Vous êtes sur la page 1sur 15

Cpia no autorizada

AGO 2002

ABNT - Associao
Brasileira de
Normas Tcnicas
Sede:
Rio de Janeiro
Av. Treze de Maio, 13 - 28 andar
CEP 20003-900 - Caixa Postal 1680
Rio de Janeiro - RJ
Tel.: PABX (21) 3974-2300
Fax: (21) 2240-8249/2220-6436
Endereo eletrnico:
www.abnt.org.br

Copyright 2002,
ABNTAssociao Brasileira de
Normas Tcnicas
Printed in Brazil/
Impresso no Brasil
Todos os direitos reservados

NBR ISO 12179

Especificaes geomtricas do
produto (GPS) - Rugosidade - Mtodo
do perfil - Calibrao de instrumentos
de medio por contato (com sapata
de apalpao)
Origem: Projeto 04:005.06-019:2002
ABNT/CB-04 - Comit Brasileiro de Mquinas e Equipamentos Mecnicos
CE-04:005.06 - Comisso de Estudo de Tolerncias e Ajustes
NBR ISO 12179 - Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture:
Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
Descriptors: Surface texture. Contact instruments. Calibration
Esta Norma equivalente ISO 12179:2000
Vlida a partir de 29.09.2002
Palavras-chave: Rugosidade. Instrumento de medio por
contato. Calibrao

15 pginas

Sumrio
Prefcio
0 Introduo
1 Objetivo
2 Referncias normativas
3 Terminologia e definies
4 Condies de utilizao
5 Padres de medio
6 Caractersticas metrolgicas dos instrumentos por contato (com sapata de apalpao)
7 Calibrao
8 Incerteza de medio
9 Certificado de calibrao de instrumento por contato (com sap ata de apalpao)
ANEXOS
A Calibrao de instrumentos medindo as ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros
B Calibrao de instrumento de medio de rugosidade de operao simplificada
C Exemplo: Parmetro padronizado de medio de rugosidade Ra
D Relao ao modelo matriz GPS
Bibliografia
Prefcio
A ABNT - Associao Brasileira de Normas Tcnicas - o Frum Nacional de Normalizao. As Normas Brasileiras, cujo
contedo de responsabilidade dos Comits Brasileiros (ABNT/CB) e dos Organismos de Normalizao Setorial
(ABNT/ONS), so elaboradas por Comisses de Estudo (ABNT/CE), formadas por representantes dos setores envolvidos,
delas fazendo parte: produtores, consumidores e neutros (universidades, laboratrios e outros).
Os Projetos de Norma Brasileira, elaborados no mbito dos ABNT/CB e ABNT/ONS, circulam para Consulta Pblica entre
os associados da ABNT e demais interessados.
Esta Norma contm os anexos A e B, de carter normativo, e os anexos C e D de carter informativo.
Introduo
Esta Norma uma norma de especificao geomtrica do produto (GPS), e conforme a norma geral GPS (ver
ISO/TR14638). Ela influencia a conexo 6 da cadeia de normas de rugosidade, ondulao e perfil primrio.
Para informaes mais detalhadas da relao desta Norma com o modelo matriz GPS, ver o anexo D.
Esta Norma apresenta a calibrao de instrumentos de medio por contato (com sapata de apalpao) conforme
definido na ISO 3274. A calibrao deve ser realizada com auxlio de padres de medio.

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002


1 Objetivo
Esta Norma se aplica calibrao das caractersticas metrolgicas de instrumentos de medio de rugosidade por contato
(com sapata de apalpao) pelo mtodo do perfil, conforme definido na ISO 3274. A calibrao deve ser feita com o auxlio
de padres de medio.
O anexo B aplicvel calibrao das caractersticas metrolgicas de instrumentos de medio por contato (com sapata
de apalpao), de operao simplificada, que no estejam de acordo com a ISO 3274.
2 Referncia normativa
Os seguintes documentos normativos contm prescries que, atravs de referncia neste texto, constituem prescries
para esta Norma. Para referncias datadas, as emendas subseqentes ou as revises destas publicaes no so
aplicveis. Entretanto, recomenda-se queles que realizam acordos com base nesta Norma que verifiquem a possibilidade de se utilizarem as edies mais recentes dos documentos normativos relacionados a seguir. Para referncias nodatadas, a ltima edio do documento normativo referenciado se aplica. A ABNT mantm registros das normas em
vigor em um dado momento.
ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of
contact (stylus) instruments.
ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and
surface texture parameters.
ISO 5436-1: Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method; Measurement standards - Part 1:
Material measures.
ISO 10012-1:1992, Quality assurance requirements for measuring equipment - Part 1: Metrological confirmation system for
measuring equipment.
ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Motif parameters.
ISO 14253-1:1998, Geometrical Product Specifications (GPS) - Inspection by measurement of workpieces and measuring
equipment - Part 1: Decision rules for proving conformance or non-conformance with specification.
ISO/TS 14253-2:1999, Geometrical Product Specifications (GPS) - Inspection by measurement of workpieces and
measuring equipment - Part 2 : Guide to the estimation of uncertainty of measurement in GPS measurement, in calibration
of measuring equipment and product verification.
Guide to expression of uncertainty in measurement (GUM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML, 1st edition, 1995.
International Vocabulary of basic and general terms used in metrology (VIM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML,
2nd edition, 1993.
3 Termos e definies
Para os efeitos desta Norma aplicam-se os termos e definies das ISO 3274, ISO 4287, ISO 14253-1, VIM (alguns termos
so reproduzidos a seguir por convenincia, sem as respectivas notas), GUM e termo e definio de 3.2.
3.1
Calibrao
conjunto de operaes que estabelece, sob condies especficas, a relao entre os valores indicados por um
instrumento de medio ou sistema de medio ou valores representados por uma medida materializada ou um material de
referncia, e os valores correspondentes das grandezas estabelecidos por padres.
[VIM 6.11]
3.2
Calibrao por funo
conjunto de operaes que estabelece, sob determinadas condies, a relao entre valores de grandezas indicadas por
um instrumento de medio e os correspondentes valores conhecidos de uma famlia limitada de padres com caractersticas perfeitamente definidas que constitui um subconjunto da capacidade de medir de um instrumento de medio.
3.3
Ajuste (de um instrumento de medio)
operao destinada a fazer com que um instrumento de medio tenha desempenho compatvel com o seu uso.
[VIM 4.30]

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002

3.4
Padro
medida materializada, instrumento de medio, material de referncia ou sistema de medio destinado a definir, realizar,
conservar ou reproduzir uma unidade ou um ou mais valores de uma grandeza, para servir como referncia.
[VIM 6.1]
NOTA - Na ISO 5463:1985, Padres de medio so referidos como padres de calibrao.

3.5
Incerteza de medio
parmetro, associado ao resultado de uma medio, que caracteriza a disperso dos valores que podem ser fundamentalmente atribudos a um mesurando.
[VIM 3.9]
3.6
Rastreabilidade
propriedade do resultado de uma medio ou valor de um padro estar relacionado a referncias estabelecidas, geralmente padres nacionais ou internacionais, atravs de uma cadeia contnua de comparaes, todas tendo incertezas
estabelecidas.
[VIM 6.10]
4 Condies de utilizao
4.1 Componentes e configuraes do instrumento por contato (com sapata de apalpao)
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) composto por um equipamento bsico, uma unidade de deslocamento, um apalpador e um registrador de perfil (ver ISO 3274).
Se o equipamento bsico for usado com vrias unidades de deslocamento e apalpadores, cada uma dessas combinaes
dos instrumentos (configuraes) deve ser calibrada separadamente.
4.2 Calibrao de uma configurao
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado quando for feita uma mudana nos elementos
bsicos do sistema que intencionalmente ou no modifiquem o perfil de medio ou o resultado de medio.
Cada configurao do instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrada separadamente.
EXEMPLO - Ao trocar o apalpador, o instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado.
4.3 Local da calibrao
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado no local de utilizao com as condies
ambientais similares quelas quando utilizado em medies, de forma a levar em os conta os mesmos fatores de influncia
externa.
EXEMPLO - Rudo, temperatura, vibrao, movimentao de ar, etc.
5 Padres de medio
Para as calibraes citadas na seo 6, so aplicveis os seguintes padres de medio.
- Plano ptico;
- Padro de profundidade: tipo A de acordo com a ISO 5436-1 (figura 1);
- Padro de espaamento: tipo C, de acordo com a ISO 5436-1 (figura 2);
- Plano ptico inclinado (figura 3);
- Padro de medio de perfil por coordenadas (constitudo de uma esfera ou de um prisma): tipo E, de acordo com a
ISO 5436-1;
- Padro de medio de rugosidade: Tipo D de acordo com a ISO 5436-1 (figura 4).
NOTA - Recomenda-se que o padro de medio de perfil por coordenadas seja usado em instrumento por contato (com sapata de
apalpao) onde a ponta gira de 0,5 quando se movimenta ao longo de toda faixa nominal.

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002


6 Caractersticas metrolgicas dos instrumentos por contato (com sapata de apalpao)
Somente as caractersticas metrolgicas por funo especfica dos instrumentos que forem relevantes para as funes especficas em uma determinada medio devem ser selecionadas para calibrao. Por exemplo, para medio de parmetros de espaamento, o componente de perfil vertical no precisa ser calibrado.
6.1 Calibrao do perfil residual
Um plano ptico, sem riscos, permite medir o perfil residual. Para calibrao de funes especficas utilizar perfil e
parmetros apropriados (por exemplo: perfil de rugosidade com Ra, Rq, Rt; perfil de ondulao com Wq ou Wt).
NOTA - Deve-se conhecer as influncias das condies ambiente, rudos do instrumento e retitude das guias do instrumento ao utilizar
este procedimento.

Dimenses em milmetros

Figura 1 - Exemplo de padro para medida de profundidade (tipoA2)

Figura 2 - Exemplo de padro de espaamento (tipo C)

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002

Figura 3 - Exemplo de um plano ptico inclinado e o esquema de medio

Valores em milmetros

Figura 4 - Exemplo de padro de rugosidade (tipo D) e o esquema de medio


6.2 Calibrao da componente vertical do perfil
O padro de profundidade reproduz a profundidade do perfil, de maneira a medir o erro de indicao da componente
vertical do perfil.
NOTA - Caso no se tenha disponvel o padro de profundidade, pode-se utilizar blocos-padro. Deve-se ter em conta a incerteza da
diferena de altura, no caso de se utilizarem blocos-padro.

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002


6.3 Calibrao da componente horizontal do perfil
O padro de espaamento reproduz a largura mdia do elemento do perfil PSm, de modo a medir o erro de indicao da
componente horizontal do perfil.
6.4 Calibrao do perfil por sistema de coordenadas
O plano ptico inclinado reproduz:
- o melhor ajuste, pelos mnimos quadrados, do ngulo, em graus;
- a altura total do perfil primrio, Pt, aps a remoo da linha reta ajustada pelo mtodo dos mnimos quadrados;
desta forma estabelecendo o erro de conexo das coordenadas horizontais e verticais (isto , variao da velocidade de
deslocamento, no linearidade da escala, etc.).
O padro de medio do perfil de coordenadas reproduz a altura total do perfil primrio, Pt, aps a remoo da forma
nominal, ajustada pelos mnimos quadrados, estabelecendo assim o sistema de coordenadas.
6.5 Calibrao total do instrumento por contato (com sapata de apalpao)
O padro de medio de rugosidade reproduz:
- desvio mdio aritmtico, Ra;
- altura mxima do perfil, Rz;
dessa forma estabelecendo uma verificao geral do contato do instrumento (com sapata de apalpao).
7 Calibrao
7.1 Preparao para a calibrao
Antes da calibrao deve-se verificar se o instrumento por contato (com sapata de apalpao) est funcionando
adequadamente, como descrito no manual de operao. A condio da ponta do apalpador tambm deve ser examinada
conforme instruo do fabricante.
Os seguintes tpicos devem ser seguidos:
- avaliar o perfil residual;
- alinhar o plano do padro de medio de profundidade com a superfcie de referncia o melhor possvel. Todos os
padres de medio devem ser alinhados de maneira apropriada, por exemplo, o plano do padro de rugosidade deve
estar alinhado dentro de 10% da faixa de medio, porm no mais de 10 m sobre o comprimento de avaliao;
- utilizar nas calibraes especficas padres de rugosidade apropriados, comparveis com a rugosidade da superfcie a
ser medida;
- efetuar medies metade da faixa de medio vertical do apalpador, em cada avaliao;
- executar um nmero suficiente de medies em cada padro para obter-se a incerteza requerida (ver seo 8).
A repetio da medio usualmente necessria devido no homogeneidade do padro de medio, a variabilidade do
procedimento de medio e a repetitividade do instrumento de contato (com sapata de apalpao);
- as condies utilizadas para medir o padro de medio devem ser compatveis com aquelas utilizadas para calibrar o
padro de medio;
- utilizar o melhor procedimento para ajuste (isto , mnimos quadrados, zona mnima, etc.) que foi utilizado na calibrao
do padro de medio.
7.2 Avaliao do perfil residual
Deslocar o apalpador sobre o plano ptico. Determinar o perfil residual e calcular os parmetros de rugosidade da
superfcie, Pt e Pq. Para a calibrao de funes especficas, calibrar de acordo com as condies de medio para cada
medio requerida. Por exemplo, na medio de um padro de rugosidade so utilizados os seguintes parmetros: comprimento de onda de corte (cut-off) c = 0,8mm e razo de corte 300:1, perfazendo um comprimento de avaliao de 4 mm.
Os valores medidos Ra e Rz devem ser indicados no certificado de calibrao do instrumento.
7.3 Calibrao da componente vertical do perfil
7.3.1 Objetivo geral
Determinar os desvios do perfil primrio em relao ao valor estabelecido para o padro no certificado de calibrao,
deslocando o apalpador atravs das ranhuras do padro de medio de profundidade.

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002

7.3.2 Procedimento
Medir o perfil das ranhuras dentro da rea de calibrao do padro de medio (ver figura 1). Deslocar o apalpador atravs
da(s) ranhura(s) individualmente e determinar a profundidade da(s) ranhura(s) conforme o procedimento de calibrao
fornecido junto com o padro de medio de profundidade. Determinar o desvio do valor mdio (obtido dos valores
medidos) em relao ao valor fornecido no certificado de calibrao do padro de medio de profundidade.
Alternativamente, se no se dispuser de um padro de medio de profundidade, aderir dois blocos-padro, justapostos,
sobre um plano ptico. Percorrer os dois blocos e determinar a respectiva diferena de altura do perfil total. Determinar o
desvio entre a diferena da altura medida e a diferena da altura calculada a partir dos valores fornecidos pelo certificado
de calibrao dos blocos-padro.
7.4 Calibrao da componente horizontal do perfil
7.4.1 Objetivo geral
Determinar os desvios medidos dos parmetros de comprimento de onda com os valores fornecidos no certificado de
calibrao do padro, atravs do deslocamento do apalpador sobre o padro de medio de passo
7.4.2 Procedimento
Efetuar medies no padro de passo, em vrias posies sobre a superfcie de medio. Um exemplo de uma seqncia
de medio dado na figura 2. Calcular a mdia aritmtica para o parmetro primrio PSm. Anotar os desvios em relao
aos valores fornecidos no certificado de calibrao.
7.5 Calibrao do perfil em sistema de coordenadas
7.5.1 Objetivo geral
Deslocar o apalpador sobre um plano inclinado, esfera ou prisma e determinar o Pt a partir dos desvios em relao ao
melhor ajuste da forma do elemento, pelo mtodo dos mnimos quadrados.
7.5.2 Procedimento
Efetuar medies em cada inclinao do padro, usando o comprimento de medio e o ngulo nominal de inclinao
conforme fornecido no certificado de calibrao. As medies devem ser distribudas sobre a rea de medio conforme
mostrado na seqncia de medio (ver figura 3). Calcular a profundidade do perfil, aps remover a linha ajustada determinada pelo mtodo dos mnimos quadrados e a mdia aritmtica do ngulo ajustado pelos mnimos quadrados. Anotar a
maior profundidade do perfil e o ngulo mdio de inclinao.
Deslocar o apalpador sobre o padro do perfil para medidas em coordenadas. Determinar Pt, aps a remoo do melhor
ajuste forma nominal obtida pelo mtodo dos mnimos quadrados.
Efetuar medies em cada padro do perfil em coordenadas, usando o comprimento de medio fornecido no certificado
de calibrao, distribudo sobre a superfcie de medio. Calcular as profundidades do perfil aps remover melhor forma
nominal determinada pelos mnimos quadrados. Anotar a maior profundidade do perfil.
NOTA - Esferas e prismas so usualmente utilizados como padres de medio de perfis em coordenadas.

7.6 Calibrao de Instrumento com contato total (com sapata de apalpao)


7.6.1 Objetivo geral
Determinar os desvios dos parmetros de rugosidade em relao aos valores do perfil de rugosidade fornecidos no
certificado de calibrao, deslocando o apalpador sobre o padro de medio de rugosidade.
7.6.2 Procedimento
Efetuar medies em cada padro de rugosidade, distribudas sobre a superfcie de medio.
Um exemplo de uma seqncia de medio dado na figura 4. Calcular a mdia aritmtica para cada parmetro de
rugosidade. Registrar os desvios obtidos a partir dos valores fornecidos no certificado de calibrao.
8 Incerteza de medio
8.1 Informaes do certificado de calibrao para um padro de medio
As seguintes informaes so obtidas do certificado de calibrao para um padro de medio:
- completa definio das caractersticas metrolgicas (incluindo quando apropriado, a seqncia de medio, os filtros de
cut-off c e s, tipos de filtros, definies de cut-offs, etc.);
- incerteza, Uct dos valores medidos das caractersticas metrolgicas com o fator de abrangncia utilizado (ver
ISO/TS14253-2);
- incerteza padro estimada, ui, da variao das caractersticas metrolgicas sobre a rea utilizada para a calibrao
(regio da medio);
- Declarao de como a incerteza padro estimada, ui, foi includa no clculo do Uct.

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002


8.2 Incerteza dos valores medidos durante a calibrao de um instrumento de medio utilizando-se um padro de
medio
A incerteza dos valores medidos durante a calibrao deve ser estimada de acordo com o mtodo estabelecido na
ISO/TS 14253-2.
A incerteza das caractersticas metrolgicas calibradas, Q, composta por dois componentes u(q) e ua:
- u(q) a incerteza padro estimada da amostra de uma dada grandeza;
- ua a incerteza do ajuste (correo de erros sistemticos das caractersticas metrolgicas) estimadas de acordo com o
mtodo dado na ISO/TS 14253-2.
A incerteza expandida U dada por:

U = k u( q ) 2 + u a2
Onde k o fator de abrangncia.
No clculo da incerteza, deve ser considerado que a superfcie do padro de medio ou do padro de altura no
perfeitamente uniforme, resultando em uma disperso das medidas. Isto resulta em um componente acidental da incerteza,
que calculada a partir da incerteza padro estimada. Este componente acidental, que causado pelo padro de
medio, includo na incerteza U do padro de medio. Entretanto, este componente acidental no dever ser
adicionado ao componente u(q). Um exemplo ilustrativo utilizando a Anlise de Varincia completa (ANOVA), dado no
anexo C, para ilustrar este fato.
Uma alternativa, permitida pelo GUM, para a completa anlise ANOVA estimar incerteza u(q) pela experincia.
O mtodo de clculo da incerteza dos valores calibrados dado na ISO/TS 14253-2.
9 Certificado de calibrao de instrumento por contato (com sapata de apalpao)
O certificado de calibrao deve incluir os itens exigidos pela ISO 10012-1 e mais os seguintes:
- descrio completa do instrumento de contato e seus componentes (fabricante, tipo, nmero de srie),
- os padres de medio utilizados (nmero de identificao);
- referncia ao procedimento de calibrao;
- o conjunto de condies de medio utilizadas (por exemplo, faixa de medio, velocidade de deslocamento, comprimento de deslocamento, banda de transmisso da medio, raio da ponta do apalpador, etc.);
- os resultados da medio do perfil residual utilizando-se o plano ptico;
- os resultados da medio usando-se o padro de medio de profundidade e o padro de medio de passo e os
desvios a partir dos respectivos valores das caractersticas metrolgicas;
- os resultados de medio utilizando-se o plano ptico inclinado e Pt aps a remoo da linha determinada pelos mnimos
quadrados;
- se aplicvel os resultados de medio usando o padro de medio do perfil em coordenada e Pt aps remoo da
melhor forma nominal, determinada pelos mnimos quadrados;
- o local da medio e condies ambientais que influem na calibrao. Fontes para estas informaes incluem as instrues dos fabricantes do instrumento e do fornecedor do padro de medio;
- a incerteza expandida de medio calculada de acordo com ISO/TS 14253-2 e o coeficiente de abrangncia.

________________

/ANEXO A

Cpia no autorizada

NBR ISO 12179:2002

Anexo A (normativo)
Calibrao de instrumentos medindo as ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros
Este anexo descreve procedimentos para a calibrao de instrumentos medindo o perfil pelo mtodo dos parmetros.
Os parmetros do perfil so definidos na ISO 12085.
A.1 Padres de medio
A.1.1 Geral
Os instrumentos que medem os parmetros R, AR, W e AW do perfil so calibrados com padres de medio tipo C4 de
acordo com ISO 5436-1 (ver figura A.1).
A.1.2 Parmetros de superfcie
Os padres de medio tipo C4 reproduzem:
- Padres de medio com espaamentos de 0,25 mm: profundidade mdia R do perfil da rugosidade e espaamento
mdio AR do perfil da rugosidade.
- Padres de medio com espaamentos de 0,8 mm: profundidade mdia W da ondulao do perfil e espaamento
mdio AW da ondulao do perfil.
A.2 Calibrao
a) Utilizar um apalpador com uma ponta de 2 m de raio, controlado por um microscpio eletrnico.
b) Ajustar os limites convencionais dos valores A e B do perfil aos valores pr-definidos A = 0,5 mm e B = 2,5 mm.
c) Alinhar a direo da medio da melhor maneira possvel com a superfcie de medio, e paralela ao lado mais longo do
padro de medio.
d) Selecionar menor faixa de medio possvel.
e) Posicionar a faixa de medio no centro do comprimento do padro de medio.
f) Selecionar o comprimento de medio em 16 mm de modo a iniciar e finalizar a medio em um vale.
g) Realizar cinco medies paralelas no padro de calibrao, aleatoriamente distribudas na sua largura, (objetivando
evitar o desgaste do padro de medio sempre o medindo na mesma posio).
h) Determinar o valor mdio e o desvio-padro das cinco medies dos parmetros R, AR, ou W, AW. Os valores mdios
de R e W permitem a calibrao da amplificao vertical. Os valores mdios de AR e AW permitem a calibrao da amplificao horizontal. Os desvios-padro destes valores so influenciados pela repetitividade do aparelho e a homogeneidade do padro de calibrao. Eles devem ser levados em conta no clculo da incerteza de medio.
i) Os padres de medio do tipo D da ISO 5436-1 tambm podem ser utilizados da mesma forma, para validar o algoritmo
para medio das ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros, caso no seja possvel utilizar padres menos
exatos na cadeia de medio do aparelho.
Dimenses em milmetros

Figura A.1 - Padro de medio de rugosidade e ondulao (tipo C4) e esquema de medio
________________

Cpia no autorizada

10

NBR ISO 12179:2002


Anexo B (normativo)
Calibrao de instrumento de medio de rugosidade de operao simplificada
O instrumento de medio de rugosidade superficial de operao simplificada um instrumento no indicado para se
utilizar como instrumento de operao padronizada, conforme definido na ISO 3274.
NOTA - A ISO 3274 refere-se apenas aos instrumentos de contato (apalpador) com guias de referncia independentes e desta maneira os
instrumentos de operao simplificada constituem importante classe de instrumentos de contato (apalpador) com sapata.

A caracterstica-chave do instrumento de operao simplificada que a contribuio de incerteza deste tambm funo
das imperfeies da pea medida. Assim, antes de se utilizar um instrumento de operao simplificada para a medio de
uma rugosidade da superfcial, mandatrio estabelecer-se a correlao com o instrumento de operao padronizada,
para estimar esta contribuio especial na incerteza. Existem duas maneiras de realizar isto:
a) conhecer a natureza das imperfeies em detalhes para ser possvel estimar as contribuies de incerteza para a
incerteza de medio;
b) calibrao funcional utilizando uma pea especfica ou uma pea especialmente calibrada, com as mesmas imperfeies, que interage com o equipamento de operao simplificada da mesma maneira que a pea na medio de dada
funo. Tendo sido a pea especfica ou a pea especialmente calibrada, calibrada para a funo especfica em um
instrumento padro otimizado de medies de rugosidade de superfcie.
NOTA - A terminologia usada relacionada com o termo operao est sob anlise na ISO/TC 213 e est sujeita a futura alterao.

________________

/ANEXO C

Cpia no autorizada

11

NBR ISO 12179:2002


Anexo C (informativo)
Exemplo: Parmetro padronizado de medio de rugosidade Ra

Um padro de rugosidade foi avaliado, para o parmetro Ra cinco vezes, de acordo com a seqncia de medio em
12 posies, conforme a Figura 2. A tabela C.1 fornece os valores individuais das medidas de Ra.
NOTA - Estes valores so simulados para ilustrar as tcnicas estatsticas envolvidas.

Tabela C.1 - Valores individuais de Ra , medidos de acordo com a seqncia de


medio (Figura 2), no padro de medio de rugosidade (tipo D)
Valores individuais RA
m

Avaliao
1

Avaliao
2

Avaliao
3

Avaliao
4

Avaliao
5

Mdia

Valor 1

0,5247

0,5261

0,5229

0,5252

0,5287

0,52552

Valor 2

0,5240

0,5283

0,5266

0,5323

0,5260

0,52744

Valor 3

0,5330

0,5332

0,5286

0,5319

0,5309

0,53152

Valor 4

0,5311

0,5342

0,5306

0,5334

0,5313

0,53212

Valor 5

0,5216

0,5204

0,5221

0,5262

0,5200

0,52206

Valor 6

0,5272

0,5285

0,5291

0,5254

0,5266

0,52736

Valor 7

0,5256

0,5340

0,5295

0,5332

0,5291

0,53028

Valor 8

0,5346

0,5304

0,5338

0,5362

0,5327

0,53354

Valor 9

0,5191

0,5207

0,5232

0,5262

0,5262

0,52308

Valor 10

0,5247

0,5303

0,5315

0,5295

0,5246

0,52812

Valor 11

0,5328

0,5307

0,5301

0,5310

0,5279

0,53050

Valor 12

0,5347

0,5339

0,5286

0,5384

0,5317

0,53346

Mdia

0,52776

0,52922

0,52805

0,53074

0,52798

0,52875

Os efeitos aleatrios que contriburam para a variabilidade observada nas medies so:
a) variao do valor Ra entre as 12 posies;
b) variao do valor Ra entre as 5 avaliaes;
c) repetitividade do instrumento de contato (apalpador).
A cada um destes efeitos aleatrios associada uma varincia desconhecida, designada por 2R, 2E e 2M,
respectivamente, onde o ndice R identifica, para um padro de medio de rugosidade a variao entre posies
paralelas; o ndice E identifica efeitos entre avaliaes; e o ndice M identifica o instrumento por contato (apalpador)
(repetitividade do instrumento de contato).
Foi assumido que a anlise segundo ANOVA um mtodo apropriado.
As varincias acima foram estimadas pelo mtodo ANOVA.

Este mtodo descrito pela ISO Guia 35.

Xij indica o i-simo valor na avaliao j-sima. As mdias aritmticas Xi, Xj e X so calculadas pelas seguintes frmulas:

Xi =

1 12
X ij
12 j =1

1 5
X ij
5 i =1
1 5 12
X =
X ij
60 i =1 j =1
Xj =

Cpia no autorizada

12

NBR ISO 12179:2002


Associadas a estas mdias, esto as somas quadrticas S1, S2, S3 e S4, calculadas a partir das expresses:

S1 = 60 X 2
12

S 2 = 5 ( X i X ) 2
i =1

S 3 = 12 ( X j X ) 2
j =1

12

S 4 = ( X ij X i X j X ) 2
i =1 j =1

Um resumo da anlise ANOVA dado na tabela C.2.


Tabela C.2 - Resumo da ANOVA
Soma dos
quadrados

Graus de
liberdade

Sl

Vl

Mdia

S1 = 16,77459375

Entre posies
paralelas

Mdia quadrtica
Ml = Sl / vl

Variana
estimada pela
mdia quadrtica

M1=16,77489375

S2 = 0,000804725

11

M2=7,3156818e-5

2M + 52R

Entre as
avaliaes

S3 = 0,000075196

M3=1,8799000e-5

Repetitividade do
instrumento

S4 = 0,000252648

44

M4=0,5742000e-5

Fonte da
variabilidade

122E

M+

Indicando as estimativas de 2R , 2E e 2M por s2R , s2E e s2M respectivamente, obtm-se da ltima coluna da tabela C.2:

(M 2 M 4 )2
; s R = 3,67nm
5
(M 3 M 4 )2
s E2 =
; s E = 1,04nm
12
s M2 = M 4 ; s M = 2,40nm

s R2 =

O grau de liberdade de s2M 44 , e corresponde ao grau de liberdade de M4. Os graus de liberdade de s2R e s2E so
os graus de liberdade efetivos de M2 M4 e (M3 M4)2, respectivamente, e podem ser avaliados a partir da frmula de
Welch-Satterthwait (ver GUM).

(M 2 M 4 )2
= 9,3
M 22 M 42
+
11
44
(M 3 M 4 )2
v eff ( s E2 ) =
= 1,9
M 32 M 42
+
4
44

v eff ( s R2 ) =

Cpia no autorizada

13

NBR ISO 12179:2002

O certificado de calibrao fornece o valor nominal de Ra = 0,5294 m, com uma incerteza de 4%. Assumindo que os 4%
sejam para mais e para menos, e que o resultado tem uma distribuio retangular, isto d uma incerteza padro estimada
de:

cal =

0,5294 m 4%
= 12,2nm
3

O certificado de calibrao fornece uma incerteza que j inclui a variabilidade transversal do padro de medio, portanto
esta no dever ser includa, pois seria aplicada uma segunda vez no clculo da incerteza padro combinada.
A incerteza padro combinada ento:
2
uc = s E2 + s M2 + u cal
= 12,5nm

e a incerteza expandida, U, 0,025m com k = 2.


NOTA - Este exemplo meramente ilustrativo; as incertezas calculadas no devem ser tomadas como tpicas daquelas encontradas na
prtica.

________________

/ANEXO D

Cpia no autorizada

14

NBR ISO 12179:2002


Anexo D (informativo)
Relao ao modelo matriz GPS
Para detalhes completos sobre o modelo matriz GPS, ver ISO/TR 14638.
D.1 Informao desta Norma e seu uso
Esta Norma se aplica a calibrao de instrumentos de contato (apalpador) para a medio de rugosidade superficial pelo
mtodo do perfil, conforme definido na ISO 3274. A calibrao dever ser realizada com o auxlio de padres de medio,
conforme definidos na ISO 5436-1.
D.2 Posio no modelo matriz GPS
Esta Norma uma norma geral padro GPS, que influencia o elo 6 da cadeia de normas de rugosidade, ondulao e perfil
primrio na matriz geral GPS, conforme graficamente ilustrado na figura D.1.

Normas globais GPS


Normas gerais GPS
Nmero de elo na cadeia

Normas
fundamentais
GPS

Comprimento
Distncia
Raio
ngulo
Forma da linha independente da origem
Forma da linha dependente da origem
Forma da superfcie independente da origem
Forma da superfcie dependente da origem
Orientao
Localizao
Batimento circular
Batimento total
Origens
Perfil de rugosidade
Perfil da ondulao
Perfil primrio
Imperfeies da superfcie
Extremidades
Figura D.1

D.3 Normas relacionadas


As normas relacionadas so as indicadas na cadeia de normas, conforme figura D.1.

________________

/Bibliografia

Cpia no autorizada

15

NBR ISO 12179:2002


Bibliografia
[1] ISO Guide 35, Certification of reference Materials - General and statistical principles.
[2] ISO/TR 14638:1995, Geometrical product specifications (GPS) - Masterplan.

________________

Vous aimerez peut-être aussi