ISSN 2178-4507

LFNATEC
Publicao Tcnica do Laboratrio
de Fsica Nuclear Aplicada

Volume 10, Nmero 01

Junho de 2006 - 1 Edio
Londrina - Paran
LFNATEC - Publicao
Tcnica do Laboratrio
de Fsica Nuclear
Aplicada
ISSN 2178-4507

COMISSO EDITORIAL (LFNA- UEL)

Prof. Dr. Carlos Roberto Appoloni
Prof. Dr. Otvio Portezan Filho
Prof. Dr. Avacir Casanova Andrello
Prof. Dr. Paulo Srgio Parreira

APOIO TCNICO:
Msc. Fbio Lopes

ASSESSORIA DE COMUNICAO
Camila Veiga

EDITORAO WEB
Eduardo Galliano
METODOLOGIA DE EDXRF E
APLICAES COM UM SISTEMA
CORRESPONDNCIA
LABORATRIO DE FSICA NUCLEAR APLICADA
Departamento de Fsica
PORTTIL
Centro de Cincias Exatas PAULO SRGIO PARREIRA
Universidade Estadual de Londrina Universidade Estadual de Londrina, CCE, Departamento de Fsica, C.P
CEP 86055 - 900 6001, CEP 86051-990, Londrina, Brasil.
Caixa Postal 6001
Londrina Paran Contato: parreira@uel.br

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sejam educacionais, de divulgao cientfica e
no comerciais, proibida.

LFNATEC - Publicao Tcnica do Laboratrio de Fsica Nuclear Aplicada, v. 10, n. 01, junho 2006.
 METODOLOGIA DE EDXRF E APLICAES COM UM SISTEMA PORTTIL
PAULO SERGIO PARREIRA
LABORATRIO DE FSICA NUCLEAR APLICADA-DEP. FSICA/CCE
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE LONDRINA parreira@uel.br

INTRODUO

Os raios X formam parte do espectro eletromagntico, com comprimentos de onda que

variam da ordem de 10 nm a 0,01 nm (0,124-124 keV), tendo sua origem em dois processos
fsicos distintos: ou pela desacelerao de um feixe de eltrons de alta energia, em tubos de
raios X (tubos de raios catdicos), onde parte ou toda a energia cintica dos eltrons
convertida em raios X (radiao de Bremsstrahlung), ou pela transio de eltrons entre as
camadas mais internas dos tomos. Os raios X produzidos pela desacelerao de um feixe de
eltrons formam um espectro contnuo de distribuio de energia, que est diretamente
associada com a alta tenso aplicada ao tubo, ao passo que os raios X originados pela
transio de eltrons formam um espectro discreto de distribuio de energia e est
diretamente associada ao nmero atmico do elemento (raios X caractersticos).
O segundo processo, ou seja, os raios X caractersticos, que forma a base da tcnica
analtica de fluorescncia de raios X, pois, se pudermos identificar e medir os raios X
caractersticos, identificando o elemento qumico que o origina e determinando sua
concentrao. Dessa forma, a tcnica consiste em provocar transies eletrnicas para que
ocorra a emisso de raios X caractersticos; separar os raios X caractersticos, ou por seu
comprimento de onda ou por sua energia, e medi-los. No presente texto apresenta-se a tcnica
que analisa os raios X caractersticos atravs da identificao e medida de suas energias,
ED-XRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence).

FUNDAMENTOS

Para que ocorram as transies eletrnicas, que originaro os raios X caractersticos

nos tomos, necessrio retirar os eltrons das camadas mais internas dos tomos, camadas
K, L, M, atravs do efeito fotoeltrico, e isto conseguido fazendo-se incidir sobre a amostra
a ser analisada um feixe de radiao (da o nome fluorescncia). As figuras 1 e 2 ilustram o
processo e um diagrama parcial dos nveis de energia, respectivamente, que conduzem
emisso das sries espectrais K e L para o elemento Mn.

Amostra
Emisso

Sistema de
deteco dos
raios X caract.

Fonte de Excitao
- Tubo de Raios X;
- Luz Sincrotron;
- Fontes radioativas emissoras de raios X ou
raios de baixa energia.

Espectro obtido

Figura 1 - Esquema de excitao-amostra-deteco

2
 25Mn
V - 0,0033
IV - 0,0033
M III - 0,0486
II - 0,0486

I - 0,0839

III - 0,6403
L II - 0,6514
I - 0,7690
0,4365 0,4454 0,1181

K - 6,5390

5,8987

5,8876

6,4904
K1 K2 K

K = 5,893 keV K = 6,490 keV

Figura 2 - Diagrama parcial dos nveis de energia para as principais linhas K do

Mn e suas intensidades relativas

Dessa forma, um sistema de fluorescncia de raios-X constitudo de uma fonte para a

excitao das amostras, um detector que identifica e separa os raios X caractersticos, uma
placa multicanal que registra o espectro obtido e a eletrnica necessria para a alimentao do
sistema e amplificao dos sinais provenientes do detector. As figuras 3 e 4 apresentam fotos
de um sistema porttil de ED-XRF com excitao por fonte radioativa e mini tubo de raios
X, respectivamente, e um espectro caracterstico de fluorescncia de raios X.
O espectro apresentado na figura 4 nos mostra a quantidade de ftons de raios X
caractersticos detectados (eixo Y) versus a energia dos mesmos (eixo X). Dessa forma, as
reas sob os picos nos fornecem a quantidade total de ftons que foram detectados durante o
tempo de medida. Normalmente, utilizam-se os fotopicos K (para os elementos com
Z Sn) e L (para os elementos com Z Sb) nos clculos de concentraes. O nmero total
de ftons sob um fotopico proporcional quantidade daquele elemento existente em uma
determinada quantidade de amostra (concentrao), podendo ser expresso por micrograma do
elemento qumico, por grama de amostra (g/g).

A B

C F

D
E

Figura 3 Sistema de fluorescncia de raios X com excitao por fonte

radioativa: A - detector; B - suporte p/ fonte de excitao; C - Fonte
de alimentao + amplificador; D-analisador multicanal; E-palmtop
p/ aquisio de dados e F-detalhe do suporte.

3
 E
A B

D
C

Figura 4 Sistema de fluorescncia de raios X com excitao por mini tubo de raios X: A -
detector; B mini tubo de raios X; C - eletrnica necessria para a alimentao do
sistema e amplificao dos sinais provenientes do detector; D-notebook para a
aquisio dos espectros; E vista superior do sistema mostrando o mini tubo
(acima) e o detector (abaixo).

Figura 5 Espectro caracterstico de um padro multielementar.

A equao que relaciona a intensidade de raios X caractersticos com sua concentrao

em uma determinada amostra dada por:

I i = Ci .S i . A (1)

onde:

Ii intensidade do elemento i (no total de ftons dividido pelo tempo de medida), cps;
Ci concentrao do elemento i na amostra, g/g;
Si sensibilidade do sistema de medidas para o elemento i, cps.(g/g)-1, depende dos
parmetros fsicos: (coeficiente p/ o efeito fotoeltrico), w (rendimento de
fluorescncia), f (intensidade de emisso p/ uma determinada linha, K por exemplo),
4
 1-1/j (razo de salto ionizao de uma camada em relao s demais), como tambm da
geometria do sistema, G, e da eficincia do detector, ;
A - fator de absoro da matriz (adimensional), tanto para o feixe de excitao, quanto para o
raio X caracterstico.

Para um feixe de excitao monoenergtico, os parmetros fsicos envolvidos na

produo de um raio X caracterstico, K por exemplo, de um determinado elemento so
fixos, como tambm a eficincia do detector. Deve-se destacar que em uma amostra
multielementar teremos um efeito de reforo na intensidade Ii dos raios X caractersticos,
devido aos demais elementos com maior nmero atmico..

MTODOS ANALTICOS

Sero apresentados alguns mtodos comumente utilizados na anlise de diferentes tipos

de matrizes, onde se determinam as sensibilidades analticas e os coeficientes de absoro ou
mtodos que possam desprezar/minimizar os efeitos de absoro e reforo.

MTODO DOS PARMETROS FUNDAMENTAIS COM FILME FINO1

O mtodo dos parmetros fundamentais se baseia na aplicao da equao 1, onde

devemos conhecer as sensibilidades dos elementos analisados e a absoro da amostra. Com
padres certificados monos elementares extremamente finos, onde o fator de absoro seja
desprezvel (igual a 1), determina-se o valor da sensibilidade elementar, Si, para cada
elemento, e constri-se a curva de Si versus no atmico, com a qual pode-se determinar a
sensibilidade para elementos que no tenham padro certificado. Desta forma, mantendo-se
uma geometria fixa, pode-se estudar amostras lquidas filtradas sobre membranas de steres
de celulose.
Abaixo ilustrado um procedimento utilizado para a medida de uma amostra certificada.
1.) Mede-se os padres monoelementares depositados em membranas de policarbonato,
e determinam-se as intensidades Ii de cada elemento;
2.) Determina-se as Si;
3.) Constroi-se a curva da Si versus Z e determina-se a equao da sensibilidade em
funo do nmero atmico, Si (Z).
Intensidade Desvio Concentrao Desvio Sensibilidade Desvio
Elemento No. atmico -2
(cps) 95% g cm nominal (cps /(g cm-2)) propagado
Ca 20 10,08 1,17 24,9 1,2 0,405 0,0511
Ti 22 32,96 4,73 47,9 2,4 0,688 0,1046
Cr 24 57,18 13,42 45,1 2,3 1,268 0,3043
Fe 26 95,49 5,11 47,9 2,4 1,993 0,1459
Co 27 133,32 16,66 50,5 2,5 2,640 0,3553
Cu 29 151,75 1,30 44,0 2,2 3,449 0,1750
Zn 30 64,93 7,05 16,8 0,8 3,865 0,4622
Ga 31 22,74 4,06 5,6 0,3 4,070 0,7553
AS 33 166,59 28,32 38,3 1,9 4,350 0,7710
Se 34 208,72 18,27 49,0 2,5 4,260 0,4295
Br 35 73,47 6,57 17,5 0,9 4,199 0,4301

1
MELQUADES, F. L. Medida da concentrao de metais em gua com equipamento porttil de EDXRF. Tese (doutorado).
Dep. de Fsica, Universidade Estadual de Londrina, Londrina. 2007.
5
 3 2
6,0 y = -0,0035x + 0,2797x - 6,9939x + 56,421
2
5,5 R = 0,9983
5,0

SENSIBILIDADE(cps g cm )
4,5

2
4,0

3,5
3,0

2,5
2,0

1,5
1,0

0,5
0,0
18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40
NMERO ATMICO (Z)

Desta forma, obtemos:

Si = -0,0035.(Z3) + 0,2797.(Z2) - 6,9939x + 56,421

A amostra a ser analisada um padro lquido multielementar da Sigma Aldrich (70002)

Da mesma forma anterior, determinam-se as intensidades Iip dos raios X caractersticos e

substituem os valores na equao (1) para determinar as concentraes dos elementos
presentes na amostra.

Padro lquido multielementar 70002 (Sigma-Aldrich)

concentrao Concentrao
Elemento n. atom. Desvpad 95%
Certificada medida
V 23 0,130 0,128 0,003 0,012
Cr 24 0,070 -- -- --
Mn 25 0,030 -- -- --
Fe 26 0,330 0,389 0,006 0,028
Co 27 0,030 0,012 0,001 0,003
Ni 28 0,070 0,074 0,001 0,003
Cu 29 0,070 0,071 0,001 0,004
Zn 30 0,330 0,330 0,005 0,020
As 33 0,130 0,136 0,006 0,028
Se 34 0,330 0,342 0,009 0,038

MTODO DA REGRESSO LINEAR MLTIPLA2

O mtodo consiste em resolver um sistema de equaes lineares composto pelas

concentraes, Ci, e as intensidades, Ii,n , de todos os elementos presentes na matriz. Dessa
forma, o sistema composto por um conjunto de equaes do tipo:

2
PATROCNIO JUNIOR, A. C; MENDES DE LIMA, F. Fluorescncia de Raios X, In:Curso de Extenso
(Relatrio-Comunicao privada), Dep. Fsica/UEL. 2005.
6
 C1 = A + BI 1 + CI 1 I 1 + DI 1 I 2 + ... + YI 1 I n

Este procedimento emprico leva em considerao os efeitos de absoro e reforo da

matriz sobre cada elemento, devido a ele mesmo e aos outros elementos que compe a matriz.
particularmente til para matrizes com poucos elementos a serem analisados, como o caso
de ligas metlicas, pois para a determinao dos coeficientes A, B, C, etc, h a necessidade de
um grande nmero de padres contendo os mesmos elementos e abrangendo a faixa de
concentrao esperada dos elementos presentes na amostra. Para uma amostra com n
elementos, deve-se preparar 2n-1 padres.
Aplicao do mtodo na anlise de padres de ao inoxidvel do Bureau of Analysed
Samples, Inglaterra, com a utilizao de uma fonte de 238Pu (3,7 GBq) para a excitao das
amostras e tempo de medida de 200 s.

Valores das intensidades e concentrao dos elementos Cr, Fe e Ni nos padres

de ao
Intensidade (cps) Concentrao (em %)
Padro Cr Fe Ni Y(Cr) Y(Fe) Y(Ni)
461 136,1 527,1 27,1 15,2 77,4 6,1
462 113,2 544,5 60,3 12,36 73,8 12,5
463 156,3 463,2 45,5 18,3 70,6 9,6
464 196,5 311,0 108,4 25,75 52,0 20,7
465 152,3 464,7 43,0 18 71,0 9,0
466 141,3 454,6 41,2 17,6 70,1 8,7
467 152,6 460,5 40,9 18,05 70,7 8,9
468 160,1 451,4 42,1 18,7 69,6 8,8

1.) Utilizando regresso linear simples entre concentrao e intensidade para cada elemento,
obtem-se:

25
30 CNi = 0,0579x + 1,0528
20
r 2 = 0,9987
Concentrao (%)

CCr = 0,1596x - 6,0013

25
Concentrao (%)

r2 = 0,9777 15
20
10
15
5
10
0
5 0 100 200 300 400
125 225 325 425 525 625 725 Intensidade (cps)
Intensidade (cps)

80 CFe = 0,0291x + 24,954

75 r2 = 0,9422
70
Concentrao (%)

65
60
55
50
45
40
35
30
350 850 1350 1850 2350
Intensidade (cps)

7
2.) Utilizando a regresso linear mltipla, as equaes tornam-se:

CCr = ACr + BICr + CICrICr + DICrIFe + EICrINi

CFe = AFe + BIFe + CIFeICFe+ DIFeICr + EIFeINi

CNi = ANi + BINi + CINiINi + DINiICr + EINiIFe

A Tabela abaixo mostra os valores das intensidades para o elemento cromo, Cr. Teremos uma
tabela semelhante para cada um dos outros elementos.

Padro ICr ICrICr ICrIF ICrINi Concentrao

461 1,36065E+02 1,85137E+04 7,17158E+04 3,68328E+03 15,2
462 1,13190E+02 1,28120E+04 6,16348E+04 6,82423E+03 12,36
463 1,56345E+02 2,44438E+04 7,24237E+04 7,11995E+03 18,3
464 1,96455E+02 3,85946E+04 6,10887E+04 2,12957E+04 25,75
465 1,52305E+02 2,31968E+04 7,07799E+04 6,54988E+03 18
466 1,41275E+02 1,99586E+04 6,42300E+04 5,81700E+03 17,6
467 1,52550E+02 2,32715E+04 7,02424E+04 6,23853E+03 18,05
468 1,60065E+02 2,5621E+04 7,22573E+04 6,73954E+03 18,7

Com os dados da tabela acima, faz-se a regresso linear mltipla dos valores das intensidades
pela concentrao (foi utilizado o aplicativo Origin), obtendo dessa forma, os coeficientes A,
B, C, D e E, para cada elemento.

A B C D E
Cr 4,4438 2,2403E-01 -9,9174E-05 -2,4002E-04 -1,9834E-04
Fe 14,6675 0,1644 -8,4382E-05 4,2015E-05 -2,4325E-04
Ni 0,8438 0,1486 -7,1936E-05 1,0945E-04 6,7035E-05

Substituindo os valores nas equaes acima, obtemos:

CCr = 4,4438 + 2,2403.10-1ICr - 9,9174.10-5ICrICr - 2,4002.10-4ICrIFe - 1,9834.10-4ICrINi

CFe = 14,6675 + 0,1644IFe - 8,4382.10-5IFeIFe+ 4,2015.10-5IFeICr - 2,4325.10-4IFeINi

CNi = 0,8438 + 0,1486INi - 7,1936.10-5INiINi + 1,0945.10-4INiICr + 6,7035.10-5INiIFe

Rearranjando os termos das intensidades, temos:

ICr = ICr - 9,9174.10-5ICrICr - 2,4002.10-4ICrIFe - 1,9834.10-4ICrINi

2,2403.10-1 2,2403.10-1 2,2403.10-1

IFe = IFe - 8,4382.10-5IFeIFe+ 4,2015.10-5IFeICr - 2,4325.10-4IFeINi

0,1644 0,1644 0,1644

INi = INi - 7,1936.10-5INiINi + 1,0945.10-4INiICr + 6,7035.10-5INiIFe

0,1486 0,1486 0,1486
8
Os valores Ii representam as intensidades corrigidas para cada um dos elementos. Fazendo a
regresso linear dessas novas intensidades versus as respectivas concentraes, Ci, obtemos os
seguintes grficos:

30 90
CFe = 0,1644x + 14,667
CCr = 0,224x + 4,4443 80
25 r2 = 1
r2 = 0,9996 70
Concentrao (%)

Concentrao (%)
20 60
50
15
40
10 30
20
5
10
0 0
0 20 40 60 80 100 0 100 200 300 400 500
Intensidade corrigida (cps) Intensidade corrigida (cps)

25
CNi = 0,1486x + 0,8438
20 r2 = 0,9995
Concentrao (%)

15

10

0
0 50 100 150
Intensidade corrigida (cps)

Com essas novas equaes calculam-se as concentraes para a amostra desconhecida. Dessa
forma substituindo os valores das intensidades corrigidas para o padro 468, obtm-se:

Valor certificado Valor obtido

Elemento
(%) (%)
Cr 18,7 19,08
Fe 69,6 70,10
Ni 8,8 8,98

MTODO DO PADRO INTERNO3

Neste procedimento deposita-se uma quantidade conhecida de um elemento qumico,

que no faa parte da matriz a ser analisada, no preparo das amostras e padres. A utilizao
de um padro interno tem como objetivo corrigir os efeitos de matriz em relao a
homogeneidade no preparo das amostras, ao espalhamento da radiao de excitao, bem
como na flutuao da intensidade desse feixe. A correo conseguida computando-se as
intensidades dos raios X caractersticos emitidos pelos elementos que compem a amostra em
relao ao padro interno.

3
PARREIRA, P. S. Implantao da tcnica de fluorescncia de raios X por reflexo total (TXRF) para
a determinao de trio e urnio em amostras de interesse agrcola e ambiental. Tese (doutorado),
Centro de Energia Nuclear na Agricultura, Piracicaba, 111p. 2000.
9
 Dessa forma, aplicando-se o conceito de padro interno equao 1, obtemos:

R i = S ' i .C i . A (2)

onde Ri a intensidade relativa do elemento i em relao ao padro interno e,

consequentemente, Si a sensibilidade relativa sendo dada por:

Si
S 'i =
Sp
e, consequentemente,

Ii
Ri =
I p / Cp

Dessa forma, a determinao da sensibilidade relativa, Si, obtida medindo-se

padres mono elementares, contendo o padro interno, e fazendo-se a regresso linear entre as
concentraes e as intensidades relativas Ri. Como exemplo, apresentado o resultado para
padres de trio medidos com um tubo de alta potncia e utilizando uma variante da tcnica
de fluorescncia de raios X, a TXRF (fluorescncia de raios X por reflexo total), onde os
efeitos de absoro e reforo podem ser desprezados(A=1). Os resultados so para amostras
lquidas (10 L) depositadas sobre refletores de quartzo, podendo tambm ser utilizado em
outros procedimentos.

Conc. Th Conc. Ga
Padres Int. Th* Int. Ga* RTh
(g/mL) (g/mL)
# P1 0,00 0 10,15 62777 0,00
# P2 0,99 2306 10,04 53070 0,44
# P3 1,99 5053 10,05 50626 1,00
# P4 3,98 10558 10,05 54479 1,95
# P5 5,97 14833 10,05 49274 3,03
# P6 7,96 23646 10,05 58875 4,04
# P7 9,94 23183 10,04 43566 5,34
Th)

6 RTh = 0,5193x
Intensidade relativa (R

2
5 r = 0,9972
4
3
2
1
0
0 5 10 15
Concentrao (g/g)

10
Para este caso especfico, foram utilizados os raios X L com energia de 12,967 keV.

MTODO DO IRRADIADOR4

Este mtodo utilizado para se determinar o efeito de absoro (A), pela matriz, dos
raios X caractersticos. Neste mtodo, utiliza-se um irradiador (alvo) contendo vrios
elementos qumicos, de preferncia ausentes na amostra. Mede-se as intensidades dos raios X
caractersticos Ioi dos elementos do irradiador (situao A) da figura abaixo, coloca-se a
amostra sob irradiador medindo-se as intensidades Ii dos elementos (situao B) e em seguida
retira-se o irradiador e excita-se somente (situao C).

Irradiador Irradiador Irradiador

amostra amostra amostra

A detector B detector detector

C

O efeito de absoro, A, para amostra espessa dada pela relao:

1
A= , o termo ( . .D ) est associado com a atenuao do feixe pela a amostra
. .D

sendo calculado por:

irrad

I
. .D = irrad + am
am
I I

Aps calculado o termo acima, determina-se o fator de absoro, A, para cada

elemento e constri-se a curva de A versus o nmero atmico do elemento, obtendo-se, dessa
forma, uma equao que nos permite calcular o fator de absoro para os elementos presentes
na amostra. Abaixo, apresenta-se o clculo para uma amostra certificada de solo, da Agncia
Internacional de Energia Atmica (Soil-7):

4
CUNHA E SILVA, R. M. Fluorescncia de Raios X, In: Desenvolvimento da tcnica de fluorescncia de raios
X com microssonda aplicada a amostras de interesse agropecurio, agroindustrial, ambiental e arqueolgico
(relatrio de projeto FAPESP-Comunicao privada). 1999.
11
 No. Fator de
Elemento Irrad+am. Soil-7 Irradiador
Atm. abs.
V 23 0,266667 0 273,214 0,14
Mn 25 1,399333 0,428 84,654 0,22
Cu 29 12,705 0,079 105,072 0,42
Se 34 55,368 0 152,394 0,63

(A) = 0,0451(Z) - 0,8997

0,7
r 2 = 0,9985
Fator de absoro (A)

0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0
20 25 30 35
Nm ero atm ico (Z)

Dessa forma, para se determinar a concentrao dos elementos em uma amostra,

determina-se a sensibilidade, com padres mono elementares, j descrito anteriormente, e
substitui os valores de Si e A, na equao 1.

UTILIZAO DA TCNICA NO ESTUDO DE OBJETOS ARQUEOLGICOS E DE ARTE

At o momento foram apresentados mtodos para o emprego da tcnica de

fluorescncia de raios X, como procedimento analtico na determinao de teores totais de
elementos qumicos com Z 13 (Al). Alguns procedimentos prvios de preparo de amostras
tambm foram mostrados, dependendo da matriz a ser estuda, porm, uma vez preparada a
amostra pode-se med-la quantas vezes se fizer necessrio, pois no h a necessidade de
queim-la ou vaporiz-la para a obteno dos espectros de energia.
Com relao ao estudos de objetos arqueolgicos e de arte, nem sempre h a
necesidade de se ter uma medida quantitativa precisa (teores) dos elementos presentes na
amostra, ao contrrio, uma anlise qualitativa dos elementos que compe a amostra
suficiente para a caracterizao dos objetos. Dessa forma, por ser uma tcnica simultnea,
multielementar e no destrutiva, a EDXRF tm sido empregada em estudos de objetos de arte
e arqueolgicos, com resultados extremamente satisfatrios.
Sistemas portteis possuem a vantagem de se realizar medidas in situ, possibilitando a
caracterizao de objetos que no possam ser retirados de seus locais de origem, oferecendo,
assim, uma ferramenta de apoio aos restauradores e conservadores, bem como, aos
estudiosos do patrimnio cultural.
Apresentar-se- alguns resultados obtidos com o emprego de um sistema porttil de
EDXRF, do Laboratrio de Fsica Nuclear Aplicada da Universidade Estadual de Londrina,
no estudo de alguns objetos arqueolgicos e de arte, cujos resultados encontram-se publicados
em Peridicos e Anais de Congressos.

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Estudo de pigmentos:
- escultura policromada (MAE)
- quadro atribudo a Gainsborough (sculo XVIII)

Estudo de ligas metlicas:

- Edans/procisso real (MAE)
- moedas antigas (MHN)

ESTUDO DE PIGMENTOS

ESCULTURA DE MADEIRA POLICROMADA, STA. LUZIA (MAE)

Pigmentos identificados:
- branco: pigmento base de ZnO;
- dourado: pigmento base de Au;
- vermelho: pigmento base de HgS;
- azul: pigmento base de CuCO3 . Cu(OH)2 + ZnO;
- marrom escuro: pigmento com uma mistura base de xidos de Fe e HgS;
- cor de carne (encarnado): pigmento com uma mistura base de ZnO + HgS.

Os pigmentos foram identificados pelos elementos majoritrios e minoritrios,

presentes em cada regio colorida, comparando-se com registros encontrados na literatura
sobre a frmula qumica e o perodo de utilizao dos mesmos. Dessa forma, a presena de
ZnO (pigmento branco) e o HgS (pigmento vermelho), sugerem que a escultura tenha sido
confeccionada entre o final do sculo VXIII e final do sculo XIX.

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 O lenhador pintura atribuda a Thomas Gainsborough (sculo XVIII).

Pigmentos identificados:
- branco : Branco de Chumbo; Sulfato de Clcio
- azul : Azul da Prssia
- vermelho: Vermilion
- marrons: xidos de Fe e de Mn

As anlises realizadas indicaram a presena de pigmentos que faziam parte das tintas
utilizadas durante os sculos XVII e XVIII, por outro lado, a ausncia de elementos
indicativos de pigmentos modernos (posteriores ao sculo XVIII) to importante quanto a
presena dos elementos que indicam os pigmentos acima referidos.

Estudo de Ligas Metlicas

Edan africano: identificao da liga metlica e estudo de regies com corroso (MAE)

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 rea Cu Zn Mn Fe Co Ni
investigada % % % % % %
Corroso cinza 86,2 11,1 0,37 1,16 0,51 0,65
normal 86,2 11,8 0 0,79 0,20 1,05
Corroso rosa pastel 85,7 12,2 0 0,70 0,23 1,20

Alm de se verificar os constituintes da liga metlica (regio sem ptina), pode-se

verificar tambm uma alterao nas concentraes de Fe, Co, Ni e o aparecimento de Mn na
regio 00de corroso cinza.

Real com FR: Reinado de D. Fernando I (1367-1383) - MHN

Composio da liga metlica utilizando uma fonte de 238Pu

No.
Linha Energia Atmico Conc. (%) Desv. (%)
Ca-Ka 3.691 20 ------------ ------------
Fe-Ka 6.399 26 0,34 0,04
Cu-Ka 8.041 29 8,65 0,09
Ag-La 2.984 47 83,67 14,10
Au-La 9.707 79 4,14 0,11
Hg-La 9.980 80 1,95 0,09
Pb-La 10.542 82 1,25 0,19

Neste trabalho foram estudadas 29 peas (moedas de ouro e de prata), pertencentes ao

acervo do Museu Histrico Nacional, Rio de Janeiro, com o objetivo de se verificar a titulao
das referidas moedas e confront-las com outras medidas e com registros histricos.
A figura abaixo mostra a comparao entre as moedas emitidas durante os reinados de
D. Fernando I (1367-1383) e D. Joo I (1383-1433). Pode-se verificar que durante o reinado
de D. Joo I ocorre uma desvalorizao mais forte da moeda at a cunhagem de moedas de
qualidade muito baixa com moedas apresentando, quase somente, cobre na liga metlica.

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 Teores de Ag e Cu em porcentagem para as moedas cunhadas durante os reinados de
D. Fernando I e de D.Joo I.

Alm dos exemplos mostrados anteriormente, o LFNA tem trabalho com a tcnica
tambm em estudos de cermicas arqueolgicas (cermicas da tradio Tupi Guarani,
cermicas da tradio Cainguangue, cermicas Marajoaras, entre outras) verificando tanto a
pigmentao, quanto a pasta cermica, como tambm pinturas murais (Igreja da Parquia
Imaculada Conceio de S. Paulo/ MRizzo Restauraes - Laboratrio de Conservao e
Restaurao de Bens Culturais Ltda.).

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