciones de distribucin (t, 2 , etc) (Simscript ).
126
2.5
2
y 1.5
1
0.5
-3
-2
-1
2x
Figura 4.15: Ajuste a una parbola usando mnimos cuadrados.
Tabla 4.5: Valores mnimos del coeficiente de correlacin para un nivel de significancia a.
n
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
3
0.951 0.988 0.997 1.000 1.000
4
0.800 0.900 0.950 0.980 0.990
5
0.687 0.805 0.878 0.934 0.959
6
0.608 0.729 0.811 0.882 0.917
7
0.551 0.669 0.754 0.833 0.875
8
0.507 0.621 0.707 0.789 0.834
9
0.472 0.582 0.666 0.750 0.798
10
0.443 0.549 0.632 0.715 0.765
11
0.419 0.521 0.602 0.685 0.735
12
0.398 0.497 0.576 0.658 0.708
13
0.380 0.476 0.553 0.634 0.684
14
0.365 0.458 0.532 0.612 0.661
15
0.351 0.441 0.514 0.592 0.641
16
0.338 0.426 0.497 0.574 0.623
17
0.327 0.412 0.482 0.558 0.606
18
0.317 0.400 0.468 0.543 0.590
19
0.308 0.389 0.456 0.529 0.575
20
0.299 0.378 0.444 0.516 0.561
25
0.265 0.337 0.396 0.462 0.505
30
0.241 0.306 0.361 0.423 0.463
35
0.222 0.283 0.334 0.392 0.430
40
0.207 0.264 0.312 0.367 0.403
45
0.195 0.248 0.294 0.346 0.380
50
0.184 0.235 0.279 0.328 0.361
100 0.129 0.166 0.197 0.233 0.257
200 0.091 0.116 0.138 0.163 0.180
Tabla 4.6: Obtencin de los coeficientes para un parbola de mnimos cuadrados

xk
yk
x2k
x3k
x4k
xk yk
x2k yk
3
3
9
27
81
9
27
0
1
0
0
0
0
0
2
1
4
8
16
2
4
4
3
16
64
256
12
48
P
P
P
P
P
P
P
=3
=8
= 29
= 45
= 353
=5
= 79
127
128
Captulo 5
Incertidumbre Experimental
5.1
Introduccin
El anlisis de la incertidumbre es parte vital de cualquier programa experimental o diseo de

sistemas de medida. En este captulo, se proporcionarn mtodos para combinar las incertidumbres de las fuentes de manera que se pueda estimar la incertidumbre de los resultados finales
de un experimento. Cualquier resultado experimental involucrar algn nivel de incertidumbre
que puede ser originada por diferentes causas tales como la carencia de precisin del equipo de
medida, variacin aleatoria de los elementos de medicin (parmetros fsicos) y aproximaciones
en los datos recolectados. Todas estas incertidumbres pueden eventualmente afectar el resultado
final de la medicin, llevando al sistema a una incertidumbre global. A este resultado se le denomina propagacin de la incertidumbre y es un aspecto importante de cualquier experimento
en ingeniera. El anlisis de incertidumbre se efecta en varias etapas del proceso:
Etapa de diseo. Para seleccionar las tcnicas de medicin y los dispositivos requeridos.
Despus de completar la toma de datos. Para demostrar o verificar la validez de los
resultados.
Mientras se realizan o se validan los experimentos. Para identificar las acciones correctivas
Los aspectos bsicos se presentan en este captulo. Para detalles adicionales se puede consultar la Norma ANSI/ASME(1986) [1].
5.2
Propagacin de las Incertidumbres
Sea R, una funcin resultante de n variables independientes medidas x1 , x2 , . . . , xn dada por

R = f (x1 , x2 , . . . , xn )
129
(5.2.1)
130
CAPTULO 5. INCERTIDUMBRE EXPERIMENTAL
Las xi son las cantidades medidas (salidas de instrumento o componentes). Se puede relacionar un pequeo cambio en R, con pequeos cambios en los xi , xi a travs de la expresin
diferencial
n
X R
R
R
R
x1 +
x2 + +
xn =
xi
R =
x1
x2
xn
xi
(5.2.2)
i=1
Esta ecuacin es exacta si los son infinitesimales: de otra forma, es una aproximacin. Si
R es un resultado calculado basado en los xi medidos, se pueden reemplazar los valores de los
xi por las incertidumbres en las variables, denotadas por wxi y R se puede reemplazar por la
incertidumbre en el resultado denotada por wR .
Cada uno de los trminos de la ecuacin (5.2.2) puede ser positivo o negativo y, puesto que
se designarn los w como un rango ms/menos para la mayora de los errores probables, la
ecuacin (5.2.2) no producir un valor verdadero para wR . Podra ser posible, en principio, que
los trminos positivos y negativos llegaran a cancelarse obtenindose eventualmente un valor de
cero para wR. Por lo tanto, se utiliza estimar el valor de la incertidumbre de R haciendo positivos
todos los trminos del miembro de la derecha de la ecuacin (5.2.2). En forma matemtica,
quedar:
n
X
R
wR =
xi wxi
(5.2.3)
i=1
No es muy probable que todos los trminos en la ecuacin (5.2.2) sean simultneamente
positivos o que los errores en los x individuales estn en el extremo del intervalo de incertidumbre.
Consecuentemente, la ecuacin (5.2.3) producir un estimativo muy alto para wR . Un mejor
estimativo para la incertidumbre est dado por
v
u n
2
uX R
t
wR =
wx
xi i
(5.2.4)
i=1
Las bases conceptuales para la ecuacin (5.2.4) se discuten, v.gr., en Coleman y Steel [9].
A veces se conoce como raiz cuadrada de la suma de los cuadrados (rcs). Cuando se usa la
ecuacin (5.2.4), el nivel de confianza en la incertidumbre del resultado R, ser la misma que los
niveles de confianza de las incertidumbres en los x. Como conclusin, es conveniente que todas
las incertidumbres utilizadas en la ecuacin (5.2.4) sean evaluadas al mismo nivel de confianza.
Hay una restriccin significativa para el uso de la ecuacin (5.2.4). Cada una de las variables,
como se dijo al principio, deben ser independientes entre si. Esto es, un error en una variable
no deber estar correlacionado con el error en otra. Si las variables no son independientes, la
formulacin es ligeramente diferente y se discute en [1] y en [9].
Cuando en el problema se conoce una cierta precisin total necesaria y se desea saber qu
precisiones se requieren en los componentes, puede emplearse un mtodo aproximativo. Para
ello es posible apreciar que este problema es matemticamente indeterminado, ya que existe un
5.2. PROPAGACIN DE LAS INCERTIDUMBRES
131
nmero infinito de combinacin de estimativos para las incertidumbres individuales que puedan
dar por resultado la misma incertidumbre total. Los medios para eliminar esta dificultad se
encuentran en el mtodo de efectos iguales. En esta teora se supone simplemente que cada
fuente de error contribuir con una cantidad de error igual. Matemticamente, si
v
u n
2
uX R
t
wx
wR =
xi i
i=1
entonces, si cada trmino contribuye con el mismo error se tendr:

s
2
R
wx
wR =
n
x
(5.2.5)
y de aqu se obtiene despejando wx :

wR
wx = R
n x
(5.2.6)
De esta expresin, se puede obtener el error admisible, wx para cada medida que deba realizarse.
Ejemplo 17 Para calcular el consumo de potencia en un circuito resistivo, se han medido la
tensin y la corriente en el mismo encontrndose para la tensin V = 120 2 V y para la corriente I = 10 0.2 A.Calcular el errormximo posible y el mejor estimativo de la incertidumbre
en el clculo de la potencia. Suponer el mismo nivel de confianza para V e I.
Sol. Escribiendo la ecuacin de potencia P = V I y calculando las derivadas parciales
respecto a V e I se obtiene
P
= I = 10A
V
R
= V = 120V
I
Entonces
wP max
wP
P
P
wV +
wI = 10 2 + 120 0.2 = 44W
=
V
I
s
2
2 p
P
P
wV
wI
=
+
= (10 2)2 + (120 0.2)2 = 31.24W
V
I
El mximo error en 44W es del 3.67% de la potencia (P = V I = 12010 = 1200W ) mientras

que valor estimativo de la incertidumbre es a 31.24W es 2.60%.
Si la resultante R es dependiente solo del producto de las variables medidas, es decir,
R = Cx1 1 x2 2 xnn
Se puede demostrar que la ecuacin (5.2.4) toma una forma ms simple:
(5.2.7)
132

v
u n
X wi 2
wR u
t
=
i
R
xi
(5.2.8)
i=1
Esta frmula es ms fcil de usar puesto que el error fraccional en el resultado R, est
relacionado directamente con los errores fraccionales en las medidas individuales. Cada uno de
los exponentes 1 , 2 , , n puede ser positivo o negativo.
Una caracterstica importante de las ecuaciones (5.2.4) y (5.2.8) es que, puesto que los
trminos individuales son elevados al cuadrado antes de sumarse, los trminos de valor mayor
tienden a ser dominantes. La ecuacin (5.2.4) tambin se puede utilizar en la fase de diseo de
un esperimento para determinar la precisin requerida de los instrumentos y otros componentes.
Ejemplo 18 Considrese un experimento para medir, por medio de un dinammetro, el promedio de potencia transmitida por un eje giratorio. La frmula para la potencia en caballos de
fuerza puede escribirse como:
2LF
(5.2.9)
Php =
550t
donde $ revoluciones del eje durante el tiempo t, L $ longitud del brazo del par motor,
[pies], F $ fuerza en el extremo del brazo del par, [lbf], t $ tiempo que dura el experimento,
[s].Si para una observacin especfica los datos son:
= 1202 1.0 rev
= 10.12 0.04 lbf
L = 15.63 0.05
t = 60.00 0.50 s
Sol. Transformando la ecuacin (5.2.9) en funcin de unidades de pulgada, se tiene

Php =
LF
LF
2
=
12 550 t
t
donde = 9.520 0 104 . Calculando las diferentes derivadas parciales, se obtiene:

Php
Php
L
Php
F
Php
t
LF
15.63 10.12
= 9.52 104
= 2.509 7 103
t
60
F
1202 10.12
=
= 9.52 104
= 0.19301
t
60
L
1202 15.63
=
= 9.52 104
= 0.29809
t
60
LF
1202 15.63 10.12
= 2 = 9.52 104
= 5.0278 102
t
602
=
(5.2.10)
133
El error absoluto mximo ser:

Php Php Php Php

whpmax =
w +
wL +
wF +
wt
L
F
t
whpmax = 2.5097 103 1.0 + 0.19301 0.05 + 0.29809 0.04 + 5.0278 102 0.5
whpmax = 4.9223 102 hp
La potencia total est dada por:

LF
1202 15.63 10.12
= 9.52 104
= 3.0167 hp
t
60
El resultado puede, entonces, expresarse como
Php =
Php = 3.017 0.049 hp

Php = 3.017 1.6% hp
La ecuacin (5.2.4) puede usarse para estimar el lmite de la incertidumbre en la medida
whp =
whp =
Php
w
Php
wL
L
Php
wF
F
Php
wt
t
p
(2.5097 103 1.0)2 + (0.19301 0.05)2 + (0.29809 0.04)2 + (5.0278 102 0.5)2
whp = 2.9556 102
Se puede observar que whp < whpmax Se puede afirmar que el error es quiz tan grande como
0.049hp, pero probablemente no mayor que 0.029 hp.
Supngase que en el ejemplo anterior se desea medir la potencia con una precisin del
0.5%.Qu precisiones se requieren en las medidas individuales?
Sol. Utilizando la ecuacin (5.2.6), se obtiene para cada parmetro:
w =
wL =
wF
wt =
wR
R
n
wR
R
n L
wR
R
n F
wR
R
n t
3.0167 0.005
= 3.005rev
=
4 2.5097 103
3.0167 0.005
= 3.9074 102 pulg
=
4 0.19301
3.0167 0.005
= 0.0253lbf
=
4 0.29809
3.0167 0.005
= 0.15s
=
4 5.0278 102
(5.2.11)
(5.2.12)
(5.2.13)
(5.2.14)
Si se encuentra que el mejor instrumento y tcnica disponibles para medir, v. gr., la fuerza, F,
son buenos slo hasta 0.04 lbf en lugar de 0.025 lbf que pide la ecuacin (5.2.13), esto significa
necesariamente que Php no medirse al 0.5%. Sin embargo, ello no quiere decir que una o ms
de las otras cantidades (, L o t), deban medirse con mayor precisin que la requerida en las
ecuaciones (5.2.11), (5.2.12) y (5.2.14), respectivamente. Haciendo una o ms de estas medidas
con mayor precisin, puede contrarrestarse el error excesivo en la medida de F.
134
5.2.1
Consideraciones de sesgo y precisin
En las primeras fases del diseo de un experimento, no es prctico separar los efectos del sesgo
y los errores de precisin. Se puede usar la ecuacin (5.2.4) con estas incertidumbres de las
variables medidas para estimar la incertidumbre resultante. En un anlisis ms detallado, es
deseable mantener separado el anlisis de la incertidumbre en el sesgo (sistemtica) con la
incertidumbre en la precisin (aleatoria). Estas incertidumbres conocidas como lmite de sesgo
y lmite de precisin, respectivamente, se denotan por los smbolos B y P. El error de precisin
es aleatorio en medidas individuales y su estimacin depende del tamao de la muestra. El error
de sesgo no vara durante lecturas repetidas y es independiente del tamao de la muestra.
El error de precisin usualmente se determina por mediciones repetidas de la variable de
inters (o mediciones repetidas en pruebas de calibracin). Los datos medidos se usan para calcular la desviacin estndar muestral de las mediciones, la cual se denomina ndice de precisin,
Sx en anlisis de incertidumbre.
"
#1
n
2
1 X
2
(xi x
)
(5.2.15)
Sx =
n1
i=1
Entonces se puede determinar el lmite de precisin, Pxi , para una medida simple xi puede
entonces estimarse utilizando el mtodo t Student :
Pxi = tSx
(5.2.16)
donde t es la funcin de nivel de confianza (v.gr., 95%) y los grados de libertad. El uso de
la distribucin t en la ec (5.2.16) es diferente de la discusin de la distribucin t dada en la
desigualdad (4.4.14). En ese caso la distribucin t se aplica solamente al intervalo de confianza
sobre la media de un conjunto de medidas. En ANSI/ASME 86 [1]; sin embargo, la distribucin
t se aplica al clculo del intervalo de confianza de una medida individual cuando la desviacin
estndar se basa en una muestra pequea. Si se desea predecir la incertidumbre de la media, x
,
de las medidas (xi ), se sigue la formulacin dada antes. Puesto que la desvicin estndar de la
media se relaciona con la desviacin estndar de las mediciones por
Sx
Sx =
n
(5.2.17)
la incertidumbre de la media estar dada por

Px = tSx
(5.2.18)
El intervalo de incertidumbre en la precisin est dado por

tSx
Px =
n
(5.2.19)
El lmite de sesgo, B, permanece constante si se repite la prueba bajo las mismas condiciones.
Los errores de sesgo incluyen aquellos errores que son conocidos pero no se han eliminado por
135
medio de calibracin y otros errores fijos que pueden ser estimados pero no eliminados del proceso
de medida.
Para combinar las incertidumbres de precisin y sesgo, se usa la expresin
p
(5.2.20)
w = P 2 + B2
El nivel de confianza en la incertidumbre, w, que el nivel de confianza en P.En ANSI/ASME 86

se recomienda que para anlisis de incertidumbre se use un nivel de confianza del 95%.
Existen muchas situaciones en las cuales resulta un error grande de sesgo debido a la instalacin de los dispositivos de medida. Un ejemplo es la medicin de la temperatura de un gas
caliente cuando se retiene el gas en un contenedor fro. La transferencia de calor por radiacin
entre las paredes del contenedor y el dispositivo de medida resultar en valor medido inferior
a la verdadera temperatura del gas. Errores dinmicos y espaciales tambin pueden introducir
grandes errores de sesgo. En muchos casos es posible reducir el error de sesgo corrigiendo analticamente los datos. Este proceso de correccin puede reducir significativamente este tipo de error,
pero como el proceso de correccin es en s mismo incierto, el proceso no puede reducir el error
de sesgo a cero.
Ejemplo 19 Para estimar el valor calrico de un campo de gas natural se tomaron diez muestras
y valor calrico de cada muestra se midi con un calormetro. Los valores medidos en kJ/kg son
48530, 48980, 50210, 49860, 48560, 49540, 49270, 48850, 49320, 48680
Asumiendo que el calormetro no introduce error de precisin, calcular el lmte de precisin (a)
de cada medida (b) el lmite de precisin de la media de las medidas. Usar un nivel de confianza
del 95%.
Sol. Tomando xi como el valor calrico, la media ser
1X
x
=
xi = 49180 kJ/kg
n
La desviacin estndar de las muestras es:
1
P
(xi x
)2 2
Sz =
= 566.3 kJ/kg
n1
Usando distribucin t de Student para un nivel de confianza de 95% y grados de libertad de
10 1 = 9, el valor de t se encuentra como
t = 2.26
(a) El lmite de precisin de cada muestra ser
Pi = tSx = 2.26 566.3 = 1280 kJ/kg
(b) Puesto que Sx = Sx / n, el lmite de precisin del valor medio ser

tSx
2.26 566.3
= 404.7kJ/kg
Px = =
n
10
136
Ejercicio 2 La especificacin dada por el fabricante para el calormetro en el ejemplo anterior,

establece que el calormetro tiene una precisin de 1.5% del rango total de 0 a 100000 kJ/kg.
Calcular el estimativo de la incertidumbre total (a) del valor medio de las medidas del ejemplo,
(b) una medida del valor calrico dado como 49500 kJ/kg, el cual fue medido posteriormente a
las medidas dadas en el ejemplo.
Sol. Los datos disponibles son:
Valor medio
x
= 49180 kJ/kg
Lmite de precisin de la media
Px = 404.7 kJ/kg
Lmite de precisin del valor individual Pi = 1280 kJ/kg
Error de sesgo
B = 0.015 105 = 1500 kJ/kg
Se ha supuesto que la exactitud est definida slo con el error de sesgo
(a) El lmite de precisin de la media es 404.7 kJ/kg. De acuerdo a la ec (5.2.20), la
incertidumbre total de la medida con un nivel de confianza de 95% ser
p
p
w = P 2 + B 2 = 404.72 + 15002 = 1553. 6 kJ/kg
el cual es 3.1% del valor medio.

(b) El lmite de precisin de una medida individual es 1280kJ/kg. Consecuentemente, la
incertidumbre de una medida de este estilo con 95% de nivel de confianza ser
wi = (Pi2 + B 2 )1/2 = (12802 + 15002 )1/2 = 1971. 9 kJ/kg
el cual es el 4% del valor medido.
Ejemplo 20 Como se muestra en la Fig. ??, un sensor para medir temperatura se usa para
medir la temperatura, Tg , de un gas caliente en un ducto. La lectura del sensor Ts, es de 773
K y la temperatura de la pared, Tw , es de 723K. Se espera que el sensor tenga una lectura ms
baja que la verdadera temperatura del gas debido a que el sensor se enfra por radiacin hacia
la pared ms fra del ducto. Se puede utilizar la siguiente frmula para corregir el error de la
medida debido a la radiacin:
(5.2.21)
Tc = Tg Ts = (Ts4 Tw4 )
h
es la constante de StefanBoltzmann, la cual tiene un valor de 5.669108 W/m2 K, h es el
coeficiente de transferencia de calor entre el gas y el sensor de temperatura y es la emisividad
de la
superficie del sensor de temperatura. La temperatura debe estar en K. El valor de es
+0.1
0.9 +
y el valor de h es 50 10 W/m2 K. Se puede despreciar la incertidumbre en la
0.2
medida de la temperatura. Determinar (a) La correccin de la temperatura y (b) la incertidumbre
en la correccin.
Sol. (a) Sustituyendo en la ecuacin (5.2.21) se obtiene
Tc = Tg Ts =
5.669 108 0.9

(Ts4 Tw4 ) =
(7734 7234 ) = 85. 506 K
h
50
137
Figura 5.1: Error por radiacin.

(b) Se puede utilizar la ecuacin (5.2.8) para estimar las incertidumbres. Se debe notar que
el intervalo de la incertidumbre positiva es diferente al de la negativa, debido a que la emisividad
tiene incertidumbre asimtrica.
"
"
#
2 #1/2
2
w 2 1/2
+ 2
w
0.1
10
h
+
=
+
=
+
= 0.228 79
wT
h
0.9
50
+
wT
= 0.228 79 86 = 19. 676 K
wT
"
w 2
h
#1/2
"
0.2
0.9
10
50
2 #1/2
= 0.298 97
= 0.298 97 86 = 25.711 K
wT
El mejor estimativo de la temperatura ser

Tg = 773 + 86 = 859 +
+19.7
25.7
+19.7
a un intervalo de
. Es este intervalo el que
As se ha reducido el error de sesgo de
25.7
deber aplicarse en un anlisis completo de la incertidumbre. El error de sesgo mximo se ha
reducido a menos de un tercio de su valor original.
86
138
Captulo 6
Sensores de parmetro variable

6.1
Introduccin
Los transductores de parmetro variable constituyen un importante grupo de captadores de

seal, pu-diendo afirmarse que cubren la mayor parte de las aplicaciones industriales. Se caracterizan por su robustez y simplicidad constructiva porque producen una salida que est relacionada con la variacin de un determinado parmetro elctrico pasivo (resistencia, capacitancia,
inductancia, acoplamiento magntico, etc.) originada por una variacin proporcional de la magnitud fsica que se quiere medir.
6.2
Transductores potenciomtricos
Un potencimetro consiste esencialmente en un resistencia fija sobre la cual desliza un cursor

accionado por rotacin, por deslizamiento lineal, o por ambos efectos combinados. Se trata pues,
de elementos de tres terminales (ver Fig. 6.1) de los cuales dos corresponden a los extremos de
la resistencia y el tercero est conectado al cursor.
A
+
-
vi
|
x Rf(x)
|
B
+
o
-
Figura 6.1: Transductor potenciomtrico.

En la Fig. 6.1 estn indicados los siguientes parmetros
139
140
CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE
R: Resistencia total.
x: Desplazamiento del cursor a partir de un extremo de referencia.
Rf (x): Resistencia comprendida entre el extremo de referencia y el cursor, siendo 0
f (x) 1
Supngase que se aplica una tensin vi entre los terminales A y B con la polaridad indicada.
En este caso, la tensin v0 de salida entre el cursor y el extremo de referencia B ser:
vi
= vi f (x)
R
expresin que indica que la tensin de salida est relacionada con la tensin de entrada mediante
una funcin que depende nicamente de las caractersticas constructivas del potencimetro y
del desplazamiento del cursor.
v0 = Rf (x)
Cursor
vS
vO
Figura 6.2: Potencimetro angular.

Atendiendo a la naturaleza del desplazamiento x, se tienen los siguientes tipos de transductores potenciomtricos:
Potencimetros de desplazamiento lineal: El cursor desliza longitudinalmente sobre un
elemento resistivo rectilneo (ver Fig. 6.1).
Potencimetros angulares: El cursor desliza sobre un elemento resistivo en forma de sector
circular, girando alrededor de un punto central (la variable x corresponde al ngulo girado)
(ver Fig. 6.2).
Potencimetros multivuelta o helicoidales: En este caso el elemento de resistencia tiene
forma de hlice de varios pasos (normalmente 10 20) y el cursor desliza sobre el mismo,
girando alrededor de un eje central y desplazndose al simultneamente paralelo al mismo
(la variable x corresponde al ngulo de giro que puede ser, por supuesto, superior a
360 ).
6.2. TRANSDUCTORES POTENCIOMTRICOS
141
En otro tipo de disposicin constructiva, el elemento resistivo es rectilneo y el cursor est

accionado por un tornillo sin fin cuyo eje es paralelo a dicho elemento.
Atendiendo, por otra parte, a la naturaleza de la funcin f (x), se pueden obtener diferentes
tipos de potencimetros. A continuacin se muestran algunos prototipos funcionales.
6.2.1
Potencimetro de funcin lineal
La funcin f (x) es del tipo

f (x) = Kx
(6.2.1)
y como para x = xmax (cursor lo ms alejado posible del extremo de referencia) se cumple que
f (xmax ) = 1 = Kxmax
se tiene
f (x) =
6.2.2
x
xmax
= v0 =
x
xmax
vi
(6.2.2)
Potencimetros logartmicos y antilogartmicos
Para los potencimetros logartmicos la funcin f (x) es del tipo
x
f (x) = M log A
+B
xmax
(6.2.3)
y con las condiciones de contorno f (0) = 0, f (xmax ) = 1, se deduce

0 = M log B = B = 1
1 = M log(A + 1) = M =
o sea
f (x) =
1
log(A + 1)
x
log A xmax
+1
log(A + 1)
(6.2.4)
y la tensin de salida ser

v0 = f (x)vi =
x
1
log A
+ 1 vi
log(A + 1)
xmax
(6.2.5)
De lo anterior se deduce que existen infinitas funciones posibles haciendo variar el parmetro A.
Para A = 0 se tiene el caso particular del potencimetro lineal. Por otra parte, es de observar que
el carcter de la funcin logartmica es absolutamente general ya que no se ha hecho referencia
a la base de la misma. En la Fig. 6.3 se observa la respuesta normalizada para algunos valores
de A.
142
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.3: Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
Los potencimetros antilogartmicos corresponden a una funcin f (x) inversa de la correspondiente a los logartmicos y, mediante razonamiento similar, se llega a la forma analtica:
f (x) =
x
1
(A + 1) xmax 1
A
o sea
(6.2.6)
(A + 1) xmax 1
vi
(6.2.7)
v0 =
A
x
Al igual que en el caso anterior, para A = 0 se obtiene f (x) = xmax
, es decir, el potencimetro
lineal. La respuesta normalizada para algunos valores de A, aparecen graficados en la Fig. 6.4.
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.4: Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
6.2.3
143
Potencimetros trigonomtricos
Normalmente son giratorios (x = =ngulo de giro) y la tensin de salida es proporcional al seno

o al coseno del desplazamiento angular del cursor (nicas funciones trigonomtricas acotadas).
La disposicin constructiva difiere sustancialmente de la representada en la Fig. 6.1 ya que,
dada la naturaleza de las funciones seno y coseno (que toman valores positivos y negativos), es
necesaria una fuente de alimentacin de doble polaridad. En la Fig. 6.5 se ilustran las conexiones
asociadas a un potencimetro senoidalcosenoidal con dos cursores a 90 .
Figura 6.5: Potencimetro trigonomtrico.

Por supuesto, la resistencia estar diseada de modo que su variacin con el ngulo responda
a la funcin trigonomtrica. Realmente, se trata de cuatro potencimetros ya que se tiene un
elemento resistivo por cada cuadrante. Considerando, por ejemplo, el cursor que forma un
ngulo con la horizontal, puede escribirse:
v0 =
R()
vi = vi sen
R( 2 )
o sea
R() = R( )sen
2
en el primer cuadrante. El potencimetro completo estar constituido por resistencias simtricas
con la misma ley de variacin, dispuestas en los cuatro cuadrantes.
144
6.2.4
Potencimetros Funcionales
En estos potencimetros la funcin F (x) es general, y en muchos casos emprica, adaptada al

caso particular en estudio.
Entre ello, son de particular inters los llamados potencimetros programables o potencimetros gene-radores de funciones, que permiten la sntesis de cualquier funcin F (x) mediante
aproximacin por tramos rectilneos. Se caracterizan por tener una serie de tomas intermedias
accesibles en terminales exteriores a los que se aplican tensiones continuas preajustadas segn
los valores de la funcin y que pueden obtenerse, por ejemplo, mediante potencimetros convencionales. De acuerdo con este principio, la tensin v de salida en el cursor mvil tomar los
mencionados valores preajustados al pasar dicho cursor por cada una de las tomas intermedias,
variando linealmente entre cada dos tomas adyacentes.
Tomando como variable independiente x el desplazamiento del cursor, puede as construirse
la funcin F (x) que pasa por una serie de puntos discretos cuyas coordenadas corresponden a
los valores de x asociados a las tomas y a los valores de tensin preajustados en dichas tomas.
6.2.5
El potencimetro como elemento del circuito
Hasta ahora se ha considerado el transductor potenciomtrico como elemento aislado generador

de una seal representativa de la magnitud a medir, sin tener en cuenta los efectos que produce su
inclusin en el circuito de medida. Antes de seguir adelante, se considera necesario hacer algunas
reflexiones relacionadas con el comportamiento elctrico del potencimetro y, puesto que ya se
determinado la amplitud de la seal producida en su salida (en ausencia de carga exterior), se
proceder a deducir sus impedancias de entra y salida, con lo cual quedar totalmente definido
como componente.
Figura 6.6: Red con potencimetro.

Para ello, y con referencia a la Fig. ??, suponiendo conectada una impedancia ZL de carga
entre los bornes de salida, se tendr como impedancia de entrada:
Zi = R [1 f (x)] +
y operando la expresin anterior:
ZL Rf (x)
ZL + Rf (x)
Zi =
145
ZL + Rf (x) [1 f (x)]
R
ZL + Rf (x)
(6.2.8)
En cuanto a la impedancia de salida, y segn el teorema de Thvenin, equivaldr a la combinacin

en paralelo de Rf (x) y R [1 f (x)], o sea:
Zo =
R2 f (x) [1 f (x)]
= Rf (x) [1 f (x)]
R
(6.2.9)
Derivando esta ltima expresin e igualando a cero, se obtiene

dZi
df (x)
= R [1 2f (x)] = 0
f (x) =
1
2
(6.2.10)
de donde se deduce que la impedancia de salida es mxima cuando las resistencias entre el cursor
y los extremos son iguales.
Ejemplo 21 Un potencimetro lineal de resistencia R est cargado por una resistencia de valor
kR. Sea la proporcin del recorrido total del contacto deslizante (ver la Fig.). Encontrar la
la expresin de la salida del potencimetro versus .
Solucin: La salida se mide a travs de la ressitencia R en paralelo con kR. Se computa la
razn k de la salida respecto a la entrada. Tratando la Fig. como un divisor de voltaje.
E0
=
H=
Ei
R(kR)
R+kR
R(kR)
R+kR + (1 )R
Simplificando esta expresin,

k
kR2
=
kR2 + (1 )R2 ( + k)
k + + k 2 k
k
=
2
+ + k
.
Se verifica esta expresin para una carga muy liviana, k = . La expresin correcta para el
.
potencimetro sin carga es k = .
H =
Ejemplo 22 Determinar el error de no linealidad que se produce en un potencimetro lineal

por causa de la carga.
Solucin: Restando la salida real con carga de la salida terica sin carga:
Error() =
k
++k
146
Simplificando la expresin del error:

=
2 (1 )
3 + 2 + k k
=
2 + + k
2 + k
0.14
0.12
0.1
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0.2
0.4
0.6
0.8
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje.
En aplicaciones de gran precisin, el potencimetro se carga muy ligeramente, o sea, k > 10.
Para esta condicin
2 (1 )
(6.2.11)
=
k
0.14
0.12
0.1
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.7: Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin
del eje.
Ejercicio 3 Usando (6.2.11), encontrar el punto donde el error de no linealidad es mximo.

Solucin: Se encuentra max por diferenciacin respecto de . Como =
1
d
= (2 32 ) = 0,
d
k
(2 3) = 0
2 3
k ,
147
Resolviendo para ,
2
3
Evidentemente, la curva de error tiene pendiente cero en el origen y un valor mximo en = 2/3,
aproximadamente.
1 = 0,
2 =
Ejercicio 4 Usando (6.2.11), encontrar el valor del mximo error debido a la carga. Dibujar
versus .
Solucin: Se sustituye = 2/3 en (6.2.11):
=
( 2 )2 (1 23 )
1 4 1
4
2 (1 )
= 3
= =
k
k
k 9 3
27k
Si k = 10
=
4
= 1.5%
270
Una buena regla para recordar es

15
%
k
En la Fig.6.7 se ha dibujado la curva del error. El resultado es universal si se grafica k en vez
de .
Para desarrollar caractersticas no lineales, los potencimetros pueden ser cargados de varias
maneras. Para desarrollar no linealidades sustanciales se requiere una gran carga a la salida.
max =
Ejercicio 5 Analizar las no linealidades que pueden desarrollarse cargando ya sea la parte superior o la parte inferior del potencimetro de la Fig. (hacer Fig).
Solucin: la ecuacin de salida bsica para las cargas de la Fig.(hacer Fig.) se desarrolla
fcilmente tratando la red como un divisor de voltaje. Se tiene,
H=
k1 R(R)
k1 R+R
k1 R(R)
(k2 R)(1)R
k1 R+R + k2 R+(1)R
Simplificando la expresin de H:
H=
o
k1 (k2 + 1 )
k1 (k2 + 1 ) + k2 (1 )(k1 + )
H=
k1 (k2 + 1 )
2 (k1 + k2 ) + (k1 + k2 ) + k1 k2
Para encontrar las funciones de varga separadas, se hace k2 = :

H1 =
k1 k2
k1
=
2 k2 + k2 + k1 k2
2 + + k1
148
1
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9
Figura 6.8: Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales.
A continuacin se hace k1 = :
H2 =
k1 (k2 + 1 )
(k2 + 1 )
=
2
k1 + k1 + k1 k2
2 + + k2
La Fig. 6.8 muestra el grfico de k1 y k2 versus el ngulo del eje para varios valores de k1 y
k2 . las curvas universales del diagrama permiten una investigacin simple de las posibilidades
de modelacin no lineal de curvas.
Ejemplo 23 Tomando como referencia la Fig. (hacer Fig.), demostrar que el voltaje del punto
nulo corresponde a la suma de los voltajes de entrada.
Solucin: Si los potencimetros de entrada se han dispuesto en V1 , V2 , V3 , . . . , Vn , los voltajes
en el punto cero son:
V0 = V1 I1 R1 = V2 I2 R2 = V3 I3 R3 ) = Vn In Rn
Las corrientes individuales pueden calcularse fcilmente:
I1 =
I2 =
I3 =
In =
V1 V0
R1
V2 V0
R2
V3 V0
R3
Vn V0
Rn
donde
G1 , G2 , G3 , . . . , Gn =
= (V1 V0 )G1
= (V2 V0 )G2
= (V3 V0 )G3
= (Vn V0 )Gn
1 1 1
1
,
,
, ,
R1 R2 R3
Rn
149
Como la suma de las corrientes que entran al nodo deben ser igual a la corriente que circula
desde el punto 0 a tierra,
(V1 V0 )G1 + (V2 V0 )G2 + (V3 V0 )G3 + + (Vn V0 )Gn = V0 G0
Reordando,
V1 G1 + V2 G2 + V3 G3 + + Vn Gn = V0 (G1 + G2 + G3 + + Gn )
Disponiendo
G1 + G2 + G3 + + Gn = GT
la conductancia total a tierra desde el punto 0; entonces
V0 = V1
G1
G2
G3
Gn
+ V2
+ V3
+ + Vn
GT
GT
GT
GT
(6.2.12)
El voltaje V0 del nodo es la suma de los voltajes individuales aplicados, cada uno multiplicado
por un factor de escalmiento apropiado tal como se requiere.
Ejemplo 24 Dos potencimetros de 1000 ohms se excitan en la forma que se muestra en la
Fig. (). Calcular la corriente por el contacto deslizante del potencimetro cuando P1 se dispone
en +7 V y el otro se dispone para producir un mnimo valor de 0 en el punto cero. Provoca
esta corriente una imprecisin en la posicin? Qu efecto tiene la impedancia de entrada R0
del amplificador en los resultados?
Solucin: Usando (6.2.12)
V0 = V1
G1
G2
+ V2
,
GT
GT
GT = G1 + G2 + G0
Sustituyendo valores numricos,

1
1
1
= 104 , G2 =
= 104 ,
G0 =
= 105
R1
R2
R0
= (2 104 ) + 105 = 21 105
104
104
10
= V1
+
V
= (V1 + V2 ) V
2
5
5
21 10
21 10
21
G1 =
GT
V0
Para anular el voltaje de error con V1 = +7, V2 debe disponerse en 7 v.

En el caso general, el drenaje de corriente puede introducir errores en la carga, que a su
vez pueden ser evaluados. Sin embargo, en el caso actual, las cargas en ambos potencimetros
son idnticas. Por lo tanto, para condiciones de equilibrio, las salidas de voltaje de ambos
potencimetros, al ser efectadas en forma igual por la carga, no conducen a imprecisiones en la
posicin del eje.
La impedancia de entrada del amplificador afecta el factor de escalamiento de la salida ms
no la posicin del punto nulo.
150
Ejercicio 6 Los potencimetros del problema anterior desarrollan su salida total para un ngulo
de rotacin de 320 . Si se gira el potencimetro P2 en un grado de su posicin de equilibrio nulo,
qu voltaje de error aparece en el punto cero?
Solucin: Tal como antes
V1 = +7,
V2 = 7 + V
donde V es el voltaje de salida de P2 para un desplazamiento de un grado de la posicin nula.

Hay 20 V a travs de los 320 del potencimetro. Por lo tanto, un grado es equivalente a
20
1
=
V = V
320
116
El incremento de voltaje en el punto de suma P0 es
10
V0 =
21

1
10 1
+7 7 +
=
= 30mV
16
21 16
El gradiente del sistema es de 30 mV /grado.
6.2.6
Potencimetros Digitales
Un tipo de potencimetros programables son los potencimetros digitales (PD) los cuales constan
de un dispositivo resistivo variable (VR) de 2n posiciones (si n = 8, entonces se tendrn 256
posiciones). Estos dispositivos realizan la misma funcin de ajuste electrnico que los de tipo
mecnico. Los PD se fabrican de uno o ms canales, cada uno de los cuales est constituido por
varias etapas:
Un resistor fijo con toma central (cursor). El valor del resistor se determina por un cdigo
digital cargado en un registro de desplazamiento.
Un latch (cerrojo) del VR, donde se programa el valor de la resistencia entre el cursor y
cada uno de los terminales fijos del resistor, la cual vara linealmente de acuerdo al cdigo
digital transferido.
Un registro de desplazamiento serieparalelo, el cual se carga desde una interface serie y
actualiza el latch del VR.
En la Fig. 6.9 se muestra el diagrama en bloques de un potencimetro digital comercial, el
cual consta de dos canales con un registro serie de 9 bits cada uno. Cada bit es transferido al
registro en el flanco positivo del CLK.
151
Figura 6.9: Digrama de bloques funcionales del AD5262.

Interface digital
El AD5260/AD5262 contiene una interface de control de entrada serial de tres hilos. Las tres
entradas son el reloj (CLK ), El selector de circuito (CS) y la entrada de datos serie (SDI ). La
entrada de CLK sensible al flanco positivo, requiere transiciones limpias para evitar transferencia
incorrecta de datos al registro de entrada serie. La lgica trabaja bien. La Fig. 6.10 muestra el
diagrama de bloques con ms detalle de la circuitera interna del dispositivo. Cuando CS est
bajo, el reloj carga el dato en el registro serie en cada flanco positivo del reloj (ver Tabla 6.1).
El terminal de salida de datos serie (SDO) contiene un FET de canal n de drenador abierto.
Esta salida requiere un resistor de pullup (v. gr.: Rp = 2k) con el fin de transferir los datos
al pin SDI del siguiente circuito.
Programacin del resistor variable
La resistencia nominal del registro RDAC entre los terminales A y B est disponible, para el
potencimetro de la Fig. 6.9 con valores de 20 k, 50 k y 200 k. La resistencia nominal
(RAB ) del VR, para este caso particular, tiene 256 puntos de contacto, accesibles por el cursor,
ms el terminal de contacto B. Los datos de ocho bits en el latch RDAC se decodifican para
seleccionar una de las 256 posiciones.
Supngase que se va a utilizar un arreglo de 20 k. El primer valor de la conexin del cursor
con respecto al terminal B ser de 00H . Puesto que, de acuerdo al fabricante, hay una resistencia
de contacto de 60 con el cursor, tal conexin conduce a un mnimo de resistencia de 60 entre
los terminales W y B. La segunda conexin es el primer punto intermedio (tap) que corresponde
a 138 , es decir,
RAB
+ RW = 78 + 60 = 138
RW B =
256
para el dato 01H . La conexin es el siguiente tap que representa 216 (78 2 + 60) para el
152
Figura 6.10: Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital

dato 02H y as sucesivamente. Cada incremento en el valor del dato (1LSB) mueve el cursor
hacia arriba en una escalera de resistencias hasta que el ltimo punto se alcanza en 19982
(RAB 1LSB + RW ). El cursor no conecta directamente al terminal B. En la Fig. 6.11 se
puede observar un diagrama simplificado del circuito RDAC equivalente.
La ecuacin general que determina la resistencia de salida programada digitalmente entre
los terminales W y B es:
RW B (D) =
D
RAB + RW
256
(6.2.13)
donde D es el equivalente decimal del cdigo binario que se carga en el registro RDAC de 8
bits, y RAB es la resistencia nominal total. Por ejemplo, para RAB = 20 k, VB = 0 V y el
circuito del terminal A est abierto, se obtienen los valores de la resistencia de salida RW B para
los correspondientes valores de los cdigos del latch RDAC, los cuales se muestran en la Tabla
6.2. Los resultados seran los mismos si fuera el terminal A el que se conectara con W .
En la condicin de escala cero la resistencia es muy baja, por lo cual se debe tener cuidado
con el flujo de corriente entre los terminales W y B mantenindolo en un lmite de 5 mA. Si no
se hace esto podra destruirse el conmutador interno.
De igual modo que el potencimetro mecnico, la resistencia del RDAC entre el cursor W
y el terminal A tambin produce una resistencia controlada digitalmente RW A . Cuando se
usan estos terminales, el terminal B deber estar abierto o conectado al cursor. Este modo de
operacin hace que el valor de la resistencia RW A empiece al valor mximo de la resistencia
y decremente en la medida que el valor de los datos cargados en el latch se incrementen. La
153
Tabla 6.1: Tabla de verdad del control de la lgica de entrada.

CLK
L
P
CS
L
L
PR
H
H
SHDN
H
H
X
X
H
X
H
L
H
H
X
X
H
H
P
H
H
L
NOTE:
Register Activity
No SR eect, enables SDO pin
Shift One bit in from the SDI pin. The eighth
previously entered bit is shifted out of the SDO pin.
Load SR data into RDAC latch based on A0 decode
A0 = 0, RDAC #1, A0 = 1, RDAC #2
No Operation
Sets all RDAC latches to midscale, wiper centered,
& SDO latch cleared.
Latches all RDAC latches to 80H.
Open circuits all resistor Aterminals,
connects W to B, turns o SDO output transistor.
P = positive edge, X = dont care, SR = shift register
Tabla 6.2: Valores caractersticos en el potencimetro digital

D [decimal] RW B [] Estado de salida
256
19982
Escala plena
128
10060
Escala media
1
138
1 LSB
0
60
Escala cero
ecuacin general para esta operacin es
RW A (D) =
256 D
RAB + RW
256
(6.2.14)
En la Tabla 6.3 se pueden observar algunos valores caractersticos para este modo de operacin.
La distribucin tpica de la resistencia nominal RAB de canal a canal est ajustada en 1%.
Tabla 6.3: Valores caractersticos en el potencimetro digital en modo inverso
D [decimal] RW B [] Estado de salida
256
60
Escala plena
128
10060
Escala media
1
19982
1 LSB
0
20060
Escala cero
154
Figura 6.11: Circuito RDAC equivalente.

Programacin del potencimetro como divisor de tensin
El potencimetro digital genera fcilmente tensiones de salida de W a B y de W a A de modo
que sean proporcionales a la tensin de entrada de A a B. Ignorando temporalmente el efecto
de la resistencia de contacto, por ejemplo, si se conecta el terminal A a +5 V y el terminal B a
tierra se produce una tensin de salida de W a B empezando en cero voltios hasta 1 LSB menor
que +5 V . La ecuacin general que define la tensin de salida W a tierra para cualquier tensin
de entrada dada entre los terminales AB es
VW (D) =
D
256 D
VA +
VB
256
256
(6.2.15)
La operacin del potencimetro digital en el modo de divisor resulta en una operacin ms

precisa con respecto a la temperatura. A diferencia del modo de restato, la tensin de salida es
dependiente de la relacin de los resistores internos RW A y RW B y no de sus valores absolutos.
6.3
Transductores termorresistivos
En general, la resistencia hmica de un material conductor o semiconductor depende en mayor

o menor grado de la temperatura, de modo que existir una relacin
R = f (T )
(6.3.1)
6.3. TRANSDUCTORES TERMORRESISTIVOS
155
siendo R la resistencia del elemento sensible y T su temperatura y estando determinada la

funcin f por la naturaleza del material.
Se define como coeficiente de temperatura el cociente entre la variacin diferencial relativa
de resistencia dR/R y la variacin correspondiente de temperatura dT
=
dR
R
dT
1 dR
R dT
(6.3.2)
Para los conductores usuales la ley de variacin es lineal, del tipo

R = R0 (1 + T )
(6.3.3)
mantenindose el coefieciente sensiblemente constante en una amplia gama de temperaturas

(4.2 103 C 1 para el Cu, 6.6 103 C 1 para el Ni y 3 9 103 C 1 para el Pt).
Es de destacar que la precisin de estos parmetros es tan alta que los termmetros de resistencia metlica se utilizan frecuentemente como patrones para medidas trmicas (por ejemplo,
el termmetro de resistencia de platino se emplea como patrn internacional entre 190 C y
660 C), pero tambin es necesario observar que su aplicacin industrial presenta algunos inconvenientes relacionados con problemas de contaminacin del elemento metlico, defectos de
aislamiento, poca robustez, etc.
En aplicaciones de termometra el elemento sensible forma parte, en general, de un puente
de Wheatstone con el objeto el obtener seales de amplitud relativamente grandes sin amplificacin. Aunque existen muy diversos tipos de sondas termomtricas de resistencia metlica, se
citarn dos muy utilizados industrialmente: El captador de bulbo, que incluye una vaina metlica
protectora que contiene el hilo de resistencia y un material de sellado a travs del cual salen
los conductores terminales, utilizndose normalmente para medida de temperatura de lquidos y
gases. Por otra parte, el captador de superficie, consiste en una malla muy fina de hilo metlico
(por ejemplo, nquel) embebida en una placa de material aislante que se aplica a la superficie
cuya temperatura ha de medirse.
Otra aplicacin clsica de los transductores de resistencia metlica variable, es el llamado
anemmetro de hilo caliente. El captador tiene en uno de sus extremos un hilo conductor muy
delgado (dimetro del orden de 0.005 mm) a travs del cual se hace pasar una corriente elctrica
de caldeo. Si dicha corriente se mantiene constante, la tensin que aparece entre extremos de la
sonda ser proporcional a la resistencia de la misma, la cual depender a su vez de la temperatura,
que estar determinada por las condiciones de refrigeracin impuestas por la corriente del fluido
cuya velocidad desea conocerse. La relacin de velocidadtensin de salida viene dada por la
curva de calibracin que acompaa al transductor.
6.3.1
Circuitos de medida con sondas de resistencia metlica
Aunque son muy diversos los circuitos utilizados con sondas de resistencia metlica, se expone
a continuacin, a modo de ejemplo, un esquema basado en la alimentacin a corriente constante
156
Figura 6.12: Circuito de amplificacin para una termorresistencia.

de la termorresistencia, procedimiento que permite obtener directamente una tensin aproximadamente proporcional a la temperatura (con el error de linealidad inherente a la propia ley
de variacin de la resistencia).
En la Fig. 6.12, el amplificador operacional U1 est conectado como fuente de corriente e
inyecta en la sonda una corriente i = vi /R1 (siempre que R Rs ), sirviendo el potencimetro
P1 para ajustar el valor de dicha corriente. El amplificador U2 est conectado como sumador y
su tensin vo de salida es:
Rs
vo = Kf (iRs vp ) = Kf
vi vp
(6.3.4)
R1
y sustituyendo, en primera aproximacin, Rs = Ro (1 + ), donde R0 es la resistencia de la
sonda para = 0, se tiene:
R0 (1 + T )
vo = Kf
(6.3.5)
vi vp
R1
Para T = 0, el potencimetro P2 deber ajustarse de modo que se cumpla vo = 0, para lo
cual, segn la ecuacin (6.3.5),
R0
vi
(6.3.6)
vp =
R1
obtenindose entonces:
vo =
R0
Kf T vi
R1
(6.3.7)
157
La resistencia variable conectada como realimentacin del amplificador U2 servir, obviamente, para el ajuste de fondo de escala dado que la tensin de salida es proporcional a Kf , de
acuerdo con la ecuacin (6.3.7).
La sensibilidad absoluta del circuito es:
v vo
Ro
S o =
=
Kf vi
R1
(6.3.8)
mientras que la sensibilidad relativa con respecto a todos los parmetros involucrados estar
dada por
vo
vo
vo
vo
= STvo = Svo = SK
= SR
= SR
=1
(6.3.9)
Svo =
o
1
f
vo
6.3.2
Detectores de temperatura resistivos (RTD)
Una caracterstica de los metales es que su resistencia elctrica es funcin de la temperatura del
metal. As, un alambre de metlico de longitud l, combinado con un dispositivo de medicin
de resistencia es un sistema de medida de temperatura. Los sensores de temperatura basados
en el efecto de la resistencia de un metal se conocen como detectores de temperatura resistivos
(RTD). Los RTD se usan para medir directamente la temperatura, tienden a ser muy estables.
Por otra parte, las sondas RTD son en general fisicamente ms grandes que las termocuplas,
resultando en un resolucin espacial ms pobre y una respuesta transitoria ms lenta. Los
sensores RTD ms comunes se construyen de platino, aunque se pueden utilizar otros metales
incluyendo nquel y aleaciones de nquel. Para el platino la relacin resistencia temperatura est
dada por la ecuacin CallendarVan Dusen:
RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
(6.3.10)
donde , y son constantes, dependientes de la pureza del platino la cual se determina por
calibracin. La constante dominante es , la cual tiene un valor de 0.003921/ C para la denominada curva de calibracin americana, o 0.003851/ C para la curva de calibracin europea. Para la curva de calibracin americana, = 1.49 y = 0 para T > 0. y = 0.11 para
T < 0.Fcilmente se puede adquirir los sensores correspondientes a cada curva. En las Figs. 6.13
y 6.14 se muestra la respuesta de R vs T para valores positivos y negativos de la temperatura,
respectivamente.
Hay un gran nmero de configuraciones de elementos sensores RTD. La Fig. 6.15 muestra
un sensor de hilo de platino devanado y un sensor de pelcula delgada. En el sensor de hilo
devanado, el platino se enrolla en un bobina y el ensamble completo se monta en una cubierta
de cermica o de vidrio. El encapsulado previene dao o contaminacin. En el diseo de pelcula
delgada, el platino se monta en un sustrato de cermica y entonces es encapsulado con cermica
o vidrio. El diseo de pelcula delgada es una tecnologa ms nueva y est ganando favor debido
a su ms bajo costo. Es importante en el diseo de las sondas RTD minimizar el esfuerzo sobre
el platino debido a la expasin trmica, puesto que el esfuerzo tambin causa cambios en la
resistencia.
158
300
250
200
y 150
100
50
0
100
200
300
400
500
Figura 6.13: Respuesta para T > 0.
140
120
100
80
y
60
40
20
-100
-80
-60
-40
-20
Figura 6.14: Respuesta para T < 0.
Como en el caso de las galgas extensomtricas, el puente de Wheatstone es un circuito

apropiado para medir el cambio de resistencia en los RTD. La Fig.6.16 muestra un puente de
Wheatstone que podra utilizarse para medir la resistencia de un RTD.
Hay que tener en cuenta la resistencia propia del alambre de conexin puesto que va a estar
sometido al cambio de temperatura igual que la sonda. Si la temperatura cambia, tambin
cambiar la resistencia del hilo. Si Vo se mide en la forma como est indicado, las resistencias
en el hilo estarn en la misma rama del puente donde est el RTD y el cambio en la resistencia
del hilo simplemente se sumar al cambio de resistencia del RTD. El circuito del la Fig. 6.16 (a)
ser adecuado si la resistencia de los alambres terminales es baja y no se requiere gran precisin.
Despreciando las resistencias de los alambres terminales y asumiendo que R1 = R4 , el anlisis
159
Alambres
terminales
Pelcula de
platino
Cpsula de
cermica
Sustrato
Alambre de
platino
1 cm
(a)
(b)
Figura 6.15: Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
del circuito conduce la siguiente expresin para la resistencia del RTD:
RRTD = R2
Vcc 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.11)
Se debe notar que el cambio en la resistencia de los RTD es muy grande comparada con las
galgas extensomtricas (como se ver ms adelante), y la posible linealizacin para las galgas
no es factible para los circuitos RTD. Como consecuencia, la ecuacin (6.3.11) muestra una
relacin no lineal entre la tensin medida y la resistencia del RTD.
Un circuito alternativo llamada el puente RTD de tres hilos se muestra en la Fig. 6.16 (b)
donde un hilo adicional C, se ha agregado. Con este circuito, Rha (la resistencia del hilo A)
estar en la misma rama del puente como R2 y Rhb (la resistencia del hilo B), estar en la
misma rama que el RTD Si los hilos de los terminales son del mismo material, tienen el mismo
dimetro y longitud y siguen la misma trayectoria, los cambios en la resistencia de los terminales
tendrn un efecto muy pequeo sobre Vo . No hay corriente a travs de Rhc , de modo que esta
resistencia no afecta al circuito. Para este circuito, incluyendo las resistencia de los terminales
(con R1 = R4 ), la resistencia del RTD estar dada por
RRTD = R2
Vcc 2Vo
4Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.12)
donde Rterm corresponde a la resistencia de los terminales. El segundo trmino en esta ecuancin usualmente es pequeo, pero para obtener los mejores resultados, se deber determinar el
valor inicial de la resistencia de los terminales. El hecho de que Rterm (se supone que todos
los terminales tienen la misma resistencia) tenga efecto en la medida, es una consecuencia de
160
Figura 6.16: Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos
la operacin del puente en el modo desbalanceado. Es posible operar el puente en un modo
balanceado en el cual el resistor R2 se ajusta tal que Vo sea cero. En este caso, RRTD = R2 y
las resistencias de los terminales no afectarn el resultado. Desafortunadamente, es difcil usar
sistemas de adquisicin de datos con el modo balanceado. Para medidas de alta precisin, sin
embargo, es preferible el modo balanceado.
La Fig.6.17 presenta dos circuitos ms utilizados para determinar la resistencia de un RTD.
En la Fig. 6.17 (a), la cada de tensin a travs del RTD es sensada con dos terminales que no
conducen corriente y por lo tanto no tienen cada de tensin. Para este circuito la resistencia es
una funcin lineal de la tensin medida y est dada por
RRTD = Vo I
(6.3.13)
En este circuito Vo es proporcional a la resistencia del RTD en lugar que al cambio de resistencia
como en el caso con los circuitos de puente Wheatstone. La Fig. 6.17 (b) utiliza cuatro terminales
portadores de corriente siguiendo la misma trayectoria del RTD. Dos de los terminales ms el
RTD estn en la misma rama AD y los otros dos terminales ms R3 estarn el rama DC.
Como con el puente de tres hilos, los cambios en las resistencias de los terminales compensan y
tienen un efecto despreciable sobre Vo . La frmula para evaluar la resistencia del RTD es
RRTD = R3
Vcc 2Vo
8Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.14)
161
Figura 6.17: Circuitos para RTD.

Como el puente de tres hilos, para mediciones precisas, se debern conocer las resistencias
nominales de los terminales cuando se trabaja en el modo desbalanceado.
Puesto que existe un flujo de corriente a travs del RTD cuando est situado en un circuito de
medicin, hay una disipacin de potencia y por lo tanto el RTD tiene autocalentamiento. Este no
es normalmente un problema cuando se mide temperaturas en lquidos pero puede producir error
cuando se mide temperatura en gases. Se puede estimar este efecto de autocalentamiento, usando
dos tensiones de alimentacin diferentes mientras se mide una temperatura esttica. Cualquier
diferencia en la resistencia indica un problema potencial de autocalentamiento. El problema
de autocalentamiento se puede minimizar usando fuentes de alimentacin de bajo voltaje; sin
embargo, se reducir la salida del circuito sensor. Como se mencion, las sondas RTD tienen
potencialmente muy alta precisin (0.001 C) pero con las tcnicas actuales utilizadas en ingeniera, no se requiere que el sensor tenga alto grado de precisin. Esto depender esencialmente
del sistema de adecuacin y adquisicin de los datos. Por otra parte, las incertidumbres en los
resistores del puente y los dispositivos de medida de voltaje tendrn un precisin limitada.
Ejemplo 25 Una sonda RTD tiene una resistencia de 100 a 0 C. Las constantes de la ecuacin
CallendarVan Dusen son = 0.00392, = 1.49 y = 0 para T > 0. Cul ser la resistencia
a (i) 300 C? (ii) Se desea medir la temperatura a 50 C, Cul ser el valor de la resistencia
en este caso?
Sol. (i) Sustituyendo en la ecuacin (6.3.10) se obtiene
RT
= Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
= 100(1 + 0.00392(300 1.49(0.01 300 1)(0.01 300))) = 214.10
(ii) Para este caso T < 0 y se debe utilizar el factor = 0.11. Reemplazando en la misma
ecuacin se llega a
RT
= Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
= 79.944
162
Ejemplo 26 Se dispone de una RTD de platino de 100 que tiene un coeficiente de disipacin
trmica = 6mW/K en aire y = 100mW/K en agua. Si se desea que el error por autocalentamiento sea inferior a 0.1 C, cunta corriente puede circular por la resistencia segn est al
aire o inmersa en agua?
Sol. Si la potencia disipada es Pd , el calentamiento experimentado ser
Pd
I 2R
=
y, por lo tanto, la corriente mxima permitida ser

r
T
I=
R
Con la sonda en el aire,
r
(0.1) (0.006)
I=
= 2.4495 mA
100
Con la sonda inmersa en agua
r
(0.1) (0.1)
= 10 mA
I=
100
Obsrvese que la inmersin en el agua permite mayor flujo de corriente.
T =
6.3.3
(6.3.15)
(6.3.16)
Termistores
Como con el RTD, el termistor es un dispositivo que tiene una resistencia dependiente de la
temperatura. Sin embargo, el termistor, un dispositivo semiconductor muestra un mayor cambio
en la resistencia con respecto a la temperatura que el RTD. El cambio en la resistencia con
la temperatura en el termistor es muy grande, del orden del 4% por grado centgrado. Es
posible construir termistores con una caracterstica de resistencia vs temperatura con pendiente
positiva o negativa. Sin embargo, los dispositivos termistores ms comunes tienen una pendiente
negativa NTC ; lo que significa, que un incremento en la temperatura produce un decremento
en la resistencia, lo opuesto de los RTD. Estn constituidos por mezclas sinterizadas de polvos
de xidos metlicos (de hierro, titanio, nquel, cobalto, cromo, etc) y semiconductores, en forma
de discos, barras, placas y otras configuraciones. Los termistores son altamente no lineales,
mostrando una relacin logartmica entre la resistencia (en k) y la temperatura:
1
= a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3
(6.3.17)
T
Para identificar los parmetros a, b, c y d, basta medir R a cuatro temperaturas distintas y
resolver el sistema de ecuaciones como se indica en la ecuacin (6.3.18).
1
T1
a
1 ln R1 (ln R1 )2 (ln R1 )3
1 ln R2 (ln R2 )2 (ln R2 )3 b T 1
2
(6.3.18)
1 ln R3 (ln R3 )2 (ln R3 )3 c = T 1
3
d
1 ln R4 (ln R4 )2 (ln R4 )3
T41
163
A partir de a, b, c y d el valor de T con una resistencia medida R viene dada por

T = (a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3 )1 273.15
Ejemplo 27 Los siguientes son datos de resistencia y temperatura, en k y Kelvin respectivamente, para el caso de un termistor con encapsulado de acero de 10 k dados por el fabricante:
T1
T2
T3
T4
= 253.15 R1 = 78.91
= 293.15 R2 = 12.26
= 343.15 R3 = 1.99
= 393.15 R4 = 0.4818
Sol: El siguiente programa realizado en Matlab , permite calcular los coeficientes a, b, c y

d, as como realizar la grfica de T vs R la cual se puede apreciar en la Fig. 6.18.
T1=253.15; R1=78.91;
T2=293.15; R2=12.26;
T3=343.15; R3=1.990;
T4=393.15; R4=0.4818;
y=[1/T1;1/T2;1/T3;1/T4];
A=[1,(log(R1)),(log(R1))^2,(log(R1))^3;1,(log(R2)),(log(R2))^2,(log(R2))^3;
1,(log(R3)),(log(R3))^2,(log(R3))^3;1,(log(R4)),(log(R4))^2,(log(R4))^3];
x=A^(-1)*y;
R=1.0:0.1:100.0;
T=(x(1)+x(2)*log(R)+x(3)*(log(R)).^2+x(4)*(log(R)).^3).^(-1)-273.15
plot(R,T)
Para el caso dado se obtienen los siguientes valores de los coeficientes:
a = 2.700 103 b = 2.6138 104
c = 3.416 106 d = 1.2714 107
Siendo dispositivos semiconductores, los termistores estn restringidos a temperaturas relativamente bajas. Muchos estn restringidos a temperaturas por debajo de 100 C y generalmente
no hay disponibles para medir temperaturas por encima de 300 C. Los sensores de termistores
pueden llegar a ser muy precisos, del orden de 0.1 C, pero la mayora no lo son tanto.
Otra forma de expresar la relacin de la resistencia de coeficiente de temperatura negativo
con la temperatura absoluta es de la forma:
B
R = R0 e
1
T
T1
(6.3.19)
donde R es la resistencia a la temperatura absoluta T . El parmetro B es la denominada

temperatura caracterstica del material, y tiene valores entre 2000 K y 5000 K, pero vara con
164
Figura 6.18: Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia.

la temperatura, aumentando al aumentar sta. Para el modelo Thermowid de Siemens, por
ejemplo,
(6.3.20)
B(TC ) = B[1 + (TC 100)]
donde TC es la temperatura en grados centgrados, = 2.5 104 /K para TC > 100 C y

= 5 104 /K para TC < 100 C.B tambin vara de una a otra unidad para un mismo
material salvo en el caso de modelos intercambiables.
Se puede definir un coeficiente de temperatura tomando logaritmos neperianos y diferenciando,
B
dR
= 2 dT
R
T
es decir,
1 dR
B
=
= 2
(6.3.21)
R dT
T
coeficiente siempre negativo y muy dependiente de la temperatura, el cual representa la sensibilidad relativa del sistema. A 25 C y con B = 4000K, resulta = 4.5%/K, que es ms de
diez veces superior a la de la Pt100. El valor de B se puede encontrar midiendo la resistencia
del termistor a dos temperaturas conocidas T1 y T2 . Si la resistencia respectiva es R1 y R2 , se
tendr
ln R1
B = 1 R21
(6.3.22)
T1 T2
Para algunas aplicaciones de los termistores, interesan no tanto sus caractersticas resistencia
temperatura como la relacin entre la tensin en bornes del termistor y la corriente a su travs.
165
En rgimen transitorio se tendr

W = V I = I 2 RT = (T Ta ) + cp
dT
dt
(6.3.23)
donde (mW/K) es la constante de disipacin trmica del termistor, cp (mJ/K) es su capacidad

calorfica y Ta es la temperatura ambiente. En rgimen estacionario dT /dt = 0 y queda
I 2 RT
= (T Ta )
V2
= (T Ta )
VI =
RT
(6.3.24)
(6.3.25)
La tensin mxima en bornes del termistor en funcin de la temperatura puede obtenerse a

partir de la ecuacin (6.3.25) y de
B
V = RI = IAe T 2
(6.3.26)
resulta,
2
V = (T Ta )A exp
B
T
para tensin mxima se cumplir dV 2 /dT = 0, que lleva a

1 = (T Ta )
cuyas soluciones son
B
T =
2
B
T2
4Ta
1
B
(6.3.27)
(6.3.28)
!
(6.3.29)
y la temperatura correspondiente al mximo resulta ser la obtenida tomando el signo menos.

Obsrvese que esta temperatura depende del material (B) [28]. En la zona de autocalentamiento
el termistor es sensible a cualquier efecto que altere el ritmo de disipacin del calor. Esto permite
aplicarlo a las medidas de caudal, nivel, conductividad calorfica (vaco, composicin, etc.). Si la
velocidad de extraccin de calor es fija, el termistor es sensible a la potencia elctrica de entrada
y entonces se puede aplicar al control de nivel de tensin o de potencia.
Recientemente han aparecido las resistencias de coeficiente de temperatura positivo o PTC,
elementos semiconductores construidos por cristales de titanato de bario. Estas resistencias
tienen la propiedad de modificar su estructura cristalina a una cierta temperatura que vara
segn la naturaleza y concentracin de determinadas impurezas incorporadas al material base
(por ejemplo, estroncio). A este cambio de estructura cristalina, que es reversible, corresponde
una variacin enorme de la resistividad alrededor de una temperatura crtica de transicin comprendida entre 50 C y +140 C (mrgenes usuales). La resitencia puede variar en un factor del
orden de 104 y el coeficiente de temperatura (en este caso positivo) puede ser hasta 100 veces
superior al de una resistencia NTC.
A continuacin se analizar las caractersticas y aplicaciones de ambos tipos de resistencias
sensibles a la temperatura. Es de destacar que, al contrario de las termocuplas que responden a
166

Tabla 6.4: Comparacin de las resistencias NTC y otros sensores
Captador
Margen
Sensibilidad
Precisin
Estabilidad
Termistor (absoluta)
Resistencia metlica
Termopar
260 C a +300 C
200 C a +1000 C
260 C a +2800 C
10 K/ C
0.2/ C
40 50V / C
0.01 C
0.01 C
0.1 C
0.03 C/a
no
0.01a 0.003 C/a
no
0.1 a 0.03 C/a
no
diferencias de temperatura, las resistencias NTC o PTC son sensibles a la temperatura absoluta.
Por otra parte, una de sus cualidades ms sobresalientes es que presentan grandes variaciones
de resistencia al variar la temperatura, por lo cual los dispositivos termomtricos que utilizan
termistores se caracterizan siempre por su alta sensibilidad. Se trata, adems de componentes
muy robustos, fiables y econmicos. Los nicos inconvenientes son su lentitud de respuesta,
las grandes tolerancias de fabricacin, la necesidad de un envejecimiento artificial para poder
garantizar una estabilidad razonable y el campo de medida limitado.
En el cuadro siguiente se resumen algunos datos comparativos de las resistencias NTC con
otros componentes sensibles a la temperatura.
6.3.4
Curvas caractersticas de las resistencias NTC
Como se sabe, el valor de la resistencia de estos componentes viene dado por la expresin
B( T1 T1 )
R = Ro e
(6.3.30)
La temperatura T0 suele ser de 198K (25 C), y el coeficiente B puede ser del orden de
4000K.
En la Fig. ?? se representa esta funcin para varios termistores comerciales (siendo el
1
1
parmetro de las curvas el coeficiente B). e4000( T 298 )
.1e3
.1e2
1.
.1
.1e-1
250
300
350
T
400
450
500
Respuesta de termistores comerciales para algunos valores de B.
167
Muchas veces, en el diseo de circuitos, interesa la curva caracterstica tensin-corriente, para

cuya justificacin es necesario tener en cuenta no solo la temperatura ambiente, sino tambin
los efectos de autocalentamiento.
6.3.5
Aplicaciones de las resistencias NTC a la termometra
Las resistencias NTC se aplican ampliamente en circuitos temomtricos. Como se ver a continuacin, pese a la no linealidad de su resistencia en funcin de la temperatura, puede optimizarse
el diseo obtenindose sistemas de medida muy sensibles con errores por falta de linealidad
aceptables.
En la Fig. 6.19 se representa un circuito tpico muy simple para medida de temperatura en
donde el termistor se hace funcionar en el primer tramo de su caracterstica.
NTC
Vcc
R(T)
+
Vo
R1
Figura 6.19: Circuito con termistor.

La tensin de salida del divisor es
Vo = VCC
R1
R1 + R(T )
Sustituyendo R(T ) por su funcin se obtiene

1
Vo =
1+
R0 B
R1 e
1
T
T1
VCC
(6.3.31)
cuya representacin grfica normalizada se ilustra en la Fig. 6.20.

La curva presenta un punto de inflexin para una determinada temperatura TL que corresponder a la mxima linealidad. La temperatura TL se calcula haciendo
d2 Vo
=0
dt2
168
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
100
200
300
400
Figura 6.20: Respuesta de un termistor con B = 4000 y

punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente.
obtenindose
R1 =
Ro
R1
500
= 1 (Lnea continua), 10 (Lnea
B 2TL
B( 1 1 )
R0 e TL T0
B + 2TL
(6.3.32)
La expresin (6.3.32) permite as calcular la resistencia R1 ptima en funcin de las caractersticas del termistor y de la temperatura TL central del campo de medida.
En cuanto a la eleccin de VCC , habr que llegar a un compromiso entre precisin (valores de
VCC pequeos para evitar el autocalentamiento) y sensibilidad (valores de VCC grandes). Para
ello se admite un incremento T mximo sobre la temperatura ambiente Ta a medir, incremento
que estar asociado con el error por autocalentamiento. De acuerdo con esto, se tiene:
T = T Ta
siendo la potencia mxima disipada en la NTC (correspondiente a R = R1 ):
Wmax =
de donde
2
VCC
T
=
4R1
R
R1 T
R
La sensibilidad absoluta del sistema para T = TL es
dvs
VCC B 2
S=
=
1
dT T =TL
B
4TL2
VCC =
(6.3.33)
(6.3.34)
El nico inconveniente de este circuito es que, para el origen de la escala termomtrica que
se adopte, la tensin de salida no es nula. Para evitar esto, se utiliza la configuracin en puente
(ver 6.21), en donde la tensin de salida ser
169
R2
NTC
+
Vcc
A
R1
Vo
R(T)
+
B
R1
Figura 6.21: Circuito con NTC en puente.
vo = VBA = VCC
R1
R1
R(T ) + R1 R1 + R2
que solo se diferencia en una constante de la tensin dada por (6.3.31).
6.3.6
Otras aplicaciones de las resistencias NTC
En la Fig. 6.4 se ilustra muy esquemticamente una aplicacin de una resistencia NTC, donde el
termistor funciona en la zona regenerativa. En este caso el termistor acta como un estabilizador
de temperatura. Ntese que se tiene la respuesta dada por la ecuacin (6.3.31).
Figura 6.22: Circuito con NTC como regulador de tensin.
170
Respuesta de tensin de un NTC.

La Fig.6.23 representa un circuito de aplicacin a la medida del caudal de fluidos. En este
caso uno de los termistores (sonda de referencia) est en contacto con el fluido en reposo y el
otro (sonda de medida) est situado en el interior del ducto a travs del cual circula el fluido
cuyo caudal quiere medirse. El fluido en movimiento afecta a la resistencia trmica de la sonda
de medida desequilibrando el puente y obtenindose una medida indirecta del caudal.
Figura 6.23: Medida de caudal usando NTC.
6.3.7
Resistencias de coeficiente PTC
Las resistencias de coeficiente de temperatura positivo o PTC, tienen la propiedad de experimentar un cambio drstico en su valor cuando se alcanza una temperatura crtica caracterstica
del material. Por debajo de dicha temperatura la resistencia es baja (del orden de 100) y por
171
encima, la resistencia es muy alta (del oreden de 10M ). Dado que no existe una ecuacin que
exprese rigurosamente este comportamiento y puesto que el cambio se produce en el estrecho
intervalo de temperaturas, la curva queda idealizada como se ilustra en la Fig. 6.24, donde
se representa cualitativamente la curva resistenciatemperatura de estos dispositivos.Tomando
Figura 6.24: Respuesta normalizada de una PTC.

como base esta simplificacin, es fcil deducir la forma de la caracterstica tensincorriente. En
efecto, si v e i son, respectivamente, la tensin aplicada y la corriente se tiene, al igual que en
las resistencias NTC:
v2
(6.3.35)
T Ta = R vi = R
R(T )
Para remperatura ambiente (Ta ) constante y tensiones muy bajas, T ser menor que Tc y el
valor de la resistencia ser R1 por lo cual la curva v i ser una recta tal que
v
= Rmin
i
(primer tramo de la caracterstica esttica, Fig. 6.25).
La temperatura crtica se alcanza cuando la tensin toma un valor V1 tal que:

s
V12
Rmin (Tc Ta )
Tc Ta = R
V1 =
Rmin
R
(6.3.36)
Si se sigue aumentando v se produce el trnsito hacia el valor R2 a temperatura constante Tc ,

luego la potencia disipada ser as mismo constante, de acuerdo con (6.3.35), es decir:
Tc Ta = R vi
(6.3.37)
172
Figura 6.25: Respuesta corrientetensin de un PTC.

funcin que corresponde grficamente a una hiprbola equilatera en el diagrama v i (segundo
tramo). Finalmente cuando R(T ) toma el valor Rmax la tensin aplicada es tal que:
s
V22
Rmax (Tc Ta )
Tc Ta = R
V2 =
(6.3.38)
Rmax
R
Para tensiones superiores a V2 la relacin v/i se mantiene nuevamente constante e igual a Rmax
y la caracterstica vuelve a ser una recta de ecuacin v = iRmax (tercer tramo). Es de observar
que los tramos primero y tercero no dependen de la temperatura ambiente, por lo cual, una
familia de curvas para diferentes valores de Ta tendra el aspecto que se muestra en la Fig. 6.26.
Figura 6.26: Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente.

Las resistencias PTC se aplican fundamentalmente en la deteccin de umbral de temperatura (protecciones trmicas, detectores de incendio, etc.) siendo muy simples, por lo general,
los circuitos correspondientes. Puesto que Rmax Rmin las resistencias PTC se comportan
173
prcticamente como un interruptor que se abre y se cierra en la proximidades de Tc . Adems,

y como una ventaja adicional, en dichos circuitos este efecto se produce por histresis, lo cual
evita la ambigedad en el trnsito.
Con el objeto de poner de manifiesto lo anterior, considrese el circuito de la Fig. ?? que
representa el montaje ms simple de detector de temperatura.
Figura 6.27: Circuito con un dispositivo PTC.

Del mismo modo que en el caso de las resistencias NTC, la expresin v = V iR define
una recta de carga cuya interseccin con la curva caracterstica corresponde a una determinada
temperatura ambiente y constituye el punto de funcionamiento.
Figura 6.28: Histresis en la respuesta de una PTC.

En la Fig. 6.28 se representa v en funcin de T evidencindose el efecto de histresis.
Para que el funcionamiento tenga lugar es preciso que la pendiente de la recta de carga sea
menos negativa que la de la zona hiprblica, lo cual se cumple, si
Rl Rmin
(6.3.39)
174
6.4
Transductores fotorresistivos
Los ms importantes dentro de este grupo son, sin duda, la clula fotorresistiva (fotorresistencia)
y el fotodiodo.
6.4.1
La clula fotorresistiva
La clula fotoresistiva o LDR es esencialmente una resistencia cuyo valor vara con la intensidad
de la radiacin luminosa incidente y consiste en una capa delgada de selenio, germanio, sulfuro
de plomo, sulfuro de cadmio, antimonio, indio y algunos otros metales o compuestos meticos,
dispuesta sobre un substrato cermico o plstico. La capa fotorresistiva suele tener forma ondulada y est protegida por una lmina transparente que constituye una de las caras de la cpsula
que contien la clula. La resistencia de elemento disminuye a medida que aumenta la intensidad
de la radiacin segn la ley de variacin que depende del material utilizado.
Con el objeto de ilustrar el principio fsico en que se basan las resistencias LDR, la Fig.
representa un bloque de un material semiconductor fotosensible provisto de dos electrodos exteriores entre los que est aplicada la tensin v, y sobre el cual incide radiacin luminosa de
intensidad L y longitud de onda .
El nmero de electrones liberados por unidad de tiempo por efecto fotoelctrico puede expresarse en la forma
N = LAd
(6.4.1)
donde es un parmetro que depende de , A es el ancho de la zona expuesta y d su longitud.
Si es la vida media de los electrones libres y v la velocidad media a la que se desplazan por
accin del campo elctrico asociado con el potencial v, el nmero efectivo de ellos que contribuir
a la corriente en el circuito exterior, ser:
v
(6.4.2)
Nef = L A d
d
ya que el producto v es la longitud recorrida durante su vida media.
Por otra parte, si E = v/d es el campo elctrico, se cumple:
v
v = e E = e
(6.4.3)
d
donde e es la movilidad de los electrones, luego
v
(6.4.4)
Nef = LA e
d
La corriente elctrica se obtendr multiplicando Nef por la carga q del electrn:
v
q
d
y la resistencia medida entre los electrodos puede obtenerse de la expresin anterior
i = qNef = L A e
R=
d
1
v
=
i
A e q L
(6.4.5)
(6.4.6)
6.4. TRANSDUCTORES FOTORRESISTIVOS
175
la vida media por otra parte, est ligada con la intensidad luminosa L mediante uan expresin
del tipo
(6.4.7)
=
0 L
De este modo, la resistencia R ser de la forma
Figura 6.29: Respuesta noramlizada de una fotorresistencia para algunos valores de .

R = K I
donde
K=
d
A q 0
El exponente puede variar, segn el tipo de clula, entre 0.7 y 1.5.

En la Fig. 6.29 se ilustra cualitativamente la funcin R(L) pudiendo observarse que se
producen grandes variaciones de resistencia, dado el orden , sobre todo para bajos niveles de
iluminacin. Ls fotorresistencias son, pues, captadores muy sensibles al igual que los termistores.
En cuanto a la curva caracterstica tensincorriente no tiene ninguna particularidad dado
que, para L constante, ser una recta que pasa por el origen.
El principal inconveniente de las resistencias fotosensibles es su fuerte dependencia de la
temperatura para baja iluminacin. Para combatir este efecto suelen conectarse resistencias
normales en paralelo obtenindose curvas de resistencia global en funcin de la intensidad de
iluminacin ms estables a expensas de sacrificar la sensibilidad.
Otro inconveniente importante es su lentitud de respuesta ante variacin brusca de intensidad
luminosa, con constantes de tiempo del orden de segundos. Este hecho limita las aplicaciones
de las fotorresistencias a frecuencias muy bajas .
Las clulas LDR se utilizan como captadores primarios para fotometra, si bien pueden formar
parte de transductores ms complejos en donde se detecta, por ejemplo, la interrupcin de un
haz luminoso, un cambio de transparencia, etc.
176
Figura 6.30: Circuito simple con fotorresistencia.
Figura 6.31: Respuesta de una fotorresistencia en una red.

En la Fig. 6.30 se representa un circuito muy simple para medidas fotomtricas. La tensin
de salida es la proporcionada por el divisor de tensin formado por R(L) y R1 , es decir:
vo =
R1
R1
1
V =
V =
V
K
a
R1 + R(L)
R1 + KL
1 + R1 L1
(6.4.8)
cuya representacin grfica se ilustra en la Fig. 6.31

Se observa, como ocurra con los termistores NTC, la posible existencia de un punto de
inflexin, que se determina haciendo:
d2 vo
=0
(6.4.9)
dL2
con lo cual se obtiene
R1 = K
1 a
L
+1 c
(6.4.10)
6.4. TRANSDUCTORES FOTORRESISTIVOS
177
donde Lc es la abscisa de dicho punto de inflexin. Este valor Lc deber corresponder al centro
del margen de medida, para mxima linealidad, o sea
Lc =
Lmin + Lmax
2
(6.4.11)
siendo Lmin y Lmax las intensidades de iluminacin en los extremos de dicho margen.
La ecuacin que proporciona R1 demuestra que para que exista punto de inflexin, tiene
que ser mayor que 1. Es decir, la condicin
>1
(6.4.12)
podra ser el criterio de eleccin de la clula para que fuese vlido el procedimiento de diseo
que se est proponiendo.
Puesto que, adems,
KLa
(6.4.13)
c = R(Lc )
la expresin de R1 puede escribirse tambin en la forma
R1 =
1
R(Lc )
+1
(6.4.14)
No hay criterios claros para elegir un determinado tipo de clula en fotometra, a excepcin
de que sea mayor que la unidad. Los fabricantes suelen recomendar clulas de alta resistencia
para fuertes iluminaciones y de baja resistencia para iluminaciones dbiles.
En cuanto a la tensin de alimentacin V , puede elegirse, como en el caso de las resistencias
NTC, admitiendo un incremento T de temperatura sobre la ambiente, pudiendo aplicarse la
misma frmula
r
R1 T
V 2
R
La sensibilidad absoluta del circuito que se est estudiando, en el centro de la escala de
medida, es:
V 2 1
dvs
(6.4.15)
=
S=
dL L=Lc
LC 4
6.4.2
El fotodiodo
Puede tambin considerarse dentro del grupo de captadores fotorresistivos al fotodiodo. En los
fotodiodos se aprovecha el aumento de la conductividad inversa de unin PN por absorcin
de radiacin luminosa. Dicho aumento se debe a la generacin de pares electrnhueco al
incidir los fotones sobre el material semiconductor, crendose as una corriente inversa de fugas
dependientes de la intensidad de la radiacin.
En la Fig. 6.32 se representa una familia de curvas caractersticas de un fotodiodo. Para
L = 0 se tiene la curva tpica de un diodo semiconductor. Para intensidades luminosas crecientes
178
1
-2
v
-1
-1.5
-0.5
0.5
0
-1
i
-3
Figura 6.32: Respuesta de un fotodiodo a la excitacin.

(L1 , L2 , etc) las curvas toman la forma ilustrada en la figura presentando un desplazamiento descendente. Los tramos del primer y cuarto cuadrante corresponden al funcionamiento como
generador fotovoltaico. Los tramos horizontales del tercer cuadrante corresponden, por el contrario, al funcionamiento como fotorresistencias pasivas, aplicacin ms usual, dado que los
valores de la corriente inversa son sensiblemente proporcionales a las intensidades luminosas
(fotometra).
En la Fig. 6.33 se representa un dispositivo fotomtrico basado en estos dos modos de
funcionamiento. Admitiendo que la corriente inversa del fotodiodo es proporcional a la intensidad
__>
+
V
+
R1
vo
Figura 6.33: Circuito con fotodiodo.

luminosa L, es decir, i = Kd L, donde Kd es una constante particular para cada fotodiodo, la
tensin de salida ser:
vo = iR1 = R1 Kd L
(6.4.16)
con una sensibilidad absoluta de
S=
dvs
= R1 Kd
dL
(6.4.17)
6.5. TRANSDUCTORES EXTENSOMTRICOS
179
Los fotodiodos son ms estables con la temperatura que las clulas LDR y, por supuesto, mucho ms lineales y de respuesta mucho ms rpida. Su nico inconveniente es que las corrientes
que manejan son muy pequeas (del orden de microamperios). Se utilizan en fotometra, deteccin de impulsos luminosos, lectura ptica de cintas perforadas, lectura de caracteres, medida
de transparencia, etc.
6.5
Transductores extensomtricos
Constituyen un importante grupo de captadores de amplia aplicacin en la medida de deformaciones de estructuras slidas sometidas a esfuerzos. Su principio de funcionamiento se basa en
la variacin de resistencia de un hilo conductor por efecto de un alargamiento.
Cuando se aplica una fuerza a una estructura, los componentes de la estructura cambian
ligeramente en sus dimensiones y se dice que est sometida a un esfuerzo. Los dispositivos que
miden estos pequeos cambios en las dimensiones se denominan galgas extensomtricas.
La galga extensomtrica es un dispositivo muy comn utilizado en la medicin de esfuerzos
en las estructuras y tambin como un elemento sensor en una amplia variedad de transductores,
incluyendo aquellos usados para medir fuerza, aceleracin y presin. Las galgas extensimetricas
y los acondicionadores de seal asociados son sencillos, baratos y muy confiables.
Considrese un hilo metlico de longitud l seccin A, y resistividad , su resistencia elctrica
R es
l
R=
A
Si se le somete a un esfuerzo en direccin longitudinal, cada una de las tres magnitudes que
intervienen en el valor de R experimenta un cambio y, por lo tanto, R tambin cambia de la
forma
d dl dA
dR
=
+
(6.5.1)
R
l
A
El cambio de la longitud que resulta de aplicar una fuerza F a una pieza unidimensional,
siempre y cuando no se entre en la zona de fluencia (Fig), viene dado por la ley de Hooke,
=
dl
F
=E =E
A
l
donde E es una constante del material, denominada mdulo de Young, es la tensin mecnica
y es la deformacin unitaria.
es adimensional, pero para mayor claridad se suele dar en
microdeformaciones (1 microdeformacin = 1 = 106 m/m). El trmino dl/l se define
como esfuerzo axial, a .
dl
a =
l
Si se considera ahora una pieza que adems de la longitud l tenga una dimensin transversal
t, resulta que como consecuencia de aplicar un esfuerzo longitudinal no solo cambia l sino que
tambin lo hace t. El cambio en la dimensin transversal respecto a la longitudinal depende
180
de la relacin entre los esfuerzos transversal y longitudinal, los cuales estn dados por la ley de
Poisson:
(6.5.2)
t = a
donde es el denominado coeficiente de Poisson. El signo menos indica que cuando la longitud
se incrementa, la seccin decrece.Su valor est entre 0 y 0.5, siendo, por ejemplo, de 0.17 para
la fundicin maleable, de 0.303 para el acero y de 0.33 para el aluminio y el cobre. Obsrvese
que para que se conservara constante el volumen debera ser = 0.5.
Para el hilo conductor considerado anteriormente, si se supone una seccin cilndrica de
dimetro D, se tendr
D2
A=
4
dD
dl
dA
=2
= 2
(6.5.3)
A
D
l
Debe notarse que esta relacin es vlida independientemente de la forma geomtrica de la seccin
transversal del hilo conductor.
La variacin que experimenta la resistividad como resultado de un esfuerzo mecnico se
conoce como efecto piezorresistivo. Estos cambios se deben a la variacin de la amplitud de las
oscilaciones de los nudos de la red cristalina del metal. Si ste se tensa, la amplitud aumenta,
mientras que si se comprime, la amplitud disminuye. Si la amplitud de las oscilaciones de
los nudos aumenta, la velocidad de los electrones disminuye, y aumenta. Si dicha amplitud
disminuye tambin disminuye. Para el caso de los metales, resulta que los cambios porcentuales
de resistividad y de volumen son proporcionales
dV
d
=C
V
donde C es la denominada constante de Bridgman, cuyo valor es de 1.13 a 1.15 para las aleaciones
empleadas comnmente en galgas, y de 4.4 para el platino.
Aplicando (6.5.3), el cambio de volumen se puede expresar como
V =
lD2
4
dl
dD
dl
dV
=
+2
= (1 2)
V
l
D
l
y, por lo tanto, si el material es istropo y no se rebasa su lmite elstico, (6.5.1) se transforma
finalmente en
dR
=a [1 + 2 + C(1 2)]
(6.5.4)
R
En este punto, es til definir el factor de galga axial (Funcin de sensibilidad relativa), Sa :
Sa =
dR/R
a
(6.5.5)
181
Combinando las ecuaciones (6.5.4) y (6.5.5), se obtiene

Sa = 1 + 2 + C(1 2)
(6.5.6)
El valor de Sa es del orden de 2 para la mayora de los metales, salvo para el platino en cuyo
caso es del orden de 6.
As pues, para pequeas variaciones la resistencia del hilo metlico deformado puede ponerse
de la forma
R = R0 (1 + x)
donde R0 es la resistencia en reposo y x = Sa . El cambio de resistencia no excede el 2%.
En el caso de un semiconductor, al someterlo a esfuerzo predomina el efecto piezorresistivo.
Las expresiones de la relacin resistencia-deformacin son para un caso concreto [7]:
para un material tipo p:
para un material tipo n
dR
= 119.5 + 4
R0
dR
= 110 + 10
R0
donde R0 es la resistencia en reposo a 25 C, y se supone una alimentacin a corriente

constante.
En la Fig. 6.34 se observa la respuesta resistencia vs deformacin para los dos tipos de
semiconductores.Puesto que se pueden fabricar galgas semiconductoras con alta resistencia, se
Deformacin
Figura 6.34: Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n (lnea
de trazos).
pueden obtener dispositivos de salida muy alta (5 V o ms), caracterstica que no se puede dar
182
Figura 6.35: Algunas configuraciones de galgas extensiomtricas de semiconductor (fabricadas

por BLH electronics).
en las galgas metlicas, en las cuales hay una alta limitacin de corriente. La ecuacin bsica
para un puente sobre un voladizo es:
vo = a Sa vi
(6.5.7)
Con esta ecuacin, es posible obtener el valor de salida de los puentes activos completos que utilizan galgas semiconductoras. Debe notarse que la tensin de salida no depende de la resistencia
de la galga. El factor de galga para galgas de alta resistencia tambin es considerablemente
grande y el factor de alinealidad es algo ms bajo.
Ejemplo 28 Si un puente activo completo de 2000 se monta sobre un voladizo con un buen
disipador trmico. Encontrar la excitacin posible y la tensin de salida correspondiente. Se
supone potencia mxima disipada de 250 mW, esfuerzo de ms y menos 1500m/m con un
factor de galga S de 148.
Sol.
vi = 2 P R = 2 250 103 2 103 = 44. 721 45
Sustituyendo este valor para la tensin de entrada en la ecuacin (6.5.7) se obtiene

vo = 1500 106 148 44. 721 = 9. 928 1
= 10V.
Para el caso de un puente alimentado con 10 V, se tendr un salida de alredeor de 2V (2.22V ).
En la Fig. (6.35) se muestran las configuraciones de algunas galgas semiconductoras comerciales.
Se ofrecen galgas extensomtricas semiconductoras con vidrio fenlico encapsuladas y no
encapsuladas. Debido a las altas propiedades de instalacin requeridas para voltajes altos, se
recomienda usar las de tipo encapsulado.
183
Se puede observar que existe una relacin entre el cambio de resistencia de un material
y la deformacin que experimente ste. Si se conoce la relacin entre esta deformacin y el
esfuerzo que la provoca ??, a partir de la medida de los cambios de resistencia se podrn
conocer los esfuerzos y, en su caso, las magnitudes que provocan dichos esfuerzos en un sensor
apropiado. Un resistor dispuesto de forma que sea sensible a la deformacin constituye una
galga extensomtrica.
Cabe considerar algunas limitaciones en la aplicacin de este principio de medida [28]:
El esfuerzo aplicado no debe llevar a la galga fuera del margen elstico de deformaciones.
ste no excede del 4% de la longitud de la galga y va desde unas 3000 para las semiconductoras a unas 40000 para las metlicas.
La medida de un esfuerzo slo ser correcta si es transmitido totalmente a la galga. Ello se
logra pegando sta cuidadosamente mediante un adhesivo elstico que sea suficientemente
estable con el tiempo y la temperatura. A la vez, la galga debe estar aislada elctricamente
del objeto donde se mide, y protegida del ambiente.
Se debe estar en un estado plano de deformaciones, es decir, que no haya esfuerzos en la
direccin perpendicular a la superficie de la galga. Para que la resistencia elctrica de sta
sea apreciable se disponen varios tramos longitudinales y en el diseo se procura que los
tramos transversales tengan mayor seccin, pues as se reduce la sensibilidad transversal a
un valor de slo el 1% o el 2% de la logitudinal.
La temperatura es una fuente de interferencias por varias razones. Afecta a la resistividad
del material, a sus dimensiones y a las dimensiones del soporte. Como resultado de todo
ello, una vez la galga est dispuesta en la superficie de medida, si hay un cambio de
temperatura, antes de aplicar algn esfuerzo se tendr ya un cambio de resistencia. En
galgas metlicas este cambio puede ser de hasta 50 / C.
Un factor que puede provocar el calentamiento de la galga es la propia potencia que disipe
cuando, al medir su resistencia, se haga circular por ella una corriente elctrica. En las
galgas metlicas la corriente mxima es de unos 25 mA si el soporte es buen conductor
(cobre, acero, aluminio) y de 5 mA si es mal conductor (plstico, madera). La potencia
permitida aumenta con el rea de la galga y va desde 0.77 W/cm2 a 0.15 W/cm2 , segn
el soporte. En las galgas semiconductoras, la potencia mxima disipable es de unos 250
mW .
Las fuerzas termoelectromotrices presentes en la unin de dos metales distintos, ya que
pueden dar una tensin de salida superpuesta a la de inters si se alimenta la galga con
corriente continua. Su presencia se reconoce si cambia la salida al variar la polaridad de la
alimentacin. Deben corregirse bien mediante el mtodo de insensibilidad intrnseca, por
seleccin de materiales, bien mediante filtrado, a base de alimentar las galgas con corriente
alterna.
184
Idealmente, las galgas deberan ser puntuales para poder medir los esfuerzos en un punto
concreto. En la prctica sus dimensiones son apreciables, y se supone que el punto de medida
es el centro geomtrico de la galga. Si se van a medir vibraciones, la longitud de onda de stas
debe ser mucho mayor que la longitud de la galga. Si por ejemplo, sta es de 5 mm y se mide
en acero, donde la velocidad del sonido es de unos 5900 m/s, la mxima frecuencia medible es
del orden de 100kHz.
Si se mide en una superficie no uniforme, como el hormign, puede interesar, en cambio,
realizar un promedio de deformaciones para no caer en error debido a una singularidad en la
superficie.
En muchas situaciones, la superficie de una estructura se comprime o tensiona simultanemanete en ms de una direccin, llevando a una condicin llamada esfuerzo biaxial, si una
estructura se carga en una direccin existe un esfuerzo transversal (como lo predice la ecuacin
(6.5.2)). Este efecto est incluido cuando los fabricantes determinan los factores de galga. En el
esfuerzo biaxial, sin embargo, hay una expansin transversal que resulta del esfuerzo transverso.
Esta expansin transversal afectar la salida de galga extensomtrica y puede describirse con
un factor de galga transversal, St . Similar a la ecuacin (6.5.5) la cual define el factor de galga
axial, St se define por
dR/R
(6.5.8)
St =
t
Los fabricantes miden un factor, Kt , llamado la sensibilidad transversal, la cual se suminstra al

usuario. sta es definida como
St
(6.5.9)
Kt =
Sa
Los valores de Kt son normalmente muy pequeos, siendo posible valores menores que 0.01. Para
una galga sencilla Budynas [8] proporciona la siguiente frmula para el error en un esfuerzo axial
debido a un esfuerzo transversal aplicado:
Kt
a a
t
=
+
1 Kt
a
a
donde a es el esfuerzo axial verdadero y a es el esfuerzo que la medida podra predecir si se
despreciara el esfuerzo transversal. Para Kt = 0.01, = 0.3 y t / a = 2, el error en el esfuerzo
axial es 2.3%.
Aunque la galga es ligeramente sensible a los esfuerzos transversales, para propsitos prcticos, una simple galga extensomtrica puede medir el esfuerzo nicamente en una direccin. Para
definir el estado del esfuerzo sobre una superficie, es necesario especificar dos esfuerzos lineales
ortogonales x y y y un tercer esfuerzo llamado cizalladura (esfuerzo cortante), xy , el cambio
entre dos lneas originalmente ortogonales cuando un slido se somete a un esfuerzo. Estos
esfuerzos se pueden determinar por tres galgas situadas adecuadamente en un arreglo llamado
roseta extensomtrica. La Fg. 6.36 muestra los dos arreglos ms comunes de estas tres galgas:
La roseta rectangular, y la roseta equiangular. En la roseta rectangular, las galgas se colocan a
ngulos de 0 , 45 y 90 . En la roseta equiangular, estn arregladas a 0 , 60 y 120 . cada una
de estas galgas mide el esfuerzo lineal en la direccin del eje de la misma.
185
120
SG3
SG2
45
SG2
SG3
60
SG1
SG1
(a)
(b)
Figura 6.36: Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b)
equiangular.
De acuerdo a Popov [29], si se puede describir el campo del esfuerzo en un plano sobre un
slido por los valores x , y y xy , el esfuerzo lineal en una direccin al eje x se puede representar
por
2
2
(6.5.10)
= x cos + y sen + xy sen cos
Esta ecuacin puede aplicarse a cada una de las galgas extensomtricas en una roseta, resultando
en tres ecuaciones simultaneas:
1
2
x cos 1
2
x cos 2
2
x cos 3
2
y sen 1
2
y sen 2
2
y sen 3
+
+
+
+ xy sen1 cos 1
+ xy sen2 cos 2
+ xy sen3 cos 3
La roseta proporciona medidas de 1 , 2 y 3 , de aqu se obtienen valores para

Para la roseta rectangular, la solucin es:
x
90
xy = 2
45
(6.5.11)
x, y
y xy .
(6.5.12)
(
90 )
Para la roseta equiangular, la solucin es:

x
xy =
60
2
(
3
2
60
120
120 )
0 )
(6.5.13)
186

Tabla 6.5: Caractersticas de las galgas extensiomtricas metlicas y semiconductoras
Parmetro
Metlicas
Semiconductoras
Margen de medida,
0.1 a 40000
0.001 a 3000
Factor de sensibilidad
1.8 a 2.35
50 a 200
Resistencia,
120, 350, 600, . . .5000
1000 a 5000
Tolerancia en la resistencia, % 0.1 a 0.2
1a2
Tamao, mm
0.4 a 150
1a5
En muchos libros de mecnica de materiales se proporcionan mtodos para evaluar los esfuerzos
mximos normal y cortante de estos valores de deformacin. No es fcil construir los rosetas
extensomtricas, stas se pueden obtener de los fabricantes con la forma definida, un ejemplo se
muestra en la Fig.6.37.
Figura 6.37: Roseta de galgas extesiomtricas.
Tipos y aplicaciones
Los materiales para la fabricacin de galgas extensomtricas son diversos conductores metlicos,
como las aleaciones constantan, advance, karma, y tambin semiconductores como el silicio y
el germanio. Las aleaciones metlicas escogidas tienen la ventaja de un bajo coeficiente de
temperatura porque en ellas se compensa parcialmente la disminucin de la movilidad de los
electrones al aumentar la temperatura con el aumento de su concentracin [28]. Las galgas
pueden tener o no soporte propio, eligindose en su caso en funcin de la temperatura a la que
se va a medir. Para aplicaciones de sensores tctiles en robots, se emplean tambin elastmeros
conductores. Para la medida de grandes deformaciones en estructuras biolgicas se emplean
galgas elsticas que consisten en un tubo elstico lleno de mercurio u otro lquido conductor
[26].
Las galgas metlicas con soporte pueden ser de hilo bobinado o plegado con soporte de papel,
o impresas en fotograbado. En este caso se dispone de una gran variedad de configuraciones,
adaptadas a diversos tipos de esfuerzos. Hay modelos para diafragma, para medir torsiones,
para determinar esfuerzos mximos y mnimos y sus direcciones (rosetas mltiples), etc.
En la Tabla 6.5 se presentan algunas de las caractersticas habituales de las galgas metlicas y
semiconductoras [28]. El factor de sensibilidad se determina por muestreo, pues una vez utilizada
6.6. TRANSFORMADOR DIFERENCIAL DE VARIACIN LINEAL (LVDT)
187
la galga es irrecuperable. Se da entonces el valor probable de S y la tolerancia. Los mtodos de

ensayo y la especificacin de caractersticas para las galgas metlicas est normalizado [27].
Las galgas extensomtricas se pueden aplicar a la medida de cualquier variable que pueda
convertirse, con el sensor apropiado, en una fuerza capaz de provocar deformaciones del orden
de 10m incluso inferiores.
Una aplicacin singular del efecto piezorresistivo es la medida de presiones muy elevadas
(1.4GP a a 40GP a) mediante las denominadas galgas de manganina. La manganina es una
aleacin (84% Cu, 12% Mn, 4% Ni) que tiene un coeficiente de temperatura muy bajo. Si se
somete un hilo de manganina a una presin en todas direcciones, se presenta un coeficiente
de resistencia de entre 0.021 y 0.028 //kP a, de modo que el cambio de resistencia da
informacin sobre la presin a que est sometido.
6.6
Transformador diferencial de variacin lineal (LVDT )
El transformador diferencial de variacin lineal (LVDT ) se basa en la variacin de la inductancia

mutua entre un primario y cada uno de los dos secundarios al desplazarse a lo largo de su interior
un ncleo de material ferromagntico, arrastrado por un vstago no ferromagntico, unido a la
pieza cuyo movimiento se desea medir.
Rg
+
v
-
___>
i1
R b1
M1
R b2
.
L2
|^x
Rc
R'
b2
M3
L1
___>
i2
L3
M2
Figura 6.38: Esquema bsico del LVDT.

Al alimentar el primario con una tensin alterna, en la posicin central las tensiones inducidas
en cada secundario son iguales y, al apartarse de dicha posicin el ncleo, una de las dos tensiones
crece y la otra se reduce en la misma magnitud. Normalmente los dos devanados se conectan
en oposicinserie, como lo indica la Fig. 6.38.
El modelo matemtico correspondiente se deduce del anlisis de la Fig(6.38). Si la resistencia
0 +R ,
total en el primario se designa por R1 = Rg + Rb1 y la del secundario por R2 = Rb2 + Rb2
c
se tiene el siguientes sistema de ecuaciones:
v1
0
R1 + sL1
(M1 M2 )s
(M1 M2 )s R2 + sL2 + sL02 sM3
i1
i2
(6.6.1)
188
A partir de esta expresin, se obtiene

i2 =
M1 M2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 s + L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
(6.6.2)
La tensin de salida es, pues,

v0 =
(M2 M1 )Rc
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
s + L1 (L2 +L0 2M
2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
3 )(M2 M1 )
2
(6.6.3)
En la posicin central, M2 = M1 , y segn (6.6.3), v0 = 0, tal como se haba anticipado.
En las otras posiciones del ncleo, L1 , L2 , L02 , M3 y M2 M1 varan aproximadamente de la
forma siguiente: M3 presenta variaciones lentas alrededor de x0 ; M2 M1 tiene una variacin
muy rpida y lineal, alrededor de x0 ; L2 + L02 se mantiene prcticamente constante y L1 tiene
variaciones lentas alrededor de x0 .
Para analizar cual es finalmente la relacin entre la tensin de salida y la posicin del vstago,
conviene considerar primero el efecto de la resistencia de carga Rc . Si el secundario est en vaco,
la expresin final de la tensin de salida se reduce a
v0 =
s(M1 M2 )v1
sL1 + R1
(6.6.4)
La corriente en el primario viene dada en estas condiciones por

i1
v1
sL1 + R1
(6.6.5)
de forma que i1 es prcticamente constante, independientemente de la posicin del vstago.

Combinando (6.6.4) y (6.6.5) se llega a
v0 = (M2 M1 )si1
(6.6.6)
que indica que v0 es proporcional a M2 M1 y, por lo tanto, al desplazamiento del vstago, y que
est desfasasa 90 respecto a la corriente del primario. De la expresin (6.6.4) se deduce, adems,
que v0 /v1 tiene respuesta de paso alto respecto a la frecuencia de la tensin de alimentacin.
Cuando f1 = R1 /L1 , la sensibilidad es del 70% (3dB) de la que se tiene a partir de frecuencias
unas diez veces mayores.
Si el secundario no est en vaco, pero se acepta que L2 +L02 2M3 es prcticamente constante
con la posicin del vstago y se designa por 2L2 , y que 2L2 L1 (M2 M1 )2 , la expresin de
la tensin de salida pasa a ser
v0 =
(M1 M2 )Rc
2L1 L2
s2
sv1
R2 L1 +2R1 L2
R1 R2
s + 2L
2L1 L2
1 L2
(6.6.7)
Resulta, pues que la sensibilidad aumenta al hacerlo la resistencia de carga. Tambin aumenta
inicialmente al hacerlo f1 , pero a partir de una determinada frecuencia decrece. En la Fig () se

j
1
presenta esta evolucin para un determinado modelo. 92 +(12 )2 , 92 +(1
2 )2 , tan
189
h
(1 2 )
32
1.5
y
0.5
0
10
10
10
-0.5
-1
-1.5
0.3
0.2
y
0.1
0
-0.1
-0.2
-0.3
0.8
0.7
0.6
0.5
y 0.4
0.3
0.2
0.1
0
De () se deduce tambin que hay un desfase entre la tensin del primario y la del secundario,
que depende de f1 . Este desfase es nulo a la frecuencia
1
fn =
2
R1 R2
2L1 L2
1
2
(6.6.8)
190
que es la misma frecuencia a partir de la cual la sensibilidad decrece. Si se excita el primario

con f1 = fn , la salida es entonces independiente de f1 , y viene dada por
v0 =
(M1 M2 )Rc
v1
R2 L1 + 2L2 R1
(6.6.9)
As pues, a una frecuencia dada la tensin de salida es proporcional a la diferencia de acoplamiento

mutuo entre el primario y cada uno de los secundarios. Si ste es proporcional a la posicin del
vstago, tambin lo ser la tensin de salida. Obsrvese que en este caso, aunque el dispositivo responde al desplazamiento con un cambio de impedancia mutua, la salida es propiamente
una tensin alterna modulada en amplitud, no un cambio de impedancia como suceda con los
sensores diferenciales.
Al comportamiento ideal descrito en los prrafos anteriores, cabe sealarle algunas limitaciones. La primera es que en los dispositivos reales, en la posicin central la tensin de salida no
pasa por cero, sino por un mnimo. Ello se debe a la presencia de capacidades parsitas entre
primario y secundarios que apenas cambian con la posicin del vstago y tambin a la falta de
simetra en los bobinados y circuitos magnticos. Normalmente es inferior al 1% de la tensin a
fondo de escala.
Otra limitacin es la presencia de armnicos en la salida, ms visible en el nulo. Aparece,
sobre todo, el tercer armnico de la alimentacin, debido a saturaciones de los materiales magnticos. Esta interferencia se puede eliminar bastante bien a base de un filtro de pasa bajas en
la salida.
La temperatura es otra posible fuente de interferencias, pues vara la resistencia elctrica del
primario. Si la temperatura aumenta, lo hace tambin la resistencia, con lo que se reduce la
corriente en el primario, y con ella la tensin de salida, si se alimenta a tensin constante. Si la
frecuencia de alimentacin es alta, entonces predomina la impedancia de L1 frente a la de R1 y
el efecto es menor. Las derivas trmicas pueden expresarse de la forma
VT = V25 [1 + (T 25) + (T 25)2 ]
(6.6.10)
donde T es la temperatura expresado en grados Celsius, es una constante que depende de la

frecuencia, y es otra constante.
Para reducir las interferencias trmicas, se ha propuesto un LVDT autocompensado que
utiliza dos pares de secundarios en vez de un solo par []. Las tensiones de un par se restan de la
forma habitual (v01 v02 ), pero las tensiones del otro par, que son respectivamente iguales a las
del primer par, se suman (v01 + v02 ). La relacin (v01 v02 )/(v01 + v02 ) es entonces proporcional
al desplazamiento del ncleo, pero en cambio es relativamente insensible a las variaciones en la
corriente y frecuencia de excitacin, y a los cambios de temperatura ambiente y de los devanados.
Las ventajas del LVDT son mltiples y justifican por que es un sensor tan frecuente. En
primer lugar, su resolucin terica es infinta y en la prctica superior al 0.1%. Tienen tambin
un rozamiento muy bajo entre ncleo y devanados, por lo que imponen poca carga mecnica,
sobre todo si se los compara con los potencimetros. La fuerza magntica que se ejerce sobre el
ncleo es proporcional al cuadrado de la corriente en el primario; es cero en la posicin central
191
y aumenta linealmente con el desplazamiento. Es mayor que en un sensor capacitivo, pero la

tensin de salida es mayor aqu. El bajo rozamiento les da vida casi ilimitada y alta fiabilidad.
Su tiempo medio antes de fallar puede ser de hasta 2 106 h.
Otra ventaja es que ofrecen aislamiento elctrico entre el circuito del primario y el del secundario, con lo que pueden tener referencias o puestas a tierra distintas. Esto es una ventaja
ante la posible presencia de bucles de masa (). Ofrecen tambin aislamiento entre el sensor
(vstago) y el circuito elctrico, ya que estn acoplados magnticamente. Esto tiene inters al
medir en atmsferas peligrosas, por cuanto queda limitada la energa que se puede disipar dentro
del recinto de medida.
Tienen, adems, alta repetibilidad (del cero sobre todo) por su simetra; sensibilidad unidireccional, alta linealidad (hasta el 0.05%); alta sensibilidad, si bien depende de la frecuencia de
alimentacin, y respuesta dinmica elevada.
En la construccin del LVDT, el primario se devana a lo largo del centro del ncleo y
los secundarios se disponen simtricos respecto al centro. Los tres devanados se recubren con
una sustancia impermeable para que puedan funcionar con una humedad ambiental elevada.
Para solucionar el problema de que el margen lineal es de solamente el 30% de la longitud
total del transformador, se emplean disposiciones especiales que permiten obtener una relacin
margen/longitud de 0.8.
El ncleo es una aleacin de hierro y nquel, y est laminado longitudinalmente para reducir
las corrientes de Foucault. El vstago que lo arrastra no debe ser magntico. Todo el conjunto
puede apantallarse magnticamente para hacerlo inmune a campos externos.
Los alcances de medida pueden ir desde 100m a 25cm, las tensiones de excitacin aceptadas, de 1 a 24 Vrms , con frecuencias de 50 Hz a 20 kHz. Las sensibilidades disponibles van de
unos 0.1 V/cm a 40 mV/ m por cada voltio de alimentacin. La resolucin puede ser de hasta
0.1 m.
Hay modelos que incorporan la electrnica de modo que aceptan una alimentacin de tensin
continua. Ellos tienen ya el oscilador, amplificador y demodulador, y dan una tensin continua
a la salida. Se habla entonces de transformadores diferenciales de continua (DCLVDT).
Hay tambin versiones para desplazamientos angulares (RVDT) con un margen lineal de
20 y sensibilidad del orden de 10 mV/grado pero en general, sus prestaciones son inferiores
a las de los modelos lineales. En el cuadro () se recogen las principales caractersticas de un
LVDT comercial.
En [] se propone un nuevo tipo de LVDT que es plano en vez de cilndrico y carece de ncleo
en sus devanados. Su aplicacin es la deteccin de posicin en motores lineales de continua.
El circuito equivalente para el LVDT es un generador de tensin alterna con frecuencia igual
a la de excitacin del primario, modulada en amplitud por el desplazamiento del vstago, y con
una impedancia de salida constante e inferior, en general, a 5 k.
El desfase entre la tensin aplicada aplicada al primario y las tensiones en el secundario es,
con el secundario en vaco [ecuacin (6.6.4)]
= 90 tan1
L1
R1
(6.6.11)
192
Si el secundario no est en vaco, es entonces [6.6.7]

= 90 tan1
(R1 L1 + 2R1 L2 )
R1 R2 2L1 L2 2
(6.6.12)
Si no se puede trabajar a la frecuencia de desfase nulo, se puede ajustar el desfase mediante

alguno de los circuitos de la Fig ().
Las aplicaciones ms inmediatas de los LVDT son las medidas de desplazamiento y posicin.
En particular, es muy frecuente como detector de cero en servosistemas de posicin en aviones
y submarinos. Si se pone un muelle entre el chasis y el extremo lejano del vstago, se puede
emplear como palpador en mquinasherramienta, pues entonces el muelle garantiza el contacto
continuado con el perfil que se desea seguir.
Aqu tambin, mediante el empleo de los sensores primarios adecuados, se pueden medir
otras magnitudes que pueden provocar finalmente desplazamiento del ncleo. En la Fig() se
muestra como se puede aplicar un LVDT a las medidas de aceleracin e inclinmetros mediante
un sistema inercial (a) y a la medida de presiones mediente un tubo de Bourdon (b), que fue su
primer aplicacin, o mediante un diafragma, fuelle o cpsula.
Se pueden aplicar a los instrumentos basados en un flotador, siempre y cuando los devanados
sean hermticos. El flotador arrastra el vstago, o es l mismo el ncleo, y su movimiento
es detectado en forma de diferencia de tensin en los dos secundarios. Los rotmetros y los
detectores de nivel se prestan fcilmente a este uso. Las clulas de carga y los medidores de par,
donde se produce un desplazamiento muy pequeo, pueden emplear tambin un LVDT como
sensor.
6.6.1
Transformadores variables
Si en un transformador uno o varios de los devanados pueden desplazarse, lineal o angularmente,

respecto a los dems, variando el acoplamiento entre primario y secundarios, es decir, la inductancia mutua entre ellos, tambin variar la tensin inducida en los devanados si uno o varios
se excitan con una tensin alterna. En la Fig() se representa esquemticamente la situacin
para el caso de un solo primario y un solo secundario. la inductancia mutua entre primario y
secundario es
d
(6.6.13)
M12 = N2 2
di1
donde N2 es el nmero de vueltas del secuindario e i1 es la corriente en el primario. El flujo
abarcado por el secundario 2 es
2 = B S = BS cos = HS cos =
N1 i1
S cos
l
(6.6.14)
donde S es la seccin del secundario, N1 el nmero de vueltas del primario, l su longitud, la

permeabilidad magntica del ncleo y la inclinacin relativa entre el primario y el secundario.
As pues,
(6.6.15)
M12 = N2 N1 S cos = M cos
l
6.7. TRANSDUCTORES ELECTROQUMICOS
193
Si se considera el secundario en vaco y se aplica al primario una tensin sinusoidal de frecuencia

, en el secundario se obtendr
di1
(6.6.16)
v2 = M12
dt
v2 = ji1 M12 = iM (cos )(cos t) = k cos cos t
(6.6.17)
Es decir, la tensin de salida tiene la misma frecuencia que la de entrada, pero su amplitud
depende de la inclinacin relativa entre los devanados, si bien no de una forma proporcional.
Este principio de medida se presta bien a las aplicaciones donde hay que determinar una
posicin o desplazamiento angular.
Por su pequeo momento de inercia, los transformadores variables imponen, en general,
menos carga mecnica al eje de giro que los codificadores digitales, que requieren discos grandes
para tener alta resolucin. Por su construccin, aguantan mayores temperaturas y ms humedad,
choques y vibraciones que los codificadores y ciertos potencimetros, por lo que son particularmente considerados en las aplicaciones militares y aeroespaciales.
Segn se ver, los transformadores variables pueden transmitir la informacin analgica
hasta 2 km de distancia, con cable adecuado, y all hacer la conversin a digital. En cambio, los
codificadores digitales sufren mucha interferencia si se transmite directamente su seal de salida,
en particular en aquellas aplicaciones donde hay campos electromagnticos intensos, como puede
ser el posicionamiento de antenas (radar). Otra ventaja es que hay desplazamiento elctrico entre
la excitacin de entrada y la salida, y ello reduce, por ejemplo, las interferencias conducidas.
En el cuadro () se recogen los valores de la excitacin mxima aproximada propia de distintos
sistemas de medida de posiciones angulares.
Las ventajas de los transforamdores variables han llevado al desarrollo de diversas configuraciones fsicas, cuya comercializacin con una marca determinada ha tenido en algunos casos
tanto xito que todos los dispositivos similares se conocen con el mismo nombre comercial.
Una de las disposiciones fsicas ms simple es el denominado potencimetro de induccin
(Fig()). Consiste en dos devanados planos concntricos, uno fijo, estator, y otro mvil, rotor,
que puede girar respecto al primero, cada uno con su propio ncleo ferromagntico. Si uno de
los dos se alimenta con una tensin sinusoidal, la tensin inducida en el otro, en circuito abierto,
viene dada por (6.6.17)
6.7
Transductores electroqumicos
Estos transductores tienen escasa aplicacin industrial y se basan en la deteccin del nivel de
un electrolito por la variacin que se produce en la resistencia entre dos electrodos sumergidos.
Pueden utilizarse directamente en la medida de nivel de lquidos con propiedades electroqumicas,
y en la medida de pequeas presiones (proporcionales a la altura del electrolito en el receptculo
del transductor, que se unira mediante un conducto adecuado provisto de diafragma o pistn al
punto de medida). El inconveniente ms importate de este transductor es la alteracin progresiva
que se va produciendo en el electrolito por efecto de los fenmenos de electrlisis que tienen lugar.
194
Captadores de variacin de nivel de mercurio. En los que una columna de mercurio de

altura variable cortocircuita diferentes tomas intermedias de una cadena de resistencias.
Su aplicacin inmediata es la medida de presiones.
Captadores de discos de carbn. Constituidos por una pila de discos de grafito (aproximandamente 10 mm de dimetro y 2 mm de espesor) cuya resistencia global disminuye al
crecer la presin aplicada debido a la variacin de resistencia entre las superficies superpuestas de las caras. Estos dispositivos son poco precisos pero muy robustos, obtenindose
relaciones entre resistencias extremas de 10 : 1.
6.8
Sensores de reactancia variable
En este tipo de sensores se aprovecha la variacin de la reactancia de algn dispositivo inductivo

o capacitivo o una combinacin de ambos. La respuesta suele ser no lineal, por lo cual, se
requieren circuitos de compensacin de tipo diferencial. Tambin presentan limitaciones a la
mxima frecuencia de variacin admisible de la variable medida, pues debe ser inferior a la
frecuencia de excitacin empleada. Algunos de estos sensores son generadores intrnsecos de
seal.
6.8.1
Sensores capacitivos
Un capacitor consiste en dos conductores separados por un dielctrico (slido, lquido o gaseoso),
o el vaco. Funcionan por el principio de que la capacitancia de un condensador es funcin de la
distancia entre las placas y del rea de las mismas:
donde
es el coeficiente dielctrico de las sustancia entre las placas (
para el aire),
es
la permitividad del vaco 8.85 1012 C 2 /N m2 , A es el rea de la placa superpuesta y
d es la distancia entre las placas. Si A tiene unidades de m2 y d est en metros, C tendr
unidades de faradios. Como se muestra en la Fig. , hay dos modos de usar un transductor
capacitivo para medidas de desplazamiento. En la Fig.
(a) una placa se mueve de modo
que la distancia, d, entre las placas vara. Alternativamente, [Fig. (b)],una de las placas se
puede mover paralela a la otra, de modo que el rea enfrentada vara. En el primer caso, la
capacitancia es aproximadamente una funcin lineal del desplazamiento. Puesto que la salida del
sensor capacitvo no es un voltaje, se requiere acondicionamiento de la seal. Se puede utilizar
un puente Wheatstone de corriente alterna para este propsito.
En general los sensores capacitivos son no lineales. su linealidad depende del parmetro que
vara y de si se mide la impedancia o la admitancia del condensador. En un condensador plano,
por ejemplo, con
Captulo 7
Sensores generadores de seal

7.1
Introduccin
Se denominan sensores generadores aquellos que generan una seal elctrica a partir de la magnitud que miden sin necesidad de alimentacin elctrica. Ofrecen una alternativa para medir
muchas de las magnitudes ordinarias, sobre todo temperatura, fuerza y magnitudes afines. Pero,
adems, dado que se basan en efectos reversibles, estn relacionados con diversos tipos de accionadores o aplicaciones inversas en general. Es decir, se pueden emplear para la generacin de
acciones no elctricas a partir de seales elctricas.
Igualmente sern analizados los sensores fotovoltaicos y algunos de magnitudes qumicas
(relacionadas con la composicin) para las que hasta el momento se han visto pocas posibilidades
de medida.
Algunos de los efectos que se describen aqu pueden producirse inadvertidamente en los
circuitos, y ser as fuente de interfencias Es el caso de las fuerzas termoelectromotrices, de las
vibraciones en cables con determinados dielctricos o de los potenciales galvnicos en soldaduras
o contactos. La descripcin de los fenmenos asociados, con vistas a la transduccin, permite
tambin su anlisis cuando se trate de reducir interferencias.
7.2
7.2.1
Termopares
Efectos termoelctricos
Los sensores termoelctricos se basan en dos efectos que, a diferencia del efecto Joule, son
reversibles. se trata del efecto Peltier y del efecto Thompson.
Histricamente fue primero Thomas J. Seebeck quien descubri, en 1822, que en un circuito
de dos metales distintos homogneos, A y B, con dos uniones a diferente temperatura, aparece
una corriente elctrica Fig. 7.1. Es decir, hay una conversin de energa trmica a elctrica,
o bien, si se abre el circuito, hay una fuerza termoelectromotriz (f.t.e.m) que depende de los
metales y de la diferencia de temperatura entre las dos uniones. Al conjunto de estos dos metales
195
196
CAPTULO 7. SENSORES GENERADORES DE SEAL

Alambre de cobre
Alambre de
metal A
DVM
Unin sensora
Alambre de
metal B
Terminal DVM
Figura 7.1: Termopar.

distintos con una unin firme en un punto a una zona se denomina termopar.
La relacin entre la f.t.e.m., VAB , y la diferencia de temperatura entre las uniones, T , define
el coeficiente Seebeck, SAB ,
dVAB
= SA SB
SAB =
(7.2.1)
dT
donde SA y SB son, respectivamente, la potencia termoelctrica absoluta de A y B. En general,
SAB no es constante sino que depende de T , y suele crecer al aumentar T . Es importante anotar
que mientras la corriente que circula por el circuito depende de la resistencia de los conductores,
en cambio la f.t.e.m. no depende ni de la resistividad, ni de la seccin, ni de la distribucin
o gradiente de temperatura. Depende solo de la diferencia de temperatura de las uniones y
de la naturaleza de los metales. Esta fuerza electromotriz se debe al efecto Peltier y al efecto
Thompson.
El efecto Peltier descubierto por Jean C.A. Peltier en 1834, consiste en el calentamiento o
enfriamiento de una unin entre dos metales distintos al pasar corriente por ella. Al invertir el
sentido de la corriente, se invierte tambin el sentido del flujo de calor. Es decir, si una unin
antes se calentaba (ceda calor), al cambiar el sentido de la corriente se enfra (absorbe calor),
y si primero se enfra ahora se calienta. Este efecto es reversible e independiente del contacto,
es decir, de la forma y dimensiones de los conductores. Depende slo de su composicin y de
la temperatura de la unin. Esta dependencia resulta ser adems lineal y viene descrita por el
coeficiente de Peltier, AB , que por tener dimensiones de tensin se llama a veces tensin de
Peltier. Se define como el calor generado en la unin AB por unidad de corriente que circula
de B hacia A
(7.2.2)
dQp = AB Idt
Para una union a temperatura absoluta T , se demuestra que
AB = T (SB SA ) = BA
(7.2.3)
7.2. TERMOPARES
197
El hecho de que el calor intercambiado por unidad de superficie de la unin sea proporcional
a la corriente y no a su cuadrado, marca la diferencia respecto al efecto Joule. En ste, el
calentamiento depende del cuadrado de la corriente, y no cambia al hacerlo su direccin.
El efecto Peltier es tambin independiente del origen de la corriente, que puede ser, pues,
incluso de origen termoelctrico. En este caso las uniones alcanzan una temperatura diferente a
la ambiental, y por ello puede ser una fuente de errores.
El efecto Thompson, descubierto por William Thompson (Lord Kelvin) en 1847-54, consiste
en la absorcin o liberacin del calor por parte de un conductor homogneo con temperatura
no homognea por el que circule una corriente. El calor liberado es proporcional a la corriente
no a su cuadrado y, por ello, cambia el signo al hacerlo el sentido de la corriente. En otras
palabras, se absorbe calor si la corriente y el calor fluyen en direcciones opuestas, y se libera
calor si fluyen en la misma direccin.
El flujo neto de calor por unidad de volumen, Q, en un conductor de resistividad r, con un
gradiente longitudinal de temperatura, dT
dx , por el que circula una densidad de corriente J, ser,
Q = J
dT
dx
(7.2.4)
donde es el denominado coeficiente de Thompson.

Con referencia al circuito de la Fig. 7.1, se observa que si la corriente que circula es suficientemente pequea para poder despreciar el efecto Joule, se pueden considerar exclusivamente
los efectos termoelctricos reversibles. En este caso, la energa termoelectromotriz producida,
dVAB
dT T , debe coincidir con la energa trmica neta transformada. Para el caso de un termopar
con una temperatura T + T en un unin y T en la otra, el calor absorbido en la unin caliente
es AB (T +T ), mientras que el calor liberado en la unin fra es AB T. Por efecto Thompson,
se libera en A un calor A (T ), mientras que en B se absorbe un calor B (T ). El balance
energtico es as
dVAB
T = AB (T + T ) AB (T ) + ( B A )T
dT
(7.2.5)
Dividiendo ambos trminos por T y pasando al lmite cuando T tiende a 0, resulta

dVAB
d AB
=
+ ( B A )T
dT
dT
(7.2.6)
esta expresin indica que el efecto Seebeck es, de hecho, el resultado de los efectos Peltier y
Thompson, y expresa el teorema fundamental de la termoelectricidad.
Las expresiones (7.2.1) y (7.2.6) permiten pensar en la aplicacin de los termopares a la
medida de temperaturas. Si en un circuito se mantiene una unin a temperatura constante
(unin de referencia), la f.t.e.m. ser funcin de la temperatura a la que est sometida la otra
unin, que se denomina unin de medida. Los valores correspondientes a la tensin obtenida con
determinados termopares, en funcin de la temperatura de esta unin cuando la otra se mantiene
a 0 C, estn tabulados. El circuito equivalente es una fuente de tensin con una resistencia de
198
salida distinta en cada rama (la de cada metal). Para cobre y constantan, por ejemplo, pueden
ser 300 y 10.
Ahora bien, la aplicacin de los termopares a la medida est sujeta a una serie de limitaciones
que conviene conocer para su uso correcto.
La temperatura mxima que alcance el termopar debe ser inferior a su temperatura de
fusin. Por lo tanto, hay que elegir un modelo adecuado a los valores de temperatura a
medir.
El medio donde se va a medir no debe atacar a ninguno de los metales de la unin.
La corriente que circule por el circuito de temopares debe ser mnima. De no ser as, dado
el carcter reversible de los efectos Peltier y Thomson, la temperatura de los conductores,
y en particular la de las uniones, sera distinta a la del entorno, debido al flujo de calor
desde y hacia el circuito. Segn la intensidad de la corriente, incluso el efecto Joule podra
ser apreciable. Todo esto llevara a que la unin de medida alcanzara una temparatura
distinta a la que se desea medir y la unin de referencia una temperatura diferente a la
supuesta, con los consiguientes errores.
Los conductores deben ser homogneos, por lo que conviene extremar las precauciones para
que no sufran tensiones mecnicas (por ejemplo, al instalarlos), ni trmicas (por ejemplo,
debidas al envejecimiento si hay gradientes de temperatura importantes a lo largo de su
tendido).
Se debe mantener una de las dos uniones a una temperatura de referencia fija si se desea
medir la de la otra unin, pues todo cambio en dicha unin de referencia ser una fuente de
error. Repercute en ello que la tensin de salida es muy pequea, por cuanto la sensibilidad
tpica es de 6 a 75V / C. Si adems la temperatura de referencia no es muy prxima a
la de la medida, resultar que la seal ofrecida tendr un nivel alto constante en el que
los cambios de temperatura de inters puede que provoquen slo pequeas variaciones de
tensin.
Si se desea una precisin elevada, la no linealidad de la relacin entre f.t.e.m. y temperatura
puede ser importante. Una frmula aproximada y con validez general es
VAB C1 (T1 + T2 ) + C2 (T12 T22 )
(7.2.7)
donde T1 y T2 son las temperaturas absolutas respectivas de cada unin, y C1 y C2 son

constantes que dependen de los materiales A y B. La realizacin de termopares tiles
viene limitada, precisamente, por el inters de que C2 sea muy pequea, y esto restringe
mucho las posibilidades de eleccin. Para el termopar de cobre/constantan, por ejemplo,
se tiene
(7.2.8)
EAB 62.1(T1 + T2 ) + 0.045(T12 T22 )V
7.2. TERMOPARES
199
Esta no linealidad puede que requiera una correccin que se realiza en el circuito de acondicionamiento de seal. Considerando todos los factores, es dficil tener un error menor que
0.5 C. La tolerancia de unas a otras unidades del mismo modelo, puede ser de varios
grados Celsius.
A pesar de estas limitaciones, los termopares tiene muchas ventajas y son, con mucha diferencia, los sensores ms frecuentes para la medida de temperaturas. Por una parte, tienen un
alcance de medida grande, no slo en su conjunto, que va desde 270 C hasta 3000 C, sino en
cada modelo particular. Por otra parte, su estabilidad a largo plazo es aceptable y su fiabilidad elevada. Adems, para temperaturas bajas tiene mayor exactitud que las RTD, y por su
pequeo tamao permiten tener velocidades de respuesta rpidas, del orden de milisegundos.
Poseen tambin robustez, simplicidad y flexibilidad de utilizacin, y se dispone de modelos de
bajo precio que son suficientes en muchas aplicaciones. Dado que no necesitan excitacin, no
tienen los problemas de autocalentamiento que presentan las RTD, en particular al medir la
temperatura de gases.
7.2.2
Compensacin de la unin de referencia
La simplicidad general de los termopares ha conducido a su amplio uso como sensores para
medida de la temperatura. Hay, sin embargo, un nmero de complicaciones en su uso:
1. La medida de tensin se debe hacer sin flujo de corriente.
2. Las conexiones a dispositivos de medida de tensin resultan en uniones adicionales.
3. La tensin depende de la composicin de los metales usados en los hilos.
Para que un termopar pueda ser usado como medidor de temperatura, no debe haber flujo de
corriente a travs de los hilos y la unin. Esto es porque el flujo de corriente no solo resultar en
prdidas resistivas sino que tambin afectar las tensiones termoelctricas. Reunir este requisito
actualmemte no es un problema puesto que se dispone de voltmetros electrnicos y de sistemas
de adquisicin de datos con muy alta impedancia de entrada.
La segunda complicacin tiene que ver con el hecho de que realmente hay tres uniones en
la Fig. 7.1. Adems de la unin sensora, hay dos uniones donde el termopar se conecta con
el DVM. La lectura de la tensin as, es funcin de tres temperaturas (la unin sensora y las
uniones a los terminales del DVM), dos de las cuales son de ningn inters. La solucin a este
problema se muestra en la Fig. 7.2(a).
Se usan dos termocuplas, la segunda se denomina unin de referencia. La unin de referencia
se mantiene a una temperatura conocida fija. La temperatura de una mezcla de hielo y agua pura
a 1 atm. (0 C). Se dispone actualmente de dispositivos electrnicos que simulan elctricamente
la unin de referencia fra sin la necesidad de disponer realmente de la mezcla hieloagua. An
hay dos uniones en los terminales del DVM, pero cada una de estas uniones est construida
con los mismos materiales y si los dos materiales pueden mantenerse a la misma temperatura,
200
Alambre de
metal A
Alambre de
metal A
Cobre
Unin
sensora
Unin
sensora
DVM
Alambre de
metal B
Metal A
Unin de
referencia
(a)
DVM
Alambre de
metal B
Metal B
Uniones de
referencia
(b)
Figura 7.2: Termopar con unin de referencia.

las tensiones en los terminales se cancelarn. Se pueden mantener los dos terminales a la
misma temperatura colocndolos en un mismo recinto aislado trmicamente conenctados con
un conductor trmico pero en una estructura aislada elctricamente. Con la temperatura de la
unin de referencia conocida, la tensin medida es funcin nicamente de los materiales con los
cuales est construido el termopar y la unin sensora de temperatura. El circuito de la Fig.
7.2(b) es elctricamente equivalente a la Fig. 7.2(a) y producir la misma tensin en el DVM.
Figura 7.3: Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas.

Finalmente, la tensin generada depende fuertemente de la composicin de los hilos utilizados
para formar el termopar. Este problema ha sido resuelto restringiendo los materiales utilizados
7.3. SENSORES PIEZOELCTRICOS
201
para construir los termopares. Cuando se fabrican los alambres para los termopares de acuerdo
a las normas establecidas por el National Institute of Standards and Technology (antiguamente
conocido como National Bureau of Standards NBS), se pueden usar las curvas de calibracin
normalizadas para determinar la temperatura con base a las tensiones medidas. Puesto que la
tensin de salida es en general funcin no lineal de la temperatura, se requieren tablas, grficos
o funciones polinomiales para interpretar los datos de la tensin leda. La Fig. 7.3 muestra las
curvas de calibracin tomadas de las funciones polinomiales dadas por Creus [10] para varios
R
termopares. El programa desarrollado en Matlab est listado en el Apndice A.
7.3
Sensores piezoelctricos
What is Piezoelectricity?
An overview & History
In the 1880s, Pierre and Jacque Curie discovered that some crystalline materials, when
compressed, produce a voltage proportional to the applied pressure and that when an electric
field is applied across the material, there is a corresponding change of shape.
This characteristic is called piezoelectricity or pressure electricity (Piezo is the Greek word
for pressure).
Piezoelectric ceramics respond rapidly to changes in input voltage, and power supply noise
is the only limiting factor in the positional resolution. Although high voltages are used to
produce the piezoelectric eect, power consumption is low, and energy consumption is minimal
in maintaining a fixed position with a fixed load.
Although piezoelectricity is found in several types of natural materials, most modern devices
use polycrystalline ceramics such as lead zirconate titanate (PZT).
A material is said to possess piezoelectric properties if an electrical charge is produced when
a mechanical stress in applied. This is commonly referred to as the generator eect. The
converse also holds true; an applied electric field will produce a mechanical stress in the material.
This is commonly referred to as the motor eect.
Some naturally occurring crystalline materials possessing these properties are quartz and
tourmaline. Some artificially produced piezoelectric crystals are Rochelle salt, ammonium dihydrogen phosphate (ADP) and lithium sulphate (LH).
Another class of materials possessing these properties is polarized piezoelectric ceramic.
They are typically referred to as ferroelectric materials. In contrast to the naturally occurring
piezoelectric crystals, ferroelectric ceramics are of polycrystalline structure. the most commonly produced piezoelectric ceramics are: lead zirconate titanate (PZT), barium titanate, lead
titanate and lead metaniobate.
Production of all of the piezoelectric ceramic materials involve detailed processing. Material
properties may be altered by modifying the chemical composition and manufacturing processes.
The provides the designer a means of tailoring the materials properties to the application.
Many processes are involved in the production of piezoelectric ceramics. The first ceramic
process consists of mixing the raw materials. The powders are then heated which reacts the
202
constituent materials into a compound. This process is commonly referred to as

calcining. The calcined powders are then ground into very fine particles. The production
of ceramic shapes requires that a binder be added. The binder holds the parts together prior to
firing.
Ceramic parts may be formed to many shapes including; bars, plates, discs, rings, cylinders
and hemispears. The formed parts are then bisque fired at low temperatures in order to drive o
the binders and provide some mechanical strength. The second firing, or high firing completes
the chemical bounding of the constituent material dimensions. Electrodes are applied to the
desired surfaces. a final firing bonds the electrode material to the ceramic surfaces.
Activation of the piezoelectric ceramic properties on a macroscope level occurs in the polling
process. The electroded part is heated in a dielectric oil bath. A high electric field is applied
across the electrodes resulting in an aligning of the dipoles within the material. The material
is now fully activated. From the moment the activated ceramic material is removed from the
poling apparatus, the material properties undergo changes. The process of change is referred to
as aging. Aging of the ceramic occurs very rapidly in the first few hours. After a few days
the changes in the material properties are very small and decrease logarithmically. The aging
process can be attributed to the relaxation of the dipoles in the material.
Piezoelectric ceramic materials possess electrical, mechanical and electromechanical properties resulting from the chemical formulation and the manufacturing processing. Typical electrical
parameters are the dielectric constant K, and the dissipation. High dielectric constants are
desirable for they result in low impedance. Low dissipations are desirable for they result in low
electrical losses. Typical electromechanical parameters are the electromechanical coupling, k,
and piezoelectric g and d constants. Higher electromechanical couplings result in a more
ecient transfer of electrical energy to mechanical energy. Typical mechanical parameters are
the density and elastic constants, S from which the resonant properties may be determined.
Many of these properties are dependent upon the axis of measurement. The axis being defined
relative to the poled axis.
Depolarization of the piezoelectric ceramic can result if it is exposed to excessive heat,
electrical drive or mechanical stress or any combination thereof. The temperature at which
piezoelectric ceramic will be totally depoled is known as the curie point.
Piezoelectric ceramics also possess pyroelectric properties. A change in ceramic temperature will result in a change in mechanical dimensions. The mechanical change produces stress
within the ceramic and corresponding electrical charge on the electrode surfaces. Very high
potentials can be created, caution should be exercised when handling piezoelectric ceramic.
7.3.1
Captadores Piezoelctricos
La piezoelectricidad consiste en la aparicin de desequilibrios de carga elctrica en determinadas

zonas de lminas talladas segn ciertos ejes, en respuesta a una deformacin de la red cristalina
provocada, por ejemplo, por la aplicacin de una fuerza. El fenmeno es reversible de modo que,
si se crea una distribucin asimtrica de cargas, se produce una deformacin correspondiente en el
cristal. Es as lgico que estos materiales se utilicen tanto en sensores primarios de deformacin,
203
como en accionadores mecnicos (por ejemplo, generadores de ultrasonidos, posicionadores de

elementos mecnicos, etc).
7.3.2
Materiales piezoelctricos
Entre los materiales naturales que manifiestan el fenmeno descrito estn los cristales de cuarzo
y turmalina, y entre los materiales sintticos que se comportan del mismo modo pueden citarse la
sal de Rochelle y el titanato de bario, adems de ciertos compuestos de tipo cermico utilizados
actualmente.
El titanato de bario, concretamente, pertenece al grupo de los denominados materiales
ferroelctricos, de los cuales el ms representativo podra ser el zirconato de plomo. Deben su
nombre a la analoga entre los dominios elctricos, concepto que se utiliza en la interpretacin
terica de sus propiedades, y los dominios magnticos a los que se hace referencia en la teora
del ferromagnetismo. Durante el proceso de fabricacin, se polarizan calentndolos por encima
del punto Curie y se dejan enfriar lentamente en presencia de un fuerte campo elctrico (obsrvese
la analoga con el proceso de fabricacin de los imanes y la dualidad campo magnticocampo
elctrico).
Los dispositivos que utilizan materiales ferroelctricos se caracterizan por su gran robustez y
capacidad para soportar grandes esfuerzos. Se emplean adems frecuentemente como actuadores
y, en especial, en sistemas de generacin de ultrasonidos.
Recientemente se estn utilizando tambin los polmeros ferroelctricos entre los cuales
destaca el fluoruro de polivinilideno, material de alta sensibilidad piezoelctrica y piroelctrica
que sive de base para algunos sensores modernos experimentales de diversas magnitudes mecnicas, elctricas y pticas. Actualmente se estudia su aplicabilidad a la deteccin tactil en robots
y en prtesis de miembros.
Figura 7.4: Efecto piezoelctrico

En aplicaciones como sensores, destacan los cristales de cuarzo tallados segn determinadas direcciones preferentes en forma de lminas sobre cuyas caras opuestas se depositan
electrodos metlicos (generalmente de oro o de plata). Dependiendo de la direccin del corte,
204
se consiguen lminas sensibles a deformaciones por compresin, esfuerzo cortante o flexin (ver
Fig.7.4)
7.3.3
Base Terica
Las relaciones mecanoelctricas para un material piezoelctrico vienen dadas por las siguientes
ecuaciones (unidimensionales):
= (T, E)
D = D(T, E)
=sT +dE
D =E +dT
donde
Deformacin unitaria
T Esfuerzo
E Campo elctrico
D Desplazamiento
Constante dielctrica
s Inversa del mdulo de Young
d Constante piezoelctrica (C/N )
En estos materiales, tanto la deformacin mecnica como el vector desplazamiento elctrico
se deben a una cambinacin del esfuerzo y campo elctrico aplicado al material. Un ndice de la
conversin viene dado por el coeficiente de acoplamiento electromecnico (K), definido como la
raz cuadrada de la relacin entre la energa disponible y la almacenada (para frecuencias muy
por debajo de la frecuencia de resonancia del elemento). Puede demostrarse que
K=
d2
s
La generalizacin de las ecuaciones anteriores a tres dimensiones, proporciona las siguientes

relaciones:
[ i ] = [ i,j ][Tj ] + [di,k ][Ek ]
j, n = 1, 2, . . . 6
[Di ] = [l,m ][Em ] + [dl,n ][Tn ]
i, k, l, m = 1, 2, 3
donde se cumple que

di,j = dj,i
l,m = 0
l 6= m
(indicando los subndices 1, 2 y3 esfuerzos de traccin/compresin y los subndices 4, 5 y 6,

esfuerzos de cizalladura) Fig.
Con el fin de comprender el comportamiento en circuito de los sensores piezoelctricos,
es interesante abordar tericamente un modelo simple unidimensional al que responden con
bastante aproximacin los cristales tallados prismticamente cuando funcionan en rgimen de
205
compresintraccin que, por otra parte, es el usual en muchos de los transductores basados en
este tipo de sensores Fig
En la Fig. se representa esquemticamente un cristal piezoelctrico en forma de lmina
con electrodos metlicos depositados sobre las caras opuestas. En la misma figura se ilustra el
equilibrio dinmico del cristal sometido a una fuerza F de compresin, de modo que se produce
una disminucin z en su espesor. Los terminales del cristal aparecen cortocircuitados, es decir
no existe diferencia de potencial entre ellos y no se tiene en cuenta, por lo tanto, la fuerza debida
a la reversibilidad del efecto piezoelctrico.
La deformacin genera una carga Q cuyo valor es aproximadamente proporcional al acortamiento unitario del espesor del cristal, para deformaciones muy pequeas, o sea:
Q=K
z
e
(7.3.1)
donde K es una constante que depende del material y de la direccin de la talla y e es el espesor
del cristal antes de la deformacin.
Si, en el caso ms gnenral, se supone que z est variando con el tiempo a una velocidad
dz/dt y una aceleracin d2 z/dt2 , considerando el sentido positivo de z indicado en la Fig., Se
obtien derivando la expresin (7.3.1):
i=
K dz
dQ
=
dt
e dt
(7.3.2)
donde se ha considerado que el espesor e permanece constante. Existe pues una corriente de
desplazamiento interno de cargas proporcional a la velocidad de deformacin, que circulara por
el conductor de cortocircuito entre terminales.
Por otra parte, como se indica en la Fig., intervienen en el caso ms genral, adems de
la fuerza F aplicada, otras solicitaciones que definen el equilibrio dinmico del sistema y que
pueden expresarse del modo siguiente en funcin de z y sus derivadas
2
Fuerza de inercia a la masa m equivalente del cristal
m ddt2z
dz
r dt
Fuerza asociada a las resistencias pasivas (del tipo de rozamiento viscoso, proporcional a la velocidad)
l
Cm z Fuerza de reaccin elstica, proporcional a la deformacin, donde Cm , es la llamada
capacidad mecnica, inversa de la elastancia mecnica del cristal para el modo de deformacin
considerado.
El equilibrio dinmico se expresar indicando balance de fuerzas que acta sobre el sistema:
F =m
l
dz
d2 z
+r +
z
2
dt
dt
Cm
(7.3.3)
y teniendo en cuenta (7.3.2) resulta

e l
me di re
+ i+
F =
K dt K
K Cm
idt
(7.3.4)
206
7.3.4
Circuito Equivalente de un cristal piezoelctrico
Considrece ahora el esquema de la Fig. (7.5) que representa un circuito L, R, C en serie alimentado por un generador de tensin v(t).
Co
Figura 7.5: Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico.

De acuerdo con la teora de circuitos, la relacin entre v(t) e i(t) estar dada por la ecuacin
v(t) = L
di(t)
1
+ Ri(t) +
dt
C
i(t)dt
(7.3.5)
Dado que los trminos funcionales de los segundos miembros de las ecuaciones (7.3.4) y (7.3.5)
son idnticos, puede establecerse una equivalencia entre ambas expresando la proporcionalidad
entre las funciones de los primeros miembros y entre los coeficientes correspondientes del segundo,
o sea
LK
RK
Cm K
u(t)
=
=
=
=
(7.3.6)
F
me
re
Ce
donde sera el factor de proporcionalidad.
De la ecuacin anterior, se deducen las expresiones
u(t) = F
L=
e
e
K
m R = r C = Cm
K
K
e
Resulta as que puede establecerse una analoga entre el cristal en su equilibrio dinmico y un
circuito resonante serie con amortiguamiento, en donde son vlidas las siguientes relaciones:
La tensin de alimentacin es proporcional a la fuerza.
La resistencia es proporcional al coeficiente representativo del efecto del amortiguamiento
mecnico del sistema.
La inductancia es proporcional a la masa equivalente del cristal.
La capacidad elctrica es proporcional a la capacidad mecnica.
207
Estas conclusiones son de gran utilidad para el estudio de circuitos con cristales piezoelctricos, toda vez que el cristal puede ser sustituido por un circuito L, R, C equivalente alimentado por
un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada, como se muestra en la Fig.(izquieda).
Si se abre el corto circuito entre los terminales fsicos del cristal, quedar intercalado en el
buque el condensador C0 correspondiente a la disposicin de los dos electrodos separados por el
propio cristal (dielctrico) y, en este caso, la corriente i(t) no podra ser medida fisicamenteya
que estaa formada por el desplazamiento interno de cargas que se almacenaran, en definitiva,
en dicho condensador. El circuito equivalente completo es el representado en la derecha de la
Fig. (), donde los pintos a y b corresponden a los terminales fsicos del sensor
A modo de ejemplo, se indican a continuacin los parmetros elctricos d un cristal de cuarzo
de frecuencia de resonancia igual a 10M Hz (corte AT).
En aplicaciones como sensor, donde el funcionamiento tiene lugar a frecuencias muy inferiores
a la de resonancia mecnica del cristal (obviamente coincidente con la resonancia elctrica de su
circuito equivalente), tanto las velocidades como las aceleraciones tienen valores tan bajos que es
posible despreciar los trminos asociados a estas magnitudes, con lo cual el circuito equivalente
se reduce al ilustrado en el lado izquierdo de la Fig.().
En el lado derecho de dicha figura se muestra una configuracin aun ms simplificada que
resulta de la anterior aplicando el teorema de Thevenin entre los terminales a y b, en donde el
generador corresponde al original afectado del coeficiente = C/(C + C0 ) del divisor de tensin
capacitivo y la impedancia interna est formada por los dos condensadores en paralelo.
Puede decirse que el cristal piezoelctrico, dentro de las aproximaciones indicadas, equivale
a un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada en serie con un condensador que
corresponde aproximadamente al definido fsicamente por la geometra del sensor (es decir, el
condensador C0 ), siempre referido al modelo de la Fig().
El estudio de la respuesta de los cristales piezoelctricos a solicitaciones estticas proporciona
interesantes relaciones entre los parmetros que se estn manejando y otros dependientes de las
propiedades elsticas del material y de su geometra.
7.3.5
Respuesta esttica
Si se supone sometido el cristal a una fuerza constante y el sistema est en reposo, la carga
almacenada en las placas ser
1F
z
(7.3.7)
Q=K =K
e
ES
donde E es el mdulo de Young, F la fuerza aplicada y S la superficie sobre la que acta (la de
los electrodos de acuerdo con el modelo de la Fig()). Por otra parte, de acuerdo a la definicn
de Cm , se tiene, en condiciones estticas (la nica fuerza que se opone a F es la reaccin elstica
del cristal)
1
F =
z
(7.3.8)
Cm
208
deduciendose de estas dos ecuaciones la relacin
S
=E
Cm
e
(7.3.9)
Mediante diferentes operaciones, se obtienen adems estas otras expresiones que proporcionan
los valores de .R y L en funcin de los parmetros fsicos del cristal entre los que se cuenta la
capacidad C.
La tensin de salida del sensor piezoelctrico para excitacin esttica es, segn la Fig.()
=
K
CES
R=
e
e
C
r L=
m us =
F
CES
CES
C + C0
(7.3.10)
en donde, sustituyendo el valor de segn (equ), se tiene

us =
1
K
K
F
F
=
ES C + C0
ESC0
(7.3.11)
expresin en la que puede sustituirse C0 por el valor correspondiente al condensador plano de

superficie S, espesor e y constante dielctrica , obtenindose:
K e
us
=
E S 2
(7.3.12)
Puede observarse que esta sensibilidad es funcin de las caractersticas fsicas del cristal (E, e, K)
y de su configuracin geomtrica (e/S 2 ), siendo fuertemente dependiente de la superficie de
lascaras que sirven de soporte a los elctrodos. Obviamente, la sensibilidad referida a presin
(F/S) tendra una expresin idntica a la anterior pero en el denominador aparecera S sin
elevar al cuadrado.
7.3.6
Respuesta dinmica
Suponiendo aplicada una fuerza variable senoidalmete, es decir de la forma F (t) = Fm sent la
tensin de salida del sensor en rgimen permanente se deduce del circuito equivalente, siendo su
mdulo:
CFm
p
(7.3.13)
|us | =
C0 ((1 LC 2 )2 + R2 C 2 2 )
Esta misma expresin puede ponerse en funcin de los parmetros mecnicos del cristal utilizando las equivalencias ya conocidas, con lo que resulta
|us | =
Cm KFm
p
2 2 )
eC0 ((1 LCm 2 )2 + r2 Cm
(7.3.14)
En la Fig.() se representa el mdulo de laa tensin de salida en funcin de observndose que

para frecuencias bajas la curva es muy horizontal, es decir la tensinde salida depende un poco
de la frecuencia. existe adems un valor de para el que la funcin es mxima, que corresponde
209
a la resonancia mecnica del cristal, o bien a la resonancia elctrica del circuito equivalente, y
que puede calcularse igualendo a cero la derivada, obtenindose:
s
1
r2
(7.3.15)
0 = 2f0 =
mCm 2m2
donde 0 y f0 son la pulsacin y la frecuencia de resonancia, respectivamente.
En las aplicaciones como sensor, un criterio a seguir es que las frecuencias contenidas en la
magnitud excitadora sean muy inferiores a la de resonancia del cristal, con objeto de operar en
la parte plana de la curva.
En otro tipo de aplicaciones (osciladores, generadores de ultrasonidos, etc) el cristal se hace
funcionar precisamente a su frecuancia de resonancia. En estos casos, en que no existe una
fuerza exterior aplicada, el cristal se considera como elemento del circuito pasivo y es interesante observar que presenta dos frecuencias de resonancia (que corresponde a las denominadas
resonancia serie y resonancia paralelo). En efecto, la impedancia entre los puntos a y b del
circuito equivalente de la Fig.() es:
z=
1
1 + RCp + LCp2
CC0
CC0 2 (C + C )p
1 + R C+C0 p + L C+C0 p
0
(7.3.16)
cuyo mdulo, para funcionamiento en alterna (p = j), tiene un mnimo y un mximo correspondiente a las dos frecuencias de resonancia mencionadas.
Una primera aproximacin vlida consiste en despreciar el efecto amortiguador de la resistencia R (en efecto, los factores Q son usualmente de decenas de millares), con lo cual:
z()
=
1
1 (/s )2
(C + C0 )j 1 (/ p )2
(7.3.17)
donde s (pulsacin de resonancia serie) y p (pulsacin de resonancia paralelo) son:

1
1
s
p
=
=q
CC0
LC
L (C+C
0)
(7.3.18)
Dado que, como se ha explicado anteiormente, C0 es mucho mayor que C, las pulsaciones o
frecuencias de resonancia serie y paralelo son casi iguales, es decir:
s
= p
(7.3.19)
Los osciladores de cristal oscilan una frecuencia comprendida entre la de resonancia serie y la de
resonacia paralelo, en los diseos ms usuales, con un ligero desplazamiento hacia la resonancia
paralelo. No obstante, de acuerdo con (eq), la frecuencia de oscilacin es prcticamente igual
a ambas y a la de resonancia mecnica del cristal (). En ciertos casos, los cristales se hacen
oscilar a mltiplos de la frecuencia fundamental (sobretonos) forzando determinados modos de
210
vibracin en los que se producen ondas estacionarias. Dependiendo de las caractersticas del
cristal, pueden excitarse modos de vibracin a compresin, a cortadura, a flexin, etc.
En la Fig.() se ilustra cualitativamente el mdulo de la impedancia dada por () en funcin
de la pulsacin .
Es de destacar que existen sensores basados en la variacin de la frecuencia de oscilacin
con el incremento de la masa del cristal al fijarse sobre un recubrimiento sensible determinadas
substancias (microgavimetra selectiva), pero se trata en este caso de sensores indirectos.
7.3.7
Problemas especficos relacionados con las medidas
Los circuitos equivalentes de los cristales piezoelctricos muestran dificultades de las medidas
en muy baja frecuencia con este tipo de sensores (impedancia de salida infinita para frecuencia
cero).
No obstante, pueden aplicarse vitualmente en cualquier rango de frecuencias utilizando los
denominados amplificadores de carga, que consisten esencialmente en integradores.
En la Fig.() se muestra en foram esquemtica un sisterma que muestra un integrador
analgico conectado a un sensor piezoelctrico, que aparece sustituido por su circuito equivalente. La tensin de salida de este circuito, viene dada por la siguiente expresin:
us =
1+(p/s )2
R (c + C0 )p + 1 C0
1+(p/p )2 a
(7.3.20)
que, para magnitudes con un contenido armnico de muy baja frecuencia, puede aproximarse
como
C
Qc
(7.3.21)
us = F =
Ca
Ca
La tensin de salida es, pues, aproximadamente proporcional a la carga Qc alamcenada en el
condensador Ca .
Los amplificadores de carga permiten as medidas incluso en condiciones estticas (de hecho,
la expresin anterior es exacta en tales condiciones), entregando una salida proporcional a la
fuerza aplicada. Su principal problema prctico es que tienden a saturarse a largo plazo por
integracin de pequeos errores de deriva de continua, lo que obliga a utilizar amplificadores
operacionales de altas prestaciones en lo que se refiere a deriva, tensiones de desviacin (oset)
y corrientes de polarizacin. Adicionalmente, suele ser necesario cortocircuitar peridicamente
el condensador de integracin para eliminar errores acumulados. Por supuesto, puede utilizarse
cualquier esquema de integrador adems del ilustrado en la Fig.().
Otro problema que se presenta algunas veces cuando el cable de conexin de seal es largo
existen perturbaciones mecnicas ambientales (acsticas, vibratorias, etc), es que dicho cable
puede comportarse como un transductor microfnico, apareciendo ruido en la seal. Muchos
fabricantes disponen de cable especial para evitar o mitigar este efecto. Adicionalmente, la capacidad parsita asociada se suma al valor de C0 , reducindose la amplitud de la seal disponible
por efecto de divisor capacitivo con el condensador C. Es recomendable preamplificar la seal
muy cerca del sensor.
211
La instrumentacin asociada a las medidas con transductores piezoelctricos es usualmente

no diferencial con el crislta aislado a tierra, realizndose en este caso la conexin masapantalla
tierra en el extremo de la carga final de utilizacin (aparato de registro, osciloscopio, etc).
La Fig.() ilustra un esquema de apantallamiento recomendado cuando se utiliza un amplificador de carga que tien conectada interiormente la masa al blindaje, pudiendo apreciarse que
las pantallas de los conduntores de entrada y salida del amplificador puentean el blindaje
de este ltimo. Esta disposicin es la ms favorable para evitar interferencias producidas por
diferencias de potencial entre la tierra de seal (tierra remota) y la de los aparatos de registro
o medida fianles (tierra local) ya que las correintes implicadas circulan principalmente por las
pantallas y blindaje del amplificador y no por los conductores de seal. Se respetan al mismo
tiempo las reglas bsicas de apantallamiento de la instrumentacin no diferencial (continuidad
directa entre pantallas y blindaje y conexin a masa de estos elementos).
7.3.8
Aplicaciones
Los sensores piezoelctricos encuentran aplicacin en multitud de transductores analgicos directos (medidores de fuerza y presin, acelermetros, micrfonos, etc) que se caracterizan, en
general, por su fiabilidad, robustez y capacidad para trabajar en ambientes hostiles. Podra
afirmarse, no obstante, que las realizaciones de mayor difusin se refieren a medidas dinmicas,
dados los problemas que presentan en muy baja frecuencia. Sin embargo, existen transductores
basados en cristales piezoelctricos de gran precisin que son exitados por magnitudes estticas
o cuasiestticas.En los transductores en que la magnitud excitadora puede cambiar de signo (por
ejemplo, un acelermetro que puede medir aceleracin y desaceleracin) y este hecho implica
una inversin de la solicitacin mecnica (por ejemplo, se pasa de compresin a traccin), se
prefiere polarizar mecnicamente el cristal sometindolo a una deformacin inicial a la que se
superpone en un sentido u otro la debida a la magnitud a medir.
En la Fig.() se muestra esquemticamente, por por ejemplo, la estructura de un acelermetro
tpico, donde puede observarse como el cristal est precomprimido por un resorte dispuesto entre
la carcasa del transductor y la masa de inercia que acta como sonda. La fuerza de precompresin
puede ajustarse haciendo girar la tapa roscada sobre la que se apoya el resorte.
212
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0.6
Figura 7.6:
0.8
Captulo 8
Medida de presin y humedad

8.1
Introduccin
En este captulo se proporcionan las bases tcnicas de los sistemas comunes usados para medir
presin y humedad. Se incluyen los dispositivos de medida ms corrientes, aunque deber notarse
que en la prctica de ingeniera tambin se emplean otros dispositivos. En este captulo tambin
se hace una introduccin a la tecnologa de fibra ptica en los sistemas de medida los cuales
incluyen sensores para presin, temperatura y otras variables fsicas.
8.2
Medida de presin
La presin se mide en tres formas diferentes: presin absoluta, presin atmosfrica y presin
diferencial.
La presin absoluta se usa en termodinmica para determinar el estado de una sustancia, se
mide con relacin al cero absoluto de presin.
La presin atmofrica es la presin ejercida por la atmsfera terrestre medida con un barmetro.
A nivel del mar esta presin es cercana a 760mm Hg absolutos o 14.7 psia (libras por pulgada
cuadrada absoluta) y estos valores definen la presin ejercida por la atmsfera estndar.
La presin diferencial es la diferencia de presin entre dos puntos de un sistema.
El vaco es la diferencia de presiones entre la presin atmosfrica existente y la presin
absoluta, es decir, es la presin medida por debajo de la atmosfrica.
Existen dispositivos para medir directamente la presin en cada forma. Aunque algunos
dispositivos miden directamente la presin absoluta, es comn hacer dos medidas con dos dispositivos uno para determinar la presin absoluta ambiente y el otro para determinar la presin
atmosfrica. La presin absoluta es entonces
pabs = pamb + patm
(8.2.1)
En el sistema ingls de unidades, las presiones absoluta, atmosfrica y diferencial se dan

normalmente en unidades de libras por pulgada cuadrada en la forma de psia, psig y psid,
213
214
CAPTULO 8. MEDIDA DE PRESIN Y HUMEDAD
respectivamente. En el sistema de unidades SI, la presin se expresa en pascal, Pa (o kilopascal,

kPa) agregando la palabra absoluta, atmosfrica o diferencial. Un pascal es una presin de un
newton por metro cuadrado.
1P a = 1N/m2
8.3
(8.2.2)
Dispositivos de medida de presin
Existen tres dispositivos tradicionales para medida de presin los cuales no tienen salida elctrica pero an son muy utilizados por lo cual merecen ser mencionados. El manmetro y el tubo
Bourdon (desarrollado por E. Bourdon en 1849) son usados debido a que se puede leer directamente la presin. El tercer dispositivo, el sensor de peso muerto, es valioso para calibracin de
otros dispositivos de medida de presin. Ninguno es adecuado para medidas dinmicas.
8.3.1
Manmetros
El manmetro ms simple es el tubo en U mostrado en la Fig. 8.1 Consiste de un tubo de vidrio

o plstico en forma de U parcialmente lleno con un lquido. El dispositivo se emplea para medir
presin diferencial o atmosfrica en lquidos o gases. Si el fluido a ser sensado es un lquido,
entonces el fluido dentro del manmetro debe ser no miscible y ms denso que dicho fluido.
Tubo
transparente
en U
Densidad m
h
(R)
Figura 8.1: Manmetro de tubo en U.

Los fluidos debern tambin tener diferentes colores de modo que la interface (menisco) sea
visible fcilmente. La diferencia de presin en el extremo del manmetro se puede calcular de
P = P1 P2 = hg(m s ) = Rg(m s )
(8.3.1)
donde h = R es la diferencia de niveles de las dos interfaces, m es la densidad del lquido del
8.3. DISPOSITIVOS DE MEDIDA DE PRESIN
215
manmetro, s es la densidad del fluido sensado y g es la aceleracin de la gravedad. Para los

gases, s es muy pequea con respecto a m y se puede despreciar, dando P = Rgm .
Aunque la presin tiene unidades de psi o Pa, es comn expresarla como la altura de una
columna de un fluido. Si una presin se divide entre g, el resultado tiene unidad de altura.
Por ejemplo, en el sistema ingls de unidades, si se usa la densidad del agua, la presin puede
expresarse como pies de agua o pulgadas de agua. La presin atmosfrica usualmente se expresa
de esta manera 30 pulgadas o 760 mm Hg, por ejemplo. Cuando se expresa la presin como
la altura de una columna de un fluido, tambin es necesario conocer la temperatura del fluido
puesto que sta afecta la densidad. Por ejemplo, la densidad del agua vara 0.75% entre 10 y
40 C. Es comn usar la densidad del agua a 4 C, 1000kg/m3 o 62.43lbm/f t3 . Tambin es comn
especificar la densidad del fluido usando el trmino gravedad especfica, S, la cual es la razn de
la densidad del fluido a la densidad del agua a una temperatura especfica (usualmente 4 C).
Los manmetros son normalmente precisos an sin calibracin. Los principales factores que
afectan su precisin son la escala y la densidad del fluido del manmetro. Las escalas se pueden
construir de forma precisa y mantener su precisin con el tiempo. Las densidades de los fluidos
tambin son conocidas y pueden ser fcilmente chequeadas. La expansin trmica afecta tanto
a la escala como a la densidad del fluido, pero se pueden hacer correcciones analticas para
eliminar los errores.
Los manmetros de U tambin tienen el inconveniente de que es necesario leer la localizacin
de las dos interfaces. Una variacin comn, el manmetro de tipo recipiente, se muestra en la
Fig. 8.2.
Tubo transparente
R
P1
Recipiente
Figura 8.2: Manmetro de tipo recipiente.

En esta configuracin, el rea de la seccin transversal es muy grande comparada con el rea
del tubo transparente y cuando se aplica una presin, el cambio en la elevacin de la superficie
del recipiente es muy pequeo comparado con el cambio de elevacin en el tubo. Como resultado,
slo se requiere una lectura. Los dispositivos tienen un ajuste, de modo que la lectura es cero
216
cuando no hay presin diferencial aplicada. Para aplicar los manmetros a medida de gases se
puede usar directamente la ecuacin (8.3.1), ya que s 0. Para lquidos, la frmula aplicable
es ms complicada puesto que el recipiente y la columna no estn a la misma altura. Para
aplicaciones a lquidos, el usuario deber seguir el anlisis sobre manmetros dado, v. gr., en
Streeter y Wylie [31].
Cuando se tienen presiones diferenciales muy bajas se puede usar el llamado manmetro
inclinado (Fig. 8.3), el cual tiene mayor resolucin con lo cual se incrementa la sensibilidad.
ste se puede utilizar para medir presiones tan bajas como 0.1 pulgadas de una columna de
agua. El tubo inclinado hace que un pequeo cambio en la altura del fluido cause un gran
desplazamiento en la direccin del tubo transparente.
P2
P1
h
R
Figura 8.3: Manmetro inclinado.

Para los gases,
P = hg = Rsen g
(8.3.2)
donde R es la lectura y es el ngulo entre el tubo del manmetro y la direccin horizontal. Se

utiliza generalmente aceite con una densidad ms baja que el agua. En la mayora de los casos,
se comprime la escala del manmetro de modo que las lecturas estn en las unidades de presin
apropiadas.
Otro instrumento de medida de presin es el barmetro el cual se emplea para medir la
presin atmosfrica (Fig. 8.4).
Este dispositivo es esencialmente un manmetro tipo recipiente en el cual se evaca una de
las piernas de modo que la presin sobre ella sea el vapor de mercurio. Se debe hacer correccin
de la temperatura en la lectura de la presin en el barmetro ya que sta afecta la presin del
vapor del mercurio y la escala de medida.
Hay una cantidad de diferentes variaciones de manmetros diseados para altas o bajas
presiones. Para altas presiones son preferibles dispositivos no manomtricos tales como los
transductores de presin discutidos ms adelante.
217
Vaco
Tubo transparente
Figura 8.4: Barmetro de mercurio.

Una variedad de dispositivos conocidos como micromanmetros se usan para medir bajas
presiones. Para el vaco (presiones muy bajas), se usa un sensor manomtrico llamado sensor de
McLeod, el cual se ver ms adelante.
Ejemplo 29 Se aplica una diferencia de presin de gas de 125kPa a las piernas de un tubo en
U. El manmetro contiene Hg con una gravedad especfica de 13.6. Determinar la lectura del
manmetro.
Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene
R=
P
125000
P
=
=
= 0.937 88 m
m g
Sagua g
13.6 1000 9.8
Ejemplo 30 Una presin est dada como 58 psi. Cul es la presin expresada como pulgadas
de Hg y pies de agua?
Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene
2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
=
= 9. 836 9 pies Hg = 118. 04. pulg Hg
h =
pies
lbm
Hg g
13.6 62.43 pies
3 32.17 s2
Similarmente, para pies de agua se tiene

2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
=
h =
= 133. 78 pies de H2 O
pies
lbm
H O g
62.43 pies
3 32.17 s2
2
Ejemplo 31 Se aplica una presin de gas a la cmara de un manmetro tipo recipiente. La

columna est abierta a la atmsfera y el fluido del manmetro tiene una gravedad especfica de
2.0. Si la lectura es de 47.5 cm, encontrar la presin aplicada.
218

Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), se obtiene
P1 P2 = P1 0 = Rm g = 0.475 2.0 9.8 1000 = 9310.0 = 9.31kP a
Ejemplo 32 Se desea disear un manmetro inclinado para medir una presin de gas entre 0
y 3 pulg. de una columna de agua con una resolucin de 0.01pulg. El fluido del manmetro es
agua y es posible leer la pendiente de la escala con una resolucin de 0.05 pulg. Cul ser el
ngulo , y cmo de largo deber ser el tubo inclinado?
Sol. El ngulo puede determinarse del requisito de resolucin; 0.01 pulg. de agua corresponde a 0.05 del tubo inclinado. Por lo tanto sen = 0.01/0.05, = 11.5 . Puesto que la
elevacin total es de 3.0 pulg. en la longitud del tubo, sen = 3/L, = L = 15 pulg.
8.3.2
Tubo Bourdon
Un dispositivo de medida de presin muy comn, el tubo Bourdon, se muestra en la Fig. 8.5. Es
un dispositivo sencillo para obtener lecturas rpidas de presin en los fluidos. El principio bsico
de operacin es que un tubo curvo y aplanado tratar de enderezarse cuando sea sometido a
una presin interna. El terminal del tubo se conecta con un engranaje a un indicador rotatorio.
Puede utilizarse para presiones hasta de 20000 psi o ms, aunque no tiene alta precisin son
comunes errores de hasta el 5%. Se pueden obtener dispositivos de mucha mejor respuesta con
errores de hasta del 0.5% a plena escala. Los tubos Bourdon son utilizados algunas veces como
dispositivos de sensado de presin remotos. La deflexin del tubo es sensada con un LVDT o un
potencimetro los cuales transmiten una seal elctrica al lugar de adquisin de datos.
Tubo tipo Bourdon
Seccin A - A
Seal de presin
Figura 8.5: Tubo Bourdon.
8.3.3
Probador de peso muerto
El probador de peso muerto, mostrado en la Fig. 8.6 es un dispositivo que se utiliza a menudo
para calibrar otros dispositivos de medida de presin a presiones moderadas o altas. El dispos-
219
itivo de medida de presin a ser calibrado, sensa la presin del aceite contenido en una cmara.
Un arreglo cilindropistn se conecta en la cima de la cmara donde se pueden colocar pesas.
Un tornillo separado de un pistn puede ser utilizado para ajustar el volumen de la cmara de
modo que el pistn con la pesa este situado en la mitad de su rango posible de movimiento.
La presin del fluido es entonces el peso del pistn el peso del arreglo dividido entre el rea
del pistn. El dispositivo es muy preciso puesto que el rea del pistn y el valor de la pesa se
pueden determinar con alta precisin.
Dispositivo
a ensayar
Pesas
W
rea de
pistn, A
Tornillo con
rosca de
desplazamiento
Aceite
Manivela
Figura 8.6: Probador de peso muerto.
8.3.4
Transductores de presin
Un dispositivo muy comn y relativamente barato para medir presin en un fluido es el transductor de presin de diafragma con galga extensomtrica, esquematizado en la Fig. 8.7. La presin
de prueba se aplica a un lado del diafragma, una presin de referencia al otro lado y la deflexin
del difragma se sensa con galgas extensomtricas. En los diseos ms comunes, la presin de
referencia es la atmosfrica, de modo que el transductor mide dicha presin. En algunos casos el
lado de referencia del transductor es evacuado y sellado de modo que el transductor mide presin
absoluta. Finalmente, ambos lados del transductor se pueden conectar a diferentes presiones de
prueba de modo que la medida es presin diferencial. Los transductores para cada una de estas
aplicaciones tienen detalles de construccin ligeramente diferentes.
Antiguamente, el diafragma era usualmente hecho de metal y se utilizaban galgas metlicas.
Ms recientemente, ha llegado a ser comn construir el diafragma de un material semiconductor
(silicio) con galgas extensomtricas de semiconductor embebidas en el diafragma. Esta es una
tcnica de construccin menos costosa y, puesto que las galgas extensomtricas de semiconductor tienen factores de galga ms altos, se mejora la sensibilidad. El sicilio no es resistente a la
corrosin producida por algunos fluidos, por lo que se incluye adems algn material resistente
a la corrosin en el diafragma, con la regin situada entre los dos diafragmas llena de un fluido.
220
Galga
extensiomtrica
Presin de
referencia
Seal de
presin
Diafragma
Figura 8.7: Transductor de presin con galga extensiomtrica.

Normalmente, el acondicionador de seal en puente de Wheatstone se construye en el transductor (todas las ramas del puente son galgas activas) y se conectan galgas extensomtricas para
compensar la temperatura. La mayora de los transductores de presin de galga extensomtrica
producen una salida de corriente continua en el rango de los milivoltios, pero algunos incluyen
amplificadores internos que tienen las salidas en el rango de 0 a 5 de 0 a 10 V. Las unidades
de salida de mayor tensin son menos susceptibles al ruido elctrico ambiente.
Presin de
referencia
Cpsula
LVDT
Seal de
presin
Ncleo del LVDT
Figura 8.8: Transductor de presin con LVDT.

La presin tambin se puede sensar con dispositivos LVDT. La Fig. 8.8 muestra un arreglo
con una cmara flexible (cpsula) y un LVDT para sensar el desplazamiento. Este diseo es
ms costoso que los sensores que usan galgas extensomtricas pero pueden ser ms durables
en aplicaciones que requieren un tiempo de vida ms largo. Muchos transductores de presin
de servicio pesado usados en la industria de control de procesos usan sensores LVDT. En las
industrias de procesos, la salida de tensin usualmente se convertir en corriente de 4 a 20 mA
221
para la transmisin de la seal. Los sensores capacitivos a veces se usan como transductores de
presin y son particularmente tiles para presiones muy bajas (tanto como 0.1 Pa), puesto que
los sensores capacitivos pueden detectar deflexiones extremadamente pequeas. Un esquema de
un transductor de presin capacitivo se muestra en la Fig.8.9.
Placa mvil
del capacitor
Diafragma
Presin de
referencia
Seal de
presin
Placa fija del

capacitor
Figura 8.9: Transductor de presin capacitivo.

Las medidas de presiones que varan muy rpidamente en el tiempo presentan muchos problemas tcnicos. El fluido y el diafragma (u otro elemento de desplazamiento) forman un sistema
dinmico de segundo orden. Si el diafragma es muy flexible, la frecuencia natural ser baja
y la salida del transductor ser engaosa para variaciones de presin a alta frecuencia. Los
transductores usados para medidas de presin a alta frecuencia, tales como los procesos de
combustin en una mquina de combustin interna, normalmente usan un elemento de sensibilidad piezoelctrica.
Un esquema de de un transductor piezoelctrico se muestra en la Fig.8.11 Estos transductores
generalmente usan elementos de sensibilidad piezoelctrica de efecto transversal. Los materiales
piezoelctricos son muy rgidos y esos transductores en muchas aplicaciones tienen una frecuencia
natural alta.Los transductores piezoelctricos de presin pueden tener frecuencias naturales por
encima de 150 kHz y son usables por encima de mas o menos 30 kHz.
La geometra de los transductores piezoelctricos es diferente de los transductores discutidos
anteriormente el diafragma es del tipo flusf-mounted, y cuando el transductor es instalado
este llega a hacer contacto directo con el fluido en la pipeta o cmara. La razn para esto es
doble. Si una cavidad fue includa como en los otros transductores, esta puede significativamente
alterar lo medido, debido a la presin. Adems la frecuencia natural, puede ser reducida y la
habilidad para responder a los transitorios puede ser empeorada. Las lineas de sensibilidad
afectan la frecuencia natural, haciendo determinante la dependencia de la frecuencia natural en
la aplicacin. Otros tipos de transductores de presin son tambin disponibles con elevacin a
nivel, pero estos son frecuentemente para uso en fluidos sucios, en los cuales la cavidad puede
llegar a ser tapada o difcil de limpiar
222
Figura 8.10:
8.3.5
Medida del Vaco
La necesidad de medir presiones absolutas muy bajas (vaco) existe tanto en el laboratorio como
en la industria. El frioseco de los alimentos se realiza en un ambiente vacio. Las presiones de
vaco absoluto se miden en unidades de torr. Esta unidad se define como 1/760 de la atmsfera
estndar. Puesto que la atmsfera estndar es 760mm de mercurio, 1 torr es 1mmHg. Norton
(1982) dio las siguientes definiciones para rangos de presiones de vaco:
Vaco
Vaco
Vaco
Vaco
Vacio
bajo
medio
alto
muy alto
ultra-alto
760 a 25 torr
25 a 103 torr
103 a 106 torr
106 a 109 torr
Inferior a 109 torr
Los dispositivos de medida de presin descritos previamente pueden ser usados para medicin
de vacios bajos y medios. Los manmetros, los calibradores bourdon, y calibradores similares
usan un fuelle instalasdo de un tubo bourdon y los transductores de diafragma capacitivos pueden
medir vacios hasta 103 torr. Transductores especializados de diafragma capacitivo pueden medir
vacios tan bajos como 105 torr [Norton (1982)].A continuacin, se discutiran tres dispositivos
especializados de medida de vacio: el calibrador de McLeod, calibradores de conductividad
trmica,. y calibradores de ionizacin. Ese es un calibrador mecnico usado para graduacin, y
los otros dos proveen salidas electricas.
223
Elemento (s)
piezoelctrico (s)
Diafragma
Conector
elctrico
Figura 8.11: Transductor de presin piezoelctrico.

Calibrador McLeod
El principio de operacin es para comprimir un volumen grande de gas a baja presin en uno
ms pequeo y despus medir esa presin. Un bosquejo de una variacin del calibrador McLeod
se muestra en la Fig..8.12(a). La cmara grande con volumn V es llenada completamente con
gas a presin baja. Luego, el mbolo es empujado hacia abajo hasta que el mercurio ascienda
al nivel h2 en el tubo capilar 2 Fig..8.12(b). En el modelo de operacin mostrado aqui, el nivel
de h2 es el mismo como el tope del tubo capilar 1
S eal de
vaco P vac
Tubo capilar 2
C apilar
de seccin
transversal,a
h2
h1
Tubo capilar 1
m bolo
Punto A
M ercurio
(a)
(b)
Figura 8.12: Sensor de vaco McLeod.

El gas originalmente contenido en el volumn V ha sido comprimido dentro del tubo capilar
224
1.y tiene un volumn y una presin dados por

V 0 = a(h2 h1 )
(8.3.3)
P 0 = Pvac + (h2 h1 )
(8.3.4)
donde a es el rea de la seccin transversal de los tubos capilares.Puesto que se determina

la presin en la torre, las unidades de h son mmHg. En el rango que el calibrador McLeod es
ausado, la presin de vaco, Pvac es normalmente negativa comparada con (h2 h1 ).
La ley de gases ideales relaciona las condiciones antes y despus de la compresin:
P 0V 0
Pvac V
=
T
T
(8.3.5)
Si el sistema llega al equilibrio trmico despus de compresin, las temperaturas inicial y

final pueden ser las mismas. Combinando las ecuaciones (8.3.3) y (8.3.5), se obtiene
Pvac =
(h2 h1 )a(h2 h1 )
= k(h2 h1 )2
V
(8.3.6)
Esto es, la presin sensada es igual a la diferencia de las alturas al cuadrado multiplicada
por una constante k. La escala puede ser marcada para ser leda directamente en unidades de
torr.
El calibrador McLeod es til para medir vacios en un rango 103 a 106 torr. Deben se usados
con gases secosque no se condensen mientra es comprimido en el tubo capilar El calibrador
McLeod tiene algunos inconvenientes para su uso y son usados principalmente para calibrar
otros dispositivos de medida de vaco.
Calibradores de vaco de Conductividad Trmica
Estos equipos estn basados en el hecho de que la conductividad trmica de los gases a bajas
presiones es funcin de la presin Aunque estos equipos no por lo normal sensan vacios tan
bajos coma la galga McLeod, ellos proveen una salida elctrica y son simples de usar. Un sensor
de conductividad trmica llamado galga Pirani est representado en la Fig().
Un filamento calentado est localizado en el centro de un canal conectado a la fuente de
vacio. La transferencia de calor del filamento a la pared est dado por
q = C(Tf Tw )Pvac
(8.3.7)
donde Tf es la temperatura del filamento, Tw es la temperatura del canal pared, la geometra

del canal y el rea de la superficie del filamento. La presin del vaco debe ser lo suficientemente
menor para que el gas fluya libremente, el cual debe ser grande comparado con las dimensiones
del canal.
Un mtodo de usar la galga Pirani se muestra en la Fig(), en la cual est ubicada en un
puente Wheatstone. A medida que la presin desciende, la diferencia de temperatura entre el
225
Figura 8.13:
filamento y la pared incrementar,aumentando la resistencia del filamento. La salida del puente,
la cual es funcin de la resistencia del sensor es as una medidad de la presin del gas. Desde
que la transferencia de calor es tambin funcin de la temperatura del ambiente un canal sellado
de referencia est includo en el puente para compensacin. Hay muchos diseos de galgas de
conductividad trmica que se pueden usar en presiones tan bajas como 103 torr.
Galgas de Ionizacin en vaco
Este sensor est basado en el principio de que a medida que los elctrones energizados pasan a
travs de un gas ellos ionizaran algunas de las molculas del gas. El nmero de iones generados
depende de la densidad del gas y en consecuencia de la presin. Una galga de ionizacin est
mostrada esquemticamente en la Fig(). El sensor fsicamente se asemeja al tubo de vaco conocido como triodo aunque el modo de operacin es distinto. El ctodo es un filamento calentado
y el circuito crea una corriente de electrones entre el ctodo y la malla. Los electrones ionizaran
algunas de las molculas del gas creando iones positivos y ms electrones. Los electrones sern
atrados a la malla pero los iones sern atrados a la placa, la cual es mantenida a un voltaje
negativo (a diferencia del triodo donde la placa es mantenida en un voltaje positivo). La corriente de iones y la corriente de la placa se miden separadamente. La presin puede ser obtenida
de
i+
Pvac =
si
donde i+ es la corriente de la placa (iones), i es la corriente de la malla (electrones), y s es
una constante para el circuito dado. Las galgas de ionizacin no pueden ser usadas en presiones
mayores a 103 torr debido a que el filamento se deterioraria. Sin embargo, ella puede medir
226
presiones tan bajas como 107 torr. Una variacin de la galga descrita, la galga BayardAlpert
puede medir presiones tan bajas como 1012 torr.
8.4
Medida de Temperatura
Para la medida de la temperatura se usan tradicionalmente..
Parte II
Adecuacin de la Seal
227
Captulo 9
El amplificador operacional
9.1
Introduccin
Los amplificadores operacionales son dispositivos lineales de alta versatilidad y prestaciones

su area de aplicain es muy amplia: Una de las aplicaiones prcticas ms interesantes es en la
solucin de ecuaciones algebraicas y diferenciales, as como en la emulacin de sistemas complejos
en ingeniera tales como en el modelado de mquinas electricas y sistemas de control.En tales
casos, el circuito puede analizarse escribiendo las ecuaciones del modelo matemtico del sistema
y simular el proceso con la ayuda de un simulador como Spice. De otra parte queda la opcin de
montar la red y observar su funcionamiento en tiempo real con la ayuda de la instrumentacin
correspondiente.
En este artculo se estudiar el comportamiento de las redes con opam en sistemas lineales
. En la primera parte se analizar la red planteando condiciones de equilibrio dinmico en las
corrientes de polarizacin de los nodos de entrada . En la segunda parte, se aplicarn los resultados obtenidos, para la solucin prctica de ecuaciones algebraicas y ecuaciones diferenciales
lineales. Finalmente se plantea la solucin de ecuaciones diferenciales lineales a travs de ecuaciones de estado. Esto conduce a un concepto ya planteado [?] concerniente al problema del
filtro; se plantean los conceptos necesarios que conducen al diseo e implementacin de filtros
universales de segundo orden usando integradores y sumadores. Pra este caso se emplearn integradores Miller no inversores. stos tienen como caracterstica particular su configuracin con
realimentacin positiva (red prtico), sin embargo ofrecen la gran ventaja de su alta impedancia
de entrada y la opcin de no requerir inversores adicionales para tomar la seal. Los resultados
son obtenidos de simulacin en un sistema simple como es Circuit Maker [?] y de datos tomados
en el Laboratorio de Electrnica de la UTP.
9.2
Modelo General de la Red con Amplificador Operacional
Considrese la conexin de la red que se muestra en la Fig. ??, donde por conveniencia, a los
elementos que estn conectados en el nodo negativo, se les ha colocado una barra en la parte
229
230
CAPTULO 9. EL AMPLIFICADOR OPERACIONAL
j , vj ).
superior (v.,gr., R
Figura 9.1: Amplificador sumadorrestador.

+
e IB
Se parte de dos conceptos bsicos generales: (i) Las corrientes de polarizacin IB
son pequeas y aproximadamente iguales y la ganancia en lazo abierto es muy elevada. De la
expresin
v0 = A0 (v+ v ) = A0 v
(9.2.1)
despejando v se obtiene:
v0
= v+ v
A0
Puesto que el valor de A0 es muy elevado en la mayora de los casos, la relacin Av00 tender a
cero en las aplicaciones normales; por lo tanto, v = v + v ' 0 y se tiene la siguiente principio
operativo:
(i) v = v + v ' 0 = v + ' v .
El segundo corresponde a la aplicacin de la ley de corrientes de Kirchho (LCK) a la red y
teniendoPen cuenta que las corrientes de polarizacin son despreciables:
(ii)
ik = 0.
Con estos dos conceptos se plantean las siguientes ecuaciones:
v =
v1 v v2 v
vm v v0 v
+
+
+
=0
1
2
m + Rf
R
R
R
1
v1
v2
vm
v0
1
1
1
1 + R
2 + + R
m + Rf = v
1 + R
2 + + R
m + Rf
R
R
(9.2.2)
9.2. MODELO GENERAL DE LA RED CON AMPLIFICADOR OPERACIONAL
231
Despejando v0 de la ec (9.2.2) se obtiene:
v0
v0
1
v1
v2
vm
1
v Rf + + +
= Rf +
R Rf
R1 R2
Rm
m
X
Rf
vj
=
1 + v Rf
R
R
j=1 j
(9.2.3)
donde
1
1
1
1
=R
1 + R
2 + + R
m
R
Escribiendo la ecuacin de nodo par el terminal positivo se obtiene:
v1 v + v2 v +
vn v +
+
+ +
=0
R1
R2
Rn
(9.2.4)
(9.2.5)
Despejando v+ de (9.2.5) se tiene:

+
v =R
v1
v2
vn
+
+ +
R1 R2
Rn
donde
n
X
vi
=R
Ri
(9.2.6)
i=1
1
1
1
1
=
+
+ +
R
R1 R2
Rn
(9.2.7)
Puesto que v + = v , entonces, sustituyendo (9.2.6) en (9.2.3) se llega a:
X
n
m
X
Rf
vj
vi
v0 = 1 + R
Rf
j
Ri
R
R
i=1
(9.2.8)
j=1
que es la ecuacin general de la red con amplificador operacional. De esta relacin se pueden
obtener algunos resultados particulares.
9.2.1
Diseo de funciones lineales con amplificadores operacionales
Sea la ecuacin algebraica dada por la siguiente expresin

z = a1 x1 + a2 x2 + + an xn b1 y1 b2 y2 bm ym
n
m
X
X
z =
ai xi
bj yj
i=1
j=1
donde
ai , aj Re+
(9.2.9)
232
Como se puede observar, la ecuacin (9.2.9) tiene la forma de la ecuacin (9.2.3)con algunos
ajustes de sus parmetros. Por lo tanto, la ecuacin (9.2.9) se puede realizar utilizando la red
generalizada con operacional. Para ello, se redibuja la red como la de la Fig ?? donde se han
0 y R0 [33].
adicionado los resistores R
Figura 9.2: Amplificador sumadorrestador con parmetros de ajuste.

La ecuacin (9.2.8) se puede escribir como
v0 = Req
m
n
X
X
vj
vi
Rf
j
Ri
R
i=1
donde
Req
j=1
Rf
= 1+ R
R
(9.2.10)
Puesto que la tensin de salida es la combinacin lineal de las tensiones de entrada multiplicadas por una constante, se pueden dar condiciones de diseo de modo que se tenga una red con
impedancias de entrada iguales, tanto en la entrada inversora como en la no inversora, es decir,
0 kR
1 kR
2 kR
m kRf
R0 kR1 kR2 k kRn = R
(9.2.11)
El miembro de la izquierda corresponde al equivalente Thvenin visto desde la entrada no

inversora, mientras que el de la derecha corresponde al equivalente Thvenin en la entrada
inversora. De las ecuaciones (9.2.4) y (9.2.7)se obtiene
R = R0 kR1 kR2 k kRn

1 kR
2 kR
m
= R
0 kR
R
(9.2.12)
(9.2.13)
233
Reemplazando en (9.2.11):
f
R = RkR
(9.2.14)
Sustituyendo (9.2.14) en (9.2.10) se llega a:
Rf
Req = 1 + RkRf = Rf
R
(9.2.15)
De esta ecuacin se puede ver que para que el sistema est en equilibrio dinmico basta
hacer la resistencia equivalente vista de desde el lado no inversor, igual a la resistencia de
realimentacin asignada. Con esto, la ecuacin de la red generalizada quedar:
n
m
X
X
vj
vi
Rf
v0 = Rf
j
Ri
R
i=1
(9.2.16)
j=1
La cual es una estructura simplificada y en equilibrio, como se dijo ms arriba.

Comparando trmino a trmino las ecuaciones (9.2.9) y (9.2.16) se obtiene:
ai =
bj =
Rf
Ri
Rf
j
R
Rf
ai
R
j = f
R
bj
Ri =
(9.2.17)
(9.2.18)
Reescribiendo la ecuacin (9.2.11):
1
R0
1
n
P
i=1
=
1
Ri
1
0
R
1
Rf
m
P
j=1
1
j
R
X 1
X 1
1
1
1
+
+
=
+
0 Rf
R0
Ri
R
R
j=1 j
i=1
Sustituyendo (9.2.17) y (9.2.18) en (9.2.19):
m
X bj
X ai
1
1
1
+
+
=
+
0 Rf
R
R0
Rf
R
j=1 f
i=1
m
n
1
1
1 X
1
1 X
+
+
b
=
+
ai
j
0 Rf
Rf
R0 Rf
R
j=1
i=1
Haciendo
(9.2.19)
234
A =
B =
n
X
i=1
m
X
ai
(9.2.20a)
bj
(9.2.20b)
j=1
se llega a
1
1
B
+
+
0 Rf
Rf
R
1
A
+
R0 Rf
de donde, luego de factorizar y ordenar:

AT
AB1
1
1
=
=
Rf
Rf
R0 R0
(9.2.21)
donde, como se ve AT = A B 1.
Con relacin a la ecuacin (9.2.21), se pueden presentar tres casos :
1. R0 = AT > 0 y
0 = Rf
R
AT
0 = AT < 0 y
2. R
R0 =
Rf
AT
(9.2.22)
(9.2.23)
0 = AT = 0.
3. R0 , R
An falta determinar el valor de Rf . Para calcularlo se hace uso de las caractersticas elctricas de la red, es decir, se asigna un valor en la impedancia de entrada de cada nodo (se asume
Zi+ = Zi = Zi ), entonces
Rf > Zi
(9.2.24)
= sup{A, (B + 1), |AT |}
(9.2.25)
donde
En la Tabla 9.1 aparece un resumen del mtodo de diseo utilizando el procedimiento desarrollado aqu.
Ejercicio 7 Realizar la siguiente ecuacin utilizando amplificador operacional.
235
Tabla 9.1: Clculo de los parmetros del amplificador

AT
>0
R0
0
R
<0
Rf
AT
=0
Ri
j
R
Rf
Rf
ai
Rf
bj
Zi
Rf
AT
z = 3x1 + 5x2 3y1 2y2 y3
(9.2.26)
Solucin. En este caso A = 3 + 5 = 8, B = 3 + 2 + 1 = 6 = AT = 8 6 1 = 1 > 0, =

0 = Rf .
R0 y R
AT
Para determinar Rf se asigna inicialmente el valor de Zi := 20k (un valor apropiado).
= sup{8, 7, 1} = 8. De aqu se obtiene Rf > 8 20k = 160k. Se puede tomar el valor
comercial ms cercano, entonces Rf := 180k. Con este valor se obtienen todos los valores de
los resistores requeridos:
Figura 9.3: Realizacin de una funcin lineal.
0 =
R
R1 =
R2 =
180k
= 180k
1
180k
= 60k
3
180k
= 36k
5
1 = 180k = 60k
R
3
180k
2 =
R
= 90k
2
3 = 180k = 180k
R
1
236

Esto implementar el circuito. En la Fig. ?? se muestra el circuito correspondiente.
Sistema de ecuaciones
Ecuaciones diferenciales
Captulo 10
Sensibilidad
10.1
Introduccin
Uno de los problemas que encara continuamente un diseador de sistemas de instrumentacin

es la evaluacin de su diseo, especialmente con la comparacin de otra realizacin posible
que reuna las mismas especificaciones. Para hacer esto, el diseador debe tener en cuenta la
sensibilidad del sistema. Sensibilidad, es la medida del cambio en alguna caracterstica del
comportamiento del sistema, resultado de algn cambio en el valor nominal de uno o ms de
los elementos (dispositivos) que lo conforman. An si la realizacin de un sistema electrnico es
atractivo por consideraciones tericas, altas sensibilidades pueden hacerlo intil en la prctica.
As, en el diseo de sistemas para instrumentacin el inters est en escoger realizaciones que
tengan baja sensibilidad y por otro lado, minimizar las sensibilidades de las realizaciones que se
deseen utilizar. Otro aspecto, es el problema del sensor o captador de la seal fsica: ste si que
debe tener la ms alta sensibilidad posible, a fin de tomar el dato lo ms cercano posible a su
valor real.
10.2
Relaciones de sensibilidad relativa
Se utiliza el smbolo S para denotar la sensibilidad. Adems, se usa un superndice para indicar
la caracterstica de comportamiento que se desea evaluar y un subndice para indicar el elemento
del sistema (o red) que est produciendo el cambio.
Considrese el modo en el cual una caracterstica y() puede depender del elemento . Si
el valor nominal de es 0 , entonces las variaciones de y() producidas por cambios en se
pueden expresar por la serie de Taylor como
y
1 2 y
d +
(d)2 +
(10.2.1)
y() = y(0 ) +
=0
2 2 =0
Para variaciones pequeas en se pueden ignorar los trminos de las derivadas superiores
en la ecuacin (10.2.1), reteniendo slo la de primer orden. Se puede escribir el resultado como
237
238
CAPTULO 10. SENSIBILIDAD
y
y(0 ) = y()
d
=0
(10.2.2)
donde se ha definido y(0 ) como el cambio en y resultado de la variacin en . Puesto que

se est interesado en cambios relativos (en lugar de absolutos) de y y de , se pueden agregar
trminos de normalizacin a la ecuacin (10.2.2) para obtener
y
d
y(0 )
=
(10.2.3)
y(0 )
y() =0 0
La relacin entre
mente
y(0 )
y(0 )
d
0
es la funcin de sensibilidad. Ahora se puede definir formal-
y()
y/y
(ln y)
y
=
=
y
/
(ln )
(10.2.4)
Debido a la normalizacin, tanto de y como de , a esta expresin se le conoce como sensibilidad relativa. Un tratamiento de varios tipos de sensibilidad se dar a continuacin.
10.2.1
Propiedades de la sensibilidad relativa
Cualquier funcin de sensibilidad relativa definida como se muestra en la ecuacin (10.2.4) se

caracteriza por un conjunto de propiedades algebraicas [25] Algunas de las ms importantes se
dan en la Tabla 10.1. A continuacin se demostrarn varias de estas relaciones.
Propiedad 1. La sensibilidad de cualquier caracterstica multiplicada por una constante es
la misma de la sensibilidad original.
Para demostrar esto, se tiene
Sky =
(ky) y
y
(ky)
=
=
= Sy
ky
y ky
y
(10.2.5)
Donde k no es funcin de .
Propiedad 2. La sensibilidad de una caracterstica relativa a s misma es la unidad.
Se demuestra similarmente a la propiedad nmero uno:
y
= Sy
Sk
k
S = Sk = Sk
=1
Propiedad 3. La sensibilidad a una cantidad recproca es el negativo de la sensibilidad a la

cantidad original.
La demostracin es como sigue:
y
=
S1/
y 1/
y
y 1/
=
=
(1/) y
(1/) y
1
(1/)
y
1
=
= Sy
y
y
(10.2.6)
10.2. RELACIONES DE SENSIBILIDAD RELATIVA
239
Tabla 10.1: Propiedades de la funcin de sensibilidad relativa

Nmero
Relacin
Nmero
Relacin
y1 /y2
ky
y
y
1
S = Sk = S
10
S
= Sy1 Sy2
2
k = S k = 1
S = Sk
k
11
Sy1 = Sy2 S12
y
S1/
= S
1/y
12
Sy = Spyp + j arg ySarg y
Sy1 y2 = Sy1 + Sy2
13
Sarg y =
14
Spyp = Re Sy
15
Sx+y =
16
Pn
17
Sln y =
Qn
i=1
yi
= Sy
Pn
yi
i=1 S
Sy = nSy
n
S
Syn = n1 Sy
Sn = Sk
n =
n
Sk
=n
i=1
1
arg y
Im Sy
1
x
x+y (xS
yi
+ ySy )
Pn
yi
i=1 yi S
P
n
y
i=1 i
y
1
ln y S
1
n
1/y
Similarmente: S = Sy
Propiedades 4 a 9. La sensibilidad de un producto de caractersticas es la suma de las
sensibilidades de las caractersticas individuales.
Para demostrar esto se escribe
Sy1 y2 =
=
(y1 y2 )
y2 y1 y
y1 y2
=
+
y1 y2
y1 y2
y1 y2
y1
y2
+
= Sy1 + Sy2
y1
y2
(10.2.7)
Extendiendo esto, se puede ver que la sensibilidad de una caracterstica a la nsima potencia
es n veces la sensibilidad de la primera potencia, esto es,
n
Sy =
y
(yn )
y
= nSy
= ny n1
=n
y n
y n
y
(10.2.8)
Similarmente, Syn = n1 Sy .
Propiedad 10. La sensibilidad de una razn de caractersticas es la diferencia de las sensibilidades individuales.
240

Aqu, se pueden utilizar las propiedades 1 y 4 para obtener:
y /y2
S1
1/y2
= Sy1 + S
= Sy1 Sy2
(10.2.9)
Propiedad 11. Propiedad transitiva.

La demostracin es directa.
Sy1 =
y 1 2 2
y 2 2 1
=
= Sy2 S2
1
1 y 2 2
2 y 1 2
(10.2.10)
Propiedades 12 a 14. La sensibilidad de una caracterstica compleja tambin es tambin

compleja. La parte real es la sensibilidad de la magnitud y la parte imaginaria es la sensibilidad
de fase multiplicada por la fase.
Para ver esto sea y = |y| ej , entonces
Sy =
Sy =
(ej )
(|y|)
(|y|)
(|y| ej )
= ej
+ |y|
= ej
+j
y
y
y
y

(|y|)
|y|
+ j
= S + jS
|y|

(10.2.11)
Propiedad 15 y 16. Sensibilidad de una suma de funciones.
Sx+y
=
=
1
x
y
(x + y)
=
+
x + y
x + y
1
x
y
1 x
x
+y
=
xS + ySy
x+y
x
y
x+y
(10.2.12)
Se puede extender fcilmente esta propiedad para el caso designado por 16: z = y1 +y2 + +yn
Pn
10.3
i=1
yi
1
= Pn
i=1 yi
n
X
yi Syi
(10.2.13)
i=1
Funcin de Sensibilidad
En esta seccin se introducir la primera de las sensibilidades que tienen la forma dada en la
ecuacin (10.2.4).
10.3.1
Definicin de funcin de sensibilidad
La funcin de sensibilidad se define escogiendo la caracterstica de y de la ecuacin (10.2.4)

como la funcin de red H(s). Usualmente se escoge como algn elemento pasivo o activo en
10.3. FUNCIN DE SENSIBILIDAD
241
la realizacin del circuito de la funcin dada. La funcin de sensibilidad se define como1

H(s)
H(s)
H(s)
(10.3.1)
Si la funcin de red se escribe como una relacin de polinomios B(s) y A(s)

H(s) =
B(s)
A(s)
(10.3.2)
entonces se puede derivar la siguiente forma conveniente de (10.3.1):
A(s)
B(s)
H(s)
=
S
B(s) A(s)
(10.3.3)
Bajo condiciones de estado estacionario sinusoidal, aplicando la Propiedad 12 de la Tabla 10.1

se encuentra que
arg H(j)
H(j)
|H(j)|
(10.3.4)
S
= S
+j
/
H(s)
Sumario 1 Funcin de sensibilidad para H(j). La funcin de sensibilidad para S

en (10.3.4) para la funcin de red H(j) tiene las siguientes propiedades:
H(j)
La parte real de S
red.
|H(j)|
es igual a S
definida
, la sensibilidad de la magnitud de la funcin de
H(j)
es igual al cambio en arg H(j) con respecto al cambio en

La parte imaginaria de S
arg H(j)
el valor del elemento normalizado. Este es proporcional a S
.
Ejemplo 33 Funcin de sensibilidad de una red pasiva RLC. Considrese la red en serie
RLC de la Fig. 10.1. Encontrar las funciones de sensibilidad.
C
1/3
Figura 10.1: Red RLC serie

1
Esta expresin a veces se refiere como sensibilidad clsica o de Bode. Esta fue presentada originalmente en
Bode, H. W., Network Analysis and Feedback Amplifier Design, D. van Nostrand Co., 1945 [14].
242

Sol. La admitancia vista desde los terminales de entrada est dada por
Y (s) =
1
s
R
L s2 + L s +
(10.3.5)
1
LC
Aplicando la ecuacin (10.3.3), se encuentra

Y (s)
SR
=
=
Y (s)
SC
1
LC
s2
1
s2 + R
L s + LC
1
1
R
1
2
LC s + L s + LC
Y (s)
SL
s
R
R
2
L s + Ls +
(10.3.6)
Se puede completar el examen de sensibilidad al parmetro R, insertando los valores nominales

dados en la Fig. 10.1 y haciendo s = j:
Y (s)
SR
2
(3 2 )
+
j
2 + (3 2 )2
2 + (3 2 )2
(10.3.7)
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1
Figura 10.2: Magnitud de la funcin de sensibilidad para una red RLC. Lnea continua: |Y (j)| .
Y (j).
Lnea punteada: Re SR
Grficas de magnitud y de fase de la funciones de red y de sensibilidad, para los valores
dados en la Fig. 10.1, se muestran en las Figs. 10.2 y 10.3, respectivamente.
10.4
Sensibilidad de los coeficientes de una funcin
En esta seccin se introducir otro tipo de sensibilidad que tiene la forma relativa definida en
la ecuacin (10.2.4). En general, una funcin de red H(s) para cualquier tipo de red pasiva o
10.4. SENSIBILIDAD DE LOS COEFICIENTES DE UNA FUNCIN
243
1.5
0.5
0
0.5
1.5
2.5
-0.5
-1
-1.5
Figura 10.3: Fase de la funcin de sensibilidad de una red RLC. Lnea continua: arg Y (j).
Y (j).
Lnea punteada: Im SR
activa, de parmetros concentrados, es una relacin de polinomios que tienen la forma
H(s) =
b0 + b1 s + + bm sm
B(s)
=
A(s)
a0 + a1 s + + an sn
(10.4.1)
en la cual los coeficientes ai y bi son reales y son funciones de los elementos de la red i . As,
para cualquier elemento de la red, se pueden definir sensibilidades denominadas sensibilidades
de los coeficientes, como sigue:
Sai =
10.4.1
ai
ai
Sbi =
bi
bi
(10.4.2)
Dependencia bilineal
Una de las razones de la importancia de la sensibilidad de los coeficientes es la manera en la

cual una funcin de red H(s) es dependiente de algn elemento .Esta relacin se conoce como
dependencia bilineal. As, H(s) puede tambin escribirse como
H(s) =
E(s) + F (s)
B(s)
=
A(s)
C(s) + D(s)
(10.4.3)
donde C(s), D(s), E(s) y F (s) son polinomios con coeficientes reales que no son funciones del
elemento de red . Esto es cierto si se escoge como el valor de un elemento pasivo o la ganancia
de algn amplificador o una fuente controlada.
Ejercicio 8 Dependencia bilineal de una funcin de red. Considrese la red RLC de
la Fig. 10.1. Usando los valores de los elementos indicados, escribir Y (s) como una funcin
bilineal de R, L y C.
244

Sol. Para este caso se puede hacer
E(s) = s,
C(s) = s2 + 3 y D(s) = s
F (s) = 0,
de donde se obtiene
Y (s) =
(s2
s
+ 3) + sR
(10.4.4)
Similarmente, para los otros elementos de la red se tendr:

Y (s) =
s2
s/L
+ (3 + s)1/L
Y (s) =
(s2
s
+ s) + 1/C
(10.4.5)
Ntese que en la ecuacin (10.4.5) aparecen los recprocos de los elementos evaluados. De la
Propiedad 3 de la Tabla 10.1, demostrada en la ecuacin (10.2.6), la sensibilidad del coeficiente
es simplemente el negativo del valor encontrado para el recproco. Entonces las expresiones en
la ecuacin (10.4.5) se pueden escribir tambin como
Y (s) =
10.4.2
s
(3 + s) + s2 L
Y (s) =
(s2
Cs
+ s)C + 1
(10.4.6)
Forma de la sensibilidad de los coeficientes
A causa de la dependencia bilineal, hay tres casos que especifican el modo en el cual un coeficiente
ai (o bi ) puede depender de un elemento de la red , valorado como positivo.
Caso 4 bi = k donde k puede ser positivo o negativo:
Sbi = 1
(magnitud de la sensibilidad =1)
(10.4.7)
Este caso de sensibilidad buena en la cual el porcentaje de cambio en el parmetro es

el mismo que el del elemento. Como un ejemplo de este caso, considrese la red de la Fig. 10.1.
La admitancia es
Y (s) =
1
s
R
2
L s + Ls +
1
LC
s2
b1
s
=
2
+s+3
a2 s + a1 s + a0
Las sensibilidades de los coeficientes se listan en la Tabla 10.2. Ntese que se ha usado la
Propiedad 3 de la Tabla 10.1 para los casos donde aparece como una cantidad recproca.
Caso 5 bi = k0 + k1 donde k0 y k1 tienen la misma polaridad:
Sbi =
k1
k0 + k1
(magnitud de la sensibilidad <1)
(10.4.8)
10.4. SENSIBILIDAD DE LOS COEFICIENTES DE UNA FUNCIN
245
Tabla 10.2: Sensibilidad de los coeficientes para una red RLC en serie.
Coeficientes
Elemento
b0 a0 a1 a2
R
0
0
1 0
L
1 1 1 0
C
0 1 0 0
L = 21/2
+
v
1
-
R =1
1/2
C =2
=1
+
v
2
-
Figura 10.4: Red con sensibilidad de coeficientes 1

Este es un buen caso de sensibilidad, en la cual el porcentaje de cambio del parmetro
es menor que el porcentaje de cambio del elemento.
Como un ejemplo de este caso, considrese la red mostrada en la Fig. 10.4. La funcin de
transferencia de tensin es
b0
1
1
0.5
v2 (s)
=
=
=
2
2
2
v1 (s)
LC s + (R/L + G/C)s + (RG + 1)/LC
a2 s + a1 s + a0
s + 2s + 1
Las sensibilidades de los coeficientes se muestran en la Tabla 10.3
bi = k0 + k1 donde k0 y k1 tienen polaridad opuesta y |bi | es menor que |k0 | o que |k1 |:
Sbi =
k1
k0 + k1
(magnitud de la sensibilidad >1)
(10.4.9)
Este es un caso de sensibilidad mala; el valor grande resulta del hecho de que |k0 + k1 |
puede ser mucho menor que |k1 | . Como un ejemplo de este caso, considrese la red mostrada
Tabla 10.3: Sensibilidad de los coeficientes para una
Coeficientes
Elemento
b0 a0 a1
0
0.5 0.5
R
2
L
1 1
2
C
1 1 2 2
G
0 0.5 0.5
red RLC en serieparalelo.

a2
0
0
0
0
246

C2
1
R1
R2
1
1
+
-
v1(s)
C1
1
R4
2(s)
-
R3
Figura 10.5: Red con elemento activo y con sensibilidad > 1

Tabla 10.4: Casos de la sensibilidad de los coeficientes
bi
Caso Forma de ai Restricciones
Sbi
S
1
k
1
1
k1
2
k0 + k1
k0 y k1 de igual signo
<1
k0 +k1
1
3
k0 + k1
k0 y k1 de signos opuestos k0k+k
>1
1
en la Fig. 10.5. La funcin de transferencia de tensin, cuando la ganancia y los valores
normalizados de los parmetros estn dados por
=1+
es
R4
= 2.5,
R3
R1 = R2 = 1 y C1 = C2 = 1
2.5
b0
v2 (s)
= 2
= 2
=
2
v1 (s)
s + (3 )s + 1
s + 0.5s + 1
a2 s + a1 s + a0
Las sensibilidades de los coeficientes son
Sb0 = 1 y Sa1 =
= 5
3
Un resumen de los tres tipos de sensibilidades de los coeficientes se da en la Tabla 10.4.
10.4.3
Relacin entre funcin de sensibilidad

cientes
y sensibilidad de los coefi-
Las sensibilidades de los coeficientes definidas en esta seccin se relacion fcilmente con la funcin
de sensibilidad en la seccin precedente insertando las ecs. (10.4.1), (10.4.2) y (10.4.3). As, se
obtiene
Pm bi i Pn
S bi s
S ai ai si
H(s)
i=0
(10.4.10)
= i=0
S
B(s)
A(s)
10.5. SENSIBILIDADES DE Q Y N
247
Ejemplo 34 Para el circuito de la Fig. 10.1, encontrar las funciones de sensibilidad dadas las
sensibilidades de los coeficientes.
De la ecuacin (10.3.5), usando R = 1 y C = 1/3, se obtiene
Y (s) =
1
s
R
2
L s + Ls +
1
LC
a2
s2
b1 s
+ a1 s + a0
(10.4.11)
Si se aplica la ecuacin (10.4.10), se llega a

Y (s)
SL
SLb1 b1 s SLa0 a0 + SLa1 a1 s
b1 s
a2 s2 + a1 s + a0
Para el valor L = 1, se llega a

Y (s)
SL
s2
(1)(1)s (1)(3) + (1)(1)s
=
(1)s
(1)s2 + (1)s + (3)
s2 + s + 3
(10.4.12)
Esto concuerda con la ecuacin (10.4.6).
10.5
Sensibilidades de Q y n
10.5.1
Caso de segundo orden
Considerando el comportamiento de una red bajo condiciones de estado estacionario, la funcin

de sensibilidad definida en (10.3.4) es demasiado complicada y es de poco uso, puesto que
especifica el comportamiento de la red sobre el rango total de frecuencia. Esto es especialmente
cierto en el caso de una red pasabanda de segundo orden, en la cual es ms aconsejable usar
criterios que enfaticen la resonancia, es decir, la naturaleza selectiva de tales funciones. Tales
criterios son primeramente la frecuencia de resonancia n , a la cual ocurre el pico de respuesta
de magnitud y la agudeza relativa o factor de calidad Q de ese pico. Esta ltima cantidad se
define como
n
(10.5.1)
Q=
Bw
donde Bw es el ancho de banda definido como la diferencia entre las frecuencias a las cuales
la funcin de red est a 3 dB por debajo de su magnitud pico a n . Estos valores se pueden
utilizar para definir una funcin general pasabanda de segundo orden
H Qn s
Hs
B(s)
= 2
H(s) =
= 2 n
A(s)
s + a1 s + a0
s + Q s + 2n
(10.5.2)
Las cantidades en la expresin anterior se relacionan con las posiciones de los polos p0 y p0 por
las expresiones
r
a 2
n p 2
a1
1
n
+ j a0
+j
p0 = 0 + j 0 =
=
4Q 1
(10.5.3)
2
2
2Q
2Q
248
a0
n
|p0 |
=
=
,
Q=
2 | 0 |
2 | 0 |
a1
n =
a0
(10.5.4)
En trminos de esas cantidades se puede definir las sensibilidades Q y n como

SQ =
Q/Q
/
Sn =
n / n
/
(10.5.5)
Para el caso de segundo orden las anteriores sensibilidades se evalan relacionndolas a las
sensibilidades de los coeficientes, usando la expresin (10.5.3) y las dadas en la Tabla 10.1. As
se obtiene
1
1
Sn = Sa0
(10.5.6)
SQ = Sa0 Sa1
2
2
Tambin, para el caso del pasabanda de segundo orden, la parte real de la funcin de sensibilidad, la cual da la sensibilidad de la magnitud de la funcin de red, puede relacionarse a las
sensibilidades Q y n a la frecuencia de resonancia ( = n ), para la cual puede demostrarse
que
|N(j n )|
N(j )
= ReS n = SH + SQ Sn
(10.5.7)
S
Ejemplo 35 Las sensibilidades Q y n para una red. Determinar las sensibilidades Q y
n , para la red de la Fig. 10.1.
Sol. Usando la Tabla 10.1 para determinar las sensibilidades de los coeficientes de la red y
las relaciones de la ecuacin (10.5.6), se obtiene
r
1
1
1 L
Q
SR
SCQ =
= 1
SLQ =
Q=
R C
2
2
Ejemplo 36
1
n =
LC
10.5.2
n
=0
SR
SLn =
1
2
SCn =
1
2
Caso de tercer orden
Las tcnicas desarrolladas anteriormente se pueden extender al caso de tercer orden. En esta
situacin el polinomio del denominador tendr la forma
D(s) = s3 + d2 s2 + d1 s + d0
(10.5.8)
Este puede factorizarse en un tmino de primer orden y otro cuadrtico. As, usando la notacin
de (10.5.2), se puede escribir
D(s) = (s + g)(s2 +
n
s + 2n )
Q
(10.5.9)
10.5. SENSIBILIDADES DE Q Y N
249
Para el caso de tercer orden se pueden definir tres funciones de sensibilidad, Sg , SQ y Sn , las
cuales se calculan ms convenientemente a partir de las sensibilidades de los coeficientes Sdi .
Estas relaciones se determinan colocando primero la ecuacin (10.5.9) en la forma
D(s) = s3 + s2 (g +
n
g n
) + s( 2n +
) + g 2n
Q
Q
(10.5.10)
Igualando los coeficientes correspondientes de las ecuaciones (10.5.8) y (10.5.10), se obtienen las
relaciones
g n
n
d2 = g +
(10.5.11)
d0 = g 2n
d1 = 2n +
Q
Q
Tomando las derivadas parciales de estas expresiones, se obtiene
d0
2
0
1
Sn
S
22n gn
g n
gn
Q
= Sd1
(10.5.12)
d1 + Qd1 Qd1 Qd1 S
g
g
d2
n
n
S
Qd2 d2
S
Qd2
Resolviendo el sistema de ecuaciones simultaneas, se encuentra que [[30]]
d0
n
S
S
(Qg n )d0
Q 2n d1
Q 2n gd2
S Q = 1 (2n Q2 + gQ n )d0 (Q2n 2 n gQ2 )d1 (Qg 2 n Q2 ) 2n d2 S d1
2 2n Qd0 /g
2 2n Qd1
2 2n Qgd2
Sg
Sd2
(10.5.13)
donde
= 2 2n Q( 2n + g 2 ) n g
(10.5.14)
Como un ejemplo del uso de esta relacin, considrese la funcin de Butterworth normalizada
de de tercer orden. Para este caso, se tiene
D(s) = s3 + 2s2 + 2s + 1 = (s + 1)(s2 + s + 1)
As, d0 = 1, d1 = 2, d2 = 2, g = 1, n =
obtiene
n
S
SQ =
Sg
(10.5.15)
1 y Q = 1.Sustituyendo esos valores en (10.5.13) se

d0
S
0 1 1
1 1 1
Sd1
1 2 2
Sd2
Por ejemplo, la sensibilidad de Q en este caso, est dada por

SQ = Sd0 Sd1 Sd2
(10.5.16)
Ejemplo 37 Sensibilidades de un filtro RC activo de tercer orden. Una red RC activa

pasa-bajas de tercer orden es mostrado en la Fig (10.6). Se puede demostrar que la funcin de
transferencia de tensin para este circuito est dada
d0
V2 (s)
= 3
2
V1 (s)
s + d2 s + d1 s + d0
250
donde
d0 = G1 G2 G3 S2 S3
d1 = G2 G3 S2 S3 + G2 G3 S1 S2 + (G2 G3 S1 S3 + G1 G3 S1 S3 )(1 )
+G1 G3 S1 S2 + G1 G2 S1 S2
d2 = G1 S1 + G3 S2 + G2 S2 + G2 S1 + G3 S3 (1 )
y donde, por conveniencia para tomar las derivadas parciales, se ha usado la conductancia
Gi = 1/Ri y la susceptancia Si = 1/Ci . una solucin para el caso Butterworth de la ecuacin
(10.5.15) est dada por = 2, R1 = 1.565, R2 = 1.469, R3 = 0.435, y la unidad para todos los
capacitores. Las sensibilidades de los coeficientes para la ganancia se encuentran como
Sd0 = 0
Sd1 =
Sd2 =
(G2 G3 S1 S3 + G1 G3 S1 S3 )
= 3.0338
d1
G3 S3
= 2.2989
d2
C2
R1
R2
C1
1
-
R3
R5
C3
R4
+
v
Figura 10.6: Filtro de tercer orden pasabajas

De (10.5.16) se ve que
SQ = 0 + 3.0338 + 2.2988 = 5.3327
10.6
Sensibilidad Parsita
10.6.1
Elementos parsitos
Una de las aplicaciones ms interesantes y prcticas de la sensibilidad est en la determinacin

de los efectos sobre varias caractersticas de red de un elemento particular llamado parsito. Se
define un elemento parsito como aquel cuyo valor nominal (ideal) es cero. Ejemplo de elementos
parsitos son:
10.6. SENSIBILIDAD PARSITA
251
La resistencia usada en serie con una inductancia para modelar prdidas en el ncleo,
resistencia de devanado y otras cantidades disipativas.
La conductancia usada en paralelo con un capacitor ideal para modelar efectos de dispercin.
La resistencia usada en serie con una fuente de voltaje ideal para modelar la resistencia
interna de un amplificador.
La conductancia usada en paralelo con una fuente ideal de corriente para modelar la
conductancia interna de la.fuente
El recproco de la ganancia de un amplificador operacional ideal.
10.6.2
Sensibilidad para Elementos Parsitos
La sensibilidad relativa Sy = (y/)(/y) definida en (10.2.4) no se puede utilizar para elementos parsitos. La razn para esto es que como el valor nominal del elemento es cero, resulta que
la sensibilidad tambin ser cero. En lugar de esto, se puede definir como sensibilidad parsita
P Sy =
y 1
y
(10.6.1)
donde es un elemento parsito y y es alguna caracterstica. Ntese que la sensibilidad parsita

es una sensibilidad semirelativa en el sentido en el que la caracterstica y est normalizada,
pero el elemento no lo est. La aplicacin tpica de la sensibilidad parsita puede ser encontrar
el cambio normalizado en y como un resultado de un cambio en . As, (10.6.1) puede ser usada
en la forma
y
= P Sy
(10.6.2)
y
Los pasos usados para determinar la sensibilidad parsita son descritos en el siguiente resumen
Sumario 2 Determinacin de la sensibilidad parsita. Para encontrar la sensibilidad
parsita de la forma dada en (10.6.1), se puede seguir el siguiente procedimiento:
1. Determinar una expresin para la caracterstica y que incluya el elemento parsito como
una cantidad literal.
2. Tomar la derivada y/ y formar la funcin (y/)(1/y).
3. En la expresin (y/)(1/y) hacer = 0.
El resultado es la sensibilidad parsita P Sy . Lo mismo que en el caso de sensibilidad relativa,
la sensibilidad parsita es una sensibilidad de primer orden, vlida solamente para pequeas
variaciones de .
252
Ejemplo 38 Sensibilidad parsita de una red simple. Considrese la red RC pasa-bajas

mostrada en la Fig (10.7) en la cual es capacitor C tiene una conductancia parsita G en paralelo
con sta. Si se ignora G, la funcin de transferencia de tensin para la red es
v2 (s)
1/RC
=
v1 (s)
s + 1/RC
la cual tiene un polo en 1/RC. Se desea encontrar el cambio causado en la localizacin del
polo por la conductancia parsita cuando sta vara desde 0 hasta 0.01.
+
v
1
-
|
|
+
G
|
|
v
2
-
Figura 10.7: Red con un elemento parsito.

Sol. El polo es real, as que no se necesita usar una forma desnormalizada para la caracterstica. Siguiendo los pasos dados ms arriba, primero se encuentra la funcin de red incluyendo
G,
1/RC
v2 (s)
=
v1 (s)
s + (RG + 1)/RC
la cual tiene un polo p en (RG + 1)/RC. Seguidamente se toma la derivada parcial del polo y
se multiplica el resultado por 1/p:
R
RC
R
p 1
=
=
G p
RC RG + 1
RG + 1
Si se escoge G = 0 en sta ltima expresin , se obtiene
p 1
p
=R
P SG =
G p G=0
de la ecuacin (10.6.2) ahora se tiene
p
p
= P SG
G = RG = R(0.01)
p
Como un ejemplo numrico, si R = 2 y C = 1, p = 12 y p/p = 0.02 o p = 0.01. Se ve que
la sensibilidad parsita predice que el cambio G desde 0 hasta 0.01 (cambiando la resistencia
paralela desde infinito hasta 100) podr mover el polo desde 0.5 hasta 0.51. Este resultado
es fcilmente verificable por clculo directo.
10.6.3
253
Sensibilidad parsita de un amplificador operacional
Unode los usos ms importantes del concepto de sensibilidad parsita es en la determinacin

del efecto de la ganancia dc finita en un amplificador operacional, una cantidad asumida como
infinita en la mayora de los anlisis. Esto puede hacerse tratando el recproco de la ganancia
como un elemento parsito con un valor nominal de cero [14]. Para ver como se hace esto,
considrese el modelo del amplificador operacional de la Fig. 10.8.
+
v+
-
+
v-
+
vo
-
Figura 10.8: Modelo de un amplificador operacional.

Para el caso no ideal se tiene
v0 = A0 (v + v )
(10.6.3)
donde A0 es la ganancia dc, un nmero muy grande e idealmente infinito. Para tratar sta
como un elemento de sensibilidad parsita, se define B = 1/A0 como una cantidad parsita y se
escribe la ecuacin (10.6.3) en la forma
v0 =
1 +
(v v )
B
donde B es un nmero muy pequeo, idealmente cero. Para un circuito dado, se puede determinar la sensibilidad parsita usando los pasos esbozados en el Sumario 2 dado ms arriba. Esto
se muestra con un ejemplo.
Ejemplo 39 Sensibilidad parsita en un integrador amortiguado. Un circuito que usa un amplificador operacional se muestra en la Fig.10.9 Consiste de las conductancias G1 y G2 y el
capacitor C. Si el amplificador es ideal, la funcin de transferencia de tensin es
G1 /C
v2 (s)
=
v1 (s)
s + G2 /C
Considrese el efecto de usar un amplificador operacional no ideal. Encontrar la funcin de
sensibilidad del sistema.
Sol. La funcin de transferencia considerando B es
v2 (s)
G1
G1
=
=
v1 (s)
B (G1 + G2 + Cs) + (G2 + Cs)
BC + C s +
1
B(G1 +G2 )+G2
BC+C
254

G2
C
+
v1
G1
+
v
2
-
Figura 10.9: Integrador amortiguado.

la cual tiene un polo en
B (G1 + G2 ) + G2
BC + C
Si se toma la derivada de p con respecto a B, se obtiene
p=
(G1 + G2 ) (BC + C) C [B (G1 + G2 ) + G2 ]

p
=
B
(BC + C)2
Multiplicando por 1/p y haciendo B = 0, se obtiene
p 1
G1
p
=
P SB =
B p B0 G2
Como un ejemplo de este resultado, considrese una aplicacin en la cual G1 = 10, G2 = 0.1,
C = 1 y el amplificador operacional tiene una ganancia de A0 = 104 . Idealmente, para B = 0,
el polo est localizado en 0.1. Aplicando la sensibilidad parsita se obtiene
p
G1
10 4
p
= P SB
10 = 0.01
B =
B =
p
G2
0.1
El cambio en la localizacin del polo se encuentra fcilmente multiplicando este resultado por
p. Se obtiene p = 0.001. As, la posicin del polo es 0.101 como consecuencia de que el
amplificador operacional es no ideal. El mismo procedimiento puede aplicarse para determinar
los efectos del amplificador operacional no ideal sobre cualquier otra caracterstica, por ejemplo,
la funcin de transferencia de tensin.
10.6.4
Sensibilidad multiparamtrica
Se puede ahora construir una expresin general multiparamtrica que da el cambio normalizado
en alguna caracterstica y como el efecto combinado de las sensibilidades relativa y parsita. Se
define
(10.6.4)
y = y(1 , . . . , i , . . . , n , 1 , . . . , j , . . . , m )
255
donde los i son elementos regulares (no parsitos) y los j son parsitos. Si solamente se
consideran los efectos de primer orden, se puede escribir
y =
n
m
X
X
y
y
i +
j
i
j
i=1
(10.6.5)
j=1
Si se dividen ambos miembros de esta ecuacin entre y, se obtiene

n
i=1
j=1
y X y i X
=
Si
+
P Syj j
y
i
(10.6.6)
Se ve que el cambio normalizado en y es la suma de los efectos de los cambios normalizados en

los elementos no parsitos i y los cambios no normalizados en los elementos parsitos j .
Ejemplo 40 En el integrador amortiguado mostrado en la Fig.10.9 se asume que los valores
nominales de los elementos son G1 = 10, G2 = 0.1, C = 1, y la ganancia del amplificador
operacional A0 = . Para estos valores, el polo p est localizado en 0.1. Encontrar el cambio
en la localizacin del polo producida por cambios del 1% en las conductancias G1 y G2 y la
ganancia real del amplificador operacional dada como A0 = 104 .
Sol. Se puede usar la sensibilidad multiparamtrica definida en la ecuacin (10.6.6)
p
p G1
p G2
p
= SG
+ SG
+ P SB
B
1
2
p
G1
G2
Utilizando los resultados del ejemplo anterior se obtiene
p=
G2
= 0.1
C
p
SG
=0
1
p
SG
=1
2
p
P SB
=
G1
= 100
G2
Para estos resultados se obtiene
p
= (0 0.01) + (1 0.01) + 100 104 = 0.02
p
Multiplicando este resultado por el valor de p, se obtiene p = 0.002. La localizacin de los

polos estar en 0.102 como resultado de los cambios especficos en los parmetros.
256
Captulo 11
Confiabilidad
En anteriores secciones se defini la precisin de un sistema de medida y se explic cmo un
error de medida puede ser calculado, bajo condiciones de estabilidad estable y dinmica. La
confiabilidad es otra caracterstica importante de un sistema de medida; no es bueno tener
un sistema de medida exacto el cual est contantemente fallando y requiriendo reparacin. La
primera seccin de este cpitulo tiene que ver con la confiabilidad de sistemas de medida; primero
explicando los principios fundamentales de confiabilidad, entonces se discute la confiablidad de
sistemas prcticos, y finalmente se examinan formas de confiabilidad.
11.1
Confiabilidad de sitemas de medida
11.1.1
Principios fundamentales de sistemas de medida
Probabilidad Si un nmero aleatorio de pruebas independientes son hechas, entonces la probabilidad P

de que un evento particular ocurra est dada por la relacin
P =
nmero de ocurrencias del evento

nmero total de pruebas
(11.1.1)
en el lmite que el nmero total de pruebas tienda a infinito. As la probabilidad de que un

lanzamiento de moneda muestre caras tiendo al valor terico de 12 bajo un nemro grande de
pruebas.
Confiabilidad R(t) La confiabilidad de un elemento de medida o sistema puede ser definada
como: la probabilidad que el elemento o sistema pueda operar a un nivel determinado de
funcionamiento, para un perido especfico, sujeto a condiciones ambientales especificadas. En
el cso de un sistema de medida nivel determinado de funcionamiento puede significar una
precisin de 1.5 por ciento. Si el sistema est dando un error de medida fuera de esos lmites,
entonces se le considera como fallado, aunque normalmente siempre esta sea otra forma de
trabajo La importancia de las condiciones ambientales sobre la canfiabilidad de sistemas de
medida ser discutida completamente ms adelante. La confiabilidad varia con el tiempo, un
sistema de medida que ha sido justamente chequeado y calibrado podr tener una confiabilidad
257
258
CAPTULO 11. CONFIABILIDAD
de 1 cuando inicialmente se coloque en servicio. Seis meses despus, la confiabilidad puede ser
solamente 0.5 como la probabilidad de que una falla aumentara.
No confiabilidad.F (t) Esta es la probabilidad que el elemento o sistema falle durante la
operacin a un nivel determinado de funcionamiento, para un perodo especificado, sujeto a
condiciones ambientales especificas. Puesto que el equipamento tiene ya sea fallo o no fallo la
suma de la confiabilidad y no confiabilidad debe ser la unidad, es decir
R(t) + F (t) = 1
(11.1.2)
La no confiablidid depende tambin del tiempo; un sistema que ha sido justamente chequeado y
calibrado podr tener una no confiabilidad de cero, cuando inicialmete se coloque en servicio,
aumentando, es decir, 0.5 despus de seis meses.
Tiempo medio entre fallas (M:T:B:F) Las anteriores definiciones, mientras el uso sea extremo,
sufren la desventaja de tener que especificar un perodo particular de operacin del equipo. Una
medida ms usual de funcionamiento la cual no involucra el perodo de operacin es el tiempo
medio entre fallas (M.T.B.F). M.T.B.F es aplicable a cualquier tipo de equipo el cual puede
ser reparado por medio del reemplazo de una componente fallada o unidad, y es de esta manera
adecuado para describir elementos de medida o sistemas. Supngase que N elementos idnticos o
sistemas estn probados para un perodo total T . Cada falla es registrada, el equipo es reparado,
se coloca fuera de servicio y el nmero total de fallas NF durante T se encuentra. El M.T.B.F
observado es
NT
(11.1.3)
M.T.B.F =
NF
donde el intervalo de prueba T no incluye el tiempo total de reparacin. As si se graban 150
faltas para 200 transductores diferenciales de presin por 1.5 aos, el M.T.B.F. observado es de
2.0 aos.
Taza de falla .Es el promedio del nmero de fallas, por item de equipo, por unidad de
tiempo. La taza de falla de varios elementos y sistemas de medida es aproximadamente constante
durante la mayor parte de la vida til. En este caso la taza de falla es el reciproco de M.T.B.F,
es decir
1
(11.1.4)
=
M.T.B.F
y la taza de fallo observada es
NF
(11.1.5)
=
NT
Variacin en la taza de fallo durante el tiempo de vida del equipo. La taza de falla, de
un tipo de elemento o sistema dado, varia a travs de la vida del equipo. Es posible identificar
tres fases distintas cada una con diferentes caracteristicas de falla: antes de la falla, durante
la falla (vida normal de trabajo) y falla por desgaste. Estas son mostradas en la Fig. (zz),
la llamada curva de baera. La regin de fallo temprana, permanece posiblemente seis meses,
es debido a componentes dbiles y falta de conocimiento en la operacin del sistema, la regin
madura, permanece posiblemente 10 aos, est caracterizada por una constante baja de taza
de fallo, todos los componentes dbiles han sido removidos y el sistema est siendo operado
11.1. CONFIABILIDAD DE SITEMAS DE MEDIDA
259
correctamente. La regin de falla por desgaste est caracterizada por un incremento de la taza
defalla cuando las componentes tienden al fin de su vida til.
Relacin entre R(t), F (t) y , por la constante . Supngase que n0 items idnticos de un
equipo son escogidos en un tiempo de operacin t = 0.
260
CAPTULO 11. CONFIABILIDAD
Captulo 12
Filtros Activos
12.1
Introduccin
Frecuentemente, el ingeniero o tecnlogo est avocado a la necesidad de disear un filtro que

cumpla con algunas especificaciones dadas. Sin embargo, es a veces difcil elegir el filtro apropiado, ya que existen muchos modelos que eventualmente cumplen con los requisitos mencionados.
Estos modelos conducen a realizaciones que probablemente son costosas si no se atiende a cada
caso particular. En este captulo se dan algunas pautas para la escogencia del modelo del filtro, buscando caractersticas de aproximacin de la magnitud las cuales permitirn al diseador
obtener el modelo apropiado siguiendo algunos algoritmos normalizados.
Las especificaciones prcticas de los filtros se basan esencialmente en requerimientos de funcionamiento sinusoidal de estado estacionario Estos estn dados como caractersticas de magnitud y de fase, en funcin de la frecuencia real (rad/s). Las tcnicas actuales de sntesis
utilizadas para encontrar realizaciones de filtros pasivos.o activos, emplea como punto de partida la funcin de transferencia, la cual es una relacin de polinomios en la variable de frecuencia
compleja s. Al proceso de relacionar las caractersticas sinusoidales de estado estacionario para
una funcin de red se denomina aproximacin.
12.2
Aproximacin a la Magnitud
Uno de los tipos de aproximacin usado ms frecuentemente es el que relaciona la magnitud

|H(j)| con una funcin racional F (s), de modo que en algn sentido especfico |F (j)| se
aproxime a |H(j)| . La funcin |H(j)| estar especficada o bien por una expresin matemtica,
o por una grfica que representa su forma de onda. Sera deseable que las magnitudes de las
dos funciones de fueran idnticas, por lo cual una de las metas del diseo ser lograr esto.
261
262
CAPTULO 12. FILTROS ACTIVOS
12.2.1
Condiciones para |H(j)|2
En el estudio de aproximacin a la magnitud, se consideran las condiciones de necesidad que

una funcin de magnitud debe tener. Es ms conveniente considerar el cuadrado de la funcin
de magnitud [14]:
|H(j)|2 = H(j)H (j) = H(j)H(j)
(12.2.1)
donde el asterisco indica el complejo conjugado y la justificacin para el miembro derecho de la

ecuacin es que, para funciones racionales con coeficientes reales, la conjugada de la funcin se
encuentra reemplazando la variable con su conjugada, esto es, remplazando j con j. Ahora,
sea H(s) de la forma:
H(s) =
=
D(s)
C(s)
d0 + d1 s + d2 s2 + d3 s3 + d4 s4 +
c0 + c1 s + c2 s2 + c3 s3 + c4 s4 +
(12.2.2)
El trmino H(j) tiene la forma
d0 d2 2 + d4 4 + j d1 d3 4 +
H(j) =
c0 c1 2 + c4 4 + j (c1 c3 4 + )
(12.2.3)
Insertando esta relacin en el miembro de la derecha de (12.2.1) se obtiene:

|H(j)|2 =
donde
D2 + D12
(D0 + jD1 )(D0 jD1 )
= 02
(C0 + jC1 )(C0 jC1 )
D0 + D12
(12.2.4)
D0 = <e(D(j)) D1 = =m(D(j))
C0 = <e(C(j)) C1 = =m(C(j))
la ecuacin (12.2.4) como se ve, es una relacin de polinomios pares.

s
Si se evala ahora (12.2.1) haciendo = , se puede definir una funcin T s2 como
j
T s2 = |H(j)|2
= H (s) H (s)
(12.2.5)
=s/j
Como resultado del producto H(s)H(s) se tienen polos y ceros localizados simtricamente
con respecto a los ejes real e imaginario. A esta caracterstica se le llama simetra cuadrantal
[14]. En general, los polinomios del numerador y del denominador de T (s2 ) pue-den tener tres
tipos de factores:
1. a4 + as2 + b donde a y b pueden ser positivos o negativos.
12.2. APROXIMACIN A LA MAGNITUD
263
2. as2 + b donde a y b tienen signos opuestos

3. as2 + b donde a y b tienen los mismos signos.
El primero y el segundo tipo tienen la simetra cua-drantal necesaria pero el tercer
no,
tipo
4
2
2
2
a menos que tenga multiplicidad par, esto es, a menos que aparezca como (as + b) , as + b ,
etc.
Estas caractersticas se enuncian a continuacin como
Teorema 5 Propiedades de |H(j)|2 . Para que una funcin |H(j)|2 dada sea la funcin
cuadrtica en magnitud de alguna funcin racional H(s), es necesario y suficiente que:
1. La funcin |H(j)|2 sea una relacin par de polinomios en
2. En la funcin T (s2 ) definida en (12.2.5), cualesquiera de los polos o ceros situados sobre
el eje j sean de orden par.
La suficiencia de las dos condiciones dadas en el Teorema 1 se demuestra fcilmente factorizando T (s2 ) en el producto H(s)H(s), tomando los polos del semiplano izquierdo y la
mitad de cualesquier pares de polos de T (s2 ) situados sobre el eje j como los polos de H(s)
y similarmente asignando los ceros, bien sea del semiplano izquierdo o derecho, y la mitad de
cualesquier pares de ceros de orden par situados sobre el eje j de T (s2 ) como los ceros de H(s).
La restriccin de usar slo los polos del semiplano izquierdo de T (s2 ) es solamente para cumplir
la condicin de estabilidad del sistema.
12.2.2
Funcin de Magnitud Mxima Plana
Las condiciones de necesidad y suficiencia dadas en el Teorema 1 para las funciones cuadrticas
en magnitud, son aplicables a las caractersticas especficas de los filtros. Considrese la determinacin de una funcin cuadrtica en magnitud que, en el rango de frecuencia baja empezando
en cero, tenga caracterstica plana tanto como sea posible. Una forma de obtener tal respuesta
es llevando a cero en = 0 rad/s, tantas derivadas de la funcin como sea posible. Tal funcin
se denomina mximamente plana. Escribiendo una expresin para la funcin general cuadrtica
en magnitud |H(j)|2 , se tiene:
|H(j)|2 = H02
1 + b1 2 + b2 4 +
1 + a1 2 + a2 4 +
(12.2.6)
Si se divide el denominador entre el numerador, se obtiene

|H(j)|2 = H02 [1 + (b1 + a1 )2 +
+(b2 a2 + a21 a1 b1 ) 4 + ]
(12.2.7)
264
Ahora, considrese la expansin en serie de MacLaurin, de una funcin arbitraria F () [16].

sta tiene la forma
F (2) (0) 2
F (1) (0)
+
+
1!
2!
F (3) (0) 3 F (4) (0) 4
+
+

3!
4!
F () = F (0) +
(12.2.8)
donde F (i) (0) es la i-sima derivada de F () evaluada en = 0. Comparando esta expresin

con la expansin para |H(j)|2 dada en (12.2.7) y recordando que tal expansin debe ser nica,
se ve que debido a la naturaleza par de |H(j)|2 , todas sus derivadas de orden impar son cero.
Adems, para que la segunda derivada sea cero, se requiere que los coeficientes a1 y b1 sean
iguales. Similarmente, para que la cuarta derivada tambin sea cero se requiere tambin que
a2 = b2 , etc. As, la funcin general cuadrtica de magnitud mximamente plana |H(j)|2 en
(12.2.7) est caracterizada por la restriccin
ai = bi
(12.2.9)
para tantos coeficientes como sea posible.
12.3
Funciones de Butterworth
Considrese la funcin magnitud para una red de paso bajo. Para su aproximacin se escoge
una funcin de magnitud cuadrtica |H(j)|2 que satisfaga el criterio de funcin mximamente
plana en = 0.
Para proporcionar la pendiente descendente en la caracterstica de las frecuencias altas, se
localizan los ceros de transmisin en infinito. As, el numerador de H (j) es una constante y
todos los coeficientes bi de (12.2.7) sern cero. Para obtener una caracterstica mximamente
plana, los coeficientes ai de (12.2.9) tambin deben ser cero, excepto, por supuesto, el coeficiente
de orden superior. La funcin de magnitud cuadrtica resultante tiene la forma:
|H(j)|2 =
H02
2n
1+
p
(12.3.1)
Esta funcin es llamada Funcin de Butterworth.
12.3.1
Propiedades de las Funciones de Butterworth
Sumario 3 Las funciones de Butterworth de paso bajo tienen la forma dada en (12.3.1) y poseen
las siguientes propiedades (para = 1):
1. El rango de frecuencias 0
1 rad/s se llama banda pasante.

p
12.3. FUNCIONES DE BUTTERWORTH
265
2. El rango de frecuencias 1 rad/s se llama banda bloqueada
3. En = p rad/s, |H (j)| = H0 / 1 + 12n = H0 / 2 = 0.7071H0 , independiente del valor

de n.
4. En = p rad/s, la pendiente de |H (j)|2 es proporcional a 12 n.
5. La funcin |H (j)| es funcin montona (continuamente decreciente) de .
La funcin definida en (12.3.1) con = 1 y p = 1rad/s se conoce como funcin normalizada de Butterworth. Puesto que 20 log[|H (j1)| / |H (j0)|] = 20 log 0.70711 = 3.010dB, a la
frecuencia de p = 1rad/s se conoce como frecuencia de 3-dB.
F ilt ro d e B u t t e rw o rt h
0
-5
-1 0
-1 5
-2 0
-2 5
-3 0
-3 5
-4 0
-4 5
-5 0
0
10
10
10
10
10
Figura 12.1: Filtro de Paso Bajo Butterworth.

La grfica de la magnitud de la funcin de Butterworth para n = 2 se muestra en la Fig.
12.1.
12.3.2
Localizacin de polos
La localizacin de los polos de una funcin de red H(s) que tiene una caracterstica de magnitud
de Butterworth se puede encontrar usando (12.2.5) y (12.3.1). As, se obtiene para la funcin
normalizada:
H02
H02
=
H(s)H (s) =
1 + 2n 2 =s2
1 + (1)n s2n
(12.3.2)
Haciendo tender a cero al polinomio del denominador de (12.3.2), se encuentra que los polos
estn locali-zados en los valores de s que satisfacen la relacin
1
s = [ (1)n ] 2n
(12.3.3)
266

1
jk
jk
As, para n par, s = (1) 2n = e 2n (k = 1, 3, 5, . . . , 4n1 ), y para n impar, s = (1) 2n = e 2n

(k = 0, 2, 4, . . . , 4n2 ). De estas relaciones se puede colegir que los polos de H (s) H(s)
estn equiangularmente espaciados alrededor del crculo unitario. Reteniendo solamente las
singularidades del semiplano izquierdo, se encuentra que los polos de H(s) estn dados como
pk = k + jk , donde
2k 1
2n
2k 1
= cos
2n
k = sin
k
k = 1, 2, 3, . . . , n
(12.3.4)
(12.3.5)
Los polinomios del denominador caracterizados por estas races se denominan polinomios de
Butterworth. Se puede encontrar los valores de los coeficientes definiendo un polinomio como
P (s) = a0 + a1 s + a2 s + + an sn
(12.3.6)
y notando que, puesto que todos los polos estn localizados sobre el crculo unitario, a0 = 1.
Los otros coeficientes se determinan por la relacin iterativa
ak =
cos[(k 1) /2n]
ak1
sen (k/2n)
k = 1, 2, . . . , n
(12.3.7)
Ntese que los coeficientes son simtricos, as que
a0 = an = 1
a1 = an1
a2 = an2
..
.
12.3.3
Determinacin del orden
Un problema fundamental en el diseo de filtros es la determinacin del orden de la funcin

requerida para reunir las especificaciones exigidas. Las especificaciones normalmente consisten
de un conjunto de valores en la banda pasante y otro conjunto en la banda retenida. stas
tienen la siguiente forma:
1. Banda pasante: En la banda pasante 0 p , la desviacin mxima de la caracterstica
de magnitud es Kp dB.
2. Banda bloqueada: En la banda bloqueada s , la atenuacin mnima de la caracterstica de magnitud es Ks dB. Esta atenuacin es medida desde el valor mximo de la
caracterstica de la banda pasante.
12.3. FUNCIONES DE BUTTERWORTH
267
Figura 12.2: Especificaciones para un filtro de paso bajo.

Una ilustracin de las cantidades definidas ante-riormente se muestran en la Fig. 12.2. Para
reunir las especificaciones, la caracterstica de magnitud real debe ubicarse dentro del rea no
sombreada. Para una caracterstica Butterworth, la propiedad montona asegura que si se reune
la especificacin de banda retenida Ks en la frecuencia s , sta ser satisfecha para toda s .
Ntese que Kp y Ks se especifican como constantes positivas
Para determinar el orden de la funcin requerida que reuna un conjunto dado de especificaciones, se define
n
fs
s
s
=
,
(12.3.8)
,
p
fp
p
Teniendo en cuenta la definicin dada para Kp y Ks se tiene
H(j0)
= 20 log 1 + 2n
Kp , 20 log
p
H(jp )
H(j0)
= 20 log 1 + 2n
Ks , 20 log
H(js )
(12.3.9)
(12.3.10)
Despejando p y s de (12.3.9) y (12.3.10) respectivamente y sustituyendo en (12.3.8) se llega

a:
n s 0.1K
s 1
10
s
(12.3.11)
=
=
p
100.1Kp 1
De aqu, para el caso del filtro de Butterworth, el orden requerido nB ser:
nB =
ln
log
=
log
ln
donde se toma el siguiente mayor entero de nB .
(12.3.12)
268
Ejemplo 41 Una funcin de Butterworth debe reunir los siguientes requisitos: fp = 400Hz,
fs = 500Hz, Kp = 3dB, Ks = 25dB. Encontrar el orden del filtro requerido.
Solucin. De las ecs. (12.3.8), (12.3.11) y (12.3.12) se obtiene:
=
=
nB =
500
= 1.25
400
s
100.125 1
= 17.75
100.13 1
log
= 12.89
log
El orden del filtro ser nB = 13.
12.4
Funciones de Chebyshev
En la seccin anterior se introdujo una clase de aproxi-macin en magnitud la cual consiste en

que la respuesta en la banda pasante es mximamente plana. Esta aproximacin se caracteriza
por el hecho de que las derivadas de la funcin cuadrtica en magnitud son todas cero a la
frecuencia cero. As, el efecto de la aproximacin est concentrado en una simple frecuencia.
Una consecuencia de esto es que la transicin de la banda pasante a la banda retenida no es tan
aguda como se requiere en algunas aplicaciones. En esta seccin se describe un tipo diferente de
aproximacin, uno en el cual el efecto de la misma est distribuido sobre toda la banda pasante.
A esta aproximacin se le denomina caracterstica de igual rizo.[14].
12.4.1
Polinomios de Chebyshev
La aproximacin normalizada de magnitud de igual rizo para un filtro de paso bajo se puede
obtener escribiendo la funcin cuadrtica de magnitud |H (s)|2 en la forma
|H (s)|2 =
H02
1 + 2 Cn2 ()
(12.4.1)
donde Cn () es un polinomio de orden n. Estos polinomios tienen las propiedades

0 Cn2 () 1
Cn2 () 1
para 0 1
para 1
(12.4.2)
El valor de determina los lmites de variacin en la banda pasante 0 1.

Un conjunto de polinomios Cn () que tiene las pro-piedades especificadas antes, son los
llamados polinomios de Chebyshev. stos se definen como sigue:
12.4. FUNCIONES DE CHEBYSHEV
269
C1 () =
C2 () = 2 2 1
C3 () = 4 3 3
..
.
(12.4.3)
Cn+1 () = 2Cn () Cn1 ()

la ltima expresin es vlida para todo n > 1. Los polinomios de Chebyshev tambin pueden
escribirse usando las expresiones
Cn () = cos n cos1
01
1
1
Cn () = cosh n cosh
n
n
+ 2 1
+ 2 1
Cn () =
+
1
2
2
(12.4.4)
(12.4.5)
(12.4.6)
donde la expresin en (12.4.6) proporciona una alternativa para la funcin cosh en (12.4.5).
12.4.2
Propiedades de las funciones de Chebyshev
Sumario 4 Una funcin de Chebyshev de paso bajo que tiene la forma dada en (12.4.1) posee
las siguientes propiedades:
1. El rango de frecuencias 0 1 se denomina banda pasante.
2. La caracterstica de magnitud en el banda pasante es de igual rizado.
3. El rango de frecuencias 1 se denomina banda bloqueada.
4. La caracterstica de magnitud en la banda bloqueada es montona.
5. Para n impar, |H (j0)| = H0 , para n par |H (j0)| = H0 / 1 + 2 para todo n.
6. En = 1, |H (j1)| = H0 / 1 + 2 independiente del valor de n.
7. Los picos de banda pasante ocurren en las frecuencias en las cuales Cn2 () = cos2 n cos1 =
0. stos estn definidos por pico = cos (k/2n) para k = 1, 3, 5, . . . .
270
12.4.3
Localizacin de polos
Se puede usar ahora la expresin para |H (j)|2 dada en (12.4.1) para determinar la localizacin
de polos de una funcin de red de igual rizado. Siguiendo el desarrollo dado para una funcin
de red general cuadrtica en magnitud de la seccin anterior, se obtiene:
H(s)H (s) = |H (j)|2=s/j =
H02
1 + 2 Cn2 (s/j)
(12.4.7)
As, los polos del producto H(s)H (s) son las races de Cn2 (s/j) = 1/2 o Cn (s/j) = j/
Usando la forma trigonomtrica para Cn () dada en (12.4.4), se puede escribir

s
j
1 s
(12.4.8)
Cn
= cos n cos
=
j
j
Para resolver esta ecuacin, primero se define una funcin compleja como
w = u + jv = cos1
s
j
(12.4.9)
Substituyendo esta expresin en (12.4.8), se obtiene

j
(12.4.10)
Igualando las partes reales del segundo y el tercer miembro de esta relacin se llega a cos nu cosh nv =
0. Puesto que cosh nv 1 para todos los valores de nv, esta igualdad requiere que cos nu =
0.Esto se escribe de la forma
cos n(u + jv) = cos nu cosh nv jsen nu senh nv =
2k 1
k = 1, 2, 3, . . . , n
(12.4.11)
2n
Igualando las partes imaginarias de (12.4.10) y reconociendo que para los valores de u definidos
por (12.4.11), sen nu = 1, se obtiene
uk =
1
1
senh1
(12.4.12)
n
donde se retiene solamente el valor positivo de v. La ecuacin (12.4.9) se coloca ahora en la

forma
s = j cos (uk + jv) = sen uk senh v + j cos uk cosh v
(12.4.13)
v=
Esta relacin especifica el valor de los polos del producto H (s) H (s). Los polos del semiplano
izquierdo se asignan a H (s) para completar la determinacin de la funcin de red. As se ve
que los polos de H (s) estarn en pk = k + j k , donde
k = sen uk senh v
k = cos uk cosh v
k = 1, 2, . . . , n
(12.4.14)
12.4. FUNCIONES DE CHEBYSHEV
271
R e s p u e s t a M a g n i t u d vs F r e c u n c i a d e u n F i l t r o C h e b y s h e v
20
10
-1 0
-2 0
-3 0
-4 0
-5 0
-1
10
10
10
Figura 12.3: Respuesta de Magnitud vs Frecuencia de una Funcin de Chebyshev de cuarto

orden.
y donde uk y v estn definidas en (12.4.11) y (12.4.12). En la grfica de la Fig. 12.3 se muestra la
respuesta de magnitud contra frecuencia de una funcin de Chebyshev para/ nC = 4. Obsrvese
el rizo en la banda pasante y el decrecimiento montono de la banda bloqueada. Por otra parte
ntese la pendiente de la banda de transicin.
12.4.4
La determinacin del orden de una funcin de Chebyshev sigue los procedimientos bosquejados
para la funcin de Butterworth en la seccin anterior y las cantidades mostradas en la Fig. 12.2.
Las especificaciones son:
1. Banda pasante: Para 0 p , el mximo rizo de la caracterstica de magnitud es Kp
dB.
2. Banda bloqueada: Para s , la atenuacin mnima de la caracterstica de magnitud es
Ks dB. Esta atenuacin es medida desde el valor mximo de la caracterstica de la banda
pasante.
Para determinar el orden, se repiten las definiciones dadas en (12.3.8) de la seccin anterior:
fs
s
=
=
p
fp
100.1Ks 1
100.1Kp 1
(12.4.15)
El orden de la funcin de Chebyshev nC est dado por

nC =
cosh1
cosh1
(12.4.16)
272
Ejemplo 42 Una funcin de Chebyshev debe reunir los siguientes requisitos: fp = 400Hz,
fs = 500Hz, Kp = 3dB, Ks = 25dB. Encontrar el orden del filtro requerido.
Solucin. De las ecs. (12.4.15) y (12.4.16) se obtiene:
=
=
500
= 1.25
400
s
100.125 1
= 17.75
100.13 1
cosh1
= 5.15
cosh1
El orden del filtro ser nC = 6. Ntese la diferencia de orden con respecto al orden nB del
filtro de Butterworth calculado antes para los mismos requisitos.
nC =
12.5
Funcin Inversa de Chebyshev
En la seccin anterior se discuti la aproximacin de magnitud de igual rizo en la banda pasante.

Esta funcin se caracteriza por tener rizo en la banda pasante y decrecer montonamente en
la banda bloqueada. En esta seccin se introduce un tipo de funcin relacionado con la caracterstica de magnitud: la funcin inversa de Chebyshev. Sus propiedades son las inversas de
las funciones de igual rizo, es decir, tiene comportamiento montono en la banda pasante y una
aproximacin de igual rizo en la banda bloqueada. Su ventaja es que tiene mejores caractersticas
de fase en la banda pasante. Su desventaja es que su implementacin es ms compleja.
12.5.1
Funcin de Magnitud Inversa de Chebyshev
Para ver como se puede desarrollar la caracterstica inversa de Chebyshev, considrese una
funcin de igual rizo de paso bajo la cual, adems de estar normalizada para una frecuencia de
corte de 1rad/s, ha sido tambin normalizada para que su magnitud pico sea unitaria. De la
seccin anterior, ec (12.4.1), se tiene:
|HC (j)|2 =
1
1 + 2 Cn2 ()
(12.5.1)
donde el subndice C representa la funcin de Chebyshev directa y Cn () es un polinomio de

Chebyshev de orden n.
Si se resta (12.5.1) de uno, se obtiene
1 |HC (j)|2 =
2 Cn2 ()
1 + 2 Cn2 ()
(12.5.2)
La caracterstica de magnitud de la inversa de Chebyshev ahora se encuentra aplicando una

transformacin de frecuencia en la cual se sustituye 1/ por en el miembro de la derecha de
(12.5.2). As, se obtiene
12.5. FUNCIN INVERSA DE CHEBYSHEV
|HIC (j)|2 =
273
2 Cn2 (1/)
1 + 2 Cn2 (1/)
(12.5.3)
donde el subndice IC significa inversa de Chebyshev. La inversin de frecuencia efectivamente

transforma la funcin de paso alto de la ecuacin (12.5.2) a una de paso bajo. Esta funcin
tendr respuesta de magnitud contra frecuencia montona en la banda pasante y con rizo en la
banda retenida como se muestra en la Fig. 12.5.
12.5.2
Orden de las funciones inversas de Chebyshev
Las propiedades de la caracterstica de magnitud de la funcin inversa de Chebyshev se pueden

especificar en trminos de los parmetros mostrados en la Fig. 12.4. Ntese que la normalizacin
Figura 12.4: Parmetros de la caracterstica de magnitud inversa de Chebyshev.

escogida para la funcin original de igual rizo tiene dos efectos: (i) la magnitud pico en la banda
pasante es la unidad y (ii) la frecuencia de arranque de la caracterstica de banda retenida de
igual rizado es 1.0 rad/s. Los parme-tros definidos en la figura son la atenuacin en la banda
pasante Kp (dB), la frecuencia p (rad/s) a la cual se especifica la atenuacin de la banda pasante,
y la atenuacin de la banda bloqueada Ks (dB). La especificacin de estos tres parmetros
permite determinar los valores de las cantidades n y 2 usadas en (12.5.1) y (12.5.3) y, como
luego se ver, especificar la localizacin de los polos y los ceros de la funcin de red inversa de
Chebyshev. Para determinar 2 , solamente se compara (12.5.3) y la Fig. 12.4 en = 1rad/s.
As , se obtiene
1
Ks = 10 log(1 + 2 )
(12.5.4)
resolviendo para 2 , se obtiene

2 =
1
100.1Ks
(12.5.5)
274
Para determinar n, se compara (12.5.3) y la Fig. 12.4 en = p . As, se llega a

Kp = 10 log[1 +
1
2 Cn2 (1/ p )
(12.5.6)
Usando (12.5.5) para eliminar 2 y resolviendo para Cn2 (1/ p ), se tiene

Cn2 (
1
100.1Ks 1
) = 0.1Ks
p
10
1
(12.5.7)
Usando (12.4.5), se puede resolver para n y obtener
cosh1 [ 100.1Ks 1 100.1Kp 1 ]1/2

nIC =
cosh1 (1/ p )
(12.5.8)
El siguiente valor entero ms alto de nIC determina el orden requerido del filtro.
Ahora se compara el orden del filtro requerido en la aproximacin inversa de Chebyshev con
el requerido en la forma directa. De (12.4.15) y (12.4.16) se tiene
cosh1 [ 100.1Ks(C) 1 100.1Kp(C) 1 ]1/2

(12.5.9)
nC =
cosh1 (s(C) )
donde Ks(C) es la atenuacin deseada en dB a la frecuencia de la banda retenida s(C) y p(C) =
1. Se puede observar que las expresiones para nIC de la funcin inversa de Chebyshev en (12.5.8)
y para nC en (12.5.9) son las mismas bajo las condiciones siguientes:
s(C) =
1
p
Ks(C) = Ks
Kp(C) = Kp
(12.5.10)
De las expresiones anteriores se puede concluir que el orden de la funcin inversa de Chebyshev
es el mismo que el de la funcin de Chebyshev.
12.5.3
Propiedades de una funcin inversa de Chebyshev
Sumario 5 Una funcin inversa Chebyshev normalizada de paso bajo la cual tiene la forma
dada en (12.5.3) y se ilustra para n = 4 en la Fig. 12.5 tiene las siguientes propiedades:
1. El rango de frecuencias 0 p se llama banda pasante.
2. La caracterstica de magnitud en el banda pasante es montona.
3. El rango de frecuencias 1 rad/s se llama banda bloqueada.
4. La caracterstica de magnitud en la banda bloqueada es de igual rizo.
5. Para n par, |H (j)|,tiene Ks dB de atenuacin, y para n impar. |H (j)| = 0
6. En la forma dada en (12.5.3), |H (j0)| = 1.
12.5. FUNCIN INVERSA DE CHEBYSHEV
275
7. El orden es igual al orden de una funcin Chebyshev para la cual los parmetros estan
definidos por (12.5.10).
8. La especificacin Ks de la banda de retencin se obtiene exactamente, mientras que la especificacin Kp del banda pasante se ajusta conservadoramente, esto es, 20 log10 [|H (0)| / |H (j p )|]
Kp .
12.5.4
Localizacin de polos y ceros
Para la localizacin de polos y ceros de la funcin de red se utilizan las tcnicas introducidas en
la Seccin 2.1, de donde se puede escribir
B (s) B (s)
|H (j)|2
(12.5.11)
= H (s) H (s) =
A (s) A (s)
=s/j
donde H (s) es la funcin de red, B (s) es el polinomio del numerador y A (s) es el polinomio del
denominador. Aplicando este resultado a (12.5.8), se encuentra que los polinomios del numerador
y del denominador se determinan por las siguientes relaciones

j
B (s) B (s) =
s

j
A (s) A (s) = 1 + 2 Cn2
s
2
Cn2
(12.5.12)
(12.5.13)
Considrese primero el numerador. Haciendo (12.5.12) igual a cero y usando (12.5.8), se

obtiene

j
1 j
Cn
= cos n cos
=0
(12.5.14)
s
s
Resolviendo (12.5.14) y utilizando los ceros definidos como zk = k + j k de la funcin
inversa Chebyshev, se obtiene:
k = 0
k =
1
cos uk
k = 1, 2, . . . , n
(12.5.15)
donde, como se defini en (12.4.11)

2k 1
(12.5.16)
2n
Ahora se considera el polinomio del denominador de la funcin inversa de Chebyshev. Los
polos de la funcin inversa de Chebyshev son los recprocos de los encontrados para la funcin
de Chebyshev. Por lo cual se pueden especificar como
uk =
pk =
1
k + jk
k = 1, 2, . . . , n
(12.5.17)
276
donde, como antes,

2k 1
k = 1, 2, . . . , n
2n
1
1
senh1
v =
n
k = sen uk senh v
(12.5.18)
uk =
(12.5.19)
(12.5.20)
k = cos uk cosh v
(12.5.21)
R e s p u e s t a M a g n i t u d v s F r e c u e n c i a e n u n F i l t r o In v e r s o d e C h e b y s h e v
10
5
0
-5
-1 0
-1 5
-2 0
-2 5
-3 0
-3 5
-4 0
-1
10
10
10
Figura 12.5: Respuesta magnitud vs frecuencia de un filtro inverso de Chebyshev de paso bajo.
Procedimiento para encontrar los polos de la funcin inversa de Chebyshev

Sumario 6 El procedimiento para encontrar los polos de la funcin inversa Chebyshev desde
los valores especificados de los parmetros p , Kp y Ks dados en la Fig. 12.4 se resumen como
sigue:
1. Usar (12.5.5) para determinar el valor de para la funcin de igual rizo desde el valor
especificado de Ks .
2. Usar (12.5.8) [o (12.5.9) y (12.5.10)] para determinar el orden de la funcin de red para
los valores especificados de Ks , Kp y p .
3. Usar (12.5.18), (12.5.19), (12.5.20) y (12.5.21) para encontrar los valores de uk , v, k y
k (k = 1, 2, . . . , n) las partes real e imaginaria de la localizacin de los polos de la funcin
de Chebyshev.
4. Los polos de la funcin inversa de Chebyshev son los recprocos de los encontrados en el
paso 3 y se calculan usando (12.5.17).
12.6. LA CARACTERSTICA ELPTICA
12.6
277
La Caracterstica Elptica
En las secciones anteriores de este artculo se discutieron dos tipos de aproximacin de magnitud,
particularmente, la mxima plana y la de igual rizo. stas pueden ser escritas en la forma
|H (j)|2 =
H02
1 + 2 Pn2 ()
(12.6.1)
donde Pn2 es un polinomio que para el caso de mxima plana es 2n y para el caso de igual rizo
es Cn2 () (un polinomio de Chebyshev). En esta seccin se considera un tipo completamente
diferente de caracterstica de magnitud de paso bajo en el cual el polinomio Pn2 () es reemplazado
por una funcin racional Rn2 () que tiene tanto en el numerador como en el denominador un
polinomio. Escogiendo una funcin especfica llamada funcin racional de Chebyshev, es posible
producir una caracterstica de magnitud que es de igual rizo tanto en la banda pasante como en
la banda bloqueada. Se define una banda de transicin para unir la banda pasante y la banda
bloqueada de igual rizo. Para un filtro de orden dado, la caracterstica resultante de magnitud
cambia rpidamente en la banda de transicin del plano, proporcionando el corte ms agudo de
cualesquiera de los tres tipos de aproximacin de paso bajo. La determinacin de la forma de
la funcin racional Rn () en general requiere el uso de funciones elpticas e integrales elpticas,
y las funciones de red resultantes estn referidas como funciones elpticas.
12.6.1
Funciones racionales de Chebyshev
La forma general de la caracterstica de magnitud elptica se especifica como

|H (j)|2 =
H02
1 + 2 Rn2 ()
La funcin racional de Chebyshev Rn () ser
n/2
Q 2 2pi
2
2
i=1 zi
Rn () =
2
(n1)/2
Q 2pi
2
2
i=1 zi
(12.6.2)
para n par
(12.6.3)
para n impar
Propiedades de la caracterstica de magnitud elptica

Sumario 7 Las expresiones dadas en (12.6.2) y (12.6.3) tienen las siguientes propiedades:
1. La banda pasante est definida para 0 1. Las constantes se escogen tal que en
esta regin 0 Rn2 () 1. Como resultado, H0 |H (j)| H0 / 1 + 2 .
2. Los valores = pi en los cuales Rn2 () = 0 representan los picos de la banda pasante en
los cuales |H (j)| = H0 .
278
2
3. En la banda pasante, los valores de en
los cuales Rn () = 1 corresponden con los valles
de la misma en la cual |H (j)| = H0 / 1 + 2 .
4. La Banda bloqueada est definida como s . En esta regin el valor mnimo de Rn2 ()
2 (los subndices bb indican banda bloqueada) donde
es Rbb
2
Rbb
100.1Ks 1
2
(12.6.4)
Como resultado, |H (j)| tiene un mnimo de Ks decibeles de atenuacin en esta regin.

5. En la banda bloqueada, los valores de = zi en la cual Rn2 () = corresponde con los
ceros de transmisin en la cual |H (j)| = 0.
2 corresponde con los
6. En la banda bloqueada, los valores de en la cual Rn2 () = Rbb
picos de la banda bloqueada de la caracterstica de magnitud en la cual |H (j)| tiene una
atenuacin mnima de Ks decibeles.
7. Las cantidades pzi y zi tienen una media geo-mtrica s . As,
pi zi = s .
Se puede determinar la forma general de las funciones de red elptica. Primero se considera
el caso impar. Si la forma impar de Rn () dada en (12.6.3) se sustituye en (12.6.2), entonces
se obtiene la funcin de red reemplazando con s/j y seleccionando los polos del semiplano
izquierdo y los ceros del semiplano j. obtenindose la siguiente forma general de la funcin
elptica de red de orden impar:
H0
Himp (s) =
(n1)/2
Q
s2 + 2i
i=1
a0 + a1 s + + an1 sn1 + an sn
(12.6.5)
donde los ceros del eje j estn localizados en s = ji . El grado del polinomio del denominador
de Himp ser n, mientras que el grado del polinomio del numerador es n 1. El trmino
|Himp (j)| tendr 12 (n 1) picos en la banda pasante ms un pico que ocurre en = 0,
1
2 (n 1) ceros de transmisin en la banda bloqueada, y un cero en = . Considrese ahora
el caso cuando n es par. Usando la forma par de Rn () dado en (12.6.3) y procediendo como
antes, se obtiene una primera forma general para la funcin de red elptica de orden par
H0
Hpar (s) =
n/2
Q
i=1
s2 + 2i
a0 + a1 s + + an1 sn1 + an sn
(12.6.6)
Este ser el caso para n par. Los grados de los polinomios del numerador y del denominador
son iguales a n. El trmino |Hpar (j)| tendr 12 n de picos en la banda pasante, 12 n ceros de
transmisin en la banda bloqueada, y un valor diferente de cero en = ..
12.6. LA CARACTERSTICA ELPTICA
279
R e s p u e s t a e n m a g n it u d d e u n filt ro E lp t ic o
20
15
10
5
0
-5
-1 0
-1 5
-2 0
-2 5
-3 0
-3 5
-1
10
10
10
Figura 12.6: Respuesta de magnitud vs frecuencia de un filtro elptico de tercer orden.

La determinacin del orden de una funcin elptica se hace utilizando el mismo procedimiento
elaborado para la funcin de Butterworth. Las especificaciones son
1. La banda pasante est definida para 0 p , el rizo de la caracterstica de magnitud
es Kp dB.
2. La banda bloqueada para s , la atenuacin de igual rizo vara entre un mnimo de Ks
dB e . Esta atenuacin se mide desde el mximo valor de la caracterstica en la banda
pasante.
Para determinar el orden se usan las mismas ecuaciones de antes, es decir,
s
s
100.1Ks 1
fs
=
=
M=
p
fp
100.1Kp 1
(12.6.7)
El orden elptico nE se encuentra determinando primero las siguientes cantidades [17]:
1
1
1+
(12.6.8)
C (M ) =
16M 2
2M 2
D () =
(12.6.9)
2
+1
El orden nE se da como
nE = FE (C) FE (D)
donde
FE (x) =
1
ln x + 2x5 + 15x9
280
El orden requerido de la funcin es el siguiente entero mayor que nE . En la Fig. 12.6 se

muestra la res-puesta de magnitud contra frecuencia de un filtro elptico cuando nE = 3.
Teorema 6 This is a theorem
Proof of the Main Theorem. This is the proof.
Apndice A
Clculo de funciones polinmicas

para termocuplas
Clculo de funciones polinmicas FEM - temperatura (Norma IEC IPTS-68) de termocuplas
Ing Luis Enrique Avendao M. Sc. UTP
1. Termocupla tipo R
hold on
grid on
xlabel(Temperatura T o C),ylabel(Tensin V)
title(Grfica de las termocuplas tipo R, S, B, J, T, E y K)
for t=-50:630.74,
A=[0 5.289139 1.39111e-2 -2.400524e-5 3.620141e-8 -4.464502e-11 3.849769e-14 -1.537264e17];
T1=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7];
E1=dot(A,T1);
plot(t,E1)
end
hold on
for t=630.74:1064.43,
B=[-2.641801e2 8.046868 2.989229e-3 -2.687606e-7];
T2=1e-6*[1 t t.^2 t.^3];
E2=dot(B,T2);
plot(t,E2)
end
hold on
for t=1064.43:1665,
C=[1.5540414e4 4.2357773e3 1.4693087e2 -5.2213890e1];
ta=(t-1375)/300;
T3=1e-6*[1 ta ta.^2 ta.^3];
281
282 APNDICE A. CLCULO DE FUNCIONES POLINMICAS PARA TERMOCUPLAS

E3=dot(C,T3);
plot(t,E3)
end
hold on
for t=1665:1767.6,
D=[2.0416695e4 6.6850914e2 -1.2301472e1 -2.7861521];
ta1=(t-1715)/50;
T4=1e-6*[1 ta1 ta1.^2 ta1.^3];
E4=dot(D,T4);
plot(t,E4)
end
2. Termocupla tipo S (Pt 10% Rd-Pt)
hold on
for t=-50:630.74,
As=[0 5.399578 1.251977e-2 -2.244822e-5 2.845216e-8 -2.244058e-11 8.505417e-15];
T1s=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6];
E1s=dot(As,T1s);
plot(t,E1s)
end
hold on
for t=630.74:1064.43,
Bs=[-2.982448e2 8.237553 1.645391e-3];
T2s=1e-6*[1 t t.^2];
E2s=dot(Bs,T2s);
plot(t,E2s)
end
hold on
for t=1064.43:1665,
Cs=[1.3943439e4 3.6398687e3 -5.0281206 -4.2450546e1];
tas=(t-1365)/300;
T3s=1e-6*[1 tas tas.^2 tas.^3];
E3s=dot(Cs,T3s);
plot(t,E3s)
end
hold on
for t=1665:1767.6,
Ds=[1.8113083e4 5.6795375e2 -1.2112492e1 -2.8117589];
ta1s=(t-1715)/50;
T4s=1e-6*[1 ta1s ta1s.^2 ta1s.^3];
E4s=dot(Ds,T4s);
plot(t,E4s)
end
283
3. Termocupla tipo B (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=0:1820,
Ab=[0 2.4674601620e-1 5.9102111169e-3 -1.4307123430e-6 2.1509149750e-9 -3.1757800720e12 ...
2.4010367459e-15 -9.0928148159e-19 1.3299505137e-22];
T1b=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
E1b=dot(Ab,T1b);
plot(t,E1b)
end
4. Termocupla tipo J (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=-210:760,
Aj=[0 5.0372753027e1 3.0425491284e-2 -8.5669750464e-5 1.3348825735e-7 -1.7022405966e-10
...
1.9416091001e-13 -9.6391844859e-17];
T1j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7];
E1j=dot(Aj,T1j);
plot(t,E1j)
end
hold on
for t=760:1200,
Bj=[2.9721751778e+5 -1.5059632873e+3 3.2051064215 -3.2210174230e-3 1.5949968788e-6 ...
-3.1239801752e-10];
T2j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5];
E2j=dot(Bj,T2j);
plot(t,E2j)
end
5. Termocupla tipo T (Cu/Cu Ni)
hold on
for t=-270:0,
At=[0 3.8740773840e1 4.4123932482e-2 1.1405238498e-4 1.9974406568e-5 9.0445401187e-7 ...
2.2766018504e-8 3.6247409380e-10 3.8648924201e-12 2.8298678519e-14 1.4281383349e-16 ...
4.8833254364e-19 1.0803474683e-21 1.3949291026e-24 7.9795893150e-28];
T1t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13 t.^14];
E1t=dot(At,T1t);
plot(t,E1t)
end
hold on
for t=0:400,
Bt=[0 3.8740773840e1 3.3190198092e-2 2.0714183645e-4 -2.1945834823e-6 1.1031900550e-8
...

-3.0927581898e-11 4.5653337165e-14 -2.7616878040e-17];
T2t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
E2t=dot(Bt,T2t);
plot(t,E2t)
end
5. Termocupla tipo E (Ni Cr/Cu-Ni)
hold on
for t=-270:0,
Ae=[0 5.8695857799e1 5.1667517705e-2 -4.4652683347e-4 -1.7346270905e-5 -4.8719368427e-7
...
-8.8896550447e-9 -1.0930767375e-10 -9.1784535039e-13 -5.2575158521e-15 -2.0169601996e-17
...
-4.9502138782e-20 -7.0177980633e-23 -4.3671808488e-26];
T1e=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13];
E1e=dot(Ae,T1e);
plot(t,E1e)
end
hold on
for t=0:100,
Be=[0 5.8695857799e1 4.3110945462e-2 5.7220358202e-5 -5.4020668085e-7 1.5425922111e-9
...
-2.4850089136e-12 2.3389721459e-15 -1.1946296815e-18 2.5561127497e-22];
T2e=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9];
E2e=dot(Be,T2e);
plot(t,E2e)
end
5. Termocupla tipo K (NiCr/NiAl)
hold on
for t=-270:0,
Ak=[0 3.9475433139e1 2.7465251138e-2 -1.6565406716e-4 -1.5190912392e-6 -2.4581670924e-8
...
-2.4757917816e-10 -1.5585276173e-12 -5.9729921255e-15 -1.2688801216e-17 -1.1382797374e20];
T1k=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10];
E1k=dot(Ak,T1k);
plot(t,E1k)
end
hold on
for t=0:1372,
Bk=[-1.8533063273e1 3.8918344612e1 1.6645154356e-2 -7.8702374448e-5 2.2835785557e-7 ...
-3.5700231258e-10 2.9932909136e-13 -1.2849848798e-16 2.2239974336e-20];
T2k=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
285
K=125e-6*[1 1 1 1 1 1 1 1 1];
Tko=[exp(-0.5*((1-127)/65).^2) exp(-0.5*((t-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^2-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^3-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^4-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^5-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^6-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^7-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^8-127)/65).^2)];
Tk=dot(K,Tko);
E2k=dot(Bk,T2k);
Ek=E2k+Tk;
plot(t,Ek)
end
Apndice B
Definitions of the SI Base Units and

the Radian and Steradian
B.1
Introduction
The following definitions of the SI base units are taken from Ref. [5]; the definitions of the
SI supplementary units, the radian and steradian, which are now interpreted as SI derived
units, are those generally accepted and are the same as those given in Ref. [6]. It should be
noted that SI derived units are uniquely defined only in terms of SI base units; for example,
1V = 1m2 kg s3 A1 .
B.2
Meter (17th CGPM, 1983)
The meter is the length of the path travelled by light in vacuum during a time interval of 1/299
792 458 of a second.
B.3
Kilogram (3d CGPM, 1901)
The kilogram is the unit of mass; it is equal to the mass of the international prototype of the
kilogram.
B.4
Second (13th CGPM, 1967)
The second is the duration of 9 192 631 770 periods of the radiation corresponding to the transition between the two hyperfine levels of the ground state of the cesium-133 atom.
287
288APNDICE B. DEFINITIONS OF THE SI BASE UNITS AND THE RADIAN AND STERADIAN
B.5
Ampere (9th CGPM, 1948)
The ampere is that constant current which, if maintained in two straight parallel conductors of
infinite length, of negligible circular cross section, and placed 1 meter apart in vacuum, would
produce between these conductors a force equal to 2 10 7 newton per meter of length.
B.6
Kelvin (13th CGPM, 1967)
The kelvin, unit of thermodynamic temperature, is the fraction 1/273.16 of the thermodynamic
temperature of the triple point of water.
B.7
Mole (14th CGPM, 1971)
1. The mole is the amount of substance of a system which contains as many elementary
entities as there are atoms in 0.012 kilogram of carbon 12.
2. When the mole is used, the elementary entities must be specified and may be atoms,
molecules, ions, electrons, other particles, or specified groups of such particles.
In the definition of the mole, it is understood that unbound atoms of carbon 12, at rest and
in their ground state, are referred to.
Note that this definition specifies at the same time the nature of the quantity whose unit is
the mole.
B.8
Candela (16th CGPM, 1979)
The candela is the luminous intensity, in a given direction, of a source that emits monochromatic
radiation of frequency 540 1012 hertz and that has a radiant intensity in that direction of
(1/683) watt per steradian.
B.9
Radian
The radian is the plane angle between two radii of a circle that cut o on the circumference an
arc equal in length to the radius.
B.10
Steradian
The steradian is the solid angle that, having its vertex in the center of a sphere, cuts o an area
of the surface of the sphere equal to that of a square with sides of length equal to the radius of
the sphere.
B.10. STERADIAN
289
Tabla B.1: Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos

Derived
quantity
SI derived unit
in terms
of other
SI units...
Name
plane angle
solid angle
frequency
force
pressure,
stress
energy, work,
quantity of heat
power,
radiant flux
electric charge,
quantity of
electricity
electric potential
dierence, electromotive force
capacitance
electric resistance
electric conductance
magnetic flux
magnetic flux density
inductance
Celsius temperature
luminous flux
illuminance
activity (referred to
a radionuclide)
absorbed dose, specific
energy (imparted), kerma
dose equivalent, ambient
dose equivalent, directional dose equivalent,
personal dose equivalent,
organ equivalent dose
radian (a)
steradian (a)
hertz
newton
Expression in terms
of SI base units
mm1 = 1 (b)
m2 m2 = 1 (b)
s1
mkgs2
rad
sr (c)
Hz
N
pascal
Pa
N/m2
m1 kgs2
joule
Nm
m2 kgs2
watt
J/s
m2 kgs3
Coulomb
volt
W/A
S
Wb
T
H
C
lm
lx
C/V
V/A
A/V
Vs
Wb/m2
Wb/A
farad
ohm
siemens
weber
tesla
henry
degree Celsius
lumen
lux
becquerel
(d)
sA
cdsr (c)
lm/m2
m2 kgs3 A1
m2 kg1 s4 A2
m2 kgs3 A2
m2 kg1 s3 A2
m2 kgs2 A1
kgs2 A1
m2 kgs2 A2
K
m2 m2 cd=cd
m2 m4 cd=m2 cd
s1
Bq
gray
Gy
J/kg
m2 s2
sievert
Sv
J/kg
m2 s2
290APNDICE B. DEFINITIONS OF THE SI BASE UNITS AND THE RADIAN AND STERADIAN
(a) The radian and steradian may be used with advantage in expressions for derived units
to distinguish between quantities of dierent nature but the same dimension.
(b) In practice, the symbols rad and sr are used where appropriate, but the derived unit "1"
is generally omitted.
(c) In photometry, the name steradian and the symbol sr are usually retained in expressions
for units.
(d) This unit may be used in combination with SI prefixes, e.g. millidegree Celsius, m C.
Apndice C
Prefijos del Sistema Internacional

El 11o congreso del CGPM (1960) adopt una primera serie de prefijos y smbolos de los mismos
para formar los nombres y smbolos de los mltiplos y submltiplos de las unidades del SI. En
los ltimos aos las unidades se han extendido a las dadas en la tabla siguiente:
1024
1021
1018
1015
1012
109
106
103
102
101
101
102
103
106
109
1012
1015
1018
1021
1024
yota
zeta
exa
peta
tera
giga
mega
kilo
hecto
deca
deci
centi
mili
micro
nano
pico
femto
ato
zepto
yocto
291
Y
Z
E
P
T
G
M
k
h
da
d
c
m
n
p
f
a
z
y
292
APNDICE C. PREFIJOS DEL SISTEMA INTERNACIONAL
Apndice D
Linking SI base units to fundamental

and atomic constants
The figure below represents some of the links between the base units of the SI and the fundamental physical and atomic constants. It is intended to show that the base units of the SI are
linked to the real world through the unchanging and universal constants of physics.
In the figure,
the surrounding boxes, lines and uncertainties represent the real world. The uncertainties
next to the base units are estimates of the standard uncertainties of their best practical
realizations; those next to the fundamental constants represent the uncertainty of our
knowledge of these constants (from the 1998 CODATA adjustment).
the grey, fuzzy links to the outside reflect the unknown long-term stability of the kilogram
artefact and its consequent eects on the practical realization of the definitions of the
ampere, mole and candela.
The amperes definition, for example, involves the kilogram, but an alternative link is the
Josephson-eect constant (KJ-90) and von Klitzings quantum-Hall resistance (RJ-90), both of
which were given fixed, conventional values in 1990.
293
294APNDICE D. LINKING SI BASE UNITS TO FUNDAMENTAL AND ATOMIC CONSTANTS
Figura D.1:
Apndice E
Brief history of the SI

The creation of the decimal Metric System at the time of the French Revolution and the subsequent deposition of two platinum standards representing the metre and the kilogram, on 22 June
1799, in the Archives de la Rpublique in Paris can be seen as the first step in the development
of the present International System of Units.
In 1832, Gauss strongly promoted the application of this Metric System, together with the
second defined in astronomy, as a coherent system of units for the physical sciences. Gauss was
the first to make absolute measurements of the earths magnetic force in terms of a decimal
system based on the three mechanical units millimetre, gram and second for, respectively, the
quantities length, mass and time. In later years Gauss and Weber extended these measurements
to include electrical phenomena.
These applications in the field of electricity and magnetism were further developed in the
1860s under the active leadership of Maxwell and Thomson through the British Association for
the Advancement of Science (BAAS). They formulated the requirement for a coherent system
of units with base units and derived units. In 1874 the BAAS introduced the CGS system, a
three-dimensional coherent unit system based on the three mechanical units centimetre, gram
and second, using prefixes ranging from micro to mega to express decimal submultiples and
multiples. The following development of physics as an experimental science was largely based
on this system.
The sizes of the coherent CGS units in the fields of electricity and magnetism, proved to be
inconvenient so, in the 1880s, the BAAS and the International Electrical Congress, predecessor
of the International Electrotechnical Commission (IEC), approved a mutually coherent set of
practical units. Among them were the ohm for electrical resistance, the volt for electromotive
force, and the ampere for electric current.
After the establishment of the Metre Convention on 20 May 1875 the CIPM concentrated
on the construction of new prototypes taking the metre and kilogram as the base units of length
and mass. In 1889 the 1st CGPM sanctioned the international prototypes for the metre and
the kilogram. Together with the astronomical second as unit of time, these units constituted a
three-dimensional mechanical unit system similar to the CGS system, but with the base units
295
296
APNDICE E. BRIEF HISTORY OF THE SI
metre, kilogram and second.

In 1901 Giorgi showed that it is possible to combine the mechanical units of this metrekilogram-second system with the practical electric units to form a single coherent four-dimensional
system by adding to the three base units, a fourth base unit of electrical nature, such as the
ampere or the ohm, and rewriting the equations occurring in electro-magnetism in the so-called
rationalized form. Giorgis proposal opened the path to a number of new developments.
After the revision of the Metre Convention by the 6th CGPM in 1921, which extended the
scope and responsibilities of the BIPM to other fields in physics, and the subsequent creation
of the CCE (now CCEM) by the 7th CGPM in 1927, the Giorgi proposal was thoroughly
discussed by the IEC and the IUPAP and other international organizations. This led the CCE
to recommend, in 1939, the adoption of a four-dimensional system based on the metre, kilogram,
second and ampere, a proposal approved by the ClPM in 1946.
Following an international inquiry by the BIPM, which began in 1948, the 10th CGPM,
in 1954, approved the introduction of the ampere, the kelvin and the candela as base units,
respectively, for electric current, thermodynamic temperature and luminous intensity. The name
International System of Units (SI) was given to the system by the 11th CGPM in 1960. At the
14th CGPM in 1971 the current version of the SI was completed by adding the mole as base
unit for amount of substance, bringing the total number of base units to seven.
Apndice F
Thermodynamic and practical

temperature scales
F.1
The 1976 Provisional 0.5 K to 30 K Temperature Scale

(EPT-76)
In 1976 the CIPM approved a new low-temperature scale called the 1976 Provisional 0.5 K to
30 K Temperature Scale, or EPT-76. Its purpose was to provide a unified Scale upon which
temperature measurements could be made in this range, pending the revision and downward
extension of the IPTS-68. It was defined in terms of the temperatures assigned to eleven fixed
points within the range 0.5 K to 30 K, together with the dierences between T76 and the
following existing scales: IPTS-68; the 4He-1958 and 3He-1962 vapour pressure scales; NPL-75
and the NBS version of IPTS-68 which was defined by dierence from NBS-55. In contrast to
IPTS-68, the EPT-76 could thus be realized in a number of ways; either by using one of the above
scales and the tabulated dierences given in the text of EPT-76 or by using a thermodynamic
interpolating thermometer, such as a gas thermometer or magnetic thermometer, calibrated at
one or more of the specified reference points of EPT-76.
F.2
The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90)
The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90) came into eect on 1 Janurary 1990,
replacing the IPTS-68 and the EPT-76.
The ITS-90 diers from the IPTS-68 in a number of important respects: - it uses the triple
point of water (273.16 K), rather than the freezing point of water (273.15 K), as a defining point
- it extends to lower temperatures: 0.65 K instead of 13.8 K
- it is in closer agreement with thermodynamic temperatures
- it has improved continuity and precision
- it has a number of overlapping ranges and sub-ranges
297
298
APNDICE F. THERMODYNAMIC AND PRACTICAL TEMPERATURE SCALES
- in certain ranges it has alternative but substantially equivalent definitions

- it includes the helium vapour pressure scales
- it includes an interpolating gas thermometer as one of the defining instruments
- the range of the platinum resistance thermometer as defining instrument has been extended
from 630 C up to the silver point, 962 C
- the Pt/10 % Rh-Pt thermocouple is no longer a defining instrument of the scale
- the range based upon the Planck radiation law begins at the silver point instead of at the
gold point, but options exist for using any one of the silver, gold or copper points as reference
points for this part of the scale.
For further details please refer to the following BIPM publications:
- Preston-Thomas H., The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90), Metrologia,
1990, 27, 3-10; Metrologia, 1990, 27, 107-127
- Techniques for approximating the International Temperature Scale of 1990
- Supplementary information for the International Temperature Scale of 1990
Apndice G
Definicin of Trminos
Piezoelctricos
Tasa de envejecimiento
The relaxation of piezoelectric ceramic material after polarization results in changes or "aging" of the material parameters. Aging of piezoelectric ceramics is a logarithmic function of
time and defines changes in the material parameters per decade of time, i.e., 1-10 days, 10-100
days.
Bisque Firing
The first low temperature firing designed to drive o the binders and provide some mechanical
strength.
Calcining
The process of heating the mixture of raw powders which reacts the constituent materials
into a compound.
Curie Point
The temperature at which the dielectric constant peaks and all polarization disappears.
Coupling Coecient (k)
A dimensionless number related to the ratio of the energy stored in the mechanical and
electrical portion of the material. The first subscript indicates the direction of the electric field
and the second indicates the direction of the mechanical strain, expressed in percent.
Density
299
300
APNDICE G. DEFINICIN OF TRMINOS PIEZOELCTRICOS

The ration of mass to volume in the material, expressed in kg/m3
Dielectric Constant
The ratio of the permitivity of the material to the permitivity of free space. The value
specified is for the "free" condition, (i.e., unclamped and well below mechanical resonance of the
part).
Dissipation Factor
A measure of the dielectric losses in the material defined as the tangent of the loss angle or
the ration of parallel resistance to parallel reactance expressed in percent.
"d" Constant
The piezoelectric constant relating mechanical strain and applied electrical field - defined as
the ratio of strain to field. The first subscript indicated the direction of the field and the second
the direction of the resulting strain, expressed in meters/volt.
Field
The ration of voltage developed to the distance between the electrodes.
Frequency Constant
Defined as the resonant frequency (fr) times the controlling dimension, expressed in kHzm.
"g" Constant
The piezoelectric constant relating open circuit voltage and mechanical stress - defined as the
ration of voltage to stress. The first subscript indicates the direction of the generated voltage,
and the second indicates the direction of the force, expressed in volt-meters/newton.
High Firing
The second firing, or "high firing" completes the chemical bounding of the constituent material dimensions.
Mechanical Q (Qm)
The ratio of reactance to resistance in the equivalent electric series circuit representing the
mechanical vibrating resonant system. The shape of the part aects the value.
Polling
301
Activation of the piezoelectric ceramic properties on a macroscope level occurs in the "polling"
process. The electroded part is heated in a dielectric oil bath. A high electric field
is applied across the electrodes resulting in an aligning of the dipoles within the material.
Strain
The ratio of the change in length to the length.
Stress
The ratio of applied force to the cross sectional area.
Youngs Modulus (Y)
The mechanical stiness property of piezoelectric ceramic material. Expressed as the ration
or stress to strain in the material, while vibrating at its resonant frequency, expressed in N/m2
302
APNDICE G. DEFINICIN OF TRMINOS PIEZOELCTRICOS
Apndice H
Stability of Double-Walled
Manganin Resistors
The resistance standard described by James L. Thomas [1] was the result of his extensive eort
to develop a new standard by systematically investigating every factor aecting the stability of
resistance time, surface eects, temperature, power, pressure detectable at the time. The
result was a unique standard which was used as part of the National Reference Group of resistors
beginning in 1931. Ten of them served solely as the U. S. standard of resistance from 1939 until
they were supplanted by the quantized Hall eect (QHE) in 1990. They still serve as working
standards at the one ohm level and as a vital check on the QHE standard and the scaling used
in the NIST resistance calibration service. The International Bureau of Weights and Measures
used this standard to maintain the interna-tional unit of resistance, and numerous other national
standardizing laboratories around the world used it as their primary standard. This is still largely
true for laboratories without QHE standards.
In the period from 1935 to 1980, Thomass standard provided a basis for evaluating the
accuracy of ohm determinations, particularly to compare realizations based on calculable inductors with those based on Thompson-Lampard calculable capacitors. Thomass standard was
commercialized by the Leeds and Northrup Company and Honeywell, and these commer-cial
versions are still used as primary resistance standards by many industrial and commercial standards laboratories, as well as the DOD primary and secondary metrology laboratories. NIST
still routinely calibrates about 125 of them annually for domestic users. Thomass standard
remains the most stable resistor of any available, although two more modern designs are nearly
a match in predictability.
Much of the research leading to this standard resistor design is described in an earlier paper
by Thomas [2]. However, the paper Stability of Double-walled Manganin Resistors [1] is the more
popularly known and describes the standard in its final form, after some major modifications in
size and connections.
In the 1920s, Thomas had taken up the task of im-proving the long-term stability of wirewound resistors, which were used to measure the current in absolute determinations. When
303
304
APNDICE H. STABILITY OF DOUBLE-WALLED MANGANIN RESISTORS
a resistor is made by winding wire on a spool, parts of the crystalline structure of the wire
are stressed past their elastic limit. Thomas devel-oped wire-wound standard resistors that
were annealed at high temperature, which released some of the internal strains and reduced
the rate of change of resistance with time. Heat-treated manganin wire resistors developed by
Thomas incorporated hermetically-sealed, double-walled enclosures, with the resistance element
in thermal contact with the inner wall of the container to improve heat dissipation. These 1 .
Thomas-type standards (see Fig. 1) proved to be quite stable with time [1,2], and quickly came
into favor as the primary refer-ence for maintaining the resistance unit at NBS and at many
other national metrology institutes.
Work continued on improving the absolute measure-ments of electrical units and, in 1949, J.
L. Thomas, C. L. Peterson, I. L. Cooter, and F. R. Kotter published a new measurement of the
absolute ohm [3] using an inductor housed in a non-magnetic environment. Using the Wenner
method of measuring a resistance in terms of a mutual inductance and a rate of rotation, their
work gave a value of 0.999 994 absolute ohm for the new as-maintained unit of resistance at
NBS. The mean value assigned to 10 Thomas-type standard resistors from this experiment was
found to have been the same between 1938 and 1948 to within 1 ../ .. As Thomas et al. wrote
in the 1949 paper, this was "the first satisfactory method that has been devised for checking the
stability of the unit as maintained by a group of wire-wound resistors."
From 1901 to 1990, the U. S. Legal Ohm was maintained at 1 . by selected groups of manganin
resistance standards. Four dierent types of resistance standards have been represented in
these groups, whose numbers have varied from 5 to 17 resistors. From 1901 to 1909, the group
comprised Reichsanstalt-type resistance standards made by the Otto Wol firm in Berlin. These
standards were not hermetically sealed and consequently underwent changes in resistance as a
function of atmospheric humidity. In 1907 Rosa at NBS solved the problem by developing
a standard whose resistance element is sealed in a can filled with mineral oil [4]. The U. S.
representation of the ohm was main-tained by 10 Rosa-type 1 . resistance standards from
1909 to 1930. Over the years, measurements of dier-ences between the individual Rosa-type
resistors indicated that the group mean was probably not con-stant. In 1930, Thomas reported
on the development of his new design for a resistance standard having improved stability [2].
The Thomas resistance standards were more stable immediately following construction than the
Rosa-type resistors and two were added to the primary group in 1930. Eventually, in 1932,
the Rosa-type resistors in the primary group were replaced by the Thomas resistors. To reduce
loading errors, Thomas in 1933 improved the design of his resistor by using manganin wire of
larger diameter mounted on a larger diameter cylinder to increase the dissipation surface area,
as described in his paper [1]. A select group of the new-design Thomas resistors was used to
maintain the U. S. Legal Ohm from 1939 until its re-definition in 1990 based on the quantum
Hall eect.
The value of the U. S. representation of the ohm, or "Legal Ohm" maintained at NIST has
been adjusted only twice. This occurred first in 1948 when the ohm was reassigned using a
conversion factor relating the international reproducible system of units [3] to the precursor of
the International System of Units (SI) derived from the fundamental units of length, mass, and
time. The second occasion was in 1990 when the ohm became based on the quantum Hall eect.
305
After 1960, ohm determinations were made using calculable capaci-tors based on the ThompsonLampard theorem and a sequence of ac and dc bridges. Then came the discovery of the QHE in
1980, which has provided an invariable standard of resistance based on fundamental constants.
Consequently, on January 1, 1990 the U. S. Legal Ohm was re-defined in terms of the QHE, with
the inter-nationally- accepted value of the quantum Hall resistance (or von Klitzing constant,
after the eects discoverer) based on calculable capacitor experiments and other fundamental
constant determinations. At that time, the value of the U. S. Legal Ohm was increased by the
fractional amount 1.69.10 6 to be consistent with the conventional value of the von Klitzing
constant [5].
Shortly after the discovery of the QHE, NBS developed a system based on the QHE to
monitor the U. S. Legal Ohm, then maintained by five Thomas-type resistance standards, with
a relative uncertainty of a few times 10 8 [6]. This system consisted of a constant current source,
a potentiometer, and an electronic detector. The current source energized the QHE device and
a series-connected reference resistor of nominal value equal to the Quantum Hall Resistance
(QHR). With the potentiometer balancing out the nominal voltage across either resistance, the
detector measured the small voltage dierence between the QHE device and reference resistor.
Scaling down to the 1 . level was accom-plished using specially-constructed Hamon transfer
standards.
Since January 1, 1990, the maintenance of the U. S. Legal Ohm has been based ocially on
the QHE. However, the complexity of the experiment and "odd-value" resistance of the QHR
does not make it practical for the routine support of resistance measurements where comparisons
are normally made on standard resistors of nominal decade values. Therefore, banks of 1 ., 100
., and 10 k. standard resistors maintain the ohm between QHR measurements.
Today NIST provides a calibration service for stan-dard resistors of nominal decade values
from 10 4 . to 10 14 .. To achieve low uncertainties, eight measurement systems have been
developed that are optimized for the various resistance levels [7]. Over the years from 1982
to 1997, six of the systems, covering the full 19 decades of resistance, have been automated.
The main methods of comparing standard resistors for NIST calibrations utilize direct current
comparator (DCC) bridges and resistance-ratio bridges.
An unknown standard resistor is indirectly compared to a reference bank of the same nominal
value using the substitution technique, where the unknown and refer-ence resistors are sequentially substituted in the same position of a bridge circuit. A robotic switching device is shown
in Fig. 2. This technique tends to cancel errors caused by ratio non-linearity, leakage currents,
and lead and contact resistances. To verify that the values of the reference banks are consistent
with the QHR, scaling measurements are completed periodically proceeding from the 1 ., 100 .
or 10 k. banks, whose values are based on recent QHR determinations, to the other refer-ence
banks. The up or down scaling is done in steps of 10 or 100 using either a CCC bridge, Hamon
transfer standards, or DCC bridge.
Prepared by R. Dziuba, N. B. Belecki, and J. F. Mayo-Wells based on excerpts from the
paper The Ampere and Electrical Units [8], authored by members of the Elec-tricity Division.
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306
APNDICE H. STABILITY OF DOUBLE-WALLED MANGANIN RESISTORS
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Fig. 2. Photograph of a programmable guarded switching system used in calibrating customers resistors. The robotic translation stage moves in three axes to accomplish its switching
function and has whimsically been named "jake."
Fig. 1. A double-walled 1 . standard resistor of the Thomas type.
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FUNDAMENTOS DE INSTRUMENTACIN

Luis Enrique Avendao M. Sc.

UNIVERSIDAD TECNOLGICA DE PEREIRA

Control automtico de un proceso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Sensor de temperatura en un fluido. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Funcin distribucin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94

Error por radiacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137

Histresis en la respuesta de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Amplificador sumadorrestador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230

10.1 Red RLC serie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241

12.1 Filtro de Paso Bajo Butterworth. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Principios de Transduccin Fsica y Qumica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Escala simplificada de rastreabilidad . . . . . . . . . . .

Resultados de 60 mediciones de la temperatura en un ducto . . . . . . . . . .

Tabla de verdad del control de la lgica de entrada. . . . . . . . . . . . . .

Clculo de los parmetros del amplificador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235

Propiedades de la funcin de sensibilidad relativa . . . . . . . . . .

B.1 Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos

y Matlab 1 . Para ello se ha dispuesto el Laboratorio de Instrumentacin de la

son marcas registradas de National Instruments y Mathworks, respectivamente.

Medidas en sistemas fsicos

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Figura 1.1: Control automtico de un proceso.

1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS

Naturaleza de los Datos

El conocimiento de la naturaleza de los datos que se esperan de un sistema es de la mayor

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Figura 1.2: Seal con evolucin muy lenta.

Por lo general, representan la respuesta de un sistema a un cambio brusco en las variables de

Figura 1.3: Respuesta transitoria de un sistema.

Ms que la precisin de las medidas, interesa la exactitud de la correlacin temporal de

1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS

Figura 1.4: Respuesta senoidal en un sistema elctrico.

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Figura 1.5: Respuesta de un ECG.

Figura 1.6: Proceso con datos seudoaleatorios.

Informacin analgica e informacin digital

Ha sido siempre un tema controvertido la conveniencia de utilizar instrumentacin analgica o

1.3. INFORMACIN ANALGICA E INFORMACIN DIGITAL

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Aspectos Generales de los Sensores

El trmino transductor a menudo se utiliza en forma intercambiable con el trmino sensor.

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR

Trmica.v. gr., temperatura, calor, entropa, flujo de calor.

Los transductores se presentan en general en dos configuraciones fundamentales:

Transductores en lazo abierto

En la Fig. 1.7 se representa un esquema general de un transductor en configuracin de lazo

Figura 1.7: Transductor en lazo abierto.

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Efectos magnetomecnicos (efectos

Sistemas fotoelsticos (birefringencia

Efectos electrocinticos, electrostrictivos y

Almacenamiento magntico- Efecto

Efecto termomagntico (efecto

Efectos termoelctricos (termorresistencia,

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR

A continuacin de la sonda, pueden estar dispuestos determinados elementos intermedios

Figura 1.8: Circuito equivalente para un transductor incluyendo seal de interferencia.

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

que corresponde al segundo sumando de la ecuacin (1.5.1).

De esta ecuacin se extraen dos conclusiones importantes

Transductores de lazo cerrado o servotransductores

Figura 1.9: Transductor en lazo cerrado.

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR