Microscopia

Eletrnica
NH2332

Figuras da Aula 14.

Micro-anlise por feixe convergente (CBD) em MET: Nano-EDS
(NEDS) e nano-difrao (NBD). Micro-anlise por perda de
energia de eltrons (EELS).

Prof. J. Javier S. Acua

03 de Agosto de 2015
Performance.
Performance.
Performance.
Modo Imagem.
Modo Imagem.
Modo Difrao.
Modo Feixe Convergente.
Contraste.
Contraste.
Contraste por Massa e Espessura.
 Contraste por Massa e Espessura.

Proteina: PIROXIDASE

NP polimerica de 200nm
que na superficie est Au
absorvida um bio-sensor

Colaborao:
Profa.Dra.
Tnia Pasa e
Fabiola
Filippin, UFSC
Contraste por Massa e Espessura.

70

5 nm
Contraste por Difrao.
Condio de Um-feixe. Campo-escuro (DF)
 Contraste por Difrao.
Condio de Um-feixe. Campo-escuro (DF)

Brigh Field BF Padro de Diffaction

difrao

SAD

0.5 m 5 1/nm

DF DF

Dark Field
0.5 m 0.5 m
Contraste por Difrao.
Condio de Um-feixe. Campo-escuro (DF)
 Contraste por Difrao.
Condio de Um-feixe. Campo-escuro (DF)

Tcnica: Replica de carbono

Campo-Escuro (Dark Field)
Contraste por Difrao.
Condio de Um-feixe. Campo-escuro (DF)

HRTEM e Dark Field

Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes.
Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes.
Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes.
Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes.
Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes. Erro de Excitao (S).

S<0 S>0
Contraste por Difrao.
Condio de dois-feixes. Erro de Excitao (S).
Contraste por Difrao.
Franja de Espessura
Contraste por Difrao.
Franja de Espessura
Contraste por Difrao.
Contornos de Flexo (bending contours)
Contraste por Difrao.
Contornos de Flexo (bending contours)
Contraste por Nmero Atmico (Z-contrast).
Contraste por Nmero Atmico (Z-contrast).
Contraste por Nmero Atmico (Z-contrast).
Contraste por Nmero Atmico (Z-contrast).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).

10 nm
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).

5 nm
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase.
Franjas de Moir (Moir Fringes)
Contraste de Fase.
Franjas de Moir (Moir Fringes)
Contraste de Fase.
Franjas de Moir (Moir Fringes)
 Contraste de Fase.
Franjas de Moir (Moir Fringes)

50 nm 20 nm
 Contraste de Fase.
Franjas de Moir (Moir Fringes)

10 nm 5 nm
Contraste de Fase (HRTEM).
Contraste de Fase (HRTEM).

Vdeo de uma nanopartcula em HRTEM. Variao de contraste versus foco.

Contraste de Fase.
Feixe Fraco (Weak Beam), em condio de dois-feixes.
Contraste de Fase.
Feixe Fraco (Weak Beam), em condio de dois-feixes.
Contraste de Fase.
Feixe Fraco (Weak Beam), em condio de dois-feixes.
Modo Difrao.
Difrao.
Difrao.
Difrao.
Difrao.
Difrao.
Difrao Indexao, eixo de zona.
Difrao Indexao, (amostra cristalina em p).
Difrao Seleo de rea de Difrao (SAD).
Difrao Seleo de rea de Difrao (SAD).
Difrao Seleo de rea de Difrao (SAD).
Difrao Seleo de rea de Difrao (SAD).
 Difrao Seleo de rea de Difrao (SAD).

14

18
7
11

10 6
1
16

4
15

2
9
5

12
8

17

5 1/nm 13
Dobre difrao.
Dobre difrao.
Modo Feixe Convergente.
Feixe Convergente (CB).
Nano - Energy Dispersive Spectroscopy (NEDS).

Analise qumico (NEDS)

 Nano - Energy Dispersive Spectroscopy (NEDS).

Element Atom % Atom %

Error
O 0.00 + /- 0.00
Si 85.33 + /- 2.95
Ni 14.67 + /- 0.57
B
2 nm

10 nm
Nano Beam Diffraction (NBD).
Nano Beam Diffraction (NBD).
Nano Beam Diffraction (NBD).
Nano Beam Diffraction (NBD).
Nano Beam Diffraction (NBD).
Convergent Beam Diffraction (CBD).
Convergent Beam Diffraction (CBD).

Simulao de CBD.
Electron Energy Loss Spectroscopy
(EELS)
EELS: Idia bsica
EELS: Por que estamos interessados?
EELS: Imagem filtrada em energia.
 EELS: Imagem filtrada em energia.

Exemplo: Imagem
filtrada em enegia)
EELS:
EELS:
EELS:
EELS:
EELS:
EELS: Analise do Espectro
EELS: Domnios Espectrais
EELS: Bordas K e L
EELS: Bordas M e N
EELS: Exemplo. Ligaes qumicas.
(...)
 Microscopia: EELS vs EDS

Figure Caption: GaAs Atomic EDX in the [110] crystal projection showing 1.4 Angstroms Ga-As dumbbells obtained with Titan G2 80-
200 with ChemiSTEM Technology. The GaAs [110] dumbbell splitting of 0.14 nm is clearly resolved by chemical mapping using energy
dispersive X-ray analysis with a Titan G2 80-200 with ChemiSTEM technology and a probe Cs-corrector at 200 kV acceleration voltage,
using a 200 pA probe current. On the right hand side the atomic structure of GaAs the [110] projection is shown along with the
grayscale HAADF-STEM image.This represents the highest resolution ever obtained in atomic elemental mapping by any technique
using an S/TEM.
Bibliografia:
Alta-resoluo (HRTEM)
Alta-resoluo (HRTEM)