Prctica N2: Difraccin e Interferencia

Francisco Nicola Tovar Cecere

Laboratorio de Ondas y Optica, Departamento de Fsica,
Facultad Experimental de Ciencias y Tecnologa, Universidad de Carabobo, Valencia - Venezuela

En el desarrollo experimental, se determino la longitud de onda del equipo PASCO Diffraction through One Slit, el
cual toma el valor de = 609 24 nm experimental el cual se encuentra dentro del rango de la luz roja. Se determino
el ancho de una muestra (Cabello Muestra: Castillo, Julennys) el cual posee un valor de 92,3 10,0 m, el cual se
encuentra dentro del rango en cabello humano adulto. Se observo que a medida que aumenta el ancho se forman ms
espacios de difraccin vacios y tambin aumenta la longitud de onda.
I.

N
INTRODUCCIO

Cuando ondas de luz plana pasan a travs de una

pequea abertura en una barrera opaca, esta abertura
acta como una fuente puntual de luz, con las ondas
ingresando en la regin oscura por detrs de la barrera.
Este fenmeno, conocido como difraccin. La Difraccin
y la interferencia son fenmenos inseparables, al punto
que no es siempre sencillo distinguirlos. Esto es debido
a que la difraccin es una forma particular de
interferencia [2]. La interferencia se produce cuando la
longitud de onda es mayor que las dimensiones del
objeto, por tanto, los efectos de la difraccin disminuyen
hasta hacerse indetectables a medida que el tamao
del objeto aumenta comparado con la longitud de onda.
El objetivo principal es estudiar la difraccin de luz
monocromtica producida por una rendija, una rendija
doble y por un obstculo de gemetra rectangular a
travs del equipo PASCO Diffraction through One Slit.
II. FUNDAMENTOS TERICOS

La difraccin es uno de los fenmenos ms

importantes relacionados con el carcter ondulatorio de
la luz que se observa cuando un frente de ondas se
encuentra con un obstculo o una rendija de
dimensiones comparables a su longitud de onda (). El
obstculo, que puede ser un pequeo objeto (cabello,
hilo, entre otros), interrumpe el paso de una pequea
porcin del frente de ondas mientras la rendija permite
el paso solo a una pequea parte del mismo. Si
utilizamos obstculos o rendijas rectangulares muy
estrechos y ondas incidentes planas, observaremos, a
una distancia suficientemente grande, la difraccin de
Fraunhofer, un fenmeno que recibi su nombre por
Joseph Von Fraunhofer (1787-1826), fsico alemn que
fue uno de los pioneros en el estudio de la difraccin
este fenmeno nos permitir relacionar de forma
matemticamente sencilla el ancho del obstculo o de
la rendija y la longitud de onda con las caractersticas
del patrn de difraccin observado. El patrn de
difraccin que se obtiene al iluminar una rendija con luz
monocromtica, consiste en una serie de mximos y
mnimos de intensidad que podemos representar en un
diagrama de difraccin. En el caso limite, si la rendija es
muy estrecha, no existen puntos de intensidad nula en
el patrn y la rendija acta como fuente de ondas
cilndricas [1].
La expresin general para los puntos de intensidad nula
en los patrones producidos por una sola rendija es:

(1)
Adems, para valores de pequeos podemos aproximar
el seno por la tangente, esto es:

(2)
Una red de difraccin es una disposicin regular de
rendijas paralelas equis-espaciadas. El espaciamiento
entre rendijas es muy pequeo, alrededor de 2 m, y el
nmero N de rendijas es generalmente grande,
alrededor de 10000. Las redes de difraccin permiten
separar un haz de luz en sus longitudes de onda o
colores constituyentes como consecuencia de la
interferencia de los mltiples rayos que vienen de cada
rendija.
La interferencia constructiva ocurrir en el punto donde
la diferencia de camino recorrido por ambas ondas sea
igual a un nmero entero de longitudes de onda:

(3)
Como en la red de difraccin la separacin entre
rendijas d es constante, la luz de longitudes de onda
diferentes se difractara a diferentes ngulos. As es
como la red de difraccin puede utilizarse en lugar de
un prisma para separar la luz en sus componentes o
colores [1].
Supongamos que se tiene dos rendijas de anchura
b y una separacin d de centro a centro. Cada una
de las rendijas se comporta como una fuente puntual
secundaria. En cualquier punto sobre la pantalla de
observacin, las contribuciones de las dos rendijas se
superponen y aunque cada una debe ser esencialmente
igual en amplitud, pueden diferir significativamente en
su fase. Como la misma onda primaria excita las
fuentes secundarias en cada rendija, las ondas
resultantes sern coherentes y por lo tanto deber
haber interferencia. Los campos elctricos siempre se
suman en fase dando un campo igual al doble de cada
uno de estos por separado; la irradiacin, proporcional
al cuadrado del campo elctrico, en un punto a lo largo

de esta lnea, ser cuatro veces mayor que la debida a

una nica fuente. En este caso decimos que ocurre
interferencia constructiva entre las dos ondas. Cuando
dos fuentes se encuentran con una diferencia de fase
ocurre que una de las fuentes se encuentra en un
mximo positivo del campo elctrico y la otra fuente se
encuentra en el mismo valor negativo del campo
elctrico. En este caso ambos campos se cancelan y no
se detecta luz a lo largo de estas lneas marcadas con
D. Se dice en este caso que la interferencia es
destructiva. Entre estos dos extremos de interferencias
constructiva y destructiva, la irradiacin vara desde
cuatro veces la irradiacin de una nica fuente hasta
cero. Sin embargo, la energa total que llega a la
pantalla es justamente el doble que la energa que
llegara para una nica fuente; por tanto, la interferencia
de las dos ondas causa nicamente una diferente
distribucin de la luz [1].
III. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

IV. RESULTADOS Y ANLISIS

Experiencia #1 difraccin

Realizando una serie de analisis se puede observar

que a medida que aumenta el ancho se forman ms
espacios de difraccin vacios, todos los clculos se
realizo con la longitud de onda experimental obtenida
= 609 24 nm, a pesar de que el valor esta muy lejano
este se encuentra en el intervalo de longitud de una
onda de color del rojo. Los resultados obtenidos de
acuerdo al ancho experimental con el ancho terico se
pueden decir que es el mismo (Ver Tabla N1).

Red de Difraccin

Resultados

Grado de
difraccin

longitud de
onda del
equipo
(1)nm

distancia
red
pantalla
(0,1)cm

distancia red
patrones
(0,1)cm

longitud de
onda del
equipo
(24)nm

600Lineas/1mm

633

238,0

87,0

609

Experimento #1 difraccin

Con un equipo de luz monocromtica (Laser de He-Ne

de 632nm), se hizo pasar un laser a una rendija
electroformadas (Ver Figura N1) observndose una
pantalla, el cual se procedi a tomar las medidas, en los
espacios donde no se encontraban la luz, y la distancia
generada desde esta rendija hasta la pantalla para la
determinacin de la longitud de onda con ayuda de la
ecuacin (1) y (2).

Figura N1: Rendijas electroformadas.

Luego se realizaron diferentes ensayos variando la
apertura de la rendija, el cual se tomaron una serie de
mediciones. Se tomo una muestra de cabello, y con
ayuda del equipo de luz monocromtica, se obtuvo un
patrn y se procedi a realizar las mediciones
necesarias. Durante todas las experimentaciones
anteriores se tomaron fotos al patrn de difraccin
generada con una cmara celular.

Experimento #2 interferencia

Con un equipo de luz monocromtica (Laser de He-Ne

de 632nm), se ilumino con el laser una rendija doble
electroformadas (Ver Figura N1) observndose una
pantalla, el cual se procedi a tomar las medidas, en el
centro de el laser proyectado, y se realizaron diferentes
ensayos donde se vario el ancho y el espacio de las
rendijas. Para la determinacin de la longitud de onda
con ayuda de la ecuacin (2) y (3). Se realizaron un
conjunto de observaciones y con una cmara celular se
tomo los patrones generados.

Difraccin por una rendija

Identificacin

distancia
Ancho
red
(0,01)mm pantalla
(0,1)cm

Resultados

distancia
red
patrones
(0,01)cm

Media Ancho
calculado
(1,00x10^5)m

0,02

236,5

6,85 / 13,72

2,10

0,04

238,0

3,05 / 6,01 /
10,02 / 14,00

4,75

0,08

237,0

1,47/3,07/5,4
5/7,10/8,54

9,81

0,16

237,2

0,06/1,68/2,4
1/3,26/4,20

17,19

Difraccin por objeto (Cabello Muestra: Castillo, Julennys)

Resultados

distancia red pantalla

(0,1)cm

distancia red patrones

(0,01)cm

Media Ancho
calculado
(1,00x10^5)m

237,5

1,42/3,00/4,44/6,13/8,19

9,23

Tabla N1: Determinacin por difraccin de una onda

de luz monocromtica la longitud de onda el ancho de
las rendijas electroformadas y ancho de una muestra de
cabello.
Experiencia #2 interferencia

Se determino la longitud de onda generada por una

rendija doble, a travs del espacio entre rendija, se
realiza una observacin que a medida de que el ancho
incrementa, aumenta la longitud de onda.

Ancho
(0,01)mm

distancia red patrones

(0,01)cm

distancia
red
pantalla
(0,1)cm

Espacio
(0,01)mm

longitud de
onda
generada
(0,01x10^-5)nm

0,04

0,054/1,04/1,44/2,03

238,5

0,25

4,09

0,04

0,04/0,06/0,09/1,12

249,0

0,5

1,90

0,08

0,05/1,38/1,75

239,0

0,25

4,61

0,08

0,04/0,05/0,08/1,32

239,0

0,5

2,66

Tabla N2: Determinacin por interferencia la longitud

de onda de una onda de luz monocromtica por rendija
doble.
V. CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES

Se analizo que a medida que aumenta el ancho se

forman ms espacios de difraccin vacios y tambin
aumenta la longitud de onda. Tambin se pudo
determinar el ancho de un objeto, a travs de un
sistema de difraccin el cual genera un patrn. Se
obtuvo el valor de longitud de onda del equipo PASCO
el cual tiene un valor de = 609 24 nm experimental,
y se comparo con el terico marcado en el equipo. Se
determino el ancho de una muestra de cabello, el cual
pertenece dentro del rango cabello humano adulto. Se
realizaron todos los clculos con CASIO (Fx-9750GII) y
con Microsoft Excel 2007 Edicin Profesional.
Recomendaciones:

Medir adecuadamente el valor de red pantalla

para un mejor valor cuntico.
Utilizar de manera eficiente el Vernier.
No tener contacto con el laser.
Realizar un instructivo para realizar el diagrama
de intensidad.
VI. BIBLIOGRAFA

[1] Laboratorio de Ondas y pticas., Practica N2: Difraccin e

Interferencia, recuperado de:
http://alfa.facyt.uc.edu.ve/~fjnarea/Quimica/lab_ondas_y_optic
a2011/difraccion_e_interefencia.pdf

[2] Serway R. y Jewett J., Fisica para Ciencias e Ingenieria,

CENGAGE Learnig (2008).