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TECNOLGICO NACIONAL DE MXICO

INSTITUTO TECNOLGICO DE LOS MOCHIS

INGENIERA INDUSTRIAL
CONTROL EST. DE LA CALIDAD
UNIDAD 3. GRFICAS DE CONTROL POR ATRIBUTOS
MANUAL DE GRFICOS DE CONTROL POR ATRIBUTOS.

PROFESOR:
LEYVA ASTORGA JOSE ALFREDO
INTEGRANTES:
ARROYO CARRILLO JORDAN JOSUE
AYALA CARRILLO ANA VICTORIA
CASTRO ARAUJO PATRICIA
ESPINOZA MORENO GILBERTO
PONCE SANCHEZ ALEXIA PAOLA
ROSAS COTA DENISSE ALEJANDRA
GRUPO:
551

LOS MOCHIS SIN., NOVIEMBRE DE 2015


2

NDICE.

INTRODUCCIN.
La mayora de las veces los procesos industriales o cualquier otro tipo de proceso,
puede beneficiarse con un programa de diagramas de control. Para implementar
diagramas de control ser necesario tener en cuenta directrices esenciales como
elegir el tipo adecuado de diagramas de control, determinar que caracterstica del
proceso habr que controlar y definir en qu lugar del proceso habr de incorporar
los diagramas de control.
En la unidad anterior con ttulo: grficos de control por variables fueron vistos y
explicados dichos grficos, ahora corresponde abordar los grficos de control por
atributos.
Este tipo de anlisis son especfico para aquellos procesos que, por ser la
caracterstica de calidad relevante una variable no medible, o bien por razones de
simplicidad en la toma de datos o en la realizacin de los clculos, deben ser
controlados en base a decisiones de conformidad o no respecto a una
caracterstica definida o atributo.
En estos casos, la herramienta grficos de control por variables" no es aplicable.
En el presente trabajo se describe la secuencia de construccin y las pautas de
utilizacin de una de las herramientas para el control de procesos, los grficos de
control por atributos, incluyendo las ventajas y desventajas que se tienen al
realizar este tipo de grficos, las frmulas necesarias para obtener los lmites as
como tambin ejercicios que refuercen toda la teora presentada.

OBJETIVOS.

Identificar los diferentes tipos de Grficas de Control

Definir las reglas bsicas a seguir para la eleccin, construccin e


interpretacin de las Grficas de Control por Atributos

Resaltar las situaciones en que pueden utilizarse las grficas de control

Indicar algunas Ventajas y Desventajas de las Grficas de Control

Mostrar ejemplos de cada una de las Grficas de Control por Atributos

ANTECEDENTES.

En 1920 fueron propuestos originalmente los grficos de control por W. Shewart, y


en ellos se representa a lo largo del tiempo el estado del proceso que estamos
monitoreando. En el eje horizontal X indica el tiempo, mientras que el eje vertical Y
representa algn indicador de la variable cuya calidad se mide. Adems se incluye
otras dos lneas horizontales: los limites superior e inferior de control, escogidos
estos de tal forma que la probabilidad de que una observacin este fuera de esos
lmites sea muy baja si el proceso est en estado de control.
Alrededor de 1960, los dispositivos electrnicos aparecieron como alternativa de
reemplazo a los controladores neumticos. Empleando as los primeros hallazgos
en cuanto a operacin de procesos y la recopilacin de datos.
Actualmente, aparecen los sistemas de control digital directo (DDC), con los
cuales se logra manejar un gran nmero de procesos y variables, recopilar datos
en gran cantidad, analizar y optimizar diversas unidades y plantas e incluso,
realizar otras actividades, como planificacin de mantenimiento, control de calidad,
inventario, etc. Por tanto, la evolucin de las tcnicas de control han tenido como
objetivo fundamental, reemplazar la accin directa del hombre en el manejo de un
determinado proceso, por el empleo de equipos y sistemas automticos.
En 1980 la aplicacin de tcnicas de control de calidad, sugeridas en USA supuso
una gran revolucin en la industria japonesa, a la que en breve tuvieron que
sumarse las empresas de todo el mundo para competir no slo con la calidad sino
con los precios de los productos japoneses. Tanta importancia le dio el mundo
empresarial japons al control de calidad, que instituy un premio anual Deming.
Ese inters por la calidad transcendi el entorno de la fabricacin de productos.

GRFICOS DE CONTROL POR ATRIBUTOS.

Primeramente es importante decir que un atributo, segn se usa en control de


calidad, se refiere a una caracterstica de la calidad que se apega a las
especificaciones o no. En el pasado se usaron los trminos bueno y defectuoso
para representar estas dos posibilidades, pero los trminos actuales son
conformes y disconformes, debido a que muchas caractersticas de la calidad no
pueden representarse convenientemente con valores numricos. En tales casos,
cada artculo inspeccionado por lo general se clasifica como conforme o
disconforme respecto a las especificaciones para esas caractersticas de la
calidad.
Asimismo es necesario establecer la diferencia entre los trminos disconformidad
y disconforme. Una disconformidad se refiere a una caracterstica de la calidad.
Dado que una unidad tiene muchas caractersticas de la calidad, pueden tener
muchas disconformidades. Lo disconforme se refiere a toda la unidad. Por tanto,
una unidad disconforme puede tener muchas disconformidades.

Una unidad

puede tener varias disconformidades y, sin embargo, no se clasifica como


disconforme.
De esta manera se presentan los diagramas de control por atributos, los cuales
constituyen la herramienta esencial utilizada para controlar caractersticas de
calidad cualitativas, esto es, caractersticas no cuantificables numricamente,
como por ejemplo: Conforme/disconforme, funciona/ no funciona, defectuoso/no
defectuoso, presente/ausente, etc.; o bien para caractersticas que se puedan
contar, como numero de manchas, numero de golpes, numero de rayas, etc.
Ejemplos de tales caractersticas no medibles son la fraccin o porcentaje de
unidades defectuosas en la produccin (P), el nmero de unidades defectuosas en
la produccin (NP), el nmero de defectos por unidad producida (U), y el nmero
de defectos de todas las unidades producidas (C).

Al igual que en los grficos de control por variables, el diagrama de atributos


representa un estadstico T (variable) del proceso (como puede ser el nmero de
defectos) frente al nmero de la muestra o al tiempo. Una lnea central representa
el valor medio o esperado del estadstico, mientras que los lmites de control
suelen definir una zona de control que abarca 3 T por encima y por debajo de la
lnea central. Estos lmites son escogidos de manera que si el proceso est bajo
control, casi la totalidad de los puntos muestrales se halle entre ellos. As, un
punto que se encuentra fuera de los lmites de control se interpreta como una
evidencia de que el proceso est fuera de control. Adems, incluso si todos los
puntos se hallan comprendidos entre los lmites de control, pero se comportan de
manera sistemtica o no aleatoria, tambin tendramos un proceso fuera de
control.

Este tipo de grficos se suele aplicar en situaciones en las que el proceso es una
operacin de montaje complicada, y la calidad del producto se mide en trminos
de la ocurrencia de disconformidades, del funcionamiento exitoso o fallido del
producto, etc.
Los diagramas de control por atributos tienen la ventaja de que hacen posible
considerar varias caractersticas de calidad al mismo tiempo y clasificar los
productos como disconformes si no satisfacen las especificaciones de cualquiera
de las caractersticas.
Se tienen dos opciones a la hora de realizar un grfico de control por atributos:

1. Podemos comparar un producto con un estndar y clasificarlo como


defectuoso o no (grficos P y NP)
2. En el caso de productos complejos, la existencia de un defecto no
necesariamente conlleva a que el producto sea defectuoso. En tales casos,
puede resultar conveniente clasificar un producto segn el nmero de
defectos que presenta (grficos C y U).
Es importante notar que los grficos p, np, y u permiten trabajar con muestras de
tamaos diferentes, mientras que los grficos C estn diseados para muestras de
igual tamao.
En el uso de este tipo de grficos han de considerarse las siguientes limitaciones:

Es necesario tomar muestras de tamao grande para obtener informacin

significativa.
Son aplicables a procesos que presentan cantidades considerables de

disconformidades (defectos), o unidades no conformes (defectuosas).


No avisan de cambios adversos en el parmetro que queremos controlar en
el proceso hasta que se han registrado un mayor nmero de defectos o

unidades no conformes.
Las verificaciones pueden estar influidas por subjetividades de las personas
que evalan la muestra, por lo que se hace necesario el establecimiento de
unos criterios de conformidad escritos y con apoyo de medios visuales que
minimicen estas diferencias.

Por otra parte, el uso de estos grficos de control comporta las siguientes
ventajas:

La recoleccin de informacin de atributos es rpida y poco costosa.


Se pueden aplicar a cualquier tipo de caracterstica.
Permiten identificar las causas especiales de variacin que afectan al
proceso cuando los valores representados en la grfica se salen de los
lmites de control especificados, es decir, cuando el proceso esta
estadsticamente fuera de control.

Las aplicaciones ms frecuentes de estos grficos son las siguientes:

En el control de caractersticas de calidad del tipo conforme/defectuoso o

muy costosas de medir en una escala numrica.


En una primera toma de informacin en el proceso para detectar las

operaciones que provocan ms defectos.


En el control de procesos que generan cantidades grandes de defectos.

Ejemplos:
Un indicador del tipo pasa- no pasa es un dispositivo al que se recurre para
separar los productos conformes de los disconformes. Como los ejes. Los ejes
pasan o no pasan. En este caso, se podra medir el dimetro del eje para
proporcionar datos acerca de las variables. Si estos dos tipos de mediciones se
hicieran mecnicamente, los datos de los atributos se obtendran con mayor
rapidez, aunque proporcionaran menos informacin.
Otro ejemplo seria: despus de que los equipos de computacin se ensamblan, se
conectan. Los que pasan una serie de pruebas se colocan en un cuarto caliente
durante 24 horas. Se revisan visualmente y los que tiene la pantalla en blanco se
envan a reparacin. En este caso los equipos son conformes o disconformes; no
es posible la medicin de variables.
Un ejemplo en las industrias de servicios, seria en la industria del transporte
areo, un vuelo sale a tiempo (dentro de los 5 minutos siguientes a la hora de
salida programada) o sale retrasado. En los servicios bancarios, los cheques se
envan a las 9 p.m. a la oficina de compensaciones o no se envan.

En general, las cartas para atributos, no son tan informativas como las cartas para
variables, ya que de manera tpica una medicin numrica contiene ms
informacin que la mera clasificacin de una unidad como conforme o

disconforme. Sin embargo, las cartas para atributos tienen aplicaciones


importantes. Son particularmente tiles en las industrias de servicios y en los
esfuerzos de mejoramiento de calidad fuera de la manufactura, debido a que no es
sencillo medir en una escala numrica un gran nmero de las caractersticas de la
calidad que se encuentran en estos escenarios.

GRAFICO P ().

GRAFICO NP ().

GRAFICO C ().

GRAFICO U (NMERO DE DEFECTOS POR


UNIDAD).

La grafica U es una herramienta estadstica usada para evaluar la variacin del


nmero promedio de defectos por articulo o unidad.
Se usa cuando el tamao del subgrupo no es constante es decir cuando no es
posible tener siempre la misma unidad de medida para contar el nmero de
defectos (o no-conformidades, o clientes, etc...). Entonces, se controla el nmero
medio de defectos por unidad de medida. Por ejemplo:

Los elementos a analizar pueden contener un nmero variable de unidades:


por ejemplo dos rollos de pelcula fotogrfica no tendrn exactamente la

misma longitud, diferentes lminas de vidrio tendrn distinta superficie.


Es difcil tomar mediciones a intervalos iguales de tiempo: el inspector
puede estar dedicado a varias tareas, por lo que es necesario un esquema
de muestreo ms flexible.

Para estimar U promedio se utiliza la siguiente formula.


c

Total de discrepancia encontrada

ui = U = n = Total de unidades inspeccionados =

c
k

Y los imites de control se calcula de la siguiente manera.


LCS = u + 3

Lnea central =

LCI = u - 3

Si cada muestra consiste en una unidad simple.

Cuando vara el tamao muestra de muestra a muestra es necesario usar una


grfica U con el objeto de tener una lnea central constante sin embargo varan los
lmites de control.
De manera que para cada subgrupo se grfica,
Ui =

nmero de defectos enunidades


Ci
=
nmero de unidades de la muestra

Para calcular los lmites es necesario estimar la media y la desviacin estndar del
estadstico Ui, que bajo el supuesto de que ci sigue una distribucin Poisson,
resultan ser

ui = U
ui =

Total de discrepancia encontrada


Total de unidades inspeccionados

u
n

Donde n es el tamao de subgrupo. De esta manera, los lmites de control en la


grfica U estn dados por:
LCS = u + 3

Lnea central =

LCI = u - 3

u
n

u
n

El LCI ser cero si la frmula anterior diese un valor negativo.


Cuando n no es el mismo en todos los subgrupos, entonces se sustituye por el
tamao promedio de subgrupo,

n . Otra alternativa es obtener una grfica con

lmites variables, en la que para cada subgrupo se calculan sus lmites en funcin
del tamao del subgrupo ni y con stos se evala el proceso para tal subgrupo.

PASOS PARA ELABORAR UNA GRAFICA U.


Paso 1: Recopilacin de los datos.
Paso 2: Calculo de Ui

Ui =

nmero de defectos enunidades


Ci
=
nmero de unidades de la muestra

Paso 3: Calculo de

Ci

u = i=1k

i=1

Paso 4: Calculo de n promedio

n =

i=1

Paso 5: Calculo de los lmites de control.


LCS = u + 3

Lnea central =

LCI = u - 3

u
n

u
n

Paso 6: Trazado de la grfica y anlisis de resultados.


La grafica U consiste en tres lneas de gua: Lmite de control inferior, lnea central
y lmite de control superior. La lnea central es el promedio de defectos por unidad
y los dos lmites de control son fijados ms o menos a tres desviaciones estndar.
Cada subgrupo se identifica en la grfica como un punto, un crculo o una cruz
segn se establezca, cada punto corresponde a un valor de Ui.

EJEMPLOS DE GRAFICAS U.
Ejemplo 4.1:
En una fbrica se ensamblan artculos electrnicos y al final del proceso se hace
una inspeccin por muestreo para detectar defectos relativamente menores. En la
tabla 4.1 se presenta el nmero de defectos observados en muestreos realizados
en 24 lotes consecutivos de piezas electrnicas. El nmero de piezas
inspeccionadas en cada lote es variable, por lo que no es apropiado aplicar la
grfica C. Es mejor analizar el nmero promedio de defecto por pieza, Ui,
mediante la grfica u. Para calcular los lmites de control a partir de la tabla 4.1, se
tiene que:
u =

549
525

= 1.04

Como el tamao de subgrupo o muestra es variable, se tienen dos alternativas:


usar el tamao de subgrupo promedio o construir una carta con lmites variables.
Se harn ambas. El tamao de subgrupo promedio se obtiene dividiendo el total
de unidades inspeccionadas (525) entre el nmero de subgrupos (24); de esta
manera,
n

=21.875.

Con esto tenemos que los lmites de control son:

LCS = 1.04

+3

1.04
21.875

= 1.69

Lnea central = 1.04


LCI = 1.04

-3

1.04
21.875

= 0.38

La grafica obtenida se muestra en la figura 4.1, en la que se observa que el


proceso no trabaja de manera estable, ya que en la muestra del lote 21 el nmero
promedio de defectos por pieza sobrepasa el lmite de control superior.
En la fabricacin de tal lote ocurri alguna causa especial que empeor la calidad
de las piezas. Es preciso identificar la causa para evitarla en el futuro. Adems del
punto fuera de los lmites no existe ningn patrn no aleatorio.

Tabla 4.1 defectos en piezas electrnicas.

Figura 4.1 Grafica U para defectos en piezas electrnicas, ejemplo 4.1.

Interpretacin de los lmites de control en la grfica U


En la grfica U se grafica el nmero promedio de defectos por unidad. Por
ejemplo, en el caso de las piezas electrnicas se espera que en las muestras de
tamaos similares a los de la tabla 8.4 se encuentren entre 0.38 y 1.69 defectos
por pieza con un promedio de 1.04.
Lo que procede en el problema bajo anlisis es seguir monitoreando el proceso
mediante la carta de control para identificar y eliminar causas especiales de
variacin. Adems se debe evaluar la posibilidad de generar un proyecto de
mejora para identificar y eliminar las causas comunes de los defectos en los
artculos. Un primer paso en tal proyecto de mejora sera identificar el tipo de
defecto que se presenta con mayor frecuencia.
Grafica U con lmites variables.
Para construir una grfica U con lmites variables para los datos de la tabla 4.1 es
necesario calcular los lmites de control para cada tamao de subgrupo. Por
ejemplo, cuando se tiene un tamao de muestra de 25, los lmites para tales lotes
son:

LCS = 1.04

+3

1.04
25

= 1.65

Lnea central = 1.04


LCI = 1.04

-3

1.04
25

= 0.43

Al calcular tantos lmites como tamaos de muestra distintos, se obtiene la grfica


U de la figura 4.2 La lnea central es la misma, independientemente del tamao de
subgrupo. En la carta se observa que adems del punto correspondiente al lote
21, el del 10 tambin aparece fuera de control; aunque este ltimo por el lmite
inferior. De esta manera, en la fabricacin del lote 10 ocurri algo especial que
mejor el desempeo del proceso. Ntese que en la carta con lmites promedio de
la figura 4.1 no se haba detectado esto, aunque tal punto s estaba muy cerca del
lmite inferior. Adems, la amplitud de los distintos lmites en la carta u es diferente
debido a que la discrepancia entre algunos tamaos de muestra con respecto al
tamao promedio es grande en trminos relativos; por ejemplo, entre 30 y 21.8 es
de 37% ((30/21.8) 1).
La ventaja de usar lmites promedio es que al ser slo un par de lmites no es
necesario calcularlos para cada punto y se tiene una perspectiva e interpretacin
ms directa; pero su desventaja es que en ocasiones no detecta cambios, o puede
ser que registre un cambio cuando en realidad no ocurri. Una buena alternativa
sera usar lmites promedio cuando los tamaos mustrales no discrepen ms del
20% entre s.

Figura 4.2 Grafica U con limite variables para defectos en piezas electrnicas.

Ejemplo 4.2:
Un operario inspecciona la calidad de unos circuitos impresos (araazos, bandas
incorrectas, grosor no uniforme, etc.). Los circuitos que inspecciona son muy
diversos. Segn el tipo de circuito se apunta su superficie y el nmero de defectos.
Tras inspeccionar 12 placas obtiene los datos de la Tabla 4.2

Tabla 4.2: datos ejemplo 4.2.

Figura 4.3: Grfico U para el nmero medio (por cm2) de defectos en placas de
circuitos impresos.
42
=0.093
u =
451
El nmero total de defectos es 42 y la superficie total 451. Por tanto los lmites de
control dependen de cada placa, al tener superficies distintas. La figura 5.7
muestra el grfico de control donde se representan los valores de Ui (U1 = 4/50,...,
U12 = 4/38) del nmero de defectos por cm2. La figura 4.3 muestra el grfico de
control estandarizado. En ambos grficos se observa que el proceso est en
estado de control.

CONCLUSIN
Los grficos de control por atributos constituyen la herramienta esencial utilizada
para controlar caractersticas de calidad cualitativas, esto es, cractersticas no
cuantificables numricamente, cmo fue visto en la presente investigacin los
ejemplos clsicos de estas caractersticas no medibles son la fraccin o
porcentajes de unidades defectuosas (p) en la produccin, el nmero de unidades
defectuosas (np) en la produccin, el nmero de defectos por unidad (u) producida
y el nmero de defectos de todas las unidades (c) producidas.

Los grficos de control por atributos son apropiados en casos en los que es
necesario reducir el rechazo del proceso, normalmente se utilizan en situaciones
en los que la calidad del producto se mide en trminos de la ocurrencia de
desconformidades, del funcionamiento exitoso o fallido del producto. Tambin se
aplican cuando se necesita un control del proceso, pero no se pueden obtener
prcticamente datos medicionales.
Lo complicado de los grficos de control se encuentra en elegir entre un diagrama
de control por variables y uno de control por atributos. Si la caracterstica de
calidad a estudiar no ofrece dificultades, la seleccin estar bien definida, pero en
otros casos, la seleccin no ser tan evidente, y el analista tendr que tomar en
cuenta varios factores para poden elegir entre diagramas de control por atributos o
por variables. El problema no slo se encuentra ah sino tambin al elegir entre los
grficos por atributos ya sea p, np, u y c.
Los grficos por atributos tienen la gran ventaja de que hacen posible considerar
varias caractersticas de calidad al mismo tiempo y clasificar los productos como
disconformes si no satisfacen las especificaciones de cualquiera de las
cractersticas.

BIBLIOGRAFA
Dale H. Besterfield, Control de calidad, Octava edicin, 554 paginas
Grant E; Leavenworth R. (2004). Control estadstico de la calidad. Editorial:
CECSA. Mxico.
Humberto Gutirrez Pulido, Romn de la Vara Salazar: Control estadstico de
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Montgomery. Control estadstico de la calidad. Editorial limusa willey, tercera


edicin. Mxico, 798 pg.
Verdoy, P., Mahiques, J., Sagasti S. & Sirvent R. (2006); Manual estadsticos de la
calidad: teora y aplicaciones. Universitat Jaime I.
Wadsworth, Stephens, Godfrey: Mtodos de control de calidad, segunda edicin
Mxico 2005, 682 pginas
Profesor Ismael Snchez Apuntes para la asignatura: Mtodos Estadsticos para la
Mejora de la Calidad, de la titulacin de Ingeniera de Telecomunicaciones.
Universidad Carlos III de Madrid
Los grficos de control por atributos. Recuperado el 9 de noviembre de 2015 de:
http://www.3ciencias.com/wp-content/uploads/2012/06/2.-Graf_Atributos.pdf.
Grficos de control por atributos. Recuperado el 9 de noviembre de 2015 de:
http://www.uoc.edu/in3/emath/docs/SPC_4.pdf.

ANEXOS

Anexo 1: Tabla Elementos para la seleccin de una grfica de control de atributos.