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CAPACIDAD Y DESEMPEO
DEL PROCESO
H. Hernndez / P. Reyes
Sept. 2007
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
CONTENIDO
1. Introduccin
a. Definiciones bsicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variacin a corto y a largo plazo
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
1. Introduccin
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente
importante asegurarse de antemano de que el proceso ser capaz de
mantener las tolerancias. En las dcadas recientes ha surgido el
concepto de capacidad del proceso habilidad del proceso, que
proporciona una prediccin cuantitativa de qu tan adecuado es un
proceso. La habilidad del proceso es la variacin medida, inherente del
producto que se obtiene en ese proceso.
1 a. Definiciones bsicas.
Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas,
herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la
produccin.
Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de
aptitud, basada en el desempeo probado, para lograr resultados
que se puedan medir.
Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los lmites de especificaciones de calidad.
Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad
del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el
resultado de la medicin del trabajo realizado por el proceso.
Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadstico, es decir, en ausencia de causas especiales o
atribuibles de variacin.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
1b. Objetivos1
1
Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los
datos considerados, slo son los que se obtuvieron del subgrupo
racional. Ayuda a determinar subgrupos racionales importantes.
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Z st
lmite especif . nom.
desv.std ST
dnde:
Zlt = Zst-1.5shift
2
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404
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Cp
LSE LIE
6 ST
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donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
ST = desviacin estndar a corto plazo
El ndice Cp debe
ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Para calcular la ha
bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente frmula:
menor Z I , Z S
C pk
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
1.33 .
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Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275
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El histograma es el siguiente:
Histogram of Datos
40
30
Frequency
20
10
0
160 190 210 230 260 290 310 330 360
Datos
X 264.19
S = 32.15
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Cp
LSE LIE
330 200 .674 < 1.33, el proceso no es hbil.
6S 192.90
Zi
330 264.19 2.046
32.15
Zs
200 264.19 1.996
32.15
menor Z I , Z S 2
C pk 0.66
3 3
Ventajas
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Procedimiento
Ejemplo 2
. Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y,
clculamos la probabilidad de su posicin (Pj)
Pos. J Xj Pj
1 197 0.025
2 200 0.075
3 215 0.125
4 221 0.175
5 231 0.225
6 242 0.275
7 245 0.325
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8 258 0.375
9 265 0.425
10 265 0.475
11 271 0.525
12 275 0.575
13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975
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Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent
60
50
40
30
20
10
1
150 200 250 300 350 400
Xj
Pj
0.84
0.5
Desv. Estndar
Fraccin
Defectiva
LIE X Media Xj
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Prediccin
Tiempo
R S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4
Donde,
S = Desviacin estndar de la poblacin
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de
control.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejemplo 3 (carta X - R)
x media de medias
R 77.3
33.23
d 2 2.326
200 264.06
El C pk = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3 33.23
especificaciones.
Ejemplo 4 (carta X - S)
x 100
s 1.05
= 1.117
C4 .094
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
105 100
El C pk 1.492
3 1.117
105 85
El C p 2.984
6 1.117
Ejemplo 5:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que
el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes, se obtuvo
lo siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3
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(X i X )2
S i 1
n 1
4( n 1)
C4
4n 3
S
LT
C4
Pp
LSE LIE
6 LT
donde:
Pp = ndice de desempeo potencial
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
El ndice Pp debe
ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
LSE X
Zs ;
LT
LIE X
ZI
LT
menor Z I , Z S
Ppk
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
1 .33.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus
de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE
= 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:
d) Determinar el Cp
e) Determinar el Cpk
f) Determinar el Cpm
g) Determinar el Cpkm
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350
Datos
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar
que es normal la distribucin.
60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350 400
Datos
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
LSL USL
Process Data Within
LSL 200.00000 Overall
Target *
USL 330.00000 Potential (Within) Capability
Sample Mean 269.25354 Cp 0.70
SampleN 100 CPL 0.75
StDev(Within) 30.83472 CPU 0.66
StDev(O verall) 30.80011 Cpk 0.66
CCpk 0.70
O verall Capability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
Ppk 0.66
Cpm *
Interpretacin:
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper
spec 330
6. Estimate R-bar OK
320
_
X=269.3
240
LCL=176.7
160
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 210 240 270 300 330 360
100
50 __
MR=34.8
0 LCL=0
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 200 300 400
Cp 0.70 Overall
Pp 0.70
250
Cpk 0.66 Ppk 0.66
CCpk 0.70 Cpm *
200 Specs
80 85 90 95 100
Observation
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejemplo en Minitab
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
USL
Process Data O verall Capability
LSL * Pp *
Target * PPL *
USL 3.50000 PPU 0.85
Sample Mean 0.82279 Ppk 0.85
SampleN 100
Exp. O verall Performance
Shape 1.24929
PPM<LSL *
Scale 0.88470
PPM>USL 3795.26
O bserved Performance PPMTotal 3795.26
PPM<LSL *
PPM>USL 10000
PPMTotal 10000
El ndice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz
ya que 0.85<.1.33
Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarn fuera de los lmites de
especificaciones.
3
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo plazo.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
a. Fraccin defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una
carta de control p de fraccin defectiva con tamao de muestra
constante con al menos 25 puntos, y una vez que est en control, se
determina su p media. La capacidad del proceso es
1-P media.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
b. Nmero de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al
menos 25 puntos.
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