ans Fluorescencia de rayoe X- Whipoda, a encilopedia libre Fluorescencia de rayos X De Wikipedia, la enciclopedia libre La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisién de rayos X secundarios (0 fluorescentes) caracteristicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de aka energia o rayos gama, Este fendmeno es muy utilzado para andlisis elemental y anéliss quimico, particulrmente en la investigacién de metakes, vidrios, cerdmicos y materiales de construccién, asi como en la de geoquimica, ciencia forense y arqueologia indice 1 Principios fisicos = 1.1 Radiacién caracteristica = 1.2 Radiacién primaria = 13 Deteceién = 1.4 Intensidad de rayos X ‘Un espectrémetro Philips PW1606 de = 2 Véase también ‘luoresecencia por rayos X con un = 3 Notas alimentador automitico en el = 4 Referencias laboratorio de control de calidad de = 5 Enlaces extemos una fébrica de cemento. Principios fisicos Alexponer un material a rayos X de longitudes de onda cortas 0 a rayos gama, pueden ionizarse los dtomos que constituyen el material La hy. 7 ionizaci6n consiste en eyeccién de uno o mis electrones desde el dtomo. me .- > « -W = a" 2 - Puede ocumtir si a éste se le expone a radiacién cuya energia exceda la del potencial de ionizacion. - Figura 1. Representacién esquematica Tanto los rayos X como Jos gama pueden ser suficientemente energéticos ela fisica de fluorescencia de rayos para desprender electrones fuertemente ligados en los orbitales intemos x. del dtomo, Tal remocin electronica deja en condicién inestable a la estructura electrénica del dtomo, y los electrones de orbitales mis elevados «caer hacia el orbital mis bajo, que luego ocupan los huecos de los electrones intemos desprendidos. En esta caida, 0 transicién, se genera energé mediate emisiin de un fot6n. El valor de la energia de este corptisculo es igual a la diferencia de energia entre los dos orbitales involucrados. Por lo tanto el material emite radiacién cuya energaa es caracteristica de los dtomos componentes de! material, El término fluorescencia se usa para denominar el fendmeno por el cual a absorcién de radiacién de una energia especifica genera reemisién de radiacién de una energia diferente, generalmente menor. cesihpoda.orgiihiFluoescercia de_rays_X 1ans Fluorescencia de rayoe X- Whipoda, a encilopedia libre Radiacién caracteristica Cada elemento posee orbitales electrénicos de energias caracteristicas. Al producirse la remocién de un electron de tuna capa interior por un fotén energético proveniente de una fuente primaria de radiacién, um electrén de una capa exterior se desplza y ocupa el hueco que se habia formado. Existe una cantidad finita de variantes de esta transicién, tal como se muestra en la figura 1. A las transiciones principales se les han asignado nombres: = Transiciin LK: Ka = Transicion MK: KB = Transiciin ML: Lay y asi sucesivamente, XRF. Cada una de estas transiciones produce un fotén fluorescente dotado de una energéa caracteristica que es igual a la diferencia de energia entre los orbitales inicial y final. La longitud de onda de esta radiacién fluorescente se puede caleular a partir del postulado de Planck: N=h-c/E La radiacién fluorescente se puede chsificar mediante anilisis de las energias de los fotones (andlisis dispersivo de aay energia) 0 por separacién de las longitudes de onda de figura 3, Espectro de un blanco de rodio operado a radiacion (andlsisdispersivo de longitud de onda), 60 KY, mostrando el espectro continuo y las lineas Ib intensidad de cada radiaciin intidad de anaiitica, En la figura 2 se muestra la forma tipica de las agudas line el método dispersivo de energia (véase ley de Moseley). Radiacién primaria Para excitar a los dtomos es preciso disponer de una fixente de radiacién de energia suficiente para eyectar electrones de las capas interiores de los étomos. Por lo general se utiizan generadores de rayos X convencionales, ya que es posible «ajustam su producto segin la necesidad de cada andlisis, y porque generalmente su potencia es mayor que la de otros dispositivos o técnicas. Sin embargo, se pueden utilizar fuentes de rayos gama que no requieren suministro eléctrico tan elaborado como el de los dispositivos de rayos X, lo cual permite su uso en instrumentos portitiles pequefios. Cuando la fuente de energia es un sincrotrén o los rayos X son enfocados mediante una éptica tal como la de policapilaridad, el haz de rayos X puede ser muy pequefio y muy intenso. es.whpodia.orgivikiFuescercia de. ryos_X 4ava Fuoresconia de rays X- Wipe, a encilpaa ibe Por bo tanto es posible obtener informacién atémica en el rango de «submicrémetros»: inferior a micrémetros. Se utiizan generadores de rayos X en el rango de energias de 20 a 60 kV, lo cual permite excitar un rango muy amplio de dtomos. Elespectro continuo consiste en radiacién de frenado (Bremsstrahlung), producida cuando electrones de alta energia que pasan a través del tubo se desaceleran progresivamente por el material del anodo del tubo (el blanco» 0 «amuestra»). En la figura 3 se muestra un espectro tipico. Deteccién En anilisis de energia dispersiva, la dispersin y la deteccidn se realizan en una sol operacidn, Se usan contadores proporcionales 0 varios tipos de detectores de estado s6lido: diodos PIN, Si(Li), Ge(Li) y detectores de deriva de silicio (SPD). Comparten el mismo principio de deteccién: un fotén de rayos X incidente ioniza cuantiosos stomos del detector. La cantidad de carga generada es proporcional a la energia del fotén incidente. Luego esta carga se colecta y el proceso se repite en el fotén siguiente. Obviamente, la velocidad del detector es critica. Como todos los portadores de carga medidos, para cuantificar correctamente la energia del fot6n debe provenir del mismo fotdn (se usa discriminacién de longitud pico para eliminar posibles eventos generados por dos fotones de rayos X de incidencia casi simutinea). Luego se construye el espectro dividiendo su cnergia en compartimientos discretos y contando los pukos registrados dentro de cada compartimiento de energia. Los tipos de detectores de espectroscopia de rayos X dispersivos de longitud de onda varian en resolucién, velocidad y medios de enffiamiento (en los detectores de estado sélido es critico un bajo mimero de portadores de carga): los contadores proporcionales con resoluciones de varios cientos de eV (electronvoltios) funcionan en el extremo bajo del desempefio del espectro. Los detectores de diodos PIN operan en el rango intermedio. Los de Si(Li, Ge(Li) y SDD ocupan el extrem alto de la escala de desempeito. En anilisis dispersivo de longitud de onda, la radiaciin de la sola longitud de onda generada por el monocromador pasa al interior de un fotomultiplicador: detector similar a un contador Geiger, que cuenta fotones individuales a medida que lo atraviesan, El contador es una cémara que contiene un gas ionizado por fotones de rayos X. Un electrodo central se carga a (\ipicamente) +1 700 V con respecto a las paredes de la cémara conductora, y cada fotén provoca una cascada semejante a pulos de corriente a través del campo. La sefial se amplifica y transforma dentro de una cuenta digital acumulativa. Luego estas cuentas se procesan para obtener datos analitcos Intensidad de rayos X El proceso de fluorescencia es ineficiente, y la radiacién secundaria es mucho mis débil que el haz primario. En elementos mis ligeros la energia de esta radiacién es relativamente baja (Iongitud de onda larga), de escaso poder de penetracién. Si el haz atraviesa algo de aire se atenia gravemente, Por estos motives, para anilisis de alto desempefio, la trayectoria tubo-muestradetector se mantiene bajo alto vacio: a una presin residual aproximada de 10 Pa (pascakes) Esto implica que la mayoria de las partes operativas del instrumento se han de ubicar en una cémara de vacio grande. Los problemas de mantener partes méviles en vacfo y de introduccién y retiro rapidos de la muestra sin pérdida de esa propiedad plantean grandes retos de disefio del dispositivo. Para aplicaciones menos demandantes © cuando la muestra se dafa por el vacio (p. ej. una muestra voliti), se puede substituir ma cdmara de rayos X de barrido de helio, aunque con alguna pérdida de intensidades de Z bajo (Z.= nimero at6mico), Véase también es.whpodia.orgivikiFuescercia de. ryos_X “4ans Fuoresconia de rays X- Wipe, a encilpaa ibe = Espectroscopia por emision = Efecto Méssbauer, fluorescencia resonante de rayos X Notas Referencias = Beckhoff; B., KanngieBer, B., Langhoff, N., Wedell, R., Wolff, H., Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis _(hitp:!/books. google. com/books?id=c6d8EPYHnl EC &printsec=fiontcover), Springer, 2006, ISBN 3-540-28603-9 = Bertin, E, P., Principles and Practice of X-ray Spectrometric Analysis, Kiuwer Academic / Plenum Publishers, ISBN 0-306-30809-6 = Buhrke, V. E., Jenkins, R., Smith, D. K., A Practical Guide for the Preparation of Specimens for XRF and XRD Analysis, Wiley, 1998, ISBN 0-471-19458-1 = Jenkins, R., X-ray Fluorescence Spectrometry, Wiley, ISBN 0-471-29942-1 = Jenkins, R., De Vries, J. L., Practical X-ray Spectrometry, Springer Verlag, 1973, ISBN 0-387-91029-8 = Jenkin, R, RW. Gouk, RW, Gedeke, D., Quantitative X-ray Spectrometry (hitp:/books. google.com/books?id=ZWQY y-4aQLQC&printsee=frontcover), Marcel Dekker, ISBN 0- 8247-9554-7 = Van Grieken, R. E,, Markowiez, A. A, Handbook of X-Ray Spectrometry (hitp:/books. google.com/books?id-i_DRTp75AsC&printsee=fronteover) 2nd ed.; Marcel Dekker Inc: ‘New York, 2002; Vol. 29; ISBN 0-8247-0600-5 = MA. Padmanabha Rao.,"UV dominant optical emission newly detected fiom radioisotopes and XRF sources” (hitpy/;www. scielo.br/scielo. php?pidS0103-97332010000100007&script=sci_arttext), Brazilian Jounal of Physics, Vol40, no.1, March 2010. Enlaces externos Cat Obtenido de «ttps/es. wikipedia. org/w/index.php ?tile-Fluon = Spectroscopy _ (hitpz/dmoz.org/Science/Instruments en Open Directory Project. ind_Supplies/Laboratory_Equipment/Spectroscopy/) (egorias: Fisica atémica | Fis = Esta pagina fire modificada por iitima vez el 13 abr 2013, a las 06:06, disponible bajo la Licencia Creative Commons Atribucién Compartir [gual 3.0; podrian ser Jusulas adicionales. Léanse los términos de uso para mis informacién, Wikipedia® es una marca registrada de la Fundacién Wikimedia, Inc., una organizacion sin énimo de lucro. es.whpodia.orgivikiFuescercia de. ryos_X “a