Vous êtes sur la page 1sur 36

RAPPORT DE

STAGE
Ralisation dun programme de test
sur le Voltech AT 3600
Ralis par :
BOUFROU Soufiane
BOUABIDI Amine
Encadr par :
Mme. Siham
HMAREZZOURHBA

EMI

2014/2015
CLO
ELECTRONIQUE

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Remerciements :

Nous tenons exprimer notre gratitude Mme Siham HMAREZZOURHBA, notre tuteur
de stage la socit CLO-Electronique, pour ses directives prcieuses, pour le temps quelle
nous a consacrs, la confiance quelle nous a accords le long de ce stage et pour les conseils
concernant les missions voques dans ce rapport.

Cest aussi avec bienveillance que nous adressons toutes nos reconnaissances au
Directeur gnral Mr Abdelkader Haitof, qui a bien voulu nous accueillir au sein de sa socit
et nous faire bnficier des comptences du personnel de Clo-Electronique.

Nous saisissons loccasion pour prsenter notre profonde gratitude aux membres du
groupe de travail duquel nous faisions partie pendant notre stage ainsi que tout son
personnel pour leur gnrosit considrable et leur collaboration et surtout pour
lexprience enrichissante et pleine dintrt quils nous ont faits vivre pendant ces six
semaines.

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Sommaire :
12345-

Prsentation de CLO Electronique


Prsentation du Voltech AT 3600
Prsentation du logiciel Voltech AT Editor
Raliser un programme de test graphiquement
Fichiers de test ATP
i) Structure dun fichier ATP
ii) Ecrire un programme de test

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

1- Prsentation de CLO Electronique :


CLO ELECTRONIQUE est une SARL ayant un capital de 1.000.000
EUROS spcialis dans la conception, ralisation et tests des
composants et circuits lectroniques. Elle comporte deux siges
situs en France et au Maroc (Knitra).
Depuis prs de 10 ans, CLO ELECTRONIQUE conoit et ralise en soustraitance des ensembles et des sous-ensembles lectroniques, en
proposant une large palette de services: conception, prototypage,
industrialisation, fabrication, et test, afin de dvelopper des cartes
lectronique sur-mesure pour des applications spcifiques pour le
compte des clients de divers secteurs.
Les ateliers de montage, de cblage, et de test permettent une
grande souplesse pour activer la fabrication de cartes et sousensembles lectroniques. Et les quipements de production et de
contrle disponibles offrent une grande ractivit en tant que soustraitant en lectronique.
Historique :
1927 : Cration de CLO Construction Radiolectrique.
1973 : CLO ELECTRONIQUE devient une SA au capital de 100 KF.
1988 : Engagement de la socit dans la Recherche &
Dveloppement des connecteurs audio.
1994 : Reprise de la socit Caretti (Bobinage).

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

2005 : Rachat de CLO Electronique par le Groupe ACJH


Certification ISO 9001 version 2000.
2006 : Installation du Site Marocain.
Politique qualit :
CLO Electronique existe depuis 1927 et dveloppe pour des secteurs
dactivits fortes contraintes, des produits et services utilisant ses
savoir-faire techniques dlectromagntisme, de micro mcanique et
de plasturgie.
Aujourdhui pour rester comptitive , une socit doit satisfaire en
tout point ses clients en leur offrant la meilleure qualit de produits
dans les dlais les plus courts, les meilleurs prix et le meilleur service.
Sur un march exigeant avec une comptitivit mondiale et de
chaque instant, nos clients attendent de nous :
- souplesse et ractivit,
- conformit des produits livrs,
- veille active afin de proposer des innovations dans notre
collaboration.
Attentive rpondre ces attentes, la direction a fix les axes
prioritaires de progrs pour satisfaire les clients de lentreprise :
- la conformit du produit livr,
- le respect du dlai,
- la matrise des processus permettant lamlioration de la
productivit et la diminution des non conformits.

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

- rester un niveau technologique rpondant aux attentes


du client.

Produits :
Cordons multi branches, Cordons droits, Transformateurs
dalimentation, Transformateurs de mesures, Transformateurs
dintensit, Transformateurs dimpdance BF/HF, Bobines lectroaimants, Bobinages thermo-adhrents, Bobinages toriques, Selfs.
Savoir-Faire :
MATRISE DE LA CONCEPTION :
Etude de produits, Etude de connecteurs filtrs.
MATRISE DES PROCESSUS DE CONCEPTION ET DE DEVELOPPEMENT :
Analyse de la valeur, Analyse fonctionnelle, AMDEC Produit.
DESCRIPTIF DE LA PRESTATION :
Participation et laboration des cahiers des charges, tude de produit
dans le respect du cahier de charge, Identification et rsolution des
points bloquants, Finalisation des dessins par une tude sur DAO 2D
AUTOCAD ou CAO 3D, Ralisation de prototypes volumiques et
prototypes fonctionnels.
CONTRLE QUALIT :
Matrise du processus de fabrication, Traabilit, Exigence de qualit
et de dlais.
Moyens de production :

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Machines bobiner linaires automatises

Machine de bobinage torique :

Etuve programmable :

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Poste de collage automatique :

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Presses Pneumatiques pour sertissage :

Certifications :
CLO Electronique est certifie ISO 9001 version 2008 depuis mai 2009
par l'organisme SGS, ET Son sige au Maroc est certifi depuis Juin
2014 par L'AFAQ.

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

2- Prsentation du Voltech AT 3600 :


L'AT3600 est le plus complet testeur de composants. Il intgre la trs
grande majorit des tests de composants inductifs : continuit,
rsistance, inductance, capacit, impdance, rapport du nombre de
tours, polarit, rsistance d'isolement, inductance de fuite, facteur
qualit, taux de rjection... L'AT3600 permet galement de faire les
tests de rigidit dilectrique alternative et continue. LAT3600 a une
prcision moyenne de 0.05%, une vitesse d'excution de 10 tests
diffrents par seconde et une plage de frquence allant de 20Hz
3MHz.

Figure 1 : Voltech AT 3600

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Le Voltech AT 3600 peut se connecter un ordinateur quip du


logiciel Voltech AT Editor, qui permet de dessiner les schmas et
aussi dcrire les programmes de test afin de les envoyer au Voltech
pour effectuer ces tests sur les composants. Le Voltech peut aussi
tre li un serveur qui permet de grer les rsultats des tests
provenant de diffrentes units de test.

Figure 2 : Installation typique

Le Voltech AT 3600 peut effectuer plusieurs tests parmi lesquels on


peut citer :
- Continuit

10

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Rsistance
Inductance (srie ou parallle)
Rsistance quivalente
Inductance de fuite
Rapport de transformation
Tension secondaire ouvert

11

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

3- Prsentation du logiciel Voltech AT


Editor :

Linterface du logiciel est compose de 4 parties :


Le menu :

12

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Contient les rubriques essentielles pour llaboration dun schma et


programme de test.

Fentre du schma :

Cest dans cette partie du logiciel quon dessine le schma du


composant tester.
Les tests :

13

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Cette rubrique contient les diffrents tests disponibles et quon peut


utiliser dans notre programme de test.
Liste des programmes de test :

Contient les diffrents tests quon a effectus.

14

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

4- Crer un programme de test


graphiquement :
Le logiciel Voltech AT Editor permet de crer la configuration dun
transformateur sous forme de simple schma visible sur lcran. On
peut ajouter des bobinages (primaires et secondaires), des
connections Core ..
a) Ajout dun bobinage :
Pour ajouter un bobinage, on slectionne Add winding dans le
menu Schematic et on place le bobinage ou on veut sur lcran.
Une fois plac, on doit nommer les deux bornes du bobinage :

Maintenant on doit lier notre bobinage aux nuds de test on


slectionnant une borne et on la reliant au numro de nuds
souhait :

15

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

On peut facilement supprimer un bobinage en le slectionnant et on


choisissant Delete winding dans le menu Schematic .

b) Cration du programme de test :


Avant de commencer gnrer le programme de test, on doit
dabord spcifier le type de fixation compatible avec le composant
quon veut tester. Pour faire ceci, on doit aller dans le menu
Program et Option , puis on doit spcifier lID de fixation
correspondant :

16

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Pour ajouter un nouveau test, on doit slectionner Edit dans le


menu Program :

La fentre contenant les diffrents tests apparait :

17

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Pour ajouter un test, on le slectionne de la liste prcdente. Par


exemple si on veut ajouter un test de rsistance, on double clic sur
Winding Resistance et on spcifie les paramtres du test :

18

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Lorsquon termine la cration du test, ce dernier apparait dans la liste


des programmes :

On peut facilement modifier un test on double cliquant sur celui


quon veut modifier dans la liste des programmes. Pour supprimer
dfinitivement un test, on le slectionne dans la liste des
programmes de test, puis on choisit Delete test dans le menu
Program .

19

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

5- Les fichiers de test ATP :


Les fichiers ATP sont utiliss pour dcrire le schma du composant
ainsi que le programme de test effectuer avec un langage
spcifique. Ces fichiers ont une extension .ATP et contiennent le nom
du composant, le nombre de ses bornes, leurs notations et les nuds
externes de test auxquels elles sont lies, et finalement la liste des
diffrents tests effectuer dans lordre dexcution
4-1

Structure dun fichier ATP :


.

Figure 3 : Structure d'un fichier ATP

20

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Un fichier ATP est constitu de huit parties :


Definition :
Elle contient un numro qui sert identifier le composant. Ex :
01,02..
Part :
Dans cette partie on doit crire le nom du composant sur lequel on
veut effectuer les tests. Le nom peut contenir des lettres (A-Z) et des
chiffre (0-9).
Fixture :
On doit inscrire dans cette rubrique lID de la fixation utilise pour
lier le composant tester aux nuds de test du Voltech.
Schematic :
Cest lune des partie principales composant un fichier ATP, elle
contient les informations sur lemplacement des bobinages ainsi que
les numros des bornes et des nuds auxquels elles sont lies.
Listing :
Cette rubrique contient tous les tests quon dsire effectuer sur le
composant.

4-2

Ecrire un programme de test :

Aprs avoir cr un fichier avec lextension ATP, on louvre avec


nimporte quel diteur de texte pour modifier son contenu (Ex : Bloc
note, Notepad +).

21

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

La premire information crie dans le fichier est LID du composant


quon doit inscrire dans la rubrique [DEFINITION] du fichier de
test, on peut y crire nimporte quel nombre. Supposons quon veut
donner lID 01 notre composant :

Maintenant on doit donner un nom notre composant, ceci est fait


dans la partie [PART] :

La troisime information quon doit obligatoirement inscrire dans le


fichier ATP est lID de la fixation sur laquelle on monte le composant
tester :

Arriv cette tape, on commence raliser le schma du


composant tester :

Chaque ligne de code reprsente une borne dun bobinage, donc


chaque bobinage doit tre dfini par deux lignes de code. Raisonnons

22

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

pour linstant sur une seule ligne et la mme explication sera


applicable aux autres lignes :
Chaque ligne est compose de 5 lments spars par une virgule +
un espace.
1 : Le premier lment de la liste reprsente lID du
composant, donc pour un mme composant toute les lignes de
la partie schematic doivent contenir le mme nombre.
L (ou R ) : Indique la position du bobinage dans le
schma, sil sagit dun bobinage primaire, on doit crire L
pour Left (Gauche), et sil sagit dun bobinage secondaire, on
crit R pour Right (Droite).
1 : Cest un identifiant qui permet de dire au compilateur
que deux bornes (donc deux lignes de code) dcrivent le mme
bobinage. Donc chaque bobinage est reprsent par deux lignes
de codes qui ont le mme nombre.
2 : La quatrime partie dune ligne contient un identifiant de
la borne (ou nom).Cet identifiant peut tre un chiffre 0-9 ou
une lettre A-Z.
19 : La dernire partie de la ligne de code contient le
numro du nud de test externe auquel est lie cette borne.
Aprs avoir valid les donnes concernant le schma du composant,
on arrive la partie HEADER qui doit toujours contenir onze
zros : 00000000000 et la partie BINS quon doit laisser VIDE.

23

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Maintenant on arrive la partie la plus importante du fichier ATP,


celle du programme de test quon doit effectuer.

Figure 4 : Programme de test.


Avant de commencer expliquer chaque composante du code cidessus, on doit dabord prsenter les paramtres des diffrents tests
qui existent dans le Voltech AT Editor.
NB :
Pour tous les tests, il y a quatre faons pour entrer les limites :
% : Les valeurs entres sont des pourcentages positifs et
ngatifs par rapport la valeur nominale souhaite.
>< : Les limites sont des valeurs maximales et minimales.
> : La limite est une valeur minimale.
< : La limite est une valeur maximale.

a) Continuity :

24

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Le test de continuit permet de vrifier que le composant est bien


mont dans la fixation de test avec le Voltech AT 3600. Ce test vrifie
que chaque bobinage une rsistance infrieur une valeur entre
par lutilisateur (Si la rsistance mesur est trs grande cest quil y a
un circuit ouvert quelque part).

Figure 5 : Test de continuit


Pour programmer ce test, on entre la valeur maximale de rsistance.
Cette valeur va tre applique tous les bobinages du composant.
Code du test :

CTY : Le nom du test (Continuity)


X et 02.00 : Valeurs par dfaut quon doit toujours entrer.
1 2 : Les noms des bornes du bobinage primaire.
3 4 : Les noms des bornes du bobinage secondaire.
10.000k : Valeurs du paramtre de test.

b) Winding Resistance :

25

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Ce test permet de vrifier que la rsistance dun bobinage est


conforme avec les donnes du dossier de fabrication.

Figure 6 : Test de rsistance


Code du test :

R : Nom du test (Rsistance).


VN : Pour indiquer quil sagit dune valeur minimale et une valeur
maximale. ( Sil sagit dune valeur minimale seule on doit entrer
GN pour GREATER, sil sagit dune valeur maximale on doit entrer
LN pour LESSER.)

26

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

M : Indique le niveau dintgration (Temps de calcul). La valeur


par dfaut est MEDIUM , si on veut un calcul stable et prcis avec
un temps lev on slectionne LONG .
1, 2 : Reprsentent les numros des bornes du bobinage test.
0.0000 : La valeur de loffset, on la met toujours 0.0000.
150.00, 300.00 : Les paramtres de test (La valeur minimale et
maximale de la rsistance). Sil sagit dun test LN ou GN , on
va entrer une seule valeur.
********** : Dix toiles pour indiquer au compilateur que le test
est finie.

c) RLS OU RLP : Rsistance quivalente srie ou parallle.


Ce test est obtenu par la mesure de limpdance complexe. Une
tension AC est applique aux bornes du bobinage. La tension et le
courant aux bornes de ce dernier sont mesurs en utilisant lanalyse
harmonique. La tension mesure est ensuite divise par le courant
mesur pour obtenir limpdance complexe ce qui permet de calculer
la rsistance quivalente srie ou parallle.
- RLS : Rsistance quivalente srie :

27

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Code du test :

RLS : Le nom du test.


VVN : deux paramtres du test : maximal et minimal.
1.000 : Valeur de la tension de test (1v).
100.00 : Frquence de la tension (100Hz).
M : Intgration MEDIUM.
1, 2 : Bornes du bobinage.
0.0000 : Offset.
100.00m, 200.00m : Paramtres du test ( Le m veut dire que les
valeurs sont en MilliOhm).
********** : Fin du test.

28

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

NB : Pour le test RLP, les paramtres sont le mme sauf le nom


change : Au lieu de RLS, on met RLP.
d) LS ou LP : Inductance srie ou parallle :

Figure 7 : Test d'inductance


Code du test :

LS : Nom du test (Inductance srie).


Les autres paramtres sont les mmes que le test RLS. Le u dans
100.00u veut dire que la valeur est en MilliHenry.

e) QL : Facteur de qualit :

29

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Ce paramtre est calcul partir de limpdance complexe du


bobinage.

Figure 8 : QL test
Code du test :

QL : Nom du test.
Les autres paramtres sont les mmes que le test RLS et LS.
NB : si on veut utiliser un seul paramtre du test (Valeur maximale),
on utilise VLN au lieu de VVN .
f) LL : Inductance de fuite :
Linductance de fuite dun transformateur est teste en mesurant
linductance du bobinage primaire avec un ou plusieurs secondaires
en court-circuit.
30

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Figure 9 : Inductance de fuite


Code du programme :

LL : Nom du test.
VLN : Le paramtre du test est une valeur maximale.
100.00m : la tension applique au primaire est de 100 Millivolt.
1, 2 : Bornes du bobinage primaire.
3, 4 : Bornes du bobinage secondaire. 0.0000 : Offset.
100.00n : Paramtre du test : La valeur calcul doit tre infrieur
100 Nanohenry.
********** : Fin du test.

31

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

g) TR : Turns ratio ou rapport de transformation :


Le Voltech AT 3600 permet de vrifier le rapport de transformation
entre deux bobinages dun transformateur.
Pour mesurer ce rapport, un voltage est appliqu un bobinage que
lon appelle Bobinage nergis . Le voltage dans le (ou les)
bobinages secondaires est ensuite mesur par une analyse
harmonique, le rapport de transformation est donc mesur en
divisant la tension secondaire sur latension primaire.

Figure 10 : Rapport de transformation


Code du test :

32

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

TR : Nom du test.
PN : Type de paramtre : Valeur nominale + Pourcentage de
tolrance positif + pourcentage de tolrance ngatif.
1.0000 : Tension du test (1v).
100.00 : Frquence de la tension au primaire.
M : Intgration MEDIUM.
1,2 : Bobinage nergis.
1,2 : Bobinage primaire.
3,4 : Bobinage secondaire.
0.0000 : Valeur de loffset.
20.000 :50.000 : Rapport de transformation nominale.
-10.00 : Pourcentage de tolrance ngatif.
05.00 : Pourcentage de tolrance positif.
X : Pour indiquer quon ne veut pas effectuer un test de polarit.

NB : On peut entrer comme paramtre les nombres de spires au


primaire et secondaire plus ou moins quelques spires ( Ex 20 spires +2). Le code sera comme suit :

Tous les paramtres restent les mmes que le test prcdant, avec
quelques changements :

33

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

TN : Turns mode : Pour dire au compilateur quon va entrer une


valeur nominale plus ou moins une tolrance.
2.0000 : Spires au primaire.
75.000m : +- 0.75.
5.0000 : Spires au secondaire.
187.50m : +-0.187

34

Ecole Mohammadia DIngnieurs

CLO ELECTRONIQUE

Conclusion :
On aimera bien dire que ce stage nous a offert la possibilit de
comprendre beaucoup de choses intressantes, ct de la partie
pratique qui nous a permis dappliquer toutes les connaissances
thoriques que nous avons acquise pendant mon parcours
universitaire. Il nous a galement permis de :

Savoir appliquer les notions thoriques en pratique.


Dvelopper mes qualits professionnelles.
Sadapter la vie active de loffice.
Echanger les connaissances (agents-stagiaire).

35

Vous aimerez peut-être aussi