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OmniScan MX
Su pantalla inteligible a color de 8,4 pulg. (213 mm) permite visualizar claramente y en tiempo real los defectos y sus detalles bajo
toda condicin de iluminacin. Navegue cmodamente a travs de su fcil interfaz intuitiva, con tan slo utilizar su rueda de despla-
zamiento y otras teclas de acceso directo, o mediante la conexin de un ratn para facilitar su uso durante las inspecciones.
Interfaz de escner
Salida SVGA
Micrfono
Teclas de
Teclas de funcin
mens
Interruptor
encender/apagar
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Una plataforma, dos mdulos, tres tecnologas: mayor flexibilidad
Para cumplir con los requisitos de una amplia gama de aplicaciones, las tecnologas de corrientes de Foucault convencionales (ECT),
de corrientes de Foucault multielementos (ECA) y la nueva representacin C-scan para el control de adhesin de materiales com-
puestos (BT del ingls bond testing) estn disponibles para integrarse a dos versiones de mdulos. Ambos mdulos son compatibles
con lossoftware rediseados MXE (tecnologas ECT/ECA) y MXB (tecnologa C-scanBT), lo cual brinda una fcil transicin entre
dichas tecnologas y, adems, reduce significativamente los esfuerzos desplegados para su aprendizaje.
Mdulo ECA4-32
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ECA, simplemente igual a ECT
Amplia cobertura, escaneos rpidos y deteccin altamente
sensible y precisa
La tecnologa de corrientes de Foucault multielementos (ECA) in-
tegra numerosas bobinas de sondas de configuracin tradicional
puente o reflexin (emisin-recepcin), con el fin de brindar
unacobertura mucho ms elevada en una sola etapa de inspec-
cin. Adems, cada modelo de sonda ECA ha sido concebido
cuidadosamente para mantener un alto nivel de deteccin segn
el tipo de defecto definido, que ser inspeccionado gracias a
la longitud de la sonda. Con el equipo OmniScan MX ECA,
es posible utilizar las sondas ECA manteniendo una rapidez de
inspeccin manual sorprendente, lo que permite una inspeccin
potente y productiva con representaciones a color y capaci-
dades de almacenamiento. Una bobina: escaneo por trama Sonda multielementos: escaneo lineal
Inspeccin a travs de
revestimientos delgados
El funcionamiento de la tecnologa (ECT) se basa en el principio
de acoplamiento magntico de un sensor de sonda (bobina)
sobre un espcimen bajo ensayo (material conductor, ferro-
magntico o no ferromagntico). ste generar corrientes de
Foucault dentro de dicho espcimen y mostrar seales dentro
del plano de impedancia del equipo. Gracias a la tecnologa
de corrientes de Foucault convencionales, es posible detectar
defectos a travs de revestimientos delgados (tales como la pin- a b c
tura), siempre y cuando la distancia entre la sonda y el metal sea
razonablemente baja tpicamente entre un rango de 0,5mm Las sondas utilizadas para efectuar las inspecciones por corrientes de Foucault
y 2,0 mm. se confeccionan con un hilo de cobre devanado alrededor del eje de la bobina.
La forma de la bobina puede variar para adaptarse a aplicaciones especficas.
Ya que las tecnologas de corrientes de Foucault multielementos
(ECA) y de corrientes de Foucault convencionales (ECT) com- 1. La corriente alterna que circula a travs de la bobina, a una
parten el mismo principio de base (y la fsica), ambas pueden frecuencia determinada, genera un campo magntico alrededor
efectuar inspecciones a travs de la pintura; sin embargo, de la bobina.
latecnologa ECA brinda numerosas ventajas, entre las cuales 2. Cuando la bobina es ubicada cerca de un material elctri-
destacan: amplia cobertura, rapidez durante los escaneos, fiabi- camente conductor, la corriente de Foucault es inducida en
lidad elevada de deteccin, y proyeccin de representaciones a elmaterial.
colores. 3. Si existe un defecto en el material elctricamente conductor,
el cual perturbar la circulacin de las corrientes de Foucault,
el acoplamiento magntico con la sonda cambia y la seal del
defecto puede leerse mediante la medicin de la variacin de
impedancia de la bobina.
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Potencia optimizada pero complejidad minimizada
Software MXE 3.0
Sin considerar la presencia de la capacidad de intercambio electrnico de elementos, la tecnologa de corrientes de Foucault
multielementos (ECA) es esencialmente igual a la tecnologa de corrientes de Foucault convencionales (ECT). El modo de corrientes
de Foucault multielementos es fcil de calibrar y operar. Asimismo, el nuevo software OmniScan MXE 3.0 ECA ha sido optimizado
nuevamente para facilitar la transicin de un equipo por corrientes de Foucault convencionales (como el Nortec 500 de Olympus) a
la potencia ECA, ofreciendo as mayor accesibilidad a esta ltima.
Men principal Nortec 500 Men principal del nuevo software OmniScan 3.0
Genere seales de despegue directo lift-Off con la sonda ECA tal como con Ajuste el desplazamiento angular de fase en tiempo real con la rueda de despl-
una sonda ECT convencional. zamiento OmniScan. El valor de ganancia, la ganancia vertical y el punto nulo
pueden ser ajustados de la misma manera.
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Escaneos codificados para una interpretacin de
datos an ms fcil
Calibraciones optimizadas en tres pasos
El OmniScan MX ECA no slo muestra las seales ECA en un plano de impedancia de corrientes de Foucault convencionales sino,
tambin, ofrece numerosos diseos de pantalla y tipos de visualizacin que permitirn al usuario apreciar la verdadera potencia de
la tecnologa ECA codificada. Estos diseos de pantalla pueden ser parte del proceso de calibracin. Estos tambin hacen que los
ensayos por corrientes de Foucault multielementos sean altamente inteligibles, permitiendo incluso la aceptacin y el rechazo de
losresultados conforme a los criterios definidos por el usuario.
Gracias a su interfaz intuitiva, el OmniScan MX ECA es rpido y fcil de configurar y operar; y, esto, en tan slo tres simples pasos:
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Potentes representaciones a colores
Estimaciones de profundidad de defectos mediante
las representaciones C-scan codificadas a colores
La gravedad de un defecto, mediante la tecnologa ECT, se correlaciona estrechamente con laamplitud de retorno de la seal de
las corrientes elctricas inducidas (corrientes de Foucault) para la mayora de aplicaciones superficiales o subsuperficiales. Gracias
a lautilizacin de un plano de amplitud (basado en una codificacin a colores) y al trazando de las seales de retorno de cada canal
junto con su informacin de posicin codificada, la representacin C-scan es altamente inteligible e intuitiva. Estos escaneos pueden
ser guardados en una tarjeta de memoria CF extrable o pueden ser incluidos en un informe, creado en el equipo OmniScan MX.
Es necesario contar con un estndar de referencia Imagen de un escaneo de calibracin bajo elmodo Visualizacin de la primera capa (piel) de una
que presente defectos definidos para poder calibrar ECA. sta presenta diferentes colores para cada aeronave con indicaciones de corrosin. El color
la sensibilidad y el contraste en elmodo ECA. nivel de profundidad del defecto. indica la profundidad del defecto.
Una gran variedad de paletas de colores vienen pre- Con la funcin de alarma, la representacin C-scan cambia de color cuando una seal ingresa en la
cargadas en el software MXE 3.0 ECA para diversas zona de rechazo.
aplicaciones (derechos de patente protegidos)
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Reemplazo de los mtodos de inspeccin
tradicionales
Extraccin de pintura innecesaria
Las corrientes de Foucault multielementos cuentan con una capacidad nica para efectuar inspecciones a travs de materiales elc-
tricamente conductores con revestimientos delgados. Esta capacidad brinda una enorme ventaja sobre los mtodos de inspeccin
tradicionales tales como los ensayos por lquidos penetrantes, por partculas magnticas o por visualizacin magneto ptica, ya
que no existe ninguna necesidad de extraer el revestimiento o pintura para luego reaplicarlos. Con el tiempo, este equipo brinda una
excelente relacin precio-prestaciones, y sobre todo, no requiere ninguna intervencin de qumicos.
Parte inspeccionada mediante lquidos penetrantes Escaneo con una sonda ECA de serie que ofrece la misma representacin a
(colorante rojo visible) color que el colorante rojo para simular la tcnica por lquidos penetrantes (de-
rechos de patente protegidos). La sensibilidad puede ser ajustada para revelar
ms o menos defectos.
Ventajas competitivas
Ninguna necesidad de retirar la pintura.
Representaciones y almacenamiento.
Inspecciones en un solo paso, rapidez elevada de escaneos y resultados instantneos.
Economa de tiempo (generalmente hasta 10 veces superior).
Reduccin radical de los tiempos de ejecucin.
Capacidad de evaluacin de la profundidad de los defectos.
Sensibilidad regulable y anlisis posprocesamiento.
Mtodo respetuoso del medio ambiente (ninguna intervencin de qumicos).
Ensayo por lquidos penetrantes (fluorescencia) Ensayo por partculas magnticas (polvo rojo) Ensayo por partculas magnticas (fluorescencia)
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Anlisis, informes y almacenamiento
Verificar y confirmar las inspecciones despus de finalizar con ellas
Despus de haber completado una inspeccin in situ, el equipo OmniScanMX ECA contina a brindar valores importantes gracias
a las funciones de almacenamiento, anlisis y creacin de informes. Con el OmniScan MX ECA es posible verificar las indicaciones
de defectos individualmente y aplicarles correcciones segn sea necesario. Las nuevas funciones del software MXE 3.0 ECA, junto
con los cursores de datos intuitivos y optimizados, permiten una operacin directa en el equipo (in situ). Adems, es posible conectar
unratn estndar USB para efectuar anlisis de datos en la oficina.
Nuevo software MXE 3.0 con cursores seleccionables. Estos ltimos son Las correcciones pueden ser efectuadas fcilmente sobre los datos regis-
intuitivos y permiten seleccionar cualquier indicacin. trados. En la imagen se visualiza el ajuste de ganancia (contraste).
A max
6.725 V (A max)
270.9
OmniScan
Scan max
N/A s
Report Indx max
N/A mm
Report Date Report Version Setup File Name Inspection Date Inspection Version
2013 / 09 / 06 MXE - 3.0R2T1 Unnamed 2013 / 09 / 06 MXE - 3.0R2T1
OmniScan Type OmniScan Serial # Module Type Module Serial # Calibration Due
OmniScan MX OMNI-1854 OMNI-M-ECA4-32 OMNI-4051 2010 / 07 / 22
MANUFACTURER PROCEDURE
COMPANY INSPECTED BY
Probe Characterization
Raw -Group 1
No normalization selected.
Notes
Alarm
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Equipo OmniScan MX en modo ECA:
simplemente un poderoso detector de defectos
La potencia de las tecnologas ECA y ECT combinadas
Algunos procedimientos de inspeccin pueden requerir espe-
cficamente la tecnologa ECT, sin embargo la tecnologa ECA
puede ser til para reducir tiempos de inspeccin y hallar zonas
que presentan daos. Con el equipo OmniScan MX ECA, no
necesita comprometerse con una sola tecnologa para iniciar su
inspeccin. Tan slo con pulsar y mantener la tecla del men
presionada, en cualquier momento durante una inspeccin, es
posible intercambiar entre los modos ECA y ECT. Ambas sondas
pueden quedarse conectadas y sus configuraciones perma-
necen activadas.
La conexin simultnea de las sondas ECA y ECT brinda la mejor herramienta
para efectuar un trabajo sin necesidad de detener o reconfigurar los ajustes de
de la instrumentacin del equipo OmniScan MX.
Pulse y mantenga
la tecla de men
presionada...
La interfaz ECA (azul) es fcil de usar como el modo ECT o la interfaz La interfaz ECT (verde) incluye numerosas funciones para mantener la
delequipo Nortec 500. compatibilidad de procedimiento, tales como la posicin ajustable del
punto nulo (0).
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Representacin C-scan para el control de
adhesin de materiales compuestos
Preparado para enfrentar la era del material compuesto
Ya que los materiales compuestos son empleados cada vez ms en la construccin de
componentes estructurales y crticos, la verificacin de su composicin mediante otros
mtodos (de aquellos tradicionales) se ha convertido en una necesidad. Asimismo,
gracias a su capacidad para soportar el manejo de las sondas de emisin y recepcin
BondMaster de Olympus, el equipo OmniScan MX permite cumplir con esta demanda
creciente.
Soluciones Olympus
Olympus se compromete a ir ms all de la imagen de un Srvase visitar con regularidad nuestra pgina www.olympus-
proveedor de productos bsicos. Nuestro objetivo principal es ims.com para ver las ltimas innovaciones por corrientes de
ofrecer soluciones que se adapten a problemas y aplicaciones Foucault, corrientes de Foucault multielementos y control de
especficas. adhesin, entre otras novedades.
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Especificaciones bsicas*