VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.

com

ORGENES DEL RUIDO EN EL CCD

Y LA RELACIN SEAL/RUIDO
Los sensores CCD (charge-couple device o dispositivo de acoplamiento de carga) tienen muchas ventajas
en comparacin con la pelcula fotogrfica en aplicaciones cientficas de procesamiento de imgenes como la
astronoma y la microscopa ptica. Al producir imgenes directamente en un formato digital, apropiado para un
procesamiento inmediato en el ordenador, los sistemas de capturacin de imgenes basados en un sensor CCD
son adecuados para una amplia gama de mtodos de anlisis de imgenes en microscopa actual. La mayor
sensibilidad de estos sensores en comparacin con la pelcula es particularmente til en tcnicas con poca luz, en
las que cada fotn disponible puede ser significativo. El ruido, procedente de una serie de fuentes, es inherente a
todos los sensores de imagen electrnicos y se necesita un cuidadoso control de los componentes del ruido, tanto
en el diseo como en el funcionamiento del CCD para asegurar que el nivel de seal relativo al ruido es adecuado
para permitir la captura precisa de la informacin de la imagen. En cualquier sistema de medicin electrnico, el
SNR (signal-to-noise ratio o relacin seal/ruido) determina la cualidad de la medicin/tamao (measurement) y el
funcionamiento del sistema.

En una cmara digital bien diseada, la

representacin del ruido est limitada por el CCD
ms que por los componentes de los sistemas
electrnicos asociados. La relacin seal/ruido para
un
sensor
de
imagen
CCD
representa
especficamente la relacin entre la medicin de la
seal luminosa y el ruido combinado, que consiste en
seales indeseadas que se forman en el dispositivo,
as como, las variaciones inherentes producidas por
el flujo de fotones incidentes. Un sensor CCD recoge
carga en un sistema de ubicaciones fsicas discretas,
por lo que se puede entender la relacin seal/ruido
como la magnitud relativa de la seal. El estudio
detallado de ingeniera sobre la aportacin del ruido
en el CCD incluye muchos orgenes que se manejan
normalmente combinndolos en categoras ms
generales, o que no son significativas excepto en
seales mucho ms bajas de lo que normalmente se
encuentra en la microscopa. Los tres primeros
componentes generales del ruido en un sistema de
produccin de imgenes con un CCD son el ruido
fotnico , el ruido oscuro y el ruido de lectura, que
deben considerarse en el clculo de la relacin
seal/ruido.
Otra clasificacin til distingue los orgenes
del ruido sobre la base de si es temporal o espacial.

El ruido temporal, por definicin, vara segn el tiempo

y se puede reducir mediante filtro de mediana (frame
averaging), mientras que el ruido espacial no. El ruido
espacial est sujeto a la eliminacin parcial mediante
algoritmos de substraccin, o mediante tcnicas de
ganancia (gain) o correccin en offset. La categora
de ruido temporal incluye el ruido fotnico y el ruido
oscuro (siendo los dos tipos de ruido impulsivo-shot
noise) ruido de lectura (principalmente originado en el
amplificador de salida) y el ruido de reset
(reestablecimiento). En cuanto a las fuentes de ruido
espacial hay factores que producen una salida de
pxeles no uniforme, incluyendo respuesta fotnica no
uniforme (photo response non-uniformity) y oscuridad
electrnica no uniforme (dark current non-uniformity).
Los efectos de la disminucin en la relacin
seal/ruido en la microscopa fluorescente se
muestran en las imgenes digitales de la Figura 1. La
muestra es un cultivo adherente de clulas epiteliales
del rin de un zorro teida con verde SITOS para
representar el ncleo de la clula. En una relacin
seal/ruido alta, un par de ncleos interfsicos
(Figura 1 (a)) se representa con un contraste muy
marcado y una buena definicin de detalles precisos
en un fondo negro.
Al disminuir la relacin
seal/ruido (Figuras 1 (b) y (c)), la definicin y el

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 1

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

contraste de los ncleos tambin disminuyen hasta

que casi se funden completamente en el fondo con
ruido (Figura 1 (d)).
Durante la adquisicin de la imagen con
sensores electrnicos, incluyendo los CCDs, el ruido
superpuesto a la seal se manifiesta como
fluctuaciones aparentemente aleatorias en la
intensidad de la seal, y al aumentar la magnitud del
ruido, la incertidumbre en cuanto a la seal medida
se vuelve mayor (como muestra la Figura 1). La
relacin seal/ruido se evala normalmente en
trminos de las categoras generales mencionadas
anteriormente, aunque cada categora puede incluir
varios componentes que contribuyen a crear ruido
(se tratar en prximas secciones). La importancia
de cada fuente de ruido potencial depende del
dispositivo especfico y el tipo de aplicacin que se
utilice. Como se ha dicho, una relacin seal/ruido
grande es importante en la adquisicin de imgenes
digitales de calidad alta, y es particularmente
fundamental en aplicaciones que requieren medidas
de iluminacin precisas. Los cambios realizados en
los factores que afectan el nivel de la seal
directamente, y en aquellas variables que contribuyen
principalmente con ruido en el sistema, tienen
obviamente un efecto inverso en la relacin
seal/ruido.
La seal de un sistema de procesamiento de
imgenes con CCD, empleada para calcular la
relacin seal/ruido, depende del flujo de fotones que
inciden en los fotodiodos del CCD (se expresa en
fotones por pxel por segundo), la eficiencia cuntica
del dispositivo (donde 1 representa una eficiencia del
100%) y el tiempo de integracin (tiempo de
exposicin) durante el cual se recoge la seal. El
producto de estas tres variables determina la parte
de la seal (numerador) del valor de la relacin
seal/ruido, que se cuenta contra todas las fuentes
que originan ruido y contribuyen al denominador de la
relacin, y que distorsionan el funcionamiento del
dispositivo de procesamiento de imgenes del CCD.
Hay fundamentalmente tres componentes de la seal
(ruido) que normalmente se consideran para calcular
la relacin seal/ruido:
Ruido fotnico: es el resultado de la
variacin estadstica propia del ratio de llegada de
fotones al CCD. Los fotoelectrones generados dentro
del dispositivo del semiconductor constituyen la seal,
cuya magnitud flucta aleatoriamente con la
incidencia de fotones en cada pxel del CCD. El
intervalo de la llegada de cada fotn est gobernado
por la estadstica de Poisson, y por lo tanto, el ruido
fotnico es equivalente a la raz cuadrada de la seal.
Generalmente se aplica el trmino ruido impulsivo
shot noise a cualquier componente del ruido que
muestre una variacin estadstica similar en la
medida del nmero de fotones recogidos durante un
intervalo de tiempo dado, y a veces se emplea el
trmino en lugar de ruido fotnico en documentos
acerca de los orgenes del ruido en el CCD.

El ruido oscuro surge de la variacin

estadstica en el nmero de electrones que se
generan trmicamente dentro de la estructura de
silicio del CCD, que es independiente de la seal
inducida por los fotones, pero depende en gran
medida de la temperatura del dispositivo. El ndice de
generacin de electrones trmicos generados a una
temperatura dada del CCD se denomina corriente
oscura. Al igual que el ruido fotnico, el ruido oscuro
se rige por la relacin de Poisson y es equivalente a la
raz cuadrada del nmero de electrones trmicos
generados durante el tiempo de exposicin de la
imagen. El enfriamiento del CCD reduce la corriente
oscura de manera espectacular y, en la prctica, las
cmaras de alto rendimiento se enfran normalmente
a una temperatura en la que la corriente oscura es
insignificante durante un intervalo de exposicin
tpico.
El ruido de lectura es una combinacin de
componentes de ruido del sistema propio del proceso
de conversin de los transportadores de cargas del
CCD a una seal de voltaje y el posterior
procesamiento de la conversin de analgico a digital
(A/D). La funcin fundamental del ruido de lectura se
origina normalmente en el preamplificador del chip, y
este tipo de ruido se extiende de manera uniforme a
cada pxel de la imagen. Ciertos tipos de ruido del
amplificador del CCD dependen de la frecuencia (al
igual que la aplicacin para la que se emplea la
cmara) y la velocidad de lectura requerida
determina en parte las condiciones del ruido de
lectura y sus efectos en la prctica sobre el nivel
general de seal/ruido. Los sistemas de cmaras de
alto rendimiento emplean mejoras en su diseo que
reducen espectacularmente la importancia del ruido
de lectura
Para calcular la relacin/ruido del sistema de una
cmara con CCD se utiliza la siguiente ecuacin:
SNR = PQet / [ PQet + Dt + Nr2 ]1/2
Donde P es el flujo de fotones incidentes
(fotones/pxel/segundo), Q(e) representa la
eficiencia cuntica del CCD, t es el tiempo de
integracin (en segundos), D es el valor de la
corriente oscura (electrones/pxel/segundo) y N(r)
representa el ruido de lectura (electrones
rms/pxel).
Un examen cuidadoso indica que la ecuacin
est estructurada simplemente como el ratio de la
seal total generada durante el tiempo de exposicin
dividido por el ruido combinado atribuido a los tres
componentes de ruido primarios. Los trminos de
ruido guardan correlacin alguna, y el denominador
incorpora
valores
apropiados
para
cada
componente de ruido: la raz cuadrada de la seal
representa el ruido fotnico, el ruido oscuro es
equivalente a la raz cuadrada del producto de la
corriente oscura y el tiempo de integracin, y la raz
cuadrada de N(r) al cuadrado se corresponde con el
componente de ruido de lectura.

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 2

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

El clculo la relacin seal/ruido utilizando la

ecuacin anterior da por supuesto que la seal es la
nica fuente de luz. En el microscopio ptico, varias
fuentes de luz de fondo no deseadas, como la luz y
los reflejos el sistema de procesamiento de imagen,
pueden contribuir a producir ruido y si ste es
significativo, este flujo de fotones de fono (B) se debe
aadir al componente de ruido fotnico como se
muestra a continuacin:
SNR = PQet / [(P + B)Qet + Dt + Nr2 ]1/2
Otro factor adicional a tener en cuenta es
que el valor del flujo de fotones incidentes y fotones
del fondo, as como la eficiencia cuntica, son
funciones de la longitud de onda, y cuando se utilizan
fuentes de iluminacin de banda ancha, el clculo de
la relacin seal/ruido requiere las variables
mencionadas para integrarlas con todas las
longitudes de onda que se emplean para procesar la
imagen.

RUIDO OSCURO Y TEMPERATURA

Se utilizan diferentes enfoques para
aumentar la relacin seal/ruido en sistemas de
procesamiento de imgenes de CCD de alto
rendimiento. Para reducir la generacin de carga
trmica dentro de las capas de semiconductores del
CCD, lo que se manifiesta en corriente oscura, se
utilizan a veces tcnicas especiales en la fabricacin
de los dispositivos y otros modos de funcionamiento.
Es comn enfriar el CCD para reducir la corriente
oscura a un nivel insignificante empleando la
refrigeracin termoelctrica o criogentica, o si
fuera necesario, se llega al extremo de utilizar
nitrgeno lquido. Generalmente, los sensores CCD
de alto rendimiento muestran una reduccin de
hasta la mitad en la corriente oscura para cada 5 a
9 grados Celsius al ser enfriados bajo temperatura
ambiente, lo que se denomina temperatura doblada
(doubling temperature). Este ndice de mejora
continua normalmente hasta una temperatura de
entre aproximadamente 5 a 10 grados bajo cero,
tras la que la reduccin de corriente oscura
disminuye rpidamente (ver Figura 2). Adems de un
diseo electrnico y un circuito especializado, se
ponen en prctica tcnicas de filtracin que usan
integradores avanzados y mtodos de muestreo
doble (double sampling methods) para eliminar
ciertos componentes del ruido de lectura.

Varios fabricantes de cmaras con CCD, como pco.

imaging (ver catlogo de productos de pco en
http://www.vhtm.com/) de alto rendimiento incluyen
una especificacin para la seal/ruido, que a menudo
se expresa en decibelios (dB). Este valor equivale al
ratio de la capacidad mxima del pozo de pxel dividida
por el nmero de electrones de ruido que resultan de
las fuentes trmicas y elctricas del chip, que
rechazan el ruido fotnico y no deberan confundirse
con el clculo de la relacin seal/ruido descrito
anteriormente. No representa la dosificacin de la
relacin
seal/ruido
bajo
condiciones
de
funcionamiento
especficas,
pero
es
una
representacin til del rango dinmico de la cmara
que depende de cmo se utiliza la cmara. Bajo
condiciones de seal baja, en las que el ruido de
lectura es la fuente dominante de ruido, la ecuacin
completa de relacin seal/ruido presentada
anteriormente se puede reducir a un ratio simple
equivalente a la seal total recogida durante el
tiempo de integracin dividida por el valor del ruido de
lectura, una forma similar a las especificaciones del
rango dinmico a las que hemos hecho referencia.
Sin embargo, el valor del rango dinmico se
corresponde con la situacin limitante en la que se
alcanza la capacidad de llenado del pozo del sensor, y
que se define de la siguiente manera:
Rango Dinmico=Capacidad de Llenado del Pozo
(electrones) / Ruido de Lectura (electrones)
La capacidad de llenado de pozo del CCD
representa la mxima carga (nmero de electrones)
que se pueden almacenar en cada pxel y determina
por lo tanto la mxima seal disponible para el
desarrollo de una nica lectura. El ratio del valor del
llenado de pozo (tambin denominado profundidad de
pozo o llenado de pozo lineal) y el nmero electrones
con ruido de lectura por pxel define la capacidad del
dispositivo para capturar seales tanto altas como
bajas en una imagen.

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 3

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

El rango dinmico
de un CCD y la
profundidad mxima de bit real del convertidor A/D
(analgico a digital) de la cmara estn
estrechamente interrelacionados en el sentido de
que la seal disponible total relativa al ruido gobierna
el nmero mximo de niveles de grises en que se
puede dividir la seal. Para representar diferencias
en la intensidad muy sutiles en la imagen digital se
necesita discriminar tantos niveles de grises como
sea posible, y por lo tanto un enfoque tpico consiste
en igualar la conversin de analgico a digital de la
profundidad de bit al rango dinmico del CCD. El
rango dinmico relativo a la profundidad de bit
determina el nmero de electrones que componen
cada nivel de gris en la imagen final. Hay que tener en
cuenta que el convertidor de analgico a digital con
una especificacin de profundidad de bit que exceda
el rango dinmico del sensor de imagen CCD no
puede alcanzar completamente su teortico rango
de discriminacin en la escala de grises (profundidad
de bit) porque cada nivel de la escala de grises debe
corresponder a una diferencia mnima de un electrn.

Como ya se ha mencionado previamente, la

categora general a la que nos referimos como ruido
de lectura se compone en realidad de varias fuentes y
la corriente oscura (dark current) no tiene
nicamente un componente medio, sino que tambin
muestra fluctuaciones estadsticas que contribuyen al
shot noise. Aunque hay diferentes orgenes del ruido,
su efecto siempre es el mismo: producir variaciones
en la intensidad de la imagen. El nivel de detalles que
se requiere en las muestras de ruido de un CCD
depende de la aplicacin y son comunes las
generalizaciones aceptables para evaluar el
funcionamiento de los sistemas de la cmara. Es til
saber y tener en cuenta que la mayora de las fuentes
del ruido, por muchas que estas puedan ser, se
pueden reducir en la prctica a niveles insignificantes.
En el anlisis de signal-to-noise a veces basta con
tener en cuenta el ruido del amplificador del chip, y la
mayora de los fabricantes proporcionan esta
especificacin refirindose a ella como ruido de
lectura, electrones de ruido equivalente (noise
equivalent electrons) o ruido de fondo.

Como ejemplo de una estrategia apropiada,

un CCD con una capacidad de llenado de pozo de
18.000 electrones y un ruido de lectura de 4
electrones por pxel en el ndice de lectura
especificado, tiene un rango dinmico de 18.000/4
o 4.500. Para utilizar completamente el rango
dinmico del CCD, se necesitara una cmara que
incorporase un conversor de analgico a digital de 12
bits, y que tenga la capacidad de detectar 4.096 (2 12
) niveles en la escala de grises ( o 1.1 electrones por
nivel de gris en la escala). Si se emplea una
conversin A/D de 10 bits, slo se podrn visualizar
1.024 (2 10 ), lo que correspondera a 4.4 electrones
por cada nivel de gris en la escala. Por otra parte,
una cmara que utilice una conversin A/D de 14
bits, con la capacidad de discriminar 16.384 niveles
en la escala de grises, estar limitada por el rango
dinmico (4.500 electrones por pxel) del CCD, y no
alcanzar un nivel de rendimiento satisfactorio.

Mientras que el ruido de lectura puede

considerarse ruido de fondo en relacin con las
fuentes electrnicas, bajo condiciones de iluminacin
tpicas, el ruido shot fotonico constituye una limitacin
fundamental natural en el funcionamiento de una
cmara con CCD (o cualquier otro sistema de
deteccin de luz). La incertidumbre sobre el nmero
de fotones que se recogen durante un periodo de
tiempo especfico est gobernada por la estadstica
de Poisson, y por lo tanto el ruido shot del fotn se
puede expresar en trminos de electrones
equivalentes en el detector de salida de la siguiente
manera:

Un objetivo fundamental en la fabricacin de

CCDs para cmaras de aplicacin cientfica es
maximizar la seal disponible y disminuir el ruido, lo
que tiene como resultado un rango dinmico mximo.
Enfriando el CCD para minimizar el ruido trmico,
optimizando el clock , el muestreo y la lectura, se ha
reducido el ruido asociado a cada ciclo de lectura en
algunas cmaras de alto rendimiento hasta entre 3 y
5 electrones por pxel en ndices de lectura tpicos de
aproximadamente un megahercio. Con un ruido de
lectura en CCDs comunes cercano a un lmite bajo
parecido, el mecanismo prctico restante para
mejorar el rango dinmico consiste en aumentar el
nivel de seal disponible. Aunque un diseo de CCD
que incorpore pxeles ms grandes con una gran
capacidad de llenado puede llevar a cabo esta tarea,
se da un sacrificio en la resolucin espacial, que es
ms baja, a cambio de la mejora en la efectividad de
la sensibilidad.

Ns = (S)1/2
Donde N(s) es el ruido y (S) la seal. Por
ejemplo, con una seal detectada de 2,500
electrones, la relacin seal/ruido
no puede
sobrepasar 2.500/50 o 50 incluso en un CCD ideal,
que no aporte ruido debido a la corriente oscura o a
los procesos de lectura de la seal.
Ya que el ruido fotnico es una seal
inherente a la deteccin de seal del CCD, que no se
puede reducir mediante factores del diseo de la
cmara, representa bsicamente el nivel de ruido
alcanzable mnimo en un sistema en el que el ruido de
lectura y la corriente oscura se han reducido a sus
niveles mnimos. Debido a que hay una relacin de
raz cuadrada entre el ruido fotnico y la seal, el nivel
de ruido disminuye en magnitud relativa al crecer el
flujo de fotones. Como consecuencia, lo conveniente
es operar un sistema de procesamiento de imgenes
bajo condiciones que estn limitadas por el ruido
fotnico, con otros componentes de ruido que se
reduzcan a una insignificancia relativa. En condiciones
de baja luz (asumiendo que el ruido oscuro se puede
eliminar bsicamente enfriando en CCD), el ruido de
lectura es mayor que el ruido fotnico y se dice que la
seal de la imagen est limitada por el ruido de
lectura (read noise limited). Se puede ampliar el

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 4

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

tiempo de exposicin de la cmara (tiempo de

integracin) para recoger ms fotones e incrementar
el ratio signal-to-noise hasta el punto de que el ruido
fotnico supera tanto el ruido de lectura como el
ruido oscuro. Para tiempos de exposicin ms largos,
se dice que la imagen est limitada por el ruido
fotnico (photon-noise limited).
Dentro de las categoras que hemos
considerado, siempre hay un nmero de fuentes de
ruido que estn presentes aunque se puedan reducir
o incluso casi eliminar, antes de la salida final de la
seal, mediante el diseo del sistema o mediante una
manipulacin cuidadosa dentro de los lmites
apropiados para el sistema especfico de una
cmara. El ruido fotnico y el ruido del amplificador
afectan la amplitud de la seal detectada, mientras
que otras fuentes de ruido no afectan la amplitud,
pero producen fluctuaciones en el valor de salida. Las
variaciones en la intensidad de la imagen que
resultan del ruido que acompaa la seal se reflejan
en la visualizacin de la imagen, tanto en diferencias
de pxel a pxel como en diferencias del mismo pxel
entre frames. Adems, las tcnicas cuantitativas de
procesamiento de imgenes basadas en medidas
precisas de la intensidad del pxel pueden verse
afectadas por cualquier variacin que tenga que ver
con el ruido.
A continuacin se describen
brevemente otras fuentes de ruido que contribuyen al
funcionamiento global del CCD.
El Ruido de reset ocurre cuando la carga
recogida en cada pxel de la matriz del sensor se
pasa (para su medicin) del dominio de carga al
dominio de voltaje utilizando un sense capacitador y
un amplificador de seguimiento de la fuente. Antes de
proceder a la medicin del paquete de carga de cada
pxel, el sense capacitador del CCD se reajusta de
acuerdo con un nivel de referencia. Se genera ruido
en el sense nodo por incertidumbre en el nivel de
referencia de voltaje debido a variaciones trmicas en
la resistencia del canal del transistor de reajuste
(MOSFET). El nivel de referencia del capacitador es
por lo tanto diferente para cada pxel, y el ruido
resultante se calcula como se describe a
continuacin:
Nreset = (4kTBR)1/2
Donde N(reset) es el voltaje del ruido del
sense nodo, k es la constante de Boltzmann
(julios/kelvin), T es la temperatura (kelvin), B se
refiere al ancho de banda de la potencia del ruido
(herzios) y R es la resistencia efectiva del canal
(ohms). El ruido de reset tambin se puede expresar
en las acostumbradas unidades de electrones
equivalentes en el detector de salida, si se
reestructura la expresin y se introduce el valor
fundamental para la carga electrnica, q (culombios):
Nreset (rms electrons) = (kTC)1/2/q
Donde el smbolo adicional C representa la
capacitacin del sense node (faradios). Esta forma de
la ecuacin es el origen del trmino comunmnente

utilizado ruido KTC, como un sinnimo del ruido de

reset o reajuste.
Ya que el ruido de reset puede llegar a ser
significativo (quizs 50 electrones rms), la mayora de
las cmaras con CCD de alto rendimiento incorporan
algn tipo de mecanismo para eliminarlo. Una
tcnica extendida es emplear un proceso
denominado correlated double sampling (muestreo
doble correlacionado), en el que un circuito mide la
diferencia entre el voltaje de reset y el voltaje de la
seal para cada pxel, y asigna el valor resultante de
la carga al pxel. El paso adicional de medicin del
voltaje de referencia del nodo de salida antes de que
la carga de cada pxel sea transferida hace
innecesario el reset al mismo nivel para cada pxel.
Tambin hay otros medios electrnicos disponibles
para eliminar el ruido de reset, y estos se pueden
implementar teniendo en cuenta el diseo del
sistema en su conjunto.

El ruido de lectura de un CCD procede de dos

componentes de ruido primarios en el amplificador
de salida, el ruido blanco y el ruido flicker (de destello
tambin ruido rosa). Al igual que el transistor de
reset, el amplificador de salida MOSFET tiene una
resistencia que genera un ruido trmico cuyo valor
est gobernado por la ecuacin de ruido blanco de
Johnson. Nos podemos referir a l por lo tanto como
ruido de Johnson o simplemente como ruido blanco,
ya que su magnitud es independiente de la
frecuencia. Si se considera que la resistencia efectiva
es la impedancia (impedance) del amplificador
seguidor de la fuente, el ruido blanco en voltios, queda
determinado por la siguiente ecuacin:
Nwhite (volts) = (4kTBRout)1/2
Donde k es la constante de Boltzmann
(julios/Kelvin), T es la temperatura (Kelvin), B se
refiere al ancho de banda de potencia del ruido
(herzios) y R es la impedancia de salida del
amplificador (ohms). El ruido blanco en trminos de
electrones en el nodo sense del CCD es equivalente al
ruido blando en voltios, definido ms arriba, dividido
por el producto de la sensibilidad del amplificador y la
ganancia de salida, como se explica a continuacin:

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 5

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

Nwhite (rms electrons) = (4kTBRout)1/2 / Samp Aamp

En esta ecuacin, S es la sensibilidad del
amplificador y A representa la ganancia del
amplificador. El valor de sensibilidad es una funcin de
la carga fundamental del electrn y la capacitacin
del sense del CCD y se expresa en unidades de voltios
por electrn.
La ganancia del amplificador es
simplemente un factor multiplicador que relaciona
voltios de entrada con voltios de salida (voltio/voltio).
La segunda fuente de ruido relacionada con
el amplificador de salida es el ruido de destello
flicker, comnmente conocido como ruido 1/f debido
a su dependencia inversa aproximada en la
frecuencia. Muchos sistemas, tanto naturales como
fabricados,
muestran
alguna
forma
de
comportamiento 1/f. Con relacin al ruido flicker del
CCD, la variable de frecuencia es la velocidad/ndice
rate de lectura del pxel. Para cmaras en las que los
pxeles se leen a menos de un megahercio
aproximadamente, y con un espectro de ruido
caracterstico de 1/f , el mnimo de ruido de lectura
viene determinado por el ruido 1/f. La Figura 3
muestra el espectro de ruido tpico
de un
amplificador de CCD, determinando el ruido de salida
como una funcin de la frecuencia de lectura. La
reduccin del ruido al incrementarse la frecuencia es
una de las caractersticas de un espectro de ruido
f/1, donde el ruido disminuye con un factor de 3.16
para cada aumento en decenas de la frecuencia. El
ruido sigue disminuyendo en esta proporcin hasta
que se estabiliza, en una frecuencia denominada
ngulo de frecuencia 1/f. La estabilizacin del nivel
de ruido con frecuencias ms altas indica que se ha
alcanzado el mnimo de ruido blanco, y un ndice de
lectura de pxel mayor que el ngulo de frecuencia
1/f tiene como resultado operaciones limitadas en el
ruido blanco. En un amplificador MOSFET que
produce la curva que se muestra en la Figura 3 el
mnimo de ruido blanco ocurre aproximadamente en
4.5 nanovoltios por hercio al cuadrado.
El origen del ruido flicker se debe a la
existencia de estados de interface en el silicio del
sensor de imagen que se conectan y desconectan al
azar dependiendo de diferentes constantes
temporales. Todos los sistemas con un
comportamiento de 1/f tienen captaciones de
corriente similares en lo referente a estados de
encendido y apagado arbitrarios. En los MOSFET, los
estados son trampas en el interface de silicio oxido,
que aparecen debido a disrupciones en la retcula de
silicio de la superficie. Cuando los electrones quedan
atrapados en los estados de la superficie, el flujo de
corriente queda afectada al liberarse estos
electrones atrapados durante una amplia variedad de
periodos de emisin gobernados por las diferentes
constantes de las trampas. Las disrupciones de la
retcula de silicio que llevan a formar trampas en el
interface producen una distribucin de los niveles de
energa en las trampas dentro del hueco prohibido
(forbidden gap). El rango de profundidad de la trampa
en el interface de silicio-silicio dixido, y sus
constantes temporales variables, determina las

frecuencias de interrupcin de la trampa y produce

una distribucin uniforme de la energa a lo largo de
la banda de silicio. La distribucin de la frecuencia
caracterstica del espectro del ruido 1/f ocurre
debido a que es posible que se den fluctuaciones
mayores en los estados de constantes largas
(frecuencias bajas), producindose as mayores
fluctuaciones en la salida (ruido), que son posibles en
las trampas de constantes ms cortas (frecuencias
altas). Se pueden utilizar varios procedimientos
diferentes en el procesamiento del CCD para reducir
la densidad de estos estados de interface, y adems,
los wafers (conmutadores) de silicio que tienen
ciertas
orientaciones
cristalogrficas
tienen
densidades inherentes ms bajas, lo que los hacen
ms adecuados para la fabricacin del CCD.
La generacin de corriente oscura ya se ha
descrito como una fuente de ruido en las cmaras
con CCD, y tambin se debe a imperfecciones o
impurezas en el retculo que producen la entrada de
energa dentro de la banda prohibida (forbidden
bandgap). La corriente oscura es intrnseca a los
semiconductores y aparece de manera natural
cuando los electrones emplean energa trmica para
moverse por los pasos intermedios de transicin
entre las bandas de valencia y conduccin, lo que les
permite alcanzar la banda de conduccin donde son
medidos como seal. Nos referimos este origen de
corriente como corriente oscura porque se contina
produciendo an estando el CCD en completa
oscuridad. El ndice de acumulacin de corriente
oscura en los pozos de potencial del pxel limita el
tiempo de integracin durante el cual se recoge la
seal til. Debido a que se activa trmicamente, la
forma ms efectiva de reducir la corriente oscura es
el enfriamiento del CCD.
Hay una serie de regiones especficas de un
sensor CCD que contribuyen a la generacin de
corriente oscura, incluyendo reas de fibra de silicio
neutrales exteriores al pozo de potencial del pxel,
material drenado en el pozo de potencial y estados
superficiales formados en el interface de silicio-silicio
xido. En trminos del nivel de corriente oscura
generado dentro de cada regin del CCD, los
causantes principales son el flujo de corriente oscura
de la regin de deplecin y la corriente oscura de la
superficie, donde los estados de la superficie son el
origen dominante sin lugar a dudas. El flujo de
corriente oscura en la ausencia de la generacin de
la superficie se puede mantener en niveles
extremadamente bajos. El nmero de estados de la
superficie se puede reducir durante la fabricacin con
tratamientos trmicos y pasivacin con varios
materiales para minimizar el nmero de vnculos
oscilantes o rotos (broken or dangling bonds) que son
causados por la desigualdad del retculo en el
interface epitaxial.
No obstante, los centros
generadores de corriente en el interface de siliciosilicio dixido son normalmente 100 veces ms
numerosos que los del material de bulk (fibra o
corriente)

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 6

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

La corriente oscura superficial vara mucho

de fabricante a fabricante, dependiendo de la
tecnologa de procesamiento que se emplee en el
desarrollo de la capa de xido y la pasivacin, junto
con otros pasos utilizados tras la formacin de xido.
Independientemente de las tcnicas utilizadas para
minimizar la formacin de estados superficiales,
estos siguen siendo la fuente principal de la corriente
oscura.
Aunque los centros de generacin
superficiales no se pueden eliminar completamente,
su contribucin de corriente oscura se puede reducir
en gran medida por una operacin del CCD en lo que
se conoce como modo invertido. Los CCDs que
utilizan tecnologa multipinned phase (MPP) operan
en el modo invertido, con una corriente oscura muy
reducida, lo que lleva a otras ventajas adicionales
como la reduccin de dispositivos de enfriamiento.
La generacin de corriente oscura en el
interface de silicio-dixido depende tanto de la
densidad de los estados superficiales como de la
densidad de los portadores libres (agujeros y
electrones) en el interface. La presencia de
portadores libres puede rellenar los estados de
interface y minimizar las oportunidades de los
electrones de saltar trmicamente desde los
estados de interface a la banda de conduccin,
reduciendo en gran parte la corriente oscura al nivel
bulk de corriente. La operacin del CCD en un modo
normal (no invertido) tiene como resultado una
generacin de corriente oscura mxima porque el
interface y el canal de seal estn completamente
depleted de portadores libres. En condiciones de
inversin, como las empleadas en sensores MPP, se
cambia the CCDs Array Clock Bias a un estado
negativo, invirtiendo as el canal portador de seal y
causando agujeros para poblar el interface de siliciosilicio dixido. En este clocking scheme, tambin
denominado cloking de modo de acumulacin, los
agujeros en la capa de inversin que se forman entre
la superficie y el pozo de pxel se combinan con los
electrones procedentes de los estados superficiales,
impidiendo que el pozo los recoja como corriente
oscura. La operacin en el estado invertico tiene un
efecto significativo en muchos parmetros del
funcionamiento del CCD adems de la eliminacin de
la corriente oscura superficial.
Como ya se ha dicho, la corriente oscura se
puede mantener a niveles muy bajos, y la mayora de
esta corriente recogida en los pozos de pxel se
genera dentro o cerca de la depleted regin de los
pxeles. El nivel de corriente oscura vara
considerablemente de fabricante a fabricante de
CCDs y depende de la calidad del material de silicona
del wafer y de las tcnicas de procesamiento que se
emplean en la fabricacin del dispositivo. El nivel de
corriente oscura que se origina en el bulk tiene que
ver fundamentalmente con defectos del silicio, y
varias tcnicas de
procesamiento, incluyendo
gettering, se utilizan para eliminar las impurezas en
aquellas regiones del sensor en las que se produce la
seal. Tras la fabricacin del dispositivo, el nico
mecanismo que puede reducir el flujo de corriente
oscura es el enfriamiento del CCD. Los brillos (spikes)

de la corriente oscura son manifestaciones de una

corriente oscura inusualmente alta originada en un
nico pxel y se piensa que se deben a impurezas o
imperfecciones del retculo de silicio. Sin embargo,
los brillos (spikes) no tienen que seguir
necesariamente el comportamiento en cuanto a la
temperatura tpico de otras formas de corriente
oscura.
Se ha desarrollado una frmula emprica, o
ecuacin de corriente oscura, para describir la
relacin entre la temperatura y la corriente oscura
que producen el sensor CCD. Esto corresponde
precisamente a las mediciones de corriente oscura
tomadas en la prctica, y es valioso para determinar
la temperatura de operacin requerida para eliminar
de la corriente oscura de la cmara. Se ha
desarrollado esta ecuacin a partir de una frmula
general de corriente oscura, que se combina con una
expresin que describe la variacin de la energa de
del hueco de banda (bandgap) de silicio debida a la
temperatura, y un valor medido de corriente oscura a
una temperatura standard (300 k). El bandgap de
silicio, E(g) (voltios de electrn), vara con la
temperatura como se describe a continuacin, donde
T representa la temperatura (kelvin):
Eg = 1.1557 - [(7.021 x 10-4 T2) / (1108 + T)]
La frmula de la corriente oscura que de aqu se
deriva es:
D = 2.5 x 1015 A Id T1.5 e-Eg / (2kT)
Donde D es la corriente oscura
(electrones/pxel/segundo), A es el rea de pxeles
(medida en centmetros cuadrados), I(d) es la
corriente
oscura
medida
a
300
k
(nanomaperios/centmetro cuadrado), T es la
temperatura (K) y E(g) es el bandgap a la
temperatura T (electrones-voltios).
Hay dos tipos de ruido asociado con la
corriente oscura, ruido shot de corriente oscura y
corriente oscura no-uniforme (dark current nonuniformity). El componente del ruido shot est
gobernado por la estadstica de Poisson, de manera
similar al ruido photon shot, y es equivalente a la raz
cuadrada de la seal oscura. El nico mecanismo que
puede reducir o eliminar el ruido shot de corriente
oscura es el enfriamiento del CCD. La corriente
oscura no-uniforme es la variacin de corriente
oscura entre los pxeles de la matriz del sensor,
debido al hecho de que los pxeles tienen
intrnsecamente ndices de generacin de seal
oscura ligeramente diferentes. Este tipo de ruido
espacial se reduce mediante el enfriamiento y
tambin se puede eliminar con tcnicas de
procesamiento de imgenes, donde el marco de
referencia oscura se puede sustraer de cada imagen.
El marco de referencia se adquiere bajo condiciones
de temperatura idnticas, pero con el CCD cerrado a
toda luz.

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 7

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

Otro factor que produce no-uniformidad en la

salida del pxel, y cuyo resultado es ruido en la imagen
superpuesta, es la no-uniformidad de la foto
respuesta (a veces abreviado PRNU del ingls photo
response non-uniformity). Debido a variaciones en el
proceso de fabricacin de la matriz, no todos los
pxeles tienen la misma sensibilidad a la luz y una
imagen de un campo plano iluminado de manera
uniforme reflejar un dibujo parecido a un tablero de
ajedrez apenas visible al nivel del pxel individual. Se
puede utilizar la tcnica de procesamiento de imagen
del campo plano (flat field) para eliminar este dibujo
causado por la variacin en la sensibilidad de los
pxeles. Esto supone substraer la imagen de campo
plano capturada separadamente de los datos de la
imagen de la muestra, lo que sirve para corregir la
no-uniformidad en la sensibilidad del pxel, aunque el
ruido shot se ve incrementado por un factor de
1.414. Normalmente, la no-uniformidad est en el
orden del 1 o 2 por ciento del nivel medio de la seal
a lo largo de la matriz, y la relevancia de este
componente de ruido y el beneficio de eliminarlo
depende de la aplicacin.
El procesamiento de la seal acumulada y su
transmisin hasta la salida del sensor CCD, requiere
un nmero de circuitos clocking que estn bajo el
control de un clock principal. El ruido de clocking (o
ruido de clock-jitter) puede ser el resultado del
manejo de estos circuitos si hay seal de clock
alimentada a travs de la forma de onda de la salida.
El nivel de ruido de clock aumenta con la seal y sigue
una relacin de raz cuadrada respecto a la
frecuencia de clocking. Los sistemas de cmaras
cuyos clocks principales se conducen desde un
oscilador de cristal no suelen mostrar ruido de clockjitter problemtico, pero las mejoras en la
sensibilidad de los sensores ha aumentado la
probabilidad de ocurrencia de la seal clock
alimentada por ellos.
El nmero limitado de fotones disponibles
para la formacin de la imagen es un factor crtico en
muchas tcnicas de fluorescencia en microscopa y
se disean sistemas de cmaras con CCDs de alto
rendimiento especficamente para alcanzar un modo
de manejo de ruido fotnico limitado (to reach a
photon-noise-limited operation mode) en niveles de
seal mucho ms bajos que las cmaras
convencionales, que normalmente nunca alcanzan un
funcionamiento de ruido fotnico limitado (y una
relacin seal/ruido lo suficientemente alta) en
niveles bajos de luz. En microscopios de campo
amplio (widefield microscopes), que normalmente
emplean cmaras con CCD, la seal total disponible
del volumen focal de la muestra puede variar en
varios rdenes de magnitud, dependiendo en gran
medida de la tcnica de digitalizacin de la imagen y
de la muestra. Un flujo de fotones de 10(E6) (1
milln) fotones por segundo del volumen focal, esto es
un nivel de luz extremadamente bajo, es equivalente a
una media de 1 fotn/pxel/segundo distribuido por
la superficie del sensor que tiene un milln de pxeles
activos. Como referencia, el lmite de deteccin
mnimo para un ojo adaptado a la oscuridad es de

aproximadamente 40 veces ms (40 millones

fotones/segundo). Un microscopio de fluorescencia
apropiadamente diseado alcanza normalmente
entre 10(E8) y 10(E9) fotones por segundo del
volumen
focal,
o
entre
100
y
1.000
fotones/pxel/segundo con el mismo sensor de 1megapxel. El modo convencional de digitalizacin de
campo brillante (brightfield) produce comnmente
niveles de iluminacin de entre 5.000 y
aproximadamente 40.000 fotones/pxel/segundo. A
menos que el intervalo de integracin sea muy corto,
las reas brillantes de una imagen de campo abierto
pueden generar una seal detectada total de ms de
100.000 fotones por pxel.

La Figura 4 representa un plot (argumento,

lnea, trazado...) de la relacin seal/ruido contra un
tiempo de integracin (exposicin) en una cmara de
CCD de alto rendimiento diseada para digitalizar
imgenes con niveles de seal bajas, con un flujo
fotnico y unas caractersticas del sensor con los
valores que se muestran en la grfica. En un plot de
este tipo, se puede identificar rpidamente una
regin limitada por el ruido de lectura y una regin
limitada por el ruido fotnico, separadas durante el
tiempo de exposicin, por lo que el ruido fotnico
empieza a superar al ruido de lectura
(aproximadamente 0.15 segundos para los valores
del sensor y del flujo de luz especificados en la
grfica). Debido a la relacin de raz cuadrada entre
el ruido fotnico y la seal, esta divisin entre las dos
regiones ocurre durante un tiempo de exposicin
para el que la seal total detectada por pxel es
aproximadamente el cuadrado del valor del ruido de
lectura. Por ejemplo, con una especificacin de un
ruido de lectura de 5 electrones rms por pxel, el
ruido fotnico pasa a ser la fuente de ruido
dominante si el tiempo de exposicin es suficiente
para obtener ms de 25 fotones detectados por pxel
en el flujo de fotones incidentes existente. La
transicin entre los dos regmenes de ruido
dominantes supone que el ruido oscuro es
insignificante, algo normal en el manejo de sistemas

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 8

VHTM Divulgacin. Telfono: +34 91 6011368 Fax: +34 91 6011367 E-mail: divulgacion@vhtm.com Web site: www.vhtm.com

de digitalizacin de imgenes con CCDs de grado

cientfico, aunque otras situaciones son posibles. El
manejo en niveles altos de corriente oscura altera la
importancia de los valores relativos de ruido de
lectura y ruido fotnico bajo ciertas condiciones, y en
esas circunstancias el ruido oscuro puede superar
tanto la seal como otros componentes de ruido.

para visualizar en el monitor una vista preliminar de la

imagen y as suministrar una imagen ms brillante
con ndices de frame muy rpidos, lo que facilita la
colocacin y enfoque de la muestra. La Figura 5
muestra el efecto de diferentes valores de binning en
curvas que representan la variacin de la relacin
seal/ruido con el tiempo de exposicin. La ecuacin
que se utiliza para calcular la relacin seal/ruido se
modifica para explicar el binnig, como se muestra
ms abajo:
SNR = MPQet / [ MPQet + MDt + Nr2 ]1/2

Muchas cmaras con CCD de grado

cientfico permiten implantar una funcin de binning
como otro mecanismo para aumentar la relacin
seal/ruido. Habra que tener en cuenta que esta
tcnica implica sacrificar parte de la resolucin
espacial, adems de un aumento simultneo en la
corriente oscura. Con la mejora de la relacin
seal/ruido del CCD el sistema de digitalizacin de la
imagen es capaz de alcanzar condiciones de ruido
fotnico limitado a un nivel de luz ms bajo y/o un
tiempo de exposicin ms corto. Algunos sistemas
utilizan automticamente un modo de binning de pxel

en esta ecuacin modificada, M representa el

nmero de binned pixels, y se asume que la seal en
cada uno de estos pxeles es la misma. Las tres
curvas representan las mismas especificaciones del
CCD, como se indica en la grfica, para una
intensidad muy baja de la seal de la muestra,
produciendo un flujo de 40 fotones por segundo
incidentes en el sensor. Sin pxel binning se requiere
un tiempo de exposicin de aproximadamente 4
segundos para alcanzar un nivel de seal de ruido
fotnico limitado. Implementando un binning de 16
pxeles se alcanza una relacin seal/ruido y nmero
total de fotones detectados por pxel equivalentes con
un tiempo de exposicin de slo 0.25 segundos (ver
Fig. 4), lo que permitira actualizar una vista previa de
la imagen con un frame rate adecuado para permitir
la colocacin y enfoque de la muestra incluso con una
intensidad de imagen baja. Otro factor es que una
imagen adquirida con un tiempo de integracin de 4
segundos disfrutara de una mejora de 5 veces en la
relacin seal/ruido si se utiliza un binning de 16
pxeles en comparacin con el modo que no emplea
binning. En muchas situaciones, y especialmente a
niveles de baja luz, los beneficios de la reduccin de
ruido y la mejora resultante en el contraste de la
imagen son mayores que la prdida de resolucin
espacial que en teora es inherente al proceso de
pxel binning.

En la prctica, la tcnica elegida para la microscopa, junto con los instrumentos y la cmara que se utilicen,
determinan los valores de la mayora de los parmetros que son relevantes en cuanto al alcance de una cierta
relacin seal/ruido. El flujo de fotones es normalmente una funcin del sistema de iluminacin y un modo de
digitalizacin de la imagen utilizado, mientras que las caractersticas del CCD vienen determinadas por factores
como el diseo y la fabricacin y por norma general, se pueden mejorar despus. Por lo tanto, el microscopista
normalmente tiene slo el control sobre el tiempo de integracin, y quizs la implementacin del binning, como
mecanismos para aumentar la seal detectada y la relacin seal/ruido.

Bibliografa:
Thomas J. Fellers and Michael W. Davidson - National High Magnetic Field Laboratory, 1800 East Paul Dirac Dr.,
The Florida State University, Tallahassee, Florida, 32310.

Ruidos y Relacin Seal-Ruido en el CCD 9