UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER

ESCUELA DE INGENIERAS ELCTRICA, ELECTRNICA Y DE TELECOMUNICACIONES

Perfecta Combinacin entre Energa e Intelecto

DISEO DE CIRCUITOS ELECTRONICOS

Diseo De Un Amplificador De Instrumentacin
Francisco Andrs Meza Ros Cd.: 2091509
Jossie Esteban Rodrguez Salazar Cd.: 2103647
Diego Alexander Martnez Morales Cd.: 2104512
INTRODUCCION
Un amplificador de instrumentacin es un dispositivo
creado a partir de amplificadores operacionales.
Est diseado para tener una alta impedancia de
entrada y un alto rechazo al modo comn (CMRR).
Se puede construir a base de componentes
discretos o se puede encontrar encapsulado (por
ejemplo el INA114).
La operacin que realiza es la resta de sus dos
entradas multiplicada por un factor.
1. DISEO

Features

Value

Internally trimmed offset voltage

10mV

Low input bias current

50pA

Wide gain bandwidth

4MHz

High slew rate

13V/us
10

High Input impedance

Tabla 1. Especificaciones elctricas del OPAMP LF353.

FEATURES

Value
3nV/Hz

Low noise
1.1. Especificaciones del diseo:
, = 60
= 10
100
2
=
50

High CMRR

138dB

High open-loop gain

160dB

Low input bias current

Low offset voltage
Wide supply range:

10nA max
75uV
2.5 to
18V

1.2. Seleccin Y Justificacin.

Para la construccin del INA se disponan
fsicamente de los amplificadores OPA 4227 y LF
353 (se muestran sus caractersticas en las tablas 1
y 2 respectivamente).
A pesar de que las caracteristicas elctricas del
OPA 4227 son mejores, por disponibilidad en las
libreras del ORCAD se tom la decisin de trabajar
con el LF 353.
De acuerdo a la configuracin de un INA (ver Fig 1)
y basados en integrados comerciales elaborados y
encontrados en la literatura, los valores de 2 3
se fijaron con un valor de 10 e iguales con el fin
de mejorar el CMRR. Para 1 , se escogi un valor
de 1 y se despejo de la ecuacin de
ganancia del INA, establecida en 1000, y se obtuvo
un valor de 200.

Tabla 2. Especificaciones elctricas del OPA 4227.

1.3. Ecuaciones.
La ganancia diferencial del amplificador de
instrumentacin est dada por:
= (1 +

1
3
)( )

2. SIMULACIN.
Para la simulacin se hizo uso de bloques
jerrquicos para construir de una forma ms
organizada y sencilla las diferentes configuraciones
para el circuito de acuerdo a cada parmetro que
necesitamos medir: Ganancia diferencial, valor de
offset y seal de modo comn.

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FREQ = 10k
VAMPL = 1
VOFF = 0
V4

V1

0
1Vac
0Vdc

V2
15

R1

VDD

R1
200

Fig 1. Configuracin interna del INA.

VEE

OUT
R2

INA
V3

FREQ = 10k
VAMPL = 10m
VOFF = 0
V4

15

V1

Fig. 4 Configuracin del circuito para anlisis de

seal en modo comn.

0
1Vac
0Vdc

V2
15

3. MONTAJE Y GRAFICAS EXPERIMENTALES

VDD

R1
R1
200

VEE

OUT

R2

INA
V3

15

Fig. 2 Configuracin del circuito para ganancia

diferencial.
0
0
V2

Fig. 5 Visualizacin de la ganancia en el

osciloscopio.

15

R1

VDD

R1
200

R2

VEE

OUT

INA
V3

15

Fig.3 Configuracin del circuito para clculo del

offset.

Fig . 6 Visualizacin del offset en el osciloscopio

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AMP y puede estar dada por cambios en la tensin de

alimentacin, como se puede observar en la tabla 1.
Ahora, se puede decir que en cada etapa de
amplificacin de un OP-AMP estamos obteniendo un
offset a la salida, ahora, como se mencion antes, el
offset depende de dos factores, el offset aportado por la
seal de entrada y el offset que puede ser aportado en
la ganancia de cada OP-AMP, lo que quiere decir que
en ultimo OP-AMP vamos a obtener un offset mucho
mayor, ya que tenemos un offset de entrada y un offset
de ganancia, propio del elemento, esto pudo der el
motivo para que el offset de amplificador operacional
aumentara y no coincida con el simulado.

Fig. 7 Visualizacin de la seal de modo comn en

el osciloscopio.

5. CONCLUSIONES

El integrado LF353 fue mal asignado para el

desarrollo de esta prctica, ya que posee
buenas caractersticas en comparacin con un
OP-AMP de propsito general, pero esto no es
suficiente para cumplir las especificaciones
dadas.

Debido a la tolerancia de las resistencias fsicas

se tienen errores en las medidas experimentales
comparadas con las de la simulacin, ya que las
usadas en esta ltima son resistencias ideales y
sus valores siempre van a ser fijos.

El voltaje de offset de entrada es de una

magnitud de DC que cuando se aplica entre los
terminales de entrada del OP-AMP con
polaridad apropiada, reduce del voltaje de offset
a la salida a aproximadamente cero.

Cuando no hay perfecta simetra en la primera

etapa del INA , en este caso esto ocurre debido
a la tolerancia de las resistencias, tiene como
consecuencia que el CMRR desmejore y por
eso como se observa en la tabla 3, la gran
diferencia que hay entre el valor experimental y
simulado en la seal de modo comn.

El valor de offset obtenido experimentalmente

no
se
acerca
al
mostrado
en
las
especificaciones elctricas del integrado que se
us (tabla 1), debido a que en cada una de las
etapas, este se amplifica.

4. ANALISIS DE RESULTADOS
Datos
Simulacin

Datos
Experimentales

Adiff.

981,3

913,04

Offset

54,96m

-2,54

Comun
Mode

6,167m

160m

Variables

Tabla 3. Comparacin de datos terico-experimentales.

La ganancia diferencial como se ve en la tabla 3,
disminuyo de la simulacin a la prctica 68.26, esto
puede ser debido a que en la simulacin las resistencias
son tomadas todas de valores ideales, mientras que en
la prctica estos valores oscilan dependiendo la
fabricacin.
Otra de las causas que pueden ser tenidas en cuenta es
que cuando es excitado con una entrada en modo
comn las tensiones de entrada al tercer OP-AMP
deben ser exactamente iguales, partiendo de esto, si
tenemos en cuenta que las resistencias no son ideales,
en las etapas de amplificacin en los OP-AMP
anteriores, podemos deducir que las ganancias de estos
tampoco son exactamente iguales y por esta razn
nuestra ganancia en modo comn no es la vista en la
simulacin, en la cual todo es ideal.
Por otro lado, el offset se ve aumentado en la prctica.
El offset se puede especificar por dos componentes, el
offset aportado por la seal de entrada y el offset que
puede ser aportado en la ganancia de cada OP-AMP,
sta ltima es especificada por el fabricante del OP-