RAYOS X

Las tcnicas analticas instrumentales se

basan en un mismo principio: Excitacin
de un tomo (elemento) a ser medido y a la
cuantificacin de la respuesta obtenida,
sea por emisin o absorcin atmica.
(Interaccin Materia-Energa).

- Radiacin Electromagntica: Longitudes

de onda 0.01 nm - 10.0 nm equivalen a
0.125 a 125 KeV

E* = hc

Hc = 1.23985 KeV.nm
 ORIGEN

Wilhelm Roentger, 1895.

Primera aplicacin: 1898 radiografa de la mano.
XRF como tcnica analtica Hasta 1950 = Va
Hmeda
XRF

la tcnica es rpida
no es destructiva
casi todos los elementos
exactitud y sensibilidad
cualquier tipo de muestras
anlisis de rutina no dependen de entrenamiento
 AREAS DE APLICACIN

- Exploracin Geolgica.
- Minera
- Metalurgia
- Cementeras
- Industria cermica
- Petroqumica
- Estudio de Nuevos Materiales:
- Metales preciosos:
- Industria alimentaria y farmacutica
PRODUCCIN DE RAYOS X

Los Rayos X se producen por el

impacto de partculas aceleradas tales
como electrones, protones, etc. O el
impacto de radiaciones de energa.

Los Rayos X se originan de las

perdidas de energa asociadas con la
interaccin de electrones de alta
energa con tomos.
TUBO RAYOS X

Partes constitutivas de un tubo de rayos X:

Filamento
Voltaje de aceleracin
Corriente
Vaco
Material del nodo (Target)
Ventana
 ESPECTRO CARACTERSTICO

Los Picos aparecen cuando la ley de Bragg es

cumplida
2d sen = n

Donde

d es el plano del cristal

sen es el seno del ngulo de incidencia
es la longitud de onda del elemento
n es un numero entero
INFLUENCIA DEL VOLTAJE
INFLUENCIA DE LA CORRIENTE
 LINEAS CARACTERISTICAS

Energas Discretas.
Las energas emitidas dependen del nmero atmico
del elemento.
Resultan de las transiciones que ocurren en un tomo
despus de que un electrn ha sido expulsado de una
de sus orbitas.

Serie K es usada para la mayora de los elementos

Serie L para elementos pesados
Serie M puede ser usada para los elementos muy pesados
Sistema de nomenclatura actual (Ka, Kb ) = Siegbahn
Algunos elementos tienen solo lneas K, otros K y K, otros tienen las series K y L, y otros
solamente lneas L.
 PROPIEDADES RAYOS X

Absorcin por:
Efecto Foto elctrico
Creacin de fotones
Creacin de electrones (Efecto Auger)

Dispersin
Coherente (Rayleigh)
Incoherente (Compton)
Difraccin
 ABSORCIN: LAMBERT-BEER

Donde

= Coeficiente de atenuacin msico [cm2/g]

= Densidad [g/cm3]
x = Trayectoria de la radiacin en la muestra
que absorbe la radiacin [cm]
= Coeficiente de atenuacin lineal [1/cm]
COEFICIENTE DE ATENUACIN MASICO

Dependiente de la energa.
Dependiente del nmero
atmico.
Presencia de bordes de
absorcin.
 ABSORCIN POR COMPUESTOS

Donde:
- i es el coeficiente de atenuacin msico del elemento i (cm2/g)
- wi es la fraccin en peso del elemento i
ANALISIS DE PENETRACIN
DISPERSIN

Dispersin Incoherente (Compton)

Transferencia de energa a un electrn
no expulsado de su orbita.
EFECTO COMPTON
 TIPOS DE EQUIPOS DE RAYOS X

WDXRF EDXRF

Excitacin Target
Sequencial Simultneo
Directa Secundario

Epsilon 3 Epsilon 5
Axios MagiX Fast
Todos los espectrmetros
Fuente de rayos X.
Sistemas de deteccin.
EDXRF
Rayos X emitidos por la muestra van directamente al
sistema de deteccin.

WDXRF
Emplea cristales para difractar la longitud de
onda seleccionada al sistema de deteccin.
 Espectrmetros por energa dispersiva EDXRF

Deteccin simultanea de los elementos.

Relativamente barato.
Rango de anlisis del Na- U.
Resolucin determinada principalmente por el detector.
Capacidad de conteo determinada por el detector.
Equipos de baja potencia: 50W, 9W y 600 W.
Aplicaciones para mayoritarios y minoritarios.
Aplicaciones especificas.
 TIPOS DE EDXRF

Excitacin Directa.
- Rayos X primarios van a la muestra y rayos X fluorescentes al detector.
Excitacin por polarizacin con targets secundarios. La
polarizacin por energa dispersiva implica
- Bajo ruido de fondo
- Excitacin especifica de elementos.
 EDXRF

EDXRF CON PTICA 2D

EDXRF CON PTICA 3D

 EXITACIN POR TARGETS Y DIRECTA

Muestra
Rayos X
Polarizados Radiacin
Fluorescente

Tubo
Radiacin primaria
No polarizada

Targets Detector
 WDXRF

Emplea cristales para incrementar la resolucin

Alta potencia 1.0 a 4.0KW
Rango analtico Be-U
Excelente para mayoritarios, minoritarios y aplicaciones de elementos trazas.
Comn en aplicaciones industriales
Calentamiento de la muestra y efectos de degradacin para alguno tipos de muestras, especialmente filtros.
 Simultneos
Cristales dedicados y detectores separados por elementos
Alta velocidad 28+ elementos en 20 segundos tiempo de anlisis
Rango elemental limitado
Calculo de ruidos de fondo limitados
Secuencial
Trayectoria ptica comn (Gonimetro) y detectores compartidos
Se mide 1 elemento a la vez
Se puede calcular ruidos de fondo para todos los elementos
Flexible en parmetros de medicin, especialmente para elementos trazas.
 ESPECTOMETRO SIMULTANEO

Montaje
Carga de
muestras

Cmara
de vaco

Canal de alto
desempeo
Canal fijo

Tubo de rayos X
ESPECTOMETRO SECUENCIAL
 TABLA COMPARATIVA
ED-XRF WD-XRF
Rango elemental Na a U (Sodio a Uranio) Be a U (Berilio a Uranio)
Lmites de deteccin Poco ptimo para elementos livianos. Bueno para Bueno para Be y todos los elementos pesados.
elementos pesados.

Sensitividad Poco ptimo para elementos livianos. Bueno para Razonablemente bueno para elementos livianos.
elementos pesados Bueno para elementos pesados

Resolucin Poco ptimo para elementos livianos. Bueno para Bueno para elementos livianos Poco ptimo para
elementos pesados elementos pesados.

Consumo de potencia 5 a 1000W 200 a 4000W

Mediciones Simultaneas Secuenciales/simultneos

Partes movibles criticas No Cristal, gonimetro
FILTROS
 CRISTALES Y COLIMADORES
Placas paralelas.
Colimadoras finas (livianos) y gruesas (pesados): 150 a 4000mm
Mejoran la resolucin cuando son usadas adecuadamente
 DETECTORES

- La resolucin es la habilidad del detector para

distinguir ente diferentes niveles de energa.
- La sensitividad indica que tan eficientemente
los fotones entrantes pueden ser contados.
- La Dispersin indica la habilidad del detector
para separar Rayos X con diferentes energas
 SPINNER

Las muestras no son perfectamente homogneas y rayones en la superficie pueden

influir en la mediciones. Para evitar estos inconvenientes se rota la muestra durante
la medicin para evitar posiciones preferenciales y defectos en la muestra
 PREPARACIN DE MUESTRA
SOLIDO
LIQUIDO
POLVO
PERLA
PASTILLA
FILTROS
PASTILLAS
PERLAS
 CALIBRACIONES
Las propiedades de los rayos X se emplean como tcnica analtica
para nuestra ventaja.

XRF es una tcnica comparativa

El espectrmetro debe ser calibrado con estndares bien
caracterizados con una composicin similar a la de las muestras
desconocidas.

Calibraciones
Estndares deben ser similares a la matriz de las muestras a
analizar.
Se emplean factores de correccin para efectos matriciales e
interferencias espectrales.

- Correccin Compton, modelos tericos - Alphas, Parmetros

fundamentales.
Se calculan coeficientes de regresin D & E (Intercepto &
pendiente).
Se evalan las curvas de calibracin.

Se miden las muestras desconocidas.

CONTEO Y LIMITES DE CUANTIFICACION
CORRECIONES MATRICIALES

Las correcciones son valores numricos que

dependen de las concentraciones y/o las
intensidades de los elementos de la matriz
 PARAMETROS FUNDAMENTALES

- El modelo de parmetros fundamentales se basa

Ci = Di + Ei*Ri*Mi en la fsica de los rayos .
- Se emplea totalmente por teora.
- Se necesitan al menos dos estndares para
calcular D y E, o slo uno si se mantiene
constante el intercepto D. el factor matricial M se
calcula para cada estndar individual, y los
factores D y E se determinan para todos los
elementos.
- las absorciones y reforzamientos se deben tener
en cuenta.
 COMPTON

Ci = Di + Ei*Ri/Rc
 SOLAPAMIENTO DE LINEAS

- los factores de solapamiento por regresin

- El problema con esta ecuacin es que puede no ser lineal, lo que hace
difcil calcular los factores
 POR DERIVA (MONITORES)

- La estabilidad y reproducibilidad de los espectrmetros es muy alta pero existe una deriva a largo
plazo que es inevitable.
- El tubo y el detector se degradan con el tiempo y la respuesta de otros componentes puede
cambiar con el tiempo
EJEMPLO DE ESPECTROS