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Roberto Carlos Daz Gonzlez

DESENVOLVIMENTO DE UM PROTTIPO ANALISADOR DE


VIBRAO DE BAIXO CUSTO PARAUSO EM MANUTENO
PREDITIVA

Dissertao submetida ao Programa de


Ps Graduao em Engenharia
Mecnica do Departamento de
Engenharia Mecnica da Universidade
Federal de Santa Catarina para a
obteno do Grau de Mestre em
Engenharia Mecnica.
Orientador: Prof. Dr. Arcanjo Lenzi.

Florianpolis
2014

Roberto Carlos Daz Gonzlez

DESENVOLVIMENTO DE UM PROTTIPO ANALISADOR DE


VIBRAO DE BAIXO CUSTO PARA USO EM MANUTENO
PREDITIVA

Esta Dissertao foi julgada adequada para obteno do Ttulo de


Mestre em Engenharia Mecnica e aprovada em sua forma final pelo
Programa de Ps Graduao em Engenharia Mecnica.
Florianpolis, maro de 2014.
________________________
Prof. Armando Albertazzi Gonalves Jr., Dr. Eng.
Coordenador do Curso
Banca Examinadora:

________________________
Prof. Arcanjo Lenzi,Ph.D. (UFSC)
Orientador

________________________
Prof.Acires Dias, Dr.Eng.(UFSC)

________________________
Prof. Roberto Jordan, Dr.Eng. (UFSC)
________________________
Prof. Paulo Roberto de Oliveira Bonifcio, Dr. Eng. (IFSC-Joinville)

Este trabalho dedicado minha


querida famlia, aos meus amigos e
colegas,e especialmente minha me
Mireya e ao meu pai Jos.

AGRADECIMENTOS
Ao povo brasileiro, por me acolher nesse pas, do qual recebi
carinho, apoio e compreenso nas mais diversas atividades e aes da
vida.
UFSC e ao POSMEC, pela possibilidade de realizar esta
pesquisa, contribuindo com as instalaes necessrias para a vida
universitria.
Ao CNPq e Fundao Certi, pelo suporte financeiro
imprescindvel em todo tempo deste trabalho.
Ao professor Arcanjo Lenzi, que me deu muito mais do que
orientao no trabalho, com constante preocupao pela minha pessoa e
minha famlia no Chile.
Ao Roberto Caeiro e Jos Carlos Boaretodo Labelectron, que
colocaram toda confiana em mim para a realizao deste trabalho.
A todos os pesquisadores do LVA que apoiaram diretamente
neste trabalho: Marcelo Bustamante, Giovanni Bratti e Alexandre
Teixeira.
minha famlia, pela pacincia, ateno e compreenso nesta
difcil deciso de morar longe de casa.
A todos os amig@s que estiveram nas alegrias e nos momentos
difceis, que acompanham sempre o caminho de todo projeto de vida
novo, que no final tem outras portas e outros desafios que levam a um
futuro melhor.

Pensar o trabalho mais difcil que existe, e esta


, provavelmente, a razo por que to poucos se
dedicam a ele.
(Henry Ford)

RESUMO
No presente trabalho foi desenvolvido e avaliado um prottipo de
equipamento de anlise de vibrao de baixo custo, incluindo o micro
controlador Arduino Due, e acelermetros da nova tecnologia de micro
mquinas MEMS, visando os requerimentos mnimos estabelecidos num
programa de Manuteno Preditiva padro. O Arduino Due a ltima
verso dos micro controladores Arduino e permite a comunicao entre
o acelermetro e o computador, j que incorpora os protocolos de
comunicao SPI e USB. O acelermetro digital MEMS o elemento
fundamental do prottipo, considerando a sua natureza capacitiva e
custo muito inferior ao sensor piezo eltrico padro, torna-se uma
alternativa no desenvolvimento do prottipo. A avaliao do prottipo
foi realizada em laboratrio e em campo, mas, mostra diferenas
considerveis ao ser comparado com o equipamento de anlise do
laboratrio. As principais deficincias do prottipo so instabilidade nas
medies ou medies diferentes em dias diferentes, os espectros de
frequncias apresentam variaes de amplitude e impossibilidade de
realizar uma anlise em tempo real. Mesmo assim, deve-se lembrar que
os elementos selecionados para o desenvolvimento do prottipo so os
mais econmicos do mercado, e portanto, um aumento na qualidade
pode incidir favoravelmente nos resultados das medies em futuras
pesquisas.
Palavras-chave:
Manuteno
Vibraes.Acelermetro.FFT.

Preditiva.

MEMS.

ABSTRACT
In the present work it was developed and evaluated a low cost vibration
analysis equipment prototype, including an Arduino Due micro
controller, and the new micromachines technology MEMS
accelerometers, aimingto fulfill the minimum requirements presented by
a standard Predictive Maintenance program.The Arduino Due is the
latest version of the Arduino controller cards and enables
communication between the accelerometer and the computer, since it
incorporates both communication protocols SPI and USB. Digital
MEMS accelerometer is the prototype fundamental element, considering
its capacitive nature and much lower cost than standard piezo-electric
sensor,it becomes an alternative in the development of the prototype.
Prototype evaluation was performed in the laboratory and in the field,
but shows considerable differences when compared to equipment for
laboratory analysis.The main weaknesses of the prototype are instability
in different measurements when measured on different days, the
frequency spectra amplitude variations and inability to perform a realtime analysis. Still, it should be remember thatselected elements for
prototype development are the most economical in the market and
therefore an increase in quality may relate favorably on the results to be
obtained in future research.

Keywords: Predictive maintenance. MEMS.Vibrations.Accelerometer.


FFT.

LISTA DE FIGURAS

Figura 1. Curva de taxa de falha....................................................... 29


Figura 2. Fotografia normal e fotografia de infravermelho (direita).33
Figura 3. Exemplo de equipamento de ultrassom. ........................... 34
Figura 4. Exemplo de espectro de desbalanceamento. ..................... 38
Figura 5. Exemplo de espectro de desalinhamento. ......................... 38
Figura 6. Exemplo de espectro de rolamento defeituoso. ................ 40
Figura 7. Exemplo de espectro de folgas mecnicas. ....................... 40
Figura 8. Exemplo de mquina e seus pontos de medio, 1 e 2 para
motor e 3 e 4 para bomba centrfuga. ............................................... 43
Figura 9. Processo de digitalizao do sinal. .................................... 44
Figura 10. Diferentes modelos de analisadores comerciais de
vibrao usando acelermetros. ....................................................... 45
Figura 11. Imagens dos acelermetros ICP e uma unidade de
condicionamento do sinal. ................................................................ 47
Figura 12. Componentes principais do acelermetro MEMS
ADLX335 da AnalogDevice. ........................................................... 48
Figura 13. Diagrama do acelermetro MEMS. ................................ 50
Figura 14. Imagem microscpica do acelermetro MEMS. ............. 51
Figura 15. Acelermetro ADIS 16227 da AnalogDevice. ................ 52
Figura 16. Diagrama interno do ADIS 16227 da AnalogDevice. ..... 53
Figura 17. Exemplo de tabela com acelermetrose suas
caractersticas. .................................................................................. 54
Figura 18. Top 30 fabricantes dos acelermetros MEMS. ............... 54
Figura 19. MicrocontroladorRaspberryPi. ........................................ 56
Figura 20. Nveis de referncia para avaliar severidade de vibrao.
.......................................................................................................... 59
Figura 21. Lista de acelermetros logo da aplicao dos filtros de
seleo da tabela 4. ........................................................................... 61
Figura 22. Comparao entre micro controladores. ......................... 62
Figura 23. Micro controlador Arduino Due. .................................... 62
Figura 24. ADXL345, Arduino DUE e software IDE. ..................... 64

Figura 25. Equipamento de controle disponvel no LVA. ................ 68


Figura 26. Acelermetro Brel&Kjaer e prottipo com micro
controlador Arduino Due e Acelermetro MEMS ADXL345. .......... 68
Figura 27. Exemplo de espectros de frequncia para trs sinais
senoidais, comprovando a sincronizao dos dados nos trs eixos. . 70
Figura 28. Tempo de leitura de uma sequncia de amostras com
dados de dois dgitos, ou seja de 10 at 99, pelo software MATLAB.
.......................................................................................................... 71
Figura 29.Exemplo de sinal com erros na leitura da acelerao do
acelermetro MEMS......................................................................... 72
Figura 30.Exemplo de sinal senoidal com dados consecutivos
repetidos lidos desde o micro controlador. ....................................... 73
Figura 31. Exemplo de grfico gerado pelo prottipo ao ler um sinal
senoidal com frequncia igual a metade da frequncia de
amostragem. ...................................................................................... 74
Figura 32. Exemplo de frequncia de amostragem de teste 391 Hz,
7.500 amostras. ................................................................................. 75
Figura 33. Efeito do Offset e Scaling Factor. ................................... 76
Figura 34. Offset medido com 1g em Z, 0g em X e Y, 5000 amostras.
.......................................................................................................... 77
Figura 35. Valor do Offset medido em senides com diferentes
frequncias no eixo Z. ...................................................................... 77
Figura 36. Valores do ScalingFactorcalculado para diferentes
frequncias no eixo X. ...................................................................... 79
Figura 37. Montagem dos acelermetros no excitador de vibrao. 80
Figura 38. Amplitude gerada pelo prottipo, para diferentes
frequncias de amostragem. ............................................................. 81
Figura 39. Medies realizadas pelo prottipo em dois dias
diferentes. ......................................................................................... 81
Figura 40. Resposta de frequncia do sistema disponvel no LVA ao
manter a tenso do amplificador constante, para trs valores
diferentes de tenso. ......................................................................... 82
Figura 41. Resposta de frequncia do prottipo ao manter a tenso do
amplificador constante, para trs valores diferentes de tenso. ........ 83

Figura 42. Avaliao da linearidade do sistema de medio


disponvel no LVA. .......................................................................... 83
Figura 43. Avaliao da linearidade do prottipo. ........................... 84
Figura 44. Comparao da amplitude de acelerao, Prottipo v/s
sistema do LVA. ............................................................................... 85
Figura 45. Porcentagem de erro da diferena de leitura do prottipo
v/s sistema disponvel no LVA. ....................................................... 85
Figura 46. Espectro de compressor de nitrognio obtido com
equipamento Sinus. .......................................................................... 86
Figura 47. Espectro de compressor de nitrognio obtido com
prottipo.Fonte: Autor. ..................................................................... 87

LISTA DE TABELAS
Tabela 1. Valores mnimos das caractersticas dos elementos. ............. 44
Tabela 2. Exemplo de acelermetros MEMS e seus fabricantes. .......... 55
Tabela 3. Falhas em mquinas rotativas e frequncias.......................... 58
Tabela 4. Parmetros esperados do acelermetro.................................. 60
Tabela 5. Comparao entre diversas configuraes para o prottipo. . 60
Tabela 6. Caractersticas do acelermetro ADXL345. .......................... 63
Tabela 7. Caractersticas da placa controladora Arduino Due
(ARDUINO (b), 2013). ......................................................................... 63
Tabela 8. Caractersticas do equipamento de controle. ......................... 67
Tabela 9. Tempos de envio de dados pelo micro controlador quando
usados nmeros com diferente quantidade de digitos. .......................... 71
Tabela 10. Frequncias de amostragem do acelermetro. ..................... 74
Tabela 11. Tempo de pausa entre as leituras da porta SPI. ................... 75
Tabela 12. Valores escolhidos para Offset nos trs eixos coordenados. 78
Tabela 13. Scaling Factor nos trs eixos coordenados. ........................ 79

LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS

acelMEMS
Areal
BPFI
BPFO
BSF
CAD
CERTI
DSP
E/S
FFT
FTF
ICP
ISO
LED
LVA
MATLAB
MEMS
NAN
NBR
RPM
S/N
SPI
USB

Dado de acelerao fornecido pelo


acelermetro digital
Acelerao Real calculada
Ball Passing Frequency Inner race
Ball Passing Frequency Outer race
Ball Spin Frequency
Conversor Analgico Digital
Centros de Referncia em Tecnologias Inovadoras
Digital SignalProcessing
Entrada/Sada
Fast Fourier Transform
Fundamental TrainFrequency
IntegratedCircuitPiezoelectric
International Standard Organization
Light-emittingDiode
Laboratrio de Vibraes e Acstica
Matrix Laboratory
Micro ElectroMechanical Systems
Not a Number
Norma Brasileira
Revolutions Per Minute
Serial/Number
Serial Peripheral Interface
Universal Serial Bus
Micro segundo
Tenso de sada

SUMRIO
1.

1.1.

1.2.

INTRODUO ............................................................................ 25

OBJETIVOS ........................................................................ 27
1.1.1.

Objetivo geral ........................................................... 27

1.1.2.

Objetivos especficos ................................................ 27

ESTRUTURA DA DISSERTAO .................................. 27

2. REVISO DOS CONCEITOS E MTODOS BSICOS DE


MANUTENO PREDITIVA ............................................................ 29

2.1.

TIPOS DE ANLISES ....................................................... 31


2.1.1.

Termografia .............................................................. 32

2.1.2.

Ultrassom.................................................................. 33

2.1.3.

Anlise de lubrificantes ............................................ 34

2.1.4.

Anlise de partculas de desgaste ............................. 35

2.1.5.

Anlise de vibrao .................................................. 36

3. ELEMENTOS PARA O DESENVOLVIMENTO DO


PROTTIPO DO ANALISADOR. ...................................................... 42

3.1.

DESCRIO GERAL ........................................................ 42

3.2.

CARACTERSTICAS BSICAS DO PROTTIPO ......... 42

3.3.

TRANSDUTORES DISPONVEIS NO MERCADO ........ 45

3.4.

ACELERMETROS MEMS .............................................. 49

3.5.

3.4.1.

Tipos de sinais de sadas........................................... 52

3.4.2.

Alimentao do acelermetro ................................... 53

MICRO CONTROLADOR ................................................. 55


3.5.1.

Perifricos................................................................. 56

3.6.
NVEIS TPICOS DE VIBRAO EM MANUTENO
PREDITIVA ..................................................................................... 57
3.6.1.
4.

4.1.

Limite de amplitude de acelerao ........................... 59

RESULTADOS DE APLICAO DO PROTTIPO .................67

EQUIPAMENTOS DE CONTROLE .................................. 67

4.2.
TESTES INICIAIS COM O MICRO CONTROLADOR
(ARDUINO DUE) ............................................................................ 68
4.3.
TESTES COM MICRO CONTROLADOR E
ACELERMETRO .......................................................................... 72
4.4.
5.

5.1.
6.

TESTES USANDO O PROTTIPO COMPLETO ............ 80


CONCLUSES .............................................................................88

PROPOSTAS PARA TRABALHOS FUTUROS ............... 89


REFERNCIAS ............................................................................90

ANEXO 1 ..............................................................................................97
ANEXO 2 ............................................................................................100
ANEXO 3 ............................................................................................104

25
1. INTRODUO
Grandes transformaes tm-se apresentado nas ltimas dcadas
nos mercados e na indstria. Novos conceitos como globalizao,
melhoria da qualidade de servios, certificao de processos,
sustentabilidade, entre outros, tm importncia estratgica nas decises
gerenciais. O impacto desse novo ambiente atingiu todos os setores das
empresas, incluindo a atividade de manuteno.
Pode-se definir a manuteno como o conjunto de atividades e
recursos aplicados aos sistemas e equipamentos, visando garantir a
continuidade de sua funo dentro de parmetros como disponibilidade,
qualidade, prazo, custos e vida til adequados. Assim, a manuteno
tambm passa a buscar o reparo rpido, reduzindo os servios de
emergncia (ASSIS e NOGUEIRA, 2006).
Este processo pode ser desenvolvido de diferentes formas,
criando assim vrias filosofias de manuteno e, considerando certas
divergncias quanto classificao dos tipos de manuteno, so
consideradas como principais as seguintes:
Manuteno Corretiva
A Manuteno Corretiva a filosofia de manuteno mais
utilizada, sendo empregada em qualquer indstria que possua algum tipo
de mquina, e qualquer que seja o nvel ou programa de manuteno. A
definio apresentada na norma NBR 5462(1994) para a Manuteno
Corretiva a manuteno efetuada aps a ocorrncia de uma falha,
destinada a recolocar um item em condies de executar uma funo
requerida. Em suma, toda manuteno com a inteno de corrigir
falhas em equipamentos, componentes, mdulos ou sistemas, visando
restabelecer sua funo. Geralmente est associada aos custos elevados
devido sua natureza reativa.
Manuteno Preventiva
O objetivo principal da Manuteno Preventiva a garantia da
funo ao longo do ciclo de vida. O conhecimento estatstico da taxa de
falha dos itens fundamental na Manuteno Preventiva, pois nesse
conhecimento baseiam-se as intervenes programadas ao longo do
tempo da vida til do item. A Manuteno Preventiva tambm
chamada de manuteno baseada em intervalos/tempo.

26
A norma NBR 5462(1994) defineManuteno Preventivacomo
sendo a manuteno efetuada em intervalos predeterminados, ou de
acordo com critrios prescritivos, destinada a reduzir a probabilidade de
falha ou a degradao do funcionamento de um item.
Manuteno Preditiva
Pode-se considerar que com o aperfeioamento das tcnicas de
processamento de sinais, tornou possvel o acompanhamento da
evoluo na vida til dos itens, e determinar tempos certos da
interveno baseados na medio dos parmetros dos processos
produtivos.A Manuteno Preditiva aponta na direo da
disponibilidade, pois as medies e avaliaes so realizadas com o
equipamento em operao.
A definio da NBR 5462(1994) para a Manuteno Preditiva a
manuteno que permite garantir uma qualidade de serviodesejada,
com base na aplicao sistemtica de tcnicas deanlise, utilizando-se de
meios de superviso centralizadosou de amostragem, para reduzir ao
mnimo a Manuteno Preventiva e diminuir a Manuteno Corretiva.
A Manuteno Preditiva requer mo de obra qualificada nos
diferentes tipos de anlise para que as aes de interveno tenham
qualidade equivalente aos dados registrados(ISO 18436-2, 2003).
O desenvolvimento e integrao de novas tecnologias apresentam
uma oportunidade de pesquisa e avaliao de equipamento de anlise de
sinais. Toda mquina rotativa gera vibrao, fenmeno que se torna
fundamental ao considerar a filosofia da Manuteno Preditiva baseada
no comportamento deste e outros sintomas mensurveis. Mas,
geralmente as tecnologias modernas requerem investimentos em
equipamento, recursos humanos, e tempo que no sempre esto
disponveis na medida necessria para atingir resultados aceitveis na
equao custo-beneficio. Este o objetivo deste trabalho, levar as
vantagens da Manuteno Preditiva a um maior campo de aplicaes,
mediante o desenvolvimento de ferramentas de baixo custo e aplicao
mais simplificada, visando a uma filosofia de manuteno
intrinsecamente cientfica.

27
1.1. OBJETIVOS
1.1.1. Objetivo geral
Desenvolver um equipamento de baixo custo que permita o
monitoramento de mquinas, considerando as vantagens da Manuteno
Preditiva, baseada numa anlise de vibrao. Este equipamento ser
desenvolvido em parceria com a Fundao CERTI.
1.1.2. Objetivos especficos
Desenvolver um modelo padro de anlise de vibrao e
analisar seus limites de aplicao.
Fornecer a especificao e as caractersticas tcnicas do
equipamento de aquisio dos sinais devibrao.
Fornecer o algoritmo de processamento digital de sinais
como base para a programao do software.
Validar o modelo desenvolvido realizando medies em
uma mquina tpica, com o prottipo de equipamento e
software desenvolvidos pela Fundao CERTI.
1.2. ESTRUTURA DA DISSERTAO
Nesta dissertao apresentado o desenvolvimento do prottipo
de analisador de vibrao de baixo custo. Ao longo dos captulos so
apresentadas as diferentes partes da pesquisa inicial, que levaram
escolha dos elementos essenciais do prottipo e, finalmente, os testes de
desempenho realizados.
O Captulo 2 apresenta uma viso geral da Manuteno Preditiva
e as caractersticas principais que a compem. So apresentados os
mtodos de estudo de mquina mais usuais na indstria, as vantagens de
realizar este tipo de anlise, com especial foco na anlise de vibrao.
Tambm nesta seo, so apresentados exemplos deste ltimo tipo de
anlise, para os principais tipos de falha reconhecidos como os mais
frequentes.
O desenvolvimento do prottipo apresentado no Captulo 3. So
analisadas as caractersticas tcnicas dos equipamentos de anlise de
vibrao utilizados na Manuteno Preditiva, e as caractersticas dos
componentes que sero utilizados no prottipo, ou seja, o acelermetro

28
MEMS e o micro controlador. J no final do captulo so apresentados
os componentes do prottipo adquiridos para esta pesquisa.
No Captulo 4 so apresentados os resultados da pesquisa,
considerando as caractersticas mnimas impostas pelo programa de
Manuteno Preditiva padro. Apresentam-se os testes realizados ao
prottipo, com validaes para cada componente, e provas no
equipamento completo. J testado o comportamento do prottipo, os
resultados deste foram comparados com os de um equipamento de maior
preciso, normalmente usados em laboratrios de Vibraes e Acstica.
Finalmente, o Captulo 5 apresenta a discusso final deste
trabalho e as propostas para futuras pesquisas na rea.

29
2. REVISO DOS CONCEITOS E MTODOS BSICOS DE
MANUTENO PREDITIVA
A Manuteno Preditiva conhecida tambm como manuteno
sob condio ou manuteno baseada no estado do equipamento
(ConditionBasedMaintenance). A premissa da Manuteno Preditiva
baseia-se no fato de que o monitoramento regular das condies
mecnicas reais das mquinas, e do rendimento operativo dos sistemas
de processo, garante um intervalo mximo entre os reparos (MOBLEY,
2002). Predizer (ou prevenir) as falhas nos equipamentos ou sistemas
o objetivo da Manuteno Preditiva, atravs de acompanhamento dos
diferentes parmetros, permitindo a operao contnua por perodos
maiores possveis.
O comportamento da taxa de falha de um equipamento pode ser
descrito pela curva da banheira mostrada na figura 1. Esta curva
representa as etapas tpicas de um sistema: mortalidade infantil,
maturidade e mortalidade senil (WUTTKE, 2008).
Figura 1. Curva de taxa de falha.

Fonte: adaptado de Wuttke, 2008.

No primeiro perodo denominado mortalidade infantil, tem-se


uma taxa decrescente, geralmente as falhas so prematuras e decorrem
de m especificao de projeto ou por falhas na fabricao de
componentes, peas defeituosas, processos de fabricao inadequados,
mo-de-obra
desqualificada,estocagem
inadequada,
instalao
imprpria, partida deficiente, entre outras.
Na maturidade, j no acontecem mais falhas prematuras, pois
foram todas corrigidas e se observa uma taxa de falha constante. As
falhas que ocorrem nesta fase so aleatrias, causadas por incidentes
imprevisveis, tais como catstrofes naturais ou erros de operao, nos

30
quais o sistema produtivo exposto a quantidades de energia liberadas
em uma taxa que o sistema no suporta.
Finalmente, a uma taxa de falhas crescente se associa o perodo
de mortalidade senil, fundamentalmente por desgaste dos materiais.
Neste perodo as falhas se tornam inevitveis por perda na resistncia
dos materiais, originadas porcorroso, fadiga, trincas, deteriorao
mecnica, eltrica ou qumica, manuteno insuficiente, entre outras.A
curva da banheira um grfico que expressa a expectativa de falha de
um item ao longo do tempo, considerando que ainda no falhou at este
tempo (SELLITO, 2005). Mas, do ponto de vista da expectativa de vida
de um item pode-se considerar como ponto de partida num programa de
Manuteno Preditiva.
A Manuteno Preditiva aumenta a disponibilidade global das
plantas industriais, minimizando o nmero e o custo das paradas no
programadas criadas por falhas. A incluso da Manuteno
Preditivanum programa de gerncia total da planta oferece a capacidade
de otimizar a disponibilidade dosequipamentos do processo, reduzindo o
custo da manuteno.
Mesmo sendo a Manuteno Preditiva um processo comprovado,
requer um planejamento detalhado para obter um programa bem
sucedido. Assim, para desenvolver um conceito eficaz de manuteno,
esta tem que ser considerada de forma holstica, isto , devem-se
abordar fatores que descrevem tecnicamente cada sistema para manter,
fatores que descrevem as inter-relaes entre os diferentes sistemas ea
relao com o processo, bem como fatores que descrevem a estrutura
geral da organizao (WAEYENBERGH, PINTELON, 2004). O
sistema de Manuteno Preditiva, assim concebido, personalizado para
cada organizao e deve reunir os requerimentos particulares,
incorporando o treinamento do pessoal envolvido no processo, incluindo
os nveis gerenciais da empresa. Este ltimo essencial, considerando
que o processo de aquisio de dados e posterior anlise atingem um
grande nvel de complexidade tcnica.
Dentro dos principais motivos pelos quais uma organizao
decide incorporar um programa de Manuteno Preditiva, pode-se
mencionar a proteo de ativos financeiros, reconhecimento das
capacidades de melhorias pelo nvel diretivo, menores taxas de seguros
e maiores possibilidades de obteno da certificao ISO 9001
(MOBLEY, 2002). Tudo isso possvel ao atingir as vantagens da
Manuteno Preditiva, que so:
Reduo dos custos de manuteno

31
Reduo de falhas nas mquinas
Reduo do tempo de parada para reparo
Reduo no estoque de peas sobressalentes
Aumento da vida til das peas
Aumento da produo
Melhoria na segurana do operador
Verificao das condies do equipamento novo
Verificao dos reparos
Lucro global
Estudos tm demonstrado que a implementao de um adequado
plano de manuteno resulta numa economia mdia de 20% a 25% nos
custos diretos de manuteno, em conjunto com o dobro deste valor no
aumento da produo. Tambm necessrio observar o fato de que as
tcnicas de Manuteno Preditivaexigem instrumentao tecnicamente
sofisticada para efetuar a deteco e diagnstico das mquinas. Estes
instrumentos tm, geralmente, custo muito elevado e tecnicamente
necessitam de pessoas treinadas para a anlisedos resultados. As
implicaes de custo, seja em instrumentao sofisticada ou mo de
obra qualificada, muitas vezes levam a um ponto de interrogao sobre o
plano de adoo de Manuteno Preditiva. (SCHEFFER, GIRDHAR,
2004).
2.1. TIPOS DE ANLISES
O monitoramento preditivo principalmente baseado nas tcnicas
(Manuteno Industrial, 2012):
Anlise de vibrao
Termografia
Anlise de lubrificantes
Propriedades fsico-qumicas
Cromatografia gasosa
Espectrometria
Ferrografia
Radiografia
Energia acstica (ultrassom)
Energia eletromagntica (partculas magnticas,
correntesparasticas)

32
Fenmenos de viscosidade (lquidos penetrantes)
Radiaes ionizantes (Raio X ou Gamagrafia)
Tribologia
Monitoria de processos
Inspeo visual
Outras tcnicas de anlise no-destrutivas
A seguir sero destacados alguns destes mtodos frequentemente
usados em Manuteno Preditiva.
2.1.1. Termografia
Num programa de Manuteno Preditiva, a termografia uma
tcnica aplicvel no s nos componentes ou equipamentos eltricos,
tambm til em mquinas, estruturas e outras aplicaes. O instrumental
utilizado tem a capacidade de detectar emisses de energia
infravermelha, por exemplo, a temperatura superficial. Ao detectar
variaes da temperatura possvel diagnosticar muitos problemas
incipientes.
A termografia baseia a anlise no fato de que todos os objetos que
tem uma temperatura maior do que o zero absoluto emitem energia ou
radiao. A radiao infravermelha um tipo de energia com o
comprimento de onda mais curto de todas as radiaes e, portanto
invisvel aos nossos olhos, e s pode ser verificada com equipamento
especial. O objeto, ao aumentar a temperatura, aumenta tambm a
quantidade de energia emitida.
Todos os sistemas de infravermelho (dos simples aos mais
complexos) so sensveis apenas energia infravermelha irradiada. No
medem a temperatura,mas so teis em aplicaes em que uma variao
de temperaturana condio da superfcie oumaterial pode causar uma
diferena no nvel de energia irradiada, que pode ser detectadas pela
cmara de infravermelhos. A termografia uma tcnica de Manuteno
Preditiva quando usada nestas condies (SCHEFFER, GIRDHAR,
2004):
No faz contato com a superfcie.
A tcnica no envolve quaisquer aes perigosas.
Pode ser utilizado em zonas de risco.
No afetado por ondas eletromagnticas.
Pode ser usado quando os sistemas esto operando.

33
Fornece informaes instantneas.
Os dados podem ser coletados e armazenados num formato
digital.
A radiao trmica a energia emitida continuamente por todo corpo
que se encontra a uma temperatura no nula. Essa energia transmitida
no espao na forma de ondas eletromagnticas ou ftons. Os resultados
obtidos com os termgrafos so apresentados instantaneamente (figura
2), durante a inspeo, na forma de imagens trmicas ou termogramas,
com o auxlio de um software adequado tcnica da termografia.
Figura 2. Fotografia normal e fotografia de infravermelho (direita).

Fonte: Oliveira, 2010.

Os termogramas representam as temperaturas dos corpos na


forma de cores e, como a imagem obtida com o termgrafo provida de
uma escala que correlaciona cor e temperatura, possvel a obteno de
resultados esclarecedores quanto aos problemas ligados direta ou
indiretamente temperatura. Com essas imagens, tambm possvel
obter-se a temperatura em um ponto ou rea do objeto analisado
(SOUSA, 2010).
2.1.2. Ultrassom
O ultrassom utiliza conceitos similares aos de anlise de vibrao.
Ambos monitoram o rudo gerado pelas mquinas ou sistemas da planta
para determinar a sua condio operacional efetiva. Ao contrrio de
monitoramento de vibrao, no entanto, por ultrassom so monitoradas
as frequncias mais altas produzidaspelos processos mecnicos
dasmquinas. A gama de monitoramento normal dastcnicas
ultrassnicas atinge frequncias na faixa de 20 kHz at 100 kHz.

34
As trs aplicaes principais dos instrumentos (figura 3) de
ultrassom,quando usados como parte de um programa de Manuteno
Preditivaso: anlise de rudo, deteco de vazamentos, e testes de
materiais.
A principal aplicao para monitoramento de ultrassom na
deteco de vazamentos.O fluxo turbulento de lquidos e de gases
atravs de um orifcio (ou vazamento) produz uma assinatura de alta
frequncia que pode ser facilmente identificada usando tcnicas de
ultrassons, considerando que tem um comprimento de onda pequeno e
muito direcional. Esta tcnica ideal na deteco de vazamentos em
vlvulas, purgadores, tubulaes, entre outros (MOBLEY, 2002).
Figura 3. Exemplo de equipamento de ultrassom.

Fonte: SDT, 2014.

Esta tcnica pode ser utilizadaem conjunto com atividades de


lubrificao, para determinar se a graxa atingiu o rolamento dentro de
um mancal. Isso avaliado pela melhora no nvel de rudo detectado
pelo aparelho.
2.1.3. Anlise de lubrificantes
A anlise de leo tornou-se uma importante contribuio para a
Manuteno Preditiva. Os laboratrios recomendam que as amostras de
lubrificante de mquina sejam tomadas em intervalos programados, para
determinar a condio da pelcula de lubrificante, que crtica,na
operao da mquina.A anlise dos leos permite identificar os
primeiros sintomas de desgaste de um componente. A identificao
feita a partir do estudo da quantidade de partculas, tamanho, forma e
composio, que fornecem informaes precisas sobre as condies das
superfcies que esto em movimento relativo sem a necessidade de se

35
desmontar o conjunto (LAGO, 2007). Tipicamente, so realizados os
seguintes testes de leos:
Viscosidade: A viscosidade determina a capacidade do leo de
evitar o contato metal-metal e, por outro lado, a capacidade de
lubrificar.
Contaminao:A contaminao do leo por gua ou
refrigerante pode causar grandes problemas em um lubrificante.
Contedo de slidos: A presena de slidos em um sistema de
lubrificao pode aumentar significativamente o desgaste das
peas lubrificadas.
Fuligem de combustvel: A fuligem provocada pela queima de
combustveis um indicador importante no leo usado em
motores diesel.
Oxidao: Oxidao de leo lubrificante pode resultar em
depsitos de laca, corroso do metal, ou espessamento do
prprio leo.
ndice de Acidez Total: A acidez do leo uma medida da
quantidade de material cido, ou semelhante aos cidos, na
amostra de leo.
Nmero total Base: O nmero base indica a capacidade do leo
para neutralizar a acidez. Quanto maior o Nmero Total Base,
maior ser a sua capacidade para neutralizar a acidez.
Contagem de Partculas: Neste teste, um elevado nmero de
partculas indica que as mquinas podem estar trabalhando de
forma anormal, ou que falhas podem ocorrer por causa de
orifcios bloqueados temporria ou permanentemente.
2.1.4. Anlise de partculasde desgaste
O desgaste uma consequncia inevitvel na superfcie de contato entre
as peas da mquina, como eixos, rolamentos, engrenagens, mesmo em
sistemas adequadamente lubrificados. A anlise das partculas no
lubrificante pode dar informaes importantes do estado ou condio da
mquina. Essa informao deriva do estudo da forma, composio,
tamanho e quantidade das partculas presentes na amostra.
Principalmente so usados dois mtodos para analisar amostras
de partculas de desgaste. O primeiro mtodo, chamado espectroscopia
ou anlise espectrogrfica, usa filtros graduados para separar slidos por
tamanhos. Anlise espectrogrfica normal limitada contaminao por

36
partculas com uma dimenso de 10 microns, ou menos. Assim, os
contaminantes maiores so ignorados, limitando os benefcios que
podem ser obtidos a partir da tcnica. O segundo mtodo, chamado
ferrografia, separa partculas de desgaste usando um campo magntico.
Obviamente, a limitao desta abordagem que apenas as partculas
magnticas so removidas para anlise. Materiais no magnticos, tais
como cobre ou alumnio, que formam parte do desgaste de materiais em
mquinas tpicas, so excludos da amostra. A anlise ferrogrfico
normal conseguiu identificar partculas de at 100 microns, e fornece
uma melhor representao da contaminao total da amostra.
2.1.5. Anlise de vibrao
Neste trabalho, o objetivo est direcionado tcnica de anlise de
vibrao, a que pode fornecer maior quantidade de informaes em
comparao com outras tcnicas (ILEARNVIBRATION, 2009).
Todas as mquinas em operaogeram vibrao que as levam a
um processo de deteriorao. Ao acompanharo progresso do nvel de
vibrao, possvel obter informaes sobre a condio da
mquina.Essas vibraes se transmitem a todo o conjunto da mquina,
terminando por produzir um espectro de frequncias prprio daquele
sistema, chamada assinatura. A anlise dessa assinatura possibilita
verificar se o equipamento est em condies normais de funcionamento
ou com algum defeito incipiente que pode levar a uma falha (MARAN
2012).
O desenvolvimento dos instrumentos de medio, equipamento
de monitorao e softwares especializados, utilizados atualmente,
permite que sejam reconhecidos, em forma incipiente, diversos tipos de
falhas como, por exemplo, desbalanceamento, desalinhamento,
empenamento de eixos, excentricidade, desgaste em engrenagens e
mancais, m fixao da mquina ou de componentes internos,
roamentos, eroso, ressonncia, folgas, desgastes em rolamentos e
outros componentes rotativos, fenmenos aerodinmicos e/ou
hidrulicos e problemas eltricos.
As tcnicas de anlise de vibrao esto bastante desenvolvidas
envolvendo desde os mtodos mais simples como medio dos valores
mdios das amplitudes de vibrao, at os mais complexos, chegando
aos clculos de correlao e espectros de frequncia (HAMMOND e
SHIN, 2008). A tecnologia eletrnica moderna pode melhorar a
capacidade das equipes de manuteno para evitar falhas nas mquinas.
Usando um analisador de vibrao porttil, os tcnicos de manuteno

37
podem monitorar vrios tipos de equipamentos,reunindo as assinaturas
de vibrao do equipamento num perodo de temporelativamente curto
(MOSHAGE, 1993).
A tcnica de vibrao no avalia todos os sintomas presentes
numa mquina, portanto, num programa de Manuteno Preditiva, esta
tcnica deve ser usada em conjunto com outras anlises como
ferrografia. Assim, pode-se avaliar melhor a condio real de
funcionamento de uma mquina (MATHEW, STECKI, 1986).
Em diagnose de falhas de mquinas, preciso conhecer as
frequncias de vibrao caractersticas de uma possvel falha e analisar
aquelas que coincidem com as frequncias que sofreram aumento nos
componentes do espectro. Isto implica no estudo inicial das
especificaes e desenhos de engenharia para cada mquina, fazer um
plano esquemtico e registrar nele as caractersticas geomtricas e
dinmicas do equipamento, tais como: o nmero de plos do motor, as
velocidades de rotao, nmero de dentes das engrenagens, os dados das
bolas/rolos dos mancais de rolamentos, etc.
Dentre as diversas fontes de vibrao as mais comuns e
quepodem ser responsabilizadas pela maior parte das vibraes
mecnicas indesejveis esto listadas a seguir (MANTENIMIENTO
MUNDIAL, 2012):
Desbalanceamento
muito comum que as mquinas rotativas apresentem
desbalanceamento. Existe quando a distribuio de massas de um rotor
no uniforme em relao a um eixo de rotao e tem-se um aumento
da amplitude de vibrao na frequncia de rotao 1xRPM (figura 4).

38
Figura 4. Exemplo de espectro de desbalanceamento.

Fonte: Mantenimiento Mundial, 2012.

Desalinhamento
Com o passar do tempo, as partes rotativas apresentam desvios do
eixo de rotao em relao a outras peas no mesmo eixo original.
Problemas srios de vibrao podem ocorrer mesmo quando
acoplamentos so alinhados dentro da tolerncia especificada pelo
fabricante. Neste tipo de falha pode-se perceber a existncia de
harmnicas da freqncia fundamental em 2X e 3X (figura 5).
Figura 5. Exemplo de espectro de desalinhamento.

Fonte: Mantenimiento Mundial, 2012.

39
Mancais de rolamento defeituosos
Os rolamentos geram quatro frequncias caractersticas de
defeitos que so (ADITEQ, 2012):
Rotao da Gaiola:
(1)
Rotao do Elemento Rolante:
(2)
Passagem de Elementos pela Pista Externa:
(3)
Passagem de Elementos pela Pista Interna:
(4)

onde:
S = Si - Se
Se = frequncia de rotao da pista externa
Si = frequncia de rotao da pista interna
d = dimetro dos elementos rolantes
D = dimetro primitivo
n = n de elementos rolantes
= ngulo de contato
Com estas frequncias possvel identificar qual dos
componentes do rolamento apresenta falha, como o exemplo mostrado
na figura 6.

40
Figura 6. Exemplo de espectro de rolamento defeituoso.

Fonte: Mantenimiento Mundial, 2012.

Folgas mecnicas
Todo tipo de peas soltas que estiverem em contato com os eixos
rotativos, como bases trincadas, ocas eparafusos soltos, geram vibrao
com grande nmero de picos harmnicos e com rudo de fundo elevado.
Estes picos so causados pelos impactos entre as peas soltas ou com
folgas mecnicas. A figura 7 mostra um exemplo de espectro de
vibrao em mquina com folga mecnica.
Figura 7. Exemplo de espectro de folgas mecnicas.

Fonte: Mantenimiento Mundial, 2012.

41
A Manuteno Preditiva um conjunto de tcnicas que, baseado
no acompanhamento das condies da mquina, permite determinar o
momento oportuno no qual necessrio desenvolver aes de
manuteno, otimizando o tempo da vida til dos equipamentos do
processo. Porm, uma tcnica que necessita de equipamento
tecnologicamente avanado e pessoal treinado especificamente para os
diversos tipos de anlise. Dentro destas anlises, o acompanhamento da
vibrao uma ferramenta fundamental, mas na atualidade somente
realizado na indstria por empresas que possuem mquinas consideradas
crticas no processo produtivo.
Neste trabalho o foco est no desenvolvimento e avaliao de um
analisador de vibrao de baixo custo. Com esse objetivo, quer-se
integrar dentro do prottipo a nova tecnologia de sensores MEMS e
avaliar o potencial de aplicao na Manuteno Preditiva destes
acelermetros, que apresentam um custo inferior quando comparados
com o acelermetro piezo-eltrico, tpico na indstria.
Um analisador de vibrao de baixo custo tem o potencial de
atingir um volume maior de aplicaes, e no somente nas mquinas
crticas mencionadas. Desta forma, pode-se tornar uma ferramenta
acessvel para os profissionais da rea de manuteno e,
consequentemente, encaminhar numa maior extenso as vantagem da
Manuteno Preditiva aos processos produtivos.

42
3. ELEMENTOS PARA O DESENVOLVIMENTO DO
PROTTIPO DO ANALISADOR.
Para auxiliar nadefinio dos componentes bsicos a serem
usados no desenvolvimento do prottipo do equipamento de aquisio
de dados de vibrao, foram considerados diversos aspectos
relacionados s diferentes alternativas de aquisio de sinais,
transdutores, fluxos de dados e programao.
3.1. DESCRIO GERAL
O sistema de anlise de vibrao para Manuteno Preditiva
considera, numa primeira etapa, um sistema ou equipamento que seja
capaz de obter dados analgicos e converterem dados digitais. Estes
dados analgicos so gerados por um transdutor de vibrao conhecido
como acelermetro. Aps, ser realizado o processamento digital dos
sinais obtidos (DSP pelas siglas em ingls).Isto ser iniciado justamente
no momento da digitalizao do sinal analgico. Uma vez digitalizados
os sinais, serrealizado oprocessamento digital necessrio para a anlise,
atravs de um micro controlador que seja capaz de se comunicar com o
software de programao.
3.2. CARACTERSTICAS BSICAS DO PROTTIPO
Para o desenvolvimento do prottipo do analisador de
vibraosero consideradas as seguintes caractersticas:
Condies mnimas de anlise impostas pelo programa de
Manuteno Preditiva baseado em vibrao.
Capacidade de manuseio de dados gerados por um mnimo de
doze canais analgicos de dados.
Digitalizao dos dados analgicos.
Micro controlador de programao aberta.
Programao emMATLAB.
Baixo custo.
As caractersticas tcnicas dos elementos devero respeitar as
condies mnimas necessrias para o desenvolvimento do programa de
Manuteno Preditiva baseado na anlise de vibrao, o qual
determinado por uma faixa de frequncia de medio de 1 Hz at 10

43
kHz, garantindo assim a anlise de falhas observadas nos sinais de alta
frequncia, como por exemplo rolamentos e seus harmnicos
(HOWARD, 1994).
A anlise de vibrao realizada em mquinas rotativas, as quais
em grande maioria so acionadas por um motor externo, e considerando
que deve-se realizar a anlise de fase entre dois pontos de medio tanto
na mquina e no motor, tem-se como resultado quatro pontosde medio
(figura 8). A anlise de fase entre dois pontos til para confirmar
diagnstico de desbalanceamento (SEMAPI, 2008).Alm disso, nos
pontos de medio devero ser adquiridos os dados dos trs eixos
coordenados,sempre que possvel. Assim, o prottipo dever teruma
capacidade de manuseio de dados gerados por um mnimo de quatro
pontos de medio, nas direes dos trs eixos ortogonais, resultando
em doze canais de entrada de sinais.
Figura 8. Exemplo de mquina e seus pontos de medio, 1 e 2 para motor e 3 e
4 para bomba centrfuga.

Fonte: Adaptado de JiangsuSuhuaPumpCo. Ltd., 2012.

Os sinais analgicos gerados nos pontos de medio devero ser


digitalizados para seu posterior anlise no software. Nesse processo o
Conversor Analgico Digital, CAD,necessita de uma frequncia mnima
de amostragem de 20 kHz para garantir a faixa de frequncia de anlise
at 10 kHz e, o filtro anti-aliasing ter uma frequncia de corte de 10
kHz, necessrio porque garante que no ocorrer o fenmeno de
aliasing no Conversor Analgico Digital. Geralmente, os analisadores
comerciais possuem uma frequncia de amostragem de 2,3 ou 2,5 vezes
a frequncia mxima de anlise.
A figura 9 mostra um esquema dos principais componentes
necessrios para o processo de digitalizao do sinal analgico.

44
Figura 9. Processo de digitalizao do sinal.

Fonte: Autor.

Os componentes que aparecem na figura 9 esto descritos a seguir:


Acelermetro: Transdutor que converte uma vibrao num sinal
eltrico.
Condicionamento do sinal: O sinal eltrico fornecido pelo
acelermetro deve ser ajustado segundo as condices de entrada
do conversor analgico digital (CAD).
Filtro anti-aliasing: Os clculos matemticos envolvidos no
DSP geram a necessidade deste filtro.
CAD: Transforma o sinal eltrico num sinal digital.
Tabela 1. Valores mnimos das caractersticas dos elementos.
Elemento
Acelermetro
Filtro anti-aliasing
CAD

Caracterstica
Faixa de frequncia
Frequncia de corte
Frequncia de amostragem

Valor
1-10.000 Hz
10.000 Hz
20.000 Hz

Fonte: Autor.

Geralmente, nas aplicaes de medio de vibrao o filtro antialiasing e o conversor esto incorporados no equipamento de anlise.
Assim, a faixa de frequncia determinada pelas caractersticas do
analisador (tabela 1). A figura 10 apresenta dois exemplos de
analisadores portteis de vibrao disponveis no mercado.

45
Figura 10. Diferentes modelos de analisadores comerciais de vibrao usando
acelermetros.

Fonte: Semapi, 2012; Atec, 2012.

A manipulao dos dados ser realizada por um micro


controlador, o qual dever aceitar diferentes protocolos de comunicao
e formatao dos sinais de entrada e sada, com velocidade necessria
para operar com doze canais na mais completa das situaes,
possibilidade de entradas analgicas e digitais, realizar clculos
matemticos trigonomtricos, e cuja programao seja compatvel com
o ambiente MATLAB.
MATLAB um software de clculo de ferramentas de
engenharia, o qual inclui aplicaes para processamento digital de
sinais, como Transformada Rpida de Fourier (FFT), anlise de fase,
cesptrum, envolvente, entre outras. Alm disso, permite a aplicao de
ferramentas estatsticas nos dados obtidos.
3.3. TRANSDUTORES DISPONVEIS NO MERCADO
Atualmente, so encontradas muitas configuraes e
combinaes que s vezes realizam mais de uma funo no mesmo
dispositivo, tais como acelermetros com sadas digitais, CAD que
incluem filtro anti-aliasing, entre outros. Alm disso, este projeto tem
como objetivo o desenvolvimento de um equipamento de baixo custo,
fator determinante na escolha dos componentes. Numa pesquisa da
literatura e de fornecedores, foram encontrados muitos dispositivos para
cada componente, mas nem todos tm a credibilidade da comunidade
cientfica e, portanto, requerem uma anlise maior em laboratrio.
No caso dos acelermetros disponveis no mercado, so
encontrados componentes piezo eltricos, piezo resistivos e

46
capacitivos,os quais so utilizados para converter um movimento
mecnico em um sinal eltrico. Acelermetros piezo elctricos so feitos
de materiais piezo cermicos ou cristais simples. So insuperveis em
termos do limite superior da faixa de frequncia, baixo peso e ampla
faixa de temperatura. Os piezo resistivos so preferidos em aplicaes
de impacto. Os acelermetros capacitivos tipicamente utilizam
elementos de micro mquinas sensveis de silicone (MEMS), e so os
mais econmicos no mercado.
Especificaes bsicas dos transdutores de vibrao:
Sensibilidade: relaciona o sinal eltrico (muitas vezes em tenso
(V)) com a amplitude de vibrao.
Faixa de frequncia:gama de frequncias em que a medio de
vibrao efetuada e considerada til.
Limite de amplitude: especifica o valor mximo de vibrao
que pode ser medido com preciso.
Limite de Choque: nvel mximo de vibrao que o transdutor
pode resistir sem sofrer dano.
Linearidade: preciso da amplitude da vibrao medida, na
faixa de frequncia de medio.
Frequncia natural: indiretamente indicativo da faixa de
freqncia de medio. Quanto maior a frequncia natural
dotransdutor, maior o intervalo de frequncia de medio, de
um modo geral.
O acelermetro piezo eltrico o mais recomendado para
aplicaes em Manuteno Preditiva (MARTINS, 2000), pois a resposta
de frequncia estende-se at dezenas de kHz, deslocamento e velocidade
podem ser obtidos a partir da integrao eltrica da acelerao e,
medio de transientes geralmente melhor relatada por acelerao do
que deslocamento ou velocidade. So tambm comercializados os do
tipo IntegratedCircuitPiezoelectric, ICP, quepossuem incorporado o
circuito integrado de condicionamento do sinal. Este tipo de transdutor
necessita, para isso, ser alimentado com uma corrente externa fornecida
por outro dispositivo conhecido comoSignalConditioner (figura 11). Em
seguida, o sinal enviado para o filtro antialiasing incorporado no
CAD. Entretanto, o uso de acelermetros limitado devido ao relativo
alto custo deste transdutor.

47
Figura 11. Imagens dos acelermetros ICP e uma unidade de condicionamento
do sinal.

Fonte: Edprevent, 2012; EC Systems, 2012.

Os acelermetros MEMSforam lanados recentemente no


mercado e possuem baixo custo (figura 12). Ainda persistem muitas
dvidas a respeito da confiabilidade destes transdutores, apesar de j
estarem sendo utilizados por algumas empresas de Manuteno
Preditiva. Porm, esse tipo de acelermetro o mais econmico,
apresentando um custo da ordem de 10% do valor de um acelermetro
piezo eltrico.
Segundo Thanagasundrame Schlindwein (2006), acelermetros
MEMS, mesmo sendo uma tecnologia nova, e seu uso em anlise de
vibrao ter sido limitado devido ao alto nvel do rudo e sensibilidade
variao da temperatura, podem ser considerados uma alternativa para
Manuteno Preditiva com qualidade padro e baixo custo. Neste
trabalho foi analisado o comportamento do acelermetro MEMS
ADXL105 da AnalogDevice.

48
Figura 12. Componentes principais do acelermetro MEMS ADLX335 da
AnalogDevice.

Fonte: Sparkfun, 2013.

O trabalho deAlbarbaret al. (2008)mostra que acelermetros


MEMS apresentam mudanas significativas nas leituras de amplitude e
fase, quando comparados com um acelermetropiezo-eltrico do tipo
ICP, tpicamente usados nos laboratrios de anlise. Infelizmente, o
estudo no identifica o acelermetro MEMS analisado.
Abdellatef(2011) concorda, na sua tese de doutorado, que o
acelermetro MEMS ainda necessita de maior aprimoramento para ser
utilizado na Manuteno Preditiva, e prope diversos tipos de melhorias,
incluindo na fabricao do prprio MEMS, que tem como objetivo o
aprimoramento na leitura da fase e da amplitude do acelermetro.

49
3.4. ACELERMETROS MEMS
Micro ElectroMechanical Systems,MEMS, consistem em
dispositivos mecnicos e componentes de mquinas que variam em
tamanho desde poucos microns at algumas centenas de microns.
Podem ser as interconexes mecnicas dos microssistemas e podem ser
classificados tanto como sensores ou atuadores. Geralmente integram
sinais de um domnio fsico para outro, como mecnico para eltrico
(O'NEAL, 1999).
uma tecnologia de micro fabricao,a qual utiliza processos de
fabricao semelhante ao de semicondutores e circuitos integrados para
criar microdispositivos discretos ou integrados, tais como as estruturas
mecnicas, microssensores, microatuadores, entre outras. Produtos
MEMS encontram larga aplicao em instrumentao, automao
industrial, telecomunicaes, optoeletrnica, tecnologia da informao,
automveis, entre outras.
Atualmente existem vrias tcnicas de fabricao de micro
mquinas, sendo bulk micromachining a mais antiga. Esta tcnica
envolve a remoo seletiva do material de substrato a fim de realizar os
componentes mecnicos miniaturizados. A remoo realizada com a
tcnica de corroso qumica que envolve a imerso de um substrato
numa soluo de um produto qumico reativo para gravar regies
expostas do substrato. Esta tcnica popular em MEMS, pois pode
proporcionar uma elevada taxa de corroso e seletividade. Alm disso,
as taxas de corroso e de seletividade podem ser modificadas por
alterao da composio qumica da soluo de corroso, ajusteda
temperatura da soluo de corroso, entre outras (MEMS-EXCHANGE,
2014).
Outra tcnica utilizada surfacemicromachining, baseada no
modelado do MEMS em camadas. O processo inicia com a deposio de
uma pelcula fina de material que atua como uma camada mecnica
temporal, na qual as camadas do dispositivo real so construdas. A
camada de material do dispositivo colocada e modelada com a forma
do dispositivo, sendo chamada de camada estrutural. Finalmente a
camada temporal removida deixando a camada estrutural livre, que
pode se movimentar como uma viga engastada livre. A vantagem da
tcnica surfacemicromachining a fcil integrao com elementos
micro eletrnicos. Com essa tcnica so construdos alguns
acelermetros produzidos pela AnalogDevice (JIANGFENG, 2004).

50
O acelermetro MEMS um transdutor o qual permite
transformar energia mecnica em energia eltrica, sendo sua fonte de
informao a acelerao do sistema. formado por trs estruturas
fundamentais, a massa ssmica, uma regio de molas e as estruturas ou
dedos capacitivos (figuras 13 e 14). Os dedos capacitivos se encontram
nos dois lados da massa ssmica, e tem a mesma capacitncia na posio
de equilbrio mecnico. Ao se aplicar uma acelerao na massa ssmica
que conectada fisicamente com as placas dos condensadores, altera a
distncia ou a superfcie entre os dedos capacitivos, alterando a
capacitncia do condensador. Essa capacitncia proporcional
acelerao aplicada no sistema (TEZ; AKIN, 2013).
Figura 13. Diagrama do acelermetro MEMS.

Fonte: Compliantmechanisms, 2014.

51
Figura 14. Imagem microscpica do acelermetro MEMS.

Fonte: adaptado de SoboyejoResearchGroup, 2014.

O acelermetro capacitivo MEMS governado pela seguinte


equao:

onde
a tenso de sada,
capacitncia nos dedos capacitivos,
a capacitncia parasita,
so duas capacitncias do
transistor MOS,
amplitude do sinal modulado, a distancia entre
os dedos capacitivos do sensor,
a frequncia de ressonncia
mecnica do transdutor e, acelerao a ser medida.
Um acelermetro tpico MEMS temfrequncia de ressonncia6
kHz, 1,5 m na separao dos dedos capacitivos euma sensibilidade de
capacitncia de 0,4 fF/g. Em umsinal de modulao de um 1 V de
amplitude, a sensibilidade da tenso global de cerca de 1 mV/g
(JIANGFENG, 2004).
No caso da Manuteno Preditiva, as vibraes das mquinas
rotativas geram sinais estacionrios, que normalmente resultam da
superposio
de
sinais
senoidais
com
amplitudes
e

52
frequnciasdiferentes. As caractersticas do acelermetro que tem
relao com esses dados so:
Faixa de frequncia(Bandwith) de medio.
O limite de amplitude (Acceleration Range) que especifica o
valor mximo de acelerao que pode ser medido com preciso,
em g.
Outro fator importante a sensibilidade do acelermetro, que
fornece a relao atenso gerada por unidade de acelerao,
normalmente expressa emmV/g. Quanto maior a sensibilidade, maior a
capacidade do acelermetro para medir nveis de menor amplitude.
3.4.1. Tipos de sinais de sadas
Os sinais de sada dos acelermetros podem ser classificados em
analgicos e digitais. Um acelermetro chamado de analgico se o
sinal de sada uma tenso proporcional acelerao ao qual est
submetido. Se o acelermetro tem incorporado um circuito eletrnico
que digitaliza o sinal analgico e,portanto, o sinal de sada
previamente digitalizado, ento chamado de acelermetro digital.
Neste caso a sensibilidade do acelermetro no pode mais ser medida
em mV/g, e cada fabricante tem uma forma particular de relacionar a
acelerao com as unidades digitais, como por exemplo mg/digit,
LSB/g, mg/LSB ecount/g. O acelermetro digital comunica-se atravs
do protocolo de comunicao SPI. A figura 15 apresenta o acelermetro
digital ADIS 16227 da AnalogDevice.
Figura 15. Acelermetro ADIS 16227 da AnalogDevice.

Fonte: AnalogDevice (a), 2014.

53

3.4.2. Alimentao do acelermetro


Os acelermetros MEMS so fabricados com circuitos integrados
de condicionamento de sinal, sejam estes analgicos ou digitais, e
requerem uma tenso de alimentao para o seu funcionamento. A
unidade de medida Volts (V). Em alguns casos tambm determinada
a corrente eltrica consumida pelo acelermetro em mA. A figura 16
apresenta o Diagrama interno do ADIS 16227 da AnalogDevice.
Figura 16. Diagrama interno do ADIS 16227 da AnalogDevice.

Fonte: AnalogDevice (b), 2014.

A acelerao de qualquer ponto de um sistema uma grandeza


vetorial com trs componentes espaciais ortogonais.Cada componente
representada pela componente do sistema cartesiano de eixos X, Y e Z.
Considerando esse aspecto, os acelermetros so classificados em
uniaxiais, biaxiais ou triaxiais, sendo o triaxial o acelermetro com
capacidade de medir a acelerao nos trs eixos, simultaneamente.
Cuidado torna-se necessrio na escolha de biaxialpois nem sempre
consegue medir qualquer combinao dos eixos uma vez que depende
da montagem na placa eletrnicautilizada. A figura 17 apresenta um
exemplo de tabela com as caractersticas dos acelermetros MEMS.

54

Figura 17. Exemplo de tabela com acelermetrose suas caractersticas.

Fonte: Adaptada de Digikey, 2013.

Os dispositivos MEMS tm muitas aplicaes na atualidade,


sendo a maioria em automveis, iluminao, smartphones, entre outras,
que incluem sensores MEMS dos quais os acelermetros tem grande
aplicao. Dos 30 maiores fabricantes de acelermetros MEMS (figura
18), somente trs fornecem acelermetros para aplicaes de anlise de
vibrao. A tabela 2 apresenta exemplos de acelermetros MEMS e seus
fabricantes.
Figura 18. Top 30 fabricantes dos acelermetros MEMS.

Fonte: SolidState Technologies, 2013.

55
Tabela 2. Exemplo de acelermetros MEMS e seus fabricantes.
Fabricante de MEMS
ST Microelectornics
MeasurementSpecialties
AnalogDevice
AnalogDevice

Modelo
LIS2DH
834M1
ADXL 001
ADIS 16223

Frequncia mxima
5,3 KHz
6 KHz
22 KHz
10 KHz

Eixos
3
3
1
3

Tipo
Digital SPI
Anlogo
Anlogo
Digital SPI

Fonte: Autor.

3.5. MICROCONTROLADOR
Um microcontrolador um circuito integrado programvel capaz
de executar as ordens gravadas na sua memria. Consiste de vrios
blocos funcionais que podem cumprir uma tarefa especfica. Um
microcontrolador inclui as trs principais unidades funcionais de um
computador: a unidade central de processamento, memria e perifricos
de entrada/sada.
Microcontroladores so geralmente utilizados em automao e
controle de produtos e perifricos, como sistemas de controle de
motores automotivos, controles remotos, mquinas de escritrio e
residenciais, brinquedos e sistemas de superviso. Para reduzir o
tamanho, custo e consumo de energia, comparados forma de utilizao
de microprocessadores convencionais, aliados facilidade de desenho
de aplicaes, juntamente com o seu baixo custo, os microcontroladores
so uma alternativa eficiente para controlar muitos processos e
aplicaes. A figura 19 mostra um micro controlador tpico.

56
Figura 19. MicrocontroladorRaspberryPi.

Fonte: Raspberry PI, 2014.

3.5.1. Perifricos
A organizao bsica de um microcontrolador contm um
conjunto de perifricos que esto localizados ou tem conexes com
perifricos externos. Alguns dos perifricos que mais frequentemente
so encontrados em microcontroladores so:
Entrada/sada
Tambm conhecida como porta de E/S, geralmente agrupados em
portas de 8 bits, permite a leitura de dados a partir do exterior ou
escrever para eles desde o microcontrolador.O destino usual trabalhar
com dispositivos simples, como rels, LED e sensores. Algumas portas
E/S tm caractersticas especiais que permitem lidar com determinadas
exigncias atuais, ou incorporar mecanismos especiais para interromper
o processador.

57
Conversor Analgico/Digital
Os micro controladores incorporam um conversor analgicodigital, que usado para obter os dados de diferentes entradas que so
selecionados por um multiplexador. As resolues mais comuns so 8 e
10 bits, que so suficientes para aplicaes simples. Para aplicaes em
controle e instrumentao as resolues disponveis costumam ser de
12bit, 16bit e 24bit. Tambm possvel conectar uma unidade externa,
se necessrio.
Protocolos de comunicao
Para a comunicao com os diferentes perifricos so utilizados
protocolos digitais conforme a aplicao. Os protocolos preferidos so a
porta USB e SPI. Cada fabricante do perifrico indica o melhor
protocolo para se comunicar com o dispositivo, as condies das
conexes, registros e outras caractersticas de programao interna. O
Universal Serial Bus, USB, um protocolo padro usado na indstria,
desenvolvido nos anos 90s, que define cabos, conectores e protocolos
de comunicao utilizados em um bus de conexo entre um
computador e outros dispositivos eletrnicos. Por outro lado, o
protocolo Serial Peripheral Interface, SPI, no define um tipo de cabo
especial nem um conector, simplesmente devem se conectar cabos entre
os terminais dos componentes definidos para a comunicao. O
protocolo SPI timo para envio de informao digitalizada, numa
velocidade compatvel com as frequncias de gerao dos dados desde
perifricos como, por exemplo, um acelermetro digital.
3.6. NVEIS TPICOS DE VIBRAO EM MANUTENO
PREDITIVA
O presente trabalho considera que as falhas numa mquina
alteram os espectros de vibrao referenciais, assim importante ter um
conhecimento geral do comportamento de frequncia em relao falha
e correlacionar isso com a resposta obtida pelo transdutor. A tabela 3
mostra as falhas mais comuns e suas ordens de harmnicas.A frequncia
fundamental representada por 1X e seus harmnicos por 2X, 3X...Os
exemplos da tabela 3 apresentam as frequncias em Hz, para
velocidades de rotao da mquina de 60 e 120 Hz.

58
Tabela 3. Falhas em mquinas rotativas e frequncias.

Fonte: Adaptada de Vibration Training QuickReference, 2009.

As falhas mais comuns nas mquinas rotativas so (DA COSTA,


2008):
Desbalanceamento
Desalinhamento
Desgaste de rolamentos, engrenagens e correias.

59
Da tabela 3 possvel observar que o desgaste de rolamentos,
engrenagens e correias a falha que gera as maiores frequncias no
espectro e, portanto, o acelermetro selecionado dever ser capaz de
medir nesta faixa.
3.6.1. Limite de amplitude de acelerao
A figura 20 mostra os nveis de severidade de vibrao de
equipamentos e fornece valores das amplitudes de vibrao para os
respectivos graus de severidade. Estes valores devem ser considerados
na seleo dos transdutores de vibrao.Indica que a faixa de acelerao
de falha para 1 kHz compreende valores entre 0,01 g at 0,5 g e, para 10
kHz, desde 0,3 g at mais de 10 g, aproximadamente. Deve-selembrar
de que o acelermetro tpico piezo eltrico pode medir uma faixa de 50
at 100 g, j que a tabela no indica um limite mximo superior.
Figura 20. Nveis de referncia para avaliar severidade de vibrao.

Fonte: Vibration Training Quick Reference, 2009.

A tabela 4 mostra os valores mnimos das caractersticas mais


importantes do acelermetro a ser usado neste trabalho, incluindo o
custo.

60
Tabela 4. Parmetros esperados do acelermetro.

Caracterstica do acelermetro
Eixos
Amplitude de vibrao
Frequncia mxima
Preo

Valores
X, Y, Z
Maior que 10 g
Maior que 1 kHz
Menor que US$ 100

Fonte: Autor.

A tabela 5 mostra uma comparao que inclui as diversas


possibilidades de configurao do prottipo.
Tabela 5. Comparao entre diversas configuraes para o prottipo.
Sistema de
monitoramento
de Vibrao
Comercial
Acelermetro
Montagem
eletrnica
Condicionamento
do sinal
Filtro
Anti-aliasing
Conversor anlogo
digital ADC

Prottipo MEMS
Digital SPI

Mono axial

Tri axial

Tri axial

No precisa

Test board

Test board

No incluso
Todo incluso no
aparelho

No incluso

Todo incluso no
acelermetro

No incluso

Micro controlador
Canais
Pontos de
monitoramento
continuo
Quantidade de
acelermetros
Faixa de
frequncia

Prottipo MEMS
Anlogo

No incluso

No incluso

12

---

1-10 KHz

10 KHz

1-10 KHz

Fonte: Autor.

Foi realizada uma pesquisa na literatura e consultados os


distribuidores de acelermetros MEMS, sendo o distribuidor DigiKey
um dos maiores do mundo. A partir da lista de produtos oferecidos no
mercado (DIGIKEY, 2013), com quase 1000 tipos, modelos e outros
produtos afins, foi elaborada uma tabela com as caractersticas dos

61
acelermetros (a maioria deles com o preo) no arquivo em anexo. Da
lista original foi preciso confirmar informaes com o fabricante,
unificar nomenclatura e excluir elementos repetidos ou redundantes,
para obter uma lista til na escolha do acelermetro. A lista final contm
226 acelermetros dos maiores fabricantes do mundo e com todas as
caractersticas anteriormente mencionadas. Assim foi possvelrealizar
uma escolha precisa do acelermetro a ser utilizado neste projeto.
Ao aplicar os filtros com todas as caractersticas da tabela 4,
foram encontrados 10 registros, dos quais quatro apresentam as maiores
faixas de frequncia at 1600 Hz, sendo do fabricante AnalogDevice
com um preo entre US$7,00 e US$ 14,00 e, um modelo da
STMicroelectronics com preo de US$ 3,34 (figura 21).
Figura 21. Lista de acelermetros logo da aplicao dos filtros de seleo da
tabela 4.

Fonte: Autor.

Uma pesquisa foi tambm realizada para a seleo domicro


controlador. Para o propsito de desenvolvimento do prottipo foi
encontrado o micro controlador Arduino Due, cuja versatilidade cumpre
todos os nveis do projeto; contm entradas para sinais digitais e
analgicos e permite conectar os perifricos disponveis no mercado. A
velocidade de trabalho do micro controlador de 84 MHz, o que
permite tambm a possibilidade de manuseio de muitas entradas, e de
ser controlado usando o software MATLAB. A figura 22 mostra uma
comparao entre diferentes micro controladores de baixo custo,

62
disponveis no mercado. Este micro controlador tem a maior
comunidade de usurios e documentao. Do ponto de vista tcnico,
possui entradas e sadas analgicas e digitais, comunicao USB, timo
para o desenvolvimento de prottipos. A figura 23mostra um exemplo
do micro controlador Arduino Due.
Figura 22. Comparao entre micro controladores.

Fonte: adaptado de Techwacth, 2013.

Figura 23. Micro controlador Arduino Due.

Fonte: Arduino (a), 2013.

Assim, os componentes iniciais do prottipo que foram


adquiridos so:

63
Acelermetro digital ADXL345 da AnalogDevice. A tabela 6
mostra as caractersticas do acelermetro MEMS.

Tabela 6. Caractersticas do acelermetro ADXL345.

Caracterstica
Faixa de frequncia
Faixa de acelerao
Protocolo de comunicao
Tipo de sada

Valor
1600 Hz (selecionvel)
16 g (selecionvel)
SPI
Digital

Fonte: AnalogDevice (b), 2013.

Placa micro controladora Arduino Due com as caractersticas


indicadas na Tabela 7.
Tabela 7. Caractersticas da placa controladora Arduino Due (ARDUINO (b),
2013).

Caracterstica
Velocidade do processador
Entradas digitais SPI
Protocolo USB

Valor
84 MHz
3
Sim

Fonte: Arduino, 2013.

Numa primeira tentativa de comunicao entre o acelermetro, o


micro controlador e o computador usando MATLAB (figura 24),
percebeu-se que as alteraes no Arduino Due (ltima verso da serie
Arduino, no mercado desde incio do ano 2013), a respeito das verses
anteriores, impediram o correto funcionamento do prottipo.

64

Figura 24. ADXL345, Arduino DUE e software IDE.

Fonte: Adaptada de AnalogDevice; Arduino; Autor, 2014.

O micro controlador Arduino Due possui um processador


diferente das verses anteriores, mesmo assim, conseguiram-se
identificar as seguintes mudanas:
Sintaxes do protocolo SPI: o novo processador tem uma sintaxe
diferente para escrever as instrues de controle do
acelermetro na escritura de registros e na leitura dos dados e,
portanto, o cdigo fornecido pelo distribuidor no compatvel
com esta verso do micro controlador. Assim, foi preciso
reescrever o cdigo na linguagem de programao da placa, at
conseguir estabelecer a comunicao entre os dois dispositivos.
Outra alterao em relao do protocolo SPI foram os pinos de
conexo, tipicamente pinos 10, 11, 12 e 13 nas verses
anteriores do Arduino, e pinos 4 (ou 10 ou 52), 74, 75 e 76 na
verso Arduino Due (ARDUINO (c), 2013).
Cdigo de controle deMATLAB desatualizado: uma das
vantagens mais importantes do micro controlador Arduino est
no fato de possuir um cdigo de comunicao serial com o
software
MATLAB,
desenvolvido
pela
prpria
Mathworks.Porm, esse cdigo tambm no compatvel com

65
Arduino Due. A assistncia tcnica informou que no seria
desenvolvida uma correo durante o prazo desta pesquisa. A
soluo encontrada consistiu em programar diretamente a
comunicao com o micro controladora partir doMATLAB
com as instrues de comunicao serial padro, disponveis na
biblioteca do software (MATLAB (a e c), 2013).
Uma vez corrigidas as mudanas no micro controlador e
programado MATLAB para calcular a FFT, e apresentar os espetros de
frequncia, foi realizado um primeiro teste com o calibrador de
vibrao;porm o espectro obtido divergiu do esperado. Com a
finalidade de ter um sistema de provas com maior flexibilidade, o
segundo teste foi realizado com um excitador de vibrao, sendo
possvel controlar a frequncia e a amplitude do sinal de entrada. Os
resultados deste segundo teste foram:
O espectro apresenta um pico de amplitude numa frequncia
que no corresponde frequncia de excitao do shaker.
Os espectros obtidos alteram a frequncia e a amplitude com a
amplitude de excitao do shaker.
O sistema leva 9 s para gerar trs espectros de frequncia.
Em algumas ocasies o software MATLAB enviou mensagem
de erro indicando no conseguir calcular a FFT com os dados
de entrada.
Do ponto de vista global, o prottipo deve criar os espectros de
frequncias em MATLAB, a partir dos dados enviados pelo
acelermetro, com o seguinte sequenciamento:
O micro controlador ativao acelermetro, e modifica os
registros dos parmetro de leitura e formatao dos dados
(frequncia de amostragem, amplitude de acelerao e bits).
L uma amostra de acelerao obtida pelo acelermetro.
Transforma os dados do acelermetro num nmero inteiro,
chamado
.
Calcula a acelerao real a partir da
e dos valores para
Offset e ScalingFactor, com a seguinte frmula fornecida pelo
fabricante (ANALOG DEVICE (b), 2013):

66

Uma vez obtido o valor da acelerao real para os trs eixos,


este so enviados atravs da porta USB onde so lidos pelo
software MATLAB.
MATLAB inicia a comunicao com a porta USB e cria trs
vetores, um para cada eixo coordenado, onde so armazenados
os dados de acelerao.
(Este ciclo repetido 3200 vezes de acordo com a frequncia de
amostragem do acelermetro e os dados necessrios para
calcular a FFT).
Calcula a FFT e cria os trs espectros de frequncia.
Foi, ento, realizada uma anlise dos cdigos de programao
para detectar as fontes de erros e quais seriam as solues. Foram
realizados mltiplos testes apresentados a seguir no Captulo 4.
Da anlise das caractersticas dos equipamentos de anlise de
vibrao disponveis no mercado e utilizados num programa de
Manuteno Preditiva, foram obtidos os parmetros fundamentais que
determinaram a escolha dos componentes do prottipo, incorporando os
acelermetros MEMS e o micro controlador de baixo custo.
No mercado existem diversos tipos e modelos de acelermetros e
micro controladores, mas cuja compatibilidade nem sempre
automtica. No caso do acelermetro digital, este um perifrico que
deve ser programado pelo micro controlador, e esta comunicao
incorpora protocolos de linguagem, conexes e conhecimentos
especficos dos registros internos do perifrico. Para este trabalho, foram
desenvolvidos e atualizados os cdigos de comunicao necessrios para
o correto funcionamento do prottipo. Mesmo assim, so requeridos
testes em todos os componentes para determinar o real comportamento e
avaliar a aplicao num programa de Manuteno Preditiva padro.

67
4. RESULTADOS DE APLICAO DO PROTTIPO
4.1. EQUIPAMENTOS DE CONTROLE
Para testar os resultados gerados pelo prottipo, estes foram
comparados com os gerados pelos equipamentos disponveis no
Laboratrio de Vibraes e Acstica (LVA), listados na tabela 8. A
figura 25 mostra estes equipamentos montados para os ensaios e a figura
26 mostra os componentes do prottipo.
Tabela 8. Caractersticas do equipamento de controle, LVA.
Acelermetro Brel&Kjaer
Modelo
Type 4520
Sensibilidade x, y, z
10,46, 10,33, 10, 99 mV/g
Faixa de frequncias
1,9 Hz 7.000 Hz
Nvel mximo de choque
5.000 g
S/N
31070
Analisador DSP Pulse, Brel&Kjaer
Modelo
Type 3050-B-6/0
Nmero de Canais
6
Faixa de frequncia
0 Hz 51.200 Hz
S/N
1582011
Amplificador Brel&Kjaer
Modelo
Type 2718
Nmero de Canais
1
Potncia de sada
75 VA
S/N
B2718E02A03k0324
Excitador de vibraoBrel&Kjaer
Modelo
Type 4809
Nmero de Canais
1
Faixa de frequncias
10 Hz 20.000 Hz
S/N
2252983

Fonte: Brel&Kjaer, 2013.

68
Figura 25. Equipamento de controle disponvel no LVA.

Fonte: Autor.
Figura 26. Acelermetro Brel&Kjaer e prottipo com micro controlador
Arduino Due e Acelermetro MEMS ADXL345.

Fonte: Autor.

4.2. TESTES INICIAIS COM O MICRO CONTROLADOR


(ARDUINO DUE)
Foram desenvolvidos cdigos de programao de testes para
verificar o desempenho de cada elemento do prottipo, um cdigo para
monitorar o tempo das diferentes instrues no micro controlador, um
gerador de sinais senoidais e um cdigo para gerar sequncias de
nmeros (cdigos apresentados no Anexo 1).

69
Clculo da frmula de acelerao real
O clculo da frmula de acelerao real foi realizado inicialmente
no micro controlador, logo foi realizado um teste de clculo da
acelerao com o MATLAB. Essa mudana diminuiu o tempo total do
processo em at 50% do tempo inicial.
Dados no vetor de MATLAB e sincronizao
O software MATLAB permite inspecionar cada um dos dados do
vetor criado para armazenar a acelerao, sendo possvel reconhecer
alguns dados, como por exemplo o lixo eletrnico. Por exemplo, o
nmero 5678 foi reconhecido como 5b78, o que obviamente com esse
dado no possvel nenhum clculo matemtico. Portanto, foi includa
uma linha de verificao de dadosno cdigo de programao para que
no caso de encontrar um dado no numrico, este no seja armazenado
no vetor.
O software l os dados da porta USB, mas no identifica a sua
origem, tipo ou formato, no reconhece qual dos trs eixos est lendo e
no tem sincronismo com o micro controlador. Somente l os dados e
armazena no vetor na sequncia de chegada na porta USB. Para
solucionar esse problema, o micro controladorfoi programado para, alm
de enviar os trs dados de acelerao, enviar tambm um dado adicional
chamado Sync no incio da sequncia. Desta forma, os dados
recebidos pelo software MATLAB possuem a seguinte configurao:
Cria uma varivel chamada de a onde armazena
temporalmente tudo o que chega na porta USB, que
transformado num formato string.
Num ciclo while, compara essa varivel at ser igual ao valor
Sync.
Quando encontra o valor Sync cria uma outra varivel
chamada de Resto onde so armazenados dois bytes que
chegam com o valor Sync.
Cria trs variveis chamadas eixoX, eixoY e eixoZ, que
armazenan os trs dados de acelerao, mas transformados num
formato double.
Verifica se os valores das variveis eixoX, eixoY e eixoZ, so
numricos, se forem todos numricos armazena os valores nos
vetores VetorX, VetorY e VetorZ, respectivamente. Se algum

70
deles no numrico, acusaum erro e inicia um novo ciclo de
leitura.
importante mencionar que foi utilizada a funo str2double
(MATLAB (b)) para transformaro stringnum dado numrico, porque
esta funo transforma tudo o que no nmero em um dado padro
chamado NAN (em ingls,Not a Number). O NAN um dado que
pode ser admitido como um valor vlido numa matriz (eixoX, por
exemplo) e, portanto, pode ser tratado numa sentena lgica de
comparao.
Para verificar a sincronizao dos dados, foi utilizado um cdigo
que gera trs sinais senoidais no micro controlador que representam os
trs eixos. As frequncias selecionadas foram de 50 Hz, 159 Hz e 100
Hz para os eixos X, Y e Z, respectivamente. No caso de obter o
sincronismo entre os sinais de entrada e espectros de frequncia, estes
devem apresentar picos nas frequncias de cada senide. A figura 27
mostra os espectros esperados para cada eixo, confirmando o
sincronismo nos elementos do prottipo.
Figura 27. Exemplo de espectros de frequncia para trs sinais senoidais,
comprovando a sincronizao dos dados nos trs eixos.

Fonte: Autor.

Verificao do tempo de envio de dados desde o micro controlador


No software MATLAB foi includo um relgio para verificar o
tempo para cada uma das leituras das amostras, utilizando as funes

71
tice toc. Foi verificado que esse tempo no uniforme e as variaes
distorcem a frequncia de amostragem (figura 28).
Figura 28. Tempo de leitura de uma sequncia de amostras com dados de dois
dgitos, ou seja de 10 at 99, pelo software MATLAB.

Fonte: Autor.

Foi tambm realizado um teste a fim de avaliar o tempo para


enviar nmeros com diferente quantidade de dgitos,sendo os
resultadosmostrados na tabela 9.
Tabela 9. Temposde envio de dados pelo micro controlador quando usados
nmeros com diferentes quantidades de dgitos.

Srie de nmeros
1-9
10 - 99
100 - 999
1.000 - 9.999
10.000 10.500
100.000 100.500
0,001
0,00001

Tempo min
(s)
3,9456*10-4
3,9448*10-4
3,9400*10-4
3,9400*10-4
3,9456*10-4
3,9696*10-4
3,9792*10-4
3,9456*10-4

Tempo mx
(s)
1,2*10-3
5,2*10-3
3,0*10-3
4,6*10-3
8,3*10-3
90,7*10-3
3,9*10-3
43,8*10-3

Fonte: Autor.

Devido s diferenas nas taxas de envio dos dados, dependendo


da quantidade de dgitos, o procedimento de envio dos dados, um de
cada vez, ou seja, l e envia, no pode mais ser utilizado e deve-se

72
modificar o cdigo no micro controlador para que leia toda a sequncia
completa de dados e envie um pacote com a quantidade de amostras
necessrias para o clculo da FFT. Assim, no cdigo, foi criado um
vetor com os valores da acelerao, cuja dimenso depende da
frequncia de amostragem selecionada e,em seguida,envia todos esses
dados de uma nica vez atravs da porta USB.
Tambm foi monitorado o tempo para o envio do pacote
completo, sendo uma frequncia de 2000 Hz a maior frequncia que
pode ser enviada em 1 s. Portanto, a frequncia de amostragem mxima
permitida no prottipo de 1600 Hz, determinada pelas frequncias de
amostragem disponveis no acelermetroMEMS. A figura 29 mostra um
sinal com erros por conter frequncias maiores que 2000 Hz.
Figura 29.Exemplo de sinal com erros na leitura da acelerao do acelermetro
MEMS.

Fonte: Autor.

Da figura 29 pode-se verificar que as variaes dos dados esto


dentro faixa de valores esperados, porm um dado estfora dessa faixa.
Destes dados pode-se supor que a fonte de erros o prprio
acelermetro MEMS, porque quem l os dados de acelerao e, pelas
caractersticas dos dados, as variaes podem ser produzidas por
variaes na frequncia de amostragem no acelermetro.
4.3. TESTES
COM
ACELERMETRO

MICRO

CONTROLADOR

Teste de sincronismo
O software IDE do Arduino DUE, permite monitorar o que est
sendo enviado atravs da porta USB e, portanto, possvel analisar os
dados fornecidos pelo acelermetro. Nos primeiros testes foi possvel
determinar que, dependendo da frequncia de amostragem,existiam

73
dados repetidos entre amostras consecutivas e,portanto, conclui-se que
no existia sincronismo entre a frequncia de amostragem do
acelermetro e a velocidade de leitura do micro controlador na porta
digital SPI.
A presena de dados repetidos indica que o micro controlador l
com velocidade maior do que o acelermetro envia as amostras. A
soluo para este problema consistiu em incluir no cdigo do micro
controlador uma linha de tempo de pausa entre uma leitura e a prxima.
A figura 30 mostra um sinal com exemplos de dados consecutivos
repetidos em crculos, o qual indicador da falta de sincronismo entre o
acelermetro e o micro controlador.
Figura 30.Exemplo de sinal senoidal com dados consecutivos repetidos lidos
desde o micro controlador.

Fonte: Autor.

Para determinar o tempo exato desta pausa foi utilizado o


seguinte procedimento: foi gerada uma vibrao senoidal no excitador
de vibrao com uma frequncia igual metade da frequncia de
amostragem do acelermetro. Neste caso, o vetor deve conter dois dados
diferentes, um para o valor positivo e um para o valor negativo da
senide, mas devem ser os mesmos valores para todos os ciclos no
tempo de leitura. O grfico resultante destes dados deve ser um
retngulo perfeito quando considerados mltiplos ciclos.
Na anlise do grfico, alm de conter dados repetidos, o vetor
continha mltiplos dados diferentes, mostrados na figura 31, o que
significa que a frequncia de amostragem no coincide com a informada

74
no datasheet do acelermetro. Foram realizados testes para 400 Hz, 800
Hz e 1600 Hze em todos foi obtido o mesmo resultado. Decidiu-se,
ento, realizar testes de tentativa e erro para determinar a frequncia de
amostragem real do acelermetro, at encontrar a frequncia que
pudesse reproduzir o retngulo perfeito.
Figura 31. Exemplo de grfico gerado pelo prottipo ao ler um sinal senoidal
com frequncia igual a metade da frequncia de amostragem.

Fonte: Autor.

Dos testes realizados, todos resultaram num aumento ou


diminuio dos valores gerados pelo acelermetro, descrevendo curvas
que variam a forma com o tempo (figuras 32). O significado disso s
pode ser explicado considerando que a frequncia de amostragem no
fixa. Para dar continuidade a esta investigao, foram selecionadas as
frequncias de amostragem apresentadas na tabela 10.
Tabela 10. Frequncias de amostragem do acelermetro.

Frequncia de amostragem
indicada no datasheet (Hz)
400
800
1600
Fonte: Autor.

Frequncia de amostragem
aproximada (Hz)
390
780
1560

75
Figura 32. Exemplo de frequncia de amostragem de teste 391 Hz, 7.500
amostras.

Fonte: Autor.

Uma vez determinada a frequncia de amostragem, possvel


determinar o tempo de pausa entre as leituras dos dados na porta SPI.
Nos testes, novamente de tentativa e erro, foram obtidosos valores de
tempo para cada frequncia de amostragem. Estes valores esto
apresentados na tabela 14.
Tabela 11. Tempo de pausa entre as leituras da porta SPI.

Frequncia de
amostragem (Hz)
400 (390)
800 (780)
1600 (1560)

Tempo de pausa ( s)
2540
1260
617

Fonte: Autor.

O fato da frequncia de amostragem no ser fixa apresenta um obstculo


importante na determinao do tempo de sincronismo necessrio nas
leituras dos dados do acelermetro MEMS. Essa variao na frequncia
de amostragem pode ser explicada por deficincias na qualidade dos
componentes internos, tendo em vista que se trata de um acelermetro
MEMS, que um elemento de baixo custo.
Testes de Offset e ScalingFactor (compensador e fator de escala)
Offset e ScalingFactor so parmetros fornecidos pelo fabricante
do acelermetro, necessrios no clculo da acelerao real, segundo a
equao (2).
Acelermetros so estruturas mecnicas que contm elementos
que so livres para se moverem. Estas peas mveis podem ser muito

76
sensveis s tenses mecnicas, muito mais do que a eletrnica de estado
slido. O 0 g bias ou Offset uma caracterstica importante do
acelermetro porque define a linha de base para medir a acelerao.
Tenses adicionais podem ser aplicadas durante a montagem de um
sistema contendo o acelermetro. Estas tenses podem ser geradas, mas
no esto limitadas solda do componente, estresse na placa durante a
montagem e aplicao de quaisquer compostos sobre, ou ao longo, do
componente. Se a calibrao for considerada necessria recomendvel
que a calibrao seja executada aps a montagem do sistema para
compensar estes efeitos.
O fator de escala necessrio, pois os dados de acelerao
dependem da quantidade de bits utilizados pelo acelermetro MEMS,
que no caso do ADXL345 selecionvel. A figura 33 mostra
graficamente o efeito destes dois parmetros.
Figura 33. Efeito do Offset e Scaling Factor.

Fonte: Autor.

Foram realizados testes para determinar o valor real desses


parmetros. No caso do compensador (Offset) pode-se observar na
figura 34 que a mdia dos dados de uma senide. No caso de um sinal
discreto, quanto maior a quantidade de amostras consideradas, mais
prximo do valor real a mdia.
Atravs dos testes realizados foi comprovado que o compensador
no um parmetro fixo e varia para cada medio, independente da
frequncia do sinal. Apresenta-se o grfico (figura 34) obtido utilizando
o mtodo de calibrao recomendado pelo fabricante, que consiste em
colocar o acelermetro em um campo de acelerao conhecido, ou 1 g
em Z, e 0 g em X e Y. Neste caso, o compensador pode ser calculado
como a mdia de vrias medies.

77
Figura 34. Offset medido com 1g em Z, 0g em X e Y, 5000 amostras.

Fonte: Autor.

Um teste adicional foi realizado para determinar se a mdia


anterior alterada quando se aplica uma acelerao senoidal. Foi
escolhida uma frequncia de amostragem de 1560 Hz e aceleraes
senoidais distribudas a cada 50 Hz. O resultado mostra uma grande
variao no valor docompensador para as diferentes frequncias de
anlise (figura 35).
Figura 35. Valor do Offset medido em senides com diferentes frequncias no
eixo Z.

Offset medido no eixo Z


400,0

300,0
Offset (LSB)

200,0
100,0
0,0
50

100 150 200 250 300 350 400 450 500 550 600 650 700 750

Frequncia (Hz)

Fonte: Autor.

Devido grande variao dos valores registrados do


compensador e a impossibilidade de obter um valor representativo,
foram escolhidos os seguintes valores para o clculo da acelerao real,

78
sendo eles uma aproximao do valor encontrado com o mtodo do
fabricante (tabela 12).
Tabela 12. Valores escolhidos para Offset nos trs eixos coordenados.

Eixo
X
Y
Z

Offset (LSB)
20
- 27
240

Fonte: Autor.

Para verificar o valor do fator de escala(ScalingFactor) e


determinar se existe alguma variao, considera-se a expresso:

ou

O termo
tem um valor mximo de
0,99, e pode ser considerado desprezvel para calcular o fator de escala:

ou

O valor da acelerao real


pode ser obtido com medies
do equipamento de medio de controle e o valor
atravs de
uma medio com o prottipo. A figura 36 mostra os resultados do
clculo para o eixo X. Percebe-se que no caso deste parmetro, tambm
no possvel encontrar um valor fixo.

79
Figura 36. Valores do ScalingFactorcalculado para diferentes frequncias no
eixo X.

Fonte: Autor.

Os valores utilizados para ofator de escala so as mdias destes


valores para cada frequncia at 500 Hz (tabela 13).

Tabela 13. ScalingFactor nos trs eixos coordenados.

Eixo
X
Y
Z

ScalingFactor (g/LSB)
0,00305
0,00303
0,00326

Fonte: Autor.

Com estes valores a frmula de clculo para a acelerao real de


cada eixo fica:

O software MATLAB foi programado para obter os espectros de


frequncia a partir da frmula anterior aplicando uma janela Hanning,

80
considerando que o sinal de entrada fsica um sinal senoidal gerado
pelo excitador de vibrao. De acordo com a frequncia de amostragem
de 1560 Hz, no acelermetro, foi calculada a FFT com 780 linhas.
Assim, os testes seguintes foram realizados para verificar a estabilidade
do sistema e a resposta de frequncia comparando os resultados das
medies do prottipo com o sistema de medio disponvel no LVA
(figura 37). Tambm foram realizadas medies em um compressor e
obtida uma amostra de uma medio real em campo.
Figura 37. Montagem dos acelermetros no excitador de vibrao.

Fonte: Autor.

Os Anexos 2 e 3 apresentam os cdigos finais de programao do


micro controlador e MATLAB.
4.4. TESTES USANDO O PROTTIPO COMPLETO
Para a verificao da amplitude considerando diferentes
frequncias de amostragem,foram plotados os valores de amplitude de
uma senide quando utilizadas trs frequncias de amostragem, 390 Hz,
780 Hz e 1560 Hz na digitalizao do sinal. Foram geradas vibraes
senoidais distribudas a cada 25 Hz, em cada frequncia de amostragem
de estudo e comparados os valores. Pode-se observar que a amplitude
varia a partir de 75 Hz (figura 38).
A variao nas leituras de acelerao, dependendo da frequncia
de amostragem, apresenta uma dificuldade no caso de ser necessrio

81
obter o valor verdadeiro da amplitude de acelerao. Na impossibilidade
de comparar estes valores com um sistema de referncia, no possvel
determinar a validade do valor gerado pelo prottipo.
Figura 38. Amplitude gerada pelo prottipo, para diferentes frequncias de
amostragem.

Fonte: Autor.

Tambm foram comparadas medies realizadas em dois dias


diferentes, para determinar a estabilidade do sistema ao longo do tempo.
Na figura 39 possvel observar que a partir de 500 Hz foram
encontrados valores diferentes de acelerao.
Figura 39. Medies realizadas pelo prottipo em dois dias diferentes.

Fonte: Autor.

82
Neste caso, a faixa de frequncia que poderia ser considerada til
(sem considerar as variaes por frequncia de amostragem) limitada
pelas variaes nas leituras de acelerao. Da figura 39 possvel
determinar uma frequncia mxima de 500 Hz, sem variaes no tempo.
Teste de linearidade da amplitude
Para avaliar se o sistema de medio disponvel no LVA e o
prottipo apresentam linearidade na amplitude, foram realizadas
medies para trs valores diferentes de tenso do amplificador (figuras
40 e 41) e calculada a proporo entre os valores de amplitude para cada
frequncia (figuras 42 e 43). Foi utilizada uma frequncia de
amostragem de 390 Hz e as frequncias das senides foram distribudas
a cada 10 Hz. Os valores de tenso foram 0,4 V, 0,7 V e 1 V.
Figura 40. Resposta de frequncia do sistema disponvel no LVA ao manter a
tenso do amplificador constante, para trs valores diferentes de tenso.

Fonte: Autor.

83
Figura 41. Resposta de frequncia do prottipo ao manter a tenso do
amplificador constante, para trs valores diferentes de tenso.

Fonte: Autor.

Caso o sistema apresente linearidade, a proporo da amplitude


deve manter-se constante, com independncia da frequncia do sinal de
entrada, e o grfico para diferentes frequncias deve gerar uma linha
horizontal, paralela ao eixo x das frequncias.Caso o grfico no
coincida com essas caractersticas, tem-se que o sistema no linear
(ver figuras 42 e 43).
Figura 42. Avaliao da linearidade do sistema de medio disponvel no LVA.

Fonte: Autor.

84
Figura 43. Avaliao da linearidade do prottipo.

Fonte: Autor.

Com relao ao sistema de mediodisponvel no LVA,pode-se


observar da figura 42 que a linearidade do sistema apresenta variaes
mnimas, conforme esperado. No caso do prottipo, este apresenta
linearidade quando comparadas as amplitudes geradas por 0,7V e 1 V,
mas ao serem comparadas essas mesmas amplitudes com aquelas
geradas por umatenso de 0,4 V, o grfico j no mais constante,
apresentado um comportamento no linear (figura 43). Este
comportamento apresenta-se numa faixa de acelerao menor que 3 g, e
portanto, tem-se um limite de validade das medies quando medidas
vibraes de mquinas e equipamentos nesta faixa de acelerao.
Comparao dos resultados do prottipo e o sistema de medio
do LVA
Um teste adicional foi realizado no LVA para comparar as
amplitudes entre o prottipo e um sistema de medio disponvel no
laboratrio, com uma frequncia de amostragem de 1560 Hz. Da figura
45 pode-se observar que o prottipo apresenta diferentes valores de
resposta quando comparado com os valores gerados pelo equipamento
de medio disponvel no LVA.
Foi calculada a porcentagem do erro a fim de avaliar os valores
de acelerao gerados pelo prottipo, quando comparados com o sistema
de medio do laboratrio.

85
Figura 44. Comparao da amplitude de acelerao, Prottipo v/s sistema do
LVA.

Fonte: Autor.
Figura 45. Porcentagem de erro da diferena de leitura do prottipo v/s sistema
disponvel no LVA.

Fonte: Autor.

Da figura 45 pode-se observar que as variaes das diferenas de


leitura entre o prottipo e o sistema disponvel no LVA esto numa
faixa entre 20% e -40%.

86
Teste de vibrao de um compressor de nitrognio
Foi realizada uma medio referencial em um compressor de
nitrognio nas instalaes do Labelectron da Fundao Certi, e
comparados os espectros de frequncia do sistema de medio
Sinus(figura 46) e do prottipo (figura 47). Conforme esperado os
espectros mostram diferenas nas leituras de amplitude da acelerao.
Figura 46. Espectro de compressor de nitrognio obtido com equipamento
Sinus.

Fonte: Autor.

Foram realizados diversos testes a fim de avaliar o


comportamento do prottipo. Este apresenta mltiplas variaes em
relao ao sistema de medio do LVA e mudanas significativas dentro
das prprias caractersticas do acelermetro MEMS e do micro
controlador. Todas estas variaes tm uma influncia nos resultados
finais das leituras da acelerao do prottipo, sendo estas divergentes
dos valores verdadeiros gerados pelo sistema disponvel no laboratrio.
O tempo de leitura de dados e o tempo de envio de dados
impossibilitam o desenvolvimento de um sistema de medio em tempo
real, mas poderia ser considerado num sistema que no seja dependente
desta varivel, por exemplo, num sistema de monitoramento
programado, onde o comportamento da mquina seja avaliado em
intervalos de tempo bem maiores.

87
Figura 47. Espectro de compressor de nitrognio obtido com prottipo.

Fonte: Autor.

As variaes da frequncia de amostragem e dos parmetros do


acelermetro MEMS, geram incertezas nos valores de amplitude da
acelerao gerados no prottipo e comprometida a viabilidade de
realizar uma anlise para Manuteno Preditiva, sendo este dependente
das comparaes com tabelas de severidade baseadas justamente em
dados precisos de acelerao ou velocidade.
A linearidade do prottipo tambm apresenta dificuldades para
determinar a sua utilidade, pois a avaliao de mquinas depende da
assinatura de vibrao inicial. Nesta faixa de acelerao o prottipo
apresenta um comportamento no linear e, consequentemente, no pode
ser utilizado, ou pelo menos deve-se pensar em realizar algum tipo de
compensao, ou ajuste, dos valores gerados nas medies.

88
5. CONCLUSES
No presente trabalho foi desenvolvido um prottipo de analisador
de sinais de baixo custo para uso em Manuteno Preditiva. A
Manuteno Preditiva baseada em anlise de vibrao uma tcnica de
anlise de falha para mquinas rotativas, que tipicamente onerosa e
exclusiva para processos que podem incorporar este tipo de sistema e
pessoal treinado em vibraes e processamento digital de sinais. Porm,
com o advento da nova tecnologia MEMS com acelermetros digitais
possvel desenvolver equipamentos com custo menor, possibilitando que
este tipo de anlise seja aplicada a uma faixa maior de aplicaes.
Os critrios bsicos para um programa de Manuteno Preditiva
baseado em anlise de vibrao determinaram as caractersticas iniciais
a serem consideradas na definio dos componentes do prottipo. Estes
critrios consideram a faixa de frequncia das falhas mais comuns na
indstria e as amplitudes de vibrao que determinam os nveis de
severidade de falha, nos trs eixos coordenados.
O desenvolvimento deste prottipo apresentou uma srie de
desafios j que, do ponto de vista tcnico, utiliza diversas outras
tecnologias na programao dos parmetros, integrao de circuitos
eletrnicos, comunicao entre dispositivos e software de anlise,
mantendo o foco na aplicao em Manuteno Preditiva como objetivo
final.
O acelermetro MEMS um sensor do tipo capacitivo com
aplicaes nas reas onde normalmente so usados acelermetros do
tipo piezo-eltrico. Apresenta um custo consideravelmente menor,
incorporando no prprio chip elementos de condicionamento e
digitalizao do sinal, fornecendo os dados num formato de sada
digital. Assim, possvel comunicar este dispositivo com o micro
controlador atravs do protocolo de comunicao SPI e modificar os
registros que contm os parmetros de funcionamento, tais como
frequncia de amostragem, faixa de acelerao e quantidade de bits,
entre outras.
Foram desenvolvidos os cdigos que permitiam a comunicao
entre todos os elementos do prottipo e tambm cdigos de testes de
gerao de sinais senoidais, sries de dados e um relgio controlador de
tempo de instrues. Com estes cdigos foi possvel determinar o
comportamento dos dispositivos, acelermetro e micro controlador, e
verificar os parmetros necessrios para a interpretao dos dados
gerados pelo acelermetro. Foi testado cada um dos passos na
comunicao SPI entre o acelermetro e o micro controlador, e a

89
comunicao USB entre este e o software MATLAB, registrando os
resultados.
Desta forma foram determinados os valores dos parmetros
necessrios para o clculo da acelerao real nos trs eixos e a criao
dos vetores a partir dos quais foram calculados os espectros de
frequncia em MATLAB.
Considerando todas as anlises desta pesquisa, pode-se concluir
que o prottipo apresenta diferenas significativas nas leituras de
acelerao, quando comparadas com as geradas por um equipamento de
medio do laboratrio. Essas diferenas tm origem nas variaes das
caractersticas do prottipo que no podem ser controladas, por
exemplo, a variao na frequncia de amostragem do acelermetro, ou
as variaes de tempo de envio das amostras a partir do micro
controlador.

5.1. PROPOSTAS PARA TRABALHOS FUTUROS


O presente trabalho teve por objetivo principal o
desenvolvimento de um analisador de vibrao de baixo custo,
utilizando a tecnologia MEMS. Foram desenvolvidos cdigos de
programao e testados os elementos do prottipo, que podem dar
origem a uma serie de outras aplicaes destas tecnologias:
Desenvolvimento de bancadas ou prottipos com tecnologia
sem fio, para realizar medies em condies de insegurana,
comumente encontrada na indstria.
Desenvolvimento de montagem para tecnologia de
acelermetros MEMS. Considerando que o acelermetro
MEMS montado numa placa eletrnica, necessita-se
compatibilizar com aplicaes em mquinas.
Incorporar avanos na comunicao SPI paralongas distncias.
O protocolo SPI desenvolvido para aplicaes de distncias
curtas.
Os acelermetros so um exemplo de tecnologia MEMS, mas
existem outros transdutores, por exemplo, microfones MEMS,
que podem ser avaliados em bancadas de baixo custo.

90
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em: 13 nov. 2013.

97
ANEXO 1
Cdigos de testes do Arduino Due

Cdigo gerador de sinais senoidais no Arduino Due


floatsinVal[3];
void setup() {
Serial.begin(115200);
}
void loop() {
for (int x=0; x<400; x++)
{
Serial.println("Sync");
sinVal[0] = sin(159.2*2*3.1415*x*0.0025); // convertegrausa radianos e
obtm o valor do
seno
sinVal[1] = sin(100*2*3.1415*x*0.0025); // convertegrausa radianos e
obtm o valor do seno
sinVal[2] = sin(50*2*3.1415*x*0.0025); // convertegrausa radianos e
obtm o valor do seno
Serial.println(sinVal[0]);
Serial.println(sinVal[1]);
Serial.println(sinVal[2]);
}
}

98
Cdigo de relgio em Arduino Due
//declare aqui as variaveis do programa
int initial;
int final;
void setup()
{
Serial.begin(115200); //instruo que inicia a comunicao serial
}

void loop()
{
//contador com ciclo for

for(int i = 0; i < 10; i++) //ciclo for con contador i


{
initial = micros();
//aqui as instruces que deseja calcular o tempo;
//o ciclo for permite calcular o tempo de 10 secuencias
final = micros();
Serial.println(final-initial);
}
}

99
Cdigo gerador de sequencia de nmeros no Arduino Due

void setup() {
Serial.begin(115200);
}
void loop() {
for (int x=10; x<99; x++)
{
Serial.println(x);
}
}

100
ANEXO 2
Cdigo de programao do Arduino Due

// Programa de aquisio de dados do acelermetro ADXL345


// Pode definir os pins 4, 10 e 52 para aproveitar as vantagens estendidas
do
// protocolo SPI do Arduino Due nesses pins s
// Define o pin 52 do Arduino para a conexo com o acelermetro, nome
da variavel "ACCEL_SS_PIN"
#define ACCEL_SS_PIN52
// Define as constantes de leitura/escritura nos modos multi/single do
acelermetro
// que sero usadas na funo SPI.transfer
// ver datasheet
#define READ 0x80
#define WRITE 0x00
#define MULTI 0x40
#define SINGLE 0x00
// O acelermetro envia os dados no formato 2s complement, por tanto
vai se precisar um arranjo
// de 6 elementos onde cada valor da acelerao utiliza 2 elementos por
cada eixo coordenado, logo
// deve-se combinar esse 2 dados para obter o valor bruto da acelerao,
por tanto cri-se outro arranjo
// de 3 elementos cada um representando um eixo XYZ
uint8_t acel_buffer[6];
int16_t acel_memsX[1560];
int16_t acel_memsY[1560];
int16_t acel_memsZ[1560];
#include <SPI.h> // inclui a biblioteca SPI

101
void setup() {
// Abre o porto serial de visualizao de dados
Serial.begin(115200);
// Inicia o SPI no pin 52
SPI.begin(ACCEL_SS_PIN);
// Determina o funcionamento geral do acelermetro no protocolo SPI
SPI.setBitOrder(ACCEL_SS_PIN, MSBFIRST);
SPI.setDataMode(ACCEL_SS_PIN, SPI_MODE3);
//SPI.setClockDivider(ACCEL_SS_PIN, 255); // ADXL345 max
clock speed is 5 MHz

// Muda os registros do acelermetro


// Registro 0x2C: BW_RATE
// Linhas de codigo para mudar a frequencia de amostragem (1560
Hz 0x0F,
// frequencia mxima 1560/2=780 Hz)
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, WRITE | SINGLE | 0x2C,
SPI_CONTINUE);
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x0e);
// Registro 0x31: DATA_FORMAT
// linhas de codigo para colocar o acelermetro no modo
fullresolution (0x08)
// numa faixa de aceleraa de +/- 16 g (0x03)
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, WRITE | SINGLE | 0x31,
SPI_CONTINUE);
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x08 | 0x03);
// Registro 0x2D: POWER_CTL
// linhas de codigo que coloca o acelermetro em
measurementmode (0x08)

102

SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, WRITE | SINGLE | 0x2D,


SPI_CONTINUE);
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x08);
// Verifica a conexo do acelermetro
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, READ | SINGLE | 0x00,
SPI_CONTINUE);
uint8_t acel_name = SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x00);
delay(1000);
}
void loop() {
// ciclo for de leitura de 6 dados
for(int j = 0; j < 1560; j++) //Ciclo for de leitura de dados
{
SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, READ | MULTI | 0x32,
SPI_CONTINUE);
for(inti = 0; i< 5; i++)
{
acel_buffer[i] = SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x00,
SPI_CONTINUE);
}
acel_buffer[5] = SPI.transfer(ACCEL_SS_PIN, 0x00);
// tcnica 2s complemente
//
_________ MSB _____________ LSB _____
acel_memsX[j] = (acel_buffer[1] << 8) | acel_buffer[0];
acel_memsY[j] = (acel_buffer[3] << 8) | acel_buffer[2];
acel_memsZ[j] = (acel_buffer[5] << 8) | acel_buffer[4];
delayMicroseconds(617); // tempo de sincronizao com o acelermetro
}

103

// Ciclo for de impreso dos dados no porto serial


for(int m = 0; m < 1560; m++)
{
Serial.println("Sync");
Serial.println(acel_memsX[m]);
Serial.println(acel_memsY[m]);
Serial.println(acel_memsZ[m]);
}
delayMicroseconds(10); // tempo de espera em microsegundos para
estabilizar o sistema
}

104
ANEXO 3
Cdigo de programao de Matlab

clc;
clearall

delete(instrfind({'Port'},{'COM5'})); %elimina qualquer atividade da


porta serial
s = serial('COM5','BaudRate',115200); %configuraao porta serial
set(s, 'terminator', 'LF'); % define o terminator paraprintln
warning('off','MATLAB:serial:fscanf:unsuccessfulRead');
fopen(s);

%abertura do porto serial

contador_errores=0;
porta serial

%Contador de erros ou valores no validos na

%prompt = 'Quantos espectros ';


%espnum = input(prompt);
for n=1:3;

%espnum;

%ciclo for dos grafico de espectros

contador_amostras=1; %Declarao do contador amostras


amostras=1560;
%Declarao do numero de amostras
tic%Contador de tempo do ciclo while
whilecontador_amostras<= amostras;

%ciclo de leitura de dados

a=fscanf(s,'%s',5); %varivel de sincronizaao


while ~strcmp(a,'Sync');
a=fscanf(s,'%s',5);
end
resto=fscanf(s,'%s',2);

105
eixoX = str2double(fscanf(s));
formato str
eixoY = str2double(fscanf(s));
formato str
eixoZ = str2double(fscanf(s));
formato str

%valor da aceleraao no eixo X no


%valor da aceleraao no eixo Y no
%valor da aceleraao no eixo Z no

if ~isnan(eixoX) && ~isnan(eixoY) && ~isnan(eixoZ); %ciclo if que


garante o dado valido nos VetorXYZ
VetorX(contador_amostras)=eixoX;
VetorY(contador_amostras)=eixoY;
VetorZ(contador_amostras)=eixoZ;
contador_amostras=contador_amostras +1;
else
contador_errores=contador_errores+1;
end
% tempo(contador_amostras)=toc ;
end
tempo(n)=toc
VX=(VetorX-20).*0.00305;
acelerometro
VY=(VetorY+27).*0.00303;
VZ=(VetorZ-240).*0.00326;
X=VX'.*hann(amostras);
Y=VY'.*hann(amostras);
Z=VZ'.*hann(amostras);

%Escalamento e Offset do

%Aplicacao da janela Hanning

%NFFT = amostras;
% Calcula o nmero de linhas da FFT ao
aproximar na potencia de 2 mais proxima
FFTX = fft(X)/amostras*2; % Calcula FFT de VetorX outra
formula FFTX = fft(X,NFFT)/L*2;
FFTY = fft(Y)/amostras*2; % Calcula FFT de VetorY
FFTZ = fft(Z)/amostras*2; % Calcula FFT de VetorZ
f = amostras/2*linspace(0,1,amostras/2+1); %define a faixa de
frequencia 0 at 1560 outra formula f = Fs/2*linspace(0,1,NFFT/2+1);

106
ESPX(n,:)=2*abs(FFTX(1:amostras/2+1))';
frequencia
ESPY(n,:)=2*abs(FFTY(1:amostras/2+1))';
ESPZ(n,:)=2*abs(FFTZ(1:amostras/2+1))';
MediaESPX=mean(ESPX);
MediaESPY=mean(ESPY);
MediaESPZ=mean(ESPZ);

%calculo de espectros de

%Calculo de medias dos espectros

% Plot Z single-sided espectro.


subplot (2,1,1);
plot(f,ESPZ(n,:));
title('Single-Sided Amplitude Spectrum of z(t)')
xlabel('Frequency (Hz)')
% Plot Z single-sided espectro Media.
subplot (2,1,2);
plot(f,MediaESPZ);
title('Single-Sided Amplitude Spectrum of z(t) MEDIA')
xlabel('Frequency (Hz)')
ylabel('|Z(f)|')
drawnow;
end
fclose(s);

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