Una de las ventajas del microscopio de fuerza atmica es que las muestras no requieren preparacin especial o un

ambiente de vaco para su funcionamiento, contrario al microscopio electrnico de rastreo. Otra ventaja es que el
microscopio de fuerza atmica puede en teora alcanzar resolucin ms alta que la del microscopio electrnico de
rastreo. La desventaja es que el microscopio solo escanea un rea de 150 x 150 um, mientras que el microscopio
electrnico puede escanear reas de milmetros cuadrados. Otra desventaja es lo lento que toma las imgenes el
microscopio de fuerza atmica.

El microscopio de fuerza atmica (AFM, de sus siglas en ingls Atomic Force Microscope)
es un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al
rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente sutopografa mediante una sonda o
punta afilada de forma piramidal o cnica. La sonda va acoplada a un listn o palanca
microscpica muy flexible de slo unos 200 m. El microscopio de fuerza atmica ha sido
esencial en el desarrollo de lananotecnologa, para la caracterizacin y visualizacin de
muestras a dimensiones nanomtricas (

).

Historia[editar]
Gerd Binnig y Heinrich Rohrer fueron galardonados con el Premio Nobel de Fsica en 1986 por
su trabajo en microscopa de barrido de tnel. Binnig y Rohrer fueron reconocidos por el
desarrollo de la tcnica de microscopa poderosa, que puede formar una imagen de cada uno
de los tomos sobre una superficie de metal o de semiconductores mediante el escaneo de la
punta de una aguja sobre la superficie a una altitud de slo unos pocos dimetros atmicos.
Compartieron el premio con el cientfico alemn Ernst Ruska, el diseador del primer
microscopio electrnico.1

Comparacin del AFM con otros microscopios[editar]

Microscopio ptico
El microscopio ptico es una herramienta muy til para obtener imgenes de muestras
orgnicas e inorgnicas, pero est limitado para una resolucin de 1mm a 1 micra. 2
Microscopio electrnico
El microscopio electrnico tiene una resolucin entre 1mm y 1nm. Es, por lo tanto, idneo para
la determinacin de estructuras a nivel molecular y atmico. La resolucin no est limitada por
la difraccin, pero s por las lentes. El microscopio de campo cercano tiene una resolucin
todava mayor: entre 1m y 1.3
TEM
El Microscopio electrnico de transmisin, tiene las siguientes caractersticas que lo hacen
muy til:

Resolucin atmica.

Puede determinarse estructuras en 2 dimensiones.

Interaccin electrones a electrones.

SEM
El Microscopio electrnico de barrido tiene las siguientes caractersticas:

Resolucin atmica.

Requiere vaco.

Debe cubrirse a menudo el espcimen.

Permite caractersticas superficiales.

STM
El microscopio de efecto tnel (STM) es un instrumento que permite visualizar regiones de alta
o baja densidad electrnica superficial, y de ah inferir la posicin de tomos individuales o
molculas en la superficie de una red. La "observacin" atmica se ha vuelto una tarea comn
en muchos laboratorios debido al bajo costo de este tipo de microscopa en comparacin con
la microscopa electrnica.4
Las tcnicas de microscopa de barrido por sondeo (SPM: Scanning probing microscopy) que
incluyen al STM y al AFM se utilizan en reas de la ciencia que van desde la biologa hasta la
fsica del estado slido.

Principales restricciones y observaciones en su uso[editar]

Algunas superficies parecen demasiado lisas al STM, la altura aparente o corrugacin

es de 1/100 a 1/10 dimetros atmicos.

Entonces, para resolver tomos individuales la distancia entre punta y muestra debe
mantenerse constante a menos de 1/100 de dimetro atmico o hasta 0.002 nm., por ello
el STM debe aislarse de las vibraciones.

Debe tomarse en cuenta que el resultado es una visualizacin que permite conocer
caractersticas de la muestra.

No es una fotografa de los tomos en la superficie. Los tomos parecen tener

superficies slidas en las imgenes de STM, pero en realidad no las tienen.

Sabemos que el ncleo de un tomo est rodeado de electrones en constante

movimiento. Lo que parece una superficie slida es en realidad una imagen de un
conjunto de electrones.

Las imgenes tambin dependen de ciertos mecanismos de interaccin punta-muestra

que no se entienden bien hasta la fecha.

Aun cuando no necesita alto vaco para su operacin, es deseable para eliminar
contaminacin y adems una cmara de vaco asla de vibraciones externas.

Recientemente (4 de junio de 2007) un equipo liderado por el Consejo Superior de

Investigaciones Cientficas (CSIC) ha perfeccionado la tcnica empleada por los microscopios
atmicos. La nueva tcnica, denominada Phase Imaging AFM, est basada en la microscopa
de fuerzas, y permite realizar medidas tanto en aire como en medios lquidos o fisiolgicos. El
desarrollo de esta tcnica podra tener aplicaciones en reas diferenciadas, como la
biomedicina, la nanotecnologa, la ciencia de materiales o estudios medioambientales.

MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA El Microscopio de Fuerza Atmica (MFA) es

un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los
nanonewton. Al analizar una muestra, se registra continuamente la altura sobre
la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. La sonda va
acoplada a un listn microscpico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de
slo unos 200 m de longitud. Microscopio de fuerza atmica Imagen de un
pelo La fuerza atmica se puede detectar cuando la punta se aproxima a la
superficie de la muestra. Se registrar la pequea flexin del listn mediante un
haz lser reflejado en su parte posterior. Un sistema auxiliar piezoelctrico
desplaza la muestra tridimensionalmente, mientras que la punta recorre
ordenadamente la superficie. Todos los movimientos son controlados por una
computadora. La resolucin del instrumento es de menos de 1 nm, y la pantalla
de visualizacin permite distinguir detalles en la superficie de la muestra con
una amplificacin de varios millones de veces. El microscopio de MFA, puede
realizar dos tipos de medidas: imagen y fuerza. En la modalidad de imagen, la
superficie es barrida en el plano de la superficie por la punta. Durante el
barrido la fuerza interatmica entre los tomos de la punta y los tomos en la
superficie de la muestra, provoca una flexin del listn. Esta flexin es
registrada por un sensor adecuado (normalmente balanza ptica) y la seal
obtenida se introduce en un circuito o lazo de realimentacin. La fuerza
interatmica se puede detectar cuando la punta est muy prxima a la
superficie de la muestra. En medidas de fuerza la punta se hace oscilar
verticalmente mientras se registra la flexin del listn. Las medidas de fuerza
son tiles en estudios de fuerzas de adhesin y permiten estudiar a nivel de
una sola molcula interacciones especficas entre molculas (ej: interaccin
antgeno-anticuerpo, interaccin entre hebras complementarias de ADN) o
interacciones estructurales de las biomolculas (plegado de protenas) as
como caracterizar la elasticidad de polmeros. Tambin es til en estudios de

indentacin de materiales blandos (polmeros) que permitan caracterizar

propiedades elsticas de la muestra como el mdulo de elasticidad o visco
elsticas. El Microscopio de Fuerza Atmica provee la imagen de una superficie
sin que intervegan los efectos elctricos, al medir las fuerzas mecnicas en la
punta detectora, por lo que tambin resulta til para materiales no
conductores. A principios de este ao, un equipo liderado por el Consejo
Superior de Investigaciones Cientficas (CSIC) perfeccion la tcnica empleada
por los microscopios atmicos. La nueva tcnica, denominada Phase Imaging
AFM, est basada en la microscopa de fuerzas, y permite realizar medidas
tanto en aire como en medios lquidos o fisiolgicos. El desarrollo de esta
tcnica podra tener aplicaciones en reas diferenciadas, como la biomedicina,
la nanotecnologa, la ciencia de materiales o estudios medioambientales.

APLICACIONES DEL MICROSCOPO DE FUERZA ATMICA

El MFA permite el anlisis topogrfico y mecnico de todo tipo de materiales (conductores y no
conductores) a nivel de escala nanomtrica. El MFA del IIBCE tiene acoplado un microscopo de
ptica invertida de Epifluorescencia el cual posibilita la combinacin de imgenes topograficas con
el marcaje de clulas y tejidos utilizando colorantes, sondas o anticuerpos especficos.
Permite el anlisis topogrfico y mecnico a escala nanomtrica de material biolgico vivo.
BIOLOGA Y BIOMEDICINA
Las posibilidades para la investigacin en el rea biolgica y biomdica son mltiples permitiendo:
1 - Imagenologa de clulas vivas:
a) Identificacin de bio-molculas y estructuras celulares
b) Observacin en tiempo real de eventos de sealizacin celular
c) Estudios de farmacologa in situ
d) Observacin de eventos de interacciones celulares y adhesin celular
2 - Imagenologa de alta resolucin de molculas:
a) ADN y plsmidos
b) Estructura de biopolmeros
c) Imaginologa de membranas biolgicas
d) Combinacin de experimentos de fluorescencia con MFA

3 - Estudios funcionales:
a) Medidas de elasticidad de membranas celulares
b) Espectroscopia de fuerza, volumen
c) Nano-manipulacin
d) Estudio de plegamineto de protenas (Molecular folding / unfolding)
e) Estudio de interacines receptor-ligando