UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA

ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA

ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento

ATIVIDADE DE CLASSE CARTAS DE CONTROLE PARA VARIVEIS

1) A planilha a seguir apresenta os resultados da anlise de teor de mangans de um processo de

produo de ferro mangans de alto carbono (FeMnAC), do ms de janeiro de 2007.

Dia Turno 01 Turno 02 Turno 03 Mdia Amplitude Desvio padro

1 76,58 75,5 75,67 75,91667 1,08 0,5807179
2 76,98 75,87 78,32 77,05667 2,45 1,226798
3 76,8 76,03 76,55 76,46 0,77 0,3928104
4 77,03 78,49 77,31 77,61 1,46 0,7748548
5 78 76,4 77,36 77,25333 1,6 0,8053157
6 76,1 77,24 77,41 76,91667 1,31 0,7123436
7 77,68 76,92 77,22 77,27333 0,76 0,3827967
8 76,89 78,19 76,18 77,08667 2,01 1,0193298
9 77,35 75,99 76,94 76,76 1,36 0,6976389
10 76,35 76,67 76,39 76,47 0,32 0,174356
11 77,36 77,47 76,58 77,13667 0,89 0,4852147
12 77,32 76,83 76,34 76,83 0,98 0,49
13 78 78,11 75,83 77,31333 2,28 1,2857812
14 76,99 75,63 75,66 76,09333 1,36 0,776681
15 75,99 76,64 75,71 76,11333 0,93 0,4771094
16 77 75,8 78,41 77,07 2,61 1,3064073
17 76,86 77,57 78,34 77,59 1,48 0,7402027
18 76 76,98 77,36 76,78 1,36 0,7017122
19 75,88 76,54 77,35 76,59 1,47 0,7362744
20 76,35 77,79 77,43 77,19 1,44 0,7493998
21 77,36 77,81 76,77 77,31333 1,04 0,5215681
22 77,35 76,43 76,74 76,84 0,92 0,4680812
23 77,14 78,05 76,71 77,3 1,34 0,6841783
24 77,12 77,03 76,31 76,82 0,81 0,4439595
25 78 76,01 76,39 76,8 1,99 1,0564563
26 77,25 77,47 75,88 76,86667 1,59 0,8615296
27 77,68 78,33 75,86 77,29 2,47 1,2803515
28 77,15 75,54 77,09 76,59333 1,61 0,9127066
29 76,58 76,85 78,47 77,3 1,89 1,0222035
30 76,35 75,87 76,34 76,18667 0,48 0,274287
31 78,32 76,66 77,91 77,63 1,66 0,8646965
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Mdia das mdias do teor de Mn

Mdia dos desvios padro amostrais

Amplitude mdia

Considerando uma distribuio normal dos dados:

a) Calcule os limites de controle para a carta da mdia e amplitude.

Nas tabelas [1] podemos encontrar os valores tabelados das constantes necessrias para o clculo, assim
para n=3,temos A2 = 1,023 ; D3=0 ; D4=2,575

*Para a mdia:

- Limite superior de controle:

LSC= 76,92 + (1,023).(1,41) = 78.36

-Linha central:

LC=76,92

-Limite inferior de controle:

LIC= 76,92- (1,023).(1,41) = 75,48

*Para a amplitude:

- Limite superior de controle:

LSC= (2,575).(1,41) = 3,63

- Linha central:

LC= 1,41
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- Limite inferior de controle:

LIC = 0.(1,41) = 0

b) Calcule os limites de controle para a carta da mdia e desvio padro.

Nas tabelas [1] podemos encontrar os valores tabelados das constantes necessrias para o clculo, assim
para n=3, A3 =1,954 ; B3=0; B4=2,568

*Para a mdia:

-Limite superior de controle:

LSC = 76,92 + (1,954).(0,74)=78,36

-Linha central:

LC= 76,92

- Limite inferior de controle:

LIC=76,92 (1,954).(0,74)=75,48

*Para os desvios padro:

-Limite superior de controle:

LSC = (2,568).(0,74)=1,9

-Linha central:

LC=0,74

-Limite inferior de controle:

LIC=0.(0,74)=0
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c) Construa as cartas de controle X-Barra e R e X-Barra e S, utilizando o Excel. Analise as 08 regras de alerta e
identificao de causas especiais. O processo encontra-se sob controle?

GRFICOS DE X-BARRA E R
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GRFICOS DE X-BARRA E S
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Anlise dos oito casos especiais:

Caso 1: Os grficos no apresentam pontos acima do limite superior ou abaixo do limite inferior.
Caso 2: Nenhum dos grficos apresenta nove pontos (ou mais)sucessivos de um mesmo lado da linha central.
Caso 3: Nenhum dos grficos apresenta seis pontos (ou mais) sucessivos aumentando ou diminuindo
constantemente.
Caso 4: Nenhum dos grficos apresenta quatorze pontos sucessivos alternando-se para cima e para baixo.
Caso 5: Nenhum dos grficos apresenta dois em trs pontos sucessivos na zona A ou alm dela.
Caso 6: Nenhum dos pontos apresenta cinco pontos sucessivos situados na zona A ou B, ou alm dela, de um
mesmo lado do grfico.
Caso 7: Nenhum dos grficos apresenta quinze pontos sucessivos situados na zona C ou abaixo da linha central.
Caso 8: Nenhum dos grficos apresenta oito pontos sucessivos de ambos os lados da linha central fora da zona
C.

Logo, conclui-se que o processo encontra-se sob controle.

d) Obtenha as cartas de controle X-Barra-R e X-Barra-S, utilizando o Minitab. Compare a anlise das regras de
alerta de causas especiais do software com a anlise feita no item anterior.

Xbar-R Chart of Turno 01; ...; Turno 03

U C L=78,301
78
Sample M ean

_
_
77 X=76,918

76

LC L=75,534
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31

Sample

4
U C L=3,481
3
Sample Range

2
_
R=1,352
1

0 LC L=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31

Sample
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Xbar-S Chart of Turno 01; ...; Turno 03

U C L=78,301
78
Sample M ean

_
_
77 X=76,918

76

LC L=75,534
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31

Sample

2,0
U C L=1,818

1,5
Sample StDev

1,0
_
S =0,708
0,5

0,0 LC L=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31

Sample

Fazendo-se novamente a analise dos oito casos especiais(como na questo anterior) ,conclui-se que o
processo encontra-se sob controle.

2) Calcule os ndices de capacidade do processo considerando os seguintes limites de especificao do Teor de

Mn.

Onde: d2 (para n = 3) = 1,693

a) 76 a 78%
Cp =(78-76)/(6.0,83) = 0,4

b) 75 a 79%
Cp = (79-75)/(6.0,83) = 0,8

c) 75 a 78,5%
Cp= (78,5-75)/(6.0,83)=0,7
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Grficos de Capabilidade
a) 76 a 78%:
Process Capability of Turno 01

LSL USL
Process Data Within
LS L 76 Ov erall
Target *
U SL 78 P otential (Within) C apability
Sample M ean 77,0261 Cp 0,59
Sample N 31 C PL 0,60
C PU 0,57
StDev (Within) 0,567528
StDev (O v erall) 0,641708 C pk 0,57
C C pk 0,59
O v erall C apability
Pp 0,52
PP L 0,53
PP U 0,51
Ppk 0,51
C pm *

75,5 76,0 76,5 77,0 77,5 78,0 78,5

O bserv ed Performance E xp. Within P erformance Exp. O v erall Performance
P PM < LS L 64516,13 PP M < LSL 35298,05 P P M < LS L 54903,82
P PM > U S L 32258,06 PP M > U SL 43082,23 PPM > USL 64554,79
P PM Total 96774,19 PP M Total 78380,28 P P M Total 119458,61

Process Capability of Turno 02

LSL USL
Process Data W ithin
LS L 76 Ov erall
Target *
U SL 78 P otential (Within) C apability
Sample M ean 76,8616 Cp 0,32
Sample N 31 C PL 0,27
C PU 0,36
StDev (Within) 1,04959
StDev (O v erall) 0,897269 C pk 0,27
C C pk 0,32
O v erall C apability
Pp 0,37
PP L 0,32
PP U 0,42
Ppk 0,32
C pm *

74,4 75,2 76,0 76,8 77,6 78,4 79,2

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance Exp. O v erall Performance
PP M < LSL 225806,45 P PM < LS L 205850,48 P PM < LS L 168461,83
PP M > U SL 161290,32 P PM > U SL 139049,13 P PM > U SL 102269,71
PP M Total 387096,77 P PM Total 344899,61 P PM Total 270731,55

Process Capability of Turno 03

LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 76 Overall
Target *
USL 78 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8655 Cp 0,37
S ample N 31 C PL 0,32
C PU 0,42
S tDev (Within) 0,905666
S tDev (O v erall) 0,850541 C pk 0,32
C C pk 0,37
O v erall C apability
Pp 0,39
P PL 0,34
P PU 0,44
P pk 0,34
C pm *

75,2 76,0 76,8 77,6 78,4

O bserv ed P erformance Exp. Within Performance E xp. O v erall P erformance
P PM < LSL 193548,39 PPM < LS L 169628,96 PP M < LS L 154441,57
P PM > U SL 129032,26 PPM > U S L 105159,80 PP M > U S L 91122,34
P PM Total 322580,65 PPM Total 274788,76 PP M Total 245563,92
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b) 75 a 79%:
Process Capability of Turno 01

LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Ov erall
Target *
USL 79 P otential (Within) C apability
S ample M ean 77,0261 Cp 1,17
S ample N 31 C PL 1,19
C PU 1,16
S tD ev (Within) 0,567528
S tD ev (O v erall) 0,641708 C pk 1,16
C C pk 1,17
O v erall C apability
Pp 1,04
PPL 1,05
PPU 1,03
P pk 1,03
C pm *

75,00 75,75 76,50 77,25 78,00 78,75

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance Exp. O v erall P erformance
P P M < LS L 0,00 P P M < LS L 178,43 P P M < LS L 795,92
P P M > U S L 0,00 P P M > U S L 252,57 P P M > U S L 1049,12
P P M T otal 0,00 P P M T otal 431,00 P P M Total 1845,04

Process Capability of Turno 02

LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Ov erall
Target *
USL 79 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8616 Cp 0,64
S ample N 31 C PL 0,59
C PU 0,68
S tD ev (Within) 1,04959
S tD ev (O v erall) 0,897269 C pk 0,59
C C pk 0,64
O v erall C apability
Pp 0,74
PPL 0,69
PPU 0,79
P pk 0,69
C pm *

74,4 75,2 76,0 76,8 77,6 78,4 79,2

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance Exp. O v erall P erformance
P P M < LS L 0,00 P P M < LS L 38059,98 P P M < LS L 19004,66
P P M > U S L 0,00 P P M > U S L 20807,29 P PM > USL 8581,04
P P M T otal 0,00 P P M Total 58867,27 P P M Total 27585,69

Process Capability of Turno 03

LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 75 Ov erall
Target *
U SL 79 P otential (Within) C apability
Sample M ean 76,8655 Cp 0,74
Sample N 31 C PL 0,69
C PU 0,79
StD ev (Within) 0,905666
StD ev (O v erall) 0,850541 C pk 0,69
C C pk 0,74
O v erall C apability
Pp 0,78
PP L 0,73
PP U 0,84
P pk 0,73
C pm *

75,2 76,0 76,8 77,6 78,4

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance Exp. O v erall P erformance
P P M < LSL 0,00 P P M < LSL 19709,20 P P M < LSL 14143,24
P P M > U SL 0,00 P P M > U SL 9215,42 P P M > U SL 6043,45
P P M T otal 0,00 P P M Total 28924,62 P P M Total 20186,68
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c) 75 a 78,5%:
Process Capability of Turno 01

LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 75 Overall
Target *
U SL 78,5 P otential (Within) C apability
Sample M ean 77,0261 Cp 1,03
Sample N 31 C PL 1,19
C PU 0,87
StDev (Within) 0,567528
StDev (O v erall) 0,641708 C pk 0,87
C C pk 1,03
O v erall C apability
Pp 0,91
PPL 1,05
PPU 0,77
P pk 0,77
C pm *

75,0 75,5 76,0 76,5 77,0 77,5 78,0 78,5

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance E xp. O v erall P erformance
P P M < LSL 0,00 P P M < LSL 178,43 P P M < LS L 795,92
P P M > U SL 0,00 P P M > U SL 4702,09 P P M > U SL 10815,30
P P M Total 0,00 P P M Total 4880,52 P P M Total 11611,22

Process Capability of Turno 02

LSL USL
P rocess D ata W ithin
LS L 75 O verall
Target *
US L 78,5 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8616 Cp 0,56
S ample N 31 C PL 0,59
C PU 0,52
S tD ev (Within) 1,04959
S tD ev (O v erall) 0,897269 C pk 0,52
C C pk 0,56
O v erall C apability
Pp 0,65
PPL 0,69
PPU 0,61
P pk 0,61
C pm *

74,4 75,2 76,0 76,8 77,6 78,4 79,2

O bserv ed P erformance Exp. Within P erformance Exp. O v erall P erformance
P P M < LS L 0,00 P P M < LS L 38059,98 P P M < LS L 19004,66
P P M > U S L 0,00 P P M > U S L 59264,51 P P M > U S L 33927,34
P P M Total 0,00 P P M Total 97324,49 P P M T otal 52932,00

Process Capability of Turno 03

LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Overall
Target *
USL 78,5 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8655 Cp 0,64
S ample N 31 C PL 0,69
C PU 0,60
S tDev (Within) 0,905666
S tDev (O v erall) 0,850541 C pk 0,60
C C pk 0,64
O v erall C apability
Pp 0,69
PPL 0,73
PPU 0,64
P pk 0,64
C pm *

75,2 76,0 76,8 77,6 78,4

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance E xp. O v erall P erformance
P P M < LS L 0,00 P P M < LS L 19709,20 P P M < LS L 14143,24
P P M > U S L 0,00 P P M > U S L 35555,57 P P M > U S L 27319,47
P P M Total 0,00 P P M T otal 55264,77 P P M Total 41462,71

Bibliografia: [1] http://www.portalaction.com.br/content/42-gr%C3%A1ficos-m%C3%A9dia-e-desvio-padr%C3%A3o