TECNOLGICO NACIONAL DE MXICO

INSTITUTO TECNOLGICO DE CIUDAD JUREZ

INGENIERA INDUSTRIAL A DISTANCIA

CONTROL ESTADSTICO DE LA CALIDAD.

TAREA 1, UNIDAD 3, CEC 2015-2-1.

Profesor: ING. JUAN CARLOS GARCIA ROSALES M.I.A.

ALUMNO: JOSE JAVIER PEREZ BLANCO. (13111793)

HEROICA CIUDAD JUREZ, CHIHUAHUA.

16 DE NOVIEMBRE DE 2015.

Contenido

Contenido
1 RESUMEN ..................................................................................................................................... 1
3.2 PLAN DE MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS. ................................... 2
3.2.1 Aceptacin del lotes con Nivel Aceptable de Calidad ................................................ 2
3.2.2 Uso e Interpretacin del Militar Standard 105 E en el muestreo. ............................ 2
4 PROBLEMAS ................................................................................................................................ 5
5 CONCLUSIN............................................................................................................................... 6
6 BIBLIOGRAFA............................................................................................................................. 7

ii

1 RESUMEN
En los planes por atributos se extrae de manera aleatoria una o ms
muestras de un lote y cada pieza de la muestra es clasificada de acuerdo con
ciertos atributos como aceptable o defectuosa; la cantidad de piezas
defectuosas es usada para decidir si el lote es aceptado o no.
En los planes por variables se requiere un menor tamao de muestra para
lograr los mismos niveles de seguridad. En cualquier caso se debe evaluar cul de
los dos tipos de planes es ms adecuado en una situacin en particular.

3.2 PLAN DE MUESTREO DE ACEPTACIN POR

ATRIBUTOS.

Los planes por atributos se clasifican de acuerdo con el nmero de muestras

que se toman para llegar a una decisin. Por ejemplo, en el plan de muestreo simple
(n, c) se toma una muestra de tamao n, y si en sta se encuentra c o menos
unidades defectuosas, el lote es aceptado, o en otro caso es rechazado. Por su
parte, en el plan de muestreo doble se pueden tomar hasta dos muestras para tomar
la decisin de aceptar o no. La idea es tomar una primera muestra de tamao ms
pequeo que el plan simple para detectar los lotes que son muy
Los planes por atributos se clasifican de acuerdo con el nmero de muestras
que se toman para llegar a una decisin. Por ejemplo, en el plan de muestreo simple
(n, c) se toma una muestra de tamao n, y si en sta se encuentra c o menos
unidades defectuosas, el lote es aceptado, o en otro caso es rechazado. Por su
parte, en el plan de muestreo doble se pueden tomar hasta dos muestras para tomar
la decisin de aceptar o no. La idea es tomar una primera muestra de tamao ms
pequeo que el plan simple para detectar los lotes que son muy

3.2.1 Aceptacin del lotes con Nivel Aceptable de Calidad

3.2.2 Uso e Interpretacin del Militar Standard 105 E en el
muestreo.
La versin original de MIL STD 105E fue creada en 1950 y desde
entonces ha tenido cuatro revisiones, siendo la ltima en 1989 que dio lugar
2

a MIL STD 105E. En la actualidad es el sistema de muestreo de aceptacin

por atributos ms usado en el mundo. Alternativamente se puede usar su
contraparte civil ANSI/ ASQ Z1.4. Para disear planes con MILSTD 105E se
usa principalmente el nivel de calidad aceptable, NCA o AQL. Aunque la
probabilidad de aceptar los lotes con calidad NCA siempre es alta (entre 0.89
y 0.99), pero no es la misma para todos los planes que se obtienen con esta
norma. El estndar prev 26 valores (porcentajes) diferentes para el NCA; 16 de
ellos que van de 0.010 a 10%, estn enfocados a porcentajes de defectuosos; y
los otros 10, que van desde 15 hasta 1000 defectos por cada 100 unidades, se
enfocan a disear planes del tipo: defectos por unidad.
Diseo de un esquema de muestreo con MILSTD 105E para obtener los
planes de muestreo aplicando el MILSTD 105E se procede de acuerdo con los
siguientes pasos:
A. Determinar el tamao de lote.
B. 2. Especificar el NCA (o AQL).
C. 3. Escoger el nivel de inspeccin (usualmente el nivel II, que puede
ser cambiado si la situacin lo justifica).
D. 4. Dada la informacin anterior, se encuentra la letra cdigo.
E. 5. Determinar el tipo de plan de muestreo a ser usado (simple, doble
o mltiple).

6. De acuerdo con la letra cdigo y el NCA, se especifican los planes

simples para inspeccin normal, el plan simple para inspeccin severa y el plan
de inspeccin reducida. El lector interesado en inspeccin doble y/o mltiple
puede consultar el estndar de manera directo correspondiente para el tamao
de muestra.

3.2.3 Simple
Plan de muestreo simple: Se toma una muestra aleatoria de tamao y si sta
contiene ms de c unidades defectuosas se rechaza el lote.
Parmetros:
n: tamao de la muestra
c: no. mximo de defectuosos que se aceptan en un lote.

3.2.4 Doble
Plan de muestreo doble: la idea de este muestreo es tomar una primera
muestra de tamao pequeo para detectar los lotes muy buenos o muy malos, y si
en la primera muestra no se puede decidir si aceptar o rechazar porque la cantidad
de unidades defectuosas ni es muy pequea ni es muy grande, entonces se toma
una segunda muestra, para decidir si aceptar o rechazar tomando en cuenta las
unidades defectuosas encontradas en las dos muestras.

3.2.5 Mltiple
Plan de muestreo mltiple: es una extensin del concepto de muestreo doble,
si con el muestreo doble todava no es posible tomar la decisin se toma otra
muestra hasta tomar la decisin de aceptar o rechazar el lote.
4

4 PROBLEMAS

5 CONCLUSIN
Encontraremos la curva de operacin para que pueda observar el
resultado que tendr su aplicacin en cada lote que se va a determinar su
validacin o rechazo.

6 BIBLIOGRAFA

CESAR, P. (1999). CONTROL ESTADISTICO. MEXICO: ALFAOMEGA UBICADO EN LIBRERIA DEL ITCJ
TS156.A2 P47.