Académique Documents
Professionnel Documents
Culture Documents
ii
Lista de Figuras
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2.8
2.9
2.10
2.11
2.12
2.13
2.14
2.15
2.16
2.17
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
Definicin de no linealidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i). . . . . . . . . . . . . .
Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
Potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Juego en engranajes. Ejemplo de histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Ejemplo de resolucin y de potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bandas de error y funcin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Funcin densidad de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Modelo general de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Calibracin de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
(a) Histresis significativa (b) Histresis no significativa. . . . . . . . . . . . . . .
Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
Error en la medida. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sistema simple de medida de la temperatura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin de un elemento no lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.18 Transductor de fuerza en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.19 Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
iii
4
6
6
7
8
8
11
13
14
21
22
23
23
24
24
25
25
26
27
28
34
36
37
37
38
39
40
42
iv
LISTA DE FIGURAS
3.1
3.2
3.3
3.4
3.5
3.6
3.7
3.8
3.9
3.10
3.11
3.12
3.13
3.14
3.15
3.16
3.17
3.18
3.19
3.20
3.21
3.22
3.23
3.24
3.25
3.26
3.27
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
4.7
4.8
4.9
46
48
49
51
52
53
55
56
58
59
59
60
63
65
65
66
68
69
70
71
72
73
74
75
75
76
85
LISTA DE FIGURAS
4.10 Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea definida con mnimos
cuadrados y = Ax + B. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.11 Lnea y = Ax + B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.12 Aproximacin de un conjunto de datos a una lnea recta. . . . . . . . . . . . . . .
4.13 Puntos de datos transformados {(Xk , Yk )}. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.14 Ajuste exponencial a y = 1. 6.e0.391202x obtenido por el mtodo de linealizacin
de los datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.15 Ajuste a una parbola usando mnimos cuadrados. . . . . . . . . . . . . . . . . .
118
119
121
123
124
126
5.1
6.1
6.2
6.3
Transductor potenciomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro angular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro trigonomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Red con potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la
rotacin del eje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales. . .
Digrama de bloques funcionales del AD5262. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital . . . .
Circuito RDAC equivalente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito de amplificacin para una termorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T > 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T < 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos . . . . . .
Circuitos para RTD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia. . . .
Circuito con termistor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
o
Respuesta de un termistor con B = 4000 y R
R1 = 1 (Lnea continua), 10 (Lnea
punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente. . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito con NTC en puente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito con NTC como regulador de tensin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Medida de caudal usando NTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta normalizada de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta corrientetensin de un PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente. . . . . . . .
Circuito con un dispositivo PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.4
6.5
6.6
6.7
6.8
6.9
6.10
6.11
6.12
6.13
6.14
6.15
6.16
6.17
6.18
6.19
6.20
6.21
6.22
6.23
6.24
6.25
6.26
6.27
139
140
142
142
143
144
146
148
151
152
154
156
158
158
159
160
161
164
167
168
169
169
170
171
172
172
173
vi
LISTA DE FIGURAS
6.28
6.29
6.30
6.31
6.32
6.33
6.34
173
175
176
176
178
178
6.37
6.38
7.1
7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
Termopar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Termopar con unin de referencia. . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas.
Efecto piezoelctrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico. . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
196
200
200
203
206
212
8.1
8.2
8.3
8.4
8.5
8.6
8.7
8.8
8.9
8.10
8.11
8.12
8.13
Manmetro de tubo en U. . . . . . . . . . . . . . .
Manmetro de tipo recipiente. . . . . . . . . . . . .
Manmetro inclinado. . . . . . . . . . . . . . . . .
Barmetro de mercurio. . . . . . . . . . . . . . . .
Tubo Bourdon. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Probador de peso muerto. . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin con galga extensiomtrica.
Transductor de presin con LVDT. . . . . . . . . .
Transductor de presin capacitivo. . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin piezoelctrico. . . . . . . .
Sensor de vaco McLeod. . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
214
215
216
217
218
219
220
220
221
222
223
223
225
9.1
9.2
9.3
6.35
6.36
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
181
182
185
186
187
LISTA DE FIGURAS
10.3 Fase de la funcin de sensibilidad de una red RLC. Lnea
Y (j). . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lnea punteada: Im SR
10.4 Red con sensibilidad de coeficientes 1 . . . . . . . . . .
10.5 Red con elemento activo y con sensibilidad > 1 . . . . . .
10.6 Filtro de tercer orden pasabajas . . . . . . . . . . . . . .
10.7 Red con un elemento parsito. . . . . . . . . . . . . . . .
10.8 Modelo de un amplificador operacional. . . . . . . . . . .
10.9 Integrador amortiguado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
vii
continua:
. . . . . .
. . . . . .
. . . . . .
. . . . . .
. . . . . .
. . . . . .
. . . . . .
arg Y (j).
. . . . . . .
. . . . . . .
. . . . . . .
. . . . . . .
. . . . . . .
. . . . . . .
. . . . . . .
243
245
246
250
252
253
254
265
267
271
273
276
279
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 294
viii
LISTA DE FIGURAS
Lista de Tablas
1.1
1.2
1.3
12
16
17
2.1
2.2
2.3
2.4
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
28
29
31
32
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
.
.
.
.
.
.
.
.
.
. .
91
92
107
113
127
127
6.1
6.2
6.3
6.4
6.5
.
.
.
.
.
153
153
153
166
186
9.1
10.1
10.2
10.3
10.4
ix
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
.
239
245
245
246
. . . . . . . . . . . . . 289
LISTA DE TABLAS
Prlogo
La aplicacin del computador a la ciencia y la tecnologa ha permitido desarrollar herramientas de software y hardware las cuales han permitido conocer directamente el comportamiento
de sistemas fsicos. Como un siguiente paso en la teora del conocimiento de los sistemas, la
experimentacin ha llegado a ser el medio ms adecuado para el estudio de su comportamiento.
En ingeniera, se requieren experimentos diseados cuidadosamente para concebir y verificar los
conceptos tericos, desarrollar nuevos mtodos y productos, construir nuevos sistemas con, cada
vez, mayor complejidad y evaluar el comportamiento y optimizacin de los sistemas existentes.
El diseo de un sistema experimental o de medicin es una actividad inherentemente interdisciplinaria. Por ejemplo, el sistema de control e instrumentacin de una planta procesadora,
requiere el concurso de ingenieros qumicos, mecnicos, elctricos y de sistemas. Similarmente,
la especificacin de la instrumentacin para medir los terremotos y la respuesta dinmica de
las estructuras (edificios, puentes, carreteras, etc.), involucra los conocimientos de ingenieros
civiles, gelogos, ingenieros electrnicos, de sistemas. Basados en estos hechos, los tpicos presentados en este texto se han seleccionado para que sean de utilidad en el diseo de proyectos
experimentales interdisciplinarios, en el rea de medicin e instrumentacin de la medida.
La primera parte del libro tiene que ver con los elementos captadores de seal (elementos
primarios o sensores), mientras que la segunda parte se dedicar al estudio y aplicacin de los
sistemas de adecuacin de la seal para ser transferida a un sistema de cmputo donde ser
procesada o simplemente visualizada.
Una parte esencial en el texto es la parte experimental; se han desarrollado diferentes prcticas de laboratorio las cuales utilizan los dispositivos estudiados en clase para ser montados en
el laboratorio y observar y analizar su comportamiento. Tambin se ha pensado en el aspecto
de la simulacin de experimentos utilizando herramientas de software en tiempo real, como
R
R
LabView
y Matlab
xi
xii
PRLOGO
Parte I
Sensrica
Captulo 1
Introduccin
La instrumentacin trata de las tcnicas, los recursos, y mtodos relacionados con la concepcin de dispositivos para mejorar o aumentar la eficacia de los mecanismos de percepcin y
comunicacin del hombre [23].
La instrumentacin comprende dos campos principales: instrumentacin de medida e instrumentacin de control. En general, en el diseo de los sistemas de medida la atencin se centra en
el tratamiento de las seales o magnitudes de entrada, mientras que en los sistemas de control se
da especial importancia al tratamiento de las seales de salida. En el primer caso son de inters
los captadores o sensores y los transductores, mientras que en el segundo los dispositivos ms
relevantes son los accionadores o actuadores.
En la Figura 1.1 se representa un diagrama esquemtico de un posible sistema de control
automtico de un proceso.
Un anlisis de dicho diagrama muestra que las magnitudes fsicas captadas se convierten en
seales elctricas por los grupos captadores C1 , C2 , , Cn y C1 , C2 , Cm , conectados a los
amplificadores correspondientes que proporcionan seales de salida de un nivel adecuado para su
tratamiento por diversos equipos adicionales. Las seales en este esquema propuesto se agrupan
en dos bloques:
1. Seales S1 , S2 , . . . , Sn que se transmiten individualmente (nmero pequeo o instrumentacin
asociada es de bajo costo).
2. Seales S1 , S2 , . . . , Sm para cuyo tratamiento se requieren equipos muy costosos o especiales, o cuyo nmero es muy elevado (como por ejemplo, la medida de temperatura en
muchos puntos mediante un termmetro digital de alta precisin; la medida del tiempo con
un reloj atmico en las centrales elctricas para conocer el instante de salida y duracin
de un fallo en una subestacin o planta remota)
En el diagrama, los bloques Acondicionamiento y Amplificadores se refieren a los elementos o dispositivos destinados a normalizar las seales de modo que todas ellas puedan
3
Acondicionamiento
Sn
S 1
S 2
S m
C2
Cn
MEM
C 1
C 2
C m
Amplificadores
Aparato
de
Medida
AGRUPAMIENTO
Y TRANSMISIN
S2
C1
UNIDAD
DE
CLCULO
Controlador Doble
Registro
Indirecto
SEPARACIN
SISTEMA FSICO
S1
obtenindose un grupo de canales de salida para registro o medida y otro grupo de canales de
accionamiento.
Los accionadores son dispositivos que realizan la funcin inversa de los captadores, es decir, transforman seales elctricas en magnitudes fsicas de accin directa sobre la instalacin,
aparato, mquina, etc., a controlar y en muchos casos constituyen verdaderos servosistemas (electromecnicos, electrohidrulicos, etc.) que, aparte de su funcin meramente conversora han de
satisfacer adicionalemente ciertos reque-rimientos relacionados con la estabilizacin automtica
de la magniud de salida o bien con la estabilidad de su propio funcionamiento.
1.2
1.2.1
Datos Estticos
Se caracterizan por una evolucin lenta sin fluctuaciones bruscas ni discontinuidades. Un ejemplo
tpico podra ser la temperatura de un determinado punto en un sistema de gran inercia trmica.
Los datos de esta naturaleza estn asociados normalmente con magnitudes de especial importancia, realizndose a partir de ellos con frecuencia, clculos y anlisis relacionados directamente
con la evaluacin del funcionamiento del sistema y su rendimiento.
Debido a la naturaleza de los datos estticos no suele ser necesario tratar individualmente
cada uno de los puntos que originan seales de un mismo tipo, siendo posible utilizar tcnicas
de muestreo con un solo equipo de medida compartido, lo cual simplifica y hace ms econmica
la instrumentacin requerida. Es frecuente, en este aspecto encontrar, por ejemplo, un slo
termmetro central para la medida de todas las temperaturas, un nico voltmetro de precisin
para la medida de todas las tensiones, etc. El muestreo suele hacerse conmutando electrnicamente las seales representativas de las variables en un nico sistema de medida y registro; la
mayora de los casos digital, para lo cual se dispone de componentes y subsistemas adecuados.
En general, los datos estticos son exigidos con gran precisin ya que suelen ser utilizados para
la evaluacin del sistema o proceso. Frecuentemente, el lmite de esta precisin est impuesto
ms por el dispositivo captador primario que por el equipo de medida.
2.5
2
1.5
y
1
0.5
10
20
30
40
50
1.2.2
Datos transitorios
1 .2
0 .8
Y (1)
A m plitud
0 .6
0 .4
0 .2
0
0
1 0
1 2
1 4
1 6
1 8
2 0
T ie m p o (s )
2.5
2
1.5
y
1
0.5
10
20
30
40
50
1.2.3
Datos dinmicos
Son de naturaleza peridica y se presentan en el funcionamiento estable y continuo de los sistemas. El registro de datos dinmicos es de especial inters en el anlisis de la respuesta en
rgimen permanente a excitacin senoidal, en el estudio de vibraciones, etc.
La mayora de las medidas efectuadas sobre datos peridicos en sistemas reales estn relacionadas con fenmenos oscilatorios en rgimen estacionario con un contenido en armnicos que
incluye frecuencias comprendidas entre varios Hz y algunas decenas de kHz, a excepcin de las
magnitudes elctricas para las cuales no puede fijarse ningn lmite concreto.
Estos datos pueden presentarse como reaccin del sistema a excitaciones senoidales aplicadas
para estudiar su respuesta en amplitud y fase, o bien se originan en diversos puntos del mismo,
como ma-nifestacin de su propio funcionamiento peridico (por ejemplo, dispositivos giratorios
en mquinas, elementos mecnicos con movimiento alternativo, etc.).
En muchos casos, interesa ms el anlisis espectral que el registro instantneo de las seales.
1.2.4
Datos aleatorios
La caracterstica ms distintiva de este tipo de datos es que sus parmetros fundamentales estn
sujetos a fluctaciones imprevisibles y su anlisis ha de efectuarse, en general, de acuerdo con
criterios estadsticos y de probabilidad. Se pueden distinguir tres categoras de datos aleatorios:
Datos que interesa registrar y analizar relacionados con magnitudes aparentemente aleatorias (por ejemplo, un electroencefalograma (EEG), un electrocardiograma (ECG), ciertos
datos meteorolgicos, etc.).
Datos aleatorios indeseables que aparecen mezclados con las seales de inters (ruidos,
interferencias, etc.).
5 0
1 0 0
1 5 0
2 0 0
2 5 0
3 0 0
3 5 0
4 0 0
0 . 1
0 . 2
0 . 3
0 . 4
0 . 5
0 . 6
0 . 7
0 . 8
0 . 9
1.3
Lo expuesto anteriormente justifica que el primer tratamiento de las seales sea casi siempre
analgico si se tiene en cuenta que frecuentemente su nivel, a la salida de los captadores, es
muy bajo y puede incluir informacin no deseada (necesidad de amplificacin, eliminacin de
ruidos e interferencias, filtrada, etc.). No obstante cuando el nivel de las seales es alto y estn
suficientemente depuradas y acondicionadas, se prefiere el tratamiento digital, incluso aunque
en muchos casos dicho tratamiento sea nicamente un proceso intermedio para una presentacin
final analgica, justificndose este hecho por una serie de razones muy claras, en las que puede
destacarse las siguientes:
Las seales analgicas transmitidas a travs de cualquier medio son interferidas en mayor
o menor grado por seales extraas, adems de distorsionarse, en cuyo caso es muy difcil,
si no imposible, recuperar la informacin original. Las seales digitales pueden, por el
contrario, regenerarse mediante tcnicas de conformado, deteccin y correccin de error,
etc.
La precisin de las medidas o registros, en el caso del tratamiento analgico, depende
esencialmente de la propia precisin o calidad de los equipos o componentes. Por el contrario, si se hace uso de tcnicas digitales, la exactitud depende nicamente del grado de
cuantificacin establecido para la codificacin de la informacin, es decir, del nmero de
bits.
Se dispone actualmente de una gran variedad de circuitos digitales tanto convencionales
como programables, de bajo costo, lo que desplaza las tendencias de diseo hacia el
tratamiento digital.
De acuerdo con estas consideraciones, podra afirmarse que un sistema de captacin y
tratamiento de datos concebido con criterios modernos incluir en general, aunque no exclusivamente:
Un conjunto de sensores, en su mayor parte analgicos, seguidos por las correspondientes
unidades de amplificacin (analgicas) y dispositivos de acondicionamiento necesarios en
cada caso.
Uno o varios convertidores de analgico a digital (A/D).
Un sistema de tratamiento digital convencional o programable (microprocesadores, microcontroladores, procesadores de seales digitales (DSP)), usualmente asociado con subsistemas de archivo de datos.
Un sistema de presentacin de datos en forma analgica (lo que requiere una segunda
conversin), pseudoanalgica (grficos mediante impresora, instrumentacin virtual, dispositivos indicadores de barras, etc.) o numrica.
Posiblemente varios canales de tratamiento totalmente analgico con presentacin de datos
en tiempo real.
10
1.4
Sensores primarios
Las magnitudes fsicas tratadas con sistemas electrnicos se deben convertir en seales elctricas,
como primer paso en el proceso de captacin. Los transductores son los dispositivos encargados
de llevar a cabo esta tranformacin. Los transductores incluyen siempre un componente o
componentes sensibles que reaccionan frente a la magnitud a medir o detectar proporcionando
una primera seal elctrica representativa de aquella, que usualmente precisa de algn tipo de
tratamiento analgico (amplificacin, adaptacin de impedancias, etc.). Estas clulas sensibles
son los denominados sensores o captadores.
Los sensores aprovechan frecuentemente las propiedades de ciertos materiales que se convierten en generadores de seal en presencia de determinadas excitaciones (termopares, cristales
piezoelctricos, etc.). En otros casos, se recurre a utilizar elementos de circuito pasivos (resistencias, condensadores, etc.) cuyos valores varan en funcin de la magnitud a convertir
y, en definitiva, los circuitos que forman parte generan seales elctricas equivalentes a dicha
magnitud.
1.4.1
11
1.5
Estructura de un transductor
1.5.1
Sonda
Elementos
Intermedios
Sensor
Preamp.
12
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
(Fluido)
Efectos
mecnicos y
acsticos
(diafragma,
balanza de
gravedad,
ecosonda)
Expansin
trmica
(cinta bimetlica, termmetros de gas
y de lquido
en capilar de
vidrio) Efecto
radiomtrico
Efectos de
friccin (calormetro
de friccin).
Efectos de
enfriamiento.
Flumetros
trmicos
Piezoelectricidad. Piezoresistividad
Efectos R, L, C
Efectos
acsticos
dielctricos
Activacin de
reaccin
disocia
cin
trmica
Calentamiento
Joule
(Resistivo)
Efecto
Peltier
Ley de Biot
Savart
Medidores
y registradores electromagnticos
Efectos electropticos
(Efecto Kerr)
Efecto
Pockels
Electroluminiscencia
Efectos magnetopticos
(efecto
Faraday)
Efectos
Cotton
Mouton
y Kerr
Efecto foto
refractivo
Biestabi
lidad
ptica
Espectroscopa
(emisin y
absorcin)
Quimiluminiscencia
Calormetro
Celda de
conductividad
trmica
Efectos termomagnticos
(Ettingshausen
Nernst). Efectos
galvanomagnticos (efecto
Hall, magnetoresistencia)
Efectos fotoelctricos (fotovoltaico, fotoconductivo, fotogalvnico
y fotodielctrico)
Potenciometra
Conductimetra
Amperometra
Polarografa
Ionizacin de fla
ma. Efecto Volta
Efecto de campo
sensible a gases
Resonancia
nuclear
magntica
Electr
lisis
Electro
migracin
Foto
sntesis
diso
ciacin
13
Transductor
+
Vn
-
+
Vs
-
Zs
Equipo de
tratamiento
+
vo ZL
-
ZL Zn vs + ZL Zs vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.1)
que demuestra que en la seal v0 de entrada al equipo de tratamiento existe una componente
debida a la seal vs de salida del transductor y otra debida a la interferencia, cuyo valor es:
14
vno =
Zs ZL
vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.2)
vno
Zs ZL
vn
=
v0
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn v0
(1.5.3)
1.5.2
Una disposicin que se utiliza en ciertos transductores de alta precisin, corresponde a la configuracin en lazo cerrado de los denominados servotransductores, cuyo esquema bsico se representa
en la Fig. 1.9.
Sonda
+
_
Sensor de
captacin
Amplificador
Elemento
Intermedio
Sensor de
lectura
15
Como puede verse en dicha figura, el sistema incluye dos sensores primarios, que aparecen
con las denominaciones de sensor de captacin y sensor de lectura. La magnitud vi de entrada
se aplica al sensor de captacin a travs de la sonda, cuya magnitud de salida es Ks vi (donde
Ks es la funcin de transferencia de la sonda), y de un sistema de acoplamiento diferencial.
La salida del sensor de captacin es amplificada y aplicada a un elemento intermedio, frecuentemente de naturaleza mecnica, de funcin de transferencia . La magnitud de salida del
elemento intermedio se resta de la salida de la sonda en el mencionado sistema de acoplamiento
diferencial y aparece adems como seal de salida del servotransductor despus de ser convertida
en seal elctrica en el sensor de lectura.
Dentro de cada bloque se indica su funcin de transferencia. La seal de salida del sistema
luego de hacer los clculos correspondientes ser:
AKs Kc Kl
vi
1 + AKc
que, para grandes valores de la amplificacin A, toma la forma aproximada
v0 =
v0
= Ks Kl vi
(1.5.4)
(1.5.5)
Por lo tanto, la seal de salida del sensor de lectura es proporcional a la magnitud de entrada.
Como puede observarse, en el caso de alta amplificacin, el lazo de realimentacin tiende a anular
la diferencia entre la salida de la sonda y el elemento intermedio.
La gran precisin de los servotransductores queda justificada teniendo en cuenta el desarrollo
anterior, por cuanto:
La medida no resulta afectada por las imperfecciones del sensor de captacin, del amplificador y del elemento intermedio.
La precisin de la seal de salida slo depende de la sonda (dispositivo tambin presente en
los transductores de lazo abierto) y del sensor de lectura, el cual funciona en condiciones
muy favorables al recibir como entrada una magnitud ya amplificada.
Las ventajas ms importantes de estos dispositivos son las siguientes:
Salida de alto nivel
Gran precisin
Correccin continua de las medidas
Alta resolucin
Entre sus desventajas, estn las siguientes:
Costo elevado
Poca robustez
Dificultades en la respuesta dinmica.
16
1.6. CLASIFICACIN
17
Tabla 1.3: Sensores indirectos
Gravimtricos
De elemento vibrante
Moduladores de frecuencia
Tensomtricos
De condensador
De reactancia variable
De inductancia
Generadores de frecuencia
Digitales
1.6
Electromagnticos
Fotoelctricos
De efecto Hall
Codificadores angulares
Codificadores lineales
Fotoelsticos
Clasificacin
18
Es de observar que muchos de los sensores indirectos utilizan realmente clulas sensibles las
cuales pertenecen al grupo de los sensores analgicos directos, variando nicamente su modo de
funcionamiento y los circuitos de los cuales forman parte.
Captulo 2
Caractersticas estticas de un
sistema de medida
2.1
Introduccin
Este captulo tiene que ver con caractersticas estticas o de estado estacionario; stas son
las relaciones que pueden ocurrir entre la salida y la entrada u de un elemento cuando u
es o bien un valor constante, o valor que cambia muy lentamente. El comportamiento del
sistema de medida est condicionado por el sensor empleado. Se plantean dos conceptos bsicos
relativos al concepto de la medida: exactitud y precisin. La exactitud est relacionada con las
caractersticas fundamentales de la estructura de la materia y est acotada por el principio de
incertidumbre. La precisin tiene que ver esencialmente con el sistema empleado para realizar
la medicin. Toda medida lleva asociado inevitablemente un error. El error del sistema es
una medida de la diferencia entre el valor del punto de consigna (set point) de la variable
controlada y el valor real de la variable que entrega la dinmica del sistema. De acuerdo con la
instrumentacin utilizada, puede estimarse la magnitud del error, adoptndose las precauciones
necesarias para reducir su valor a lmites aceptables de acuerdo con la precisin requerida. La
determinacin del error supone el conocimiento del valor exacto, considerndose en la prctica
como valores exactos los derivados de los patrones de medida disponibles. En muchos casos; sin
embargo, se toman como patrones las curvas de calibracin suministradas por los fabricantes
de los equipos de medida cuando no es necesaria una precisin extrema.
2.2
Caractersticas Sistemticas
Las caratersticas sistemticas son aquellas que pueden ser cuantificadas exactamente por medios
grficos o matemticos. Estas son distintas de las caractersticas estticas las cuales no pueden
ser cuantificadas exactamente.
1. Rango El rango de entrada de un elemento est especificado por los valores mximos y
19
20
max min
(2.2.1)
min =
(u umin )
umax umin
o sea,
ideal = ku + a
donde
k = pendiente de la recta ideal =
y
max min
umax umin
(2.2.2)
(2.2.3)
(2.2.4)
(2.2.5)
N
100%
max min
(2.2.6)
21
Un ejemplo es la variacin de temperatura como consecuencia de la variacin de la tensin termoelctrica en la unin de dos metales distintos. Para una termocupla tipo T
(cobre-constantan), los primeros cuatro trminos en el polinomio que relacionan la tensin
E(T )V y la temperatura T de la unin en C son:
E(T ) = 38.74T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T ) hasta T 8 (2.2.8)
donde O(T ) significa trminos de orden superior. Para el rango desde 0 hasta 400 C,
puesto que E = 0 mV a T = 0 C y E = 20.869 mV a T = 400 C (ver Fig. 2.2), la
ecuacin de la lnea recta ideal es:
Eideal = 52.17T
(2.2.9)
3300
R(T ) = 0.04 exp
T + 273
5. Sensibilidad. Esta es la rata de cambio de con respecto a u, es decir,
d
dN
=K+
du
du
(2.2.11)
22
(2.2.13)
23
Sesgo de Cero =
Pendiente =
Pendiente =
Sesgo de Cero =
Figura 2.3: Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
(2.2.14)
Un ejemplo de una entrada modificadora es la variacin Vs en el voltaje de alimentacin Vs del sensor de desplazamiento potenciomtrico mostrado en la Fig. 2.4.
Un ejemplo de una entrada interferente est dado por las variaciones en la temperatura de unin de referencia T2 de una termocupla.
7. Histresis. Para un valor dado de u, la salida es diferente dependiendo de si u est
aumentando o est disminuyendo. La histresis es la diferencia entre estos dos valores de
(Fig. 2.5), es decir,
(2.2.15)
H(u) = (u)u (u)u
24
fsd %
H
100%
max min
(2.2.16)
Un simple sistema de engranajes (Fig. 2.6 ) para convertir movimiento lineal en rotatorio
25
en . As, en la Fig. 2.7 la resolucin se define en trminos del valor uR del paso ms
ancho; la resolucin expresada como un porcentaje del f.s.d. es por lo tanto
Res % =
uR
100%
umax umin
(2.2.17)
x
u
1
2h
2h
h
h
26
donde k0 es la rigidez inicial y b es una constante. Otro ejemplo corresponde a las constantes a1 , a2 , etc. de una termocupla que mide la temperatura de los gases generados en
un horno de fragmentacin, las cuales cambian sistemticamente con el tiempo debido a
cambios qumicos en los metales de la termocupla.
10. Bandas de error. Los efectos de las no linealidades, la histresis y la resolucin en muchos
sensores modernos son tan pequeos que es difcil y no vale la pena cuantificar exactamente
cada efecto individual. En estos casos el fabricante define el comportamiento del elemento
en trminos de bandas de error (ver Fig. 2.8). Aqu el fabricante establece que para
cualquier valor de u, la salida estar entre h del valor ideal de la lnea recta ideal.
Aqu un enunciado exacto o sistemtico del comportamiento se reemplaza por un enunciado
estadstico en trminos de una funcin densidad de probabilidad p(). En
R x2 general, una
funcin densidad de probabilidad p(x) se define de modo que la integral x1 p(x)dx es la
p (x)
Densidad
de probabilidad
0
ideal h >
Se puede observar que el rea del rectngulo es igual a la unidad: esta es la probabilidad
de que caiga entre ideal h y ideal + h.
2.3
Si los efectos de histresis y resolucin no estn presentes en un elemento pero los efectos ambientales y no lineales s, entonces la salida de estado estacionario del elemento estar dada
27
por
= ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI
(2.3.1)
La Fig. 2.10 muestra esta ecuacin en forma de diagrama de bloques para representar las
Modificador
Interferente
Entrada
Salida
Esttico
Dinmico
2.4
2.4.1
28
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
Elemento o sistema
a ser calibrado
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
Incremento
de
precisin
Patrn Primario
Patrn de transferencia
Patrn de laboratorio
As, la precisin de la galga de presin anterior se cuantifica por la diferencia entre la lectura
de la galga, para una presin dada, y la lectura dada por el patrn de presin definido como
tal. Sin embargo, el fabricante de la galga de presin puede no tener acceso al patrn primario
para medir la precisin de sus productos. l puede medir la precisin de sus galgas relativas
a un patrn intermedio porttil o patrn de transferencia, es decir, un probador de presin de
peso muerto. La precisin del patrn de transferencia debe encontrarse por calibracin respecto
del patrn de presin primario. Esto conduce al concepto de escala de rastreabilidad la cual se
muestra en forma simplificada en la grfica siguiente.
El elemento se calibra usando los patrones del laboratorio, los cuales deben ser calibrados a s
mismos por los patrones de transferencia, y estos a su vez deben ser calibrados usando el patrn
primario. Cada elemento de la escala debe ser ms preciso que el anterior en forma significativa.
Luego de haber introducido los conceptos de patrn y rastreabilidad se puede ahora discutir
BIMP y NPL
NPL
BCS o Industria
BCS o Industria
BIPM:
NPL:
BCS:
Longitud
Radiacin laser HeNe
de longitud de onda
de 633 nm
Calibracin interferomtrica
laser de calidad de referencia
para patrn de longitud
Calibracin de galgas
y de equipos de medida
Precisin
3 en 1011
1 en 107
1 en 106
1 en 105
1 en 104
29
30
con ms detalle, distintos tipos de patrones. El sistema internacional de medida (SI) incluye
siete unidades bsicas y dos suplementarias que son compiladas y definidas en el Apndice B.
Las unidades de todas las cantidades fsicas pueden ser derivadas de estas unidades bsicas
y suplementarias. En el Reino Unido el Laboratorio Nacional de Fsica (National Physical
Laboratory N.P.L.) es el responsable de la realizacin fsica de todas las unidades bsicas y
muchas de las unidades derivadas correspondientes. El N.P.L. es por lo tanto el guardin de los
patrones primarios en ese pas. Hay patrones secundarios guardados en el Servicio de Calibracin
Britnico (B.C.S.). stos han sido calibrados con los patrones del N.P.L. y estn disponibles
para calibrar los patrones de transferencia.
En el N.P.L., el metro se defini usando la longitud de onda de la radiacin de un lser de
helio-nen estabilizado con yodo. La reproducibilidad de este patrn es de 3 partes en 1011 y la
longitud de onda de la radiacin ha sido relacionada precisamente con la definicin del metro en
trminos de la velocidad de la luz. El patrn primario se usa para calibrar interfermetros de
lser secundarios los cuales a su vez se usan para calibrar cintas, galgas y barras de precisin.
Una escala simplificada de rastreabilidad para longitud se muestra en la Tabla 2.2.
El prototipo internacinal del kilogramo est hecho en platinio-iridio y est guardado en la
Agencia Internacional de Pesos y Medidas (B.I.P.M.) en Pars. El peso de una masa m es la
fuerza mg que experimenta bajo la aceleracin de la gravedad g. As, si el valor local de la
gravedad se conoce de manera precisa, entonces un patrn de fuerza se puede derivar de los
patrones de masa. En el N.P.L., v. gr, las mquinas de peso muerto que cubren un rango de
fuerza de 450N hasta 30M N se usan para calibrar celdas de carga con galgas extensomtricas
y otros transductores de peso.
El amperio ha sido tradicionalmente la unidad bsica elctrica y ha sido efectuado en el
N.P.L. usando la balanza de corriente AyrtonJones; aqu, la fuerza entre dos espiras que llevan
corriente se equilibra con un peso conocido. La precisin de este mtodo est limitada por los
grandes pesos muertos de las bobinas y los moldes y de las muchas medidas necesarias. Por esta
razn se han escogido como unidades bsicas elctricas el faradio y el voltio (o vatio); las otras
unidades tales como el amperio, el ohmio, el henrio y el julio se derivan de estas dos unidades
basicas con unidades de tiempo o de frecuencia, usando la ley de Ohm donde sea necesario.
El faradio fue realizado usando un capacitor calculable basado en el teorema de Thompson
Lampard. Usando puentes a.c., los patrones de capacitancia y frecuencia se pueden usar para
calibrar resistores estndar. El patrn primario del voltio se basa sobre el efecto Josephson en
la superconductividad; ste se usa para calibrar patrones secundarios de voltaje, usualmente las
bateras saturadas de cadmio de Weston. El amperio tambin puede ser llevado a cabo usando
una balanza de corriente modificada. Como antes, la fuerza debida a una corriente I se equilibra
con un peso conocido mg, pero tambin se hace una medicin separada para el voltaje e inducido
en la espira cuando sta se mueve a una velocidad u. Igualando las fuerzas mecnica y elctrica
se obtiene la ecuacin
eI = mgu
(2.4.1)
Se pueden hacer medidas precisas de m, u y e usando patrones secundarios que puedan ser
rastreados de nuevo con los patrones primarios del kilogramo, el metro, el segundo y el voltio.
~17
~256.15
~20.3
~252.85
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
24.5561
54.6584
83.8058
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
505.078
629.677
933.473
1234.93
1337.33
1357.77
248.5939
218.7916
189.3442
38.8344
0.01
29.7646
156.5985
231.928
419.527
660.323
961.78
1064.18
1084.62
Nmero
1
definidos en el ITS90.
Sustancia
Estado
He
eH2
eH2
( He)
eH2
( He)
Ne
O2
Ar
Hg
H2 O
Ga
In
Sn
Zn
Al
Ag
Au
Cu
T
V
G
V
G
T
T
T
T
T
M
F
F
F
F
F
F
F
Wr (T90 )
0.00119007
0.00844974
0.09171804
0.21585975
0.84414211
1.00000000
1.11813889
1.60980185
1.89279768
2.56891730
3.37600860
4.28642053
31
32
13.8033
24.5561
54.3584
83.8058
34
16
12
25
0.25
1.9
1.5
3.3
Mercurio (T)
Agua (T)
Galio
Indio
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
5.4
7.5
2.0
4.9
7.1
0.73
1.2
3.3
Estao
Zinc
Aluminio
Plata
505.078
692.677
933.473
1234.93
3.3
4.3
7.0
6.0
2.2
2.7
1.6
5.4
Oro
Cobre
1337.33
1357.77
6.1
3.3
10.0
2.6
(2.4.2)
33
Los nmeros asignados a los puntos fijos son tales que hay exactamente 100K entre el punto
de congelamiento (273.15K) y el punto de ebullicin (373.15K) del agua. Esto significa que un
cambio de 1K es igual al cambio de 1 C en la antigua escala Celsius. La relacin exacta entre
las dos escalas es
K = T C + 273.15
Los instrumentos de interpolacin mencionados en la tabla se usan para calibrar los intrumentos patrones secundarios; v. gr., un termmetro por interpolacin de resistencia de platino
puede ser usado para calibrar un segundo termmetro de resistencia de platino.
Los patrones disponibles para las cantidades basicas, es decir, longitud, masa, tiempo, corriente y temperatura, permiten que se realizen patrones para cantidades derivadas. Esto se ilustra
en los mtodos para calibrar medidores de flujo de lquidos. El promedio de flujo real a travs
del metro se encuentra pesando la cantidad de agua recolectada en un tiempo dado, as que la
precisin con que se mide el flujo depende de la precisin de los patrones de peso y tiempo. De
manera similar los patrones de presin se pueden derivar de los de fuerza y rea (longitud).
2.5
m
X
q=0
aq uq
(u)I =
m
X
q=0
aq uq
(2.5.1)
34
Abajo
Arriba
(a)
(b)
(2.5.2)
Si, por otra parte, la dispersin de los puntos alrededor de cada curva es ms grande que la
separacin de las curvas (Fig. 2.12(b)), entonces H no es significativo y los dos conjuntos
de datos se pueden entonces combinar y as obtener un solo polinomio (u). La pendiente
k y el cruce por cero a de la lnea recta ideal unen los puntos mnimo y mximo (umin , min )
y (umax , max ) y pueden hallarse de la ecuacin (2.2.3). La funcin no lineal N (u) puede
entonces encontrarse usando (2.2.5):
N (u) = (u) (ku + a)
(2.5.3)
Los sensores de temperatura son frecuentemente calibrados usando puntos fijos apropiados
en lugar de un instrumento patrn. Por ejemplo, una termocupla puede ser calibrada
entre 0 y 500 C midiendo la fem en el hielo, el vapor y el punto zinc. Si la relacin fem
temperatura se representa por la ecuacin cbica E = a1 T + a2 T 2 + a3 T 3 , entonces los
coeficientes a1 , a2 , a3 , se pueden encontrar resolviendo tres ecuaciones simultaneas.
2. vs uM , uI con u = cte. Primero se necesita encontrar cuales entradas ambientales son
interferentes, es decir, afectan el cruce por cero a. La entrada u se mantiene constante
35
en u = umin y una entrada ambiental se cambia por una cantidad conocida, el resto se
mantiene en valores estndar. Si hay un cambio resultante en , entonces la entrada uI
est interfiriendo y el valor de los coeficientes correspondientes kI estarn dados por kI =
/uI . Si no hay cambio en , entonces la entrada no es interferente. El proceso se repite
hasta que todas las entradas interferentes sean identificadas y los valores correspondientes
de kI sean encontrados.
Se necesita ahora identificar las entradas modificadoras, es decir, las que afectan la sensibilidad del elemento. La entrada u se mantiene constante en el valor medio del rango
1
2 (umin +umax ) y cada entrada ambiental se vara a su vez por una cantidad conocida. Si un
cambio en la entrada produce un cambio en y no es una entrada interferente, entonces
esta debe ser una entrada modificadora uM y el valor del coeficiente correspondiente kM
estar dado por:
1
2
kM =
=
(2.5.4)
u uM
(umin + umax ) uM
Supngase que un cambio en la entrada produce un cambio en y sta ya ha sido
identificada como una entrada interferente con un valor conocido kI . Entonces se debe
calcular un valor no cero de kM antes de que se pueda asegurar que la entrada es tambin
modificadora. Puesto que
= kI uI,M + kM uI,M
entonces
kM
(umin +umax )
2
2
=
kI
(umin + umax ) uI,M
(2.5.5)
3. Prueba de repetibilidad. Esta prueba podr ser llevada a cabo en el ambiente de trabajo
normal del elemento, es decir, en la planta, o en un cuarto de control, donde las entradas
ambientales uM , uI estn sujetas a variaciones aleatorias experimentadas usualmente. La
seal de entrada u deber mantenerse constante en un valor medio del rango y la salida
medida sobre un perodo extendido, idealmente varios dias, obtenindose un conjunto de
valores k , k = 1, 2, . . . , N . El valor medio del conjunto se puede encontrar usando
N
X
= 1
k
N
(2.5.6)
k=1
(2.5.7)
k=1
36
40
20
0.97
0.98
0.99
1.00
1.01
1.02
1.03
Voltios
Figura 2.13: Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
2.6
La precisin es una propiedad del sistema de medida completo, ms que de un simple elemento.
La precisin se cuantifica utilizando el error de medicin , es decir:
= valor medido valor verdadero
(2.6.1)
(2.6.2)
En esta seccin se utilizar el modelo esttico de un elemento simple, para calcular la salida y adems el error de medida para un sistema completo de varios elementos. Se concluye
examinando mtodos de reduccin del error del sistema.
2.6.1
(2.6.3)
ecuacin entradasalida para un elemento ideal con sesgo cero, para i = 1, . . . , n, donde ki es la
sensibilidad lineal o pendiente (ecuacin (2.2.3)). De all se observa que 2 = k2 u2 = k2 k1 u, 3 =
k3 u3 = k3 k2 k1 u, y para el sistema completo
= n = k1 k2 k3 ki kn u
(2.6.4)
(2.6.5)
1 =
1
1
Valor
verdadero
2 =
2
2
37
Valor
medido
As, si
k1 k2 k3 kn = 1
(2.6.6)
Amplificador
Termocupla
1
Temperatura
verdadera
40 V/C
V
f. e. m.
1000 V/ V
Indicador
V
voltios
25 C / V
Temperatura
medida
38
2.6.2
El error de un sistema de medida depende de las caractersticas no ideales de cada elemento del
sistema. Usando las tcnicas de calibracin, se puede identificar cuales elementos en el sistema
tienen el comportamiento no ideal ms dominante. Se puede entonces, proyectar estrategias de
compensacin para estos elementos, las cuales producirn reducciones significativas en el error
total del sistema. Esta seccin bosqueja mtodos de compensacin para efectos no lineales y
ambientales.
Elemento no lineal
no compensado
Resistencia
Temperatura
Termistor
12
2
298
Compensacin del
elemento no lineal
348
Voltaje
1.0
1.0
12
Puente de deflexin
Total
298
348
39
+
+
E le m e n to s in c o m p e n s a r
si
E le m e n to d e
c o m p e n s a c i n
+
+
+
_
+
+
Figura 2.17: Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial.
Otro mtodo es el de la sensibilidad ambiental cero, donde el elemento es completamente
insensible a entradas ambientales, es decir, kM = ku = 0. Un ejemplo de esto es el uso de una
aleacin metlica con coeficientes de expansin por temperatura cero y la resistencia como un
elemento de galga extensomtrica. Tal material ideal es difcil de encontrar y en la prctica,
la resistencia de una galga extensomtrica metlica es afectada ligeramente por cambios en la
temperatura ambiente.
Un mtodo ms exitoso de correccin para entradas ambientales es el de entradas ambientales opuestas. Supngase que un elemento es afectado por una entrada ambiental; entonces
un segundo elemento, sujeto a la misma entrada ambiental, se introduce deliberadamente en
el sistema tal que los dos efectos tiendan a cancelarse. Este mtodo se ilustra para entradas
interferentes en la Fig. 2.17 y puede ser fcilmente extendido para entradas modificadoras.
Un ejemplo es la compensacin para variaciones en la temperatura T2 de la unin de referencia
de una termocupla. Para una termocupla de cobre-constantan, se tiene kI uI igual a 38.74T2 V
de modo que se requiere un elemento de compensacin con una salida igual a +38.74T2 V .
Un ejemplo de un sistema diferencial (Fig. 2.17(b)) es el uso de dos galgas extensomtricas
pareadas en las ramas adyacentes de un puente, para proporcionar compensacin por cambios
en la temperatura ambiente. Un galga mide una fuerza de tensin +f y la otra, una fuerza de
compresin igual f . El puente sustrae efectivamente las dos resistencias de modo que el efecto
tensor sea el doble y los efectos ambientales se cancelen totalmente.
Un mtodo importante de compensacin es el uso de realimentacin negativa de alta
40
+
Fuerza
de entrada
Fuerza de
balanceo
+
_
Fb
Elemento
sensor
Amplificador de
ganancia alta
Tensin
de salida
Elemento de
retroalimentacin
= F i Fb
VO = kkA F
(2.6.7)
Fb = kF VO
es decir
VO
= Fi kF VO
kkA
de lo cual se obtiene
kkA
(2.6.8)
1 + kF kkA
Ecuacin para la fuerza del transductor con realimentacin negativa. Si la ganacia del amplificador kA se hace grande, tal que sea satisfecha la condicin
VO =
kF kkA 1
(2.6.9)
1
Fi
kF
(2.6.10)
entonces
VO
41
Esto quiere decir que la salida del sistema depende solamente de la ganancia kF del elemento
de realimentacin y es independiente de las ganancias k y kA de la trayectoria directa. Esto
significa que, suponiendo que se cumple la condicin anterior, los cambios en k y kA debidos
a entradas modificadoras y/o efectos no lineales, tienen efectos despreciables sobre VO . Esto
puede confirmarse repitiendo el anlisis anterior reemplazado k con k + kM uM , de lo cual se
obtiene
(k + kM uM )kA
VO =
FIN
(2.6.11)
1 + kF (k + kM uM )kA
la cual otra vez se reduce a
VOUT
FIN
kF
si
kF (k + kM uM )kA 1
(2.6.12)
Ahora, por supuesto, se debe asegurar que la ganacia kF del elemento de realimentacin no
tenga cambios debidos a efectos no lineales o ambientales. Puesto que el amplificador entrega
ms de la potencia requerida, el elemento de realimentacin puede disearse para baja capacidad
de manejo de potencia, dando mayor linealidad y menor suceptibilidad a entradas ambientales.
Dos dispositivos comunmente utilizados (transmisores de corriente), los cuales emplean este
principio se discutirn ms adelante .
La rpida disminucin de costo en los circuitos digitales integrados en los aos recientes ha
significado que los microcomputadores estn siendo ahora muy usados como elementos procesadores de seal en sistemas de medida. Esto significa que ahora se pueda utilizar la tcnica
de estimacin por computador del valor medido. Para este mtodo se requiere un buen
modelo de los elementos del sistema. Anteriormente se vi que la salida de estado estacionario
de un elemento est dada en general por una ecuacin de la forma:
= ku + a + N (U ) + kM uM u + ku uI
(efecamb)
Esta es la ecuacin directa; aqu es la variable dependiente la cual est expresada en trminos
de las variables independientes u, uM , uI . Anteriormente se vi cmo la ecuacin directa puede
derivarse de un conjunto de datos obtenidos en un experimento de calibracin.
Las caractersticas de estado estacionario de un elemento tambin se pueden representar por
una ecuacin alternativa. Esta es la denominada ecuacin inversa; aqu la seal de entrada
u es la variable dependiente y la salida y las entradas ambientales uI , uM son las variables
independientes. La forma general de esta ecuacin es
0
uM + kI0 u
u = k + N() + a+ kM
(2.6.13)
donde los valores de k0 , N 0 (), a0 etc., son completamente diferentes de los de la ecuacin directa.
Por ejemplo, las ecuaciones directa e inversa para una termocupla cobreconstantan (tipo T ),
con unin de referencia a 0 C son:
Directa
E = 3.845 102 T + 4.682 105 T 2 3.789 108 T 3 + 1.652 1011 T 4 mV
Inversa
T = 22.55E 0.5973E 2 + 2.064 102 E 3 3.205 104 E 4 C
42
Valor
real
Computador
Estimador
Presentacin
de datos
Valor
medido
Estimado
Sistema sin compensacin
Desplazamiento
verdadero
mm
No lineal
No lineal
Sensor
inductivo
Oscilador
Estimador
Disparador
Schmitt
Contador
de pulsos
16 - bit
pulso/s
Desplazamiento
medido
Ecuacin
inversa del modelo
Computador
0 a 65,535
-4 2
Figura 2.19: Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso.
El uso de la ecuacin inversa en estimacin por computador del valor medido, se implementa
mejor en varias etapas. Con referencia a la Fig. 2.19, stas son:
1. Tratar el sistema no compensado como un solo elemento. Usando el procedimiento de
calibracin explicado antes (o cualquier otro mtodo de generacin de datos) los parmetros
43
(2.6.14)
donde b es cualquier error residual cero y k epecifica cualquier escala de error residual.
7. El coeficiente de correlacin
Pn
r = qP
n
i=1 i i
2
i=1 i
Pn
(2.6.15)
2
i=1 i
entre y ahora podr ser evaluado. Si la magnitud de r es mayor que 0.5, entonces hay
una correlacin razonable entre los datos de y ; esto significa que el error sistemtico
de la ecuacin
=
u
(2.6.16)
44
El sistema de medida de desplazamiento de la Fig. 2.19 muestra este mtodo. El sistema sin
compensacin consiste de un sensor de desplazamiento inductivo, un oscilador y un disparador
Schmitt. El sensor tiene una relacin no lineal entre la inductancia L y el desplazamiento x, el
oscilador tiene una relacin no lineal entre la frecuencia f y la inductancia L. Esto significa que
la ecuacin inversa del modelo, relaciona el desplazamiemto x y la frecuencia f de la seal de
salida del disparador Schmitt, y tiene la forma no lineal mostrada. El estimador consiste de un
contador de pulsos de 16 bits y un computador. El computador lee el estado del contador al
principio y al final de un intervalo de tiempo fijo y as mide la frecuencia f de la seal de pulsos.
El computador entonces calcula x de la ecuacin inversa del modelo usando los coeficientes del
modelo almacenados en la memoria.
Captulo 3
Introduccin
3.2
3.2.1
Un buen ejemplo para un elemento de primer orden puede ser un sensor de temperaura con una
seal elctrica de salida, v. gr., una termocupla o un termistor. El elemento desnudo (sin funda)
se pone en un fluido (Fig. 3.1). Inicialmente en t = 0 (justo antes de t = 0), la temperatura
del sensor es igual a la temperatura del fluido, es decir, T (0 ) = TF (0 ). Si la temperatura
del fluido es repentinamente subida en t = 0, el sensor no est ms en estado estacionario y su
comportamiento dinmico se describe por la ecuacin de balance de calor:
45
46
(3.2.1)
d
[T T (0 )]
dt
(3.2.2)
Definiendo T = T T (0 ) y TF = TF TF (0 ) como las desviaciones de las temperaturas de las condiciones iniciales en reposo, la ecuacin diferencial que describe los cambios de
temperatura del sensor es
dT
UA(TF T ) = mC
dt
es decir,
mC dT
+ T = TF
(3.2.3)
UA dt
Esta es una ecuacin diferencial lineal en la cual dT /dt y T se multiplican por coeficientes constantes; la ecuacin es de primer orden porque dT /dt es el mayor derivador
presente. La cantidad mC/U A tiene dimensiones de tiempo:
J
kg J kg 1 C 1
=s
=
W m2 C 1 m2
W
dT
+ T = TF
dt
(3.2.4)
est f (t)dt
(3.2.5)
f (s) =
0
(3.2.6)
(3.2.7)
1
T (s)
=
1
+
s
T F (s)
(3.2.8)
(3.2.9)
d
= dT
, como el
lineales, sujetos a pequeas fluctuaciones de temperatura, se puede tomar T
48
uando dE
dT a 100 C, usando la ecuacin (2.2.13), con lo cual se obtiene
E
T
se encuentra eval-
E
= 46 V C 1
T
As, si la constante de tiempo de la termocupla es = 10 s, la relacin dinmica global entre
los cambios en la fem y la temperatura del fluido es
1
E(s)
= 46
1 + 10s
T (s)
(3.2.10)
3.2.2
El sensor elstico mostrado en la Fig. 3.3 que convierte una fuerza de entrada F en un desplazamiento de salida x, es un buen ejemplo de un elemento de segundo orden. El diagrama es un
modelo conceptual de el elemento que incorpora una masa [m kg] una constante del resorte k
[N m1 ], y un regulador de constante [N sm1 ].
) = 0 y la
El sistema est inicialmente en reposo en t = 0 as que la velocidad inicial x(0
aceleracin inicial x
(0 ) = 0. La fuerza inicial de entrada F (0 ) es balanceada por la fuerza
elstica en el desplazamiento inicial x (0 ), es decir
F 0 = kx(0 )
(3.2.11)
kx
Resorte k
Masa
vx
Amortiguador
(3.2.13)
y
m
x + kx + x = F
Definiendo a F y a x como las desviaciones en F y en x de las condiciones de reposo del
estado inicial,
F
= F F (0 ),
x = x,
x = x x(0 )
x=x
(3.2.14)
m
x + x + kx = F
es decir,
1
m d2 x dx
+ x = F
+
2
k dt
k dt
k
(3.2.15)
50
Esta es una ecuacin diferencial lineal de segundo orden en la cual x y sus derivadas
se multiplican por coeficientes constantes y la mxima derivada presente es d2 x/dt2 . Si se
define
r
k
rad/s
Frecuencia natural n =
m
y
coeficiente de amortiguacin =
(3.2.16)
2 km
entonces m/k = 1/ 2n , /k = 2/ n y la ecuacin (3.2.15) se puede expresar en su forma
estndar:
1 d2 x
2 dx
1
+
+ x = F
(3.2.17)
2
2
n dt
n dt
k
Con el fin de encontrar la funcin de transferencia para el elemento, se requiere de la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.17). Usando una tabla de transformadas se tiene que
1 2
2
1
[s
x(s) sx(0 ) x(0
)] +
[s
x(s) x(0 )] +
x(s) = F (s)
2n
n
k
(3.2.18)
2
2
x(s) = n F (s)
s + 2 n s + 2n
(3.2.19)
k
As
x(s)
1
= G(s)
k
F (s)
donde 1/k = sensibilidad en estado estacionario K, y
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
(3.2.20)
La Fig 3.4 muestra un elemento elctrico anlogo, un circuito de la serie L-C-R. Las ecuacioens correspondientes a esta red estn dadas a continuacin:
V = iR +
donde
i=
as
L
o
di
q
+L
C
dt
dq
dt
1
d2 q
dq
+R + q =V
dt2
dt C
d2 q R dq
1
1
+
q= V
+
2
dt
L dt LC
L
(3.2.21)
(3.2.22)
51
>
R
+
V
3.3
(3.2.23)
C
L
(3.2.24)
Con el fin de identificar la funcin de transferencia G(s) de un elemento, se debern usar seales
de excitacin normalizadas. Las dos seales de excitacin ms comunes son el escaln y la onda
seno. En esta seccin se examina la respuesta de los elementos de primer y segundo orden ante
dichas seales.
3.3.1
K
s(1 + s)
A
B
1
fo (s) = K
=K
+
(1 + s)s
(1 + s)
s
(3.3.2)
52
1
1
(3.3.3)
fo (s) = K
=K
s (1 + s)
s (s + 1 )
Realizando la transformada inversa de Laplace de la ecuacin (3.3.3) se llega a
t
fo (t) = K u(t) exp
t
fo (t) = K 1 exp
(3.3.4)
fo(t)
53
(3.3.5)
100
80
60
40
20
2n
s2 + 2 n s + 2n
C
+
2
1 2
s
2 s + n s + 1
As + B
(3.3.6)
54
(s + 2n )
1
2
s s + 2n s + 2n
(s + 2n )
1
s (s + n )2 + 2n (1 2 )
(s + n )
n
1
2
s (s + n )2 + 2n (1 ) (s + n )2 + 2n (1 2 )
(3.3.7)
Hay tres casos a considerar dependiendo si es mayor que 1, igual a 1, o menor que 1.
Caso 1 Si = 1 Sistema con amortiguacin crtica, entonces
1
1
n
fo (s) =
s s + n (s + n )2
(3.3.8)
(3.3.9)
q
q
sin n (1 2 )t
fo (t) = 1 en t cos n (1 2 )t + q
2
(1 )
(3.3.10)
q
q
(3.3.11)
La cual representa la respuesta a un escaln por un elemento de segundo orden con sobreamortiguacin.
La forma de las respuestas normalizadas se muestran en la Fig. 3.7.
Ejemplo 3 Considrese la respuesta a un escaln de un sensor de fuerza con una rigidez de
k = 103 N m1 , masa m = 0.1kg y constante de amortiguacin = 10N sm1 .
55
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
t 8
10
12
14
Figura 3.7: Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1,
azul, > 1.
Sol. La sensibilidad en estado de reposo es
S = 1/k = 103 mN 1
la frecuencia natural
n =
y la constante de amortiguacin
p
k/m = 102 rads1
k m = 0.5
2
Inicialmente en t = 0 , una fuerza en reposo F (0 ) = 10N causa un desplazamiento en reposo
de (1/103 ) 10 metros, es decir, 10mm. Supngase que en t = 0 la fuerza se incrementa
repentinamente de 10 a 12 N, es decir, hay un cambio en escaln F de 2 N . El cambio x(t)
en el desplazamiento se encuentra usando
=
(3.3.12)
es decir,
1
2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [m]
103
= 2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [mm]
x(t) =
(3.3.13)
56
3.3.2
La transformada de Laplace de una onda senoidal est dada por f(s) = /(s2 + 2 ). As si una
onda seno de amplitud u
es la entrada a un elemento de primer orden, entonces la transformada
de Laplace de la seal de salida es
fo (s) =
1
2
1 + s s + 2
(3.3.14)
fo (s) =
=
1
s +
2 u
+
2
2
2
2
1 + 1 + s 1 + s2 + 2
u
1
cos + s sin
2 u
+
2
2
1 + 22 1 + s
s2 + 2
1+
donde
1
cos =
,
1 + 22
sin =
1 + 22
(3.3.15)
t/
2 u
u
e
+
sin(t + )
2
2
1+
1 + 2 2
(3.3.16)
0.2
0.15
0.1
0.05
0
10
15
20
25
-0.05
-0.1
Figura 3.8: Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden.
57
En un experimento de prueba con onda seno, se espera hasta que el trmino transitorio haya
decado a cero y entonces se toma la medida de la seal senoidal de estado estacionario:
u
fo (t) =
sin(t + )
1 + 22
(3.3.17)
De las ecuaciones
anteriores se puede ver que cuando = 1, es decir = 1/ , la razn de
2n
s2 + 2 n s + 2n
De aqu se tiene
G(j) =
(j)2
2n
+ 2 n (j) + 2n
tal que
Magnitud :
Diferencia de fase :
|G(j)| = s
1
1
tan
2/ n
1 2 / 2n
2
2n
1
2
2
+ 4 2 2
n
(3.3.18)
1
p
2 1 2
58
1.
.5
.1
.5
1.
5.
.1e2
< 1/ 2
(3.3.19)
As, si |G(j)| = 1, N = 0 dB; si |G(j)| = 10, N = +20 dB; y si |G(j)| = 0.1, N = 20 dB.
3.4
La Fig. 3.10 muestra un sistema de medida completo el cual consiste de n elementos. Cada
elemento i tiene un estado estable ideal y caractersticas dinmicas lineales y puede por lo
tanto, ser representado por una constante de sensibilidad de estado estable Ki y una funcin de
transferencia Gi (s).
Se comienza por asumir que la sensibilidad de estado estacionario k1 , k2 , . . . , ki , . . . kn para
el sistema completo es igual a 1, es decir, el sistema no tiene error de estado estacionario. La
funcin de transferencia G(s) es el producto de las funciones de transferencia de los elementos
individuales, es decir
(s)
= G(s) = G1 (s)G2 (s) Gi (s) Gn (s)
u(s)
(3.4.1)
Entrada:
seal real
1
1
59
Salida , es decir,
seal medida
(s) = G(s)
u(s)
(3.4.2)
Expresando
(s) en fracciones parciales, y usando tablas estndar de las transformadas de
Laplace, se puede encontrar la seal correspondiente en el tiempo (t). Expresando esto
matemticamente:
u(s)]
(3.4.3)
(t) = L1 [G(s)
donde L1 denota la transformada inversa de Laplace. El error dinmico (t) del sistema de
medida es la diferencia entre la seal medida y la seal verdadera, es decir, la diferencia entre
(t) y u(t)
(t) = (t) u(t)
(3.4.4)
Usando (3.4.3) se tiene
u(s)] u(t)
(t) = L1 [G(s)
(3.4.5)
El sistema simple de medida de temperatura de la Fig. 3.11, provee un buen ejemplo para
Temperatura real
40 x 10
1 + 10
Temperatura medida
-6
Termocupla
f. e. m.
10
1 + 10 - 4 s
Amplificador
voltios
25
2.5x 10
-5s 2 +
10 -2 s
+1
Registrador
60
Se puede ahora calcular el error dinmico del sistema para una entrada escaln de +20 C,
es decir, TT (t) = 20u(t) y TT (s) = 20 1/s. As, la transformada de Laplace de la seal de
salida es
1
1
1
1
TM (s) = 20
4
s 1 + 10s 1 + 10 s 1 + 1 s 2
200
A
B
1
Cs + D
(3.4.6)
= 20
h
i
4
TM (t) = 20 u(t) Ae0.1t + Be10 t Ee200t (1 + 200t)
y el error dinmico
(3.4.7)
donde el signo negativo indica una lectura muy baja. El trmino Be10 t decae a cero despus
de 5 104 s, y el trmino Ee200t (1 + 200t) decae a cero despus de unos 25ms. El trmino
Ae0.1t , el cual corresponde a la constante de tiempo 10s de la termocupla, toma cerca de 50s
para decaer a cero y tiene el mximo efecto sobre el error dinmico.
Entrada
Salida
(t) = u
[|G(j)| sen(t + ) sent]
(3.4.8)
donde = arg G(j). Supngase que el anterior sistema de medida de temperatura est midiendo una variacin sinusoidal de temperatura de amplitud TT = 20 C y perodo T = 6s, es
decir de frecuencia angular = 2/T 1.0 rad s1 . La respuesta frecuencial G(j) es
G(j) =
(1
(3.4.9)
61
tal que en = 1
1
|G(j)|=1 = p
0.10
8
(1 + 100)(1 + 10 )[(1 2.5 105 )2 + 104 ]
(3.4.10)
Se puede observar, para las anteriores ecuaciones, que los valores de |G(j)| y arg |G(j)| en
= 1 estn determinados principalmente por la constante de tiempo de 10s. Las caractersticas
dinmicas de los otros elementos solamente estarn afectando el funcionamiento del sistema a
an cos n1 t +
n=1
bn senn 1 t
(3.4.11)
n=1
donde
an =
bn =
ao =
2
T
2
T
1
T
+T /2
T /2
Z +T /2
T /2
Z +T /2
(3.4.12)
f (t)dt
T /2
Si f (t) = u(t), donde u(t) es la variacin de la seal de entrada medida u(t), para el estado
estacionario o valor d.c. de u0 , entonces a0 = 0. Si tambin se asume que f (t) es impar, es decir
62
f (t) = f (t), entonces an = 0 para todo n, es decir, hay solamente trminos seno presentes
en la serie. La seal de entrada del sistema est dada por
u(t) =
u
n sen n1 t
(3.4.13)
n=1
donde u
n = bn es la amplitud del nsimo armnico a la frecuencia n 1 . Con el fin de encontrar
(t), primero supngase que solamente el nsimo armnico u
n sen n1 t es la entrada para
el sistema. De la Fig. 3.12, la correspondiente seal de salida es u
n |G(jn 1 )| sen(n 1 t + n )
donde n = arg G(jn 1 ). Ahora se requiere usar el principio de superposicin, el cual es una
propiedad bsica de los sistemas lineales (es decir, sistemas descritos por ecuaciones diferenciales
lineales). Esto puede establecerse como sigue:
Si una entrada u1 (t) produce una salida 1 (t) y una entrada u2 (t) produce una salida 2 (t),
entonces una entrada u1 (t) + u2 (t) producir una salida 1 (t)+ 2 (t), siempre que el sistema
sea lineal. Esto significa que la seal total de entrada es la suma de muchas formas de onda
(ecuacin 3.4.13), entonces la seal total de salida es la suma de las respuestas a cada onda seno,
es decir
X
u
n |G(jn1 )| sen (n 1 t + n )
(3.4.14)
(t) =
n=1
n=1
u
n [|G(jn 1 )| sen (n1 t + n ) sen n 1 t]
(3.4.15)
Ejemplo 4 Supngase que la entrada al sistema de medida de temperatura es una onda cuadrada
3
5
7
La Fig. 3.13 muestra las relaciones amplitudfrecuencia y fasefrecuencia para una temperatura de entrada; stas definen el espectro de frecuencia de la seal. El espectro consiste de
un nmero de lneas a frecuencias 1 , 31 , 5 1 , etc., de longitud decreciente para representar
las pequeas amplitudes de los armnicos superiores. En casos prcticos se puede terminar o
truncar la serie en un armnico donde la amplitud es despreciable, en este caso se escogi n = 7.
Adems para encontrar la seal de salida, es decir, la forma de onda registrada, se necesita
evaluar la magnitud y el argumento de G(j) en = 1, 3, 5, 7 rads1 .
De nuevo el valor anterior est determinado principalmente por la constante de tiempo del
orden de 10s; la frecuencia alta de la seal = 7 an est bajo la frecuencia natural del contador
n = 200. La seal de salida del sistema es
80
[0.100sen(t 85 ) + 0.011sen(3t 90 )
TM (t) =
(3.4.17)
(3.4.18)
+0.004sen(5t 92 ) + 0.002sen(7t 93 )]
Amplitud
80
63
25.5
+20
0
0
Fase
-1
Espectro de frecuencia de
la temperatura de entrada
-20
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de entrada
0.1
Relacin de
amplitud
Caractersticas de la respuesta
de la frecuencia en los
sistemas de medida
0.01
-80
arg
Diferencia
de fase
-90
-100
2.6
+2
0
-2
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de salida
(registrada)
0
-80
-90
Espectro de frecuencia de
la temperatura de salida (registrada)
-100
Figura 3.13: Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica.
Ntese que en la seal de salida, las amplitudes del 3 , 5 y 7 armnico han sido relativamente
reducidas a la amplitud de la frecuencia fundamental. El contador de forma de onda tiene por lo
tanto una forma diferente de la seal de entrada as como tambin ha sido reducida en amplitud
y cambiada en fase.
Las ideas anteriores pueden ser extendidas para calcular el error dinmico para seales de
entrada aleatorias. Las seales aleatorias puede ser representadas por espectros continuos de
frecuencia.
64
3.5
De la ecuacin (3.4.15) se nota que adems para tener E(t) = 0 para una seal peridica, se
deben obedecer las siguientes condiciones:
|G(j1 )| = |G(j2 1 )| = = |G(jn1 )| = = |G(jm1 )| = 1
(3.5.1)
(3.5.2)
Las condiciones anteriores representan un ideal terico el cual ser dficil de realizar en la prctica. En un criterio ms prctico se limita la variacin en |G(j)| a un pequeo porcentaje de
las frecuencias presentes de la seal. Por ejemplo, la condicin:
0.98 < |G(j)| < 1.02
para
0 < 6 MAX
(3.5.3)
asegura que el error dinmico est limitado a 2 por ciento para una seal que contenga
MAX
Hz.
frecuencias mayores a
2
Otro criterio comunmente usado es el del ancho de banda. El ancho de banda
de un
elemento o sistema es el rango de frecuencias para las cuales |G(j)| es mayor que 1/ 2. Puesto
que, sin embargo, hay un 30 % de reduccin en |G(j)| en B ,el ancho de banda no es un criterio
particularmente usado para sistemas completos de medida.
El ancho de banda se usa comunmente en la determinacin de
la respuesta en frecuencia de
los amplificadores; una reduccin
en |G(j)| desde 1 hasta 1/ 2 es equivalente a un cambio
en decibeles de N = 20 log(1/ 2) = 3.0dB. Un elemento de primer orden tiene un ancho de
1
banda entre 0 y rad s1 .
Si en un sistema no se pueden encontrar los lmites especificados del error dinmico (t); es
decir, la funcin de transferencia del sistema G(s) no satisface una condicin tal como (3.5.3),
entonces el primer paso es identificar cuales elementos en el sistema dominan el comportamiento
dinmico. En el sistema de medida de temperatura de la seccin anterior, el error dinmico se
debe casi totalmente a la constante de tiempo 10s de la termocupla.
Teniendo identificados los elementos dominantes del sistema, el mtodo ms obvio de mejoramiento de la respuesta dinmica es el de diseo intrnseco. En el caso del sensor de temperatura de primer orden con = mC/UA, puede hacerse mnimo, minimizando la razn
masa/rea m/A por ejemplo, usando un termistor en la forma de lmina
p delgada.
En el caso de de un sensor de fuerza de segundo orden con n = k/m, n puede hacerse
mxima maximizando k/m, es decir, usando alta rigidez k y baja masa m. Sin embargo, al
incrementar k, se reduce la sensibilidad de estado estacionario K = 1/k. De la respuesta al
escaln en los sistemas de segundo orden y la grfica de la respuesta en frecuencia se ve que el
65
1.
.1
.1e-1
.5
1.
5.
.1e2
Elemento
no compensado
1
1+
Termocupla
Elemento
de compensacin
1 + 1
1 + 2
Circuito
de adelanto y atraso
1
1 + 2
66
Imn
Bobina
Cpsula
Fuerza de Fuerza no
Inercia balanceada
Masa
Ssmica
Fuerza
Electro magntica
Sensor de
fuerza elstica
Sensor de
desplazamiento
potenciomtrico
Resistor
normalizado
Bobina
e imn
=
(3.5.4)
.
2
k
1
k
k
a(s)
KF
2
s+ 1+
as +
KA KD KF n
n KA KD KF
KA KD KF
Si KA se hace suficientemente grande para que KA KD KF /k 1, entonces la funcin de transferencia del sistema puede ser expresada en la forma
V (s)
Ks 2ns
= 2
a(s)
s + 2 s ns s + 2ns
mR
KF
KA KD KF
k
k
KA KD KF
Se ve que la frecuencia natural del sistema ns es ahora mucho mayor que la del elemento elstico
de fuerza. La razn de amortiguamiento del sistema s es mucho menor que , pero haciendo
grande puede obtenerse.un valor de s 0.7. Adems la sensibilidad de estado estacionario del
sistema depende solamente de m, KF y R la cual puede ser constante en un alto grado.
3.6
Aunque el anlisis terico de los instrumentos es vital para revelar las relaciones bsicas involucradas en la operacin de un dispositivo, rara vez es suficientemente preciso para proporcionar
valores numricos tiles a parmetros crticos tales como sensibilidad, constante de tiempo, frecuencia natural, etc. Ya se ha discutido la calibracin esttica; aqu se tratarn los mtodos
para determinar experimentalmente las caractersticas dinmicas [11].
Para instrumentos de orden cero, la respuesta es instantnea de modo que no existen caractersticas dinmicas. El nico parmetro a ser determinado es la sensibilidad esttica K, la cual
se encuentra por calibracin esttica.
Para instrumentos de primer orden, la sensibilidad esttica K tambin se encuentra por
calibracin esttica. Hay solamente un parmetro correspondiente a la respuesta dinmica, la
constante de tiempo y sta puede encontrarse por varios mtodos. Un mtodo comn es aplicar
una entrada escaln y medir como el tiempo requerido para llegar al 63.2% del valor final.
Este mtodo est influido por imprecisiones en la determinacin del punto t = 0 y tampoco da
una prueba de si realmente el instrumento es de primer orden. Existe un mtodo mejorado el
cual usa los datos de prueba de una funcin escaln redibujados en forma semilogartmica a fin
de obtener un mejor estimativo de y chequear en conformidad una respuesta verdadera de
primer orden. Este mtodo se plantea como sigue. De la ecuacin (3.3.4) se puede escribir
t
= 1 e
K
(3.6.1)
68
1
0.8
0.6
0.4
0.2
10
y entonces
= e
K
=
, ln 1
K
(3.6.2)
(3.6.3)
d
1
=
(3.6.4)
dt
10
0
-2
-4
-6
-8
-10
+1
ln(a/A)
2
p
n =
(3.6.6)
T 1 2
Cuando un sistema est ligeramente amortiguado, cualquier entrada transitoria rpida producir
una respuesta similar a la de la Fig. 3.20(b). Entonces se puede aproximar a
ln(x1 /xn )
2n
(3.6.7)
p
Esta aproximacin supone que 1 2 1.0, la cual es muy precisa cuando < 0.1, y de nuevo
n .puede encontrarse de la ecuacin (3.6.6). Si al aplicar la ecuacin (3.6.6), se presentan muchos
ciclos de oscilacin en el registro, es ms preciso determinar el perodo T como el promedio de
tantos ciclos distintos como sean posibles, en lugar de uno solo. Si un sistema es estrictamente
lineal y de segundo orden, el valor de n en la ecuacin (3.6.7) carece de importancia: el mismo
valor de se encontrar para cualquier nmero de ciclos. As, si se calcula para n = 1, 2, 4 y
6 y se obtienen diferentes valores numricos de , se entiende que el sistema no est siguiendo
el modelo matemtico postulado.
70
0
b = 1
log
-20 dB / dcada
0
-45
-90
2
1
et/ 2 +
et/ 1
2 1
2 1
(3.6.8)
donde
1 ,
2 ,
p
2 1 n
1
p
+ 2 1 n
(3.6.9)
(3.6.10)
Para encontrar 1 y 2 de la curva de respuesta a una funcin escaln se puede proceder como
sigue [2]:
1. Definir el porcentaje de respuesta incompleta Rpi como
Rpi , 1
100
K
Tiempo
Tiempo
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
ciclos
1
(b)
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
(a)
(3.6.11)
72
150
P1
100
80
70
0.368
60
50
40
0.368 [
- 100]
20
10
5
0
0
73
1.
.1
.5
1.
5.
.1e2
3.7
v. gr., 0.2 C. En esta seccin se discuten las dos formas de carga, primero examinando los
principios de la carga elctrica y luego extendiendo estos principios a los efectos de la carga en
general.
3.7.1
Carga elctrica
Se ha representado hasta ahora los sistemas de medida como bloques conectados por lneas
simples donde la transferencia de informacin y energa est en trminos de una sola variable.
As, en el sistema de medida de temperatura Fig. 2.15 la transferencia de informacin entre
los elementos est en trminos nicamente del voltaje. Por lo tanto, no se puede identificar
la corriente drenada en el amplificador generada por la termocupla, ni la corriente drenada en
el indicador generada por el amplificador. Con el fin de describir el comportamiento tanto del
voltaje como de la corriente en la conexin de dos elementos se necesita representar cada elemento
74
por un circuito equivalente caracterizado por dos terminales. La conexin est representada
entonces por dos lneas.
3.7.2
El teorema Thvenin establece que cualquier red que consista de impedancias lineales y fuentes
de tensin puede reemplazarse por un circuito equivalente que consiste de una fuente de tensin
VT h y una impedancia en serie ZT h (Fig. 3.23). La fuente VT h es igual a la tensin de circuito
>
i
Red lineal
+
-
ZL
V
Th
+
VL
Z Th
ZL
1
VT h
1 + ZZTLh
(3.7.2)
75
Zo
>
vi
Zi
A vi
2 106
2 106 + 20
Vn = 1000VI
104
75 + 104
(3.7.3)
2 106
2 106 + 20
104
104 + 75
T = 0.9925T
(3.7.4)
>
40T V
Temperatura
verdadera
Termocupla
>
75
vi
2M
+
-
1000 vi
Amplificador
10k
TM =25VL
Temperatura
medida
Indicador
76
1
59 pH/mV.
104
104 + 109
La medida de pH es
1
105 pH
59
(3.7.5)
es decir, aqu estar efectivamente un indicador cero para cualquier valor no cero. As el probelma
es resuelto conectando el elctrodo a un indicador por medio de amplificador buer. Est est
caracterizado por ZIN grande, ZOUT pequeo y una ganancia unitaria A = 1. Por ejemplo,
un amplificador operacional con una etapa de entrada con FET conectado con un seguidor de
voltaje, tendr una ZIN = 1012 , ZOU T = 10. El indicador del valor pH para el sistema
modificado (Fig:(zz)) es
1012
104
pH
pHM = 12
10 + 109 104 + 10
y el error por carga es ahora 0.002pH, es cual es negativo.
L th
R th
V
th
1H
1.5k
+
Vp sen t
-
Tacogenerador de
reluctancia variable
RL
10k
Registrador
RL
10
= 5p
= 3.85V
|ZT h + RL |
[(11.5)2 + (6.0)2 ]
(3.7.6)
Si la escala de sensibilidad del registrador alcanza el valor de 1/(5 103 )rad s1 , la velocidad angular registrada es 770rad s1 . Este error puede eliminarse bien sea incrementando la
77
impedancia del registrador o cambiando su sensibilidad para evitar los efectos de la carga. Una
mejor alternativa es reemplazar el registrador por un contador que mida la frecuencia en lugar
de la amplitud de la seal del tacogenerador.
3.7.3
dando
ET h = Vs x
(3.7.7)
La impedancia Thvenin ZT h se encuentra escogiendo una fuente de voltaje Vs = 0, reemplazando la fuente por sus impedancia interna (se asume cero), y calculando la impedancia vista
desde los terminales AB como se muestra en la Fig.(zz). Asi
1
1
1
+
=
RT h
Rp x Rp (1 x)
dando
RT h = Rp x(1 x)
(3.7.8)
As el efecto de conectar una carga resistiva RL (el registrador o el indicador) a travs de los
terminales AB es equivalente a conectar RL a travs del circuito Thvenin.El voltaje de carga
es
RL
RL
VL = ET h
= Vs x
RT h + RL
Rp x(1 x) + RL
es decir
VL = Vs x
1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
(3.7.9)
1
N (x) = ET h VL = Vs x 1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
es decir
N (x) = Vs
x2 (1 x)(Rp /RL )
1 + (Rp /RL )x(1 x)
(3.7.10)
78
el cual se reduce a N (x) Vs (Rp /RL )(x2 x3 ) si Rp /RL 1 (situacin normal). N (x) tiene
= 4 Vs (Rp /RL ) cuando x = 2 , corresponde a dN/dx = 0 y un valor
un valor mximo de N
27
3
como un porcentaje de la escala full de deflexin o giro Vs
negativo d2 N/dx2 . Expresando N
voltios da:
= 400 Rp % 15 Rp %
(3.7.11)
N
27 RL
RL
Los requerimiento de no linelidad de la sensibilidad y la mxima potencia son usados para
especificar los valores de Rp y Vs para una aplicacin dada. Supngase que un potencimetro de
rango 10cm est conectado a un registrador de 10. Si la mxima no linealidad no debe exceder
3
el 2%, entonces se requiere 15Rp /RL 6 2, es decir Rp 6 20
15 10 ; as un potencimetro de
1K podr ser adecuado. Como la sensibilidad es dVL /dx Vs , la sensibilidad mas grande que
Vs
3.7.4
EL teorema Norton establece que cualquier red que contenga impedancias lineales y fuentes de
voltaje puede ser reemplazado por un circuito equivalente consistente de una fuente de corriente
iN en paralelo con una impedancia ZN (Fig.zz). ZN es la impedancia vista desde los terminales
de salida con todas las fuentes de voltaje reducidas a cero y reemplazadas por su impedancia
interna, y iN es la corriente que fluye cuando los terminales estn corto circuitados. Conectando
una carga ZL a travs de los terminales de la red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito
Norton. El voltaje VL a travs de la carga est dado por VL = IN Z, donde 1/Z = 1/ZN + 1/ZL ,
dando
ZN ZL
(3.7.12)
VL = iN
ZN + ZL
De (3.7.12) se nota que si ZL ZN , entonces VL iN ZL ; es decir, que adems para desarrollar
la mxima corriente a travs de la carga, la impedacnia de carga deber ser ms pequea que la
impedancia Norton para la red.
Un ejemplo comn de una fuente de corriente es un transmisor de presin diferencial electrnico que entrega una seal de corriente a la salida, en un rango de 4 a 20mA, proporcional a
la presin diferencial de entrada, de rangos tpicos de 0 a 2 104 P a. La (Fig.zz) muestra un
circuito equivalente tpico para el transmisor conectado a un registrador por medio de un cable.
Usando (3.7.12), a travs de la carga total RC + RR del registrador y el cable es
VL = iN
RN (Rc + RR )
RN + RC + RR
(3.7.13)
RN
RN + RC + RR
(3.7.14)
Usando los datos dados, se tiene que VR = 0.9995iN RR tal que el voltage del registrador diverja
del rango deseado de 1 a 5V solamente el 0.05 por ciento.
79
= CN s + CC s +
Z =
1
RL
RL
1 + RL (CN + CC )s
donde s denota el operador de Laplace. La funcin de transferencia que relaciona los cambios
dinmicos de la corriente de la fuente y el voltaje de la grabadora es as
RL
VL (s)
=
N (s)
1 + RL (CN + CC )s
(3.7.15)
As, el efecto de la carga elctrica en este ejemplo es para introducir una funcin de transferencia en un sistema de medicin de fuerza; esto afectar la exactitud dinmica.
3.7.5
Carga Generalizada
Se ha visto en la seccin previa como los efectos de la carga elctrica pueden ser descritos
usando un par de variables, el voltaje y la corriente. El voltaje es un ejemplo de una variable
a travs de o esfuerzo y, corriente es un ejemplo de variable de traspaso o flujo x.
Una
variable de esfuerzo conduce a una de flujo a travs de una impedancia. Otros ejemplos de
pares esfuerzo-flujo son fuerza-velocidad, torque-velocidad angular, diferencia de presin-flujo
de volumen, diferencia de temperatura-flujo de calor. Cada par y x tiene la propiedad de
que el producto y x representa potencia en vatios (excepto por las variables de temperatura, que
tienen dimensiones de vatiostemperatura). La tabla 5.1. (adaptada de [2] ) enlista los pares de
esfuerzo-flujo de diferentes formas de energa y cada par define las cantidades relacionadas de
impendancia, rigidez, flexibilidad e inertancia. As se ve que los conceptos de impedancia estn
aplicados a mecnica, fludica y sistemas trmicos tambin como electricos. Para un sistema
mecnico la masa es anloga a la inductancia elctrica, la constante de amortigamiento es
anloga a la resitencia elctrica, y 1/rigidez es anlogo a la capacitancia elctrica. Para un
sistema trmico la resistencia trmica es anloga a la resistencia elctrica, la capacitancia trmica
es anloga a la capacitancia elctrica. Esto significa, que pueden generalizarse los circuitos
elctricos equivalentes de Thvenin y de Norton a sistemas no elctricos. Se pueden entonces
80
estudiar ejemplos de como un elemento sensor primario puede cargar el proceso o el sistema a
ser medido.
La Fig.(zz) muestra un sistema mecnico o proceso representado por una masa, un resorte
y un amortiguador. La fuerza F aplicada a el proceso est siendo medida por un sensor de
fuerza, que consiste de un elemento elstico en unin con un sensor de desplazamiento potencimetrico. El sensor elstico de fuerza puede tambin representarse por una masa, un resorte
y un amortigador. Bajo condiciones de estado estacionario cuando la velocidad sea x = 0 y la
acaleracin sea x
= 0, se tienen las siguientes ecuaciones de balance de fuerzas:
= kp x + Fs
proceso
sensor
Fs = ks x
(3.7.16)
Ks
1
F =
F
ks + kp
1 + kp /ks
(3.7.17)
Adems se ve que para minimizar el error de carga en el estado estacionario el sensor de rigidez
ks podr ser mucho ms grande que la rigidez procesada kp .
Bajo condiciones de inestabilidad cuando x no sea cero, la segunda ley de Newton da las
siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
F kp x p x Fs = mp x
rFs ks x s x = ms x
(3.7.18)
es decir
Z
dx
mp
+ p x + kp xdt
= F Fs
dt
Z
dx
+ s x + ks xdt
ms
= Fs
dt
(3.7.19)
Utilizando las analogias dadas al principio, el sensor puede representarse por Fs conduciendo x
a travs del circuito mecnico L, C, R ,ms , 1/ks , s ; y el proceso puede representarse por F Fs
conduciendo x a travs del circuito mecnico L, C, R ,mp , 1/kp , p . Si x, F y Fs se derivan
de las condiciones estacionarias iniciales, entonces la transformada de Laplace de las ecuaciones
(3.7.19) son:
kp ___
x = F Fs
mp s + p +
s
ks ___
ms s + s +
x = Fs
s
(3.7.20)
81
Usando la tabla
() se puede definir la funcin de transferencia de la impedancia mecnica por
___
ZM (s) = F / x (s), tal que
impedancia del proceso
kp
s
ks
(s) = ms s + s +
s
ZMP (s) = mp s + p +
(3.7.21)
(3.7.22)
De (3.7.20) y (3.7.22) la relacin entre los cambios dinmicos entre la fuerza medida y la real es
Fs (s) =
ZMS
F (s)
ZMS + ZMP
(3.7.23)
Adems para minimizar los efectos de la carga dinmica, la impedancia del sensor ZMS puede ser
mucho ms grande que la impedacnia del proceso ZMP . La Fig.() muestra el circuito equivalente
para el sistema: proceso , sensor de fuerza y el registrador. Se ve que el circuito equivalente
completo para el sensor de fuerza es una red de cuatro terminales o de dos puertos. Esto
es similar al circuito equivalente para un amplificador electronico (Fig.zz) excepto que aqu el
puerto de entrada involucra transferencia de energa mecnica.
La Fig.(zz) muestra un cuerpo caliente, es decir, un proceso trmico cuya temperatura Tp
est siendo medida por un sensor termocupla. Bajo condiciones de inestabilidad, las consideraciones de razn de flujo de calor son dadas por las siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
dTp
dt
dTs
Ms Cs
dt
Mp Cp
= Wp Ws ,
= Ws ,
Wp = Up Ap (TF Tp )
Ws = Us As (Tp Ts )
(3.7.24)
donde
M masa
C calor especfico
U coeficiente de transferencia de calor
A rea de transferencia de calor
Las cantidades Mp Cp , Ms Cs tiene las dimensiones de calor/temperatura y son anlogas a
la capacitancia elctrica. Las cantidades Up Ap , Us As tiene las dimensiones de razn de flujo
de calor/temperatura y son anlogas a 1/(resistencia elctrica). El circuito equivalente para
el proceso y la termocupla est mostrado en la Fig. (zz). Se ve que la relacin entre TF y Tp
depende de un divisor de potencia 1/Up Ap ,Mp Cp y la relacin entre Tp y Ts dependen del divisor
de potencia 1/(Us As ), Ms Cs . De nuevo la termocupla puede representarse por una red de dos
puertos con un puerto de entrada trmico y un puerto de salida elctrico.
En conclusin se nota que la representacin de los elementos de un sistema de medida por
redes de dos puertos permite que los efectos de la carga del proceso y entre los elementos
sea cuantificados.
82
3.7.6
1
ui1u
Zgo /Zgi + 1
1
ui1u
Ygo /Ygi + 1
1
ui1u
Sgo /Sgi + 1
1
qi1u
Cgo /Cgi + 1
(3.7.25)
(3.7.26)
(3.7.27)
(3.7.28)
Las cantidades Z, Y, S y C fueron previamente consideradas por ser la razn de pequeos cambios
en dos variables sistemas de afines bajo condiciones establecidas. Para generalizar esos conceptos,
ahora se definen las cantidades Z, Y, S, y C como funciones de transferencia relacionando las
mismas dos variables bajo las mismas condiciones excepto que ahora se considera la operacin
dinmica. Es decir, se debe obtener (tericamente o experimentalmente) Z(s), Y (s), S(s), y
C(s) si se desea usar el mtodo operacional de funcin de transferencia y Z(i), Y (i), S(i),
y C(i) si se desea usar el mtodo de respuesta en frecuencia.
Si esas cantidades deben ser encontradas experimentalmente usualmente la forma de respuesta en frecuencia es en su mayor parte usada. Esto significa, entonces que en la bsqueda,
se supone, Z(i),una de las dos variables involucradas en la definicin de Z juega el papel de
una entrada cantidad la cual se varia sinusoidalmente en diferentes frecuencias. Esto causa un
cambiosinusoidal en la otra variable (salida), y asi se puede hablar de una razn de amplitud y
ngulo de fase entre esas dos cantidades, haciendo ahora Z(i) un nmero complejo que varia
con la frecuencia. (Si el sistema es un poco no lineal, la aproximacin efectiva Z llega a ser
una funcin tambin de amplitud de entrada). En la ecuacin (3.7.25) por ejemplo, Zgo y Zgi
podrn ahora ser nmeros complejos; si esas son conocidas, se puede calcular la amplitud y fase
de qi1m si la amplitud, fase, y frecuencia de una sinusoidal qi1m son dadas. La cantidad qi1m
entonces podr ser la entrada actual (qi ) pra el dispositivo de medida, y se puede calcular qo
si la funcin de transferencia (qo /qi )(i) se conocen. Es decir
o
1
(i) Qi1u (i)
(3.7.29)
Qo (i) =
Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui
As se puede definir una funcin de transferencia cargada (o /ui1u )(i) como
o
(o )
1
(i) ,
(i)
ui1u
Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui
(3.7.30)
83
donde o , salida real del dispositivo de medida que no tiene carga en sus salidas
ui , valor de la variable medida que puede existir si el dispositivo de medida no produce
cargabilidad sobre el medio medido.
Las ecuaciones (3.7.26), (3.7.27) y (3.7.28) pueden ser modificadas en forma similar. Tambin, si las ecuaciones diferenciales que relacionan o (t) se necesitan, se puede escribir
(o )
o
1
(s) =
(s)
ui1u
Zgo s)/Zgi (s) + 1 ui
(3.7.31)
y entonces se obtine la ecuacin diferencial en la forma usual por medio del producto cruz
[Zgo (s)+Zgi (s)] an sn + an1 sn1 + + a1 s + a0 o = [Zgi (s)] bm sm + bm1 sm1 + + b1 s + b0 ui1u
(3.7.32)
Un ejemplo de los mtodos anteriores puede ser til. Considrese un dispositivo para medir la
velocidad translacional, como se muestra en la Fig.(). La funcin de transferencia sin carga que
relaciona el desplazamiento de salida x0 y la velocidad (medida) de entrada vi es obtenida como
sigue:
o
Bi (x i x 0 ) Kis xo = Mi x
xo
Ki
(s) = 2 2
vi
s / ni + 2 i s/ni + 1
(3.7.33)
(3.7.34)
donde
Ki , sensibilidad esttica del instrumento ,
Bi
Kis
m/(m/s)
(3.7.35)
Bi
i , relacin de amortiguacin del instrumento ,
2 Kis Mi
(3.7.36)
Kis
Mi
rad/s
(3.7.37)
(3.7.38)
f = Bi (v x o )
(3.7.39)
Tambin
84
y, eliminado xo , se obtiene
(1/Bi ) s2 / 2ni + 2 i s/ ni + 1
v
Ygi (D) = (s) =
f
s2 / 2ni + 1
(3.7.40)
f B x Ks x = M x
(1/Ks ) s
v
(s) = 2 2
Ygo (s) =
f
s / n + 2s/ n + 1
(3.7.41)
(3.7.42)
xo
1
(s)
Ygo (s)/Ygi (s) + 1 vi
(3.7.43)
Ki
1
xo
(3.7.44)
(s) =
vi1u
s2 / 2ni + 2 i s/ni + 1
s2 / 2ni + 1
(1/Ks ) s
+
1
2 2
3.8
85
Figura 3.27:
de muestreoT = To /N deben satisfacer el teorema de muestreo de Nyquist. Ahora se
puede usar ese muestreo para para calcular las cantidades estticas de la seccin observada
de la seal. Esas cantidades estticas observadas proporcionan una estimacin buena del
comportamiento futuro de la seal, una vez la observacin peridica es completada, con
tal que:
a. To sea suficientemente extenso, es decir N es suficientemente grande.
b. la seal sea estacionaria, es decir, las cantidades estticas de los trminos grandes no
cambian con el tiempo.
3.8.1
86
ET h + VSM
ZT h + Rc + ZL
ZL
(ET h + VSM )
ZT h + Rc + ZL
(3.8.1)
(3.8.2)
Esto significa que en un sistema de transmisin de voltaje todo el VSM est a travs de la carga,
esto afecta el siguiente elemento en el sistema y posiblemente resulte un error en el sistema de
medida. Se define la relacin de seal a ruido o seal a interferencia S/N decibeles por
ET h
Ws
S
= 20 log10
= 10 log!0
dB
(3.8.3)
N
VSM
WN
donde ET h y VSM los valores rms de los voltajes, Ws y WN son las correspondientes potencias
de la seal total y del ruido. As si ET h = 1 V, VSM = 0.1 V , S/N = +20 dB.
La Fig.() muestra un sistema de transmisin de corriente sujeto a las mismas series de modo
de interferecnia de voltaje VSM . La fuente de corriente Norton iN se divide en dos partes, una
parte a travs de la impedancia de la fuente ZN , la otra parte a travs de ZL . Usando la regla
del divisor de corriente, la corriente a travs de la carga debido a la fuente es
i=
ZN
ZN + Rc + ZL
VSM
ZN + Rc + ZL
(3.8.4)
(3.8.5)
ZL
VSM
ZN
(3.8.6)
87
Puesto que ZL /ZN 1, esto significa que con un sistema de transmisin de corriente solamente
una pequea fraccin de VSM est a travs de la carga. As un sistema de transmisin de
corriente tiene una mayor inmunidad inherente a las series de modos de interferencia que un
sistema de transmisin de voltaje. En una termocupla el sistema de medida de temperatura,
por esta razn, puede ser mejor convertir los milivoltios de la fem de la temocupla en una seal
de corriente precedente a la transmisin, ms bien que transmitir la fem directamente.
La Fig.(c) muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a modo comn de interferencia en el cual los potenciales de ambos lados de la seal del circuito son creados por VCM
relativo al plano comn a tierra. Si como, ZL Rc + ZT h , la corriente i 0 para que el
potencial caga a iRc /2 etc. puede ser despreciado. Bajo estas condiciones:
Potencial en B = VCM
Potencial en A = VCM + ET h
y VL = VB VA = ET h .
Esto significa que el voltaje a travs de la carga no est afectado por VCM ; All hay, sin
embargo, la posibilidad de conversin de un voltaje en modo comn a modo serie.
3.8.2
(3.8.7)
W =
f1
VRMS = W = 4Rk(f2 f1 )
(3.8.8)
(3.8.9)
88
Captulo 4
Introduccin
4.2
Conceptos Generales
90
4.2.1
El parmetro ms comn usado para describir la tendencia central es la media, la cual se define
por:
n
. x1 + x2 + + xn X xi
x
=
=
n
n
(4.2.1)
i=1
donde los xi son los valores de los datos de la muestra y n es el nmero de mediciones. Para
una poblacin con un nmero finito de elementos, N, con valores xi , la media se denota con el
smbolo y est dada por:
N
. x1 + x2 + + xn X xi
=
=
N
N
(4.2.2)
i=1
Los otros dos parmetros que describen la tendencia central son la mediana y la moda. Si
las mediciones se ordenan en orden creciente o decreciente la mediana es el valor del centro
del conjunto. Si el conjunto tiene un nmero par de elementos, la mediana es el promedio
de los dos valores centrales. La moda es el valor de la variable que corresponde al valor pico
de la probabilidad de ocurrencia del evento. En un espacio muestral discreto, la moda puede
identificarse fcilmente como el valor de ms frecuente ocurrencia. En un espacio muestral
continuo, la moda se toma como el punto medio del intervalo de datos con la frecuencia ms
alta. Para algunas distribuciones (v. gr., distribucin uniforme), puede no existir la moda,
mientras que para otras distribuciones (v. gr., distribucin bimodal) puede haber ms de una
frecuencia pico y ms de una moda. Para una que tenga ms de una moda, las frecuencias
de ocurrencia de cada moda no requieren ser las mismas. Aunque es comn para la media,
la mediana y la moda tener valores muy cercanos, en algunas hojas de datos pueden aparecer
valores significativamente diferentes.
4.2.2
Medidas de Dispersin
Dispersin es la separacin o variabilidad de los datos. Las siguientes cantidades son las ms
utilizadas para representar la magnitud de la dispersin de variables aleatorias alrededor de su
valor medio:
91
di = xi x
La desviacin media se define como
(4.2.3)
. X |di |
d =
n
(4.2.4)
i=1
La desviacin estndar de la poblacin, para una poblacin con un nmero finito de elementos, se define como
v
uN
X (xi x
)2
. u
=t
(4.2.5)
N
i=1
(4.2.6)
i=1
La desviacin estndar muestral se usa cuando los datos de una muestra se utilizan para
estimar la desviacin estndar de la poblacin.
La varianza se define como
2
para la poblacin
varianza =
(4.2.7)
para una muestra
S2
92
[ C]
medidas
1085 T < 1090
1
1090 T < 1095
3
1095 T < 1100
12
1100 T < 1105
21
1105 T < 1110
14
1110 T < 1115
7
1115 T < 1120
2
Ejemplo 5 En la Tabla 4.1 se dan los resultados de las mediciones de la temperatura tomadas
en un ducto de gas recalentado. Encontrar los valores correspondientes a los parmetros media,
mediana, desviacin estndar, varianza y moda.
Sol. En la Tabla 4.2 se muestran los datos arreglados para intervalos de temperatura.
Para las mediciones de temperatura de la Tabla 4.1 los resultados son
Media
x
= 1103 C
Mediana
xm = 1104 C
Desviacin estndar
S = 5.79 C
Varianza
S 2 = 33.49 C 2
Moda
m = 1104 C
4.3
Probabilidad
4.3. PROBABILIDAD
93
(4.3.2)
P (xi ) = 1
(4.3.5)
i=1
9. La media de la poblacin para una variable aleatoria discreta, llamada tambin el valor
esperado (esperanza) de x, E(x), est dada por:
=
n
X
xi P (xi ) = E(x)
(4.3.6)
i=1
(4.3.7)
i=1
4.3.1
Para una variable aleatoria continua, una funcin f (x), llamada funcin densidad de probabilidad, se define tal que la probabilidad de la ocurrencia de la variable aleatoria en un intervalo
entre xi y xi + dx est dado por
f (xi )dx = P (xi x xi + dx)
(4.3.8)
94
f (x)dx
(4.3.9)
Para una variable aleatoria continua, la probabilidad de que x tenga un valor simple nico,
es cero. Si los lmites de intregracin se extienden desde hasta +, se puede asegurar que
la medicin est en el rango y la probabilidad ser P ( x ) = 1.
La definicin de f (x) permite ahora establecer la media de una poblacin con funcin densidad de probabilidad f (x):
Z
E(x) = =
xf (x)dx
(4.3.10)
Este tambin es el valor esperado (esperanza), E(x) de la variable aleatoria, el cual a veces
se denomina primer momento. La varianza de la poblacin est dada por
Z
2
(x )2 f (x)dx
(4.3.11)
=
0
x < 10h
f (x) =
200
x > 10h
x3
f (x) se muestra en la Fig. 4.1.
0.2
y 0.1
10
20
h
30
40
4.3. PROBABILIDAD
95
xf (x)dx =
10
10
20
f (x)dx =
200
200
x 3 dx =
= 20h
x
x 10
10
0dx +
20
10
200
dx = 0.75
x3
P (x = 20) = 0
4.3.2
La funcin de distribucin acumulativa es otro mtodo para presentar datos para la distribucin
de una variable aleatoria. Esta se utiliza para determinar la probabilidad que una variable
aleatoria tenga un valor menor que o igual que un valor especfico. La funcin distribucin
acumulativa para una variable aleatoria continua (rv) se define como
Z
f (x)dx = P (rv x)
(4.3.12)
F (rv x) = F (x) =
i
X
P (xi )
(4.3.13)
j=1
(4.3.14)
P (x > a) = 1 F (a)
96
Sol. (a) Usando la ecuacin (4.3.12) se obtiene para la funcin de distribucin acumulativa
(la respuesta grfica se puede ver en la Fig. 4.2)
Z x
Z x
f (x)dx =
0dx = 0
para x 10
F (x) =
Z x
200
100
= 0+
dx = 1 2
para x > 10
3
x
x
10
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
20
30
40
50
4.3.3
La distribucin binomial est definida para variables aleatorias discretas que pueden tener solamente dos resultados posibles xito o falla. Esta distribucin tiene aplicacin en control de
calidad de la produccin, cuando la calidad de un producto es o aceptable o inaceptable. Las
siguientes condiciones debern ser satisfechas para que la distribucin binomial pueda ser aplicable a un cierto experimento:
1. Cada ensayo en el experimento puede tener solamente dos posibles resultados, xito o falla.
2. La probabilidad de xito permanece constante a travs del experimento. Esta probabilidad
se denota por p y usualmente se conoce o se estima para una poblacin dada.
3. El experimento consiste de n ensayos independientes.
La distribucin binomial proporciona la probabilidad P de encontrar exactamente r xitos
en un total de n ensayos y se expresa como
n!
n
r
nr
p (1 p)
=
pr (1 p)nr
(4.3.15)
P (r) =
r
r!(n r)!
4.3. PROBABILIDAD
97
(4.3.16)
(4.3.17)
Ejemplo 8 Un fabricante de una cierta marca de computadores afirma que sus computadores
son con-fiables y que solamente el 10% de las mquinas requiere reparacin durante el perodo de
garanta. Determinar la probabilidad de que en una produccin de 20 computadores, 5 requieren
reparacin en el perodo de garanta.
Sol: Se puede aplicar distribucin binomial debido al resultado de aprobado/fallado del
proceso. se definir xito como no requiere reparacin en el tiempo de garanta, en este caso,
de acuerdo a las pruebas del fabricante, p = 0.9. Otras suposiciones para la aplicacin de esta
distribucin son que todos los ensayos son independientes y que las probabilidades de xito
y fallo son las mismas para todos los computadores. El problema consiste en determinar la
probabilidad P de tener 15 xitos r de todas las 20 mquinas n.
20
P =
0.915 (1 0.9)5 = 0.032
15
La conclusin aqu es que hay una pequea posibilidad (3.2%) de que haya exactamente 5
computadores para reparacin de los 20 dados.
Ejemplo 9 Un fabricante de bombillas ha descubierto que para una produccin dada, el 10%
de las bombillas es defectuoso. Si se compran 4 de estas bombillas, cul es la probabilidad de
encontrar que las cuatro, tres, dos, una y ninguna de las bombillas sea defectuosa?
Sol. De nuevo se puede usar la distribucin binomial. El nmero de ensayos es 4 y si se
define xito como falla de bombilla p = 0.1. La probabilidad de tener cuatro, tres, dos, uno y
cero bombillas defectuosas se puede calcular usando la ecuacin (4.3.15). Entonces
4
0.14 (1 0.1)44 = 0.0001 = 0.01%
P (r = 4) =
4
4
P (r = 3) =
0.13 (1 0.1)43 = 0.0036 = 0.36%
3
4
P (r = 2) =
0.12 (1 0.1)42 = 0.0486 = 4.86%
2
4
P (r = 1) =
0.11 (1 0.1)41 = 0.2916 = 29.16%
1
4
P (r = 0) =
0.10 (1 0.1)40 = 0.6561 = 65.61%
0
La probabilidad total de todos los cinco resultados posibles es
P = P (r = 4) + P (r = 3) + P (r = 2) + P (r = 1) + P (r = 0)
=1
98
4.3.4
Definicin 3 Sea x una variable aleatoria que toma los valores posibles 0, 1, . . . , n. Si
P (x = k) =
e k
,
k!
k = 0, 1, . . . , n
(4.3.18)
k
X
e
E(x) =
k!
k=0
X
e k
=
(k 1)!
k=1
haciendo = k 1, se encuentra
E(x) =
+1
X
e
=0
X
e
k=1
De igual manera,
2
E(x ) =
X
k2 e k
k=0
k!
X
ke k
k=1
(k 1)!
X
X
X
e
e +1
e
=
+
= 2 +
( + 1)
!
!
!
=0
=0
=0
Puesto que la primera suma representa E(x) mientras que la segunda suma es igual a uno.
Luego
S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2 + 2 =
Ntese esta propiedad de la variable aleatoria de Poisson: su esperanza es igual a su varianza.
Existen tablas disponibles para la distribucin de Poisson [19].
4.3.5
4.3. PROBABILIDAD
99
ocurrencia de desviaciones tanto positivas como negativas son igualmente probables. La funcin
densidad de probabilidad normal est dada por
(x )2
1
(4.3.19)
f (x) = exp
2 2
2
En esta ecuacin x es la variable aleatoria. La funcin tiene dos parmetros, la dsviacin
estndar de la poblacin, , y la media de la poblacin, . Un grfico de f (x) vs x para valores
diferentes de (0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0) y un valor fijo de (2) se muestra en la Fig. 4.3. Como
se ve en la figura, la distribucin es simtrica alrededor del valor medio, y la menor de las
desviaciones estndar es el valor de pico ms alto de en la funcin.
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
2x
Figura 4.3: Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0.
4.3.6
u=
se puede escribir
2
Z +
u
1
du
exp
I=
2
2
Para calcular esta integral, primero se toma el cuadrado de I, es decir,
2
2
Z +
Z +
1
1
u
v
du
dv
exp
exp
I2 =
2
2
2
2
2
Z + Z +
1
u + v2
=
dudv
exp
2
2
(4.3.20)
(4.3.21)
100
v = r sen
(4.3.22)
(4.3.23)
Z 2
2
1
r2
=
e
d
2 0
0
Z 2
1
=
d = 1
2 0
Por lo tanto I = 1, lo cual se quera demostrar.
2. Considrese la forma del grfico de f (x). ste tiene la forma de campana indicada en la
Fig. 4.3. Puesto que f(x) depende slo de x mediante la expresin (x )2 , es evidente
que el grfico de f (x) ser simtrico respecto a . El parmetro puede interpretarse
geomtricamente. Obsrvese que para x = , el grfico de f (x) es cncavo hacia abajo.
Cuando x , f (x) 0, asintticamente. Puesto que f (x) 0 para todo x, esto
significa que para grandes valores de x (positivos o negativos), el grfico de f (x) ser
cncavo hacia arriba, teniendo los puntos de inflexin en x = . Esto es, unidades
a la derecha y a la izquierda de el grfico de f (x) cambia de concavidad. As, si es
relativamente grande, el grfico de f (x), tiende a ser achatado, mientras que si es
pequeo el grfico de f (x) tiende a ser aguzado (ver Fig. 4.3).
3. De acuerdo a la definicin de funcin densidad de probabilidad en la ecuacin (4.3.9), para
una poblacin dada, la probabilidad de tener un valor simple de x entre un lmite inferior
x1 y un lmite superior x2 es
Z x2
Z x2
1
(x )2
P (x1 x x2 ) =
dx
(4.3.24)
f (x)dx =
exp
2 2
2 x1
x1
Puesto que f (x) est en la forma de una funcin de error, la integral anterior no puede
ser evaluada analticamente, por lo que la integracin debe hacerse numricamente. Para
simplificar el proceso de integracin numrica, se modifica el integrando con un cambio de
variable de modo que la integral evaluada numricamente es general y til para todos los
problemas. Una variable adimensional z se define como
z=
(4.3.25)
4.3. PROBABILIDAD
101
(4.3.26)
z2
z1
1
f (z)dz =
2
z2
z1
2
z
dz
exp
2
(4.3.27)
x
x2
x1
(4.3.28)
La probabilidad P (z1 z z2 ) tiene un valor igual al rea demarcada como (z1 y z2)
en la Fig. 4.4. La curva mostrada en la figura es simtrica con respecto al eje vertical en
z = 0, lo cual indica que con esta distribucin, las probabilidades de desviaciones positivas
y negativas desde z = 0 son iguales. Matemticamente se tiene
P (z1 z 0) = P (0 z z1 ) =
P (z1 z z2 )
2
(4.3.29)
0.4
0.3
y
0.2
0.1
-2
-1
z1 0z z2
102
z/2 x
P z/2 z/2 = P x
+ z/2
=1
/ n
n
n
puede tambin plantearse que
=x
z/2
n
(4.3.30)
(4.3.31)
(4.3.32)
x
,
(x )2
dx
x exp
2
se obtiene
2
Z +
1
z
dz
(z + ) exp
2
2
2
2
Z +
Z +
1
1
z
z
dz +
dz
z exp
exp
2
2
2
2
(4.3.33)
(4.3.34)
tiene la propiedad de que g1 (z) = g1 (z), y, por lo tanto, g1 (z) es una funcin impar.
La segunda integral
2
Z +
1
z
exp
g2 (z) =
dz
(4.3.35)
2
2
representa el rea total bajo la funcin densidad de probabilidad total y, por lo tanto, es
(ver el primer tem) igual a la unidad. Luego
E(x) =
5. Considrese
1
E(x ) =
2
2
(x )2
dx
x exp
2
2
(4.3.36)
4.3. PROBABILIDAD
103
Haciendo nuevamente z =
x
,
se obtiene
2
Z +
1
z
2
dz
(z + ) exp
E(x ) =
2
2
Z +
Z
z 2
1
2 + z2
=
2 z 2 e 2 dz +
ze 2 dz +
2
2
Z +
z 2
2
+
e 2 dz
2
2
(4.3.37)
-La segunda integral nuevamente es igual a cero por el argumento usado anteriormente.
La ltima integral (sin el factor 2 ) es igual a la unidad. Para calcular la primera integral
2 R +
2
go (z) = 2 z 2 ez /2 dz, se integra por partes, obtenindose
2
go (z) =
2
z 2 ez
2 /2
Luego
Z +
+
2
2
2
2
dz = zez /2
+
ez /2 dz = 0 + 2
2
2
E(x2 ) = 2 + 2
y por lo tanto
S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2
4.3.7
(4.3.38)
x p1
+
(p 1)xp2 ex dx
(p) = e x
0
0
Z
= 0 + (p 1)
xp2 ex dx
0
= (p 1)(p 1)
(4.3.39)
104
Se ve que la funcin gamma sigue una relacin recursiva. Suponiendo que p es un entero positivo,
haciendo p = n y aplicando la ec (4.3.39) repetidamente se obtiene:
(n) = (n 1)(n 1)
= (n 1)(n 2)(n 2)
R
0
= (n 1)(n 2) (1)
ex dx = 1, por lo tanto se obtiene
(n) = (n 1)!
(4.3.40)
Si n es un entero positivo.
Ejercicio 1 Verificar que
( 12 )
x
( 12 ) =
u2
2
12
x1/2 ex dx =
x1/2 ex dx =
(4.3.41)
u2
2
1
2u
2u1 e
dx = udu
u2
2
udu =
Z
2
u2
2
du
(4.3.42)
u2
I=
e
du =
2
2
0
(4.3.43)
f (x) =
(4.3.44)
(4.3.45)
Esta distribucin depende de dos parmetros, r > 0 y > 0. La Fig. 4.5 muestra el grfico
de la ecuacin (4.3.44) para diversos valores de r con = 1 (color negro) y = 12 (color azul).
4.3. PROBABILIDAD
105
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
Figura 4.5: Grfico de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y .
4.3.8
Si r = 1, la ecuacin (4.3.44) se transforma en f (x) = ex , la cual se denomina distribucin exponencial la cual aparece como un caso especial de la distribucin gamma.
En la mayora de las aplicaciones a probabilidades, el parmetro r ser un entero positivo.
En este caso, existe una relacin entre la funcin de distribucin acumulativa de la funcin
gamma y la distribucin conocida como de Poisson, la cual se expondr en seguida.
Considerando la integral
I=
y r ey
dy
r!
R
en donde r es un entero positivo y a > 0. Luego, r!I = a y r ey dy. Integrando por partes
haciendo u = y r y dv = ey dy, se obtiene
Z
a r
r!I = e a + r
yr1 ey dy
a
La integral en esta expresin es exactamente de la misma forma que la integral original con la
sustitucin de r por r 1. As, al continuar integrando por partes, se obtiene
Por tanto
I = e
I = ea
ar
ar1
a2
+
+ +
+a+1
r!
(r 1)!
21
r
r
X
ak X
=
P (y = k)
k!
ki=0
i=0
106
4.3.9
Funcin de distribucin t
( 2 ) 1 +
t2
(4.3.46)
+1
2
donde (x) es la funcin matemtica conocida como funcin gamma. La Fig. 5.2.16 muestra la
distribucin t Student para diferentes valores de los grados de libertad . Como en la distribucin
0.3
y 0.2
0.1
-3
-2
-1
S
S
x
+ t/2
t/2 x
=1
P t/2 t/2 = P x
S/ n
n
n
(4.3.47)
(4.3.48)
(4.3.49)
4.3. PROBABILIDAD
0.100
0.050
0.025
0.010
0.005
1
3.078
6.314
12.706
31.823
63.658
2
1.886
2.920
4.303
6.964
9.925
3
1.638
2.353
3.182
4.541
5.841
4
1.533
2.132
2.776
3.747
4.604
5
1.476
2.015
2.571
3.365
4.032
6
1.440
1.943
2.447
3.143
3.707
7
1.415
1.895
2.365
2.998
3.499
8
1.397
1.860
2.306
2.896
3.355
9
1.383
1.833
2.262
2.821
3.250
10
1.372
1.812
2.228
2.764
3.169
11
1.363
1.796
2.201
2.718
3.106
12
1.356
1.782
2.179
2.681
3.054
13
1.350
1.771
2.160
2.650
3.012
14
1.345
1.761
2.145
2.624
2.977
15
1.341
1.753
2.131.
2.602
2.947
16
1.337
1.746
2.120
2.583
2.921
17
1.333
1.740
2.110
2.567
2.898
18
1.330
1.734
2.101
2.552
2.878
19
1.328
1.729
2.093
2.539
2.861
20
1.325
1.725
2.086
2.528
2.845
21
1.323
1.721
2.080
2.518
2.831
22
1.321
1.717
2.074
2.508
2.819
23
1.319
1.714
2.069
2.500
2.807
24
1.318
1.711
2.064
2.492
2.797
25
1.316
1.708
2.060
2.485
2.787
26
1.315
1.706
2.056
2.479
2.779
27
1.314
1.703
2.052
2.473
2.771
28
1.313
1.701
2.048
2.467
2.763
29
1.311
1.699
2.045
2.462
2.756
30
1.310
1.697
2.042
2.457
2.750
1.283
1.645
1.960
2.326
2.576
107
108
Ejemplo 10 Un fabricante de circuitos integrados (CI) desea estimar el tiempo de falla media
de un CI con un 95% de confianza. Se han probado seis sistemas y se han obtenido los siguientes
datos (tiempo de operacin en horas): 1250, 1320, 1542, 1464, 1275, 1383. Estimar la media y el
95% de intervalo de confianza sobre la media.
Sol. Puesto que el nmero de muestras es n < 30, se puede utilizar la distribucin t para
estimar el intervalo de confianza. Primero se calcula la media y la desviacin estndar de los
datos
1
x
= (1250 + 1320 + 1542 + 1464 + 1275 + 1383) = 1372.3 h
6
#1/2
" 5
1 X
S=
(xi x
)
= 114 h
5
i=1
50
=x
z/2 = = x
n
de modo que
z/2 = 50
n
2
n = z/2
50
114 2
= 20
n = 1.96
50
109
Puesto que n < 30, se puede utilizar la distribucin t en lugar de la distribucin normal. Se
puede usar n = 20 para el siguiente ensayo. Para = n 1 = 19 y /2 = 0.025, de la Tabla 4.3
se obtiene t = 2.093. Este valor de t se puede utilizar con la ecuacin (4.3.49) para estimar un
nuevo valor de n:
S
50
=x
t/2 = x
n
S
t/2 = 50
n
S
114 2
= 2.093
= 23
n = t/2
50
50
Se puede usar este nmero como un valor de ensayo y recalcular n, pero resultar siendo el
mismo. Ntese que con pruebas adicionales, el valor promedio de la muestra, x
, tambin puede
cambiar.
4.4
4.4.1
Estimacin de Parmetros
Estimacin del Intervalo de la Media de la Poblacin
x
x
+
(4.4.1)
donde es la incertidumbre y x
es la media muestral. El intervalo x
hasta x
+ se
denomina intervalo de confianza de la media. Sin embargo, el intervalo de confianza depende de
un concepto llamado el nivel de confianza, algunas veces llamado grado de confianza. El nivel de
confianza es la probabilidad de que la media de la poblacin caer entre el intervalo especificado:
Nivel de confianza = P (
x x
+ )
(4.4.2)
El nivel de confianza est normalmente expresado en trminos de una variable llamada nivel
de significancia:
Nivel de confianza = 1
(4.4.3)
es entonces, la probabilidad de que la media caer fuera del intervalo de confianza.
El teorema del lmite central hace posible realizar un estimativo del intervalo de confianza
con un adecuado nivel de confianza. Considrese una poblacin de la variable aleatoria x con un
valor medio y una desviacin estndar . De esta poblacin se podra tomar varias muestras
diferentes cada una de tamao n. Cada una de estas muestras podra tener un valor medio
x
i , pero no se podra esperar que cada una de estas medias tenga el mismo valor. En efecto,
los x
i son valores de una variable aleatoria. El teorema del lmite central establece que si n
es suficientemente grande, los x
i tienden a una distribucin normal y la desviacin estndar de
estas medias estar dada por
(4.4.4)
x =
n
110
La poblacin no necesita estar distribuida normalmente para que las medias estn distribuidas
normalmente. La desviacin estndar de la media tambin se denomina error estndar de la
media. Para que se pueda aplicar el teorema del lmite central, el tamao n de la muestra,
debe ser grande. En la mayora de los casos, el valor de n debe ser superior a 30, para que sea
considerado grande.
Del teorema de lmite central se pueden establecer las siguientes conclusiones:
Si la poblacin original es normal, la distribucin para los x
i ser normal.
Si la poblacin original es no normal y n es grande (n > 30), la distribucin para los x
i
ser normal
Si la poblacin original es no normal y si n < 30, los x
i seguirn una distribucin normal
slo en forma aproximada.
Si el tamao de la muestra es grande, se puede usar directamente el teorema del lmite central
para hacer un estimado del intervalo de confianza. Puesto que x
est distribuido normalmente,
se puede usar el valor z ecuacin (4.3.25):
z=
(4.4.5)
y usar la funcin de distribucin normal estndar para estimar el intervalo de confianza sobre
z. es la desviacin estndar de la poblacin la cual, en general, no se conoce. Sin embargo,
para un tamao grande de muestras, la desviacin estndar de muestras, S, puede usarse como
una aproximacin de .
4.4.2
n
1 X
(xi )2
2
i=1
(4.4.7)
111
por
2
(2 )(2)/2 e /2
(4.4.9)
f ( ) =
para 2 > 0
2/2 (/2)
donde v es el nmero de grados de libertad y es una funcin que se puede obtener de tablas
normalizadas. En la Fig. 4.7 se muestran algunas grficas con variacin del parmetro .
2
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
10
(4.4.10)
es el nivel de significancia como se defini antes y es igual a (1nivel de confianza). Sustituyendo para 2 en la ecuacin (4.4.8), se obtiene
S2
2
2
(4.4.11)
P ,1/2 (n 1) 2 ,/2 = 1
Puesto que 2 es siempre positivo, esta ecuacin puede arreglarse de modo que se pueda dar un
intervalo de confianza sobre la varianza de la poblacin
(n 1)S 2
(n 1)S 2
2
2,/2
2,1/2
(4.4.12)
En la ecuacin (4.4.11), es el rea total de los extremos mostrados en la Fig. 4.8, de modo
que cada extremo (cola) tiene un rea de /2.
112
0.3
0.25
0.2
y
0.15
0.1
0.05
0
10
4.4.3
En algunos experimentos sucede que uno o ms valores medidos aparecen por fuera de lnea
con el resto de datos. Si se puede detectar alguna falla clara en la medicin de aquellos valores
especficos, stos se pueden descartar. Pero a veces es difcil detectar estos datos erroneos.
Existe un nmero de mtodos estadsticos para el rechazo de estos valores. Las bases de estos
mtodos es eliminar los valores que tienen baja probabilidad de ocurrencia. Por ejemplo, los
valores de los datos que se desvan de la media por ms de dos o por ms de tres en la desviacin
estndar debern ser rechazados. Se ha encontrado que el criterio de rechazo denominado
sigmados y sigmatres debe modificarse para tener en cuenta el tamao de la muestra. Ms
an, dependiendo del tipo de criterio de rechazo que se emplee, podran eliminarse datos buenos
e inclurse datos malos.
El mtodo recomendado en el documento de ANSI/ASME, 86 [1] es la tcnica de Thompson
modificada. En este mtodo, si se tienen n medidas con una media x
y una desviacin estndar
S, se pueden arreglar los datos en orden ascendente x1 , x2 , . . . , xn . Los valores extremos (el ms
alto y el ms bajo) son candidatos a rechazo. Para estos puntos descartables, la desviacin, ,
se calcula como
|
(4.4.13)
i = |xi x
y se selecciona el valor ms grande. El siguiente paso es encontrar un valor de de la Tabla 4.4.
El valor ms grande de i se debe comparar con el producto de y la desviacin estdar, S. Si
> S
(4.4.14)
los valores de los datos se pueden rechazar. De acuerdo a este mtodo, slo el valor de un
dato deber ser eliminado. Se deber recalcular la media y la desviacin estndar de lo datos
restantes y repetirse el proceso. Se deber repetir el proceso hasta que ningn dato deba ser
eliminado.
113
1.150
1.393
1.572
1.656
1.711
1.749
1.777
1.798
1.815
1.829
n
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
1.840
1.849
1.858
1.865
1.871
1.876
1.881
1.885
1.889
1.893
n
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
1.896
1.899
1.902
1.904
1.906
1.908
1.910
1.911
1.913
1.914
n
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
1.916
1.917
1.919
1.920
1.921
1.922
1.923
1.924
1.925
1.926
Usando la Tabla 4.4 para n = 9, = 1.777. Entonces S = 1.777 0.07 = 0.124. Puesto que
1 = 0.13 > S = 0.124, deber ser rechazado. Ahora deber recalcularse S y V , lo cual da 0.05
y 12.02, respectivamente. Para n = 8, = 1.749, S = 0.09 y ninguno de los datos restantes
deber rechazarse.
4.5
La dispersin debida a errores aleatorios es una caracterstica comn de virtualmente todas las
mediciones. Sin embargo, en algunos casos la dispersin puede ser tan grande que es difcil
detectar una tendencia. Considrese un experimento en el cual una variable independiente x
vara sistemticamente y entonces se mide la variable dependiente y. Se desea determinar si el
valor de y depende del valor de x. Para determinar si hay dependencia entre los datos y una
cierta variable, se define un parmetro estadstico llamado coeficiente de correlacin el cual
se puede utilizar para determinar si una tendencia aparente es verdadera o es puramente una
consecuencia del azar.
El coeficiente de correlacin, rxy , es un nmero cuya magnitud puede usarse para determinar
si en efecto existe una relacin funcional entre dos variables medidas x y y. Si se tienen dos
114
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi
i=1
x
)2
n
P
(yi
i=1
y)2
1/2
(4.5.1)
donde x
y y son los valores medios de x y de y obtenidos experimentalmente y estn dados por
n
x
=
1X
xi
n
i=1
y =
1X
yi
n
(4.5.2)
i=1
115
Tambin es un error concluir que un valor significativo del coeficiente de correlacin implica que un cambio en una variable causa un cambio en la otra. La casualidad deber
determinarse desde otro ngulo del problema
Ejemplo 13 Se sabe que los tiempos por vuelta en una carrera de automviles dependen de la
temperatura ambiente. Se tomaron en la misma pista, en diferentes carreras, para el mismo
carro y con el mismo piloto, los siguientes datos:
Temperatura ambiente ( C)
Tiempo por vuelta (s)
4.4
65.3
8.3
66.5
12.8
67.3
16.7
67.8
18.9
67
31.1
66.6
Sol. Primero, se grafican los datos como en la Fig. 4.9. Mirando la grfica, podra pensarse
que hay una ligera correlacin entre la temperatura ambiente y el tiempo de giro. Se calcular
el coeficiente de correlacin para determinar si esta correlacin es real o es debida al azar.
116
x
65.3
66.5
67.3
67.8
67.0
P 66.6
= 400.5
x
= 66.75
y
4.4
8.3
12.8
16.7
18.9
P 31.1
= 92.2
y = 15.367
(x x
)2
2.10
0.06
0.30
1.10
0.06
P 0.02
= 3.66
xx
1.45
0.25
0.55
1.05
0.25
0.15
y y
10.967
7.067
2.567
1.333
3.533
15.733
(y y)2
120.28
49.94
6.59
1.78
12.48
P247.53
= 438.6
(x x
)(y y)
15. 90
1. 77
1. 41
1. 40
0.88
-2.
36
P
= 16. 18
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi
i=1
x
)2
n
P
(yi
i=1
y)2
1/2 =
16. 18
[3.66 438.6]1/2
= 0.403 83
Para un nivel de confianza de 95%, = 1 0.95 = 0.05. Para los seis pares de datos, de
la Tabla 4.5, se obtieneun valor de rt = 0.811. Puesto que rxy < rt , se puede concluir que la
aparente tendencia en los datos es probablemente causada por pura casualidad.
4.6
Ajuste de Curvas
4.6.1
Regresin lineal
(4.6.1)
Si se conocen todos los valores numricos {xk }, {yk } con varios digitos significativos de precisin, entonces la interpolacin polinomial se puede usar exitosamente; de otra forma no. Cmo
117
encontrar la mejor aproximacin lineal de la forma de la ecuacin (4.6.1) que se ajuste cercanamente a estos puntos? Para responder a esta pregunta, se requiere discutir los errores (tambin
llamados desviaciones o residuos), es decir:
ek = f (xk ) yk
para 1 k n
(4.6.2)
Hay varias normas que pueden ser usadas con los residuos en la ecuacin (4.6.2) para medir
cuan cerca de la curva y = f (x) estn los datos.
E (f ) = max {|f (xk ) yk |}
Mximo error
1kn
(4.6.3)
1X
E1 (f ) =
|f (xk ) yk |
n
Error promedio
(4.6.4)
k=1
E2 (f ) =
Error RMS
Eyx
1X
|f (xk ) yk |2
n
k=1
!1
2
v
uP
n
n
P
P
u n 2
yk B
yk A
xk yk
u
t k=1
k=1
k=1
=
n2
(4.6.5)
(4.6.6)
n
P
k=1
n
P
k=1
x2k
xk
n
P
xk
xk yk
k=1
A = k=1n
B
P
n
yk
n
P
k=1
(4.6.7)
118
y2
Figura 4.10: Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea definida con mnimos
cuadrados y = Ax + B.
Prueba. Geomtricamente, se comienza con la lnea y = Ax + B La distancia vertical dk
desde el punto (xk , yk ) hasta el punto (xk , Axk + B) sobre la lnea es dk = |Axk + B yk | (ver
Fig. 4.10) Se debe minimizar la suma de los cuadrados de las distancias verticales dk :
n
n
X
X
2
E(A, B) =
(Axk + B yk ) =
d2k
k=1
(4.6.8)
k=1
El valor mnimo de E(A, B) se determina haciendo las derivadas parciales E/A y E/B
iguales a cero y resolviendo estas ecuaciones para A y B. Ntese que {xk } y {yk } son constantes
en la ecuacin (4.6.8) y que A y B son las variables. Fijando B, y derivando E(A, B) con
respecto a A, se obtiene
n
k=1
k=1
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk )(xk ) = 2
(Ax2k + Bxk xk yk )
A
(4.6.9)
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk ) = 2
(Axk + B yk )
B
k=1
(4.6.10)
k=1
Haciendo las derivadas parciales iguales a cero en (4.6.9) y (4.6.10), y usando la propiedad
de distribucin de la suma se llega a:
n
n
n
n
X
X
X
X
2
2
(Axk + Bxk xk yk ) = A
xk + B
xk
xk yk
0=
k=1
0=
k=1
k=1
n
n
n
X
X
X
(Axk + B yk ) = A
xk + nB
yk
k=1
k=1
(4.6.11)
k=1
k=1
(4.6.12)
119
Sol. El siguiente programa en Matlab resuelve el problema. Ntese que tambin aparecen
los valores de los puntos dados. En la grfica de la Fig. 4.11 se muestra la mejor recta factible
para este problema.
X=[-1,0,1,2,3,4,5,6];
Y=[10,9,7,5,4,3,0,-1];
D=length(X)*sum(X*X)-sum(X)*sum(X);
A=1/D*(length(X)*sum(X*Y)-sum(X)*sum(Y));
B=1/D*(sum(X*X)*sum(Y)-sum(X)*sum(X*Y));
fprintf(A= %12.3f\n,A)
fprintf(B= %12.3f\n,B)
x=-2:0.01:10;
y=A*x+B;
plot(x,y)
hold on
plot(X,Y,r*)
hold off
grid on
xlabel(x),ylabel(y)
title(Ajuste de una recta usando mnimos cuadrados )
A j u s t e d e u n a r e c t a u s a n d o m n i m o s c u a d r a d o s
12
10
8
6
4
2
0
-2
-4
-6
-8
-2
4
x
10
120
0.00
0.05
0.50
0.52
1.00
1.03
1.50
1.50
2.00
2.00
2.50
2.56
Sol. Para resolver el problema, aplicamos los datos en el programa del Problema 1, obetindose:
A = 0.9977
B = 0.0295
La mejor lnea recta resultante ser
y = 0.9977x + 0.0295
donde y es la tensin y x el desplazamiento. El error estndar de la estimacin para estos datos
se obtiene como antes, aplicando la ecuacin (4.6.6):
Eyx
v
u n
n
n
X
X
X
1 u
14.137 0.0295 7.66 0.9977 13.94 1/2
2
t
=
yk B
yk A
xk yk =
= 0.0278
62
n2
k=1
k=1
k=1
Esto representa la desviacin de los datos de y alrededor de los datos predichos por la mejor
lnea recta. Esta recta, junto con los datos se grafica en la Fig. 4.12.
121
4.6.2
Algunas situaciones involucran f (x) = AxM , donde M es una constante conocida. En este caso
hay solamente un parmetro A es determinado.
Teorema 3 Ajuste a una funcin potencia. Supngase que {(xk , yk )}nk=1 son n puntos,
donde las abscisas son distintas. El coeficiente A de la curva de potencia con aproximacin por
mnimos cuadrados y = AxM est dada por
A=
n
P
k=1
n
P
xM
k yk
k=1
(4.6.13)
x2M
k
n
X
2
(AxM
k yk )
(4.6.14)
k=1
n
n
X
X
M
M
(AxM
y
)(x
)
=
2
(Ax2M
k
k
k
k xk yk )
k=1
k=1
(4.6.15)
122
n
X
x2M
k
k=1
n
X
xM
k yk
(4.6.16)
k=1
4.6.3
(4.6.17)
(4.6.18)
X (x)
B = ln(C)
(4.6.19)
(4.6.20)
Los puntos originales (xk , yk ) en el plano xy se transforman en los puntos (Xk , Yk ) = (xk , ln(yk ))
en el plano XY. Este proceso es llamado linealizacin de datos.Entonces el mtodo de mnimos
cuadrados de la ecuacin (4.6.20) ajusta la lnea a los puntos {(Xk , Yk )}. Las ecuaciones normalizadas para encontrar A y B son:
n
P
k=1
n
P
k=1
Xk2
Xk
Xk
Xk Yk
k=1
A = k=1n
P
B
n
Yk
n
P
k=1
(4.6.21)
(4.6.22)
123
{(Xk , Yk )} = {(0, ln(1.5)), (1, ln(2.5)), (2, ln(3.5)), (3, ln(5.0)), (4, ln(7.5))}
= {(0, 0.40547), (1, 0.91629), (2, 1.25276), (3, 1.60944), (4, 2.01490)}(4.6.23)
La ecuacin de la recta Y = AX + B ajustada por mnimos cuadrados para los puntos (4.6.23)
est dada despus de clculos (ver Problema 1) por
Y = 0.391202X + 0.457367
(4.6.24)
(4.6.25)
4.6.4
Ajuste polinomial
Cuando el mtodoprecedente se adapta para usar las funciones {fj (x) = xj1 }y el ndice de los
rangos de sumacin desde j = 1 hasta j = m + 1, la funcin f (x) ser un polinomio de grado
m:
(4.6.26)
f (x) = c1 + c2 x + c3 x2 + + cm+1 xm
Ahora se mostrar como encontrar, v. gr., la parbola con mnimos cuadrados, y la extensin
a un polinomio de grado ms alto.
124
10
8
6
y
4
2
Teorema 4 (Parbola con mnimos cuadrados) Supngase que {(xk , yk )}nk=1 son n puntos,
donde las abscisas son distintas. Los coeficientes de la parbola por mnimos cuadrados
y = f (x) = Ax2 + Bx + C
(4.6.27)
x4k
k=1
n
X
k=1
x3k
!
!
A+
n
X
x3k
k=1
A+
n
X
k=1
n
X
x2k
k=1
x2k
!
!
A+
B+
n
X
x2k
k=1
B+
n
X
k=1
n
X
k=1
xk
xk
!
!
C =
n
X
yk x2k
k=1
C =
B + nC =
n
X
k=1
n
X
yk xk
(4.6.28)
yk
k=1
0 = E(A, B, C) =
n
X
k=1
Ax2k + Bxk + C yk
(4.6.29)
125
0 =
E
=2
Ax2k + Bxk + C yk (x2k )
A
k=1
0 =
0 =
E
=2
B
n
X
k=1
(4.6.30)
n
X
2
E
Axk + Bxk + C yk
=2
C
k=1
Pn
Pn
Pn
Pn
4
3
2
2
x
x
x
y
x
A
k
k=1
k=1
k=1
k=1
k
k
k
k
P
Pn
Pn
P
2
B = nk=1 yk xk
nk=1 x3
(4.6.31)
k=1 xk
k Pk=1 xk
Pn
Pn
n
2
x
x
n
y
C
k=1 k
k=1 k
k=1 k
que es la misma expresin dada por la ecuacin (4.6.30)
Ejemplo 16 Encontrar la parbola con mnimos cuadrados para los cuatro puntos (3, 3), (0, 1), (2, 1)
y (4, 3).
Sol. Los datos y operaciones de suma
El sistema lineal quedar:
353 45
45 29
29 3
29
A
79
3 B = 5
4
C
8
4.6.5
El anlisis estadstico y la presentacin de los datos ha llegado a ser una caracterstica necesaria de muchos proyectos de ingeniera y administracin. La mayora de las hojas de clculo
electrnico contienen funciones estadsticas y algunos programas contienen altas capacidades esR
R
R
R
tadsticas (v. gr., Matlab , SWP , Stella , Excel , etc.). Los mejores programas contienen
no solamente clculos par determinar la media y la dispersin estndar, ordenamiento de datos
e histogramas, sino tambin clculos de coeficientes de regresin lineal y no lineal, coeficientes
R
126
2.5
2
y 1.5
1
0.5
-3
-2
-1
2x
Tabla 4.5: Valores mnimos del coeficiente de correlacin para un nivel de significancia a.
n
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
3
0.951 0.988 0.997 1.000 1.000
4
0.800 0.900 0.950 0.980 0.990
5
0.687 0.805 0.878 0.934 0.959
6
0.608 0.729 0.811 0.882 0.917
7
0.551 0.669 0.754 0.833 0.875
8
0.507 0.621 0.707 0.789 0.834
9
0.472 0.582 0.666 0.750 0.798
10
0.443 0.549 0.632 0.715 0.765
11
0.419 0.521 0.602 0.685 0.735
12
0.398 0.497 0.576 0.658 0.708
13
0.380 0.476 0.553 0.634 0.684
14
0.365 0.458 0.532 0.612 0.661
15
0.351 0.441 0.514 0.592 0.641
16
0.338 0.426 0.497 0.574 0.623
17
0.327 0.412 0.482 0.558 0.606
18
0.317 0.400 0.468 0.543 0.590
19
0.308 0.389 0.456 0.529 0.575
20
0.299 0.378 0.444 0.516 0.561
25
0.265 0.337 0.396 0.462 0.505
30
0.241 0.306 0.361 0.423 0.463
35
0.222 0.283 0.334 0.392 0.430
40
0.207 0.264 0.312 0.367 0.403
45
0.195 0.248 0.294 0.346 0.380
50
0.184 0.235 0.279 0.328 0.361
100 0.129 0.166 0.197 0.233 0.257
200 0.091 0.116 0.138 0.163 0.180
127
128
Captulo 5
Incertidumbre Experimental
5.1
Introduccin
5.2
(5.2.1)
130
Las xi son las cantidades medidas (salidas de instrumento o componentes). Se puede relacionar un pequeo cambio en R, con pequeos cambios en los xi , xi a travs de la expresin
diferencial
n
X R
R
R
R
x1 +
x2 + +
xn =
xi
R =
x1
x2
xn
xi
(5.2.2)
i=1
Esta ecuacin es exacta si los son infinitesimales: de otra forma, es una aproximacin. Si
R es un resultado calculado basado en los xi medidos, se pueden reemplazar los valores de los
xi por las incertidumbres en las variables, denotadas por wxi y R se puede reemplazar por la
incertidumbre en el resultado denotada por wR .
Cada uno de los trminos de la ecuacin (5.2.2) puede ser positivo o negativo y, puesto que
se designarn los w como un rango ms/menos para la mayora de los errores probables, la
ecuacin (5.2.2) no producir un valor verdadero para wR . Podra ser posible, en principio, que
los trminos positivos y negativos llegaran a cancelarse obtenindose eventualmente un valor de
cero para wR. Por lo tanto, se utiliza estimar el valor de la incertidumbre de R haciendo positivos
todos los trminos del miembro de la derecha de la ecuacin (5.2.2). En forma matemtica,
quedar:
n
X
R
wR =
xi wxi
(5.2.3)
i=1
No es muy probable que todos los trminos en la ecuacin (5.2.2) sean simultneamente
positivos o que los errores en los x individuales estn en el extremo del intervalo de incertidumbre.
Consecuentemente, la ecuacin (5.2.3) producir un estimativo muy alto para wR . Un mejor
estimativo para la incertidumbre est dado por
v
u n
2
uX R
t
wR =
wx
xi i
(5.2.4)
i=1
Las bases conceptuales para la ecuacin (5.2.4) se discuten, v.gr., en Coleman y Steel [9].
A veces se conoce como raiz cuadrada de la suma de los cuadrados (rcs). Cuando se usa la
ecuacin (5.2.4), el nivel de confianza en la incertidumbre del resultado R, ser la misma que los
niveles de confianza de las incertidumbres en los x. Como conclusin, es conveniente que todas
las incertidumbres utilizadas en la ecuacin (5.2.4) sean evaluadas al mismo nivel de confianza.
Hay una restriccin significativa para el uso de la ecuacin (5.2.4). Cada una de las variables,
como se dijo al principio, deben ser independientes entre si. Esto es, un error en una variable
no deber estar correlacionado con el error en otra. Si las variables no son independientes, la
formulacin es ligeramente diferente y se discute en [1] y en [9].
Cuando en el problema se conoce una cierta precisin total necesaria y se desea saber qu
precisiones se requieren en los componentes, puede emplearse un mtodo aproximativo. Para
ello es posible apreciar que este problema es matemticamente indeterminado, ya que existe un
131
nmero infinito de combinacin de estimativos para las incertidumbres individuales que puedan
dar por resultado la misma incertidumbre total. Los medios para eliminar esta dificultad se
encuentran en el mtodo de efectos iguales. En esta teora se supone simplemente que cada
fuente de error contribuir con una cantidad de error igual. Matemticamente, si
v
u n
2
uX R
t
wx
wR =
xi i
i=1
(5.2.5)
(5.2.6)
De esta expresin, se puede obtener el error admisible, wx para cada medida que deba realizarse.
Ejemplo 17 Para calcular el consumo de potencia en un circuito resistivo, se han medido la
tensin y la corriente en el mismo encontrndose para la tensin V = 120 2 V y para la corriente I = 10 0.2 A.Calcular el errormximo posible y el mejor estimativo de la incertidumbre
en el clculo de la potencia. Suponer el mismo nivel de confianza para V e I.
Sol. Escribiendo la ecuacin de potencia P = V I y calculando las derivadas parciales
respecto a V e I se obtiene
P
= I = 10A
V
R
= V = 120V
I
Entonces
wP max
wP
P
P
wV +
wI = 10 2 + 120 0.2 = 44W
=
V
I
s
2
2 p
P
P
wV
wI
=
+
= (10 2)2 + (120 0.2)2 = 31.24W
V
I
(5.2.7)
132
(5.2.8)
i=1
Esta frmula es ms fcil de usar puesto que el error fraccional en el resultado R, est
relacionado directamente con los errores fraccionales en las medidas individuales. Cada uno de
los exponentes 1 , 2 , , n puede ser positivo o negativo.
Una caracterstica importante de las ecuaciones (5.2.4) y (5.2.8) es que, puesto que los
trminos individuales son elevados al cuadrado antes de sumarse, los trminos de valor mayor
tienden a ser dominantes. La ecuacin (5.2.4) tambin se puede utilizar en la fase de diseo de
un esperimento para determinar la precisin requerida de los instrumentos y otros componentes.
Ejemplo 18 Considrese un experimento para medir, por medio de un dinammetro, el promedio de potencia transmitida por un eje giratorio. La frmula para la potencia en caballos de
fuerza puede escribirse como:
2LF
(5.2.9)
Php =
550t
donde $ revoluciones del eje durante el tiempo t, L $ longitud del brazo del par motor,
[pies], F $ fuerza en el extremo del brazo del par, [lbf], t $ tiempo que dura el experimento,
[s].Si para una observacin especfica los datos son:
= 1202 1.0 rev
L = 15.63 0.05
t = 60.00 0.50 s
LF
LF
2
=
12 550 t
t
Php
L
Php
F
Php
t
LF
15.63 10.12
= 9.52 104
= 2.509 7 103
t
60
F
1202 10.12
=
= 9.52 104
= 0.19301
t
60
L
1202 15.63
=
= 9.52 104
= 0.29809
t
60
LF
1202 15.63 10.12
= 2 = 9.52 104
= 5.0278 102
t
602
=
(5.2.10)
133
L
F
t
whpmax = 2.5097 103 1.0 + 0.19301 0.05 + 0.29809 0.04 + 5.0278 102 0.5
whp =
whp =
Php
w
Php
wL
L
Php
wF
F
Php
wt
t
p
(2.5097 103 1.0)2 + (0.19301 0.05)2 + (0.29809 0.04)2 + (5.0278 102 0.5)2
Se puede observar que whp < whpmax Se puede afirmar que el error es quiz tan grande como
0.049hp, pero probablemente no mayor que 0.029 hp.
Supngase que en el ejemplo anterior se desea medir la potencia con una precisin del
0.5%.Qu precisiones se requieren en las medidas individuales?
Sol. Utilizando la ecuacin (5.2.6), se obtiene para cada parmetro:
w =
wL =
wF
wt =
wR
R
n
wR
R
n L
wR
R
n F
wR
R
n t
3.0167 0.005
= 3.005rev
=
4 2.5097 103
3.0167 0.005
= 3.9074 102 pulg
=
4 0.19301
3.0167 0.005
= 0.0253lbf
=
4 0.29809
3.0167 0.005
= 0.15s
=
4 5.0278 102
(5.2.11)
(5.2.12)
(5.2.13)
(5.2.14)
Si se encuentra que el mejor instrumento y tcnica disponibles para medir, v. gr., la fuerza, F,
son buenos slo hasta 0.04 lbf en lugar de 0.025 lbf que pide la ecuacin (5.2.13), esto significa
necesariamente que Php no medirse al 0.5%. Sin embargo, ello no quiere decir que una o ms
de las otras cantidades (, L o t), deban medirse con mayor precisin que la requerida en las
ecuaciones (5.2.11), (5.2.12) y (5.2.14), respectivamente. Haciendo una o ms de estas medidas
con mayor precisin, puede contrarrestarse el error excesivo en la medida de F.
134
5.2.1
En las primeras fases del diseo de un experimento, no es prctico separar los efectos del sesgo
y los errores de precisin. Se puede usar la ecuacin (5.2.4) con estas incertidumbres de las
variables medidas para estimar la incertidumbre resultante. En un anlisis ms detallado, es
deseable mantener separado el anlisis de la incertidumbre en el sesgo (sistemtica) con la
incertidumbre en la precisin (aleatoria). Estas incertidumbres conocidas como lmite de sesgo
y lmite de precisin, respectivamente, se denotan por los smbolos B y P. El error de precisin
es aleatorio en medidas individuales y su estimacin depende del tamao de la muestra. El error
de sesgo no vara durante lecturas repetidas y es independiente del tamao de la muestra.
El error de precisin usualmente se determina por mediciones repetidas de la variable de
inters (o mediciones repetidas en pruebas de calibracin). Los datos medidos se usan para calcular la desviacin estndar muestral de las mediciones, la cual se denomina ndice de precisin,
Sx en anlisis de incertidumbre.
"
#1
n
2
1 X
2
(xi x
)
(5.2.15)
Sx =
n1
i=1
Entonces se puede determinar el lmite de precisin, Pxi , para una medida simple xi puede
entonces estimarse utilizando el mtodo t Student :
Pxi = tSx
(5.2.16)
donde t es la funcin de nivel de confianza (v.gr., 95%) y los grados de libertad. El uso de
la distribucin t en la ec (5.2.16) es diferente de la discusin de la distribucin t dada en la
desigualdad (4.4.14). En ese caso la distribucin t se aplica solamente al intervalo de confianza
sobre la media de un conjunto de medidas. En ANSI/ASME 86 [1]; sin embargo, la distribucin
t se aplica al clculo del intervalo de confianza de una medida individual cuando la desviacin
estndar se basa en una muestra pequea. Si se desea predecir la incertidumbre de la media, x
,
de las medidas (xi ), se sigue la formulacin dada antes. Puesto que la desvicin estndar de la
media se relaciona con la desviacin estndar de las mediciones por
Sx
Sx =
n
(5.2.17)
(5.2.18)
(5.2.19)
El lmite de sesgo, B, permanece constante si se repite la prueba bajo las mismas condiciones.
Los errores de sesgo incluyen aquellos errores que son conocidos pero no se han eliminado por
135
medio de calibracin y otros errores fijos que pueden ser estimados pero no eliminados del proceso
de medida.
Para combinar las incertidumbres de precisin y sesgo, se usa la expresin
p
(5.2.20)
w = P 2 + B2
= 404.7kJ/kg
Px = =
n
10
136
(5.2.21)
Tc = Tg Ts = (Ts4 Tw4 )
h
es la constante de StefanBoltzmann, la cual tiene un valor de 5.669108 W/m2 K, h es el
coeficiente de transferencia de calor entre el gas y el sensor de temperatura y es la emisividad
de la
superficie del sensor de temperatura. La temperatura debe estar en K. El valor de es
+0.1
0.9 +
y el valor de h es 50 10 W/m2 K. Se puede despreciar la incertidumbre en la
0.2
medida de la temperatura. Determinar (a) La correccin de la temperatura y (b) la incertidumbre
en la correccin.
Sol. (a) Sustituyendo en la ecuacin (5.2.21) se obtiene
Tc = Tg Ts =
137
+
=
+
=
+
= 0.228 79
wT
h
0.9
50
+
wT
= 0.228 79 86 = 19. 676 K
wT
"
w 2
h
#1/2
"
0.2
0.9
10
50
2 #1/2
= 0.298 97
= 0.298 97 86 = 25.711 K
wT
+19.7
25.7
+19.7
a un intervalo de
. Es este intervalo el que
As se ha reducido el error de sesgo de
25.7
deber aplicarse en un anlisis completo de la incertidumbre. El error de sesgo mximo se ha
reducido a menos de un tercio de su valor original.
86
138
Captulo 6
Introduccin
6.2
Transductores potenciomtricos
A
+
-
vi
|
x Rf(x)
|
B
+
o
-
140
R: Resistencia total.
x: Desplazamiento del cursor a partir de un extremo de referencia.
Rf (x): Resistencia comprendida entre el extremo de referencia y el cursor, siendo 0
f (x) 1
Supngase que se aplica una tensin vi entre los terminales A y B con la polaridad indicada.
En este caso, la tensin v0 de salida entre el cursor y el extremo de referencia B ser:
vi
= vi f (x)
R
expresin que indica que la tensin de salida est relacionada con la tensin de entrada mediante
una funcin que depende nicamente de las caractersticas constructivas del potencimetro y
del desplazamiento del cursor.
v0 = Rf (x)
Cursor
vS
vO
141
6.2.1
(6.2.1)
y como para x = xmax (cursor lo ms alejado posible del extremo de referencia) se cumple que
f (xmax ) = 1 = Kxmax
se tiene
f (x) =
6.2.2
x
xmax
= v0 =
x
xmax
vi
(6.2.2)
x
f (x) = M log A
+B
xmax
(6.2.3)
1
log(A + 1)
x
log A xmax
+1
log(A + 1)
(6.2.4)
x
1
log A
+ 1 vi
log(A + 1)
xmax
(6.2.5)
De lo anterior se deduce que existen infinitas funciones posibles haciendo variar el parmetro A.
Para A = 0 se tiene el caso particular del potencimetro lineal. Por otra parte, es de observar que
el carcter de la funcin logartmica es absolutamente general ya que no se ha hecho referencia
a la base de la misma. En la Fig. 6.3 se observa la respuesta normalizada para algunos valores
de A.
142
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.3: Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
Los potencimetros antilogartmicos corresponden a una funcin f (x) inversa de la correspondiente a los logartmicos y, mediante razonamiento similar, se llega a la forma analtica:
f (x) =
x
1
(A + 1) xmax 1
A
o sea
(6.2.6)
(A + 1) xmax 1
vi
(6.2.7)
v0 =
A
x
Al igual que en el caso anterior, para A = 0 se obtiene f (x) = xmax
, es decir, el potencimetro
lineal. La respuesta normalizada para algunos valores de A, aparecen graficados en la Fig. 6.4.
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.4: Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
6.2.3
143
Potencimetros trigonomtricos
v0 =
R()
vi = vi sen
R( 2 )
o sea
R() = R( )sen
2
en el primer cuadrante. El potencimetro completo estar constituido por resistencias simtricas
con la misma ley de variacin, dispuestas en los cuatro cuadrantes.
144
6.2.4
Potencimetros Funcionales
6.2.5
ZL Rf (x)
ZL + Rf (x)
Zi =
145
ZL + Rf (x) [1 f (x)]
R
ZL + Rf (x)
(6.2.8)
R2 f (x) [1 f (x)]
= Rf (x) [1 f (x)]
R
(6.2.9)
= R [1 2f (x)] = 0
f (x) =
1
2
(6.2.10)
de donde se deduce que la impedancia de salida es mxima cuando las resistencias entre el cursor
y los extremos son iguales.
Ejemplo 21 Un potencimetro lineal de resistencia R est cargado por una resistencia de valor
kR. Sea la proporcin del recorrido total del contacto deslizante (ver la Fig.). Encontrar la
la expresin de la salida del potencimetro versus .
Solucin: La salida se mide a travs de la ressitencia R en paralelo con kR. Se computa la
razn k de la salida respecto a la entrada. Tratando la Fig. como un divisor de voltaje.
E0
=
H=
Ei
R(kR)
R+kR
R(kR)
R+kR + (1 )R
k
++k
146
2 (1 )
3 + 2 + k k
=
2 + + k
2 + k
0.14
0.12
0.1
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0.2
0.4
0.6
0.8
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje.
En aplicaciones de gran precisin, el potencimetro se carga muy ligeramente, o sea, k > 10.
Para esta condicin
2 (1 )
(6.2.11)
=
k
0.14
0.12
0.1
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0.2
0.4
0.6
0.8
Figura 6.7: Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin
del eje.
(2 3) = 0
2 3
k ,
147
Resolviendo para ,
2
3
Evidentemente, la curva de error tiene pendiente cero en el origen y un valor mximo en = 2/3,
aproximadamente.
1 = 0,
2 =
Ejercicio 4 Usando (6.2.11), encontrar el valor del mximo error debido a la carga. Dibujar
versus .
Solucin: Se sustituye = 2/3 en (6.2.11):
=
( 2 )2 (1 23 )
1 4 1
4
2 (1 )
= 3
= =
k
k
k 9 3
27k
Si k = 10
=
4
= 1.5%
270
Ejercicio 5 Analizar las no linealidades que pueden desarrollarse cargando ya sea la parte superior o la parte inferior del potencimetro de la Fig. (hacer Fig).
Solucin: la ecuacin de salida bsica para las cargas de la Fig.(hacer Fig.) se desarrolla
fcilmente tratando la red como un divisor de voltaje. Se tiene,
H=
k1 R(R)
k1 R+R
k1 R(R)
(k2 R)(1)R
k1 R+R + k2 R+(1)R
Simplificando la expresin de H:
H=
o
k1 (k2 + 1 )
k1 (k2 + 1 ) + k2 (1 )(k1 + )
H=
k1 (k2 + 1 )
2 (k1 + k2 ) + (k1 + k2 ) + k1 k2
k1 k2
k1
=
2 k2 + k2 + k1 k2
2 + + k1
148
1
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
Figura 6.8: Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales.
A continuacin se hace k1 = :
H2 =
k1 (k2 + 1 )
(k2 + 1 )
=
2
k1 + k1 + k1 k2
2 + + k2
La Fig. 6.8 muestra el grfico de k1 y k2 versus el ngulo del eje para varios valores de k1 y
k2 . las curvas universales del diagrama permiten una investigacin simple de las posibilidades
de modelacin no lineal de curvas.
Ejemplo 23 Tomando como referencia la Fig. (hacer Fig.), demostrar que el voltaje del punto
nulo corresponde a la suma de los voltajes de entrada.
Solucin: Si los potencimetros de entrada se han dispuesto en V1 , V2 , V3 , . . . , Vn , los voltajes
en el punto cero son:
V0 = V1 I1 R1 = V2 I2 R2 = V3 I3 R3 ) = Vn In Rn
Las corrientes individuales pueden calcularse fcilmente:
I1 =
I2 =
I3 =
In =
V1 V0
R1
V2 V0
R2
V3 V0
R3
Vn V0
Rn
donde
G1 , G2 , G3 , . . . , Gn =
= (V1 V0 )G1
= (V2 V0 )G2
= (V3 V0 )G3
= (Vn V0 )Gn
1 1 1
1
,
,
, ,
R1 R2 R3
Rn
149
Como la suma de las corrientes que entran al nodo deben ser igual a la corriente que circula
desde el punto 0 a tierra,
(V1 V0 )G1 + (V2 V0 )G2 + (V3 V0 )G3 + + (Vn V0 )Gn = V0 G0
Reordando,
V1 G1 + V2 G2 + V3 G3 + + Vn Gn = V0 (G1 + G2 + G3 + + Gn )
Disponiendo
G1 + G2 + G3 + + Gn = GT
la conductancia total a tierra desde el punto 0; entonces
V0 = V1
G1
G2
G3
Gn
+ V2
+ V3
+ + Vn
GT
GT
GT
GT
(6.2.12)
El voltaje V0 del nodo es la suma de los voltajes individuales aplicados, cada uno multiplicado
por un factor de escalmiento apropiado tal como se requiere.
Ejemplo 24 Dos potencimetros de 1000 ohms se excitan en la forma que se muestra en la
Fig. (). Calcular la corriente por el contacto deslizante del potencimetro cuando P1 se dispone
en +7 V y el otro se dispone para producir un mnimo valor de 0 en el punto cero. Provoca
esta corriente una imprecisin en la posicin? Qu efecto tiene la impedancia de entrada R0
del amplificador en los resultados?
Solucin: Usando (6.2.12)
V0 = V1
G1
G2
+ V2
,
GT
GT
GT = G1 + G2 + G0
G1 =
GT
V0
150
Ejercicio 6 Los potencimetros del problema anterior desarrollan su salida total para un ngulo
de rotacin de 320 . Si se gira el potencimetro P2 en un grado de su posicin de equilibrio nulo,
qu voltaje de error aparece en el punto cero?
Solucin: Tal como antes
V1 = +7,
V2 = 7 + V
1
10 1
+7 7 +
=
= 30mV
16
21 16
6.2.6
Potencimetros Digitales
Un tipo de potencimetros programables son los potencimetros digitales (PD) los cuales constan
de un dispositivo resistivo variable (VR) de 2n posiciones (si n = 8, entonces se tendrn 256
posiciones). Estos dispositivos realizan la misma funcin de ajuste electrnico que los de tipo
mecnico. Los PD se fabrican de uno o ms canales, cada uno de los cuales est constituido por
varias etapas:
Un resistor fijo con toma central (cursor). El valor del resistor se determina por un cdigo
digital cargado en un registro de desplazamiento.
Un latch (cerrojo) del VR, donde se programa el valor de la resistencia entre el cursor y
cada uno de los terminales fijos del resistor, la cual vara linealmente de acuerdo al cdigo
digital transferido.
Un registro de desplazamiento serieparalelo, el cual se carga desde una interface serie y
actualiza el latch del VR.
En la Fig. 6.9 se muestra el diagrama en bloques de un potencimetro digital comercial, el
cual consta de dos canales con un registro serie de 9 bits cada uno. Cada bit es transferido al
registro en el flanco positivo del CLK.
151
152
D
RAB + RW
256
(6.2.13)
donde D es el equivalente decimal del cdigo binario que se carga en el registro RDAC de 8
bits, y RAB es la resistencia nominal total. Por ejemplo, para RAB = 20 k, VB = 0 V y el
circuito del terminal A est abierto, se obtienen los valores de la resistencia de salida RW B para
los correspondientes valores de los cdigos del latch RDAC, los cuales se muestran en la Tabla
6.2. Los resultados seran los mismos si fuera el terminal A el que se conectara con W .
En la condicin de escala cero la resistencia es muy baja, por lo cual se debe tener cuidado
con el flujo de corriente entre los terminales W y B mantenindolo en un lmite de 5 mA. Si no
se hace esto podra destruirse el conmutador interno.
De igual modo que el potencimetro mecnico, la resistencia del RDAC entre el cursor W
y el terminal A tambin produce una resistencia controlada digitalmente RW A . Cuando se
usan estos terminales, el terminal B deber estar abierto o conectado al cursor. Este modo de
operacin hace que el valor de la resistencia RW A empiece al valor mximo de la resistencia
y decremente en la medida que el valor de los datos cargados en el latch se incrementen. La
153
CS
L
L
PR
H
H
SHDN
H
H
X
X
H
X
H
L
H
H
X
X
H
H
P
H
H
L
NOTE:
Register Activity
No SR eect, enables SDO pin
Shift One bit in from the SDI pin. The eighth
previously entered bit is shifted out of the SDO pin.
Load SR data into RDAC latch based on A0 decode
A0 = 0, RDAC #1, A0 = 1, RDAC #2
No Operation
Sets all RDAC latches to midscale, wiper centered,
& SDO latch cleared.
Latches all RDAC latches to 80H.
Open circuits all resistor Aterminals,
connects W to B, turns o SDO output transistor.
P = positive edge, X = dont care, SR = shift register
RW A (D) =
256 D
RAB + RW
256
(6.2.14)
En la Tabla 6.3 se pueden observar algunos valores caractersticos para este modo de operacin.
La distribucin tpica de la resistencia nominal RAB de canal a canal est ajustada en 1%.
Tabla 6.3: Valores caractersticos en el potencimetro digital en modo inverso
D [decimal] RW B [] Estado de salida
256
60
Escala plena
128
10060
Escala media
1
19982
1 LSB
0
20060
Escala cero
154
D
256 D
VA +
VB
256
256
(6.2.15)
6.3
Transductores termorresistivos
(6.3.1)
155
dR
R
dT
1 dR
R dT
(6.3.2)
(6.3.3)
6.3.1
Aunque son muy diversos los circuitos utilizados con sondas de resistencia metlica, se expone
a continuacin, a modo de ejemplo, un esquema basado en la alimentacin a corriente constante
156
Rs
vo = Kf (iRs vp ) = Kf
vi vp
(6.3.4)
R1
y sustituyendo, en primera aproximacin, Rs = Ro (1 + ), donde R0 es la resistencia de la
sonda para = 0, se tiene:
R0 (1 + T )
vo = Kf
(6.3.5)
vi vp
R1
Para T = 0, el potencimetro P2 deber ajustarse de modo que se cumpla vo = 0, para lo
cual, segn la ecuacin (6.3.5),
R0
vi
(6.3.6)
vp =
R1
obtenindose entonces:
vo =
R0
Kf T vi
R1
(6.3.7)
157
La resistencia variable conectada como realimentacin del amplificador U2 servir, obviamente, para el ajuste de fondo de escala dado que la tensin de salida es proporcional a Kf , de
acuerdo con la ecuacin (6.3.7).
La sensibilidad absoluta del circuito es:
v vo
Ro
S o =
=
Kf vi
R1
(6.3.8)
mientras que la sensibilidad relativa con respecto a todos los parmetros involucrados estar
dada por
vo
vo
vo
vo
= STvo = Svo = SK
= SR
= SR
=1
(6.3.9)
Svo =
o
1
f
vo
6.3.2
Una caracterstica de los metales es que su resistencia elctrica es funcin de la temperatura del
metal. As, un alambre de metlico de longitud l, combinado con un dispositivo de medicin
de resistencia es un sistema de medida de temperatura. Los sensores de temperatura basados
en el efecto de la resistencia de un metal se conocen como detectores de temperatura resistivos
(RTD). Los RTD se usan para medir directamente la temperatura, tienden a ser muy estables.
Por otra parte, las sondas RTD son en general fisicamente ms grandes que las termocuplas,
resultando en un resolucin espacial ms pobre y una respuesta transitoria ms lenta. Los
sensores RTD ms comunes se construyen de platino, aunque se pueden utilizar otros metales
incluyendo nquel y aleaciones de nquel. Para el platino la relacin resistencia temperatura est
dada por la ecuacin CallendarVan Dusen:
RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
(6.3.10)
donde , y son constantes, dependientes de la pureza del platino la cual se determina por
calibracin. La constante dominante es , la cual tiene un valor de 0.003921/ C para la denominada curva de calibracin americana, o 0.003851/ C para la curva de calibracin europea. Para la curva de calibracin americana, = 1.49 y = 0 para T > 0. y = 0.11 para
T < 0.Fcilmente se puede adquirir los sensores correspondientes a cada curva. En las Figs. 6.13
y 6.14 se muestra la respuesta de R vs T para valores positivos y negativos de la temperatura,
respectivamente.
Hay un gran nmero de configuraciones de elementos sensores RTD. La Fig. 6.15 muestra
un sensor de hilo de platino devanado y un sensor de pelcula delgada. En el sensor de hilo
devanado, el platino se enrolla en un bobina y el ensamble completo se monta en una cubierta
de cermica o de vidrio. El encapsulado previene dao o contaminacin. En el diseo de pelcula
delgada, el platino se monta en un sustrato de cermica y entonces es encapsulado con cermica
o vidrio. El diseo de pelcula delgada es una tecnologa ms nueva y est ganando favor debido
a su ms bajo costo. Es importante en el diseo de las sondas RTD minimizar el esfuerzo sobre
el platino debido a la expasin trmica, puesto que el esfuerzo tambin causa cambios en la
resistencia.
158
300
250
200
y 150
100
50
0
100
200
300
400
500
140
120
100
80
y
60
40
20
-100
-80
-60
-40
-20
159
Alambres
terminales
Pelcula de
platino
Cpsula de
cermica
Sustrato
Alambre de
platino
1 cm
(a)
(b)
Figura 6.15: Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
del circuito conduce la siguiente expresin para la resistencia del RTD:
RRTD = R2
Vcc 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.11)
Se debe notar que el cambio en la resistencia de los RTD es muy grande comparada con las
galgas extensomtricas (como se ver ms adelante), y la posible linealizacin para las galgas
no es factible para los circuitos RTD. Como consecuencia, la ecuacin (6.3.11) muestra una
relacin no lineal entre la tensin medida y la resistencia del RTD.
Un circuito alternativo llamada el puente RTD de tres hilos se muestra en la Fig. 6.16 (b)
donde un hilo adicional C, se ha agregado. Con este circuito, Rha (la resistencia del hilo A)
estar en la misma rama del puente como R2 y Rhb (la resistencia del hilo B), estar en la
misma rama que el RTD Si los hilos de los terminales son del mismo material, tienen el mismo
dimetro y longitud y siguen la misma trayectoria, los cambios en la resistencia de los terminales
tendrn un efecto muy pequeo sobre Vo . No hay corriente a travs de Rhc , de modo que esta
resistencia no afecta al circuito. Para este circuito, incluyendo las resistencia de los terminales
(con R1 = R4 ), la resistencia del RTD estar dada por
RRTD = R2
Vcc 2Vo
4Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.12)
donde Rterm corresponde a la resistencia de los terminales. El segundo trmino en esta ecuancin usualmente es pequeo, pero para obtener los mejores resultados, se deber determinar el
valor inicial de la resistencia de los terminales. El hecho de que Rterm (se supone que todos
los terminales tienen la misma resistencia) tenga efecto en la medida, es una consecuencia de
160
Figura 6.16: Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos
la operacin del puente en el modo desbalanceado. Es posible operar el puente en un modo
balanceado en el cual el resistor R2 se ajusta tal que Vo sea cero. En este caso, RRTD = R2 y
las resistencias de los terminales no afectarn el resultado. Desafortunadamente, es difcil usar
sistemas de adquisicin de datos con el modo balanceado. Para medidas de alta precisin, sin
embargo, es preferible el modo balanceado.
La Fig.6.17 presenta dos circuitos ms utilizados para determinar la resistencia de un RTD.
En la Fig. 6.17 (a), la cada de tensin a travs del RTD es sensada con dos terminales que no
conducen corriente y por lo tanto no tienen cada de tensin. Para este circuito la resistencia es
una funcin lineal de la tensin medida y est dada por
RRTD = Vo I
(6.3.13)
En este circuito Vo es proporcional a la resistencia del RTD en lugar que al cambio de resistencia
como en el caso con los circuitos de puente Wheatstone. La Fig. 6.17 (b) utiliza cuatro terminales
portadores de corriente siguiendo la misma trayectoria del RTD. Dos de los terminales ms el
RTD estn en la misma rama AD y los otros dos terminales ms R3 estarn el rama DC.
Como con el puente de tres hilos, los cambios en las resistencias de los terminales compensan y
tienen un efecto despreciable sobre Vo . La frmula para evaluar la resistencia del RTD es
RRTD = R3
Vcc 2Vo
8Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.14)
161
(ii) Para este caso T < 0 y se debe utilizar el factor = 0.11. Reemplazando en la misma
ecuacin se llega a
RT
= 79.944
162
Ejemplo 26 Se dispone de una RTD de platino de 100 que tiene un coeficiente de disipacin
trmica = 6mW/K en aire y = 100mW/K en agua. Si se desea que el error por autocalentamiento sea inferior a 0.1 C, cunta corriente puede circular por la resistencia segn est al
aire o inmersa en agua?
Sol. Si la potencia disipada es Pd , el calentamiento experimentado ser
Pd
I 2R
=
6.3.3
(6.3.15)
(6.3.16)
Termistores
Como con el RTD, el termistor es un dispositivo que tiene una resistencia dependiente de la
temperatura. Sin embargo, el termistor, un dispositivo semiconductor muestra un mayor cambio
en la resistencia con respecto a la temperatura que el RTD. El cambio en la resistencia con
la temperatura en el termistor es muy grande, del orden del 4% por grado centgrado. Es
posible construir termistores con una caracterstica de resistencia vs temperatura con pendiente
positiva o negativa. Sin embargo, los dispositivos termistores ms comunes tienen una pendiente
negativa NTC ; lo que significa, que un incremento en la temperatura produce un decremento
en la resistencia, lo opuesto de los RTD. Estn constituidos por mezclas sinterizadas de polvos
de xidos metlicos (de hierro, titanio, nquel, cobalto, cromo, etc) y semiconductores, en forma
de discos, barras, placas y otras configuraciones. Los termistores son altamente no lineales,
mostrando una relacin logartmica entre la resistencia (en k) y la temperatura:
1
= a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3
(6.3.17)
T
Para identificar los parmetros a, b, c y d, basta medir R a cuatro temperaturas distintas y
resolver el sistema de ecuaciones como se indica en la ecuacin (6.3.18).
1
T1
a
1 ln R1 (ln R1 )2 (ln R1 )3
1 ln R2 (ln R2 )2 (ln R2 )3 b T 1
2
(6.3.18)
1 ln R3 (ln R3 )2 (ln R3 )3 c = T 1
3
d
1 ln R4 (ln R4 )2 (ln R4 )3
T41
163
Ejemplo 27 Los siguientes son datos de resistencia y temperatura, en k y Kelvin respectivamente, para el caso de un termistor con encapsulado de acero de 10 k dados por el fabricante:
T1
T2
T3
T4
= 253.15 R1 = 78.91
= 293.15 R2 = 12.26
= 343.15 R3 = 1.99
= 393.15 R4 = 0.4818
T1=253.15; R1=78.91;
T2=293.15; R2=12.26;
T3=343.15; R3=1.990;
T4=393.15; R4=0.4818;
y=[1/T1;1/T2;1/T3;1/T4];
A=[1,(log(R1)),(log(R1))^2,(log(R1))^3;1,(log(R2)),(log(R2))^2,(log(R2))^3;
1,(log(R3)),(log(R3))^2,(log(R3))^3;1,(log(R4)),(log(R4))^2,(log(R4))^3];
x=A^(-1)*y;
R=1.0:0.1:100.0;
T=(x(1)+x(2)*log(R)+x(3)*(log(R)).^2+x(4)*(log(R)).^3).^(-1)-273.15
plot(R,T)
Para el caso dado se obtienen los siguientes valores de los coeficientes:
a = 2.700 103 b = 2.6138 104
c = 3.416 106 d = 1.2714 107
Siendo dispositivos semiconductores, los termistores estn restringidos a temperaturas relativamente bajas. Muchos estn restringidos a temperaturas por debajo de 100 C y generalmente
no hay disponibles para medir temperaturas por encima de 300 C. Los sensores de termistores
pueden llegar a ser muy precisos, del orden de 0.1 C, pero la mayora no lo son tanto.
Otra forma de expresar la relacin de la resistencia de coeficiente de temperatura negativo
con la temperatura absoluta es de la forma:
B
R = R0 e
1
T
T1
(6.3.19)
164
165
dT
dt
(6.3.23)
= (T Ta )
V2
= (T Ta )
VI =
RT
(6.3.24)
(6.3.25)
V = (T Ta )A exp
B
T
B
T2
4Ta
1
B
(6.3.27)
(6.3.28)
!
(6.3.29)
166
Termistor (absoluta)
Resistencia metlica
Termopar
260 C a +300 C
200 C a +1000 C
260 C a +2800 C
10 K/ C
0.2/ C
40 50V / C
0.01 C
0.01 C
0.1 C
0.03 C/a
no
0.01a 0.003 C/a
no
0.1 a 0.03 C/a
no
diferencias de temperatura, las resistencias NTC o PTC son sensibles a la temperatura absoluta.
Por otra parte, una de sus cualidades ms sobresalientes es que presentan grandes variaciones
de resistencia al variar la temperatura, por lo cual los dispositivos termomtricos que utilizan
termistores se caracterizan siempre por su alta sensibilidad. Se trata, adems de componentes
muy robustos, fiables y econmicos. Los nicos inconvenientes son su lentitud de respuesta,
las grandes tolerancias de fabricacin, la necesidad de un envejecimiento artificial para poder
garantizar una estabilidad razonable y el campo de medida limitado.
En el cuadro siguiente se resumen algunos datos comparativos de las resistencias NTC con
otros componentes sensibles a la temperatura.
6.3.4
Como se sabe, el valor de la resistencia de estos componentes viene dado por la expresin
B( T1 T1 )
R = Ro e
(6.3.30)
La temperatura T0 suele ser de 198K (25 C), y el coeficiente B puede ser del orden de
4000K.
En la Fig. ?? se representa esta funcin para varios termistores comerciales (siendo el
1
1
parmetro de las curvas el coeficiente B). e4000( T 298 )
.1e3
.1e2
1.
.1
.1e-1
250
300
350
T
400
450
500
167
6.3.5
Las resistencias NTC se aplican ampliamente en circuitos temomtricos. Como se ver a continuacin, pese a la no linealidad de su resistencia en funcin de la temperatura, puede optimizarse
el diseo obtenindose sistemas de medida muy sensibles con errores por falta de linealidad
aceptables.
En la Fig. 6.19 se representa un circuito tpico muy simple para medida de temperatura en
donde el termistor se hace funcionar en el primer tramo de su caracterstica.
NTC
Vcc
R(T)
+
Vo
R1
R1
R1 + R(T )
Vo =
1+
R0 B
R1 e
1
T
T1
VCC
(6.3.31)
168
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
100
200
300
400
Ro
R1
500
B 2TL
B( 1 1 )
R0 e TL T0
B + 2TL
(6.3.32)
La expresin (6.3.32) permite as calcular la resistencia R1 ptima en funcin de las caractersticas del termistor y de la temperatura TL central del campo de medida.
En cuanto a la eleccin de VCC , habr que llegar a un compromiso entre precisin (valores de
VCC pequeos para evitar el autocalentamiento) y sensibilidad (valores de VCC grandes). Para
ello se admite un incremento T mximo sobre la temperatura ambiente Ta a medir, incremento
que estar asociado con el error por autocalentamiento. De acuerdo con esto, se tiene:
T = T Ta
siendo la potencia mxima disipada en la NTC (correspondiente a R = R1 ):
Wmax =
de donde
2
VCC
T
=
4R1
R
R1 T
R
La sensibilidad absoluta del sistema para T = TL es
dvs
VCC B 2
S=
=
1
dT T =TL
B
4TL2
VCC =
(6.3.33)
(6.3.34)
El nico inconveniente de este circuito es que, para el origen de la escala termomtrica que
se adopte, la tensin de salida no es nula. Para evitar esto, se utiliza la configuracin en puente
(ver 6.21), en donde la tensin de salida ser
169
R2
NTC
+
Vcc
A
R1
Vo
R(T)
+
B
R1
vo = VBA = VCC
R1
R1
R(T ) + R1 R1 + R2
6.3.6
En la Fig. 6.4 se ilustra muy esquemticamente una aplicacin de una resistencia NTC, donde el
termistor funciona en la zona regenerativa. En este caso el termistor acta como un estabilizador
de temperatura. Ntese que se tiene la respuesta dada por la ecuacin (6.3.31).
170
6.3.7
Las resistencias de coeficiente de temperatura positivo o PTC, tienen la propiedad de experimentar un cambio drstico en su valor cuando se alcanza una temperatura crtica caracterstica
del material. Por debajo de dicha temperatura la resistencia es baja (del orden de 100) y por
171
encima, la resistencia es muy alta (del oreden de 10M ). Dado que no existe una ecuacin que
exprese rigurosamente este comportamiento y puesto que el cambio se produce en el estrecho
intervalo de temperaturas, la curva queda idealizada como se ilustra en la Fig. 6.24, donde
se representa cualitativamente la curva resistenciatemperatura de estos dispositivos.Tomando
(6.3.36)
(6.3.37)
172
173
(6.3.39)
174
6.4
Transductores fotorresistivos
Los ms importantes dentro de este grupo son, sin duda, la clula fotorresistiva (fotorresistencia)
y el fotodiodo.
6.4.1
La clula fotorresistiva
La clula fotoresistiva o LDR es esencialmente una resistencia cuyo valor vara con la intensidad
de la radiacin luminosa incidente y consiste en una capa delgada de selenio, germanio, sulfuro
de plomo, sulfuro de cadmio, antimonio, indio y algunos otros metales o compuestos meticos,
dispuesta sobre un substrato cermico o plstico. La capa fotorresistiva suele tener forma ondulada y est protegida por una lmina transparente que constituye una de las caras de la cpsula
que contien la clula. La resistencia de elemento disminuye a medida que aumenta la intensidad
de la radiacin segn la ley de variacin que depende del material utilizado.
Con el objeto de ilustrar el principio fsico en que se basan las resistencias LDR, la Fig.
representa un bloque de un material semiconductor fotosensible provisto de dos electrodos exteriores entre los que est aplicada la tensin v, y sobre el cual incide radiacin luminosa de
intensidad L y longitud de onda .
El nmero de electrones liberados por unidad de tiempo por efecto fotoelctrico puede expresarse en la forma
N = LAd
(6.4.1)
donde es un parmetro que depende de , A es el ancho de la zona expuesta y d su longitud.
Si es la vida media de los electrones libres y v la velocidad media a la que se desplazan por
accin del campo elctrico asociado con el potencial v, el nmero efectivo de ellos que contribuir
a la corriente en el circuito exterior, ser:
v
(6.4.2)
Nef = L A d
d
ya que el producto v es la longitud recorrida durante su vida media.
Por otra parte, si E = v/d es el campo elctrico, se cumple:
v
v = e E = e
(6.4.3)
d
donde e es la movilidad de los electrones, luego
v
(6.4.4)
Nef = LA e
d
La corriente elctrica se obtendr multiplicando Nef por la carga q del electrn:
v
q
d
y la resistencia medida entre los electrodos puede obtenerse de la expresin anterior
i = qNef = L A e
R=
d
1
v
=
i
A e q L
(6.4.5)
(6.4.6)
175
la vida media por otra parte, est ligada con la intensidad luminosa L mediante uan expresin
del tipo
(6.4.7)
=
0 L
De este modo, la resistencia R ser de la forma
d
A q 0
176
R1
R1
1
V =
V =
V
K
a
R1 + R(L)
R1 + KL
1 + R1 L1
(6.4.8)
1 a
L
+1 c
(6.4.10)
177
donde Lc es la abscisa de dicho punto de inflexin. Este valor Lc deber corresponder al centro
del margen de medida, para mxima linealidad, o sea
Lc =
Lmin + Lmax
2
(6.4.11)
siendo Lmin y Lmax las intensidades de iluminacin en los extremos de dicho margen.
La ecuacin que proporciona R1 demuestra que para que exista punto de inflexin, tiene
que ser mayor que 1. Es decir, la condicin
>1
(6.4.12)
podra ser el criterio de eleccin de la clula para que fuese vlido el procedimiento de diseo
que se est proponiendo.
Puesto que, adems,
KLa
(6.4.13)
c = R(Lc )
la expresin de R1 puede escribirse tambin en la forma
R1 =
1
R(Lc )
+1
(6.4.14)
No hay criterios claros para elegir un determinado tipo de clula en fotometra, a excepcin
de que sea mayor que la unidad. Los fabricantes suelen recomendar clulas de alta resistencia
para fuertes iluminaciones y de baja resistencia para iluminaciones dbiles.
En cuanto a la tensin de alimentacin V , puede elegirse, como en el caso de las resistencias
NTC, admitiendo un incremento T de temperatura sobre la ambiente, pudiendo aplicarse la
misma frmula
r
R1 T
V 2
R
La sensibilidad absoluta del circuito que se est estudiando, en el centro de la escala de
medida, es:
V 2 1
dvs
(6.4.15)
=
S=
dL L=Lc
LC 4
6.4.2
El fotodiodo
Puede tambin considerarse dentro del grupo de captadores fotorresistivos al fotodiodo. En los
fotodiodos se aprovecha el aumento de la conductividad inversa de unin PN por absorcin
de radiacin luminosa. Dicho aumento se debe a la generacin de pares electrnhueco al
incidir los fotones sobre el material semiconductor, crendose as una corriente inversa de fugas
dependientes de la intensidad de la radiacin.
En la Fig. 6.32 se representa una familia de curvas caractersticas de un fotodiodo. Para
L = 0 se tiene la curva tpica de un diodo semiconductor. Para intensidades luminosas crecientes
178
1
-2
v
-1
-1.5
-0.5
0.5
0
-1
i
-3
+
V
+
R1
vo
dvs
= R1 Kd
dL
(6.4.17)
179
Los fotodiodos son ms estables con la temperatura que las clulas LDR y, por supuesto, mucho ms lineales y de respuesta mucho ms rpida. Su nico inconveniente es que las corrientes
que manejan son muy pequeas (del orden de microamperios). Se utilizan en fotometra, deteccin de impulsos luminosos, lectura ptica de cintas perforadas, lectura de caracteres, medida
de transparencia, etc.
6.5
Transductores extensomtricos
Constituyen un importante grupo de captadores de amplia aplicacin en la medida de deformaciones de estructuras slidas sometidas a esfuerzos. Su principio de funcionamiento se basa en
la variacin de resistencia de un hilo conductor por efecto de un alargamiento.
Cuando se aplica una fuerza a una estructura, los componentes de la estructura cambian
ligeramente en sus dimensiones y se dice que est sometida a un esfuerzo. Los dispositivos que
miden estos pequeos cambios en las dimensiones se denominan galgas extensomtricas.
La galga extensomtrica es un dispositivo muy comn utilizado en la medicin de esfuerzos
en las estructuras y tambin como un elemento sensor en una amplia variedad de transductores,
incluyendo aquellos usados para medir fuerza, aceleracin y presin. Las galgas extensimetricas
y los acondicionadores de seal asociados son sencillos, baratos y muy confiables.
Considrese un hilo metlico de longitud l seccin A, y resistividad , su resistencia elctrica
R es
l
R=
A
Si se le somete a un esfuerzo en direccin longitudinal, cada una de las tres magnitudes que
intervienen en el valor de R experimenta un cambio y, por lo tanto, R tambin cambia de la
forma
d dl dA
dR
=
+
(6.5.1)
R
l
A
El cambio de la longitud que resulta de aplicar una fuerza F a una pieza unidimensional,
siempre y cuando no se entre en la zona de fluencia (Fig), viene dado por la ley de Hooke,
=
dl
F
=E =E
A
l
donde E es una constante del material, denominada mdulo de Young, es la tensin mecnica
y es la deformacin unitaria.
es adimensional, pero para mayor claridad se suele dar en
microdeformaciones (1 microdeformacin = 1 = 106 m/m). El trmino dl/l se define
como esfuerzo axial, a .
dl
a =
l
Si se considera ahora una pieza que adems de la longitud l tenga una dimensin transversal
t, resulta que como consecuencia de aplicar un esfuerzo longitudinal no solo cambia l sino que
tambin lo hace t. El cambio en la dimensin transversal respecto a la longitudinal depende
180
de la relacin entre los esfuerzos transversal y longitudinal, los cuales estn dados por la ley de
Poisson:
(6.5.2)
t = a
donde es el denominado coeficiente de Poisson. El signo menos indica que cuando la longitud
se incrementa, la seccin decrece.Su valor est entre 0 y 0.5, siendo, por ejemplo, de 0.17 para
la fundicin maleable, de 0.303 para el acero y de 0.33 para el aluminio y el cobre. Obsrvese
que para que se conservara constante el volumen debera ser = 0.5.
Para el hilo conductor considerado anteriormente, si se supone una seccin cilndrica de
dimetro D, se tendr
D2
A=
4
dD
dl
dA
=2
= 2
(6.5.3)
A
D
l
Debe notarse que esta relacin es vlida independientemente de la forma geomtrica de la seccin
transversal del hilo conductor.
La variacin que experimenta la resistividad como resultado de un esfuerzo mecnico se
conoce como efecto piezorresistivo. Estos cambios se deben a la variacin de la amplitud de las
oscilaciones de los nudos de la red cristalina del metal. Si ste se tensa, la amplitud aumenta,
mientras que si se comprime, la amplitud disminuye. Si la amplitud de las oscilaciones de
los nudos aumenta, la velocidad de los electrones disminuye, y aumenta. Si dicha amplitud
disminuye tambin disminuye. Para el caso de los metales, resulta que los cambios porcentuales
de resistividad y de volumen son proporcionales
dV
d
=C
V
donde C es la denominada constante de Bridgman, cuyo valor es de 1.13 a 1.15 para las aleaciones
empleadas comnmente en galgas, y de 4.4 para el platino.
Aplicando (6.5.3), el cambio de volumen se puede expresar como
V =
lD2
4
dl
dD
dl
dV
=
+2
= (1 2)
V
l
D
l
y, por lo tanto, si el material es istropo y no se rebasa su lmite elstico, (6.5.1) se transforma
finalmente en
dR
=a [1 + 2 + C(1 2)]
(6.5.4)
R
En este punto, es til definir el factor de galga axial (Funcin de sensibilidad relativa), Sa :
Sa =
dR/R
a
(6.5.5)
181
(6.5.6)
El valor de Sa es del orden de 2 para la mayora de los metales, salvo para el platino en cuyo
caso es del orden de 6.
As pues, para pequeas variaciones la resistencia del hilo metlico deformado puede ponerse
de la forma
R = R0 (1 + x)
donde R0 es la resistencia en reposo y x = Sa . El cambio de resistencia no excede el 2%.
En el caso de un semiconductor, al someterlo a esfuerzo predomina el efecto piezorresistivo.
Las expresiones de la relacin resistencia-deformacin son para un caso concreto [7]:
para un material tipo p:
dR
= 119.5 + 4
R0
dR
= 110 + 10
R0
Deformacin
Figura 6.34: Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n (lnea
de trazos).
pueden obtener dispositivos de salida muy alta (5 V o ms), caracterstica que no se puede dar
182
183
Se puede observar que existe una relacin entre el cambio de resistencia de un material
y la deformacin que experimente ste. Si se conoce la relacin entre esta deformacin y el
esfuerzo que la provoca ??, a partir de la medida de los cambios de resistencia se podrn
conocer los esfuerzos y, en su caso, las magnitudes que provocan dichos esfuerzos en un sensor
apropiado. Un resistor dispuesto de forma que sea sensible a la deformacin constituye una
galga extensomtrica.
Cabe considerar algunas limitaciones en la aplicacin de este principio de medida [28]:
El esfuerzo aplicado no debe llevar a la galga fuera del margen elstico de deformaciones.
ste no excede del 4% de la longitud de la galga y va desde unas 3000 para las semiconductoras a unas 40000 para las metlicas.
La medida de un esfuerzo slo ser correcta si es transmitido totalmente a la galga. Ello se
logra pegando sta cuidadosamente mediante un adhesivo elstico que sea suficientemente
estable con el tiempo y la temperatura. A la vez, la galga debe estar aislada elctricamente
del objeto donde se mide, y protegida del ambiente.
Se debe estar en un estado plano de deformaciones, es decir, que no haya esfuerzos en la
direccin perpendicular a la superficie de la galga. Para que la resistencia elctrica de sta
sea apreciable se disponen varios tramos longitudinales y en el diseo se procura que los
tramos transversales tengan mayor seccin, pues as se reduce la sensibilidad transversal a
un valor de slo el 1% o el 2% de la logitudinal.
La temperatura es una fuente de interferencias por varias razones. Afecta a la resistividad
del material, a sus dimensiones y a las dimensiones del soporte. Como resultado de todo
ello, una vez la galga est dispuesta en la superficie de medida, si hay un cambio de
temperatura, antes de aplicar algn esfuerzo se tendr ya un cambio de resistencia. En
galgas metlicas este cambio puede ser de hasta 50 / C.
Un factor que puede provocar el calentamiento de la galga es la propia potencia que disipe
cuando, al medir su resistencia, se haga circular por ella una corriente elctrica. En las
galgas metlicas la corriente mxima es de unos 25 mA si el soporte es buen conductor
(cobre, acero, aluminio) y de 5 mA si es mal conductor (plstico, madera). La potencia
permitida aumenta con el rea de la galga y va desde 0.77 W/cm2 a 0.15 W/cm2 , segn
el soporte. En las galgas semiconductoras, la potencia mxima disipable es de unos 250
mW .
Las fuerzas termoelectromotrices presentes en la unin de dos metales distintos, ya que
pueden dar una tensin de salida superpuesta a la de inters si se alimenta la galga con
corriente continua. Su presencia se reconoce si cambia la salida al variar la polaridad de la
alimentacin. Deben corregirse bien mediante el mtodo de insensibilidad intrnseca, por
seleccin de materiales, bien mediante filtrado, a base de alimentar las galgas con corriente
alterna.
184
Idealmente, las galgas deberan ser puntuales para poder medir los esfuerzos en un punto
concreto. En la prctica sus dimensiones son apreciables, y se supone que el punto de medida
es el centro geomtrico de la galga. Si se van a medir vibraciones, la longitud de onda de stas
debe ser mucho mayor que la longitud de la galga. Si por ejemplo, sta es de 5 mm y se mide
en acero, donde la velocidad del sonido es de unos 5900 m/s, la mxima frecuencia medible es
del orden de 100kHz.
Si se mide en una superficie no uniforme, como el hormign, puede interesar, en cambio,
realizar un promedio de deformaciones para no caer en error debido a una singularidad en la
superficie.
En muchas situaciones, la superficie de una estructura se comprime o tensiona simultanemanete en ms de una direccin, llevando a una condicin llamada esfuerzo biaxial, si una
estructura se carga en una direccin existe un esfuerzo transversal (como lo predice la ecuacin
(6.5.2)). Este efecto est incluido cuando los fabricantes determinan los factores de galga. En el
esfuerzo biaxial, sin embargo, hay una expansin transversal que resulta del esfuerzo transverso.
Esta expansin transversal afectar la salida de galga extensomtrica y puede describirse con
un factor de galga transversal, St . Similar a la ecuacin (6.5.5) la cual define el factor de galga
axial, St se define por
dR/R
(6.5.8)
St =
t
Kt
a a
t
=
+
1 Kt
a
a
donde a es el esfuerzo axial verdadero y a es el esfuerzo que la medida podra predecir si se
despreciara el esfuerzo transversal. Para Kt = 0.01, = 0.3 y t / a = 2, el error en el esfuerzo
axial es 2.3%.
Aunque la galga es ligeramente sensible a los esfuerzos transversales, para propsitos prcticos, una simple galga extensomtrica puede medir el esfuerzo nicamente en una direccin. Para
definir el estado del esfuerzo sobre una superficie, es necesario especificar dos esfuerzos lineales
ortogonales x y y y un tercer esfuerzo llamado cizalladura (esfuerzo cortante), xy , el cambio
entre dos lneas originalmente ortogonales cuando un slido se somete a un esfuerzo. Estos
esfuerzos se pueden determinar por tres galgas situadas adecuadamente en un arreglo llamado
roseta extensomtrica. La Fg. 6.36 muestra los dos arreglos ms comunes de estas tres galgas:
La roseta rectangular, y la roseta equiangular. En la roseta rectangular, las galgas se colocan a
ngulos de 0 , 45 y 90 . En la roseta equiangular, estn arregladas a 0 , 60 y 120 . cada una
de estas galgas mide el esfuerzo lineal en la direccin del eje de la misma.
185
120
SG3
SG2
45
SG2
SG3
60
SG1
SG1
(a)
(b)
Figura 6.36: Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b)
equiangular.
De acuerdo a Popov [29], si se puede describir el campo del esfuerzo en un plano sobre un
slido por los valores x , y y xy , el esfuerzo lineal en una direccin al eje x se puede representar
por
2
2
(6.5.10)
= x cos + y sen + xy sen cos
Esta ecuacin puede aplicarse a cada una de las galgas extensomtricas en una roseta, resultando
en tres ecuaciones simultaneas:
1
2
x cos 1
2
x cos 2
2
x cos 3
2
y sen 1
2
y sen 2
2
y sen 3
+
+
+
+ xy sen1 cos 1
+ xy sen2 cos 2
+ xy sen3 cos 3
90
xy = 2
45
(6.5.11)
x, y
y xy .
(6.5.12)
(
90 )
xy =
60
2
(
3
2
60
120
120 )
0 )
(6.5.13)
186
En muchos libros de mecnica de materiales se proporcionan mtodos para evaluar los esfuerzos
mximos normal y cortante de estos valores de deformacin. No es fcil construir los rosetas
extensomtricas, stas se pueden obtener de los fabricantes con la forma definida, un ejemplo se
muestra en la Fig.6.37.
Tipos y aplicaciones
Los materiales para la fabricacin de galgas extensomtricas son diversos conductores metlicos,
como las aleaciones constantan, advance, karma, y tambin semiconductores como el silicio y
el germanio. Las aleaciones metlicas escogidas tienen la ventaja de un bajo coeficiente de
temperatura porque en ellas se compensa parcialmente la disminucin de la movilidad de los
electrones al aumentar la temperatura con el aumento de su concentracin [28]. Las galgas
pueden tener o no soporte propio, eligindose en su caso en funcin de la temperatura a la que
se va a medir. Para aplicaciones de sensores tctiles en robots, se emplean tambin elastmeros
conductores. Para la medida de grandes deformaciones en estructuras biolgicas se emplean
galgas elsticas que consisten en un tubo elstico lleno de mercurio u otro lquido conductor
[26].
Las galgas metlicas con soporte pueden ser de hilo bobinado o plegado con soporte de papel,
o impresas en fotograbado. En este caso se dispone de una gran variedad de configuraciones,
adaptadas a diversos tipos de esfuerzos. Hay modelos para diafragma, para medir torsiones,
para determinar esfuerzos mximos y mnimos y sus direcciones (rosetas mltiples), etc.
En la Tabla 6.5 se presentan algunas de las caractersticas habituales de las galgas metlicas y
semiconductoras [28]. El factor de sensibilidad se determina por muestreo, pues una vez utilizada
187
6.6
Rg
+
v
-
___>
i1
R b1
M1
R b2
.
L2
|^x
Rc
R'
b2
M3
L1
___>
i2
L3
M2
v1
0
R1 + sL1
(M1 M2 )s
(M1 M2 )s R2 + sL2 + sL02 sM3
i1
i2
(6.6.1)
188
M1 M2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 s + L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
(6.6.2)
(M2 M1 )Rc
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
s + L1 (L2 +L0 2M
2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
3 )(M2 M1 )
2
(6.6.3)
En la posicin central, M2 = M1 , y segn (6.6.3), v0 = 0, tal como se haba anticipado.
En las otras posiciones del ncleo, L1 , L2 , L02 , M3 y M2 M1 varan aproximadamente de la
forma siguiente: M3 presenta variaciones lentas alrededor de x0 ; M2 M1 tiene una variacin
muy rpida y lineal, alrededor de x0 ; L2 + L02 se mantiene prcticamente constante y L1 tiene
variaciones lentas alrededor de x0 .
Para analizar cual es finalmente la relacin entre la tensin de salida y la posicin del vstago,
conviene considerar primero el efecto de la resistencia de carga Rc . Si el secundario est en vaco,
la expresin final de la tensin de salida se reduce a
v0 =
s(M1 M2 )v1
sL1 + R1
(6.6.4)
v1
sL1 + R1
(6.6.5)
(6.6.6)
que indica que v0 es proporcional a M2 M1 y, por lo tanto, al desplazamiento del vstago, y que
est desfasasa 90 respecto a la corriente del primario. De la expresin (6.6.4) se deduce, adems,
que v0 /v1 tiene respuesta de paso alto respecto a la frecuencia de la tensin de alimentacin.
Cuando f1 = R1 /L1 , la sensibilidad es del 70% (3dB) de la que se tiene a partir de frecuencias
unas diez veces mayores.
Si el secundario no est en vaco, pero se acepta que L2 +L02 2M3 es prcticamente constante
con la posicin del vstago y se designa por 2L2 , y que 2L2 L1 (M2 M1 )2 , la expresin de
la tensin de salida pasa a ser
v0 =
(M1 M2 )Rc
2L1 L2
s2
sv1
R2 L1 +2R1 L2
R1 R2
s + 2L
2L1 L2
1 L2
(6.6.7)
Resulta, pues que la sensibilidad aumenta al hacerlo la resistencia de carga. Tambin aumenta
inicialmente al hacerlo f1 , pero a partir de una determinada frecuencia decrece. En la Fig () se
189
h
(1 2 )
32
1.5
y
0.5
0
10
10
10
-0.5
-1
-1.5
0.3
0.2
y
0.1
0
-0.1
-0.2
-0.3
0.8
0.7
0.6
0.5
y 0.4
0.3
0.2
0.1
0
De () se deduce tambin que hay un desfase entre la tensin del primario y la del secundario,
que depende de f1 . Este desfase es nulo a la frecuencia
1
fn =
2
R1 R2
2L1 L2
1
2
(6.6.8)
190
(M1 M2 )Rc
v1
R2 L1 + 2L2 R1
(6.6.9)
(6.6.10)
191
L1
R1
(6.6.11)
192
(R1 L1 + 2R1 L2 )
R1 R2 2L1 L2 2
(6.6.12)
6.6.1
Transformadores variables
N1 i1
S cos
l
(6.6.14)
(6.6.15)
M12 = N2 N1 S cos = M cos
l
193
(6.6.17)
Es decir, la tensin de salida tiene la misma frecuencia que la de entrada, pero su amplitud
depende de la inclinacin relativa entre los devanados, si bien no de una forma proporcional.
Este principio de medida se presta bien a las aplicaciones donde hay que determinar una
posicin o desplazamiento angular.
Por su pequeo momento de inercia, los transformadores variables imponen, en general,
menos carga mecnica al eje de giro que los codificadores digitales, que requieren discos grandes
para tener alta resolucin. Por su construccin, aguantan mayores temperaturas y ms humedad,
choques y vibraciones que los codificadores y ciertos potencimetros, por lo que son particularmente considerados en las aplicaciones militares y aeroespaciales.
Segn se ver, los transformadores variables pueden transmitir la informacin analgica
hasta 2 km de distancia, con cable adecuado, y all hacer la conversin a digital. En cambio, los
codificadores digitales sufren mucha interferencia si se transmite directamente su seal de salida,
en particular en aquellas aplicaciones donde hay campos electromagnticos intensos, como puede
ser el posicionamiento de antenas (radar). Otra ventaja es que hay desplazamiento elctrico entre
la excitacin de entrada y la salida, y ello reduce, por ejemplo, las interferencias conducidas.
En el cuadro () se recogen los valores de la excitacin mxima aproximada propia de distintos
sistemas de medida de posiciones angulares.
Las ventajas de los transforamdores variables han llevado al desarrollo de diversas configuraciones fsicas, cuya comercializacin con una marca determinada ha tenido en algunos casos
tanto xito que todos los dispositivos similares se conocen con el mismo nombre comercial.
Una de las disposiciones fsicas ms simple es el denominado potencimetro de induccin
(Fig()). Consiste en dos devanados planos concntricos, uno fijo, estator, y otro mvil, rotor,
que puede girar respecto al primero, cada uno con su propio ncleo ferromagntico. Si uno de
los dos se alimenta con una tensin sinusoidal, la tensin inducida en el otro, en circuito abierto,
viene dada por (6.6.17)
6.7
Transductores electroqumicos
Estos transductores tienen escasa aplicacin industrial y se basan en la deteccin del nivel de
un electrolito por la variacin que se produce en la resistencia entre dos electrodos sumergidos.
Pueden utilizarse directamente en la medida de nivel de lquidos con propiedades electroqumicas,
y en la medida de pequeas presiones (proporcionales a la altura del electrolito en el receptculo
del transductor, que se unira mediante un conducto adecuado provisto de diafragma o pistn al
punto de medida). El inconveniente ms importate de este transductor es la alteracin progresiva
que se va produciendo en el electrolito por efecto de los fenmenos de electrlisis que tienen lugar.
194
6.8
6.8.1
Sensores capacitivos
Un capacitor consiste en dos conductores separados por un dielctrico (slido, lquido o gaseoso),
o el vaco. Funcionan por el principio de que la capacitancia de un condensador es funcin de la
distancia entre las placas y del rea de las mismas:
donde
es el coeficiente dielctrico de las sustancia entre las placas (
para el aire),
es
la permitividad del vaco 8.85 1012 C 2 /N m2 , A es el rea de la placa superpuesta y
d es la distancia entre las placas. Si A tiene unidades de m2 y d est en metros, C tendr
unidades de faradios. Como se muestra en la Fig. , hay dos modos de usar un transductor
capacitivo para medidas de desplazamiento. En la Fig.
(a) una placa se mueve de modo
que la distancia, d, entre las placas vara. Alternativamente, [Fig. (b)],una de las placas se
puede mover paralela a la otra, de modo que el rea enfrentada vara. En el primer caso, la
capacitancia es aproximadamente una funcin lineal del desplazamiento. Puesto que la salida del
sensor capacitvo no es un voltaje, se requiere acondicionamiento de la seal. Se puede utilizar
un puente Wheatstone de corriente alterna para este propsito.
En general los sensores capacitivos son no lineales. su linealidad depende del parmetro que
vara y de si se mide la impedancia o la admitancia del condensador. En un condensador plano,
por ejemplo, con
Captulo 7
Introduccin
Se denominan sensores generadores aquellos que generan una seal elctrica a partir de la magnitud que miden sin necesidad de alimentacin elctrica. Ofrecen una alternativa para medir
muchas de las magnitudes ordinarias, sobre todo temperatura, fuerza y magnitudes afines. Pero,
adems, dado que se basan en efectos reversibles, estn relacionados con diversos tipos de accionadores o aplicaciones inversas en general. Es decir, se pueden emplear para la generacin de
acciones no elctricas a partir de seales elctricas.
Igualmente sern analizados los sensores fotovoltaicos y algunos de magnitudes qumicas
(relacionadas con la composicin) para las que hasta el momento se han visto pocas posibilidades
de medida.
Algunos de los efectos que se describen aqu pueden producirse inadvertidamente en los
circuitos, y ser as fuente de interfencias Es el caso de las fuerzas termoelectromotrices, de las
vibraciones en cables con determinados dielctricos o de los potenciales galvnicos en soldaduras
o contactos. La descripcin de los fenmenos asociados, con vistas a la transduccin, permite
tambin su anlisis cuando se trate de reducir interferencias.
7.2
7.2.1
Termopares
Efectos termoelctricos
Los sensores termoelctricos se basan en dos efectos que, a diferencia del efecto Joule, son
reversibles. se trata del efecto Peltier y del efecto Thompson.
Histricamente fue primero Thomas J. Seebeck quien descubri, en 1822, que en un circuito
de dos metales distintos homogneos, A y B, con dos uniones a diferente temperatura, aparece
una corriente elctrica Fig. 7.1. Es decir, hay una conversin de energa trmica a elctrica,
o bien, si se abre el circuito, hay una fuerza termoelectromotriz (f.t.e.m) que depende de los
metales y de la diferencia de temperatura entre las dos uniones. Al conjunto de estos dos metales
195
196
DVM
Unin sensora
Alambre de
metal B
Terminal DVM
(7.2.3)
7.2. TERMOPARES
197
El hecho de que el calor intercambiado por unidad de superficie de la unin sea proporcional
a la corriente y no a su cuadrado, marca la diferencia respecto al efecto Joule. En ste, el
calentamiento depende del cuadrado de la corriente, y no cambia al hacerlo su direccin.
El efecto Peltier es tambin independiente del origen de la corriente, que puede ser, pues,
incluso de origen termoelctrico. En este caso las uniones alcanzan una temperatura diferente a
la ambiental, y por ello puede ser una fuente de errores.
El efecto Thompson, descubierto por William Thompson (Lord Kelvin) en 1847-54, consiste
en la absorcin o liberacin del calor por parte de un conductor homogneo con temperatura
no homognea por el que circule una corriente. El calor liberado es proporcional a la corriente
no a su cuadrado y, por ello, cambia el signo al hacerlo el sentido de la corriente. En otras
palabras, se absorbe calor si la corriente y el calor fluyen en direcciones opuestas, y se libera
calor si fluyen en la misma direccin.
El flujo neto de calor por unidad de volumen, Q, en un conductor de resistividad r, con un
gradiente longitudinal de temperatura, dT
dx , por el que circula una densidad de corriente J, ser,
Q = J
dT
dx
(7.2.4)
(7.2.5)
(7.2.6)
esta expresin indica que el efecto Seebeck es, de hecho, el resultado de los efectos Peltier y
Thompson, y expresa el teorema fundamental de la termoelectricidad.
Las expresiones (7.2.1) y (7.2.6) permiten pensar en la aplicacin de los termopares a la
medida de temperaturas. Si en un circuito se mantiene una unin a temperatura constante
(unin de referencia), la f.t.e.m. ser funcin de la temperatura a la que est sometida la otra
unin, que se denomina unin de medida. Los valores correspondientes a la tensin obtenida con
determinados termopares, en funcin de la temperatura de esta unin cuando la otra se mantiene
a 0 C, estn tabulados. El circuito equivalente es una fuente de tensin con una resistencia de
198
salida distinta en cada rama (la de cada metal). Para cobre y constantan, por ejemplo, pueden
ser 300 y 10.
Ahora bien, la aplicacin de los termopares a la medida est sujeta a una serie de limitaciones
que conviene conocer para su uso correcto.
La temperatura mxima que alcance el termopar debe ser inferior a su temperatura de
fusin. Por lo tanto, hay que elegir un modelo adecuado a los valores de temperatura a
medir.
El medio donde se va a medir no debe atacar a ninguno de los metales de la unin.
La corriente que circule por el circuito de temopares debe ser mnima. De no ser as, dado
el carcter reversible de los efectos Peltier y Thomson, la temperatura de los conductores,
y en particular la de las uniones, sera distinta a la del entorno, debido al flujo de calor
desde y hacia el circuito. Segn la intensidad de la corriente, incluso el efecto Joule podra
ser apreciable. Todo esto llevara a que la unin de medida alcanzara una temparatura
distinta a la que se desea medir y la unin de referencia una temperatura diferente a la
supuesta, con los consiguientes errores.
Los conductores deben ser homogneos, por lo que conviene extremar las precauciones para
que no sufran tensiones mecnicas (por ejemplo, al instalarlos), ni trmicas (por ejemplo,
debidas al envejecimiento si hay gradientes de temperatura importantes a lo largo de su
tendido).
Se debe mantener una de las dos uniones a una temperatura de referencia fija si se desea
medir la de la otra unin, pues todo cambio en dicha unin de referencia ser una fuente de
error. Repercute en ello que la tensin de salida es muy pequea, por cuanto la sensibilidad
tpica es de 6 a 75V / C. Si adems la temperatura de referencia no es muy prxima a
la de la medida, resultar que la seal ofrecida tendr un nivel alto constante en el que
los cambios de temperatura de inters puede que provoquen slo pequeas variaciones de
tensin.
Si se desea una precisin elevada, la no linealidad de la relacin entre f.t.e.m. y temperatura
puede ser importante. Una frmula aproximada y con validez general es
VAB C1 (T1 + T2 ) + C2 (T12 T22 )
(7.2.7)
7.2. TERMOPARES
199
Esta no linealidad puede que requiera una correccin que se realiza en el circuito de acondicionamiento de seal. Considerando todos los factores, es dficil tener un error menor que
0.5 C. La tolerancia de unas a otras unidades del mismo modelo, puede ser de varios
grados Celsius.
A pesar de estas limitaciones, los termopares tiene muchas ventajas y son, con mucha diferencia, los sensores ms frecuentes para la medida de temperaturas. Por una parte, tienen un
alcance de medida grande, no slo en su conjunto, que va desde 270 C hasta 3000 C, sino en
cada modelo particular. Por otra parte, su estabilidad a largo plazo es aceptable y su fiabilidad elevada. Adems, para temperaturas bajas tiene mayor exactitud que las RTD, y por su
pequeo tamao permiten tener velocidades de respuesta rpidas, del orden de milisegundos.
Poseen tambin robustez, simplicidad y flexibilidad de utilizacin, y se dispone de modelos de
bajo precio que son suficientes en muchas aplicaciones. Dado que no necesitan excitacin, no
tienen los problemas de autocalentamiento que presentan las RTD, en particular al medir la
temperatura de gases.
7.2.2
La simplicidad general de los termopares ha conducido a su amplio uso como sensores para
medida de la temperatura. Hay, sin embargo, un nmero de complicaciones en su uso:
1. La medida de tensin se debe hacer sin flujo de corriente.
2. Las conexiones a dispositivos de medida de tensin resultan en uniones adicionales.
3. La tensin depende de la composicin de los metales usados en los hilos.
Para que un termopar pueda ser usado como medidor de temperatura, no debe haber flujo de
corriente a travs de los hilos y la unin. Esto es porque el flujo de corriente no solo resultar en
prdidas resistivas sino que tambin afectar las tensiones termoelctricas. Reunir este requisito
actualmemte no es un problema puesto que se dispone de voltmetros electrnicos y de sistemas
de adquisicin de datos con muy alta impedancia de entrada.
La segunda complicacin tiene que ver con el hecho de que realmente hay tres uniones en
la Fig. 7.1. Adems de la unin sensora, hay dos uniones donde el termopar se conecta con
el DVM. La lectura de la tensin as, es funcin de tres temperaturas (la unin sensora y las
uniones a los terminales del DVM), dos de las cuales son de ningn inters. La solucin a este
problema se muestra en la Fig. 7.2(a).
Se usan dos termocuplas, la segunda se denomina unin de referencia. La unin de referencia
se mantiene a una temperatura conocida fija. La temperatura de una mezcla de hielo y agua pura
a 1 atm. (0 C). Se dispone actualmente de dispositivos electrnicos que simulan elctricamente
la unin de referencia fra sin la necesidad de disponer realmente de la mezcla hieloagua. An
hay dos uniones en los terminales del DVM, pero cada una de estas uniones est construida
con los mismos materiales y si los dos materiales pueden mantenerse a la misma temperatura,
200
Alambre de
metal A
Alambre de
metal A
Cobre
Unin
sensora
Unin
sensora
DVM
Alambre de
metal B
Metal A
Unin de
referencia
(a)
DVM
Alambre de
metal B
Metal B
Uniones de
referencia
(b)
201
para construir los termopares. Cuando se fabrican los alambres para los termopares de acuerdo
a las normas establecidas por el National Institute of Standards and Technology (antiguamente
conocido como National Bureau of Standards NBS), se pueden usar las curvas de calibracin
normalizadas para determinar la temperatura con base a las tensiones medidas. Puesto que la
tensin de salida es en general funcin no lineal de la temperatura, se requieren tablas, grficos
o funciones polinomiales para interpretar los datos de la tensin leda. La Fig. 7.3 muestra las
curvas de calibracin tomadas de las funciones polinomiales dadas por Creus [10] para varios
R
7.3
Sensores piezoelctricos
What is Piezoelectricity?
An overview & History
In the 1880s, Pierre and Jacque Curie discovered that some crystalline materials, when
compressed, produce a voltage proportional to the applied pressure and that when an electric
field is applied across the material, there is a corresponding change of shape.
This characteristic is called piezoelectricity or pressure electricity (Piezo is the Greek word
for pressure).
Piezoelectric ceramics respond rapidly to changes in input voltage, and power supply noise
is the only limiting factor in the positional resolution. Although high voltages are used to
produce the piezoelectric eect, power consumption is low, and energy consumption is minimal
in maintaining a fixed position with a fixed load.
Although piezoelectricity is found in several types of natural materials, most modern devices
use polycrystalline ceramics such as lead zirconate titanate (PZT).
A material is said to possess piezoelectric properties if an electrical charge is produced when
a mechanical stress in applied. This is commonly referred to as the generator eect. The
converse also holds true; an applied electric field will produce a mechanical stress in the material.
This is commonly referred to as the motor eect.
Some naturally occurring crystalline materials possessing these properties are quartz and
tourmaline. Some artificially produced piezoelectric crystals are Rochelle salt, ammonium dihydrogen phosphate (ADP) and lithium sulphate (LH).
Another class of materials possessing these properties is polarized piezoelectric ceramic.
They are typically referred to as ferroelectric materials. In contrast to the naturally occurring
piezoelectric crystals, ferroelectric ceramics are of polycrystalline structure. the most commonly produced piezoelectric ceramics are: lead zirconate titanate (PZT), barium titanate, lead
titanate and lead metaniobate.
Production of all of the piezoelectric ceramic materials involve detailed processing. Material
properties may be altered by modifying the chemical composition and manufacturing processes.
The provides the designer a means of tailoring the materials properties to the application.
Many processes are involved in the production of piezoelectric ceramics. The first ceramic
process consists of mixing the raw materials. The powders are then heated which reacts the
202
7.3.1
Captadores Piezoelctricos
203
7.3.2
Materiales piezoelctricos
Entre los materiales naturales que manifiestan el fenmeno descrito estn los cristales de cuarzo
y turmalina, y entre los materiales sintticos que se comportan del mismo modo pueden citarse la
sal de Rochelle y el titanato de bario, adems de ciertos compuestos de tipo cermico utilizados
actualmente.
El titanato de bario, concretamente, pertenece al grupo de los denominados materiales
ferroelctricos, de los cuales el ms representativo podra ser el zirconato de plomo. Deben su
nombre a la analoga entre los dominios elctricos, concepto que se utiliza en la interpretacin
terica de sus propiedades, y los dominios magnticos a los que se hace referencia en la teora
del ferromagnetismo. Durante el proceso de fabricacin, se polarizan calentndolos por encima
del punto Curie y se dejan enfriar lentamente en presencia de un fuerte campo elctrico (obsrvese
la analoga con el proceso de fabricacin de los imanes y la dualidad campo magnticocampo
elctrico).
Los dispositivos que utilizan materiales ferroelctricos se caracterizan por su gran robustez y
capacidad para soportar grandes esfuerzos. Se emplean adems frecuentemente como actuadores
y, en especial, en sistemas de generacin de ultrasonidos.
Recientemente se estn utilizando tambin los polmeros ferroelctricos entre los cuales
destaca el fluoruro de polivinilideno, material de alta sensibilidad piezoelctrica y piroelctrica
que sive de base para algunos sensores modernos experimentales de diversas magnitudes mecnicas, elctricas y pticas. Actualmente se estudia su aplicabilidad a la deteccin tactil en robots
y en prtesis de miembros.
204
se consiguen lminas sensibles a deformaciones por compresin, esfuerzo cortante o flexin (ver
Fig.7.4)
7.3.3
Base Terica
Las relaciones mecanoelctricas para un material piezoelctrico vienen dadas por las siguientes
ecuaciones (unidimensionales):
= (T, E)
D = D(T, E)
=sT +dE
D =E +dT
donde
Deformacin unitaria
T Esfuerzo
E Campo elctrico
D Desplazamiento
Constante dielctrica
s Inversa del mdulo de Young
d Constante piezoelctrica (C/N )
En estos materiales, tanto la deformacin mecnica como el vector desplazamiento elctrico
se deben a una cambinacin del esfuerzo y campo elctrico aplicado al material. Un ndice de la
conversin viene dado por el coeficiente de acoplamiento electromecnico (K), definido como la
raz cuadrada de la relacin entre la energa disponible y la almacenada (para frecuencias muy
por debajo de la frecuencia de resonancia del elemento). Puede demostrarse que
K=
d2
s
j, n = 1, 2, . . . 6
i, k, l, m = 1, 2, 3
l 6= m
205
compresintraccin que, por otra parte, es el usual en muchos de los transductores basados en
este tipo de sensores Fig
En la Fig. se representa esquemticamente un cristal piezoelctrico en forma de lmina
con electrodos metlicos depositados sobre las caras opuestas. En la misma figura se ilustra el
equilibrio dinmico del cristal sometido a una fuerza F de compresin, de modo que se produce
una disminucin z en su espesor. Los terminales del cristal aparecen cortocircuitados, es decir
no existe diferencia de potencial entre ellos y no se tiene en cuenta, por lo tanto, la fuerza debida
a la reversibilidad del efecto piezoelctrico.
La deformacin genera una carga Q cuyo valor es aproximadamente proporcional al acortamiento unitario del espesor del cristal, para deformaciones muy pequeas, o sea:
Q=K
z
e
(7.3.1)
donde K es una constante que depende del material y de la direccin de la talla y e es el espesor
del cristal antes de la deformacin.
Si, en el caso ms gnenral, se supone que z est variando con el tiempo a una velocidad
dz/dt y una aceleracin d2 z/dt2 , considerando el sentido positivo de z indicado en la Fig., Se
obtien derivando la expresin (7.3.1):
i=
K dz
dQ
=
dt
e dt
(7.3.2)
donde se ha considerado que el espesor e permanece constante. Existe pues una corriente de
desplazamiento interno de cargas proporcional a la velocidad de deformacin, que circulara por
el conductor de cortocircuito entre terminales.
Por otra parte, como se indica en la Fig., intervienen en el caso ms genral, adems de
la fuerza F aplicada, otras solicitaciones que definen el equilibrio dinmico del sistema y que
pueden expresarse del modo siguiente en funcin de z y sus derivadas
2
Fuerza de inercia a la masa m equivalente del cristal
m ddt2z
dz
r dt
Fuerza asociada a las resistencias pasivas (del tipo de rozamiento viscoso, proporcional a la velocidad)
l
Cm z Fuerza de reaccin elstica, proporcional a la deformacin, donde Cm , es la llamada
capacidad mecnica, inversa de la elastancia mecnica del cristal para el modo de deformacin
considerado.
El equilibrio dinmico se expresar indicando balance de fuerzas que acta sobre el sistema:
F =m
l
dz
d2 z
+r +
z
2
dt
dt
Cm
(7.3.3)
idt
(7.3.4)
206
7.3.4
Considrece ahora el esquema de la Fig. (7.5) que representa un circuito L, R, C en serie alimentado por un generador de tensin v(t).
Co
di(t)
1
+ Ri(t) +
dt
C
i(t)dt
(7.3.5)
Dado que los trminos funcionales de los segundos miembros de las ecuaciones (7.3.4) y (7.3.5)
son idnticos, puede establecerse una equivalencia entre ambas expresando la proporcionalidad
entre las funciones de los primeros miembros y entre los coeficientes correspondientes del segundo,
o sea
LK
RK
Cm K
u(t)
=
=
=
=
(7.3.6)
F
me
re
Ce
donde sera el factor de proporcionalidad.
De la ecuacin anterior, se deducen las expresiones
u(t) = F
L=
e
e
K
m R = r C = Cm
K
K
e
Resulta as que puede establecerse una analoga entre el cristal en su equilibrio dinmico y un
circuito resonante serie con amortiguamiento, en donde son vlidas las siguientes relaciones:
La tensin de alimentacin es proporcional a la fuerza.
La resistencia es proporcional al coeficiente representativo del efecto del amortiguamiento
mecnico del sistema.
La inductancia es proporcional a la masa equivalente del cristal.
La capacidad elctrica es proporcional a la capacidad mecnica.
207
Estas conclusiones son de gran utilidad para el estudio de circuitos con cristales piezoelctricos, toda vez que el cristal puede ser sustituido por un circuito L, R, C equivalente alimentado por
un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada, como se muestra en la Fig.(izquieda).
Si se abre el corto circuito entre los terminales fsicos del cristal, quedar intercalado en el
buque el condensador C0 correspondiente a la disposicin de los dos electrodos separados por el
propio cristal (dielctrico) y, en este caso, la corriente i(t) no podra ser medida fisicamenteya
que estaa formada por el desplazamiento interno de cargas que se almacenaran, en definitiva,
en dicho condensador. El circuito equivalente completo es el representado en la derecha de la
Fig. (), donde los pintos a y b corresponden a los terminales fsicos del sensor
A modo de ejemplo, se indican a continuacin los parmetros elctricos d un cristal de cuarzo
de frecuencia de resonancia igual a 10M Hz (corte AT).
En aplicaciones como sensor, donde el funcionamiento tiene lugar a frecuencias muy inferiores
a la de resonancia mecnica del cristal (obviamente coincidente con la resonancia elctrica de su
circuito equivalente), tanto las velocidades como las aceleraciones tienen valores tan bajos que es
posible despreciar los trminos asociados a estas magnitudes, con lo cual el circuito equivalente
se reduce al ilustrado en el lado izquierdo de la Fig.().
En el lado derecho de dicha figura se muestra una configuracin aun ms simplificada que
resulta de la anterior aplicando el teorema de Thevenin entre los terminales a y b, en donde el
generador corresponde al original afectado del coeficiente = C/(C + C0 ) del divisor de tensin
capacitivo y la impedancia interna est formada por los dos condensadores en paralelo.
Puede decirse que el cristal piezoelctrico, dentro de las aproximaciones indicadas, equivale
a un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada en serie con un condensador que
corresponde aproximadamente al definido fsicamente por la geometra del sensor (es decir, el
condensador C0 ), siempre referido al modelo de la Fig().
El estudio de la respuesta de los cristales piezoelctricos a solicitaciones estticas proporciona
interesantes relaciones entre los parmetros que se estn manejando y otros dependientes de las
propiedades elsticas del material y de su geometra.
7.3.5
Respuesta esttica
Si se supone sometido el cristal a una fuerza constante y el sistema est en reposo, la carga
almacenada en las placas ser
1F
z
(7.3.7)
Q=K =K
e
ES
donde E es el mdulo de Young, F la fuerza aplicada y S la superficie sobre la que acta (la de
los electrodos de acuerdo con el modelo de la Fig()). Por otra parte, de acuerdo a la definicn
de Cm , se tiene, en condiciones estticas (la nica fuerza que se opone a F es la reaccin elstica
del cristal)
1
F =
z
(7.3.8)
Cm
208
S
=E
Cm
e
(7.3.9)
Mediante diferentes operaciones, se obtienen adems estas otras expresiones que proporcionan
los valores de .R y L en funcin de los parmetros fsicos del cristal entre los que se cuenta la
capacidad C.
La tensin de salida del sensor piezoelctrico para excitacin esttica es, segn la Fig.()
=
K
CES
R=
e
e
C
r L=
m us =
F
CES
CES
C + C0
(7.3.10)
1
K
K
F
F
=
ES C + C0
ESC0
(7.3.11)
(7.3.12)
Puede observarse que esta sensibilidad es funcin de las caractersticas fsicas del cristal (E, e, K)
y de su configuracin geomtrica (e/S 2 ), siendo fuertemente dependiente de la superficie de
lascaras que sirven de soporte a los elctrodos. Obviamente, la sensibilidad referida a presin
(F/S) tendra una expresin idntica a la anterior pero en el denominador aparecera S sin
elevar al cuadrado.
7.3.6
Respuesta dinmica
Suponiendo aplicada una fuerza variable senoidalmete, es decir de la forma F (t) = Fm sent la
tensin de salida del sensor en rgimen permanente se deduce del circuito equivalente, siendo su
mdulo:
CFm
p
(7.3.13)
|us | =
C0 ((1 LC 2 )2 + R2 C 2 2 )
Esta misma expresin puede ponerse en funcin de los parmetros mecnicos del cristal utilizando las equivalencias ya conocidas, con lo que resulta
|us | =
Cm KFm
p
2 2 )
eC0 ((1 LCm 2 )2 + r2 Cm
(7.3.14)
209
a la resonancia mecnica del cristal, o bien a la resonancia elctrica del circuito equivalente, y
que puede calcularse igualendo a cero la derivada, obtenindose:
s
1
r2
(7.3.15)
0 = 2f0 =
mCm 2m2
donde 0 y f0 son la pulsacin y la frecuencia de resonancia, respectivamente.
En las aplicaciones como sensor, un criterio a seguir es que las frecuencias contenidas en la
magnitud excitadora sean muy inferiores a la de resonancia del cristal, con objeto de operar en
la parte plana de la curva.
En otro tipo de aplicaciones (osciladores, generadores de ultrasonidos, etc) el cristal se hace
funcionar precisamente a su frecuancia de resonancia. En estos casos, en que no existe una
fuerza exterior aplicada, el cristal se considera como elemento del circuito pasivo y es interesante observar que presenta dos frecuencias de resonancia (que corresponde a las denominadas
resonancia serie y resonancia paralelo). En efecto, la impedancia entre los puntos a y b del
circuito equivalente de la Fig.() es:
z=
1
1 + RCp + LCp2
CC0
CC0 2 (C + C )p
1 + R C+C0 p + L C+C0 p
0
(7.3.16)
cuyo mdulo, para funcionamiento en alterna (p = j), tiene un mnimo y un mximo correspondiente a las dos frecuencias de resonancia mencionadas.
Una primera aproximacin vlida consiste en despreciar el efecto amortiguador de la resistencia R (en efecto, los factores Q son usualmente de decenas de millares), con lo cual:
z()
=
1
1 (/s )2
(C + C0 )j 1 (/ p )2
(7.3.17)
(7.3.18)
Dado que, como se ha explicado anteiormente, C0 es mucho mayor que C, las pulsaciones o
frecuencias de resonancia serie y paralelo son casi iguales, es decir:
s
= p
(7.3.19)
Los osciladores de cristal oscilan una frecuencia comprendida entre la de resonancia serie y la de
resonacia paralelo, en los diseos ms usuales, con un ligero desplazamiento hacia la resonancia
paralelo. No obstante, de acuerdo con (eq), la frecuencia de oscilacin es prcticamente igual
a ambas y a la de resonancia mecnica del cristal (). En ciertos casos, los cristales se hacen
oscilar a mltiplos de la frecuencia fundamental (sobretonos) forzando determinados modos de
210
vibracin en los que se producen ondas estacionarias. Dependiendo de las caractersticas del
cristal, pueden excitarse modos de vibracin a compresin, a cortadura, a flexin, etc.
En la Fig.() se ilustra cualitativamente el mdulo de la impedancia dada por () en funcin
de la pulsacin .
Es de destacar que existen sensores basados en la variacin de la frecuencia de oscilacin
con el incremento de la masa del cristal al fijarse sobre un recubrimiento sensible determinadas
substancias (microgavimetra selectiva), pero se trata en este caso de sensores indirectos.
7.3.7
Los circuitos equivalentes de los cristales piezoelctricos muestran dificultades de las medidas
en muy baja frecuencia con este tipo de sensores (impedancia de salida infinita para frecuencia
cero).
No obstante, pueden aplicarse vitualmente en cualquier rango de frecuencias utilizando los
denominados amplificadores de carga, que consisten esencialmente en integradores.
En la Fig.() se muestra en foram esquemtica un sisterma que muestra un integrador
analgico conectado a un sensor piezoelctrico, que aparece sustituido por su circuito equivalente. La tensin de salida de este circuito, viene dada por la siguiente expresin:
us =
1+(p/s )2
R (c + C0 )p + 1 C0
1+(p/p )2 a
(7.3.20)
que, para magnitudes con un contenido armnico de muy baja frecuencia, puede aproximarse
como
C
Qc
(7.3.21)
us = F =
Ca
Ca
La tensin de salida es, pues, aproximadamente proporcional a la carga Qc alamcenada en el
condensador Ca .
Los amplificadores de carga permiten as medidas incluso en condiciones estticas (de hecho,
la expresin anterior es exacta en tales condiciones), entregando una salida proporcional a la
fuerza aplicada. Su principal problema prctico es que tienden a saturarse a largo plazo por
integracin de pequeos errores de deriva de continua, lo que obliga a utilizar amplificadores
operacionales de altas prestaciones en lo que se refiere a deriva, tensiones de desviacin (oset)
y corrientes de polarizacin. Adicionalmente, suele ser necesario cortocircuitar peridicamente
el condensador de integracin para eliminar errores acumulados. Por supuesto, puede utilizarse
cualquier esquema de integrador adems del ilustrado en la Fig.().
Otro problema que se presenta algunas veces cuando el cable de conexin de seal es largo
existen perturbaciones mecnicas ambientales (acsticas, vibratorias, etc), es que dicho cable
puede comportarse como un transductor microfnico, apareciendo ruido en la seal. Muchos
fabricantes disponen de cable especial para evitar o mitigar este efecto. Adicionalmente, la capacidad parsita asociada se suma al valor de C0 , reducindose la amplitud de la seal disponible
por efecto de divisor capacitivo con el condensador C. Es recomendable preamplificar la seal
muy cerca del sensor.
211
7.3.8
Aplicaciones
Los sensores piezoelctricos encuentran aplicacin en multitud de transductores analgicos directos (medidores de fuerza y presin, acelermetros, micrfonos, etc) que se caracterizan, en
general, por su fiabilidad, robustez y capacidad para trabajar en ambientes hostiles. Podra
afirmarse, no obstante, que las realizaciones de mayor difusin se refieren a medidas dinmicas,
dados los problemas que presentan en muy baja frecuencia. Sin embargo, existen transductores
basados en cristales piezoelctricos de gran precisin que son exitados por magnitudes estticas
o cuasiestticas.En los transductores en que la magnitud excitadora puede cambiar de signo (por
ejemplo, un acelermetro que puede medir aceleracin y desaceleracin) y este hecho implica
una inversin de la solicitacin mecnica (por ejemplo, se pasa de compresin a traccin), se
prefiere polarizar mecnicamente el cristal sometindolo a una deformacin inicial a la que se
superpone en un sentido u otro la debida a la magnitud a medir.
En la Fig.() se muestra esquemticamente, por por ejemplo, la estructura de un acelermetro
tpico, donde puede observarse como el cristal est precomprimido por un resorte dispuesto entre
la carcasa del transductor y la masa de inercia que acta como sonda. La fuerza de precompresin
puede ajustarse haciendo girar la tapa roscada sobre la que se apoya el resorte.
212
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0.6
Figura 7.6:
0.8
Captulo 8
Introduccin
En este captulo se proporcionan las bases tcnicas de los sistemas comunes usados para medir
presin y humedad. Se incluyen los dispositivos de medida ms corrientes, aunque deber notarse
que en la prctica de ingeniera tambin se emplean otros dispositivos. En este captulo tambin
se hace una introduccin a la tecnologa de fibra ptica en los sistemas de medida los cuales
incluyen sensores para presin, temperatura y otras variables fsicas.
8.2
Medida de presin
La presin se mide en tres formas diferentes: presin absoluta, presin atmosfrica y presin
diferencial.
La presin absoluta se usa en termodinmica para determinar el estado de una sustancia, se
mide con relacin al cero absoluto de presin.
La presin atmofrica es la presin ejercida por la atmsfera terrestre medida con un barmetro.
A nivel del mar esta presin es cercana a 760mm Hg absolutos o 14.7 psia (libras por pulgada
cuadrada absoluta) y estos valores definen la presin ejercida por la atmsfera estndar.
La presin diferencial es la diferencia de presin entre dos puntos de un sistema.
El vaco es la diferencia de presiones entre la presin atmosfrica existente y la presin
absoluta, es decir, es la presin medida por debajo de la atmosfrica.
Existen dispositivos para medir directamente la presin en cada forma. Aunque algunos
dispositivos miden directamente la presin absoluta, es comn hacer dos medidas con dos dispositivos uno para determinar la presin absoluta ambiente y el otro para determinar la presin
atmosfrica. La presin absoluta es entonces
pabs = pamb + patm
(8.2.1)
214
8.3
(8.2.2)
Existen tres dispositivos tradicionales para medida de presin los cuales no tienen salida elctrica pero an son muy utilizados por lo cual merecen ser mencionados. El manmetro y el tubo
Bourdon (desarrollado por E. Bourdon en 1849) son usados debido a que se puede leer directamente la presin. El tercer dispositivo, el sensor de peso muerto, es valioso para calibracin de
otros dispositivos de medida de presin. Ninguno es adecuado para medidas dinmicas.
8.3.1
Manmetros
Tubo
transparente
en U
Densidad m
h
(R)
(8.3.1)
donde h = R es la diferencia de niveles de las dos interfaces, m es la densidad del lquido del
215
R
P1
Recipiente
216
cuando no hay presin diferencial aplicada. Para aplicar los manmetros a medida de gases se
puede usar directamente la ecuacin (8.3.1), ya que s 0. Para lquidos, la frmula aplicable
es ms complicada puesto que el recipiente y la columna no estn a la misma altura. Para
aplicaciones a lquidos, el usuario deber seguir el anlisis sobre manmetros dado, v. gr., en
Streeter y Wylie [31].
Cuando se tienen presiones diferenciales muy bajas se puede usar el llamado manmetro
inclinado (Fig. 8.3), el cual tiene mayor resolucin con lo cual se incrementa la sensibilidad.
ste se puede utilizar para medir presiones tan bajas como 0.1 pulgadas de una columna de
agua. El tubo inclinado hace que un pequeo cambio en la altura del fluido cause un gran
desplazamiento en la direccin del tubo transparente.
P2
P1
h
R
(8.3.2)
217
Vaco
Tubo transparente
P
125000
P
=
=
= 0.937 88 m
m g
Sagua g
13.6 1000 9.8
Ejemplo 30 Una presin est dada como 58 psi. Cul es la presin expresada como pulgadas
de Hg y pies de agua?
Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene
2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
=
= 9. 836 9 pies Hg = 118. 04. pulg Hg
h =
pies
lbm
Hg g
13.6 62.43 pies
3 32.17 s2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
=
h =
= 133. 78 pies de H2 O
pies
lbm
H O g
62.43 pies
3 32.17 s2
2
218
Ejemplo 32 Se desea disear un manmetro inclinado para medir una presin de gas entre 0
y 3 pulg. de una columna de agua con una resolucin de 0.01pulg. El fluido del manmetro es
agua y es posible leer la pendiente de la escala con una resolucin de 0.05 pulg. Cul ser el
ngulo , y cmo de largo deber ser el tubo inclinado?
Sol. El ngulo puede determinarse del requisito de resolucin; 0.01 pulg. de agua corresponde a 0.05 del tubo inclinado. Por lo tanto sen = 0.01/0.05, = 11.5 . Puesto que la
elevacin total es de 3.0 pulg. en la longitud del tubo, sen = 3/L, = L = 15 pulg.
8.3.2
Tubo Bourdon
Un dispositivo de medida de presin muy comn, el tubo Bourdon, se muestra en la Fig. 8.5. Es
un dispositivo sencillo para obtener lecturas rpidas de presin en los fluidos. El principio bsico
de operacin es que un tubo curvo y aplanado tratar de enderezarse cuando sea sometido a
una presin interna. El terminal del tubo se conecta con un engranaje a un indicador rotatorio.
Puede utilizarse para presiones hasta de 20000 psi o ms, aunque no tiene alta precisin son
comunes errores de hasta el 5%. Se pueden obtener dispositivos de mucha mejor respuesta con
errores de hasta del 0.5% a plena escala. Los tubos Bourdon son utilizados algunas veces como
dispositivos de sensado de presin remotos. La deflexin del tubo es sensada con un LVDT o un
potencimetro los cuales transmiten una seal elctrica al lugar de adquisin de datos.
Seccin A - A
Seal de presin
8.3.3
El probador de peso muerto, mostrado en la Fig. 8.6 es un dispositivo que se utiliza a menudo
para calibrar otros dispositivos de medida de presin a presiones moderadas o altas. El dispos-
219
itivo de medida de presin a ser calibrado, sensa la presin del aceite contenido en una cmara.
Un arreglo cilindropistn se conecta en la cima de la cmara donde se pueden colocar pesas.
Un tornillo separado de un pistn puede ser utilizado para ajustar el volumen de la cmara de
modo que el pistn con la pesa este situado en la mitad de su rango posible de movimiento.
La presin del fluido es entonces el peso del pistn el peso del arreglo dividido entre el rea
del pistn. El dispositivo es muy preciso puesto que el rea del pistn y el valor de la pesa se
pueden determinar con alta precisin.
Dispositivo
a ensayar
Pesas
W
rea de
pistn, A
Tornillo con
rosca de
desplazamiento
Aceite
Manivela
8.3.4
Transductores de presin
Un dispositivo muy comn y relativamente barato para medir presin en un fluido es el transductor de presin de diafragma con galga extensomtrica, esquematizado en la Fig. 8.7. La presin
de prueba se aplica a un lado del diafragma, una presin de referencia al otro lado y la deflexin
del difragma se sensa con galgas extensomtricas. En los diseos ms comunes, la presin de
referencia es la atmosfrica, de modo que el transductor mide dicha presin. En algunos casos el
lado de referencia del transductor es evacuado y sellado de modo que el transductor mide presin
absoluta. Finalmente, ambos lados del transductor se pueden conectar a diferentes presiones de
prueba de modo que la medida es presin diferencial. Los transductores para cada una de estas
aplicaciones tienen detalles de construccin ligeramente diferentes.
Antiguamente, el diafragma era usualmente hecho de metal y se utilizaban galgas metlicas.
Ms recientemente, ha llegado a ser comn construir el diafragma de un material semiconductor
(silicio) con galgas extensomtricas de semiconductor embebidas en el diafragma. Esta es una
tcnica de construccin menos costosa y, puesto que las galgas extensomtricas de semiconductor tienen factores de galga ms altos, se mejora la sensibilidad. El sicilio no es resistente a la
corrosin producida por algunos fluidos, por lo que se incluye adems algn material resistente
a la corrosin en el diafragma, con la regin situada entre los dos diafragmas llena de un fluido.
220
Galga
extensiomtrica
Presin de
referencia
Seal de
presin
Diafragma
Cpsula
LVDT
Seal de
presin
221
para la transmisin de la seal. Los sensores capacitivos a veces se usan como transductores de
presin y son particularmente tiles para presiones muy bajas (tanto como 0.1 Pa), puesto que
los sensores capacitivos pueden detectar deflexiones extremadamente pequeas. Un esquema de
un transductor de presin capacitivo se muestra en la Fig.8.9.
Placa mvil
del capacitor
Diafragma
Presin de
referencia
Seal de
presin
222
Figura 8.10:
8.3.5
La necesidad de medir presiones absolutas muy bajas (vaco) existe tanto en el laboratorio como
en la industria. El frioseco de los alimentos se realiza en un ambiente vacio. Las presiones de
vaco absoluto se miden en unidades de torr. Esta unidad se define como 1/760 de la atmsfera
estndar. Puesto que la atmsfera estndar es 760mm de mercurio, 1 torr es 1mmHg. Norton
(1982) dio las siguientes definiciones para rangos de presiones de vaco:
Vaco
Vaco
Vaco
Vaco
Vacio
bajo
medio
alto
muy alto
ultra-alto
760 a 25 torr
25 a 103 torr
103 a 106 torr
106 a 109 torr
Inferior a 109 torr
Los dispositivos de medida de presin descritos previamente pueden ser usados para medicin
de vacios bajos y medios. Los manmetros, los calibradores bourdon, y calibradores similares
usan un fuelle instalasdo de un tubo bourdon y los transductores de diafragma capacitivos pueden
medir vacios hasta 103 torr. Transductores especializados de diafragma capacitivo pueden medir
vacios tan bajos como 105 torr [Norton (1982)].A continuacin, se discutiran tres dispositivos
especializados de medida de vacio: el calibrador de McLeod, calibradores de conductividad
trmica,. y calibradores de ionizacin. Ese es un calibrador mecnico usado para graduacin, y
los otros dos proveen salidas electricas.
223
Elemento (s)
piezoelctrico (s)
Diafragma
Conector
elctrico
C apilar
de seccin
transversal,a
h2
h1
Tubo capilar 1
m bolo
Punto A
M ercurio
(a)
(b)
224
(8.3.3)
P 0 = Pvac + (h2 h1 )
(8.3.4)
(8.3.5)
(h2 h1 )a(h2 h1 )
= k(h2 h1 )2
V
(8.3.6)
Esto es, la presin sensada es igual a la diferencia de las alturas al cuadrado multiplicada
por una constante k. La escala puede ser marcada para ser leda directamente en unidades de
torr.
El calibrador McLeod es til para medir vacios en un rango 103 a 106 torr. Deben se usados
con gases secosque no se condensen mientra es comprimido en el tubo capilar El calibrador
McLeod tiene algunos inconvenientes para su uso y son usados principalmente para calibrar
otros dispositivos de medida de vaco.
Calibradores de vaco de Conductividad Trmica
Estos equipos estn basados en el hecho de que la conductividad trmica de los gases a bajas
presiones es funcin de la presin Aunque estos equipos no por lo normal sensan vacios tan
bajos coma la galga McLeod, ellos proveen una salida elctrica y son simples de usar. Un sensor
de conductividad trmica llamado galga Pirani est representado en la Fig().
Un filamento calentado est localizado en el centro de un canal conectado a la fuente de
vacio. La transferencia de calor del filamento a la pared est dado por
q = C(Tf Tw )Pvac
(8.3.7)
225
Figura 8.13:
filamento y la pared incrementar,aumentando la resistencia del filamento. La salida del puente,
la cual es funcin de la resistencia del sensor es as una medidad de la presin del gas. Desde
que la transferencia de calor es tambin funcin de la temperatura del ambiente un canal sellado
de referencia est includo en el puente para compensacin. Hay muchos diseos de galgas de
conductividad trmica que se pueden usar en presiones tan bajas como 103 torr.
Galgas de Ionizacin en vaco
Este sensor est basado en el principio de que a medida que los elctrones energizados pasan a
travs de un gas ellos ionizaran algunas de las molculas del gas. El nmero de iones generados
depende de la densidad del gas y en consecuencia de la presin. Una galga de ionizacin est
mostrada esquemticamente en la Fig(). El sensor fsicamente se asemeja al tubo de vaco conocido como triodo aunque el modo de operacin es distinto. El ctodo es un filamento calentado
y el circuito crea una corriente de electrones entre el ctodo y la malla. Los electrones ionizaran
algunas de las molculas del gas creando iones positivos y ms electrones. Los electrones sern
atrados a la malla pero los iones sern atrados a la placa, la cual es mantenida a un voltaje
negativo (a diferencia del triodo donde la placa es mantenida en un voltaje positivo). La corriente de iones y la corriente de la placa se miden separadamente. La presin puede ser obtenida
de
i+
Pvac =
si
donde i+ es la corriente de la placa (iones), i es la corriente de la malla (electrones), y s es
una constante para el circuito dado. Las galgas de ionizacin no pueden ser usadas en presiones
mayores a 103 torr debido a que el filamento se deterioraria. Sin embargo, ella puede medir
226
presiones tan bajas como 107 torr. Una variacin de la galga descrita, la galga BayardAlpert
puede medir presiones tan bajas como 1012 torr.
8.4
Medida de Temperatura
Parte II
Adecuacin de la Seal
227
Captulo 9
El amplificador operacional
9.1
Introduccin
9.2
Considrese la conexin de la red que se muestra en la Fig. ??, donde por conveniencia, a los
elementos que estn conectados en el nodo negativo, se les ha colocado una barra en la parte
229
230
j , vj ).
superior (v.,gr., R
e IB
Se parte de dos conceptos bsicos generales: (i) Las corrientes de polarizacin IB
son pequeas y aproximadamente iguales y la ganancia en lazo abierto es muy elevada. De la
expresin
v0 = A0 (v+ v ) = A0 v
(9.2.1)
despejando v se obtiene:
v0
= v+ v
A0
Puesto que el valor de A0 es muy elevado en la mayora de los casos, la relacin Av00 tender a
cero en las aplicaciones normales; por lo tanto, v = v + v ' 0 y se tiene la siguiente principio
operativo:
(i) v = v + v ' 0 = v + ' v .
El segundo corresponde a la aplicacin de la ley de corrientes de Kirchho (LCK) a la red y
teniendoPen cuenta que las corrientes de polarizacin son despreciables:
(ii)
ik = 0.
Con estos dos conceptos se plantean las siguientes ecuaciones:
v =
v1 v v2 v
vm v v0 v
+
+
+
=0
1
2
m + Rf
R
R
R
1
v1
v2
vm
v0
1
1
1
1 + R
2 + + R
m + Rf = v
1 + R
2 + + R
m + Rf
R
R
(9.2.2)
231
v0
v0
1
v1
v2
vm
1
v Rf + + +
= Rf +
R Rf
R1 R2
Rm
m
X
Rf
vj
=
1 + v Rf
R
R
j=1 j
(9.2.3)
donde
1
1
1
1
=R
1 + R
2 + + R
m
R
Escribiendo la ecuacin de nodo par el terminal positivo se obtiene:
v1 v + v2 v +
vn v +
+
+ +
=0
R1
R2
Rn
(9.2.4)
(9.2.5)
v =R
v1
v2
vn
+
+ +
R1 R2
Rn
donde
n
X
vi
=R
Ri
(9.2.6)
i=1
1
1
1
1
=
+
+ +
R
R1 R2
Rn
(9.2.7)
X
n
m
X
Rf
vj
vi
v0 = 1 + R
Rf
j
Ri
R
R
i=1
(9.2.8)
j=1
que es la ecuacin general de la red con amplificador operacional. De esta relacin se pueden
obtener algunos resultados particulares.
9.2.1
j=1
donde
ai , aj Re+
(9.2.9)
232
Como se puede observar, la ecuacin (9.2.9) tiene la forma de la ecuacin (9.2.3)con algunos
ajustes de sus parmetros. Por lo tanto, la ecuacin (9.2.9) se puede realizar utilizando la red
generalizada con operacional. Para ello, se redibuja la red como la de la Fig ?? donde se han
0 y R0 [33].
adicionado los resistores R
m
n
X
X
vj
vi
Rf
j
Ri
R
i=1
donde
Req
j=1
Rf
= 1+ R
R
(9.2.10)
Puesto que la tensin de salida es la combinacin lineal de las tensiones de entrada multiplicadas por una constante, se pueden dar condiciones de diseo de modo que se tenga una red con
impedancias de entrada iguales, tanto en la entrada inversora como en la no inversora, es decir,
0 kR
1 kR
2 kR
m kRf
R0 kR1 kR2 k kRn = R
(9.2.11)
(9.2.12)
(9.2.13)
233
Reemplazando en (9.2.11):
f
R = RkR
(9.2.14)
Rf
Req = 1 + RkRf = Rf
R
(9.2.15)
De esta ecuacin se puede ver que para que el sistema est en equilibrio dinmico basta
hacer la resistencia equivalente vista de desde el lado no inversor, igual a la resistencia de
realimentacin asignada. Con esto, la ecuacin de la red generalizada quedar:
n
m
X
X
vj
vi
Rf
v0 = Rf
j
Ri
R
i=1
(9.2.16)
j=1
ai =
bj =
Rf
Ri
Rf
j
R
Rf
ai
R
j = f
R
bj
Ri =
(9.2.17)
(9.2.18)
1
R0
1
n
P
i=1
=
1
Ri
1
0
R
1
Rf
m
P
j=1
1
j
R
X 1
X 1
1
1
1
+
+
=
+
0 Rf
R0
Ri
R
R
j=1 j
i=1
Sustituyendo (9.2.17) y (9.2.18) en (9.2.19):
m
X bj
X ai
1
1
1
+
+
=
+
0 Rf
R
R0
Rf
R
j=1 f
i=1
m
n
1
1
1 X
1
1 X
+
+
b
=
+
ai
j
0 Rf
Rf
R0 Rf
R
j=1
i=1
Haciendo
(9.2.19)
234
A =
B =
n
X
i=1
m
X
ai
(9.2.20a)
bj
(9.2.20b)
j=1
se llega a
1
1
B
+
+
0 Rf
Rf
R
1
A
+
R0 Rf
(9.2.21)
donde, como se ve AT = A B 1.
Con relacin a la ecuacin (9.2.21), se pueden presentar tres casos :
1. R0 = AT > 0 y
0 = Rf
R
AT
0 = AT < 0 y
2. R
R0 =
Rf
AT
(9.2.22)
(9.2.23)
0 = AT = 0.
3. R0 , R
An falta determinar el valor de Rf . Para calcularlo se hace uso de las caractersticas elctricas de la red, es decir, se asigna un valor en la impedancia de entrada de cada nodo (se asume
Zi+ = Zi = Zi ), entonces
Rf > Zi
(9.2.24)
(9.2.25)
donde
En la Tabla 9.1 aparece un resumen del mtodo de diseo utilizando el procedimiento desarrollado aqu.
Ejercicio 7 Realizar la siguiente ecuacin utilizando amplificador operacional.
235
R0
0
R
<0
Rf
AT
=0
Ri
j
R
Rf
Rf
ai
Rf
bj
Zi
Rf
AT
(9.2.26)
0 =
R
R1 =
R2 =
180k
= 180k
1
180k
= 60k
3
180k
= 36k
5
1 = 180k = 60k
R
3
180k
2 =
R
= 90k
2
3 = 180k = 180k
R
1
236
Captulo 10
Sensibilidad
10.1
Introduccin
10.2
Se utiliza el smbolo S para denotar la sensibilidad. Adems, se usa un superndice para indicar
la caracterstica de comportamiento que se desea evaluar y un subndice para indicar el elemento
del sistema (o red) que est produciendo el cambio.
Considrese el modo en el cual una caracterstica y() puede depender del elemento . Si
el valor nominal de es 0 , entonces las variaciones de y() producidas por cambios en se
pueden expresar por la serie de Taylor como
y
1 2 y
d +
(d)2 +
(10.2.1)
y() = y(0 ) +
=0
2 2 =0
Para variaciones pequeas en se pueden ignorar los trminos de las derivadas superiores
en la ecuacin (10.2.1), reteniendo slo la de primer orden. Se puede escribir el resultado como
237
238
y
y(0 ) = y()
d
=0
(10.2.2)
y
d
y(0 )
=
(10.2.3)
y(0 )
y() =0 0
La relacin entre
mente
y(0 )
y(0 )
d
0
y()
y/y
(ln y)
y
=
=
y
/
(ln )
(10.2.4)
Debido a la normalizacin, tanto de y como de , a esta expresin se le conoce como sensibilidad relativa. Un tratamiento de varios tipos de sensibilidad se dar a continuacin.
10.2.1
(ky) y
y
(ky)
=
=
= Sy
ky
y ky
y
(10.2.5)
Donde k no es funcin de .
Propiedad 2. La sensibilidad de una caracterstica relativa a s misma es la unidad.
Se demuestra similarmente a la propiedad nmero uno:
y
= Sy
Sk
k
S = Sk = Sk
=1
y 1/
y
y 1/
=
=
(1/) y
(1/) y
1
(1/)
y
1
=
= Sy
y
y
(10.2.6)
239
k = S k = 1
S = Sk
k
11
y
S1/
= S
1/y
12
13
Sarg y =
14
Spyp = Re Sy
15
Sx+y =
16
Pn
17
Sln y =
Qn
i=1
yi
= Sy
Pn
yi
i=1 S
Sy = nSy
n
S
Syn = n1 Sy
Sn = Sk
n =
n
Sk
=n
i=1
1
arg y
Im Sy
1
x
x+y (xS
yi
+ ySy )
Pn
yi
i=1 yi S
P
n
y
i=1 i
y
1
ln y S
1
n
1/y
Similarmente: S = Sy
Propiedades 4 a 9. La sensibilidad de un producto de caractersticas es la suma de las
sensibilidades de las caractersticas individuales.
Para demostrar esto se escribe
Sy1 y2 =
=
(y1 y2 )
y2 y1 y
y1 y2
=
+
y1 y2
y1 y2
y1 y2
y1
y2
+
= Sy1 + Sy2
y1
y2
(10.2.7)
Extendiendo esto, se puede ver que la sensibilidad de una caracterstica a la nsima potencia
es n veces la sensibilidad de la primera potencia, esto es,
n
Sy =
y
(yn )
y
= nSy
= ny n1
=n
y n
y n
y
(10.2.8)
Similarmente, Syn = n1 Sy .
Propiedad 10. La sensibilidad de una razn de caractersticas es la diferencia de las sensibilidades individuales.
240
S1
1/y2
= Sy1 + S
= Sy1 Sy2
(10.2.9)
y 1 2 2
y 2 2 1
=
= Sy2 S2
1
1 y 2 2
2 y 1 2
(10.2.10)
(ej )
(|y|)
(|y|)
(|y| ej )
= ej
+ |y|
= ej
+j
y
y
y
y
(|y|)
|y|
+ j
= S + jS
|y|
(10.2.11)
Sx+y
=
=
1
x
y
(x + y)
=
+
x + y
x + y
1
x
y
1 x
x
+y
=
xS + ySy
x+y
x
y
x+y
(10.2.12)
Se puede extender fcilmente esta propiedad para el caso designado por 16: z = y1 +y2 + +yn
Pn
10.3
i=1
yi
1
= Pn
i=1 yi
n
X
yi Syi
(10.2.13)
i=1
Funcin de Sensibilidad
En esta seccin se introducir la primera de las sensibilidades que tienen la forma dada en la
ecuacin (10.2.4).
10.3.1
241
H(s)
H(s)
(10.3.1)
B(s)
A(s)
(10.3.2)
A(s)
B(s)
H(s)
=
S
B(s) A(s)
(10.3.3)
La parte real de S
red.
|H(j)|
es igual a S
definida
H(j)
C
1/3
242
1
s
R
L s2 + L s +
(10.3.5)
1
LC
SR
=
=
Y (s)
SC
1
LC
s2
1
s2 + R
L s + LC
1
1
R
1
2
LC s + L s + LC
Y (s)
SL
s
R
R
2
L s + Ls +
(10.3.6)
SR
2
(3 2 )
+
j
2 + (3 2 )2
2 + (3 2 )2
(10.3.7)
1
0.8
0.6
y
0.4
0.2
0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1
Figura 10.2: Magnitud de la funcin de sensibilidad para una red RLC. Lnea continua: |Y (j)| .
Y (j).
Lnea punteada: Re SR
Grficas de magnitud y de fase de la funciones de red y de sensibilidad, para los valores
dados en la Fig. 10.1, se muestran en las Figs. 10.2 y 10.3, respectivamente.
10.4
En esta seccin se introducir otro tipo de sensibilidad que tiene la forma relativa definida en
la ecuacin (10.2.4). En general, una funcin de red H(s) para cualquier tipo de red pasiva o
243
1.5
0.5
0
0.5
1.5
2.5
-0.5
-1
-1.5
Figura 10.3: Fase de la funcin de sensibilidad de una red RLC. Lnea continua: arg Y (j).
Y (j).
Lnea punteada: Im SR
activa, de parmetros concentrados, es una relacin de polinomios que tienen la forma
H(s) =
b0 + b1 s + + bm sm
B(s)
=
A(s)
a0 + a1 s + + an sn
(10.4.1)
en la cual los coeficientes ai y bi son reales y son funciones de los elementos de la red i . As,
para cualquier elemento de la red, se pueden definir sensibilidades denominadas sensibilidades
de los coeficientes, como sigue:
Sai =
10.4.1
ai
ai
Sbi =
bi
bi
(10.4.2)
Dependencia bilineal
E(s) + F (s)
B(s)
=
A(s)
C(s) + D(s)
(10.4.3)
donde C(s), D(s), E(s) y F (s) son polinomios con coeficientes reales que no son funciones del
elemento de red . Esto es cierto si se escoge como el valor de un elemento pasivo o la ganancia
de algn amplificador o una fuente controlada.
Ejercicio 8 Dependencia bilineal de una funcin de red. Considrese la red RLC de
la Fig. 10.1. Usando los valores de los elementos indicados, escribir Y (s) como una funcin
bilineal de R, L y C.
244
C(s) = s2 + 3 y D(s) = s
F (s) = 0,
de donde se obtiene
Y (s) =
(s2
s
+ 3) + sR
(10.4.4)
s2
s/L
+ (3 + s)1/L
Y (s) =
(s2
s
+ s) + 1/C
(10.4.5)
Ntese que en la ecuacin (10.4.5) aparecen los recprocos de los elementos evaluados. De la
Propiedad 3 de la Tabla 10.1, demostrada en la ecuacin (10.2.6), la sensibilidad del coeficiente
es simplemente el negativo del valor encontrado para el recproco. Entonces las expresiones en
la ecuacin (10.4.5) se pueden escribir tambin como
Y (s) =
10.4.2
s
(3 + s) + s2 L
Y (s) =
(s2
Cs
+ s)C + 1
(10.4.6)
A causa de la dependencia bilineal, hay tres casos que especifican el modo en el cual un coeficiente
ai (o bi ) puede depender de un elemento de la red , valorado como positivo.
Caso 4 bi = k donde k puede ser positivo o negativo:
Sbi = 1
(10.4.7)
1
s
R
2
L s + Ls +
1
LC
s2
b1
s
=
2
+s+3
a2 s + a1 s + a0
Las sensibilidades de los coeficientes se listan en la Tabla 10.2. Ntese que se ha usado la
Propiedad 3 de la Tabla 10.1 para los casos donde aparece como una cantidad recproca.
Caso 5 bi = k0 + k1 donde k0 y k1 tienen la misma polaridad:
Sbi =
k1
k0 + k1
(10.4.8)
245
Tabla 10.2: Sensibilidad de los coeficientes para una red RLC en serie.
Coeficientes
Elemento
b0 a0 a1 a2
R
0
0
1 0
L
1 1 1 0
C
0 1 0 0
L = 21/2
+
v
1
-
R =1
1/2
C =2
=1
+
v
2
-
=
=
=
2
2
2
v1 (s)
LC s + (R/L + G/C)s + (RG + 1)/LC
a2 s + a1 s + a0
s + 2s + 1
Las sensibilidades de los coeficientes se muestran en la Tabla 10.3
bi = k0 + k1 donde k0 y k1 tienen polaridad opuesta y |bi | es menor que |k0 | o que |k1 |:
Sbi =
k1
k0 + k1
(10.4.9)
Este es un caso de sensibilidad mala; el valor grande resulta del hecho de que |k0 + k1 |
puede ser mucho menor que |k1 | . Como un ejemplo de este caso, considrese la red mostrada
Tabla 10.3: Sensibilidad de los coeficientes para una
Coeficientes
Elemento
b0 a0 a1
0
0.5 0.5
R
2
L
1 1
2
C
1 1 2 2
G
0 0.5 0.5
246
R2
1
1
+
-
v1(s)
C1
1
R4
2(s)
-
R3
R4
= 2.5,
R3
R1 = R2 = 1 y C1 = C2 = 1
2.5
b0
v2 (s)
= 2
= 2
=
2
v1 (s)
s + (3 )s + 1
s + 0.5s + 1
a2 s + a1 s + a0
Sb0 = 1 y Sa1 =
= 5
3
10.4.3
Las sensibilidades de los coeficientes definidas en esta seccin se relacion fcilmente con la funcin
de sensibilidad en la seccin precedente insertando las ecs. (10.4.1), (10.4.2) y (10.4.3). As, se
obtiene
Pm bi i Pn
S bi s
S ai ai si
H(s)
i=0
(10.4.10)
= i=0
S
B(s)
A(s)
10.5. SENSIBILIDADES DE Q Y N
247
Ejemplo 34 Para el circuito de la Fig. 10.1, encontrar las funciones de sensibilidad dadas las
sensibilidades de los coeficientes.
De la ecuacin (10.3.5), usando R = 1 y C = 1/3, se obtiene
Y (s) =
1
s
R
2
L s + Ls +
1
LC
a2
s2
b1 s
+ a1 s + a0
(10.4.11)
SL
b1 s
a2 s2 + a1 s + a0
SL
s2
(1)(1)s (1)(3) + (1)(1)s
=
(1)s
(1)s2 + (1)s + (3)
s2 + s + 3
(10.4.12)
10.5
Sensibilidades de Q y n
10.5.1
(10.5.2)
Las cantidades en la expresin anterior se relacionan con las posiciones de los polos p0 y p0 por
las expresiones
r
a 2
n p 2
a1
1
n
+ j a0
+j
p0 = 0 + j 0 =
=
4Q 1
(10.5.3)
2
2
2Q
2Q
248
a0
n
|p0 |
=
=
,
Q=
2 | 0 |
2 | 0 |
a1
n =
a0
(10.5.4)
Q/Q
/
Sn =
n / n
/
(10.5.5)
Para el caso de segundo orden las anteriores sensibilidades se evalan relacionndolas a las
sensibilidades de los coeficientes, usando la expresin (10.5.3) y las dadas en la Tabla 10.1. As
se obtiene
1
1
Sn = Sa0
(10.5.6)
SQ = Sa0 Sa1
2
2
Tambin, para el caso del pasabanda de segundo orden, la parte real de la funcin de sensibilidad, la cual da la sensibilidad de la magnitud de la funcin de red, puede relacionarse a las
sensibilidades Q y n a la frecuencia de resonancia ( = n ), para la cual puede demostrarse
que
|N(j n )|
N(j )
= ReS n = SH + SQ Sn
(10.5.7)
S
Ejemplo 35 Las sensibilidades Q y n para una red. Determinar las sensibilidades Q y
n , para la red de la Fig. 10.1.
Sol. Usando la Tabla 10.1 para determinar las sensibilidades de los coeficientes de la red y
las relaciones de la ecuacin (10.5.6), se obtiene
r
1
1
1 L
Q
SR
SCQ =
= 1
SLQ =
Q=
R C
2
2
Ejemplo 36
1
n =
LC
10.5.2
n
=0
SR
SLn =
1
2
SCn =
1
2
Las tcnicas desarrolladas anteriormente se pueden extender al caso de tercer orden. En esta
situacin el polinomio del denominador tendr la forma
D(s) = s3 + d2 s2 + d1 s + d0
(10.5.8)
Este puede factorizarse en un tmino de primer orden y otro cuadrtico. As, usando la notacin
de (10.5.2), se puede escribir
D(s) = (s + g)(s2 +
n
s + 2n )
Q
(10.5.9)
10.5. SENSIBILIDADES DE Q Y N
249
Para el caso de tercer orden se pueden definir tres funciones de sensibilidad, Sg , SQ y Sn , las
cuales se calculan ms convenientemente a partir de las sensibilidades de los coeficientes Sdi .
Estas relaciones se determinan colocando primero la ecuacin (10.5.9) en la forma
D(s) = s3 + s2 (g +
n
g n
) + s( 2n +
) + g 2n
Q
Q
(10.5.10)
Igualando los coeficientes correspondientes de las ecuaciones (10.5.8) y (10.5.10), se obtienen las
relaciones
g n
n
d2 = g +
(10.5.11)
d0 = g 2n
d1 = 2n +
Q
Q
Tomando las derivadas parciales de estas expresiones, se obtiene
d0
2
0
1
Sn
S
22n gn
g n
gn
Q
= Sd1
(10.5.12)
d1 + Qd1 Qd1 Qd1 S
g
g
d2
n
n
S
Qd2 d2
S
Qd2
d0
n
S
S
(Qg n )d0
Q 2n d1
Q 2n gd2
S Q = 1 (2n Q2 + gQ n )d0 (Q2n 2 n gQ2 )d1 (Qg 2 n Q2 ) 2n d2 S d1
2 2n Qd0 /g
2 2n Qd1
2 2n Qgd2
Sg
Sd2
(10.5.13)
donde
= 2 2n Q( 2n + g 2 ) n g
(10.5.14)
Como un ejemplo del uso de esta relacin, considrese la funcin de Butterworth normalizada
de de tercer orden. Para este caso, se tiene
D(s) = s3 + 2s2 + 2s + 1 = (s + 1)(s2 + s + 1)
As, d0 = 1, d1 = 2, d2 = 2, g = 1, n =
obtiene
n
S
SQ =
Sg
(10.5.15)
1 1 1
Sd1
1 2 2
Sd2
(10.5.16)
250
donde
d0 = G1 G2 G3 S2 S3
d1 = G2 G3 S2 S3 + G2 G3 S1 S2 + (G2 G3 S1 S3 + G1 G3 S1 S3 )(1 )
+G1 G3 S1 S2 + G1 G2 S1 S2
d2 = G1 S1 + G3 S2 + G2 S2 + G2 S1 + G3 S3 (1 )
y donde, por conveniencia para tomar las derivadas parciales, se ha usado la conductancia
Gi = 1/Ri y la susceptancia Si = 1/Ci . una solucin para el caso Butterworth de la ecuacin
(10.5.15) est dada por = 2, R1 = 1.565, R2 = 1.469, R3 = 0.435, y la unidad para todos los
capacitores. Las sensibilidades de los coeficientes para la ganancia se encuentran como
Sd0 = 0
Sd1 =
Sd2 =
(G2 G3 S1 S3 + G1 G3 S1 S3 )
= 3.0338
d1
G3 S3
= 2.2989
d2
C2
R1
R2
C1
1
-
R3
R5
C3
R4
+
v
10.6
Sensibilidad Parsita
10.6.1
Elementos parsitos
251
La resistencia usada en serie con una inductancia para modelar prdidas en el ncleo,
resistencia de devanado y otras cantidades disipativas.
La conductancia usada en paralelo con un capacitor ideal para modelar efectos de dispercin.
La resistencia usada en serie con una fuente de voltaje ideal para modelar la resistencia
interna de un amplificador.
La conductancia usada en paralelo con una fuente ideal de corriente para modelar la
conductancia interna de la.fuente
El recproco de la ganancia de un amplificador operacional ideal.
10.6.2
La sensibilidad relativa Sy = (y/)(/y) definida en (10.2.4) no se puede utilizar para elementos parsitos. La razn para esto es que como el valor nominal del elemento es cero, resulta que
la sensibilidad tambin ser cero. En lugar de esto, se puede definir como sensibilidad parsita
P Sy =
y 1
y
(10.6.1)
252
|
|
+
G
|
|
v
2
-
R
RC
R
p 1
=
=
G p
RC RG + 1
RG + 1
Si se escoge G = 0 en sta ltima expresin , se obtiene
p 1
p
=R
P SG =
G p G=0
de la ecuacin (10.6.2) ahora se tiene
p
p
= P SG
G = RG = R(0.01)
p
Como un ejemplo numrico, si R = 2 y C = 1, p = 12 y p/p = 0.02 o p = 0.01. Se ve que
la sensibilidad parsita predice que el cambio G desde 0 hasta 0.01 (cambiando la resistencia
paralela desde infinito hasta 100) podr mover el polo desde 0.5 hasta 0.51. Este resultado
es fcilmente verificable por clculo directo.
10.6.3
253
+
v+
-
+
v-
+
vo
-
(10.6.3)
donde A0 es la ganancia dc, un nmero muy grande e idealmente infinito. Para tratar sta
como un elemento de sensibilidad parsita, se define B = 1/A0 como una cantidad parsita y se
escribe la ecuacin (10.6.3) en la forma
v0 =
1 +
(v v )
B
donde B es un nmero muy pequeo, idealmente cero. Para un circuito dado, se puede determinar la sensibilidad parsita usando los pasos esbozados en el Sumario 2 dado ms arriba. Esto
se muestra con un ejemplo.
Ejemplo 39 Sensibilidad parsita en un integrador amortiguado. Un circuito que usa un amplificador operacional se muestra en la Fig.10.9 Consiste de las conductancias G1 y G2 y el
capacitor C. Si el amplificador es ideal, la funcin de transferencia de tensin es
G1 /C
v2 (s)
=
v1 (s)
s + G2 /C
Considrese el efecto de usar un amplificador operacional no ideal. Encontrar la funcin de
sensibilidad del sistema.
Sol. La funcin de transferencia considerando B es
v2 (s)
G1
G1
=
=
v1 (s)
B (G1 + G2 + Cs) + (G2 + Cs)
BC + C s +
1
B(G1 +G2 )+G2
BC+C
254
+
v1
G1
+
v
2
-
p 1
G1
p
=
P SB =
B p B0 G2
Como un ejemplo de este resultado, considrese una aplicacin en la cual G1 = 10, G2 = 0.1,
C = 1 y el amplificador operacional tiene una ganancia de A0 = 104 . Idealmente, para B = 0,
el polo est localizado en 0.1. Aplicando la sensibilidad parsita se obtiene
p
G1
10 4
p
= P SB
10 = 0.01
B =
B =
p
G2
0.1
El cambio en la localizacin del polo se encuentra fcilmente multiplicando este resultado por
p. Se obtiene p = 0.001. As, la posicin del polo es 0.101 como consecuencia de que el
amplificador operacional es no ideal. El mismo procedimiento puede aplicarse para determinar
los efectos del amplificador operacional no ideal sobre cualquier otra caracterstica, por ejemplo,
la funcin de transferencia de tensin.
10.6.4
Sensibilidad multiparamtrica
Se puede ahora construir una expresin general multiparamtrica que da el cambio normalizado
en alguna caracterstica y como el efecto combinado de las sensibilidades relativa y parsita. Se
define
(10.6.4)
y = y(1 , . . . , i , . . . , n , 1 , . . . , j , . . . , m )
255
donde los i son elementos regulares (no parsitos) y los j son parsitos. Si solamente se
consideran los efectos de primer orden, se puede escribir
y =
n
m
X
X
y
y
i +
j
i
j
i=1
(10.6.5)
j=1
i=1
j=1
y X y i X
=
Si
+
P Syj j
y
i
(10.6.6)
G2
= 0.1
C
p
SG
=0
1
p
SG
=1
2
p
P SB
=
G1
= 100
G2
p
= (0 0.01) + (1 0.01) + 100 104 = 0.02
p
256
Captulo 11
Confiabilidad
En anteriores secciones se defini la precisin de un sistema de medida y se explic cmo un
error de medida puede ser calculado, bajo condiciones de estabilidad estable y dinmica. La
confiabilidad es otra caracterstica importante de un sistema de medida; no es bueno tener
un sistema de medida exacto el cual est contantemente fallando y requiriendo reparacin. La
primera seccin de este cpitulo tiene que ver con la confiabilidad de sistemas de medida; primero
explicando los principios fundamentales de confiabilidad, entonces se discute la confiablidad de
sistemas prcticos, y finalmente se examinan formas de confiabilidad.
11.1
11.1.1
(11.1.1)
258
de 1 cuando inicialmente se coloque en servicio. Seis meses despus, la confiabilidad puede ser
solamente 0.5 como la probabilidad de que una falla aumentara.
No confiabilidad.F (t) Esta es la probabilidad que el elemento o sistema falle durante la
operacin a un nivel determinado de funcionamiento, para un perodo especificado, sujeto a
condiciones ambientales especificas. Puesto que el equipamento tiene ya sea fallo o no fallo la
suma de la confiabilidad y no confiabilidad debe ser la unidad, es decir
R(t) + F (t) = 1
(11.1.2)
La no confiablidid depende tambin del tiempo; un sistema que ha sido justamente chequeado y
calibrado podr tener una no confiabilidad de cero, cuando inicialmete se coloque en servicio,
aumentando, es decir, 0.5 despus de seis meses.
Tiempo medio entre fallas (M:T:B:F) Las anteriores definiciones, mientras el uso sea extremo,
sufren la desventaja de tener que especificar un perodo particular de operacin del equipo. Una
medida ms usual de funcionamiento la cual no involucra el perodo de operacin es el tiempo
medio entre fallas (M.T.B.F). M.T.B.F es aplicable a cualquier tipo de equipo el cual puede
ser reparado por medio del reemplazo de una componente fallada o unidad, y es de esta manera
adecuado para describir elementos de medida o sistemas. Supngase que N elementos idnticos o
sistemas estn probados para un perodo total T . Cada falla es registrada, el equipo es reparado,
se coloca fuera de servicio y el nmero total de fallas NF durante T se encuentra. El M.T.B.F
observado es
NT
(11.1.3)
M.T.B.F =
NF
donde el intervalo de prueba T no incluye el tiempo total de reparacin. As si se graban 150
faltas para 200 transductores diferenciales de presin por 1.5 aos, el M.T.B.F. observado es de
2.0 aos.
Taza de falla .Es el promedio del nmero de fallas, por item de equipo, por unidad de
tiempo. La taza de falla de varios elementos y sistemas de medida es aproximadamente constante
durante la mayor parte de la vida til. En este caso la taza de falla es el reciproco de M.T.B.F,
es decir
1
(11.1.4)
=
M.T.B.F
y la taza de fallo observada es
NF
(11.1.5)
=
NT
Variacin en la taza de fallo durante el tiempo de vida del equipo. La taza de falla, de
un tipo de elemento o sistema dado, varia a travs de la vida del equipo. Es posible identificar
tres fases distintas cada una con diferentes caracteristicas de falla: antes de la falla, durante
la falla (vida normal de trabajo) y falla por desgaste. Estas son mostradas en la Fig. (zz),
la llamada curva de baera. La regin de fallo temprana, permanece posiblemente seis meses,
es debido a componentes dbiles y falta de conocimiento en la operacin del sistema, la regin
madura, permanece posiblemente 10 aos, est caracterizada por una constante baja de taza
de fallo, todos los componentes dbiles han sido removidos y el sistema est siendo operado
259
correctamente. La regin de falla por desgaste est caracterizada por un incremento de la taza
defalla cuando las componentes tienden al fin de su vida til.
Relacin entre R(t), F (t) y , por la constante . Supngase que n0 items idnticos de un
equipo son escogidos en un tiempo de operacin t = 0.
260
Captulo 12
Filtros Activos
12.1
Introduccin
12.2
Aproximacin a la Magnitud
262
12.2.1
(12.2.1)
H(s) =
=
D(s)
C(s)
d0 + d1 s + d2 s2 + d3 s3 + d4 s4 +
c0 + c1 s + c2 s2 + c3 s3 + c4 s4 +
(12.2.2)
d0 d2 2 + d4 4 + j d1 d3 4 +
H(j) =
c0 c1 2 + c4 4 + j (c1 c3 4 + )
(12.2.3)
D2 + D12
(D0 + jD1 )(D0 jD1 )
= 02
(C0 + jC1 )(C0 jC1 )
D0 + D12
(12.2.4)
D0 = <e(D(j)) D1 = =m(D(j))
C0 = <e(C(j)) C1 = =m(C(j))
T s2 = |H(j)|2
= H (s) H (s)
(12.2.5)
=s/j
Como resultado del producto H(s)H(s) se tienen polos y ceros localizados simtricamente
con respecto a los ejes real e imaginario. A esta caracterstica se le llama simetra cuadrantal
[14]. En general, los polinomios del numerador y del denominador de T (s2 ) pue-den tener tres
tipos de factores:
1. a4 + as2 + b donde a y b pueden ser positivos o negativos.
263
12.2.2
Las condiciones de necesidad y suficiencia dadas en el Teorema 1 para las funciones cuadrticas
en magnitud, son aplicables a las caractersticas especficas de los filtros. Considrese la determinacin de una funcin cuadrtica en magnitud que, en el rango de frecuencia baja empezando
en cero, tenga caracterstica plana tanto como sea posible. Una forma de obtener tal respuesta
es llevando a cero en = 0 rad/s, tantas derivadas de la funcin como sea posible. Tal funcin
se denomina mximamente plana. Escribiendo una expresin para la funcin general cuadrtica
en magnitud |H(j)|2 , se tiene:
|H(j)|2 = H02
1 + b1 2 + b2 4 +
1 + a1 2 + a2 4 +
(12.2.6)
+(b2 a2 + a21 a1 b1 ) 4 + ]
(12.2.7)
264
F () = F (0) +
(12.2.8)
(12.2.9)
12.3
Funciones de Butterworth
Considrese la funcin magnitud para una red de paso bajo. Para su aproximacin se escoge
una funcin de magnitud cuadrtica |H(j)|2 que satisfaga el criterio de funcin mximamente
plana en = 0.
Para proporcionar la pendiente descendente en la caracterstica de las frecuencias altas, se
localizan los ceros de transmisin en infinito. As, el numerador de H (j) es una constante y
todos los coeficientes bi de (12.2.7) sern cero. Para obtener una caracterstica mximamente
plana, los coeficientes ai de (12.2.9) tambin deben ser cero, excepto, por supuesto, el coeficiente
de orden superior. La funcin de magnitud cuadrtica resultante tiene la forma:
|H(j)|2 =
H02
2n
1+
p
(12.3.1)
12.3.1
Sumario 3 Las funciones de Butterworth de paso bajo tienen la forma dada en (12.3.1) y poseen
las siguientes propiedades (para = 1):
1. El rango de frecuencias 0
265
10
10
10
10
12.3.2
Localizacin de polos
La localizacin de los polos de una funcin de red H(s) que tiene una caracterstica de magnitud
de Butterworth se puede encontrar usando (12.2.5) y (12.3.1). As, se obtiene para la funcin
normalizada:
H02
H02
=
H(s)H (s) =
1 + 2n 2 =s2
1 + (1)n s2n
(12.3.2)
Haciendo tender a cero al polinomio del denominador de (12.3.2), se encuentra que los polos
estn locali-zados en los valores de s que satisfacen la relacin
1
s = [ (1)n ] 2n
(12.3.3)
266
jk
jk
2n
2k 1
= cos
2n
k = sin
k
k = 1, 2, 3, . . . , n
(12.3.4)
(12.3.5)
Los polinomios del denominador caracterizados por estas races se denominan polinomios de
Butterworth. Se puede encontrar los valores de los coeficientes definiendo un polinomio como
P (s) = a0 + a1 s + a2 s + + an sn
(12.3.6)
y notando que, puesto que todos los polos estn localizados sobre el crculo unitario, a0 = 1.
Los otros coeficientes se determinan por la relacin iterativa
ak =
cos[(k 1) /2n]
ak1
sen (k/2n)
k = 1, 2, . . . , n
(12.3.7)
a0 = an = 1
a1 = an1
a2 = an2
..
.
12.3.3
267
H(j0)
= 20 log 1 + 2n
Kp , 20 log
p
H(jp )
H(j0)
= 20 log 1 + 2n
Ks , 20 log
H(js )
(12.3.9)
(12.3.10)
ln
log
=
log
ln
(12.3.12)
268
Ejemplo 41 Una funcin de Butterworth debe reunir los siguientes requisitos: fp = 400Hz,
fs = 500Hz, Kp = 3dB, Ks = 25dB. Encontrar el orden del filtro requerido.
Solucin. De las ecs. (12.3.8), (12.3.11) y (12.3.12) se obtiene:
=
=
nB =
500
= 1.25
400
s
100.125 1
= 17.75
100.13 1
log
= 12.89
log
12.4
Funciones de Chebyshev
12.4.1
Polinomios de Chebyshev
La aproximacin normalizada de magnitud de igual rizo para un filtro de paso bajo se puede
obtener escribiendo la funcin cuadrtica de magnitud |H (s)|2 en la forma
|H (s)|2 =
H02
1 + 2 Cn2 ()
(12.4.1)
para 0 1
para 1
(12.4.2)
269
C1 () =
C2 () = 2 2 1
C3 () = 4 3 3
..
.
(12.4.3)
Cn () = cos n cos1
01
1
1
Cn () = cosh n cosh
n
n
+ 2 1
+ 2 1
Cn () =
+
1
2
2
(12.4.4)
(12.4.5)
(12.4.6)
donde la expresin en (12.4.6) proporciona una alternativa para la funcin cosh en (12.4.5).
12.4.2
Sumario 4 Una funcin de Chebyshev de paso bajo que tiene la forma dada en (12.4.1) posee
las siguientes propiedades:
1. El rango de frecuencias 0 1 se denomina banda pasante.
2. La caracterstica de magnitud en el banda pasante es de igual rizado.
3. El rango de frecuencias 1 se denomina banda bloqueada.
4. La caracterstica de magnitud en la banda bloqueada es montona.
7. Los picos de banda pasante ocurren en las frecuencias en las cuales Cn2 () = cos2 n cos1 =
0. stos estn definidos por pico = cos (k/2n) para k = 1, 3, 5, . . . .
270
12.4.3
Localizacin de polos
Se puede usar ahora la expresin para |H (j)|2 dada en (12.4.1) para determinar la localizacin
de polos de una funcin de red de igual rizado. Siguiendo el desarrollo dado para una funcin
de red general cuadrtica en magnitud de la seccin anterior, se obtiene:
H(s)H (s) = |H (j)|2=s/j =
H02
1 + 2 Cn2 (s/j)
(12.4.7)
As, los polos del producto H(s)H (s) son las races de Cn2 (s/j) = 1/2 o Cn (s/j) = j/
Usando la forma trigonomtrica para Cn () dada en (12.4.4), se puede escribir
s
j
1 s
(12.4.8)
Cn
= cos n cos
=
j
j
Para resolver esta ecuacin, primero se define una funcin compleja como
w = u + jv = cos1
s
j
(12.4.9)
Igualando las partes reales del segundo y el tercer miembro de esta relacin se llega a cos nu cosh nv =
0. Puesto que cosh nv 1 para todos los valores de nv, esta igualdad requiere que cos nu =
0.Esto se escribe de la forma
cos n(u + jv) = cos nu cosh nv jsen nu senh nv =
2k 1
k = 1, 2, 3, . . . , n
(12.4.11)
2n
Igualando las partes imaginarias de (12.4.10) y reconociendo que para los valores de u definidos
por (12.4.11), sen nu = 1, se obtiene
uk =
1
1
senh1
(12.4.12)
n
Esta relacin especifica el valor de los polos del producto H (s) H (s). Los polos del semiplano
izquierdo se asignan a H (s) para completar la determinacin de la funcin de red. As se ve
que los polos de H (s) estarn en pk = k + j k , donde
k = sen uk senh v
k = cos uk cosh v
k = 1, 2, . . . , n
(12.4.14)
271
R e s p u e s t a M a g n i t u d vs F r e c u n c i a d e u n F i l t r o C h e b y s h e v
20
10
-1 0
-2 0
-3 0
-4 0
-5 0
-1
10
10
10
12.4.4
La determinacin del orden de una funcin de Chebyshev sigue los procedimientos bosquejados
para la funcin de Butterworth en la seccin anterior y las cantidades mostradas en la Fig. 12.2.
Las especificaciones son:
1. Banda pasante: Para 0 p , el mximo rizo de la caracterstica de magnitud es Kp
dB.
2. Banda bloqueada: Para s , la atenuacin mnima de la caracterstica de magnitud es
Ks dB. Esta atenuacin es medida desde el valor mximo de la caracterstica de la banda
pasante.
Para determinar el orden, se repiten las definiciones dadas en (12.3.8) de la seccin anterior:
fs
s
=
=
p
fp
100.1Ks 1
100.1Kp 1
(12.4.15)
cosh1
cosh1
(12.4.16)
272
Ejemplo 42 Una funcin de Chebyshev debe reunir los siguientes requisitos: fp = 400Hz,
fs = 500Hz, Kp = 3dB, Ks = 25dB. Encontrar el orden del filtro requerido.
Solucin. De las ecs. (12.4.15) y (12.4.16) se obtiene:
=
=
500
= 1.25
400
s
100.125 1
= 17.75
100.13 1
cosh1
= 5.15
cosh1
El orden del filtro ser nC = 6. Ntese la diferencia de orden con respecto al orden nB del
filtro de Butterworth calculado antes para los mismos requisitos.
nC =
12.5
12.5.1
Para ver como se puede desarrollar la caracterstica inversa de Chebyshev, considrese una
funcin de igual rizo de paso bajo la cual, adems de estar normalizada para una frecuencia de
corte de 1rad/s, ha sido tambin normalizada para que su magnitud pico sea unitaria. De la
seccin anterior, ec (12.4.1), se tiene:
|HC (j)|2 =
1
1 + 2 Cn2 ()
(12.5.1)
2 Cn2 ()
1 + 2 Cn2 ()
(12.5.2)
|HIC (j)|2 =
273
2 Cn2 (1/)
1 + 2 Cn2 (1/)
(12.5.3)
12.5.2
1
100.1Ks
(12.5.5)
274
1
2 Cn2 (1/ p )
(12.5.6)
1
100.1Ks 1
) = 0.1Ks
p
10
1
(12.5.7)
(12.5.8)
El siguiente valor entero ms alto de nIC determina el orden requerido del filtro.
Ahora se compara el orden del filtro requerido en la aproximacin inversa de Chebyshev con
el requerido en la forma directa. De (12.4.15) y (12.4.16) se tiene
1
p
Ks(C) = Ks
Kp(C) = Kp
(12.5.10)
De las expresiones anteriores se puede concluir que el orden de la funcin inversa de Chebyshev
es el mismo que el de la funcin de Chebyshev.
12.5.3
Sumario 5 Una funcin inversa Chebyshev normalizada de paso bajo la cual tiene la forma
dada en (12.5.3) y se ilustra para n = 4 en la Fig. 12.5 tiene las siguientes propiedades:
1. El rango de frecuencias 0 p se llama banda pasante.
2. La caracterstica de magnitud en el banda pasante es montona.
3. El rango de frecuencias 1 rad/s se llama banda bloqueada.
4. La caracterstica de magnitud en la banda bloqueada es de igual rizo.
5. Para n par, |H (j)|,tiene Ks dB de atenuacin, y para n impar. |H (j)| = 0
6. En la forma dada en (12.5.3), |H (j0)| = 1.
275
7. El orden es igual al orden de una funcin Chebyshev para la cual los parmetros estan
definidos por (12.5.10).
8. La especificacin Ks de la banda de retencin se obtiene exactamente, mientras que la especificacin Kp del banda pasante se ajusta conservadoramente, esto es, 20 log10 [|H (0)| / |H (j p )|]
Kp .
12.5.4
Para la localizacin de polos y ceros de la funcin de red se utilizan las tcnicas introducidas en
la Seccin 2.1, de donde se puede escribir
B (s) B (s)
|H (j)|2
(12.5.11)
= H (s) H (s) =
A (s) A (s)
=s/j
donde H (s) es la funcin de red, B (s) es el polinomio del numerador y A (s) es el polinomio del
denominador. Aplicando este resultado a (12.5.8), se encuentra que los polinomios del numerador
y del denominador se determinan por las siguientes relaciones
j
B (s) B (s) =
s
j
A (s) A (s) = 1 + 2 Cn2
s
2
Cn2
(12.5.12)
(12.5.13)
j
1 j
Cn
= cos n cos
=0
(12.5.14)
s
s
Resolviendo (12.5.14) y utilizando los ceros definidos como zk = k + j k de la funcin
inversa Chebyshev, se obtiene:
k = 0
k =
1
cos uk
k = 1, 2, . . . , n
(12.5.15)
(12.5.16)
2n
Ahora se considera el polinomio del denominador de la funcin inversa de Chebyshev. Los
polos de la funcin inversa de Chebyshev son los recprocos de los encontrados para la funcin
de Chebyshev. Por lo cual se pueden especificar como
uk =
pk =
1
k + jk
k = 1, 2, . . . , n
(12.5.17)
276
k = 1, 2, . . . , n
2n
1
1
senh1
v =
n
k = sen uk senh v
(12.5.18)
uk =
(12.5.19)
(12.5.20)
k = cos uk cosh v
(12.5.21)
R e s p u e s t a M a g n i t u d v s F r e c u e n c i a e n u n F i l t r o In v e r s o d e C h e b y s h e v
10
5
0
-5
-1 0
-1 5
-2 0
-2 5
-3 0
-3 5
-4 0
-1
10
10
10
Figura 12.5: Respuesta magnitud vs frecuencia de un filtro inverso de Chebyshev de paso bajo.
12.6
277
La Caracterstica Elptica
En las secciones anteriores de este artculo se discutieron dos tipos de aproximacin de magnitud,
particularmente, la mxima plana y la de igual rizo. stas pueden ser escritas en la forma
|H (j)|2 =
H02
1 + 2 Pn2 ()
(12.6.1)
donde Pn2 es un polinomio que para el caso de mxima plana es 2n y para el caso de igual rizo
es Cn2 () (un polinomio de Chebyshev). En esta seccin se considera un tipo completamente
diferente de caracterstica de magnitud de paso bajo en el cual el polinomio Pn2 () es reemplazado
por una funcin racional Rn2 () que tiene tanto en el numerador como en el denominador un
polinomio. Escogiendo una funcin especfica llamada funcin racional de Chebyshev, es posible
producir una caracterstica de magnitud que es de igual rizo tanto en la banda pasante como en
la banda bloqueada. Se define una banda de transicin para unir la banda pasante y la banda
bloqueada de igual rizo. Para un filtro de orden dado, la caracterstica resultante de magnitud
cambia rpidamente en la banda de transicin del plano, proporcionando el corte ms agudo de
cualesquiera de los tres tipos de aproximacin de paso bajo. La determinacin de la forma de
la funcin racional Rn () en general requiere el uso de funciones elpticas e integrales elpticas,
y las funciones de red resultantes estn referidas como funciones elpticas.
12.6.1
H02
1 + 2 Rn2 ()
n/2
Q 2 2pi
2
2
i=1 zi
Rn () =
2
(n1)/2
Q 2pi
2
2
i=1 zi
(12.6.2)
para n par
(12.6.3)
para n impar
278
2
3. En la banda pasante, los valores de en
los cuales Rn () = 1 corresponden con los valles
de la misma en la cual |H (j)| = H0 / 1 + 2 .
4. La Banda bloqueada est definida como s . En esta regin el valor mnimo de Rn2 ()
2 (los subndices bb indican banda bloqueada) donde
es Rbb
2
Rbb
100.1Ks 1
2
(12.6.4)
pi zi = s .
Se puede determinar la forma general de las funciones de red elptica. Primero se considera
el caso impar. Si la forma impar de Rn () dada en (12.6.3) se sustituye en (12.6.2), entonces
se obtiene la funcin de red reemplazando con s/j y seleccionando los polos del semiplano
izquierdo y los ceros del semiplano j. obtenindose la siguiente forma general de la funcin
elptica de red de orden impar:
H0
Himp (s) =
(n1)/2
Q
s2 + 2i
i=1
a0 + a1 s + + an1 sn1 + an sn
(12.6.5)
donde los ceros del eje j estn localizados en s = ji . El grado del polinomio del denominador
de Himp ser n, mientras que el grado del polinomio del numerador es n 1. El trmino
|Himp (j)| tendr 12 (n 1) picos en la banda pasante ms un pico que ocurre en = 0,
1
2 (n 1) ceros de transmisin en la banda bloqueada, y un cero en = . Considrese ahora
el caso cuando n es par. Usando la forma par de Rn () dado en (12.6.3) y procediendo como
antes, se obtiene una primera forma general para la funcin de red elptica de orden par
H0
Hpar (s) =
n/2
Q
i=1
s2 + 2i
a0 + a1 s + + an1 sn1 + an sn
(12.6.6)
Este ser el caso para n par. Los grados de los polinomios del numerador y del denominador
son iguales a n. El trmino |Hpar (j)| tendr 12 n de picos en la banda pasante, 12 n ceros de
transmisin en la banda bloqueada, y un valor diferente de cero en = ..
279
R e s p u e s t a e n m a g n it u d d e u n filt ro E lp t ic o
20
15
10
5
0
-5
-1 0
-1 5
-2 0
-2 5
-3 0
-3 5
-1
10
10
10
(12.6.7)
1
1
1+
(12.6.8)
C (M ) =
16M 2
2M 2
D () =
(12.6.9)
2
+1
El orden nE se da como
nE = FE (C) FE (D)
donde
FE (x) =
1
ln x + 2x5 + 15x9
280
Apndice A
283
3. Termocupla tipo B (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=0:1820,
Ab=[0 2.4674601620e-1 5.9102111169e-3 -1.4307123430e-6 2.1509149750e-9 -3.1757800720e12 ...
2.4010367459e-15 -9.0928148159e-19 1.3299505137e-22];
T1b=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
E1b=dot(Ab,T1b);
plot(t,E1b)
end
4. Termocupla tipo J (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=-210:760,
Aj=[0 5.0372753027e1 3.0425491284e-2 -8.5669750464e-5 1.3348825735e-7 -1.7022405966e-10
...
1.9416091001e-13 -9.6391844859e-17];
T1j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7];
E1j=dot(Aj,T1j);
plot(t,E1j)
end
hold on
for t=760:1200,
Bj=[2.9721751778e+5 -1.5059632873e+3 3.2051064215 -3.2210174230e-3 1.5949968788e-6 ...
-3.1239801752e-10];
T2j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5];
E2j=dot(Bj,T2j);
plot(t,E2j)
end
5. Termocupla tipo T (Cu/Cu Ni)
hold on
for t=-270:0,
At=[0 3.8740773840e1 4.4123932482e-2 1.1405238498e-4 1.9974406568e-5 9.0445401187e-7 ...
2.2766018504e-8 3.6247409380e-10 3.8648924201e-12 2.8298678519e-14 1.4281383349e-16 ...
4.8833254364e-19 1.0803474683e-21 1.3949291026e-24 7.9795893150e-28];
T1t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13 t.^14];
E1t=dot(At,T1t);
plot(t,E1t)
end
hold on
for t=0:400,
Bt=[0 3.8740773840e1 3.3190198092e-2 2.0714183645e-4 -2.1945834823e-6 1.1031900550e-8
...
285
K=125e-6*[1 1 1 1 1 1 1 1 1];
Tko=[exp(-0.5*((1-127)/65).^2) exp(-0.5*((t-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^2-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^3-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^4-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^5-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^6-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^7-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^8-127)/65).^2)];
Tk=dot(K,Tko);
E2k=dot(Bk,T2k);
Ek=E2k+Tk;
plot(t,Ek)
end
Apndice B
Introduction
The following definitions of the SI base units are taken from Ref. [5]; the definitions of the
SI supplementary units, the radian and steradian, which are now interpreted as SI derived
units, are those generally accepted and are the same as those given in Ref. [6]. It should be
noted that SI derived units are uniquely defined only in terms of SI base units; for example,
1V = 1m2 kg s3 A1 .
B.2
The meter is the length of the path travelled by light in vacuum during a time interval of 1/299
792 458 of a second.
B.3
The kilogram is the unit of mass; it is equal to the mass of the international prototype of the
kilogram.
B.4
The second is the duration of 9 192 631 770 periods of the radiation corresponding to the transition between the two hyperfine levels of the ground state of the cesium-133 atom.
287
288APNDICE B. DEFINITIONS OF THE SI BASE UNITS AND THE RADIAN AND STERADIAN
B.5
The ampere is that constant current which, if maintained in two straight parallel conductors of
infinite length, of negligible circular cross section, and placed 1 meter apart in vacuum, would
produce between these conductors a force equal to 2 10 7 newton per meter of length.
B.6
The kelvin, unit of thermodynamic temperature, is the fraction 1/273.16 of the thermodynamic
temperature of the triple point of water.
B.7
1. The mole is the amount of substance of a system which contains as many elementary
entities as there are atoms in 0.012 kilogram of carbon 12.
2. When the mole is used, the elementary entities must be specified and may be atoms,
molecules, ions, electrons, other particles, or specified groups of such particles.
In the definition of the mole, it is understood that unbound atoms of carbon 12, at rest and
in their ground state, are referred to.
Note that this definition specifies at the same time the nature of the quantity whose unit is
the mole.
B.8
The candela is the luminous intensity, in a given direction, of a source that emits monochromatic
radiation of frequency 540 1012 hertz and that has a radiant intensity in that direction of
(1/683) watt per steradian.
B.9
Radian
The radian is the plane angle between two radii of a circle that cut o on the circumference an
arc equal in length to the radius.
B.10
Steradian
The steradian is the solid angle that, having its vertex in the center of a sphere, cuts o an area
of the surface of the sphere equal to that of a square with sides of length equal to the radius of
the sphere.
B.10. STERADIAN
289
SI derived unit
in terms
of other
SI units...
Name
plane angle
solid angle
frequency
force
pressure,
stress
energy, work,
quantity of heat
power,
radiant flux
electric charge,
quantity of
electricity
electric potential
dierence, electromotive force
capacitance
electric resistance
electric conductance
magnetic flux
magnetic flux density
inductance
Celsius temperature
luminous flux
illuminance
activity (referred to
a radionuclide)
absorbed dose, specific
energy (imparted), kerma
dose equivalent, ambient
dose equivalent, directional dose equivalent,
personal dose equivalent,
organ equivalent dose
radian (a)
steradian (a)
hertz
newton
Expression in terms
of SI base units
mm1 = 1 (b)
m2 m2 = 1 (b)
s1
mkgs2
rad
sr (c)
Hz
N
pascal
Pa
N/m2
m1 kgs2
joule
Nm
m2 kgs2
watt
J/s
m2 kgs3
Coulomb
volt
W/A
S
Wb
T
H
C
lm
lx
C/V
V/A
A/V
Vs
Wb/m2
Wb/A
farad
ohm
siemens
weber
tesla
henry
degree Celsius
lumen
lux
becquerel
(d)
sA
cdsr (c)
lm/m2
m2 kgs3 A1
m2 kg1 s4 A2
m2 kgs3 A2
m2 kg1 s3 A2
m2 kgs2 A1
kgs2 A1
m2 kgs2 A2
K
m2 m2 cd=cd
m2 m4 cd=m2 cd
s1
Bq
gray
Gy
J/kg
m2 s2
sievert
Sv
J/kg
m2 s2
290APNDICE B. DEFINITIONS OF THE SI BASE UNITS AND THE RADIAN AND STERADIAN
(a) The radian and steradian may be used with advantage in expressions for derived units
to distinguish between quantities of dierent nature but the same dimension.
(b) In practice, the symbols rad and sr are used where appropriate, but the derived unit "1"
is generally omitted.
(c) In photometry, the name steradian and the symbol sr are usually retained in expressions
for units.
(d) This unit may be used in combination with SI prefixes, e.g. millidegree Celsius, m C.
Apndice C
yota
zeta
exa
peta
tera
giga
mega
kilo
hecto
deca
deci
centi
mili
micro
nano
pico
femto
ato
zepto
yocto
291
Y
Z
E
P
T
G
M
k
h
da
d
c
m
n
p
f
a
z
y
292
Apndice D
293
Figura D.1:
Apndice E
296
Apndice F
In 1976 the CIPM approved a new low-temperature scale called the 1976 Provisional 0.5 K to
30 K Temperature Scale, or EPT-76. Its purpose was to provide a unified Scale upon which
temperature measurements could be made in this range, pending the revision and downward
extension of the IPTS-68. It was defined in terms of the temperatures assigned to eleven fixed
points within the range 0.5 K to 30 K, together with the dierences between T76 and the
following existing scales: IPTS-68; the 4He-1958 and 3He-1962 vapour pressure scales; NPL-75
and the NBS version of IPTS-68 which was defined by dierence from NBS-55. In contrast to
IPTS-68, the EPT-76 could thus be realized in a number of ways; either by using one of the above
scales and the tabulated dierences given in the text of EPT-76 or by using a thermodynamic
interpolating thermometer, such as a gas thermometer or magnetic thermometer, calibrated at
one or more of the specified reference points of EPT-76.
F.2
The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90) came into eect on 1 Janurary 1990,
replacing the IPTS-68 and the EPT-76.
The ITS-90 diers from the IPTS-68 in a number of important respects: - it uses the triple
point of water (273.16 K), rather than the freezing point of water (273.15 K), as a defining point
- it extends to lower temperatures: 0.65 K instead of 13.8 K
- it is in closer agreement with thermodynamic temperatures
- it has improved continuity and precision
- it has a number of overlapping ranges and sub-ranges
297
298
Apndice G
Definicin of Trminos
Piezoelctricos
Tasa de envejecimiento
The relaxation of piezoelectric ceramic material after polarization results in changes or "aging" of the material parameters. Aging of piezoelectric ceramics is a logarithmic function of
time and defines changes in the material parameters per decade of time, i.e., 1-10 days, 10-100
days.
Bisque Firing
The first low temperature firing designed to drive o the binders and provide some mechanical
strength.
Calcining
The process of heating the mixture of raw powders which reacts the constituent materials
into a compound.
Curie Point
The temperature at which the dielectric constant peaks and all polarization disappears.
Coupling Coecient (k)
A dimensionless number related to the ratio of the energy stored in the mechanical and
electrical portion of the material. The first subscript indicates the direction of the electric field
and the second indicates the direction of the mechanical strain, expressed in percent.
Density
299
300
Dielectric Constant
The ratio of the permitivity of the material to the permitivity of free space. The value
specified is for the "free" condition, (i.e., unclamped and well below mechanical resonance of the
part).
Dissipation Factor
A measure of the dielectric losses in the material defined as the tangent of the loss angle or
the ration of parallel resistance to parallel reactance expressed in percent.
"d" Constant
The piezoelectric constant relating mechanical strain and applied electrical field - defined as
the ratio of strain to field. The first subscript indicated the direction of the field and the second
the direction of the resulting strain, expressed in meters/volt.
Field
The ration of voltage developed to the distance between the electrodes.
Frequency Constant
Defined as the resonant frequency (fr) times the controlling dimension, expressed in kHzm.
"g" Constant
The piezoelectric constant relating open circuit voltage and mechanical stress - defined as the
ration of voltage to stress. The first subscript indicates the direction of the generated voltage,
and the second indicates the direction of the force, expressed in volt-meters/newton.
High Firing
The second firing, or "high firing" completes the chemical bounding of the constituent material dimensions.
Mechanical Q (Qm)
The ratio of reactance to resistance in the equivalent electric series circuit representing the
mechanical vibrating resonant system. The shape of the part aects the value.
Polling
301
Activation of the piezoelectric ceramic properties on a macroscope level occurs in the "polling"
process. The electroded part is heated in a dielectric oil bath. A high electric field
is applied across the electrodes resulting in an aligning of the dipoles within the material.
Strain
The ratio of the change in length to the length.
Stress
The ratio of applied force to the cross sectional area.
Youngs Modulus (Y)
The mechanical stiness property of piezoelectric ceramic material. Expressed as the ration
or stress to strain in the material, while vibrating at its resonant frequency, expressed in N/m2
302
Apndice H
Stability of Double-Walled
Manganin Resistors
The resistance standard described by James L. Thomas [1] was the result of his extensive eort
to develop a new standard by systematically investigating every factor aecting the stability of
resistance time, surface eects, temperature, power, pressure detectable at the time. The
result was a unique standard which was used as part of the National Reference Group of resistors
beginning in 1931. Ten of them served solely as the U. S. standard of resistance from 1939 until
they were supplanted by the quantized Hall eect (QHE) in 1990. They still serve as working
standards at the one ohm level and as a vital check on the QHE standard and the scaling used
in the NIST resistance calibration service. The International Bureau of Weights and Measures
used this standard to maintain the interna-tional unit of resistance, and numerous other national
standardizing laboratories around the world used it as their primary standard. This is still largely
true for laboratories without QHE standards.
In the period from 1935 to 1980, Thomass standard provided a basis for evaluating the
accuracy of ohm determinations, particularly to compare realizations based on calculable inductors with those based on Thompson-Lampard calculable capacitors. Thomass standard was
commercialized by the Leeds and Northrup Company and Honeywell, and these commer-cial
versions are still used as primary resistance standards by many industrial and commercial standards laboratories, as well as the DOD primary and secondary metrology laboratories. NIST
still routinely calibrates about 125 of them annually for domestic users. Thomass standard
remains the most stable resistor of any available, although two more modern designs are nearly
a match in predictability.
Much of the research leading to this standard resistor design is described in an earlier paper
by Thomas [2]. However, the paper Stability of Double-walled Manganin Resistors [1] is the more
popularly known and describes the standard in its final form, after some major modifications in
size and connections.
In the 1920s, Thomas had taken up the task of im-proving the long-term stability of wirewound resistors, which were used to measure the current in absolute determinations. When
303
304
a resistor is made by winding wire on a spool, parts of the crystalline structure of the wire
are stressed past their elastic limit. Thomas devel-oped wire-wound standard resistors that
were annealed at high temperature, which released some of the internal strains and reduced
the rate of change of resistance with time. Heat-treated manganin wire resistors developed by
Thomas incorporated hermetically-sealed, double-walled enclosures, with the resistance element
in thermal contact with the inner wall of the container to improve heat dissipation. These 1 .
Thomas-type standards (see Fig. 1) proved to be quite stable with time [1,2], and quickly came
into favor as the primary refer-ence for maintaining the resistance unit at NBS and at many
other national metrology institutes.
Work continued on improving the absolute measure-ments of electrical units and, in 1949, J.
L. Thomas, C. L. Peterson, I. L. Cooter, and F. R. Kotter published a new measurement of the
absolute ohm [3] using an inductor housed in a non-magnetic environment. Using the Wenner
method of measuring a resistance in terms of a mutual inductance and a rate of rotation, their
work gave a value of 0.999 994 absolute ohm for the new as-maintained unit of resistance at
NBS. The mean value assigned to 10 Thomas-type standard resistors from this experiment was
found to have been the same between 1938 and 1948 to within 1 ../ .. As Thomas et al. wrote
in the 1949 paper, this was "the first satisfactory method that has been devised for checking the
stability of the unit as maintained by a group of wire-wound resistors."
From 1901 to 1990, the U. S. Legal Ohm was maintained at 1 . by selected groups of manganin
resistance standards. Four dierent types of resistance standards have been represented in
these groups, whose numbers have varied from 5 to 17 resistors. From 1901 to 1909, the group
comprised Reichsanstalt-type resistance standards made by the Otto Wol firm in Berlin. These
standards were not hermetically sealed and consequently underwent changes in resistance as a
function of atmospheric humidity. In 1907 Rosa at NBS solved the problem by developing
a standard whose resistance element is sealed in a can filled with mineral oil [4]. The U. S.
representation of the ohm was main-tained by 10 Rosa-type 1 . resistance standards from
1909 to 1930. Over the years, measurements of dier-ences between the individual Rosa-type
resistors indicated that the group mean was probably not con-stant. In 1930, Thomas reported
on the development of his new design for a resistance standard having improved stability [2].
The Thomas resistance standards were more stable immediately following construction than the
Rosa-type resistors and two were added to the primary group in 1930. Eventually, in 1932,
the Rosa-type resistors in the primary group were replaced by the Thomas resistors. To reduce
loading errors, Thomas in 1933 improved the design of his resistor by using manganin wire of
larger diameter mounted on a larger diameter cylinder to increase the dissipation surface area,
as described in his paper [1]. A select group of the new-design Thomas resistors was used to
maintain the U. S. Legal Ohm from 1939 until its re-definition in 1990 based on the quantum
Hall eect.
The value of the U. S. representation of the ohm, or "Legal Ohm" maintained at NIST has
been adjusted only twice. This occurred first in 1948 when the ohm was reassigned using a
conversion factor relating the international reproducible system of units [3] to the precursor of
the International System of Units (SI) derived from the fundamental units of length, mass, and
time. The second occasion was in 1990 when the ohm became based on the quantum Hall eect.
305
After 1960, ohm determinations were made using calculable capaci-tors based on the ThompsonLampard theorem and a sequence of ac and dc bridges. Then came the discovery of the QHE in
1980, which has provided an invariable standard of resistance based on fundamental constants.
Consequently, on January 1, 1990 the U. S. Legal Ohm was re-defined in terms of the QHE, with
the inter-nationally- accepted value of the quantum Hall resistance (or von Klitzing constant,
after the eects discoverer) based on calculable capacitor experiments and other fundamental
constant determinations. At that time, the value of the U. S. Legal Ohm was increased by the
fractional amount 1.69.10 6 to be consistent with the conventional value of the von Klitzing
constant [5].
Shortly after the discovery of the QHE, NBS developed a system based on the QHE to
monitor the U. S. Legal Ohm, then maintained by five Thomas-type resistance standards, with
a relative uncertainty of a few times 10 8 [6]. This system consisted of a constant current source,
a potentiometer, and an electronic detector. The current source energized the QHE device and
a series-connected reference resistor of nominal value equal to the Quantum Hall Resistance
(QHR). With the potentiometer balancing out the nominal voltage across either resistance, the
detector measured the small voltage dierence between the QHE device and reference resistor.
Scaling down to the 1 . level was accom-plished using specially-constructed Hamon transfer
standards.
Since January 1, 1990, the maintenance of the U. S. Legal Ohm has been based ocially on
the QHE. However, the complexity of the experiment and "odd-value" resistance of the QHR
does not make it practical for the routine support of resistance measurements where comparisons
are normally made on standard resistors of nominal decade values. Therefore, banks of 1 ., 100
., and 10 k. standard resistors maintain the ohm between QHR measurements.
Today NIST provides a calibration service for stan-dard resistors of nominal decade values
from 10 4 . to 10 14 .. To achieve low uncertainties, eight measurement systems have been
developed that are optimized for the various resistance levels [7]. Over the years from 1982
to 1997, six of the systems, covering the full 19 decades of resistance, have been automated.
The main methods of comparing standard resistors for NIST calibrations utilize direct current
comparator (DCC) bridges and resistance-ratio bridges.
An unknown standard resistor is indirectly compared to a reference bank of the same nominal
value using the substitution technique, where the unknown and refer-ence resistors are sequentially substituted in the same position of a bridge circuit. A robotic switching device is shown
in Fig. 2. This technique tends to cancel errors caused by ratio non-linearity, leakage currents,
and lead and contact resistances. To verify that the values of the reference banks are consistent
with the QHR, scaling measurements are completed periodically proceeding from the 1 ., 100 .
or 10 k. banks, whose values are based on recent QHR determinations, to the other refer-ence
banks. The up or down scaling is done in steps of 10 or 100 using either a CCC bridge, Hamon
transfer standards, or DCC bridge.
Prepared by R. Dziuba, N. B. Belecki, and J. F. Mayo-Wells based on excerpts from the
paper The Ampere and Electrical Units [8], authored by members of the Elec-tricity Division.
Bibliography
[1] James L. Thomas, Stability of Double-walled Manganin Resis-tors, J. Res. Natl. Bur.
306
Bibliografa
[1] ANSI/ASME Measurement Uncertainty, Part I. ANSI/ASME PTC 19.11985. 1986
[2] Anderson, N., A., StepAnalysis Method of Finding Time Constant, Instrument Control
Systems, Nov., 1963.
[3] Avendao, L., E., Sistemas Electrnicos Lineales: Un Enfoque Matricial. Publicaciones
UTP, Pereira, 1995.
[4] Bentley, J., P., Principles of measurement Systems, Sec. Edit. Longman Scientific &Technical, N. Y., 1993.
[5] The International System of Units (SI), Ed. by B. N. Taylor, Natl. Inst. Stand. Technol.
Spec. Publ. 330, 1991 Edition (U.S. Government Printing Oce, Washington, DC, August
1991).
[6] American National Standard for Metric Practice, ANSI/IEEE Std 268-1992 (Institute of
Electrical and Electronics Engineers, New York, NY, October 1992).
[7] BLH Electronics, Semiconductor strain gages handbook, 1973.
[8] Budynas, R., G., Advanced Strength and Applied Stress Analysis, McGrawHill, N. Y.,
1977.
[9] Coleman, H., W., Steele, W., G., Experimental Uncertainty Analysis for Engineers, Wiley,
N. Y., USA., 1989.
[10] Creus, A., Instrumentacin Industrial. 6a Edicin. Alfaomega Marcombo Boixareu Ed.,
Bogot, 1998.
[11] Doebelin, E., O., Measurement Systems Application and Design, 4a Edition. McGrawHill
International Ed., N. Y., USA, 1990.
[12] Dorf, R., C., Circuitos Elctricos 2a Edicin, Edit. Alfaomega, Bogot, 1997.
[13] Floyd, T., Electronic Devices: ConventionalFlow Version, 4th Ed., Chap 16, PrenticeHall,
Englewood Clis, N. J., 1996
307
308
BIBLIOGRAFA
[14] Huelsman, L., Active and Passive Analog Filter Design an Introduction. McGrawHill, Inc.,
N. Y., USA. 1993.
[15] Hawgood J., Numerical Methods in Algol. McGrawHill, London, 1965.
[16] Kreyszig, E., Advanced Engineering Mathematics, 6th edicin, John Wiley & Sons, N. Y.,
USA, 1988.
[17] Lin, P., M., Single Curve for Determining the Order of an Elliptic Filter. IEEE Transactions on Circuits and Systems, vol 37, no. 9, September 1990, pps. 11811183.
[18] Lipson, C., Sheth, N., Statistical Design and Analysis of Engineering Experiments,
McGrawHill,N. Y.,1973.
[19] Molina, E., C., Poissons Exponential Binomial Limit. Van Nostrand Co., N. Y. 1942.
[20] Ogata, K., Ingeniera de Control Moderna PrenticeHall Hispanoamericana S. A., Mxico,
1985
[21] Proakis, J. G., Digital Signal Processing, PrenticeHall, Upper Saddle River, N. J., USA,
1996.
[22] Sedra, A., S., Smith, K., C., Microelectronic Circuits. 4th Ed. Oxford University Press. N.
Y., USA, 1998.
[23] Ferrero, C., Guijarro, E., Ferrero, J., M., Saiz, F., J., Instrumentacin Electrnica Sensores.
Pub. Universidad Politcnica de Valencia, Espaa, 1994.
[24] HewlettPackard, Practical strain gage measurements. Application Note 2901, 1981.
[25] Huelsman, L., P., Active and Passive Analog Filter Design. An Introduction. McGrawHill,
Inc. N.Y. 1993.
[26] Meglan, D., Berme, N. y Zuelzer, W., On the construction, Circuitry and properties of
liquid metal strain gages. Biomechanics, vol. 21, No. 8, 1988, pps, 681 685. Cit. [28].
[27] Organisation Internationale de Mtrologie Lgale. Caractristiques de performance des extensomtres mtalliques rsistence. Recomendation Internationale No 62. Paris Bureau
Internationale de Mtrologie Lgale, 1985. Cit. [28].
[28] Palls, A., R., Sensores y Acondicionadores de Seal. Marcombo Boixareu Editores,
Barcelona, Espaa. 1994.
[29] Popov, E., P., Mechanics of Materials, Prentice Hall, Englewood Clis, N. J., 1976.
[30] Soderstrand, M., A., Mitra,S., K., Sensitivity Analysis of ThirdOrder Filters, International Journal of Electronics, v. 30, No. 3, pp 265272. 1971.
BIBLIOGRAFA
309
[31] Streeter, V., L., Wylie, E., B., Fluid Mechanics, McGrawHill, N. Y., 1985.
[32] Scarr A., Measurement of length, Journal ofInst. of Measurement & Control., vol 12, July
1979, pp 265269.
[33] Vrbancis, W., P., The operational amplifier summera practical design procedure. Wescon
Conference Record, Session 2, 1982, pp.14.
[34] Johnson, R., Elementary Statistics, PWSKent, Boston, USA. 1988.