UNIVERSIDADE FEDERAL DE VIOSA

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Programa Analtico de Disciplina

MEC220 Metrologia

Departamento de Engenharia de Produo e Mecnica - Centro de Cincias Exatas e Tecnolgicas

Nmero de crditos: 4 Tericas Prticas Total

Durao em semanas: 15 Carga horria semanal 2 2 4
Perodos - oferecimento: I Carga horria total 30 30 60

Pr-requisitos (Pr ou co-requisitos)*

EST105 ou EST106

Ementa

Introduo. Conceitos preliminares sobre medies. Sistema generalizado de medio. Erro de medio.
Avaliao da incerteza em medies diretas. Calibrao dos sistemas de medio. Resultado de
medio. Tolerncias dimensionais. Desvios de forma e posio. Controle estatstico da qualidade.

Oferecimento aos Cursos

Curso Modalidade Perodo

Engenharia de Produo Obrigatria 5

Engenharia Mecnica Obrigatria 3

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MEC220 Metrologia

Seq Aulas Tericas Horas/Aula

1 Introduo 4

1.1. A metrologia no Brasil

1.2. Legislao metrolgica brasileira
1.3. O INMETRO

2 Conceitos preliminares sobre medies 2

2.1. Conceitos fundamentais, terminologia

2.2. O processo de medio
2.3. Sistemas internacionais de medidas

3 Sistema generalizado de medio 2

3.1. Mtodos bsicos de medio

3.2. Parmetros caractersticos de sistemas de medio
3.3. Representao dos resultados de uma medio

4 Erro de medio 4

4.1. Tipos de erros

4.2. Estimao dos erros de medio
4.3. Incertezas e fontes de erros
4.4. Minimizao do erro de medio

5 Avaliao da incerteza em medies diretas 4

5.1. Incertezas padro

5.2. Incertezas combinadas
5.3. Incertezas expandidas

6 Calibrao dos sistemas de medio 2

6.1. Operao bsica de qualificao de sistemas

6.2. Mtodos de calibrao
6.3. Procedimento geral de calibrao

7 Resultado de medio 2

7.1. Quando o mensurvel invarivel

7.2. Quando o mensurvel varivel

8 Tolerncias dimensionais 4

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8.1. Conceitos fundamentais

8.2. Classes de ajustes
8.3. Sistemas de ajustes

9 Desvios de forma e posio 2

9.1. Tolerncia geomtricas

9.2. Posio e diferenas de posio
9.3. Simbologia e indicaes no desenho

10 Controle estatstico da qualidade 4

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Seq Aulas Prticas Horas/Aula

1 Introduo ao laboratrio 2

2 Escalas, paqumetros e transferidores 2

3 Micrmetros 2

4 Blocos-padro e relgios comparadores 2

5 Metroscpio horizontal 2

6 Projetor de perfil 2

7 Microscpio ferramenteiro 2

8 Exerccios de medio com paqumetros e transferidores 2

9 Exerccios de medio com micrmetros 2

10 Exerccios de medio com relgio comparador 2

11 Exerccios de medio com microscpio ferramenteiro 2

12 Exerccios de medio com projetor de perfil 2

13 Calibrao de um sistema de medio 2

14 Medies utilizando os resultados da calibrao 2

15 Avaliao 2

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Referncias Bibliogrficas

Bibliografia Bsica:
1 - AGOSTINHO, O. L.; RODRIGUES, A.C.S.; LIRANI, J., "Tolerncias, ajustes, desvios e anlise de
dimenses", Editora Edgard Blucher Ltda, 1997. [Exemplares disponveis: No informado.]

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Bibliografia Complementar:

2 - ALBERTAZZI, A.; SOUZA, A. R. Fundamentos de metrologia cientfica e industrial. Manole, 2005.

[Exemplares disponveis: No informado.]

3 - FELIX, J.C. A metrologia no Brasil. Qualitymark Editora, Brasil; Mitutoyo, 1990, Instrumentos para
metrologia dimensional: utilizao manuteno e cuidados", Apostila, Brasil, 1995. [Exemplares
disponveis: No informado.]

4 - GONALVES JR., A.A. Apostila de metrologia - Parte 1, Laboratrio de metrologia e automatizao,

Universidade de Santa Catarina, Florianpolis, Brasil, 1996. [Exemplares disponveis: No informado.]

5 - ISO 286-1 [Exemplares disponveis: No informado.]

6 - NB 176 Erros de forma e posio. [Exemplares disponveis: No informado.]

7 - NBR6158-1995 Tolerncia e ajustes [Exemplares disponveis: No informado.]

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