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ENIT 2010-2011

Matrise statistique des processus


A. Ben Hadj Salem-Mhamdia

Cours de Management Total de la Qualit 1

MAITRISE STATISTIQUE DES


PROCESSUS

La MSP (Matrise Statistique des Processus) est


un lment d'assurance qualit. Son objectif
est de matriser un processus mesurable par
suivi graphique temporel bas sur des
fondements statistiques.

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Matrise Statistique du Processus
Processus:
Un processus est un systme qui combine
plusieurs lments agissant en mme qualit
pour l obtention d une production de biens ou
de services
Machine Matire Mthode

Produit

Main duvre Milieu

Cours de Management Total de la Qualit 3

Pourquoi une MSP


Matriser lensemble des facteurs composant un
processus de fabrication pour en amliorer la
performance globale relative,
Amliorer la qualit du produit par la suppression de
toutes les causes assignables puis par la rduction des
causes alatoires,
Augmenter la performance et la stabilit des
machines,
Assurer que la qualit du produit est conforme aux
spcifications techniques, et que cette qualit est
reproductible dans le temps,
Surveiller et amliorer le processus et donc le produit.
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Phnomnes influenant la
qualit du produit
Sources de variabilit :
Les causes dites alatoires ou non assignables :
lensemble de petites variations caractrises par leur
grand nombre et de leur influence faible. Ses causes
sont difficilement dissociables et incontrlables.
Les causes dites non alatoires ou assignables : sont
peu nombreuses, ce sont des causes qui peuvent tre
identifis et sur lesquelles on peut agir. Elles
provoquent des variations irrgulires et importantes
sur le processus et peuvent provoquer la fabrication de
produits non-conformes.

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Concepts de la MSP
Lanalyse de capabilit:
Permet de dfinir si le processus de fabrication est
apte fournir un produit avec le niveau de qualit
requis
Consiste comparer la qualit dune production
sur une priode donne, par rapport un objectif
donn.
Le pilotage par carte de contrle :
Pour maintenir et amliorer la capabilit dun
processus.

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Outils ncessaires la MSP

Lhistogramme
La capabilit
La carte de contrle

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Lhistogramme

Lhistogramme est obtenu en


reprsentant en abscisse les bornes
infrieurs et suprieurs de chaque classe et
en ordonne la frquence relative
correspondante la classe

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Lhistogramme
Collecter les donnes ncessaires
Calcul de ltendue
R= Valeur maximale valeur minimale

Dterminer le nombre provisoire Kde classes


Peut tre estim partir de n . n est leffectif
total observ
Dterminer la largeur h des classes
On calcule h la largeur provisoire des classes

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Lhistogramme
h=R
k
h est la valeur arrondie de h lunit de
mesure hh
Dtermination du nombres des classes k
k =R
h
On choisit pour k la plus proche valeur entire
suprieur R/h
Dtermination des bornes des classes
B0: la borne infrieure de la premire classe

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Lhistogramme
B0= Valeur minimale prcision de mesure (C)/2
Avec C= 1 si on na pas de chiffres aprs la virgule
= 0.1 si on a un seul chiffre aprs la virgule
= 0.01 si on a deux chiffres aprs la virgule
= etc
La borne suprieure de la classe i est Bi
Bi=B0+i.h avec i=1,.,k
Calculer la valeur centrale de chaque classe

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Lhistogramme

Le groupement des classes


On attribue au centre de classe leffectif de la classe
Leffectif de classe ou frquence absolue :sobtient
en comptant le nombre de valeurs contenues dans
chaque classe
Calculer la frquence relative
Rapport entre leffectif dune classe et leffectif de
la srie tudie
fi= ni
N
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Notion de capabilit:Capabilit
Machine
Mesurer laptitude de la machine fabriquer des
produits conformes
La capabilit machine est mesure partir de 100
pices produites dans un temps relativement court
On peut considrer que lon est toujours sur le mme
lot de matires premires, que lenvironnement reste
inchang, que les pices sont produites par le mme
oprateur qui utilise les mmes mthodes de travail

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Notion de capabilit:Capabilit
Machine
Indice de capabilit machine
Cm= Ls Li
6S
Ls : limite suprieure, Li : limite infrieure, S: cart-
type
Coefficient de capabilit machine
x : la moyenne des valeurs observes, S : lcart type

Cmk= min [Ls -x ,x-Li ]


3S 3S
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Capabilit processus: Indice de
capabilit processus
Permet de savoir si on est capable de livrer le produit
dans la fourchette demande et de prouver, par
l'emploi d'une politique de qualit, l'amlioration des
caractristiques du produit livr
Ls Li
C p =
6S
Ls : limite suprieure, Li : limite infrieure, S:
cart-type

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Capabilit processus

Un processus est dit capable sil :


Suit une loi normale ;
Est bien dispers ;
Est centr.

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Capabilit processus: Coefficient de
capabilit processus

C pk = inf( Ls x , x Li )
3S 3S
X :la moyenne des valeurs observes
S : lcart type
un contrle par attributs

avec Ndm : Nombre de dfauts maximal autoris en %


par le client et p : proportion de dfauts

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Analyse de la capabilit dun processus


outils Histogramme Droite de Henry Numrique
Critres
Normalit 140
120 Test de
normalit dune
100
80
60

visuel distribution:
40
20
0
0
Droite de henry
1 2 3 4 5
Test de 2
Dispersion Comparer la Cp 1,33
distance d % la
tolrance
Comparer la largeur de
lhistogramme % la
tolrance
Centrage Comparer la position du Comparer labscisse Comparer
mode % au milieu de la 50% % milieu de la Cp = Cpk
tolrance tolrance 1,33

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DISTRIBUTION NORMALE
99,8%

95%

68%

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LOI NORMALE

f(x)= 1 e 2
(x)

2
= cart type de la population
= moyenne de la population

Cours de Management Total de la Qualit 20


Analyse par la droite de Henry
Les valeurs centrales des classes sont portes
en abscisse. Les valeurs des frquences relatives
cumules sont portes en ordonne.
Si on trace la fonction de rpartition dune loi
normale sur un graphe ayant pour ordonne une
chelle dite gaussienne lon obtient une droite.

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Analyse par la droite de Henry


La droite de Henry permet de dterminer x
et S :
Le 50% des frquences relatives cumules
correspond x
Le 84% des frquences relatives cumules
correspond X + S
La diffrence entre les valeurs des frontires
suprieures de la premire et la dernire classe
correspond 6 S

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Le test de 2
Le test de 2 implique lusage dune table de la loi
normale cumule F(U), permettant pour chaque limite
de classe ei, le calcul de F(Ui) avec

Ui= (ei - X)
S
Mthodologie de ralisation dun test de Khi-deux
Rpartir les observations en classes de limites -, e1,.,ek,+, soit
k+1 classes
Calculer la moyenne x et lcart-type S
Calculer Ui= (ei - X) ei tant la valeur de la limite suprieure de
la classe i S

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Le test de 2
Rechercher F(Ui) dans la table de la loi Normale rduite

Fixer le risque de rejeter une hypothse vraie (de manire

courante, on prend 5%).

Cours de Management Total de la Qualit 24


Le test de 2
Lire le 2 thorique correspondant au risque retenu et au
nombre de degr de libert.
Comparer le 2 calcul au 2 thorique. Si le 2 calcul est
infrieur au 2 thorique, lhypothse de la normalit de la
distribution peut tre admise. Dans le cas contraire, lhypothse
sera rejete.

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Analyse de dispersion: Analyse par


lhistogramme

-la dispersion est suprieure -la dispersion est infrieure la


la tolrance. tolrance.

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Analyse de centrage: Analyse par
lhistogramme

-Le mode est situ vers le milieu


-Le mode est dcentre.
de lintervalle de tolrance.

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Le pilotage par carte de contrle


Permet damliorer de manire significative la
capabilit du processus pour deux raisons:
Une augmentation de la stabilit du processus. Les
cartes de contrles servent analyser et grer les
processus en sparant les causes alatoires des
causes assignables. Il en rsulte une augmentation
du rendement de stabilit;
Lapplication dune politique consistant viser
une valeur cible permet daugmenter le rendement
de rglage.

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Le pilotage par carte de contrle
Les cartes de contrle peuvent tre utilises pour
des donnes mesurables ou pour des attributs.
Donnes mesurables: les valeurs obtenues par mesurage
et enregistrement de la grandeur numrique dun
caractre pour chaque individu du groupe considr.
Les attributs reprsentent des observations obtenues
par notation de la prsence (ou de labsence) de certains
caractres ou phnomnes pour chaque individu du
groupe considr, puis comptage du nombre
dindividus qui possdent (ou ne possdent pas) ce
caractre.

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Limites de contrle
Les limites de contrle sont utilises comme critres
davertissement sur la ncessit dune intervention.
Les limites de contrle sont parfois alors appeles
limites daction . Laction entreprendre peut
prendre diverses formes :
Recherche de la (des) source(s) dune cause
assignable
Rglage du processus ;ou
Arrt du processus.

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LES CARTES DE CONTROLE
Moyenne ou tendue

LCS

LC

LCI
Temps,N chantillon
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Carte de contrle aux mesures


Le contrle par mesures seffectue en gnral laide
de deux types diffrents de cartes de contrle. Le
premier concerne le contrle de la tendance centrale.
Le second concerne le contrle de la dispersion des
observations dans lchantillon.
Les cartes de contrle de la tendance centrale servent
valuer les signes de drglage rel du niveau dun
processus
Les cartes de contrle de la dispersion servent
valuer limportance des fluctuations de lcart type
des chantillons.

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Paramtres de la tendance centrale

Moyenne arithmtique:

1 n
X = X
n i =1 i

Xi :Observation d un chantillon i.

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Paramtres de la tendance centrale

La mdiane
n valeurs observes tant ranges par ordre croissant
et numrotes de 1 n.
La mdiane est la valeur de rang (n+1)/2 si n est
impair.
Si n est pair on peut prendre la moyenne des valeurs
de rangs n/2 et (n/2) + 1.

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Paramtres de la tendance centrale

Le Mode
C est la valeur de l observation Xi ayant le plus
grand effectif ni.
Il est utile, lorsqu une valuation rapide de
l chantillon est demande.

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Paramtres de la dispersion

L tendue R

C est la diffrence entre la valeur maximale et la


valeur minimale de la distribution.

R = X max X min
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Paramtres de la dispersion

L cart type :
Permet de mesurer les carts par rapport la
moyenne.
N

( X i X )2
= i =1
N

N tant la taille de la population.

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Cependant, en pratique, il n est pas toujours


possible de contrler tous les individus ( contrle
destructif par exemple)
On procde alors un chantillonnage (n<N)
Les paramtres qui estiment le mieux les
paramtres de la population totale sont :

1 n ( X X )2
X
i
X = S = i =1
n i =1 i n 1

Cours de Management Total de la Qualit 38



Carte ( X , R )
Carte des moyennes
LC= X

LCI= X -A2 R

LCS= X +A2 R
Carte des tendus
LC=R

LCI=D3 R

LCS=D4
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Moyennes et carts types connus



Carte ( X ,R ) Carte des moyennes

Valeur de la moyenne connue


X0 ou spcifie
LC = X 0

0
Valeur de lcart type connu ou

LCI=X0A0 spcifi



LCS = X 0+ A 0
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CARTE (Me , R)

Carte des mdianes


LC = Me

LCI = Me A 4 R

LCS = Me + A 4 R
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NOTATIONS

Me Moyenne des mdianes des chantillons


R Moyenne des tendus des chantillons

A4 Coefficient
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Carte des tendus

LC=R0 ou d2 0

LCI = d 3 0

LCS = d 4 0
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Carte de contrle aux attributs:


CARTE P
Elle suit la proportion (en pourcentage)
d'units non conformes dans des chantillons
de tailles pouvant tre diffrentes.
La taille d'chantillonnages doit tre leve (>50)
afin d'tre capable de dtecter une drive dans les
performances. Il faut que le produit n p > 10 , p
tant la proportion du nombre de dfauts. Il y aura
ainsi une convergence vers la loi normale et une
bonne sensibilit de la carte.
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Carte de contrle aux attributs:
CARTE P

P proportion des dfectueux


n nombre darticles (chantillon ou sous groupe)
n.p nombre de dfectueux
k nombre dchantillons

p proportion moyenne de dfectueux

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Carte de contrle aux attributs:


CARTE P

LC =

p = np
k


3 p ( 1 p )
LCS = p +
n


3 n p ( 1 p )
LCI = p
n
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Carte de contrle aux attributs:
CARTE np
Cette carte suit le nombre d'units non-conformes(nombre de
dfectueux)dans des chantillons de tailles n constante.

LC = n

p = np
k


LCS =n p+3 n p ( 1 p )


LCI = n p3 n p (1 p )
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Carte aux attributs: Carte C

Cette carte mesure le nombre de dfauts par chantillon


LC =C = nombre de dfauts
nombre d'chantillo ns


LCS =C + 3 C


LCI = C 3 C
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Carte aux attributs: Carte u
Mesure le nombre de non conformits (dfauts) par
unit

LC = u = nombre des dfauts
total d' articles contrls


LCS = u + 3 u
n



LCI =u3 u
n
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Utilisation des cartes de contrle


pour piloter le processus
LCS
LCS A
A
B
B
C
C X
X
C
C
B
B
A A
LCI
LCI

Test2 : Neuf points dans lalignement de


Test1 : Un point au-del de la zone A
LCS
la zone C ou au-del
LCS
A A
B B
C C
X X
C C
B B
A A
LCI LCI

Test4 : Quatorze points dans un


Test3 : Six points dans un alignement
alignement alternativement vers le haut et
rgulier croissant ou dcroissant
vers le bas

Cours de Management Total de la Qualit 50


Utilisation des cartes de contrle
pour piloter le processus
LCS LCS
A A

B B
C C
X X
C C
B B
A A
LCI
LCI

Test5 : Deux points sur trois dans Test6 : Quatorze points sur cinq dans
lalignement de la zone A ou au-del lalignement de la zone B ou au-del
LCS LCS
A A
B B
X
C C
X
C
C
B
B
A
LCI A
LCI

Test7 : Quinze points dans lalignement


Test8 : Huit points en alignement de chaque
de la zone C (au-dessus et en-dessous de
cot de la ligne centrale, sans point en C
la ligne centrale)

Cours de Management Total de la Qualit 51

Conclusion

Analyse de capabilit Tester si le processus est


capable

Pilotage par carte de contrle Augmentation de


la stabilit du processus

Processus sous contrle Capable+Stable

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