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UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE

PROGRAMA DE PS GRADUAO EM CINCIA E ENGENHARIA DE


MATERIAIS
TCNICAS MICROSCPICAS DE CARACTERIZAO

LISTA DE EXERCIOS 01

Docente: Dra. Dulce Maria de Arajo Melo


Discente: Igor Jefferson Cabral Araujo

Natal RN, julho de 2015

LISTA DE EXERCCIOS
1) Em que condies ocorre o fenmeno da difrao?
A difrao de Raios X ocorre quando uma onda encontra uma srie de
obstculos regularmente separados que so capazes de dispersar a onda. Isto
, quando um feixe de raios X de um s comprimento de onda, com a mesma
ordem de grandeza das distncias atmicas de um material, incide sobre este
material, os raios-x so espalhados em todas as direes.
2) Para fins analticos os raios X so gerados de que forma?
Os Raios X podem ser gerados:

Pelo bombardeamento de um alvo metlico com um feixe de eltrons de


alta energia;

Pela exposio de uma substncia a um feixe primrio de raios X para gerar


um feixe secundrio de fluorescncia de raios X;

Pelo uso de uma fonte radioativa cujo processo de decaimento resulta na


emisso de raios X; ou

A partir de uma fonte de radiao de luz sincrotron.

3) Marque (F) para Falso e (V) para verdadeiro:


a) A perda de velocidade dos eltrons quando penetram no anodo faz eles emitirem
ftons de raios X com espectro contnuo de energia (ou comprimento de onda). A
parte contnua do espectro de emisso chamada bremsstrahlung. (V)
b) A lei de Bragg implica, quando ela satisfeita, que a diferena de caminho tico
entre os feixes espalhados pelos diversos planos cristalogrficos igual ao
comprimento de onda ou a um mltiplo dele. (V)
c) No laboratrio utiliza-se um conjunto tubo-gonimetro-detector. O gonimetro
dispe de duas rotaes, - 2, que fazem o cristal manter o mesmo ngulo i) com
a direo do feixe incidente e ii) com a direo do feixe refletido e medido pelo
detector. (V)

4) A difrao de raios X produzida quando h interferncia construtiva no


processo de espalhamento dos ftons pelos tomos de uma estrutura cristalina.
Esquematizando a estrutura peridica dos cristais por planos cristalogrficos,
tem-se condies de difrao, ou reflexo de Bragg, quando:
2 d sen = n com n = 1, 2, ... (Lei de Bragg)
Com base no exposto, demonstre a lei de Bragg mostrando os raios incidentes
e refletidos por planos cristalinos de espaamento d.

Na difrao de Raios X, BC e CD so iguais a um nmero inteiro n (ordem de reflexo)


e comprimento de onda . Assim, ocorrendo uma interferncia construtiva dos raios
dispersos, temos que:
BC + CD = n, sendo que o segmento BC : BC = dsen
Desde que BC seja igual a CD, temos:
BC = CD
n = 2BC
Substituindo os termos, temos a Lei de Bragg:
n = 2dsen

5) Raios X de comprimento de onda de 0,12 nm sofrem reflexo de segunda


ordem em um cristal de fluoreto de ltio para um ngulo de Bragg de 28. Qual
a distncia interplanar dos planos cristalinos responsveis pela reflexo?
= 0,12nm
n = 2 (reflexo de segunda ordem)
= 28
= 2
2 0,12 = 2 28
=

0,24
= ,
2 (28)

6) Sabendo-se que o alumnio tem estrutura CFC e raio atmico 0,1431 nm,
calcule a distncia interplanar para o conjunto de planos (110).

4
2

4 0,1431
2

1
2
2
2
+ 2 +

= 0,4059

110 =

12

+ 12 +02
0,40472

= ,

7) Sabe-se que o ferro alfa tem estrutura cubica tipo CCC e seu raio atmico
mede 0,1241nm. Com base nesses dados calcule os espaamentos ou distncia
interplanar para os conjuntos de planos (111) e (211).

4
3

4 0,1241
3

= 0,2869

Para o plano (111):


1

2
+
+
2

111 =

12

+ 12 + 12
0,28662

= ,

Para o plano (211):


=

1
2
2
2
+ 2 +

211 =

22 + 12 + 12
0,28662

= ,

8) Determine o ngulo de difrao esperado para a reflexo n=1 (reflexo de


primeira ordem) do conjunto de planos (310) do cromo cuja estrutura cristalina
CCC, quando a radiao empregada foi do tipo monocromtica de
comprimento de onda de 0,0711nm.

= 2
= 0,0711nm
n=1

4
3

4 0,128
3

= 0,2884

Para o plano (310):


=

1
+ +

310 =

= ,
Determinando o ngulo de difrao:
= 0,0711nm

32 + 1 + 0
0,28842

n=1
d = 0,0935 nm
= 2 =

1 0,0711
=
2
2 0,0935

= 22,94 = ,

9) Sobre Fluorescncia de raios X, demonstre de forma grfica o comentrio a


seguir:
Aps a ionizao por efeito fotoeltrico, os tomos tendem a voltar a seu
estado fundamental, de mnima energia, mediante vrios processos. Aquele
pelo qual a vacncia eletrnica simplesmente eliminada pela sua ocupao
por um eltron de uma camada superior, com a consequente emisso de um
fton, denomina-se fluorescncia.

10)

Um determinado composto apresenta o seguinte difratograma, com

estrutura CCC. O seu raio atmico de 0,0246nm. Calcule as distncias


interplanares para o conjunto de planos da figura abaixo.

CCC, parmetro de rede =

, R = 0,0246 nm

4
3

4. 0,0246
3

= 0,0568

2 + 2 + 2

110 =

0,0568
12 + 12 + 02

= ,

Plano (200):
=

Plano (110):
=

2 + 2 + 2

200 =

0,0568

22 + 02 + 02

= ,

Plano (211):
=

2 + 2 + 2

211 =

0,0568

22 + 12 + 12

= ,