Universit de BOUIRA Introduction la compatibilit lectromagntique

PREMIER CHAPITRE
Introduction la compatibilit lectromagntique

I.1 Introduction

Comme tout systme physique en activit, les appareils lectriques et lectroniques

interagissent avec leur environnement. Ils prsentent une certaine sensibilit aux phnomnes
qui le concernent, et le perturbent leur tour.

La directive europenne 89-336-CEE certifie en 1989, dfinit la compatibilit

lectromagntique comme tant : laptitude dun dispositif, dun appareil ou dun systme
fonctionner de faon satisfaisante et sans produire lui-mme des perturbations
lectromagntiques intolrables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement [1] [2].

La CEM aborde la problmatique des perturbations lectromagntiques de deux faons

bien distinctes :

Il ya dabord lmission: un systme est potentiellement perturbateur source . En

fonctionnement normal, le systme gnre une nergie lectromagntique cette dernire peut
tre plus grande que lnergie tolrable par les systmes qui se trouvent dans son
environnement immdiat.

Il ya ensuite limmunit : laptitude dun systme fonctionner correctement sous une

excitation lectromagntique externe (perturbation). Linterfrence a lieu si lnergie
transmise par la source de perturbation dpasse une limite critique qui drange le bon
fonctionnement de la victime .

Lmission comme limmunit peut tre conduite ou rayonne, la perturbation est dite
conduite si elle se propage entre le systme metteur et le systme rcepteur dans un
conducteur, et elle est dite rayonne si le signal perturbateur se propage dans lair (figure I.1).

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Figure I.1 : Concept dmission et dimmunit [3].

Lmission et limmunit peuvent tre combines autour du mme systme : cest le

phnomne dauto-perturbation.

Cest important de distinguer entre limmunit et la susceptibilit dun systme.

Limmunit est laptitude dun quipement dassurer ses oprations correctement et ne

pas tre perturb, quand il est expos une perturbation lectromagntique dfinit par son
amplitude .

Sensitivit ou susceptibilit cest le degr de stress dun quipement, caus par une
perturbation [4].

La compatibilit lectromagntique est une science dont lobjectif est de minimiser le

niveau des missions des quipements et daugmenter leur immunit face aux diffrentes
agressions (Figure I.2).

Figure I.2 : Illustration de la limite immunit-mission lectromagntique [5].

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I.2 Diffrents types de perturbations lectromagntiques (EM)

Dans cette partie du chapitre I, nous exposons les diffrents types de perturbations
lectromagntiques.

I.2.1 Dfinition dune perturbation EM

Une perturbation lectromagntique correspond toute onde lectromagntique

(conduite ou rayonne) capable dinfluencer le comportement dun systme ou dengendrer
son dysfonctionnement. Ces perturbations peuvent tre classes de diffrentes manires [6].

a) Sources naturelles et sources humaines

Les sources de perturbation peuvent tre dorigine naturelle ou humaine. Les sources
naturelles peuvent tre de nature terrestre (foudre) ou extra-terrestre (bruit solaire). En
revanche, les sources humaines peuvent tre intentionnelles ou non intentionnelles.
Lorganigramme suivant (Figure I.3) montre quelques exemples de toutes ces sources.

Figure I.3 : Organigramme prsentant les diffrentes origines des perturbations.

b) Sources permanentes et intermittentes

Une source de perturbation est dite permanente si elle commence mettre des
perturbations ds la mise en marche de lappareil originaire de cette source. Ces perturbations
durent tant que cet appareil fonctionne. Un simple exemple de ces sources est lhorloge dun
microprocesseur. En revanche, une source est dite intermittente si lmission des perturbations
est alatoire. Ce non priodicit de ces perturbations rend leurs identifications difficiles.
Parmi ces sources nous pouvons citer la foudre et les dcharges lectrostatiques.

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c) Sources intentionnelles et non intentionnelles

Ce classement permet de distinguer les sources de perturbations dorigine volontaire de

celles qui sont imprvues. Tout appareil qui a pour objectif lmission dondes
lectromagntiques (radiocommunication, radar, ) est une source intentionnelle. Dans la
plupart des cas, ces sources sont de type harmonique (figure I.4).

Figure I.4 : Prsentation dune source intentionnelle [7].

Les sources non intentionnelles sont cres par des appareils qui ne sont pas destins
lmission radiofrquence (Figure I.5). Dans la plupart des cas, ces sources sont de type
transitoire. Elles peuvent tre illustres par des impulsions unipolaires, comme la foudre,
caractrises par leur temps de monte et la dure dimpulsion, ou par des oscillations
amorties, caractrises par la priode doscillation et le taux damortissement.

Figure I.5 : Prsentation dune source non intentionnelle [7].

I.2.2 Propagation et couplage des perturbations

Un systme peut tre une source de perturbation comme il peut tre une victime de cette
perturbation (Figure I.6). Le couplage des perturbations lectromagntiques entre une source
et une victime correspond au transfert du bruit lectromagntique de la source vers la victime.
Selon le milieu de propagation, le couplage seffectue par conduction ou par rayonnement :

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Figure I.6 : Mcanisme du couplage.

Le couplage par conduction lectrique se traduit par linjection des perturbations

travers les fils reliant les capteurs, les commandes, les alimentations, les masses et les mises
la terre.

Dans ce type de couplage deux modes existent, le Mode commun et le mode

diffrentiel.

Le courant de mode diffrentiel (ou mode srie) se propage sur lun des conducteurs,
passe travers lappareil, y gnrant ou non des dysfonctionnements, et revient par un autre
conducteur (figure I.7).

Figure I.7 : Principe du couplage en mode diffrentiel.

Le courant de mode commun se propage sur tous les conducteurs dans le mme sens et
revient par la masse au travers des capacits parasites (figure I.8).

Figure I.8 : Principe du couplage en mode commun.

Le couplage par rayonnement lectromagntique correspond linteraction dune onde
lectromagntique avec des fils, des cbles ou des ouvertures dans le blindage, ensuite ces
perturbations se couplent par conduction dans les composants et les circuits adjacents.

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Pour ce second type de couplage il est ncessaire de diffrencier les diffrentes zones de
rayonnement (Figure I.9).

Figure I.9 : Rgions lectromagntiques dune antenne [8].

On distingue les zones suivantes :

La zone de rayonnement en champ proche, qui se situe proximit de

lantenne. A lintrieur de cette zone, londe plane ne sest pas encore forme et la
distribution des composantes du champ dpend de la distance entre le point dobservation et
lantenne. Lamplitude de ces composantes se met dcrotre trs rapidement mesure quon
sloigne de lantenne ;
La zone de Fresnel, qui est une zone intermdiaire ;
La zone de champ lointain, o londe plane est forme. Celle-ci est qualifie
donde transverse lectromagntique ou TEM.

Quand la source se trouve dans une zone lointaine de la victime, le couplage se fait par
rayonnement et nous parlons dun couplage champ fil ou champ boucle . Cependant
quand la source se trouve dans une zone proche de la victime le couplage se fait par diaphonie
qui peut tre de nature capacitive ou inductive.

Lorganigramme suivant (Figure I.10) prsente les diffrents types de couplage ainsi que leurs
supports de propagation :

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Figure I.10 : Prsentation des diffrents types de couplage.

Ainsi Le couplage des perturbations lectromagntiques entre diffrents systmes peut se

raliser de six manires diffrentes, nanmoins plusieurs types de couplage peuvent intervenir
en mme temps, ce qui rend complexe ltude et lanalyse de la compatibilit
lectromagntique des systmes.

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Bibliographies

[1] M. RAMDANI, La Compatibilit Electromagntique Dans Les Circuits Intgrs ,

Techniques de lIngnieur, trait lectronique E 2 475.

[2] G-G. CHAMPIOT, Prsentation gnrale de la Compatibilit lectromagntique ,

Techniques de lIngnieur, trait gnie lectrique D 1300.

[3] CHRISTELLE LESEIGNEUR, Dveloppement dun modle dimmunit rayonn

pour la caractrisation de dispositifs lectronique . Thse de Doctorat, spcialit
lectronique, Universit de Rouen 20 janvier 2011.

[4] S. BAZZOLI, Caractrisation et Simulation de la Susceptibilit des Circuits Intgrs

face aux risques dInductions engendres par des Micro-ondes de Fortes Puissances Thse
Universit des Sciences et Technologie de Lille, Octobre 2005.

[5] GUY-GERARD CHAMPIOT et Al, Matrise de la CEM. Technologie,

rglementation, normes Les rfrentiels DUNOD novembre 2006.

[6] F. Chauvet, La Compatibilit Electromagntique , Techniques de lIngnieur, trait

lectronique E 3750.

[7] SOFIANE ATROUS, " Mise en place d'une mthodologie de caractrisation en immunit
champ proche de dispositifs lectroniques". Thse de Doctorat, spcialit lectronique,
Universit de Rouen 16 Janvier 2009.

[8] ALEXANDRE BOYER, Mthode de Prdiction de la Compatibilit Electromagntique

des Systmes en Botier Thse de Doctorat, spcialit conception de circuits
microlectroniques et microsystmes, linstitut national des sciences appliques de Toulouse,
2007.