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Conducteurs aux hautes frquences

par

Henri BAUDRAND
Ingnieur, Docteur dtat
Professeur lcole Nationale Suprieure dlectrotechnique, dlectronique,
dInformatique et dHydraulique de Toulouse (ENSEEIHT) Dpartement dlectronique

1.
1.1
1.2
1.3

Gnralits.................................................................................................
Utilisation .....................................................................................................
quation de transport dans les conducteurs.............................................
Comportement dun conducteur en fonction de la frquence.................

2.
2.1
2.2
2.3

Effet de peau .............................................................................................


Introduction..................................................................................................
Couche de mtal infinie en prsence dune onde lectromagntique....
tude dune plaque dpaisseur finie.........................................................

5
5
5
6

3.
3.1
3.2
3.3

Application en compatibilit lectromagntique...........................


Gnralits ...................................................................................................
Impdance de transfert : dfinition ............................................................
Mesures de limpdance de transfert ........................................................

9
9
9
10

4.
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5

Pertes dans diffrentes technologies ................................................


Gnralits ...................................................................................................
Pertes mtalliques en ligne microbande ...................................................
Pertes dans les lignes coplanaires .............................................................
Pertes dans les lignes ailettes..................................................................
Pertes par rayonnement..............................................................................

12
12
12
13
13
13

5.
5.1
5.2

Applications des supraconducteurs en haute frquence.............


Conduction des supraconducteurs ............................................................
Rsultats thoriques et exprimentaux .....................................................

14
14
14

6.

Effet multipactor......................................................................................

15

Pour en savoir plus...........................................................................................

E 1 205 - 2

Doc. E 1 205

utilisation des conducteurs en haute frquence rpond un double objectif ;


les conducteurs sont trs couramment utiliss pour le guidage de lnergie
ou de linformation sous forme lectromagntique, mais ils sont aussi trs
souvent destins isoler un circuit des rayonnements extrieurs, ou viter le
rayonnement dun dispositif lectronique. Ce dernier type dapplication entre
dans le cadre de la compatibilit lectromagntique en pleine expansion depuis
les quinze dernires annes.

E 1 205

12 - 1993

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Techniques de lIngnieur, trait lectronique

E 1 205 1

CONDUCTEURS AUX HAUTES FRQUENCES

_________________________________________________________________________________________________

Symboles et Notations
Symbole

Dsignation

Valeur ou formule

Permittivit du vide

8,854 1012 F m1

Permabilit du vide

4 107 H m1

Charge de llectron

1,602 1019 C

Masse effective
de llectron

9,109 1031 kg

Constante de Planck

6,626 1034 J s

Constante de Boltzmann

1,38 1023 J K1

Charge volumique
des porteurs

Pulsation de plasma

vF

Vitesse de Fermi

1,57 106 m s1 (cuivre)

nergie de Fermi

12 m v F

TF

Temprature de Fermi

Temps de relaxation

Libre parcours moyen

Conductivit

Mobilit

8,43 1028 q C m3 (cuivre)

0 q / m s 1
2

F / k
3,18 1014 s (cuivre)

vF
0 q / m (S m1)
q / m (m2 V1 s1)

Coefficient de rflexion

Er / E i

Zs

Impdance de surface

(1 + j) /

Z0

Impdance du vide

Profondeur
de pntration

Z2

Impdance surfacique
de transfert

Zt

Impdance de transfert

Constante
de propagation
dans le mtal

0 / 0
2 / 0
Zs / sh d

(1 + j) /

1. Gnralits
1.1 Utilisation
Les pertes par effet Joule ont un effet dautant plus important que
la frquence est leve. Pour cette raison, les circuits ondes millimtriques peuvent tre conus dans une technologie faisant appel
aux guides dilectriques [1]. En lumire visible ou infrarouge, le guidage par fibres optiques ou par guides intgrs est gnralis. Si
lutilisation des guides dilectriques nest pas systmatique, cela
tient essentiellement au fait que le couplage aux lments de circuits
(transistors, diodes, etc.) nest pas ais : la moindre discontinuit a
tendance exciter des rayonnements parasites, sauf quelques
heureuses exceptions [2].
Cependant, la limite dutilisation en frquence des lignes mtalliques augmente au fur et mesure des progrs technologiques.
Ainsi, aux frquences de lordre du trahertz, lexprience montre
actuellement des pertes par rayonnement bien suprieures aux
pertes par effet Joule [3], ce qui limite lutilisation des conducteurs
ces frquences. Par contre, les frquences au-del de 50 GHz sont
couramment accessibles dans les circuits intgrs [4]. Les pertes
leves sont limites du fait des petites dimensions des circuits (en
gnral infrieures au millimtre).

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Les pertes par effet Joule sont expliques par le comportement


des lectrons dans le conducteur. Une thorie simplifie (le modle
de Drude) permet de mettre en vidence les principales proprits
des conducteurs en haute frquence.
Elle fera lobjet des paragraphes 1.2 et 1.3. Dans le paragraphe 2,
seront tudies les ractions dun conducteur en prsence dun
champ lectromagntique.
Pour analyser ces ractions, on introduit la notion de profondeur
de pntration ou deffet Kelvin qui joue un rle fondamental, tant
pour ltude des pertes dans les lignes, que pour ltude des proprits des blindages en compatibilit lectromagntique.
Une grandeur trs simple peut caractriser les proprits dun
blindage mtallique. Il sagit de limpdance de transfert introduite
pour la premire fois en 1934 par Schelkunoff [5]. Les applications
seront exposes dans le paragraphe 3.
La notion de profondeur de pntration est insuffisante pour
expliquer la valeur du coefficient de pertes dune ligne quelconque.
La gomtrie de la ligne intervient de manire importante : le choix
dune technologie passe par une valuation des pertes. Certains
logiciels de circuits commercialiss comportent des valuations des
pertes correspondant des technologies bien spcifiques. Sans
entrer dans le dtail du calcul, il convient de connatre les rfrences
permettant lvaluation des pertes dune ligne. Les rsultats actuellement accessibles concernent les lignes de type microbandes,
coplanaires et lignes ailettes. Ces points, ainsi que les pertes par
rayonnement, dont il y a lieu de tenir compte ds que la frquence
dpasse la dizaine de gigahertz, feront lobjet du paragraphe 4.
Leffet multipactor apparat dans les dispositifs en guide en forte
puissance. Cet effet destructeur est responsable de pertes supplmentaires et de bruit de fond. Il sera dcrit au paragraphe 6.
Enfin, il est ncessaire dvoquer les applications des supraconducteurs haute temprature, de dcouverte rcente, qui permettent denvisager des circuits en couche mince comportant trs
peu de pertes en haute frquence ( 5).

1.2 quation de transport


dans les conducteurs
Les conducteurs sont des matriaux dont les lectrons libres
sont en trs grand nombre, puisquon compte couramment un
lectron libre par atome (pour un semiconducteur, cette proportion
peut devenir un lectron libre pour un million datomes). Les porteurs responsables du courant obissent en outre une statistique
de Fermi-Dirac. Les proprits conductrices tiennent ces deux
proprits. La plupart des mtaux satisfont ces hypothses (statistique de Fermi-Dirac et grand nombre de porteurs), mais
dautres corps, tels que des semi-conducteurs fortement dops,
peuvent aussi les vrifier et font partie de la catgorie des
conducteurs non mtalliques.
Lapplication de la statistique de Fermi-Dirac implique que les
porteurs ont des vitesses dagitation thermique correspondant
lnergie de Fermi du mtal.
La vitesse de Fermi est dfinie ainsi :
vF =

2
----------Fm

F nergie du niveau de Fermi,


m masse effective de llectron.
On dfinit aussi la temprature de Fermi par :

avec

k TF = F
avec

constante de Boltzmann.

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La vitesse de Fermi est de lordre de 106 m/s (tableau 1).

(0)

Tableau 1 Constantes physiques


de quelques mtaux
Mtal

Nombre
dlectrons
libres
(en1028 m3)

ConducVitesse
tivit
de
273 K
Fermi
6
1
(en10 S m ) (en106 m s1)

nergie
de
Fermi
(eV)

Libre
parcours
moyen
(en108 m)

Cu

8,5

57,6

1,58

7,04

4,2

Ag

5,8

61,2

1,40

5,51

5,7

Au

5,9

43,7

1,40

5,51

4,1

La vitesse leve dagitation thermique (elle est cent fois moins


importante dans les semiconducteurs) est responsable du nombre
lev de collisions. Le temps moyen qui spare deux collisions
successives avec les atomes du rseau est de lordre de 1014 s
pour la plupart des mtaux (elle est de lordre de 1011 s pour les
semiconducteurs).
Le modle de Drude est tabli pour des mouvements tels que le
libre parcours moyen L dun lectron entre deux collisions est petit
devant les dimensions de lchantillon. On pose :
L = vF
avec

temps moyen entre deux collisions ou temps de relaxation d aux collisions.


Le libre parcours moyen est de lordre de 40 nm (tableau 1). Il y
a l une premire limitation de ce modle. Si lpaisseur d dune
couche mince est infrieure au libre parcours moyen, les lectrons
subiront des collisions sur le bord du mtal, diminuant ainsi la
conductivit rsultante.
Le libre parcours moyen peut tre suprieur la profondeur de
pntration de londe. Cette proprit modifie aussi lapproche du
calcul de la conductivit (effet de peau anomal, 1.3.2).

Le mouvement dun lectron soumis un champ lectrique est


donc constitu dune partie alatoire (dont la vitesse moyenne est
gale la vitessse de Fermi) laquelle il faut superposer une partie
due au champ lectrique. La vitesse correspondante est appele
vitesse de drive. Le calcul montre quelle est toujours trs faible
devant la vitesse de Fermi et donc quelle naffecte pratiquement
pas la valeur de . Les collisions se font sur les atomes du rseau
agits thermiquement (on parle alors de phonons), sur les impurets et les imperfections cristallines. La valeur de dpend donc de
la puret cristalline et de la temprature.
Dans ces conditions, exception faite des cas cits ci-avant (effet
de peau anomal et dimensions petites devant le libre parcours
moyen), lquation de Boltzmann [7] rsolue par la mthode des
moments donne lquation de transport :

v
q

J = 0 v = 0 E = E

(2)

0 densit des porteurs,


conductivit.
Le cuivre supporte une densit J de 107 A m2
(soit 10 A mm2). La conductivit du cuivre (tableau 2) qui est de
58 106 S m1 donne daprs (2) un champ lectrique de lordre
de 0,2 V m1 et donc une vitesse de drive de lordre du cm s1.
(0)
avec

Tableau 2 Valeurs de la conductivit  ,


de la profondeur de pntration 
et du module de limpdance de surface Z s
pour quelques mtaux

Mtal

1
Z s --------f

 f

(en 106 S m1) (f en MHz, en m) ( Z s en m, f en MHz)


Ag
Cu
Au
Al
Laiton
Mg
Ni
Ta
Tu
Zn
Pt

61
58
40,6
35,4
11,6
21,7
9,3
19,3
17,8
17
9,4

64
66
79
84,5
148
108
165
114
119
122
164

0,50
0,52
0,62
0,66
1,16
0,85
1,30
0,90
0,94
0,96
1,29

/ 0 , ce qui donne pour linduction magntique B :

vitesse moyenne de drive,


charge des porteurs (= 1,602 1019 C),

champ lectrique.
E
Cette quation devient en rgime harmonique :
q
j + 1
---- v = ----- E

tant la mobilit.
Considrant la frquence suffisamment basse pour ngliger
dans lquation (1) le terme en j ( trs infrieur 1014 Hz), on
trouve une densit de courant :

Anticipant sur le paragraphe suivant, le rapport champ magntique H / champ lectrique E dans un conducteur est de lordre de

dv
v
m ---------- + m ------ = q E

dt
avec

est la pulsation du champ lectrique appliqu.


On nglige toujours dans cette approche laction du champ
magntique de londe sur le mouvement des lectrons. Cela
sexplique par le fait que la vitesse de drive est toujours trop
faible pour quune ventuelle force de Laplace ait une influence
quelconque.
Sans entrer dans les dtails dune dmonstration gnrale, on
peut avoir une ide de ce phnomne en considrant lexemple du
cuivre. Posons :
q
= -------------- 3 10 3 m 2 V 1 s 1
m

Ce coefficient

0 /

0 / est trs faible devant lunit aux hautes

frquences, il en est de mme de v


(1)

0 / . Le terme en v B

de la force de Lorentz reste donc trs faible devant la force de


Coulomb.

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CONDUCTEURS AUX HAUTES FRQUENCES

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Dans le cas des frquences trs leves (de lordre de 102 THz)
le terme en j de lquation (1) nest plus ngligeable et on crit :

J = -------------------- E
1 + j

(3)

Remarque : la force de Laplace est perpendiculaire la vitesse


des lectrons (donc au champ lectrique en premire approximation) et au champ magntique de londe. Cette force nest pas
ngligeable dans le cas dune onde plane incidence normale
sur un conducteur. Elle a alors la direction du vecteur donde. Elle
est responsable de la pression de radiation. Cette dernire se
manifeste quand une surface conductrice est soumise un flux
de photons. Chaque photon possde une impulsion qui est
communique la surface conductrice aprs chaque impact.
Lensemble des impacts cre en moyenne une force, dont la
valeur par unit de surface est appele pression de radiation. Le
calcul montre que cette pression est numriquement gale
lnergie de londe par unit de volume. Ce rsultat peut tre mis
en vidence soit partir du concept du photon, soit de faon
classique partir de la force de Laplace.

La frquence de plasma est de lordre de 3 1015 Hz. Ce domaine


qui stend jusqu linfrarouge lointain (figure 1 pour le cuivre) est
appel domaine de leffet de peau classique. On remarque daprs
les formules (4) que la partie imaginaire de est trs grande devant
le module de la partie relle (  , ou  ). On peut
crire :
J = E
Les conducteurs en lectricit satisfont tous cette proprit
jusqu des frquences suprieures au trahertz. Le comportement
des conducteurs est donc parfaitement dcrit par cette formule,
tant que les frquences ne dpassent pas celles de loptique ou de
lultraviolet comme dans les deux domaines suivants.
1
-   < p
1.3.2 Domaine de relaxation : -----

La frquence est suprieure la frquence de relaxation qui


elle-mme est trs infrieure la frquence de plasma. Dans ce
domaine est ngatif. Le comportement du conducteur est
analogue celui dun plasma sans pertes (les collisions sont
ngligeables). On peut crire, daprs (4) :

1.3 Comportement dun conducteur


en fonction de la frquence

1 -------2-

En reportant lquation (3) dans lquation de Maxwell,

rot H = J + j E = -------------------- + j E
1 + j

on constate que le conducteur se comporte comme un milieu dilectrique pertes, voluant avec la frquence.
On pose :
rot H = j ( j ) E
Des manipulations lmentaires permettent dcrire :

p 2

-
= 1 ----------------------1
+ 2 2

p
= ----------------------------------- ( 1 + 2 2 )
o

(4)

est la permittivit du mtal dont la valeur est voisine de


celle du vide,

p =

0 q
------------ est appele pulsation de plasma.
m

Selon la valeur de la frquence, on peut distinguer trois rgions.

1.3.1 Frquences basses :


domaine de conduction   1----

p
= ------------3

et

Le coefficient de pertes dcrot avec la frquence et la partie


relle de la permittivit est ngative. Une onde incidente sur le
mtal est rflchie comme le serait une onde radiolectrique par
un gaz ionis une frquence infrieure la frquence de plasma.
Ce domaine de relaxation peut tre le sige dun phnomne
appel effet de peau anomal [7]. Ce phnomne se produit quand
la profondeur de pntration ( 2.2.1) de londe est trs infrieure
au libre parcours moyen L. La profondeur de pntration donne
une ide de grandeur de la distance o la valeur du champ
lectrique est notable. Seuls les lectrons rentrant dans cette zone
vont interagir avec le champ lectrique, ils contribueront la
conductivit du mtal. Soit, par exemple, la profondeur de pntration, le rapport / L reprsente la proportion des lectrons
participant la conductivit (figure 2). On considre, en effet,
daprs le principe dergodicit que la valeur moyenne dans le
temps dune grandeur physique est gale la valeur moyenne de
cette grandeur un instant donn pour toute une population
dlectrons.
Tout se passe donc comme si une proportion dlectrons gale
/ L tait soumise au champ lectrique.
On peut donc crire :

= K ----
L
o K est un coefficient empirique corrigeant cette thorie simplifie.
K tient compte des rflexions sur le bord du mtal (il est de lordre
de 7 10).

1
---- est lui-mme infrieur p .

Figure 1 Diffrents domaines


dcrivant le comportement dun conducteur
en fonction de la longueur donde dune onde
lectromagntique (cas du cuivre)

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2. Effet de peau
2.1 Introduction
Dans ce paragraphe, nous nous bornerons au domaine classique
qui couvre pratiquement tout le spectre des hautes frquences,
mme en ce qui concerne leffet de peau anomal, en changeant la
valeur de la conductivit ( 1.3.2).
On utilisera donc la formule de la densit de courant ( 1.3.1) :
Figure 2 Trajectoire des lectrons dans leffet de peau anomal

Lintrt de cette formule est que est une fonction de la


conductivit ; on a :

2
--------------------- 0

Do, en liminant entre ces deux quations, on trouve :

2/3 2 1/3
------------ = K 2/3 -----
0
L
varie maintenant en 1/3 , ce qui constitue une anomalie par
rapport la variation en 1/2 obtenue dans la thorie classique.
Cet effet de peau anomal augmente la rsistance ; cependant,
celle-ci reste trs faible et permet la ralisation de rsonateurs pour
lasers optiques, la seule condition tant un tat de surface le plus
soign possible pour viter les pertes par diffusion.

J = E
Par suite, dans les quations de Maxwell, la modification apporter concerne le terme en rot H que lon crit :
rot H = E

(5)

Les deux types dapplications des conducteurs, attnuation dans


le guidage des ondes lectromagntiques et proprits des blindages, peuvent tre modlises simplement par la considration
dune plaque de mtal en prsence dondes planes. Dans le cas o
la plaque est semi-infinie, on montrera que le mtal a un
comportement dimpdance de surface ( 2.2). Dans le cas o le
mtal a une paisseur finie, on mettra en vidence limpdance de
transfert, fondamentale pour ltude de la transparence des
blindages ( 2.3).

2.2 Couche de mtal infinie en prsence


dune onde lectromagntique

1.3.3 Domaine de transmission    p (    1 )


La frquence de collision 1 est infrieure la frquence du
signal, les pertes sont ngligeables. Les formules (4) donnent
respectivement :

et 

Le conducteur se comporte comme un dilectrique, il est donc


transparent londe.
En tant que dilectrique, le mtal peut alors tre utilis aux
longueurs dondes concernes par ce domaine, cest--dire lultraviolet (figure 1), pour la ralisation de lentilles ou de filtres (le visible
est arrt par le mtal).
tat de surface
Au voisinage de la surface dun conducteur, les porteurs
peuvent subir un nombre de rflexions plus important pour une
surface rugueuse que pour une surface parfaitement plane. Par
ailleurs, le courant, qui suit les dnivellations de la surface, parcourt une distance suprieure celle quil parcourerait sur une
surface plane. Des tudes exprimentales anciennes [8] portant
sur divers guides dondes en cuivre montrent que tout se passe
comme si la longueur du guide devait tre corrige par un
facteur donn. Ce dernier est le rapport des longueurs
observes au microscope, entre la surface rugueuse et la surface plane. La correction varie entre 1 pour le cuivre lectroform sur un mandrin dacier inoxydable ou le cuivre poli
chimiquement et jusqu 4 % sur un cuivre simplement poli ou
lectroform sur un mtal courant.

Pour valuer le comportement dune onde lectromagntique en


prsence de mtal, il suffit de considrer deux cas extrmes :
une onde plane incidence normale sur un conducteur plan ;
une onde se propageant le long de la surface dun conducteur
plan.

2.2.1 Onde plane incidence normale


sur un conducteur plan
La disposition de londe et du conducteur correspondent la
figure 3.
Les champs nont de composantes que parallles au plan P du
mtal. Les champs incidents Ei , Hi sajoutent aux champs rflchis
Er , Hr au niveau de la surface. La somme est gale, par continuit
aux champs transmis Et , Ht (sur la figure 3 ces derniers sont reprsents plus grands que dans la ralit).
Pour les ondes planes dans le vide, le tridre, E , H , k est
direct et le rapport E / H est gal limpdance du vide

0 / 0 . Le

vecteur donde de londe rflchie k r est oppos k i , celui de


londe incidente. Le coefficient de rflexion de la plaque est
donn conventionnellement par le rapport Er / Ei :
Er = Ei

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Tout se passe comme si londe tait rflchie par une impdance


de surface rduite Zs / Z0.
La puissance absorbe Pa par le mtal, sachant que la puissance
de londe incidente est gale Pi , scrit :
Pa = ( 1 2 ) Pi
Dans le tableau 2 sont donnes pour quelques mtaux, les
valeurs de la conductivit, de la profondeur de pntration et les
Z s ; les valeurs de la puissance absorbe sen dduisent aisment.

2.2.2 Attnuation dune onde se propageant


le long dun plan mtallique
On considre maintenant une onde se propageant selon une
direction z paralllement un plan P (figure 4).
Figure 3 Rflexion dune onde incidence normale sur un mtal

De la ncessit, pour londe rflchie, davoir un tridre E r , H r ,


k r direct, on dduit :
E t = E i + E r = (1 + ) E i
H t = H i + H r = (1 ) H i

(6)

Dans le mtal, on dduit classiquement lquation de propagation de lquation (4) et de lquation :


rot E = j 0 H

(7)

en prenant le rotationnel des deux membres.


Comme les champs ne sont fonction que de x, cette quation
scrit :
d 2 Et ( x )
------------------------ = j 0 E t ( x )
d x2
La solution de cette quation comporte une partie exponentielle
croissante, qui doit tre limine pour des raisons videntes, et
une partie en exponentielle dcroissante :
1+j
E t ( x ) = E t ( 0 ) exp -----------
2

0 x

on met ainsi en vidence la profondeur de pntration :

2
-------------- 0

Lquation (7) permet de dduire H t et donc le rapport des


champs au niveau de la surface P :
Et ( 0 )
1+j
= ----------Z s = ----------------Ht ( 0 )

-----0- H i ,
0

on trouve :
Z
1+j
1+
-------------- = ------s- = -----------Z0
1
2

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avec

k0

constante de propagation dune onde plane dans le


vide ( =

0 0 ) .

Les variations en y sont :


dans le vide, de la forme exp ( y ) avec :
1j
= ----------- k 0
2

-------

dans le mtal, de la forme exp ( y) avec :


1+j
= ------------ au deuxime ordre prs

La profondeur de pntration est donc la mme que pour une


onde incidence normale. Donc, sous une incidence quelconque,
on pourra toujours assimiler le conducteur une impdance de
surface Zs dfinie dans la relation (8).
Les pertes par longueur donde sont donnes par le coefficient

-------- , qui donne une ide des pertes mtalliques subies par une

onde se propageant le long dun guide mtallique.


Cependant, la gomtrie des lignes de transmission joue un rle
trs important et une tude particulire est ncessaire pour les diffrentes technologies ( 4).

(8)

Effectuons maintenant le rapport entre les quations (6), sachant


que :
Ei = Z0 Hi =

Le champ lectrique a deux composantes Ey et Ez indpendantes


de x et le champ magntique na quune composante Hx . Comme
le mtal comporte des pertes, cette onde est attnue dans le sens
des z et attnue galement dans le sens des y. Dans le mtal se
propage une onde attnue dans le sens des y dcroissants. Les
hypothses du calcul sont les suivantes :
quations de propagation dans le vide et dans le mtal ;
continuit des composantes tangentielles des champs au
niveau du plan P (y = 0).
Dans ces conditions et toujours dans lhypothse  , on
trouve les rsultats suivants :

E ( z, y ) = E ( y ) exp j k 0 1 j --------- z

2.3 tude dune plaque dpaisseur finie


Soit une plaque dpaisseur d sur laquelle arrive une onde incidence quelconque. lintrieur du mtal, les ondes se propagent
normalement comme pour le mtal infini incidence quelconque
(figure 5).


------------0

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Figure 4 Propagation dune onde le long dun plan mtallique

La diffrence tient au fait que londe lintrieur du mtal se


rflchit sur la face arrire P2 et la solution entre P1 et P2 est maintenant de la forme :
A exp ( y ) + B exp ( y )

est la constante de propagation dans le mtal dfinie au paragraphe prcdent.


Un calcul faisant appel aux conditions de continuit des
composantes tangentielles des champs la traverse des plans P1
et P2 et lvolution des champs entre les plans P1 et P2 dans le
conducteur, permet dcrire la relation suivante :
E 1 = Z1 + Z2
Z2
E2

Z2
Z1 + Z2

J1

(9)

J2

avec :
ch d 1
Z 1 = Z s ---------------------------sh d

J1 = H1 n1

1
Z 2 = Z s ------------------sh d

J2 = H2 n2

Figure 5 Transmission dune onde plane


travers une couche mtallique dpaisseur d

n 1 , n 2 sont les vecteurs orthogonaux P1 et P2 .


E T et H T tant perpendiculaires, lintroduction de J 1 et J 2
permet la relation dtre valable vectoriellement.
En outre, les orientations de n 1 et n 2 , rentrantes dans P1 et P2
sont tout fait analogues aux orientations des courants I1 et I2
dans un quadriple classique. Il est donc possible, comme on le
fait pour les quadriples en cascade, dtudier les proprits des
multicouches. Ainsi, en aronautique, on utilise souvent des matriaux constitus par une couche dilectrique emprisonne par deux
couches mtalliques de faible paisseur [9]. Le calcul de cet
ensemble pourra seffectuer par multiplication de matrices de
chane.
Tout quadriple a un schma quivalent. En loccurrence, le
schma en T est intressant plus dun titre (figure 6) :
il permet de mettre en vidence limpdance surfacique de
transfert ;
il permet dinterprter aisment les cas limites de couches
trs paisses ou trs minces.

Figure 6 Schma quivalent dune couche mtallique dpaisseur d

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2.3.1 Plaque mince devant la profondeur


de pntration
Lexpression de Z s (8) et de permet de dduire :

Z s = ---
Z1

Z2

d 1
Z s -------- = --- j 0 d
2
2
Z
sh d

1
s
= ------- -------------------

Z 1 est ngligeable devant Z 2 . La plaque se comporte donc comme


une impdance de surface (figure 6).

2.3.2 Plaque de grande paisseur


devant la profondeur de pntration
Lentre et la sortie de la plaque sont compltement dcouples,
on voit (figure 6b ) que tout se passe comme si la plaque tait
compose de deux impdances Z s places lentre et la sortie.

2.3.3 Plaque dpaisseur quelconque


Considrons une onde arrivant sur la plaque sous incidence
normale. Pour cette onde, le rapport entre E et H est gal
Z0 =

0 / 0 .

Pour calculer le coefficient de transfert travers la plaque, il est


commode dutiliser le schma quivalent de lensemble gnrateur,
plaque, charge adapte reprsentant labsence de rflexion au-del
de P2 (figure 7).
La valeur de Z 1 en module est toujours infrieure Z s qui
elle-mme est trs faible devant Z 0 pour des mtaux forte
conductivit. En se contentant dun calcul au premier ordre en Z s / Z 0
du transfert de puissance dans la charge, (rapport de la puissance

traversant la plaque mtallique la puissance disponible du gnrateur), tout se passe comme si on pouvait ngliger les impdances
Z 1 du schma quivalent. Soit T ce transfert, on trouve :
1 Z2
T = ---- ------2 Z0

Z 2 est appel impdance surfacique de transfert.


Limpdance de transfert ( 3.1) est troitement lie cette impdance. La figure 8 montre la variation en fonction de d de la partie
relle de cette impdance pour diffrentes valeurs de .
Rsistance dun conducteur de forme quelconque
Ainsi que nous le verrons au paragraphe 4, la forme gomtrique des conducteurs intervient pour le calcul de la rsistance.
Une approche trs simplifie consisterait considrer la rsistance dune surface dimpdance Z s recouvrant la superficie du
conducteur. On aurait alors pour un conducteur rectangulaire :
Zs
R = -----------------------2 (a + b)
avec R rsistance par unit de longueur.
Dans la ralit, la distribution du courant nest pas constante
et il faut effectuer une intgrale sur tout le contour de lnergie
perdue par effet Joule pour avoir la valeur de la rsistance
quivalente :

Re
J s Zs d 
L
R = -------------------------------------------I 2
avec I intensit totale.
On montre que, entre R et R , existe une relation de
proportionnalit :
R = K R
K varie entre 1,25 et 2 (figure 9).

Figure 7 Schma quivalent


dune onde plane incidente
sur une couche mtallique dpaisseur d

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Figure 10 Cble coaxial blindage dpaisseur finie

Figure 8 Comportement de limpdance surfacique de transfert


en fonction de la conductivit et de lpaisseur
de la couche mtallique

couplages puissent tre limins. Il en est ainsi, par exemple,


quand plusieurs antennes places sur un mme pylne mettent
ou reoivent en mme temps. Des couplages parasites entre mission et rception peuvent apparatre et perturber le bon fonctionnement de lensemble.
Les blindages sont caractriss par leur impdance de transfert,
qui dfinit leur qualit disolation vis--vis dune perturbation extrieure. Cette notion est souvent gnralise pour caractriser le
couplage entre deux dispositifs quelconques.
Dans un premier paragraphe sera dfinie limpdance de transfert, en particulier dans le cas trs frquent des cbles coaxiaux.
Dans un deuxime paragraphe seront donnes diffrentes valeurs
de lisolation calcule ou mesure pour quelques types de blindages.
La rsistance de contact entre deux conducteurs peut avoir un effet
non linaire nuisible par les intermodulations dont elle peut tre
responsable, elle est fonction de la manire dont est pratiqu le
contact. Les rsultats peu nombreux en ce domaine seront voqus
la fin du deuxime paragraphe.

3.2 Impdance de transfert : dfinition


Figure 9 Variation du coefficient de correction K de la rsistance
dun conducteur en fonction de sa gomtrie

3. Application
en compatibilit
lectromagntique
Nota : le lecteur pourra se reporter aux articles spcialiss du prsent trait.

Limpdance de transfert a t dfinie [5] pour un cble coaxial


comportant une me cylindrique et un conducteur extrieur jouant
le rle de masse pour le signal transport par le cble et de blindage
destin isoler ce dernier des perturbations extrieures (figure 10).
En prsence dune perturbation extrieure, une composante Ez
apparat au niveau intrieur du blindage. Soit I lintensit totale qui
passe dans le blindage ; par dfinition, limpdance de transfert est
dfinie ainsi :
Ez
Z t = -------- ( en m 1 )
I
Pour un cble de longueur  , on adopte [5] la dfinition suivante :

3.1 Gnralits




Ez ( r1 ) d z
0
Z t ( ) = --------------------------------------------r
2

La compatibilit lectromagntique a pour objet ltude des causes


et des effets de tous les phnomnes lectromagntiques indsirables ainsi que les moyens mettre en uvre pour les supprimer.
On distingue gnralement la protection des cbles, des circuits ou
des systmes, vis--vis de perturbations lectromagntiques dorigine naturelle comme la foudre, ou dorigine humaine comme les
appareils lectriques, les explosions nuclaires ou les agressions
micro-ondes.
Une autre source de perturbation tudie par la compatibilit
lectromagntique est souvent produite par le systme lui-mme,
quand celui-ci occupe un volume trop faible pour que tous les

r1

J (r) 2r dr

dans laquelle r 1 et r 2 sont les rayons intrieur et extrieur du blindage et J la densit de courant dans le cble. Quand les rayons r 1
et r 2 sont grands devant lpaisseur du blindage d, lexpression
devient :
d
( 1 + j ) -----
Z t = R 0 -------------------------------------------d
sh ( 1 + j ) -----

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R0 est la rsistance linique du cble :



R 0 = ----------------------------------2
2
(r 2 r 1)

circonfrence pour un cble de connexion est de lordre de 100, ce


qui donne une impdance de transfert courante de lordre de la
dizaine de milliohms (comme on peut le voir figure 12).


-------------------------2 r1 d

Cette expression peut scrire plus simplement :


Z2 
Z t = -------------2 r1

3.3 Mesures de limpdance de transfert


(10)

Cette dfinition suppose que le conducteur extrieur est excit et


que le champ Ez est mesur sur lintrieur du blindage. La disposition inverse (excitation intrieure et mesure du champ lextrieur
du blindage) donnerait le mme rsultat.
La formule (10) peut sinterprter aisment, en prenant la dfinition par unit de longueur, elle devient :
Ez
Z2
----- = -------------I
2 r 1
Soit J s la densit de courant longitudinal, on a :
I = 2 r 1 J s
E
on retrouve ------z = Z 2 .
Js
Donc tout se passe comme si le blindage tait constitu dune
impdance de surface Z 2. Cette dernire peut donc tre considre
comme une impdance de transfert surfacique.
On retrouvera cette proprit dans les dispositifs de mesure de
limpdance de transfert.
En se rfrant un conducteur de bonne qualit ( entre 4 107
et 6 107 S m1), les courbes de la figure 8 permettent dvaluer le
produit Z 2 d 2 108, sauf pour des paisseurs de la coque mtallique trop grandes, limpdance de transfert, de trs faible valeur,
perd alors de son intrt. Pour une frquence de 1 MHz, le tableau 2
permet de donner pour une valeur de lordre de 100 m, ce qui
fait pour Z 2 une valeur de lordre de 2 104 en considrant que
d et sont du mme ordre. En gnral, le rapport longueur-

Diffrents montages ont t tests dans le but dtablir une norme


de mesure de limpdance de transfert [10]. Les valeurs mesures
sont de lordre du m m1 avec une sensibilit de lordre du
m1. Le principe de la mesure est le suivant (figure 11). Une
ligne excitatrice induit un courant I sur la ligne perturbe, ce courant
est mesur grce un ampremtre A. Simultanment on mesure
la tension U entre le conducteur central et le conducteur extrieur
de la ligne perturbe.
La longueur de la ligne  est faible devant la longueur donde
(les mesures sont faites jusqu une centaine de mgahertz), le
schma quivalent de la ligne peut donc tre reprsent simplement par des cellules L 1 , C 1 , L 2 , C 2 . Les valeurs de limpdance
1
de la capacit C 1 (gale ---------------------- , C1 tant la valeur de la capacit
j C1 
par unit de longueur, la pulsation et  la longueur de la ligne)
est trs grande devant les autres en prsence sur la maille du
circuit (figure 11). On peut donc considrer que le courant de
maille est ngligeable. Dans la maille il en est de mme pour C 2
prsentant une impdance de grande valeur devant Z c . Les impdances correspondant L 2 , Z 1 sont aussi ngligeables devant Z c .
Ainsi, le schma quivalent de la structure se simplifie (figure 11)
et on peut crire :
1 U
Z t = --- --- I
Un exemple de rsultat [10] est donn sur la figure 12, il est
obtenu avec une cellule triaxiale adapte dont le principe de fonctionnement est donn sur la figure 13.

Figure 11 Dispositif de mesure de limpdance de transfert et son schma quivalent

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Le blindage mesur est constitu dun ruban daluminiumpolyester dont lpaisseur daluminium est de 40 m. La sensibilit
est de 10 / m, la gamme de frquence est de 10 kHz 100 MHz
et la longueur de lchantillon est de 1 m ou 0,5 m.
Rsistances de contacts
Dans la pratique, les conducteurs sont toujours lis entre eux
par des connecteurs qui, devant tre amovibles, doivent assurer
le contact lectrique par la juxtaposition de deux pices mtalliques. Les fabricants de connecteurs recommandent toujours un
couple de serrage optimal (sil est suprieur, la rsistance de
contact ne varie plus) qui est de lordre dune dizaine de N m.
Quand ce couple nest pas atteint, la rsistance augmente. Elle
peut, par exemple, passer de 0,4 m pour un couple de 3 N m
0,2 m pour le couple optimal de 15 N m.
Il y a en outre linconvnient du rayonnement parasite d un
mauvais serrage qui toutefois sattnue avec la frquence
(frquence de coupure de lordre de quelques kilohertz).
Les contacts peuvent tre fixs et raliss par soudure. Dans
ce cas, mme raliss avec soin ils peuvent garder des proprits
de jonction redresseuse [11]. Ce contact peut entraner des effets
non linaires indsirables dans un dispositif de rception. En
effet, lmission, si deux signaux sont simultanment prsents
au niveau de la jonction, il y aura du fait de la non-linarit,
prsence de frquence somme ou diffrence. Mme trs faible
(on donne couramment entre 80 et 100 dB en dessous des
signaux) ce produit dintermodulation risque de nuire la rception.

Figure 12 Variation de limpdance de transfert


dun cble coaxial en fonction de la frquence

Figure 13 Dispositif exprimental de mesure


de limpdance de transfert

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4. Pertes dans diffrentes


technologies
4.1 Gnralits
Dans le cas dune onde se propageant en incidence rasante le
long dun conducteur mtallique, on peut tablir le coefficient de

perte comme tant gal --------- ( 2.2.2). Dans le cas gnral, une

analyse de la structure est souhaitable. Les trois types de technologie les plus couramment utiliss sont (figure 14) :
la ligne microbande ;
la ligne coplanaire ;
la ligne ailettes.
La ligne microbande est constitue par un substrat (alumine dans
les circuits dits hybrides ou arsniure de gallium dans les circuits
intgrs) sur lequel est dpos un ruban mtallique. Les conversions
des lments actifs se font travers le substrat qui est plac sur un
plan de masse. La largeur de bande dutilisation de cette technologie
est trs grande (entre 0 et plus de 100 GHz). Linconvnient est que
les pertes dilectriques sont leves du fait de la concentration de
lnergie lectrique dans le substrat.
Cependant, la ncessit dusiner le substrat pour coupler un lment actif la ligne microbande est un inconvnient majeur ds
que les dimensions du circuit deviennent trs petites (quelques
dizaines de micromtres dans les circuits intgrs monolithiques).
Pour cette raison, les technologies coplanaires et lignes ailettes
sont de plus en plus utilises aux longueurs donde millimtriques.

Figure 14 Les trois types usuels de lignes utilises


dans le domaine des circuits hautes frquences

Figure 15 Pont air pour une ligne coplanaire

Dans la ligne coplanaire les plans de masse sont amens sur le


substrat. La ligne coplanaire est une ligne coaxiale aplatie. Labsence
de contact entre les deux cts de la plaque de masse fait natre un
mode indsirable antisymtrique appel mode de fente quon supprime par des ponts air disposs le long de la ligne (figure 15).
La ligne ailettes est utilise dans les circuits millimtriques. Les
parties mtalliques sont dposes sur un substrat trs faibles pertes (quartz par exemple). La largeur de la fente est de lordre de
quelques centaines de micromtres. Lensemble est plac dans un
botier mtallique.

4.2 Pertes mtalliques


en ligne microbande
La ligne microbande prsente un mode se propageant toutes
frquences. Ce mode est appel quasi-TEM (transverse, lectrique,
magntique) car les composantes longitudinales des champs
deviennent relativement de plus en plus faibles devant les composantes transverses mesure que la frquence diminue. mesure
que la frquence augmente, la composante longitudinale du champ
lectrique crot, le mode devient quasi-TM (transverse, magntique)
(la composante longitudinale du champ magntique reste trs
faible), puis hybride aux trs hautes frquences.
Dans lhypothse des pertes faibles, on peut utiliser une formule
valable dans la mesure o lpaisseur du mtal est grande devant
la profondeur de pntration [12] [13]. On obtient des formules assez
complexes faisant intervenir les caractristiques de la ligne [12].
Ces donnes sont en gnral accessibles dans les logiciels de
calcul de circuits [6]. Une caractristique de pertes en fonction de
la largeur du conducteur et de lpaisseur est donne sur la
figure 16.

E 1 205 12

Figure 16 Coefficient de pertes dans une ligne microbande


en fonction de la largeur W et de lpaisseur h de la ligne

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4.3 Pertes dans les lignes coplanaires


Des formules analogues celles des lignes microbandes ont t
proposes dans la littrature [12]. Les phnomnes sont en gnral
dcrits dans lapproximation quasi statique. Cependant, les caractristiques de pertes varient en fonction de la frquence [14]. En particulier, aux frquences trs leves le coefficient de pertes varie
proportionnellement au cube de la frquence. La figure 17 montre
les pertes mtalliques dune ligne coplanaire, trois courbes ont t
traces. La premire montre le rsultat obtenu par un calcul complet.
La deuxime montre le rsultat obtenu quand on fait lhypothse
couche mince, cest--dire que la couche mtallique est suppose
quivalente une impdance en parallle gale 1 d 1 (figure 6b).
Le troisime cas concerne lhypothse couche paisse (figure 6c).
On constate que lune ou lautre des hypothses suit bien la ralit
et sans faire des erreurs importantes, dans le cas de la figure 17,
le mtal peut tre considr comme une couche mince jusqu
1,2 m dpaisseur et ensuite comme une couche paisse au-del
de cette valeur.
Figure 17 Coefficient de pertes dans une ligne coplanaire
en fonction de lpaisseur d du mtal

4.4 Pertes dans les lignes ailettes


Une tude complte en mode hybride est ncessaire pour lvaluation des pertes dans les lignes ailettes. La figure 18 donne un
exemple de pertes dans une ligne ailettes [15].

4.5 Pertes par rayonnement


Un circuit en trs hautes frquences peut avoir deux types de
pertes par rayonnement :
le premier type, assez exceptionnel, se produit dans une ligne
uniforme quand est excit un mode dit fuite qui se propage le long
de la ligne tout en rayonnant de lnergie lextrieur ; ce phnomne peut tre utilis pour la ralisation dantennes planaires ;
le second est plus gnant car, dans les circuits, les discontinuits sont invitables et chaque discontinuit se comporte comme
une petite antenne qui rayonne de lnergie.
La courbe reprsente sur la figure 19 donne lexemple dun
coude qui a des pertes par rayonnement et des pertes par excitation dune onde de surface.
Figure 18 Coefficient de pertes dans une ligne ailettes
en fonction de la largeur W de la fente

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E 1 205 13

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_________________________________________________________________________________________________

la famille de composs partir de bismuth, tain, calcium,


cuivre et oxygne de la forme Bi2 Sn2 Can 1 Cun O2 n + 4 avec
n = 1, 2, 3, dont la temprature critique peut aller jusqu 110 K ;
enfin, la famille TI Ba Ca Cu O qui peut atteindre une temprature critique de 125 K.

5.1 Conduction des supraconducteurs


La conduction dans les supraconducteurs haute temprature se
fait gnralement par paire de trous. Lexistence de bande interdite
importante explique que le phnomne se produit haute
temprature.
Le modle le plus simple pour dcrire la conduction dun supraconducteur haute temprature, est le modle deux fluides.
Une fraction des porteurs de charges se met en paires de Cooper
et a une conductivit imaginaire pure :
j
s = --------------------2 0 L

L est la longueur de London (de lordre dune cinquantaine de


nanomtres) qui varie avec la temprature selon la loi :
T 4
L = 0 1 --------
Tc

1/2

Tc est la temprature critique.


En labsence de champ magntique continu, on peut poser que
la conductivit globale scrit :
j
= N -------------------2 0 L
Le terme N correspond aux lectrons qui ne se sont pas mis en
paires de Cooper ; ce coefficient varie trs rapidement avec la temprature si lon se rfre la variation de la rsistance (figure 20)
qui lui est lie.
Ainsi, le supraconducteur prsente une impdance de surface
comportant une partie selfique. Les formules sont les mmes que
pour un conducteur normal.

5.2 Rsultats thoriques et exprimentaux


La figure 20 donne la variation de la rsistance dun supraconducteur avec la temprature.
Figure 19 Pertes par rayonnement dans quelques discontinuits
en ligne microbande en fonction de la frquence

5. Applications
des supraconducteurs
en haute frquence
Les supraconducteurs trouvent des applications dans la ralisation
de circuits, surtout depuis la dcouverte en 1986 de matriaux prsentant leffet supraconducteur la temprature de lazote liquide,
plus aisment disponible et moins cher que lhlium liquide [16].
Il existe actuellement trois familles de composs prsentant
leffet supraconducteur haute temprature :
la famille de composs base dyttrium, de baryum, de cuivre
et doxygne, par exemple Y Ba2 Cu3 O 7 x , x reprsente le taux
de lacunes en oxygne. La temprature de transition est de lordre
de 95 K [17] ;

E 1 205 14

Il est intressant de comparer, en fonction de la temprature, les


performances dun supraconducteur avec un mtal pour une ligne
microbande [18] (figure 21).
On constate des performances en pertes typiquement de trois
dcades meilleures pour un supraconducteur que pour un
conducteur normal. Or le coefficient de surtension dun rsonateur
ligne est directement proportionnel au coefficient de pertes,
donc, un gain de 1 000, sur ce coefficient, permet desprer un
produit par 1 000 du coefficient de qualit du rsonateur (la ralit
est largement en dessous car il faut tenir compte des pertes par
rayonnement et dilectriques).
Les avantages sont de deux ordres :
laboration en technologie microbande de rsonateurs fort
coefficient de surtension pour oscillateurs ou filtres. Exprimentalement, la nature polycristalline des supraconducteurs haute temprature empche datteindre des performances promises par la
thorie. Cependant, un anneau rsonnant en supraconducteur
(Y Ba Cu O) a montr un coefficient de surtension gal 3 000 [une
gomtrie identique donne un coefficient de surtension de 200 pour
un conducteur normal (argent)] ;
diminution du facteur de bruit dun ensemble ralis en
supraconducteurs.

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Figure 20 volution de la rsistance dun film supraconducteur


en fonction de la temprature

Figure 22 Coefficient dmission secondaire


en fonction de lnergie de llectron primaire

Figure 23 Distribution des lectrons secondaire en fonction de leur


nergie (normalise par rapport lnergie des lectrons primaires)

Figure 21 Coefficient dattnuation  dune ligne microbande


supraconductrice en fonction de la temprature.
Comparaison avec une ligne en cuivre

6. Effet multipactor
Leffet multipactor rsulte de larrachage dlectrons de la surface
dun conducteur soumis un champ suffisamment lev dans un
vide assez pouss (moins de 0,1 mm de mercure). Cet effet (effet
Corona) apparat pour des valeurs de champs lectriques qui
peuvent tre trs faibles, selon la gomtrie du mtal, ainsi, pour
une pointe quelques kV / m peuvent suffire arracher des lectrons.
Leffet multipactor est caractris par le fait que ces lectrons crent
leur tour, par chocs sur le mtal, des lectrons secondaires ; ainsi,
un phnomne davalanche est susceptible de se crer et de
dtruire le dispositif. Les quipements embarqus peuvent subir
une destruction comme il a t montr sur des essais avec le satellite ERS 1 5 GHz pour une puissance de 5 kW [19]. Les figures 22
et 23 montrent la variation du coefficient de multiplication en fonction de lnergie de llectron incident et la distribution nergtique
des lectrons secondaires.
Le problme le plus tudi concerne deux plaques distantes de
d [20].

Figure 24 Domaine dexistence, en tension applique,


dune dcharge multipactor pour deux conducteurs plans parallles
en fonction du produit frquence-distance

La thorie demande une simulation de la trajectoire des lectrons


primaires et secondaires. On met aussi en vidence une zone dans
laquelle une dcharge est susceptible de se produire. La figure 24
montre le niveau de la tension de claquage en fonction du produit
distance sparant deux plaques par la frquence.
On constate que pour une frquence de 10 GHz et un intervalle
de 1 mm (courant dans la ralisation de filtres en guides), une tension de lordre de 500 V sera susceptible de crer une dcharge.
Cette tension correspond une puissance transporte de lordre de
quelques kilowatts. La prsence dondes stationnaires ne fait
quaugmenter, pour une mme puissance transporte, le risque
deffet multipactor.

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E 1 205 15

Conducteurs aux hautes frquences


par

E
N

Henri BAUDRAND
Ingnieur, Docteur dtat
Professeur lcole Nationale Suprieure dlectrotechnique, dlectronique,
dInformatique et dHydraulique de Toulouse (ENSEEIHT) Dpartement dlectronique

Rfrences bibliographiques
+ historique de la question

 comporte des rsultats dessais de laboratoire

 tude technologique de la question

* tude thorique de la question

 comporte des rsultats pratiques ou industriels

 description dappareillages ou dinstallations

[1]

[2]

[3]

[4]

[5]

[6]

[8]

[9]

[10]

[11]

[12]

[13]

[14]

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