BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR.

30 (1991) 5, 338-341

Normativas para la caracterizacin de cermicas piezoelectricas

F. R. MONTERO DE ESPINOSA
Instituto de Acstica

RESUMEN.Normativa para la caracterizacin de cermicas

piezoelectricas.

ABSTRACT.Standards for piezoelectric ceramics characterization.

El desarrollo de materiales cermicos piezoelctricos lleva consigo la obligada caracterizacin de los mismos. Para llevar a
cabo dicha caracterizacin, existen una serie de guas internacionalmente admitidas, reunidas en Normas de diversos organismos.
El objetivo del trabajo es mostrar las diferencias entre las distintas Normativas ya establecidas, reunindolas en tres grupos:
Normativas de material. Normativas de componentes y Normativas de sistemas.
A lo largo del trabajo se intentan justifcar las variaciones
que han ido surgiendo desde la primera norma, dictada en 1945.
Asimismo, como ejemplo, se describe lo normalizado sobre dos
parmetros decisivos: ^^ y Q^.

The development of piezoelectric ceramic materials involve

their characterization at the end of the process. To make such
a characterization , a set of International Piezoelectric Standards
can be used. Nevertheless, there exist different test criteria between the publications from the different International Organisms.
This paper is a review of the published Standards having as
goal to show the differences between them. To do that, a
classification in three different groups material, component
and device standards is firstly made.
In the paper, the variations in the standards recommendations from 1945 has been searched and justifyed. More
specifically, the measuring procedures for djj and Q^ are explained in relation with the progress on materials and instrumentation from the first standard report.

1.

can la 49 (3) dedicada a las definiciones cristalogrficas, la 57 (4)

en la que se define el resonador piezoelctrico, la 61 (5) en la que
se ofrece una gua exhaustiva sobre los mtodos de medida de las
constantes de material de las cermicas piezoelectricas y la IEEE
176 (6) en la que se hace un compendio sobre todo lo anterior que,
excepto pequeas modificaciones, es lo que permanece actualmente
en vigor segn el citado Instituto, actualmente IEEE.
La gua de normalizacin seguida histricamente por la anterior
Institucin se refiere a todos los apartados de materiales piezoelctricos en su aspecto lineal. As, por un lado, se propone la normalizacin en el aspecto cristalogrfico definiendo tan^o la terminologa general cristalogrfica como los distintos sistemas as como
las convenciones para los ejes cristalogrficos y las distintas matrices piezoelsticas correspondientes a los distintos sistemas. Tras
contemplar el material piezoelctrico en s mismo, se definen las
distintas configuraciones resonantes monodimensionales que pueden ser excitadas en un vibrador piezoelctrico para proponer las
distintas expresiones con las que medir las constantes elsticas y
piezoelectricas de los materiales a caracterizar.
Estas Normas han tenido un desarrollo histrico inicialmente condicionado por un tipo de material muy especfico: los cristales piezoelctricos de alto Q. La paulatina aparicin de cermicas piezoelectricas policristalinas ha provocado una continua revisin de
las Normas en cuanto a las expresiones inicialmente propuestas para
la medida de ciertas constantes de material. Este proceso no ha concluido todava.
Otro condicionante que ha influido en paralelo ha sido la disponibilidad de instrumentacin adecuada para la medida. Sobre todo
esto y como ejemplo vamos a comentar la evolucin normativa con
dos casos singulares: la medida de la constante piezoelctrica d33
y del factor de calidad mecnico Q33.
La constante piezoelctrica d33, debe ser medida segn las Normas en forma indirecta usando un modo de resonancia especfico,
el modo barra. Conociendo la densidad y el espesor de la muestra, preparada con geometra cilindrica con una altura al menos cuatro veces el dimetro, y midiendo las dos frecuencias de resonancia serie y paralelo y la capacidad a baja frecuencia (free), se
puede obtener consecutivamente el coeficiente electromecnico
K33, las constantes elsticas de rigidez 8^3, y S33 y, por ltimo,
la constante d33:

INTRODUCCIN

El desarrollo de un material o de un sistema fsico capaz de realizar una cierta funcin que se basa, bien en las propiedades de los
materiales que lo componen bien en la disposicin de los mismos,
lleva aparejado la comprobacin de sus caractersticas al final de
su realizacin. Esta necesidad es propia tanto de aquellos que realizan el sistema como de los que lo oft^ecen a terceros.
Los que lo desarrollan, tanto a nivel de investigacin como de
produccin, han de conocer las caractersticas de los materiales que
estudian y realizan para saber si se cumplen las previsiones de orden cientfico y as comunicarse con su entorno profesional. Los
que ofrecen a terceros los materiales, o los sistemas basados en
dichos materiales, han de acompaar a los mismos una certificacin que valide la informacin que ofrecen sobre sus caractersticas.
Todo lo anterior se resume en la necesidad de acordar Normas
de caracterizacin. En el caso particular de las cermicas piezoelectricas existen diversas Normas tanto nacionales como internacionales que se pueden dividir en dos grupos. Por un lado estn
aqullas que se refieren a las cermicas en cuanto a sus propiedades como materiales, mientras que por otro existen algunas que intentan dar guas para caracterizarlas como componentes. Asimismo, dada la diversidad de las aplicaciones de estos materiales
cermicos, se est intentando distinguir entre caracterizacin a bajo nivel de potencia elctrica consumida y caracterizacin a alta
potencia elctrica.
2. NORMATIVA REFERENTE A LAS CERMICAS
PIEZOELECTRICAS COMO MATERIALES
Sobre este aspecto hay una produccin continua de Normativas
internacionales desde 1945 en que se public la primera Norma
del Institute of Radio Engineers (EE.UU.) con el ttulo: Standards
on Piezoelectric Crystals: Reconmiended Terminology (1). Desde entonces hasta el momento actual, esta Institucin ha ido publicando sucesivas Normas siendo la ltima la titulada IEEE Standard en Piezoelectricity con identificacin ANSI/IEEE Sts 176
(1987) (2). Durante este margen de tiempo, se publicaron otras siete
Normas dedicadas a materiales piezoelctricos entre los que desta338

BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR. VOL. 30 - NUM. 5

Normativas para la caracterizacin de cermicas piezoelctricas

^ 3 3 ^ 3 3 ( ^ 3 3 S 33)

[1]

Esta cadena de medida es exacta pero puede arrastrar asimismo

un^ cadena de errores experimentales.
Las Normas en su ltima versin (2) proponen asimismo medidas directas para dicha constante bien en forma esttica o cuasiesttica. Las medidas estticas se basan en la definicin de la citada
constante:
D-i'i Cl'a'i l a

[2]

J3 CI33I3

[3]

Usando [2], la aplicacin de una tensin mecnica en la direccin de polarizacin 3, provoca la aparicin de una distribucin
de cargas en las caras metalizadas de una cermica piezoelctrica.
Conociendo la tensin mecnica aplicada y midiendo con precisin
la carga elctrica liberada, se obtiene en forma inmediata d33. Siguiendo el efecto contrario y usando [3], se puede llegar al mismo
resultado. Estas medidas de tipo esttico presentan una indudable
ventaja. El proceso de medida por resonancia se ha de realizar con
una geometra especfica a veces inalcanzable para algunos tipos
de materiales piezocomposites, polmeros piezoelctricos mientras que la directa se puede aplicar a geometras tan poco ortodoxas como un casquillo esfrico. No obstante esta medida directa
de d33 conviene realizarla no en modo esttico sino cuasiesttico
a una frecuencia muy inferior a la de la primera resonancia, para
evitar la interferencia de efectos piezoelctricos (2).
Al llegar a este punto, merece la pena realizar un inciso para comentar hasta qu punto pueden influir las tcnicas de medida. Repasando lo anterior, aparecen una serie de necesidades de medida
de ciertas magnitudes fsicas: magnitudes elctricas (impedancias,
carga, campo elctrico) y mecnicas (tensin y desplazamientos mecnicos). Es obvio que la propuesta de una va u otra de obtencin
de d33, en este caso, est muy condicionada por la precisin alcanzable en la medida de las magnitudes involucradas. As, es normal
que hasta hace relativamente poco se hayan propuesto tcnicas de
medida de constantes piezoelctricas usando mtodos de resonancia donde se busca un mximo y no el valor del mximo en
contraposicin con medidad directas donde es esencial la precisin
en la medida de una sola magnitud fsica.
La problemtica instrumental es por tanto involuntariamente un
motor para la evolucin de la normalizacin... y tambin una realidad inconfesable. En una Norma acordada entre distintas partes,
todas ellas implicadas en el desarrollo y venta de un bien, no se
puede hacer propaganda de un equipo de medida determinado. As
se puede leer en la Norma comentada (2) que es una buena tcnica
de medida usar el mtodo cuasiesttico para la obtencin de d33
pero no se puede decir, por ejemplo, que se use un equipo que hasta hace muy poco tiempo era nico y que todos conocemos.
Hay otro problema asociado con la instrumentacin que parece
trivio pero que es de vital importancia: el costo de la misma. Ante
dos propuestas instrumentales de normalizacin para la medida de
una caracterstica de material, triunfar aquella que implique una
inversin econmica inferior. Se puede proponer la medida directa de d33 segn la ecuacin [3] conociendo el coste de un equipo de interferometra laser para la medida de amplitudes de vibracin?
Comentemos ahora el otro ejemplo anunciado: la medida del factor de calidad mecnico Q^- Siendo un tema que ha estado en discusin permanente, en los ltimos aos se ha convertido en objecto
central de dilogo cientfico. La causa, la aparicin de materiales
piezoelctricos con grandes prdidas mecnicas internas. El problema, el uso histrico de la cultura proveniente de resonadores
de muy bajas prdidas mecnicas el cuarzo.
Es curioso observar cmo se han ido remendando las Normas
sin abandonar la filosofa inicial centrada en la asuncin de que
un resonador piezoelctrico puede ser descrito como una red elctrica muy simple, constituida por un condensador CQ en paralelo
con una rama serie de un inductor L una capacidad C y una resisSEPTIEMBRE-OCTUBRE, 1991

tencia de prdida R. (Fig. 1). Este circuito es una aproximacin

del modelo unidimensional de cualquier modo de resonancia Ristic (7). Sin embargo, cuanto ms bajo sea el Q^ del material en
estudio, ms problemas aparecern en la identificacin de los parmetros de la citada red. Usando la consabida expresin del factor de calidad de una rama serie LCR, las Normas buscan expresiones analticas del Q lo ms sencillas posible (5). El proceso
seguido por las Normas ha sido tan discutido que actualmente se
desaconseja el uso de dichas expresiones normalizadas Stanke
(8), Saitoh (9), Gururaja (10). Las mismas Normas en su ltima
versin se olvidan de lo propuesto en otras anteriores (3) para, simplemente volver a los orgenes y dejar todo indefinido.

Fig. 1. -Circuito equivalente simplificado vlido en el entorno de una

resonancia de un resonador piezoelctrico.

Qu se puede entonces proponer como alternativa a la medida

fcil e inmediata de Q^ que se propona desde 1961? La respuesta est en evitar las simplificaciones, manteniendo las expresiones
rigurosas de la impedancia de entrada de un resonador piezoelctrico con prdidas para, bien buscar expresiones analticas relacionadas con magnitudes fsicas fcilmente mediblesCoursant (11),
Ih (12), Bui (13) o ajustar con un proceso de clculo numrico
una variable elctrica impedancia de entrada p.e. con la medida experimental realizada con un analizador de impedancias.
Las Normas de la Comisin Electrotcnica Internacional han tratado tambin sobre la medida de las caractersticas de los materiales piezoelctricos. Las publicaciones 302 (14), 444 (15) y 483 (16)
se refieren a lo anterior y las publicaciones 642 (17) y 854 (18)
estn ms dirigidas a componentes y dispositivos, como veremos
ms adelante.
La cobertura cientfica de las CEI 302, 444 y 483 es muy inferior a las de la IEEE, aunque son ms explcitas en cuanto al formulismo de normalizacin, lo que ayuda a una pronta utilizacin
de las mismas. Cabe destacar la coleccin de expresiones entre constantes elctricas, piezoelctricas y dielctricas as como de los coeficientes electromecnicos de acoplamiento que se proponen en la
publicacin CEI 483.

3. NORMATIVAS REFERIDAS A LAS CERMICAS

PIEZOELCTRICAS COMO COMPONENTES
DE DISPOSITIVOS PIEZOELCTRICOS
En este apartado se trata de mostrar lo normalizado en cuanto
a las cermicas piezoelctricas como resonadores para dispositivos especficos. Este tipo de Normas han de detenerse por tanto
en aspectos no conten^lados en las anteriores, tales como las dimensiones y sus tolerancias, las condiciones de ensayo en cuanto
a.humedad y temperatura, el envejecimiento, la tolerancia en cuanto
a defectos aparentes. Entre este tipo de Normas cabe destacar la
CEI 642 (17) y la D0D-Std-1367A (SM) (18). La primera se refiere a la aplicacin de materiales cermicos piezoelctricos en dis339

F. R. MONTERO DE ESPINOSA
positivos en general mientras que la segunda est centrada en los
dispositivos transductores subacuticos.
La CE 642 da unos criterios sobre el tipo de ensayos a realizar
y el orden en su realizacin. Los parmetros caractersticos sobre
los que gravita el ensayo son la frecuencia de resonancia, el coeficiente de acoplamiento electromecnico, el Q y la capacidad a baja
fi*ecuencia C^. No es de sorprender la eleccin de estos parmetros si se tiene en cuenta que son los que definen el circuito equivalente de un transductor piezoelctrico Kosc^ff (19). Conocidos dichos parmetros y su variacin con la tenperatura, se puede
predecir el comportamiento electroacstico de los dispositivos piezoelctricos. Una segunda parte de ensayos propuestos se dedican
especficamente a criterios sobre la robustez mecnica de los dispositivos.
La Norma D0D-1376A (SH) es ms exhaustiva que la anterior
lo cual no es de extraar si se tiene en cuenta sii procedencia el
Departamento de Defensa de los EE.UU. Esta publicacin es un
ejemplo de Norma para el comprador. Se prima en ella la descripcin de los posibles defectos y sus tolerancias en detrimento
de la justificacin sobre los efectos que estos defectos producen
en las caractersticas de los elementos piezoelctricos. Resulta no
obstante de inters por la prolija descripcin citada de los defectos
y tolerancias.

4.

NORMATIVA REFEMDA A LOS DISPOSITIVOS

PIEZOELCTRICOS

Este ltimo apartado es el ms heterogneo ya que incluye dispositivos tan dispares como los transductores ultrasnicos de potencia y los transductores array usados en ecografa mdica. No
obstante se puede establecer una distincin entre dispositivos de
banda ancha y dispositivos resonantes de banda estrecha.
Los dispositivos piezoelctricos de banda ancha se pueden asimismo dividir en sistemas de uso mdico p.e. ecografa y sistema de uso industrial p.e. ensayos no destructivos. La Norma CEI 854 (20) es un primer paso para la normalizacin de
dispositivos ecogrficos de diagnstico mdico. Esta publicacin
se refiere a transductores monoelemento entre 0,5 y 25 MHz. Dada la especificidad de la aplicacin, los parmetros a normalizar
son en este caso particular la frecuencia central de trabajo, la resolucin espacial, la compensacin por ganancia, la detectabilidad
de blancos aislados, el tipo de representacin de imagen y la correlacin espacial entre la imagen y los blancos. No presenta, en
cambio, ningn dato sobre dosimetra ultrasnica. Este es un tema
de normalizacin llevado por las Sociedades de ingeniera biomdica y no ha llegado todava a trmino.
Como ejemplo de Normas sobre dispositivos de banda ancha aplicables a ensayos no destructivos se puede citar la AS 1355 (21)
y un conjunto de Normas editadas por distintas empresas aeronuticas que por su confidencialidad no pueden ser comentadas en este trabajo. LA AS 1355 describe los parmetros y condiciones de
medida de transductores tanto de contacto como de inmersin. En
modo similar a lo comentado sobre la norma CEI 854, la especificidad de este caso hace que los parmetros caractersticos varen
respecto a los propuestos en los casos anteriores. Los que se eligen
en este caso son el espectro en frecuencia, el factor de calidad total
o acstico, la sensibilidad global as como los tpicos parmetros
de campo acstico: Simetra de haz y distancia focal.
Un comentario general sobre las condiciones de ensayo propuestas
para los dispositivos anteriores es que se subraya que han de ser
ensayados en condiciones reales. Es decir, con los equipos de excitacin y recepcin y el medio acstico con los que van a trabajar.
Resta por ltimo, comentar las ltimas propuestas sobre caracterizacin normalizada de transductores ultrasnicos resonantes para
aplicaciones industriales de potencia.
Es inmediata la aparicin de una normativa europea ya en estudio de borrador sobre esta temtica (22). El objetivo de esta Norma es la caracterizacin de transductores de potencia de hasta 100
KHz, enumerando las caractersticas electroacsticas esenciales y
340

los ensayos a realizar para la medida de dichas caractersticas. Las

caractersticas comentadas estn relacionadas con la potencia de entrada y salida, las amplitudes de vibracin, la frecuencia de resonancia y otras relacionadas con la impedancia elctrica de los transductores y la sensibilidad. Se comenta asimismo la dependencia
no-lineal de estos sistemas con el voltaje aplicado.
5.

CONCLUSIONES

En este trabajo se ha intentado dar una visin general sobre la

caracterizacin normalizada de cermicas piezoelctricas y los dispositivos basados en ellas. El objetivo es por un lado ayudar a los
potenciales lectores en la clarificacin sobre el lenguaje comn de
la piezoelectricidad y sus aplicaciones. Por otro lado se intenta ayudar a los potenciales constructores de dichos materiales y dispositivos para la correcta medida y presentacin de las caractersticas
logradas con sus productos.
AGRADECIMIENTOS
Este trabajo ha sido en parte posible gracias a la ayuda de los
miembros del WG4IBTTF63-2 del que formo parte y en particular
a Wanda Wolny (Ferroperm).
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Nuevas expresiones de inters para la caracterizacin de materiales piezoelctricos por el mtodo de resonancia

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BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR. 30 (1991) 5, 341-344

Nuevas expresiones de inters para la caracterizacin de materiales

piezoelctricos por el mtodo de resonancia
J. L. SAN EMETEMO PRIETO, F. R. MONTERO DE ESPINOSA
Instituto de Acstica, CSIC, Serrano, 144. 28006 MADRID

RESUMEN.Nuevas expresiones de inters para la caracterizacin de materiales piezoelctricos poi* el mtodo de resonancia.

ABSTRACT.New expressions of interest for piezoelectric

materials characterization by the resonance method.

La medida de la impedancia elctrica de entrada de un resonador piezoelctrico, en funcin de la frecuencia, permite la determinacin de diversas constantes elsticas, dielctricas y piezoelctricas, caractersticas del material. Las limitaciones y falta
de precisin de algunas expresiones de las normas (1,2), en particular las relativas al factor de calidad mecnico Qm, en el caso
de nuevos materiales con altas prdidas mecnicas, estn comentadas en las mismas y son bien conocidas. En trabajos previos (3, 4) se han presentado expresiones alternativas para Q^
y para la constante dielctrica 633, siendo estos parmetros,
junto al factor de acoplamiento electromecnico K^, determinantes del comportamiento de los transductores ultrasnicos basados en cermicas piezoelctricas vibrando en modo espesor
(thickness extensional). En este trabajo se parte de la expresin analtica de la impedancia elctrica de entrada de un resonador piezoelctrico, con inclusin rigurosa de las prdidas mecnicas internas producidas por mecanismos de viscosidad. Se
detalla a continuacin el origen de las expresiones alternativas
para la medida de C^ y Qm y se analizan las aproximaciones
que estn implcitas. Finalmente, a partir de un estudio sistemtico de los modelos unidimensionales de resonadores piezoelctricos con inclusin de prdidas mecnicas (5, 6), se presenta ua modifcacin en la expresin analtica para la medida
deQ.

Several elastic, piezoelectric and dielectric constants of a

piezoelectric ceramic can be determined from the measurement
of the input electric impedance of a resonator made of that
material. Some of the expressions proposed by the International
Standards for the measurement of the Mechanical Quality Factor Qm are not accurate for high losses materials (1, 2). Alternative expressions to increase the accuracy on the determination of Q and Cj have been previously presented (3, 4). Those
parameters together with the K^ and Q are essentials for the
knowledge of ultrasonic transducer vibrating in the thickness
mode. The paper firstly shows the rigurous expressions of the
input electrical impedance of a thickness resonator including
the mechanical losses. After, the alternative expressions for Q
and Co are presented analyzing the approximations involved.
Finally, a new expression for Q^, obtained from a modification of the previous Q approach is presented.

1.

simplificado de Butterworth-Van Dyk (RLC), se encuentra en los

trabajos (5, 6). En este proceso, los parmetros discretos del circuito RLC quedan expresados en funcin de las constantes elsticas, dielctricas y piezoelctricas del material. En particular la resistencia de prdidas R resulta dependiente de la frecuencia. Al
particularizar esta resistencia de prdidas para una frecuencia fija,
surgen lo que podemos considerar como distintas versiones del circuito equivalente RLC.
Por otra parte, algunas expresiones importantes utilizadas para
la caracterizacin de materiales piezoelctricos por el mtodo de
resonancia (1, 2), se derivan del circuito equivalente RLC. Tambin a partir de este circuito, con la expresin de la resistencia de
prdidas particularizada para ci)=ajs (que corresponde al utilizado
en (1, 2), se derivan las expresiones alternativas para la medida

INTRODUCCIN

La expresin analtica de la impedancia elctrica de entrada de

un resonador piezoelctrico puede obtenerse a partir de las ecuaciones constitutivas de la piezoelectricidad y la ecuacin de ondas,
con un tratamiento riguroso de las prdidas mecnicas internas producidas por mecanismos de viscosidad. A partir de esta expresin
se puedentierivar distintos circuitos equivalentes con distintos grados
de aproximacin. Por ejemplo, el circuito RLC se aproxima en el
entorno de una resonancia (normalmente la fundamental), no incluyendo las restantes resonancias. A su vez, varias ramas RLC
en paralelo, aproximan varias resonancias. Una descripcin ms
detallada en este sentido, junto a las simplificaciones que son necesarias para pasar de la expresin exacta al circuito equivalente
SEPTIEMBRE-OCTUBRE, 1991

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