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Projet de fin d’année :

Automatisation et surveillance de la commande d’un
Système palettiseur

4ème année Automatisme et informatique

industrielle

Réalisé par : Encadré par :

El ANSARI Réda M. TAJER Abdelouahed
ASKOUR Saïd

Année Universitaire 2015 /2016

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Dédicaces

On dédie ce modeste travail à :

Nos familles avec tous nos sentiments de respect, d'amours,

de gratitude et de reconnaissance pour leurs sacrifices

déployés pour nous élever dignement, et assurer notre

éducation dans des meilleures conditions.

Nos formateurs sans exception, pour leurs efforts afin de

nous assurer une formation aussi solide.

À tous ceux qu’on aime et qu’on admire.

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Remerciements

Nos vifs remerciements à notre encadrant Mr. TAJER pour son

orientation, son soutien et ses précieux conseils qui nous ont été très
pertinents pour mener à bien ce mini-projet de fin d’année.
Nous tenons aussi à remercier :
Tous nos professeurs pour leurs directives, conseils et
encouragements qu’ils nous ont prodigué. On les remercie aussi tant
pour leurs disponibilités que pour leur assistance sans faille.
Nous remercions également toute l’équipe pédagogique de l’EMSI et
les intervenants professionnels pour leurs efforts en vue d’assurer une
formation de haut niveau.
Nous remercions enfin les membres de jury pour avoir accepter
d’évaluer notre travail.
Nos plus sincères remerciements aux membres du jury, qu’ils

trouvent dans notre humble travail l’expression de notre

reconnaissance et de notre gratitude.

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Abstract

This project aims to create a complete solution (control, and diagnosis)

for automated production systems available on the emulator ITS PLC,
the Palettizer.

The work of this report include the proposal of a sequential

control, and the implementation of a diagnostic approach for APS.

This report contains three chapters:

I. Monitoring of automated production systems ;

II. The treated problem ;
III. Implementation of the diagnostic approach ;

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Résumé

Ce projet consiste à concevoir une solution (commande et diagnostic)

pour un des systèmes automatisé de production proposé sur l’émulateur ITS
PLC le Palettiseur.

Les travaux de ce rapport portent sur la proposition, d’une commande

séquentielle et l’implantation d’une approche de diagnostic pour les SAP.

Ce rapport est organisé en trois chapitres:

I. Surveillance des systèmes de production automatisée

II. La problématique à traiter
III. Mise en œuvre de la démarche de diagnostic

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Sommaire
I. LES SYSTEMES AUTOMATISES DE PRODUCTION : ........................................................................ 12

PRÉSENTATION GÉNÉRALE: ........................................................................................................................... 12

I.2 DIFFÉRENTS TYPES DE SAP: .................................................................................................................. 13

II. LA PROBLEMATIQUE DU DIAGNOSTIC DANS LES SAP : ................................................................ 14

SURVEILLANCE ET DIAGNOSTIC: ...................................................................................................................... 14

III. METHODES DE DIAGNOSTIC .................................................................................................... 15

FAULT DETECTION AND ISOLATION ................................................................................................................. 16

I. LE CAHIER DE CHARGE : .............................................................................................................. 19

II. ITS PLC : PALETTISEUR ................................................................................................................. 20

II.1 LES SYSTEMES PROPOSES PAR ITS PLC : ............................................................................................. 20

II.2 VUE TECHNOLOGIQUE - CONSTITUTION DU PALETTISEUR : ..................................................................... 22

III. ANALYSE FONCTIONNELLE DU SYSTEME : ............................................................................... 26

III.1 LES GRAFCETS: .............................................................................................................................. 26

 Grafcet de conduite: ................................................................................................................. 26
 Grafcet du mode manuel : ........................................................................................................ 26
 GRAFCET DU production NORMAL: .......................................................................................... 27
 Les taches du grafcet de production normal :.......................................................................... 29
 grafcet de sécurité: ................................................................................................................... 30
III.2 LE SCHEMA DU BESOIN : .................................................................................................................. 31
III.3 CLASSIFICATION DES FONCTIONS DE SERVICE: ...................................................................................... 31
III.4 FONCTION GLOBALE: ...................................................................................................................... 32

IV. ENVIRONNEMENT D’IMPLEMENTATION : STEP7..................................................................... 33

DÉFINITION: .............................................................................................................................................. 33
IV.2 CONFIGURATION DE MATÉRIELS: ....................................................................................................... 33
IV.3 PRINCIPE DE LA PROGRAMMATION EN S7 ........................................................................................... 34
IV.4 LANGAGES DE PROGRAMMATION : .................................................................................................... 35
IV.5 TYPES DE VARIABLES ....................................................................................................................... 36
IV.6 SIMULATION ................................................................................................................................. 36

I.1 SURVEILLANCE ET DIAGNOSTIC:.............................................................................................. 40

I.1 DIAGNOSTIC DÉCENTRALISÉ ................................................................................................................. 41

I.2 ETABLISSEMENT DES MODÈLES ............................................................................................................. 44

II. LES GRAFCETS DU SYSTEMES APRES RESOLUTION DES DEFAILLANCES : ...................................... 45

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Liste des figures et tableaux

Figure1. 1 : Structure d'un SAP .................................................................................................... 12
Figure 1. 2: La difficulté de localiser des défauts......................................................................... 15
Figure1. 3: Une classification des méthodes de diagnostic ......................................................... 16
Figure 1. 4: Place de la détection dans le diagnostic FDI ............................................................ 17

Figure2. 1: Le système palettiseur ............................................................................................... 19

Figure2. 2: Le systéme de tri de caisses ....................................................................................... 20
Figure2. 3: Le systéme de mélange de couleurs .......................................................................... 21
Figure2. 4: Le magasin automatique ........................................................................................... 21
Figure2. 5: Le robot "Pick & Place" .............................................................................................. 21
Figure2. 6: Le système Palettiseur ............................................................................................... 22
Figure2. 7: Position des capteurs dans le système ...................................................................... 23
Figure2. 8: Le positionnement des actionneurs dans le système ................................................ 25
Figure2. 9: Grafcet de conduite ................................................................................................... 26
Figure2. 10: Grafcet du mode Manuel ........................................................................................ 27
Figure2. 11: GPN .......................................................................................................................... 28
Figure2. 12: Grafcet de l'ascenseur ............................................................................................. 29
Figure2. 13: Grafcet de formation de palettes ............................................................................ 30
Figure2. 14: Grafcet de securité .................................................................................................. 30
Figure2. 15: La bête à corne du palettiseur ................................................................................. 31
Figure2. 16: diagramme des interactions .................................................................................... 32
Figure2. 17: diagramme SADT du palettiseur ............................................................................. 33
Figure2. 18: La configuration matérielle ..................................................................................... 34
Figure2. 19: Interface de simatic manager ................................................................................. 35
Figure2. 20: Interface de programmation ................................................................................... 35
Figure2. 21: PLC SIM .................................................................................................................... 36

Figure3. 1: La chaine fonctionnelle .............................................................................................. 41

Figure3. 2; Etapes d’obtention des diagnostiqueurs locaux ........................................................ 42
Figure3. 3: NBM du Palettiseur ................................................................................................... 45
Figure3. 4:Grafcet final de la tache de palettisation ................................................................... 46

Tableau 2. 1: Les capteurs du palettiseur .................................................................................... 22

Tableau 2. 2: Les actionneurs du palettiseur ............................................................................... 24

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Introduction générale

L’automatisation des installations industrielles vise à augmenter la

productivité des systèmes et à réduire les coûts de la maintenance des équipements de
production. Cependant, la complexité due à l’automatisation des systèmes de
production implique des besoins croissants en termes de disponibilité et de
performance. Ainsi, il est nécessaire de disposer d’une fonction permettant le
diagnostic des défaillances pouvant affecter le fonctionnement du système. Ceci permet
d’envisager des actions correctives pour que ce dernier retourne à son
fonctionnement nominal. Un module de diagnostic est nécessaire, non seulement
pour améliorer les performances et la productivité des systèmes, mais également pour
limiter les conséquences des pannes qui peuvent être catastrophiques sur le plan des
biens et des vies humaines.

La fonction de diagnostic consiste à détecter une défaillance, de localiser son

origine et de déterminer ses causes. Son principe général consiste à confronter les
données relevées au cours du fonctionnement réel du système avec la connaissance
dont on dispose sur son fonctionnement normal et anormal. Plusieurs chercheurs
ont abordé la thématique de la surveillance industrielle et du diagnostic mettant
ainsi en évidence l’intérêt manifesté aussi bien par la communauté du contrôle des
systèmes avec des approches issues de l’automatique que par la communauté
d’Intelligence Artificielle (IA).

Dans ce contexte, ce rapport sera structuré autour de trois chapitres. Le

premier chapitre présentera les différents systèmes automatisés de production (SAP) et
les différentes méthodes de surveillance des SAP. Le deuxième présentera la
problématique à traiter, logiciel d’émulation ITS et le système étude choisie. Le
troisième concerne la mise en œuvre de la démarche de diagnostic choisie.

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CHAPITRE I

Surveillance des systèmes de production

automatisés

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INTRODUCTION
L’objectif de ce chapitre est de présenter les concepts fondamentaux liés au diagnostic
et à la surveillance des systèmes automatisés. Dans un premier temps, nous présentons
le contexte de notre étude à savoir, les systèmes automatisés de production. Dans la
littérature de la surveillance et du diagnostic, on peut trouver plusieurs définitions
quelquefois divergentes. C’est la raison pour laquelle nous donnons les définitions des
mots clés nécessaires pour la compréhension de ce rapport. Enfin, nous présentons une
classification non exhaustive des méthodes de diagnostic des défauts rencontrées dans la
littérature.

I. LES SYSTEMES AUTOMATISES DE PRODUCTION :

Les besoins croissants en termes de productivité, de qualité et de disponibilité des

systèmes industriels, durant ces dernières décennies, ont fortement participé au
développement du processus d’automatisation des systèmes indus tri el s. Cette
automatisation vise à augmenter les cadences de production tout en réduisant le temps de
maintenance et gardant une certaine flexibilité pour pouvoir s’adapter à la production des
nouveaux produits.

PRESENTATION GENERALE:

D’une manière générale, un système est un ensemble d’éléments en interaction

organisé dans un environnement avec lequel il interagit pour réaliser une fonction qui lui est
attribuée. Un Système Automatisé de Production (SAP) permet de remplir, de manière
automatique, des fonctions, répondant à certains besoins spécifiques, précédemment
assurées par l’homme. Comme il est illustré dans la figure 1.1, inspirée de (Perrin et al. 2004),
un SAP est composé d’une Partie Commande (PC) et d’une Partie Opérative (PO).

Figure1. 1 : Structure d'un SAP

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 La partie commande n’est autre que la logique de fonctionnement du processus que

l’on veut automatiser. Elle envoie des ordres à la PO et permet la communication avec
l’opérateur. Les deux composantes principales de cette partie concernent la supervision
pilotage) et la surveillance (le suivi). La fonction de surveillance permet de vérifier le bon
fonctionnement d’un équipement ou le bon déroulement d’un procédé.

 La partie opérative exécute les ordres envoyés par la PC à l’aide d’actionneurs et

lui communique les informations collectées à partir de capteurs, autrement dit les
comptes- rendus.

I.2 DIFFÉRENTS TYPES DE SAP:

Les SAP peuvent être caractérisés à travers la dynamique exprimant leur

fonctionnement. Selon l’objectif considéré, il y a trois abstractions possibles pour modéliser
cette dynamique : les systèmes continus, les systèmes à événements discrets et les systèmes
dynamiques hybrides.

Les systèmes continus :

Les systèmes continus sont constitués d’éléments caractérisés par une ou plusieurs
mesures qui peuvent prendre des valeurs réelles lorsque le temps évolue. Les grandeurs
peuvent être, par exemple, une position, une vitesse, une accélération, un niveau, une
pression, une température, un débit, une tension, etc. La gestion de ces systèmes fait appel
à des outils mathématiques aptes à la représentation de la dynamique continue comme
les équations différentielles. Les systèmes continus sont perçus par l’automaticien à travers
une représentation reposant le plus souvent sur des variables d’état continues et une
variable temporelle, continue ou discrète.

Les Systèmes à Événements Discrets :

Un Système à Événements Discrets (SED) est un système à espace d’état discret dont
les transitions entre les états sont associées à l’occurrence d’événements discrets
asynchrones (Cassandras et Lafortune, 1999). Ces systèmes recouvrent un grand nombre de
situations, allant de la circulation de véhicules (en réseau urbain ou en atelier de
fabrication) au fonctionnement de machines dans un atelier flexible. Plusieurs modèles
mathématiques ont été proposés pour l’analyse et la commande de ces systèmes, en
particulier les automates à états finis et les Réseaux de Petri (RdP). Certains modèles de SED,
tels que les automates temporisés, utilisent des variables temporelles de nature

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symbolique, où le temps sert, essentiellement, à définir une chronologie entre les

événements.

Les Systèmes Dynamiques Hybrides :

Les Systèmes Dynamiques Hybrides (SDH) couvrent simultanément les deux aspects
continu et discret. Ces systèmes évoluent dans le temps et combinent des variables
continues et des variables discrètes (Ben Hadj-Alouane et al., 2006). Un état discret du
système peut être vu comme un système continu avec des variables continues reliées
par des contraintes. Cependant, la portée de ces contraintes est restreinte à l’état en
question. La transition du système d’un état à un autre fait changer son mode de
fonctionnement en lui faisant subir d’autres lois continues propres au nouvel état.

II. LA PROBLEMATIQUE DU DIAGNOSTIC DANS LES SAP :

Suite aux récentes révolutions technologiques dans le domaine industriel, on retrouve

de plus en plus d’éléments complexes intégrés dans un SAP, notamment dans sa partie
opérative. Cette complexité des SAP est accompagnée par des besoins croissants en termes de
sûreté de fonctionnement et de sécurité. En effet, il est indispensable de mettre en œuvre
une fonction de surveillance permettant de réagir à temps, aux possibles dysfonctionnements.
Une réaction immédiate aux dysfonctionnements permet d’une part, d’éviter de
considérables pertes humaines et matérielles. D’autre part, elle permet d’échapper à la
propagation des défaillances entraînant ces dysfonctionnements, facilitant ainsi le pistage
des causes de ces défaillances.

SURVEILLANCE ET DIAGNOSTIC:
Les SAP sont généralement caractérisés par la complexité de leurs structures, puisqu’ils
imbriquent de nombreux éléments complexes de la P O. Le taux d’apparition de pannes dans
un système augmente en fonction de la complexité de sa structure, ce qui rend la tâche
d’analyse de ces pannes difficile. Cette difficulté justifie la nécessité de disposer d’un système
de surveillance permettant d’alerter l’opérateur en cas de pannes, afin de pouvoir décider à
temps des actions correctives.

a. Surveillance

Un système de surveillance a comme première vo cation d’émettre à partir des

information générées par les capteurs, des alarmes (Valette et al., 1989) dont l’objectif est
d’attirer l’attention de l’opérateur de supervision sur l’apparition d’un ou plusieurs événements
susceptibles d’affecter le bon fonctionnement de l’installation, comme le dépassement d’un
seuil de sécurité au niveau du remplissage d’un réservoir.

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b. Detection

La fonction de détection permet de discerner tout écart du système par rapport à

son état de fonctionnement normal. Autrement dit, elle permet de déterminer la
présence de défauts dans un système. Pour assurer cette fonction, il est indispensable de
pouvoir distinguer entre les situations normale et anormale.

c. Diagnostic

La fonction diagnostic permet de déterminer les causes et de localiser les éléments

défaillants, qui ont entraîné la dégradation du système (Combacau et al., 2000). En effet, le
diagnostic établit un lien de cause à effet entre un symptôme observé et la défaillance
constatée. Cette fonction suit la fonction de détection et inclut les fonctions de
localisation et d’identification.

Localisation de défauts : il s’agit de localiser le sous-système affecté par le défaut détecté,

responsable de la défaillance du système. La localisation consiste, en effet, à remonter les
symptômes pour retrouver l’ensemble des éléments défaillants. Ce problème est difficile à
résoudre. En effet, il est possible de déterminer une défaillance, ou une panne, résultant d’un
défaut. Par contre, le problème inverse est plus difficile à résoudre, puisque une panne peut
résulter d’un ou plusieurs défauts, comme il est montré dans la figure 1.2.

Figure 1. 2: La difficulté de localiser des défauts

III. METHODES DE DIAGNOSTIC

Les méthodes de diagnostic des défauts utilisées dans le milieu industriel sont très variées.
Leur principe général repose sur une comparaison entre les données observées au cours du
fonctionnement du système et les connaissances acquises sur son comportement normal et
ses comportements de défaillance. Dans cette section, nous présentons une classification
des principales méthodes de diagnostic rencontrées dans la littérature, représentée dans la
figure 1.3.

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Figure1. 3: Une classification des méthodes de diagnostic

FAULT DETECTION AND ISOLATION

Parmi les méthodes qu’on peut utiliser pour diagnostiquer un SAP est : FDI (Fault
Detection and Isolation) où on trouve que la fonction détection détermine la normalité ou
l'anormalité du système en fonctionnement. Le diagnostic des défauts FDI des systèmes
industriels est à l’origine de nombreux travaux depuis les dernières années. Il est défini comme
l’opération permettant de détecter un défaut, de localiser son origine et de déterminer ses
causes. Son principe général consiste à confronter les données relevées au cours du
fonctionnement réel du système avec la connaissance dont on dispose sur son fonctionnement
normal ou anormal.

La détection permet de déceler tout écart du comportement normal du système et

alerte les OHS de la présence d’un défaut. La localisation permet de remonter à l’origine de
l'anomalie et de localiser le ou les composants défectueux.

Cette localisation est importante puisque la propagation d’une panne provoque

souvent l’apparition de nouveaux défauts. Enfin, l’identification détermine l’instant
d’apparition de la panne, sa durée et son importance.

L’intérêt pour le diagnostic des défaillances s’explique par la complexité croissante des
systèmes industriels qui sont de plus en plus exigeants en termes de contraintes de sécurité,
de fiabilité, de disponibilité et de performances.

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En fait, la possibilité qu’un système tombe en panne croît malgré les précautions de
manipulation, le développement de techniques de conception de la commande et l’expérience
des Opérateurs Humains de Supervision (OHS).

Figure 1. 4: Place de la détection dans le diagnostic FDI

CONCLUSION
Nous avons présenté dans ce chapitre la problématique générale de surveillance
des systèmes automatisés de production. A travers ce premier chapitre, nous avons
souligné l’importance du rôle que joue un système de diagnostic dans le bon
fonctionnement d’un processus industriel.

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CHAPITRE II

La problématique à traiter

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INTRODUCTION
Le développement des jeux vidéo a entraîné au cours des dix dernières années une
révolution des technologies informatiques.la mise à disposition sur internet de moteurs
physiques (PhysX., Newton Game dynamics…) dont le but est que l’on puisse simuler de
manière réaliste les comportements physiques (collisions, chutes de corps, forces…) et de
frameworks comme XNa permettant un développement simplifié et rapide des jeux 3d a rendu
possible la création d’un logiciel comme iTS PlC Professional Edition.
Le but de ce chapitre est de présenter le logiciel d’émulation ITS PLC et
l’environnement d’implementation STEP 7 et présenter le système d’étude « le Palettiseur »,
avec une analyse fonctionnelle du cahier des charges.

I. LE CAHIER DE CHARGE :

Le palettiseur est composé d’un ascenseur pour les cartons, d’un bâti principal et d’une
sortie pour les palettes. L’ascenseur (A) alimente un convoyeur à bande automatique (C) à
l’aide d’un éjecteur (B). Les cartons sont retenus à la fin du convoyeur (C) par un bloqueur (D).
Les cartons sont alors prêts à être chargés sur le plateau (E) pour aller devant les poussoirs à
tige (F). Les convoyeurs (H) amènent les palettes de l’alimentation au monte-charge (G). Une
fois la palette sur le monte-charge, celui-ci monte au niveau le plus haut du palettiseur. Les
cartons sont déposés sur la palette au retour du plateau (E), pendant que les tiges des poussoirs
(F) sont sorties. Ce cycle de palettisation peut être répété au plus deux fois, par palette. La
palette terminée, le monte-charge descend au niveau du convoyeur de sortie (I) et la palette
est évacuée.

Figure2. 1: Le système palettiseur

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II. ITS PLC : PALETTISEUR

ITS PLC est un ensemble de logiciels qui permet de programmer des API au moyen de
Parties Opératives (PO) simulées. Les environnements virtuels proposés n’ont jamais été
aussi réalistes grâce d’une part à une totale interactivité, et d’autre part à la qualité des
animations graphiques 3D en temps réel, des dynamiques et des sons.

La commande est résolue au moyen de la logique séquentielle, basée le plus souvent

sur le Grafcet. Les simulateurs sont très utilisés dans l’industrie, car ils permettent de
valider la partie commande, d’étudier son comportement en cas de défaillances de la partie
opérative, et d’optimiser le temps de cycle.

Deux types de simulateurs existent : les simulateurs de partie commande qui évitent
l’utilisation des API, et les simulateurs de partie opérative qui reposent sur une modélisation
originale, mais relativement abstraite, du système de production.

II.1 LES SYSTEMES PROPOSES PAR ITS PLC :

Le logiciel propose cinq systèmes virtuels pour la programmation des API. Chaque PO
est une simulation graphique d’un système industriel avec ses capteurs et ses
actionneurs, qui permettent son pilotage par un API.

Ces cinq machines virtuelles différentes, qui suivent des scénarios rencontrés
dans le monde industriel :

 Le système de tri : Appartenant au

domaine de la logistique et du stockage, sa
fonction globale est d’amener des caisses sur
palette, d’un tapis d’arrivée aux deux monte-
charge, en les triant selon leur hauteur. Les
actionneurs sont principalement des moteurs
électriques de convoyeurs et les capteurs des
détecteurs photoélectriques.

Figure2. 2: Le systéme de tri de caisses

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 Le système batch de mélange: Typique

d’un processus continu pour la fabrication de « jus
» par lot à partir de composants liquides, sa
fonction est de mélanger les trois couleurs
primaires (rouge, vert et bleu) pour obtenir un
composant liquide de la couleur souhaitée.

Figure2. 3: Le systéme de mélange de couleurs

 Le magasin automatique : Ce système

pour déplacer, stocker et retrouver les caisses
d’un magasin vertical est la PO la plus complexe
des cinq. En réalité, son grand nombre
d’entrées/sorties ne permettrait pas, avec les
32 E/S TOR de la liaison automate-
simulateur, de piloter le système au niveau
actionneur. C’est donc une commande au niveau
de la coordination des tâches qui est
suggérée ici.
Figure2. 4: Le magasin automatique

 Le r o b o t « P i c k & P l a c e » : Typique
des machines de conditionnement, il range
des pièces dans des boîtes alvéolées en
utilisant un manipulateur 3 axes. La PO est
constituée de trois convoyeurs, deux pour
l’aménage des produits et de l’emballage et un
pour l’évacuation des produits conditionnés.

Figure2. 5: Le robot "Pick & Place"

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Et pour finir le système Palettiseur l’objet de

l’étude :

Typique des machines placées en fin de ligne de

conditionnement, cet équipement automatique
permet de former des palettes de caisses sur
trois niveaux.

Ses caractéristiques :
Figure2. 6: Le système Palettiseur

 Le monte palette peut empiler un maximum de 3 niveaux de caisses.

 Chaque niveau peut avoir au plus 2 caisses.

II.2 VUE TECHNOLOGIQUE - CONSTITUTION DU PALETTISEUR :

a. Capteurs:

Le système Palettiseur comporte onze capteurs, représentés dans le tableau suivant :

Capteurs Description Type

C0 Capteur de sortie de l’ascenseur des cartons De position TOR

C1 Fin de course d’avance de l’éjecteur De position TOR
C2 Capteur du stock tampon du convoyeur Photo-électrique
C3 Plateau rentré De position TOR
C4 Plateau sorti De position TOR
C5 Tiges des poussoirs sorties De position TOR
C6 Monte-charge en position basse De position TOR
C7 Monte-charge en position pour le premier niveau de De position TOR
cartons
C8 Monte-charge en position pour le deuxième niveau de De position TOR
cartons
C9 Monte-charge en position pour le troisième niveau de De position TOR
cartons
C10 Présence palette sur le monte-charge De présence TOR
Tableau 2. 1: Les capteurs du palettiseur

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Figure2. 7: Position des capteurs dans le système

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b. Actionneurs:

Concernant les actionneurs, le système comporte huit actionneurs comme le montre

le tableau suivant :

Actionneurs Description Type

A0 Ascenseur (cartons) Moteur
A1 Avance de l’éjecteur Vérin simple effet
A2 Libérer cartons (fin du convoyeur) Vérin simple effet
A3 Avancer plateau Vérin simple effet
A4 Sortir les pousseurs Vérin simple effet
A5 Monter le monte-charge (palette) Moteur
A6 Descendre le monte-charge (palette) Moteur
A7 Convoyeur des palettes Moteur
Tableau 2. 2: Les actionneurs du palettiseur

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Figure2. 8: Le positionnement des actionneurs dans le système

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III. ANALYSE FONCTIONNELLE DU SYSTEME :

III.1 LES GRAFCETS:

 GRAFCET DE CONDUITE :

Le grafcet de conduite permet le choix entre deux modes :

 mode manuel
 mode automatique
Cependant, si la réceptivité auto./stop est vrai, l’étape 301 s’active et fait appel au
grafcet de la production normal. Sinon si la réceptivité /auto est vrai, l’étape 302 s’active et fait
appel au grafcet du mode manuel.

300

Auto . /stop /Auto

301 302

X17 X402

Figure2. 9: Grafcet de conduite

 GRAFCET DU MODE MANUEL :

Le grafcet du mode manuel permet la vérification des actionneurs du système une fois l’étape
401 est activé.

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400

X302

401 ‘’ test manuel ‘’

auto

402

/X302

Figure2. 10: Grafcet du mode Manuel

 GRAFCET DU PRODUCTION NORMAL:

Le grafcet de production normal décrit le fonctionnement normal du palettiseur. En

effet il permet de rassembler 3 niveaux de cartons et chaque niveau contient deux paquets de
cartons.

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0

c3.start.X301
X501
1
1 A6
c6
X501
2 A7
c10
00
X501
5 3 A5
X106 c7
00
6 4

=1

7
X205
5 X501
8 A6
c8

9
X106
00
10
0 X205
Figure2. 11: GPN
0 X501
00
011 A6
01
c9
01
12
2 X106
2 00
12
13

X205
00 X501
14 A6
0 c6
0 X501
015 A7
0
c10
X501
16 A7
c10

17

stop
stop
18

X301
11
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 LES TACHES DU GRAFCET DE PRODUCTION NORMAL :

La première tâche sert à faire monter l’ascenseur et éjecter les cartons. Et puisque cette
opération se répète 3 fois nous avons pensé à la mettre dans une tache pour minimiser le
nombre des étapes et pour que le grafcet soit plus lisible et compréhensible.

100
X5+X9+X12
/X501
101 A0

C0 /X501

102 A1

C1.C2 /X501

103 A0

C0 /X501

104 A1

C1

105

C2

106

/( X5+X9+X12)

X5+X9+X12
Figure2. 12: Grafcet de l'ascenseur
X5+X9+X12

X5+X9+X12
La deuxième tâche sert à faire passer les cartons vers la palette pour construire 3
couches des cartons et puisque cette opération se répète 3 fois nous avons pensé à la mettre
dans une tâche pour la même raison que la première tâche.

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200
X7+X10+X13
/X501
201 A3

t/x201/1s /X501 /X501

202 A3 A2

C4 /X501 /X501

203 A3 A4

C5 /X501

204 A4

C3

205

/( X7+X10+X13)

)
Figure2. 13: Grafcet de formation de palettes

 GRAFCET DE SÉCURITÉ :
Le grafcet de sécurité permet l’arrêt du système aux cas de défaillances.

500

/AU

501 ‘’ annuler les actions ‘’

AU

502

X300.X400.X0.X100.X200

Figure2. 14: Grafcet de securité

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III.2 LE SCHEMA DU BESOIN :

Normalement, on représente le besoin grâce à un outil graphique : le schéma du besoin (la «

Bête à cornes » © de la méthode APTE).

Palettes non
Producteur formées

Palettiseur

Former des palettes

Figure2. 15: La bête à corne du palettiseur

III.3 CLASSIFICATION DES FONCTIONS DE SERVICE:

Un diagramme FAST (Functional Analysis System Technique) présente une

decomposition hiérarchisée des fonctions du système allant des fonctions de service (fonctions
en lien avec le millieu extérieur) et passant par les fonctions techniques (fonctions internes au
système) jusqu'à l'énoncé des solutions technologique employées ou prévues pour remplir les
fonctions techniques.

On s'intéresse à un palettiseur. Une de ses fonctions principales de service est : "Former

des palettes de cartons". Le diagramme FAST sera alors :

Le codage des fonctions :

 FP pour fonction principale

 FC pour fonction complémentaire

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Fonction Description
FP1 Former des palettes de carton

FC1 Piloter le système en sécurité

FC2 Alimenter le palettiseur en énergie électrique
FC3 Alimenter le palettiseur en énergie pneumatique
FC4 Ne pas polluer l’environnement
FC5 Ne pas détériorer les cartons

 Représentation graphique :

Niveau de
cartons formé en
palettes

Les FC5 Environnement

cartons FC4

FP1 Le
palettiseur
FC3

Energie
FC1 FC2 Pneumatique
Opérateur

Energie
électrique

Figure2. 16: diagramme des interactions

III.4 FONCTION GLOBALE:

Notre SAP a besoin de l’énergie électrique, pour alimenter ses composants ainsi que les
ordres contenus dans les données du programme et en fin du déclencheur du traitement qui
est souvent bouton Marche, afin de rendre service au producteur en lui donnant des
cartons formés en palettes à la sortie.

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Consignes
Programme opérateur Energie électrique

Cartons
Cartons en formés en
Former les cartons en
état initial palettes
palettes

Informations d’états

(Les positions
atteintes)
Le système palettiseur

Figure2. 17: diagramme SADT du palettiseur

IV. ENVIRONNEMENT D’IMPLEMENTATION : STEP7

DÉFINITION:

Step7 est le logiciel de base pour la configuration de la programmation de systèmes

d’automatisation SIMATIC. Il fait partie de l industrie logicielle SIMATIC.

Le logiciel step7 existe en plusieurs versions:

STEP7-Micro/DOS et STEP7-Micro/Win pour des applications autonomes simples sur SIMATIC
S7-200.
STEP7 pour des applications sur SIMATIC S7-300/400, SIMATIC M7-300/400 et SIMATIC C7
présentant des fonctionnalités supplémentaires:
 Possibilité d extension grâce aux applications proposées par l industriel logicielle
SIMATIC
 Possibilité de paramétrage de modules fonctionnels et de modules de communication
 Transfert de données commandé par événement à l aide de blocs de communication et
de blocs fonctionnels
 Configuration de liaisons.

IV.2 CONFIGURATION DE MATÉRIELS:

La configuration de matériel est la première étape.

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Figure2. 18: La configuration matérielle

IV.3 PRINCIPE DE LA PROGRAMMATION EN S7

La programmation structurée permet la rédaction claire et transparente de

programmes, elle permet la construction d'un programme complet
à l'aide de modules qui peuvent être échangés et/ou modifiés à volonté on distingue plusieurs
types de modules:

 les modules d'organisation OB

 les modules de programmes FB
 les modules fonctionnels FC
 les modules de séquences SB
 les modules de données DB

Les opérations des différentes fonction peuvent être dans un seul bloc ou dans des blocs isolés,
l'OB1 appelle ces blocs l'un après l'autre.La figure2.1 presente l interface de symatic manager
où on a utilisé deux bloc d’organisation, OB1 contient de programme principal et l’OB100 pour
l’activation des etapes initiales.

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Figure2. 19: Interface de simatic manager

IV.4 LANGAGES DE PROGRAMMATION :

On distingue plusieurs types de langage il s’agit de langage :

 Cont (ladder ou contact)
 List (liste d'instruction)
 Log (portes logiques)

Figure2. 20: Interface de programmation

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IV.5 TYPES DE VARIABLES

Les différents types de variables sont donnés comme suit:

 Entrées
 Sorties
 Mémentos
 Temporisations
 Compteurs
Adressage:

 Entrée E X.Y
X: Emplacement de la carte d entrée
Y: Numéro de l entrée
 Sortie A X'.Y'
X: Emplacement de la carte de sortie
Y: Numéro de la sortie
 Bit interne M X''.Y"
0<=X"<=255 ; 0<=Y"<=7

IV.6 SIMULATION

la simulation sur STEP7 se fait à partir du PLCSIM (automate virtuelle) qui contient les
adresses d’entrées, de sorties , des mementos et des temporisations.

Figure2. 21: PLC SIM

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CONCLUSION
D’une façon assez exhaustive, ce chapitre donne des généralités sur le logiciel
d’émulation ITS PlC, en mettant en évidence son intérêt dans la programmation, par la
suite nous avons présenté notre système d’étude « le Palettiseur ». D’où l’utilisation de la
démarche d’analyse fonctionnelle technique.

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CHAPITRE III

Mise en œuvre de la démarche de

diagnostique

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INTRODUCTION
Les systèmes manufacturiers deviennent de plus en plus complexes avec
l’évolution des technologies. Cette complexité ne doit cependant pas empêcher le
système d’être toujours autant disponible, fiable et sûre. En effet, les coûts
d’interventions et de maintenance sont importants et doivent par conséquent être soit
évités, soit prédis. Tout ceci implique donc une demande de développement
d’approches systématiques de diagnostic permettant de détecter et isoler une faute au
plus vite.

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I.1 SURVEILLANCE ET DIAGNOSTIC:

De nombreuses approches ont été développées dans la littérature de ces dernières

années se basant toutes sur le problème d’observabilité des systèmes. [1, 2, 3]. Cependant, les
systèmes manufacturiers sont souvent décris comme des systèmes dynamiques dont les états
sont discrets et dont le changement ne s’effectue qu’à travers un événement discret. Ils sont
par conséquent considérés comme des Systèmes à Evénements Discrets (SEDs) [4]. Par ce fait,
l’information observable est pauvre car décrit dans un espace d’états discret 0/1. Cette
observation simpliste seule ne permet rarement de détecter et/ou isoler les éléments
responsables d’un défaut. Plusieurs approches ont été développées afin de résoudre le
problème de « Fault Detection and Isolation » (FDI) [1, 3, 5]. La plupart se basent sur
l’utilisation d’un modèle du comportement normal et/ou anormal du système. Le but étant de
pouvoir comparer en ligne l’état courant du modèle avec celui du système réel. Tout écart
engendrant alors un procédure de détection et isolation du défaut.

Trois structures de diagnostic peuvent être définies. La structure centralisée consiste à

prendre une décision globale par un diagnostiqueur centralisé [1]. La structure décentralisée
est composée de plusieurs diagnostiqueurs locaux et d’un diagnostiqueur haut niveau
coordonnant la décision finale. [6]. Cette structure permet de limiter la communication entre
diagnostiqueurs locaux mais doit faire face à des problèmes d’ambiguïté ou d’indécisions
résolus par le coordinateur haut niveau. Enfin, la structure distribuée fait communiquer des
diagnostiqueurs locaux entre eux afin de faire abstraction du coordinateur de la structure
décentralisée [2, 3].

Le principal désavantage des approches centralisées réside en l’explosion combinatoire du

nombre d’états. Une solution est l’utilisation d’approches décentralisées mais celles-ci
impliquent très souvent un passage par un modèle global du système avant d’obtenir les
diagnostiqueurs locaux. De plus, le coordinateur est susceptible d’engendrer un nombre
important d’états dans les systèmes complexes [5]. Dans [3], les auteurs proposent une
approche se passant de modèle global. Cette approche est basée sur l’utilisation d’une
procédure de fusion qui exploite une propriété d’indépendance des modèles locaux. Bien que
les approches distribuées n’utilisent pas de modèle global et/ou de coordinateur, elles
disposent cependant d’un inconvénient important : l’établissement d’un protocole de
communication performant, et ce quelque soit la complexité du système.

Dans ce papier une approche de diagnostic décentralisée est proposée afin de réaliser le
diagnostic des systèmes manufacturiers vus comme des SEDs. Ces systèmes sont représentés à
travers plusieurs modèles locaux correspondant aux composants appelés “Plant Elements”
(PEs). Ces PEs décrivent toutes les évolutions possibles. A partir du contrôleur, il est possible
d’extraire un comportement désiré local. De ces modèles, une analyse est possible afin d’y
définir les comportements anormaux et donc d’identifier les défauts possibles. Chaque
diagnostiqueur local obtenu retourne alors une étiquette à l’utilisateur qui prendra alors la
décision finale.

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La section 2 présente les différentes étapes de modélisation afin d’obtenir les diagnostiqueurs
locaux. Dans cette section, des indicateurs de performances sont présentés afin d’évaluer
l’approche proposée. La section 3 illustre l’ensemble de la proposition à travers un benchmark.
Une conclusion avec les différentes perspectives associées termine le papier.

I.1 DIAGNOSTIC DÉCENTRALISÉ

Un système manufacturier peut être représenté à travers une chaîne fonctionnelle composée
d’une Partie Commande (PC) définie par un contrôleur qui envois des ordres à une Partie
Opérative (PO) et recevant les valeurs des différents capteurs (Fig. 1). La PO représente la partie
mécanique alors que la PC est la partie logique décrivant le comportement désiré du système.
Cet échange PO/PC représente la seule information observable permettant la reconstruction du
comportement à travers des modèles.

Ordres

Partie Valeurs Partie

Commande capteurs Opérative

Observeur

Figure3. 1: La chaine fonctionnelle

Dans la section 1 il est apparu que l’approche centralisée est souvent irréalisable pour
les systèmes complexes. Cependant, pour une approche décentralisée, la difficulté est de
déterminer le niveau de décomposition modulaire de façon générique. D’après la chaîne
fonctionnelle, et en détaillant la PO, il est possible de constater qu’un système manufacturier
est une composition d’éléments mécaniques interagissant entre eux. Cette composition
d’actionneurs et de capteurs associés est représentée à travers des modèles appelés Plant
Elements (PEs). L’approche proposée consiste à construire des diagnostiqueurs locaux à partir
de cette décomposition en PEs. La Figure 2 présente les différentes étapes de la proposition.
Premièrement, à partir de la PO réelle, les PEs sont définis à partir d’une librairie de modèles
obtenus dans de précédents travaux [7]. A partir de la commande implantée dans la PC, le
comportement désiré est extraire localement de chaque PE afin d’obtenir un automate NBM
(Normal Behavior Model). Enfin, une analyse experte analyse les modèles NBMs afin
d’identifier les situations anormales pouvant survenir de chaque état normal. Cette expertise
permet alors d’obtenir les différents Diagnostiqueurs locaux (Di).

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Partie Opérative

Modélisation

Plant Element Plant Element

PE1 PEk

SPECIFICATIONS DE LA PC

Normal Behavior Normal Behavior

Model NBM1 Model NBMk

ANALYSE EXPERTE

Diagnostiqueur Diagnostiqueur
D1 Dk

Figure3. 2; Etapes d’obtention des diagnostiqueurs locaux

A. Plant Elements
La Partie Opérative est donc divisée en plusieurs composants (actionneur avec capteurs
associés) qui sont modélisés en Plant Element (PE). Chaque model Gi avec son langage
correspondant Li décrit le comportement logique du système. Il est décrit par un automate de
Moore M = (, X, Y, δ, h) où  est l’ensemble des événements finis, X l’ensemble des états, Y
l’espace des sorties, δ:  x X → X la fonction de transition où δ(α, x) donne l’ensemble des états
atteints possibles suite à l’occurrence de l’événement α à partir de l’état x. h:  x X → Y est la
fonction de sortie où H(α, x) est l’événement observable de sortie de l’état x quand α occurre.
Dans [8], les auteurs définissent l’ensemble des événements contrôlables c   comme
les sorties de la PC et l’ensemble des événements non contrôlablesu   comme les entrées
de la PC provenant des capteurs. o   est l’ensemble des événements observables où c 
o.
Un automate est utilisé pour chaque modèle. Cet automate prend en compte à la fois
tous les événements observables de l’élément mais également ses spécificités technologiques
afin de décrire son comportement le plus précisément possible. Les étapes de construction de
ces modèles PEs ne sont pas décrites ici mais le lecteur pourra se référer à la référence suivante
pour plus de détails [7]. Une bibliothèque de PEs y a été notamment validée.

B. Normal Behavior Model

La Partie Commande définie le comportement désiré global du système. Pour l’approche
décentralisée, les spécifications doivent être intégrées localement à chaque PE afin d’obtenir

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un automate décrivant uniquement le comportement normal local nommé NBM (Normal

Behavior Model). Ce comportement est inclus dans l’automate du PE.

La difficulté dans cette étape est d’extraire le comportement local indépendamment du

langage de programmation utilisé pour la programmation de l’Automate Programmable
Industriel (API) [9]. Pour cela, une phase d’apprentissage est réalisée. Cependant, une
hypothèse est posée ici sur le fait qu’aucun événement défaillant n’occurre durant cette phase.
Cette phase d’apprentissage n’est pas détaillée dans ce papier.
A partir de ces modèles, une nouvelle analyse débute afin d’intégrer une information
temporel primordiale à la détection de défauts. La plupart des capteurs et actionneurs de
systèmes manufacturiers répondent à des contraintes événementielles prévisibles de type
cause à effet [10, 11]. Afin d’enrichir les modèles booléens, un modèle temporisé centré autour
d’une notion d’événements attendus dans un temps donné est utilisée. L’information
temporelle est ici représentée par le temps de réponse minimal et maximal d’un capteur par
rapport à un ordre envoyé sur un actionneur.
Pour chaque état des NBMs, une relation temporelle entre des événements entrant et sortant
est obtenue grâce à la phase d’apprentissage qui retourne une distribution de type Gaussienne.
La « Cause » d’un ordre envoyé de la PC implique une « Conséquence » sur le changement de la
valeur des capteurs de la PO dans un intervalle d’acceptation. Par conséquent, lorsqu’un
événement α1 occurre d’un état x1, l’événement α2 sortant de cet état doit aboutir jusqu’à
l’état x2 et survenir dans un intervalle [tmin, tmax] (Fig. 3). L’utilisation même de la Gaussienne au
lieu d’une extrapolation de celle-ci fait partie de nos perspectives de travaux.
↑α1 ↑α2

0 tmin tmax t

Fig. 3. Information temporelle.

C. Diagnostiqueurs locaux
Un diagnostiqueur local Di est construit et basé sur chaque Normal Behavior Model (NBM i). Ce
diagnostiqueur local retourne une information de défaut à travers une étiquette attachée à
chaque état. Ces étiquettes indiquent le type de défaut qui occurre à l’utilisateur final. Chaque
diagnostiqueur est considéré comme un automate de Moore étendu Di = (Xi  XDFi, io, δi, xi0, hi,
li) où:
- Xi est l’ensemble des états normaux,
- XDFi est l’ensemble des états anormaux,
- io est l’ensemble des événements observables par PEi,
- δi: Xi x Σi* → Xi  XDFi est la fonction de transition,
- xi0 est l’état initial,
- hi: Xi  XDFi → io est la fonction de sortie où hi(x) est l’événement observable à la sortie de
l’état x,

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- li est l’ensemble des fonctions de décision du diagnostiqueur local Di avec li(x) la fonction de
décision de l’état x avec une ou plusieurs étiquettes {Fj}.

Pour la décision locale, si l’étiquette retournée à l’état x est li(x) = {N}, alors le diagnostiqueur
indique avec certitude l’absence de défaut. Si l’étiquette est li(x) = {Fj}, alors il indique avec
certitude de l’occurrence d’un défaut de type Fj. Lorsque li(x) contient plusieurs étiquettes,
alors le diagnostiqueur ne peut décider seul si le système est en défaut ou en fonctionnement
normal et ce trouve alors dans une situation d’indécision ou d’ambiguïté. Afin de définir les
différentes étiquettes, des sous-ensembles de défauts appelés partition de défauts ont été
définis. Par conséquent, chaque partition ΠFj est associée à une étiquette Fj indiquant le type de
défaut. Deux sortes de défauts sont considérés (Table 1) : les défauts capteurs et les défauts
actionneurs. Les défauts peuvent également être modélisés comme des événements
observables et/ou non observables. La détection et localisation de défauts observables est
définis comme triviale car détectable dès leur apparition. Dans le cas de défauts non
observables, l’occurrence doit être reconstruit à partir du modèle et/ou de ces futures
observations.

TABLE I
DEFAUTS POSSIBLES SUR UN PE
Passage inattendu de la valeur du
Défauts capteur
capteur de 0 à 1
observable
Passage inattendu de la valeur du
capteur de 1 à 0
Défauts capteur Capteur
non collé à 0
observable Capteur collé à 1
Défauts actionneur Actionneur
non collé passivement
observable Actionneur collé activement

La connaissance de tous les défauts est permis essentiellement grâce à une analyse experte
et/ou une documentation riche et évolutive comme l’AMDEC (Analyse des modes de
défaillance, de leurs effets et de leur criticité), outil répandu dans les domaines de la sûreté de
fonctionnement et la qualité dans l’industrie [12].
A partir de chaque état normal, il est nécessaire d’être capable de définir les différents
défauts qui peuvent survenir. Ces défauts étant non observables, un nouvel état anormal
possédant la même observation est créé. De cet état anormal, il est possible de détecter voire
isoler un défaut dans un délais certain. Dans ce papier, une hypothèse est posée sur le fait qu’il
soit possible d’avoir plusieurs défauts sur le système en même temps mais uniquement un seul
défaut sur chaque PE. Chaque diagnostiqueur local retourne une étiquette à l’utilisateur et la
décision globale correspondra alors à la fusion de l’ensemble des décisions locales.

I.2 ETABLISSEMENT DES MODÈLES

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Dans notre cas, on s’interesse à resoudre le système en cas de defaillance des capteurs C4 et
C5 et leur action associée A4, le modèle NBM est le suivant :

c5 A4 c3 A3

0 9 8 7 6
c4
A3 ]0, c5
1]
c3 ]0, 1] c4
A2. A3 A4
1 2 3 4 5

Figure3. 3: NBM du Palettiseur

II. LES GRAFCETS DU SYSTEMES APRES RESOLUTION DES

DEFAILLANCES :

On s’intéresse à résoudre les problèmes liés à la tache de palettisation, specifiquement au

niveau du serrage des cartons sur le plateau afin de former un niveau de palette, la figure
suivante définie la tache finale de palettisation :

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200
X7+X10+X13
/X501
201 A3

t/x201/1s /X501 /X501

202 A3 A2

C4 /X501 /X501
C4+T/X202/9s
203 A3 A4
209 Alarme C4

C5 /X501
T/X209/1s T/X210/1s
204 A4
211 A3 Alarme A4
C3
C5+T/X203/2s REP
205
210 Alarme C5 212 A3 A4

T/X210/1s
/( X7+X10+X13)

Figure3. 4:Grafcet final de la tache de palettisation

La défaillance d’un actionneur en général, dans les systèmes automatisés, nécessite

l’intervention d’un opérateur, puisque l’actionneur reçoit une information auprès du capteur
associé pour qu’il s’active.

Dans notre cas, la production s’arrête, puis une alarme s’active jusqu’à l’intervention de
l’opérateur pour la réparation, et ensuite on appuie sur le bouton « REP » qui déterminera la
fin de l’opération, et après le système continue son fonctionnement normale.

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CONCLUSION
Ce chapitre présente une approche de diagnostic pour les systèmes manufacturiers de nature
discrets. Cette approche décentralisée se base sur la décomposition du système afin de
diminuer l’explosion combinatoire retrouvée dans les approches centralisées. De ces modèles,
le comportement normal est extrait et l’ensemble des défauts possibles identifiés.

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Conclusion générale

La sécurité des systèmes est aujourd'hui une préoccupation primordiale, qu'il

s'agisse de systèmes technologiques : automobile, avion, etc…, ou de systèmes
liés à l'environnement : station d'épuration, réseau de distribution d'eau
potable, etc…. Pour garantir la sécurité d'un processus et de son environnement,
il faut connaître à chaque instant et le plus finement possible son état
de fonctionnement.

D'un point de vue général, les travaux développés dans ce rapport

portent sur la conception de commande d’un SAP et les méthodes de
détection et d’isolation de défauts.

48