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EVOLUO TECNOLGICA
EVOLUO TECNOLGICA
EVOLUO TECNOLGICA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
JUSTIFICATIVA
CORPO DE PROVA
CORPO DE PROVA
Par Torcido (Twisted Pair)
ENSAIO DE TENSO DE
RUPTURA DO DIELTRICO
Par Torcido (Twisted Pair)
ENSAIO DE DEGRADAO
ACELERADA DO DIELTRICO
Par Torcido (Twisted Pair)
DESCARGAS PARCIAIS
Externa
Interna
ANLISE DO DIELTRICO
Linhas de potencial eltrico entre 2
fios esmaltados encostados.
ANLISE DO DIELTRICO
Campo eltrico entre 2 fios
esmaltados encostados.
ANLISE DO DIELTRICO
Linhas de potencial eltrico entre 2 fios
esmaltados separados por camada de ar.
ANLISE DO DIELTRICO
Campo eltrico entre 2 fios esmaltados
separados por camada de ar.
ANLISE DO DIELTRICO
Linhas de potencial eltrico entre 2
fios esmaltados encostados e com
reduo da camada de esmalte.
ANLISE DO DIELTRICO
Campo eltrico entre 2 fios
esmaltados encostados e com
reduo da camada de esmalte.
ANLISE DO DIELTRICO
Linhas de potencial eltrico entre 2
fios esmaltados encostados e com
bolha de ar no esmalte.
ANLISE DO DIELTRICO
Campo eltrico entre 2 fios esmaltados
encostados e com bolha de ar no esmalte.
PROPOSTA
Par Torcido (Twisted Pair)
PROPOSTA
Ajuste de frequncia;
Ajuste da largura de pulso;
Ajuste do rise time;
TOPOLOGIA
Half-Bridge
ETAPAS DE OPERAO
Etapa 1
Etapa 2
Etapa 3
Etapa 4
PROJETO
CARACTERSTICAS DO HIPOT
Etapa 1
Etapa 2
BRAO DE IGBTs
CARACTERSTICAS DA CARGA
MW 16-C
MW 35-C
20
Capacitncia (pF)
15
10
0
0
10
20
30
40
50
frequncia (kHz)
60
70
80
90
100
BANCO DE CAPACITORES
BANCO DE CAPACITORES
BANCO DE CAPACITORES
SIMULAO
SIMULAO
EXECUO
Circuito de Potncia
EXECUO
Circuito de Proteo
EXECUO
Layout do Circuito de Potncia e de Proteo
EXECUO
Circuito de Potncia e de Proteo Executados
EXECUO
Circuito de Comando
EXECUO
Layout do Circuito de Comando
EXECUO
Circuito de Comando Executado
EXECUO
TESTE DA FONTE
Tenso no Hipot
TESTE DA FONTE
Tenso no Banco de Capacitores
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (120Hz)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (2,4kHz)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (largura de 25%)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (largura de 50%)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (largura de 75%)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (rise time de 85ns)
TESTE DA FONTE
Tenso nas amostras (rise time de 785ns)
RESULTADOS
Efeitos do rise time na degradao do Par Torcido
t (minutos)
Amostra
Senoidal
Pulsada
819
814
826
824
888
847
891
945
896
955
914
---
925
---
931
---
935
---
10
965
---
Mdia
899
877
RESULTADOS
Efeitos da largura do pulso na degradao do Par Torcido
t (minutos)
Amostra
25%
50%
75%
64
50
65
69
59
67
72
63
69
74
68
71
74
70
72
Mdia
71
62
69
RESULTADOS
Efeitos da frequncia na degradao do Par Torcido
1000
900
800
t(f) = 82271f-0.941
R = 0.9932
tempo (minutos)
700
600
500
400
300
200
100
0
0
500
1000
1500
frequncia (Hz)
2000
2500
RESULTADOS
Comparao entre fios MW 16-C e MW 35-C
MW 16-C
MW 35-C
RESULTADOS
Comparao entre fios MW 16-C e MW 35-C
Tenso de Ruptura do Dieltrico (kV)
Amostra
Tenso Retangular
MW 16-C
MW 35-C
11,8
9,4
10,9
8,7
12,6
10,5
11,7
9,8
13,2
10,6
12,6
10,6
11,2
8,4
13,0
10,5
Mdia
12,1
9,1
Mnimo
10,9
8,4
CONSIDERAES FINAIS
A fonte de tenso retangular permitiu
que fossem avaliados todos os
parmetros desejados;
O rise time no influncia na degradao
da isolao do par torcido;
A largura de pulso no influncia na
degradao da isolao do par torcido;
tempo (minutos)
RESULTADOS
A relao da frequncia com o tempo
de degradao no linear;
150
140
130
120
110
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
1000
10000
frequncia (Hz)
FUTUROS TRABALHOS
Desenvolvimento de uma nova fonte
com IGBTs para alta tenso, podendo
ser mais lentos (maior rise time) e com
capacitncia menor.
Estudo dos efeitos de variao do nvel
de tenso na degradao da isolao
dos fios esmaltados.
Construir uma base de dados que
permita executar avaliaes de fios com
diferentes tipos de esmalte.
Muito Obrigado!