UNIVERSIDADE ESTADUAL DA PARABA UEPB

CENTRO DE CINCIAS E TECNOLOGIA - CCT

DEPARTAMENTO DE QUMICA INDUSTRIAL
TPICOS EM QUMICA INDUSTRIAL
PROF. HELIONALDA COSTA SILVA

MICROSCOPIA ELETRNICA

Joandson Anbal de Sousa

- Campina Grande 2015

Microscopia
O microscpio permite ampliar objetos, auxiliando na identificao de diferentes
estruturas celulares e contribuindo para o conhecimento de novas formas de vida. Na
disciplina de Biologia e Geologia, para observar estruturas pequenas, impossveis de
visualizar a olho "nu", utiliza-se o microscpio ptico composto (MOC). um
instrumento com uma srie de lentes, suportadas por uma parte mecnica.
No se sabe ao certo quando as lentes foram inventadas. J em 721 a.C, h relato
de um cristal de rocha recortado com propriedades de ampliao. Contudo, as lentes
passaram a ser realmente conhecidas e utilizadas por volta do ano 1280, na Itlia, com a
inveno dos culos. Com sua rpida popularizao, logo comearam as primeiras
experincias de combinao de lentes para aplicao em instrumentos de ampliao de
imagens, resultando na criao do primeiro microscpio composto (duas ou mais
lentes).
O crdito pela inveno do microscpio dado ao holands Zacharias Jansen,
por volta do ano 1595. Como era muito jovem, provvel que o primeiro microscpio,
com duas lentes, tenha sido desenvolvido pelo seu pai, Hans Jansen. Contudo, era
Zacharias quem montava os microscpios, distribudos para a realeza europeia. No
incio, o instrumento era considerado um brinquedo, que possibilitava a observao de
pequenos objetos. O sculo XVII foi um perodo de grande interesse pelos
microscpios. A prpria palavra microscpio foi oficializada na poca pelos membros
da Academia dei Lincei, uma importante sociedade cientfica.
Atualmente, os microscpios e as tcnicas de observao esto bastante
avanados. Os modelos pticos confocais possibilitam regulagens extremamente
precisas no foco e na capacidade de ampliao. Novos microscpios eletrnicos esto
levando a observao a um limite que os cientistas do sculo XVI jamais imaginariam:
o nvel atmico. No sculo XX, o microscpio conquistou seu espao em campos to
diversos quanto a medicina e a engenharia.
O microscpio eletrnico foi inventado no incio dos anos 30, pelo alemo
Ernest Ruska. Esses instrumentos utilizam feixes de eltrons e lentes eletromagnticas,
no lugar da luz e das lentes de vidro (microscpio ptico), permitindo ampliaes de at
um milho de vezes. H 3 tipos bsicos de microscpio eletrnico: transmisso (para
observao de cortes ultrafinos), varrimento (para observao de superfcies) e
tunelamento (para visualizao de tomos) onde ser relatado sobre os dois primeiro.

Figura 1 Microscpio ptico com dois

oculares
Figura 2 Microscpio ptico
com um ocular

Tipos de microscpios
Cada tipo de microscpio e cada tcnica de preparao de material para exame
oferece vantagens especficas na demonstrao de certos elementos morfolgicos. Os
microscpios pertencem, basicamente, a duas categorias: ptica (MO) e eletrnico
(ME). As diferenas esto na radiao utilizada e na maneira como ela refratada.
Na microscopia eletrnica a radiao empregada a de feixe de eltrons, sendo
ele refratado por meio de lentes eletrnicas. O microscpio eletrnico produz aumentos
teis de 200.000 a 400.000X, sendo seu poder resolvente cerca de 100 vezes maior que
o do microscpio de luz. A melhoria do poder resolvente do microscpio eletrnico est
diretamente relacionada ao curto comprimento de onda apresentado pelos raios
eletrnicos utilizados para ampliar o espcimen e a uma maior abertura numrica obtida
em funo da diminuio da distncia focal. Em termos bsicos, classificamos o
microscpio eletrnico em dois tipos: de transmisso e de varredura.
Todavia, se tivssemos que destacar a principal potencialidade de cada uma,
poderamos afirmar que:
A microscopia ptica permite a anlise de grandes reas em curto espao de
tempo, alm de ser de utilizao simples, rpida e pouco dispendiosa;
A microscopia eletrnica de varredura, por apresentar excelente profundidade
de foco, permite a anlise com grandes aumentos de superfcies irregulares, como
superfcies de fratura;
A microscopia eletrnica de transmisso permite a anlise de defeitos e fases
internas dos materiais, como discordncias, defeitos de empilhamento e pequenas
partculas de segunda fase.

Microscpio eletrnico de transmisso (MET)

Esse tipo de microscpio comumente chamado de microscpio eletrnico
direto ou de transmisso (MET) pelo fato da imagem do espcimen ser formada
simultaneamente passagem do feixe de luz atravs dele. O princpio bsico desta
tcnica de anlise baseia-se na transformao da intensidade electrnica em intensidade
luminosa num alvo, sendo posteriormente registada ou gravada fotograficamente. A
tcnica possibilita a aquisio de imagens com resoluo muito superior s obtidas com
microscpios pticos comuns, em consequncia da utilizao de eltrons para a
formao das imagens.

Equipamento de um microscpio eletrnico de transmisso

A construo do MET robusta, a fim de garantir estabilidade mecnica e evitar
perturbaes por vibraes do edifcio. As bobinas das lentes, atravs das quais passam
correntes, tenderiam a aquecer-se e, portanto so usualmente resfriadas por gua que
circula a sua volta. Isso conseguido com uma unidade de refrigerao de gua
interligada ao MET.
Um microscpio eletrnico de transmisso consiste de um feixe de eltrons e um
conjunto de lentes eletromagnticas, que controlam o feixe, encerrados em uma coluna
evacuada com uma presso cerca de 10-5 mm Hg. Um microscpio moderno de
transmisso possui cinco ou seis lentes magnticas, alm de vrias bobinas
eletromagnticas de deflexo e aberturas localizadas ao longo do caminho do feixe
eletrnico. Entre estes componentes, destacam-se os trs seguintes pela sua importncia
com respeito aos fenmenos de difrao eletrnica: lente objetiva, abertura objetiva e
abertura seletiva de difrao. A funo das lentes projetoras apenas a produo de um
feixe paralelo e de suficiente intensidade incidente na superfcie da amostra.

Figura 3 - Disposio de
componentes ticos em um MET
bsico.

Figura 4 - Esquema de funcionamento

um microscpio eletrnico de
transmisso.

Fundamento da tcnica
Os eltrons saem da amostra pela superfcie inferior com uma distribuio de
intensidade e direo controladas principalmente pelas leis de difrao impostas pelo
arranjo cristalino dos tomos na amostra. Em seguida, a lente objetiva entra em ao,
formando a primeira imagem desta distribuio angular dos feixes eletrnicos
difratados. Aps este processo importantssimo da lente objetiva, as lentes restantes
servem apenas para aumentar a imagem ou diagrama de difrao para futura observao
na tela ou na chapa fotogrfica.
Imagens de campo claro so formadas por eltrons que sofrem pouco desvio,
enquanto as de campo escuro so formadas por eltrons difratados pelos planos
cristalinos do material. Interaes do feixe com o material geram raios-X caractersticos
que fornecem informaes sobre os elementos qumicos presentes na amostra.

Aplicao
O emprego do MET bastante difundido no estudo de materiais biolgicos, pois
ele permite definio de imagens intracelulares, permitindo estudos de morfologia
celular, aspectos gerais das organelas e tambm da interao de parasitas com as
clulas, fornecendo informaes sobre alteraes e efeitos citopatticos ocasionados por
vrus, fitoplasmas, micoplasmas, bactrias e outros organismos diminutos, de
impossvel visualizao na microscopia de luz. Pode ser usado na anlise tambm de
polmeros, cermicas, materiais metlicos, orgnicos, inorgnicos e compsitos.
Pigmentos, cosmticos, ltex, adesivos, catalisadores, petroqumica, coloides, nano
partculas, gesso, cimento.

Preparao das amostras para o MET

De modo a se poder retirar informao estrutural de uma determinada amostra
com um TEM, esta tem que ser eletronicamente transparente. S nestas condies
transmite um nmero suficiente de eltrons tal que a intensidade no ecr (alvo) ou papel
fotogrfico seja suficiente para fornecer uma imagem interpretvel e num tempo
razovel.
Os corpos de prova podem ser de dois tipos: lminas finas do prprio material
ou rplicas de sua superfcie. A preparao de lminas finas de metais e ligas segue
normalmente a seguinte sequncia de preparao: corte de lminas de 0,8 a 1,0 mm de
espessura, afinamento por polimento mecnico at 0,10 0,20 mm de espessura e
polimento eletroltico final. As laminas finas de materiais polimricos e de outros
materiais orgnicos so obtidas por microtomia, onde uma navalha corta pelculas finas
e com espessura controlada. Em geral, o material orgnico resfriado em nitrognio
lquido (ultramicrotomia) para minimizar a deformao durante o corte. O afinamento
final das lminas de materiais cermicos geralmente feito por desbaste inico.
Trs tipos de rplica so normalmente utilizados para obteno de amostras de
MET: de plstico, de carbono e de xido. Na tcnica de rplica de plstico, uma soluo

diluda de plstico em um solvente voltil, por exemplo formvar em clorofrmio,

gotejada na superfcie da amostra.
O solvente se evapora e deixa um filme, que pode ser retirado e que representa o
"negativo" da superfcie. Na rplica de carbono, este material evaporado na superfcie
da amostra. Esta tcnica pode ser utilizada tambm para arrancar partculas de
precipitados da amostra, a chamada rplica de extrao. Na rplica de xido, usada
principalmente para ligas de alumnio, o filme de xido obtido por anodizao de uma
superfcie previamente polida eletroliticamente. Nos trs tipos de rplica, o contraste
tem origem nas variaes de espessura. No caso de partculas extradas, um contraste
adicional aparece, pois as partculas, se forem cristalinas, difratam eltrons.

Microscpio eletrnico de varredura (MEV)

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) um instrumento muito verstil e
usado rotineiramente para a anlise micro estrutural de materiais slidos. Apesar da
complexidade dos mecanismos para a obteno da imagem, o resultado uma imagem
de muito fcil interpretao.
No microscpio eletrnico de varredura (MEV) um feixe de eltrons
extremamente estreito usado para varrer o espcimen, isto , ele movido para diante
e para trs enquanto passa atravs do espcimen. O feixe tem vrios efeitos sobre o
espcimen, dos quais o principal para nossa finalidade que ele faz com que o prprio
espcimen emita eltrons. A imagem construda em sequncia, no tempo, medida
que o espcimen varrido. Outra caracterstica importante do MEV a aparncia
tridimensional da imagem das amostras, resultado direto da grande profundidade de
campo. Permite, tambm, o exame em pequenos aumentos e com grande profundidade
de foco, o que extremamente til, pois a imagem eletrnica complementa a
informao dada pela imagem ptica.
O aumento mximo conseguido pelo MEV fica entre o microscpio ptico (MO)
e o microscpio eletrnico de transmisso (MET). A grande vantagem do MEV em
relao ao microscpio tico sua alta resoluo, na ordem de 2 a 5 nm - atualmente
existem instrumentos com at 1 nm enquanto que no tico de 0,5 m. Comparado com
o MET a grande vantagem do MEV est na facilidade de preparao das amostras.

Equipamento de um microscpio eletrnico de varredura

Os principais componentes do MEV assemelham-se queles do MET. A coluna,
com o canho eletrnico e a srie de lentes eletrnicas, e o sistema de alto vcuo, so
similares nos dois tipos de equipamentos. Um conjunto de bobinas defletoras faz com
que o feixe varra o espcimen. Assim, a imagem montada ponto a ponto, linha por
linha, do mesmo modo que a imagem no visor de televiso. A imagem pode ser
observada diretamente, ou fotografada. O MEV tem uma srie de aspectos
extremamente valiosos.
Ele pode ser operado em uma escala ampla de aumentos, desde 10X at
100.000X. Seu alcance assim se estende desde aquele da lupa manual at o de um MET.
O MEV tem grande profundidade de foco. O MEV convencional apresenta uma coluna

ptico-eletrnica adaptada a uma cmara com porta amostra aterrado, sistema

eletrnico, detectores e sistema de vcuo.

Figura 5 - Desenho esquemtico dos componentes bsicos do MEV. Adaptado de

KESTENBACH, 1994.

Fundamento da tcnica
O princpio de um microscpio eletrnico de varredura (MEV) consiste em
utilizar um feixe de eltrons de pequeno dimetro para explorar a superfcie da amostra,
ponto a ponto, por linhas sucessivas e transmitir o sinal do detector a uma tela catdica
cuja varredura est perfeitamente sincronizada com aquela do feixe incidente. Por um
sistema de bobinas de deflexo, o feixe pode ser guiado de modo a varrer a superfcie da
amostra segundo uma malha retangular. O sinal de imagem resulta da interao do feixe
incidente com a superfcie da amostra. O sinal recolhido pelo detector utilizado para
modular o brilho do monitor, permitindo a observao.
Quando o feixe primrio incide na amostra, parte dos eltrons difunde-se e
constitui um volume de interao cuja forma depende principalmente da tenso de
acelerao e do nmero atmico da amostra. Neste volume, os eltrons e as ondas
eletromagnticos produzidos so utilizados para formar as imagens ou para efetuar
anlises fsico-qumicas.
Para serem detectados, as partculas e/ou os raios eletromagnticos resultantes da
interao do feixe eletrnico com a amostra devem retornar superfcie da amostra e
da atingirem o detector. A profundidade mxima de deteco, portanto, a resoluo
espacial, depende da energia com que estas partculas ou raios atingem o detector, ou
so capturadas pelo mesmo. A imagem formada a partir do sinal captado na varredura
eletrnica de uma superfcie pode apresentar diferentes caractersticas, uma vez que a
imagem resulta da amplificao de um sinal obtido de uma interao entre o feixe

eletrnico e o material da amostra. Diferentes sinais podem ser emitidos pela amostra.
Dentre os sinais emitidos, os mais utilizados para obteno da imagem so originrios
dos eltrons secundrios e/ou dos eltrons retro espalhados.
A imagem formada a partir do sinal captado na varredura eletrnica de uma
superfcie pode apresentar diferentes caractersticas, uma vez que a imagem resulta da
amplificao de um sinal obtido de uma interao entre o feixe eletrnico e o material
da amostra. Diferentes sinais podem ser emitidos pela amostra. Dentre os sinais
emitidos, os mais utilizados para obteno da imagem so originrios dos eltrons
secundrios e/ou dos eltrons retro espalhados.

Aplicao
O MEV um aparelho que pode fornecer rapidamente informaes sobre a
morfologia e identificao de elementos qumicos de uma amostra slida. Sua utilizao
comum em biologia, odontologia, farmcia, engenharia, qumica, metalurgia, fsica,
medicina e geologia. O MEV um dos mais versteis instrumentos disponveis para a
observao e anlise de caractersticas micro estruturais de objetos slidos.

Referncias
SKOOG, D. A.; HOLLER, F. J.; CROUCH, S. R. Princpios de Anlise Instrumental.
6 Ed. Editora Bookman, 2009.
KESTENBAC, H.J.; BOTA FILHO W.J. Microscopia eletrnica transmisso e
varredura. So Paulo: ABM, 1994.
GRIMSTONE, AV. O microscpio eletrnico em Biologia. So Paulo, EDUSP; V. 11,
1980. 70p.
CENETE CENTRO DE TECNOLOGIA E INOVAO. Microscopia eletrnica de
transmisso. Disponvel em: <https://www.cetene.gov.br/pdf/met.pdf>. Acesso em
28/06/2015.
BIOGEOECO. O microscpio. Disponvel em:
<https://sites.google.com/site/biogeoeco/o-microsc%C3%B3pio>. Acesso em
28/06/2015.