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Resistenza
Le resistenze possono essere realizzate in modi diversi. Innanzitutto si possono realizzare mediante sacche (Wall) che
contengono i transistor: lasciano la sacca piena di semiconduttore il quale offre una certa resistenza al passaggio di portatori.
Tuttavia questo tipo di resistenza a basso valore (semiconduttore non fortemente drogato), non stabile con la
temperatura (coefficiente di temperatura
Un modo per realizzare una resistenza attraverso una geometria a meandro, ovvero con una forma del tipo illustrato in
figura:
la divisione della struttura in quadrati identici deriva dalla seguente propriet, in cui la resistenza offerta dal quadrato al
passaggio della corrente
ovvero la resistenza offerta dal quadrato non dipende dalla misura del lato. A parit di e di spessore, due quadrati diversi di
conduttore offrono la stessa resistenza. Per questo motivo, detta
la resistenza offerta da un quadrato, un meandro,
composto da quadrati offre una resistenza pari a
. La resistenza viene misurata in
(Ohm/square).
Poich in un quadrato piccolo trovo la stessa resistenza di uno grande, si fanno pi piccoli possibile. serve elevato, ma pi
grande e meno stabile con la temperetura.
Il problema di questa soluzione , nel caso di realizzazione con polisilicio 1, la forte variazione di con la temperatura. Una
piccola variazione sul drogaggio comporta significative variazioni su . Per diminuire il coefficiente di temperatura si pu far
reagire il silicio sulla superficie con un metallo surriscaldato fino a farlo diventare siliciuro (vengono messi come strato nel
gate, source e drain per condurre meglio
) e che quindi garantisca una maggiore stabilit con la
temperatura.
Un altro modo di realizzare una resistenza tramite un MOS in triodo:
Capacit
I modi per realizzare le capacit sono sostanzialmente tre:
Vantaggi: il condensatore isolato dagli altri componenti e sfrutta la geometria della struttura senza
occupare spazio; i fattori di merito sono buoi (poche perdite).
tolleranza
Componenti integrati
o
Componenti passivi
Svantaggi: poich
basso per evitare le capacit non volute, anche quelle desiderate di questo tipo
hanno valori molto bassi
;
o
o
Vantaggi:
alte capacit;
Svantaggi:
aumenta la resistenza e quindi diminuisce .
Induttanza
Linduttanza il componente pi critico in radiofrequenza a causa dello scarso fattore di merito che pu assumere. In
tecnologia RFC MOS della ST (a
) landamento di in funzione della frequenza rappresentato da un grafico del
tipo:
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Un altro aspetto negativo delle induttanze larea di chip occupata. In generale le induttanze vengono realizzate sullultima
metallizzazione. Infatti vicino alle induttanze presente una grande quantit di campo magnetico; poich il substrato
drogato, si generano correnti di Foucault nel semiconduttore e dunque ci sar una dissipazione per effetto Joule. Tale
dissipazione schematizzabile con una resistenza, e sar tanto maggiore quanto maggiore la superficie di silicio interessata.
Realizzando linduttanza sullultima metallizzazione parte del campo magnetico diffuso in aria e non d contributo alla
dissipazione. Tuttavia da notare che la dissipazione tanto maggiore quanto maggiore il silicio coinvolto; ci significa
che per ridurre la resistenza equivalente bisognerebbe fare in modo che linduttanza occupi la minor superficie possibile.
Componenti integrati
Componenti passivi
Realizzazione a spirale
Una induttanza si pu realizzare attraverso una metallizzazione, su un substrato, a forma di spirale
Il valore dellinduttanza si pu calcolare secondo la classica formula dellinduttanza
Dove
la permeabilit magnetica,
il numero delle spire e il raggio. Tuttavia la
formula precedente molto approssimativa, in quanto non tiene conto di caratteristiche
fisiche quali la forma della spirale, lo spessore della striscia, i diversi raggi delle spire, etc.
Formule pi accurate sono riportate nellAllegato 1.
Induttanze tipiche che si riescono a raggiungere con questa tecnica sono nellordine di
. Ci su cui pu lavorare
il progettista il numero delle spire e larea del chip che si vuole occupare. Si vedr che una maggiore area comporta un
aumento delle perdite, e dunque una diminuzione del fattore Q dellinduttanza.
Perdite dellinduttanza
I contributi alle perdite di uninduttanza sono forniti prevalentemente da due fattori
RESISTENZA SERIE .
la resistenza che incontra la corrente che scorre attraverso linduttanza dovuta alla conducibilit non infinita del
materiale. In generale,
sar funzione della geometria della striscia (
larghezza e
spessore) ed inoltre, a
causa delleffetto pelle, anche funzione della frequenza.
In effetti, se si considera una corrente che si propaga in un conduttore, questa comporta un campo magnetico ,
che a sua volta genera correnti magnetiche sulla superficie. Per frequenze elevate, si pu dimostrare che la corrente
che circola nel conduttore si distribuisce unicamente sulla superficie e
decresce verso linterno con un andamento esponenziale come
dove
lo spessore della striscia e la profondit di penetrazione del conduttore, pari a
I
H
In generale
dove
Componenti integrati
Componenti passivi
Modello equivalente
A questo punto possibile ricavare un modello che descriva pi accuratamente uninduttanza planare a spirale:
Bondwire
Un altro modo per realizzare linduttanza pu essere attraverso un bondwire, ovvero attraverso un filetto sottile con cui si
collegano due metallizzazioni. Il filetto viene saldato attraverso procedimenti ad ultrasuoni, molto precisi: dellordine del 1%
su e .
Il principale vantaggio del Bondwire quello di avere perdite limitate; infatti tanto
garantisce tra laltro un elevato fattore di merito (nellordine di 50).
quanto
sono piccole, e ci
h
L
Interruttori a transistor
Circuito per la scarica di tensione elettrostatica
Questi ultimi servono a prevenire un possibile danneggiamento del componente a causa di una carica elettrostatica
accumulata, ad esempio, sul pad di un package.
Accumulo
di carica
CHIP
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