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1

Exercices : cartes de Shewhart


remarque : les donnes des exercices sont fournies en format Statistica (sta) et en format Excel (xls)
Consultez le site.

SPC 1
donnes : SPC-1-inspection.sta
SPC-1-inspection.xls
Le nombre d'units non conformes X un poste d'inspection pour des lots de 150 units
est prsent dans le tableau selon l'ordre temporel de la production (lignes)
temps
X

10

11

10

14

13

10

10

10

14

13

10

14

12

14

10

15

10

16

11

13

13

13

13

12

10

10

10

14

12

17

10

11

(a) Construire les 4 cartes suivantes: carte p, carte np, carte c, carte XmR
(b) Interprter, comparer et choisir les cartes les plus appropries.
SPC 2
donnes : SPC-2-pression.sta
SPC-2-pression.xls
La pression d'un rservoir d'eau servant au refroidissement d'un procd est surveille
d'une manire continue. La pression X est enregistre sur du papier graphique enroul
sur un cylindre circulaire. Priodiquement, le papier graphique circulaire est chang et
les donnes sont places en fichier. Personne ne savait quoi faire avec ces donnes. Un
ingnieur qui venait de suivre un cours sur le contrle statistique des procds dcida
de construire une carte Xbar et R. Le tableau prsente les valeurs des 5 premires
heures chaque jour couvrant la priode du l er dcembre au 13 janvier.
date
1 dc.
2 dc.
3 dc.
4 dc.
7 dc.
8 dc.
9 dc.
10 dc.
11 dc.
14 dc.
15 dc.
16 dc.

60
60
61
63
57
56
58
58
56
57
64
64

pression X
59 54 57
59 56 63
55 56 61
60 57 59
58 54 59
58 51 59
50 51 52
53 52 58
62 53 59
58 58 58
64 53 54
61 66 48

58
59
58
61
61
61
66
56
60
60
60
51

date
17 dc.
18 dc.
21 dc.
22 dc.
4 janv.
5 janv.
6 janv.
7 janv.
8 janv.
11 janv.
12 janv.
13 janv.

55
58
70
70
55
52
44
57
59
62
58
52

pression X
55 55 52
66 60 62
69 70 70
70 70 61
51 44 53
58 48 49
46 51 46
58 46 46
65 52 56
57 56 60
53 43 43
63 48 54

58
61
70
71
58
52
46
56
52
58
62
54

(a) Tracez 2 graphiques : celui de la moyenne quotidienne Xbar et celui de ltendue R.


remarque : ne pas mettre et calculer les limites de contrle statistiques sur les
graphiques. Pouvez vous interprter la variabilit (contrle / non contrle) des points?

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

(b) L'ingnieur dcide de prendre les donnes des 12 premiers jours pour calculer les
limites de contrle des cartes Xbar et R et placer toutes les donnes (24 jours) sur
les cartes. Interprter les cartes.
(c) Refaire (b) mais employer toutes les donnes pour calculer les limites de contrle.
Interprter les cartes.
(d) Comparer linterprtation (a) avec celle de (c).
SPC 3

donnes : SPC-3-liquide.sta

SPC-3-liquide.xls

Un produit liquide est fabriqu en lot ( batch ). Puisque chaque lot est logiquement
homogne, chaque lot est caractris par une seule valeur de test. Les 15 dernires
observations (jours) sont dans (l'ordre :
35, 39, 38, 42, 37, 37, 39, 37, 37, 40, 39, 39, 38, 42, 36
(a) Tracez une carte XmR. Interprter la carte.
(b)

Les 2 prochaines observations (jour 16 et jour 17) sont 34 et 44.


Est-ce que ces valeurs sont en contrle si on les compare aux 15 premires?

SPC 4

donnes : SPC-4-silice.sta

SPC-3-silice.xls

Les donnes du tableau reprsentent 99 mesures de silice dans une fonderie durant
33 jours conscutifs.
jour

mesure X

jour

mesure X

144

150

180

18

128

113

104

193

210

225

19

113

122

108

235

233

228

20

135

145

158

198

190

178

21

133

125

112

168

137

121

22

105

95

63

116

85

65

23

72

97

112

88

111

120

24

126

132

144

138

160

179

25

156

163

170

200

245

248

26

181

180

202

10

211

201

155

27

250

205

175

11

145

102

83

28

157

148

140

12

80

101

106

29

157

139

121

13

95

90

107

30

131

125

111

14

127

142

159

31

118

115

92

15

167

178

199

32

99

79

111

16

181

173

163

33

127

135

130

17

158

147

134

(a) Tracez une carte Xbar et R. Interprter.


(b) Quelle source de variation est reprsente par la carte R?
(c) Quelle source de variation est reprsente par la carte Xbar?
(d) Tracez une carte XmR avec les moyennes journalires. Interprter
(e) Quelles seraient les limites naturelles de variation de la moyenne journalire?
IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 5

donnes : SPC-5-ohm.sta

SPC-5-ohm.xls.

En 1931, W.A.Shewhart publiait la premire monographie portant sur le contrle


statistique de la qualit. Cette monographie jeta les bases scientifiques du contrle
statistique de la qualit. Les donnes de cet exercice proviennent de cet ouvrage intitul
"Economic Control of Quality of Manufactured Product" (table 2, page 20)
Rsistance lectrique (ohm) / 51 groupes de 4 mesures
gr

gr

gr

gr

10

11

12

13

5045

4290

3980

3300

5100

4635

4410

4725

4790

4110

4790

4740

4170

4350

4430

3925

3685

4635

4720

4065

4640

4845

4410

4340

5000

3850

4350

4485

3645

3463

5100

4810

4565

4640

4700

4180

4895

4895

4445

3975

4285

3760

5200

5450

4565

5190

4895

4600

4790

5750

4255

4650

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

4170

4175

2920

4090

4640

4215

4615

4700

4095

4445

4560

5000

4850

4255

4550

4375

5000

4335

4275

4735

4700

3940

4000

4700

4575

4850

4170

4450

4375

4335

5000

4275

4215

4700

3700

4845

4310

4700

4570

4375

2855

4355

5000

4615

5000

4700

4095

3650

5000

4310

4430

4570

27

28

29

30

31

32

33

34

35

36

37

38

39

4855

4100

4050

4430

3075

4425

4840

4700

4450

3635

4340

5000

4770

4160

4340

4050

4300

2965

4300

4310

4440

4450

3635

4340

4850

4500

4325

4575

4685

4690

4080

4430

4185

4850

4850

3635

3665

4775

4770

4125

3875

4685

4560

4080

4840

4570

4125

4450

3900

3775

4500

5150

40

41

42

43

44

45

46

47

48

49

50

51

4850

5000

5075

4925

5075

5600

4325

4500

4850

4625

4080

5150

4700

4700

5000

4775

4925

5075

4665

4765

4930

4425

3690

5250

5000

4500

4770

5075

5250

4450

4615

4500

4700

4135

5050

5000

5000

4840

4570

4925

4915

4215

4615

4500

4890

4190

4625

5000

(a) La moyenne des tendues R est 666.08 Quelles sont les limites de contrle pour ltendue R?
(b) Est-ce que certaines tendues excdent la limite de contrle suprieure?
(c) La grande moyenne (moyenne des moyennes) est 4503.25. Calculer les limites de contrle
pour les moyennes Xbar.
(d) Comparer ces limites de la carte Xbar et de la carte R avec celles que lon obtiendrait en
avec le logiciel Statistica.
(e) Calculer et tracer des limites de contrle errones de la carte Xbar avec en utilisant
l'cart type

s X = 469.99

des 204 donnes individuelles.

(f)) Calculez et tracez des limites de contrle de contrle errones de la carte Xbar en
utilisant l'cart type

s Xbar = 355.02

des 51 moyennes Xbar

(g) Laquelle des cartes (d) ( e) - (f ) est la plus sensible au manque de contrle dans
ces donnes?
IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 6

donnes : SPC-6-ohm.sta

SPC-6-ohm.xls

L'uniformit de l'paisseur d'une pice cuite haute temprature est une caractristique
juge critique car elle intervient directement dans les oprations subsquentes. Des
mesures dpaisseur sont disponibles pour 10 pices cuites dans une mme cavit et avec
un mme lot de compos de matire. Lpaisseur est mesure en 8 positions (P1, P2,,
P8) sur la pice telles que montres sur la figure. Les positions P1, P2, P3 correspondent
une extrmit de la cavit et les positions P6, P7, P8 sont lautre extrmit de la cavit.

. P1

. P4

. P6

. P2

. P5

. P7

. P3

. P8
Tableau : donnes d'paisseur
position

pice

P1

P2

P3

P4

P5

P6

P7

P8

11

11

12

15

12

15

12

14

11

12

12

14

12

19

14

14

09

13

14

10

14

15

13

14

11

12

12

13

13

18

14

15

10

10

12

12

15

13

12

13

10

10

12

10

13

16

12

13

11

10

12

13

11

16

14

14

11

12

13

14

15

16

14

15

10

11

13

13

12

16

13

15

10

10

11

12

15

14

15

13

14

(a) Construire une carte de contrle pour rpondre la question : y a t-il une diffrence
significative entre les paisseurs moyennes aux extrmits de la pice?
(b) Quelle est la rponse la question (a)?
(c) Comment organiser les donnes pour comparer l'paisseur moyenne chacune des
8 positions?

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 7
donnes : SPC-7-imperfections.sta
SPC-7-imperfections.xls
On observe des imperfections de type trou d'pingle la surface d'un acier. chaque heure,
une surface de 300 cm2 est inspecte et on compte le nombre d'imperfection qui excdent
une aire de 0.001 cm2. Les 20 premires observations sont :
0

0 2 3 2 1 0 1 1 2 1

4 3 2

0 1

0 1

(a) Quelle est l'aire d'opportunit du dfaut ?


(b) Est-ce que ces donnes satisfont les hypothses dun modle de Poisson?
(c) Calculez une carte de contrle de type C pour le nombre d'imperfections.
(d) Calculez une carte XmR.
(e) Est-ce que ces deux cartes proposent des interprtations diffrentes des donnes?
SPC 8
donnes : SPC-8-billes.sta
SPC-8-billes.xls
Les donnes reprsentent les moyennes Xbar et les tendues R de 24 chantillons de
taille 5 pices prleves sur un procd de fabrication de roulement billes. La
caractristique qualit est le diamtre intrieur en cm mesure au millime de cm.
chantillon

Xbar

5.345

5.342

5.346

5.315

5.350

5.341

5.338

0.031

0.042

0.039

0.042

0.050

0.061

5.32
6
0.04
1

chantillon

10

11

12

13

14

15

16

Xbar

5.348

5.336

5.319

5.386

5.354

5.340

5.349

0.071

0.083

0.033

0.090

0.081

0.060

5.37
1
0.05
1

chantillon

17

18

19

20

21

22

23

24

Xbar

5.335

5.317

5.340

5.351

5.337

5.328

5.335

5.342

0.041

0.036

0.082

0.043

0.024

0.014

0.036

0.027

0.037

0.073

(a) Produire une carte Xbar et R. Le procd est-il en contrle statistique?


(b) liminez les points (groupes) hors contrle et rvisez les limites de contrle.

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 9
donnes : SPC-9-remplissage.sta
SPC-9-remplissage.xls
Le volume de remplissage d'une bouteille contenant du liquide est une caractristique
qualit importante qui doit tre contrle par le fabricant. Le volume est mesur en
plaant une jauge au niveau suprieur de la bouteille et en comparant la hauteur du
liquide par rapport une chelle code. Une valeur zro correspond la hauteur nominale
vise. Un chantillon de 10 bouteilles est prlev priodiquement en cours de production.
numro de

mesures

l'chantillon

10

2.5

0.5

2.0

-1.0

1.0

-1.0

0.5

1.5

0.5

-1.5

1.0

0.0

1.5

1.5

1.0

-1.0

0.0

1.0

-2.0

-1.5

-1.0

1.5

1.0

-1.0

1.0

1.5

1.0

0.5

0.0

0.0

0.5

1.0

-1.0

-0.5

-2.0

-1.0

-1.5

0.0

1.5

1.5

1.5

1.0

1.0

-1.0

0.0

-1.5

-1.0

-1.0

1.0

-1.0

-1.0

-1.0

-1.5

0.5

0.5

0.0

-1.0

-0.5

-0.5

-1.0

-1.5

-2.0

0.0

-1.5

1.5

-1.0

0.0

-2.0

0.5

0.0

0.0

0.0

0.0

-0.5

0.5

1.0

-0.5

-0.5

0.0

0.0

1.0

-2.0

1.0

-1.0

0.5

0.0

0.0

0.0

-1.0

-0.5

10

1.0

-1.0

-1.0

-1.0

0.0

1.5

0.0

1.0

0.0

0.0

11

0.0

-2.0

-0.5

0.0

-0.5

2.0

1.5

0.0

0.5

-1.0

12

-1.0

2.0

-0.5

0.5

-1.5

2.0

0.0

0.0

1.5

0.0

13

0.0

-2.0

-0.5

0.0

-0.5

2.0

1.5

0.0

0.5

-1.0

14

-0.5

3.5

0.0

-1.0

-1.5

-1.5

-1.0

-1.0

1.0

0.5

15

1.0

0.0

1.0

0.5

0.0

0.0

1.5

1.5

-1.5

-2.0

16

0.0

1.0

1.5

-1.5

0.5

0.5

-0.5

-0.5

1.0

2.0

(a) Produire une carte Xbar et R et rvisez les limites provisoires de contrle si ncessaire.
(b) Produisez une carte Xbar et S et rvisez les limites de contrle si ncessaire.
c) Comparez les cartes (a) et (b)

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 10
donnes : SPC-10-dimension.sta
SPC-10-dimension.xls
Les donnes reprsentent une mesure de dimension critique sur une pice machine.
Le groupe rationnel est form de 5 pices conscutives chantillonnes chaque heure.
chantillon
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13

1
2381
2493
2159
2002
2364
2304
2396
2653
2457
2082
2028
2204
2327

2
2108
1421
2356
2226
2262
2383
2279
2602
2018
2238
2120
1843
2151

3
2387
2050
2242
2302
2547
2491
2151
2304
2495
2171
2350
2128
2240

4
2384
2340
2550
2165
2271
2154
2437
2524
2133
2424
2350
2185
2239

5
2254
1923
2174
2185
2172
2350
2105
2651
2518
2509
2458
2193
2051

14
15
16
17
18
19
20

2386
2101
2452
2259
2448
2542
2310

2390
2146
2010
2353
2383
2484
2848

2319
2651
2546
2215
2196
2616
2822

2402
2138
2202
2479
2518
2500
2433

2411
2396
2173
2050
2427
2234
3128

21
22
23
24
25
26
27

2813
2744
2575
2843
2869
2721
2772

2932
3027
2542
2555
2802
2917
2689

2807
2684
2691
2662
2492
3034
2328

2691
2702
2422
2743
2752
2504
2436

2743
2548
2619
3163
2850
2963
2626

(a) Produire une carte de contrle Xbar et R avec les chantillons 1 20 seulement.
La carte est-elle en contrle?
(b) Ajouter les chantillons 21 27 sur la carte et comparer la variabilit de ces
chantillons avec les limites de contrle calcules en (a). Y a t-il prsence d'une
variabilit de cause assignable (spciale) ?
Que feriez vous si vous tiez la place de l'ingnieur de procd qui analyse ces cartes ?

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 11
Les donnes recueillies pour tablir une carte de contrle Xbar et R base sur 35 chantillons
de taille n = 7 ont donn :

Xbar = 7805

et

R = 1200

(a) Calculez les limites de contrle pour la carte Xbar et celle de R.


(b) Si on fait l'hypothse que les deux cartes sont en tat de contrle statistique,
quelle serait la moyenne du procd ainsi que son cart-type.
( c) Si on assume que la caractristique qualit du procd est normalement distribue,
quelle serait la proportion estime des units non conformes si les tolrances sont
230 35?
(d) Si on suppose que la valeur de l'cart type ne change pas mais qu'il est possible
d'ajuster le procd la valeur nominale vise, qu'elle serait la rduction obtenue
de la fraction des units non conformes?
SPC 12
Un procd est contrl avec une carte p de la fraction non conforme et l'exprience
passe montre que p = 0.07. Priodiquement un chantillon quotidien de pices, est
prlev pour construire la carte.
(a) Calculez la limite suprieure et la limite infrieure de contrle.
(b) Si le procd change p = 0.10, quelle est la probabilit de dtecter ce changement
sur le prochain chantillon?
(c) Quelle est la probabilit que le changement en (b) soit dtect au premier ou au
second chantillonnage?
SPC 13
Compltez le tableau suivant en calculant les valeurs de:
LC
: ligne centrale
UCL : limite de contrle suprieure
LCL : limite de contrle infrieure
carte
paramtres
LC
UCL
LCL
p

n = 100

np

p = 0.05
n = 150
p = 0.07

c
c=4
n=4
X

X = 15
R=6

XmR

X = 35
mR = 5.5

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

SPC 14
donnes : SPC-14-composant.sta
SPC-14-composant.xls
Un composant lectrique est conu pour oprer avec une efficacit maximale dans
l'intervalle de temprature entre 40 et 60 degrs Celsius. Le composant est muni de
deux systmes pour contrler la temprature: une chaufferette et un ventilateur. La
procdure de test pour le contrle de la qualit consiste produire, dans un
environnement contrl, des conditions relles d'opration. Les composants sont
amens une temprature initiale de 30oC et mis en opration. On enregistre deux
tempratures:
Tc temprature laquelle la chaufferette s'est mise en marche
Tv temprature laquelle le ventilateur s'est mis en opration
Tableau : donnes de test:s 20 groupes de 3 pices

groupe

Tc
37

2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Tv
51

Tc
37

42
41
34

60
45
64

39
33
39
41
35
42
39
42
37
35
40
38
40
41
33
33

Tv
62

Tc
39

Tc
61

33
34
42

60
61
54

33
41
39

58
59
59

47
61

37
41

51
47

38
42

53
47

51
44
46
48
55
46
58
49
53
52
62
52
46
62

40
41
41
39
39
38
37
39
34
41
33
33
35
40

45
47
55
51
51
61
52
58
57
48
57
44
57
48

40
39
40
42
42
36
35
35
42
38
35
41
41
41

49
55
50
61
52
61
56
65
61
44
55
49
52
58

(a) Produire une carte de contrle Xbar et R pour Tc et une autre pour Tv
Interprter les cartes.
(b) On suggre de construire une seule carte base sur la valeur moyenne TM
Tm = ( Tc + Tv ) / 2
Produire une carte pour Tm
(c) Discutez les avantages et les inconvnients de baser le contrle sur la carte Tm.

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

10

SPC 15
donnes : SPC-15-convoyerur.sta
SPC-15-convoyeur.xls
Un produit est empaquet dans des sacs une valeur nominale de 10 kg. Deux
machines A et B sont employes pour faire l'empaquetage. Les sacs remplis voyagent
sur un convoyeur selon la figure :

machine A

machine B

poste
dinspection
Les machines font le remplissage la mme cadence. On veut tablir une carte de
contrle pour le poids. On dcide dchantillonner 4 sacs l'heure au poste d'inspection
et de mesure de l'cart de poids Z = (poids rel - 10) * 1000
machines A et B
cart de poids = (poids - 10) * 1000
groupe

sac 1

sac 2

sac 3

sac 4

241

220

82

243

211

193

262

181

180

260

43

282

196

170

11

108

211

223

249

137

181

224

262

- 39

221

238

234

281

202

160

249

94

239

236

262

331

10

227

191

220

120

11

134

172

179

120

12

128

251

186

82

13

209

276

188

111

14

140

102

219

94

15

179

280

259

266

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

11

16

191

167

123

145

17

184

266

377

126

18

213

249

286

249

19

109

214

261

- 17

20

266

147

54

114

21

198

101

36

161

22

228

134

311

49

(a) Le procd de remplissage est-il en contrle?


(b) Quel pourcentage des sacs sont infrieurs 10 kilo c'est--dire Z < 0 ?
(c) On voudrait s'assurer que 99 % de tous les sacs devraient contenir un minimum
de 10 kilo. Devrait-on changer la procdure d'inspection ? Si oui, comment?
L'ingnieur qualit n'tait pas certain que la performance des deux machines tait
comparable. Il dcida de conduire une tude en identifiant la provenance, des sacs.
Les donnes de ltude de comparaison
Z = cart de poids = (poids - 10) * 1000
machine A

machine B

groupe

sac 1

sac 2

sac 3

sac 1

sac 2

sac 3

146

265

132

281

105

176

170

189

161

161

277

732

231

253

207

261

54

88

209

231

139

203

191

169

149

193

263

281

247

115

195

211

193

81

166

221

214

201

132

108

175

321

180

228

201

238

36

108

253

189

242

85

224

329

10

279

256

185

102

131

301

11

242

139

221

117

154

73

12

132

215

177

81

232

13

159

240

206

85

281

329

14

237

167

245

131

147

205

15

200

209

225

301

139

277

16

107

167

290

88

171

257

17

187

265

146

171

147

321

18

179

232

268

154

258

131

19

164

160

170

147

29

136

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

12

20

120

297

189

146

235

188

21

215

160

175

-106

208

261

22

136

253

164

218

-15

268

23

245

209

232

99

-36

77

24

172

192

237

191

131

131

25

215

190

175

273

102

238

(d) Comparez les deux machines l'aide de carte de contrle.


(e)

Formuler une recommandation.

SPC 16
donnes : SPC-16-intervention.sta
SPC-16-intervention.xls
Le but de cet exercice est d'analyser l'impact d'une intervention sur un procd et les
consquences sur la capacit de satisfaire des exigences. Posons :
Xt :

caractristique qualit mesure au temps t

= 69 valeur nominale vise


= 69 2.5 = (66.5, 71.5) = (LSI, LSS) :
t : moment de lchantillonnage

intervalle de spcification

1, 2, 3, ....

tableau 1 : donnes initiales Xt


t

10

Xt

67

69

68

71

69

69

70

68

68

70

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

Xt

69

72*

66*

69

68

68

70

67

65*

69

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

Xt

67

70

71

68

69

68

69

68

68

70

31

32

33

34

35

36

37

38

39

40

Xt

71

70

72*

69

68

66*

67

68

70

70

41

42

43

44

45

46

47

48

49

50

Xt

72*

69

71

68

69

69

71

70

69

71

51

52

53

54

55

56

57

58

59

60

Xt

71

66*

72*

68

70

74*

72*

71

71

68

61

62

63

64

65

66

67

68

69

70

Xt

67

69

68

66*

67

68

71

68

70

71

71

72

73

74

75

76

77

78

79

80

Xt

66*

71

68

71

70

67

69

67

67

72*

81

82

83

84

85

86

87

88

89

90

Xt

69

70

72*

69

64*

67

69

68

70

70

91

92

93

94

95

96

97

98

99

100

Xt

72*

67

68

68

67

71

71

69

70

70

remarque: les valeurs avec un astrisque sont l'extrieur de l'intervalle de spcification.


IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

13

P politique dintervention

ajustement

Dans un premier temps, l'oprateur dcide de faire une intervention sur le procd si la
valeur observe Xt se situe l'extrieur des limites de spcification : Xt 66

ou

Xt 72

Il effectue un ajustement sur les divers contrles du procd pour ajuster le tir vers la valeur
nominale 69. Ainsi, la premire valeur hors spcification observe est

X(t = 12) = 72.

Lajustement est proportionnel lcart entre la valeur hors contrle observe Xt et la valeur
nominale 69. Donc le premier ajustement est gal

A = 69 72 = - 3. Cet ajustement

sapplique la valeur suivante X (t =13) qui devient Y(t = 13) = X(t = 13) = 66 - 3 = 63. Cette
valeur est aussi hors spcification. Son cart par rapport la valeur nominale 69 est 69 63 =
6. Par la suite, lajustement appliqu est fait avec la somme cumulative des ajustements ce
point. Ainsi, lajustement cumulatif t = 14 est gal (-3) + 6 = 3. Cet ajustement cumulatif
sapplique et la prochaine valeur devient Y(t =14) = X(t = 14) + 3 = 69 + 3 = 72. Cette dernire
valeur est aussi hors spcification par un cart de (-3) relativement la valeur nominale mais
lajustement cumulatif est de + 3 + (-3) = 0. Donc la valeur de X t = 15 est inchange. Le
tableau 2 prsente les nouvelles valeurs, notes Yt, que lon aurait obtenues si on avait
appliqu cette politique dintervention et dajustement.
tableau 2 : donnes aprs intervention Yt
67

69

68

71

69

69

70

68

68

70

69

72*

63*

72*

68

68

70

67

65*

73*

67

70

71

68

69

68

69

68

68

70

71

70

72*

66*

68

66*

70

71

73*

69

71

68

70

67

68

68

70

69

68

70

70

65*

75*

65*

71

75*

67

66*

69

66

68

70

69

67

68

69

72*

66*

71

72*

64*

74*

66*

72*

68

65*

71

69

69

74*

66*

70

72*

66*

64*

72*

71

70

72*

69

71

66*

70

70

69

73*

69

67

68

68

remarque: les valeurs avec un astrisque sont l'extrieur de l'intervalle de spcification.


Analyse 1 :

politique de non intervention

Analyse des donnes de la srie originelle Xt (tableau 1)


(i) Placer ces donnes sur une carte de contrle approprie.
Calculer une estimation de l'cart type bas sur cette carte.
Le procd est-il stable?

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

14

(ii) Obtenir un histogramme, un graphique quantile-quantile, une estimation de


l'cart type distinct de celui en (a).
(iii) Effectuer une analyse de capacit : avec la carte de contrle, avec un histogramme.
Les rsultats sont-ils comparables?
(iv) Calculer le pourcentage des donnes l'extrieur des limites de spcifications:
-

avec les donnes observes

avec la distribution gaussienne ajuste

Les deux rsultats sont-ils comparables?


Analyse 2 :

politique dintervention

Analyse des donnes de la srie Yt (tableau 4)


Rpondez aux questions (i),, (iv) ci haut avec les donnes de Yt
Comparaison
Comparer les rsultats des analyses 1 et 2 selon les critres de stabilit et de capacit.
Conclusion

Cette intervention sur le procd a t-elle t bnfique ?

Peut-on gnraliser la conclusion? Si oui, dans quelles circonstances ?

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005

15

SPC 17
Implantation de contrle de la qualit de rouleaux de papier journal.
On prlve 9 morceaux lextrmit de chaque rouleau et on mesure la tension X du
papier qui est la caractristique critique pour la qualit (figure) en 9 positions provenant
de 3 zones du rouleau.

4 5 6

zone 1

zone 2

zone 3

Il y a 3 contrleurs pour le procd de fabrication qui sont associs aux 3 zones et ils
oprent indpendamment les uns des autres .Les 9 mesures sont employes pour
rpondre plusieurs questions relatives au produit et au procd de fabrication.
On peut structurer les donnes de la manire suivante.
zone
1

mesures
x1, x2, x3

moyennes
Xbar-1

tendues
R1

x4, x5, x6

Xbar-2

R2

x7, x8, x9

Xbar-3

R3

(a) Est il appropri demployer les tendues de chaque zone pour construire des
cartes de contrle de Xbar pour chaque zone ?
(b) Pour surveiller la variabilit rouleau rouleau, on propose demployer une carte
Xbar et R base sur les 9 valeurs x1, x2, ..., x9.
Commentez cette proposition.
(c) On suggre demployer une carte base sur les tendues des 3 moyennes de zone
R = max (Xbar-1, Xbar-2, Xbar3) - min (Xbar-1, Xbar-2, Xbar-3)
Quelle caractristique cette carte surveille-t-elle ?
(d) Proposer une carte pour surveiller la variabilit rouleau rouleau.

IND 2501 Ingnierie de la qualit

cartes Shewhart

mars 2005