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Universite Rennes 1

ENS Cachan Antenne de Bretagne


Magist`ere MIT

Annee 2006/2007

Corrig
e feuille 2 : Ind
ependance et conditionnement

Exercice 1 :
P[A]P[B] = 14

1
13

1
52

= P[A B]. Les evenements A et B sont donc independants.

Exercice 2 :
P[A] = P[1, 2] = P[1]+P[2] = 14 + 14 = 12 . Par le meme calcul, on trouve P[B] = P[C] = 12 .
P[AB] = P[1] = 14 = P[A]P[B]. De meme, P[AC] = P[A]P[C] et P[BC] = P[B]P[C].
Aussi, les evenements A, B et C sont 2 `a 2 independants.
En revanche, P[A B C] = P[] = 0 6= P[A]P[B]P[C], donc les evenements A, B et C
ne sont pas mutuellement independants.
Exercice 3 :
1.a. On a : P(C0 ) = , P(T0 |C0 ) = , P(T1 |C1 ) = , P(T0 |C1 ) = 1 et P(C1 ) = 1 .
1.b. P[T0 ] = P[T0 |C1 ]P[C1 ] + P[T0 |C0 ]P[C0 ] = (1 )(1 ) + .
1.c. Application : = 0.9 et = 0.95. On obtient le graphe suivant de P(T0 ) en fonction
de :

1.0
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
0.0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

1.0

Si = 0 (pas de puce mauvaise), le testeur rejette 5% de puces bonnes. Si = 1


(toutes les puces mauvaises), 10% des puces non refusees sont celles que le testeur
declare bonnes alors quelles sont mauvaises.
2.a. En utilisant la formule de Bayes, on a
P[C0 |T0 ] =

P[T0 |C0 ]P[C0 ]

=
.
P[T0 |C0 ]P[C0 ] + P[T0 |C1 ]P[C1 ]
+ (1 )(1 )

On en deduit alors
P[C1 |T0 ] = 1 P[C0 |T0 ] =

(1 )(1 )
.
+ (1 )(1 )

2.b. Application : = 0.9 et = 0.95. On obtient le graphe suivant en fonction de :

1.0
P[C1|T0]
P[C0|T0]

0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
0.0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

1.0

0.05
Les deux courbes se coupent quand = 0.85
. P[C0 |T0 ] et P[C1 |T0 ] sont alors proches
de 1/2.
On notera que si est petit, les puces mises au rebut sont en majorite des puces bonnes.

3. La proba quune puce declaree bonne par le testeur soit mauvaise est P[C0 |T1 ]. Elle
vaut :
P[C0 |T1 ] =

P[T1 |C0 ]P[C0 ]


(1 P[T0 |C0 ])P[C0 ]
(1 )
=
=
.
P[T1 ]
P[T1 ]
+ (1 )

Le rapport R = P(C0 )/P(C0 |T1 ) peut servir `a exprimer lefficacite du testeur. En effet,
sans le testeur, toutes les puces mauvaises sont acceptees. Le testeur sert `a quelque
chose d`es que P[C0 |T1 ] < P[C0 ]. Plus R est grand, plus le testeur est efficace.
Exercice 4 : Fiabilit
e de syst`
emes
I. Les syst`emes ayant une structure du type serie-parall`ele generalise
1. La fiabilite Rs du syst`eme serie est la probabilite que tous les composants fonctionnent. En utilisant lindependance des composants, on a :
RS = P[A1 . . . An ] = P[A1 ] . . . P[An ] =

n
Y

Ri .

i=1

2.a. La fiabilite Rp du syst`eme parall`ele est la probabilite que lun des composants fonctionne. En passant au complementaire et en utilisant lindependance des composants,
on a :
RP = 1 P[A1 . . . An ] = 1 P[A1 ] . . . P[An ] = 1

n
Y
(1 Ri ).
i=1

Q
On remarque que : 1 RP = n1 (1 Ri ) 6 min(1 Ri ). Aussi, la fiabilite du syst`eme
est meilleure que celle du meilleur composant.
2.b. On suppose que Ri = R pour tout i. On notera RPn la fiabilite du syst`eme `a n
composants. Le gain de fiabilite du syst`eme en passant de n `a (n + 1) composants est
donne par :
RPn+1 RPn = R(1 R)n 0.
n+

3. De nombreux syst`emes ont des diagrammes de fiabilite `a structure serie-parall`ele, ie


que le diagramme du syst`eme est forme de sous-ensembles serie et/ou parall`ele, sousensembles eux-meme decomposables de la meme mani`ere en serie et/ou parall`ele. On
determine la fiabilite de ces syst`emes en faisant des agregations successives.
Voici les differentes etapes de la determination de la fiabilite du syst`eme suivant :

1
1
4
2

4
5

4.a. P[Bi ] = Cni Ri (1 R)ni .


4.b. La fiabilite Rk/n du sous-ensemble sexprime de la facon suivante :

Rk/n = P

n
[
i=k

!
Bi

n
X

P[Bi ] =

i=k

n
X

Cni Ri (1 R)ni

i=k

en utilisant le fait que les Bi sont disjoints.


II. Autres syst`emes
Exemple 1.
1. Le syst`eme fonctionne si les composants (1 et 2) ou (1 et 4) ou (3 et 4) fonctionnent,
ce qui secrit :
A = (A1 A2 ) (A1 A4 ) (A3 A4 ).

` laide de cette expression, on determine P[A] :


A
P[A] = P[A1 A2 ] + P[(A1 A4 ) (A3 A4 )]
P[(A1 A2 ) ((A1 A4 ) (A3 A4 ))]
= RA1 RA2 + RA1 RA4 + RA3 RA4 RA1 RA3 RA4
P[(A1 A2 A4 ) (A1 A2 A3 A4 )]
= RA1 RA2 + RA1 RA4 + RA3 RA4 RA1 RA3 RA4 RA1 RA2 RA4 .
Cest un peu laborieux...
2.a. Dapr`es la formule des probabilites totales, on a
P[A] = P[A|A1 ]P[A1 ] + P[A|A1 ]P[A1 ].
2.b. On explicite toutes les quantites de la formule precedente.
P[A|A1 ] est la fiabilite du syst`eme parall`ele forme des composants 2 et 4. Ainsi
P[A|A1 ] = 1 (1 R2 )(1 R4 ).
P[A|A1 ] est la fiabilite du syst`eme serie forme des composants 3 et 4. Alors,
P[A|A1 ] = R3 R4 .
Finalement, on a donc P[A] = [1 (1 R2 )(1 R4 )]R1 + R3 R4 (1 R1 ). En developpant,
on retrouve lexpression de la question precedente.
Exemple 2.
On a P[A] = P[A|A1 ]P[A1 ] + P[A|A1 ]P[A1 ].
Determinons P[A|A1 ]. Pour cela, on ecrit P[A|A1 ] = P[A|A1 , A2 ]P[A2 ]+P[A|A1 , A2 ]P[A2 ].
P[A|A1 , A2 ] est en fait la fiabilite du syst`eme suivant :
P1

M1

P2

M2

Ce syst`eme ayant une structure de type serie parall`ele, on a :


P[A|A1 , A2 ] = (1 (1 RP1 )(1 RP2 ))(1 (1 RM1 )(1 RM2 )).
P[A|A1 , A2 ] est la fiabilite du syst`eme serie suivant :
P1

M1

On a donc :
P[A|A1 , A2 ] = RP1 RM1 .

La probabilite P[A|A1 ] est alors enti`erement determinee.


Reste `a determiner P[A|A1 ]. Cest la fiabilite du syst`eme serie suivant :
A2

P2

M2

On a donc :
P[A|A1 ] = RA2 RP2 RM2 .
Finalement,
P[A]
= ((1 (1 RP1 )(1 RP2 ))(1 (1 RM1 )(1 RM2 ))RA2 + RP1 RM1 (1 RA2 )) RA1
+RA2 RP2 RM2 (1 RA1 ).