Universidad Tecnologica de Bolivar

Facultad de ciencias Bsicas

Departamento de Fsica

DETERMINACIN DE LA CONSTANTE DE PLANCK, EFECTO

FOTOELECTRICO.

Alejandra Prez, Alfonso Nez, Juan David Hernndez, Sandra

Gmez, Grey Villadiego.

Estudiante de programa Fisca III, Universidad Tecnolgica de

Bolvar Cartagena, Bolvar, Colombia, 2017.
RESUMEN
En este experimento se demostrara la cuantizacin de las ondas electromagnticas y medir la
constante de Planck Mediremos la energa cintica mxima de los electrones arrancados por el
efecto fotoelctrico a partir de una superficie de un metal alcalino en funcin de la frecuencia. El
efecto fotoelctrico fue descubierto por Hertzen 1887 y estudiado por Lenard en 1900. Este efecto
consiste en una interaccin entre un fotn y un electrn. Como resultado de dicha interaccin el
fotn entrega toda su energa al electrn ligado a un tomo de forma tal que este electrn es
arrancado del ncleo, quedando de esta manera en libertad y recibiendo el nombre de
fotoelectrn.
Palabras Claves: Constante de Planck, Efecto Fotoelctrico.

ABSTRACT
In this experiment will demonstrate the quantization of the electromagnetic waves and measure
Planck's constant will measure the maximum of electrons by the photoelectric effect plucked from
a surface of an alkali metal as a function of frequency kinetic energy. The photoelectric effect was
discovered by Hertzen 1887 and studied by Lenard in 1900. This effect is an interaction between a
photon and an electron. As a result of this interaction the photon delivered all its energy to an atom
bound electron so that the electron is "booted" core, being thus released and receiving the name of
photoelectron.

INTRODUCCIN

El efecto fotoelctrico fue descubierto por Heinrich, en 1887, al observar que

ciertos metales, bajo la accin de la luz, emiten cargas negativas. Ms adelante se
pudo comprobar que eran electrones y que la emisin se deba principalmente a la
radiacin ultravioleta. El efecto fotoelctrico consiste en la emisin de electrones
por un material al incidir sobre l una radiacin electromagntica. En esta prctica
se estudiar el fenmeno de efecto fotoelctrico para poder identificar el
comportamiento del metal usado. Tambin se hallar la constante de Planck y se
verificar con su valor real. Cabe recalcar que no todos los materiales producen
efecto fotoelctrico, para ellos se observar si el metal utilizado es capaz de
producirlo. Para la realizacin de la prctica es muy importante tener claro algunos
conceptos como: Fotones, energa de un fotn, efecto fotoelctrico, energa
cintica, potencial de frenado y funcin de trabajo de un metal.

MONTAJE EXPERIMENTAL

Figura 3: Montaje del experimento en el banco ptico con indicacin de la posicin

en cm para el costado izquierdo del jinetillo ptico.

Dnde a: lmpara de mercurio de alta presin, b: diafragma de iris, c: lente, f =

100 mm, d: rueda porta filtros con filtros de interferencia, e: celda fotoelctrica.

1. PROCEDIMIENTO

Se Conect el multmetro y seleccionamos la escala de 1 V CC.

a Giramos el filtro de interferencia para luz verde (Hg = 546 nm), interponindolo
en el paso del haz y repetir la medicin.

Se subi a la escala hasta 3 V y repetimos las mediciones para los filtros

de interferencia azul (Hg = 436 nm) y violeta (Hg = 405 nm) y (Hg=365).
 Con el diafragma de iris de la rueda de filtros variar la intensidad de la| luz
que incide en la celda fotoelctrica y determinamos en cada caso la tensin lmite
U0.

DATOS EXPERIMENTALES

En la prctica se midi la tensin lmite en voltios respeto a una longitud de onda

dada.

Tabla 1: Toma de datos de diferencia de potencial.

Filtros U1 (v) U2 (v) U3 (v) Promedio

U(V)
578nm 0.42 0.5 0.65 0.52
546nm 0.62 0.65 0.75 0.67
436nm 0.95 1 1.1 1.02
405nm 1 1.1 1 1.03
365nm 1.1 1.5 1.5 1.13

Dnde la longitud de onda en nm viene dada por los filtros y la tensin lmite U en
voltios.

Tabla 2: Valores promediados de tensin y las longitudes de onda

correspondiente.

U Lambda
(nm)
0.52 578
0.67 546
1.07 436
1.03 405
1.13 365

Tabla 3: Valores de lambda pasados a frecuencia.

U2 f (m)
0,52 5,1903E+14
0,67 5,49E+14
1,02 6,8807E+14
1,08 7,407E+14
1,13 8,219E+14
ANALISIS DE DATOS.

Preguntas de la gua.

1. De acuerdo con el experimento, cambi la tensin lmite para cada filtro

cuando se cambi la intensidad del haz incidente en la celda fotoelctrica?
Qu indica el resultado?

R/ La tabla 1 muestra que la tensin lmite fue variando a medida que se

cambi la intensidad de la luz. Sin embargo, los valores obtenidos no fueron
muy alejados unos de otros. El resultado indica que la energa no
necesariamente depende de la intensidad de la luz y vara porque el
capacitor es muy sensible al cargarse y el simple hecho de poner un cuerpo
cerca se obtiene un cambio en la tensin lmite.

2. Realice una grfica de U0 como funcin de la frecuencia.

Grfica 1: Tensin lmite vs Frecuencia.

1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0 5E+14 1E+15

En la grfica se logra observar la tensin lmite vs la frecuencia dada por la

velocidad de la luz entre la longitud de onda en metros.

3. Mediante regresin lineal, encuentre el valor la pendiente y del intercepto

con el eje U0 de la recta de interpolacin, qu representan estos
parmetros?
R/ Usando mtodo de segregacin lineal.

A =
=1

B =
=1


C = 2
=1

D =
=1

E = NC 2

DN AB
m=
E

b=

Dnde m es la pendiente de una recta y b un valor constante, es decir, con el

mtodo de mnimos cuadrados se puede hallar con la ecuacin de una recta
aproximada.

A= 3,31855x1015; B=4.42; C= 2.2888x1030; D= 3.0659x1015; E=1.73x1029 ; N=5

Con estos valores podremos calcular m y b.

(3.0659x1015 )(5)(4.42)(3.318551015 )
Calculamos m = = 3.675051015
1,731029
(3.31855x1015 )(3.0591015 )(4.42)(2.268881030 )
Calculamos b = = 0.8433
1,731029

Con estos valores tenemos:

y= mx+b

U0=3.67505x10-15 f + 0.8433

Esta es la ecuacin de la recta que se acomoda a los puntos de la grfica. Se

puede apreciar la recta en la tabla 1.

4. Con el valor de la pendiente determine la constante de Planck, cul es el

error en la determinacin de dicha constante con este experimento?

R/ Como ya conocemos el valor de la pendiente m tenemos qu:

m= h/e

Despejamos h
 h= me
h= (3.67505x10-15)( 1.602 176 5651019)
h= 5.9x10-34 Js
Conocemos el valor real de h. Calculamos el porcentaje de error.

E%=((Valor real- Valor obtenido)/valor real)*100

E%= ((6.63x10-34-5.9x10-34)/ 6.63x10-34 )*100

E%= 11%
5. Con el valor del intercepto, determine la frecuencia de corte para observar
el efecto fotoelctrico con la celda fotoelctrica usada en este experimento.
R/ Para hallar la frecuencia de corte se tiene:
f= Wc/h
Entonces decimos
f=Wc/(h/e)= Wc/m

f= (0.8433)/ 3.67505x10-34

f= 2.294662658x1014 Hz

Siendo este el valor de la frecuencia mnima para que se presente el

efecto foto elctrico.

6. Cul es la funcin de trabajo del metal usado en la celda fotoelctrica?

R/ Para encontrar la funcin de trabajo slo se hace a f=0 en la funcin.

Entonces: U0=3.67505x10-15 (0) + 0.8433

Uo= 0.8433Ev, este es el corte con el eje y e indica la funcin de

trabajo

Siendo esta la funcin del material: 0.8433 eV.

CONCLUSIN

Terminado el presente informe se puede llegar a las siguientes conclusiones:

El efecto fotoelctrico se produce cuando un haz de luz incide sobre la

superficie de un metal y desprende electrones, que son liberados con una
velocidad y energa cintica.
El efecto fotoelctrico se produce si la energa de los fotones incidentes en
mayor o igual a la funcin trabajo del material. En este experimento, en todos
los casos para las distintas frecuencias se genera el efecto fotoelctrico puesto
que la energa de los fotones supera a la frecuencia umbral del metal.
Los valores de la tensin lmite no variaron demasiado conforme se
incrementaba la intensidad. De forma contraria, este valor cambiaba de forma
considerable en la medida en que se aumentara o disminuyera la frecuencia.
Esto demuestra que la energa de los fotones incidentes solo depende de la
frecuencia del haz de luz y no de la intensidad.
El valor de la constante de Planck que se obtuvo fue muy aproximado, tan solo
un error del 11%, esto es debido a los problemas que se presentan al momento
de realizar las mediciones, como por ejemplo, mal funcionamiento del
instrumento de medida, equivocacin por parte de la persona que toma los
datos, etc.
BILIOGRAFA.

https://es.wikipedia.org/wiki/Electr%C3%B3n
https://es.wikipedia.org/wiki/Funci%C3%B3n_de_trabajo
https://es.wikipedia.org/wiki/Constante_de_Planck