UNIVERSIDADE FEDERAL DO PAR

INSTITUTO DE TECNOLOGIA
FACULDADE DE ENGENHARIA QUMICA

MICROSCOPIA TICA

Trabalho apresentado Prof Dr

Raimunda Maia como parte da avaliao
da disciplina Cincia e Engenharia dos
Materiais do curso de graduao em
Engenharia Qumica da UFPA.

Gilmar Nascimento Neves - 20090754030

Belm-PA
Setembro de 2016

SUMRIO
1.

Introduo....................................................................................................................................... 3

2.

Conceitos Fundamentais ................................................................................................................. 3

3.

O Microscpio tico ....................................................................................................................... 4

4.

3.1.

Breve Histrico ........................................................................................................................ 4

3.2.

O Equipamento Moderno ....................................................................................................... 4

3.3.

Koehler .................................................................................................................................... 5

Microscopia tica e Metalografia ................................................................................................... 5

4.1.

A Tcnica da Microscopia em Metais ..................................................................................... 6

4.1.1.

Preparao da Amostra....................................................................................................... 6

4.1.2.

Rplica Metalogrfica ......................................................................................................... 6

5.

Concluses ...................................................................................................................................... 7

6.

Bibliografia ...................................................................................................................................... 8

1. INTRODUO
A microscopia tica uma tcnica instrumental amplamente utilizada em diversas reas do
conhecimento, como cincias biolgicas, geocincias e engenharia, sendo dada nesse trabalho uma
ateno maior metalografia.
Basicamente, a tcnica se resume em uma anlise visual do material de estudo, com o auxlio de
diferentes lentes para aumento e iluminao apropriada, fazendo assim com que diversas
caractersticas do material que no seriam observadas ao olho nu possam ser vistas e estudadas.
Para se entender a tcnica preciso o estudo, mesmo que bsico, de alguns conceitos de fsica e
tambm dos componentes bsicos e suas funes do prprio equipamento. Luz, comprimento de
onda e espectro eletromagntico so, por exemplo, alguns dos conceitos que devem ser entendidos
afim de se dominar a tcnica.

2. CONCEITOS FUNDAMENTAIS
A seguir sero apresentados alguns conceitos e definies fundamentais para o entedimento da
tcnica.

Luz: uma forma de energia radiante que causa sensaes recebidas pelos rgos visuais,
sendo assim a parte visvel do espectro eletromagntico. A luz uma oscilao peridica.

Figura 1: A luz visvel no espectro eletromagntico.

Comprimento de onda: a distncia entre duas posies idnticas consecutivas na direo de

propagao de um movimento ondulatrio. O comprimento de onda () da luz pode variar de
3900 7900 Angstrom.
Luz branca: luz constituda de todas as radiaes visveis que se separam nas sete cores
fundamentais.

Superfcie de onda: a superfcie criada pelas extremidades de feixes emitidos pelo mesmo
ponto luminoso em determinado instante. Essa superfcie depende do meio em que a onda
se propaga, podendo este ser ISOTRPICO ou ANISOTRPICO.
Meio Isotrpico: o meio onde, pelos raios emitidos terem a mesma velocidade, a superfcie
de onda se apresenta em formato esfrico.
Meio anisotrpico: o meio onde a superfcie de onda apresenta uma forma elipside. Isso
se deve s diferentes velocidade de propagao dos raios emitidos pelo ponto luminoso.
Luz polarizada: energia que vibra restrita em um pequeno nmero de planos.
Luz no polarizada: essa vibrao ocorre em todas as direes.

3. O MICROSCPIO TICO
3.1.
BREVE HISTRICO
Diversos nomes fazem parte da histria da microscopia. Alguns se tornaram mais conhecidos que
outros e ainda hoje tem seus nomes gravados na cincia.
atribuda a Zacharias Jansen, em 1590, a criao do primeiro instrumento utilizando duas lentes para
aumento o que seria o primeiro microscpio composto. Poucos anos depois, em 1611, o matemtico
e astrnomo alemo Johannes Kepler foi quem sugeriu um modo de se construir com microscpio
composto. Muitos vieram depois de Kepler, mas foi em 1886 que o inventor alemo Carl Zeiss fabricou
uma srie de lentes que revolucionaram os estudos da microscopia e ainda hoje em dia so renomadas
mundialmente. Em 1893, outro alemo, August Koehler, desenvolveu um mtodo de iluminao que
mais uma vez alavancou os estudos na rea da microscopia e ainda nos dias atuais utilizado pelos
equipamentos modernos.
Desde o sculo XVII a microscopia vem se desenvolvendo e continua sendo parte fundamental no
avano da cincia e engenharia.

3.2.
O EQUIPAMENTO MODERNO
Os equipamento de microscopia tica evoluram muito desde sua criao no sculo XVII. H diversos
componentes na estrutura do equipamento que sero melhor visualizados nas figuras a seguir, porm
h dois de importncia crtica: as lentes objetivas e as lentes condensadoras.
As lentes objetivas so as responsveis por capturar a luz difratada pelo espcime e formar uma
imagem real ampliada. As lentes condensadoras focam a luz emitida pela fonte luminosa em uma
pequena rea do material.

A figura abaixo mostra uma viso geral dos principais constituintes de um microscpio Nikon.

Figura 2: Componentes bsicos de um Nikon Alphaphot-2.

3.3.
KOEHLER
Como j foi dito, o alemo Koehler revolucionou a microscopia com sua tcnica que ficaria conhecida
como Iluminao Koehler.
A iluminao um dos fatores crticos na performance da anlise. importante que a luz emitida seja
focada na abertura do condensador. O tamanho do campo iluminado na amostra ajustado de tal
modo que se iguala ao dimetro das lentes objetivas utilizadas. Isso faz com que possveis variaes
na iluminao do objeto sejam atribuidas a ele mesmo, e no s diferentes fontes luminosas que
possam estar presentes.
As vantagens do mtodo de Koehler so: brilho e iluminao iguais no plano da amostra e da imagem
e o posicionamento dois diferentes conjuntos de planos focais em pontos especficos no eixo tico do
microscpio.

4. MICROSCOPIA TICA E METALOGRAFIA

Diversas so as tcnicas utilizadas no estudo e caracterizao de materiais. A observao da estrutura
de metais em escala microscpica fundamental ao entendimento dos mesmos. A microscopia tica
uma tcnica eficiente e de baixo custo que permite a obteno de bons resultados para algum com
j um alto nvel de conhecimento terico. Assim, sua utilizao ampla e muito bem disponvel em
laboratrios prprios para tal.
O equipamento no difere tanto de outros microscpios em sua aparncia e componentes bsicos e,
como j foi frisado anteriormente, a iluminao continua sendo um dos aspectos fundamentais da
anlise. A seguir apresenta uma ilustrao esquemtica de trs modos de iluminao de
microscpios metalogrficos: iluminao oblqua ou inclinada, iluminao paralela ao eixo ou normal
e iluminao em campo escuro.

4.1.
A TCNICA DA MICROSCOPIA EM METAIS
A seguir sero apresentados alguns pontos cruciais na anlise microscpica de metais segundo o livro
Metalografia de Produtos Siderrgicos Comuns de Colpaert.
4.1.1. PREPARAO DA AMOSTRA
As seguintes fases so as que resumem o preparo da amostra:
i)
ii)
iii)
iv)
v)
vi)

Escolha e localizao da seco a ser estudada;

Obteno de uma superfcie plana e polida no local escolhido;
Exame ao microscpio para observao da ocorrncias visveis sem ataque qumico;
Ataque da superfcie por um reagente qumico adequado;
Exame ao microscpio para observao da microestrutura;
Registro do aspecto observado (fotografia).

A escolha e localizao da secco a ser estudada depende, entre outros fatores, das dimenses da
amostra e de seu aspecto macrogrfico. As dimenses da amostra obvimente se limitam no tamanho
do prprio equipamento. Caso a amostra apresente uma macrografia uniforme e homognea, esse
ponto no interfere na micrografia. Porm, no caso de uma amostra heterognea, o recomendado
que se realizem anlises microscpicas em diversos pontos para se garantir a representatividade da
anlise.
A obteno de uma superfcie plana e polida no local escolhido para anlise se d com uso de lixas e
politrizes, manuais e automticas. O lixamento deve ocorrer com diversas lixas, das mais lisas s mais
abrasivas, em sequncia sempre resfriando o material. O polimento deve tambm sempre seguir um
padro para que a atuao humana no seja o erro que prevalece na anlise. O controle para se saber
se a amostra j est pronta para microscopia a verificao da ausncia de riscos em um aumento de
at 200 vezes.
O exame ao microscpio sem ataque permite a avaliao caractersticas estruturais do materuial que
so visveis nesta condio, tais como incluses no metlicas, grafita, trincas, etc. A observao sem
ataque qumico mais clara e objetiva, evitando confuses na anlise, que a observao aps o
ataque. Outra funo desse exame avaliar a qualidade do polimento que deve ser satisfatrio afim
de que se tenha bons e relevantes resultados.
O ataque qumico feito para evidendenciar a estrutura ntima do material em estudo, para posterior
anlise em microscpio tico prprio para metalografia. Se faz basicamente imergindo o metal a ser
observado em reagente prprio, geralmente um cido que tenha afinidade com os elementos
presentes na amostra.

4.1.2. RPLICA METALOGRFICA

Quando se deseja observar a superfcie de uma amostra sem danific-la, pode-se replicar essa
superfcie com o auxlio de pelculas de polmeros e elastmeros prprias para tal. O material
empregado e qumicos reagem na superfcie do metal e aps certo tempo se moldam forma da
superfcie da amostra, podendo ser retirados e analisados fixos em lminas de vidro.

5. CONCLUSES
ntida a importncia da microscopia tica no avano da cincia e engenharia de materiais, bem como
nas cincias biolgicas, mineralogia, etc. Embora haja algumas diferenas nos microscpios ticos
devido s diferentes aplicaes, os componentes bsicos de um equipamento so os mesmos.
H mais de 400 anos o homem vem aperfeioando essa tcnica ainda largamente utilizada e
fundamental para todos. Desde Jansen at os estudiosos dos dias atuais, o objetivo dos estudos vem
sendo cada vez mais obter imagens em alta resoluo de coisas cada vez menores. Deve-se frisar a
importncia do conhecimento dos conceitos fundamentais da fsica tica para que tais avanos sejam
possveis.
A metalografia uma cincia que se beneficia e muito desses avanos. Tanto a nvel acadmico em
pesquisas, ou em nvel tcnico para a soluo de problemas imediatos, a microscopia tica
extremamente satisfatria para analisar os materiais em questo e oferecer respostas valiosas para a
atividade.

6. BIBLIOGRAFIA

BARRIGA, Vnia M. F. Mineralogia Microscpica. 01 ago. 2011, 31 nov. 2011. Notas de

Aula da Disciplina Mineralogia Microscpica, Curso de Graduao em Geologia
Instituto de Geocincias UFPA.

COLPAERT, Hubertus. Metalografia dos produtos siderrgicos comuns. 4. ed. Revista e atualizada
por COSTA E SILVA, Andr Luiz V. So Paulo: Editora Blucher, 2008.
Disponvel em <https://www.thermofisher.com/br/en/home/life-science/cell-analysis/cellanalysis-learning-center/molecular-probes-school-of-fluorescence/fundamentals-offluorescence-microscopy/physical-properties-that-define-fluorescence.html> Acesso em 29 de
Agosto de 2016.
Disponvel em <http://faculty.sdmiramar.edu/dtrubovitz/microscope/> Acesso em 29 de Agosto
de 2016.
MURPHY, Douglas B. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. New York: WilleyLiss, 2001.