Interaccin de la Radiacin con la Materia.

Introduccin:

Desde el principio de la humanidad, hemos estado

expuestos a la radiacin ionizante de origen csmico y
de otras fuentes naturales de radiacin.

Hoy en da tenemos que agregar a estas fuentes las

producidas artificialmente por el hombre, como son
radioistopos, generadores de rayos X y los
aceleradores y reactores nucleares.
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 La Seguridad Radiolgica tiene como objetivo principal el
de proteger al ser humano contra riegos excesivos, sin
impedir su utilizacin benfica.

Con el adecuado conocimiento de la radiacin y sus

efectos se pretende reducir a niveles aceptables los riesgos
inherentes a las aplicaciones industriales de la radiacin,
adoptando una actitud responsable en cuanto a su uso.

Debido a que la radiacin no se ve, no se oye, no huele, o

sea no se puede percibir con nuestros sentidos, debemos
recurrir a equipos detectores y medidores de la radicin.

Sern analizados los efectos de la radiacin ionizante en

las clulas de nuestro organismo y los lmites aceptables.

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 Todos los empleos de la radiacin estn basados en
stas propiedades: penetracin de la materia y depsito
de la energa. Dos ejemplos de ello son las radiografas y
la radioterapia, respectivamente.
La radiacin electromagntica, como son los rayos X y los
rayos gamma, interactuan con la materia en todos sus
estados (S,L,G) y esta interaccin varia en funcin del
nivel de energa de la radiacin, de la densidad y de la
esrtuctura del material irradiado.
Los rayos x y gamma, al no tener carga, no pueden ser
frenados lentamente por ionizacin al atravezar un
material. Sufren otros mecanismos que al final los hacen
desaparecer, transformando su energa por tres diferen-
tes mtodos a los electrones del material.

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 Estos electrones energticos secundarios son luego
frenados, ionizando el material a su paso.
Los fotones de rayos x y gamma, dependiendo de su
energa, pueden atravezar varios centmetros de un
slido, o cientos de metros de aire, sin sufrir ningn
proceso ni afectar la materia que cruzan. Luego sufren
alguno de los tres efectos y depositan ah gran parte de
su energa.
La absorcin de la radiacin o los tres mecanismos d
interaccin con la materia son:
a) Efecto Fotoelctrico.
b) Dispersin (Efecto Rayleigh y Efecto Compton).
c) Produccin de Pares Inicos.

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 a) Efecto fotoelctrico.- Consiste en que el fotn se
encuentra con un electrn del material y le transfiere toda
su energa, desapareciendo el fotn original. El electrn
secundario adquiere toda la energa del fotn en forma de
energa cintica, y es suficiente para desligarlo de su to-
mo y convertirlo en proyectil. ste se frena por ionizacin y
excitacin del material.

-
hv e
fotn electrn con
energa de
+ unin +

tomo
tomo
ionizado
neutro
antes despus

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 Este proceso de absorcin energtico, se lleva a cabo
cuando un fotn con energa igual o menor a 0.5 MeV
transfiere totalmente su energa a un electrn de cual-
quiera de los orbitales de un tomo.

(Radiacin de baja energa).

Esta energa es suficiente para mover el electrn de

un orbital a otro o para expulsarlo del tomo
quedando ste ionizado.

La energa adquirida por el electrn para poder

desplazarlo de su orbita, es cedida por el fotn, el cul
desaparece.

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 b) Dispersin.- Cuando la energa del fotn es
mayor que la energa de enlace del orbital K, los
efectos de absorcin por dispersin se incrementan.
Existen dos efectos de dispersin: Coherente (efecto
de Rayleigh) e incoherente (efecto de Compton).

- Efecto Rayleigh.- Slo se presenta por radiacin de

baja energa, y consiste en la absorsin de la
energa por la resonancia de los electrones de uno
o varios orbitales que poseen un nivel energtico
similar al del fotn.
Se lleva a cabo con energas de radiacin entre
100 keV a 10 MeV y al pasar por el tomo,
nicamente sufre una desviacin en su trayectoria.
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 - Efecto Compton.- Slo parte de la energa del
fotn es absorbida por un electrn y la energa
remanente es reorientada en una nueva direccin.

La energa de enlace del electrn es mucho menor

que la energa del fotn incidente.
Electrn expulsado
Ee < Eo
Fotn

Eo

+
Energa resudual
Eo Ee

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 c) Produccin de pares inicos.- Cuando los
fotones tienen una energa de 1.02 MeV o mayor,
pueden ser absorbidos por la materia durante su
conversin, a un electrn y un prositrn. Lo cual
ocurre dentro del campo elctrico del ncleo. Por
debajo de un valor de 1.02 MeV no esw posible este
efecto.
Positrn expulsado
E+
Energa del fotn
2
Eo = E+ + E + 2mc
Eo > 1.02 MeV
+
Electrn expulsado
E

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 El positrn creado es destruido, por la interaccin
con otro electrn y despus de una vida muy corta,
sta destruccin genera nuevamente radiacin
electromagntica, principalmente en a forma de 2
fotones que viajan en direcciones distintas y que
tienen una energa de aprox. 0.51 MeV cada uno.

Se puede concluir que los efectos anteriores son

dependientes de las caractersticas atmicas del
material que se inspeccione. Por esta razn existen
tablas con coeficientes de atenuacin para distintos
materiales y tipos de radiacin.

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 Resumen:

Radiacin Electromagntica

Energa del fotn

Eo > 1.02 MeV

Efecto Compton

Produccin de
Efecto
Pares Inicos
Fotoelctrico

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 Atenuacin de la radiacin
Si enviamos un haz de radiacin (x gamma) con una
cierta intensidad sobre un material de un espesor t, y
se coloca detrs un detector/medidor de radiacin, el
haz de radiacin original ser atenuado por las tres
interacciones mencionadas, llegando al detector una
intensidad menor que la original.
t

radiacin
I incidente
Detector / medidor absorbedor Io
de radiacin
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 La intensidad de la radiacin varia en forma
exponencial al espesor homogneo del material
mediante la expresin:

I = Io e tp
Donde:
I = Intensidad de la radiacin resultante,
Io = Intensidad de la radiacin incidente,
t = Espesor del material absorbente (cm),
p = Coeficiente de atenuacin lineal (cm-1).

El valor de p es una constante que depende del tipo

de material y de la energa del fotn.

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 Datos de Coeficiente de Absorcin Lineal ( cm-1 )
o Atenuacin ( p )
Energa PlomoAcero Aluminio H2O
(MeV) Concreto
0.2 5.0 1.06 0.33 0.14
0.5 1.7 0.63 0.23 0.09
1.0 0.77 0.44 0.16 0.067
1.5 0.57 0.40 0.14 0.057
2.0 0.51 0.33 0.12 0.048
2.5 0.50 0.31 0.10 0.042
3.0 0.49 0.30 0.09 0.038
4.0 0.48 0.27 0.082 0.033
5.0 0.47 0.24 0.074 0.030

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 Curva exponencial de atenuacin de rayos X o gamma.
I0
Intensidad de radiacin transmitida ( I )

I0
2

I0
10

0 CVM CVD
Grueso del absorbedor ( t )

Ntese que la curva de atenuacin tiene la misma forma que la

ley de decaimiento radiactivo.

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 Capa Hemirreductora o capa de valor medio (CVM).- Es
el espesor de un material dado que es capaz de reducir a la
mitad la intensidad de la radiacin incidente que proviene de
un istopo radiactivo o un equipo de rayos X.
La CVM de cualquier material est relacionada con el
coeficiente de absorcin lineal mediante la ecuacin:

CVM = ln 2/p
Donde:
CVM = Capa de valor medio o capa hemirreductora (cm)
p = Coeficiente de atenuacin lineal (cm-1)

Capa Decirreductora o capa de valor dcimo (CVD).- Es

el espesor de un material dado que es capaz de reducir a la
dcima parte la intensidad de la radiacin incidente que
proviene de un istopo o un equipo de rayos X.
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 Una segunda expresin matemtica para calcular la
capa hemirreductora es:

I = Io (0.5) t p
Donde:
I = Intensidad de la radiacin resultante (mR/h),
Io = Intensidad de la radiacin incidente (mR/h),
t = Espesor del material absorbente (cm),
p = Coeficiente de atenuacin lineal (cm-1).

Por lo que para la capa decirreductora ser:

I = Io (0.10) t p

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 Ejemplo:
Se tiene una fuente de rayos X de 0.5 MeV (500 kV) y
una intensidad de radiacin de 670 mR/h; se desea
conocer la intensidad de radiacin al emplear 15 cm
concreto como material de blindaje. Si el coeficiente
de atenuacin (p) es de 0.23 cm-1 cul ser la
intensidad resultante?

I = Io (0.5) t p

I = 670 mR/h (0.5) (15 cm X 0.23/cm)

I = mR/h

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