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DIRECTOR
Ph. D ALEJANDRO TORO
TABLA DE CONTENIDO
RESUMEN......................................................................................................................... 8
1
INTRODUCCIN ..................................................................................................... 10
GENERALIDADES ........................................................................................... 11
2.2
2.3
2.3.1
2.4
Homogenizacin ....................................................................................... 16
2.4.2
Revenido .................................................................................................. 17
2.5
2.5.1
Dilatometra .............................................................................................. 19
2.5.2
OBJETIVOS ............................................................................................................ 30
3.1
OBJETIVO GENERAL...................................................................................... 30
3.2
MATERIAL DE ESTUDIO................................................................................. 31
4.2
4.2.1
4.2.2
5.3
CONCLUSIONES .................................................................................................... 60
BIBLIOGRAFIA ....................................................................................................... 61
ANEXO 1 ......................................................................................................................... 64
ANEXO 2 ......................................................................................................................... 65
ANEXO 3 ......................................................................................................................... 66
LISTA DE FIGURAS
Figura 5.5. Variacin de la distancia interplanar (d) de los planos (011) de la martensita
con el aumento de la temperatura.
44
Figura 5.6. Evolucin de los picos (011) de la Martensita (derecha) y (111) de la
austenita en el intervalo de temperaturas entre 580 y 1000C
45
Figura 5.7. Variacin de la distancia interplanar d asociada a los picos 111 y 011
47
Figura 5.8. Evolucin de los picos (011) de la Martensita (Derecha) y (111) de la austenita
a temperaturas de 600 y 620C.
48
Figura 5.9. Influencia del posicionamiento de la muestra respecto al circulo del
gonimetro
49
Figura 5.10. Difractogramas del Acero CA6NM a temperatura ambiente, posterior al
revenido a diferentes temperaturas, obtenidos en plataforma Multipropsito.
50
Figura 5.11. Microestructura del acero CA6NM en estado homogenizado (a) y luego de
revenido a diferentes temperaturas con tiempo de sostenimiento de 3h. b) Revenido a
580C, c) Revenido a 620C, d) Revenido a 640C.
52
Figura 5.12. Cuantificacin mediante difraccin de rayos X de austenita formada a
diferentes temperaturas y su comparacin con resultados previos obtenidos por
dilatometra [6].
53
Figura 5.13. Cuantificacin mediante difraccin de rayos X de mximo %austenita
formada a diferentes temperaturas y su comparacin con resultados previos obtenidos
por dilatometra y resultados tericos.
54
Figura 5.14. Curvas de dilatometra obtenidas durante el revenido a diferentes
temperaturas para el acero inoxidable martenstico CA6NM.
55
Figura 5.15. Curvas de dilatacin de la martensita y austenita al 100% y de enfriamiento
de la mezcla compuesta por ambas fases desde una temperatura de revenido.
56
Figura 5.16. Curvas obtenidas mediante la tcnica de dilatometra de la dilatacin en
funcin del tiempo a temperaturas de revenido de 580, 630, 650 y 700C.
57
Figura 5.17. Curva hipottica de dilatometra representando la dilatacin isotrpica y no
isotrpica en un ciclo trmico [30].
58
Figura 5.18. Cuantificacin mediante difraccin de rayos X de austenita retenida a
temperatura ambiente luego de revenidos a diferentes temperaturas.
58
Figura 5.19. Media y desviacin estndar del porcentaje de de austenita retenida
mediante difraccin de rayos X a temperatura ambiente luego de revenidos a diferentes
temperaturas.
59
LISTA DE TABLAS
Tabla 2.1. Composicin qumica del acero inoxidable ASTM A743 Grado CA6NM[9] ..... 12
Tabla 4.1 Composicin qumica obtenida para el material de estudio y valores
permisibles por norma ASTM-A743 grado CA6NM. ......................................................... 31
Tabla 4.2. Condiciones instrumentales para la obtencin de los difractogramas ........... 33
Tabla 5.1. Fraccin de austenita formada durante el calentamiento, obtenida mediante
dilatometra. 56
RESUMEN
ABSTRACT
High temperature X-ray diffraction was used for studying phase transformations in an
ASTM A743 grade CA6NM cast martensitic stainlees steel, which is widely used for
manufacturing hydraulic components due to their excellent mechanical properties related
to the amount of retained austenite in the microstructure.
Through X ray diffraction in the range between 25-860C was analyzed thermal expansion
during heating and phase transformation temperatures were identified, as well as the
isothermal phase evolution at several temperatures.
A methodology to precisely identify and quantify phases in ASTM A743 grade CA6NM
martensitic stainless steel at 580, 600, 620, 640, 660, 680 and 700C using the direct
comparison method was developed and used to determine the amount of the retained
austenite in the microstructure at room temperature after diferent tempering treatments.
The volume fraction of retained austenite increased with tempering treatments performed
in the range between 580-620C, in which a refined and more homogeneous martensite
was obtained. The results obtained by X-ray diffraction were compared to and validated
with dilatometric measurements.
INTRODUCCIN
10
2.1 GENERALIDADES
Los aceros inoxidables son aleaciones a base de hierro, carbono, cromo, nquel,
molibdeno entre otros elementos, que le confieren al material principalmente una
excelente resistencia a la corrosin. En general, segn la composicin qumica de la
aleacin existen cuatro tipos principales de aceros inoxidables: ferrticos, martensticos,
austenticos y duplex.
Estas aleaciones han sido fuente de estudio desde la primera guerra mundial, ya que,
brindan una variedad de propiedades mecnicas para diversas aplicaciones [1][2].
11
12
UNS NO.
J91540
NOMBRE
COMUN
CA6NM
%C
<0,06
%Mn %Si %P
<1
%S
%Cr
%Ni
%Mo
Ecuacin 2.1
Que para el caso del acero CA6NM podra ser de hasta 260C [6][11]. El final de la
transformacin martenstica Mf es un tanto ms incierto, algunos autores sealan que
podra estar unos 150C por debajo de Ms [12]. Sin embargo, estas temperaturas pueden
variar un poco en el material, an con la misma composicin qumica, dependiendo de la
tasa de enfriamiento desde la austenizacin, as como de la temperatura de austenizacin
empleada.
En condiciones de solidificacin propias del enfriamiento de la fundicin algo de ferrita
queda estabilizada qumicamente en el material y de igual forma, durante el proceso de
tratamiento trmico de homogenizacin y posterior revenido algo de austenita queda
retenida, ocasionando que la microestructura final sea una matriz martenstica con
pequeas fracciones de ferrita delta y austenita estable[13].
13
Figura 2.2. Diagrama de fase de acero segn contenido de cromo y nquel [16].
a)
b)
14
Vm = e ( 0.011( Ms Tq ))
Ecuacin 2.3
15
2.4.1 Homogenizacin
El proceso de homogenizacin consiste en elevar a una alta temperatura el material para
homogenizar por difusin su microestructura. Segn la Norma ASTM A743 la temperatura
para realizar el proceso es de 1010C [1][10], aunque algunos autores recomiendan
temperaturas entre 1030-1065C [4], este material puede ser templado al aire o en aceite
y debido a su alta templabilidad ocasionada por su composicin qumica, ocurre la
transformacin martenstica an con altos tiempos de enfriamiento como se observa en la
Figura 2.5.
16
2.4.2 Revenido
El revenido es un tratamiento trmico posterior al homogenizado del material el cual tiene
como propsitos fundamentales:
Aliviar tensiones en el material.
Reducir la cantidad de dislocaciones.
Recristalizar y descomponer austenita retenida.
Precipitar carburos y formar austenita estable.
El revenido del acero CA6NM se realiza a temperaturas superiores a la temperatura de
inicio de la transformacin a austenita Ac1, por lo que, durante el tratamiento parte del
material se transforma en austenita, convirtindose en un revenido nter crtico. A estas
temperaturas se consigue la menor reduccin de la resistencia a la traccin, con un
simultneo incremento de la resistencia al impacto como resultado de la disociacin de la
martensita y la influencia de austenita finamente dispersa que permanece despus del
enfriamiento (estabilizada por procesos de segregacin)[5].
Segn la norma ASTM A743 el revenido para los aceros CA6NM se realiza en el intervalo
de temperaturas de 565-620C donde tiende a producirse austenita estable (Tipo I)
aquella sub-microscopica y finamente dispersa que permanece despus del enfriamiento
y junto con la martensita revenida otorga al material una combinacin de dureza y
tenacidad adecuadas para el uso en rodetes hidrulicos. A temperaturas superiores a
620C una cantidad de austenita inestable (Tipo II) transforma durante el enfriamiento a
martensita, esto aumenta la dureza y fragilidad del material, las cuales son caractersticas
indeseables para la aplicacin [4][10]. En la Figura 2.6 se presenta las curvas de
dependencia de las propiedades mecnicas con la temperatura de revenido, donde es
posible observar un cambio de la pendiente de estas curvas a temperaturas superiores a
500C.
17
Figura 2.6. Variacin de las propiedades mecnicas del acero CA6NM con la temperatura de
revenido[4].
18
V A = e ( 0.011( Ms Tq ))
Ecuacin 2.5
2.5.1 Dilatometra
El estudio de todos los aspectos que puedan modificar la microestructura de un acero
durante los tratamientos trmicos ha sido de vital importancia ya que de esto dependen
las propiedades mecnicas del material y por tanto sus posibles aplicaciones industriales.
La dilatometra es una de las tcnicas mas utilizadas en el estudio de las
transformaciones slido-slido que permite un monitoreo en tiempo real de las
transformaciones en el material en trminos del cambio dimensional con la aplicacin de
ciclos trmicos.
19
Figura 2.7. Curvas de dilatometra para acero inoxidable CA6NM para identificacin de las
temperaturas de transformacin de austenita [6].
20
Para el acero inoxidable CA6NM se reportan valores de Ac1 entre 518.5-534.0 C, Ac3
entre 842.4-868.3C y Ms entre 215.2-227.3C [6].
El mtodo convencional para calcular la fraccin de volumen de una fase especfica de
una curva de dilatometra es la llamada regla de la palanca. La curva dilatomtrica
muestra una expansin trmica lineal caracterstica de cierta fase en el intervalo de
temperatura donde no ocurre ninguna transformacin, los dos segmentos lineales de la
curva son extrapolados como se muestra en la Figura 2.8, la fraccin de la fase
transformada a una temperatura dada se evala por la posicin relativa de la curva
dilatomtrica medida a las lneas extrapoladas.
21
n = 2d Sen
Ecuacin 2.6
Figura 2.10. Espectro de rayos X del cobre a) sin filtro y b) con filtro de Niquel [33].
22
A la salida del tubo de rayos X (L) se ubica el filtro, las rejillas Soller o colimadores
paralelos (G) y la rejilla de divergencia (B). La muestra (C) se ubica en el centro del
circulo del gonimetro. Los rayos X difractados convergen a una rejilla receptora (D) y
luego atraviesan un segundo conjunto de colimadores (E).
Mediante difraccin de rayos X se obtiene una seal que consiste de un conjunto de picos
registrados en un espectro de intensidad vs. Angulo 2 que constituyen el difractograma.
Estos picos sobresalen de un background (o lnea base) cuya intensidad vara segn el
material analizado y el material del nodo en el tubo de rayos X. Una de las razones
principales del aumento del background es cuando se produce efecto fotoelctrico en el
material analizado debido a la radiacin incidente, fenmeno conocido como
fluorescencia.
El fenmeno de difraccin de rayos X, permite realizar un anlisis cualitativo de una
sustancia particular mediante la identificacin del difractograma presentado,
adicionalmente con esta tcnica tambin es posible realizar un anlisis cuantitativo, ya
que la intensidad de las lneas de difraccin de una determinada fase en una mezcla
depende de la proporcin de la fase en dicha mezcla.
Una caracterstica del anlisis por difraccin de rayos X es el enfoque directo a la
sustancia y no a los elementos qumicos constituyentes, es decir, que si la mezcla posee
la fase AxBy, el anlisis da informacin sobre esta fase, sin embargo no informa sobre los
elementos constituyentes A y B.
Un ejemplo importante es el caso del anlisis mediante difraccin de rayos X de un acero
inoxidable compuesto por elementos como hierro, carbono, manganeso, nquel, cromo,
entre otros. Este anlisis provee informacin de las fases presentes en la muestra, como
austenita, ferrita, martensita, entre otras, las cuales presentan estructuras cristalinas
definidas como se puede observar en la Figura 2.12, aunque no proporciona informacin
precisa sobre la composicin qumica del material, sin embargo esta influye en la posicin
angular y la intensidad de los picos de difraccin.
23
Figura 2.13. Variacin del parmetro de red de la austenita y martensita con el contenido de
carbono [33][34].
Otra aplicacin del anlisis cualitativo mediante XRD es la posibilidad de distinguir las
diferentes modificaciones alotrpicas de una misma sustancia ya que los patrones de
difraccin de cada una de ellas son diferentes, claro est, por las variaciones en la
estructura cristalina o en el grado de cristalinidad de la sustancia.
La identificacin de fases en una mezcla se realiza mediante la comparacin del patrn
presentado por la mezcla con patrones que hacen parte de una base de datos, donde una
combinacin de varios de ellos puede generar la mezcla analizada, esta tarea puede
resultar dispendiosa si no se tiene informacin sobre la muestra analizada ya que las
bases de datos actuales son extensas. La generacin de estas bases de datos ha sido
tarea de institutos dedicados a esta actividad especfica, como es el caso del ICDD
Internacional Center for Diffraction Data, el cual ha venido trabajando desde el ao 1970,
y no solo en la generacin de nuevos patrones, sino tambin en el refinamiento de los
existentes. Alrededor de 62000 patrones estndar posee actualmente este centro los
24
Fhkl = f n e
2i (uh + vk + wl )
Ecuacin 2.7
f = f o + f + if
Ecuacin 2.8
25
Este factor es un factor geomtrico que disminuye las intensidades integradas de los
picos de difraccin en ngulos intermedios entre 40 y 60 comparado con ngulos fuera
de este intervalo.
La radiacin caracterstica de un tubo de rayos X se considera no polarizada, pero esta
radiacin queda polarizada luego de ser difractada, La polarizacin depende del ngulo
de dispersin y el factor de polarizacin para los rayos X segn la teora clsica es (Klug
y Alexander 1974):
P( ) =
(1 + cos 2 2 )
2
Ecuacin 2.9
Este factor alcanza su valor mximo para = 0 y = 90 y tiene un valor mnimo para =
45 como se muestra en la Figura 2.14. Esto tiene el efecto de aumentar las intensidades
para ngulos muy pequeos y para ngulos muy grandes. La expresin para el factor de
polarizacin-Lorentz esta dada por:
1 + cos 2 2
LP =
2
2 sen cos
Ecuacin 2.10
26
6h 2T
M =
mk 2
( x) +
x sin
Ecuacin 2.11
6h 2T
(6)(6.02 * 10 26 )(6.63 * 10 34 ) 2 T 1.15 * 10 4 T
=
=
mk 2
A 2 (1.38 * 10 23 )(10 20 )
A 2
Con en ngstroms. La ecuacin 2.10 slo se aplica a elementos con estructuras
cristalina cbica.
La relacin entre los factores anteriormente descritos y la intensidad integrada del pico de
difraccin se expresa como:
I A3 0 2 e 4 1 2 1 + cos 2
I = 0
4 m 2 v 2 F p sin 2 cos
r
32
e 2 M
2
I 0 A3 0 e 2
K =
32r 4 m 2
Donde el trmino
27
Ecuacin 2.12
El mtodo de comparacin directa fue desarrollado por Averbach y Cohen en 1948 [38] y
desde entonces es de gran inters en el rea metalrgica porque puede ser aplicado
directamente en agregados policristalinos.
El mtodo de comparacin directa es el apropiado para realizar anlisis cuantitativo de
austenita, ya es prcticamente imposible obtener una muestra de referencia de austenita
pura de la misma composicin qumica de la muestra a ser analizada y asumiendo que se
tienen dos fases, se encuentra que la relacin I/I es proporcional a C/C
adicionalmente C + C = 1 donde C representa la concentracin de la fase en el material.
Aspectos importantes que deben tenerse en cuenta en el momento de realizar anlisis
cuantitativos son aquellos que puedan causar variaciones en las intensidades de las
lneas de difraccin como orientaciones preferenciales y microabsorcin [20][37][39].
La relacin de intensidad de cada fase con la proporcin en volumen de la fase en el
material se puede expresar como:
28
Ihkl = KRhkl / 2
Ecuacin 2.13
Donde:
2
I 0 A3 0 2 e 2
1( F pLPe 2 M )
K =
2 Y R hkl =
v2
32r 4 m
Ecuacin 2.14
Donde
V + V = 1
Si existe una tercera fase en la muestra como carburos se considera que:
V + V + Vc = 1
La cantidad de carburo presente puede ser cuantificada mediante tcnicas metalogrficas.
La preparacin de la muestra debe realizarse de manera cuidadosa ya que la austenita
retenida aunque es mecnicamente estable no es trmicamente estable y se pueden
presentar transformaciones inducidas por deformacin (TRIP), es por esto que, tanto
durante en el corte del material como en el pulido de la muestra se deben evitar
calentamientos de sta, para prevenir transformaciones de la austenita a martensita y as
disminuir las principales causas de error en el anlisis cuantitativo.
Debido al riesgo de transformacin de la austenita, el mtodo de electropulido se puede
implementar y de esta manera evitar posibles transformaciones y errores en la
cuantificacin [1][18][39].
29
OBJETIVOS
30
MATERIALES Y MTODOS
Elemento
Muestra
Valores permitidos
designacin ASTM A743
grado CA6NM
Carbono
(C)
0.055
< 0.06
Silicio
(Si)
0.863
< 1.0
Manganeso (Mn)
0.724
< 1.0
Azufre
(S)
0.004
<0.03
Fosforo
(P)
0.012
<0.04
Niquel
(Ni)
3.946
3.5-4.5
Cromo
(Cr)
13.54
11.5-14.0
Molibdeno (Mo)
0.494
0.4-1.0
Aluminio
(Al)
0.014
<0.01
Cobre
(Cu)
0.061
<0.3
Titanio
(Ti)
0.005
<0.008
Vanadio
(V)
0.017
<0.1
31
32
Figura 4.1. Esquema difractmetro XPert Pro MPD con cmara de calentamiento.
En la configuracin geomtrica del difractmetro para llevar a cabo los anlisis se utiliz
un conjunto de rejillas con el objetivo de limitar el rea irradiada de la muestra as como
rejillas Soller tanto en el haz incidente como en el difractado para evitar divergencia axial.
La configuracin instrumental se presenta en la Tabla 4.2
Tabla 4.2. Condiciones instrumentales para la obtencin de los difractogramas
PARAMETRO
Material del nodo
Condiciones para la generacin de rayos X
Tipo de ejes de escaneo
Offset [2Th.]
Posicin inicial [2Th.]
Posicin final [2Th.]
Tamao de paso [2Th.]
Tiempo de paso [s]
Tipo de escaneo
Rejilla Soller
Tipo de Rendija de divergencia
Tamao de la rendija de divergencia []
Mascara
Temperatura en el ensayo [C]
Radio del gonimetro [mm]
Distancia focal-rendija de divergencia [mm]
Filtro KB haz incidente
Monocromador del has incidente
Spinning
33
CARACTERISITCAS
Cu (=1.54060)
40 mA, 45 Kv
Gonio
0.0000
35.0191
87.9811
0.0260
59.0844
Continuo
0.04rad
Fija
0.2500
10 mm
25.00
240
100.00
Ni
No
No
34
Muestra
Figura 4.4. Tapa de cmara de calentamiento. 1) Ventana para el paso de rayos X. 2) Visor de
cuarzo.[42]
35
Temperatura (C)
630, 680, 700, 710, 720, 760, 780, 800, 860, 960 y 1100C. La Figura 4.5 muestra el perfil
de calentamiento realizado.
1000
800
600
400
200
0
0
100
200
300
400
500
600
700
Tiempo (min.)
36
Temperatura (C)
700
600
500
400
300
200
100
20
40
60
80
180 200
Tiempo (min)
Las muestras fueron analizadas luego del revenido en la plataforma multipropsito del
equipo de difraccin, esta dispone de un medidor de altura o comparador de cartula con
una incertidumbre de 2 m con el cual el posicionamiento de la muestra en el centro del
gonimetro es ms preciso y por lo tanto se disminuye la desviacin angular de los picos
de difraccin.
Software empleado para la recoleccin de datos y tratamiento de la seal
El Difractmetro de rayos X empleado cuenta con el software XPert Data Collector con el
cual se controlan las condiciones instrumentales del equipo y el mecanismo de
recoleccin de datos.
Para el anlisis y tratamiento de los difractogramas obtenidos se utiliz el software XPert
high score plus y se llev a cabo la siguiente metodologa:
37
Figura 4.7. Esquema de determinacin de picos mediante la segunda derivada de la sea [43].
Adicionalmente para la bsqueda de los picos el software utiliza la funcin perfil pseudovoigt que considera una mezcla de funcin Gaussiana y Lorentziana. Trabajos en esta
rea muestran que el ensanchamiento del pico de difraccin producido por el tamao de
grano es mejor descrita por una funcin Lorentziana, mientras que las contribuciones a la
forma del pico debido a factores instrumentales pueden ser descritas mediante una
funcin Gaussiana [44].
Eliminacin del pico generado por la radiacin K 2 del cobre mediante software, para
este proceso se utiliz el mtodo de Rachinger que usa la longitud de onda de las
lneas K 1 y K2 y la relacin de intensidades. La intensidad de un pico de difraccin
en la primera parte de su perfil se asume que pertenece completamente a la K1. La
familia de planos hkl con espaciamiento dhkl que difractan la K1 a un ngulo 2
tambin difracta la K2 al ngulo que predice la ley de Bragg. Debido a que la relacin
de intensidad de las reflexiones K1:K2 es 2:1, el proceso de eliminacin del pico
generado por la K2 se lleva a cabo restando al perfil en la posicin 2 en la cual
difracta dicha radiacin la mitad de la intensidad medida al ngulo donde difracta la
K1, ver Figura 4.8 [43].
Figura 4.8. Perfil total de pico y separacin de los perfiles generados por las K1 y K2 [43].
38
Con los picos aceptados en los pasos anteriores se procede a extraer la informacin
necesaria para realizar la cuantificacin por el mtodo de comparacin directa presentado
anteriormente (ecuaciones 2.12 y 2.13):
39
RESULTADOS Y DISCUSIN
2i (h / 2 + k / 2 + l / 2)
+ fe
i (h + k + l )
F = f (1 + e
)
F = fe
2i (0)
Ecuacin 5.1
En el caso especfico del acero CA6NM la relacin c/a es de 1.0005 por lo tanto los picos
asociados a los planos (011) y (110) se traslapan, al igual que el (200) con el (002) y el
(211) con el (112).
40
Fase
Martensita
M
hkl
d()
Figura 5.1. Difractograma del Acero CA6NM a temperatura ambiente, posterior al homogenizado.
Segn las distancias interplanares obtenidas con cada pico de difraccin se obtuvieron los
valores de los parmetros de red a y c de 2.884 y 2.885 respectivamente y fueron
calculados teniendo en cuenta que la relacin entre d, a, c y los ndices de Miller hkl para
una celda tetragonal est dada por:
1
d2
h2 + k 2
a2
l2
Ecuacin 5.2
c2
Los valores obtenidos mediante difraccin de rayos X de los parmetros de red son
acordes a los modelos propuestos donde se tiene en cuenta la composicin qumica de la
aleacin[14].
Adicionalmente en el difractograma se observa un alto nmero de cuentas en el
background lo cual se debe a que la energa de la
K
del cobre (
8 048.11eV [45]) es
mayor a la energa de absorcin de borde del hierro (71100eV [46][47]) y por tanto se
presenta el fenmeno de fluorescencia (ver Figura 5.2).
41
600
/ cm2/g
Intensidad relativa
500
K Cu
400
Coeficiente de absorcin
atmica del hierro
300
200
100
0
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
Longitud de onda de la radiacion ()
3.0
3.5
Figura 5.2. Coeficiente de absorcin atmica del hierro vs. Longitud de onda de la radiacin
incidente.
5000
25C
150C
170C
190C
210C
230C
250C
4000
3000
2000
43.50
44
44.50
Position [2Theta]
45
45.50
Figura 5.3. Variacin de la posicin del pico de difraccin (011) de la martensita con el aumento de
la temperatura entre 25 y 250C
42
6000
5000
4000
3000
2000
43
43.50
44
Position [2Theta]
44.50
45
Figura 5.4. Avance de la posicin del pico de difraccin (011) de la martensita con el aumento de
la temperatura entre 370 y 450C
43
2.065
2.060
d (A)
2.055
2.050
2.045
2.040
2.035
0
50
100
150
200
250
300
350
400
450
500
Figura 5.5. Variacin de la distancia interplanar (d) de los planos (011) de la martensita con el
aumento de la temperatura.
2i (h / 2 + k / 2)
2i (h / 2 + l / 2)
2i (k / 2 + l / 2)
+ fe
+ fe
+ fe
i (h + k ) i (h + l ) i (k + l )
+e
+e
F = f (1 + e
)
F = fe
2i (0)
Por lo tanto si h, k, l no son alternados (par-impar) entonces el valor de las sumas (h+k),
(h+l), (k+l) son todos enteros pares y cada termino de la ecuacin tiene un valor de 1.
F=4f para ndices no alternados.
Si los ndices h, k, l son alternados, es decir, se puede dar que dos de los ndices sean
pares o dos de ellos sean impares luego la suma de las tres exponenciales es -1, y por lo
tanto F=0. En conclusin, ocurrirn reflexiones para planos como (111), (200), y (220)
pero no para planos como (100), (210), (112), etc.
44
En la Figura 5.6 se presentan los difractogramas en el intervalo entre 580 y 1000C donde
se visualiza la evolucin de los picos (111) de la austenita (111) y (011) de la martensita
(011) los cuales son los de mayor intensidad en cada fase y se identifica que a 580C ya
ha comenzado a crecer la fase austentica. En este proceso de transformacin de fase se
evidencia un aumento de la cantidad de austenita y una disminucin de la cantidad de
martensita en el material, este hecho se relaciona directamente con la relacin de
intensidades de los picos de cada fase. En el intervalo de temperaturas de la
transformacin ocurre adicionalmente una dilatacin de ambas redes FCC y BCC
presentando una disminucin del ngulo de Bragg en los picos de difraccin.
Counts
6000
580C
600C
620C
660C
680C
700C
760C
860C
1000C
4000
2000
42
43
Position [2Theta]
45
44
Figura 5.6. Evolucin de los picos (011) de la Martensita (derecha) y (111) de la austenita en el
intervalo de temperaturas entre 580 y 1000C
t=
0.9
FWHM cos
Ecuacin 5.3
El trmino tamao de partcula aplicara en este caso para tamaos de grano inferiores a
0.1 m (1000 ). En este orden de magnitud, slo variaciones en el tamao de grano por
45
46
2.130
2.120
d (A)
2.110
Martensita
2.100
2.090
Austenita
y = 4E-05x + 2.0425
R2 = 0.9931
2.080
2.070
2.060
2.050
550
600
650
700
750
800
850
900
TC
Figura 5.7. Variacin de la distancia interplanar d asociada a los picos 111 y 011
47
Counts
10000
600C 0h
600C 1h
600C 2h
600C 2.5h
600C 3h
5000
42.50
Counts
8000
43
43.50
Position [2Theta]
44
44.50
42.50
43
Position [2Theta]
43.50
44
45
620C 0h
620C 1h
620C 2h
620C 2.5h
620C 3h
6000
4000
2000
42
44.50
Figura 5.8. Evolucin de los picos (011) de la Martensita (Derecha) y (111) de la austenita a
temperaturas de 600 y 620C.
Dado que las transformaciones de fase estudiadas aqu ocurren mediante un proceso
difusional, pueden observarse en la figura 5.8 las variaciones de los picos durante el
sostenimiento a las diferentes temperaturas durante un tiempo determinado. En cuanto al
pico de la martensita 011 son apreciables dos fenmenos, uno de ellos es la disminucin
en el ancho que, como se mencion anteriormente, se debe a la relajacin de la
estructura cristalina, este hecho permite diferenciar claramente el doblete K1/K2. El otro
efecto que puede apreciarse es un pequeo aumento en el ngulo de Bragg, significando
esto una disminucin en la distancia interplanar lo cual est relacionado con la
disminucin del contenido de carbono de esta fase a esa temperatura. La separacin del
doblete K1/K2 tambin es evidente en el pico de la austenita.
El tiempo de sostenimiento adecuado a la temperatura de revenido es decisivo en la
cantidad de austenita formada y por tanto en la cantidad de austenita retenida a
temperatura ambiente, lo cual tiene implicaciones importantes en las propiedades
mecnicas del material[6].
48
Figura 5.9.
Desplazamiento
Eje de rotacin
Figura 5.9. Influencia del posicionamiento de la muestra respecto al circulo del gonimetro
49
Counts
580 C
600 C
620 C
640 C
660 C
680 C
25 C
10000
5000
43
43.50
44
Position [2Theta]
44.50
45
45.50
Counts
10000
580 C
600 C
620 C
640 C
660 C
680 C
25 C
5000
50
60
80
70
Position [2Theta]
Figura 5.10. Difractogramas del Acero CA6NM a temperatura ambiente, posterior al revenido a
diferentes temperaturas, obtenidos en plataforma Multipropsito.
Sobre los picos de la martensita y austenita luego del revenido pueden resaltarse
aspectos importantes como son el ancho del pico y la posicin2 segn las diferentes
temperaturas del tratamiento:
En cuanto a la posicin del pico (011) de la martensita se puede notar un aumento en el
valor de 2 hasta 620C, temperatura a partir de la cual comienza a disminuir. Esta
variacin angular representa una variacin en la distancia interplanar d(011) en la estructura
cristalina de dicha fase, aspecto que est relacionado con el contenido de carbono en la
martensita ya que a medida que aumenta la temperatura de revenido hasta 620C la
50
51
a)
b)
c)
d)
Figura 5.11. Microestructura del acero CA6NM en estado homogenizado (a) y luego de revenido a
diferentes temperaturas con tiempo de sostenimiento de 3h. b) Revenido a 580C, c) Revenido a
620C, d) Revenido a 640C.
52
%Volumen de Austenita
100
TC
80
60
40
Dilatometria
20
550
600
650
700
750
Temperatura C
800
850
900
530
540
550
560
570
580
600
620
650
660
680
700
750
760
860
% DRX
3.882
6.820
11.334
22.433
29.261
38.193
59.670
94.750
%Dilatometria
1.22
2.27
3.76
6.08
8.48
11.18
15.38
34.47
59.73
73.60
XA =
IA
RA
( I A R A ) + ( I M RM )
Ecuacin 5.5
53
100.00
Modelo teorico
DRX t sostenimiento 3h
Dilatometria
DRX sin sostenimiento a T
90.00
%Austenita formada
80.00
70.00
60.00
50.00
40.00
30.00
20.00
10.00
0.00
480
530
580
630
680
730
780
830
880
T C
TC
530
540
550
560
570
580
600
620
650
660
680
700
720
750
760
860
%DRX
3.882
6.820
11.334
22.433
29.261
38.193
59.670
94.750
%Dilatometria
%DRX t sostenimiento 3h
1.22
2.27
3.76
6.08
8.48
11.18
15.38
5.346
12.124
18.600
34.47
32.628
48.930
57.956
78.800
59.73
73.60
% Modelo terico
3.96
4.34
4.82
5.44
6.24
7.24
10.07
14.42
25.26
30.44
43.81
61.30
81.91
99.32
99.36
100
54
Figura 5.14. Curvas de dilatometra obtenidas durante el revenido a diferentes temperaturas para
el acero inoxidable martenstico CA6NM.
La cantidad de austenita formada puede calcularse con la pendiente de las curvas durante
el calentamiento de la martensita y la austenita al 100% y la de enfriamiento desde la
temperatura de revenido la cual est compuesta por ambas fases. La relacin para
calcular mediante dilatometra la fraccin de austenita formada est dada por[6]:
X =
mmezcla m
m m
Ecuacin 5.6
55
T C
580
630
650
700
m mezcla
X
m/C
austenita m:
0.069
0.073
0.065
0.081
0.382
m:
0.114
0.091
0.579
0.099
0.740
56
Figura 5.16. Curvas obtenidas mediante la tcnica de dilatometra de la dilatacin en funcin del
tiempo a temperaturas de revenido de 580, 630, 650 y 700C.
57
TC
% AR 1 % AR 2
% Austenita retenida
12
580
600
620
640
660
680
10
8
6
4
5.205
9.666
11.398
8.654
4.572
1.451
4.901
10.626
11.620
8.498
6.585
0.882
2
0
560
580
600
620
640
660
680
700
TC
58
Media, SD
Polinomial concatenada de grado 4
Media, SD
12
TC
Media
%AR
580
600
620
640
660
680
5.055
10.150
11.510
8.575
5.605
1.160
SD
0.219
0.678
0.155
0.106
1.463
0.395
0
600
650
700
Temperatura C
Figura 5.19. Media y desviacin estndar del porcentaje de de austenita retenida mediante
difraccin de rayos X a temperatura ambiente luego de revenidos a diferentes temperaturas.
Segn las Figura 5.18 y Figura 5.19 es de resaltar que a temperaturas de revenido
inferiores a 620C un alto porcentaje de austenita formada permanece estable a
temperatura ambiente y a temperaturas superiores a sta la cantidad de austenita
retenida disminuye como consecuencia de la transformacin a martensita fresca durante
el enfriamiento.
59
CONCLUSIONES
60
7
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
[11]
[12]
[13]
[14]
[15]
[16]
BIBLIOGRAFIA
61
62
63
ANEXO 1
T(C)
580
600
620
660
680
700
860
HKL/FASE
2
0.001
sen/
(-1)
f=f+f
FF
LP
0.002
e(-2M)
V2 (6)
R(-6)
I (Cts*2Th)
0.7
0.4
101
43.833
0.242
17.457
1218.919
11.762
0.815
617
177.4
1196
111
42.7510
0.236
17.671
4996.011
12.442
0.815
2405
198.4
75
101
43.869
0.242
17.452
1218.238
11.741
0.811
618
176.9
1372
111
42.770
0.237
17.666
4993.345
12.430
0.811
2411
197.6
211
101
43.823
0.242
17.513
1226.769
11.769
0.808
619
178.4
1066
111
42.721
0.236
16.444
4326.622
12.462
0.808
2416
171.4
230
101
43.787
0.242
17.519
1227.681
11.791
0.801
613
180.7
650
111
42.668
0.236
16.453
4331.339
12.497
0.801
2433
170.9
302
101
43.771
0.242
17.522
1228.086
11.801
0.798
623
177.9
444
111
42.647
0.236
16.457
4333.160
12.511
0.798
2439
170.7
408
101
43.751
0.242
17.525
1228.571
11.812
0.795
625
177.7
472
111
42.623
0.236
16.461
4335.278
12.526
0.795
2448
170.4
624
101
43.641
0.241
17.546
1231.379
11.880
0.785
634
176.5
53
111
42.448
0.235
16.490
4350.912
12.643
0.785
2506
168.6
866
64
%Vol A
5.331
12.125
18.360
32.957
48.929
57.965
94.493
ANEXO 2
T(C) HKL/FASE
580
600
620
640
660
680
sen/
0.001
( )
-1
f=f+f
FF
LP
0.002
e(-2M)
V2(6)
R(-6)
0.7
0.4
%Vol
(Cts*2Th)
1
8
101
44.500
0.246
17.397
1210.623
11.370
0.956
567
185.6
445
111
43.571
0.241
17.564
4936.166
11.923
0.960
2158
209.4
44
101
44.534
0.246
17.391
1209.768
11.350
0.956
564
185.9
1400
111
43.588
0.241
17.561
4934.426
11.912
0.960
2153
209.6
169
101
44.571
0.246
17.384
1208.843
11.329
0.956
561
186.4
1127
111
43.622
0.241
17.555
4930.960
11.891
0.960
2144
210.0
163
101
44.549
0.246
17.388
1209.385
11.341
0.956
563
186.2
1458
111
43.606
0.241
17.558
4932.576
11.901
0.960
2148
209.8
156
101
44.204
0.244
17.450
1218.045
11.542
0.956
589
182.5
1431
111
43.294
0.239
17.615
4964.420
12.095
0.960
2238
205.9
77
101
44.480
0.245
17.401
1211.123
11.694
0.956
568
190.5
1339
111
43.550
0.241
17.568
4938.343
12.209
0.960
2164
213.9
22
65
5.205
9.666
11.398
8.654
4.572
1.451
ANEXO 3
TEMPERATURA C
ELEMENTO
FE
CR
NI
SI
MN
TI
580
8.24E-01
1.30E-01
3.23E-02
8.82E-03
4.70E-03
4.54E-05
2.43E-07
580
7.02E-01
1.12E-01
1.39E-01
7.42E-03
3.95E-02
2.37E-05
5.64E-06
600
8.24E-01
1.31E-01
3.13E-02
8.83E-03
4.56E-03
4.88E-05
4.26E-07
600
7.28E-01
1.15E-01
1.18E-01
7.71E-03
3.12E-02
2.11E-05
9.83E-06
620
8.25E-01
1.31E-01
2.99E-02
8.85E-03
4.35E-03
5.24E-05
7.29E-07
620
7.49E-01
1.17E-01
1.01E-01
7.91E-03
2.46E-02
1.95E-05
1.63E-05
640
8.06E-03
1.32E-01
2.81E-02
8.88E-03
4.10E-03
5.65E-05
1.22E-06
640
7.67E-01
1.19E-01
8.58E-02
8.06E-03
1.93E-02
1.86E-05
2.61E-05
Tabla A.3. Composicin qumica de las fases y a diferentes temperaturas durante el calentamiento. Composici n qumica
dada en porcentaje en peso. Valores obtenidos mediante software Thermocalc.
66