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Livret de prparation lexamen de RNCan Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X

Version 3 - Rvis 17/12/2010

Oprateur danalyseurs
fluorescence X portatifs

Livret de renseignements
sur la certification et la
prparation
relatives aux valuations

Droit dauteur

Ressources naturelles Canada (RNCan)


Gouvernement du Canada

Version 3
Dcembre 2010

2010 Ressources naturelles Canada (RNCan)


-i-
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan
Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010

Avant-propos
Note aux candidats pour la certification de RNCan comme oprateur danalyseur FRX
Auteurs :
Auteur original Richard V. Murphy, Ph. D.
Auteurs collaborateurs Harri Maharaj, Ph. D., Julie Lachapelle, Pui Kei Yuen

* La version 3 (dcembre et octobre 2010) de ce livret contient des mises jour de la


version 2 (septembre 2006) qui comportent les amliorations et les changements des
processus administratifs du programme de certification.

* La version 2 (septembre 2006) du livret de prparation lexamen de certification des


oprateurs danalyseurs fluorescence X produit par RNCan contient des changements
importants par rapport la version 1 (juin 2004), au plan des exigences de Sant
Canada et de RNCan pour les activits et la certification en fluorescence X.
La modification de certaines exigences sexplique par le fait que :
- lvolution de la conception des analyseurs fluorescence X a amlior la scurit,
quil sagisse, par exemple, de lajout de dtecteurs de la proximit de lchantillon ou
de lamlioration du blindage interne.
- le registre de la radioexposition des personnes qui ont port divers dispositifs de
dosimtrie depuis juillet 2004 ne montre aucune exposition approchant la limite de la
dose superficielle professionnelle annuelle fixe par la CIPR 50 rem/500 mSv.

Sommaire des changements de Sant Canada et RNCan


1 exigence de mettre des barrires et des panneaux de mise en garde 1,5 mtre
LIMINE
2 exigence de porter une bague dosimtre LIMINE*
3 rduction de 12 heures 7 heures de la dure de la formation en classe obligatoire
4 cration dun niveau 2 pour loprateur danalyseurs fluorescence X loprateur
de ce niveau est capable de donner de la formation au personnel de la compagnie dans
le domaine de la fluorescence X
5 priode de certification en fluorescence X est passe dune priode mobile de 3
ans une priode fixe de 3 ans

*Sant Canada n'exige plus quun oprateur de FRX porte une bague dosimtre,
cependant les rgles dopration sont diffrentes parmi les provinces et les territoires;
donc les propritaires et les oprateurs danalyseurs doivent contacter la juridiction
provinciale ou territoriale approprie afin de dterminer les rgles spcifiques en ce qui
concerne les bagues dosimtres.

Le programme de certification des oprateurs danalyseurs fluorescence X portatifs


(analyseurs FRX) est le fruit des efforts conjoints de Ressources naturelles Canada et
de Sant Canada, conformment aux exigences de la norme internationale
ISO 20807:2004, Essais non destructifs Qualification du personnel pour des
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applications limites en essais non destructifs. Dans le contexte de la norme
ISO 20807:2004, Ressources naturelles Canada est lorganisme de certification.
Le prsent livret de prparation lexamen de RNCan est conu pour aider les
candidats se prparer lexamen de certification de RNCan comme oprateur
danalyseurs fluorescence X portatifs. Loprateur doit possder des connaissances
fondamentales de la thorie de la fluorescence des rayons X et de ses utilisations, ainsi
que des principes et des pratiques de la radioprotection applique aux analyseurs
fluorescence X.
Ce livret contient des renseignements sur la thorie, lutilisation, lentretien et
lentreposage des appareils portatifs qui contiennent un tube rayons X. Outre les
renseignements gnraux sur la radioprotection, il prsente des extraits choisis et
rsums de trois documents du gouvernement canadien :
la Loi sur les dispositifs mettant des radiations de 1985,
le Rglement sur les dispositifs mettant des radiations (amend en 1997),
partie XIV, Appareils danalyse aux rayons X,
le code de scurit 34 de Sant Canada : Les appareils de radiologie industriels :
radioprotection et scurit de 2003.

La production du prsent livret qui rsume toutes les informations disponibles a exig
beaucoup dattention, nous tenons nanmoins avertir le lecteur quil pourrait y trouver
des erreurs ou des omissions. Ceci dit, Ressources naturelles Canada ne pourra tre
tenu responsable de lexactitude des informations prsentes. Nous encourageons le
lecteur consulter les autres documents donns en rfrence, ainsi que tous les lois,
rglements et codes de scurit applicables. Il y trouva le texte exact dans son
intgralit et les rfrences secondaires.

Ce document est protg par la loi sur le droit dauteur. Toute utilisation, reproduction
ou distribution non-autorises seraient illgales et, donc, entraneraient les sanctions
prvues par la loi.

Pour prparer votre examen, assurez-vous dutiliser la version la plus rcente du livret.

Pour la prparation de ce livret, Ressources naturelles Canada a reu un appui des


fabricants dappareils fluorescence X suivants : Innov-X Systems, Metorex Inc. et
Niton LLC.

RNCan dsire remercier les personnes suivantes, dont les suggestions se sont
traduites par la version 2 de ce livret : M. Barry DeLong (GE Industrial Inspection
Technologies) et M. Brian Paradis (Acuren).

Pour obtenir un certificat dutilisation, veuillez communiquer avec :


Ressources naturelles Canada, certification dessais non destructifs, CANMET
ndt.nrcan.gc.ca
Tlphone : 1-866-858-0473
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Nous conseillons lutilisateur de contacter lorganisme fdral, provincial ou territorial
responsable de la radioprotection, pour prendre connaissance des rgles dexploitation
en vigueur.
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Introduction

La fluorescence des rayons X ( ou fluorescence X ) est une technique dessais non


destructifs permettant de dtecter et de mesurer la concentration dlments dans les
objets. On appelle fluorescence labsorption dun rayonnement incident et sa r-
mission sous la forme dun rayonnement de plus basse nergie. Un exemple de
fluorescence est la lumire visible mise par les tee-shirts exposs la lumire
ultraviolette invisible dune discothque. Certains minraux fluorescent : ils mettent
de la lumire visible lorsquils sont exposs la lumire ultraviolette.

lchelle atomique, la fluorescence de lumire visible est cause par labsorption de


rayons ultraviolets causant ljection dlectrons peu nergtiques sur des couches
externes des atomes. Les trous laisss par les lectrons jects sont remplis par
dautres lectrons qui descendent des couches encore plus loignes du noyau. Cette
chute saccompagne de la libration de quantits spcifiques dnergie que nous
percevons comme de la lumire visible dune couleur donne.

Le mme phnomne est en jeu pour la fluorescence X, toutefois lnergie du


rayonnement incident est plus leve. Plutt que dexposer une substance au
rayonnement ultraviolet et dobserver une fluorescence dans la lumire visible, on
expose une substance aux rayons X et on observe la fluorescence de rayons X de
moindre nergie.

lchelle atomique, la fluorescence des rayons X est cause par ljection dun
lectron de haute nergie dune des couches les plus intrieures des atomes par des
rayons X incidents. Le trou laiss par les lectrons jects sont remplis par dautres
lectrons qui cascadent des couches externes. Cette chute libre des quantits
spcifiques dnergie, sous la forme dun rayonnement X caractristique.

Les rayons X mis par fluorescence possdent des quantits discrtes dnergie, qui
rsultent des niveaux dnergie des couches lectroniques dun lment. Or, ces
niveaux dnergie sont caractristiques de chaque lment. Ainsi, en analysant les
nergies du spectre des rayons X quune substance met par fluorescence, on peut
dterminer quels lments composent une substance et quelle est leur concentration.
Linformation contenue dans le spectre peut tre suffisante pour identifier la substance.

Pour utiliser de faon comptente les analyseurs fluorescence X portatifs (appareils


FRX), les candidats doivent comprendre comment un analyseur de FRX fonctionne,
comment lactionner, les sources potentielles d'erreur de mesure et les applications
gnrales de FRX. Pour utiliser de faon sans risque les analyseurs fluorescence X
portatifs (appareils FRX), les candidats doivent comprendre les dangers des rayons X,
savoir les principes fondamentaux de la radioprotection et appliquer les pratiques en
matire sres de travail de XRF selon les exigences rglementaires canadiennes
applicables.
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Niveaux de FRX certification et examens


Toutes les questions dexamen sont bases sur le contenu de ce livret de prparation
lexamen de certification des oprateurs danalyseurs fluorescence X produit par
RNCan et sur les rfrences qui y sont fournies.
Il y a deux niveaux de certification pour les oprateurs danalyseurs fluorescence X:
Niveau 1
Le niveau 1 est suffisant pour effectuer la plupart des oprations en fluorescence X. Un
oprateur danalyseurs fluorescence X de niveau 1 peut tre lagent de
radioprotection (RSO) dans le domaine de la fluorescence X pour le compte dune
compagnie (la propritaire de lquipement). Toutefois, loprateur danalyseurs
fluorescence X de niveau 1 qui fait fonction de RSO dans le domaine de la fluorescence
X pour le compte dune compagnie ne peut donner de la formation des employs de
la compagnie afin quils deviennent des oprateurs danalyseurs fluorescence X; le
reprsentant du fabricant (un employ du fabricant) doit donner cette formation.
Lexamen pour le niveau 1 est divis en deux parties. Pour russir lexamen, le candidat
doit obtenir une note minimale de 70 % dans chacune des parties.

Partie 1 : 30 questions choix multiples portant sur les notions de base de la thorie et
de lutilisation de la fluorescence X
Le candidat a 60 minutes pour faire lexamen. La note de passage est de 70 %.
Partie 2 : 30 questions choix multiples portant sur les principes et les pratiques de la
radioprotection sappliquant la fluorescence X
Le candidat a 60 minutes pour faire lexamen. La note de passage est de 70 %.
Niveau 2
Les reprsentants du fabricant (y compris les fournisseurs canadiens) doivent possder
la certification de niveau 2 pour tre aptes former les personnes employes par une
entreprise ayant achet un appareil fluorescence X. Ladite entreprise peut faire appel
un employ ou une employe possdant la certification de niveau 2 pour former ses
employs quant lutilisation de cet appareil fluorescence X particulier.

Au moment du renouvellement, les membres du personnel possdant la certification de


niveau 2 doivent recevoir une formation actualise du reprsentant, de la reprsentante
du fabricant ou une personne au service de la mme entreprise que celle o travaille le
candidat sinon ils seront rtrograds au niveau 1.

Contrairement loprateur de niveau 1, loprateur de niveau 2 doit russir un examen


supplmentaire sur la radioprotection. Par consquent, lexamen pour le niveau 2
comprenne en lexamen pour le niveau 1 (partie 1 et partie 2) et en une partie 3.
Partie 3 : Au sujet de la radioprotection lie la fluorescence X et du Code de scurit
34 : 30 questions choix multiples portant surtout sur les responsabilits des diverses
parties, notamment le fabricant de lquipement, le propritaire de lquipement,
lemployeur, le gestionnaire, le personnel charg de la scurit, les travailleurs, le RSO,
loprateur danalyseurs fluorescence X et Sant Canada.
Le candidat a 60 minutes pour faire lexamen. La note de passage est de 70 %.
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Exigences pour la certification, le renouvellement et la recertification


NOTE: L'annexe 2 contient tous les formulaires ncessaires en ce qui concerne la
certification, renouvellement et recertification de XRF:
- demande de certification
- vrification de la photo
- attestation de formation en FRX
- rapport dexamen de la vision
- RNCan code de conduite
Pour tre admissible la certification FRX initiale
Le candidat doit remplir le formulaire de demande de certification en
fluorescence X de RNCan.
Le candidat doit soumettre le formulaire vrification de la photo de RNCan
dment rempli avec deux photos.
Le candidat doit fournir une preuve documentaire quil a reu 7 heures de
formation structure et cette preuve doit tre signe par le reprsentant du
fabricant ou par une personne qui dtient un certificat doprateur danalyseurs
fluorescence X de niveau 2 et qui est un fournisseur canadien de lanalyseur
fluorescence X ou qui est employe par la compagnie pour laquelle le candidat
travaille.
o Les formateurs et les signataires doivent obtenir lapprobation de RNCan
et figurer sur une liste active de membres du personnel tenue par RNCan
Le candidat doit soumettre le formulaire dacuit visuelle satisfaisante de RNCan
dment rempli.
Le candidat doit soumettre une copie du Code de conduite de RNCan dment
signe.
Le candidat doit payer le traitement de sa demande, lexamen et lutilisation du
centre dessai.
Aprs que chaque tentative d'examen, accordent svp trois semaines pour que l'agence
l'Organisme de certification en END traite les rsultats d'examen et pour donne sa notification au
candiate.
Le candidat doit russir les examens prvus pour une premire certification.
Frais pour une premire certification
Payables RNCan Centre dexamen
Frais de traitement de la demande 250 $
Examen sur la mthode - niveau 1 150 $ 50 $
Examen sur la scurit - niveau 1 150 $ 50 $
Total niveau 1 550 $ 100 $

Examen sur le code 34 niveau 2 150 $ 50 $


Total niveau 2 $700 150 $

La premire certification en fluorescence X est valide pour trois (3) ans partir de la date de la dlivrance
de la certification.
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Renouvellement de la certification en fluorescence X

Il est possible de demander un renouvellement peu avant la date dexpiration de la


premire certification (p.e. ~ trois ans aprs la premire certification).
Le candidat doit remplir le formulaire de demande de renouvellement en
fluorescence X de RNCan.
Le candidat doit soumettre le formulaire vrification de la photo de RNCan
dment rempli avec deux photos.
Loprateur de niveau 2 doit fournir une preuve documentaire quil a reu de la
formation structure et cette preuve doit tre signe par le reprsentant du
fabricant ou une personne au service de la mme entreprise que celle o
travaille le candidat. Loprateur de niveau 1 est exempt de toute formation
supplmentaire ltape du renouvellement de sa certification.
Le candidat doit soumettre une copie du journal des vrifications des dispositifs
de scurit selon les directives prcises au paragraphe 2.3 9 du Code de
scurit 34. **
Le candidat doit soumettre le formulaire dacuit visuelle satisfaisante de RNCan
dment rempli.
Le candidat doit prsenter une copie signe du Code de conduite de RNCan.
Le candidat doit payer les frais de renouvellement.
Frais de renouvellement: payables RNCan
Frais de traitement de la demande: 100 $
Total: 100 $
Il faut deux (2) semaines l'Organisme de certification en END pour traiter une demande.

Si le candidat est en retard pour le renouvellement, jusqu' six mois aprs la date de
l'expiration de sa certification, il peut faire le renouvellement avec un paiement
additionnel de $50. Si plus de six mois au del de la date de l'expiration de sa
certification, le candidat ne peut pas faire le renouvellement mais doit faire la
recertification.

Le renouvellement prolonge la priode de la certification par trois (3) ans de date


d'mission de dernire certification

Recertification de loprateur danalyseurs fluorescence X


lapproche de la date de renouvellement* (p. ex., environ six ans aprs la premire
certification), le candidat ou la candidate peut faire une demande de r-certification.

Le candidat ou la candidate doit remplir un formulaire de demande de r-


certification de RNCan.
Le candidat ou la candidate doit fournir un formulaire de vrification de photo
dment rempli de mme que deux photos.
Loprateur ou lopratrice possdant la certification de niveau 1 doit fournir une
attestation de formation en FRX signe par un oprateur ou une opratrice
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danalyseurs FRX possdant la certification de niveau 2, lequel est un
reprsentant, une reprsentante du fabricant ou est employ par la mme
entreprise que le candidat ou la candidate.
o Les formateurs et les signataires doivent obtenir lapprobation de RNCan
et figurer sur une liste active de membres du personnel tenue par RNCan
Loprateur ou lopratrice possdant la certification de niveau 2 doit fournir une
attestation de formation en FRX signe par un reprsentant, une reprsentante
du fabricant ou une personne au service de la mme entreprise que celle o
travaille le candidat possdant la certification de niveau 2.
o Les formateurs et les signataires doivent obtenir lapprobation de RNCan
et figurer sur une liste active de membres du personnel tenue par RNCan
Le candidat doit soumettre une copie du journal des vrifications des dispositifs
de scurit selon les directives prcises au paragraphe 2.3 9 du Code de
scurit 34. **
Le candidat doit soumettre le formulaire dacuit visuelle satisfaisante de RNCan
dment rempli.
Le candidat doit prsenter une copie signe du Code de conduite de RNCan.
Le candidat doit payer le traitement de sa demande, lexamen et lutilisation du
centre dessai.
Le candidat doit russir aux examens de la recertification.
Aprs que chaque tentative d'examen, accordent svp trois semaines pour que l'agence
l'Organisme de certification en END traite les rsultats d'examen et pour donne sa notification au
candiate.

Frais pour recertification


Payables RNCan Centre dexamen
Frais de traitement de la demande 100 $
Examen sur la scurit - niveau 1 150 $ 50 $
Total niveau 1 250 $ 50 $

Examen sur le code 34 niveau 2 150 $ 50 $


Total niveau 2 $400 100 $

La recertification est valide pour trois (3) ans partir de la date de la recertification. Un
seul renouvellement est permis. Aprs ce renouvellement, loprateur doit obtenir une
recertification.

Linformation importante concernant le renouvellement et le recertification.

*Cest la responsabilit de loprateur danalyseurs fluorescence X (pas RNCan) de se rendre


compte de la date de l'expiration de sa certification. Quand la date de l'expiration s'approche,
cest la responsabilit de candidat de s'appliquer NRCan pour le renouvellement ou la
recertification.
Note : NRCan n'informera pas l'oprateur qu'il est temps pour le renouvellement ou le
recertification.
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan
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Terminaison de Certification
** Au cas o le candidat ne pourrait pas fournir une copie du journal des vrifications des
dispositifs de scurit selon le Code de scurit 34 (l'article 9 de la section 2.3), la certification du
candidate sera termine de manire permanente parce que c'est une violation de l'article 2 du
code de conduite de RNCan, une dsobissance dun code sous lequel il travaille.

En outre, la certification FRX du RSO (FRX) de la compagnie sera termine de manire


permanente parce que, sous le Code de scurit 34 (l'article 15 de la section 2.2.1), le RSO est
responsable pour conduire des examens trimestriels du journal des vrifications sign et dat de
l'oprateur de FRX. C'est une violation de l'article 2 du code de conduite de RNCan, une
dsobissance dun code sous lequel il travaille.

Toute personne ne dtenant pas la certification FRX ou dont la certification FRX est chue
ne peut faire lusage dun tube rayons X selon les analyseurs FRX. Le non-respect de
cette exigence pnalisera la personne et son employeur.
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Programme de la formation des oprateurs danalyseurs FRX


La formation officielle sera offerte par un oprateur ou une opratrice danalyseurs FRX
possdant la certification de niveau 2, lequel est :
a) un reprsentant ou une reprsentante du fabricant danalyseurs FRX (y compris les
fournisseurs canadiens) apte former toute personne quant lutilisation des appareils
fluorescence X dudit fabricant;
b) un employ ou une employe dune entreprise ayant achet un appareil
fluorescence X apte former les autres employs de ladite entreprise quant
lutilisation de cet appareil fluorescence X particulier.
Toute formation doit tre authentifie par crit par lagent ou lagente de formation.

Minimum de 2 heures dmonstration et pratique de lutilisation de lanalyseur


pour la prise de mesures prcises
Minimum de 2 heures - dmonstration et pratique du rglage, de la
manipulation, du fonctionnement, de lentretien et de lentreposage scuritaires
de lanalyseur.
Minimum de 3 heures pour aperu densemble du matriel qui est contenu
dans le livret de FRX

Note: Toutes les questions dexamens sont bases sur le livret de FRX. Afin de
russir aux examens de FRX, tout candidat doit tudier par lui-mme tout le
contenu de ce livret en plus de suivre la formation de 3 heures donnant un
aperu de ce livret. Les heures de formation recommandes pour se familiariser
avec le contenu de ce livret sont celles qui sont mentionnes.

THME TEMPS DE FORMATION RECOMMAND (heures)


1. Proprits fondamentales de la matire 1,0
2. Types de rayonnement 1,5
3. Principe de la fluorescence X 0,5
4. Analyseurs de fluorescence X 1,5
5. Sources derreur 1,0
6. Fonctionnement des analyseurs fluorescence X 1,0
7. Applications de la fluorescence X 1,0
8. Interaction du rayonnement avec la matire 0,5
9. Effets biologiques du rayonnement 1,5
10. Dtection du rayonnement 0,5
11. Pratiques scuritaires du travail en fluorescence X 0,5
12. Exigences rglementaires applicables 1,5
Total (heures) 12,0

Note : Certaines parties de ce livret portent la mention Rfrence. Lexamen de


qualification ne contiendra aucune question portant sur les informations de rfrence.
Nous fournissons ces informations afin daider le candidat ou loprateur mieux
comprendre certaines notions.
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Table des matires

Avant-propos................................................................................................................. ii
Introduction ................................................................................................................... v
Niveaux de FRX certification et examens .................................................................. vi
Niveau 1.......................................................................................................................................... vi
Niveau 2.......................................................................................................................................... vi
Exigences pour la certification, le renouvellement et la recertification ................. vii
Premire certification en fluorescence X .............................................Error! Bookmark not defined.
Renouvellement de la certification en fluorescence X......................................................................viii
Recertification de loprateur danalyseurs fluorescence X ...........................................................viii
Linformation importante concernant le renouvellement et le recertification....................................... ix
Programme de la formation des oprateurs danalyseurs FRX ............................... xi
Table des matires ............................................................ Error! Bookmark not defined.
1. Proprits fondamentales de la matire ................................................................. 1
1.1 Atomes, lments, molcules et composs ........................................................... 1
1.2 Particules atomiques : proprits des protons, lectrons et neutrons .................... 2
1.3 Structure atomique ................................................................................................. 2
1.4 Le numro atomique et le nombre de masse ......................................................... 3
2. Types de rayonnement ............................................................................................. 4
2.1 Spectre lectromagntique .................................................................................... 6
2.2 Le rayonnement pntrant : les rayons X et gamma .............................................. 6
2.3 Sources de rayons gamma (rfrence) .................................................................. 7
2.4 Production de rayons gamma (rfrence) .............................................................. 8
Rfrence......................................................................................................................................... 8
2.5 Sources de rayons X .............................................................................................. 9
2.6 Rayons X du bremsstrahlung ................................................................................. 9
2.7 Raies dmission caractristiques ........................................................................ 11
3. Principes de la fluorescence X............................................................................... 13
3.1 nergies caractristiques des rayons X mis par les lments............................ 14
4. Analyseurs par fluorescence X (analyseurs FRX)................................................ 16
4.1 Constituants principaux ........................................................................................ 16
4.2 Appareil fluorescence X .................................................................................... 16
4.3 Dtection des rayons X ........................................................................................ 17
4.4 Analyseur multi-canaux ........................................................................................ 19
Difficults : le spectre dnergie ...................................................................................................... 20
4.5 Ordinateur ............................................................................................................ 21
limination de linterfrence spectrale provenant du fond et des chevauchements .......................... 21
Calcul des concentrations............................................................................................................... 22
talonnage ..................................................................................................................................... 22
5. Sources derreur...................................................................................................... 23
5.1 Erreurs systmatiques et alatoires ..................................................................... 23
Erreurs systmatiques (biais).......................................................................................................... 23
Erreurs alatoires (imprcision) ...................................................................................................... 23
5.2 Exactitude, prcision et biais................................................................................ 23
Biais ............................................................................................................................................... 23
Prcision ........................................................................................................................................ 24
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Exactitude ...................................................................................................................................... 24
Lcart-type (ET ou )..................................................................................................................... 25
Rfrence....................................................................................................................................... 26
6. Fonctionnement de lanalyseur fluorescence X ................................................ 27
6.1 Avantages des analyseurs fluorescence X portatifs .......................................... 27
6.2 Limites des analyseurs fluorescence X portatifs................................................ 27
6.3 lments habituels des analyseurs ...................................................................... 28
1 Bibliothques (pour lanalyse des alliages) ................................................................................ 28
2 Paramtres instrumentaux et talonnage .................................................................................. 28
3 - Affichages ................................................................................................................................. 28
4 - Prises externes.......................................................................................................................... 28
6.4 Modes dessai ...................................................................................................... 30
Paramtres fondamentaux.............................................................................................................. 30
Normalisation Compton .................................................................................................................. 30
Comparaison de spectres ............................................................................................................... 31
talonnage empirique..................................................................................................................... 31
6.5 Utilisation de lanalyseur fluorescence X - Gnralits...................................... 32
7. Applications de la fluorescence X ......................................................................... 34
7.1 Identification et analyse chimique des alliages..................................................... 34
Considrations sur les chantillons dalliages.................................................................................. 34
Alliages Rduction des erreurs .................................................................................................... 34
7.2 Analyse des sols .................................................................................................. 35
chantillons de sol - Considrations ............................................................................................... 35
Sols Rduction des erreurs.......................................................................................................... 36
7.3 Analyse des minerais ........................................................................................... 36
Prospection et exploration .............................................................................................................. 36
Utilisations en extraction minire..................................................................................................... 37
Considrations relatives aux chantillons de minerais..................................................................... 37
Minerai Rduction des erreurs ..................................................................................................... 37
7.4 Comment obtenir des donnes de qualit............................................................ 39
Systmes de mesure bass sur la performance.............................................................................. 39
Plan danalyse de lchantillonnage ................................................................................................ 39
Objectifs de qualit des donnes - Processus ................................................................................. 39
8. Interaction du rayonnement avec la matire......................................................... 40
8.1 Ionisation.............................................................................................................. 40
8.2 Interaction du rayonnement avec la matire ........................................................ 40
8.3 Units dexposition au rayonnement : le coulomb/kg et le rntgen ..................... 41
8.4 Attnuation du rayonnement lectromagntique.................................................. 41
9. Effets biologiques du rayonnement ...................................................................... 43
9.1 Units de la dose absorbe : le gray et le rad (toute substance) ......................... 43
9.2 Units de dose quivalente : le sievert et le rem (effets biologiques)................... 43
9.3 Norme de 1990 de la CIPR relative aux limites de dose ...................................... 45
9.4 Rayonnement naturel ........................................................................................... 45
9.5 Radiosensibilit des organes radiolsions et rtablissement ............................ 46
9.6 Symptmes du mal des rayons ............................................................................ 46
9.7 Irradiation aigu et dommages corporels ............................................................. 46
9.8 Contrle de lexposition du personnel au rayonnement........................................ 49
9.9 Le concept dALARA (As Low As Reasonably Achievable).................................. 49
10. Dtection du rayonnement ................................................................................... 51
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10.1 Les instruments de dtection et de mesure du rayonnement ............................. 51
Chambres dionisation .................................................................................................................... 51
Tubes de Geiger-Mueller ................................................................................................................ 51
Dosimtres de poche...................................................................................................................... 51
Dosifilms [Rarement utiliss de nos jours] ....................................................................................... 52
10.2 Contrle des rayonnements reus par le personnel ........................................... 52
Contrle du rayonnement reu par tout le corps.............................................................................. 52
Contrle du rayonnement reu par les extrmits (bague dosimtre) .............................................. 52
Les dosimtres personnels : modle de poche et lectronique........................................................ 53
10.3 Radiamtres ....................................................................................................... 53
10.4 Rapport dobservation avec le radiamtre.......................................................... 53
11. Pratiques scuritaires du travail en FRX............................................................. 55
11.1 Caractristiques de lanalyseur FRX .................................................................. 55
11.2 tiquettes FRX ................................................................................................... 55
11.3 Dtermination des zones accs restreint affichage et surveillance dans ces
zones.......................................................................................................................... 56
11.4 Temps, distance et blindage permettant de rduire lexposition au rayonnement57
11.5 Contrle des analyseurs FRX lorsquils ne sont pas utiliss .............................. 58
12. Exigences rglementaires canadiennes applicables ......................................... 60
12.1 LDER : Loi sur les dispositifs mettant des radiations de 1985.......................... 60
12.2 Partie XIV de lannexe II du RDER et portant sur la conception de lquipement62
12.3 Code de scurit 34 : Les appareils de radiologie industriels radioprotection et
scurit....................................................................................................................... 64
12.4 Sommaire de responsabilits de scurit de FRX.............................................. 72
Annexe 1 : nergies (keV) des lignes K et L (Rfrence) ........................................ 76
Annexe 2 : Formulaires de FRX ................................................................................. 79
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1. Proprits fondamentales de la matire

1.1 Atomes, lments, molcules et composs

Notre monde physique est compos de matriaux fondamentaux appels lments.

lment : Dsigne une substance chimique fondamentale quon ne peut diviser en


substance plus simple par les moyens chimiques. (P. ex. lhydrogne, loxygne, le
sodium, le chlore, etc.)

Lunit fondamentale de chaque lment est latome. Bien quil soit


minuscule, tout atome possde lensemble des proprits
chimiques propres un lment.

Atome : La plus petite portion de matire possdant toutes les


proprits chimiques dun lment. Il est form dun noyau central,
compos de protons chargs positivement et de neutrons
lectriquement neutres et, autour de ce noyau, dlectrons en
orbite portant une charge ngative.

Toutes les substances sont formes dune combinaison datomes. Les atomes du
mme lment peuvent se combiner pour former des molcules du mme lment. Ils
peuvent aussi sallier diffrents lments pour former des molcules dune nouvelle
substance.

Molcule : La plus petite particule dune substance qui possde les proprits
physiques et chimiques qui lui sont propres. Une molcule est forme dun ou plusieurs
atomes, dun ou plusieurs lments.

Exemple : Les atomes dhydrogne (H) ne se prsentent pas un atome la fois, mais
se combinent avec un deuxime atome dhydrogne pour former une molcule de gaz
hydrogne : H2.

Exemple : La plus petite particule deau (H2O) qui peut exister est une molcule
compose de deux atomes dhydrogne et dun atome doxygne.

Compos : Une substance pure, forme de deux ou plusieurs lments qui sont lis
chimiquement dans une proportion fixe et dfinie en masse.

Exemple : Leau (H2O) est un compos form par la liaison chimique de deux atomes
de llment hydrogne (H) et dun atome de llment oxygne (O). Ainsi, 2H + O font
H2O.

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1.2 Particules atomiques : proprits des protons, lectrons et


neutrons

Les composants de latome


De mme que les corps sont forms datomes, les atomes sont composs de trois
particules fondamentales appeles protons, neutrons et lectrons. Ces particules
dterminent les proprits, la charge lectrique et la stabilit dun atome.
Les protons :
Ils se trouvent dans le noyau (le coeur) dun atome.
Ils portent une charge lectrique positive.
Leur nombre dans le noyau dtermine lidentit de llment.

Les neutrons :
Ils se trouvent dans le noyau de tout atome, except lhydrogne (H).
Ils ne portent pas de charge lectrique.
Leur masse est lgrement suprieure celle dun proton.

Les lectrons :
De mme que les plantes tournent autour du soleil, les lectrons
tournent autour du noyau dans des orbitales prcisment espaces
que lon appelle couche.
Ils portent une charge lectrique ngative.
Ils dterminent les proprits chimiques dun atome.
Leur masse est minuscule, seulement 1/1840 fois celle dun proton.

1.3 Structure atomique

On peut diviser la structure dun atome en deux parties principales : le noyau et les
couches lectroniques qui lentourent.

Le noyau :
Il est au centre de latome.
Il est compos de protons et de neutrons.
Il met un champ lectrique positif.
Il porte presque toute la masse de latome.

Les protons et les neutrons dun noyau sont trs fortement lis par les forces
nuclaires.

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Les couches lectroniques :
Elles encerclent le noyau dun atome des distances fixes
quivalent des niveaux dnergie discrets et distincts; les
lectrons des couches les plus internes ont plus dnergie.
Elles portent un nombre prcis dlectrons.
K
L Elles produisent un champ lectrique ngatif.
M Elles rgissent les ractions chimiques.
N
O
Les lectrons (-) sont maintenus dans leur orbitale grce leur attraction lectro-
magntique pour les protons (+) du noyau. De mme que les plantes orbitent autour
du soleil, les lectrons tournent autour du noyau dans des orbitales rigoureusement
espaces, appeles couches.

La distance entre les couches est typique de chaque lment. Lnergie dun lectron
varie en fonction inverse de sa distance du noyau. Les lectrons dans la couche la plus
interne (K) sont ceux les plus fortement lis au noyau. Ils ont, ainsi, plus dnergie que
les lectrons des couches externes (L, M, N, O et P).

Chaque couche lectronique peut porter un nombre maximal dlectrons :


Rfrence : K = 2 L = 8; M = 8 ou 18; N = 8, 18 ou 32; O = 8 ou 18; P = 8.

Chaque lment a sa propre configuration dlectrons, couches dnergie diffrente.

Lunit dnergie utilise lchelle atomique est llectronvolt (eV).


1 eV = lnergie acquise par un lectron traversant un potentiel de 1 volt. Llectronvolt
est une petite unit dnergie, cest pourquoi on utilise souvent des units plus grosses :
1 keV = un millier dlectronvolts 1 MeV = un million dlectronvolts

1.4 Le numro atomique et le nombre de masse

Chaque atome dun lment possde le mme nombre de protons dans son noyau. On
utilise ce nombre, le numro atomique pour dsigner prcisment chaque lment.

Numro atomique (Z) : Nombre de protons dans le noyau dun atome.

Nombre de masse (A) : Somme du nombre de protons et de neutrons dun noyau.

Masse atomique : Moyenne pondre des nombres de masse des isotopes dun
mme lment.
Isotopes : Se dit des atomes dun lment ayant le mme numro atomique (donc
les mmes proprits chimiques), mais dont le nombre de masse diffre
(compte diffrent de neutrons dans le noyau).

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2. Types de rayonnement

Le rayonnement est compos dondes invisibles ou de particules nergtiques qui


peuvent affecter la sant humaine sils sont reus en trop grande quantit. Il existe deux
types distincts de rayonnement : les rayonnements non-ionisants et ionisants.

Ionisation :
division dune molcule en ces atomes constituants lectriquement chargs (ions),
enlvement dlectrons dun atome neutre.

Les ions portent une charge positive (due un manque dlectrons) ou ngative (due
un surplus dlectrons).Chimiquement, les ions sont trs ractifs et essaient de rede-
venir neutres en se combinant avec des ions qui portent une charge oppose. Une
raction chimique se produit lorsque des ions de deux lments se combinent pour
former un nouveau compos.

Rayonnement non-ionisant : Le rayonnement non-ionisant ne porte pas suffisamment


dnergie pour ioniser un atome (p. ex. entre ~4 et 25 eV sont ncessaires pour jecter
les lectrons dun atome neutre). Les ondes radio, les micro-ondes, la lumire sont des
formes de rayonnement non-ionisant. Bien que ces rayonnements peuvent causer des
dommages biologiques, comme les brlures, ils sont moins dangereux que le
rayonnement ionisant.

Rayonnement ionisant : Le rayonnement ionisant porte assez dnergie pour ioniser


un atome (>4 eV).

Le rayonnement ionisant constitue un souci pour la sant puisquil peut modifier la


structure chimique des cellules vivantes. Or, ces changements chimiques peuvent nuire
au fonctionnement normal des cellules. Une exposition suffisante au rayonnement
ionisant peut provoquer la perte des cheveux, des changements dans le sang,
diffrentes maladies, voire la mort.

Rayon gamma

Particule alpha
Il existe quatre types de rayonnement ionisant :
les particules alpha,
les particules bta, Particule bta
les neutrons,
les rayons gamma ou rayons X (analyseurs FRX) Neutron

Le pouvoir de pntration des quatre types de rayonnement


diffre normment. Rayon X

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Particule
alpha

Particule
bta

Rayon
gamma

Papier Corps humain Mtal Bton

Les particules alpha : (rfrence)


Formes de deux protons et de deux neutrons, elles sont massives.
Elles portent deux charges positives et sont mises par les noyaux.
Elles ionisent la matire en arrachant des lectrons (-) aux atomes.

Porte : Les particules alpha peuvent traverser entre un ou deux pouces dair.
Blindage : Elles sont arrtes par une feuille de papier ou la couche superficielle de
la peau (la peau morte).
Danger : Elles ne constituent pas un danger de rayonnement externe, elles sont
trs dangereuses si on ingre une source.

Les particules bta :


Elles sont identiques aux lectrons : leur masse est minuscule et elles
portent une charge ngative (-).
Elles sont mises par les noyaux atomiques.
Elles ionisent les atomes en jectant des lectrons (-) de leur orbite.

Porte : Les particules bta peuvent traverser environ dix pieds dair.
Blindage : Elles sont arrtes par un blindage de quelques millimtres de plastique,
de verre ou une feuille mtallique.
Danger : courte distance de leur source, elles posent un danger externe pour la
peau et les yeux. Si une source est ingre ou inhale, le rayonnement
bta peut poser un danger aux tissus internes du corps.

Les neutrons : (rfrence)


Ils sont produits par la dsintgration naturelle de certains lments
radioactifs, ainsi que dans les racteurs nuclaires ou les
acclrateurs de particules.
Ils peuvent diviser les atomes par fission ce qui produit deux atomes
instables, ou plus, qui se dsintgreront en produisant un rayonnement
ionisant compos de particules alpha et bta et de rayons gamma.

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Certains atomes peuvent absorber les neutrons (fusion) ce qui
provoque la cration dun atome possiblement radioactif en fonction de
llment de dpart.

Porte : Les neutrons peuvent traverser plusieurs centaines de pieds dair.


Blindage : Une barrire trs paisse de matriel de blindage est ncessaire pour
arrter ces particules trs pntrantes. Les meilleurs matriaux de
blindage sont ceux riches en oxygne (leau, le bton ou le plastique).
Danger : Ils constituent principalement un danger externe, tant donn leur porte
et leur pouvoir de pntration.

2.1 Spectre lectromagntique

On dsigne sous le terme de spectre lectromagntique lensemble de toutes les


frquences, et donc de toutes les nergies, de toutes les ondes lectromagntiques, du
60 Hz circulant dans les fils lectriques jusquaux rayons cosmiques les plus
nergtiques.
Frquence (Hz)
2 4 6 8 10
10 10 10 10 10 1012 1014 1016 1018 1020 1022 1022

Lumire visible
nergie lectrique

Rayons gamma
Micro-ondes

cosmiques
Infrarouge
Ondes AM

Ultraviolet
Ondes FM

Rayons X

Rayons

10-12 10-10 10-8 10-6 10-4 10-2 100 102 104 106 108 1010
nergie (keV)

On se rappellera que quatre lectronvolts dnergie sont ncessaires pour


lionisation. En voyageant de gauche droite du graphique, on atteint cette quantit
dnergie dans lultraviolet. Les rayons X et gamma sont donc ionisants.

2.2 Le rayonnement pntrant : les rayons X et gamma

Les rayons X et gamma sont des ondes lectromagntiques, ou photons, de haute


nergie; ils nont ni masse ni charge lectrique.

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Porte : Puisque les rayons X et gamma ont beaucoup


dnergie et nont ni charge ni masse, ils sont
trs pntrants et peuvent parcourir de
grandes distances.
Rayon X ou gamma Les rayons mis par fluorescence ont peu
dnergie (~40 keV). Leur porte est
denviron trois mtres dans lair.

Blindage : Les meilleurs matriaux de blindage contre les


rayons X et gamma sont les substances
denses comme le plomb, lacier ou le bton.

Il nexiste pas de diffrence observable entre les rayons X et gamma. La seule


distinction fondamentale entre ces deux types de rayons est leur origine. Les
rayons X sont produits par lacclration dlectrons tandis que les rayons
gamma proviennent de la dsintgration radioactive de noyaux atomiques.

2.3 Sources de rayons gamma (rfrence)

Seules certaines combinaisons particulires de neutrons et de protons donnent des


atomes stables. Toute autre combinaison produit un atome instable qui, en bout de
ligne, se dsintgrera en librant de lnergie sous la forme de particules charges et
de rayons gamma. Les rayons gamma proviennent de la dsintgration des noyaux
datomes la radioactivit.

Radioactivit : Proprit de certains lments dont le noyau atomique se dsintgre


spontanment ce qui conduit la transformation graduelle de tous les lments
originaux en des isotopes stables de cet lment ou dun autre lment. Ce processus
saccompagne de lmission de particules de haute nergie et de rayons gamma.

Les sources de rayons gamma utilises dans les analyseurs fluorescence X


ont une nergie entre 5 et 90 keV.

Note : Les rayons gamma mis par les atomes radioactifs ne prsentent pas
un spectre continu, mais ont plutt des nergies discrtes caractristiques
de lisotope qui subit une dsintgration.

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2.4 Production de rayons gamma (rfrence)


Les rayons gamma sont mis par la dsintgration
rayon spontane des noyaux atomiques. Les isotopes
gamma instables de certains lments se dsintgrent plus
facilement. Les isotopes radioactifs gnralement
noyau utiliss pour les analyses de fluorescence par rayons
X sont le cadmium 109 et lamricium 241. On
particule jecte produit ces isotopes radioactifs dans des racteurs
nuclaires en exposant un flux intense de neutrons,
des isotopes non radioactifs du cadmium et de
lamricium.

Units de radioactivit le curie (Ci)


On mesure la radioactivit dune matire comme le nombre datomes subissant une
dsintgration radioactive dans un temps donn. Lunit de mesure de ce taux de
dsintgration est le curie.
1 Ci = 3,7 x 1010 dsintgrations par seconde.

Lunit internationale de radioactivit est le becquerel (Bq).


1 Bq = 1 dsintgration par seconde.

La priode
Le taux de dsintgration dun atome instable est prvisible et est caractristique dun
radio-isotope donn. Supposons que nous ayons cent atomes; aprs un certain temps,
cinquante (soit la moiti) se seront dsintgrs. Le temps ncessaire pour ces
dsintgrations est la priode; autrement dit, le temps ncessaire pour que lactivit
originale dun radio-isotope dcroisse de moiti.

Rfrence
Le tableau ci-dessus donne les nergies, les intensits et les priodes disotopes
radioactifs communment utiliss.

nergie des rayons gamma, intensit et priode des isotopes radioactifs courants
Isotope nergie (keV) Intensit (R/h/Ci 1 mtre) Priode
Cobalt 60 1,170 et 1,330 1,3 5,3 ans
Iridium 192 310 et 470 0,48 74 jours
Csium 137 660 0,32 30 ans
Ytterbium 169 60, 200 0,125 32 jours
Quelques radio-isotopes utiliss dans certains analyseurs FRX
intensit de source ~ 10 50 mCi
Thulium 170 52, 84 0,025 129 jours
Amricium 241 Raies jusqu 59,5 0,31 432,7 ans
Cadmium 109 214 462,6 jours
Fer 55 231 2,73 ans

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Cobalt 57 836 271,8 jours

2.5 Sources de rayons X

On distingue deux types de rayons X, selon leur source :


le bremsstrahlung au rayonnement de freinage : spectre continu, source :
acclration dlectrons
caractristique : raie dmission, source : transition entre deux couches
lectroniques

2.6 Rayons X du bremsstrahlung

Bremsstrahlung contient le mot allemand brems, qui signifie freinage. Ce terme a


t cr pour dcrire le rayonnement pntrant, alors inconnu, (les rayons X) mis par
limpact soudain dlectrons trs rapides sur une cible de mtal. Le bremsstrahlung, ou
rayonnement de freinage, se produit dans des tubes rayons X spcialement conus
ou dans toute substance bombarde par des lectrons trs rapides qui sont
soudainement freins ou qui changent de direction.
Toute particule charge met un rayonnement lectromagntique
lorsquelle est acclre.
Acclration : se dit de toute modification de la vitesse : augmentation,
diminution ou changement de direction.

Production des rayons X


Un tube industriel rayons X moderne est form
dune enveloppe cramique dans laquelle lair a t
vacu. Les lectrons sont mis par une cathode
ngative (-) et acclrs par une tension de plusieurs
milliers de volts. Les lectrons rapides freinent
abruptement lorsquils frappent lanode charge
positivement (+). Cette dclration rapide des
lectrons produit le bremsstrahlung : un spectre
continu de rayons X, qui stend en nergie de
quelques milliers de volts jusqu la tension maximale
cre dun bout lautre du tube.

Un tube industriel de rayons X ordinaire produit des rayons dont lnergie se trouve
entre 10 et 400 kilovolts (keV), alors que les acclrateurs nuclaires peuvent produire
des rayons X dont lnergie peut tre aussi leve que 10 MeV.
Un tube rayons X de 40 keV utilis pour la fluorescence X met des rayons
dont lnergie se situe entre 8 et 40 keV, avec un maximum dintensit environ
la moiti du maximum, soit ~20 keV.

La tension lectrique dun bout lautre du tube fixe lnergie maximale des rayons X.

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Les tubes rayons X utiliss dans les analyseurs FRX prsentent normalement
une tension lectrique denviron 40 keV. Ainsi, la valeur maximum du spectre de
rayons X produits est de 40 keV (40 000 lectronvolts).

Lintensit du courant traversant le tube dtermine lintensit du faisceau de rayons X.


Les tubes des analyseurs FRX sont habituellement traverss par un courant
entre ~2 25 microampres.

Pour garantir la production efficace de rayons X, lanode cible doit pouvoir freiner
rapidement les lectrons (sa densit doit tre leve) et ne pas fondre sous la chaleur
produite par les impacts lectroniques. Il sagit souvent du tungstne, bien que largent
(Ag) soit utilis en fluoroscopie X. Lanode cible est souvent incline 45de faon
orienter le flux de rayons X dans la direction voulue.

Les analyseurs FRX sont munis dune fentre spciale, constitue dune lame fine,
dun mtal dur et peu dense, comme le bryllium, pour permettre le passage des rayons
X de moindre nergie.
La majorit des rayons X mis par un tube
9 50 keV forme un spectre continu, le rayonnement de
Intensits relatives

8 freinage, gnr par la dclration des


7 lectrons.
6 40 keV
5 Lnergie maximale du spectre des rayons X
4 produits dans un tube quivaut la tension
3 applique dun bout lautre du tube.
30 keV Par exemple : un tube de 50 keV produira des
2
1 rayons X dont lnergie maximale sera de
20 keV
0 50 keV. Toutefois, la majorit des rayons X
0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 mis auront une nergie infrieure.
-10
Longueur donde (10 m) Maximum dintensit = ~1/2 max = ~25 keV.
Rayons X mis par le
bombardement lectronique des
tensions diffrentes dune cible de
tungstne

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2.7 Raies dmission caractristiques

Le bombardement lectronique de certains K() = 17,4 keV

Intensits relatives
lments produit, en plus du rayonnement de
freinage, des raies dmission dans les rayons X,
dont les nergies sont propres ces lments,
on les appelle rayons caractristiques. rayons X
caractristiques
Rayons X caractristiques : raies dmission
K() = 19,8 keV
dans les rayons X causes la chute dlectrons
dune couche une autre. bremsstrahlung

K-alpha 0 10 20 30
nergie (keV)
M L K
Rayons X mis par le bombardement
K-bta dune cible de molybdne par des
lectrons de 30 keV

Les lectrons grande vitesse et les rayons X mis par bremsstrahlung peuvent jecter
des lectrons des couches intrieures des atomes. Les trous sont rapidement combls
par les lectrons qui tombnet des couches externes plus loignes. Ceci se traduit par
lmission de rayons X caractristiques ayant des nergies discrtes, correspondant
aux diffrences dnergie entre les couches lectroniques externes et internes de
latome.

Lmission des rayons X caractristiques est la base


de lanalyse par fluorescence X.

En analyse par fluorescence X, la source importante de rayons X est le mouvement des


lectrons lintrieur mme des atomes. La chute de llectron dune couche externe
une couche interne saccompagne de lmission dun rayon X ayant une nergie
prcise. Lnergie du rayon X mis est caractristique de la diffrence dnergie entre
deux couches lectroniques.

Chaque lment prsente des carts prcis entre les couches lectroniques. En
dautres mots, le niveau dnergie de chaque couche lectronique et la diffrence
dnergie entre les couches diffrent dun lment lautre. Cest pourquoi on dit de ces
rayons X quils sont caractristiques de llment qui les a mis.

On utilise une terminologie particulire pour dcrire les rayons X mis par les transitions
dune couche lectronique lautre. (P. ex. K-alpha)
La premire lettre (K, L, M, N ou O) indique la couche darrive de llectron.
La seconde lettre (alpha [] ou bta []) indique la couche do provient llectron.

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= la couche externe immdiatement suprieure, = la deuxime couche externe.

K- = chute de llectron sur la couche K depuis la couche L


K- = chute de llectron sur la couche K depuis la couche M
L- = chute de llectron sur la couche L depuis la couche M
L- = chute de llectron sur la couche L depuis la couche N

Voici les nergies des rayons X caractristiques mis par des lments entrant dans la
composition daciers courants.

Rfrence : nergie caractristique dun rayon X (keV)


lment Symbole Numro atomique K- K- L- L-
Vanadium V 23 4,95 5,43 0,51 0,52
Chrome Cr 24 5,41 5,95 0,57 0,58
Manganse Mn 25 5,9 6,49 0,64 0,65
Fer Fe 26 6,4 7,06 0,70 0,72
Cobalt Co 27 6,93 7,65 0,78 0,79
Nickel Ni 28 7,47 8,26 0,85 0,87

Chaque lment est caractris par les nergies diffrentes des deux raies
caractristiques mises par un lectron tombant sur la couche K. Pour un lment
donn, on trouve une diffrence denviron 500 eV entre les raies K- et K-.
Cependant, lorsque plusieurs de ces lments sont prsents dans un alliage, il peut
tre difficile de distinguer et didentifier certaines raies peu espaces.
P. ex. la raie K- (5,95 keV) du chrome (Cr) et la raie K- (5,9 keV) du
manganse (Mn).

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3. Principes de la fluorescence X
Dans un analyseur FRX lchantillon
est bombard par des rayons X. Ceci
produit lmission dlectrons, de
rayons X du bremsstrahlung et de
Rayonnement X
primaire
raies caractristiques de rayons X.

Certains rayons X interagissent avec


les lectrons des couches K et L dans
Rayon X lchantillon ce qui provoque leur
rtrodiffus Rayon X jection. Les trous crs dans la
rtrodiffus
couche K (ou L) sont immdiatement
remplis par les lectrons tombant des
Zone
danalyse
couches externes L, M ou N. Chaque
transition lectronique met un rayon
X caractristique (photon de
CHANTILLON MTALLIQUE fluorescence) dont lnergie est gale
la diffrence dnergie entre deux
couches dun lment particulier.

Puisque pour un mme lment, toutes les couches lectroniques ont les mmes
niveaux fixes dnergie, chaque transition lectronique identique se traduira par
lmission dun rayon X ayant la mme nergie discrte. Donc, lorsque des lectrons
sont jects datomes du mme lment, les rayons X mis que lon pourra dtecter
seront identiques. La quantit de rayons X mis par une transition vers la couche K ou
la couche L sera proportionnelle au nombre datomes du ou des lments prsents
dans lchantillon.
Intensit (comptes par seconde)

Spectre dun chantillon de sol contamin

Raies du tube et diffusion de lchantillon

nergie (keV)

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La figure ci-dessus montre un spectre dnergie typique en fluorescence X (intensit en
fonction de lnergie). Il reflte la concentration (intensit) des diffrents lments
dtects dans un chantillon de sol. Les rayons X caractristiques de plusieurs
lments sont clairement visibles. Plus un pic est lev, plus grande est la
concentration de cet lment.

3.1 nergies caractristiques des rayons X mis par les lments

Le lecteur trouvera lannexe 1, une liste des rayons X caractristiques mis par
plusieurs lments.
Pour rfrence, le tableau ci-dessous indique les rayons X caractristiques de certains
lments.

Rfrence : nergies des rayons X caractristiques en keV


lment Symbole Numro Raie Raie Raie Raie
atomique K- K- K- K-
Hydrogne H 1 0 0 0 0
Carbone C 6 0,282 0 0 0
Non Ne 10 0,851 0,86 0 0
Sodium Na 11 1,04 1,07 0 0
Magnsium Mg 12 1,25 1,30 0 0
Silicium Si 14 1,74 1,83 0 0
Calcium Ca 20 3,69 4,01 0,34 0
Cuivre Cu 29 8,04 8,9 0,93 0,95
Zinc Zn 30 8,63 9,57 1,01 1,03
Molybdne Mo 42 17,48 19,63 2,29 2,4
tain Sb 50 25,27 28,5 3,44 3,66
Gadolinium Gd 64 42,6 49,3 6,06 6,71
Tungstne W 74 59,31 67,23 8,39 9,67
Bismuth Bi 83 77,1 87,34 10,84 13,02
Uranium U 92 98,43 111,29 13,61 17,22

On peut tirer du tableau plusieurs informations importantes :


Les raies K contiennent beaucoup plus dnergie (environ sept fois plus) que les
raies L, pour un mme lment.
Plus le numro atomique, Z, est lev, plus les rayons X caractristiques ont de
lnergie.
Il est difficile de dtecter les lments plus lgers que le silicium (Z<14) tant donn
lattnuation des rayons X de faible nergie (<2 keV) et certaines difficults de
dtecteur ou dlectronique.
P. ex. on ne peut dtecter le carbone avec des analyseurs FRX portatifs.
Pour mesurer la concentration dlments lourds (92 U), on utilisera les raies L
produites par un tube rayons X de ~ 20 40 keV.
Un tube rayons X de 20 40 keV devrait globalement donner de bons rsultats.

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Un tube ne pourra produire de rayons X caractristiques que si sa source dnergie


des rayons est suprieure lnergie des raies dmission. E (tube) > E (atome)
Aperu de la fluorescence X :
Lnergie de chaque raie de fluorescence X mise est caractristique de llment
qui a t excit. Ainsi, lanalyse des nergies des rayons X caractristiques mis
permet de dterminer quels lments composent un chantillon. En outre,
lanalyse de lintensit des rayons X mis permet de dterminer la concentration
relative de chaque lment. Lors de lanalyse des alliages on compare les
rsultats avec la composition connue de plusieurs alliages, ce qui permet
dobtenir une identification sans quivoque.

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4. Analyseurs par fluorescence X (analyseurs FRX)

4.1 Constituants principaux

Tube rayons X Dtecteur


Un analyseur fluorescence X est
Analyseur MC compos :
dun tube rayons X miniaturis,
dun dtecteur rayons X,
dun analyseur multi-canaux (MC),
Ordinateur
chantillon dun ordinateur

Les rayons X mis par le tube interagissent avec lchantillon pour produire des rayons
fluorescentes caractristiques des lments prsents. Les rayons X fluorescents
tombent sur un dtecteur qui les convertit en impulsions lectriques. Un analyseur
multi-canaux classe les impulsions lectriques dans un nombre fixe de canaux
dnergie quantifis (numriques) et compte le nombre dimpulsions correspondant
chaque canal. la sortie, on obtient un spectre dnergie : des comptes par seconde,
en fonction de lnergie des photons en keV. Les donnes de lanalyseur multi-canaux
passent lordinateur qui corrige les donnes pour diffrents facteurs et calcule la
composition chimique de lchantillon partir du spectre dnergie corrig .

4.2 Appareil fluorescence X


Un appareil fluorescence X portatif contient un tube rayons X
miniaturis, dont le diamtre est denviron 20 mm (la taille dune
pice de 1), fonctionnant une tension entre 15 et 40 keV, et un
courant entre 2 et 25 micro-ampres. En dpit de la taille du tube
rayons X, le rayonnement la fentre de sortie atteint environ 30 R/h.
On peut placer diffrents filtres devant le tube pour modifier le spectre dmission.

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Intensit (comptes par seconde)


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140
Spectre dmission dun tube rayons X de 35 keV muni de filtres

100
Filtre 3
60 Filtre 2
Filtre 1

20

0 5 10 15 20 25 30 35
nergie (keV)

4.3 Dtection des rayons X


Fentre de
Les dtecteurs de rayons X bryllium
utiliss dans les analyseurs
fluorescence X portatifs
sont miniaturiss : leur TEC Dtecteur
diamtre est denviron Contrleur de
temprature
8 mm. Le dtecteur est dot
dune fentre de bryllium
Refroidisseur
(Z=4) ce qui permet la
Tige de
transmission des rayons X de basse nergie, sans montage
lmission dun rayon X caractristique supplmentaire.
Pour viter le bruit de fond lectronique, ce dtecteur semi-conducteur est maintenu
basse temprature par un refroidisseur effet Peltier.

La dtection de rayons X comprend les tapes suivantes :


1. Conversion des photons X en charges lectriques
2. Accumulation dune charge totale et conversion en impulsion lectrique
3. Amplification pour que la hauteur du pic en volts soit proportionnelle lnergie
des rayons X.

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Dtecteur
Amplificateur Impulsion
lectrique
Photon de
basse
nergie

Un photon X incident pntre dans le dtecteur et provoque la libration dun certain


nombre de charges lectriques. cause de la tension leve applique sur le
dtecteur, ces charges se dplacent vers les cts du dtecteur et contribuent crer
une petite variation de tension lectrique, laquelle est amplifie et mesure. Le photon
X progresse pntrant plus loin dans le dtecteur et librant plus de charges jusqu ce
quil ait perdu toute son nergie et soit finalement absorb. Pendant ce processus, la
tension de sortie du dtecteur augmente dune valeur prs de 0, jusqu une valeur
maximale, puis elle retourne trs rapidement sa valeur initiale, ce qui cre une
impulsion lectrique. Un photon de haute nergie libre plus de charges quun photon
de moindre nergie et, donc, crera une impulsion lectrique plus intense.

Impulsion
lectrique

Dtecteur
Amplificateur
Photon de haute
nergie

La hauteur de limpulsion lectrique est proportionnelle lnergie du photon X. Le


dtecteur met une srie dimpulsions dont la hauteur est proportionnelle lnergie
des photons X incidents. Si lon connat les nergies des rayons X caractristiques de
chaque lment, on pourra utiliser la hauteur des impulsions pour dcouvrir quels
lments sont prsents dans la substance analyse.

La dtection est un processus statistique. Ainsi, la hauteur des impulsions produites par
des photons de mme nergie fluctue.

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Exemple : On observe des impulsions de 9,7 et 19,5 volts. Ces impulsions
correspondent la raie K- du zinc 9,6 keV et la raie K- du molybdne 19,6
keV.

Considrons maintenant un chantillon de zinc ne contenant pas de molybdne.


Il est possible que deux photons de 9,7 keV mis par le zinc puissent tomber sur
le dtecteur au mme moment. On obtiendra une impulsion unique dont la
hauteur sera 9,7 + 9,7 = 19,4 volts. Ceci pourrait nous faire croire que
lchantillon contient du molybdne.

On notera quun dtecteur reoit des milliers de rayons X par seconde.

La rponse du dtecteur doit tre rapide, afin de


dtecter chaque photon X.

4.4 Analyseur multi-canaux

Lnergie des rayons X caractristiques est dtermine par le processus de transfert


dune couche lectronique lautre. Pour identifier les lments prsents dans une
substance, on doit, pour lanalyse, enregistrer la hauteur dimpulsion de chaque photon
X capt par le dtecteur.

Lintensit dun rayon caractristique dpend du nombre de transitions lectroniques


identiques. Plus la concentration dun lment est leve, plus lappareil captera de
rayons X ayant la mme nergie ou la mme hauteur dimpulsion. Pour tablir la
concentration des lments prsents dans un chantillon, on doit compter lincidence
des impulsions de mme hauteur, en vue de leur analyse.

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Dtecteur Amplificateur

Hauteur dimpulsion
Temps

Comptes Hauteur dimpulsion


Comptes

Intensit (cps)

Valeur nergie (keV)

Un analyseur multi-canaux trie et compte les impulsions lectriques. Comme le montre


la figure, ce processus ressemble celui consistant compter sa menue monnaie. Une
personne prend une pice, dtermine sa valeur (elle trie), et place la pice dans la case
approprie (1 , 5 , 10 ou 25 ), elle augmente alors le compte de pices de cette
case de un . Lanalyseur multi-canaux reoit chaque impulsion lectrique mise par
le dtecteur, dtermine sa hauteur en volts (il trie), et augmente de un le compte
dans la case correspondant la valeur de tension. Ceci cre un tableau de comptes (en
ordonne) en fonction de la hauteur dimpulsion en volts (en abcisse).

Le spectre des rayons X : La hauteur des impulsions reflte lnergie des photons X
(keV). Les comptes refltent lintensit du rayonnement. Aux fins de comparaison des
graphiques, on normalise les comptes en intervalle de une seconde, ainsi lordonne
montre les comptes par seconde (cps).

Difficults : le spectre dnergie


En pratique, la production dun spectre dnergie des rayons X est complique par
plusieurs facteurs :
le bremmstrahlung du tube rayons X et la diffusion dlectrons
le fond de rayonnement de basse nergie produit par les lments lgers
largissement des impulsions d au dtecteur
les variations statistiques de la hauteur des impulsions et du taux de comptage
le chevauchement des impulsions produites par diffrents lments

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les effets dabsorption de la matrice
Rsolution spectrale
cause des aspects statistiques de
la dtection, la hauteur des
impulsions fluctue alatoirement de
part et dautre dune valeur moyenne.
Pics de fluorescence
Le dtecteur transforme chaque raie
Comptes dmission troite en une impulsion
par hauteur Pic de diffusion
unitaire des
Bruit
lectronique
Compton lectrique en forme de cloche, large
impulsions
denviron 200 eV. Le chevauchement
spectral se produit lorsque deux pics
ne sont pas compltement rsolus
nergie ou hauteur des impulsions
difficult caractristique des lments
dont le numro atomique est voisin,
comme le Cu et le Zn.

Les deux impulsions dnergie se chevauchent et forment deux bosses plutt que deux
raies clairement spares. Puisque lanalyseur brise le spectre dnergie en une srie
fixe de case (1024, 2048, etc.), il distribuera les deux bosses dans un certain nombre
de cases, plutt que seulement deux. La rsolution dun systme danalyse FRX est
donc limite. Elle dpend galement de lnergie des photons incidents.

4.5 Ordinateur

Lordinateur est une partie intgrante dun analyseur FRX. Il remplit plusieurs fonctions :
la commande du tube rayons X, du dtecteur et de lanalyseur multi-canaux
le calcul du spectre dnergie et des corrections lui appliquer
laffichage des informations relatives la composition chimique de lchantillon
lidentification dun alliage en comparant le spectre dnergie de lchantillon une
bibliothque de spectre

limination de linterfrence spectrale provenant du fond et des chevauchements


Une fois que lanalyseur multi-canaux aura accumul le spectre dnergie, lappareil
commence supprimer mathmatiquement le fond et le chevauchement des pics.

Le fond est constitu de la diffusion des rayons gamma et X et de la queue de la courbe


de chaque impulsion. Linterfrence que le fond cause provient dun processus imparfait
de dtection des photons et est proportionnelle la hauteur du pic produit.

Les calculs du chevauchement spectral sont effectus pendant ltalonnage de


linstrument, partir du spectre dtalons de rfrence (matriaux talons ou talons
appropris pour un site donn).

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Calcul des concentrations
Une fois que lon a obtenu les intensits nettes des rayons X, on peut les convertir en
concentrations lmentaires. Cette tape est ralise grce un procd
mathmatique un algorithme qui utilise des coefficients empiriques et des
rgressions multi-paramtres linaires ou polynomiales. On talonne lappareil en
mesurant plusieurs talons contenant des concentrations exactes et prcisment
connues dun lment. Le micro-processeur de lanalyseur calcule, pour chaque
lment, le facteur de correction.

Relation entre lintensit et la concentration


La concentration (C) des lments dun chantillon est directement proportionnelle
lintensit [I] des rayons X (en comptes par seconde) du spectre.

I = N/t = k x Io x C
O :
I = intensit des rayons X (comptes par seconde)
N = compte net (une fois supprims le fond et les chevauchements)
t = temps dobservation (secondes)
k = constante (dpendant de la gomtrie du dtecteur et de lchantillon,
de la section efficace et de la matrice)
Io = Intensit originale des rayons X
C = proportion en masse dun lment dans le mlange

Coefficient dabsorption de la matrice


La prsence dun lment dont le coefficient dabsorption des rayons X est trs
suprieur (ou infrieur) celui du reste de lchantillon peut modifier lintensit
apparente des rayons X mis par un lment cible mme pour une concentration (C)
identique de llment cible. Ce phnomne peut tre la cause dune erreur dans
lestimation de la concentration de llment cible.

talonnage
Cette opration a pour but dtalonner lchelle des nergies des lments.
Les analyseurs FRX sont talonns en usine
Lutilisateur peut galement talonner lappareil sil reproduit les conditions
dtalonnage en usine
Certains analyseurs sont dots dun talon interne permettant de maintenir ou de
vrifier les valeurs de ltalonnage en usine
- Ltalonnage de toute lchelle dnergie est automatis
- tant donne la stabilit de llectronique et du dtecteur, les valeurs
dtalonnage sont correctes pendant des jours, voire des semaines.
On peut utiliser lchantillon de contrle fournit par le fabricant, pour vrifier la
prcision de ltalonnage ou des rsultats.

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5. Sources derreur

5.1 Erreurs systmatiques et alatoires

On peut classifier les erreurs en erreurs systmatiques et erreurs alatoires.

Erreurs systmatiques (biais)


Les erreurs systmatiques proviennent dun biais du systme de mesure : les rsultats
sont invariablement trop levs ou trop bas. On peut rduire les erreurs systmatiques
par ltalonnage et le respect de procdures prcises.

Erreurs alatoires (imprcision)


Les erreurs alatoires proviennent de lincertitude (limprcision) dun appareil de
mesure : les rsultats diffrent de la valeur vraie de faon alatoire et sont
statistiquement trop levs ou trop bas. On peut rduire les erreurs alatoires en
prenant la moyenne des rsultats de mesures rptes.

5.2 Exactitude, prcision et biais

Pour tre exacte, une mesure doit tre non biaise et prcise.
Il est facile de confondre prcision, exactitude et biais. La figure ci-dessous aide
comprendre la relation entre ces mots.

1 2 3 4
Non biaise Biaise Biaise Non biaise
Imprcise Imprcise Prcise Prcise
Inexacte Inexacte Inexacte Exacte

Biais
Le biais provient derreurs systmatiques comme une variation de la tension apparue
aprs ltalonnage ou utilisation de mauvaises constantes dtalonnage, ce qui introduit
une erreur systmatique dans chaque mesure. On peut liminer le biais avec un nouvel
talonnage et en suivant avec soin les procdures prescrites pour les mesures.

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Exemple : Aux figures 2 et 3, on peut voir un biais vers le haut et vers la


droite. On peut le compenser en utilisant un facteur de correction vers le
bas et la gauche.

Prcision
La prcision est une mesure de la cohrence interne dun groupe de mesures (la
proximit mutuelle de chacune des mesures).

Exemple : Sur les cibles, la figure 3 montre des valeurs qui sont prcises
(en accord lune avec lautre), mais qui ne sont pas exactes (elles sont
loignes de la valeur vraie).

En fluorescence X, la prcision dpend de facteurs alatoires tels que :


1. la nature statistique du procd dmission de rayons X dans le tube,
2. la nature statistique du processus dabsorption et dmission des rayons X par
lchantillon,
3. la nature statistique du processus de dtection,
4. les variations imprvisibles provenant du substrat ou de la matrice.

Les effets de un trois dcrits plus haut proviennent des aspects alatoires de la
fluorescence X : les atomes de lchantillon sont excits au hasard. Le dtecteur traite
des milliers de comptes par seconde. Or, les mesures sont ordinairement prises
pendant plusieurs secondes. Puisque lon dispose de beaucoup de donnes, on peut
utiliser les statistiques. Ainsi, la prcision saccrot comme la racine carre, N , du
nombre, N, de mesures.
un nombre 4 fois suprieur de mesures donne 4 = 2 fois plus prcis
un nombre 100 fois plus lev de mesures donne 100 = 10 fois plus prcis
un nombre 10 000 fois plus lev de mesures donne 10000 = 100 fois plus
prcis

En fluorescence X, laugmentation du nombre de comptes diminue lincertitude du


rsultat. On peut donc augmenter la prcision, en allongeant le temps de mesure.

Application pratique
Dans lacier inoxydable, il peut tre difficile de dtecter de faibles concentrations
de manganse (Mn) et lon pourrait ne pas le dceler dans une observation trop
courte. En revanche, le molybdne (Mo) donne de bons rsultats, mme pour
une observation courte.

Exactitude
Lexactitude est une mesure de la diffrence entre la valeur mesure et la valeur vraie.
Lerreur (E) = valeur mesure (M) valeur vraie (V)

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La valeur vraie (V) ne peut jamais tre connue avec une certitude absolue. En situation
relle, la meilleure approximation de la valeur vraie est la moyenne arithmtique (la
prcision N ) dun nombre de mesures, dont les erreurs systmatiques (biais) ont
t supprimes ou rduites une valeur ngligeable.

La prcision des mesures en fluorescence X est influence par des facteurs tels que :
la qualit des talons utiliss lors de ltalonnage,
la procdure dtalonnage,
la dure de la mesure.

Lcart-type (ET ou )
On utilise souvent lcart-type (ET) pour dsigner lerreur alatoire de mesures
rptes. On dsigne la valeur dun cart-type par la lettre sigma (). Les oprateurs
dappareils fluorescence X doivent comprendre cette notion.

Quelque soit le processus, des mesures rptes dune quantit x produiront une
gamme de valeurs observes. Si nous
traons le nombre de fois quune valeur
mesure apparat, lordonne, en
fonction des valeurs mesures (en
Frquences de la valeur mesure M

abcisse), nous obtiendrons une courbe en


forme de cloche (une gaussienne),
% de laire
totale sous centre sur la valeur moyenne x .
la courbe

Pour indiquer lerreur, nous utilisons


68,3 %
lamplitude de la dviation des valeurs
mesures autour de la valeur moyenne :
lcart-type.
95,5 %

cart-type (ET)

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La rgle 68,3 95,5 99,7
68,3 % sont en-de de 1 de x
Rfrence 95,5 % sont en-de de 2 de x
99,7 % sont en-de de 3 de x
cart-type, = ( x i x ) 2 /( N 1) Exemple :
= oprateur de racine carre Soit une concentration de nickel dans un
= oprateur de la sommation chantillon de 2,5 0,2 :
x = moyenne de i mesures = xi /N = 0,2, donc :
xi - x = dviation de la ie valeur 68,3 % des valeurs sont entre 2,3 et 2,7.
de x autour de la moyenne x 95,5 % des valeurs sont entre 2,1 et 2,9.
99,7 % des valeurs sont entre 1,9 et 3,1.
N = nombre de mesures

cart-type relatif ETR (%)


ETR (%) = (/ x ) x 100
Exemple de ETR, LD et LQ
Limite de dtection (LD) Soit une concentration mesure de plomb
dans un chantillon de 104 ppm avec un
La limite de dtection est la concentration cart-type de 10 ppm. Nous trouvons :
minimale laquelle on peut dtecter, au- La moyenne x = 104 ppm, = 10 ppm,
dessus du fond, la prsence dun lment
ETR (%) = / x x 100 = 9,6 %
dans un chantillon.
LD = 3 = 3 x 10 ppm = 30 ppm
LD = 3 , tel que mesur sur un chantillon
(La concentration de plomb dun
dessai.
chantillon doit tre dau moins 30 ppm,
Limite de quantification (LQ) ou 30/104 x 100 = 29 %, pour tre
dtecte.)
La limite de quantification est la
LQ = 10 = 10 x 10 ppm = 100 ppm
concentration minimale laquelle on peut
(La concentration de plomb dun
quantifier la concentration dun lment
chantillon doit tre dau moins 100 ppm,
dans un chantillon.
ou 100/104 x 100 = 96 %, pour tre
LQ = 10 , mesur sur un talon dessai.
quantifie.)

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6. Fonctionnement de lanalyseur fluorescence X

6.1 Avantages des analyseurs fluorescence X portatifs

La fluorescence X avec un appareil portable prsente plusieurs avantages :

Cest un essai tout fait non destructif.


On obtient des rsultats rapidement.
On peut transporter facilement lappareil sur les lieux de travail.
Trs peu de rglage et ltalonnage sont ncessaires.
On obtient une analyse qualitative et quantitative de plusieurs lments.
Les applications sont nombreuses :
Analyse chimique et dtermination de la composition des alliages,
Analyse des sols,
Analyse des minraux.
On peut employer les mthodes sur plusieurs chantillons : des solides, des
tournures, des poudres, des liquides, etc.
La prparation des chantillons est minimale.

6.2 Limites des analyseurs fluorescence X portatifs

Il est trs difficile de dtecter des lments dont le numro atomique est infrieur
14 (Z = 14, le silicium, Si).
P. ex. le lithium (Li), le bryllium (Be), le bore (B) et le carbone (C).
Il est difficile de dtecter des lments dont le nombre atomique est infrieur 22
(Z = 22, le titane, Ti), p. ex. le calcium, le soufre, le phosphore, le silicium et
laluminium.
Plusieurs aciers au carbone, alliages daluminium ou de magnsium ne peuvent tre
analyss.
- On ne peut que trier par sries quelques alliages daluminium corroy.
La limite minimale de dtection est de quelques parties par million (ppm).
La fluorescence X est une technique danalyse matrielle de la surface et des
rgions prs de la surface.
Lanalyseur ne peut mesurer que la portion de lchantillon place directement
devant sa fentre.
Lanalyseur mesure tous les matriaux placs devant sa fentre.

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6.3 lments habituels des analyseurs

1 Bibliothques (pour lanalyse des alliages)


On trouve en mmoire une ou plusieurs bibliothques ou tableaux de rfrence,
notamment :

La bibliothque fournie avec lappareil : les spectres des lments ou des alliages
communs de Fe, Ni, Co, Ti et Cu;
p. ex. une bibliothque peut contenir des informations sur plusieurs centaines de
nuances dalliage,
lutilisateur peut ajouter, supprimer, renommer ou modifier la bibliothque
dinformation sur les alliages de lappareil.

Bibliothque dutilisateurs. Loprateur peut produire une bibliothque pour son


propre usage (ou plusieurs bibliothques),
p. ex. lutilisateur pourra charger seulement linformation pertinente aux alliages
utiliss dans le projet en cours.

2 Paramtres instrumentaux et talonnage


La mmoire contient, linsu de lutilisateur, les facteurs propres linstrument, les
rfrences dtalonnage et les algorithmes de correction pour :
les sections efficaces dexcitation des lments
les corrections dues la gomtrie du tube et du dtecteur
les effets de matrice
la variation de la tension du tube et lutilisation de filtres rayons X

3 - Affichages
Les analyseurs portatifs peuvent tre munis dun cran sur lequel peuvent apparatre :
les rsultats de lanalyse chimique (concentration de chaque lment) et
lidentification de la nuance,
un graphique du spectre dnergie les CPS de chaque raie de lchantillon,
les infos sur la bibliothque utilise, le mode dutilisation, etc.

4 - Prises externes
Les analyseurs portatifs peuvent tre dots de logiciel et de matriel permettant :
la consignation des donnes le stockage de milliers de mesures sur un support
amovible,
lexportation de donnes de lanalyseur FRX un ordinateur externe; p. ex. dans un
chiffrier,
limportation de donnes dun ordinateur externe lanalyseur FRX; p. ex. des
bibliothques, des facteurs.

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6.4 Modes dessai

La plupart des appareils danalyse fluorescence X sont dots dune gamme de modes
danalyse. Leur nom varie dun fabricant un autre. Ils peuvent dsigner la fonction du
mode (analyse du sol, dalliages, etc.) ou la mthode dtalonnage. Vous trouverez plus
dinformation sur les modes disponibles dans votre manuel dutilisation.

Parmi les mthodes danalyse courante, on trouve :


1. paramtres fondamentaux - chantillons de minerais et alliages
2. normalisation Compton - chantillon de sol
3. comparaison des spectres - analyse des alliages
4. empirique - comparaison prcise de matrices

Paramtres fondamentaux
Ltalonnage des paramtres fondamentaux seffectue sans talon. On utilise la
physique connue de la rponse du spectromtre des lments purs pour tablir
ltalonnage de faon thorique. On utilise les algorithmes mathmatiques de lappareil
pour corriger les effets de matrice. Le fabricant effectue ltalonnage des paramtres
fondamentaux, mais loprateur peut tre capable dajuster les courbes de calibration
(pente et ordonne lorigine), partir des rsultats danalyses dchantillons de
contrle.

Le mode paramtres fondamentaux est normalement utilis pour lanalyse


dchantillons miniers et dalliages. Les logiciels danalyse dalliages comportent
souvent une bibliothque de nuances dalliages, contenant une collection des
concentrations minimales et maximales propres chaque nuance. Aprs les calculs de
concentration chimique, le logiciel fouille la bibliothque pour dcouvrir la nuance la
plus proche des concentrations chimiques calcules.

La mthode des paramtres fondamentaux est bien adapte aux utilisations qui exigent
lanalyse dalliages brevets ou inconnus, pour exercer une surveillance chimique de
substances gares ou pour contrler les compositions chimiques pendant un procd.
La mthode des paramtres fondamentaux est idale pour obtenir la composition
moyenne des tournures, notamment de tournures mlanges. (Tournures : (n.f.),
fragments mtalliques dtachs par loutil dun tour.)

Normalisation Compton
La matrice de lchantillon affecte la diffusion du rayonnement. La diffusion de Compton
(article 8.2) est proportionnelle la teneur en lments lgers de lchantillon et dpend
directement de lintensit du pic de Compton. Ltalonnage par normalisation Compton
consiste analyser un talon unique, bien caractris, de faon enregistrer lintensit
du pic de Compton. Lorsquon utilise lanalyseur, les pics de Compton dans les spectres

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des chantillons sont normaliss un pic de Compton talon . Cette mthode rduit
les problmes associs aux effets de matrice, lesquels varient dun chantillon lautre.

La normalisation Compton est analogue lutilisation dtalons internes pour lanalyse


de substances organiques. La normalisation Compton est surtout utilise pour les
chantillons de sol.

Comparaison de spectres
Dans le mode de comparaison de spectres, lanalyseur rapproche le spectre observ
dun chantillon de ceux conservs dans sa mmoire. Le plus ressemblant est affich,
en compagnie dun nombre quantifiant la corrlation entre les deux spectres.
P. ex : acier inoxydable, SS 316, 98 %

On utilise surtout la comparaison des spectres pour lanalyse des alliages. Cette
mthode permet de comparer rapidement (en trois secondes) un chantillon aux
spectres dalliages connus conservs dans lanalyseur. Les analyseurs peuvent tre
dots de bibliothques de spectres installes en usine. En fonction de ses besoins,
loprateur peut galement crer sa bibliothque, en testant des alliages connus et en
conservant leur spectre.

La comparaison des spectres permet, galement, dobtenir des informations chimiques


prcises, si lon a conserv des informations sur des chantillons doss. On peut
extrapoler la composition chimique, partir dune seule valeur mmorise pour un
alliage, ou en interpolant entre des chantillons de rfrence ne diffrant pas beaucoup
en composition.

talonnage empirique
La mthode dtalonnage empirique repose sur une srie dtalons permettant de
calculer les paramtres dtalonnage. On mesure la rponse instrumentale des
chantillons talons et lon cre, partir de ceux-ci des courbes dtalonnage. Cette
mthode est efficace, si lon utilise des chantillons talons dont la composition
sapproche de celle de la matrice des chantillons analyss. Les talons devraient
contenir tous les lments intressants et interfrents. Le fabricant pourra mettre en
mmoire les chantillons dtalonnage empirique, dans dautres cas certains analyseurs
permettent leur utilisateur de crer leurs propres courbes dtalonnage. Ltalonnage
empirique peut tre utilis pour tous les types dchantillons, la condition de disposer
de suffisamment dtalons.

Note : Les fabricants danalyseurs FRX portatifs offrent un assortiment de mthodes


analytiques qui peuvent combiner certaines des mthodes dcrites plus haut. Vous
trouverez plus dinformation sur les modes disponibles, dans votre manuel dutilisation.

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6.5 Utilisation de lanalyseur fluorescence X - Gnralits

Les fabricants offrent gnralement les analyseurs FRX compltement talonns. On


peut donc les utiliser pour le travail de routine, sans prparation importante. Toutefois,
la prcision de ltalonnage est cruciale, il est donc sage de contrler ltalonnage sur
des talons avant de dmarrer lanalyse.

Une des principales sources derreurs de la plupart des analyseurs provient des
statistiques de comptage. Allonger la mesure de lchantillon pourrait permettre
datteindre la prcision ncessaire lidentification de plus dlments dans
lchantillon.

Un analyseur FRX fonctionne grce un programme de commande qui permet


lutilisateur de :
1. choisir le mode dopration,
2. prendre des mesures,
3. visionner le spectre,
4. conserver les rsultats ou les spectres.

Avant dutiliser lanalyseur, on devrait permettre lappareil de se rchauffer


pendant une deux minutes et donner au refroidisseur effet Peltier assez de temps
pour se stabiliser.

Pour prendre une mesure, placez le bec de lanalyseur sur lchantillon et appuyez sur
le dclencheur. Assurez-vous que le senseur de proximit, sur le bec de linstrument,
est actionn, sinon la mesure ne dbutera pas. Un voyant lumineux indique que le tube
produit des rayons X.

Assurez-vous que la sonde touche lchantillon pendant toute la dure de la


mesure.
Aucune donne ne sera enregistre si lchantillon nactionne pas le senseur de
proximit. Si tel tait le cas, relchez le dclencheur immdiatement et recentrez
lchantillon afin dactiver le senseur.

Les premiers rsultats apparatront aprs quelques secondes. Les rsultats sont
actualiss, tant que lon appuie sur le dclencheur. Relcher le dclencheur arrte la
mesure. Pendant la mesure, le temps coul est affich sur lcran de lanalyseur et est
continuellement actualis. Allonger le temps consacr la mesure augmentera sa
prcision. Une rgle simple : multiplier par quatre le temps de mesure double la
prcision.

Une fois la mesure complte et les rsultats affichs, vous pouvez commencer une
nouvelle mesure en appuyant sur le dclencheur.

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Certains analyseurs affichent les carts-types en plus des concentrations trouves dans
lchantillon.

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7. Applications de la fluorescence X

Les trois utilisations principales des analyseurs fluorescence X portatifs sont :


lidentification et lanalyse chimique des alliages,
lanalyse des sols,
lanalyse des minraux.

7.1 Identification et analyse chimique des alliages


Lutilisation la plus courante des analyseurs FRX portatifs est lidentification des alliages
et leur caractrisation, via lanalyse chimique des lments constitutifs.

Considrations sur les chantillons dalliages

Prparation dchantillon - Gnralits


La surface de lchantillon devrait tre libre de poussire, de corrosion, dhuile etc.
Puisque lanalyse est faite en surface, celle-ci doit tre reprsentative de tout
chantillon. Si la surface dun chantillon est plane et propre (sans rouille, huile,
poussire, etc.), il nest pas ncessaire de le prparer. Si elle est sale, on doit la
nettoyer. Leffet le plus important de la contamination de la surface est sur lanalyse des
lments lgers (Ti, V, Cr). On dbarrasse la surface de la poussire et de lhuile qui sy
trouvent, en lessuyant avec un linge. La rouille, la peinture et les revtements doivent
tre enlevs en polissant la surface.

Alliages Rduction des erreurs


Les erreurs de mesure dterminent la limite de dtection des lments prsents dans
lchantillon.

Lanalyseur ne voit que la surface de lchantillon place directement devant sa


fentre. Si dans les particules en surface, la concentration dun lment donn est
suprieure ou infrieure, lanalyseur donnera le rsultat correspondant.
- Nettoyez ou enlevez de la surface, toute poussire mtallique, trace de
corrosion, couches doxyde (rouille, oxyde daluminium, couche anodise, par
meulage), revtements (peinture) ou pellicules (plastique, huile, etc.)
- Le nettoyage par grenaillage peut laisser des rsidus des billes sur la surface ou
dans celle-ci.
- Tout plaquage mtallique sur la surface masquera la composition du substrat.

Les mesures peuvent tre affectes par la prsence dautres lments dans
lchantillon (matrice).
Les lectures dchantillons non-homognes ne sont reprsentatives que de la
portion analyse.
Soyez conscient de la prsence de vide entre les pices dchantillons ou dun relief
grossier.

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Si un chantillon est trop petit (sil ne couvre pas la fentre), essayez dobtenir un
spcimen plus grand. P. ex. plutt que de mesurer un seul fil, prenez la mesure sur
la bobine.
Conformez-vous la procdure recommande par le fabricant pour lanalyse des
petites pices.

Puisque les rayons X traversent les chantillons minces, les rsultats dpendent de
la substance sur laquelle ils sont poss.
- En consquence, tenez compte de la faon dont les tournures de tour ou de
foret, ainsi que les poudres sont supportes.
- Ne placez pas un chantillon mince daluminium sur une table dacier : vous
dtecteriez beaucoup de fer.

chantillons problmatiques - Solutions


Surface peinte ou revtue lanalyseur mesure la peinture ou le revtement en plus
de lchantillon.
Traitement des surfaces les procds de durcissement et le grenaillage
dcrouissage changent la composition chimique des surfaces.
- On doit meuler les surfaces peintes, revtues, chromes ou traites pour en
enlever la couche suprieure.
chantillons non-homognes comment les mesurer?
Les mtaux souds ou affects par la chaleur ont une composition chimique
diffrente de celle du mtal non trait.
Petits chantillons
- Si vous avez plusieurs petites pices de la mme substance, (tournures,
poudres, etc.), analysez plusieurs petites pices en mme temps.
Surfaces chaudes
- Le travail sur des surfaces chaudes peut exiger lemploi dun adaptateur
surface chaude construit par le fabricant.

7.2 Analyse des sols


Lanalyse de sols par fluorescence X permet de dcouvrir la contamination par les
mtaux.
Concentrations leves (plusieurs centaines de ppm); contrle rapide en moins de
30 secondes
Prs des limites de dtection; mesure de 60 secondes ou plus.

chantillons de sol - Considrations


On doit tenir compte du type de sol, de lhtrognit de lchantillon, de la taille des
particules, de la distribution des concentrations lmentaires, de lhumidit, des profils
de profondeur et horizontaux. Ne testez pas sur place du sol recouvert deau.

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Travail en laboratoire : Lenvoi de peu dchantillons un laboratoire peut se traduire
par des donnes analytiques presque parfaites, mais qui ne sont pas reprsentatives
du site.

Travail sur le terrain : On peut mesurer plusieurs chantillons sur le terrain, ainsi les
donnes seront plus reprsentatives du site. On doit toutefois adopter une stratgie
correcte de caractrisation du site pour obtenir de bons rsultats (p. ex. la mthode
EPA 6200).

Types dchantillonnage
Direct (sur place) : analyse prliminaire sur le terrain, sans prparation dchantillon.
Indirect : chantillons ensachs analyse prliminaire sur le terrain, sans
prparation des chantillons.
Indirect (ex-situ) : prcision analytique obtenue partir dchantillons prpars ayant
t schs, moulus, tamiss et mlangs.

Sols Rduction des erreurs


Instabilit de ltalonnage ou drive lente : minimises par un talonnage rgulier.
Effets de la composition chimique de la matrice : minimiss par ltalonnage par
normalisation Compton.
Effets physiques de la matrice tels la granulomtrie ou lhumidit : minimiss par le
schage et le meulage.
Erreurs dues la prsentation des chantillons, telles que la prsence de
substances non reprsentatives dans la zone analyse et les surfaces chancres :
minimises en nettoyant et en aplanissant la surface du sol mesur, ou en
procdant un chantillonnage intrusif, suivi par une procdure de prparation de
lchantillon.

7.3 Analyse des minerais


On utilise la fluorescence X pour dterminer la concentration dlments des minerais.
Prospection et exploration
Extraction : dtermination de la concentration des mtaux dans les carottes de
forage, les chantillons de minerais, ou directement sur la surface du roc.
Procds industriels : contrle de la concentration des mtaux dans le procd de
raffinage (Contrle des alliages : vrification de la nuance des alliages dans la
tuyauterie et les machineries du procd)
Dtermination du contenu mtallique des scories.

Prospection et exploration
Pour le tri ou la prospection, il suffit de trouver des rgions de concentration accrue :
lanalyse sur place donne les donnes ncessaires au tri,
- lutilisation de facteurs de correction nest pas ncessaire, mais peut amliorer la
prcision.

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Pour des analyses prcises, la prparation dchantillon sur place peut augmenter la
qualit des donnes
On ne peut utiliser la fluorescence X pour la prospection de lor, de largent ou de
mtaux prcieux faible concentration; les limites de dtection sont de lordre de
~75 150 ppm dans les matrices de sol ou de roc.

Utilisations en extraction minire


Carotte de forage
Contrle de la teneur du minerai mines ciel ouvert
Dblai de trou de mine

Considrations relatives aux chantillons de minerais


Les chantillons doivent tre reprsentatifs des substances analyses
- les chantillons mesurs in situ doivent provenir de plusieurs endroits et peuvent
tre mesurs rapidement (10 20 s).
- les mesures dchantillons de roches intrusives placs dans des sacs de
plastique doivent provenir de plusieurs endroits (mesures rapides)
- on pourra mesurer pendant une longue priode (quelques centaines de
secondes) les chantillons homognes reprsentatifs finement moulus (~20 m si
possible) dans des tasses rayons X
La prcision et lexactitude dpendent de la prparation de lchantillon et de sa
prsentation la fentre de lanalyseur.
Il est possible dobtenir des donnes comparables celles des laboratoires, on
devra souvent scher lchantillon et le rduire en poudre de moins de 150 m.

Minerai Rduction des erreurs


chantillon non reprsentatif
Erreurs de distribution spatiale (erreurs gostatistiques)
Manque duniformit
Particules de taille variable
Variations grossires de masse volumique
Porosit (notamment les roches)
Variations importantes de lhumidit
Erreurs danalyse des chantillons de contrle
Quantit insuffisante de spcimens
- Remplissez si possible les coupes au maximum,
- Assurez-vous que les chantillons dans les sacs de plastique ont une paisseur
dau moins 40 mm

Il est parfois ncessaire dutiliser des facteurs de correction empiriques dans lanalyse
des minerais.
La matrice des chantillons gologiques peut varier beaucoup. Les chantillons
peuvent contenir des oxydes, des carbonates, des sulfures, etc.
Certains procds industriels peuvent introduire de grandes quantits deau ou
dlments lgers.

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Les scories et les dchets peuvent contenir du carbone, du phosphore, du soufre,
etc., et des lments mtalliques.
La concentration des lments lgers peut modifier lmission de rayons X par les
lments cibles (effets de matrice lgre).

Exemple : Effets de matrice lgre : sur la mesure du cuivre (Cu)

Concentration relle Matrice 24,96 Rapport


Cellulose 26,38 1,06
Lecture lanalyseur SiO2 23,36 0,94
FRX CaCO3 20,32 0,81

Cest le type de matrice, plutt que les concentrations, qui affecte les facteurs de
calibration.
Les facteurs de calibration sont valides pour une vaste gamme de concentrations.
Par exemple, dans des chantillons contenant du zinc et de loxygne, la
concentration de zinc varie de 2 60 %, aIors que celle de loxygne varie de 40
98 %. Pourtant on utilise le mme facteur dtalonnage. Toutefois, si les chantillons
taient composs de zinc et daluminium, on utiliserait probablement un facteur
dtalonnage diffrent.

Facteurs dtalonnage
Consultez la documentation du fabricant
On peut rgler les facteurs dtalonnage pour un seul lment ou une srie
dlments.
Changer les facteurs dtalonnage dun lment naffecte pas la mesure dautres
lments.
On peut mmoriser simultanment plusieurs facteurs de calibration.
En fonction du nombre dchantillons dtalonnage utiliss seulement 10 15
minutes sont ncessaires pour toute la procdure.
Si le type dchantillon ne change pas, on pourra suivre cette procdure une fois. (Il
faut rpter priodiquement les talonnages empiriques.)

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7.4 Comment obtenir des donnes de qualit

En adoptant une ou plusieurs des stratgies suivantes, loprateur devrait obtenir des
donnes de qualit laide de lanalyseur fluorescence X.

Systmes de mesure bass sur la performance


Voici une mthode de planification systmatique qui exige de loprateur quil fixe des
objectifs et des normes de qualit des donnes, en rpondant aux questions suivantes :
1. Quel est le but de cette analyse? (Pourquoi faisons-nous ce travail?)
2. Quelle sera lutilit des donnes? (Quelles dcisions ces donnes permettront-elles
de prendre?)
3. Quelle qualit ces donnes devront-elles avoir pour prendre la dcision?

Plan danalyse de lchantillonnage


Le plan danalyse dchantillon devrait permettre de rpondre aux questions suivantes :
1. Pourquoi ralisons-nous ce projet?
2. Quels en sont les impratifs rglementaires?
3. Quel sera lutilisation finale des donnes?
4. La dcision finale sera-t-elle fonde sur le risque ou la technologie?

Objectifs de qualit des donnes - Processus


1. noncer le problme
2. Identifier la dcision
3. Prciser les donnes ncessaires la dcision
4. Dfinir les limites de ltude
5. laborer une rgle de dcision
6. Fixer des limites aux erreurs de dcision
7. Optimiser le plan de collecte des donnes

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8. Interaction du rayonnement avec la matire

8.1 Ionisation

Lionisation est la dissociation dune molcule en une paire dions chargs positivement
et ngativement ou dun atome en un ion positif et des lectrons. Ce mot dsigne
galement la perte dun ou de plusieurs lectrons dun atome neutre. Les rayons X et
gamma sont des rayonnements ionisants, puisquils peuvent ioniser la matire.

Les rayonnements ionisants sont sources de proccupations relatives la scurit,


tant donn quils peuvent modifier la structure chimique des cellules vivantes. Ces
modifications peuvent transformer une cellule ou nuire son fonctionnement normal.

8.2 Interaction du rayonnement avec la matire


La fluorescence X
Mo Cr Un analyseur FRX bombarde les atomes
Fe dun chantillon mtallique avec des rayons
Ni
Rayonnement X X, ce qui cre des gerbes dlectrons libres,
primaire un rayonnement de bremmstrahlung et des
rayons X caractristiques.

Rayons X Les rayons X et gamma communiquent de


diffuss
Rayons X lnergie aux atomes via trois phnomnes
diffuss
principaux :
Zone labsorption photolectrique entre 50 eV
danalyse
et 0,1 MeV (basse nergie),
la diffusion Compton entre 1 keV et
CHANTILLON MTALLIQUE 1 MeV (nergie moyenne),
la production de paires au-del de
1,2 MeV) ( haute nergie) [sans objet
pour la fluorescence X].

Absorption photolectrique
Il sagit de labsorption complte dun photon X, faible nergie. Une partie de lnergie
sert jecter un lectron de sa couche (entre 30 et 50 eV), le reste est transform en
nergie cintique de llectron. En se dplaant, llectron disperse son nergie en
causant dautres ionisations.

Diffusion de Compton
nergie leve, un photon X incident ne perd quune partie de son nergie en
ionisation et en transfrant de lnergie cintique. Un rayon X de moindre nergie est
diffus dans une direction diffrente du trajet initial.

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Un seul rayon X de haute nergie peut dclencher une avalanche dlectrons libres et
de rayons X. Par exemple, la direction ou la vitesse de llectron ject peuvent
changer alors quil passe prs dun atome, ce qui cre des rayons X de freinage
(bremsstrahlung). Les lectrons jects, les rayons X de la diffusion de Campton et les
rayons X de bremsstrahlung peuvent jecter dautres lectrons des couches internes
datomes, ce qui provoque lmission de rayons X caractristiques, cause par la chute
des lectrons externes qui tentent de boucher les trous laisss par les lectrons
jects. Ces divers phnomnes se rptent des niveaux dnergie dcroissants,
jusqu ce que les lectrons ou le rayonnement mis naient plus suffisamment
dnergie pour causer dautres ionisations.

8.3 Units dexposition au rayonnement : le coulomb/kg et le rntgen

La mesure de lintensit du rayonnement X est base sur sa capacit dioniser lair. On


la mesure comme la charge lectrique (coulomb) dpose par kilogramme dair.

Le rntgen : Unit de mesure des rayons X ou gamma dont lnergie est infrieure
3 MeV.
Un rntgen = 2,58 x 10-4 coulomb par kilogramme dair.

8.4 Attnuation du rayonnement lectromagntique

En traversant la matire, le rayonnement perd de son intensit. Plus lnergie (mesure


en keV) dun rayon X ou gamma est leve, plus il pntrera profondment dans une
substance. Plus leve est la densit, plus courte sera la pntration.
Lorsquil utilisera lanalyseur FRX, loprateur devra se souvenir que le
rayonnement X de faible nergie (< 40 keV) peut nanmoins pntrer et
traverser les chantillons minces.

Loi de linverse du carr de la distance


Lintensit du rayonnement diminue en fonction de la distance de sa source. Dans le
cas dune source ponctuelle, lintensit dcrot en fonction inverse du carr de la
distance.
Doubler la distance rduit donc du quart lintensit originale.
Tripler la distance rduit du neuvime lintensit originale.

1 pied 1 pied 1 pied


Dbit de du dbit 1/9 du dbit
dose
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original original
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Calcul type :
Soit un analyseur FRX dont lintensit une distance de 1 mtre est
de 24 mR/h, quelle sera donc lintensit 2 mtres? Rp.: 6 mR/h

La loi de linverse des carrs ne sapplique pas bien, faible distance, aux sources
tendues ou plusieurs sources, ou des sources de faible nergie enfermes dans
une pice dans laquelle le rayonnement de faible nergie peut se diffuser sur les
murs. Dans ces cas, lintensit ne diminue pas aussi rapidement avec la distance de la
source, comme pourrait le faire penser la loi de linverse du carr de distance.

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9. Effets biologiques du rayonnement

9.1 Units de la dose absorbe : le gray et le rad (toute substance)

Dose : Quantit dnergie provenant de lexposition un rayonnement ionisant


absorbe par unit de masse.

Rad : Unit de la dose dun rayonnement absorb (pour toute substance)


1 rad = 100 ergs dnergie absorbe par gramme de substance.

Gray : Unit du Systme international mesurant la dose absorbe dun rayonnement.


1 gray = 10 000 ergs dnergie absorbe par gramme de substance.
1 gray (Gy) = 100 rads ou 1 rad = 10 milligrays

Dbit de dose : Vitesse laquelle lnergie est absorbe par masse unitaire de
substance expose un rayonnement ionisant (p. ex. gray/h ou rad/h).

9.2 Units de dose quivalente : le sievert et le rem


(effets biologiques)

La dose quivalente permet de rattacher la dose de rayonnement (en rads), aux


dommages biologiques subis par les humains. Les lsions subies dpendent du type du
rayonnement auquel on a t expos.

Dose quivalente : Produit de la multiplication de la dose par le facteur de qualit du


rayonnement.

On appelle facteur de qualit la capacit dun rayonnement causer un dommage de


nature biologique.
Rayonnement Facteur de qualit
Rayons X, gamma et bta 1
Neutrons (rapides) 10
Rayons alpha 20

Lunit de mesure de lquivalent de dose est le rem (pour Rntgen Equivalent Man).
Cette unit de dose quivalente est gale la dose en rads fois le facteur de qualit :
rem = rad x facteur de qualit. Pour les rayons X, 1 rem ~ 1 rad, pour les tissus mous.
En 1990, la Commission internationale de protection radiologique (CIPR) a propos de
remplacer lexpression quivalent de dose par dose quivalente .
Dose quivalente : Le produit de la dose multipli par un facteur de qualit exprim en
sieverts.
1 sievert (Sv) = 100 rems

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Rsum : On appelle dose labsorption par toute substance dun rayonnement,


tandis que les expressions quivalent de dose ou dose quivalente ne sappliquent
quaux tissus humains. Toutefois, dans le travail avec des rayons X et gamma, dont le
facteur de qualit est gal 1, on utilise couramment en milieu de travail lexpression
dose , pour dsigner la quantit de rayonnement absorb par une personne en
millisieverts ou en millirems.
p. ex. Quelle dose as-tu reue? Jai absorb 3 millirems.

Conversion : Les units du systme international sont habituellement cent fois


plus grosses que les units amricaines.

Dose : 1 gray (Gy) = 100 rads ou 1 rad = 10 milligrays


quivalent de dose : 1 sievert (Sv) = 100 rems ou 1 rem = 10 millisieverts

Facteurs de dommages biologiques

Les facteurs de dommages biologiques dterminent la quantit de dommages reus par


des tissus vivants lors de lexposition au rayonnement. Ils incluent :
La dose totale : plus leve est la dose, plus graves seront les effets biologiques.
Le dbit de dose : si une dose est absorbe dans un court intervalle, la cellule
disposera de moins de temps pour se rparer.
Le type de rayonnement : plus grande est la quantit dnergie dpose, plus
importants seront les effets.
La zone expose : plus tendue est la surface corporelle expose, plus graves
seront les effets biologiques.
La sensibilit des cellules : les cellules les plus vulnrables sont celles qui se
divisent rapidement.
La sensibilit individuelle au rayonnement ionisant :
a) les embryons et les ftus sont les plus sensibles,
b) les enfants constituent le deuxime groupe le plus vulnrable,
c) les personnes ges sont plus sensibles que les adultes dge moyen,
d) la tranche des adultes allant des jeunes aux adultes dge moyen sont les moins
sensibles.

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9.3 Norme de 1990 de la CIPR relative aux limites de dose

CIPR : Commission internationale de protection radiologique


Limites maximales de dose admissible au Canada (selon la CIPR, 1990)

Limites de dose annuelle pour le grand public :


Dose au corps entier : 100 mrems, 1 mSv
quivalent de dose superficielle pour la peau, les extrmits ou les organes 5 rems, 50 mSv
quivalent de dose pour lil 1,5 rems, 15 mSv

Limites de dose professionnelle annuelle pour les adultes et les travailleurs sous rayonnement :
Dose au corps entier : 2 rems, 20 mSv
quivalent de dose superficielle pour la peau, les extrmits ou les organes 50 rems, 500 mSv
quivalent de dose pour lil 15 rems, 150 mSv
Pour une travailleuse enceinte (pendant la gestation) 200 mrems, 2 mSv

Ces limites de dose nincluent ni lexposition des fins mdicales ou le rayonnement naturel.

En gnral, pour une mme dose, plus le corps est expos, plus les effets biologiques
seront importants. Les extrmits sont moins sensibles que les organes internes. Cest
pourquoi la limite de dose annuelle aux extrmits (50 rems ou 500 mSv) est 25 fois
suprieure celle pour le corps entier (2 rems ou 20 mSv).

9.4 Rayonnement naturel

Les humains habitent depuis toujours un monde radioactif. Leur milieu les expose
continuellement des sources de rayonnement, naturelles ou artificielles. En moyenne
un nord-amricain reoit 365 millirems (mrems) de rayonnement par anne.

La source la plus importante est le rayonnement naturel (environ 300 mrems/an).


Les quatre sources principales de rayonnement naturel sont :

le rayonnement cosmique (mis par le Soleil et lUnivers)


30 mrems/an
le rayonnement tellurique (mis par le sol, les pierres,
luranium et le thorium) 30 mrems/an
les sources internes (leau, les aliments; p. ex.
le 40K dans les bananes) 40 mrems/an
le radon gazeux dans les maisons 200 mrems/an

Le reste de lexposition au rayonnement (65 mrems/an) provient des rayons X ou


gamma mis par les sources artificielles.

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Les quatre principales sources artificielles de rayonnement sont :
lirradiation mdicale (diagnostics dentaires et mdicaux,
tomographie et radiothrapie) 53 mrems/an
les essais nuclaires dans latmosphre (retombes radioactives)
1 mrem/an
les produits grand public (tlviseurs, maisons, combustibles,
dtecteurs de fume) 10 mrems/an
les utilisations industrielles (rayons X) 1 mrem/an

9.5 Radiosensibilit des organes radiolsions et rtablissement

Sensibilit des cellules


Le corps humain comporte plus de 50 milliards de cellules vivantes. Des groupes de
ces cellules forment des tissus qui, leur tour, constituent les organes du corps.
Certaines des cellules rsistent plus que dautres aux radiolsions. Les plus sensibles
sont celles qui se divisent rapidement, cest pourquoi il convient de contrler avec soin
lexposition des ftus. La gravit des radiolsions et leur rparation dpendent de la
rsistance des cellules affectes et du degr dexposition.

9.6 Symptmes du mal des rayons


rduction du compte de cellules blanches sanguines
perte des cheveux
nauses
accroissement de la temprature corporelle
fatigue
vomissements
perte de la partie du corps irradie
la mort

9.7 Irradiation aigu et dommages corporels

Doses aigus et chroniques de rayonnement

Dose aigu
Une dose de rayonnement est aigu sil sagit dune dose importante reue pendant une
courte priode de temps et provoquant des ractions physiques rsultant de dommages
importants aux cellules (effets aigus). Puisque le corps ne peut remplacer ou rparer les
cellules assez rapidement pour remdier rapidement aux dommages, la personne
affecte pourrait tre malade trs longtemps. Les doses aigus de rayonnement
peuvent provoquer une baisse du compte des cellules sanguines et la perte des

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cheveux. Des doses enregistres sur tout le corps de 10 25 rems nont provoqu que
de lgers changements dans les cellules sanguines et aucun autre effet apparent.

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Mal des rayons


Le mal des rayons apparat la suite de doses aigus suprieures 100 rems. Il est
souvent un effet secondaire ressenti par les patients en radiothrapie, dont une partie
du corps est soumise des expositions leves. Le mal des rayons peut provoquer des
nauses, causes par lendommagement des cellules de la paroi interne des intestins,
et dautres symptmes comme la fatigue, les vomissements, laugmentation de la
temprature du corps et la rduction du compte de cellules blanches du sang.

Dose aigu lensemble du corps


Plusieurs mois peuvent tre ncessaires pour se remettre dune dose aigu sur
lensemble du corps. Les dommages rsultants dune exposition de 500 rems ou plus
lensemble du corps pourraient tre trop graves pour que la personne rcupre.
Dose ltale moyenne (DLM) = 500 rems

Dose aigu une partie du corps


Cest le type de dose aigu le plus courant dans les applications industrielles (utilisation
de machines rayons X), souvent aux extrmits (la main, les doigts, etc.).
Labsorption de plusieurs doses de rayonnement pourrait se traduire par la perte du
membre expos. La prvention des doses aigus une partie du corps est lune des
motivations les plus importantes pour bien former le personnel.

Dose chronique
On appelle dose chronique, labsorption continuelle de petites quantits de
rayonnement pendant une longue priode de temps, par exemple la dose de
rayonnement que nous recevons quotidiennement des sources naturelles.

Dose chronique et dose aigu


Dose chronique : rayonnement peu intense reu pendant une longue priode
Dose aigu : dose intense de rayonnement reue dans une courte priode.

Le corps tolre les doses chroniques mieux que les doses aigus, pour les raisons
suivantes :
Un nombre limit de cellules doivent tre rpares pendant une priode donne.
Le corps dispose de plus de temps pour remplacer les cellules mortes ou non
fonctionnelles par de nouvelles.
Les doses chroniques ne provoquent pas les changements physiques radicaux
observs avec les doses aigus.

Effets gntiques
Les effets gntiques proviennent des changements dans les chromosomes ou de
lexposition directe du ftus au rayonnement. Les effets peuvent tre somatiques
(cancer, tumeurs, etc.) ou hrditaires (transmis aux descendants).

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Effets somatiques
La personne expose directement souffre des effets somatiques. Les changements
gntiques provenant de lendommagement des cellules peuvent, la longue,
transformer celles-ci en cellules cancreuses. On devrait noter que cette ventualit
est trs faible pour des doses professionnelles.

Effets gntiques
Les descendants de la personne expose souffrent de ces effets.
Lendommagement du matriel gntique naffecte pas la personne ayant subi
lirradiation, mais il est pass aux descendants. ce jour, seuls les plantes et les
animaux ont dmontr des preuves deffets gntiques produits par le rayonnement.

9.8 Contrle de lexposition du personnel au rayonnement

Puisque lon ne peut dtecter le rayonnement avec nos sens, il faut utiliser des
dispositifs spciaux pour dtecter et enregistrer lexposition. La loi impose aux
travailleurs sous rayonnement, ainsi quau personnel utilisant des appareils rayons X
(les oprateurs danalyseurs FRX) le port de ces dispositifs de contrle et
denregistrement. On appelle habituellement ces appareils dosimtres et leur utilisation
pour le contrle est la dosimtrie.

9.9 Le concept dALARA (As Low As Reasonably Achievable)

Dune part, les limites de dose et les niveaux de contrle administratifs tentent de
garantir une trs faible exposition au rayonnement, dautre part, le but du programme
ALARA est de rduire les doses reues de rayonnement ionisant au niveau le plus bas
que lon peut raisonnablement atteindre, (as low as reasonably achievable : ALARA).

Le programme ALARA est conu pour viter les expositions inutiles des employs et du
public au rayonnement, et pour protger lenvironnement. Tous les travailleurs,
gestionnaires et personnel de sret doivent sassurer que les doses de rayonnement
sont les plus basses que lon puisse raisonnablement atteindre.

Trois pratiques fondamentales permettent de maintenir


lexposition au rayonnement externe au plus bas que lon
peut raisonnablement atteindre (ALARA) :
Le temps
La distance
Le blindage

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Le temps
En rduisant le temps dexposition au rayonnement ionisant, on diminue la dose
absorbe. Rduisez la dose en limitant le temps pass dans une zone radioactive. On
peut crire leffet du temps sur le rayonnement reu comme : dose = dbit de dose x
temps

Exemple : Si une exposition dune heure se traduit par une dose


de 20 mrems, une exposition dune demi-heure se traduira par
une dose de 10 mrems seulement.

Distance
Plus grande sera la distance depuis une source de rayonnement, moins intense sera la
dose que lon recevra. Rduisez la dose en vous loignant le plus possible de la source
de rayonnement. La loi de linverse du carr de la distance, permet de comprendre
leffet de la distance.

Dans les cas les plus simples, on peut effectuer un calcul approximatif rapide si lon se
souvient que :
a) doubler la distance depuis la source rduit la dose et le dbit de dose de 1/4
b) tripler cette distance rduit la dose et le dbit de dose de 1/9

Exemple de calcul :
Si le dbit de dose dune source place 3 mtres est de 2 mrems/h,
quel serait le dbit de dose 1 mtre?
Rponse : 9 x 2 mrems = 18 mrems/h

Le blindage
On peut rduire la dose absorbe en plaant des matriaux entre la personne expose
et la source du rayonnement ionisant. Vous pourrez rduire la dose en disposant des
matriaux de blindage denses autour dune source de rayonnement. On considre que
le blindage est la mthode la plus efficace de rduction de lexposition au rayonnement.

La capacit de blindage dun matriau est proportionnelle sa masse volumique, elle


dpend galement de lnergie du rayonnement ionisant.

Quel est le meilleur matriau de blindage : le plomb? lacier?


laluminium ?
Rponse : le plomb, parce que sa masse volumique est la
plus leve.

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10. Dtection du rayonnement

10.1 Les instruments de dtection et de mesure du rayonnement

On utilise plusieurs instruments pour dtecter et mesurer les doses et les dbits de
dose. On se rappellera que la dose est une mesure de lnergie dpose par unit de
masse par le rayonnement ionisant. Le principe fondamental du fonctionnement de ces
appareils est lionisation.

Il existe plusieurs instruments :


les chambres dionisation (radiamtres)
les tubes de Geiger-Mueller
les dosimtres de poche
les dosifilms (pellicule photographique)
les dtecteurs thermoluminescents (DTL)
les dosimtres luminescence stimule optiquement (DLSO)

Chambres dionisation
Les chambres dionisation sont les dtecteurs de rayonnement les plus simples. Elles
sont formes dune enceinte cylindrique scelle contenant de lair et dun fil isol la
traversant au centre, dun bout lautre. On applique une tension lectrique entre le fil
et la paroi externe de lenceinte. En traversant cette chambre, le rayonnement cre des
paires dions qui modifient la charge lectrique du fil. Cette charge est la base de la
mesure de lexposition au rayonnement. Lefficacit de cet appareil nest que de 30
40 %, puisquun rayon peut le traverser sans crer suffisamment de paires dions pour
produire une mesure correcte. La plupart des radiamtres utilisent des chambres
dionisation.

Tubes de Geiger-Mueller
Les tubes de Geiger-Mueller ressemblent beaucoup aux chambres dionisation, mais
sont beaucoup plus sensibles. La tension de sa charge lectrostatique est si leve que
mme un tout petit nombre de paires dions causera une dcharge. Ainsi, un tube de
Geiger-Mueller peut dtecter et mesurer de trs faibles quantits de rayonnement bta
ou gamma. Toutefois, ces tubes ont tendance se saturer dans des champs de
rayonnement trs intenses.

Dosimtres de poche
Les dosimtres de poche sont des versions miniatures et spcialises des chambres
dionisation. Ce sont essentiellement de petits lectroscopes fibre de quartz. La
chambre reoit une charge dlectricit statique quelle accumule comme un
condensateur. Le nombre de paires dions cres dans la chambre par le passage du
rayonnement dpend de lintensit de celui-ci, la rduction de la charge lectrique
correspondante se traduit par le mouvement de lindicateur en fibre de quartz devant

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une chelle. Loprateur doit charger son dosimtre de poche et le remettre zro
laide dun poste de charge.

Dosifilms [Rarement utiliss de nos jours]


Les dosimtres photographiques sont constitus dun botier tanche la lumire
contenant un dosifilm. Celui-ci se noircit proportionnellement la quantit de
rayonnement reu, la dose. Un service de dosimtrie dtermine le noircissement de la
pellicule photographique.

Dtecteur thermoluminescent et dtecteur luminescence stimule optiquement


Ces deux types de dtecteur sont de petits appareils ressemblant aux botiers de
dosifilm et qui contiennent des matriaux cristallins qui peuvent conserver les lectrons
librs par le passage dun rayonnement ionisant. Ces lectrons sont emprisonns
dans les cristaux jusquau moment de leur dtection par un lecteur spcial (ou
processeur) utilisant de la chaleur (TLD) ou de la lumire (DLSO). la lecture, les
lectrons sont librs et le cristal devient lumineux. On peut mesurer lintensit de cette
lueur qui est directement proportionnelle la quantit de rayonnement reu (la dose).

Votre agent de radioprotection doit dterminer lappareil de dosimtrie que vous devrez
porter tel que spcifi par les organismes rglementaires, et en faire lacquisition.

10.2 Contrle des rayonnements reus par le personnel

Contrle du rayonnement reu par tout le corps


Lon utilise un DTL ou un DOLS pour mesurer les doses dun rayonnement pntrant
profondment ou superficiel, absorb par tout le corps. Il est normalement port entre le
cou et la ceinture. La dose mesure par cet appareil est utilise pour dterminer
lexposition professionnelle lgale reue par une personne. Au Canada, le port dun
dosimtre pour tout le corps nest pas obligatoire pour les oprateurs danalyseurs
fluorescence X.

Contrle du rayonnement reu par les extrmits (bague dosimtre)


Les bagues dosimtres sont des DTL en forme de bague, qui sont portes par des
travailleurs afin de mesurer lexposition de leurs extrmits au rayonnement. La dose
mesure par ces appareils constitue la mesure de lexposition des extrmits la dose
lgale professionnelle des travailleurs. Lorsquil utilise un analyseur FRX, loprateur
porte une bague dosimtre sur la main dont il se sert pour le faire fonctionner.

Au Canada, repos sur les donnes historiques recueillies au sujet des


personnes qui portent des dosimtres depuis juillet 2004, Sant Canada noblige
pas les oprateurs danalyseurs fluorescence X de porter une bague dosimtre.
Cependant, les rgles dopration sont diffrentes parmi les provinces et les
territoires; donc les propritaires et les oprateurs danalyseurs doivent
contacter le juridique provincial ou territoire afin de dterminer les rgles
spcifiques en ce qui concerne les exigences de porter une bague dosimtre.

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Les dosimtres personnels : modle de poche et lectronique


On utilise souvent une chambre dionisation de poche pour enregistrer la dose
quotidienne, lorsque lon travaille dans des zones de radioactivit intense ou pour
effectuer une activit particulire pendant laquelle une personne prvoit recevoir une
dose. Les dosimtres lectroniques alarme font retentir un signal sonore si le dbit de
dose ou la dose accumule dpassent les valeurs fixes par loprateur. Ainsi,
loprateur comprend quil est temps pour lui de quitter la zone. Au Canada, le port dun
dosimtre personnel nest pas obligatoire pour les oprateurs danalyseurs FRX.

10.3 Radiamtres

On utilise habituellement les radiamtres pour contrler une zone o lon trouve un
rayonnement ionisant.

Le radiamtre utilis avec un analyseur FRX doit tre sensible des photons dont
lnergie est tellement basse environ 5 keV.

Les oprateurs danalyseurs FRX utiliseront les radiamtres pour :


Dtecter la prsence dun rayonnement diffus proximit des mains de loprateur.
Dtecter la prsence de rayons X schappant autour de petits chantillons ou
passant travers des chantillons minces.
tablir si le rayonnement traverse le dessus dune table et, ainsi, irradie les jambes
de loprateur, ou traverse des cloisons ou des murs pour pntrer dans des zones
occupes.
Confirmer aux membres du public proches de la zone danalyse par fluorescence X,
que le niveau de rayonnement nest pas anormal.
Dterminer la prsence dun rayonnement lorsquun analyseur FRX a t
endommag.

Au Canada, un oprateur danalyseur fluorescence X doit disposer dun


radiamtre sur les lieux de son travail.

Au Canada, lon doit talonner un radiamtre tous les ans.

10.4 Rapport dobservation avec le radiamtre

Au Canada, lagent de radioprotection est responsable de tenir des documents


relatifs au profil de diffusion du rayonnement de tous les analyseurs FRX dont il
est responsable.

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Rsultats types du contrle dun analyseur FRX laide dun radiamtre (mR/h)
Analyseur chantillon En En En contact En 1 mtre
prsent contact contact avec le contact du
avec les avec le dclencheur avec le faisceau
cts sommet faisceau
1 Oui 10 10 - 5
Non 5 5 - 450 20
2 Oui 0,1 0,1 0,1
Non 0,1 0,1 0,1 28 000 24
3 Non 0,1 0,3 0,12 2 000 3

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11. Pratiques scuritaires du travail en FRX

11.1 Caractristiques de lanalyseur FRX

Les dbits de dose les plus levs sont observs la sortie du faisceau de lanalyseur
FRX. On doit viter dexposer les mains ou dautres parties du corps la trajectoire du
faisceau. Loprateur doit connatre les caractristiques de sret et les procdures de
fonctionnement recommandes par le fabricant de lanalyseur FRX quil utilisera.

Conu pour viter que loprateur soit expos au rayonnement, lanalyseur FRX peut
comporter les lments suivants :
- blindage interne
- collimateur de faisceau
- obturateur sur louverture
- commutateur verrou de lalimentation primaire
- commutateur dinterruption dalimentation
- capteur dapproche (dtecte lchantillon)
- tmoin lumineux : marche, rayons X mis, chantillon prsent
- commutateur de protection (sactive sur pression de lanalyseur contre lchantillon)
- verrou dalarme (oprateur) commutateur de scurit qui doit tre tir pour gnrer
des rayons X

11.2 tiquettes FRX

Des tiquettes de mise en garde doivent tre


appliques sur lanalyseur FRX, notamment :

a) une tiquette portant le symbole de mise en


garde contre les rayons X.

b) des tiquettes portant la mention suivante :

CAUTION X-RADIATION This equipment produces


High Intensity X-radiation when Energized.
To be operated only by Qualified Personnel

ATTENTION RAYONNEMENTS X Cet appareil produit des


rayonnements X haute intensit lorsquil est sous tension.
Son utilisation est rserve au personnel comptent

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c) une tiquette indiquant les renseignements suivants :
(i) les nom et adresse du fabricant,
(ii) la dsignation du modle,
(iii) le numro de srie,
(iv) la date de fabrication,
(v) le pays de fabrication.

11.3 Dtermination des zones accs restreint affichage et


surveillance dans ces zones

Le rayonnement diffus est produit lorsquun matriau absorbant est irradi. Le


rayonnement diffus constitue davantage un problme pour les nergies faibles
(<100 keV), telles que celles quutilisent les analyseurs FRX. Les analyseurs FRX
fonctionnent en crant dans lchantillon un rayonnement de rtrodiffusion. Bien que
conu pour limiter le rayonnement de rtrodiffusion vers le dtecteur de lanalyseur
FRX, certains rayons X diffusent au-del du dtecteur.

Pour assurer le fonctionnement sr du systme, il est crucial que loprateur FRX


comprenne le profil de rayonnement de lanalyseur FRX particulier quil utilise.

Au Canada, les oprateurs danalyseurs fluorescence X doivent :


toujours avoir sur eux leur petite carte de certification (format pour
portefeuille) lorsquils oeuvrent aux tous lieux de travail et tre prts la
montrer sur demande.
interdire tout personnel non autoris dentre dans lespace immdiate
(environ 1 mtre) autour deux pendant quils effectuent des mesures au
moyen de la fluorescence X.
utilisent un radiamtre bien talonn aux lieux de travail et tre prts la
montrer aux clientes quel sont les niveaux de radiation dans le site locale
o il fait les mesures FRX.

Note : Les exigences assouplies mentionnes ci-dessus remplacent celles qui taient
stipules dans la version de juin 2004 du Livret. Auparavant, les oprateurs
danalyseurs fluorescence X devaient protger les personnes dans lespace
immdiate des analyseurs en tablissant une zone accs restreint dun rayon de 1,5
mtre (5 pieds) autour de lanalyseur. Il fallait aussi afficher des panneaux de mise en
garde contre le rayonnement dans cette zone accs restreint.

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11.4 Temps, distance et blindage permettant de rduire lexposition
au rayonnement

Lorsque cela est possible, le faisceau de rayonnement utile ne doit pas tre dirig vers
des espaces occups. Loprateur FRX doit accomplir ses tches dans le respect du
principe ALARA (temps, distance et blindage) :
- rduire au minimum le temps dexposition des personnes;
- maximiser la distance entre les personnes et la source de rayonnement;
- blinder les personnes contre le rayonnement.

Comment assurer la radioprotection lors de lutilisation des analyseurs FRX

Ne permettre aucune personne autre quun oprateur certifi de faire


fonctionner lanalyseur.
Bien surveiller lorientation du faisceau de rayons X.
viter de se placer ou de placer une partie du corps (particulirement les yeux ou
les mains) prs de lorifice de sortie des rayons X lors de lajustement des
rayons X durant le fonctionnement.
Ne permettre personne de sapprocher de plus de 1,5 mtre de lappareil
durant le fonctionnement de lanalyseur.
Ne jamais tenir lchantillon avec la main devant lappareil; approcher plutt
lappareil de lchantillon.
Ne jamais neutraliser les dispositifs de sret intgrs aux analyseurs, comme
les capteurs, les commutateurs, etc.
Porter les appareils de dosimtrie appropris tel que requis par les autorits
rglementaires
Durant le transport vers le terrain ou en provenance de celui-ci, entreposer
linstrument dans un endroit frais et sec.
Loprateur FRX a la responsabilit de la scurit de lanalyseur.
o Ne jamais laisser lanalyseur sans surveillance lorsquil fonctionne.
o Lorsque lappareil fonctionne, il doit tre en possession de loprateur en
tout temps (on doit le garder vue ou le laisser dans une zone scurise).
o On ne doit jamais laisser la cl dans un analyseur sans surveillance.
o Toujours ranger linstrument dans un endroit sr lorsquil nest pas utilis;
il est recommand de ranger la cl dans un autre endroit afin dviter toute
utilisation non autorise.

Petits chantillons
Les chantillons de petite taille qui ne couvrent pas entirement la fentre prsentent
des risques potentiels parce que le rayonnement primaire peut ne pas tre attnu par
lchantillon. Pour liminer ce risque, certains analyseurs FRX sont dots dun
couvercle de protection ou dun socle conu pour contenir entirement les chantillons
de petite taille.

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chantillons minces
Le rayonnement provenant du tube rayons X peut traverser des chantillons minces
sils sont constitus dlments dont le numro atomique est faible. Le tableau suivant
donne une indication des intensits relatives aprs quun rayonnement de 40 keV ait
travers des feuilles daluminium et de fer de diffrentes paisseurs.

Feuille daluminium Feuille de fer


paisseur Intensit relative (%) paisseur Intensit relative (%)
(mm) (mm)
0 100 0,0 100
1 46 0,1 23
2 26 0,2 9
4 11 0,4 2,1
10 1,5 1,0 0,08

Pour absorber 90 % du rayonnement (couche dattnuation au dixime), lpaisseur des


chantillons daluminium doit tre de 4 mm alors que lpaisseur des chantillons de fer
ne doit tre que de 0,2 mm.
En pratique, cela signifie quon ne doit pas mesurer des chantillons :
en les tenant avec la main;
en demeurant assis un bureau le rayonnement peut traverser le bureau et
atteindre les jambes.

11.5 Contrle des analyseurs FRX lorsquils ne sont pas utiliss

Lagent de radioprotection doit sassurer de garder en toute sret (sous verrou et sous
cl) les analyseurs FRX dont il a la responsabilit.
Lorsque lanalyseur nest pas utilis, il faut le garder dans son contenant
dexpdition et le ranger dans un vhicule verrouill ou dans une zone scurise.
Ne pas ranger la cl avec lanalyseur.
Tenir jour des registres afin dassurer le suivi de tous les analyseurs FRX et
inscrire le nom des oprateurs qui les utilisent et leur lieu dutilisation.

Situations durgence

Perte ou vol : Informez-en les autorits rglementaires (Sant Canada et la


juridiction provinciale ou territoriale approprie) ds que possible. En outre,
communiquez avec le service de police et le fabricant.

Accident
La premire tape consiste teindre lanalyseur et :
enlever les piles;
fermer les autres sources dalimentation (p. ex. dbrancher
lalimentation).

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Dommages mineurs : si des pices semblent avoir t endommages, mme si


lanalyseur demeure fonctionnel, communiquer immdiatement avec lagent de
radioprotection pour lui demander conseil. Lagent de radioprotection doit
communiquer avec le fabricant pour obtenir de laide le plus tt possible.

Dommages importants : Si lanalyseur a t gravement endommag,


communiquer immdiatement avec le fabricant et les autorits rglementaires
(Sant Canada et la juridiction provinciale ou territoriale approprie).

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12. Exigences rglementaires canadiennes applicables

12.1 LDER : Loi sur les dispositifs mettant des radiations de 1985

La LDER (Loi sur les dispositifs mettant des radiations) rgit la vente et limportation
de certains dispositifs mettant des radiations.

Article 2. Dfinitions importantes

Ministre : Le ministre de la Sant. Les administrateurs de Sant Canada (LDER).

Dispositif mettant des radiations :


a) dispositif susceptible de produire et d'mettre des radiations;

b) lment ou accessoire d'un tel dispositif.

Article 4. Interdictions

Il est interdit de vendre, de louer ou d'importer un dispositif mettant des radiations qui,
selon le cas :

a) n'est pas conforme aux normes de conception, de construction et de fonctionnement


de toute catgorie prescrite de dispositifs mettant des radiations pour protger les
individus contre tout risque de trouble gntique, de blessure corporelle, de
dtrioration de la sant ou de mort li l'mission de radiations;

b) prsente un risque de trouble gntique, de blessure corporelle, de dtrioration de


la sant ou de mort li l'mission de radiations, et ce, parce que, contrairement aux
caractristiques et fonctions qu'on lui prte :
(i) soit son rendement est infrieur;
(ii) soit il ne remplit pas sa fonction;
(iii) soit il met des radiations inutiles.

Article 5. Fraude

En ce qui concerne lmission de rayonnement :


Il est interdit d'tiqueter, d'emballer ou de faire la publicit des dispositifs mettant des
radiations d'une manire fausse, trompeuse ou mensongre ou susceptible d'induire en
erreur quant leur conception, leur fabrication, leur rendement, l'usage auquel ils sont
destins, leur nature, leur valeur, leur composition, leurs avantages ou leur sret.

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Toute personne doit se conformer aux rglements concernant l'tiquetage, l'emballage


et la publicit de dispositifs mettant des radiations.

Article 7. Contrle dapplication

Le ministre peut dsigner toute personne qu'il estime qualifie pour remplir les fonctions
d'inspecteur dans le cadre de la prsente loi.

L'inspecteur peut, toute heure convenable, procder, sous rserve du paragraphe (2),
la visite des locaux (sauf sil sagit dune maison dhabitation) d'un fabricant,
distributeur ou importateur o se trouve, son avis, un dispositif mettant des
radiations ou la visite de tout autre lieu o se trouve, son avis, un dispositif mettant
des radiations appartenant un fabricant, un distributeur ou un importateur. Il peut en
outre :

a) examiner le dispositif et le saisir pour examen complmentaire;

b) ouvrir et examiner tout emballage qui contient, son avis, un dispositif mettant des
radiations et le saisir pour examen complmentaire;

c) procder l'examen et la reproduction totale ou partielle des documents ou pices


- notamment livres, rapports, rsultats d'essai ou d'analyse, dossiers, bordereaux
d'expdition et connaissements - trouvs sur les lieux et contenant, son avis, des
renseignements utiles l'application de la prsente loi.

La rtention des dispositifs saisis sous l'autorit des alinas a) ou b) prend fin
l'expiration d'un dlai de quatre-vingt-dix (90) jours compter de leur saisie sauf si,
auparavant, des poursuites ont t intentes aux termes de la prsente loi, auquel cas
les dispositifs peuvent tre retenus jusqu' l'issue dfinitive des poursuites.

Article 9. Entrave
Il est interdit d'entraver l'action de l'inspecteur dans l'exercice de ses fonctions ou de lui
faire en connaissance de cause, oralement ou par crit, une dclaration fausse ou
trompeuse.

Il est interdit, sans autorisation de l'inspecteur, de toucher, de quelque manire que ce


soit, un dispositif mettant des radiations retenu par celui-ci.

Article 10. Saisie

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L'inspecteur peut saisir tout dispositif mettant des radiations s'il a des motifs
raisonnables de croire qu'il a donn lieu une infraction la prsente loi.

Article 14. Infractions et peines


Quiconque contrevient, directement ou par l'entremise de son agent ou mandataire, aux
articles 4, 5 ou 6 commet une infraction et encourt, sur dclaration de culpabilit :
a) par procdure sommaire, une amende maximale de cinq mille dollars;
b) par mise en accusation, une amende maximale de dix mille dollars.

Quiconque contrevient, directement ou par l'entremise de son agent ou mandataire,


une autre disposition de la prsente loi que les articles 4, 5 ou 6 ou aux rglements
commet une infraction et encourt, sur dclaration de culpabilit :
a) par procdure sommaire, une amende maximale de mille dollars et un
emprisonnement maximal de six mois, ou l'une de ces peines;

b) par mise en accusation, une amende maximale de trois mille dollars et un


emprisonnement maximal d'un an, ou l'une de ces peines.

Article 16. Confiscation sur dclaration de culpabilit

Sur dclaration de culpabilit de l'auteur d'une infraction la prsente loi, le tribunal ou


le juge peut, en sus de toute peine impose pour l'infraction, prononcer la confiscation,
au profit de Sa Majest, du dispositif mettant des radiations ayant servi ou donn lieu
l'infraction.

12.2 Partie XIV de lannexe II du RDER et portant sur la conception de


lquipement
Rglement sur les dispositifs mettant des radiations (RDER, modifi en 1997)
Partie XIV Appareils danalyse rayonnement X

Interprtations

1. Dfinitions
dispositif de limitation du faisceau Dispositif qui limite les dimensions du faisceau de
rayonnement.

poste de commande Partie de l'appareil d'analyse rayonnement X comportant:

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a) une ou plusieurs commandes manuelles destines contrler la totalit ou une
partie des fonctions de l'appareil;
b) des compteurs, signaux lumineux ou autres indicateurs des paramtres et conditions
de fonctionnement de l'appareil.
verrouillage Mcanisme qui empche le dmarrage ou la continuation du
fonctionnement de l'appareil, sauf dans des conditions prdtermines.

barrire de protection radiologique cran qui limite la porte du faisceau de


rayonnement ou qui attnue le rayonnement parasite.
rayonnement parasite Tout rayonnement ionisant autre que celui du faisceau de
rayonnement vis. Y est assimile la partie du faisceau de rayonnement qui merge du
matriel soumis l'irradiation.

intgrateur de temps Dispositif qui :


a) intgre ou affiche les intervalles de temps couls pendant le fonctionnement de
l'appareil;

b) change l'tat de fonctionnement de l'appareil la fin d'une dure dtermine.

Normes de conception et de construction

2. L'appareil d'analyse rayonnement X doit tre conu et construit de manire que,


lorsqu'il est install, utilis et entretenu selon les instructions vises l'alina 3a), il
fonctionne conformment l'article 10.

3. L'appareil d'analyse rayonnement X doit tre accompagn :

a) d'instructions du fabricant concernant l'installation, l'interconnexion, la vrification,


l'utilisation et l'entretien de l'appareil et de ses accessoires et pices de rechange;
b) de renseignements du fabricant quant aux accessoires et pices de rechange
recommands.

4. L'appareil d'analyse rayonnement X doit porter, sur le poste de commande prs de


chaque commutateur qui commande le fonctionnement du tube radiogne, chacune des
tiquettes suivantes :
a) une tiquette portant le symbole de mise en garde contre les rayonnements X;
b) une tiquette portant la mention : ATTENTION -- RAYONNEMENTS X. Cet
appareil produit des rayonnements X haute intensit lorsqu'il est sous tension. Son
utilisation est rserve au personnel comptent.

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c) une tiquette indiquant les renseignements suivants :
(i) les nom et adresse du fabricant,
(ii) la dsignation du modle,
(iii) le numro de srie,
(iv) la date de fabrication,
(v) le pays de fabrication.

6. L'appareil d'analyse rayonnement X doit tre conu et construit de faon


comprendre :
a) un poste de commande qui contrle un ou plusieurs tubes radiognes et qui
comporte notamment :
(i) un commutateur dot davertisseurs lumineux indiquant si le poste de
commande est sous tension,
(iii) un avertisseur lumineux indiquant sil y a mission de rayons X,
(vi) un intgrateur de temps pour chaque tube radiogne, moins que
lintgrateur soit un lment dun accessoire.

8. Tout accessoire li la production, la collimation, la transmission ou la dtection de


rayonnements X doit porter, sur sa surface extrieure, une tiquette indiquant :
a) les nom et adresse du fabricant;
b) la dsignation du modle;
c) le numro de srie
d) la date de fabrication;
e) le pays de fabrication.

Normes de fonctionnement

10. Une fois assembl, l'appareil d'analyse rayonnement X doit fonctionner de


manire que, lorsque la haute tension radiogne et le courant dans le tube radiogne
sont rgls un degr donn, l'mission de rayonnements X ne soit pas suprieure
une exposition de 0,5 milliroentgen (kerma de l'air de 4,38 micrograys) l'heure une
distance de 5 cm :
a) des surfaces extrieures accessibles de toute gaine du tube radiogne, de tout
dispositif de limitation du faisceau, de toute barrire de protection radiologique ou de
tout accessoire.

12.3 Code de scurit 34 : Les appareils de radiologie industriels


radioprotection et scurit

Remarque :

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Les rfrences gnrales aux appareils de radiologie industriels doivent tre
considres comme incluant les analyseurs fluorescence X portatifs.
Les rfrences gnrales aux appareils de radiologie industriels sont
considres comme incluant lutilisation des analyseurs fluorescence X
portatifs.
Les rfrences aux radiographes industriels accrdits ne sont pas considres
comme incluant les oprateurs accrdits danalyseurs fluorescence X
portatifs.

Avant-propos

Le Code de scurit 34 est publi par Sant Canada, en vertu de la Directive sur les
substances hasardeuses du Conseil du Trsor, afin de promouvoir la
radioprotection et la scurit sur les lieux de travail du gouvernement fdral. Les
installations assujetties au Code canadien du travail Partie II, dispositions lgislatives
sur la sant et la scurit au travail, doivent tre conformes aux exigences du Code de
scurit. Le code sinspire des objectifs, notions et recommandations des organismes
suivants :
a) la Commission internationale de protection radiologique (CIPR);
b) lAgence internationale de lnergie atomique (AIEA).

Section 1.2 Objectif

Le code de scurit 34 a pour objectif de prsenter des informations sur la


radioprotection et la scurit des personnes qui, dans des installations fixes ou des
sites de travail temporaire, font fonctionner, utilisent et entretiennent les appareils
rayons X industriels ou se trouvent proximit.

Section 2. Parties intresses et responsabilits

Lattnuation des dangers dirradiation associs lutilisation de lquipement rayons


X industriels ncessite laction collective de diffrentes parties intresses :
lautorit rglementaire,
les fabricants dquipement,
les propritaires dappareils,
les oprateurs dquipement,
le personnel dentretien,
les organisations qui effectuent des travaux de radiographie industrielle,
les clients qui engagent de tels organismes,
le public.

Section 2.1 Autorit rglementaire


Les fonctions de Sant Canada consistent crer des normes ainsi qu vrifier et
assurer la conformit avec ces normes.

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Section 2.2 Propritaire de lquipement


Seuls des produits conformes la LDER seront autoriss.
Le propritaire dun appareil industriel rayons X est, en dernier ressort,
responsable de la scurit de son appareil en matire de rayonnement.

Le propritaire a la responsabilit de sassurer que lappareil est utilis


conformment toutes les lois et tous les rglements auxquels il est soumis, y
compris les autres codes de scurit applicables pour lutilisation sre et
lquipement dans les lieux de travail o lappareil sera utilis.

Le propritaire doit mettre en place et utiliser un programme de radioprotection.

Le propritaire doit nommer un agent de radioprotection (RSO) qui supervisera


et mettra en place un programme de radioprotection pour chaque installation
dans laquelle on effectue de la radiographie industrielle.

Lagent de radioprotection est habilet entreprendre la supervision ncessaire


des activits de radioprotection, faire cesser les pratiques non scuritaires,
imposer des directives de scurit et appliquer les interdictions prescrites par
l'autorit rglementaire en vertu du prsent Code de scurit.

FRX MOD Agent de radioprotection (RSO)


Pour ce qui concerne les applications FRX, lagent de radioprotection doit
tre accrdit par Ressources naturelles Canada titre doprateur
danalyseurs fluorescence X portatifs.

Section 2.2.1. Agent de radioprotection

Avant lacquisition dun analyseur FRX, le RSO doit recevoir une confirmation crite de
la part du fabricant de lappareil ou de lagent de commercialisation autoris leffet que
le produit est conforme la LDER.

La responsabilit de dmontrer que lquipement est conforme la LDER revient au


manufacturier.

Lagent de radioprotection doit sassurer que lappareil industriel rayons X et


linstallation dans laquelle il sera utilis respectent toutes les exigences en matire de
radioprotection et les exigences rglementaires du prsent Code de scurit, et quil est
conforme aux autres normes applicables (p. ex. code de llectricit, rglementation sur
les explosifs, etc.).

Lagent de radioprotection doit suivre les directives prcises au


paragraphe 2.2.1 du Code de scurit 34, dans la mesure o celles-ci sappliquent

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aux travaux FRX, en accordant une attention particulire aux directives
suivantes :

10. Se procurer un radiamtre talonn et fonctionnel pour chaque installation o


l'on utilise un appareil rayons X industriel. Ces radiamtres devront avoir t
talonns par un laboratoire national d'talonnage du rayonnement ionisant
(p. ex. le Conseil national de recherches du Canada Ottawa, le National
Institute of standards and technology aux tats-Unis) ou encore un laboratoire
dont la comptence en matire d'talonnage aura t certifie par un laboratoire
national.

FRX MOD
Ltalonnage doit tre effectu lnergie du photon gnre par lappareil
rayons X qui sera utilis. La frquence de ltalonnage est une fois par anne, ou
aprs que linstrument a t entretenu ou rpar. Les registres des talonnages
des radiamtres seront conservs linstallation.

11. Examiner au besoin et modifier les procdures oprationnelles relatives la


protection et la sret afin de s'assurer que l'exposition rellement subie par
les oprateurs FRX est aussi basse qu'il soit raisonnablement possible
d'atteindre (ALARA) et que l'on excde pas les limites de dose pour le public
(voir Annexe II, Tableaux 1 et 2 du Code de scurit 34).

12. FRX MOD


S'assurer que toute personne qui utilise un appareil fluorescence X portatif
dtient la certification en essai non destructif de Ressources naturelles Canada
conforme la norme ISO 20807 intitule Essais non destructifs Qualification
du personnel pour des applications limites en essais non destructifs .

15. FRX MOD


Effectuer un examen trimestriel des entres du registre, signes et dates par
loperateur FRX o sont consignes les vrifications de scurit priodiques
effectues sur les appareils rayons X industriels, leurs composantes de
scurit et les accessoires de scurit.
Ne pas se conformer aura comme consquence la suspension permanente de la
certification de FRX.

17. Organiser, au besoin, la formation et des sances d'information pour les


radiographes industriels, les autres utilisateurs et le personnel associ, sur des
questions et procdures de radioprotection ainsi que conserver adquatement le
matriel pdagogique et une liste du personnel ayant reu une formation.

20. laborer et maintenir un systme de suivi du personnel comprenant des


examens priodiques des donnes de monitorage des doses reues, des

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enqutes sur les incohrences, l'entre en vigueur d'actions correctives, en
temps opportun, et la conservation de tous les documents et donnes affrents.

Section 2.3. Oprateur FRX accrdit MOD

Un oprateur FRX accrdit MOD est une personne qui rpond aux exigences du
paragraphe 2.2.1.12. du Code de scurit. Cette personne doit effectuer le travail FRX
demand, conformment aux instructions reues et aux procdures d'opration et de
scurit, afin d'assurer sa protection et celle des autres personnes. Il est donc essentiel
qu'il suive la lettre les instructions, procdures et prcautions en matire de scurit,
contenues dans le manuel d'utilisation de l'appareil rayons X industriel qu'elle utilisera.
Cette personne devra adopter une attitude scuritaire gnrale lorsqu'elle effectuera
des travaux danalyse FRX et, dans ce cadre, elle prtera attention au verrouillage de
scurit, aux alarmes, aux voyants et aux indications. Un oprateur FRX accrdit
devra :

2. donner l'agent de radioprotection de l'installation des preuves suffisantes de


son identit, de son accrditation et de sa formation;

3. fournir l'agent de radioprotection de l'installation son dossier d'exposition au


rayonnement, notamment s'il a t engag, ou l'est encore, en vertu de contrats
de service avec plusieurs employeurs au cours de la mme priode;

4. s'assurer qu'il n'a pas dpass la limite annuelle de dose professionnelle (voir le
Tableau 1 de l'Annexe II de ce Code de scurit), avant d'entreprendre un travail
de radiographie industrielle cette installation;

5. recevoir les instructions en matire de scurit et la formation approprie pour


l'appareil rayons X industriel et les radiamtres qui seront utiliss l'installation
permanente ou le site de travail temporaire, il devra produire l'agent de
radioprotection de l'installation une attestation qu'il a bien suivi cette formation;

8. s'abstenir de porter le dosimtre passif d'une autre personne;

9. effectuer, avant d'entreprendre un travail de radiographie industrielle, une


vrification prliminaire de tous les dispositifs de scurit (dispositifs de
verrouillage, voyants, minuteries, blindages, radiamtres, dosimtres actifs, etc.)
pour s'assurer de leur fonctionnement normal et rsoudre tout problme
dcouvert; maintenir un journal appropri sign et dat de ces vrifications;
*** Une copie du journal est exige pour le renouvellement et la recertification ***
Ne pas se conformer aura comme consquence la suspension permanente de la
certification de FRX.

11. suivre toutes les rgles de protection et de scurit, notamment les procdures
tablies pour le travail en cours dans l'installation;

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12. signaler l'agent de protection de l'installation toute exposition anormale au


rayonnement, qu'elle soit avre ou prsume subie par toute personne et
conserver un dossier de ces signalements;
13. superviser, s'il est mandat par le propritaire de l'appareil rayons X industriel,
en collaboration avec l'agent de radioprotection de l'installation, toute personne
en vue d'obtenir son accrditation comme oprateur FRX;

14. tre vigilant et, chaque mois ou un intervalle plus rapproch, vrifier si les
notices et les avertissements sur la console de commande de lanalyseur FRX
portatif et sur le botier de la source de rayonnement sont bien lisibles;

15. s'abstenir d'utiliser tout appareil rayons X industriel, radiamtres, dosimtres ou


blindages qui sont dfectueux;

16. au besoin, lorsqu'un travail danalyse FRX doit tre effectu chez un client
l'extrieur de l'installation pour laquelle le radiographe industriel dtient une
accrditation, donner au client une sance d'information tel que le prescrit
l'article 2.5 du prsent code.

On devra porter une attention particulire aux radiographes industrielles en ge de


procrer.

Section 2.4 Fabricant dappareils de radiologie industriels

Les fabricants doivent s'assurer que leurs produits sont conformes la Loi sur les
dispositifs mettant des radiations [9] avant de les importer, de les livrer ou de les
vendre au Canada. Il est illgal d'importer, louer ou de vendre des appareils rayons X
industriels qui ne sont pas conformes la Loi sur les dispositifs mettant des radiations.
Toute violation de cette Loi constitue un acte criminel.

Le manufacturier est l'unique responsable de la formation sur l'entretien, la scurit et la


radioprotection qui s'appliquent l'appareil danalyse FRX rayons X et de l'mission
des autorisations crites appropries aux personnes qui ont t formes pour l'entretien
de l'appareil.

2.4.1. Personnel dentretien

Le personnel charg de l'entretien des appareils rayons X industriels dans une


installation ou un autre lieu de travail devra fournir l'agent de radioprotection de
l'installation ou au gestionnaire du lieu de travail, selon le cas, la preuve qu'ils ont reu
la formation ncessaire pour effectuer l'entretien de l'appareil rayons X industriel
concern. Il devra dclarer toute condition non scuritaire qui pourrait survenir pendant
le fonctionnement de l'appareil rayons X industriel dans un rapport crit, sign et dat
qui devra tre dpos l'agent de radioprotection de l'installation ou au gestionnaire du
lieu de travail selon le cas.

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Section 2.5 FRX MOD


Clients qui engagent des organismes ou des personnes pour effectuer des
travaux danalyse FRX

Avant que le travail danalyse FRX puisse dbuter dans les installations d'un client,
celui-ci devra tre inform par loprateur FRX accrdit, engag pour raliser ce travail
ou autoris le faire de la nature de la radiographie industrielle, des risques et dangers
potentiels associs, des procdures de scurit qui devront tre suivies pour raliser le
travail, des rglements pertinents et des preuves qu'il est personnellement accrdit
comme oprateur FRX.

Le client devra reconnatre que les conditions du contrat ne doivent pas empcher
l'organisme ou les personnes d'effectuer le travail radiographique en scurit; en
d'autres termes, en analyse FRX les exigences rglementaires et scuritaires sont
prioritaires.

Le client doit s'assurer que les activits danalyse FRX sont effectues de faon
scuritaire, afin de minimiser le risque d'exposition au rayonnement ionisant encouru
par les operateurs FRX et les autres personnes sur les lieux de travail. Le client doit
indiquer un officier de sret pour s'assurer que toutes les procdures de sret sont
adhres aux lieux de travail.

En consquence, le client, de concert avec le fournisseur de services danalyse FRX,


devra prparer et conserver un document (p. ex. une liste de contrle) o apparatront
les signatures pertinentes et les dates permettant de dmontrer que l'on a inform le
client des questions de scurit associes au travail et qu'il est satisfait que les activits
de scurit pertinentes ont t effectues sur le site du travail. Un exemplaire de tous
les documents sera conserv dans des dossiers dans les installations de loprateur
FRX et dans les locaux du client o l'on a effectu des travaux danalyse FRX.

Section 3.2. FRX MOD


Enregistrement lgal de lquipement rayons X FRX dans les installations du
fdral

Conformment au Code canadien du travail Partie II, Rglement canadien sur la sant
et la scurit au travail, Partie X, Section 10.26, tous les ministres et organismes
fdraux doivent enregistrer lquipement danalyse rayons X auprs de lautorit
rglementaire, Sant Canada.

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Section 3.3 Exigences relatives aux sites de travail pour lanalyse FRX

3.3.2. Sites de travail temporaires


L'utilisation de dispositifs de scurit techniques sur les sites de travail temporaires est
rduite. En consquence, il est ncessaire de recourir des mesures administratives
strictes pour rduire la probabilit d'accidents dus au rayonnement et l'exposition
accidentelle. Les personnes devront donc tre formes et recevoir des instructions
relativement aux procdures de travail et elles devront avoir la scurit coeur.

Voici les exigences minimales relativement aux travaux danalyse FRX sur un site de
travail temporaire :
1. Une zone contrle doit tre tablie afin dempcher que le personnel non autoris
entre lintrieur dun rayon denviron 1 mtre autour de loprateur pendant quil
effectue des mesures au moyen de la fluorescence X.

3.4. valuation sur place des installations

Lvaluation sur place a pour but de veiller la conformit avec les exigences
rglementaires fdrales. En ce qui concerne la fluorescence X, une valuation sur
place peut tre effectue en tout temps par lorganisme de rglementation; des
quivalents peuvent tre permis si un consentement pralable a t obtenu de
lorganisme de rglementation. Ces valuations devraient confirmer que :
(ii) les installations permanentes ont t construites correctement;
(iii) les panneaux de mise en garde sont appropris et sont affichs
correctement;
(v) l'extrieur des installations permanentes, l'intensit du rayonnement
rsiduel est en de des limites ce qui garantit que personne n'est soumis
des risques inacceptables;
(vii) les utilisateurs FRX ont t forms la vrification du fonctionnement
correct des composantes de scurit utilises avec l'appareil produisant
des rayonnements ionisants, l'installation permanente ou au site
temporaire de travail;
(viii) les mesures de surveillance et de suivi du personnel sont conformes aux
exigences formules aux alinas 2.2.1.16, 2.2.1.20 2.2.1.23 et aux
paragraphes 2.3.6 2.3.8 du prsent Code de scurit.

ANNEXE II
Les limites de dose recommandes pour le rayonnement ionisant sont indiques aux
tableaux 1, 2 et 3 du Code de scurit 34; elles doivent tre consultes aussi souvent
que ncessaire.

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12.4 Sommaire de responsabilits de scurit de FRX
Les sections de 9 12 discutent les diverses responsabilits de sret de ceux
impliqus des analyseurs de FRX. L'intention de cette section est de prsenter ces
responsabilits dans un endroit.

Responsabilits de l'autorit de rglementation - Sant Canada


Dvelopper des normes, vrifier et imposer la conformit aux normes
Dsigner les inspecteurs qui peuvent visiter certaines des locaux pour chercher les
dispositifs qui mettent des rayons-X
Effectuer des valuations sur place pour vrifier que les installations se conformer
aux exigences nonces dans le Code de scurit 34.

Responsabilits du fabricant d'quipement


S'assurer que leurs produits sont conformes la Loi sur les dispositifs mettant des
radiations (LDER) avant qu'ils soient imports, lous ou vendus au Canada.
Dmontrer que lquipement est conforme la Loi sur les dispositifs mettant des
radiations (LDER)
Fournir la formation sur l'entretien, la scurit et la radioprotection qui s'applique
l'appareil danalyse FRX rayons X et de l'mission des autorisations crites
appropries aux personnes qui ont t formes pour l'entretien de l'appareil.

Responsabilits du personnel de service


Fournir l'agent de radioprotection de l'installation ou au gestionnaire du lieu de
travail, selon le cas, la preuve qu'ils ont reu la formation ncessaire pour effectuer
l'entretien de l'appareil rayons X industriel concern et de dclarer toute condition
non scuritaire qui pourrait survenir pendant le fonctionnement de l'appareil rayons
X industriel dans un rapport crit, sign et dat qui devra tre dpos l'agent de
radioprotection de l'installation ou au gestionnaire du lieu de travail selon le cas.

Responsabilits de tous les travailleurs, gestionnaires et personnel de scurit


Sassurer que les doses de rayonnement sont ALARA - les plus basses que lon
puisse raisonnablement atteindre

Responsabilits du propritaire de l'quipement


Obtenir seulement les produits qui conforment au rglement sur les dispositifs
mettant des radiations (RDER)
Enregistrer leur quipement danalyse rayons X auprs de lautorit rglementaire
approprie
Sassurer que lappareil de rayon-X est utilis conformment toutes les lois et
tous les rglements, y compris les autres codes de scurit applicables pour
lutilisation sre et lquipement dans les lieux de travail o lappareil sera utilis.
Mettre en place et utiliser un programme de radioprotection.
Nommer un agent de radioprotection (RSO)

Responsabilits de lAgent de radioprotection (RSO)

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Recevoir une confirmation crite de la part du fabricant de lappareil ou de lagent de
commercialisation autoris leffet que le produit conforme la LDER.
Sassurer de garder en toute sret (sous verrou et sous cl) les analyseurs FRX
dont il a la responsabilit.
Tenir des documents relatifs au profil de diffusion du rayonnement de tous les
analyseurs FRX dont il est responsable
Sassurer que lappareil industriel rayons X et linstallation dans laquelle il sera
utilis respectent toutes les exigences en matire de radioprotection et les
exigences rglementaires
Tenir jour des registres afin dassurer le suivi de tous les analyseurs FRX et
inscrire le nom des oprateurs qui les utilisent et leur lieu dutilisation.
Entreprendre la supervision ncessaire des activits de radioprotection, faire cesser
les pratiques non scuritaires, imposer des directives de scurit et appliquer les
interdictions prescrites par l'autorit rglementaire en vertu du Code de scurit 34.
Examiner au besoin et modifier les procdures oprationnelles relatives la
protection et la sret afin de s'assurer que l'exposition rellement subie par les
oprateurs FRX est aussi basse qu'il soit raisonnablement possible d'atteindre
(ALARA) et que l'on excde pas les limites de dose pour le public
Dterminer et en faire lacquisition lappareil de dosimtrie que chaque oprateur
doit porter tel que spcifi par les organismes rglementaires
Se procurer un radiamtre talonn et fonctionnel pour chaque installation o l'on
utilise un appareil rayons X industriel
Conserver linstallation les registres des talonnages des radiamtres.
laborer et maintenir un systme de suivi du personnel comprenant des examens
priodiques des donnes de monitorage des doses reues, des enqutes sur les
incohrences, l'entre en vigueur d'actions correctives, en temps opportun, et la
conservation de tous les documents et donnes affrents.
Organiser la formation des personnes sur des questions et procdures de
radioprotection ainsi que conserver adquatement le matriel pdagogique et une
liste du personnel ayant reu une formation
S'assurer que toute personne qui utilise un appareil fluorescence X portatif dtient
la certification FRX de Ressources naturelles Canada
Effectuer un examen trimestriel des entres du registre, signes et dates par les
oprateurs de FRX o sont consignes les vrifications de scurit priodiques
effectues sur les appareils rayons X, leurs composantes de scurit et les
accessoires de scurit.
Ne pas se conformer aura comme consquence la suspension permanente de la
certification de FRX.

Responsabilits de l'oprateur de FRX


Bien connatre les caractristiques de sret et les procdures de fonctionnement
recommandes par le fabricant de lanalyseur FRX quil utilisera
Comprendre le profil de rayonnement de lanalyseur FRX particulier quil utilise
Recevoir les instructions en matire de scurit et la formation approprie pour
l'appareil rayons X industriel et les radiamtres qui seront utiliss l'installation

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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
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permanente ou le site de travail temporaire, et confirmer avec l'agent de
radioprotection de l'installation que ces mesures ont t prises
S'assurer quil y a un radiamtre disponible au lieu de travail
De la sret de lanalyseur durant le transport vers le terrain ou en provenance de
celui-ci et aux sites de travail temporaire
En cas d'analyseur perdu ou vol, informer les autorits rglementaires (Sant
Canada et la juridiction provinciale ou territoriale approprie) ds que possible et
communiquez avec le service de police et le fabricant.
Donner l'agent de radioprotection de l'installation des preuves suffisantes de son
identit, de sa certification et de sa formation
Fournir l'agent de radioprotection de l'installation son dossier d'exposition au
rayonnement
S'assurer qu'il n'a pas dpass la limite annuelle de dose professionnelle
Effectuer, avant d'entreprendre un travail de FRX, une vrification prliminaire de
tous les dispositifs de scurit (dispositifs de verrouillage, voyants, minuteries,
blindages, radiamtres, dosimtres actifs, etc.) pour s'assurer de leur
fonctionnement normal et rsoudre tout problme dcouvert et maintenir un journal
appropri sign et dat de ces vrifications
*** Une copie du journal est exige pour le renouvellement et la recertification ***
Ne pas se conformer aura comme consquence la suspension permanente de la
certification de FRX.
Suivre toutes les rgles de protection et de scurit, notamment les procdures
tablies pour le travail en cours l'installation
Signaler l'agent de protection de l'installation toute exposition anormale au
rayonnement, qu'elle soit avre ou prsume subie par toute personne et
conserver un dossier de ces signalements
Superviser, s'il est mandat par le propritaire de l'appareil rayons X, en
collaboration avec l'agent de radioprotection de l'installation, toute personne en vue
d'obtenir sa certification comme oprateur FRX
tre vigilant et, chaque mois ou un intervalle plus rapproch, vrifier si les
notices et les avertissements sur la console de commande de lanalyseur FRX
portatif et sur le botier de la source de rayonnement sont bien lisibles
S'abstenir d'utiliser tout appareil rayons X industriel, radiamtres, dosimtres ou
blindages qui sont dfectueux;
Avant que tous les services FRX-analytiques soient effectu chez un client, donner
au client une sance d'information sur les risques potentiels et qui sont intrinsques
au travail, les procdures de sret qui seront suivies pour le travail spcifique du
client, les rglements applicables, et la preuve de la certification d'oprateur FRX
De concert avec le client, prparer et conserver un document (p. ex. une liste de
contrle) o apparatront les signatures pertinentes et les dates permettant de
dmontrer que l'on a inform le client des questions de scurit associes au travail
et qu'il est satisfait que les activits de scurit pertinentes ont t effectues sur le
site du travail.

Responsabilits du client

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Afin de s'assurer que les activits danalyse FRX sont effectues de faon
scuritaire, indiquer un officier de sret pour s'assurer que toutes les procdures
de sret sont adhres aux lieux de travail.

Accident

le cas d'un accident de dommage mineur:


o Oprateur danalyseur - communiquer immdiatement avec lagent de
radioprotection pour lui demander conseil.
o RSO (lagent de radioprotection) - communiquer avec le fabricant pour obtenir
de laide le plus tt possible.

le cas d'un accident de dommage important:


o RSO (lagent de radioprotection) - communiquer immdiatement avec le
fabricant et les autorits rglementaires (Sant Canada et la juridiction
provinciale ou territoriale approprie)

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Annexe 1 : nergies (keV) des lignes K et L (Rfrence)

Numro Symbole lment


K K L L Ly
atomique Rapports dintensit
1 H Hydrogne - - - - -
2 He Hlium - - - - -
3 Li Lithium 0,052 - - - -
4 Be Bryllium 0,110 - - - -
5 B Bore 0,185 - - - -
6 C Carbone 0,282 - - - -
7 N Azote 0,392 - - - -
8 O Oxygne 0,526 - - - -
9 F Fluor 0,677 - - - -
10 Ne Non 0,851 0,86 - - -
11 Na Sodium 1,04 1,07 - - -
12 Mg Magnsium 1,25 1,30 - - -
13 Al Aluminium 1,49 1,55 - - -
14 Si Silicium 1,74 1,83 - - -
15 P Phosphore 2,02 2,14 - - -
16 S Soufre 2,31 2,46 - - -
17 Cl Chlore 2,62 2,82 - - -
18 Ar Argon 2,96 3,19 - - -
19 K Potassium 3,31 3,59 - - -
20 Ca Calcium 3,69 4,01 0,34 - -
21 Sc Scandium 4,09 4,46 0,40 - -
22 Ti Titanium 4,51 4,93 0,45 0,46
23 V Vanadium 4,95 5,43 0,51 0,52
24 Cr Chrome 5,41 5,95 0,57 0,58
25 Mn Manganse 5,90 6,49 0,64 0,65
26 Fe Fer 6,40 7,06 0,70 0,72
27 Co Cobalt 6,93 7,65 0,78 0,79
28 Ni Nickel 7,47 8,26 0,85 0,87
29 Cu Cuivre 8,04 8,90 0,93 0,95
30 Zn Zinc 8,63 9,57 1,01 1,03
31 Ga Gallium 9,24 10,26 1,10 1,12
32 Ge Germanium 9,88 10,98 1,19 1,21
33 As Arsenic 10,53 11,73 1,28 1,32
34 Se Slnium 11,21 12,50 1,38 1,42
35 Br Brome 11,91 13,30 1,48 1,53
36 Kr Krypton 12,64 14,11 1,59 1,64
37 Rb Rubidium 13,38 14,97 1,69 1,75
38 Sr Strontium 14,15 15,85 1,81 1,87
39 Y Yttrium 14,95 16,74 1,92 2,00
40 Zr Zirconium 15,77 17,68 2,04 2,12 2,30
41 Nb Niobium 16,61 18,64 2,17 2,26 2,46
42 Mo Molybdne 17,48 19,63 2,29 2,40 2,62
43 Tc Techntium 18,41 20,66 2,42 2,54 2,79
44 Ru Ruthnium 19,28 21,66 2,56 2,68 2,96
45 Rh Rhodium 20,21 22,75 2,70 2,83 3,14
46 Pd Palladium 21,18 23,85 2,84 2,99 3,33
47 Ag Argent 22,16 24,96 2,98 3,16 3,52
48 Cd Cadmium 23,17 26,12 3,13 3,32 3,72
49 In Indium 24,21 27,30 3,29 3,49 3,92

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Numro Symbole lment
Ly
atomique Rapports dintensit K K L L
50 Sn tain 25,27 28,5 3,44 3,66 4,13
51 Sb Antimoine 26,36 29,8 3,61 3,84 4,35
52 Te Tellurium 27,47 31,0 3,77 4,03 4,5
53 I Iode 28,61 32,35 3,94 4,22 4,80
54 Xe Xnon 29,80 33,7 4,11 4,42 5,04
55 Cs Csium 30,97 35,0 4,28 4,62 5,28
56 Ba Barium 32,19 36,4 4,47 4,83 5,53
57 La Lanthane 33,44 37,85 4,65 5,04 5,79
58 Ce Crium 34,72 39,3 4,84 5,26 6,05
59 Pr Prasodyme 35,8 41,3 5,03 5,49 6,32
60 Nd Nodyme 37,1 42,8 5,23 5,72 6,60
61 Pm Promthium 38,4 44,5 5,43 5,96 6,89
62 Sm Samarium 39,8 46,0 5,63 6,21 7,18
63 Eu Europium 41,2 47,6 5,84 6,46 7,48
64 Gd Gadolinium 42,6 49,3 6,06 6,71 7,79
65 Tb Terbium 44,47 50,39 6,27 6,98 8,10
66 Dy Dysprosium 45,99 52,18 6,49 7,25 8,42
67 Ho Holmium 47,53 53,93 6,72 7,53 8,75
68 Er Erbium 49,10 55,69 6,94 7,81 9,09
69 Tm Thulium 50,73 57,58 7,18 8,10 9,42
70 Y Ytterbium 52,36 59,35 7,41 8,40 9,78
71 Lu Luttium 54,06 61,28 7,65 8,71 10,1
72 Hf Hafnium 55,76 63,21 7,89 9,02 10,5
73 Ta Tantale 57,52 65,21 8,14 9,34 10,9
74 W Tungstne 59,31 67,23 8,39 9,67 11,3
75 Re Rhnium 61,13 69,30 8,64 10,01 11,7
76 Os Osmium 62,99 71,40 8,90 10,35 12,1
77 Ir Iridium 64,89 73,55 9,17 10,71 12,5
78 Pt Platine 66,82 75,74 9,43 11,07 12,9
79 Au Or 68,79 77,97 9,70 11,44 13,4
80 Hg Mercure 70,82 80,26 9,98 11,82 13,8
81 Tl Thallium 72,86 82,56 10,27 12,21 14,3
82 Pb Plomb 74,96 84,92 10,56 12,61 14,8
83 Bi Bismuth 77,10 87,34 10,84 13,02 15,2
84 Po Polonium 79,30 89,81 11,13 13,44 15,7
85 At Astate 81,53 92,32 11,42 13,87 16,3
86 Rn Radon 83,80 94,88 11,72 14,32 16,8
87 Fr Francium 86,12 97,48 12,03 14,77 17,3
88 Ra Radium 88,46 100,14 12,34 15,23 17,8
89 Ac Actinium 90,89 102,85 12,65 15,71 18,4
90 Th Thorium 93,33 105,59 12,97 16,20 19,0
91 Pa Protactinium 95,85 108,41 13,29 16,43 19,6
92 U Uranium 98,43 111,29 13,61 17,22 20,2
93 Np Neptunium 101,00 114,18 13,95 17,74
94 Pu Plutonium 103,65 117,15 14,28 18,28
95 Am Amricium 106,35 120,16 14,62 18,83
96 Cm Curium 109,10 123,24 14,96 19,39
97 Bk Berklium 111,90 126,36 15,31 19,97
98 Cf Californium 114,75 129,54 15,66 20,56
99 Es Einsteinium 117,65 132,78 16,02 21,17
100 Fm Francium 120,60 136,08 13,68 21,79

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Annexe 2 : Formulaires de FRX

L'annexe 2 contient les formulaires ncessaires pour s'appliquer pour la certification en


tant qu'oprateur de FRX :
- demande de certification
- vrification de la photo
- attestation de formation en FRX
- rapport dexamen de la vision
- RNCan code de conduite

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Demande de Certification, Renouvellement ou Recertification comme
Oprateur dAnalyseurs FRX Portatifs
M. Mme Mlle Langue : franais anglais lusage exclusif
de RNCan
NOM: ________________________________________________________________________________
NOM DE FAMILLE PRENOMS
__________________________
ADRESSE: ___________________________________________________________________________ Nom:

___________________________________________________________________________ __________________________
VILLE PROVINCE CODE POSTAL N denregistrement:

TELEPHONE: ___________________________ NAISSANCE : aaaa_______ mm________ jj_______ __________________________


Date de rception:
En signant cette demande, le candidat autorise RNCan divulguer son nom, ltat et la date
dexpiration de sa certification, sa ville et sa province. Par exemple, sur la liste Web du __________________________
personnel certifi en essais non destructifs. Approuv par:

SIGNATURE DU CANDIDAT __________________________


Votre signature NE DOIT PAS Date:
dpasser le cadre intrieur
Pices jointes:
______/____________/______ Vrification et deux photos
DATE (aaaa/mm/jj) Attestation de la formation
Rapport dexamen de la vue
Code de conduite
Employeur: _____________________________________________________________________________ Copie du journal
(en majuscules) (renouvellement)
Adresse: ______________________________________________________________________________ Frais de candidature
Frais dexamens
_______________________ / __________ / _________________ / ______________________
Ville Province Code postal Tlphone

Application pour: Certification initiale Niveau 1 Niveau 2 Reprise Renouvellement R-certification

Frais Certification initiale Renouve Recertification


llement
payable RNCan Centre RNCan RNCan Centre
dexamen dexamen
Application $250 $100 $100
Examen sur la mthode - niveau 1 $150 $ 50
Examen sur la scurit - niveau 1 $150 $ 50 $150 $ 50
Total niveau 1 $550 $100 $250 $ 50
Examen sur la scurit - niveau 2 $150 $ 50 $150 $ 50
Total niveau 2 $700 $150 $400 $100
Frais de retard pour
renouvellement : $50
Reprise dexamen $150 / examen $50 / examen Mthode n1 Scurit n1 Scurit n2

MODE DE PAIEMENT: Chque Mandat (Libellez chques et mandats lordre du Receveur gnral du Canada.)
Carte de crdit: Personnelle dEntreprise MasterCard Visa AMEX

Nom du titulaire de la carte_________________________, N de la carte____________________________, Expire le_______, Montant:$_______

Vous devez prsenter les documents suivants avec votre demande:


Renouvellement et recertification
Vrification de photo sign + 2 photos passeport (2 po 2 po) Une copie du journal des vrifications
Attestation de formation signe (pour certification initiale et recertification) de scurit selon les directives prcises
l'article 9 de la section 2.3 du Code de scurit
Rapport dexamen de la vue sign 34.
Code de conduite sign

Envoyer la demande : Organisme de certification en END Tlphone : 1-866-858-0473


(Dlais de traitement (2) semaines. Les dlais de traitement CanmetMATRIAUX, Ressources Naturelles Canada Tlcopieur : 905-645-0836
dbutent lorsque nous avons une demande dment remplie 183 Rue Longwood Courriel: END@RNCan.gc.ca
et ne comprennent pas les dlais de livraison par la poste.) Hamilton, Ontario L8P 0A5 Site web: http://ndt.nrcan.gc.ca
Rvise Decembre 2012
VRIFICATION DE LA PHOTO
Veuillez utilisez une photographie passport seulement-dimensions: 2 po x 2 3/4 po

Candidat(e) : ____________________________________________ m Matricule : _______________

Employeur _________________________________________________________________________

Adresse _________________________________________________________________________

_________________________________________________________________________
Ville province code postal
Tlphone ________________________________ Tlcopieur ___________________________

VRIFICATION DE L'EMPLOYEUR SUPERVISEUR/REPONDANT :


Je vrifie que les photographies ci-jointes sont bien celles de l'employ(e) dont le nom apparat sur le prsent
formulaire.
Name ________________________ Signature ______________________
(en caractres d'imprimerie)

Date ______/____/____
AAAA/MM/JJ

Si vous tes sans emploi, veuillez sil vous plat faire siger et attester vos photographies par lune des personnes suivante :
Comptable ; Chef de bande des Premires nations ; Employ dun centre de Ressources naturelles Canada qui agit titre officiel ; Entrepreneur de
pompes funbres ; Juge de paix, Avocat, Notaire, Magistrat ; Directeur dun tablissement financier ; Professionnel de la sant : Chiropraticien,
dentiste, mdecin, ophtalmologiste, optomtriste, pharmacien, psychologue, infirmier autorise et infirmier praticien ; Membre du Parlement ou son
personnel ; Membre dune assemble lgislative provinciale ou son personnel ;Ministre de culte ; Greffier municipal ; Employ dun ministre
fdral ou provincial ou de lune de ses agences ; Reprsentant dune ambassade, dun consulat ou dun haut commissariat ; Reprsentant dun
pays avec lequel le Canada a conclu un accord de rciprocit en matire de scurit sociale ; Policier ; Matre de poste ; Ingnieur ; Travailleur
social ; Enseignant.

Veuillez retourner les photographies avec ce formulaire:

Organisme de certification en END


Laboratoire de la technologie des matriaux de CANMET
Ressources naturelles Canada
183 rue Longwood Sud Tlphone : 866-858-0473
Hamilton, ON L8P 0A5 Tlcopieur : (905) 645-0836

IDVerifi-EF rvis 08/11


Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan Oprateur
danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010

Attestation de formation en FRX

Par la prsente, jatteste quen ce ______ jour de __________ __________,

_________________________ a russi les sances de formation suivantes:

______ heures (minimum 3 heures) de formation en classe sur la thorie de lanalyse par
fluorescence X et sur la radioprotection, conformment au Programme de formation de Ressources
Naturelles Canada pour les oprateurs danalyseurs fluorescence X portatifs, tel que dcrit dans le
Livret de prparation lexamen.

______ heures (minimum 2 heures) de dmonstration et dexercices portant sur la prise de mesures
exactes avec un ou des analyseurs fluorescence X.

______ heures (minimum 2 heures) de dmonstration et dexercices portant sur la radioprotection;


notamment le montage, la manipulation, lutilisation, lentretien et le rangement scuritaires des
analyseurs fluorescence X.

Formateur : _____________________________________
(Nom en majuscules)
Les formateurs et les signataires doivent obtenir lapprobation de RNCan et figurer sur
une liste active de membres du personnel tenue par RNCan.

Signature : _____________________________________

Matricule : _______________

Tlphone: _____________________________

Marque de lanalyseur : _____________________________________

Date : ______/____/____
aaaa/mm/jj
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danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010

RNCAN RAPPORT DEXAMEN DE LA VISION PERSONNEL END

Trois valuations de la vision peuvent tre exiges : la vision de prs, la vision de distance (pour la mthode
contrle visuel seulement) et la vision des couleurs (pour la certification initiale seulement). Ce formulaire doit
tre rempli et retourn l'Organisme de certification en END en s'inscrivant un examen dans n'importe quelle
mthode en END, au renouvellement de la certification ou la r-certification.

NOM DU CANDIDAT: _______________________________ NUMERO DE MATICULE: ___________

La vision de prs et la vision de distance remplir par une personne reconnue du domaine mdical
(ophtalmologiste, optomtriste, mdecin, infirmire, etc.)

Vision de prs: doit permettre la lecture de La vision distance: (requis seulement pour
caractres Times Roman N4,5 (Jaeger numro 2) ou la mthode contrle visuel) doit tre gale
lquivalente une distance d'au moins 30 cm, avec au moins la fraction 20/30 de Snellen avec un
un il ou les deux yeux, avec ou sans correction. il ou les deux yeux, avec ou sans correction.
JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT SATISFAIT A CES JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT SATISFAIT
EXIGENCES: A CES EXIGENCES:
(Veuillez cocher ) (Veuillez cocher )
Sans verres correcteurs Sans verres correcteurs
Avec verres correcteurs Avec verres correcteurs
Ne satisfait pas ces exigences Ne satisfait pas ces exigences

____________________________________ __________________________________________
Nom de lexaminateur (en lettres moules) Signature de lexaminateur

____________________________________ ____________/__________/___________________
Titre/Fonction Date de lexamen (aaaa/mm/jj)

La vision des couleurs (requis seulement pour la certification initiale et non pour le renouvellement ou la
recertification) - remplir par une personne reconnue du domaine mdical ou lemployeur ou personnel
certifis au niveau 3 en END.
NOTE: Un candidat qui passe un essai d'Ishihara (court ou longue) est acceptable. Comme alternative ou en cas d'chec d'un
essai d'Ishihara, l'employeur ou personnel certifis au niveau 3 en END peut grer un essai de performance afin de
confirmer si le candidat peut voir les indications de fautes qui sont typiques de la mthode. Exemple : En le ressuage,
confirmez que le candidat peut voir des indications rouges sur un fond blanc et des indications fluorescent-vertes sur une
varit de fonds.

JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT PEUT DISTINGUER LE CONTRASTE ENTRE LES COLEURS UTILIEES DANS LES
METHODES EN END CONCERNEES COMME SPECIFIE PAR LEMPLOYEUR (OU REUSSI A LESSAI DISHIHARA).

____________________________________ __________________________________________
Nom de lexaminateur (en lettres moules) Signature de lexaminateur

____________________________________ ______________/________________/__________
Titre/Fonction Date de lexamen (aaaa/mm/jj)
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danalyseurs portatifs fluorescence X
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NOTE : CERTAINS RGIMES DE SANT PROVINCIAUX NE COUVRENT PAS LES
FRAIS D'EXAMEN DE LA VUE

CODE DE CONDUITE DU PERSONNEL DESSAI


Les personnes qui ont obtenu ou qui sont en voie dobtenir la certification de RNCan sont tenues de reconnatre que lintgrit
personnelle et la comptence professionnelle sont des fondements essentiels de leurs activits dessai. Par voie de consquence,
RNCan leur accorde la certification pourvu que ces personnes respectent les conditions qui suivent :

1. Respecter les dispositions pertinentes du rgime de certification de RNCan appropri;


2. Respecter les rglements, les codes et les normes rgissant leur travail;
3. Signaler immdiatement RNCan toute infraction constate au prsent Code de conduite ou toute tentative dexercer des pressions ou dobliger une
personne certifie enfreindre le prsent Code de conduite;
4. Sassurer que linformation figurant sur leur certificat et(ou) leur carte pour portefeuille est exacte et, dans le cas contraire, informer RNCan ds que
possible afin quun nouveau certificat corrig ou une nouvelle carte pour portefeuille leur soit dlivr;
5. Ne jamais essayer de tricher aux examens de RNCan, tenter de corrompre ou de menacer les examinateurs ou surveillants dexamen de RNCan, de
falsifier des documents, de prsenter une demande de remboursement non fonde, de faire ou de permettre quon fasse une fausse dclaration ou un
mauvais usage de leurs comptences universitaires ou professionnelles, de leurs connaissances, de leur formation, de leur exprience, de leurs
responsabilits professionnelles ou de leur certification ou de celle de leurs associs;
6. Cesser de se prsenter comme tant certifies, lexpiration, la suspension ou au retrait de la certification et, sur demande, retourner RNCan tout
certificat et(ou) toute carte pour le portefeuille dlivr par RNCan;
7. Informer les employeurs en cas dexpiration, de suspension ou de retrait de la certification;
NOTA: Afin de protger les personnes certifies, les employeurs, les organismes de rglementation et le public,
RNCan tient jour une liste publique de tout le personnel dessai actuellement certifi.
8. Ne signer que les documents lgard desquels elles ont une comptence professionnelle personnelle et(ou) un contrle de surveillance directe;
9. Nentreprendre que les activits dessai pour lesquelles elles sont comptentes en vertu de leur formation, de leur exprience, de leurs qualifications
et de leur certification;
10. Au besoin, retenir ou conseiller que lon retienne les services de spcialistes pour mener bien et adquatement les activits dessai;
11. Prciser lemployeur ou au client toute consquence nfaste pouvant rsulter du rejet de leur jugement technique par une autorit non technique;
12. Mener leurs activits dessai en tenant dment compte de lenvironnement et de la scurit, de la sant et du bien-tre du public;
13. Conformment aux dispositions du prsent Code de conduite et eu gard au bien-tre du public, respecter la confidentialit de linformation fournie
par un employeur, un collgue ou un membre du public;
14. Se conduire elles-mmes de manire responsable et utiliser des pratiques commerciales justes et quitables dans les rapports avec les employeurs, les
collgues, les clients et les associs, ce qui comprend la divulgation de tout conflit dintrt ventuel;
15. Maintenir leurs comptences en actualisant leurs connaissances techniques dans les mthodes, niveaux et secteurs certifis;
16. viter tout acte contraire la dontologie qui discrditerait les programmes de certification de RNCan ou nuirait sa rputation et viter galement
de faire toute dclaration que RNCan considrerait comme non autorise ou trompeuse;

Le non-respect du prsent Code de conduite sera rgi par les modalits de gestion des plaintes/appels qui pourraient
ncessiter des mesures correctives, par exemple la rsiliation du processus de certification, la suspension ou le retrait de la
certification, la publication de linfraction, la notification du ou des employeurs, du ou des syndicats et des organismes de
rglementation appropris et, le cas chant, toute mesure supplmentaire prvue par la loi.

Jaccepte de me conformer au prsent Code de conduite.

Si jenfreins le prsent Code de conduite :

Je reconnais le droit de RNCan de suspendre ou de retirer toute certification qui mest accorde par
RNCan et(ou) de mettre fin au processus de certification.

Je reconnais le droit de RNCan dinformer mon ou mes employeurs, syndicats et les organismes de
rglementation appropris et de publier les dtails de linfraction.

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Nom (En lettres moules)

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Signature Date (aaaa/mm/jj)
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan Oprateur
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Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010