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AGO 2002
ABNT - Associao
Brasileira de
Normas Tcnicas
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Rio de Janeiro
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ABNTAssociao Brasileira de
Normas Tcnicas
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Impresso no Brasil
Todos os direitos reservados
Especificaes geomtricas do
produto (GPS) - Rugosidade - Mtodo
do perfil - Calibrao de instrumentos
de medio por contato (com sapata
de apalpao)
Origem: Projeto 04:005.06-019:2002
ABNT/CB-04 - Comit Brasileiro de Mquinas e Equipamentos Mecnicos
CE-04:005.06 - Comisso de Estudo de Tolerncias e Ajustes
NBR ISO 12179 - Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture:
Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
Descriptors: Surface texture. Contact instruments. Calibration
Esta Norma equivalente ISO 12179:2000
Vlida a partir de 29.09.2002
Palavras-chave: Rugosidade. Instrumento de medio por
contato. Calibrao
15 pginas
Sumrio
Prefcio
0 Introduo
1 Objetivo
2 Referncias normativas
3 Terminologia e definies
4 Condies de utilizao
5 Padres de medio
6 Caractersticas metrolgicas dos instrumentos por contato (com sapata de apalpao)
7 Calibrao
8 Incerteza de medio
9 Certificado de calibrao de instrumento por contato (com sap ata de apalpao)
ANEXOS
A Calibrao de instrumentos medindo as ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros
B Calibrao de instrumento de medio de rugosidade de operao simplificada
C Exemplo: Parmetro padronizado de medio de rugosidade Ra
D Relao ao modelo matriz GPS
Bibliografia
Prefcio
A ABNT - Associao Brasileira de Normas Tcnicas - o Frum Nacional de Normalizao. As Normas Brasileiras, cujo
contedo de responsabilidade dos Comits Brasileiros (ABNT/CB) e dos Organismos de Normalizao Setorial
(ABNT/ONS), so elaboradas por Comisses de Estudo (ABNT/CE), formadas por representantes dos setores envolvidos,
delas fazendo parte: produtores, consumidores e neutros (universidades, laboratrios e outros).
Os Projetos de Norma Brasileira, elaborados no mbito dos ABNT/CB e ABNT/ONS, circulam para Consulta Pblica entre
os associados da ABNT e demais interessados.
Esta Norma contm os anexos A e B, de carter normativo, e os anexos C e D de carter informativo.
Introduo
Esta Norma uma norma de especificao geomtrica do produto (GPS), e conforme a norma geral GPS (ver
ISO/TR14638). Ela influencia a conexo 6 da cadeia de normas de rugosidade, ondulao e perfil primrio.
Para informaes mais detalhadas da relao desta Norma com o modelo matriz GPS, ver o anexo D.
Esta Norma apresenta a calibrao de instrumentos de medio por contato (com sapata de apalpao) conforme
definido na ISO 3274. A calibrao deve ser realizada com auxlio de padres de medio.
Cpia no autorizada
Cpia no autorizada
3.4
Padro
medida materializada, instrumento de medio, material de referncia ou sistema de medio destinado a definir, realizar,
conservar ou reproduzir uma unidade ou um ou mais valores de uma grandeza, para servir como referncia.
[VIM 6.1]
NOTA - Na ISO 5463:1985, Padres de medio so referidos como padres de calibrao.
3.5
Incerteza de medio
parmetro, associado ao resultado de uma medio, que caracteriza a disperso dos valores que podem ser fundamentalmente atribudos a um mesurando.
[VIM 3.9]
3.6
Rastreabilidade
propriedade do resultado de uma medio ou valor de um padro estar relacionado a referncias estabelecidas, geralmente padres nacionais ou internacionais, atravs de uma cadeia contnua de comparaes, todas tendo incertezas
estabelecidas.
[VIM 6.10]
4 Condies de utilizao
4.1 Componentes e configuraes do instrumento por contato (com sapata de apalpao)
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) composto por um equipamento bsico, uma unidade de deslocamento, um apalpador e um registrador de perfil (ver ISO 3274).
Se o equipamento bsico for usado com vrias unidades de deslocamento e apalpadores, cada uma dessas combinaes
dos instrumentos (configuraes) deve ser calibrada separadamente.
4.2 Calibrao de uma configurao
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado quando for feita uma mudana nos elementos
bsicos do sistema que intencionalmente ou no modifiquem o perfil de medio ou o resultado de medio.
Cada configurao do instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrada separadamente.
EXEMPLO - Ao trocar o apalpador, o instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado.
4.3 Local da calibrao
O instrumento por contato (com sapata de apalpao) deve ser calibrado no local de utilizao com as condies
ambientais similares quelas quando utilizado em medies, de forma a levar em os conta os mesmos fatores de influncia
externa.
EXEMPLO - Rudo, temperatura, vibrao, movimentao de ar, etc.
5 Padres de medio
Para as calibraes citadas na seo 6, so aplicveis os seguintes padres de medio.
- Plano ptico;
- Padro de profundidade: tipo A de acordo com a ISO 5436-1 (figura 1);
- Padro de espaamento: tipo C, de acordo com a ISO 5436-1 (figura 2);
- Plano ptico inclinado (figura 3);
- Padro de medio de perfil por coordenadas (constitudo de uma esfera ou de um prisma): tipo E, de acordo com a
ISO 5436-1;
- Padro de medio de rugosidade: Tipo D de acordo com a ISO 5436-1 (figura 4).
NOTA - Recomenda-se que o padro de medio de perfil por coordenadas seja usado em instrumento por contato (com sapata de
apalpao) onde a ponta gira de 0,5 quando se movimenta ao longo de toda faixa nominal.
Cpia no autorizada
Dimenses em milmetros
Cpia no autorizada
Valores em milmetros
Cpia no autorizada
Cpia no autorizada
7.3.2 Procedimento
Medir o perfil das ranhuras dentro da rea de calibrao do padro de medio (ver figura 1). Deslocar o apalpador atravs
da(s) ranhura(s) individualmente e determinar a profundidade da(s) ranhura(s) conforme o procedimento de calibrao
fornecido junto com o padro de medio de profundidade. Determinar o desvio do valor mdio (obtido dos valores
medidos) em relao ao valor fornecido no certificado de calibrao do padro de medio de profundidade.
Alternativamente, se no se dispuser de um padro de medio de profundidade, aderir dois blocos-padro, justapostos,
sobre um plano ptico. Percorrer os dois blocos e determinar a respectiva diferena de altura do perfil total. Determinar o
desvio entre a diferena da altura medida e a diferena da altura calculada a partir dos valores fornecidos pelo certificado
de calibrao dos blocos-padro.
7.4 Calibrao da componente horizontal do perfil
7.4.1 Objetivo geral
Determinar os desvios medidos dos parmetros de comprimento de onda com os valores fornecidos no certificado de
calibrao do padro, atravs do deslocamento do apalpador sobre o padro de medio de passo
7.4.2 Procedimento
Efetuar medies no padro de passo, em vrias posies sobre a superfcie de medio. Um exemplo de uma seqncia
de medio dado na figura 2. Calcular a mdia aritmtica para o parmetro primrio PSm. Anotar os desvios em relao
aos valores fornecidos no certificado de calibrao.
7.5 Calibrao do perfil em sistema de coordenadas
7.5.1 Objetivo geral
Deslocar o apalpador sobre um plano inclinado, esfera ou prisma e determinar o Pt a partir dos desvios em relao ao
melhor ajuste da forma do elemento, pelo mtodo dos mnimos quadrados.
7.5.2 Procedimento
Efetuar medies em cada inclinao do padro, usando o comprimento de medio e o ngulo nominal de inclinao
conforme fornecido no certificado de calibrao. As medies devem ser distribudas sobre a rea de medio conforme
mostrado na seqncia de medio (ver figura 3). Calcular a profundidade do perfil, aps remover a linha ajustada determinada pelo mtodo dos mnimos quadrados e a mdia aritmtica do ngulo ajustado pelos mnimos quadrados. Anotar a
maior profundidade do perfil e o ngulo mdio de inclinao.
Deslocar o apalpador sobre o padro do perfil para medidas em coordenadas. Determinar Pt, aps a remoo do melhor
ajuste forma nominal obtida pelo mtodo dos mnimos quadrados.
Efetuar medies em cada padro do perfil em coordenadas, usando o comprimento de medio fornecido no certificado
de calibrao, distribudo sobre a superfcie de medio. Calcular as profundidades do perfil aps remover melhor forma
nominal determinada pelos mnimos quadrados. Anotar a maior profundidade do perfil.
NOTA - Esferas e prismas so usualmente utilizados como padres de medio de perfis em coordenadas.
Cpia no autorizada
U = k u( q ) 2 + u a2
Onde k o fator de abrangncia.
No clculo da incerteza, deve ser considerado que a superfcie do padro de medio ou do padro de altura no
perfeitamente uniforme, resultando em uma disperso das medidas. Isto resulta em um componente acidental da incerteza,
que calculada a partir da incerteza padro estimada. Este componente acidental, que causado pelo padro de
medio, includo na incerteza U do padro de medio. Entretanto, este componente acidental no dever ser
adicionado ao componente u(q). Um exemplo ilustrativo utilizando a Anlise de Varincia completa (ANOVA), dado no
anexo C, para ilustrar este fato.
Uma alternativa, permitida pelo GUM, para a completa anlise ANOVA estimar incerteza u(q) pela experincia.
O mtodo de clculo da incerteza dos valores calibrados dado na ISO/TS 14253-2.
9 Certificado de calibrao de instrumento por contato (com sapata de apalpao)
O certificado de calibrao deve incluir os itens exigidos pela ISO 10012-1 e mais os seguintes:
- descrio completa do instrumento de contato e seus componentes (fabricante, tipo, nmero de srie),
- os padres de medio utilizados (nmero de identificao);
- referncia ao procedimento de calibrao;
- o conjunto de condies de medio utilizadas (por exemplo, faixa de medio, velocidade de deslocamento, comprimento de deslocamento, banda de transmisso da medio, raio da ponta do apalpador, etc.);
- os resultados da medio do perfil residual utilizando-se o plano ptico;
- os resultados da medio usando-se o padro de medio de profundidade e o padro de medio de passo e os
desvios a partir dos respectivos valores das caractersticas metrolgicas;
- os resultados de medio utilizando-se o plano ptico inclinado e Pt aps a remoo da linha determinada pelos mnimos
quadrados;
- se aplicvel os resultados de medio usando o padro de medio do perfil em coordenada e Pt aps remoo da
melhor forma nominal, determinada pelos mnimos quadrados;
- o local da medio e condies ambientais que influem na calibrao. Fontes para estas informaes incluem as instrues dos fabricantes do instrumento e do fornecedor do padro de medio;
- a incerteza expandida de medio calculada de acordo com ISO/TS 14253-2 e o coeficiente de abrangncia.
________________
/ANEXO A
Cpia no autorizada
Anexo A (normativo)
Calibrao de instrumentos medindo as ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros
Este anexo descreve procedimentos para a calibrao de instrumentos medindo o perfil pelo mtodo dos parmetros.
Os parmetros do perfil so definidos na ISO 12085.
A.1 Padres de medio
A.1.1 Geral
Os instrumentos que medem os parmetros R, AR, W e AW do perfil so calibrados com padres de medio tipo C4 de
acordo com ISO 5436-1 (ver figura A.1).
A.1.2 Parmetros de superfcie
Os padres de medio tipo C4 reproduzem:
- Padres de medio com espaamentos de 0,25 mm: profundidade mdia R do perfil da rugosidade e espaamento
mdio AR do perfil da rugosidade.
- Padres de medio com espaamentos de 0,8 mm: profundidade mdia W da ondulao do perfil e espaamento
mdio AW da ondulao do perfil.
A.2 Calibrao
a) Utilizar um apalpador com uma ponta de 2 m de raio, controlado por um microscpio eletrnico.
b) Ajustar os limites convencionais dos valores A e B do perfil aos valores pr-definidos A = 0,5 mm e B = 2,5 mm.
c) Alinhar a direo da medio da melhor maneira possvel com a superfcie de medio, e paralela ao lado mais longo do
padro de medio.
d) Selecionar menor faixa de medio possvel.
e) Posicionar a faixa de medio no centro do comprimento do padro de medio.
f) Selecionar o comprimento de medio em 16 mm de modo a iniciar e finalizar a medio em um vale.
g) Realizar cinco medies paralelas no padro de calibrao, aleatoriamente distribudas na sua largura, (objetivando
evitar o desgaste do padro de medio sempre o medindo na mesma posio).
h) Determinar o valor mdio e o desvio-padro das cinco medies dos parmetros R, AR, ou W, AW. Os valores mdios
de R e W permitem a calibrao da amplificao vertical. Os valores mdios de AR e AW permitem a calibrao da amplificao horizontal. Os desvios-padro destes valores so influenciados pela repetitividade do aparelho e a homogeneidade do padro de calibrao. Eles devem ser levados em conta no clculo da incerteza de medio.
i) Os padres de medio do tipo D da ISO 5436-1 tambm podem ser utilizados da mesma forma, para validar o algoritmo
para medio das ondulaes (perfil real) pelo mtodo dos parmetros, caso no seja possvel utilizar padres menos
exatos na cadeia de medio do aparelho.
Dimenses em milmetros
Figura A.1 - Padro de medio de rugosidade e ondulao (tipo C4) e esquema de medio
________________
Cpia no autorizada
10
A caracterstica-chave do instrumento de operao simplificada que a contribuio de incerteza deste tambm funo
das imperfeies da pea medida. Assim, antes de se utilizar um instrumento de operao simplificada para a medio de
uma rugosidade da superfcial, mandatrio estabelecer-se a correlao com o instrumento de operao padronizada,
para estimar esta contribuio especial na incerteza. Existem duas maneiras de realizar isto:
a) conhecer a natureza das imperfeies em detalhes para ser possvel estimar as contribuies de incerteza para a
incerteza de medio;
b) calibrao funcional utilizando uma pea especfica ou uma pea especialmente calibrada, com as mesmas imperfeies, que interage com o equipamento de operao simplificada da mesma maneira que a pea na medio de dada
funo. Tendo sido a pea especfica ou a pea especialmente calibrada, calibrada para a funo especfica em um
instrumento padro otimizado de medies de rugosidade de superfcie.
NOTA - A terminologia usada relacionada com o termo operao est sob anlise na ISO/TC 213 e est sujeita a futura alterao.
________________
/ANEXO C
Cpia no autorizada
11
Um padro de rugosidade foi avaliado, para o parmetro Ra cinco vezes, de acordo com a seqncia de medio em
12 posies, conforme a Figura 2. A tabela C.1 fornece os valores individuais das medidas de Ra.
NOTA - Estes valores so simulados para ilustrar as tcnicas estatsticas envolvidas.
Avaliao
1
Avaliao
2
Avaliao
3
Avaliao
4
Avaliao
5
Mdia
Valor 1
0,5247
0,5261
0,5229
0,5252
0,5287
0,52552
Valor 2
0,5240
0,5283
0,5266
0,5323
0,5260
0,52744
Valor 3
0,5330
0,5332
0,5286
0,5319
0,5309
0,53152
Valor 4
0,5311
0,5342
0,5306
0,5334
0,5313
0,53212
Valor 5
0,5216
0,5204
0,5221
0,5262
0,5200
0,52206
Valor 6
0,5272
0,5285
0,5291
0,5254
0,5266
0,52736
Valor 7
0,5256
0,5340
0,5295
0,5332
0,5291
0,53028
Valor 8
0,5346
0,5304
0,5338
0,5362
0,5327
0,53354
Valor 9
0,5191
0,5207
0,5232
0,5262
0,5262
0,52308
Valor 10
0,5247
0,5303
0,5315
0,5295
0,5246
0,52812
Valor 11
0,5328
0,5307
0,5301
0,5310
0,5279
0,53050
Valor 12
0,5347
0,5339
0,5286
0,5384
0,5317
0,53346
Mdia
0,52776
0,52922
0,52805
0,53074
0,52798
0,52875
Os efeitos aleatrios que contriburam para a variabilidade observada nas medies so:
a) variao do valor Ra entre as 12 posies;
b) variao do valor Ra entre as 5 avaliaes;
c) repetitividade do instrumento de contato (apalpador).
A cada um destes efeitos aleatrios associada uma varincia desconhecida, designada por 2R, 2E e 2M,
respectivamente, onde o ndice R identifica, para um padro de medio de rugosidade a variao entre posies
paralelas; o ndice E identifica efeitos entre avaliaes; e o ndice M identifica o instrumento por contato (apalpador)
(repetitividade do instrumento de contato).
Foi assumido que a anlise segundo ANOVA um mtodo apropriado.
As varincias acima foram estimadas pelo mtodo ANOVA.
Xij indica o i-simo valor na avaliao j-sima. As mdias aritmticas Xi, Xj e X so calculadas pelas seguintes frmulas:
Xi =
1 12
X ij
12 j =1
1 5
X ij
5 i =1
1 5 12
X =
X ij
60 i =1 j =1
Xj =
Cpia no autorizada
12
S1 = 60 X 2
12
S 2 = 5 ( X i X ) 2
i =1
S 3 = 12 ( X j X ) 2
j =1
12
S 4 = ( X ij X i X j X ) 2
i =1 j =1
Graus de
liberdade
Sl
Vl
Mdia
S1 = 16,77459375
Entre posies
paralelas
Mdia quadrtica
Ml = Sl / vl
Variana
estimada pela
mdia quadrtica
M1=16,77489375
S2 = 0,000804725
11
M2=7,3156818e-5
2M + 52R
Entre as
avaliaes
S3 = 0,000075196
M3=1,8799000e-5
Repetitividade do
instrumento
S4 = 0,000252648
44
M4=0,5742000e-5
Fonte da
variabilidade
122E
M+
Indicando as estimativas de 2R , 2E e 2M por s2R , s2E e s2M respectivamente, obtm-se da ltima coluna da tabela C.2:
(M 2 M 4 )2
; s R = 3,67nm
5
(M 3 M 4 )2
s E2 =
; s E = 1,04nm
12
s M2 = M 4 ; s M = 2,40nm
s R2 =
O grau de liberdade de s2M 44 , e corresponde ao grau de liberdade de M4. Os graus de liberdade de s2R e s2E so
os graus de liberdade efetivos de M2 M4 e (M3 M4)2, respectivamente, e podem ser avaliados a partir da frmula de
Welch-Satterthwait (ver GUM).
(M 2 M 4 )2
= 9,3
M 22 M 42
+
11
44
(M 3 M 4 )2
v eff ( s E2 ) =
= 1,9
M 32 M 42
+
4
44
v eff ( s R2 ) =
Cpia no autorizada
13
O certificado de calibrao fornece o valor nominal de Ra = 0,5294 m, com uma incerteza de 4%. Assumindo que os 4%
sejam para mais e para menos, e que o resultado tem uma distribuio retangular, isto d uma incerteza padro estimada
de:
cal =
0,5294 m 4%
= 12,2nm
3
O certificado de calibrao fornece uma incerteza que j inclui a variabilidade transversal do padro de medio, portanto
esta no dever ser includa, pois seria aplicada uma segunda vez no clculo da incerteza padro combinada.
A incerteza padro combinada ento:
2
uc = s E2 + s M2 + u cal
= 12,5nm
________________
/ANEXO D
Cpia no autorizada
14
Normas
fundamentais
GPS
Comprimento
Distncia
Raio
ngulo
Forma da linha independente da origem
Forma da linha dependente da origem
Forma da superfcie independente da origem
Forma da superfcie dependente da origem
Orientao
Localizao
Batimento circular
Batimento total
Origens
Perfil de rugosidade
Perfil da ondulao
Perfil primrio
Imperfeies da superfcie
Extremidades
Figura D.1
________________
/Bibliografia
Cpia no autorizada
15
________________