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Rpublique Algrienne
Dmocratique et Populaire

Ministre de l'Enseignement Suprieur et de la Recherche Scientifique

Comit Pdagogique National du domaine Sciences et Technologies

HARMONISATION
OFFRE DE FORMATION
MASTER ACADEMIQUE

2016 - 2017

Domaine Filire Spcialit

Sciences
et Electronique Instrumentation
Technologies
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Rpublique Algrienne
Dmocratique et Populaire

Ministre de l'Enseignement Suprieur et de la Recherche Scientifique

Comit Pdagogique National du domaine Sciences et Technologies

2017-2016


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I Fiche didentit du Master


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Conditions daccs
(Indiquer les spcialits de licence qui peuvent donner accs au Master)

Classement
Coefficient
Master Licences ouvrant accs selon la
Filire affect la
harmonis au master compatibilit de
licence
la licence
Electronique 1 1.00
Tlcommunications 2 0.80
Gnie Biomdical 2 0.80
Electroniqu Automatique 3 0.70
Instrumentat
e Electrotechnique 3 0.70
ion
Electromcanique 4 0.65
Autres licences du
5 0.60
domaine ST
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II Fiches dorganisation semestrielles des


enseignements
de la spcialit
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Semestre 1
Travail
Volume Complment
Horaire aire
Volume horaire Semestrie en

Coefcient
Matires l Mode dvaluation
Unit hebdomadaire

Crdits
Consultation
d'enseigneme (15
(15
nt semaines)
semaines)
Contrl
Cour
Intitul TD TP e Examen
s
Continu
UE Electronique 1h3
6 3 3h00 67h30 82h30 40% 60%
Fondamentale dinstrumentation 0
Code : UEF
1.1.1 Capteurs en
Crdits : 10 1h3
instrumentation 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
Coefcients : 0
industrielle
5
UE Traitement avanc du 1h3
4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
Fondamentale signal 0
Code : UEF
1.1.2
Crdits : 8 1h3
Mtrologie industrielle 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
Coefcients : 0
4
UE TP Electronique 1h3
2 1 22h30 27h30 100%
Mthodologiq dinstrumentation 0
ue TP Capteurs en
Code : UEM 1h3
instrumentation 2 1 22h30 27h30 100%
1.1 0
industrielle
Crdits : 9 TP Traitement avanc du 2 1 1h3 22h30 27h30 100%
Coefcients : signal/TP Mtrologie 0
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industrielle

5 Programmation orient 1h0


3 2 1h30 37h30 37h30 40% 60%
objet 0
UE
Matire au choix 1 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Dcouverte
Code : UED
1.1
Crdits : 2 Matire au choix 2 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Coefcients :
2
UE
Transversale
Code : UET
1.1 Anglais technique et
1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Crdits : 1 terminologie
Coefcients :
1
Total 3 13h3 6h0 5h3
17 375h00 375h00
semestre 1 0 0 0 0

Semestre 2
Unit Matires Volume horaire Volume Travail Mode dvaluation
Coefcient
Crdits

d'enseignem hebdomadaire Horaire Complment


ent Semestrie aire
l en
(15 Consultation
semaines) (15
semaines)
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Contrl
Cour
Intitul TD TP e Examen
s
Continu
UE 1h3
Microprocesseurs & DSP 6 3 3h00 67h30 82h30 40% 60%
Fondamental 0
e
Code : UEF
1.2.1 Systmes asservis 1h3
Crdits : 10 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
numriques 0
Coefcients :
5
UE Electronique numrique 1h3
Fondamental 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
avance : VHDL FPGA 0
e
Code : UEF
Rseaux et
1.2.2 1h3
Crdits : 8 communication 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
0
Coefcients : industriels
4
UE TP Microprocesseurs & 1h3
2 1 22h30 27h30 100%
Mthodologiq DSP 0
ue TP Systmes asservis 1h3
2 1 22h30 27h30 100%
Code : UEM numriques 0
1.2 TP VHDL - FPGA / TP 1h3
Crdits : 9 2 1 22h30 27h30 100%
Rseaux industriels 0
Coefcients : 1h3
5 Avant-projet 3 2 1h00 37h30 37h30 40% 60%
0
UE
Matire au choix 4 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Dcouverte
Code : UED Matire au choix 5 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
1.2
Crdits : 2
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Coefcients :
UE
Transversale
Code : UET
Ethique, dontologie et
1.2 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
proprit intellectuelle
Crdits : 1
Coefcients :
1
Total 3 13h0 6h0 6h0
17 375h00 375h00
semestre 2 0 0 0 0
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Semestre 3
Travail
Volume Complme
Horaire ntaire
Semestri en
Volume horaire Mode

Coefficient
Matires el
Consultatio

Crdits
Unit hebdomadaire (15 dvaluation
d'enseignem n
semaines
ent (15
)
semaines)
Contrl
Cour
Intitul TD TP e Examen
s
Continu
UE Electronique de 1h3
6 3 3h00 67h30 82h30 40% 60%
Fondamental puissance avance 0
e
Code : UEF
1.3.1 1h3
Crdits : 10 Actionneurs industriels 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
0
Coefcients :
5
UE Systmes vnements 1h3
4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
Fondamental discrets & API 0
e
Code : UEF
1.3.2 Elments de rgulation 1h3
Crdits : 8 4 2 1h30 45h00 55h00 40% 60%
numriques 0
Coefcients :
4
UE TP Electronique de 1h3
2 1 22h30 27h30 100%
Mthodologiq puissance avance 0
ue TP Actionneurs industriels/TP 2 1 1h3 22h30 27h30 100%
Elments de rgulation
P a g e | 11

0
1h3
TP API 2 1 22h30 27h30 100%
0
Code : UEM Fiabilit et maintenance
1.3 1h0
des systmes 3 2 1h30 37h30 37h30 40% 60%
Crdits : 9 lectroniques 0
Coefcients
UE :
Matire au choix 5 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Dcouverte
Code : UED
1.3
Crdits : 2 Matire au choix 6 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
Coefcients :
2
UE
Transversale
Code : UET
Recherche documentaire et
1.3 1 1 1h30 22h30 02h30 100%
conception de mmoire
Crdits : 1
Coefcients :
1
Total 3 13h3 6h0 5h3
17 375h00 375h00
semestre 3 0 0 0 0
P a g e | 12

Orientations gnrales sur le choix des matires transversales et de


dcouverte :

Six matires (de dcouverte) dans le Rfrentiel des Matires du Master


Instrumentation (Tableau ci-dessus) sont laisses au libre choix des
tablissements qui peuvent choisir indiffremment leurs matires parmi la liste
prsente ci-dessous en fonction de leurs priorits.
A titre dexemple, une proposition du cpnd pour le choix des matires est
fournie ci-dessous avec les programmes dtaills pour les semestres 1 & 2.

Matires proposes par le CPND pour le semestre 1 : (avec


programmes dtaills)

Choix 1 : Optolectronique (Dcouverte)


Choix 2 : Systmes nergtiques autonomes (Dcouverte)

Matires proposes par le CPND pour le semestre 1 : (avec


programmes dtaills)

Choix 3 : Electroacoustique et analyses vibratoires (Dcouverte)


Choix 4 : Compatibilit lectromagntique (Dcouverte)
Choix : Instrumentation et mesure industrielles (Dcouverte)
Choix : Scurit industrielle (Dcouverte)
Choix : Robotique (Dcouverte)

Autres matires laisses au libre choix des tablissements


(programmes ouverts aprs validation du CPND)

Systmes dafchage (Dcouverte)


Instruments de mesure (Dcouverte)
Mesures en haute frquence (Dcouverte)
Electroacoustique, son et HIFI (Dcouverte)
Tlgestion industrielle (SCADA) (Dcouverte)
Rglage des entrainements lectriques (Dcouverte)
Thorie de la commande des systmes industriels (Dcouverte)
Capteurs intelligents en instrumentation industrielle (Dcouverte)

Semestre 4

Stage en entreprise sanctionn par un mmoire et une soutenance.

VHS Coeff Crdits


Travail Personnel 550 09 18
Stage en 100 04 06
entreprise
Sminaires 50 02 03
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Autre 50 02 03
(Encadrement)
Total Semestre 4 750 17 30
Ce tableau est donn titre indicatif

Evaluation du Projet de Fin de Cycle de Master

- Valeur scientifique (Apprciation du jury) /6


- Rdaction du Mmoire (Apprciation du jury) /4
- Prsentation et rponse aux questions (Apprciation du jury) /4
- Apprciation de lencadreur /3
- Prsentation du rapport de stage (Apprciation du jury) /3
P a g e | 14

III - Programme dtaill par matire du semestre S1


P a g e | 15

Semestre: 1
Unit denseignement: UEF 1.1.1
Matire 1: Electronique dinstrumentation
VHS: 67h30 (Cours: 3h00, TD: 1h30)
Crdits: 6
Coefficient: 3

Objectifs de lenseignement:
Etude et analyse des circuits lectroniques analogiques utiliss dans les chanes de
mesure et instrumentation.

Connaissances pralables recommandes:


Electronique fondamentale 1 et 2, Fonctions de llectronique, Electronique des
impulsions.

Contenu de la matire:

Chapitre1 : Gnralits sur llectronique dinstrumentation (02


semaines)
Gnralits sur les chaines dacquisition, Adaptation de la source du signal la chane
de mesure, Linarisation, Amplification du signal et rduction de la tension de mode
commun, Dtection de linformation, Amplificateurs disolement, Amplificateur D-C
(Direct Coupled), Amplificateur D-C large bande, Circuit de charge et dcharge dun
condensateur, Circuits de mise en forme.

Chapitre2 : Circuits Comparateurs et Convertisseurs de signaux (03


semaines)
2.1 Les Comparateurs
2.1.1 Comparateur zro
2.1.2 Comparateur rfrence non nulle
2.1.3 Comparateur hystrsis : Trigger de Schmitt
2.1.3 Comparateur fentre
2.2 Convertisseurs de signaux (A-N, N-A)
2.2.1 Principes gnraux, Dfinition des caractristiques des convertisseurs CANCNA
2.2.2 Thorie de lchantillonnage et de la quantification, Echantillonneur lmentaire
MOS, Echantil-lonneur-Bloqueur.
2.2.3 Conversion CNA, Paramtres de performances, Principales architectures.
2.2.4 Conversion CAN, Paramtres de performances, Principales architectures.

Chapitre 3 : Circuits de gnration des signaux (02


semaines)
3.1. Circuit de charge et dcharge dun condensateur.
3.2. Oscillateurs linaires et non linaires, Oscillateurs commands en tension (VCO),
Boucles
verrouillage de phase PLL.
3.3. Astables et Monostables.

Chapitre 4 : Circuits de traitement des signaux (04


semaines)
3.1. Modulation
3.1.1. Modulation d'amplitude (AM)
3.1.2. Modulation de frquence (FM)
3.1.2.1. Exemple de modulateur FM: l'oscillateur command en tension (VCO).
P a g e | 16

3.1.3. Modulations dimpulsions : Amplitude, largeur, position, erreur, Modulation


dimpulsions codes
3.1.3.1. Exemple de modulateur MLI: l'oscillateur 555 en mode monostable
3.2. Multiplexeurs analogiques
3.3. Multiplieurs analogiques
3.4. Dtection synchrone

Chapitre 5 : Les filtres actifs (02


semaines)
4.1. Intrt et principe du filtrage en lectronique
4.2 Filtres passifs et filtres actifs
4.3. Classification des filtres : caractristiques, modles et synthse de filtres
analogiques (Bessel, Butterworth, Tchebychev, ...)
4.4. Ordre des Filtres (filtres actifs base d'ampli-op idaux)
4.4.1. Filtre passe-bas du 1er ordre (ou filtre 20 dB/dc = 6 dB/octave)
4.4.2. Filtre passe-haut du 1er ordre (ou filtre 20 dB/dc = 6 dB/octave).
4.4.3. Filtre passe-bas du 2e ordre (ou filtre en -40 dB/dcade).
4.4.4. Filtre passe-haut du 2e ordre (ou filtre en 40 dB/dcade).
4.4.5. Filtre passe-bande (filtre rjecteur)

Chapitre 6 : Les Sondes de mesure et Les Circuits dentre (02


semaines)
Circuits dentre pour des systmes 50 Ohm, circuits dentre Hz, sonde passive de
tension, sonde active de tension, sonde passive de courant, sonde active de courant,
Circuits dentre pour des mesures de puissance,

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques :
1. A.P. Malvino, Principes d'lectronique, 6 dition ; Sciences-Sup, Dunod.
2. J. Millman, Micro-lectronique, Ediscience.
3. J. Encinas, Systme verrouillage de phase (P.L.L): ralisations et applications.
4. H. H. Ouslimani, A. Ouslimani, Fonctions principales dlectronique, Casteilla,
2010.
5. F. Milsant, Cours d'lectronique tome 4 ; Eyrolles, 1994.
6. G. Metzger, J.P. Vabre, Electronique des impulsions, Tome 1, 3 e dition ; Masson,
1985.
7. J-D. Chatelain et R. Dessoulavy, Electronique, Tomes 1 et 2 ; Dunod.
8. S. Boubeker, Electronique des impulsions, OPU, 1999.
9. B. Haraoubia, Les amplificateurs oprationnels, ENAG Edition, 1994.
P a g e | 17

Semestre: 1
Unit denseignement: UEF 1.1.1
Matire 2: Capteurs en instrumentation industrielle
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement:
Acqurir des connaissances technologiques tendues sur les diffrents capteurs
rencontrs en milieu industriel et sur leurs utilisations (mtrologie, acquisition de
donnes). Comprendre une feuille de spcifications de tout type de capteur.

Connaissances pralables recommandes:


Electronique analogique, Fonctions dlectronique, Mesures lectriques et
lectroniques, Traitement du signal.

Contenu de la matire:

Chapitre 1 : Notions sur les Capteurs (02


semaines)
Grandeurs mesurables, Vocabulaire, Rles dun capteur, Types de mesurandes,
Caractristiques gnrales d'un capteur : tendue de mesure, sensibilit,
reproductibilit, Fonctionnement en linaire, hystrsis, rsolution, drive, les erreurs
de mesure, Les parasites. Type de capteurs (actifs, passifs, composites, ...),
capteurs simples, intgrs et/ou intelligents.

Chapitre 2 : Conditionnement des capteurs (04


semaines)
Dfinition dun circuit de conditionnement, Montage potentiomtrique (Mesure des
rsistances, Mesure des impdances complexes, Les inconvnients du montage
potentiomtrique. Pont de Wheatstone, Mesures des impdances complexes, Kelvin,
Wien, Maxwell, Owen, Hay, Anderson, ..., Amplificateurs d'instrumentation,
Amplificateurs diffrentiels, amplificateurs de charge et amplificateurs d'isolement.
Circuits de linarisation et de conditionnement non-linaire. valuation de la distorsion
des systmes de conditionnement. Conditionnement et CEM.

Chapitre 3 : Exemples de capteurs industriels (04


semaines)
Capteur de position et de dplacement. Capteur de Pression. Capteur de niveau.
Capteur de temprature (thermocouple et Pt100 ). Capteur de dbit. Capteur de
courant, jauges de contraintes,

Chapitre 4 : Systmes de transmission pour capteurs (03


semaines)
Les transmetteurs (Intrt dun transmetteur, Paramtrage des transmetteurs, choix
dun transmetteur, boucle de courant 4-20mA, Symboles, les transmetteurs
intelligents). Systmes de transmission analogiques et numriques. Transmission en
tension et en courant (4-20 mA). Techniques de modulation/dmodulation.
Transmission numrique srie synchrone ou asynchrone. Principes, caractristiques et
protocoles (RS232C, RS422, RS485, ...).

Chapitre 5 : Introduction aux capteurs intelligents (02


semaines)
P a g e | 18

Intrt et principes, architecture gnrale (module de captage, unit de traitement,


interface de communication, module dalimentation), avantages et inconvnients,
Rseaux de capteurs intelligents, exemples de protocoles de communication.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques
1. Georges Asch et Collaborateurs. Les capteurs en instrumentation industrielle,
Dunod 2006
2. Ian R. Sintclair. Sensors and transducers, Newnes, 2001.
3. J. G. Webster. Measurement, Instrumentation and Sensors Handbook, Taylor &
Francis Ltd.
4. M. Grout. Instrumentation industrielle: Spcification et installation des capteurs
et des vannes de rgulation, Dunod, 2002.
5. R. Palas-Areny, J. G. Webster. Sensors and signal conditioning, Wiley and Sons,
1991.
6. R. Sinclair, Sensors and Transducers, Newness, Oxford, 2001.
7. M. Cerr, Instrumentation industrielle : T.1 et T.2, Edition Tec et Doc.
8. N. Ichinose, Guide pratique des capteurs, Masson
9. P. Dassonvalle, Les capteurs, Dunod 2013.
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Semestre: 1
Unit denseignement: UEF 1.1.2
Matire 3: Traitement avanc du signal
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2
Objectifs de lenseignement :
Ltudiant reoit les notions de base qui lui permettent de comprendre et dappliquer
des mthodes de traitement de signal concernant les signaux alatoires et les filtres
numriques.
Connaissances pralables recommandes :
Des connaissances sur le traitement numrique des signaux dterministes et les
probabilits sont ncessaires pour suivre cette matire.
Contenu de la matire :
Chapitre 1: Rappels sur les filtres numriques (RIF et RII)
(3 semaines)
- Transforme en Z
- Structures, fonctions de transfert, stabilit et implmentation des filtres
numriques (RIF et RII)
- Filtre numrique minimum de phase
- Les mthodes de synthses des filtres RIF et des filtres RII
- Filtres numriques Multicadences
Chapitre 2 : Signaux alatoires et processus stochastiques
(4 Semaines)

- Rappel sur les processus alatoires

- Stationnarit

- Densit spectrale de puissance

- Filtre adapt, filtre de Wiener

- Priodogramme, corrlogramme, priodogramme moyenn, priodogramme liss

- Notions de processus stochastiques


- Stationnarits au sens large et strict et Ergodicit
- Exemples de processus stochastiques (processus de Poisson, processus gaussien
et processus Markovien)
- Statistiques d'ordre suprieur (Moments et cumulants, Polyspectres, processus
non gaussiens, traitements non linaires)
- Introduction au filtrage particulaire
Chapitre 3: Analyse spectrale paramtrique et filtrage numrique adaptatif
(4 semaines)
- Mthodes paramtriques
- Modle AR (Lvinson, Yulewalker, Burg, Pisarenko, Music )
- Modle ARMA
- Algorithme du gradient stochastique LMS
- Algorithme des moindres carrs rcursifs RLS
Chapitre 4 : Analyse temps-frquence et temps-chelle
(4 semaines)
- Dualit temps-frquence
- Transforme de Fourier court terme
- Ondelettes continues, discrtes et ondelettes dyadiques
- Analyse multi-rsolution et bases dondelettes
P a g e | 20

- Transforme de Wigner-Ville
- Analyse Temps-Echelle.
Mode dvaluation :
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.
Rfrences bibliographiques :
1. Mori Yvon, Signaux alatoires et processus stochastiques, Lavoisier, 2014.
2. N. Hermann, Probabilits de l'ingnieur : variables alatoires et simulations
Bouleau, 2002.

3. M. Kunt, Traitement Numrique des Signaux, Dunod, Paris, 1981.

4. J. M Brossier, Signal et Communications Numriques, Collection Traitement de


Signal, Herms, Paris, 1997.

5. M. Bellanger, Traitement numrique du signal : Thorie et pratique, 8e dition,


Dunod, 2006.
P a g e | 21

Semestre: 1
Unit denseignement: UEF 1.1.2
Matire 4: Mtrologie industrielle
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement:
A lissue de cette matire, ltudiant sera normalement apte valider un procd,
faire les rglages de paramtres ncessaires dans le cadre du contrle dun procd
de fabrication ou dfinir les conditions de scurit dun produit ou dun systme.

Connaissances pralables recommandes:


Mesures lectriques et lectroniques

Contenu de la matire:

Chapitre1: Gnralits sur la Mtrologie Industrielle


(02 semaines)
Dfinition. Vocabulaire et rle de la mtrologie. Diffrentes mtrologies (fondamentale,
scientifique, industrielle, lgale, etc.). Rle de la Mtrologie dans lentreprise.
Relation entre la mtrologie et la qualit. Les organismes ofciels internationaux. Les
normes et recommandations en mtrologie.

Chapitre 2 : Systme international d'units. (02


semaines)
Units de base. Symboles. Units drives. Autres units. Modles des relations entre
units de mesures. Mesure, erreurs Incertitudes Terminologie des incertitudes de
mesure. Les modes d'valuation des incertitudes de mesure. Loi de composition des
incertitudes de mesure.

Chapitre 3: Systme de mesure (03


semaines)
Principe et caractristiques. Etalonnage, sensibilit, prcision, rptabilit,
reproductibilit, rangeabilit, confirmation mtrologique, erreurs et incertitudes,
notions derreurs (alatoires, systmatiques, fidlit et justesse), causes derreurs
(talonnage, sensibilit, linarit, Prcision, Rptabilit, Reproductibilit, rsolution,
hystrsis etc.). Les mthodes gnrales de mesures, Mesures par dviation,
Mesures par comparaison.

Chapitre 4 : Traabilit mtrologique (03


semaines)
Dfinition et intrt, Notions dtalon, Hirarchies dtalonnage (SI, National
Rfrence, etc.), Exemples de chane de traabilit, Evaluation des bilans
dincertitudes. Etude statistiques.

Chapitre 5 : Mtrologie et contrle qualit (02


semaines)
Impact de la mesure sur la production, Notion de capabilit de mesure. Mthodes de
dclaration de la conformit, Gestion et identification des moyens de mesure. Choix de
la priodicit dtalonnage, Cartes de contrle.

Chapitre 6: Analyse statistique des donnes (03 semaines)


P a g e | 22

Dispersion statistique, La moyenne, Autres types de moyenne, La mdiane, Variance


et cart type, Histogramme, Construction dun histogramme, Estimation par la
mthode des moindres carrs, La loi ou distribution normale ou gaussienne, Intervalle
de confiance, Critres de normalit.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques :
1. Lorenzo Zago, Bases de Mtrologie, Haute Ecole dIngnierie et de Gestion du
Canton de Vaud, 2012.
2. P-A. Paratte, Trait d'lectricit, volume XVII, Systmes de mesure, Presses
polytechniques romandes.
3. J. P. Bentley, Principles of measurement systems, Pearson education, 2005.
4. J. Niard et al, Mesures lectriques, Nathan, 1981
5. D. Barchesi, Mesure physique et Instrumentation, Ellipses 2003.
6. J.P. Holman, Experimental Methods for Engineers, McGraw-Hill 1994.
7. https://langloisp.users.greyc.fr/metrologie/cm/index.html
8. chttp://www.doc-etudiant.fr/Sciences/Physique/Cours-Introduction-a-la-
Metrologie-Industrielle-8223.htmlFM
P a g e | 23

Semestre: 1
Unit denseignement: UEM 1.1
Matire 1: TP Electronique dinstrumentation
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Mettre en pratique les connaissances thoriques apprises sur les circuits lectroniques
associs linstrumentation.

Connaissances pralables recommandes:


Electronique dinstrumentation

Contenu de la matire:

TP1 Etude dun oscillateur relaxation : gnrateur de signaux carrs et un


Monostable.
TP2 Etude de la Conversion A/N (Temps dchantillonnage et thorme de Shannon,
erreurs de quan-
tification et temps de conversion).
TP3 Etude des circuits de Modulation AM, FM et MLI
TP4 Filtrage actif, Caractrisation des filtres, Ralisation dun gnrateur de signaux
bruit, Filtrage
des signaux parasits
TP5 Etude dune boucle verrouillage de phase PLL
TP6 Etude dun oscillateur command en tension (VCO)

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%.

Rfrences bibliographiques :
1. A.P. Malvino, Principes d'lectronique, 6 dition ; Sciences-Sup, Dunod.
2. J. Millman, Micro-lectronique, Ediscience.
3. J. Encinas, Systme verrouillage de phase (P.L.L): ralisations et applications.
4. H. H. Ouslimani, A. Ouslimani, Fonctions principales dlectronique, Casteilla,
2010.
5. F. Milsant, Cours d'lectronique tome 4, Eyrolles, 1994.
6. G. Metzger, J.P. Vabre, Electronique des impulsions, Tome 1, 3 e dition, Masson,
1985.
7. J-D. Chatelain et R. Dessoulavy, Electronique, Tomes 1 et 2, Dunod.
8. S. Boubeker, Electronique des impulsions, OPU, 1999.
P a g e | 24
P a g e | 25

Semestre: 1
Unit denseignement: UEM 1.1
Matire 2: TP Capteurs en instrumentation industrielle
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Mettre en pratique les connaissances thoriques apprises sur les circuits lectroniques
associs aux capteurs ainsi que ltude de quelques capteurs les plus courants.

Connaissances pralables recommandes:


Capteurs en instrumentation industrielle

Contenu de la matire:

TP1 : Evaluation dune mesure et tude dun circuit de conditionnement base dun
diviseur de
tension et dun pont de Wheatstone.
TP2 : Etude dun amplificateur dinstrumentation et valuation du mode commun.
TP3 : Conditionnement dun capteur passif (exemple Pt100)
TP4 : Conditionnement dun capteur actif (exemple thermocouple et compensation de
la soudure
froide)
TP5 : Etude dun capteur de niveau
TP6 : Etude dun capteur de pression

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%

Rfrences bibliographiques :
1. Georges Asch et Collaborateurs. Les capteurs en instrumentation industrielle,
Dunod 2006
2. M. Grout. Instrumentation industrielle: Spcification et installation des capteurs
et des vannes de rgulation, Dunod, 2002.
3. N. Ichinose, Guide pratique des capteurs, Masson
4. P. Dassonvalle, Les capteurs, Dunod 2013.
P a g e | 26

Semestre: 1
Unit denseignement: UEM 1.1
Matire 3: TP Traitement avanc du signal/TP Mtrologie industrielle
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1
Objectifs de lenseignement :
Travaux pratiques raliss sous MATLAB pour donner un aspect pratique des notions
thoriques complexes.

Connaissances pralables recommandes :


Mathmatiques (Thorie et calcul des probabilits, Analyse complexe). Thorie du
signal dterministe, Probabilits et statistiques. Mtrologie industrielle.

Contenu de la matire :

TP Traitement avanc du signal


TP1 : Synthse et application dun filtre RIF passe-bas par la mthode des fentres
(Hanning,
Hamming, Bessel et/ou Blackman)
TP2 : Synthse et application dun filtre RII passe-bas par transformation bilinaire
TP3 : Analyse spectrale paramtrique AR et/ou ARMA de signaux sonores (exemple de
signaux non-
stationnaires)
TP4 : Elimination dune interfrence 50Hz par lalgorithme du gradient LMS
TP5 : Dbruitage dun signal par la transforme en ondelette discrte DWT.

TP Mtrologie industrielle
TP1 : Etude des modes d'valuation des incertitudes de mesure.
TP2 : Etude de la Traabilit mtrologique.
TP3 : Estimation de la mesure par Mthode des moindres carrs.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%.

Rfrences bibliographiques :
1. Mori Yvon, Signaux alatoires et processus stochastiques, Lavoisier, 2014.
2. N. Hermann, Probabilits de l'ingnieur : variables alatoires et simulations
Bouleau, 2002.

3. M. Kunt, Traitement Numrique des Signaux, Dunod, Paris, 1981.

4. M. Bellanger, Traitement numrique du signal : Thorie et pratique, 8e dition,


Dunod, 2006Lorenzo Zago, Bases de Mtrologie, Haute Ecole dIngnierie et de
Gestion du Canton de Vaud, 2012.

5. P-A. Paratte, Trait d'lectricit, volume XVII, Systmes de mesure, Presses


polytechniques romandes.

6. J. P. Bentley, Principles of measurement systems, Pearson education, 2005.

7. D. Barchesi, Mesure physique et Instrumentation, Ellipses 2003.


P a g e | 27

8. J.P. Holman, Experimental Methods for Engineers, McGraw-Hill 1994.


P a g e | 28

Semestre: 1
Unit denseignement: UEM 1.1
Matire 4: Programmation orient objet en C++
VHS: 37h30 (Cours : 1h30, TP: 1h00)
Crdits: 3
Coefficient: 2
Objectifs de lenseignement :
Apprendre ltudiant les fondements de base de la programmation oriente objets
ainsi que la maitrise des techniques de conception des programmes avancs en
langage C++.
Connaissances pralables recommandes :
Programmation en langage C.
Contenu de la matire :
Chapitre 1. Introduction la programmation oriente objets (POO)
(2 semaines)
Principe de la POO, Dfinition du langage C++, Mise en route de langage C++, Le
noyau C du langage C++.
Chapitre 2. Notions de base
(2 semaines)
Les structures de contrle, Les fonctions, Les tableaux, La rcursivit, Les fichiers,
Pointeurs, Pointeurs et rfrences, Pointeurs et tableaux, L'allocation dynamique.
Chapitre 3. Classes et objets
(3 semaines)
Dclaration de classe, Variables et mthodes d'instance, Dfinition des mthodes,
Droits d'accs et encapsulation, Sparations prototypes et dfinitions, Constructeur et
destructeur, Les mthodes constantes, Association des classes entre elles, Classes et
pointeurs.
Chapitre 4. Hritage et polymorphisme
(3 semaines)
Hritage, Rgles d'hritage, Chanage des constructeurs, Classes de base,
Prprocesseur et directives de compilation, Polymorphisme, Rgles suivre, Mthodes
et classes abstraites, Interfaces, Traitements uniformes, Tableaux dynamiques,
Chanage des mthodes, Implmentation des mthodes virtuelles, Classes imbriques.
Chapitre 5. Les conteneurs, itrateurs et foncteurs
(3 semaines)
Les squences et leurs adaptateurs, Les tables associatives, Choix du bon conteneur,
Itrateurs : des pointeurs boosts, La pleine puissance des list et map, Foncteur : la
version objet des fonctions, Fusion des deux concepts.
Chapitre 6. Notions avances
(2 semaines)
La gestion des exceptions, Les exceptions standard, Les assertions, Les fonctions
templates, La spcialisation, Les classes templates.

TP Programmation oriente objet en C++


TP1 : Maitrise dun compilateur C++
TP2 : Programmation C++
TP3 : Classes et objets
TP4 : Hritage et polymorphisme
TP5 : Gestion mmoire
TP6 : Templates

Mode dvaluation :
Contrle continu : 40% ; Examen : 60%.
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Rfrences bibliographiques:
1. Bjarne Stroustrup (auteur du C++), Le langage C++, Pearson.
2. Claude Delannoy, Programmer en langage C++, 2000.
3. Bjarne Stroustrup, Le Langage C++, Pearson Education France, 2007.
4. P.N. Lapointe, Pont entre C et C++ (2me dition), Vuibert, Edition 2001.
P a g e | 30

Semestre : 1
Unit denseignement : UED 1.1
Matire : Matire 1 au choix
VHS : 22h30 ( cours : 1h30)
Crdits : 1
Coefficient : 1

Semestre : 1
Unit denseignement : UED 1.1
Matire : Matire 2 au choix
VHS : 22h30 ( cours : 1h30)
Crdits : 1
Coefficient : 1
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Semestre : 1
Unit denseignement : UET 1.1
Matire : Anglais technique et terminologie
VHS : 22h30 ( cours : 1h30)
Crdits : 1
Coefficient : 1

Objectifs de lenseignement:
Initier ltudiant au vocabulaire technique. Renforcer ses connaissances de la langue.
Laider comprendre et synthtiser un document technique. Lui permettre de
comprendre une conversation en anglais tenue dans un cadre scientifique.

Connaissances pralables recommandes:


Vocabulaire et grammaire de base en anglais

Contenu de la matire:

- Comprhension crite : Lecture et analyse de textes relatifs la spcialit.

- Comprhension orale : A partir de documents vido authentiques de vulgarisation


scientifiques, prise de notes, rsum et prsentation du document.

- Expression orale : Expos d'un sujet scientifique ou technique, laboration et


change de messages oraux (ides et donnes), Communication tlphonique,
Expression gestuelle.

- Expression crite : Extraction des ides dun document scientifique, Ecriture dun
message scientifique, Echange dinformation par crit, rdaction de CV, lettres de
demandes de stages ou d'emplois.

Recommandation : Il est vivement recommand au responsable de la matire


de prsenter et expliquer la fin de chaque sance (au plus) une dizaine de
mots techniques de la spcialit dans les trois langues (si possible) anglais,
franais et arabe.

Mode dvaluation:
Examen: 100%.

Rfrences bibliographiques :

1 P.T. Danison, Guide pratique pour rdiger en anglais: usages et rgles, conseils
pratiques, Editions d'Organisation 2007
2 A. Chamberlain, R. Steele, Guide pratique de la communication: anglais, Didier
1992
3 R. Ernst, Dictionnaire des techniques et sciences appliques: franais-anglais,
Dunod 2002.
4 J. Comfort, S. Hick, and A. Savage, Basic Technical English, Oxford University
Press, 1980
5 E. H. Glendinning and N. Glendinning, Oxford English for Electrical and
Mechanical Engineering, Oxford University Press 1995
P a g e | 32

6 T. N. Huckin, and A. L. Olsen, Technical writing and professional communication


for nonnative speakers of English, Mc Graw-Hill 1991
7 J. Orasanu, Reading Comprehension from Research to Practice, Erlbaum
Associates 1986
P a g e | 33

Proposition de quelques matires de


dcouverte
P a g e | 34

Semestre: 1
Unit denseignement: UED 1.1
Matire 1: Optolectronique
VHS: 22h30 (Cours: 1h30)
Crdits: 1
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Faire dcouvrir ltudiant les principaux composants optolectroniques, leurs
caractristiques, leur principe de fonctionnement ainsi que les domaines
dutilisation.

Connaissances pralables recommandes:


Electronique fondamentale, Dispositifs optolectroniques.

Contenu de la matire:

Chapitre 1 : Elments de Photomtrie


Sources optiques (primaire, secondaire), Flux lumineux, Angle solide, intensit
lumineuse, luminance et clairement dune source optique. Grandeurs spectrales.
Photomtrie nergtique et visuelle. Temprature de couleur. Source Lambertienne,

Chapitre 2 : Photometteurs
Technologies et caractristiques, Diagramme de directivit,
- La source LED
- La photodiode PIN
- La diode Laser, .

Chapitre 3 : Photorcepteurs
Photodiode, Phototransistor, Cellules photovoltaques, CCD

Chapitre 4 : Exemples dapplications


Dtecteur de mouvement (opto-coupleur fourche), Opto-coupleur pour isolation
galvanique, Dtecteur de luminescence, Dtecteur de contraste, Dtecteur de couleur,
Gnrateur photovoltaque,

Chapitre 5: Les fibres optiques


Rappels sur la rfraction. Les diffrents types de fibres optiques (Technologies et
caractristiques). Principes de la propagation de la lumire dans une fibre optique.
Dispersions, Pertes et attnuations dans une fibre optique

Mode dvaluation:
Examen: 100%.

Rfrences bibliographiques :
1. P. Bhattacharya, Semiconductor optoelectronic devices, Prentice Hall 1997.
2. E. Rosencher, Optolectronique, 2e dition, Dunod, 2002.
3. R. Maciejko, Optolectronique, Presses internationales Polytechnique, 2002.
4. K. Booth, The essence of optoelectronics, Prentice Hall 1998.
5. J. Wilson, Optoelectronics an introduction, 3th ed., PrenticeHall 1998.
P a g e | 35

6. J. Singh, Semiconductor optoelectronics, McGraw Hill, Inc., 1995.


7. D. Decoster, Dtecteurs optolectroniques, Lavoisier, 2002.
P a g e | 36

Semestre: 1
Unit denseignement: UED 1.1
Matire 2: Systmes nergtiques autonomes
VHS: 22h30 (Cours: 1h30)
Crdits: 1
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Susciter lintrt de ltudiant aux nergies renouvelables en gnral et aux systmes
nergtiques exploitant lnergie solaire ou olienne en particulier. Faire acqurir
ltudiant une certaine comptence dans le dimensionnement dune installation
olienne ou photovoltaque.

Connaissances pralables recommandes:


Connaissances gnrales

Contenu de la matire:

Chapitre 1 : Dispositifs de production dnergie lectrique,


Notions sur les transformations dnergie (mcanique ; thermique ; hydraulique, ),
Historique (Volta, Oersted, Faraday, etc.), lalternateur, la dynamo, les modes de
production de lnergie lectrique (centrale lectrique hydraulique, les centrales
thermiques). Les sources dnergies non renouvelables (fossiles et nuclaires). Les
sources dnergies renouvelables.

Chapitre 2 : Energie olienne


Historique, principe et structure, Caractristiques et dimensionnement, Carte du
gisement olien en Algrie, Parcs oliens et puissance, Normes, Avantages et
inconvnients. Exemple dune installation olienne.

Chapitre 3 : Systmes hybrides


Systmes Hybrides (Hydrolienne, Principe de fonctionnement de lhydrolienne, Les
diffrents types d'hydroliennes et les exploitants,)

Chapitre 4 : Energie solaire photovoltaque


Principe dune installation photovoltaque, le gisement solaire en Algrie, Technologies
des cellules photovoltaques, Les modules photovoltaques, MPPT, Caractristiques et
connectique photovoltaque, Normes. Londuleur (rle, principe, caractristiques et
rendement). Exemple dune installation photovoltaque.

Chapitre 5 : Autres sources dnergies renouvelables


Les familles dnergie renouvelables (nergie solaire, nergie olienne, nergie
hydraulique, Biomasse, Gothermie). Les diffrentes nergies renouvelables dans le
monde. Rentabilit.

Mode dvaluation:
Examen: 100%.

Rfrences bibliographiques :
1. J. Vernier, Les nergies renouvelables, dition PUF, 2012
2. E. Riolet, Le mini-olien, dition Eyrolles, 2010
3. A. Labouret et M. Villoz, Energie solaire photovoltaque, Editions du Moniteur
2009
P a g e | 37

4. B. Fox, Energie lectrique olienne : Production, prvision et intgration au


rseau, Collection Technique et Ingnierie, Dunod/LUsine Nouvelle 2015 (2 e
dition)
5. A. Damien, La biomasse nergie: Dfinitions, ressources et modes de
transformation, Collection Technique et Ingnierie, Dunod/LUsine Nouvelle 2013
(2 e dition)
6. A. Labouret, M. Villoz, Installations photovoltaques: Conception et
dimensionnement dinstallations raccordes au rseau, Collection Technique et
Ingnierie, Dunod/Le Moniteur 2012 (5e dition)
7. http://www.cder.dz/spip.php?article1442
P a g e | 38

IV - Programme dtaill par matire du semestre S2


P a g e | 39

Semestre: 2
Unit denseignement: UEF 1.2.1
Matire 1: Microprocesseurs & DSP
VHS: 67h30 (Cours: 3h00, TD: 1h30)
Crdits: 6
Coefficient: 3

Objectifs de lenseignement:
Connatre le fonctionnement et l'architecture interne des microprocesseurs et des DSP.
Apprendre leur programmation et connatre les techniques utilises pour
l'implmentation sur DSP des principaux algorithmes de traitement numrique du
signal.

Connaissances pralables recommandes:


Systmes microprocesseurs. Traitement numrique du signal. Programmation en
langage assembleur.

Contenu de la matire:

Premire partie : Microprocesseurs

Chapitre 1 : Notions de base sur les microprocesseurs (1


semaine)
Historique. Organisation interne des Microprocesseurs. Organisation des informations
(donnes, instructions, adresses) et bus. Diffrents types de processeurs
(microprocesseur standard, microcontrleur, DSP, API, etc.). Architectures (Von
Neumann, Harvard), CISC, RISC.

Chapitre 2 : Systme microprocesseur (2


semaines)
Organisation. Interfaage avec le monde extrieur, capteurs, actionneurs, exemples
dapplication. Mmoires (Diffrents types, Conception dun plan mmoire, Dcodage
dadresses). Principaux types de circuits dentres-sorties (architecture interne
simplifie et usages). Les interruptions (Causes, Interruptions matrielles, logicielles,
Traitement des interruptions). Pile et ses utilisations.

Chapitre 3 : Etude et programmation dun microprocesseur 16 bits (5


semaines)
Etude simplifie du brochage et de larchitecture interne, File d'attente. Diffrents
registres internes, Gestion de la mmoire. Modes dadressage. Etude du jeu
dinstructions. Ecriture de programmes en langage assembleur.

Seconde partie : Processeurs des signaux numriques

Chapitre 1 : Notions de base sur les processeurs des signaux numriques


(DSP) (1 semaine)
Introduction. Principaux domaines d'applications des DSP. Diffrences entre DSP et
microprocesseurs. Format de calcul (virgule fixe, virgule flottante). Schma gnral
d'utilisation d'un DSP.

Chapitre 3 : Etude dun processeur TMS320Cxx


(3 semaines)
Architecture, Structure et fonctionnement des units de calcul, Fonctions spciales
pour l'arithmtique, Jeu d'instructions, Modes dadressages spcifiques,
P a g e | 40

Chapitre 4. Dveloppement dapplications sur DSP (3


semaines)
Implantation d'un systme base de DSP. Environnement logiciel. Gnration de code.
Test et debug. Mise en uvre de quelques algorithmes de traitement du signal (FFT,
convolution, filtres numriques RIF et RII, etc.) sur DSP. Mise en pratique sur cartes
d'valuation DSP Texas Instrument TMS320Cxx.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques:

1. J.L. Hennessy ; Architecture des ordinateurs : Une approche quantitative,


Ediscience.
2. Zanella, Architecture et technologie des ordinateurs, Dunod.
3. B. Brey, Intel microprocessors 8086/8088, 80186/80188, 80286, 80386, Prentice
Hall, 2009.
4. M. Aumiaux, Les systmes microprocesseurs, Masson, Paris, 1982.
5. R. Dubois, Les microprocesseurs 16 bits la loupe et leurs coupleurs, Eyrolles,
1985.
6. B. Saguez, Guide Matriel et Logiciel 8086-8088 et Coprocesseur Mathmatique
8087, Eyrolles, 1985
7. G. Baudoin et F. Virolleau, Les DSP : famille TMS320C54x. Dveloppement
d'applications.
8. B. Bouchez, Applications audio-numriques des DSP: thorie et pratique du
traitement numrique du son, Publitronic, 2003.
9. P. Laspsley , J. Bier , A. Shoham, E. A. Lee, DSP Fundamentals: Architecture and
Features, Berkley Design Technology, Inc, 1994.
10.Oktay Alkin, Digital Signal Processing: A Laboratory Approach using. PC-DSP,
Prentice Hall.
11.Digital Control Applications with the TMS320 Family: Selected Application notes,
Texas Instruments, 1991.
12.R. Chassaing, D. Reay, Digital Signal Processing and Applications with the
TMS320C6713 and TMS320C6416 DSK, John Wiley & Sons, 2008.
13.T.B. Welch, C.H.G. Wright and M.G. Morrow, Real-Time Digital Signal Processing
from MATLAB to C with TMS320C6x DSPs, CRC Press, 2012.
14.N. Dahnoun, Digital Signal Processing Implementation using the TMS320 C6000
DSP platform, Prentice Hall, 2000.
15.N. Kehtarnaz, M. Keramat, DSP System Design using TMS320C6000, Prentice
Hall, 2006.
16.Texas Instruments, Code Composer Studio Development Tools v3.3 Getting
Started Guide (Rev. H), http://www.ti.com/lit/ug/spru509h/spru509h.pdf, 2008.
17.Texas Instruments, TMS320C6000 CPU and Instruction Set Reference Guide (Rev.
G), http://www.ti.com/lit/ug/spru189g/spru189g.pdf, 2006.
18.Texas Instruments, TMS320C6000 Chip Support Library API Reference Guide
(Rev. J), http://www.ti.com/lit/ug/spru401j/spru401j.pdf, 2004.
19.Texas Instruments, TMS320C1X User's Guide. Juillet 1991.
20.TMS320 DSP/BIOS Users Guide, Literature Number: SPRU423B November 2002,
Texas Instrument Inc.
21.TMS320C28x Floating Point Unit and Instruction Set, Reference Guide, Literature
Number: SPRUEO2B June 2007Revised January 2015, Texas Instrument Inc.
22.http://ii.pw.edu.pl/kowalski/dsp/edspa.
P a g e | 41

Semestre: 2
Unit denseignement: UEF 1.2.1
Matire 2 : Systmes asservis numriques
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement:
Introduire les proprits et les reprsentations des systmes dynamiques linaires
temps discret. Donner les lments fondamentaux de la commande des systmes
linaires reprsents sous forme de fonction de transfert en Z. Prsenter les
diffrentes mthodes de synthse de correcteurs temps discrets.

Connaissances pralables recommandes:


Analyse temporelle et frquentielle des systmes asservis continus, Reprsentations
graphique et dtat, Synthse de correcteur.

Contenu de la matire:

Chapitre 1 : Etude de lchantillonnage dun signal (5


Semaines)
Transforme en Z et transforme en Z modifie : Thorme de Shannon, bloqueurs
dordre zro et dordre un, proprits de la transforme en Z, Aperu sur la
transforme en Z modifie et ses proprits, Thorme de la valeur initiale et de la
valeur finale dun systme chantillonn
Transferts chantillonns, et quation aux rcurrentes : Discrtisation dun transfert
continu, Reprsentation des systmes discrets par des quations de rcurrences,
Proprits,
Aperu sur la transformation bilinaire dun transfert chantillonn : Relation entre
lasservissement des systmes continus et lasservissement des systmes
chantillonns (tude de la stabilit dun systme chantillonn par le critre de
Routh, ).

Chapitre 2 : Analyse des systmes chantillonns dans lespace dtat


(5 Semaines)
Discrtisation de lquation dtat dun systme continu : Relation entre lquation
dtat dun systme continu et celle dun systme discret.
Reprsentation et rsolution de lquation dtat dun systme discret : Diffrentes
formes de la matrice dvolution (diagonale, compagne, observateur, contrleur,
observabilit et contrlabilit).
Stabilit et prcision dun systme discret : Racines de lquation caractristique,
modes contrlables, modes observables partir de la reprsentation dtat des
systmes chantillonns, Rponses dun systme chantillonn, Examen de stabilit
par le critre de Jurry,
Notions de gouvernabilit et d'observabilit pour les systmes SISO et MIMO.

Chapitre 3. Synthse dun contrleur (5


Semaines)
Placement des ples par retour dtat et par retour de sortie : synthse de lois de
commande simples
Estimateur dtat et de sortie : Cas tats du systme inaccessibles
Autres mthodes de synthse : contrleur PID numrique (structure 1 degr de
libert), contr-leur RST (structure 2 degrs de libert).

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.
P a g e | 42

Rfrences bibliographiques :

1. L. Maret, Rgulation Automatique, 1987.


2. Dorf & Bishop, Modern Control Systems, Addison-Wesley, 1995
3. J. L Abatut, Systmes et Asservissement Linaires Echantillonns, Dunod.
4. J. Ragot, M. Roesch, Exercices et Problmes dAutomatique, Masson.
5. J. Mainguenaud, Cours dautomatique Tome3, Masson.
6. T.J. Katsuhiko, Modern Control Engineering, 5th edition, Prentice Hall.
7. H. Buhler, Rglages chantillonns Tome 1, Dunod.
8. M. Rivoire, Cours d'Automatique Tome 2, Chihab.
9. Th. Kailath, Linear Systems, Prentice-Hall, 1980.
P a g e | 43

Semestre: 2
Unit denseignement: UEF 1.2.2
Matire 3: Electronique numrique avance : VHDL et FPGA
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement :
Dans cette matire, les tudiants auront tudier les diffrents types de circuits
programmables, ainsi que les diffrentes mthodes de conception en particulier la
programmation en utilisant les langages de description matrielle.

Connaissances pralables recommandes :


Electronique numrique (combinatoire et squentielle)

Contenu de la matire :

Chapitre 1. Les Rseaux Logiques Programmables : PLD


(1 Semaine)
Introduction, Structure des rseaux logiques combinatoires, - Classification des
rseaux logiques combinatoires

Chapitre 2. Les technologies des lments programmables


(1 Semaine)

Chapitre 3. Architecture des FPGA


(2 Semaine)
Prsentation des CP (Circuits programmables type PLA, CPLD), Structure des FPGA &
ASICs, Architecture gnrale, Blocs logiques programmables, Terminologies, Blocs de
mmoire intgre, Exemples de constructeurs Altera et Xilinx, Applications.

Chapitre 4. Programmation VHDL (5


Semaines)
Introduction, Outils de programmation : Altera Quartus II, Modelsim, Xilinx ISE,
Structure dun programme, Structure dune description VHDL simple, Entit, Les
diffrentes descriptions dune architecture (de type flot de donnes, comportemental
ou procdural, structurel et architecture de test), Process, Les structures de contrle
en VHDL, Instructions squentielles et concurrentes, Les paquetages et les
bibliothques.

Chapitre 5. Applications : Implmentation de quelques circuits logiques dans


les circuits FPGA
(6 Semaines)
Multiplexeur, Compteur, Comparateur, Registre dcalage, Filtre simple.

Mode dvaluation :
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques :
P a g e | 44

1. Volnei A. Pedroni, Circuit Design with VHDL, MIT Press, 2004


2. Jacques Weber , Sbastien Moutault, Maurice Meaudre, Le langage VHDL : du langage
au circuit, du circuit au langage, Dunod, 2007
3. Christian Tavernier, Circuits logiques programmables, Dunod 1992
P a g e | 45

Semestre: 2
Unit denseignement: UEF 1.2.2
Matire 4 : Rseaux et communication industriels
VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)
Crdits: 4
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement:
Permettre ltudiant de se familiariser avec les notions de transmission de donnes
numriques, plus particulirement les diffrents types de rseaux existants dans le
monde industriel. Laccent sera mis sur la comprhension des diffrentes topologies
avec leurs avantages et inconvnients vis--vis dune installation industrielle donne.

Connaissances pralables recommandes:


Rseaux informatiques locaux.

Contenu de la matire:

Chapitre 1 : Gnralits sur les bus de terrain


(4 semaines)
Dfinition dun bus de terrain, Avantages et inconvnients, Historique : La boucle de
courant 4-20 mA, La normalisation des bus de terrain, La pyramide CIM, Les modle
OSI, TCP/IP et les rseaux de terrains, Les diffrents rseaux de terrain (WorldFIP,
INTERBUS, ASi, CAN, LonWorks, Profibus, Ethernet, Autres rseaux de terrain)

Chapitre 2 : Le bus 485 Modbus (2


semaines)
Rappel sur la norme RS232, La liaison RS485, Le protocole Modbus, Adressage et
trame Modbus

Chapitre 3 : CAN ou Computer Area Network (3


semaines)
Vue globale sur CAN, Modles CAN OSI, Trames de donnes CAN et caractristiques,
Mthodes daccs et principe darbitrage, Dbits, Hardware du CAN, Comparaison
entre CAN et la norme Ethernet 802.3, CANopen

Chapitre 4 : Profibus (3
semaines)
Vue globale sur Profibus et caractristiques, Les trois types de Profibus (DP, FMS et
PA), Mode daccs, Ethernet Industriel et Profinet, Dbits

Chapitre 5: Aperu sur les rseaux industriels sans fils


(3 semaines)
Technologies, protocoles et architectures des rseaux industriels sans fils (WLAN
802.11, Bluetooth, Protocoles HART, Wireless Profibus, Bluetooth, ZigBee, ),
Scurit des rseaux de communication industriels sans fil.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques:

1. G. Pujolle, Les rseaux, Eyrolles, avril 1995.


P a g e | 46

2. J-P., Thomesse, Les rseaux Locaux industriels, Eyrolles, 1994.


3. P. Vrignat, Rseaux locaux industriels - Cours et travaux pratiques, Gatan Morin,
1999.
4. P. Rolin, G. Martineau, L. Toutain, A. Leroy, Les rseaux, principes fondamentaux,
Hermes, 1996.
5. J-L. Montagnier, Pratique des rseaux d'entreprise - Du cblage l'administration
- Du rseau local aux rseaux tlcom, Eyrolles, 1996.
6. Ciame, Rseaux de terrain : Description et critres de choix, Hermes, 2001.
7. C. Servin, Rseaux et Tlcoms : Cours et exercices corrigs Dunod.
8. D. Prsent, S. Lohier, Transmissions et Rseaux, Cours et exercices corrigs,
Dunod.
9. P. Hoppenot, Introduction aux Rseaux Locaux Industriels.
10. Emad Aboelela, Network simulation experiments, University of
Massachusetts Dartmouth.
11. Ir. H. Lecocq, Les rseaux locaux industriels, Universit de Lige.
12. J-F. Hrold, O. Guillotin, P. Anayar, Informatique industrielle et rseaux en 20
fiches
13. P. Dumas, Informatique industriel 2eme dition
14. D. Paret, Le Bus CAN Application, Dunod
15. F. Lepage, Les rseaux locaux industriels, Hermes
16. C. Sindjui, Le grand guide des systmes de contrle- commande industriels.
P a g e | 47

Semestre: 2
Unit denseignement: UEM 1.2
Matire 1: TP Microprocesseurs & DSP
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Mettre en pratique les connaissances thoriques apprises dans le cours travers la
conception et la programmation en assembleur de diffrentes applications.

Connaissances pralables recommandes:


Langage assembleur pour les microprocesseurs et les DSP.

Contenu de la matire:

Ci-dessous une liste (non exhaustive) de TPs pouvant tre ralises dans le cadre de
ce TP. Les quipes de formation sont pries de raliser au moins 5 TPs (voire plus, si
cela est possible). Par ailleurs, il est permis de rajouter ou remplacer quelques TPs de
la liste jointe par dautres TPs en relation avec la matire. Prcision : Tout
changement apport cette liste doit tre signal au CPND de manire en faire
profiter les autres tablissements.

Partie Microprocesseurs :
TP0 : Prise en main de la carte de dveloppement (kit du labo ou utiliser le debugger
sous DOS)
TP1 : Techniques de programmation 1 : Conception de divers programmes simples
faisant intervenir les instructions les plus utilises ainsi que les diffrents modes
dadressage
TP2 : Techniques de programmation 2 : Conception de divers programmes faisant
intervenir boucles et structures de contrle.
TP3 : Programmation de linterface parallle, le temporisateur ou linterface srie.

Partie DSP :
TP0 : Familiarisation avec le Code Composer Studio : Cration de projets, outils de
dbogage, cible, EVM, simulateur.
TP1 : Implmentation dalgorithmes de la FFT, du produit de convolution
TP2 : chantillonnage dun signal audio
TP3 : Filtrage en temps rel : FIR, RII
TP4 : Ralisation dune application utilisant les interruptions.
TP5: Ralisation dun systme d'acquisition de donnes.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%

Rfrences bibliographiques:
1. M. Aumiaux, Lemploi des microprocesseurs, Masson, Paris, 1982.
2. M. Aumiaux, Les systmes microprocesseurs, Masson, Paris, 1982.
3. H. Lilen, 8088 et ses priphriques, Edition Radio 1986
4. S. Leibson, Manuel des interfaces, McGraw Hill, 1986
5. H. Bennassar, Cours de microprocesseurs 16 bits : 8086/68000, OPU, 1993
P a g e | 48

6. G. Baudoin et F. Virolleau, Les DSP : famille TMS320C54x. Dveloppement


d'applications.
7. Digital Control Applications with the TMS320 Family: Selected Application notes,
Texas Instruments, 1991.
8. R. Chassaing, D. Reay, Digital Signal Processing and Applications with the
TMS320C6713 and TMS320C6416 DSK, John Wiley & Sons, 2008.
9. N. Dahnoun, Digital Signal Processing Implementation using the TMS320 C6000
DSP platform, Prentice Hall, 2000.
10.Texas Instruments, Code Composer Studio Development Tools v3.3 Getting
Started Guide (Rev. H), http://www.ti.com/lit/ug/spru509h/spru509h.pdf, 2008.
11.Texas Instruments, TMS320C6000 CPU and Instruction Set Reference Guide (Rev.
G), http://www.ti.com/lit/ug/spru189g/spru189g.pdf, 2006.
12.Texas Instruments, TMS320C6000 Chip Support Library API Reference Guide
(Rev. J), http://www.ti.com/lit/ug/spru401j/spru401j.pdf, 2004.
13.Texas Instruments, TMS320C1X User's Guide. Juillet 1991.
14.TMS320 DSP/BIOS Users Guide, Literature Number: SPRU423B November 2002,
Texas Instrument Inc.
15.TMS320C28x Floating Point Unit and Instruction Set, Reference Guide, Literature
Number: SPRUEO2B June 2007Revised January 2015, Texas Instrument Inc.
P a g e | 49

Semestre: 2
Unit denseignement: UEM 1.2
Matire 2: TP Systmes asservis numriques
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Mettre en pratique les connaissances thoriques apprises dans le cours des systmes
asservis numriques.

Connaissances pralables recommandes:


Thorie des systmes asservis

Contenu de la matire:

TP1 : Modlisation dun systme physique avec Simulink/Matlab :


Modlisation dune machine courant continu (ou bien dune machine synchrone
aimants permanents, un processus chimique, etc.).
Linarisation par un modle discret (utilisation des commandes Matlab dlinmod,
trim, etc.), Comparaison des rponses temporelles modle/systme pour diffrentes
excitations en utilisant les blocs de Simulink/Matlab.

TP2 : Analyse dun systme chantillonn :


Application de quelques transformations sur le modle du TP1 (utilisation des
commandes : canon, bilin, c2dm, d2cm ssdata, tfdata, ss2ss, etc.).
Examen de la contrlabilit et lobservabilit (commandes ctrb, obsv)

TP3 : Synthse des lois de commande :


Synthse des lois de commande partir de la reprsentation dtat du systme
physique de TP1 (commandes : dreg, dlqr, etc.). Examen des rponses
frquentielles du systme corrig (commandes : dbode, dnyquist, dsigma, etc.).

TP4 : Implmentation des contrleurs chantillonns :


Utilisation de Simulink pour implmenter les lois de commande (par retour dtats, par
retour de sortie) ou des contrleurs chantillonns (PID numrique, RST, etc.).
Examen des rponses temporelles du systme boucl pour diffrentes entres de la
consigne, de la perturbation et du bruit de mesure.

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%

Rfrences bibliographiques :
1. L. Maret, Rgulation Automatique, 1987.
2. Dorf & Bishop, Modern Control Systems, Addison-Wesley, 1995
3. J. L Abatut, Systmes et Asservissement Linaires Echantillonns, Edition Dunod
4. J. Ragot, M. Roesch, Exercices et Problmes dAutomatique, Edition Masson.
5. T.J. Katsuhiko, Modern Control Engineering, 5th Edition, Prentice Hall.
6. H. Buhler, Rglages Echantillonns Tome 1, Edition Dunod.
7. Th. Kailath, Linear Systems, Prentice-Hall, 1980.
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Semestre: 2
Unit denseignement: UEM 1.2
Matire 3: TP VHDL FPGA / TP Rseaux industriels
VHS: 22h30 (TP: 1h30)
Crdits: 2
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement:
Les travaux pratiques devront permettre de mettre en pratique les lments
thoriques abords en cours.

Connaissances pralables recommandes:


Electronique numrique. Rseaux et protocoles de communication industriels.

Contenu de la matire:

Sont exposes ci-dessous deux listes de TPs rpondant aux objectifs de la matire.
Les quipes de formation sont pries de choisir au moins 5 TPs en fonction de la
disponibilit des quipements tant matriels que logiciels. Par ailleurs, il est permis
de rajouter ou remplacer quelques TPs de la liste jointe par dautres TPs en relation
avec la matire. Prcision : Tout changement apport ces listes doit tre signal au
CPND de manire en faire profiter les autres tablissements.

TP VHDL - FPGA
TP1 : Introduction au VHDL langage. Prsentation de loutil de dveloppement : carte
de
dveloppement et logiciel de simulation.
TP2 : Exploitation du simulateur de VHDL.
TP3 : Dveloppement dun premier exemple de circuit : compteur dcimal.
TP4 : Dveloppement dun deuxime exemple de circuit : multiplexeur.
TP5 : Dveloppement dun troisime exemple de circuit : registre dcalage.
TP6 : Implmentation dun FPGA.

TP Rseaux industriels

TP1 : Implmentation et mise en uvre sur RS232, RS485, Ethernet


TP2 : Transmission dune trame de donnes sur un bus CAN
TP3 : Transmission dune trame de donnes via une connexion sans fils
TP4 : Elaboration dun rseau local sans fils
TP5 : Echange donnes via rseau Ethernet
TP6 : Etude d'un exemple de rseau industriel

Mode dvaluation:
Contrle continu: 100%

Rfrences bibliographiques:

1. J. Weber , Sbastien Moutault , Maurice Meaudre, Le langage VHDL : du


langage au circuit, du circuit au langage, Dunod, 2007.
2. C. Tavernier, Circuits logiques programmables, Dunod 1992.
3. J-P. Thomesse, Les rseaux Locaux industriels, Eyrolles, 1994.
P a g e | 51

4. P. Vrignat, Rseaux locaux industriels - Cours et travaux pratiques, Gatan Morin,


1999.
5. P. Rolin, Gilbert Martineau, Laurent Toutain, Alain Leroy, Les rseaux, principes
fondamentaux, Hermes, 1996.
6. J-L. Montagnier, Pratique des rseaux d'entreprise - Du cblage l'administration
- Du rseau local aux rseaux tlcom, Eyrolles, 1996.
7. Ciame, Rseaux de terrain : Description et critres de choix, Hermes, 2001.
8. http://www.comsol.com/shared/downloads/IntroductionToCOMSOLMultiphysics.pd
f
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Semestre: 2
Unit denseignement: UEM 1.2
Matire 4 : Avant-projet
VHS: 37h30 (Cours: 1h00, TP: 1h30)
Crdits: 3
Coefficient: 2

Objectifs de lenseignement:
Analyser un cahier des charges. Mettre en uvre et conduire avec mthode un projet
de ralisation lectronique. Sensibiliser ltudiant la gestion du temps du projet.
Apprendre valider une solution technique. Rdiger les documents techniques.

Connaissances pralables recommandes:


Savoir trouver, utiliser et produire la documentation technique dun projet.

Contenu de la matire:

1. Analyser une solution technique existante.


2. Rechercher des documents et exploiter les informations.
3. Grer un projet : cahier des charges, choix techniques, cot, chancier,
planification de lexcution des travaux, prise en charge contraintes du cahier
des charges et de la dmarche qualit.
4. Mettre en uvre les composants matriels et logiciels laide des notices des
constructeurs.
5. Concevoir tout ou une partie dun schma fonctionnel ou structurel, dun
algorithme et de son codage associ, dun squenceur et de son codage
associ.
6. Raliser un prototype.
7. Valider une solution technique (mesures ou simulations) en respect dun cahier
des charges,
8. Rdiger les documents techniques associs au projet.

Indications gnrales :
Ds le dbut du semestre, les tudiants sont sollicits pour choisir un projet (du niveau
du master) parmi une liste fournie par le responsable de la matire ou proposer leur
propre projet (qui doit avoir laval pralable du responsable de la matire).

Mode dvaluation:
Contrle continu: 40% ; Examen: 60%.

Rfrences bibliographiques:

23.H. Prevost, Conduite de projet, Technip, 1996.


24.I. Chvidchenko, Conduite et gestion des grands projets, Cepadues, 1993.
25.V. Giard, Gestion de projet, Economica, 1991.
26.M. Joly & J.L.G. Muller, De la gestion de projet au management par projet, Afnor,
1994.
27.G.M. Caupin & J. Le Bissonnais, Conduire un projet d'investissement, Afnor - A
Savoir, 1996.
28.Documentations constructeurs (Data Books).
P a g e | 53
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Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Matire 1 au choix
VHS : 22h30 (cours : 1h30)
Crdits : 1
Coefficient : 1

Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Matire 2 au choix
VHS : 22h30 (cours : 1h30)
Crdits : 1
Coefficient : 1
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Semestre : 2
Unit denseignement : UET 1.2
Matire : thique, dontologie et proprit intellectuelle
VHS : 22h30 (Cours : 1h30)
Crdit : 1
Coefficient : 1

Objectifs de lenseignement:

Dvelopper la sensibilisation des tudiants aux principes thiques. Les initier aux
rgles qui rgissent la vie luniversit (leurs droits et obligations vis--vis de la
communaut universitaire) et dans le monde du travail. Les sensibiliser au respect et
la valorisation de la proprit intellectuelle. Leur expliquer les risques des maux
moraux telle que la corruption et la manire de les combattre.

Connaissances pralables recommandes :

Aucune

Contenu de la matire :

A- Ethique et dontologie

I Notions dEthique et de Dontologie (3


semaines)

1 Introduction
1. Dfinitions : Morale, thique, dontologie
2. Distinction entre thique et dontologie
2 Charte de lthique et de la dontologie du MESRS : Intgrit et honntet.
Libert acadmique. Respect mutuel. Exigence de vrit scientifique,
Objectivit et esprit critique. Equit. Droits et obligations de ltudiant, de
lenseignant, du personnel administratif et technique.
3 Ethique et dontologie dans le monde du travail
Confidentialit juridique en entreprise. Fidlit lentreprise. Responsabilit
au sein de lentreprise, Conflits d'intrt. Intgrit (corruption dans le travail,
ses formes, ses consquences, modes de lutte et sanctions contre la
corruption)

II Recherche intgre et responsable (3 semaines)

1 Respect des principes de lthique dans lenseignement et la recherche


2 Responsabilits dans le travail dquipe : Egalit professionnelle de
traitement. Conduite contre les discriminations. La recherche de l'intrt
gnral. Conduites inappropries dans le cadre du travail collectif
3 Adopter une conduite responsable et combattre les drives : Adopter une
conduite responsable dans la recherche. Fraude scientifique. Conduite contre
la fraude. Le plagiat (dfinition du plagiat, diffrentes formes de plagiat,
procdures pour viter le plagiat involontaire, dtection du plagiat, sanctions
contre les plagiaires, ). Falsification et fabrication de donnes.
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B- Proprit intellectuelle

I- Fondamentaux de la proprit intellectuelle (1


semaines)

1 Proprit industrielle. Proprit littraire et artistique.


2 Rgles de citation des rfrences (ouvrages, articles
scientifiques, communications
dans un congrs, thses, mmoires, )

II- Droit d'auteur (5 semaines)

1. Droit dauteur dans lenvironnement numrique


Introduction. Droit dauteur des bases de donnes, droit dauteur des logiciels.
Cas spcifique des logiciels libres.

2. Droit dauteur dans linternet et le commerce lectronique


Droit des noms de domaine. Proprit intellectuelle sur internet. Droit du site de
commerce lectronique. Proprit intellectuelle et rseaux sociaux.

3. Brevet
Dfinition. Droits dans un brevet. Utilit dun brevet. La brevetabilit. Demande
de brevet en Algrie et dans le monde.

4. Marques, dessins et modles


Dfinition. Droit des Marques. Droit des dessins et modles. Appellation
dorigine. Le secret. La contrefaon.

5. Droit des Indications gographiques


Dfinitions. Protection des Indications Gographique en Algrie. Traits
internationaux sur les indications gographiques.

III- Protection et valorisation de la proprit intellectuelle (3


semaines)

Comment protger la proprit intellectuelle. Violation des droits et outil


juridique. Valorisation de la proprit intellectuelle. Protection de la proprit
intellectuelle en Algrie.

Mode dvaluation :
Examen : 100 %

Rfrences bibliographiques:

1 Charte dthique et de dontologie universitaires,


https://www.mesrs.dz/documents/12221/26200/Charte+fran__ais+d__f.pdf/50d6
de61-aabd-4829-84b3-8302b790bdce
2 Arrts N933 du 28 Juillet 2016 fixant les rgles relatives la prvention et la
lutte contre le plagiat
3 L'abc du droit d'auteur, organisation des nations unies pour lducation, la
science et la culture (UNESCO)
4 E. Prairat, De la dontologie enseignante. Paris, PUF, 2009.
P a g e | 57

5 Racine L., Legault G. A., Bgin, L., thique et ingnierie, Montral, McGraw Hill,
1991.
6 Siroux, D., Dontologie : Dictionnaire dthique et de philosophie morale, Paris,
Quadrige, 2004, p. 474-477.
7 Medina Y., La dontologie, ce qui va changer dans l'entreprise, ditions
d'Organisation, 2003.
8 Didier Ch., Penser l'thique des ingnieurs, Presses Universitaires de France,
2008.
9 Gavarini L. et Ottavi D., ditorial. de lthique professionnelle en formation et en
recherche, Recherche et formation, 52 | 2006, 5-11.
10 Car C., Morale, thique, dontologie. Administration et ducation, 2e trimestre
2002, n94.
11 Jacquet-Francillon, Franois. Notion : dontologie professionnelle. Le tlmaque,
mai 2000, n 17
12 Carr, D. Professionalism and Ethics in Teaching. New York, NY Routledge. 2000.
13 Galloux, J.C., Droit de la proprit industrielle. Dalloz 2003.
14 Wagret F. et J-M., Brevet d'invention, marques et proprit industrielle. PUF 2001
15 Dekermadec, Y., Innover grce au brevet: une rvolution avec internet. Insep
1999
16 AEUTBM. L'ingnieur au cur de l'innovation. Universit de technologie Belfort-
Montbliard
17 Fanny Rinck et lda Mansour, littratie lre du numrique : le copier-coller
chez les tudiants, Universit grenoble 3 et Universit paris-Ouest Nanterre la
dfense Nanterre, France
18 Didier DUGUEST IEMN, Citer ses sources, IAE Nantes 2008
19 Les logiciels de dtection de similitudes : une solution au plagiat lectronique?
Rapport du Groupe de travail sur le plagiat lectronique prsent au Sous-
comit sur la pdagogie et les TIC de la CREPUQ
20 Emanuela Chiriac, Monique Filiatrault et Andr Rgimbald, Guide de ltudiant:
lintgrit intellectuelle plagiat, tricherie et fraude les viter et, surtout,
comment bien citer ses sources, 2014.
21 Publication de l'universit de Montral, Stratgies de prvention du plagiat,
Intgrit, fraude et plagiat, 2010.
22 Pierrick Malissard, La proprit intellectuelle : origine et volution, 2010.
23 Le site de lOrganisation Mondiale de la Proprit Intellectuelle
www.wipo.int
24 http://www.app.asso.fr/
P a g e | 58

Proposition de quelques matires de


dcouverte
P a g e | 59

Semestre 2
Unit denseignement Dcouverte: UED 1.2
Matire : Electroacoustique et analyses vibratoires
VHS: 22h30 (Cours: 1h30)
Crdits: 1
Coefficient: 1

Objectifs de lenseignement
Acqurir des notions dacoustique, dlectroacoustique (mesures et analyses des
bruits, prise de son et enregistrement, chaine lectroacoustique, analogie lectro-
mcanique-acoustique). Application du Traitement du Signal la surveillance des
machines tournantes par analyse vibratoires.

Connaissances pralables recommandes


Des notions de base en physique (ondes et vibrations), Electronique, Electrotechnique
et Traitement du Signal.

Contenu de la matire :

Chapitre 1 : Notions dacoustique (4


semaines)
Dfinition dune onde acoustique, de pression acoustique, de vitesse acoustique,
dacclration acoustique et dimpdance acoustique ; Production et modes de
propagation des ondes acoustiques ;
quation gnrale de propagation en termes de pression acoustique et solutions :
onde plane et onde sphrique,
Rflexion et Rfraction des ondes acoustiques,
Niveau acoustiques, bandes de frquences danalyse des bruits et vibrations,
Perception auditive, Courbes isosoniques et Filtres de pondration

Chapitre 2 : lectro-acoustique (5
semaines)
Chane lectroacoustique : source sonore, microphone lectrostatique, amplificateur
de puissance, haut-parleur (lectrodynamique),
Prise de sons et enregistrement sur diffrents supports,
Mesures et analyse des bruits : description et fonctionnement dun sonomtre,
calibration du microphone, valuation des nuisances sonores.
Audiomtrie automatique
Analogie lectro-mcano-acoustique

Chapitre 3 Mesures et analyses vibratoires (6


semaines)
Vibration, origines des vibrations, diffrents types de vibrations (libres, forces,
rsonances, auto- excites),
Signaux vibratoires : harmonique, priodique complexe, alatoire, transitoire,
reprsentations temporelle et frquentielle,
Application du traitement du signal lanalyse vibratoire : notion de Spectre, dAuto-
corrlation et du Cepstre,
Stratgies de maintenance des machines tournantes et paramtres de surveillance,
Chane de mesure des vibrations,
Exploitations des rsultats de mesures.(diagnostic et dtection des dfauts, ...)

Mode dvaluation:
Examen: 100%.
P a g e | 60

Rfrences bibliographiques:

1. Michel Bruneau, Manuel dacoustique fondamentale.


2. J. Jouhaneau, Notions Elmentaires dAcoustique, Electroacoustique.
3. Mario Rossi, lectroacoustique, EPFL, 1979.
4. Graham Kelly, Mechanical Vibrations: Theory and Applications.
5. M. Kunt, Traitement Numrique des signaux, Presses Polytechniques et
Universitaires Romandes (PPUR).
6. Analyse vibratoire des machines tournantes, Techniques de lIngnieur.
P a g e | 61

Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Compatibilit lectromagntique
VHS : 22h30 (Cours : 1h30)
Crdit : 1
Coefficient : 1

Objectifs de lenseignement:
Appliquer les lois gnrales de l'lectromagntisme aux problmes de pollution
lectromagntique de l'environnement et de son effet sur les systmes lectroniques.
Acqurir une approche globale de recherche des causes potentielles de perturbation
dans un environnement donn. Choisir une technique de protection optimale.

Connaissances pralables recommandes :


Notions de bases en mathmatiques, statistiques et traitement de signal.

Contenu de la matire :

Chapitre 1 : Introduction la compatibilit lectromagntique (CEM)


Organismes de rglementation, Prsentation gnrale, Exemples de normes,
Terminologie employe.

Chapitre 2 : Sources de Perturbations


Classification selon W. Duff, Sources permanentes/Intermittentes, Sources
impulsionnelles (i-arcs lectriques, foudre, dcharges ESD, ii- contacts lectrique et
charge inductive, iii- dcharge lectrostatique).

Chapitre 3 : Etude des couplages


Couplage par impdance commune, Couplage capacitif, Couplage inductif, Couplage
par rayonnement lectromagntique

Chapitre 4 : Les techniques de protection en CEM


Disposition des composants et du cblage, Les blindages, Le filtrage, La protection
contre les surtensions.

Chapitre 5 : Circuits imprims et circuits intgrs


Sources dmission sur un circuit, Paramtres de quelques sries logiques, Marges de
bruit statique et dynamique des sries logiques, Courants de transition
groundbounce, Inductance des trous de passage vias, Placement des
condensateurs de Dcouplage, Circuits simple ou double face, Alimentations en
simple/double face, Circuits multicouches, Pistes, lignes de transmission, Impdances
caractristiques, Circuits dadaptation de ligne.

Chapitre 6 : Les mthodes d'investigation


Les tests normaliss, Les tests d'immunit aux dcharges lectrostatiques, Les tests
d'immunit aux perturbations conduites, Les tests d'immunit aux creux de tension,
coupures brves, Les tests d'immunit aux perturbations rayonnes, Les tests
d'immunit aux champs magntiques, Mesure des perturbations conduites mises,
Mesure des perturbations conduites rayonnes.

Mode dvaluation :
Examen : 100 %

Rfrences bibliographiques:
P a g e | 62

1. T. Williams, Compatibilit lectromagntique de la conception lhomologation.


2. Guy Grard Champiot, Les perturbations lectriques et lectromagntiques.
3. JL. Cocquerelle, CEM et lectronique de puissance.
4. A. Charoy, Parasites et perturbations des lectroniques :Terres, masses,
cblages.
P a g e | 63

Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Instrumentation et mesures industrielles
VHS : 45h00 (Cours : 3h00)
Crdit : 2
Coefficient : 2
Objectifs de lenseignement:
Faire dcouvrir l'tudiant les techniques de mesures industrielles. Le familiariser aux
systmes de mesures industriels et linitier aux problmes de bruits et interfrences
dans linstrumentation industrielle.

Connaissances pralables recommandes :


Electronique dinstrumentation, capteurs, mesures lectriques et lectroniques.

Contenu de la matire :

Chapitre 1 : Notions de mesures industrielles


(2 semaines)
Rle des instruments, Symbolisation et schmas, Caractristiques dun appareil de
mesure (Prcision, rsolution, temps de rponse, tendue de mesure, linarit,
grandeur physique, ), Les gnrateurs de tension (0-10V), Les gnrateurs
d'intensit (0-20 mA et 4-20 mA). Connections (filaires avec contact 2, 3 et 4 fils,
sans fils, ...), mesures statiques et mesures dynamiques.

Chapitre 2 : Acquisition numriques des signaux analogiques (Rappels)


(2 semaines)
Principes dune chaine de mesure analogique et numrique, Echantillonneur bloqueur,
conditionnement, Conversion analogique numrique (CAN), exemples de CAN,
Prcision et rsolution dun CAN. Fonction principales de llectronique en
instrumentation (filtrage, amplification, gnrateur dimpulsions, )

Chapitre 3 : Exemples de systmes de mesure industriels


(6 semaines)
Introduction, appareillage classique (voltmtre, pinces ampremtrique,
mgohmmtre, ...), Thermomtrie (avec et sans contacts, techniques de
raccordement, tolrances, ), Manomtrie (principes gnraux, les diffrents types,
dfaillances et anomalies ), Dbitmtrie (principes et exemples, lextracteur de
racine carre, dbitmtre compensation de masse volumique, les erreurs de
dbitmtrie), Tachymtrie (principe et appareillage), Hygromtrie (principe et
appareillage), Mesure de viscosit (principe et appareillage), Mesure de densit et
masse volumique (densimtrie), Mesure du pH (pH-mtre), Chromatographie (principe
et appareillage), Mesure de conductivit (principe et appareillage), Techniques
danalyse spectroscopique (principe et appareillage),

Chapitre 4 : Bruits et interfrences dans linstrumentation lectronique


(2 semaines)
Introduction, Origines des bruits dans les circuits lectroniques, Exemples de bruits
(thermique, en 1/f ), Modles de bruits en amplification, Les interfrences, Sources
des interfrences cohrentes, Rduction des effets des interfrences en
instrumentation

Chapitre 5 : Rseaux de mesures et bus dinstrumentation


(3 semaines)
Introduction aux bus dinstrumentation (principe, exemples, protocoles et normes),
Testeurs de liaisons, analyseurs de trames, analyseurs de protocoles, mesures par le
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protocole HART pour Highway Addressable Remote Transducer (concepts de base,


exemples, maintenance via HART)

Mode dvaluation :
Examen : 100 %

Rfrences bibliographiques:

1. G. Asch, Les Capteurs en Instrumentation Industrielle, Dunod, 2010.


2. P. Dassonvalle, Les Capteurs : Exercices et problmes corrigs, Dunod, 2005.
3. A. Migeon, Applications industrielles des capteurs, Herms Science Publications,
1997.
4. M. Cerr, Instrumentation industrielle, Tomes 1 et 2, Edition Tech et Doc.
5. F. Cottet, Traitement des signaux et acquisition de donnes : Cours et exercices,
Dunod, 1999.
6. G. Asch et al., Acquisition de donnes, 3e dition, Dunod, 2011.
7. J. G. Webster, Measurement, Instrumentation and Sensors Handbook, Taylor &
Francis Ltd.
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Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Scurit industrielle
VHS : 22h30 (Cours : 1h30)
Crdit : 1
Coefficient : 1

Objectifs de lenseignement:
Sensibiliser le personnel la scurit et lenvironnement. Evaluer et traiter les risques
professionnels.

Connaissances pralables recommandes :


Notions de bases en chimie et lectrotechnique.

Contenu de la matire :

Chapitre 1 : Elments de maitrise des risques


Notions de risque, Les diffrents domaines de la scurit , Les rsultats de scurit
dans lindustrie, Les facteurs de succs en matire de scurit .

Chapitre 2 : Dmarche applique dans les industries de procd


Analyse des modes de dfaillance, de leurs effets et de leur criticit (AMDEC) , Retour
dexprience en matire de gestion des risques dans les industries de procd ,
Systme de Management de la scurit (SMS), Normes qualit ISO 9000 - Version
2000

Chapitre 3 : Risques chimiques (Identification, valuation, Maitrise)


Les produits toxiques, Les produits sensibles la chaleur , Ractions chimiques
dangereuses.

Chapitre 4 : Scurit des installations lectriques :


Risques lectriques, Nature des accidents lectriques et dangers du courant
lectrique, Mesures de protection, Mesures de scurit contre les effets indirects du
courant lectrique, Vrifications et contrle des installations.

Chapitre 5 : Scurit des quipements de travail et des appareils pression


Rglementation et normes techniques , Contrle des appareils pression de vapeur et
de gaz, Contrle des machines tournantes et des appareils thermiques , Contrle de la
tuyauterie et des postes de chargement.

Mode dvaluation :
Examen : 100 %

Rfrences bibliographiques:

1.
2.
3.
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Semestre : 2
Unit denseignement : UED 1.2
Matire : Robotique
VHS : 22h30 (Cours : 1h30)
Crdit : 1
Coefficient : 1

Objectifs de lenseignement:
Introduire l'tudiant aux aspects fondamentaux de la robotique et aux rcents
dveloppements dans le domaine de la robotique industrielle.

Connaissances pralables recommandes :


Aucune.

Contenu de la matire :

Chapitre 1 : Gnralits
Dfinitions, Constituants d'un robot, Classification des robots, Caractristiques d'un
robot, Les gnrations de robot, Programmation des robots.

Chapitre 2 : Degr de liberts - Architecture


Positionnement d'un solide dans l'espace, Liaison, Mcanismes, Morphologie des
robots, manipulateurs

Chapitre 3 : Modle gomtrique d'un robot en chane simple


Ncessit d'un modle, Coordonnes oprationnelles, Translation et rotation, Matrices
de transformation homogne, Obtention du modle gomtrique, Paramtres de
Denavit-Hartenberg modifi, Inversion du modle gomtrique - Mthode de Paul,
Solutions multiples Espace de travail Aspects

Chapitre 4 : Technique de simplification


Vitesse et acclration des robots, Matrice Jacobenne et son utilit, Dfinition des
quations en direct et en inverse, Signification des singularits.

Mode dvaluation :
Examen : 100 %

Rfrences bibliographiques:

1. H. Asada, J.J.E. Slotine, Robot Analysis and Control, a Wiley Interscience


Publication, 1986.
2. J.J. Craig, Introduction to Robotics, Mechanics and Control, Addison-Wesley,
1989.

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