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Los rayos X se definen como una radiacin Electromagntica de longitud de onda corta. El
intervalo de longitudes de onda de los rayos X va desde aproximadamente 6.0x10^16 Hz
hasta alrededor de 1.0x10^20 Hz.
La espectrometra de rayos X abarca un buen nmero tcnicas y mtodos de anlisis
qumico elemental y estructural. Los ms ampliamente utilizados son la fluorescencia de
rayos X (anlisis multi-elemental) y la difraccin de rayos X (anlisis estructural).
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El proceso de emisin de rayos X caractersticos se llama fluorescencia de rayos X y se
abrevia con las siglas FRX. El anlisis que utiliza fluorescencia de rayos X se llama
Espectroscopia de Fluorescencia de Rayos X. En la mayora de casos los orbitales de los
niveles K y L son los involucrados. Para crear un orbital vacante en una capa interna del
tomo es necesario que la energa del haz incidente sea igual o mayor a la energa de
enlace (o energa de ionizacin) del electrn en el nivel electrnico. Provocando una
emisin electrnica Auger (es un fenmeno fsico en el cual la desaparicin de un electrn
interno de un tomo causa la emisin de un segundo electrn. El segundo electrn
emitido es llamado electrn Auger).
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Para que se d el proceso de fluorescencia de rayos X, primero tiene que ocurrir la
absorcin fotoelctrica por el elemento. Cuando un fotn altamente energtico
proveniente de una radiacin de rayos X pasa a travs de una fina pelcula de materia, su
intensidad o potencia generalmente disminuye como consecuencia de la absorcin.
Cuando los tomos de la muestra a analizar absorben esta alta energa, sucede que en los
espectros de absorcin surge la aparicin de unas discontinuidades agudas, llamadas
discontinuidades de absorcin a longitudes de onda ligeramente superiores del mximo
de absorcin.
Luego de la absorcin del fotn con energa de rayos x, un electrn de los ms cercanos al
ncleo de las capas internas K o L es expulsado del tomo. En este proceso de absorcin,
parte de la energa del fotn incidente de rayos X es utilizada para romper la energa de
enlace del electrn interno del elemento y la energa restante acelera el electrn
expulsado. Despus de que el electrn es expulsado, el tomo queda en un estado
altamente excitado y por lo tanto muy inestable. Para que se reestablezca la estabilidad,
los electrones de las capas adyacentes llenaran el espacio vacante, al pasar un electrn de
otra capa y con una energa diferente al del electrn saliente hay una diferencia de

energa, la cual se emite en forma de radiacin de rayos X. Precisamente, este proceso de


emitir rayos X es conocido como fluorescencia de rayos X.
Los procesos XES y XAS tambin son conocidos como espectroscopia de fotones in () y
fotones out (). Los estados intermedios dan lugar a un espectro de absorcin. La energa
total de los estados finales est dada por la transferencia de energa - que es la
emitida.
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Cada elemento de la tabla peridica emite rayos X caractersticos al ser excitado por una
fuente externa de rayos X o de partculas aceleradas (electrones o protones). En un
espectro de rayos X es posible identificar los elementos presentes por la energa de los
picos provenientes de una muestra. Estas energas especficas y caractersticas permiten la
identificacin de los diferentes elementos qumicos que componen una muestra
desconocida, sin destruirla ni tratarla qumicamente, sino irradindola en forma directa.
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Los instrumentos que se utilizan contienen componentes similares a los utilizados en
medidas espectroscpicas pticas; una fuente, un dispositivo para seleccionar la longitud
de onda, un soporte para la muestra un detector de radiacin, un procesador de la seal y
un dispositivo de lectura. Estos componentes difieren considerablemente de los pticos
pero sus funciones son las mismas as como la manera como se combinan para formar un
instrumento.
Se trata de un tubo a alto vaco en el que se monta un ctodo de filamento de tungsteno y
un nodo slido. El nodo normalmente consiste en un bloque pesado de cobre con un
blanco de metal dispuesto sobre o empotrado en la superficie del cobre. Los materiales
del blanco incluyen metales como el tungsteno, el cromo, el cobre, el molibdeno, el rodio,
la plata, el hierro y el cobalto. Para calentar el filamento y para acelerar los electrones
hacia el blanco se utilizan circuitos separados. El circuito de calentamiento permite
controlar la intensidad de los rayos X emitidos, mientras que el potencial de aceleracin
determina su energa o longitud de onda.
El monocromador consiste en un par de colimadores y en un elemento dispersante. Los
colimadores normalmente consisten en una serie de placas o tubos de metal poco
espaciados que absorben todos los haces de radiacin excepto los paralelos.
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Cuando la radiacin X pasa a travs de un gas inerte como el argn, xenn o criptn,
tienen lugar interacciones que producen un gran nmero de iones positivos y de
electrones (pares inicos) por cada fotn de rayos X.
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La espectrometra de fluorescencia de rayos x es muy til cuando se dispone de muy poca


muestra. Un ejemplo es el anlisis de residuos de descarga por arma de fuego para
compararlos con los de alguna vctima o escena de un crimen. Tambin se utiliza en la
identificacin de explosivos, papeles, anlisis de metales pesados en suelos, aguas,
pintura y brinda informacin cualitativa (es decir, sobre los elementos presentes en una
muestra) y cuantitativa (es decir, las concentraciones relativas de cada elemento), porque
la intensidad de cada emisin caracterstica guarda relacin directa con la cantidad del
elemento en el material.
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Las imgenes que se obtienen en el microscopio electrnico de barrido corresponden a
electrones secundarios o electrones retrodispersados emitidos tras la interaccin con la
muestra del haz incidente.
El haz de electrones se desplaza sobre la muestra realizando un barrido en las direcciones
X e Y de tal modo que la posicin en la que se encuentra el haz en cada momento coincide
con la aparicin de brillo, proporcionalmente a la seal emitida, en un determinado punto
de la pantalla.
La seal de electrones secundarios se forma en una delgada capa superficial, del orden de
50 a 100 . Son electrones de baja energa, menos de 50 eV, que pueden ser desviados
fcilmente de su trayectoria emergente inicial y permiten obtener informacin de zonas
que no estn a la vista del detector. Esta particularidad otorga a esta seal la posibilidad
de aportar informacin en relieve.
La emisin de electrones retrodispersados depende fuertemente del nmero atmico de
la muestra. Esto implica que dos partes de la muestra que tengan distinta composicin se
revelan con distinta intensidad aunque no exista ninguna diferencia de topografa entre
ellas.
Los rayos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrnico permiten
identificar los elementos presentes y establecer su concentracin.
La tcnica SEM-EDX suele resultar ms eficaz en el caso de los elementos livianos, en tanto
que la XRF es ms sensible a los elementos pesados. La tcnica SEM-EDX se utiliza en el
examen forense de papel y marcas de lpiz. El microscopio electrnico de barrido (sin
necesidad de utilizar espectrometra de fluorescencia de rayos X por energa dispersiva)
puede utilizarse cuando se llega al lmite de la capacidad de aumento del microscopio
ptico. Se aplica principalmente en el examen de documentos para establecer secuencias
de lneas que se entrecruzan
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Estudios previos han indicado que las partculas metlicas se mantienen en el hueso
despus de una lesin aguda o la fuerza de bala y que su deteccin por microscopa
electrnica de barrido con espectrometra de energa dispersiva de rayos X (SEM-EDS)
podra ser de gran ayuda en la identificacin de herramientas. Sin embargo, la presencia

de partculas metlicas en el hueso superficies en el contexto de un fuerte traumatismo


Nunca se ha evaluado experimentalmente. Por esta razn la Este trabajo representa un
estudio experimental del comportamiento de los residuos metlicos en el hueso siguiente
lesiones de fuerza contundente.
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Fluorescencia de rayos X (XRF) se ha utilizado para probar aditivos inorgnicos conocidos
en el papel soluble en agua y tambin para determinar la composicin elemental de papel
fotogrfico. Los resultados indicaron que en estos casos, la tcnica puede ser til en la
identificacin de falsificaciones o reproducciones, El propsito de este estudio fue evaluar
el potencial de las tcnicas de anlisis inorgnicos para la discriminacin de documento (la
oficina de usos mltiples) de papel.