Difrac

ao de Microondas e Raios-x e a Lei de Bragg

Caio Cesar Holanda Ribeiro 19095, Flavia dos Reis Goncalves 29190
caio-fisica@hotmail.com, flavia.goncalves@aiesec.net
Universidade Federal de Itajub
a
(Dated: 3 de dezembro de 2013)
Este trabalho apresenta uma discuss
ao sobre o metodo de an
alise de estruturas cristalinas utilizando difraca
o de ondas eletromagneticas. Para isto, e feita uma deduca
o te
orica da condica
o de
Bragg. Com base nesta condica
o, s
ao analisadas medidas de difraca
o de microondas em um cristal
construdo em laborat
orio com bolas de isopor e papel alumnio. Alem disso, e analisada uma curva
de difraca
o (difratograma) de raios-x de uma amostra de alumina em p
o utilizando o programa
PowderCell.

INTRODUC
AO

Uma das obras mais importantes da hist

oria da ciencia,
como e considerada por muitos, e o tratado de Isaac Newton sobre as propriedades da luz, o Opticks, de 1704. Fazendo um estudo pioneiro sobre as v
arias propriedades
da luz, Newton foi capaz de deduzir que a luz branca e
composta por v
arias outras de outras cores, ou seja, foi
capaz de analisar o seu espectro. Desde ent
ao, o conceito
de espectro tornou-se extremamente importante e amplo,
sendo importante desde a an
alise das componentes de estrelas pelo seu espectro de emiss
ao ate a investigacao de
sistemas eletr
onicos.
Neste contexto, um conceito importante e o de difrac
ao. Difrac
ao e o nome generico dado aos pequenos
desvios da luz em relac
ao `
as leis da
otica geometrica.
baseado neste conceito que a fsica utiliza redes de diE
frac
ao para resolver o espectro das estrelas, o que e objeto
de vastas pesquisas atualmente. Uma outra aplicacao dos
fen
omenos da difrac
ao bastante importante e encontrada
na an
alise de materiais cristalinos na fsica da materia
condensada.
Uma dada estrutura cristalina pode ser estudada
atraves da difrac
ao de f
otons, eletrons e neutrons. A
difrac
ao de ondas eletromagneticas depende da estrutura
do cristal e do comprimento de onda do feixe incidente.
Quando o comprimento de onda e compar
avel com as
dimens
oes geometricas da rede cristalina, verifica-se que
os raios incidentes podem ser difratados para determinados
angulos pelo cristal, produzindo picos de radiacao
refletida por ele.
W. L. Bragg apresentou uma explicac
ao simples para
este fen
omeno, mas convincente, uma vez que reproduz corretamente os resultados observados. Para tanto,
Bragg utilizou um modelo de cristal formado por planos
paralelos separados por uma dist
ancia d e tratou que a
radiac
ao incidente refletiria nestes planos de forma especular. A interferencia construtiva das ondas refletidas
para determinados
angulos de incidencia e a responsavel
pelos picos observados.
Tendo isto como motivac
ao, neste trabalho sera feito
uma deduc
ao tecnica da condic
ao de difrac
ao de Bragg

utilizando o formalismo de Fourier. Alem disso, ser

ao
analisados alguns difratogramas a fim de demonstrar
o mecanismo responsavel pela grande import
ancia do
metodo de analise de cristais por difracao de ondas.
TEORICA

FUNDAMENTAC
AO

A fim de fazer um estudo sobre a difracao de raios-x

em cristais e fundamental entender os mecanismos envolvidos no processo de espalhamento das ondas eletromagneticas nos cristais bem como a condicao de Bragg.
Para isso, sera utilizado o metodo da analise de Fourier.
Sejam ~a1 , ~a2 e ~a3 os vetores dos eixos da rede cristalina
de um dado cristal. Assim, o sistema e invariante pela
operacao de translacao por T~ = u1~a1 + u2~a2 + u3~a3 para
inteiros u1 , u2 , u3 . Defina os vetores dos eixos da rede
recproca por
~a3 ~a1
~a2 ~a3
, ~b2 = 2
,
~a1 (~a2 ~a3 )
~a1 (~a2 ~a3 )
~b3 = 2 ~a1 ~a2 .
~a1 (~a2 ~a3 )

~b1 = 2

Note que os vetores da rede recproca satisfazem a propriedade

~bi ~aj = 2ij ,
onde ij e o delta de Kronecker.
~ por G
~ =
Defina o vetor da rede recproca G
v1~b1 + v2~b2 + v3~b3 para quaisquer parametros v1 , v2 , v3 .
Suponha que sobre o cristal incida uma onda plana monocromatica com vetor de onda ~k e frequencia angular .
Seja n(~r) a densidade de centros espalhadores em torno
do ponto ~r. Seja ~k 0 o vetor de onda da onda espalhada
pelos centros n(~r)dV . A hipotese basica e supor que a
amplitude da onda espalhada na direcao ~k 0 e proporcional a n(~r). Seja F (~r) qualquer componente da onda
espalhada. Claramente, F (~r) e uma combinac
ao linear
de todas as ondas espalhadas nas direcoes ~q = ~k 0 ~k.
Matematicamente,

f (~q)ei~q~r

F (~r) =

~
G2 = 2~k G,

d3 q
(2)3

onde d q denota o elemento de volume no espaco dos ~q.

Da e claro ver que
Z

F (~r)ei~q~r dV

f (~q) =

Por hip
otese, F (~r) n(~r). Logo,
Z
f (~q) =

n(~r)ei~q~r dV.

(1)

Assim, a f (~q) e chamado de amplitude de espalhamento da onda espalhada por todo o sistema. Agora,
e pertinente trabalhar com as caractersticas do cristal e
retirar informac
oes da densidade n(~r). Considere o desenvolvimento em serie de Fourier
n(~r) =

iG~
r
nG
.
~e

(6)

~ = h~b1 +
que e a Lei de Bragg. De fato, o vetor G
k~b2 + l~b3 e normal ao plano (hkl), e a distancia entre
~ [1, 2].
planos consecutivos e dada por d(hkl) = 2/|G|
0
Denotando por o angulo entre a direcao do vetor de
~ tem-se que o
onda incidente ~k e a normal ao plano, G,
angulo entre o vetor de onda incidente ~k e o plano e
dado por = /2 0 , de onde o resultado 6 e reescrito
como
2d sin() = ,

(7)

onde e o comprimento de onda da onda incidente.

A Figura 1 apresenta um esquema ilustrativo de como
ocorre a difracao no material.

(2)

~
G

Como h
a simetria de translac
ao por T~ no cristal, e
natural exigir que n(~r + T~ ) = n(~r). Isto equivale a exigir
que

Figura 1: Esquema ilustrativo mostrando o a

ngulo da
condica
o de Bragg [4].

~ ~

eiGT = 1,
de onde obtem-se que os vetores ~q s
ao discretos e que
os par
ametros v1 , v2 , v3 s
ao inteiros. Usando a resolucao
de Fourier 2 em 1, tem-se que

f (~q) =

Z
nG
~

ei(G~q)~r dV.

(3)

~
G

Ora, mas como para todos os efeitos o cristal e infinito,

a integral em 3 somente e diferente de zero quando o
argumento da exponencial se anula, ou seja,
~ = ~q = ~k 0 ~k.
G

PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL

A fim de fazer a constatacao experimental da difrac

ao
de ondas eletromagneticas, foi utilizado um sistema emissor de microondas com comprimento de onda 3,18 cm
para observar a existencia de maximos de difrac
ao fazendo estas ondas incidirem sobre dois cristais construdos em laboratorio. Os cristais foram construdos
a partir de bolas de isopor de aproximadamente dois
centmetros de diametro revestidas com papel alumnio.
A Figura 2 representa uma vista lateral dos dois cristais
construdos.

(4)

Supondo que a onda espalhe-se elasticamente, ou seja,

que a frequencia da onda espalhada seja , tem-se que
~ = ~k 0 ,
k 0 = k. Da, usando a equac
ao 4 na forma ~k + G
obtem-se a condi
c
ao de difra
c
ao
~ 2 = k 2 + G2 + 2~k G
~ 2~k G
~ + G2 = 0. (5)
k 02 = (~k + G)

Figura 2: Vista lateral dos cristais construdos.

~ tambem deve satisfazer a equacao 5, de

Note que G
onde

Estes cristais foram posicionados sobre uma mesa giratoria e rotacionados em passos de 5 ate completar

2 ,0
1 ,8
1 ,6

(m V )

1 ,4

V o lta g e m

180 . Foi registrada a voltagem acusada pelo multmetro

acoplado ao sensor de microondas em func
ao do angulo
que o cristal era rotacionado. Ambos os cristais construdos foram medidos em duas posic
oes distintas, conforma ilustra a Figura 3. No procedimento realizado com
os cristais 1 e 2 o
angulo entre a fonte e o sensor de microondas era de aproximadamente 30 e 20 , respectivamente.

1 ,2
1 ,0
0 ,8
0 ,6
0 ,4
0 ,2
0 ,0
0

2 0

4 0

6 0

8 0

1 0 0

1 2 0

1 4 0

1 6 0

1 8 0

()

Figura 4: Intensidade da radiaca

o recebida pelo sensor em
funca
o do
angulo de rotaca
o do cristal 1, na posica
o inicial 1
Figura 3: Ilustraca
o do procedimento experimental e das
posico
es em que os cristais foram colocados sobre a mesa girat
oria
1 ,4

Fonte de microondas;
Sensor de microondas com multmetro;

1 ,2

(m V )

1 ,0

V o lta g e m

O segundo experimento realizado consistiu na obtenc

ao de um difratograma (intensidade da onda espalhada em func
ao do
angulo de incidencia) de uma amostra de alumina Al2 O3 utilizando um difrat
ometro XPert
Powder da PANalytical.

0 ,8

0 ,6

0 ,4

Bolas de isopor de 2 cm de di
ametro;

0 ,2

Papel alumnio;

0 ,0

Mesa girat
oria;

2 0

4 0

6 0

8 0

1 0 0

1 2 0

1 4 0

1 6 0

1 8 0

2 0 0

()

Alumina;
Difrat
ometro XPert Powder.

RESULTADOS E DISCUSSOES
Difra
c
ao de Microondas

A varredura da intensidade de radiac

ao que recebe o
sensor em func
ao do
angulo que o cristal e rotacionado
est
a representada nas Figuras 4, 5, 6 e 7.
Do modo como foi realizada esta parte do experimento,
o
angulo de difrac
ao 2, isto e, o
angulo entre a fonte
emissora de microondas e o sensor, estava fixo em 120
no caso do cristal 1. Assim, tem-se = 60 . Utilizando a
equac
ao de Bragg, dada em 7, obtem-se que este angulo
faz referencia a planos que distam entre si d = 1, 84 cm.
A varredura de
angulos realizada representa, portanto,

Figura 5: Intensidade da radiaca

o recebida pelo sensor em
funca
o do
angulo de rotaca
o do cristal 1, na posica
o inicial 2

os conjuntos de planos presentes no cristal que possuem

uma distancia interplanar deste valor. O n
umero de picos
encontrados refere-se, entao, ao n
umero existente destes
conjuntos de planos.
Do grafico na Figura 4, observa-se um pico em um
angulo 58 . A representacao correspondente ao cristal 1 com este angulo em relacao `a fonte esta ilustrada na
Figura 8. Considerando que o raio das bolinhas de isopor
recobertas com papel alumnio e r = 1, 1 cm, a dist
ancia
entre os planos representados deveria ser d = 1, 83 cm,
o que confere, considerando erros experimentais, com o
valor de distancia interplanas de d = 1, 84 cm, referente
ao angulo de difracao de 2 = 120 . Utilizando o sistema
de indexacao de Miller, pode-se dizer que estes planos

2 ,0
1 ,8
1 ,6

(m V )

1 ,4
1 ,2

V o lta g e m

1 ,0
0 ,8
0 ,6
0 ,4
0 ,2
0 ,0
0

2 0

4 0

6 0

8 0

1 0 0

1 2 0

1 4 0

1 6 0

1 8 0

()

Figura 8: Cristal 1 na posica

o inicial 1 a
` esquerda, e ap
os ser
rotacionado 58 a
` direita,
angulo para o qual foi observado um m
aximo de difrac
ao. Em vermelho est
a representado
o conjunto de planos cujas dist
ancias interplanares s
ao aproximadamente d = 1, 84 cm.

Figura 6: Intensidade da radiaca

o recebida pelo sensor em
funca
o do a
ngulo de rotaca
o do cristal 2, na posica
o inicial 1

2 ,0
1 ,8
1 ,6

V o lta g e m

(m V )

1 ,4
1 ,2
1 ,0

Figura 9: Cristal 1 na posica

o inicial 2 `
a esquerda, ap
os ser
rotacionado 5 ao centro, e ap
os ser rotacionado 70
a
` direita. Em vermelho est
ao representados os conjuntos de
planos cujas dist
ancias s
ao aproximadamente d = 1, 84 cm.

0 ,8
0 ,6
0 ,4
0 ,2
0 ,0
0

2 0

4 0

6 0

8 0

1 0 0

1 2 0

1 4 0

1 6 0

1 8 0

()

Figura 7: Intensidade da radiaca

o recebida pelo sensor em
funca
o do a
ngulo de rotaca
o do cristal 2, na posica
o inicial 2

possuem os ndices (2 1 0).

Do gr
afico na Figura 5, observam-se picos em 5 ,

70 e em 160 . Pela geometria desta configurac

ao, percebe-se que os dois u
ltimos picos sao correspondentes `
a mesma configurac
ao do cristal na mesa
girat
oria. A representac
ao correspondente do cristal 1
para os
angulos de m
aximo com relac
ao `
a fonte esta ilustrada na Figura 9. Pela geometria, pode-se determinar
que a dist
ancia entre os ambos os conjuntos de planos representados deveria ser d = 1, 83 cm, o que confere com
o valor de dist
ancia interplanar de d = 1, 84 cm.
Estes s
ao os conjuntos de planos do cristal 1 que possuem dist
ancia interplanar de cerca de d = 1, 84 cm. Sao
os planos (1 2 0) e (2 1 0). Os demais conjuntos de pla-

nos geram angulos de difracao distintos de 2 = 120 ,

obtidos pela lei de Bragg, e portanto nao apresentaram
maximos na configuracao utilizada.
Para obter-se os angulos de difracao que permitem calcular a distancia interplanar destes conjuntos de planos
era necessario rotacionar, em conjunto, o cristal em um
angulo e o detector em um angulo 2, procedimento
que nao foi adotado neste experimento.
Para o cristal 2, o angulo de difracao permaneceu fixo
em 2 = 110 . Assim, tem-se = 55 . Utilizando a
Equacao 7, obtem-se que este angulo faz referencia a
planos que distam entre si d = 1, 93 cm. A varredura
de angulos realizada para o cristal 2 em ambas as configuracoes representa, portanto, os conjuntos de planos
presentes no cristal que possuem uma distancia interplanar com este valor, como no caso anterior, e o n
umero de
picos encontrados refere-se, tambem, ao n
umero existente
destes conjuntos de planos.
A Figura 10 exibe o conjunto de planos que ofereceram a condicao necessaria para a difracao em um
angulo
2 = 110 . Estes sao os planos (3 1 0). Sua dist
ancia in-

5
d = 1, 93 cm.

Difra
c
ao de Raios-X

A Figura 12 apresenta o difratograma obtido para a

amostra de alumina em uma varredura de 30 2
80 .
3 0 0 0
Vista lateral

2 5 0 0

terplanar calculada pela geometria do sistema e d = 1, 97

cm, utilizando, como no caso anterior, que o raio das bolinhas recobertas com papel alumnio e de r = 1, 1 cm.
Este valor confere, considerando os erros, com o valor descrito pela condic
ao de Bragg para o
angulo de difracao
considerado.

In te n s id a d e r e la tiv a

2 0 0 0

Figura 10: Cristal 2 na posica

o inicial 1 a
` esquerda, e ap
os ser
rotacionado 53 a
` direita. Em vermelho est
a representado o conjunto de planos cujas dist
ancias interplanares s
ao
aproximadamente d = 1, 93 cm.

1 5 0 0

1 0 0 0

5 0 0

0
3 0

3 5

4 0

4 5

5 0

5 5

6 0

6 5

7 0

7 5

8 0

Figura 12: Difratograma obtido da amostra de alumina.

Figura 11: Cristal 2 na posica

o inicial 2 a
` esquerda, e ap
os ser
rotacionado 60 a
` direita. Em vermelho est
a representado
o conjunto de planos cujas dist
ancias s
ao aproximadamente
d = 1, 93 cm.

Para a configurac
ao inicial 2 do cristal 2, pelo grafico
da Figura 7, observa-se que o conjunto de planos cuja
dist
ancia gera a difrac
ao para o
angulo em questao esta
rotacionado cerca de = 60 em relac
ao `
a fonte. O
outro
angulo observado nesta mesma Figura apresenta
refere-se ao mesmo plano, pela geometria de rotacao do
cristal. Para estes planos, (1 1 0), calcula-se a distancia
interplanar de d = 1, 91 cm, utilizando a geometria do
cristal. Considerando-se os erros experimentais, este valor tambem est
a em concord
ancia com o esperado, de

A analise do difratograma pode ser feita de v

arias maneiras, de tal forma que para cada objetivo, deve-se escolher a analise que adequa os dados requeridos. Por
exemplo, existem diversos programas com bancos de dados de difratogramas de diversos materiais. Como cada
material possui um espectro caracterstico, e possvel fazer uma analise comparativa ate obter os padr
oes que
mais adequam a medida. Com isso, e possvel obter a
composicao, estrutura cristalina, e, desta forma, todas
as informacoes geometricas importantes. Um exemplo
de tal programa e o HighScore, fornecido pela pr
opria
PANalytical. O HighScore conta com um enorme banco
de dados, e com ele e facil detectar todas as informac
oes
sobre a amostra de alumina medida.
Outra forma de proceder e possuindo um conhecimento
previo sobre as possveis caractersticas do material medido. Por exemplo, sabendo que um dado material e composto por alumina e outro material a ser caracterizado, e
possvel subtrair do difratograma medido a parte referente somente ao espectro da alumina, e com isso, o resultado trara todas as informacoes do outro componente. A
fim de caracterizar o metodo, sera utilizado o programa
PowderCell, que faz simulacoes de difratogramas a partir
do conhecimento das possveis caractersticas cristalinas
do po.
bem sabido da literatura que a alumina possui uma
E
celula unitaria hexagonal com vetores |~a| = |~b| = 4, 75
1010 m e |~c| = 12, 982 1010 m, e grupo de simetria

6
R3c [3]. Colocando estes dados junto `
as informacoes das
posic
oes dos
atomos da base, s
ao obtidas as Figuras 13
e 14, que apresenta a simulac
ao do difratograma junto
com os pontos medidos.

de sen1 (). Fazendo a regressao linear, e obtido que

2 ,5

d (1 0

-1 0

m )

2 ,0

1 ,5

Figura 13: Celula unit

aria simulada com o PowderCell.

1 ,0
3 0

5 0 0 0

4 0

5 0

6 0

7 0

8 0

2
1 1 6

1 1 3

M e d id a
S im u la o

1 0 4

4 0 0 0

In te n s id a d e r e la tiv a

Figura 15: Dist

ancia interplanar em funca
o de 2.
3 0 0 0

3 0 0

/2 = 0, 7703 0, 0001 1010 m, ou seja, = 1, 5406

0, 0002 1010 m, que esta precisamente na faixa do raiox.

0 2 4

2 0 0 0

1 1 0

2 1 4

1 0 0 0

1 0 .1 0

0 0 6

2 1 1

2 0 2

CONCLUSOES

1 1 9

1 2 2
1 2 5

2 0 8

0
3 0

3 5

4 0

4 5

5 0

5 5

6 0

6 5

7 0

7 5

8 0

Figura 14: Difratograma simulado; a curva em azul representa

a simulaca
o; os pontos em vermelho s
ao os pontos medidos;
os n
umeros em cada pico s
ao as coordenadas hkl dos planos.

Observa-se, a partir da Figura 14, que, com excessao

dos pequenos rudos, os picos principais s
ao coincidentes.
Isto mostra como identificar as propriedades da amostra
atraves da comparac
ao dos dados obtidos com difratogramas presentes nos bancos de dados. Uma vez, portanto,
identificada a subst
ancia e sua estrutura cristalina, com
o PowderCell, e simples obter um esquema da estrutura
cristalina, e assim, os planos referentes a cada pico, bem
como a dist
ancia entre eles em func
oes do
angulo 2. A
Figura 15 apresenta os dados obtidos.
A curva presente na Figura 15 e muito importante, pois
apresenta uma confirmac
ao experimental da condicao
de Bragg. Isto pode ser visto procedendo com a seguinte an
alise. Conforme apresentado na fundamentacao
te
orica, a condic
ao de Bragg e tal que
d=

sen1 ().
2

Portanto, a dist
ancia interplanar d e uma funcao linear

Neste trabalho foi apresentada uma analise do metodo

de analise de estruturas cristalinas utilizando a difrac
ao
de ondas eletromagneticas. Para isto, foi deduzida, a
partir do metodo de Fourier, a condicao de difrac
ao de
Bragg. Utilizando esta condicao, foi visto que, para uma
estrutura periodica cristalina construda em laborat
orio,
e obtido um valor consistente para a distancia interplanar. Utilizando esta condicao, tambem, foi visto como
fazer a analise da estrutura cristalina de uma amostra em
po de alumina utilizando um difratometro de raios-x. A
partir da condicao de Bragg, o programa utilizado, PowderCell, permitiu identificar todos os planos da amostra
em estudo. Foi visto tambem que e possvel, a partir do
difratograma, determinar a composicao e estrutura cristalina de amostrar a partir da comparacao das curvas
com os bancos de dados presentes na literatura.

[1] Kittel, C. Introduction to Solid State Physics, 8th edition.

[2] Cowley, J. M., Diffraction Physics, Third Revised Edition,
Elsevier, Amsterdam: 1995.
[3] http://www.mindat.org/min-1136.html, acessado em 02
de dezembro de 2013.
[4] http://pt.wikipedia.org/wiki/Lei_de_Bragg,
acessado em 19 de novembro de 2013.