DE

SOBRE LA DIFRACCION
LA LUZ GENERADA POR UNA MALLA
Victor Alfonso Tzorin, carne 14228
Departamento de F
sica
Universidad del Valle de Guatemala

1 de junio de 2017

Resumen
El objetivo de este experimento era determinar las dimensiones de una malla en base al patr on de
difracci
on que esta generaba cuando se la expona a una fuente de luz. Se uso como equipo un laser de 650nm.
Adem as, tambien se utiliz
o un soporte para lentes, una rendija de difracci
on, una malla, un riel o
ptico y una
pantall. Se evaluo el metodo con una calibracion y se determin o que era adecuado dado que se calcularon
medidas que concordaba con la informaci on te
orica. Adem as, los porcentajes de error fueron menores
al 4.00 %. Tambien se encontr o que el ancho de ranura de la malla de dimensiones desconocidas era de
(2.4900.075)104 m con una separaci on de (0.8460.002)104 m en un eje y de (2.5850.074)104 m
con una separaci on de (0.327 0.003) 104 m en el otro. La mayor fuente de error fue la tecnica como se
realizaron las mediciones, pues consista de esbozar el patr
on de difraccion en la oscuridad. Para disminuir
este error se recomienda utilizar un sensor de luz para medir el patr on de difracci
on.

Palabras Clave: interferencia, patr

on de difracci
on, calibraci
on, rendija, malla

I. Marco teorico
r2 r1 = m (1)

A. Interferencia Donde r2 , r1 son las longitudes de la trayectoria de

las dos ondas, m es un n umero natural cualquiera
y es la longitud de onda en com un de las dos on-
La interferencia se da cuando dos o m as ondas se das. La interferencia destructiva genera una onda
superponen. Cuando esto sucede, el desplazamiento resultante menor a las ondas iniciales. Este tipo de
resultante en cualquier punto y en cualquier instan- interferencia se da cuando las ondas estan desfa-
te se encuentra sumando los desplazamientos ins- sadas. Para dos ondas dadas esto se expresa de la
tant aneos que produciran en el punto las ondas siguiente forma [4] :
individuales. Existen dos tipos de interferencia: la
interferencia constructiva y la destructiva. La in-  
terferencia constructiva genera una onda resultante 2m + 1 1
r2 r1 = = m+ (2)
mayor a las ondas iniciales. Este tipo de interferen- 2 2
cia se da cuando las ondas estan en fase. Para dos
ondas dadas esto se expresa de la siguiente forma Donde las variables tienen la misma definici
on ya
[4]
: dada. Estos dos tipos de interferencia se pueden

1
apreciar en la firgura No. 1. Hay dos clases distintas de difraccion. Una clase
de difraccion es la de Fresnel, que se da cuando la
fuente puntual como la pantalla esta relativamente
cerca del obstaculo que forma el patron de difrac-
cion. La otra clase es la difraccion de Fraunhofer,
que se da cuando la fuente, el obstaculo y la pan-
talla estan lo suficientemente alejados para consi-
derar como paralelas todas las lneas de la fuente
al obstaculo y del obstaculo a un punto del patr
on.
Tambien se puede hablar de difraccion dada por
una o m ultiples ranuras o uno o varios obstaculos
[2]
.

Figura 1: Ilustraci
on de interferencia constructiva
y destructiva [4] C. Difraccion en una ranura

Se analizara el sistema mostrado en la figura No.

B. Difraccion 3. Dado un frente de onda que atraviesa la ranu-
ra, cada punto de este frente se puede ver como la
fuente de ondas secundarias.
Segun la optica geometrica, si se posiciona una
fuente de luz frente una abertura que mira hacia
una pantalla, se debera de observar una franja
luminosa del tama no de la abertura en la panta-
lla. Sin embargo, a escalas muy peque nas esto no
ocurre as. Por lo tanto, es necesario recurrir a un
modelo ondulatorio de la luz. La difraccion es el
fenomeno que ocurre cuando la luz incide en una
barrera o en una abertura lo suficientemente pe-
quena. Lo que esto ocasiona es que las ondas lumi-
nosas interfieran entre s, generando un patron de
zonas iluminadas y oscuras como las que se mues-
tran en la figura No. 2 [2] .

Figura 3: Difraccion de una ranura [4]

Se puede usar la simetra del problema al obser-

var que la luz proveniente de cada una de las tiras
de la mitad superior cancela la luz proveniente de
Figura 2: Ejemplo de patr
on difracci
on en una ra- una tira correspondiente de la mitad inferior. Por
[4]
nura lo tanto, se presenta una franja oscura cuando [1] :

2
 S2 son fuentes coherentes. La interferencia de las
a ondas de S1 y S2 genera un patron en el espacio.
sin = | | sin = | | (3)
2 2 a Para visualizar el patron se debe colocar una pan-
talla para que la luz procedente de S1 y S2 incida
Donde a es el ancho de la ranura, es el angulo sobre esta [1] .
que se forma entre el rayo de luz y la normal a la
superficie de la ranura y es la longitud de onda.
En general, se puede dividir la pantalla en cuartos,
sextos, etcetera, y utilizar el argumento anterior
para demostrar que [1] :

m
sinm = (4)
a

Donde se debe recordar que m es un n umero na-

tural. Pero en la imagen tambien es claro que se
puede calcular, trigonometricamente, la distancia Figura 4: Analisis de difraccion en dos ranuras [4]
0
de una franja oscura al centro (ym ) con la siguien-
[1] Si se supone que la distancia x de las ranuras a la
te expresi
on :
pantalla es grande a comparacion con la distancia
d entre las ranuras, se pueden tomar las lneas de
0 S1 y S2 como paralelas. Por lo tanto, la diferencia
ym = xtanm (5)
de la longitud de las trayectorias esta dada por [1] :
0
Donde ym tiene la definici
on ya dada y x es la dis-
tancia de la ranura a la pantalla. Sin embargo, los
angulos tratados son muy peque
nos y se puede ha- r2 r1 = dsen (8)
cer la aproximacion que sinm tanm , con lo que
se puede obtener [1] : Donde las variables tienen la definicion ya dadas.
Dado que se trata de interferencia constructiva se
mx puede unir la ecuacion No. 1 con la ecuacion No. 8
0
ym xsinm = (6) y obtener [1] :
a

En el caso de interferencia constructiva, en la que

se aprecian franjas iluminadas en la pantalla, se dsenm = m (9)
obtiene que [1] :
Por otro lado, se puede obtener una expresion para
las posiciones de los centros de las bandas brillantes
(m + 1/2)x
ym (7) en la pantalla. Sea ym la distancia del centro del
a patron a la m-esima banda brillante y d la distancia
entre las ranuras y la pantalla, entonces es claro que
[1]
D. Difraccion en dos ranuras :

Se analizar
a el sistema mostrado en la figura No.
4. Por provenir de un mismo frente de onda, S1 y ym = dtanm (10)

3
Pero, como m es muy peque
no, tanm se aproxima
a senm , y [1] :

ym = dsenm (11)

Ahora, uniendo la ecuaci

on No. 9 y la ecuacion No.
11 se obtiene [1] :

mx Figura 5: (A) Malla (B) Patron de difraccion gene-

ym (12)
d rado por la malla [3]

En el caso de la interferencia destructiva para dos II. Dise

no experimental
ranuras se utiliza la ecuaci
on No. 2 en la deduccion
y se obtiene que [1] :
Para este experimento, se utilizo como equipo un
laser rojo de 650nm. Ademas, tambien se us o un
0 (m + 1/2)x soporte para lentes, una rendija de difraccion, una
ym (13)
d malla, un riel optico y una pantalla. Primero, se
realizo una calibracion. Para esto se monto el equi-
po y los instrumentos opticos sobre el riel como
E. Difraccion en malla rectangular o cua- se muestra en la figura No. 6. Se encendio el l aser
drada que, al incidir en la rendija de dimensiones conoci-
das, genero un patron que se esbozo en una hoja
de papel.
Ahora, considerese el caso de un arreglo regular
de dos dimensiones que difracta los rayos de luz
que inciden normalmente. Cada obst aculo o aber-
tura del arreglo se comporta como una fuente de
luz coherente. Y, dada la periodicidad de la ma-
lla, las ondas resultantes comparten ciertas propie-
dades entre s. Habr a ciertas direcciones donde la
interferencia constructiva prevalezca. Esto ocurrira
cuando las distancias de los elementos difractantes
a la pantalla sean tales que generen que las ondas
esten en fase al llegar. La interferencia destructiva
ocurrir a en el caso contrario. En general, el patron
de difracci on generado sera la superposici
on de los
patrones generados por las estructuras verticales y
horizontales de las mallas, como se observa en la Figura 6: Dise
no experimental
figura No. 5. Por lo tanto, se pueden utilizar las
ecuaciones ya deducidas en esta secci on, tomando Luego, se reemplazo la rendija por una malla de
en cuenta que se deben analizar dos dimensiones dimensiones desconocidas y se repitio el procedi-
[3]
. miento descrito previamente. Por u
ltimo, se midie-

4
ron las longitudes de los patrones observados y se dro No. 1 se observa las pendientes de las regre-
analizaron de acuerdo a las ecuaciones No. 6 y No. siones lineales realizadas. El R2 de todas las re-
12. gresiones fue mayor al 0.996. Se obtuvo que el
ancho de las ranuras en una dimension era de
(1.034 0.030) 104 m con una separaci on de
(0.198 0.005) 104 m, lo que representa un por-
III. Discusion y resultados centaje de error con respecto al valor teorico de
3.41 % y 0.92 %, respectivamente. Por otro lado, en
El objetivo de este experimento era caracterizar la otra dimension se obtuvo que el ancho de las ra-
una malla en base al patron de difraccion que es- nuras era de (1.027 0.029) 104 m con una sepa-
ta generaba cuando se la expona a una fuente de racion de (0.1980.005)104 m, lo que representa
luz. Para cumplir este objetivo, se evaluo primero un porcentaje de error con respecto al valor te
orico
el metodo mediante una calibraci
on con una rendi- de 4.03 % y 1.00 %, respectivamente.
ja de dimensiones conocidas. Despues, se repitio el
procedimiento con una malla de dimensiones des-
Cuadro 1: Resultados de medicion de calibraci
on
conocidas. A continuaci
on se presentan los resulta- Descripcion
Coeficiente
R2
Valor medido Valor medido Valor real Porcentaje
de proporcionalidad (m) (m) (m) de error
dos. Ancho de
0.00629 0.9964 1.034E-04 3.0E-06 1.07E-04 3.41 %
abertura en x
Distancia entre
0.03280 0.9989 1.98E-05 5E-07 2.00E-05 1.00 %
aberturas en x
El patron de difraccion de la calibraci
on se puede Ancho de
0.00633 0.9963 1.027E-04 2.9E-06 1.07E-04 3.97 %
abertura en y
apreciar en la figura No. 7. En la imagen se obser- Distancia entre
0.03283 0.9996 1.98E-05 5E-07 2.00E-05 1.00 %
aberturas en y
van claramente la superposici on de los dos patro-
nes de difraccion. Se tom o en cuenta, para ambas
dimensiones, tanto las longitudes del centro a los En la figura No. 8 se aprecia un esbozo de la ren-
puntos de luz luminosos como las del centro a los es- dija de acuerdo a las dimensiones mencionadas. De
pacios oscuros entre los conjuntos de dichos puntos. acuerdo a lo medido, la rendija es cuadrada con se-
Adem as, tambien se consider
o que la distancia en- paraciones similares en ambas dimensiones, lo que
tre la rendija y la pantalla era de (1.000 0.005)m. concuerda con la informacion teorica que se tena
de esta. Por lo anterior y los porcentajes de error
menores al 4.00 %, se concluyo que el metodo era
adecuado y se prosiguio a caracterizar la malla de
dimensiones desconocidas.

Figura 7: Patr
on de difracci
on observado en la ca-
libraci
on

Con todo lo anterior, se pudo graficar m contra

las distintas longitudes mencionadas. En el cua- Figura 8: Esbozo de la rendija de calibraci
on

5
El patr
on de difraccion de la malla que se quera
Cuadro 2: Resultados de medicion de malla
caracterizar se puede apreciar en la figura No. 9. Coeficiente Valor medido Valor medido
Descripcion R2
De nuevo, en la imagen se observan claramente la de proporcionalidad (m) (m)
Ancho de
superposici
on de los dos patrones de difraccion. Se 0.00633 0.9963 2.490E-04 7.5E-06
abertura en x
tomo en cuenta, para ambas dimensiones, tanto las Distancia entre
0.01864 0.9916 8.46E-05 2.0E-07
aberturas en x
longitudes del centro a los puntos de luz lumino- Ancho de
0.00610 0.9982 2.585E-04 7.4E-06
abertura en y
sos como las del centro a los espacios oscuros entre Distancia entre
0.04818 0.9993 3.27E-05 3E-07
los conjuntos de dichos puntos. Adem as, tambien aberturas en y
se consider
o que la distancia entre la rendija y la
pantalla era de (2.4280.005)m. Fue necesario una
mayor distancia dado que el patr on era menos vi- La mayor fuente de error de este experimento se
sible. dio al momento de dibujar el patron de difracci on
en una hoja de papel, para luego hacer las medi-
ciones correspondientes. Este proceso se haca en la
oscuridad y el investigador solo tena una idea apro-
ximada de donde hacer las marcas. Por tal raz on,
se sugiere cambiar el metodo. Se aconseja usar un
sensor de luz para medir el patron de difracci on
de forma precisa y exacta, eliminando parte de la
subjetividad que se tiene al medir.

Figura 9: Patr
on de difracci
on observado con la ma-
lla

Con todo lo anterior, se pudo graficar m contra

las distintas longitudes mencionadas. En el cuadro
No. 2 se observa las pendientes de las regresiones li-
neales realizadas. El R2 de todas las regresiones fue
mayor al 0.991. Se obtuvo que el ancho de las ranu-
ras en una dimensi on era de (2.4900.075)104 m
con una separaci on de (0.8460.002)104 m. Por
otro lado, en la otra dimension se obtuvo que el an-
cho de las ranuras era de (2.585 0.074) 104 m
con una separaci on de (0.327 0.003) 104 m.
En la figura No. 10 se aprecia un esbozo de la rendi-
ja de acuerdo a las dimensiones mencionadas. Co-
mo se observa, las ranuras son pr acticamente cua-
dradas. Sin embargo, las separaciones entre dichas
ranuras son distintas en las dos dimensiones.
Figura 10: Esbozo de la malla usada
IV. Conclusiones
Se concluyo que el metodo era adecuado dado
que en la calibracion se determinaron medidas que
concordaba con la informacion teorica. Adem as,
los porcentajes de error obtenidos fueron meno-
res al 4.00 %. Tambien se concluye que el ancho
de ranura de la malla de dimensiones desconoci-
das era de (2.490 0.075) 104 m con una se-

6
 on de (0.846 0.002) 104 m en un eje y
paraci
de (2.585 0.074) 104 m con una separacion de
(0.3270.003)104 m en el otro. La mayor fuente
de error fue el metodo de realizar las mediciones,
pues el investigador tuvo que esbozar el patron de
difracci
on en la oscuridad. Para disminuir este error
se recomienda utilizar un sensor de luz para medir
el patr
on de difracci
on.

Referencias

[1] Crowell, B. (2003). Optics (2ed.). Fullerton:

Light and Matter series.

[2] Ghatak, A. (2009). Optics (4ed.). New Delhi:

McGraw-Hill.

[3] Hecht, E (2002). Optics (4ed.). San Francisco:

Addison Wesley.

[4] Young, H. y Freedman, R. (2013). Fsica uni-

versitaria (Vol. 1, 12va. ed.). Mexico: Addison-
Wesley.