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guardaron antes.
Con el fin de reducir la prdida de tiempo durante la comparacin, el software suena diferente
en los grficos compatibles e incompatibles. De esta manera, los usuarios hacen la comparacin
de una forma rpida y sin necesidad de mirar la pantalla. Los usuarios pueden comparar las
placas electrnicas con 3 pasos diferentes al mismo tiempo.
Adems de estas caractersticas bsicas, el Dispositivo de Prueba FADOS9F1 VI tambin se
puede utilizar como Osciloscopio de Doble Canal, Generador de Onda Cuadrada y Salida de
Tensin Analgica. Con Seal de Salida de Onda Cuadrada, el seal se aplica a las placas
electrnicas y otros canales de seal de salida se visualizan en la pantalla del osciloscopio.
Los tcnicos, ingenieros y los que reparan placas electrnicas como un pasatiempo consideran
el grfico VI como un mtodo eficaz para encontrar las fallas en placas electrnicas y para
repararlas. El mtodo de comparacin de grficos VI fcilmente proporciona informacin para el
usuario a fin de encontrar el rea y componente defectuoso. Despus de ganar algo de
experiencia en los grficos VI, usted ver que FADOS9F1 es un dispositivo indispensable de
deteccin de fallas. Es muy fcil de usar y las fallas pueden detectarse sin comparacin y slo
mirando a los grficos.
Al probar las placas electrnicas usando FADOS9F1 no aplique energa a las placas electrnicas
y descargue los condensadores de alta tensin en las placas. El dispositivo FADOS9F1 no causa
ningn dao a las placas electrnicas.
NOTA: Imgenes en el manual de instrucciones pertenecen al Programa en Ingls.
reas de Uso
ECU (unidad de control electrnico) placas electrnicas de automoviles, accionadores de
motores servo-step, placas de dispositivos electrnicos mdicos y militares, circuitos de
porttiles, sobremesas y monitores, placas electrnicas de televisin y radio, placas electrnicas
de electrnica automotriz, textil y dems mquinas de fabricacin, telfonos celulares, etc
(todas las placas electrnicas)
Prueba de Componentes Electrnicos: Resistores condensadores, bobinas, diodos (diodos
de uso general, Zener, diodos de alta tensin, etc) Transistores (NPN, PNP, JFET, MOSFET,
etc), SCRs, TRIACs, Optoacopladores, Circuitos Integrados (digitales, analgicas) etc. (pruebas
para todos los componentes electrnicos.)
Caractersticas nicas
Fuente de Alimentacin DC Programable, Sonda de Medicin de Temperatura (Prueba de
Temperatura), dibujo del circuito equivalente del punto tocado, visualizacin de los valores
materiales son caractersticas nicas que no integradas en otros productos. Por ejemplo, si hay
una resistencia en paralelo a un condensador muestra el diagrama de circuito en paralelo y los
valores de la ambas simultneamente para el usuario.
''Fuente de Alimentacin DC Programable''; con su potencia de salida ajustable entre 0-16V and
20-1500mA se forma el grfico DC Voltaje/Corriente de las placas electrnicas.
''Sonda de Medicin de Temperatura a Distancia por (IR) Infrarrojos'' este sensor se utiliza para
detectar los componentes ms calientes como resultado de un exceso de corriente en los
circuitos electrnicos.
SEGURIDAD
1- Los usuarios deben cumplir con las siguientes reglas de uso.
2- Chasis de la placa electrnica debe ser aislado y conectado a tierra. El punto para
conectar el chasis de la sonda debe ser el mismo que la conexin a tierra de su
ordenador y no debe haber ninguna diferencia de potencial. Especialmente en el entorno
de la fbrica, en algunas partes, porque la conexin de tierra est conectado al neutro
sin conexin a tierra, puntos de tierra en diferentes tomas pueden diferir potencialmente.
En este caso, la corriente fluye por chasis del dispositivo y el ordenador. Si la corriente es
baja esto reduce la calidad de los grficos. Y la corriente alta puede daar el dispositivo
u ordenador. Si no est seguro de la conexin a tierra antes de insertar el chasis, le
aconsejamos que compruebe el potencial del punto con la sonda de nivel 10X.
3- Funcin de osciloscopio, si la punta (sonda) se ajusta a 1X mide 5V, si se ajusta a 1X
mide hasta 50V. No se recomienda a utilizar para la medicin de circuito de alto voltaje.
4- FADOS9F1 prueba las placas electrnicas sin dar energa. Para esto antes de probar,
usted necesita para descargar los condensadores de alta tensin en las placas
electrnicas.
5- Los usuarios de este dispositivo deben tener conocimiento y experiencia para reparar las
placas electrnicas. Por lo tanto, durante las pruebas por favor no toque lugares de alta
tensin y no aislados. Y no pruebe los condensadores de alta tensin antes descargarlos.
4
Nota 1: Estas tolerancias son vlidas si la curva de la resistencia hace un ngulo de 10-80
grados al eje horizontal. Si la curva de resistencia est cerca al eje horizontal seleccione el nivel
''Baja Corriente'' y si la curva de resistencia est cerca al eje vertical seleccione el nivel ''Media
Corriente'' a fin de reducir la tasa de error.
Nota 2: Estas tolerancias son vlidas si el ratio ancho/largo de condensador elipse es no menos
de 1/4. En el caso de que este ratio es ms pequeo y el ratio es largo y delgado, cambiando el
nivel de corriente y/o frecuencia se debe seleccionar el nivel adecuado al material.
4- Tolerancia de medicin de voltaje del Osciloscopio: 0,5%.
PRODUCTO Y SU CONTENIDO
1 FADOS9F1
2 Punta de Osciloscopio
1 Cable USB
1 Cable DC
1 Adaptador de Corriente
1 FADOS9F1 Bolso
Prueba de Resistor
Frecuencias de prueba
: 2 Hz
Frecuencia Baja2
: 4 Hz
Frecuencia Baja1
: 12 Hz
: 355.4 Hz
: 2 (Canal 1 y Canal 2)
: Manual y Automtico. Los pasos de seleccin
automtica: Voltaje, corriente y frecuencia.
1: Diagrama de circuito equivalente
2: Medicin de Resistor,Condensador, Diodo
3: Registrar los datos y comparar con los datos registrados.
4:Visualizacin simultnea de 3 grficos en diferentes ajustes.
C - ESPECIFICACIONES DE OSCILOSCOPIO PC
Frecuencia de muestreo
: 400 K / S
Voltaje de Entrada
: Sonda 1X: 12 V Sonda 10X: 100 V
Canal / ADC
: 2 Canal / 12 Bit
Sensibilidad
: 2,5 mV
Velocidad de Imagen
: 0.02 mS/div.100 mS/div
Memoria Instantanea
: 64 Kbyte
D - SALIDA DIGITAL y ANALGICA
Salida
: Canal 2
Voltaje de salida
: -12V+12V (ajustable)
Frecuencia (Digital)
: de 0.2KHz a 25
Conexin
: Las sondas (sondas) se pueden conectar a cualquier tipo de
tomas. Sonda anillada amarilla es siempre el Canal 1 y sonda
nillada azul es siempre el Canal 2. Sonda Crocodile es siempre
Com.
Dimensiones
: 122mm L x 113mm W x 29mm H
Peso
: 1100 gramos con todos los accesorios.
NDICE
Pgina
DESCRIPCIN DEL PRODUCTO FADOS7F1 DETECTOR DE FALLAS Y OSCILOSCOPIO ... 2
REAS DE USO .............................................................................................................................. 3
PRUEBA DE COMPONENTES ELECTRNCOS ........................................................................................... 3
CARACTERSTICAS NICAS ............................................................................................................... 4
SEGURIDAD ...........................................................................................................................4
RENDIMIENTO Y TOLERANCIA DE MEDICIN EN FADOS9F1 ...............................................5
PRODUCTO Y SU CONTENIDO ...............................................................................................6
FADOS9F1 ESPECIFICACIONES TCNICAS ...........................................................................7
FADOS9F1 DETECTOR DE FALLAS Y OSCILOSCOPIO ............................................................9
INSTALACIN INSTALACIN DEL CONTROLADOR ................................................................................ 11
CONECTAR PUNTAS DE PRUEBA ....................................................................................................... 12
INFORMACIN GENERAL DE USO ...................................................................................... 13
PRUEBA DE POTENCIA (ALIMENTACIN) Y TEMPERATURA IR ......................................... 15
PRUEBA DE POTENCIA (ALIMENTACIN) - GRFICA DE CORRIENTE VOLTAJE DC .......................................... 17
COMPARACIN DE GRFICA DE POTENCIA (ALIMENTACIN) DC VI CON GRFICAS DC VI DE LAS PLACAS ELECTRNICAS
DEFECTUOSAS ............................................................................................................................. 18
PRUEBA DE TEMPERATURA IR ........................................................................................... 20
REGISTRO DE LAS TEMPERATURAS DE COMPONENTES ............................................................................ 20
CONTROL DE TEMPERATURA DE LAS PLACAS ELECTRNICAS DEFECTUOSAS ................................................. 21
MICRO VOLTAJE .......................................................................................................................... 21
PRUEBA VI - CARACTERSTICAS DE LA PANTALLA DE DETECCIN DE FALLAS ................ 22
GRFICAS VI DE COMPONENTES PASIVOS R, L, C ............................................................. 24
GRFICA VI RESISTOR .................................................................................................................. 24
GRFICA VI CONDENSADOR............................................................................................................ 25
CONDENSADOR CONTROL DE CALIDAD Y FALLAS - PRUEBA DE CAPACIDAD Y MEDICIN
RC.....................................................................................................................................26
SEMICONDUCTORES ........................................................................................................... 27
GRFICA VI DE DIODO, DIODO ZENER .............................................................................................. 27
TRANSSTOR - TRAC - TRSTOR - FET - GRFCA VI IGBT .................................................................. 28
PRUEBA DE CIRCUITOS INTEGRADOS (ICs CIRCUITOS INTEGRADOS SMD)................. 31
REGISTRO EN LA MEMORIA DEL CIRCUITO ELECTRNICO Y COMPARACIN DE LA
MEMORIA............................................................................................................................ 32
REGISTRO EN LA MEMORIA DE LOS PUNTOS DE PRUEBA CON FOTOS .......................................................... 33
PRUEBA COMPARATIVA DE LOS MATERIALES EN CIRCUITOS ELECTRNICOS ................ 34
3G - VISUALIZACIN DE GRFICOS EN 3 CONFIGURACIONES DIFERENTES ................... 39
OSCILOSCOPIO - FUNCIONES DEL PROGRAMA ................................................................. 40
CUESTIONES DEBER CONSIDERARSE RECOMENDACIONES ......................................... 41
COBERTURA DE GARANTIA Y CONDICIONES ..................................................................... 42
Figura 2: FADOS9F1
FADOS9F1 9 Funciones:
1. Deteccin de Fallas Doble Canal (Grfico VI)
Comparacin de la tarjeta electrnica en pleno funcionamiento y defectuosa sin dar
energa
2.
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valores entre 6 C y 10 C.
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(Datos de Energa)" el archivo guardado se abre haciendo clic en el botn Open (Abrir).
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PRUEBA DE TEMPERATURA IR
Registro de las Temperaturas de Componentes
Conecte los cables de DC a la alimentacin de las placas electrnicas. Pulsando el botn de
"Power On (con energa)" active la placa. "Timer (Temporizador)" cuenta atrs de 90 segundos
a 0. Luego haga clic en el botn "Record (Guardar)" y abra la foto del circuito preinstalado.
Sensor IR se dirige a un punto en la mesa y se hace clic en el botn "Temp Zero (Reajuste de
la Temperatura)". Con sensor IR temperatura de los componentes se puede medir.
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Channel (Canal): Se utiliza para la seleccin de canales. Con el botn del canal se
puede visualizar slo 1er canal, slo 2do canal o ambos al mismo tiempo.
Automatic (Automatico): Cuando se selecciona esta opcin, de acuerdo con las
caractersticas del punto tocado, los valores ms adecuados de niveles de voltaje,
frecuencia y corriente se determinan automticamente. Haga clic de nuevo en el botn
Automatico con el fin de detener esta funcin.
Nivel de Voltaje: Por esta opcin se puede seleccionar manualmente los niveles 1
V, 2 V, 6 V, 12 V, 24 V que aplicaremos a la placa. En 1 prueba slo 1 nivel de
tensin puede ser aplicable.
Nivel de Frecuencia: Por esta opcin se puede seleccionar manualmente los niveles
de Frecuencia Muy Baja, Frecuencia Baja2, Frecuencia Baja1, Frecuencia de Prueba y
Frecuencia Alta que aplicaremos a la placa. En 1 prueba slo 1 nivel de frecuencia
puede ser aplicable.
Nivel de Corriente: Por esta opcin se puede seleccionar manualmente los niveles de
Corriente Baja, Corriente Media1, Corriente Media2, Corriente Alta que aplicaremos a la
placa. En 1 prueba slo 1 nivel de corriente puede ser aplicable.
Comparison (Comparacin): Por esta opcin, podemos comparar las sondas de los
canales y los puntos de las placas defectuosas y en pleno funcionamiento.
Capacitor Test (Prueba de Capacidad): Por esta opcin podemos ver la calidad y
capacidad de los condensadores.
TTT FET IGBT: Por esta opcin podemos determinar el tipo de los semiconductores
tales como TTT FET IGBT etc
Recording (Guardar): Guarda creando formas de archivo o abre los archivos ya
guardados.
Grf: Al seleccionar grficos en 3 configuraciones diferentes (Voltaje - Frecuencia Corriente) permite el cambio rpido en cualquier momento.
1G, 2G, 3G: Las grficas ajustadas en 1, 2 o 3 configuraciones diferentes se pueden
visualizar simultneamente en la pantalla.
Guardar: Guarda creando formas de archivo o abre los archivos ya guardados.
Punto de Prueba: Indica el nmero de serie del punto de prueba.
Punto: Indica el nombre o cdigo del punto de prueba.
: Abre el punto de prueba anterior.
: Abre el siguiente punto de prueba.
Referencia: Al guardar los datos a la memoria, los datos
(referencias) en Canal 1 se guardan en la memoria.
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Grfica VI Condensador
Componentes capaces de almacenar energa descargan corriente y tensin en el intervalo de
desplazamiento de fase. Esta situacin genera forma circular o elptica en la pantalla. En la
figura 15-16 se puede ver el grfico voltaje/corriente (VI) para condensadores, diagrama de
circuito equivalente y valores de ellos en la pantalla. Si el valor del condensador es inferior a 10
nF, seleccione el nivel de Alta Frecuencia. Pruebe los condensadores de bajo valor en nivel de
Corriente Bajo. Grfica VI de condensadores de valor medio est en la forma de elipse. Grfica
VI de condensadores de alto valor se muestra en el eje vertical. Pruebe los condensadores de
alto valor en alta corriente. Si el valor del condensador es demasiado alto, reduzca la
frecuencia.
SEMICONDUCTORES
Grfica VI de Diodo, Diodo Zener
Conforme con las tendencias diodo empieza a mostrar resistencia baja y el voltaje se cae a
aproximadamente 0.4V - 0.6V. Esto genera una seal en forma de lnea vertical cerca del eje Y.
Un diodo zener, en la tensin inferior a la tensin de Zener muestra la misma seal con un
diodo ordinario. Si la tendencia inversa sobrepasa la tensin de Zener aparece la seal de baja
resistencia. Figura 21 indica las seales del diodo Zener.
Si el diodo y resistor no estn conectados en serie, despus de la transmisin, grfico forma un
ngulo recto respecto al eje vertical.
Figura 20: Diodos y Diodos en Serie - Grfica VI Resistor, Diagrama de Circuito Equivalente
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Figura 21: Grfica VI Diodo (Canal1), Grfica VI Diodo Zener (Canal2), Diagrama de Circuito
Equivalente
Transistor - Triac - Tiristor - FET - Grfica VI IGBT
Transistor se compone de conexin (combinacin) de dos semi-conductor. Estn en orden
secuencial. (Uno de ellos est entre la base y el colector y el otro est entre la base y el
emisor). Una de las sondas muestra la seal de disparo y la otra muestra la transmisin. Si se
completa el proceso de transmisin, haga clic en la opcin T.T.T FET IGTB del men de
especificaciones de prueba, as, el software detectar el tipo del transistor como tipo N o tipo P.
La figura 22 muestra las seales tpicas de los transistores NPN y la figura 23 muestra las
seales tpicas de los transistores PNP. (Cuando colector y el emisor es de material de tipo N y
la base es de material tipo P.) Que no existe fuga en esa zona (exactamente horizontal)
asegura la integridad del material.
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tipo P FET.
Triac, Tiristor y IGBTs son probados de la misma manera.
MOSFET son transistores de efecto de campo. Pruebas de Gate - drain y gate - source
normalmente genera una seal de circuito abierto. Sin embargo, algunos MOSFETs tienen un
diodo de proteccin entre la puerta y la fuente. En tales casos la seal de puerta - fuente ser
como la seal de un diodo Zener. Como FET, la transmisin de source - drain se controla por la
tensin de puerta - fuente. Por otro lado, MOSFETs se controlan con polaridad normal e inversa
de la conexin de gate - source transmisin.
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Nota: Los puntos de prueba de los circuitos electrnicos slo se pueden guardar con el canal
1. En el Men de Registro, abriendo los puntos de prueba guardados como referencia al canal
1, puede hacer prueba de comparacin con los puntos del circuito defectuoso con el canal 2.
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