PRCTICAS DE LABORATORIO FSICA III

Prctica No. 6

Prctica No. 6: Interfermetro de Michelson-Morley

INFORME DE LABORATORIO

Fecha:12-05-2014 Aula: LN-204 Nota: ______

ESTUDIANTES
Nombres y apellidos Cdigo
Juan Pablo Solano Pachn 201220183
Jimmy Julin Pava 201220207
Carlos Deyber Trujillo 201220509
Carlos Andrs Valderrama 201220200

RESUMEN

Al iniciar esta prctica la docente dio una breve pero muy completa explicacin
para determinar la longitud de onda de un lser para ello se nos dio un
conocimiento sobre un mtodo que utiliza un interfermetro el cual funciona con
el principio de Michelson. Para el desarrollo experimental hemos supuesto que el
has de luz suministrado por una fuente monocromtica. Se nos explic que el
montaje del interfermetro es un sistema muy sensible a cualquier vibracin y
que esto puede causar que las lecturas no sean correctas Los ndices de
refraccin tambin pueden medirse, y se calculan a partir del desplazamiento en
las franjas de interferencia causado por el retraso del haz pasando con menor
Rapidez a travs del medio.

El funcionamiento consiste en hacer incidir un haz de luz en un espejo semitransparente

el cual refleja una parte del haz y deja pasar la otra parte del haz, dicho haz se divide en
dos haces que viajan en direcciones perpendiculares uno del otro para llegar a otros
espejos los cuales reflejan de regreso los haces hacia el espejo semitransparente
rebotando en l y llegando ambos a un detector o pantalla en donde se puede determinar un
patrn de interferencia el cual nos indica que retraso tubo un haz con respecto al otro
en caso de haber retraso; el esquema del interfermetro se muestra en la
figura(1), ya con este montaje iniciaremos por dar inicio a nuestra practica
experimental. El cual consiste en hallar la longitud de onda de la luz lser

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Prctica No. 6

empleada.

figura 1
Imagen tomada de (fsica universitaria vol 2 12 edicin Sears,zemansky pg.
1226)

RECOPILACIN DE DATOS

Para la recopilacin de datos se realiza un conteo de las franjas de interferencia

la cual consiste en las aberraciones de las componentes pticas y deficiencias en
la alineacin, es posible que las franjas de interferencia no sean perfectamente
circulares. Sin embargo, este hecho no introduce errores en las mediciones
mientras los mximos y mnimos de pueden distinguir. Figura 2

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Prctica No. 6

figura 2
Imagen tomada de
(http://mecfunnet.faii.etsii.upm.es/difraccion/interfholspk/interfbasica.html)

Valores obtenidos experimentalmente tabla 1

N X
10 5 um
15 7 um
20 9 um
25 10 um
30 11 um
35 12 um
40 13 um
45 14 um

Para cuando
x =13
2(13(10^-6))=(40).
N=40 2(13(10^-6)) =
40
6.5(10^-7)= longitud de onda
experiemental
INTERFERMETRO Y MEDIDAS DEL NDICE DE REFRACCIN
Ahora se proceder a colocar las medidas del ndice de refraccin hallando ()
Por lo que se utilizara la siguiente ecuacin
2x = N

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Prctica No. 6

Para cuando
Xo = 2 x = 24- 2 =
22.(10^-6)
Xf = 24 2(22(10^-6))=(77).
N=77 2(22(10^-6)) =
77
5.71(10^-7)=

Para cuando
Xo = 17 x = 68- 17
= 51.(10^-6)
Xf = 68 2(51(10^-6))=(170).
N=170 2(51(10^-6)) =
170
6(10^-7)=

Para cuando
Xo = 31 x = 53- 31
= 22.(10^-6)
Xf = 53 2(22(10^-6))=(54).
N=54 2(22(10^-6)) =
54
8.14(10^-7)=

GRFICASsolano

Grafica en base a los datos obtenidos en la tabla 1 de N vs X

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Prctica No. 6

N vs X
60

50
X
40

30

20

10

0 N
40 60 80 100 120 140 160 180

INTERFERMETRO Y MEDIDAS DEL NDICE DE REFRACCIN

N vs X
60

50

40
x
X 30

20

10

0 N
40 60 80 100 120 140 160 180

Demuestra que la longitud de onda no presenta cambios

RESULTADOS Y ANLISIS DEL EXPERIMENTO

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APLICACIN DEL EXPERIMENTO

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Prctica No. 6

CONCLUSIONES

BIBLIOGRAFA

http://www.youtube.com/watch?v=LhU29i1M6IM
http://www.molwick.com/es/relatividad/104-michelsonmorley.html
http://mecfunnet.faii.etsii.upm.es/difraccion/interfholspk/interfbasica.ht
ml

Matemtica y fsica 2 enciclopedia estudiantil educar pag 204

PREGUNTAS: Contestar cada una de las siguientes preguntas justificando su respuesta.

Cmo se compara el valor de obtenido con las especificaciones del lser

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Prctica No. 6

empleado?

Cmo se puede mejorar la determinacin experimental de la longitud de onda de

la luz producida por el lser empleado?

Si se conoce la longitud de onda de la luz producida por el lser empleado,

cmo a travs del procedimiento realizado se puede realizar una calibracin del
micrmetro que regula la posicin del espejo mvil?

Cmo se emplea el procedimiento realizado en la medida de desplazamientos

dinmicos pequeos?