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Unidad 3 Clase 5
Difraccin de rayos X
Ley de Bragg,
Clculo de parmetros de red
Microscopa ptica
Microestructura
Tamao de grano
Microscopa electrnica
SEM (Scanning Electron Microscopy)
TEM (Transmission Electron Microscopy)
Microscopa de barrido por tunelaje:
STM (Scanning Tunneling Microscopy)
AFM (Atomic Force Microscopy)
Caracterstica de una Onda
Onda electromagntica
ionizacin
N n=4
M n=3
L L
L n=2
K K
K n=1
FENMENO
DE LA
DIFRACCIN
Rayos X para determinar la estructura cristalina
Rayos X entrantes se difractan de los planos cristalinos.
Las reflexiones
deben estar en
fase para
Distancia extra Detectar la seal
recorrida
por la onda 2 Distancia
S T d entre
Planos (dhkl)
Q
a
Para una estructura cbica: d hkl
h2 k 2 l 2
Ley de Bragg
Detector
Medicin del ngulo crtico, c, permite el clculo de la
distancia entre planos, d.
Intensidad n
d
Rayos-X 2 sin c
Metalurgia de (del
polvos detector)
c
La ley de Bragg es una condicin necesaria pero no suficiente para la
difraccin de cristales reales.
y (110) y y
Intensidad (relativa)
a b a b a b
x x x (211)
(200)
ngulo de Difraccin 2
Patrn de Difraccin para un policristal de hierro- (BCC)
Espaciado y ngulos interplanares
En el sistema cbico, la distancia entre dos planos de tomos,
paralelos y adyacentes, con el mismo ndice de Miller se llama
espaciamiento interplanar (dhkl), y su ecuacin general est dada
por
a
d hkl
h k l
2 2 2
INDUSTRIA CEMENTERA
Identificacin y cuantificacin de componentes mineralgicos del cemento.
Cuantificacin (% volumen) de fases amorfas.
n = Orden de reflexin = 1
Intensidad
= Longitud de onda n 2 dhkl sin c
Rayos-X
a = Parmetro de red
hhkl= Distancia entre planos (del
= ngulo de difraccin detector)
a 0.2866 nm
d hkl 0.1013 nm c
h k l
2 2 2
2 2 0
2 2 2
n (1)(0.1790 nm)
sen 0.884 arcsen(0.884) 62.13
2d hkl 2(0.1013 nm)
Por lo tanto el ngulo de difraccin es 2=124.26
Estudio Microscpico
Cristalitas, (cristales, granos) y Fronteras de grano. Cambian
considerablemente en tamao. Pueden ser muy grandes
ej: Monocristal grande de cuarzo o diamante o Si
ej: Granos individuales: Barra de Aluminio o bote de basura
Cristales (granos) pueden ser muy pequeos (mm o menos)
Necesarios para observarlos con el microscopio
Resolucin de la Microscopa
Resolucin ptica. 10-7 m = 0.1 m = 100 nm
Para mayor resolucin se necesita mayor frecuencia
Rayos X.
Electrones
Longitud de onda 3 pm (0.003 nm)
(Magnificacin - 1,000,000X)
Resolucin Atmica posible
El haz de electrones se enfoca mediante lentes magnticas.
Comparacin de los microscopios;
ptico, transmisin y barrido
Microscopa ptica
Luz Polarizada
Anlisis metalogrficos a menudo utilizan luz polarizada para
incrementar el contraste
Tambin se emplea en muestras trasparentes como algunos
polmeros
Microscopa ptica
til hasta una magnificacin de 2000X
Pulido remueve las irregularidades de la superficie (e.g., rayas)
Ataque qumico cambia la reflexin, dependiendo de la orientacin
del cristal
Planos cristalogrficos
Micrografa del
Latn (Cu-Zn)
0.75mm
Microscopa ptica
Fronteras de Grano
son imperfecciones,
son ms
susceptibles al Superficie pulida
ataque,
Ranura en la superficie
Se revelan como
Frontera de grano
lneas obscuras, (a)
Cambio en la
orientacin del cristal de
frontera a frontera.
Tamao de
Grano ASTM
2 n-1
N= (b)
log N (n 1) log 2
N = Nmero de granos por pulgada cuadrada
n = Tamao de grano ASTM
log10 N
n 1
log10 2
Para una magnificacin distinta de 100X
2
M n 1
NM 2
100 X 100
1 pulgada
NM = Nmero de granos por pulgada cuadrada
X = magnificacin
M = Magnificacin
n =Tamao de grano ASTM
Tamao de la micrografa: (77 mm * 101 mm)
N = Granos totales / (tamao micrografa/25,42)
= 15,5 / [(77*101)/(25,4*25,4)] = 1,3 granos/pulgada2