REYES

Lic.
PONCE
Concepcin
LAURA
13 MATERIALES.
QI
SEPT
Len
PATRICIA.
4A
-Resndiz.
2016
ESTRUCTURAS
ESTRUCTURA
TSU
CRISTALINAS:
Y PROPIEDADES
QUMICA
INDUSTRIAL.
DIRECCIONES
DE
LOS
Y PLANOS

CRISTALOGRFICOS.

INTRODUCCIN.
DIRECCIONES Y PLANOS
CRISTALOGRFICOS.
Al hablar de materiales cristalinos,
a
menudo
es
conveniente
especificar
algn
plano
cristalogrfico particular de tomos o
alguna
direccin
cristalogrfica.
Convencionalmente se ha establecido
que para designar las direcciones y
planos se utilicen tres ndices
enteros. Los valores de los ndices
se determinan basndose en un
sistema de coordenadas cuyo origen
est situado en un vrtice de la
celdilla unitaria y cuyos ejes (x, y, z)
coinciden con las aristas de la celdilla
unitaria como lo indica la Figura 1 (b).
En los sistemas cristalinos hexagonal,
rombodrico y triclnico, los tres ejes
no son perpendiculares entre s,
como ocurre en el familiar sistema de
coordenadas
ortogonales
o
cartesianas. [1]

Figura 1.- coordenadas de puntos

seleccionados en la celda unitaria.

Figura 2.- Direcciones vectoriales de

los puntos.

Figura 3.- Vista esquemtica de la

localizacin de los centros de los
tomos en la estructura FCC de un
metal.

PLANOS CRISTALOGRFICOS.
Al hablar de materiales cristalinos,
a
menudo
es
conveniente
especificar
algn
plano
cristalogrfico de tomos particular o
alguna direccin cristalogrfica. Una
celdilla unitaria o cristal contiene
planos de los tomos, y esos planos
influyen en las propiedades y
comportamiento de los cristales. Esta
forma ser ventajosa para identificar

los varios planos que existen en un

cristal.
La orientacin de los planos
cristalogrficos de la estructura
cristalina se presentan de manera
similar
al
de
las direcciones
cristalogrficas. Tambin se utiliza un
sistema de coordenadas de tres ejes
ortogonales y la celdilla unitaria es
fundamental. [1]

b) la intensidad: estructura cristalina,

posiciones
atmicas,
factores
trmicos y de ocupacin
c)
el
ancho:
informacin
microestructural, tamao de cristalita,
tensiones. [2]

MTODOS PARA DETERMINAR

ESTRUCTURAS CRISTALINAS.
La difraccin de rayos X por el
mtodo de polvos juega un papel
importante en la determinacin
estructural de nuevos materiales
cristalinos de los que no es posible
obtener monocristales. Esto conlleva
una serie de etapas que son mucho
ms complejas que las de la
determinacin estructural a partir de
datos de difraccin de monocristales.
A partir de la posicin angular, la
intensidad y la forma de los mximos
de difraccin en un patrn de
difraccin de rayos X de polvos
(figura 1), se puede obtener
informacin estructural del slido
cristalino que se estudia, tomando en
cuenta:
a) la posicin angular: parmetros de
celda, sistema cristalino, grupo
espacial de simetra

Figura 4.- Patrn de difraccin de

rayos X de polvos. A partir de la
posicin, la intensidad y el ancho de
los mximos de difraccin se puede
extraer informacin estructural del
slido cristalino que se estudia.

MARCO CONCEPTUAL.
Direccin cristalogrfica.- se define
como una lnea entre dos puntos, o
por un vector. [1]
Plano cristalogrfico.sistema de
coordenadas de tres ejes. [3]
ndice de Miller.- son nmeros
enteros, que pueden ser negativos o
positivos, y son primos entre s. [4]
Difraccin de rayos X.- es el
fenmeno fsico a travs del cual se
manifiesta la interaccin fundamental

de
los
rayos
X
con
cristales (materia ordenada). [5]

los

MARCO TERICO.
Es interesante la forma de designar
direcciones o planos dentro de un
cristal, porque muchas de las
propiedades de los materiales
cristalinos dependen del plano o
direccin que se considere. Por ello,
resulta especialmente importante
encontrar una forma cmoda y rpida
de identificar las direcciones y planos
cristalogrficos.
La
notacin
empleada se denomina notacin de
ndices de Miller.
Tal como se procede habitualmente
en matemticas, las componentes de
cualquier vector pueden conocerse
restando las coordenadas de los
puntos final e inicial. Si P1 =
(u1, v1, w1) es el punto de partida y
P2 = (u2, v2, w2), el punto final, el
vector que va de P1 a P2 se calcular
como:

Pero frecuentemente no estaremos

interesados en el mdulo del vector,
sino slo en su direccin. La notacin
de Miller retiene nicamente este
aspecto. Los ndices de Miller de la
direccin

del

vector

son

los

componentes de
, pero reducidos
a los enteros ms pequeos
posibles: h, k y l. La direccin se

representara como
. Ntese
que los nmeros no van separados
por comas y que los parntesis se
han sustituido por corchetes. Si un
nmero es negativo, por ejemplo, -2,
se representa como . Naturalmente,
tal y como sucede con los vectores
libres, bajo la designacin
estn incluidos todas las direcciones
paralelas a la considerada. La
siguiente figura muestra ejemplos de
direcciones en celdillas cbicas. [6]

Figura 5.- Notacin de Miller de

algunas direcciones caractersticas
de un cristal cbico.
Aun cuando las direcciones estn
expresadas mediante ndices de
Miller y no en la notacin vectorial
convencional, puede operarse con
ellas de la forma habitual. En
particular, las direcciones pueden
multiplicarse escalar y vectorialmente.
La ventaja del uso de la notacin de
Miller reside en que con ella, y sobre
todo en los sistemas cbicos, resulta
muy fcil evidenciar las simetras del
cristal. [6]
Un plano queda perfectamente
determinado con tres puntos que no
sean colineales. Si cada punto est

sobre un eje cristalino diferente, el

plano puede especificarse dando las
coordenadas de los puntos en funcin
de las longitudes reticulares a, b y c.
Sin embargo, resulta de mayor
utilidad especificar la orientacin de
un plano mediante los ndices
determinados
por
las
siguientes reglas:

Por ejemplo, si las intersecciones son

1, 4 y 2, los inversos sern 1/1, 1/4 y
1/2; los nmeros enteros ms
pequeos que poseen la misma
relacin son 4, 1 y 2. As que el plano
se
designar
como
.
A
continuacin se muestran los ndices
de algunos planos en una celdilla
cbica. [7]

Se
encuentran
las intersecciones
con
los
ejes en
funcin
de
las
constantes de la red. Si el
plano no corta a un eje, porque
es paralelo a l, la interseccin
se toma como .
Se toman los inversos de estos
nmeros, y luego se reducen a
tres nmeros enteros que
tengan la misma relacin,
normalmente
los nmeros
enteros
ms
pequeos
posibles (La reduccin no se
realiza
cuando
queremos
referirnos a un plano concreto,
y no a un conjunto de planos
paralelos entre s. Por ejemplo,
aun cuando los planos (200) y
(100) sean paralelos, pueden
no tener la misma distribucin
atmica, de ah que sea
preciso especificar a cul de
ellos nos referimos). Los tres
nmeros
resultantes,
encerrados entre parntesis,
esto es
plano.

, representan al

Figura 6.- Notacin de Miller de

algunos planos caractersticos de un
cristal cbico.
El mtodo que se adopta para la
determinacin de las estructuras
cristalinas es esencialmente la de
prueba y error. Sobre la base de un
buen pronstico, se asume una
estructura, se calcula su patrn de
difraccin, y el patrn calculado se
compara con el observado. Si los dos
concuerdan en todos los detalles, la
estructura asumida es correcta; si no,
el proceso se repite las veces que
sea necesario hasta encontrar la
solucin correcta. La determinacin
de una estructura desconocida se
realiza en tres etapas principales:
Se deducen la forma y el
tamao de la celda unidad a
partir
de
las
posiciones
angulares de las lneas de
difraccin.

Se calcula el nmero de
tomos por celda unidad a
partir de la forma y el tamao
de la celda, la composicin
qumica del espcimen y la
medida de su densidad.
Se deducen las posiciones de
los tomos en la celda unidad
a partir de las intensidades
relativas de las lneas de
difraccin.
El patrn de polvo de una sustancia
desconocida se obtiene con una
cmara
Debye-Scherrer
o
un
difractmetro, el propsito es cubrir
un rango angular 2 tan ancho como
sea posible. La preparacin de la
muestra debe asegurar orientacin al
azar de las partculas individuales de
polvo, si las intensidades relativas
observadas de las lneas de
difraccin van a tener significancia en
trminos de la estructura del cristal.
Despus que se obtiene el patrn, el
valor del 2 sen se calcula para cada
lnea de difraccin; este conjunto de
valores de 2 sen es la materia prima
para la determinacin del tamao y la
forma de la celda. O se puede
calcular el valor de d de cada lnea y
trabajar a partir de este conjunto de
nmeros.
Puesto que el problema de la
determinacin de estructura es el de
encontrar
una
estructura
que
responder por todas las lneas en el
patrn, en posicin e intensidad, el
investigador debe asegurarse en un

principio que el patrn observado no

contiene ninguna lnea extraa. El
patrn ideal contiene lneas formadas
por rayos x de una sola longitud de
onda, difractadas slo por la
sustancia cuya estructura va a ser
determinada. [8]

EJEMPLO.
CONCLUSIN.
BIBLIOGRAFA.