INSPECCIN POR ATRIBUTOS

Datos:
N = 1500
Nivel de Inspeccin II
Calidad Aceptable (AQL) = 1 %
a) determinar el plan de muestreo un es simple para el control de recepcin, hallando tamao de
la muestra (n), nro de aceptacin (Ac) y nro de rechazo (Re).
de la Tabla I Letra clave del tamao de la muestra (pg. 13) de la Norma IRAM 15
Niveles de Inspeccin
Tamao del Lote
especiales

Niveles de Inspeccin
Generales
I
II
III

1201 a 3200

Tomando la K, vamos a la Tabla II A Planes de muestreo simple para inspeccin normal (pgina 14)
de la Norma IRAM 15.
Letra Tamao de
clave la muestra
K

125

AQL
1%
Ac Re
3 4

Por lo tanto el Plan de muestreo Simple / Normal queda:

Tamao de la muestra (n) = 125
N de aceptacin (Ac) = 3
N de Rechazo (Re) = 4

b) determina el porcentaje de unidades defectuosas tolerada por la empresa (LTPD o LQ)

De la Tabla VII A Calidad lmite (en % de elementos defectuosos) para la que Pa = 5 % (para
inspeccin normal muestreo simple) pgina 30
Letra Tamao de AQL
clave la muestra 1 %
K

125

6,2

Tambin podemos usar la Tabla X-K-1 de la pgina 52 y nos dar el mismo valor.
Por lo tanto el % de unidades defectuosas toleradas por la empresa (LQ), para una Pa > 5% es del
6,2 %.

c) Graficar la curva OC el plan de nuestro determinado identificando los valores hallados.

Curva Caracterstica Plan de

Muestreo determinado
120,00
100,00

99,00

95,00

90,00

Pa

80,00

75,00

60,00
50,00
40,00
25,00

20,00

5,00

0,00
1

% Def

1,00
8

LQ = 6,2

d) Graficar la curva caracterstica OC ideal considerando una inspeccin 100%

Curva Caracterstica (OC) ideal considerando una inspeccin 100%
Pa
Acepta
100

Rechaza

1
AQL

% Def

e) explica que sucede si se detectan 2 unidades defectuosas.

Cuando se detectan 2 unidades defectuosas se rechaza el lote ya que para nuestro caso, en el caso ideal,
el mximo de defectos es 1.

f) suponiendo que se rechazaron 2 lotes de 5 consecutivos. Determinar el nuevo plan de muestreo.

Como se rechazan 2 lotes de 5 consecutivos, se implanta la inspeccin estricta (Nivel III) L
de la Tabla II B Planes de muestreo simple para inspeccin estricta (pgina 15) de la Norma IRAM
15.
Letra Tamao de
clave la muestra
L

200

AQL
1%
Ac Re
3 4

Por lo tanto el nuevo Plan de muestreo queda:

Tamao de la muestra (n) = 200
N de aceptacin (Ac) = 3
N de Rechazo (Re) = 4

g) determinar el plan de muestreo doble, explicaron que casos se acepta o rechaza el lote. Considerar un
nivel de inspeccin normal ( niv II).
U
Usando Tabla III (pg. 17 Norma IRAM 15) Planes de muestreo doble para inspeccin normal.

Medida Medida de AQL

de la la muestra 1 %
muestra acumulada Ac Re
80
K 1
80
1 4
80
K 2
160
4 5

Letra
clave

 Si el nmero de unidades defectuosas en la 1 muestra es <= 1, se acepta el lote.

Si el nmero de unidades defectuosas en la 1 muestra es >= 4, se rechaza el lote.
Si el nmero de unidades defectuosas en la 1 muestra est comprendido entre 1 y 4, se tomar del
lote la 2 muestra establecida, la que se inspeccionar.
Se acumularn los nmeros de unidades defectuosas encontrados en cada muestra.
Si el N acumulado de unidades defectuosas en el total inspeccionado (160) es <= 4, el lote se
acepta.
Si el N acumulado de unidades defectuosas en el total inspeccionado (160) es >= 5, el lote se
rechaza.