DIFRACCION DE

RAYOS X

Dra. Carmen Gonzlez Henrquez

HISTORIA DE RAYOS X
La historia de rayos X comienza con los experimentos del cientfico
britnico Williams Crookes, que investigo en el siglo XIX los efectos
de ciertos gases al aplicarles descargas de energa. Estos
experimentos se desarrollaban en un tubo vaco, y electrodos para
generar corrientes de alto voltaje.
El fsico Wilhelm Conrad Rntgen descubri los rayos X en 1895,
mientras experimentaba con los tubos de Hittorff-Crookes y la bobina de
Ruhmkorff para investigar la fluorescencia violeta que produca los rayos
catdicos. Tras cubrir el tubo con un cartn negro pata eliminar a luz
visible, observo un dbil resplandor amarillo-verdoso proveniente de una
pantalla con una capa de platino-cianuro de bario, que desapareca al
apagar el tubo. Determino que los rayos creaban una radiacin muy
penetrante pero invisible, que atravesaba grandes espesores de papel
incluso metales poco denso. Us placas fotogrficas para demostrar
que los objetos eran mas o menos transparentes a los rayos X
dependiendo de su espesor y realizo la primera radiografa humana
usando la mano de su mujer.

TUBO DE CROOKES
Consiste en un tubo de vidrio por el cual
circula una serie de gases, que al aplicarles
electricidad adquieren fluorescencia, de ah
que sean llamados fluorescentes.
La fuente de bajo voltaje (A) esta conectada
al ctodo caliente (C) mientras que la fuente
de alto voltaje (B) provee energa al nodo
revestido del fosforo (P). La mscara (M) se
conecta al potencial de ctodo y su imagen
se visualiza en el fosforo como rea sin
iluminar. Este tubo puede ser construido sin
la fuente A mediante el uso de un ctodo
frio.

Radiacin electromagntica
Estos rayos son invisibles y atraviesan el cuerpo humano, madera y otros objetos
opacos , usndose para estudiar la estructura interna de los objetos opacos.
Los rayos X se pueden observar cuando un haz de
electrones muy energticos (del orden de 1 keV) se
desaceleran al chocar con un blanco metlico. Segn la
mecnica clsica, una carga acelerada emite radiacin
electromagntica, de este modo, el choque produce un
espectro continuo de rayos X a partir de cierta longitud
de onda mnima dependiente de la energa de los
electrones. Este tipo de radiacin se denomina
Bremsstrahlung (radiacin de frenado). Adems, los
tomos del material metlico emiten tambin rayos X
monocromticos, lo que se conoce como lnea de emisin
caracterstica del material. Otra fuente de rayos X es
la radiacin sincrotrnica emitida en aceleradores de
partculas.

Los rayos X son radiaciones electromagnticas de naturaleza similar a la luz

pero con longitud de onda mas corta. La medida de unidad es Angstrom ()

Para la produccin de rayos X se puede utilizar dos clases:

Tubos con gas.
Tubos con filamentos
El tubo con gas se encuentra a una presin de aproximadamente 0.01 mmHg y
es controlada mediante una vlvula; posee un ctodo de aluminio cncavo, el
cual permite enfocar los electrones y un nodo. Las partculas ionizadas de
nitrgeno y oxgeno, presentes en el tubo, son atradas hacia el ctodo y nodo.
Los iones positivos son atrados hacia el ctodo e inyectan electrones a este.
Posteriormente los electrones son acelerados hacia el nodo (que contiene al
blanco) a altas energas para luego producir rayos X. El mecanismo de
refrigeracin y la ventana son los mismos que se encuentran en el tubo con
filamento.

Espectro continuo:
Los rayos X son producidos cuando las partculas elctricamente cargadas de una
suficiente energa cintica son desaceleradas rpidamente. Los electrones son
usualmente usados para este propsito, las cuales son producidas en un tubo de
rayo X.
Tubo de filamento
Los electrones colisionan a una alta velocidad con el
nodo (enfriado con agua). La perdida de energa de los
electrones debido al impacto con el metal (nodo) es
manifestado como rayos X.
Los electrones son producidos por
calentar un filamento de tungsteno
(ctodo). El ctodo posee un potencial
altamente negativo y los electrones son
acelerados hacia el nodo. SE LIBERAN
ELECTRONES
POR
EMISION
TERMOINICA
Todo al vaco

Solo un pequeo porcentaje (menos

que el 1% ) de los electrones son
convertidos como rayos X; la mayora
es disipada como calor en el agua
refrigerada (nodo)

La radiacin es producida en un tubo de rayo X la cual contiene una fuente de electrones y

dos electrodos (metlicos). El alto voltaje mantenida a travs de estos electrodos,
rpidamente guan los electrones al nodo (tarjeta), las cuales son expulsadas con una alta
velocidad emitiendo un rayo X.

Los rayos X son producidos en el punto de impacto y emite una radiacin en todo las
direcciones.

K
K

La lneas K, L, M (corresponden a los principales numero cunticos con n=1,2,3)

incrementan en el orden de la longitud de onda. Todas estas lneas forman la
caracterstica espectral del metal usado como tarjeta. As para molibdeno la lnea K
tienen una longitud de onda cerca a 0.7 , la lnea L cerca de 5 y la lnea M posee
una longitud de onda mayor.
Sin embargo , solo la lnea K es usada para difraccin de rayos X

Energa cintica de un electrn

Si e es la carga sobre el electrn (1.60x10-19 coulomb) y V es el voltaje que
atraviesa los electrodos, entonces la energa cintica (J) de los electrones es
dado por la ecuacin:

1 2
KE
= eV
=
mv
2

Donde m es la masa del electrn (9.11

x10-31 Kg) y v es la velocidad en
metro/segundo (antes del impacto).

Cuando los rayos X llegan desde la tarjeta son analizadas, las cuales
consisten en una mezcla de diferentes longitudes de onda. As, la variacin
en su intensidad y longitud de onda depende sobre el voltaje del tubo.

Clase de curva obtenidas :

Cuando la intensidad es cero, intersecta con una cierta longitud de onda, llamada
longitud de onda corta limite (SWL), la cual incrementa rpidamente a un
mximo y decrece.
Cuando aumenta el voltaje del tubo, la intensidad de todas las longitudes de onda
se vern incrementadas. Y tanto como la longitud de onda corta limite y el
mximo de posicin de la curva se vern desplazadas a una menor longitud de
onda.
Tpica curva de rayos
X: El espectro consiste
en un intervalo de
longitud
de
onda.
Adems,
por
cada
potencial de aceleracin
un espectro continuo de
rayos X es obtenido.

Espectro de rayos X de molibdeno a 35kV

Existen varias lneas K, pero solo tres de ellas son observadas por difraccin
normal (K1, K2, K1). En algunos casos, los componentes 1 y 2 poseen
longitudes de onda muy similares, las cuales no son siempre resultas como
lneas separadas.

K es un doblete compuesto por K1, K2

Difraccin:
La difraccin es una caracterstica general de todas las ondas y puede ser
definida como la modificacin del comportamiento de la luz o otras ondas
por su interaccin con un objeto.
Cuando un fotn de rayos X es absorbido por el tomo, se produce une
emisin de otro fotn de la misma energa, se denomina proceso de scattering.
Cuando existe una diferencia de energa entre el fotn incidente y el emitido,
se habla de colisin elstica o inelstica.

Interferencia constructiva (in-phase)

Si dos ondas se encuentran en fase,

entonces el mximo de una onda es
alineada con el mximo de la otra
onda (aumenta la amplitud)

Interferencia destructiva (out-of phase)

Cuando los componentes de una

onda son 180 fuera del plano, la
onda resultante tienen una menor
amplitud

Modo de resumen: Difraccin de Rayos X

La difraccin es un fenmeno de interferencia constructiva de ondas de rayos X
coherentes emitidas por tomos dispuestos peridicamente.
Para que haya difraccin, la longitud de onda de la radiacin debe ser del orden
de magnitud de las distancias interatmicas.
Un difractograma de Rayos-X est constituido por una serie de efectos de
difraccin
La posicin angular de cada efecto depende del tamao y forma de la celdilla
unidad. (Ley de Bragg)
La intensidad de cada efecto depende de la naturaleza y posicin de los tomos
dentro de la celdilla (Factor de estructura)

Cultura General.

Estado Slido Cristalino

Organizacin Atmica: Determinan la microestructura y por lo tanto el comportamiento
del material. Existen tres niveles de arreglos atmicos:
1.- Sin orden : Gases, cuyas tomos y molculas, llenan en forma aleatoria el espacio en
que estn confinados.
2.- Orden de Corto Alcance: esto ocurre si el arreglo espacial de tomos se extiende solo a
los vecinos ms cercanos. Por ejemplo en molculas de agua, o en vidrios cermicos. Este
es el caso de la mayora de las cermicas y polmeros, por lo que se dice que son materiales
AMORFOS. TAMBIEN SE LE DENOMINA VIDRIOS O LIQUIDOS SOBREENFRIADOS
3.- Orden de largo Alcance: Aqu el material presenta un arreglo atmico en una gran
porcin del espacio, es decir tiene una estructura ordenada y repetitiva que llamamos
CRISTALINIDAD. NO EXISTEN EN MATERIALES SEMICRISTALINOS O AMORFOS
Presenta una estructura compacta, no poseen la regularidad
de los solidos cristalinos y la estructura cambia a lo largo de
las tres dimensiones (caucho, vidrio)

Sus tomos, iones o molculas se encuentran organizadas en

forma peridica en tres dimensiones (su estructura se repite).
Al fracturarse lo hacen con cierta regularidad tendiendo a
conservar su estructura (diamante y cuarzo)

SiO2 cristalino

Ejemplo:

SiO2 no cristalino

Los slidos cristalinos se fragmenta a los largo de los planos de la red

cristalina, por lo que los fragmentos mantienen similares ngulos
interfaciales y caractersticas estructurales.
Los solidos amorfos se rompen de forma irregular dando bordes
disparejos y ngulos irregulares.
Los solidos cristalinos tienen puntos de fusin bien definidos, mientras
que los amorfos pueden fundir a temperaturas diferentes en las diversas
porciones de la muestra, al irse venciendo las distintas fuerzas que unen
sus partculas

Un slido puede ser clasificado en tres ordenes: Cristal,

poli-cristalino, amorfo.

Cristal
Un cristal puede ser definido como un slido, compuesto de tomos,
iones o molculas ordenadas en un patrn peridico en tres
dimensiones. Los cristales se caracterizan por tener caras planas y aristas
bien definidas

Por ejemplo el benceno, estn dispuesto en modelos con seis tomos de

carbono en los vrtices de un hexgono regular y un tomo de hidrgeno
unido a cada tomo de carbono.

El hecho que el benceno es un liquido y no un gas a temperatura

ambiente es una evidencia de que exista fuerzas atractivas entre las
molculas. En el caso del benceno stas son fuerzas de Van der Waals
relativamente dbiles y la agitacin trmica impide que las molculas se
asocien en agregados ordenados.

El arreglo ordenado de objetos se puede representar mediante una RED.

Las partculas solidas se componen de un conjunto de molculas
ordenadas en tres dimensiones.

Esto se repite una y otra vez,

a intervalos regularmente
espaciados, y con la misma
orientacin, por todo el
cristal

Las redes son construcciones imaginarias muy tiles ya que sirven como
sistema de coordenadas a partir de las cuales los tomos, molculas o
iones se localizan.

Las REDES se puede representar de muchas formas

Todo los puntos idnticos a ste constituye el conjunto de puntos reticulares.

Todo estos puntos tienen exactamente lo mismo alrededor y son idntico en
posicin con relacin al patrn o motivo que se repite.

Si conocemos la disposicin exacta de los tomos dentro de una celdilla unidad,

entonces conocemos efectivamente la disposicin atmica del cristal. El proceso
para determinar la estructura de un cristal consiste por consiguiente en localizar los
tomos de una celdilla unidad
Cuando cada objeto del arreglo ordenado se reemplaza por un punto entonces
se forma la RED CRISTALINA

Puntos en una red

Punto de
la red

El rea formada por lneas sucesivas de la red se llama CELDA UNITARIA

Si se une los puntos reticulares por lneas recta podemos dividir el espacio
bidimensional en paralelogramo (celdilla unidad o celda unitaria) . En tres
dimensiones el espacio se divide en paraleleppedos. La repeticin de estos
paraleleppedos por traslacin desde un punto reticular a otro engendra el
retculo.

Celda Unitaria: Es la unidad estructural esencial repetida de un slido

cristalino.
Celdas unitarias en 3 dimensiones
Celda unitaria
punto de
red

Los
solidos
cristalinos
estn
constituidos por un
ordenamiento
regular de tomos,
molculas o iones;
este ordenamiento
puede
ser
representado por
una unidad (celda
unidad)
Ordenamiento espacial de tomos y molculas que se
repiten sistemticamente hasta formar un cristal

Punto de red: tomos, molculas o

iones.
La estructura del solido cristalino se
representa mediante la repeticin de la celda
unidad en las tres direcciones del espacio

Parmetros de red
Geomtricamente una celda unidad
puede
representarse
por
un
paraleleppedo.

Definicin de los ejes, las

dimensiones de la celda unitaria y
los ngulos para una celda unitaria
genrica

La geometra de la celda unidad se

describe mediante seis parmetros: la
longitud de las tres aristas del
paraleleppedo (a, b y c) y los tres
ngulos entre las aristas ( , y ).
Esos parmetros se denominan
parmetros de red.

Celda unidad
Esferas
rgidas

Celda cbica
centrada en
las caras

ecc
El concepto de celda unidad es usado para representar la simetra de una
determinada estructura cristalina. Cualquier punto de la celda unidad
que sea trasladado de un mltiplo entero de parmetros de red ocupar
una posicin equivalente en otra celda unidad.

El tamao y la forma de una celda unitaria pueden ser especificados por

medio de las longitudes a, b y c de las tres aristas independientes y los tres
ngulos , y entre estas aristas. Estos ejes definen un sistema de
coordenadas apropiados al cristal.

Longitudes de una celda

unitaria segn el eje de
coordenadas
c

x
a

A las longitudes de cada uno de los ejes de la celda tambin se le llama unidad de
traslacin.

ngulos entre los ejes de una celda unitaria

El ngulo es el ngulo entre b y c; es entre a y c; es entre a y b. Estos ejes
definen un sistema de coordenadas apropiado al cristal.

Diferentes cortes de los ejes de una celda unitaria

por los planos de red

1/1

1/2

1/3

Cuando un juego de planos corta un eje de la celda unitaria, el eje queda

divido en un nmero entero de partes iguales

Juegos de planos de red paralelos entre si

Cada punto de red cae en uno de los planos de red

 Slido Cristalino: Desarrollo espacial repetitivo y ordenado. Existen 7

SISTEMAS DE CRISTAL, es decir, 7 disposiciones espaciales en las que
pueden acomodarse las unidades estructurales (generalmente tomos) para
dar un sistema ordenado y repetitivo en las tres dimensiones. La porcin
mnima que describe estos sistemas de cristal se denomina celda unitaria.

Celda unidad correcta

Celda unidad incorrecta

Clasificacin de celdas unitarias

Relacin entre los parmetros de red y la geometra de las celdillas unidad
de los siete sistemas cristalinos

(CS)
(CC) (BCC)
(CCC) (FCC)
(TS)
(TC)

(OS)
(OC)
(OB)
(OCC)

La geometra de la celdilla unidad se define en funcin de seis parmetros

de red: longitud de tres aristas a,b y c. Los tres angulos interaxiales , y

Clasificacin de celdas unitarias

Relacin entre los parmetros de red y la geometra de las celdillas unidad
de los siete sistemas cristalinos
(R)

(H)

(MS)

(TS)

(MB)

Algunos ejemplos: Dimensiones de las celdillas unidad para los siete

sistemas cristalinos

REDES PRIMITIVA Y CENTRADAS

CUATRO MANERAS DISTINTAS DE
UBICAR PUNTOS DE RED EN UNA
CELDA UNIDAD

Celda unidad centrada en una cara (C) tiene un punto

de red en el origen y otro en una de sus caras.

Contiene un punto de
red por celda unidad
ubicada en el origen

Primitiva (P)

Centrada en una cara (C)

Celda Unidad centrada

en el cuerpo (l) tiene
un punto de red en el
origen y uno en el
centro de la celda.

Centrada en el cuerpo (I)

Centrada en todas las caras (F)

Celda unidad centrada en las caras (F), tiene un punto
de red en el origen y uno en el centro de cada una de
las caras.

Sistema cbico

Parmetros de red
a = b =c = = = 90

Cbico simple

Cbico centrado en
el cuerpo

Cbico centrado
en las caras

1/8 de tomo

tomo central

1/8 de tomo

tomo

Coordenadas de la celda unidad

Se
pueden
localizar
puntos
en
una
celda
estableciendo un sistema de coordenadas, con un eje 0,0,0 que sirva
de referencia. Un punto cualquiera se designa (x,y,z).

ndices de Miller: Notacin empleada para localizar direcciones y

planos en una celda unidad

Algunos ejemplos:
La estructura de NaCl es cubica centrada en la cara con una base de dos tomos
0,0,0 y , 0, 0. Existen 8 tomos por celdas, 4 de sodio y cuatro de cloro.
El in Na+ se encuentra localizado en la posicin 0,0,0;
, , 0; , 0, ; 0, , .

, 0, 0

0,0,0

El in Cl- se encuentra localizado en la posicin , 0,0; 0, , 0; 0, 0, ; , , .

El in Sn2- se encuentra localizado en la posicin

0,0,0; , , 0; , 0, ; 0, , .

(, , )
(0,0,0)

El in Zn2+ se encuentra localizado en la posicin , , ; , , ; , , ; , , .

Cloruro de cesio CsCl

La celda unitaria contiene dos tomos (Cs y Cl). As tienen un tomo de Cs se
encuentra ubicado a 0,0,0 y un tomo de cloro a , , .

Este compuesto posee una red primitiva cubica (cubica centrada en el cuerpo)

Relacin de radios

Nmero de
coordinacin

Red
tpica

1> r+/r-> 0.732

CsCl

0.732 > r+/r->0.414

NaCl

0.414 > r+/r->0.125

ZnS

2. Plano de simetra m. Es un elemento de simetra que relaciona a

la mitad de un objeto con su otra mitad como si se reflejaran
z

y
(1)

Se dice que un objeto o figura tiene simetra si algn movimiento de

la figura o alguna operacin sobre la figura la deja en una posicin
indistinguible de su posicin original.

3. Centro de inversin. Es un elemento de simetra que relaciona cada

fragmento en un objeto con otro a travs de un punto intermedio.

z
(1)
(2)

(4)

(3)

4. Eje de rotacin inversin n. Es un elemento de simetra que cuando se

aplica a un objeto conduce a otro relacionado con el primero a travs de una
rotacin y un inversin.

(3 )

(4 )

(2 )
(1 )

Adems de en los vrtices, los puntos de red tambin pueden aparecer en

otras posiciones de la celdilla unidad, produciendo 14 tipos de redes
cristalinas.

Nmero de tomos por celda unitaria:

Esquinas: 1/8
Caras =
Centro del Cuerpo: 1

Si consideramos los tomos o grupos de tomos como esferas duras, existe

un numero limitado de posibilidades de acomodar estos tomos en los
sistemas de cristal, estas se conocen como los 14 RETICULOS DE
BRAVAIS.

CELDAS CBICAS

VOLUMEN OCUPADO POR UNA CELDA UNIDAD CUBICA

Revisar bien en casa!!!
En las celdas cbicas el
volumen es igual a la arista
elevado al cubo,
V = a3

La eficiencia de empaquetamiento es la relacin porcentual entre el espacio

ocupado por las partculas unitarias (tomos, molculas o iones) y el volumen de la
celda.

De all derivan una serie de relaciones, como por ejemplo:

Relacin entre r y a (resolver para el sistema cbico).
Nmero de coordinacin: nmero de vecinos en contacto. Da una idea de la
eficacia de empaquetamiento
Factor de Empaquetamiento: fraccin de espacio ocupada por tomos dentro de
la celda, suponiendo que son esferas duras que se encuentran en contacto con su
vecino ms cercano.
F.E. = (N tomos /celda) (volumen de tomos) / (volumen celda unitaria)
Densidad (terica para metales) = (tomos/celda) (masa atmica) /
(volumen de celda)(N de Avogadro)

Ejercicios para la clase!!!

El volumen de una
esfera es (4/3)r3

F.E. = (N tomos /celda) (volumen de tomos) / (volumen celda

unitaria)

Porque este nmero: El volumen de una esfera es (4/3)r3

Cada tomo en las esquinas toca el tomo central.
Una lnea que sea dibujada desde una esquina del
cubo a travs del centro hacia la otra esquina pasa a
lo largo de 4r, donde r es el radio de un tomo. Por
geometra, la longitud de la diagonal es a3. Por lo
tanto la longitud de cada lado de la estructura BCC
se puede relacionar con el radio de cada tomo
mediante la siguiente formula.

Conociendo esto, y la formula de una esfera: (4/3)r3, es posible calcular FE

Estudien los mismo para la estructura hexagonal!!! (PREGUNTA DE PRUEBA)

Estructuras Principales.(HACER EJERCICIOS)

PARAMETRO DE RED

(CS)

Ejemplo 1:
Cuando cristaliza la plata, adquiere una estructura cbica cara-centrada. La
longitud de la arista de la celda unidad es 409 pm. Calcular la densidad de
la plata.

d=

V = a3 = (409 pm)3 = 6.83 x 10-23 cm3

4 tomos/celda unidad en una celda centrada en las caras

(tomos/celda)
m = 4 tomos de Ag

d=

m
V

(Masa atmica)
1 mol Ag
107.9 g
x
x
mol Ag
6.022 x 1023 tomos
7.17 x 10-22 g
6.83 x 10-23 cm3

= 10.5 g/cm3

Ejemplo 2:

Determine la densidad del hierro (BCC).

Parmetro de red: a= 0.2866 nm
tomos/celda=2
Masa atmica=55.847 g/mol

Densidad (terica para metales) = (tomos/celda) (masa atmica) /

(volumen de celda)(N de Avogadro)

Radio Atmico:

Se calcula de acuerdo al tipo de red cristalina, es decir:

En el caso de la red cbica simple, ser
2r = a por lo tanto r = a/2
En el caso de la red cbica centrada en la cara, ser
a2 = 4r, por lo tanto r = a2/4
En el caso de la red cbica centrada en el cuerpo, ser:
4r = a3, por lo tanto r = a3/4

Parmetros de Red
En la estructura cbica simple, los
tomos se tocan a lo largo de la arista
del cubo. Los tomos de las esquinas
estn centrados en los vrtices del
cubo, por lo tanto a = 2r
En la estructura cbica centrada en el
cuerpo, los tomos se tocan a lo largo
de la diagonal del cuerpo, que tienen
una longitud de 3a. Hay dos radios
atmicos correspondientes al tomo
central y un radio atmico preveniente
de cada uno de los tomos de las
esquilas de la diagonal del cuerpo, por
lo tanto a=2r/3

 En la estructura cbica centrada en las caras, los tomos se tocan a

lo largo de la diagonal de la cara del cubo, que tiene una longitud de
2a. Hay cuatro radios atmicos en esta longitud, dos de ellos
provienen del tomo centrado en la cara y uno por cada esquina,
por lo tanto a = 4r/2

Nmero de coordinacin:
Es la cantidad de tomos que se encuentran en contacto directo alrededor
de un tomo, o a la cantidad de vecinos ms cercanos
Es una medida de qu tan compacto y eficiente es el empaquetamiento de
los tomos
En la estructura cbica simple, cada tomo tiene seis vecinos ms cercano
en contacto.
En la estructura cbica centrada en el cuerpo, cada tomo tiene 8 vecinos
ms cercano en contacto.

DIRECCIONES Y PLANOS EN LAS CELDAS

UNITARIAS
Los puntos de una celda pueden ser ubicados a travs de un sistema de
coordenadas en los ejes (x,y,z). La direccin de ciertos planos es importantes
pues, existen fenmenos mecnicos que ocurren en direcciones especficas,
como es la deformacin de los metales.

Coordenadas de puntos seleccionados en la

celda unitaria. Los nmeros se refieren a la
distancia desde el origen en funcin de los
nmero de parmetros de red.

Indices de Miller:.
Corresponde a la notacin abreviada de ciertas direcciones o planos
dentro de una celda unitaria.
Estos se determinan a travs de las siguientes reglas:
Determinar las coordenadas de dos puntos que estn en la direccin de
inters.
Coordenadas finales coordenadas iniciales = nmero de parmetros de
red recorridos en la direccin de cada eje.
Reducir los resultados a los mnimos enteros.
Indicar dichos nmeros entre parntesis de corchete.
Los nmeros negativos se representan mediante una barra sobre el
nmero.

Los ndices de Miller en la difraccin de rayos X

Los ndices de Miller se designan como h k l
1/1

c
2h,2k,l
0

1/2

1/2
b
a
Los ndices de Miller son una terna de nmeros que caracterizan a un
plano de la red.
Se obtienen invirtiendo las fracciones en las que son divididos cada uno de
los ejes de la celda unitaria.

h,k,l

3h,2k,2l
c

c
b

3h,3k,3l

b
a

1h,0k,1l

2h,1k,1l
c

c
0

c
b

b
a

4h,4k,4l

b
a

Dra. Carmen Gonzlez Henrquez

Ejercicio

Determinar los ndices de Miller de los siguientes planos:

Ejercicio

(001), (110), (220), (020), (221), (112), (111)

Direcciones cristalogrficas:
Los ndices de Miller de las direcciones cristalogrficas se utilizan
para describir direcciones especificas en la celda unitaria.
Las direcciones cristalogrficas se usan para indicar determinada
orientacin de un cristal
Como las direcciones de un vector, una direccin y su negativa
representa la misma lnea, pero en direccin opuesta
Una direccin y su mltiplo son iguales, es necesario reducir a
enteros mnimos.

Direccin cristalogrficas
Al hablar de materiales cristalinos, es conveniente especificar algn
plano cristalogrfico de tomos particular o alguna direccin
cristalogrfica.
Convencionalmente se ha establecido que para designar las
direcciones y planos se utilicen tres enteros o ndices.
Los valores de los ndices se determinan basndose en un sistema de
coordenadas cuyo origen esta situado en un vrtice de la celdilla
unidad y cuyos ejes (x,y y z) coinciden con las aristas de la celdilla
unidad.

Direcciones cristalogrfica
Una direccin cristalogrfica se define por una lnea entre dos puntos o
por un vector. Se utilizan las siguientes etapas para determinar los
ndices de las tres direcciones.
En el origen de coordenadas del sistema se traza un vector de longitud
conveniente. Todo vector se puede trasladar a travs de la red cristalina
sin alterarse, si se mantiene el paralelismo.

Direcciones cristalogrfica
Se determina la longitud del vector proyeccin en cada uno de los tres ejes:
en funcin de las dimensiones a, b y c de la celdilla unidad.

Estos tres nmeros se multiplican o se dividen por un factor en comn

para reducir al valor entero menor.
Los tres ndices, sin separacin, se encierran en un corchete, as: [uvw]. Los
nmeros enteros u,v y w corresponden a las proyecciones reducidas a lo
largo de los ejes x,y y z, respectivamente.
Para cada uno de los tres ejes existen coordenadas positivas y negativas. Los
ndices negativos tambin son posibles y se representan mediante una lnea
sobre el ndice.

RESUMEN:
Procedimientos para determinas las direcciones
cristalogrficas:
Determinar las coordenadas del punto inicial y final.
Restar las coordenadas del final menos el inicial.
Eliminar las fracciones o reducir los resultados obtenidos a los
enteros mnimos.
Encerrar los ndices entre corchetes [ ], los signos negativos se
representan con una barra horizontal sobre el nmero.

Direcciones cristalogrficas
EJEMPLO:
La direccin [11 1] tiene un componente en la direccin y. Cambiando los
signos de todo los ndices se obtiene una direccin antiparalela, [1 11 ]
significa las direccin directamente opuesta a [11 1].
Si en una estructura cristalina particular se deben especificar una direccin o
un plano, conviene, para mantener la coherencia, que la conversin positivanegativa no se cambie una vez establecida.

Direcciones cristalogrfica
Determinar los ndices de la direccin mostrada en la siguiente figura.

El vector dibujado pasa por el origen del sistema de coordenadas y, por lo tanto, no necesita
traslacin. Las proyecciones de este vector en los ejes x, y y z son respectivamente a/2, b y 0c que
se convierten en , 1 y 0 en trminos de los parmetros de la celdilla unidad. La reduccin de
estos nmeros al menor de los enteros se consigue multiplicando cada uno de ellos por el factor 2
. El conjunto de estos enteros 1,2 y 0 se encierran en un parntesis como [120]

Direcciones cristalogrfica
Dibujar una direccin [11 0]

En primer lugar se dibuja una celdilla unidad adecuada al sistema de ejes coordenados. En la
figura la celdilla unidad es cubica y el punto O origen del sistema de coordenadas, esta localizada
en un vrtice del cubo.
Este procedimiento se soluciona siguiendo el procedimiento inverso del ejemplo anterior. Las
proyecciones de la direccin 11 0 a lo largo de los ejes x,y y z son a, -a y 0a respectivamente. Esta
direccin esta definida por un vector que va desde el origen de coordenadas al punto P, que se
localiza desplazndose a unidades a lo largo del eje x y desde esta posicin desplazndose a
unidades en una direccin paralela al eje y, como indica la figura.

Cristales hexagonales
Algunas direcciones cristalogrficas equivalente de los cristales de simetra
hexagonal no tienen el mismo conjunto de ndices. Este problema se
resuelve de forma ms complicada utilizando el sistema de coordenadas de
cuatro ejes o de Miller-Bravais. Los tres ejes a1, a2 y a3 estn situados en el
plano, llamado plano basal. Los ndices de una direccin y forman ngulos
de 120 entre s. El otro eje z, es perpendicular al plano basal. Los ndices
de una direccin, obtenidos de este modo, se anotan mediante cuatro
dgitos.
Por convencin, los tres primeros ndices
corresponden a las proyecciones a lo largo de
los ejes del plano basal a1, a2 y a3.

EJEMPLOS

Familias de direcciones
Una familia de direcciones es un grupo de direcciones equivalentes, y
se representa entre parntesis inclinados

Ejercicio:
Por medio de los ndices de Miller, identificar las siguientes direcciones
cristalogrficas:

Ejercicio:
Por medio de los ndices de Miller, identificar las siguientes direcciones
cristalogrficas:

Planos cristalogrficos:
Un plano es un conjunto de tomos
ubicados en un rea determinada
Los ndices de Miller sirven para
identificar planos especficos dentro de
una estructura cristalina
Este sistema sirve para identificar planos
de deformacin o de deslizamiento.
Se utiliza para determinar diferentes
niveles de energa superficial
Sirven para determinar el sentido de
crecimiento de cristales en algunos
materiales.

Planos cristalogrficos.

La orientacin de los planos cristalogrficos de la estructura cristalina se representa de modo similar.

Tambin se utiliza un sistema de coordenadas de tres ejes y la celdilla unidad es fundamental como se
representa en la siguiente figura:

Los planos cristalogrficos del sistema hexagonal se especifican mediante tres ndices de Miller (hkl). Dos
planos paralelos son equivalente y tienen ndices idnticos. El procedimiento utilizado para la
determinacin de los valores de los ndices es el siguiente:

Si el plano pasa por el origen se traza otro plano paralelo con una adecuada traslacin dentro de la celdilla
unidad o se escoge un nuevo origen en el vrtice de otra celdilla unidad.
El plano cristalogrfico o bien corta o bien es paralelo a cada uno de los tres ejes. La longitud de los
segmentos de los ejes se determina en funcin de los parmetros de red h,k,l.
Se escribe los nmeros recprocos de estos valores. Un plano paralelo a un eje se considera que lo corta en
el infinito y, por lo tanto, el ndice es cero.
Estos tres nmeros se multiplican o dividen por un factor comn.
Finalmente se escriben juntos los ndices enteros dentro de un parntesis: (hkl)

Planos cristalogrficos

Una familia de planos, como por ejemplo (111), (111), (111),(111),

(111), (111), (111) y (111) es representada por {111}

RESUMEN:
Planos cristalogrficos
Identificar los puntos en donde el plano cruza los ejes x,y, z. Si
el plano pasa por el origen de coordenadas, este se debe mover
para poder ubicar una distancia.
Determinar los recprocos de esas intersecciones.
Simplificar las fracciones, sin reducir a enteros mnimos.
Los tres nmeros del plano se representan entre parntesis, los
negativos se identifican con una lnea horizontal sobre el
nmero.

Planos cristalogrficos
Una interseccin en el sentido negativo del origen se indica
mediante una barra o un signo menos sobre el ndice.
IMPORTANTE:
UNA CARACTERISTICA UNICA E INTERESANTE DE LOS
CRISTALES CUBICOS ES QUE LOS PLANOS Y LAS
DIRECCIONES QUE TIENEN LOS MISMOS INDICES SON
PERPENDICULARES ENTRE S. Sin embargo esta relacionada
geomtricamente entre planos y direcciones que tienen los
mismos ndices no existen en otros sistemas cristalinos.

Representacin de planos cristalogrficos correspondientes a la series a: (001), b: (110) y c: (111)

Ejercicios
Determinar los ndices de Miller del plano mostrado en la figura
adjunta

Intersecciones:
X: 1
Y: 0 (infinito)
z=1/2

Ejercicios
Dibujar un plano (01 1) dentro de una celdilla unidad.

Ejercicio

Identificar los siguientes planos cristalogrficos por

medio de los ndices de Miller

Deslizamiento
Estructura

Direccin de
deslizamiento

Planos de
deslizamiento

Ejemplos

FCC

<110>

{111}

Cu, Al, Ni,

Pb, Au, Ag,
Fe

BCC

<111>

{110}

Fe, W, Mo,
Latn, Nb,
Ta

BCC

<111>

{210}

Fe, Mo, W,
Na

BCC

<111>

{321}

Fe, K

Puede definirse como el movimiento paralelo de dos regiones cristalinas adyacentes,

una con respecto a la otra, a travs de algn plano (o planos). Los cristales FCC poseen
12 sistemas de deslizamiento debido a que tienen cuatro grupos {111} y con tres
direcciones <100> en cada uno.

Haz incidente

Ley de Bragg

Haz difractado
Interaccin simple de un fotn con
una molcula sencilla no puede
suministrar datos suficientes para
deducir la estructura . Por lo que
se debe repetir el proceso muchas
veces con muchas molculas. As
se puede obtener una descripcin
o cuadro de la estructura
molecular, cuyo resultados se
obtendr al promediar todas las
orientaciones de las molculas.

n=SQ+ QT
n=dhkl sen + dhkl sen = 2dhkl sen
La ecuacin anterior es conocida como ley de bragg; donde n es el orden de difraccin
que puede ser cualquier nmero entero (n=1,2,3) siempre que sen no exceda la
unidad. As, se obtiene una simple expresin que relaciona la longitud de onda de los
rayos X y la distancia interatmica con el ngulo de incidencia de l haz difractado. Si
no se cumple la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no constructiva y el
campo de haz difractado es de muy baja intensidad.

Difraccin de Rayos X

Interferencia constructiva

Interferencia destructiva

Ley de Bragg
La magnitud de la distancia entre dos planos de tomos contiguos y paralelos (ejemplo:
distancia interplanar dhkl), es funcin de los ndices de Miller (h,k y l) as como de los
parmetros de red. Por ejemplo, para estructuras cristalinas de simetra cubica.

2 + 2 + 2

Donde a es el parmetro de red (longitud de la arista de la celdilla unidad).

Ejercicio:
Para el hierro BCC calcular : a) la distancia interplanar y b) el ngulo de
difraccin para el conjunto de planos (211). El parmetro de red para el Fe, es
0,2866 nm (2,866). Se utiliza una radiacin monocromtica de una longitud de
onda de 0,1542 nm (1,542 ) y el orden de difraccin es 1.
Solucin:

Esquema del difractograma de un slido

Una muestra S, en forma de laminas plana, se coloca de modo

que gire alrededor de un eje O, perpendicular al plano del
papel. En el punto T se genera un haz monocromtico de
rayos X y las intensidades de los haces difractado se detectan
en el contador C. la muestra, la fuente de rayos X y el
contador estn en el mismo plano.
La muestra y el contador se acoplan mecnicamente de modo
que un rotacin de la muestra represente un giro de 2 del
contador, lo cual asegura el mantenimiento de los ngulos
incidente y difractado.

Una muestra de un solo cristal en un difractmetro BraggBrentano producira slo una familia de picos en el patrn
de difraccin

El plano (100) produce un

pico de difraccin a 20.6

Los planos (110) se difractan

en 29.3 2. Sin embargo, no
estn correctamente alineados
para producir un pico de
difraccin (la perpendicular a
los planos no atraviesan el
incidente y se difractan)

Los planos (200) son paralelos

al plano (100). Por lo tanto,
tambin se vera una difraccin.
As d200 es d100, el cual
aparece a 42 2

Una muestra policristalina, deberia contener cientos de

cristalitos. Por lo tanto toda las posibles diffraciones
pueden ser observadas.

Para cada conjunto de planos, habr un pequeo porcentaje de cristalitos que estn
debidamente orientados para que se produzca la difraccin (El plano perpendicular
bisecta la onda incidente y la difractada).
En una difraccin en polvo, existen una cantidad considerable de cristalitos y por lo tanto
de planos, los cuales pueden difractar.

Difraccin de rayos X con

incidencia rasante y
reflectometra de rayos X

Tcnicas de difraccin
Monocristal
Arreglo peridico de largo
alcance de celdas unitarias
perfectamente apiladas.
28,45o
2500

21/03/2000
Tubo de cobre
30 kV - 20 mA
monocromador de grafite
fendas: 1/2, 0.15, 0.6
passo angular: 0.05 o
tempo/ponto: 1 s

Silcio

2000

47,30o

1500

Intensidade
(cps)

Policristal (polvo)
Arreglo peridico de celdas
unitarias de tamao finito
orientadas al azar.

(111)

(220)
56,15o

1000

(311)

500

0
30

40

50

60

70

90

100

110

800
700

UDAC

600
500

Intensidade

Amorfo:
Arreglo no peridico de
largo alcance. Correlacin a
corto alcance

80

400
300
200
100
0
10

20

30

40
o

50

60

70

Difraccin de rayos X de
polvos
Consideremos un polvo micromtrico orientado al azar. Si una familia de planos
(hkl) difracta la radiacin incidente en un ngulo de Bragg (), habr cristales que
difractan en este ngulo hacia cualquier direccin del espacio, formndose un
cono. El mtodo de polvos se basa en intersectar los conos barriendo el ngulo 2
(2 es el ngulo entre el haz incidente y el difractado)

Difractmetro de polvos

Se barre el ngulo 2 para intersectar

los conos difractados
Para optimizar la focalizacin del haz
difractado, se hace un barrido
simtrico /2 (geometra de BraggBrentano)

Geometra de Bragg-Brentano
Cr culo de
f ocalizacin

Fuent e

Det ec tor

Muest r a

La geometra de Bragg-Brentano es una geometra de haz focalizado. El barrido

simtrico /2 permite optimizar la focalizacin

Difraccin de rayos X de polvo cristalino

Profundidad de anlisis
Podemos estudiar pelculas delgadas o superficies con un difractmetro
convencional? Dificultades:
Cuando se hace un barrido /2 en un difractmetro convencional, la
profundidad de anlisis es de orden de los micrones (puede ser de
decenas de micrones segn la radiacin incidente). En general, esto
causar que observemos los picos del substrato mientras que la seal de
la pelcula ser dbil.
La profundidad de anlisis vara durante el barrido.

sen( )
d=
2

= coeficiente de absorcin lineal (depende del

compuesto y de la radiacin incidente)

Difraccin de rayos X con incidencia

Rasante

Difraccin de rayos X con incidencia rasanteFundamentos

Pelcula
Sustrato

Si se incide con un ngulo pequeo, los rayos X recorren un camino largo

sobre la pelcula y los picos del substrato se atenan por la absorcin durante
dicho camino
Se realiza un barrido asimtrico con ngulo de incidencia ( fijo) tpicamente 15 y 2 variable.

 Las aplicaciones de esta tcnica son similares a las de la difraccin

de polvos , principalmente anlisis cualitativo y cuantitativo.
Si se cumple que , la profundidad de anlisis queda
prcticamente fija durante el barrido.
Realizando experiencias con distintos ngulos de incidencia y
distintas longitudes de onda, es posible hacer analizar la muestra a
diferentes profundidades.
Esto se puede aprovechar para realizar perfiles de concentracin
de fases en funcin de la profundidad.
A diferencia de la difraccin de polvos convencional con geometra
/2, con la cual observamos planos cristalinos paralelos a la
superficie de la muestra, en el caso de incidencia rasante
analizamos planos inclinados con respecto a la superficie de la
muestra.

Difraccin de rayos X con incidencia rasante-Geometras

Difraccin de Rayos X con incidencia

rasante convencional:
Planos cristalinos inclinados con
respecto a la superficie

Difraccin de Rayos X con incidencia

rasante en el plano:
Planos cristalinos normales a la
superficie.

Reflectrometra de Rayos X-Fundamentos

Estudiaremos el caso de una pelcula delgada sobre sustrato (aunque tambin
podemos estudiar multicapas).
Se analiza el patrn que se obtiene a bajos ngulos (0.2 a 2.3) al realizar un
barrido simtrico /2
Se observan dos fenmenos importantes:
1. En presencia de rayos X, los materiales presentan el fenmeno de reflexin
total (coeficiente de refraccin menor que 1). A partir del ngulo crtico de
reflexin total es posible obtener la densidad de la pelcula. Eventualmente
podemos ver el ngulo crtico del sustrato.
2. Para ngulos superiores al de reflexin total, se observa la interferencia
entre el haz reflejado en la superficie y el reflejado en la interfaz. Este
patrn de interferencia nos permite obtener el espesor de la pelcula y las
rugosidades de la superficie y de la interfaz.

Ejemplo: Pelcula delgada de TiO2 sobre

vidrio obtenida por descargas arco
Reflexin
total

1000000

2c = 0.588

100000

Intensidad (unidades arbitrarias)

Lnea XRD1
del LN LS,
Brasil

10000

= 1,5498

1000
100
10
1

Patrn de
interferencia

0,1
0,01
1E-3
0,0

0,5

1,0

1,5

2,0

2,5

3,0

3,5

2 ()

La int ensidad var a hast a 7 r denes de magnit ud!!

Reflectrometra de Rayos X

A partir del ajuste del patrn se puede obtener:

- Espesor de la pelcula
- Densidad de la pelcula
- Rugosidades de la pelcula y del sustrato

Ejemplos: algunos metales sobre silicio

Efecto de la densidad y del espesor
25 nm de metal
sobre Si

Au sobre Si,
espesor variable

Ejemplos: oro sobre silicio y silicio sobre oro

Efecto de las rugosidades de la pelcula y del sustrato
25 nm de Au sobre Si

25 nm de Si sobre Au

Conclusiones
La difraccin de polvos convencional, con geometra de Braggpentano, no es adecuada para estudiar pelculas delgadas o
superficies.
Incidiendo con un ngulo pequeo y realizando un barrido
asimtrico en que slo se mueve el detector es posible minimizar el
efecto del sustrato y optimizar la seal de la pelcula
A ngulos muy bajos se pueden realizar estudios de reflectometra
que permite caracterizar la pelcula: densidad, espesor, rugosidad
de la superficie y de la interfaz pelcula/sustrato. Estos datos se
obtienen con precisin si ajustamos todo el patrn con programas
adecuados.

CULTURA-EXPOSICION DE UN ALUMNO.
El uso de un sincrotrn permite
realizar difraccin de rayos X con
incidencia
rasante
y
reflectometra de rayos X.
La geometra es de haz paralelo.
Esto requiere cambios en la
ptica de un Difractmetro
convencional. Por ejemplo, la
ranura de divergencia debe ser
muy estrecha y se coloca un
conjunto de placas paralelas en el
haz difractado.